JP2020101496A - 検査方法および試験装置 - Google Patents

Abstract

【課題】自動開閉器を制御する制御装置に内蔵されたバックアップコンデンサの劣化状態を容易に検査できるようにする。【解決手段】試験装置１は、自動開閉器３を制御する制御装置２の試験のための装置である。試験装置は、電源端子１６＿１〜１６＿ｎ、第１出力端子１３＿１〜１３＿４、第２出力端子１４＿１〜１４＿３、および第３出力端子１５＿１〜１５＿ｎと、自動開閉器３に接続される高圧線４，５に対する電力の供給状態を模擬する模擬電力供給状態信号Ｓｐｉを生成し、第１出力端子１３＿１〜１３＿４に出力する第１信号生成部１１と、自動開閉器３の開閉状態を模擬する模擬開閉状態信号Ｓｃｉを生成し、第２出力端子１４＿１〜１４＿３に出力する第２信号生成部１２と、電源端子に供給された電源電圧を第３出力端子１５＿１〜１５＿ｎに出力するか否かを切り替える電源スイッチ部１０と、を備えることを特徴とする。【選択図】図３

Description

本発明は、検査方法および試験装置に関し、例えば、電力系統における自動開閉器を制御する制御装置に内蔵された瞬時電圧低下対策用のバックアップコンデンサの劣化状態を検査する検査方法、およびその検査方法で用いる試験装置に関する。

一般に、発電所、変電所、および送電線等から成る電力系統では、複数の発電所で発電された電力を最も効率的で安定した経路を通して、一般家庭や工場、ビル等のユーザ側の受電設備に供給することが求められる。また、電力系統は、送電線の事故などで停電した場合に、速やかに別の経路に切り替えて電力を供給することにより、停電の範囲を最小限度に止める必要がある。このような電力の供給経路の切り替えを実現するために、電力系統には複数の開閉器が設けられている（例えば、特許文献１参照）。

電力系統において、配電線経路の電柱に設けられる開閉器（柱上開閉器）には、手動により電力の供給経路を切り替える手動開閉器と、遠方にある制御所において監視および制御が行われる自動開閉器とがある。

一般に、自動開閉器は、遠方にある制御所の遠制親局との間で有線による通信を行う遠制子局としての制御装置（遠方制御器）とともに電柱上に設置され、制御装置によって制御される。すなわち、制御装置は、制御所の遠制親局からの指示に応じて、制御対象の自動開閉器の開閉を切り替える。

特開平９−３７４６３号公報

近年、自動開閉器を制御する制御装置を原因とした不要停電が増えつつある。具体的には、落雷や送電線の事故などにより電圧が瞬間的に低下する瞬時電圧低下（以下、「瞬低」とも称する。）が発生した場合に、制御装置が自動開閉器の閉（オン）状態を維持できず、開閉器が開（オフ）状態となり、受電側への電力の供給が絶たれる事象（停電）が増えつつある。

一般に、制御装置は、瞬低によって制御装置への電力供給が停止した場合であっても、自動開閉器の閉状態を所定期間だけ維持できる仕様となっている。多くの制御装置では、この瞬低対策として、バックアップコンデンサを内蔵している。

具体的に、制御装置には、自動開閉器に対して開閉を指示する制御信号を出力するための投入リレーが設けられている。投入リレーは、一次側コイルの通電の有無に応じて二次側のスイッチの開閉が制御される電磁継電器である。投入リレーは、オンしているときに自動開閉器の閉（オン）を指示する閉信号（ハイレベル、例えば数十Ｖの直流電圧）を出力し、オフしているときに自動開閉器の開（オフ）を指示する開信号（ローレベル、例えば０Ｖ）を出力する。バックアップコンデンサは、この投入リレーの一次側コイルの両端に接続されている。

瞬低により、投入リレーの一次側コイルの電力供給が瞬間的に絶たれた場合に、バックアップコンデンサから一次側コイルへの電力供給（励磁状態）を継続することで、投入リレーのスイッチの閉状態を所定期間維持し、自動開閉器への閉信号の出力が所定期間継続する。

このバックアップコンデンサを用いた瞬低対策では、バックアップコンデンサから投入リレーの一次側コイルへの電力供給を継続する期間、すなわち、自動開閉器への閉信号の出力を継続できる時間は、制御装置毎に仕様値が定められている。しかしながら、バックアップコンデンサの経年劣化により、その静電容量が低下し、一定の値を下回ると、バックアップコンデンサから一次側コイルへ電力を供給することができなくなる。その結果、瞬時電圧低下により不要停電が発生する割合が増加すると考えられる。

従来、バックアップコンデンサの劣化状態を調査する場合、以下の作業が必要であった。具体的には、先ず、調査対象の制御装置を電柱から取り外して作業可能な場所まで移動させる。その後、制御装置を分解してバックアップコンデンサを回路基板から取り外す。そして、テスタを用いて、取り外したバックアップコンデンサの静電容量を充電方式により測定し、バックアップコンデンサの劣化状態を判定する。

しかしながら、従来方法では、バックアップコンデンサの単体の特性を測定するために、上述したように制御装置を分解してバックアップコンデンサを取り外す作業等が必要であり、検査に多大な時間を要していた。

本発明は、上述した課題に鑑みてなされたものであり、自動開閉器を制御する制御装置に内蔵されたバックアップコンデンサの劣化状態を容易に検査できるようにすることを目的とする。

本発明の代表的な実施の形態に係る、自動開閉器を制御する制御装置の試験のための試験装置は、電源端子、第１出力端子、第２出力端子、および第３出力端子と、前記自動開閉器に接続される高圧線に対する電力の供給状態を模擬する模擬電力供給状態信号を生成し、前記第１出力端子に出力する第１信号生成部と、前記自動開閉器の開閉状態を模擬する模擬開閉状態信号を生成し、前記第２出力端子に出力する第２信号生成部と、前記電源端子に供給された電源電圧を前記第３出力端子に出力するか否かを切り替える電源スイッチ部と、を備えることを特徴とする。

本発明に係る試験装置によれば、自動開閉器を制御する制御装置に内蔵されたバックアップコンデンサの劣化状態を容易に検査することが可能となる。

本実施の形態に係る検査方法による検査対象の制御装置（遠方制御器）を模式的に示す図である。 本実施の形態に係る検査方法による検査対象の制御装置の機能ブロック構成を示す図である。 本実施の形態に係る検査方法において用いられる試験装置の機能ブロック構成を示す図である。 本実施の形態に係る検査方法の流れを示すフロー図である。 制御装置から出力される制御信号（閉信号）の時間的な変化を示す図である。

１．実施の形態の概要
先ず、本願において開示される発明の代表的な実施の形態について概要を説明する。なお、以下の説明では、一例として、発明の構成要素に対応する図面上の参照符号を、括弧を付して記載している。

