JP6784208B2 - Radiation interference wave measuring device and its judgment method - Google Patents

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本発明は、放射妨害波測定装置、及びその判定方法に関する。 The present invention relates to a radiated interfering wave measuring device and a method for determining the same.

従来から、電子機器等から放射される放射妨害波を測定する、いわゆる放射妨害波試験では、その放射妨害波の電界強度が最大となる位置において一定時間放射妨害波の電界強度を測定し、その測定した電界強度が国際的に定められた規格の許容値以下であるか否かを確認することが行われる。 Conventionally, in the so-called radiation interference wave test, which measures the radiation interference wave radiated from an electronic device or the like, the electric field strength of the radiation interference wave is measured for a certain period of time at the position where the electric field intensity of the radiation interference wave is maximized, and the electric field intensity is measured. It is confirmed whether or not the measured electric field strength is below the permissible value of the internationally established standard.

この放射妨害波試験では、30−1000MHzの周波数帯域の各周波数に対して電界強度が最大となる位置を探し出す必要があるため、広帯域にスペクトラムを測定できる、いわゆるスペクトラムアナライザが使用される。 In this radiated interference wave test, since it is necessary to find the position where the electric field strength is maximum for each frequency in the frequency band of 30 to 1000 MHz, a so-called spectrum analyzer capable of measuring the spectrum in a wide band is used.

ところで、スペクトラムアナライザは、所定の分解能帯域幅で測定できる周波数を所定時間(サンプリング時間)ごとに掃引しながら、周波数スペクトラムを測定する。そのため、スペクトラムアナライザでは、ある周波数をサンプリングしている最中に当該サンプリングしている周波数以外で放射妨害波が発生した場合に、その放射妨害波を捕捉することができないという問題点がある。 By the way, the spectrum analyzer measures the frequency spectrum while sweeping the frequencies that can be measured with a predetermined resolution bandwidth at predetermined time intervals (sampling time). Therefore, the spectrum analyzer has a problem that if a radiation interference wave is generated at a frequency other than the sampling frequency while sampling a certain frequency, the radiation interference wave cannot be captured.

すなわち、放射妨害波の発生周期がスペクトラムアナライザのサンプリング時間を超える場合には、放射妨害波の捕捉率が100%未満となるため、放射妨害波を捕捉できた測定点と放射妨害波を捕捉できない測定点が存在することになる。そのため、スペクトラムアナライザで測定して得られた電界強度からは最大電界強度が得られる位置を正しく選定することができず、正しい試験の結果を得られないため、規格不適合品を見逃す可能性がある。 That is, when the generation period of the radiated interference wave exceeds the sampling time of the spectrum analyzer, the capture rate of the radiated interference wave is less than 100%, so that the measurement point where the radiated interference wave can be captured and the radiated interference wave cannot be captured. There will be a measurement point. Therefore, the position where the maximum electric field strength can be obtained cannot be correctly selected from the electric field strength measured by the spectrum analyzer, and the correct test result cannot be obtained, so that a non-standard product may be overlooked. ..

この問題を解決するために、発生周期が上記サンプリング時間を超える放射妨害波(以下、「間欠ノイズ」という。)の有無を判定することで、電界強度が正確に測定されているか否かを判定する方法が提案されている(特許文献1参照)。この特許文献1に記載の方法では、スペクトラムアナライザの周波数掃引ごとに電界強度を測定し、サンプリングタイミングと電界強度のレベルとを分析することで間欠ノイズの有無を判定する。 In order to solve this problem, it is determined whether or not the electric field strength is accurately measured by determining the presence or absence of radiated interfering waves (hereinafter referred to as "intermittent noise") whose generation period exceeds the sampling time. A method has been proposed (see Patent Document 1). In the method described in Patent Document 1, the electric field strength is measured for each frequency sweep of the spectrum analyzer, and the presence or absence of intermittent noise is determined by analyzing the sampling timing and the level of the electric field strength.

特許第4915050号公報Japanese Patent No. 4915050

しかしながら、特許文献1に記載の方法では、スペクトラムアナライザの掃引機能で間欠ノイズを測定しているため、間欠ノイズの捕捉率が100%未満となる。したがって、サンプリングの回数を増やしてもノイズ捕捉率が100%となることはなく、サンプリングのタイミングと電界強度のレベルを分析することでは、間欠ノイズの見逃しが発生するという問題がある。 However, in the method described in Patent Document 1, since the intermittent noise is measured by the sweep function of the spectrum analyzer, the capture rate of the intermittent noise is less than 100%. Therefore, even if the number of samplings is increased, the noise capture rate does not reach 100%, and there is a problem that intermittent noise is overlooked by analyzing the sampling timing and the level of the electric field strength.

本発明は、このような事情に鑑みてなされたもので、その目的は、間欠ノイズの見逃しを低減する放射妨害波測定装置、及びその判定方法を提供することである。 The present invention has been made in view of such circumstances, and an object of the present invention is to provide a radiation interfering wave measuring device for reducing oversight of intermittent noise, and a method for determining the same.

本発明の一態様は、放射妨害波の放射源を囲む面上に形成される電界強度分布が正しく測定されたか否かを判定する放射妨害波測定装置であって、前記放射妨害波を受信するアンテナと、前記放射源を囲む面上に設定された複数の測定点において、前記アンテナで受信される電界強度の周波数スペクトルを第1の滞留時間で測定することで前記電界強度分布を測定する第1の測定器と、前記第1の測定器により測定された前記電界強度分布のうち、所定の周波数における所定の電界強度が得られた測定点において、前記アンテナで受信される前記所定の周波数の電界強度を、第2の滞留時間ごとにリアルタイムで測定する第2の測定器と、前記第2の測定器で測定された前記電界強度に基づいて、前記第1の測定器で測定された前記電界強度分布が正しく測定されたか否かを判定する制御装置と、を備え、前記第2の滞留時間は、前記第1の滞留時間と同一の値に設定されることを特徴とする、放射妨害波測定装置である。 One aspect of the present invention is a radiation interference wave measuring device for determining whether or not the electric field intensity distribution formed on the surface surrounding the radiation source of the radiation interference wave is correctly measured, and receives the radiation interference wave. The electric field strength distribution is measured by measuring the frequency spectrum of the electric field strength received by the antenna at a first residence time at a plurality of measurement points set on the antenna and a surface surrounding the radiation source. Of the measuring instrument 1 and the electric field strength distribution measured by the first measuring instrument, at a measuring point where a predetermined electric field strength at a predetermined frequency is obtained, the predetermined frequency received by the antenna The second measuring instrument that measures the electric field strength in real time for each second residence time, and the first measuring instrument that measures the electric field strength based on the electric field strength measured by the second measuring instrument. A control device for determining whether or not the electric field strength distribution has been measured correctly is provided, and the second residence time is set to the same value as the first residence time. It is a wave measuring device.

本発明の一態様は、上述の放射妨害波測定装置であって、前記制御装置は、前記第2の測定器が測定した第2の滞留時間ごとの電界強度と、前記第2の滞留時間ごとの電界強度の平均値との差分値が、予め設定された閾値を所定回数超える場合には、前記第1の測定器で測定された前記電界強度分布が正しく測定されていないと判定する。 One aspect of the present invention is the above-mentioned radiation interference wave measuring device, wherein the control device has an electric field strength for each second residence time measured by the second measuring device and each for each second residence time. When the difference value from the average value of the electric field strength of the above exceeds a preset threshold number of times, it is determined that the electric field strength distribution measured by the first measuring instrument is not correctly measured.

本発明の一態様は、上述の放射妨害波測定装置であって、前記所定の電界強度とは、前記第1の測定器により測定された電界強度の周波数スペクトルのうち、最大の電界強度である。 One aspect of the present invention is the above-mentioned radiation interference wave measuring device, in which the predetermined electric field strength is the maximum electric field strength in the frequency spectrum of the electric field strength measured by the first measuring device. ..

本発明の一態様は、上述の放射妨害波測定装置であって、前記所定の周波数における所定の電界強度が得られた測定点とは、前記放射源の放射パターンのヌル点以外の位置である。 One aspect of the present invention is the above-mentioned radiation interference wave measuring device, and the measurement point at which the predetermined electric field strength at the predetermined frequency is obtained is a position other than the null point of the radiation pattern of the radiation source. ..

本発明の一態様は、上述の放射妨害波測定装置であって、前記第2の測定器の周波数分解能帯域幅は、前記第1の測定器の周波数分解能帯域幅と同一の値に設定される。 One aspect of the present invention is the above-mentioned radiation interference wave measuring device, in which the frequency resolution bandwidth of the second measuring device is set to the same value as the frequency resolution bandwidth of the first measuring device. ..

本発明の一態様は、上述の放射妨害波測定装置であって、前記第2の測定器において前記電界強度をリアルタイムに測定する測定方法は、前記第1の測定器において前記電界強度の周波数スペクトラムを測定する測定方法と同一である。 One aspect of the present invention is the above-mentioned radiation interference wave measuring device, and the measuring method for measuring the electric field strength in real time in the second measuring device is a frequency spectrum of the electric field strength in the first measuring device. It is the same as the measurement method for measuring.

本発明の一態様は、放射妨害波を受信するアンテナを備え、放射妨害波の放射源を囲む面上に形成される電界強度分布が正しく測定されたか否かを判定する放射妨害波測定装置の判定方法であって、前記放射源を囲む面上に設定された複数の測定点において、前記アンテナで受信される電界強度の周波数スペクトルを第1の滞留時間で測定する前記電界強度分布を測定する第1の測定ステップと、前記第1の測定ステップで測定された電界強度分布のうち、所定の周波数における所定の電界強度が得られた測定点において、前記アンテナで受信される前記所定の周波数の電界強度を、前記第1の滞留時間と同一の値に設定された第2の滞留時間ごとにリアルタイムで測定する第2の測定ステップと、前記第2の測定ステップで測定された前記電界強度に基づいて、前記第1の測定ステップで測定された前記電界強度の周波数スペクトルが正しく測定されたか否かを判定する判定ステップと、を含む判定方法である。 One aspect of the present invention is a radiation interference wave measuring device including an antenna for receiving radiation interference waves and determining whether or not the electric field intensity distribution formed on the surface surrounding the radiation source of the radiation interference waves is correctly measured. In the determination method, the electric field strength distribution is measured by measuring the frequency spectrum of the electric field strength received by the antenna with the first residence time at a plurality of measurement points set on the surface surrounding the radiation source. Of the first measurement step and the electric field strength distribution measured in the first measurement step, at the measurement point where the predetermined electric field strength at the predetermined frequency is obtained, the predetermined frequency received by the antenna The electric field strength is set to the second measurement step in which the electric field strength is measured in real time for each second residence time set to the same value as the first residence time, and the electric field strength measured in the second measurement step. Based on this, it is a determination method including a determination step of determining whether or not the frequency spectrum of the electric field strength measured in the first measurement step is correctly measured.

以上説明したように、本発明によれば、間欠ノイズの見逃しを低減することができる。 As described above, according to the present invention, it is possible to reduce oversight of intermittent noise.

本発明の一実施形態に係る放射妨害波測定装置Aの概略構成の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the schematic structure of the radiation interference wave measuring apparatus A which concerns on one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態に係る第1の測定器4の測定原理を説明する図である。It is a figure explaining the measurement principle of the 1st measuring instrument 4 which concerns on one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態に係る制御装置7のハードウェア構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the hardware structure of the control device 7 which concerns on one Embodiment of this invention. 間欠ノイズの発生周期と第1の滞留時間との関係を説明する図である。It is a figure explaining the relationship between the generation period of intermittent noise, and the first residence time. 本発明の一実施形態に係る最大電界強度の位置推定方法の一連の動作のフロー図である。It is a flow chart of a series of operations of the position estimation method of the maximum electric field strength which concerns on one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態に係る第1の測定器4が測定した電界強度分布の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the electric field strength distribution measured by the 1st measuring instrument 4 which concerns on one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態に係る検証実験の方法を説明する図である。It is a figure explaining the method of the verification experiment which concerns on one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態に係る検証実験で測定された電界強度を示した等高線図。The contour line which showed the electric field strength measured in the verification experiment which concerns on one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態に係る検証実験で測定された時間波形を示す図である。It is a figure which shows the time waveform measured in the verification experiment which concerns on one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態に係る検証実験において電界強度が正確に測定された否かの判定結果と、本発明の一実施形態に係る放射妨害波装置AのステップS114からステップS117までの判定方法を用いた判定結果とをそれぞれ滞留時間ごとにまとめた特性表を示す図である。The determination result of whether or not the electric field strength was accurately measured in the verification experiment according to the embodiment of the present invention and the determination method from step S114 to step S117 of the radiation interference device A according to the embodiment of the present invention. It is a figure which shows the characteristic table which summarized the determination result used for each residence time.

以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。なお、図面において、同一又は類似の部分には同一の符号を付して、重複する説明を省く場合がある。また、図面における要素の形状及び大きさなどはより明確な説明のために誇張されることがある。 Hereinafter, the present invention will be described through embodiments of the invention, but the following embodiments do not limit the inventions claimed in the claims. Also, not all combinations of features described in the embodiments are essential to the means of solving the invention. In the drawings, the same or similar parts may be designated by the same reference numerals to omit duplicate explanations. In addition, the shape and size of elements in the drawings may be exaggerated for a clearer explanation.

以下、本発明の一実施形態に係る放射妨害波測定装置を、図面を用いて説明する。 Hereinafter, the radiation interference wave measuring device according to the embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

図1は、本発明の一実施形態に係る放射妨害波測定装置Aの概略構成の一例を示す図である。放射妨害波測定装置Aは、例えば、EMC規格に従って、供試体である放射源100から放射される放射妨害波を試験する放射妨害波試験に利用される装置である。放射妨害波測定装置Aは、グランドプレーンから形成される金属床面を有する電波暗室内に配置される。電波暗室には、金属床面を除くシールドルームの壁面に電波吸収体が貼り付けられて構成されている。ここで、放射源100とは、放射妨害波を放射する電子機器等である。 FIG. 1 is a diagram showing an example of a schematic configuration of a radiation interference wave measuring device A according to an embodiment of the present invention. The radiation jamming wave measuring device A is, for example, a device used for a radiation jamming wave test for testing a radiation jamming wave emitted from a radiation source 100 which is a specimen according to an EMC standard. The radiated interference wave measuring device A is arranged in an anechoic chamber having a metal floor surface formed from a ground plane. The anechoic chamber is configured by attaching a radio wave absorber to the wall surface of the shield room excluding the metal floor. Here, the radiation source 100 is an electronic device or the like that emits a radiation interference wave.

図1に示すように、放射妨害波測定装置Aは、受信アンテナ1、アンテナマスト2、ターンテーブル3、第1の測定器4、第2の測定器5、駆動制御部6、及び制御装置7を備える。なお、アンテナマスト2、ターンテーブル3、及び駆動制御部6は、位置制御機構を構成する。 As shown in FIG. 1, the radiation interference wave measuring device A includes a receiving antenna 1, an antenna mast 2, a turntable 3, a first measuring device 4, a second measuring device 5, a drive control unit 6, and a control device 7. To be equipped. The antenna mast 2, the turntable 3, and the drive control unit 6 constitute a position control mechanism.

受信アンテナ1は、アンテナマスト2に取り付けられており、放射源100から所定の距離を隔てた位置に配置される。受信アンテナ1は、放射源100から放射される放射妨害波を受信する。 The receiving antenna 1 is attached to the antenna mast 2 and is arranged at a position separated from the radiation source 100 by a predetermined distance. The receiving antenna 1 receives the radiated interfering wave radiated from the radiation source 100.

アンテナマスト2は、受信アンテナ1を支持する。アンテナマスト2は、駆動制御部6の制御により、受信アンテナ1を昇降させる。
ターンテーブル3は、例えば、グランドプレーンに取り付けられた円盤状の回転台である。ターンテーブル3は、駆動制御部6の制御により、グランドプレーンに垂直な方向の軸を中心として回転可能である。ターンテーブル3の上には、例えばテーブル200を介して供試体である放射源100が載置される。
The antenna mast 2 supports the receiving antenna 1. The antenna mast 2 raises and lowers the receiving antenna 1 under the control of the drive control unit 6.
The turntable 3 is, for example, a disk-shaped turntable attached to a ground plane. The turntable 3 can rotate about an axis in the direction perpendicular to the ground plane under the control of the drive control unit 6. On the turntable 3, for example, the radiation source 100, which is a specimen, is placed via the table 200.