〔１〕本発明の代表的な実施の形態に係る検査方法は、自動開閉器（３）を制御する制御装置（２）のバックアップコンデンサ（Ｃｂ）の劣化状態を試験装置（１）を用いて検査する検査方法である。前記制御装置は、第１入力端子（２３＿１〜２３＿４）、第２入力端子（２４＿１〜２４＿３）、第３入力端子（２７＿１〜２７＿ｎ）、および制御端子（２６＿１，２６＿２）と、前記第３入力端子に供給された交流電圧に基づいて直流電圧（ＶＣＣ）を生成する電源回路（２０）と、一次側コイル（Ｌｒ）と、前記直流電圧に基づいて生成された、前記自動開閉器の閉状態を指示する閉信号（ＶＣＣ）が入力される二次側入力接点（Ｔ３）と、前記制御端子に接続された二次側出力接点（Ｔ４）と、前記二次側入力接点と前記二次側出力接点との間に接続され、前記一次側コイルの通電状態に応じて開閉が制御されるスイッチ（ＳＷｒ）とを含む投入リレー（２１）と、前記投入リレーの前記一次側コイルの両端に接続されたバックアップコンデンサ（Ｃｂ）と、前記第１入力端子に入力された信号に基づいて前記自動開閉器に対する電力の供給状態を判定するとともに、前記第２入力端子に入力された信号に基づいて前記自動開閉器の開閉状態を判定し、前記自動開閉器に対して電力が供給され、且つ前記自動開閉器が閉状態であると判定した場合に前記投入リレーの前記スイッチを閉状態に制御するデータ処理制御部（２２）とを備える。前記試験装置は、電源端子（１６＿１〜１６＿ｎ）、第１出力端子（１３＿１〜１３＿４）、第２出力端子（１４＿１〜１４＿３）、および第３出力端子（１５＿１〜１５＿ｎ）と、前記自動開閉器に接続される高圧線（４，５）に対する電力の供給状態を模擬する模擬電力供給状態信号（Ｓｐｉ）を生成し、前記第１出力端子に出力する第１信号生成部（１１）と、前記自動開閉器の開閉状態を模擬する模擬開閉状態信号（Ｓｃｉ）を生成し、前記第２出力端子に出力する第２信号生成部（１２）と、前記電源端子に供給された電源電圧を前記第３出力端子に出力するか否かを切り替える電源スイッチ部（１０）とを備える。前記検査方法は、前記制御装置の前記第１入力端子と前記試験装置の前記第１出力端子とを接続し、前記制御装置の前記第２入力端子と前記試験装置の前記第２出力端子とを接続し、前記制御装置の前記第３入力端子と前記試験装置の前記第３出力端子とを接続する第１ステップ（Ｓ３，Ｓ４）と、測定装置を前記制御装置の前記制御端子に接続する第２ステップ（Ｓ５）と、前記試験装置の前記電源スイッチ部によって前記試験装置の前記第３出力端子から前記電源電圧を出力する第３ステップ（Ｓ８）と、前記第３ステップの後に、前記試験装置の前記電源スイッチ部によって、前記試験装置の前記第３出力端子からの前記電源電圧の出力を停止する第４ステップ（Ｓ１０）と、前記第４ステップ後に、前記測定装置によって前記制御端子の電圧の時間変化を測定する第５ステップ（Ｓ１１）とを含むことを特徴とする。

〔２〕上記検査方法において、前記第５ステップは、前記測定装置によって、前記第４ステップにおいて前記電源電圧の出力を停止してから前記投入リレーの前記スイッチが閉状態から開状態に切り替わるまでの時間（Ｔａｂ）を測定するステップを含んでもよい。

〔３〕上記検査方法において、前記第５ステップは、前記第４ステップにおいて前記電源電圧の出力を停止してから前記制御端子の電圧の変曲点までの時間を測定するステップを含んでもよい。

〔４〕本発明の代表的な実施の形態に係る試験装置（１）は、自動開閉器（３）を制御する制御装置（２）の試験のための試験装置である。前記試験装置は、電源端子（１６＿１〜１６＿ｎ）、第１出力端子（１３＿１〜１３＿４）、第２出力端子（１４＿１〜１４＿３）、および第３出力端子（１５＿１〜１５＿ｎ）と、前記自動開閉器に接続される高圧線（４，５）に対する電力の供給状態を模擬する模擬電力供給状態信号（Ｓｐｉ）を生成し、前記第１出力端子に出力する第１信号生成部（１１）と、前記自動開閉器の開閉状態を模擬する模擬開閉状態信号（Ｓｃｉ）を生成し、前記第２出力端子に出力する第２信号生成部（１２）と、前記電源端子に供給された電源電圧を前記第３出力端子に出力するか否かを切り替える電源スイッチ部（１０）と、を備えることを特徴とする。

〔５〕上記試験装置において、前記電源電圧は交流電圧であって、前記第１信号生成部は、前記電源電圧としての交流電圧を変圧して前記模擬電力供給状態信号を生成する変圧器（１１０）を含んでもよい。

〔６〕上記試験装置において、前記第２出力端子を複数有し、前記第２信号生成部は、第１接点（Ｔ６）、第２接点（Ｔ７）、および第３接点（Ｔ８）を有し、前記第１接点の接続先を前記第２接点と前記第３接点との間で切替可能な切替スイッチ（ＳＷｑ）を含み、前記第１接点、前記第２接点、および前記第３接点は、対応する前記第２出力端子にそれぞれ接続されていてもよい。

２．実施の形態の具体例
以下、本発明の実施の形態の具体例について図を参照して説明する。なお、以下の説明において、各実施の形態において共通する構成要素には同一の参照符号を付し、繰り返しの説明を省略する。また、図面は模式的なものであり、各要素の寸法の関係、各要素の比率などは、現実と異なる場合があることに留意する必要がある。図面の相互間においても、互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれている場合がある。

図１は、本実施の形態に係る検査方法による検査対象の制御装置（遠方制御器）を模式的に示す図である。図１には、一つの電柱上に設けられた自動開閉器３および制御装置２の外観が模式的に示されている。
図２は、本実施の形態に係る検査方法による検査対象の制御装置の機能ブロック構成を示す図である。図２には、自動開閉器３および制御装置２の機能ブロック構成と、バックアップコンデンサＣｂの検査時における自動開閉器３と制御装置２との接続関係が示されている。

図１に示すように、一つの電柱８０上に設置された自動開閉器３および制御装置２は、ケーブル７によって互いに接続されている。

自動開閉器３は、制御装置２から制御信号に基づいて、一次側の高圧線４と二次側の高圧線５との間の接続を切り替える装置である。ここで、高圧線４，５は、例えば、三相３線式の配電線である。