第1の測定器4は、例えば、通信ケーブルを介して受信アンテナ1に接続される。
第1の測定器4は、受信アンテナ1で受信された電界強度の周波数スペクトルを測定する。これにより、第1の測定器4は、放射源100を囲む面上に形成される電界強度分布を測定する。
具体的には、第1の測定器4は、放射源100を囲む面上に設定された複数の測定点において、受信アンテナ1で受信される電界強度の周波数スペクトルを第1の滞留時間で測定する。例えば、第1の測定器4は、スーパーヘテロダイン方式のスペクトラムアナライザである。
The first measuring instrument 4 is connected to the receiving antenna 1 via, for example, a communication cable.
The first measuring instrument 4 measures the frequency spectrum of the electric field strength received by the receiving antenna 1. As a result, the first measuring instrument 4 measures the electric field intensity distribution formed on the surface surrounding the radiation source 100.
Specifically, the first measuring instrument 4 measures the frequency spectrum of the electric field strength received by the receiving antenna 1 with the first residence time at a plurality of measuring points set on the surface surrounding the radiation source 100. To do. For example, the first measuring instrument 4 is a superheterodyne spectrum analyzer.

例えば、図2に示すように、第1の測定器4は、所定のサンプリング時間ごとに分解能帯域幅300で測定できる周波数を変化させながら(掃引しながら)、周波数スペクトラムを測定する。この場合に、第1の滞留時間は、上述の所定の周波数におけるサンプリング時間であって、掃引時間を掃引ポイント数で割った時間である。ただし、本発明の第1の測定器4は、スーパーヘテロダイン方式のスペクトラムアナライザに限定されず、例えば、FFTベースのスペクトラムアナライザであってもよい。この場合には、第1の滞留時間は時間波形のサンプリング時間である。第1の測定器4は、測定した周波数スペクトラムを制御装置7に出力する。 For example, as shown in FIG. 2, the first measuring instrument 4 measures the frequency spectrum while changing (sweeping) the frequency that can be measured with the resolution bandwidth 300 every predetermined sampling time. In this case, the first residence time is the sampling time at the above-mentioned predetermined frequency, which is the time obtained by dividing the sweep time by the number of sweep points. However, the first measuring instrument 4 of the present invention is not limited to the superheterodyne spectrum analyzer, and may be, for example, an FFT-based spectrum analyzer. In this case, the first residence time is the sampling time of the time waveform. The first measuring instrument 4 outputs the measured frequency spectrum to the control device 7.

第2の測定器5は、例えば、通信ケーブルを介して受信アンテナ1に接続される。
第2の測定器5は、予め定めた時間の間(以下、「監視時間」という。)、受信アンテナ1で受信された電界強度をリアルタイムに測定する。具体的には、第2の測定器5は、第1の測定器4により測定された電界強度分布のうち、所定の周波数における所定の電界強度が得られた測定点において、受信アンテナ1で受信される所定の周波数の電界強度を、監視時間の間において第2の滞留時間ごとにリアルタイムで測定する。例えば、所定の電界強度とは、第1の測定器4により測定された電界強度分布のうち、最大の電界強度である。
The second measuring instrument 5 is connected to the receiving antenna 1 via, for example, a communication cable.
The second measuring instrument 5 measures the electric field strength received by the receiving antenna 1 in real time during a predetermined time (hereinafter, referred to as “monitoring time”). Specifically, the second measuring instrument 5 receives the electric field strength distribution measured by the first measuring instrument 4 by the receiving antenna 1 at a measurement point where a predetermined electric field strength at a predetermined frequency is obtained. The electric field strength of a predetermined frequency is measured in real time for each second residence time during the monitoring time. For example, the predetermined electric field strength is the maximum electric field strength in the electric field strength distribution measured by the first measuring instrument 4.

例えば、第2の測定器5は、リアルタイムスペクトラムアナライザやZeroスパンモードに設定されたスペクトラムアナライザ、EMIレシーバーである。ただし、本発明の第2の測定器5は、第2の滞留時間ごとに切れ目なく電界強度を測定できる測定器であれば、特に限定されない。ただし、第2の滞留時間は、第1の滞留時間と同一の値に設定される必要がある。 For example, the second measuring instrument 5 is a real-time spectrum analyzer, a spectrum analyzer set in Zero span mode, and an EMI receiver. However, the second measuring instrument 5 of the present invention is not particularly limited as long as it can measure the electric field strength seamlessly for each second residence time. However, the second residence time needs to be set to the same value as the first residence time.

第2の測定器5は、第1の滞留時間と同一の値である第2の滞留時間ごとに所定の周波数における電界強度を測定し、その測定した電界強度を制御装置7に出力する。 The second measuring instrument 5 measures the electric field strength at a predetermined frequency for each second residence time, which is the same value as the first residence time, and outputs the measured electric field strength to the control device 7.

駆動制御部6は、アンテナマスト2とターンテーブル3とのそれぞれに通信ケーブルを介して接続されている。また、駆動制御部6は、例えば、通信ケーブルを介して制御装置7に接続されている。 The drive control unit 6 is connected to each of the antenna mast 2 and the turntable 3 via a communication cable. Further, the drive control unit 6 is connected to the control device 7 via, for example, a communication cable.

駆動制御部6は、放射源100に対する受信アンテナ1の相対的位置を変更可能である。駆動制御部6は、制御装置7からの制御に基づいて、ターンテーブル3を所定の角度間隔で回転させる。また、駆動制御部6は、制御装置7からの制御に基づいて、アンテナマスト2で受信アンテナ1を所定の高さ間隔で上昇又は下降させる。 The drive control unit 6 can change the relative position of the receiving antenna 1 with respect to the radiation source 100. The drive control unit 6 rotates the turntable 3 at predetermined angular intervals based on the control from the control device 7. Further, the drive control unit 6 raises or lowers the receiving antenna 1 at predetermined height intervals with the antenna mast 2 based on the control from the control device 7.

以下に、本発明の一実施形態に係る制御装置7について、具体的に説明する。 The control device 7 according to the embodiment of the present invention will be specifically described below.

図1に示すように、制御装置7は、制御部71及び演算処理部72を備える。 As shown in FIG. 1, the control device 7 includes a control unit 71 and an arithmetic processing unit 72.

制御部71は、第1の測定器4及び第2の測定器5のそれぞれの測定の制御を行う。また、制御部71は、駆動制御部6の駆動を制御する。 The control unit 71 controls the measurement of each of the first measuring instrument 4 and the second measuring instrument 5. Further, the control unit 71 controls the drive of the drive control unit 6.

演算処理部72は、第2の測定器5で測定された第2の滞留時間ごとの電界強度に基づいて、第1の測定器4で測定された電界強度分布が正しく測定されたか否かを判定する。 The arithmetic processing unit 72 determines whether or not the electric field strength distribution measured by the first measuring instrument 4 is correctly measured based on the electric field strength for each second residence time measured by the second measuring instrument 5. judge.

具体的には、演算処理部72は、第2の滞留時間ごとの電界強度と、第2の滞留時間ごとの電界強度の平均値との差分値が、予め設定された閾値(以下、「差分閾値」という。)を所定回数(以下、「回数閾値」という。)超える場合には、第1の測定器4で測定された電界強度分布が正しく測定されていないと判定する。 Specifically, in the arithmetic processing unit 72, the difference value between the electric field strength for each second residence time and the average value of the electric field strength for each second residence time is set to a preset threshold value (hereinafter, “difference”). When it exceeds a predetermined number of times (hereinafter referred to as "number of times threshold value"), it is determined that the electric field strength distribution measured by the first measuring instrument 4 is not correctly measured.

図3は、図2における制御装置7のハードウェア構成を示すブロック図である。制御装置7は、主制御部801、入力装置802、出力装置803、記憶装置804、及びバス806を備える。バス806は、主制御部801、入力装置802、出力装置803、及び記憶装置804のそれぞれを互いに接続する。 FIG. 3 is a block diagram showing a hardware configuration of the control device 7 in FIG. The control device 7 includes a main control unit 801, an input device 802, an output device 803, a storage device 804, and a bus 806. The bus 806 connects the main control unit 801 and the input device 802, the output device 803, and the storage device 804 to each other.

主制御部801は、CPU(中央処理装置)及びRAM(ランダムアクセスメモリ)を備えている。
入力装置802は、放射妨害波測定装置Aの動作に必要な情報の入力や各種の動作の指示を行うために用いられる。
出力装置803は、放射妨害波測定装置Aの動作に関連する各種の情報を出力(表示を含む)するために用いられる。
The main control unit 801 includes a CPU (central processing unit) and a RAM (random access memory).
The input device 802 is used for inputting information necessary for the operation of the radiation interference wave measuring device A and instructing various operations.
The output device 803 is used to output (including display) various information related to the operation of the radiation interference wave measuring device A.

記憶装置804は、情報を記憶できるものであれば、その形態は問わないが、例えばハードディスク装置または光ディスク装置である。また、記憶装置804は、コンピュータ読み取り可能な記録媒体805に対して情報を記録し、また記録媒体805より情報を再生するようになっている。
記録媒体805は、例えばハードディスクまたは光ディスクである。記録媒体805は、図1に示した制御部71及び演算処理部72を実現するためのプログラムを記録した記録媒体であってもよい。
The storage device 804 is not limited in any form as long as it can store information, and is, for example, a hard disk device or an optical disk device. Further, the storage device 804 records information on a computer-readable recording medium 805, and reproduces the information from the recording medium 805.
The recording medium 805 is, for example, a hard disk or an optical disk. The recording medium 805 may be a recording medium on which a program for realizing the control unit 71 and the arithmetic processing unit 72 shown in FIG. 1 is recorded.

主制御部801は、例えば記憶装置804の記録媒体805に記録されたプログラムを実行することにより、図1に示した制御部71及び演算処理部72の機能を発揮するようになっている。なお、図1に示した制御部71及び演算処理部72は、物理的に別個の要素ではなく、ソフトウェアによって実現されてもよい。 The main control unit 801 is adapted to exert the functions of the control unit 71 and the arithmetic processing unit 72 shown in FIG. 1 by executing, for example, a program recorded on the recording medium 805 of the storage device 804. The control unit 71 and the arithmetic processing unit 72 shown in FIG. 1 are not physically separate elements, but may be realized by software.

(判定原理)
以下に、演算処理部72において、第1の測定器4で測定された電界強度分布が正しく測定されたか否かを判定する判定原理について、説明する。
図4に示すように、間欠ノイズの発生周期よりも第1の滞留時間が短い場合のハイトパターン301では、第1の滞留時間が長い場合のハイトパターン302とは異なり、電界強度に抜けが発生することになる。このため、第1の測定器4で測定して得られた電界強度分布は、正確に測定されていない可能性がある。そこで、第1の測定器4が測定した電界強度分布が、正確に測定されているかどうかを判定する必要がある。
(Judgment principle)
Hereinafter, the determination principle for determining whether or not the electric field strength distribution measured by the first measuring instrument 4 is correctly measured in the arithmetic processing unit 72 will be described.
As shown in FIG. 4, in the height pattern 301 when the first residence time is shorter than the generation cycle of the intermittent noise, unlike the height pattern 302 when the first residence time is long, the electric field strength is lost. Will be done. Therefore, the electric field strength distribution obtained by measuring with the first measuring instrument 4 may not be accurately measured. Therefore, it is necessary to determine whether or not the electric field strength distribution measured by the first measuring instrument 4 is accurately measured.

ここで、第1の測定器4において電界強度分布が正確に測定されているかどうかは、間欠ノイズの有無を判定すればよい。この間欠ノイズは、第1の測定器4における第1の滞留時間よりも周期が長い放射妨害波である。そのため、第1の滞留時間ごとに切れ目なく電界強度を測定し、その測定により得られた電界強度が変動するかどうかを判定すれば、間欠ノイズの有無の判定をすることができる。 Here, whether or not the electric field strength distribution is accurately measured by the first measuring instrument 4 may be determined by determining the presence or absence of intermittent noise. This intermittent noise is a radiation interference wave having a period longer than that of the first residence time in the first measuring instrument 4. Therefore, the presence or absence of intermittent noise can be determined by measuring the electric field strength seamlessly for each first residence time and determining whether or not the electric field strength obtained by the measurement fluctuates.

例えば、第1の滞留時間が間欠ノイズの発生周期より短い場合、間欠ノイズの捕捉率は100%未満となることから電界強度が時間的に変動する。一方、第1の滞留時間が間欠ノイズの発生周期よりも長い場合、間欠ノイズの捕捉率は100%となるため、電界強度は時間的に変動しない。
したがって、電界強度の変動が大きい場合、すなわち間欠ノイズの捕捉率が100%でない場合には、間欠ノイズが存在すると判断することができる。したがって、第2の測定器5は、第1の滞留時間と同一の値である第2の滞留時間ごとに切れ目なく電界強度を測定し、得られた電界強度が変動するかどうかを判断すれば、間欠ノイズの有無の判定をすることができる。
For example, when the first residence time is shorter than the generation cycle of the intermittent noise, the capture rate of the intermittent noise is less than 100%, so that the electric field strength fluctuates with time. On the other hand, when the first residence time is longer than the generation cycle of the intermittent noise, the capture rate of the intermittent noise is 100%, so that the electric field strength does not fluctuate with time.
Therefore, when the fluctuation of the electric field strength is large, that is, when the capture rate of the intermittent noise is not 100%, it can be determined that the intermittent noise exists. Therefore, the second measuring instrument 5 continuously measures the electric field strength for each second residence time, which is the same value as the first residence time, and determines whether or not the obtained electric field strength fluctuates. , It is possible to determine the presence or absence of intermittent noise.

なお、その際に、リアルタイムに電界強度を測定できる第2の測定器5で使用されるRBW(周波数分解能帯域幅)を電界強度分布測定時のRBW(第1の測定器4のRBW)と同一の値に設定することで、周波数分解能が電界強度分布測定時と同じになり正確に判定することができる。ただし、本発明では、必ずしもRBWを同一に値にする必要はない。 At that time, the RBW (frequency resolution bandwidth) used in the second measuring instrument 5 capable of measuring the electric field strength in real time is the same as the RBW (RBW of the first measuring instrument 4) at the time of measuring the electric field strength distribution. By setting the value to, the frequency resolution becomes the same as that at the time of measuring the electric field strength distribution, and accurate judgment can be made. However, in the present invention, the RBW does not necessarily have to be the same value.

また、リアルタイムに電界強度を測定できる第2の測定器5の検波方式は、それぞれの検波方式の時間的な応答が異なることから、電界強度分布測定時((第1の測定器4の測定時)と同じ検波方式を用いることで正確に判定ができる。ただし、本発明では、必ずしも検波方式を一致させる必要はない。なお、検波方式には、尖頭値検波、準尖頭値検波、平均値検波等がある。 Further, since the detection method of the second measuring instrument 5 capable of measuring the electric field strength in real time has a different temporal response of each detection method, the electric field strength distribution is measured ((when measuring the first measuring instrument 4). ), The determination can be made accurately. However, in the present invention, it is not always necessary to match the detection methods. The detection methods include peak value detection, quasi-peak detection, and average. There is value detection etc.

また、放射源100の放射パターンのヌル点の位置で電界強度を測定した場合には間欠ノイズが発生していてもその間欠ノイズを測定することができない。そのため、第2の測定器5の測定においては、最大電界強度が得られる位置で測定を行う。ただし、測定位置が放射パターンのヌル点でなければ、第2の測定器5の測定においては、最大電界強度が得られる位置でなくてもよい。 Further, when the electric field strength is measured at the position of the null point of the radiation pattern of the radiation source 100, the intermittent noise cannot be measured even if the intermittent noise is generated. Therefore, in the measurement of the second measuring instrument 5, the measurement is performed at a position where the maximum electric field strength can be obtained. However, if the measurement position is not the null point of the radiation pattern, it does not have to be the position where the maximum electric field strength can be obtained in the measurement of the second measuring instrument 5.

以下、本発明の一実施形態に係る妨害波測定装置Aにおいて、最大電界強度の位置推定方法の一連の動作について、図5を用いて説明する。 Hereinafter, in the interference wave measuring device A according to the embodiment of the present invention, a series of operations of the position estimation method of the maximum electric field strength will be described with reference to FIG.