制御装置２は、遠方にある制御所の遠制親局との間で有線による通信を行う遠制子局としての装置であり、遠制親局からの指示に応じて、制御対象の自動開閉器３の開閉を切り替える。制御装置２は、電源ケーブル８を介して接続された電源装置（ＡＣ電源）６からの給電によって動作する。

電源装置６は、制御装置２に電力を供給する装置である。電源装置６は、例えば商用電源であり、具体的には、自動開閉器３および制御装置２と同一の電柱８０に設置された電源装置である。例えば、電源装置６は、一次側の高圧線４からの電圧を変圧して単相三線式の電圧を出力するＡ電源装置（変圧器）や、二次側の高圧線５からの電圧を変圧して単相三線式の電圧を出力するＢ電源装置（変圧器）である。

なお、電源装置６としては、Ａ電源装置とＢ電源装置の何れか一方が設けられていてもよいし、双方が設けられていてもよい。

次に、自動開閉器３の具体的な構成について説明する。
図２に示すように、自動開閉器３は、スイッチ回路３０，３１、スイッチ制御部３２、電力供給状態判定部３４、および複数の外部端子を備えている。

複数の外部端子は、一次側電源端子３５＿１〜３５＿３、二次側電源端子３６＿１〜３６＿３、第１状態信号出力端子３７＿１〜３７＿４、第２状態信号出力端子３８＿１〜３８＿３、制御信号入力端子３９＿１，３９＿２、およびコモン端子４０を含む。

スイッチ回路３０は、一次側電源端子３５＿１〜３５＿３に接続された高圧線４と、二次側電源端子３６＿１〜３６＿３に接続された高圧線５との間の接続と遮断を切り替える回路である。

スイッチ制御部３２は、スイッチ回路３０の開閉を切り替える機能部である。例えば、スイッチ制御部３２とスイッチ回路３０とは一つのリレー（電磁継電器）を構成している。

スイッチ制御部３２は、例えばコイルＬｐを含む。コイルＬｐの一端は、制御信号入力端子３９＿１に接続され、コイルＬｐの他端は、制御信号入力端子３９＿２に接続されている。制御信号入力端子３９＿１と制御信号入力端子３９＿２との間に、所定の直流電圧（後述する直流電圧ＶＣＣ）が印加されているとき、コイルＬｐに電流が流れる。これにより、コイルＬｐが励磁され、磁力によりスイッチ回路３０が閉（オン）状態となる。一方、制御信号入力端子３９＿１と制御信号入力端子３９＿２との間に所定の直流電圧が印加されていないとき、コイルＬｐに電流が流れないため、コイルＬｐは励磁されず、スイッチ回路３０が開（オフ）状態となる。

スイッチ回路３１は、自動開閉器３の開閉状態を示す開閉状態信号Ｓｃを生成する機能部である。具体的に、スイッチ回路３１は、スイッチＳＷ１，ＳＷ２を含む。スイッチＳＷ１の一端は、第２状態信号出力端子３８＿３と接続され、スイッチＳＷ１の他端は、第２状態信号出力端子３８＿１と接続されている。スイッチＳＷ２の一端は、第２状態信号出力端子３８＿３に接続され、スイッチＳＷ２の他端は、第２状態信号出力端子３８＿２と接続されている。

スイッチＳＷ１は、スイッチ制御部３２のコイルＬｐが通電して励磁されているときに閉（オン）状態となり、コイルＬｐが励磁していないときに開（オフ）状態となる。一方、スイッチＳＷ２は、スイッチ制御部３２のコイルＬｐが通電して励磁されているときに開状態となり、コイルＬｐが励磁していないときに閉状態となる。

したがって、自動開閉器３（スイッチ回路３０）が閉状態であるとき、第２状態信号出力端子３８＿１と第２状態信号出力端子３８＿３とが短絡する。また、このとき、第２状態信号出力端子３８＿２が開放となる。一方、自動開閉器３（スイッチ回路３０）が開状態であるとき、第２状態信号出力端子３８＿２と第２状態信号出力端子３８＿３とが短絡する。また、このとき、第２状態信号出力端子３８＿１が開放となる。
このように、スイッチＳＷ１，ＳＷ２の開閉状態に応じて開閉状態信号Ｓｃが生成され、第２状態信号出力端子３８＿１〜３８＿３からそれぞれ出力される。

電力供給状態判定部３４は、高圧線４と高圧線５の電圧に基づいて、高圧線４，５に電力が供給されているか否か（高圧線４，５が充電状態または停電状態である）を示す電力供給状態信号Ｓｐを生成する機能部である。電力供給状態判定部３４は、例えば、高圧線４，５の電圧を変圧（降圧）する変圧器（図示せず）を含み、その変圧器によって変圧された電圧に基づいて電力供給状態信号Ｓｐを生成し、第１状態信号出力端子３７＿１〜３７＿４に出力する。したがって、高圧線４，５に電力が供給されている場合（高圧線４，５が充電されている場合）には、所定の電圧レベルの交流電圧が電力供給状態信号Ｓｐとして第１状態信号出力端子３７＿１〜３７＿４から出力され、高圧線４，５に電力が供給されていない場合（高圧線４，５が停電している場合）には、０Ｖの電力供給状態信号Ｓｐが第１状態信号出力端子３７＿１〜３７＿４から出力される。

次に、制御装置２について説明する。
なお、ここでは、制御装置２の機能のうち、バックアップコンデンサＣｂに関連する機能を実現するための構成について説明し、その他の機能を実現するための構成については、説明を省略する。

図２に示すように、制御装置２は、電源回路２０、投入リレー２１、データ処理制御部２２、および複数の外部端子を備えている。

複数の外部端子としては、第１入力端子２３＿１〜２３＿４、第２入力端子２４＿１〜２４＿３、電源入力端子としての第３入力端子２７＿１〜２７＿ｎ、コモン端子２５、および制御端子２６＿１，２６＿２を含む。

図２に示すように、バックアップコンデンサＣｂの検査時において、第１入力端子２３＿１〜２３＿４、第２入力端子２４＿１〜２４＿３、コモン端子２５、および制御端子２６＿１，２６＿２は、ケーブル７を介して、自動開閉器３の第１状態信号出力端子３７＿１〜３７＿４、第２状態信号出力端子３８＿１〜３８＿３、コモン端子４０、および制御信号入力端子３９＿１，３９＿２に、それぞれ接続される。

また、第３入力端子２７＿１〜２７＿ｎは、電源装置（ＡＣ電源）６と電源ケーブル８を介して接続されている。

第２入力端子２４＿１と第２入力端子２４＿２は、抵抗Ｒを介して直流電圧ＶＣＣにそれぞれプルアップされ、第２入力端子２４＿３は、制御装置２のグラウンド電位（アース）に接続されている。