操作者は、最大電界強度の位置推定方法における測定条件を制御装置7に入力する(ステップS101)。
測定条件とは、例えば、測定する周波数帯域(測定周波数帯域)、高さ方向の測定範囲(高さ方向測定範囲)、高さ方向測定範囲内で設定される複数の測定点の間隔(高さ間隔)、測定する回転角度範囲、回転角度範囲内で設定される複数の測定点の間隔(角度間隔)、滞留時間(第1の滞留時間,第2の滞留時間)、検波方式、RBW、監視時間、差分閾値、回数閾値等である。
The operator inputs the measurement conditions in the position estimation method of the maximum electric field strength to the control device 7 (step S101).
The measurement conditions include, for example, the frequency band to be measured (measurement frequency band), the measurement range in the height direction (measurement range in the height direction), and the interval (height) between a plurality of measurement points set within the measurement range in the height direction. Interval), rotation angle range to be measured, interval between multiple measurement points set within the rotation angle range (angle interval), residence time (first residence time, second residence time), detection method, RBW, monitoring Time, difference threshold, number of times threshold, etc.

制御部71は、第1の測定器4の第1の滞留時間、検波方法及びRBWを、ステップS101で操作者により入力された第1の滞留時間、検波方法及びRBWに設定する(ステップS102)。 The control unit 71 sets the first residence time, detection method, and RBW of the first measuring instrument 4 to the first residence time, detection method, and RBW input by the operator in step S101 (step S102). ..

制御部71は、駆動制御部6の駆動を制御し、アンテナマスト2をステップS101で設定した高さ方向測定範囲の下限値に移動させる。また、制御部71は、駆動制御部6の駆動を制御し、ターンテーブル3を、ステップS101で設定した回転角度範囲の下限値に回転させる(ステップS103)。 The control unit 71 controls the drive of the drive control unit 6 and moves the antenna mast 2 to the lower limit value of the measurement range in the height direction set in step S101. Further, the control unit 71 controls the drive of the drive control unit 6 to rotate the turntable 3 to the lower limit value of the rotation angle range set in step S101 (step S103).

制御部71は、現在のアンテナマスト2の高さと現在のターンテーブル3の角度とを駆動制御部6より取得する。また、制御部71は、第1の測定器4の測定を開始させ、第1の測定器4が測定した電界強度を取得する(ステップS104)。そして、制御部71は、取得した現在のアンテナマスト2の高さ、現在のターンテーブル3の角度、及び第1の測定器4が測定した電界強度をそれぞれ関連付けて記憶装置804に保存する。ここで、第1の測定器4において得られる電界強度とは、現在のアンテナマスト2の高さと現在のターンテーブル3の角度とで表される測定点において、測定周波数帯域の電界強度である。 The control unit 71 acquires the current height of the antenna mast 2 and the current angle of the turntable 3 from the drive control unit 6. Further, the control unit 71 starts the measurement of the first measuring instrument 4 and acquires the electric field strength measured by the first measuring instrument 4 (step S104). Then, the control unit 71 stores the acquired height of the current antenna mast 2, the current angle of the turntable 3, and the electric field strength measured by the first measuring instrument 4 in the storage device 804 in association with each other. Here, the electric field strength obtained in the first measuring instrument 4 is the electric field strength in the measurement frequency band at the measurement point represented by the current height of the antenna mast 2 and the current angle of the turntable 3.

制御部71は、駆動制御部6の駆動を制御し、ターンテーブル3を、ステップS101で設定した角度間隔で回転させる(ステップS105)。 The control unit 71 controls the drive of the drive control unit 6 and rotates the turntable 3 at the angular interval set in step S101 (step S105).

制御部71は、現在のターンテーブル3の角度を駆動制御部6より取得し、取得した角度を演算処理部72に出力する。そして、演算処理部72は、制御部71から取得した、現在のターンテーブル3の角度が、ステップS101で設定した回転角度範囲の上限値か否かを判定する(ステップS106)。 The control unit 71 acquires the current angle of the turntable 3 from the drive control unit 6, and outputs the acquired angle to the arithmetic processing unit 72. Then, the arithmetic processing unit 72 determines whether or not the current angle of the turntable 3 acquired from the control unit 71 is the upper limit value of the rotation angle range set in step S101 (step S106).

演算処理部72は、制御部71から取得した現在のターンテーブル3の角度が、回転角度範囲の上限値であると判定した場合には、ステップS107に進む。一方、演算処理部72は、制御部71から取得した現在のターンテーブル3の角度が、回転角度範囲の上限値ではないと判定した場合には、ステップS104に戻る。 When the arithmetic processing unit 72 determines that the current angle of the turntable 3 acquired from the control unit 71 is the upper limit value of the rotation angle range, the calculation processing unit 72 proceeds to step S107. On the other hand, when the arithmetic processing unit 72 determines that the current angle of the turntable 3 acquired from the control unit 71 is not the upper limit value of the rotation angle range, the calculation processing unit 72 returns to step S104.

制御部71は、駆動制御部6の駆動を制御し、アンテナマスト2を、ステップS101で設定した高さ間隔で上昇させる(ステップS107)。 The control unit 71 controls the drive of the drive control unit 6 and raises the antenna mast 2 at the height interval set in step S101 (step S107).

制御部71は、現在のアンテナマスト2の高さを駆動制御部6より取得し、その取得した現在のアンテナマスト2の高さを演算処理部72に出力する。そして、演算処理部72は、制御部71から取得した現在のアンテナマスト2の高さが、ステップS101で設定した高さ方向測定範囲の上限値か否を判定する(ステップ108)。 The control unit 71 acquires the current height of the antenna mast 2 from the drive control unit 6, and outputs the acquired current height of the antenna mast 2 to the arithmetic processing unit 72. Then, the arithmetic processing unit 72 determines whether or not the current height of the antenna mast 2 acquired from the control unit 71 is the upper limit value of the height direction measurement range set in step S101 (step 108).

演算処理部72は、制御部71から取得した現在のアンテナマスト2の高さが、高さ方向測定範囲の上限値であると判定した場合には、ステップS109に進む。一方、演算処理部72は、制御部71から取得した現在のアンテナマスト2の高さが、高さ方向測定範囲の上限値ではないと判定した場合には、ステップS104に戻る。 When the arithmetic processing unit 72 determines that the current height of the antenna mast 2 acquired from the control unit 71 is the upper limit value of the measurement range in the height direction, the calculation processing unit 72 proceeds to step S109. On the other hand, when the arithmetic processing unit 72 determines that the current height of the antenna mast 2 acquired from the control unit 71 is not the upper limit value of the measurement range in the height direction, the process returns to step S104.

上述したように、ステップS101からステップS108までの処理が完了すると第1の測定器4により、複数の測定点において、電界強度の周波数スペクトルが測定されたことになる。すなわち、放射妨害波測定装置Aは、最大電界強度が得られる位置を探索するために、受信アンテナ1の高さと供試体(放射源100)の角度を変えながら、図6に示すような試供体を囲むような電界強度分布400を測定したことになる。 As described above, when the processes from step S101 to step S108 are completed, the frequency spectrum of the electric field strength is measured at a plurality of measurement points by the first measuring instrument 4. That is, the radiation interference wave measuring device A changes the height of the receiving antenna 1 and the angle of the specimen (radiation source 100) in order to search for the position where the maximum electric field strength can be obtained, and the specimen as shown in FIG. It means that the electric field strength distribution 400 surrounding the above was measured.

次に、第1の測定器4で測定された電界強度分布400が正しく測定されたか否かを判定する方法について、説明する。
操作者は、電界強度分布400が正しく測定されたかを判定する周波数(以下、「判定周波数」という。)を選定する(ステップS109)。以降のフローについては、この判定周波数において処理を実行する。なお、この判定周波数とは、単一の周波数を示すものではなく、判定周波数を含む所定の周波数帯域を示すものである。
Next, a method of determining whether or not the electric field strength distribution 400 measured by the first measuring instrument 4 is correctly measured will be described.
The operator selects a frequency for determining whether the electric field strength distribution 400 is correctly measured (hereinafter, referred to as “determination frequency”) (step S109). For the subsequent flows, processing is executed at this determination frequency. The determination frequency does not indicate a single frequency, but indicates a predetermined frequency band including the determination frequency.