電源回路２０は、外部から供給された電源電圧に基づいて所定の電圧を生成する回路である。具体的に、電源回路２０は、電源装置６から電源ケーブル８を介して第３入力端子２７＿１〜２７＿ｎ（ｎは２以上の整数）に供給された交流電圧（例えば単相三線式の低圧電源）に基づいて直流電圧（例えばＤＣ９０Ｖ）を生成する。より具体的には、電源回路２０は、例えばダイオードから成る２つの整流回路を含み、一方の整流回路によって交流電圧を整流して直流電圧ＶＣＣを生成するとともに、他方の整流回路によって交流電圧を整流して直流電圧ＶＤＤ（＜ＶＣＣ）を生成する。

電源回路２０によって生成された直流電圧ＶＣＣは、自動開閉器３の閉（オン）状態を指示する閉信号として投入リレー２１に供給されるとともに、制御装置２の内部回路の基準電圧としても利用される。また、電源回路２０によって生成された直流電圧ＶＤＤは、例えばデータ処理制御部２２の電源として利用される。

なお、電源装置６として、単相三線式のＡ電源およびＢ電源が設けられている場合、電源回路２０に、Ａ電源およびＢ電源の双方から交流電圧が供給されてもよい。この場合、電源入力端子としての第３入力端子２７＿１〜２７＿ｎの端子数は“ｎ＝６”となる。また、この場合、直流電圧ＶＣＣ，ＶＤＤは、互いに異なる交流電源からそれぞれ生成してもよい。例えば、Ａ電源の交流電圧に基づいて直流電圧ＶＣＣを生成し、Ｂ電源の交流電圧に基づいて直流電圧ＶＤＤを生成してもよい。

投入リレー２１は、自動開閉器３の開閉状態を制御するための制御信号を出力するための部品である。投入リレー２１は、データ処理制御部２２による制御に応じて、自動開閉器３の閉（オン）状態を指示する閉信号、または自動開閉器３の開（オフ）状態を指示する開信号を制御信号として制御端子２６＿２に出力する。なお、制御端子２６＿１には、開信号および閉信号の基準電圧（コモン）となる制御装置２のグラウンド電位（アース）が接続されている。

投入リレー２１は、例えば電磁継電器であり、図２に示すように、一次側コイルＬｒと、二次側のスイッチＳＷｒと、少なくとも４つの接点（端子）Ｔ１〜Ｔ４とを含む。

一次側コイルＬｒは、一端が一次側入力接点Ｔ１に接続され、他端が一次側出力接点Ｔ２に接続されている。

二次側入力接点Ｔ３は、電源回路２０によって生成された直流電圧ＶＣＣに基づいて生成された閉信号が入力される。二次側出力接点Ｔ４は、制御端子２６＿２に接続されている。

スイッチＳＷｒは、一端が二次側入力接点Ｔ３に接続され、他端が二次側出力接点Ｔ４に接続されている。スイッチＳＷｒは、一次側コイルＬｒの通電状態に応じて開閉が制御される。すなわち、スイッチＳＷｒは、データ処理制御部２２によって一次側入力接点Ｔ１と一次側出力接点Ｔ２との間に直流電圧（例えば直流電圧ＶＤＤ）が印加されている場合、一次側コイルＬｒが通電し、励磁される。スイッチＳＷｒは、一次側コイルＬｒから発生した磁力により、閉状態となり、投入リレー２１の二次側入力接点Ｔ３と二次側出力接点Ｔ４とが短絡する。これにより、二次側出力接点Ｔ４に接続された制御端子２６＿２から閉信号（直流電圧ＶＤＤ）が出力される。一方、データ処理制御部２２によって一次側コイルＬｒの通電が停止した場合、一次側コイルＬｒが消磁され、スイッチＳＷｒが開状態となる。これにより、制御端子２６＿２からの閉信号（直流電圧ＶＤＤ）の出力が停止される。

データ処理制御部２２は、制御装置２の統括的な制御を行うための機能部であり、例えば、ＣＰＵ等のプロセッサ、ＲＡＭやＲＯＭ等の各種メモリ、およびＡ／ＤコンバータやＤ／Ａコンバータ等の外部インターフェース回路等を含んで構成されている。

データ処理制御部２２は、第１入力端子２３＿１〜２３＿４に入力された信号（電力供給状態信号Ｓｐ、模擬電力供給状態信号Ｓｐｉ）に基づいて自動開閉器３に対する電力の供給状態を判定する。例えば、データ処理制御部２２は、第１入力端子２３＿１〜２３＿４に所定の電圧以上の交流電圧が印加されている場合に、高圧線４，５が充電されている（高圧線４，５に電力が供給されている）と判定し、第１入力端子２３＿１〜２３＿４に所定の電圧以上の交流電圧が印加されていない場合に、高圧線４，５が停電していると判定する。

また、データ処理制御部２２は、第２入力端子２４＿１〜２４＿３に入力された信号（開閉状態信号Ｓｃ、模擬開閉状態信号Ｓｃｉ）に基づいて自動開閉器３の開閉状態を判定する。

上述したように、第２入力端子２４＿１，２４＿２は、それぞれ抵抗Ｒを介して直流電圧ＶＣＣにプルアップされている。データ処理制御部２２は、第２入力端子２４＿１が０Ｖ（グラウンド電位）、すなわちローレベルであり、且つ第２入力端子２４＿２が直流電圧ＶＣＣ、すなわちハイレベルである場合に、自動開閉器３が閉状態であると判定する。一方、第２入力端子２４＿１がハイレベルであり、且つ第２入力端子２４＿２がローレベルである場合に、自動開閉器３が開状態であると判定する。

データ処理制御部２２は、自動開閉器３に対して電力が供給され、且つ自動開閉器３が閉状態であると判定した場合に、投入リレー２１のスイッチＳＷｒを閉（オン）状態に制御する。具体的には、第１入力端子２３＿１〜２３＿４に所定の電圧以上の交流電圧が印加された状態であって、第２入力端子２４＿１がローレベル、且つ第２入力端子２４＿２がハイレベルである場合に、データ処理制御部２２は、投入リレー２１のコイルＬｒを通電させてスイッチＳＷｒをオンさせる。これにより、投入リレーの二次側出力接点Ｔ４に接続されている制御端子２６＿２から、閉信号としての直流電圧ＶＣＣが出力される。その結果、ケーブル７を介して制御装置２に接続されている自動開閉器３のコイルＬｐに直流電圧ＶＣＣが印加される。これにより、自動開閉器３において、コイルＬｐが励磁されてスイッチ回路３０が閉状態となり、高圧線４と高圧線５とが接続される。

一方、上記以外の場合には、データ処理制御部２２は、投入リレー２１のスイッチＳＷｒを開（オフ）状態にする。具体的に、データ処理制御部２２は、投入リレー２１のコイルＬｒの通電を停止してスイッチＳＷｒをオフさせる。これにより、投入リレー２１の二次側出力接点Ｔ４に接続されている制御端子２６＿２は開放（オープン）状態となる。その結果、ケーブル７を介して制御装置２に接続されている自動開閉器３のコイルＬｐへの直流電圧ＶＣＣの供給が停止する。これにより、コイルＬｐが消磁されてスイッチ回路３０が開状態となり、高圧線４と高圧線５との接続が遮断される。

ここで、制御装置２および自動開閉器３において瞬低が発生した場合について説明する。
瞬低が発生した場合、高圧線４，５から電源装置６を介して制御装置２に供給されている交流電圧が瞬間的に低下する。これにより、電源回路２０は、所定の大きさの直流電圧ＶＣＣ，ＶＤＤを生成することができず、直流電圧ＶＣＣ，ＶＤＤが低下する。

直流電圧ＶＤＤの低下により、直流電圧ＶＤＤを電源として動作しているデータ処理制御部２２から投入リレー２１の一次側コイルＬｒに印加される電圧が低下するが、一次コイルＬｒと並列に接続されているバックアップコンデンサＣｂからの給電により、瞬低中も、一次側コイルＬｒへの電流供給が行われ、一次側コイルＬｒの励磁が所定期間継続する。これにより、投入リレー２１の二次側のスイッチＳＷｒがオンした状態が継続され、自動開閉器３への閉信号の入力が継続される。その結果、自動開閉器３の閉状態が維持され、瞬低に伴う自動開閉器３に起因する停電を防止することができる。

上述したように、瞬低時の自動開閉器３の閉状態を維持できる期間、すなわち、瞬低時に制御装置２の投入リレー２１の閉状態を維持できる期間は、バックアップコンデンサＣｂの静電容量に依存する。そのため、上述したように、バックアップコンデンサＣｂの（経年）劣化によって静電容量が低下すると、瞬低時に投入リレー２１の閉状態を維持できる期間が短くなり、自動開閉器３に起因する停電が発生し易くなる。

そこで、本実施の形態では、瞬低時の自動開閉器３に起因する停電の発生要因の一つである制御装置２のバックアップコンデンサＣｂの劣化状態を検査するために、試験装置１を用いる。

試験装置１は、制御装置２が自動開閉器３に接続されている状態を模擬した上で、擬似的に瞬低を発生させる装置である。この試験装置１を自動開閉器３の代わりに制御装置２に接続することにより、制御装置２に対して擬似的に自動開閉器３が接続されていることを認識させた上で、瞬低を発生させて、そのときの自動開閉器３に対する制御信号（閉信号：直流電圧ＶＣＣ）を測定することにより、バックアップコンデンサＣｂの劣化状態を間接的に検査することが可能となる。以下、試験装置１について詳細に説明する。

図３は、本実施の形態に係る検査方法で用いられる試験装置１の機能ブロック構成を示す図である。
図３には、試験装置１および制御装置２の機能ブロック構成と、バックアップコンデンサＣｂの検査時における試験装置１と制御装置２との接続関係が示されている。
なお、図３では、試験装置１と制御装置２とが端子台９を介して互いに接続されている場合を示しているが、これに限られず、試験装置１と制御装置２とが直接接続されていてもよい。

図３に示すように、試験装置１は、電源スイッチ部１０、第１信号生成部１１、第２信号生成部１２、および複数の外部端子を備えている。ここで、試験装置１の上記機能部（電源スイッチ部１０、第１信号生成部１１、第２信号生成部１２、および複数の外部端子）は、例えば、各種電子部品が少なくとも一つのプリント基板上に配置されて、リード線やプリント配線等によって互いに接続されることにより、実現されている。

上記複数の外部端子は、第１出力端子１３＿１〜１３＿４、第２出力端子１４＿１〜１４＿３、第３出力端子１５＿１〜１５＿ｎ、電源端子１６＿１〜１６＿ｎ、およびコモン端子１７を含む。

電源スイッチ部１０は、電源端子１６＿１〜１６＿ｎに供給された電源電圧を第３出力端子１５＿１〜１５＿ｎに出力するか否かを切り替える機能部である。本検査時において、電源端子１６＿１〜１６＿ｎは、上述したケーブル８を介して電源装置６に接続され、電源装置６から交流電圧（例えば単相三線式の低圧電源）が供給される。

電源スイッチ部１０は、具体的に、電源装置６の出力端子数に応じて設けられた複数のスイッチＳＷｐ１〜ＳＷｐｎを含む。スイッチＳＷｐ１〜ＳＷｐｎは、例えば手動スイッチである。
例えば、手動によりスイッチＳＷｐ１〜スイッチＳＷｐｎをオンすることにより、電源端子１６＿１〜１６＿ｎに供給された電源電圧が第３出力端子１５＿１〜１５＿ｎに出力され、手動によりスイッチＳＷｐ１〜スイッチＳＷｐｎをオフすることにより、第３出力端子１５＿１〜１５＿ｎへの電源電圧の出力が停止する。

図３に示すように、バックアップコンデンサＣｂの劣化状態の検査時において、第３出力端子１５＿１〜１５＿ｎは、端子台９を介して、制御装置２の第３入力端子２７＿１〜２７＿ｎにそれぞれ接続される。また、コモン端子１７は、端子台９を介して、制御装置２のコモン端子２５に接続される。

電源スイッチ部１０のスイッチＳＷｐ１〜ＳＷｐｎを切り替えることにより、制御装置２への電力の供給と遮断を切り替えることができる。すなわち、電源スイッチ部１０のスイッチＳＷｐ１〜ＳＷｐｎを閉（オン）状態から開（オフ）状態に切り替えることにより、制御装置２に対する電力供給を停止することができ、制御装置２に対する瞬低を模擬することが可能となる。

第１信号生成部１１は、自動開閉器３に接続されている高圧線４，５対する電力の供給状態を模擬する模擬電力供給状態信号Ｓｐｉを生成する機能部である。第１信号生成部１１は、例えば変圧器１１０を含む。例えば、第１信号生成部１１は、変圧器１１０によって、電源スイッチ部１０から供給された交流電圧をより低い交流電圧に変換し、模擬電力供給状態信号Ｓｐｉとして第１出力端子１３＿１〜１３＿４に出力する。これによれば、自動開閉器３から出力される電力供給状態信号Ｓｐを模擬した信号を、簡単な回路構成で、容易に生成することが可能となる。

図３に示すように、バックアップコンデンサＣｂの劣化状態の検査時において、第１出力端子１３＿１〜１３＿４は、端子台９を介して、制御装置２の第１入力端子２３＿１〜２３＿４にそれぞれ接続される。これにより、模擬電力供給状態信号Ｓｐｉが制御装置２のデータ処理制御部２２に入力され、自動開閉器３に対する電力の供給状態を擬似的に制御装置２に伝えることが可能となる。