演算処理部72は、記憶装置804に保存された、ステップS103からステップS108で測定された電界強度分布から、最大電界強度が得られる受信アンテナ1の高さ(アンテナ高さ)とターンテーブル3の角度(ターンテーブル角度)を特定する(ステップS110)。演算処理部72は、特定した、最大電界強度が得られるアンテナ高さとターンテーブル角度とを記憶装置804に保存する。 The arithmetic processing unit 72 determines the height (antenna height) of the receiving antenna 1 and the turntable 3 from which the maximum electric field strength can be obtained from the electric field strength distribution measured in steps S103 to S108 stored in the storage device 804. The angle (turntable angle) is specified (step S110). The arithmetic processing unit 72 stores the identified antenna height and turntable angle at which the maximum electric field strength can be obtained in the storage device 804.

制御部71は、駆動制御部6の駆動を制御し、ステップS110で特定されたアンテナ高さの位置に、アンテナマスト2を移動させる。また、制御部71は、駆動制御部6の駆動を制御し、ステップS110で特定されたターンテーブル角度の位置に、ターンテーブル3を回転させる(ステップS111)。 The control unit 71 controls the drive of the drive control unit 6 and moves the antenna mast 2 to the position of the antenna height specified in step S110. Further, the control unit 71 controls the drive of the drive control unit 6 and rotates the turntable 3 to the position of the turntable angle specified in step S110 (step S111).

制御部71は、第2の測定器5の第2の滞留時間、検波方法及びRBWを、ステップS102で第1の測定器4に設定した第1の滞留時間、検波方法及びRBWと同一に設定する(ステップS112)。 The control unit 71 sets the second residence time, detection method, and RBW of the second measuring instrument 5 to be the same as the first residence time, detection method, and RBW set in the first measuring instrument 4 in step S102. (Step S112).

制御部71は、第2の測定器5の測定を開始させ、第2の測定器5が測定した電界強度を取得する(ステップS113)。すなわち、制御部71は、ステップS101で設定した監視時間の間、第2の滞留時間ごとに電界強度を第2の測定器5により測定させ、第2の測定器が測定した電界強度を取得する。制御部71は、第2の測定器5が測定した電界強度を記憶装置804に保存する。 The control unit 71 starts the measurement of the second measuring instrument 5 and acquires the electric field strength measured by the second measuring instrument 5 (step S113). That is, the control unit 71 causes the second measuring instrument 5 to measure the electric field strength for each second residence time during the monitoring time set in step S101, and acquires the electric field strength measured by the second measuring instrument. .. The control unit 71 stores the electric field strength measured by the second measuring device 5 in the storage device 804.

演算処理部72は、ステップS113で測定した第2の滞留時間ごとの電界強度から平均値を算出する。そして、演算処理部72は、記憶装置804に保存された第2の滞留時間ごとの各電界強度と、算出した平均値との差分値をそれぞれ算出して、記憶装置804に保存する(ステップS114)。 The arithmetic processing unit 72 calculates an average value from the electric field strength for each second residence time measured in step S113. Then, the arithmetic processing unit 72 calculates the difference value between each electric field strength for each second residence time stored in the storage device 804 and the calculated average value, and stores the difference value in the storage device 804 (step S114). ).

演算処理部72は、ステップS114で算出された差分値と、ステップS101で設定した差分閾値とを第2の滞留時間ごとに比較する。すなわち、演算処理部72は、差分値が差分閾値を超えるか否かを第2の滞留時間ごとに判定する。そして、演算処理部72は、その差分値が差分閾値を超えた回数が、ステップS101で設定した回数閾値を超えているか否かを判定する(ステップS115)。 The arithmetic processing unit 72 compares the difference value calculated in step S114 with the difference threshold value set in step S101 for each second residence time. That is, the arithmetic processing unit 72 determines whether or not the difference value exceeds the difference threshold value for each second residence time. Then, the arithmetic processing unit 72 determines whether or not the number of times the difference value exceeds the difference threshold value exceeds the number of times threshold value set in step S101 (step S115).

演算処理部72は、第2の滞留時間ごとの差分値が差分閾値を超えた回数が、回数閾値を超えていないと判定した場合には、ステップS103からステップS108で測定された電界強度分布は正しく測定できていると判定する(ステップS116)。そして、制御部71は、電界強度分布が正しく測定できていることを示す情報を制御装置7の表示画面(不図示)に表示する。 When the arithmetic processing unit 72 determines that the number of times the difference value for each second residence time exceeds the difference threshold value does not exceed the number of times threshold value, the electric field strength distribution measured in steps S103 to S108 is determined. It is determined that the measurement is correct (step S116). Then, the control unit 71 displays information indicating that the electric field strength distribution can be measured correctly on the display screen (not shown) of the control device 7.

一方、演算処理部72は、第2の滞留時間ごとの差分値が差分閾値を超えた回数が、回数閾値を超えていると判定した場合には、ステップS103からステップS108で測定された電界強度分布は正しく測定できていないと判定する(ステップS117)。そして、制御部71は、電界強度分布が正しく測定できていないことを示す情報を制御装置7の表示画面(不図示)に表示する。 On the other hand, when the arithmetic processing unit 72 determines that the number of times the difference value for each second residence time exceeds the difference threshold value exceeds the number of times threshold value, the electric field strength measured in steps S103 to S108. It is determined that the distribution has not been measured correctly (step S117). Then, the control unit 71 displays information indicating that the electric field strength distribution cannot be measured correctly on the display screen (not shown) of the control device 7.

なお、複数の判定周波数で上記判定を行う場合は、ステップS109からステップS117までを繰り返せばよい。 When the above determination is performed at a plurality of determination frequencies, steps S109 to S117 may be repeated.

(検証実験)
以下に、本発明の実施形態に係る放射妨害波測定装置Aにおける判定原理の妥当性を検証するために行った実験について、図7から図10を参照して、説明する。
(Verification experiment)
Hereinafter, an experiment conducted for verifying the validity of the determination principle in the radiation interference wave measuring device A according to the embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 7 to 10.

図7は、本発明の一実施形態に係る検証実験の方法を説明するための説明図である。
検証実験に用いる測定対象の放射源500は、バイコニカルアンテナ501に信号発生器502を接続したものである。バイコニカルアンテナ501は、高さ1.0m位置に配置される。信号発生器502は、バイコニカルアンテナ501に対して、90msごとに100MHzの正弦波の信号(以下、「正弦波信号」という。)を出力している。
受信アンテナ1は、バイコニカルアンテナ501から3m離れた位置に設置されている。
FIG. 7 is an explanatory diagram for explaining a method of a verification experiment according to an embodiment of the present invention.
The radiation source 500 to be measured used in the verification experiment is a biconical antenna 501 connected to a signal generator 502. The biconical antenna 501 is arranged at a height of 1.0 m. The signal generator 502 outputs a 100 MHz sine wave signal (hereinafter, referred to as “sine wave signal”) to the biconical antenna 501 every 90 ms.
The receiving antenna 1 is installed at a position 3 m away from the biconical antenna 501.

上述したような実験条件下で第1の測定器4の第1の滞留時間を変化させて電界強度分布を測定した。なお、本検証実験では、第1の滞留時間を、信号発生器502から出力される正弦波信号の発生周期より短い10ms、50ms、その正弦波信号の発生周期と同じ90ms、正弦波信号の発生周期よりも充分長い200msの4パターンにそれぞれ変化させて、放射源500を囲む面上に形成される電界強度分布を測定した。 Under the experimental conditions as described above, the electric field strength distribution was measured by changing the first residence time of the first measuring instrument 4. In this verification experiment, the first residence time is 10 ms, 50 ms, which is shorter than the generation cycle of the sine wave signal output from the signal generator 502, 90 ms, which is the same as the generation cycle of the sine wave signal, and the generation of the sine wave signal. The electric field intensity distribution formed on the surface surrounding the radiation source 500 was measured by changing each of the four patterns of 200 ms, which is sufficiently longer than the period.

そして、制御装置7は、第1の測定器4で電界強度分布を測定した後、その電界強度分布において、最大電界強度が得られるアンテナ高さ及びターンテーブル角度の位置に、受信アンテナ1及びターンテーブル3を移動させて、第2の測定器5を用いて第2の滞留時間ごとに電界強度の時間波形を10s間(監視時間=10s)測定した。 Then, the control device 7 measures the electric field strength distribution with the first measuring device 4, and then, in the electric field strength distribution, the receiving antenna 1 and the turn are located at the positions of the antenna height and the turntable angle where the maximum electric field strength can be obtained. The table 3 was moved, and the time waveform of the electric field strength was measured for 10 s (monitoring time = 10 s) for each second residence time using the second measuring instrument 5.