第２信号生成部１２は、自動開閉器３の開閉状態を模擬する模擬開閉状態信号Ｓｃｉを生成する機能部である。第２信号生成部１２は、例えば、切替スイッチＳＷｑを含む。切替スイッチＳＷｑは、第１接点Ｔ６、第２接点Ｔ７、および第３接点Ｔ８を有し、第１接点Ｔ６の接続先を、第２接点Ｔ７と第３接点Ｔ８との間で切替可能である。切替スイッチＳＷｑは、例えば手動の三路スイッチである。

切替スイッチＳＷｑにおいて、第１接点Ｔ６、第２接点Ｔ７、および第３接点Ｔ８は、対応する第２出力端子１４＿１〜１４＿３にそれぞれ接続されている。すなわち、第１接点Ｔ６は第２出力端子１４＿３に接続され、第２接点Ｔ７は第２出力端子１４＿１に接続され、第３接点Ｔ８は第２出力端子１４＿２に接続されている。

図３に示すように、バックアップコンデンサＣｂの劣化状態の検査時において、第２出力端子１４＿１〜１４＿３は、端子台９を介して、制御装置２の第２入力端子２４＿１〜２４＿３にそれぞれ接続される。

上述したように、制御装置２の第２入力端子２４＿１，２４＿２は、それぞれ抵抗Ｒを介して直流電圧ＶＣＣにプルアップされ、第２入力端子２４＿３は、グラウンド電位（０Ｖ）に接続されている。
したがって、試験装置１の切替スイッチＳＷｑにおいて第１接点Ｔ６と第２接点Ｔ７とが接続されたとき、制御装置２の第２入力端子２４＿１は、０Ｖ（ローレベル）となる。一方、このとき、切替スイッチＳＷｑの第３接点Ｔ８は開放（オープン）となるので、制御装置２の第２入力端子２４＿２は、ＶＣＣ（ハイレベル）となる。

このように、第２信号生成部１２を、第１接点Ｔ６の接続先を第２接点Ｔ７と第３接点Ｔ８との間で切替可能な切替スイッチＳＷｑによって構成することにより、自動開閉器３から出力される開閉状態信号Ｓｃを模擬した模擬開閉状態信号Ｓｃｉ信号を、簡単な回路構成で、容易に生成することが可能となる。

バックアップコンデンサＣｂの劣化状態の検査時において、図３に示すように、試験装置１とは別に、測定装置５０が制御装置２に接続される。測定装置５０は、バックアップコンデンサＣｂの劣化状態を示す信号を測定するための装置である。測定装置５０は、例えばメモリハイコーダである。測定装置５０は、制御装置２の制御端子２６＿１，２６＿２に接続される。これにより、測定装置５０は、制御装置２のグラウンド電位（０Ｖ）を基準として、自動開閉器３の開閉状態を制御するための制御信号（閉信号）の電圧を測定することができる。

次に、本実施の形態に係る、バックアップコンデンサＣｂの劣化状態の検査方法の流れを説明する。
図４は、本実施の形態に係る検査方法の流れを示すフロー図である。

先ず、図１に示したような検査対象の制御装置２と自動開閉器３とが設置された電柱がある現場において、自動開閉器３を自動制御モードから手動制御モードに切り替える（ステップＳ１）。これにより、自動開閉器３は、制御装置２からの制御信号によらず、自動開閉器３に設けられた手動操作部（例えばスイッチやレバー等）によって、スイッチ回路３０の開閉制御が可能となる。

ここでは、スイッチ回路３０が閉状態、すなわち高圧線４，５が互いに接続されている状態において、自動開閉器３を自動制御から手動制御に切り替える。これにより、ステップＳ１の作業後においても、高圧線４，５が互いに接続されている状態が維持される。

次に、制御装置２に接続されている各種ケーブルを取り外す（ステップＳ２）。具体的には、制御装置２の電源を落とし、制御装置２と自動開閉器３とを接続しているケーブル７および制御装置２と電源装置６とを接続しているケーブル８等を制御装置２から取り外す。

次に、制御装置２と端子台９とを試験用のケーブルによって接続する（ステップＳ３）。このとき、端子台９は、例えば地上に設置され、試験用のケーブルによって電柱に設置されている制御装置２と接続される。

次に、試験装置１と端子台９とを別の試験用のケーブルによって接続する（ステップＳ４）。これにより、端子台９を介して、制御装置２の第１入力端子２３＿１〜２３＿４と試験装置１の第１出力端子１３＿１〜１３＿４とが互いに接続され、制御装置２の第２入力端子２４＿１〜２４＿３と試験装置１の第２出力端子１４＿１〜１４＿３とが互いに接続され、制御装置２の第３入力端子２７＿１〜２７＿ｎと試験装置１の第３出力端子１５＿１〜１５＿ｎとが互いに接続される。

なお、このとき、試験装置１の電源スイッチ部１０を開（オフ）状態にしておくことが好ましい。また、第２信号生成部１２の切替スイッチＳＷｑの第１接点Ｔ６と第２接点Ｔ７とを接続しておくことが好ましい。

次に、測定装置５０を端子台９に接続する（ステップＳ５）。これにより、端子台９を介して、制御装置２の制御端子２６＿１，２６＿２が測定装置５０に接続される。

次に、電源ケーブルによって、試験装置１と電源装置６とを接続する（ステップＳ６）。
以上のステップにより、制御装置２の検査に必要な試験装置１等との接続作業が完了する。なお、上述したステップＳ３〜Ｓ５は、適宜順番を入れ替えてもよい。

次に、試験装置１の電源スイッチ部１０を“開（オフ）状態”から“閉（オン）状態”に切り替える（ステップＳ７）。これにより、試験装置１を介して電力が制御装置２に供給される。

次に、制御装置２を起動する（ステップＳ８）。例えば、制御装置２の起動用レバーおよびブレーカ用レバーを切り替えて、制御装置２を起動する。これにより、試験装置１を介して供給された交流電圧が制御装置２の電源回路２０に入力され、電源回路２０が入力された交流電圧に基づいて直流電圧ＶＣＣ，ＶＤＤを生成し、制御装置２の内部回路に供給する。これにより、データ処理制御部２２等の内部回路が動作を開始する。

このとき、試験装置１から出力された各種模擬信号が制御装置２に入力される。
具体的には、試験装置１の第１信号生成部１１から模擬電力供給状態信号Ｓｐｉとして所定の大きさの交流電圧が制御装置２の第１入力端子２３＿１〜２３＿４に入力される。これにより、制御装置２のデータ処理制御部２２は、高圧線４，５に電力が供給されている状態であると認識する。