この場合に、第2の測定器5の第2の滞留時間を、上記電界強度分布測定時と同じく10ms、50ms、90ms、200msと変化させて電界強度を測定した、また、第1の測定器4及び第2の測定器5の検波方式は尖頭値検波とした。以下、第1の滞留時間と第2の滞留時間とは、同一の値であるため、第1の滞留時間と第2の滞留時間のそれぞれを区別しない場合には、単に「滞留時間」という。 In this case, the second residence time of the second measuring instrument 5 was changed to 10 ms, 50 ms, 90 ms, and 200 ms in the same manner as in the electric field strength distribution measurement, and the electric field strength was measured. The detection method of No. 4 and the second measuring instrument 5 was the peak value detection. Hereinafter, since the first residence time and the second residence time have the same value, when each of the first residence time and the second residence time is not distinguished, it is simply referred to as "residence time".

図8は、本発明の一実施形態に係る検証実験で測定された電界強度を示した等高線図である。滞留時間が10msの時の電界強度分布(図8(a))、及び滞留時間が50msの時の電界強度分布(図8(b))は、滞留時間が200msの電界強度分布(図8(d))と比較して電界強度分布に乱れが生じており、正確に測定されていないことが分かる。一方で滞留時間が90msの電界強度分布(図8(c))は、滞留時間が200msの電界強度分布(図8(d))と同じ分布を示しており、正確に測定されていることが分かる。 FIG. 8 is a contour diagram showing the electric field strength measured in the verification experiment according to the embodiment of the present invention. The electric field strength distribution when the residence time is 10 ms (FIG. 8 (a)) and the electric field strength distribution when the residence time is 50 ms (FIG. 8 (b)) are the electric field strength distribution when the residence time is 200 ms (FIG. 8 (Fig. 8)). Compared with d)), the electric field strength distribution is disturbed, and it can be seen that the measurement is not accurate. On the other hand, the electric field strength distribution with a residence time of 90 ms (FIG. 8 (c)) shows the same distribution as the electric field strength distribution with a residence time of 200 ms (FIG. 8 (d)), and it can be measured accurately. I understand.

図9は、本発明の一実施形態に係る検証実験で測定された時間波形を示す図である。滞留時間が10msの時の時間波形(図9(a))及び滞留時間が50msの時の時間波形(図9(b))は変動幅が大きく、本発明の実施形態の放射妨害波装置AのステップS114からステップS117までの判定方法において、差分閾値を+/−2dB、回数閾値を3回として判定を行うと、電界強度分布が正確に測定できないと判定される。 FIG. 9 is a diagram showing a time waveform measured in a verification experiment according to an embodiment of the present invention. The time waveform (FIG. 9 (a)) when the residence time is 10 ms and the time waveform (FIG. 9 (b)) when the residence time is 50 ms have a large fluctuation range, and the radiation interference wave device A according to the embodiment of the present invention. In the determination method from step S114 to step S117, if the determination is performed with the difference threshold set to +/- 2 dB and the number of times threshold value set to 3 times, it is determined that the electric field strength distribution cannot be measured accurately.

一方、滞留時間が90msの時の時間波形(図9(c))及び滞留時間が200msの時間波形(図9(d))は、変動幅が小さく、電界強度分布が正確に測定できていると判定される。 On the other hand, the time waveform when the residence time is 90 ms (FIG. 9 (c)) and the time waveform when the residence time is 200 ms (FIG. 9 (d)) have a small fluctuation range, and the electric field strength distribution can be measured accurately. Is determined.

図10は、本発明の一実施形態に係る検証実験において電界強度が正確に測定された否かの判定結果と、本発明の一実施形態に係る放射妨害波装置AのステップS114からステップS117までの判定方法を用いた判定結果とをそれぞれ滞留時間ごとにまとめた特性表を示す図である。 FIG. 10 shows a determination result of whether or not the electric field strength was accurately measured in the verification experiment according to the embodiment of the present invention, and steps S114 to S117 of the radiation interference device A according to the embodiment of the present invention. It is a figure which shows the characteristic table which summarized the judgment result which used the judgment method of (1) for each residence time.

図10に示すように、電界強度分布測定時の滞留時間(第1の滞留時間)と時間波形測定時の滞留時間(第2の滞留時間)とが同一の値である場合、それぞれの判定結果は必ず同じになることが分かる。すなわち、電界強度分布測定時と同一の滞留時間ごとに電界強度の時間変動を監視することで、電界強度分布が正確に測定できているかどうかを判定することができる。 As shown in FIG. 10, when the residence time (first residence time) at the time of measuring the electric field strength distribution and the residence time (second residence time) at the time of measuring the time waveform are the same values, the respective determination results. It turns out that is always the same. That is, by monitoring the time variation of the electric field strength for each residence time same as that at the time of measuring the electric field strength distribution, it is possible to determine whether or not the electric field strength distribution can be measured accurately.

上述したように、放射妨害波測定装置Aは、放射源を囲む面上に形成される電界強度分布を第1の滞留時間で測定した後に、最大電界強度において、判定周波数の電界強度を第1の滞留時間と同一の値である第2の滞留時間ごとにリアルタイムで測定する。これにより、放射妨害波測定装置Aは、間欠ノイズの見逃しを低減することが可能となり、第2の滞留時間ごとの電界強度に基づいて、電界強度分布が正確に測定されたか否かを判定することができる。 As described above, the radiation interference wave measuring device A measures the electric field strength distribution formed on the surface surrounding the radiation source with the first residence time, and then determines the electric field strength of the determination frequency at the maximum electric field strength. It is measured in real time for each second residence time, which is the same value as the residence time of. As a result, the radiated interference wave measuring device A can reduce the oversight of intermittent noise, and determines whether or not the electric field strength distribution has been accurately measured based on the electric field strength for each second residence time. be able to.

以上、この発明の実施形態について図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計等も含まれる。 Although the embodiments of the present invention have been described in detail with reference to the drawings, the specific configuration is not limited to this embodiment, and includes designs and the like within a range that does not deviate from the gist of the present invention.

なお、上述の形態において、第1の測定器4と第2の測定器5とが、異なる測定器として説明したが、本発明はこれに限定されない。すなわち、第1の測定器4と第2の測定器5とは、同一の測定器であってもよい。 In the above-described embodiment, the first measuring instrument 4 and the second measuring instrument 5 have been described as different measuring instruments, but the present invention is not limited thereto. That is, the first measuring instrument 4 and the second measuring instrument 5 may be the same measuring instrument.