また、試験装置１の第２信号生成部１２から、模擬開閉状態信号Ｓｃｉが制御装置２に入力される。換言すれば、第２信号生成部１２によって、制御装置２の第２入力端子２４＿１〜２４＿３の状態（電圧）が決定される。すなわち、第２信号生成部１２の切替スイッチＳＷｑの第１接点Ｔ６と第２接点Ｔ７とを短絡し、第３接点Ｔ８を開放状態とすることにより、制御装置２の第２入力端子２４＿１が０Ｖ（ローレベル）、第２入力端子２４＿２がＶＣＣ（ハイレベル）となる。これにより、制御装置２のデータ処理制御部２２は、自動開閉器３（スイッチ回路３１）が閉（オン）状態であると認識する。

このように試験装置１の各種模擬信号が制御装置２に入力されることにより、データ処理制御部２２は、自動開閉器３（スイッチ回路３１）が閉（オン）状態であり、且つ高圧線４，５に電力が供給された状態であると判定し、投入リレー２１を閉状態に制御する。
すなわち、データ処理制御部２２は、投入リレー２１の一次側コイルＬｒに電圧を印加して一次側コイルＬｒに電流を流す。これにより、一次側コイルＬｒが励磁され、磁力によりスイッチＳＷｒが閉状態となり、制御端子２６＿２から直流電圧ＶＣＣに相当する電圧レベルの閉信号（制御信号）が出力され、測定装置５０に入力される。

次に、測定装置５０を用いて、閉信号として直流電圧ＶＣＣに相当する電圧（例えば、約９０Ｖ）が制御装置２の制御端子２６＿２から出力されていることを確認する（ステップＳ９）。

次に、試験装置１の電源スイッチ部１０のスイッチＳＷｐ１〜ＳＷｐｎを“閉（オン）状態”から“開（オフ）状態”に切り替える（ステップＳ１０）。これにより、試験装置１の第３出力端子１５＿１〜１５＿ｎから、制御装置２の第３入力端子２７＿１〜２７＿ｎへの電源電圧の供給が停止する。

次に、測定装置５０によって制御端子２６＿２の電圧の時間変化を測定する（ステップＳ１１）。具体的には、ステップＳ１０において制御装置２への電源電圧の供給を停止してから、投入リレー２１の二次側のスイッチＳＷｒが開（オフ）状態に切り替わるまでの時間を計測する。

図５は、制御装置２から出力される制御信号（閉信号）の時間的な変化を示す図である。
同図において、参照符号５００Ａが、制御装置２の制御端子２６＿１に対する制御端子２６＿２の電圧、すなわち閉信号の波形を表している。参照符号５００Ｂは、参照符号５００Ａを拡大した波形を表している。また、参照符号５０１は、制御装置２の第３入力端子２７＿１〜２７＿ｎに入力される電源電圧（ＡＣ１００Ｖ）を表し、参照符号５０２は、投入リレー２１の二次側入力接点Ｔ３と二次側出力接点Ｔ４との間の電圧波形を表している。

図５に示すように、時刻ｔａにおいて、試験装置１のスイッチＳＷｐ１〜ＳＷｐｎが“閉（オン）”から“開（オフ）”に切り替わったとき、参照符号５０１に示すように、制御装置２への電源電圧（ＡＣ１００Ｖ）が停止する。これにより、参照符号５００Ａ，５００Ｂに示すように、制御装置２の制御端子２６＿２から出力される閉信号の電圧が低下する。そして、時刻ｔｂにおいて、投入リレー２１の一次コイルＬｒの通電が停止し、スイッチＳＷｒがオフすると、制御装置２の制御端子２６＿２が開放（オープン）となる。これにより、制御端子２６＿２の電圧が変化する。例えば、参照符号５００Ｂに示すように、電圧が振動して不定な状態になる。

ここで、図５における時刻ｔａから時刻ｔｂまでの時間Ｔａｂは、制御装置２への電源電圧（ＡＣ１００Ｖ）の供給が停止してから投入リレー２１の二次側のスイッチＳＷｒがオンしている時間、すなわち、瞬低が発生してから、投入リレー２１の二次側のスイッチＳＷｒの閉（オン）状態が維持される時間を表している。

時間Ｔａｂよりも短い期間の瞬低が発生した場合、自動開閉器３が開（オフ）状態に陥ることなく、高圧線４から高圧線５への電力供給が継続可能となるが、時間Ｔａｂよりも長い期間の瞬低が発生した場合には、自動開閉器３が開（オフ）状態になり、高圧線４から高圧線５への電力供給が遮断され、停電が発生する虞がある。

上述したように、時間Ｔａｂは、瞬低が発生してから投入リレー２１の二次側のスイッチＳＷｒがオンしている時間であり、投入リレー２１の一次側コイルＬｒが通電している期間である。この通電期間は、瞬低発生後のバックアップコンデンサＣｂの放電時間、すなわちバックアップコンデンサＣｂの静電容量に依存する。したがって、時間Ｔａｂを測定することにより、間接的に、バックアップコンデンサＣｂの劣化状態を推定することが可能となる。

具体的には、ステップＳ１１において、ステップＳ１０で制御装置２への電源電圧の供給を停止した時刻ｔａから、制御端子２６＿１の電圧の変化状態が大きく変わる点（制御端子２６＿１の電圧の変曲点）の時刻ｔｂまでの時間を測定し、その時間を“Ｔａｂ”とする。

そして、例えば、制御装置２の瞬低認識時間の仕様値と測定した時間Ｔａｂとを比較して、時間Ｔａｂが仕様値に対してどの程度低下しているかを調査することにより、バックアップコンデンサＣｂの劣化状態を推定することができる。

以上、本実施の形態に係る、制御装置２のバックアップコンデンサＣｂの劣化状態の検査方法によれば、バックアップコンデンサＣｂの静電容量を測定するために、従来技術のように制御装置２を分解してバックアップコンデンサＣｂを取り外すことなく、バックアップコンデンサＣｂの劣化状態を容易に判定することが可能となる。

具体的には、上述したように、先ず、自動開閉器３に接続される高圧線４，５に対する電力の供給状態を模擬する模擬電力供給状態信号Ｓｐｉを生成する第１信号生成部１１と、自動開閉器３の開閉状態を模擬する模擬開閉状態信号Ｓｃｉを生成する第２信号生成部１２と、電源端子１６＿１〜１６＿ｎに供給された電源電圧を第３出力端子１５＿１〜１５＿ｎに出力するか否かを切り替える電源スイッチ部１０とを備えた試験装置１を、制御装置２に接続する。