(付記)
放射源を囲む面上に形成される電界強度分布が正しく測定されたかを判定する放射妨害波測定装置であって、
電界測定装置と演算処理部とを備え、
前記電界測定装置は、
放射妨害波を受信するアンテナと、
前記アンテナで受信された電界強度の周波数スペクトルを測定する第1の測定器と
前記アンテナで受信された電界強度をリアルタイムに測定する第2の測定器と
前記放射源に対する前記アンテナの相対的位置を変更可能な位置制御機構と、
前記アンテナと前記第1の測定器と前記第2の測定器と前記位置制御機構を用いた電界強度の測定の制御を行う制御部とを備え、
前記制御部は、
前記第1の測定器の滞留時間を設定する第1の動作を実行し、
前記放射源を囲む面上に複数の測定点を設定する第2の動作を実行し、
前記位置制御機構を制御しながら、前記アンテナを用いて、前記複数の測定点において電界強度の周波数スペクトルを測定する第3の動作を実行し、
前記演算処理部は、
前記第3の動作で測定された前記複数の測定点の電界強度から特定の周波数における最大電界強度が得られるアンテナ高さと供試体角度を検出する第1の演算処理を実行し
前記制御部は、
前記位置制御機構を前記第1の演算処理で得られた最大電界強度が得られるアンテナ高さと供試体角度へ移動する第4の動作を実行し、
前記第2の測定器の滞留時間を前記第1の動作で設定した滞留時間と同じになるように設定する第5の動作を実行し、
予め定めた時間の間、前記第5の動作で設定された滞留時間ごとに特定の周波数における電界強度を測定する第6の動作を実行し、
前記演算処理部は、
前記第6の動作で測定した各滞留時間の電界強度と前記第6の動作で測定した各滞留時間の電界強度の平均値の差分が、予め定められた閾値を予め定められた回数超える場合、前記第2の動作で測定された前記複数の測定点における電界強度が正しく測定されていないと判定する第2の演算処理を実行することを特徴とする放射妨害波測定装置。
(Additional note)
A radiation interference wave measuring device that determines whether the electric field strength distribution formed on the surface surrounding the radiation source has been measured correctly.
Equipped with an electric field measuring device and an arithmetic processing unit
The electric field measuring device is
An antenna that receives radiated interference waves and
The first measuring instrument that measures the frequency spectrum of the electric field strength received by the antenna, the second measuring instrument that measures the electric field strength received by the antenna in real time, and the relative position of the antenna with respect to the radiation source. Changeable position control mechanism and
It includes the antenna, the first measuring instrument, the second measuring instrument, and a control unit that controls the measurement of the electric field strength using the position control mechanism.
The control unit
Performing the first operation of setting the residence time of the first measuring instrument,
A second operation of setting a plurality of measurement points on the surface surrounding the radiation source is performed.
While controlling the position control mechanism, the antenna is used to perform a third operation of measuring the frequency spectrum of the electric field strength at the plurality of measurement points.
The arithmetic processing unit
The control unit executes a first arithmetic process for detecting the antenna height and the specimen angle at which the maximum electric field strength at a specific frequency is obtained from the electric field strengths of the plurality of measurement points measured in the third operation.
The fourth operation of moving the position control mechanism to the antenna height and the specimen angle at which the maximum electric field strength obtained by the first arithmetic processing is obtained is executed.
The fifth operation of setting the residence time of the second measuring instrument to be the same as the residence time set in the first operation is executed.
For a predetermined time, the sixth operation of measuring the electric field strength at a specific frequency is executed for each residence time set in the fifth operation.
The arithmetic processing unit
When the difference between the electric field strength of each residence time measured in the sixth operation and the average value of the electric field strength of each residence time measured in the sixth operation exceeds a predetermined threshold number of times. A radiation interference wave measuring device, characterized in that it executes a second arithmetic process for determining that the electric field strength at the plurality of measuring points measured in the second operation is not correctly measured.

A 放射妨害波測定装置
1 受信アンテナ
2 アンテナマスト
3 ターンテーブル
4 第1の測定器
5 第2の測定器
6 駆動制御部
7 制御装置
71 制御部
72 演算処理部
100 放射源
A Radiation interference wave measuring device 1 Receiving antenna 2 Antenna mast 3 Turntable 4 First measuring device 5 Second measuring device 6 Drive control unit 7 Control device 71 Control unit 72 Arithmetic processing unit 100 Radiation source

Claims (7)

放射妨害波の放射源を囲む面上に形成される電界強度分布が正しく測定されたか否かを判定する放射妨害波測定装置であって、
前記放射妨害波を受信するアンテナと、
前記放射源を囲む面上に設定された複数の測定点において、前記アンテナで受信される電界強度の周波数スペクトルを第1の滞留時間で測定することで前記電界強度分布を測定する第1の測定器と、
前記第1の測定器により測定された前記電界強度分布のうち、所定の周波数における所定の電界強度が得られた測定点において、前記アンテナで受信される前記所定の周波数の電界強度を、第2の滞留時間ごとにリアルタイムで測定する第2の測定器と、
前記第2の測定器で測定された前記電界強度に基づいて、前記第1の測定器で測定された前記電界強度分布が正しく測定されたか否かを判定する制御装置と、
を備え、
前記第2の滞留時間は、前記第1の滞留時間と同一の値に設定されることを特徴とする、放射妨害波測定装置。
A radiation interference wave measuring device that determines whether or not the electric field intensity distribution formed on the surface surrounding the radiation source of radiation interference waves has been measured correctly.
An antenna that receives the radiated interference wave and
A first measurement for measuring the electric field strength distribution by measuring the frequency spectrum of the electric field strength received by the antenna with the first residence time at a plurality of measurement points set on the surface surrounding the radiation source. With a vessel
Of the electric field strength distribution measured by the first measuring instrument, the electric field strength of the predetermined frequency received by the antenna at the measurement point where the predetermined electric field strength at the predetermined frequency is obtained is the second. A second measuring instrument that measures in real time for each residence time of
A control device for determining whether or not the electric field strength distribution measured by the first measuring instrument is correctly measured based on the electric field strength measured by the second measuring instrument.
With
The radiation interference wave measuring device, wherein the second residence time is set to the same value as the first residence time.
前記制御装置は、前記第2の測定器で測定された第2の滞留時間ごとの電界強度と、前記第2の滞留時間ごとの電界強度の平均値との差分値が、予め設定された閾値を所定回数超える場合には、前記第1の測定器で測定された前記電界強度分布が正しく測定されていないと判定することを特徴とする請求項1に記載の放射妨害波測定装置。 In the control device, a preset threshold value is obtained as a difference value between the electric field strength for each second residence time measured by the second measuring device and the average value of the electric field strength for each second residence time. The radiation interference wave measuring device according to claim 1, wherein when the number of times exceeds a predetermined number of times, it is determined that the electric field strength distribution measured by the first measuring device is not correctly measured. 前記所定の電界強度とは、前記第1の測定器により測定された電界強度の周波数スペクトルのうち、最大の電界強度であることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の放射妨害波測定装置。 The radiation interference wave according to claim 1 or 2, wherein the predetermined electric field strength is the maximum electric field strength in the frequency spectrum of the electric field strength measured by the first measuring instrument. measuring device. 前記所定の周波数における所定の電界強度が得られた測定点とは、前記放射源の放射パターンのヌル点以外の位置であることを特徴とする、請求項1又は請求項2に記載の放射妨害波測定装置。 The radiation interference according to claim 1 or 2, wherein the measurement point at which the predetermined electric field strength at the predetermined frequency is obtained is a position other than the null point of the radiation pattern of the radiation source. Wave measuring device. 前記第2の測定器の周波数分解能帯域幅は、前記第1の測定器の周波数分解能帯域幅と同一の値に設定されることを特徴とする、請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の放射妨害波測定装置。 Any one of claims 1 to 4, wherein the frequency resolution bandwidth of the second measuring instrument is set to the same value as the frequency resolution bandwidth of the first measuring instrument. The radiated interfering wave measuring device according to. 前記第2の測定器において前記電界強度をリアルタイムに測定する測定方法は、前記第1の測定器において前記電界強度の周波数スペクトラムを測定する測定方法と同一であることを特徴とする、請求項1から請求項5のいずれか一項に記載の放射妨害波測定装置。 1. The measuring method for measuring the electric field strength in real time in the second measuring instrument is the same as the measuring method for measuring the frequency spectrum of the electric field strength in the first measuring device. The radiated interference wave measuring device according to any one of claims 5. 放射妨害波を受信するアンテナを備え、放射妨害波の放射源を囲む面上に形成される電界強度分布が正しく測定されたか否かを判定する放射妨害波測定装置の判定方法であって、
前記放射源を囲む面上に設定された複数の測定点において、前記アンテナで受信される電界強度の周波数スペクトルを第1の滞留時間で測定する前記電界強度分布を測定する第1の測定ステップと、
前記第1の測定ステップで測定された電界強度分布のうち、所定の周波数における所定の電界強度が得られた測定点において、前記アンテナで受信される前記所定の周波数の電界強度を、前記第1の滞留時間と同一の値に設定された第2の滞留時間ごとにリアルタイムで測定する第2の測定ステップと、
前記第2の測定ステップで測定された前記電界強度に基づいて、前記第1の測定ステップで測定された前記電界強度の周波数スペクトルが正しく測定されたか否かを判定する判定ステップと、
を含む判定方法。
It is a determination method of a radiation interference wave measuring device equipped with an antenna for receiving radiation interference waves and determining whether or not the electric field intensity distribution formed on the surface surrounding the radiation source of the radiation interference waves is correctly measured.
With the first measurement step of measuring the electric field strength distribution for measuring the frequency spectrum of the electric field strength received by the antenna at the first residence time at a plurality of measurement points set on the surface surrounding the radiation source. ,
Among the electric field strength distributions measured in the first measurement step, the electric field strength of the predetermined frequency received by the antenna at the measurement point where the predetermined electric field strength at the predetermined frequency is obtained is the first. A second measurement step of measuring in real time for each second residence time set to the same value as the residence time of
A determination step for determining whether or not the frequency spectrum of the electric field strength measured in the first measurement step is correctly measured based on the electric field strength measured in the second measurement step.
Judgment method including.
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