これによれば、制御装置２に対して、擬似的に、自動開閉器３が接続されている状態を認識させた上で瞬低と同じ状況を作り出すことが可能となる。
すなわち、試験装置１の第１信号生成部１１によって生成された模擬電力供給状態信号Ｓｐｉを制御装置２に入力することにより、自動開閉器３に接続される高圧線４，５に電力が供給されていること（非停電状態）を、擬似的に、制御装置２のデータ処理制御部２２に認識させることができる。また、試験装置１の第２信号生成部１２によって生成された模擬開閉状態信号Ｓｃｉを制御装置２に入力することにより、自動開閉器３（スイッチ回路３０）が閉（オン）状態であることを、擬似的に、制御装置２のデータ処理制御部２２に認識させることができる。

次に、上述したように、試験装置１の電源スイッチ部１０を切り替えることにより、制御装置２への電源電圧の供給を遮断する。これによれば、制御装置２を“瞬低”と同じ状況に置くことが可能となる。

次に、測定装置５０によって、制御装置２の投入リレー２１から出力された、自動開閉器３に対する制御信号（閉信号）の時間変化を測定する。上述したように、瞬低後の制御信号（閉信号）の時間変化は、瞬低後の投入リレー２１の一次側コイルＬｒの通電時間に対応し、この通電時間は、バックアップコンデンサＣｂの静電容量に依存する。

したがって、本実施の形態に係る検査方法のように、瞬低後の制御信号（閉信号）の時間変化を測定することにより、バックアップコンデンサＣｂの静電容量の劣化状態を容易に検査することができる。すなわち、制御装置２を分解してバックアップコンデンサＣｂを制御装置２から取り外し、バックアップコンデンサＣｂ単体の特性を測定しなくても、瞬低後の制御信号（閉信号）の時間変化を測定することにより、間接的に、バックアップコンデンサＣｂの劣化状態を推定することが可能となる。

具体的には、上述したように、試験装置１の電源スイッチ部１０によって制御装置２への電源供給を停止してから投入リレー２１のスイッチＳＷｒが閉（オン）状態から開（オフ）状態に切り替わるまでの時間Ｔａｂを計測することにより、バックアップコンデンサＣｂの劣化状態を容易に検査することができる。

ここで、投入リレー２１のスイッチＳＷｒが閉（オン）状態から開（オフ）状態に切り替わったとき、制御装置２の制御端子２６＿２の電圧の変化状態が大きく変化する（電圧の変曲点がある）傾向がある。そこで、制御装置２への電源供給が停止してから制御端子２６＿２の電圧の変曲点までの時間を計測することにより、時間Ｔａｂを容易に測定することができる。

≪実施の形態の拡張≫
以上、本発明者らによってなされた発明を実施の形態に基づいて具体的に説明したが、本発明はそれに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であることは言うまでもない。

例えば、上記実施の形態では、試験装置１における電源スイッチ部１０のスイッチＳＷｐ１〜ＳＷｐｎや第２信号生成部１２の切替スイッチＳＷｑを手動により切り替える場合を例示したが、これに限られず、スイッチＳＷｐ１〜ＳＷｐｎや切替スイッチＳＷｑを外部から入力された信号によって切り替えてもよい。
例えば、試験装置１をパーソナルコンピュータ等の情報処理装置と接続し、その情報処理装置が試験装置１に信号を送信することにより、スイッチＳＷｐ１〜ＳＷｐｎや切替スイッチＳＷｑのオン／オフを切り替えるようにしてもよい。この場合、測定装置５０も上記情報処理装置に接続し、上記情報処理装置が測定装置５０から測定結果のデータを取得するようにしてもよい。これによれば、瞬低の発生から時間Ｔａｂの測定までの処理（例えばステップＳ８〜Ｓ１１）を上記情報処理装置によって自動的に行うことが可能となる。

１…試験装置、２…制御装置、３…自動開閉器、４，５…高圧線、６…電源装置（ＡＣ電源）、９…端子台、１０…電源スイッチ部、１１…第１信号生成部、１２…第２信号生成部、１３＿１〜１３＿４…第１出力端子、１４＿１〜１４＿３…第２出力端子、１５＿１〜１５＿ｎ…第３出力端子、１６＿１〜１６＿ｎ…電源端子、１７…コモン端子、２０…電源回路、２１…投入リレー、２２…データ処理制御部、２３＿１〜２３＿４…第１入力端子、２４＿１〜２４＿３…第２入力端子、２５…コモン端子、２６＿１，２６＿２…制御端子、２７＿１〜２７＿ｎ…第３入力端子、３０，３１…スイッチ回路、３２…スイッチ制御部、３４…電力供給状態判定部、３５＿１〜３５＿３…一次側電源端子、３６＿１〜３６＿３…二次側電源端子、３７＿１〜３７＿４…第１状態信号出力端子、３８＿１〜３８＿３…第２状態信号出力端子、３９＿１，３９＿２…制御信号入力端子、４０…コモン端子、５０…測定装置、８０…電柱、１１０…変圧器、Ｃｂ…バックアップコンデンサ、Ｌｐ…コイル、ＳＷｐ１〜ＳＷｐｎ，ＳＷｒ…スイッチ、ＳＷｑ…切替スイッチ、Ｓｃ…開閉状態信号、Ｓｃｉ…模擬開閉状態信号、Ｓｐ…電力供給状態信号、Ｓｐｉ…模擬電力供給状態信号、Ｔ１…一次側入力接点、Ｔ２…一次側出力接点、Ｔ３…二次側入力接点、Ｔ４…二次側出力接点、Ｔ６…第１接点、Ｔ７…第２接点、Ｔ８…第３接点。

Claims (6)

1. 自動開閉器を制御する制御装置のバックアップコンデンサの劣化状態を試験装置を用いて検査する検査方法であって、
   前記制御装置は、
   第１入力端子、第２入力端子、第３入力端子、および制御端子と、前記第３入力端子に供給された交流電圧に基づいて直流電圧を生成する電源回路と、
   一次側コイルと、前記直流電圧に基づいて生成された、前記自動開閉器の閉状態を指示する閉信号が入力される二次側入力接点と、前記制御端子に接続された二次側出力接点と、前記二次側入力接点と前記二次側出力接点との間に接続され、前記一次側コイルの通電状態に応じて開閉が制御されるスイッチとを含む投入リレーと、
   前記投入リレーの前記一次側コイルの両端に接続されたバックアップコンデンサと、
   前記第１入力端子に入力された信号に基づいて前記自動開閉器に対する電力の供給状態を判定するとともに、前記第２入力端子に入力された信号に基づいて前記自動開閉器の開閉状態を判定し、前記自動開閉器に対して電力が供給され、且つ前記自動開閉器が閉状態であると判定した場合に前記投入リレーの前記スイッチを閉状態に制御するデータ処理制御部と、を備え、
   前記試験装置は、
   電源端子、第１出力端子、第２出力端子、および第３出力端子と、
   前記自動開閉器に接続される高圧線に対する電力の供給状態を模擬する模擬電力供給状態信号を生成し、前記第１出力端子に出力する第１信号生成部と、
   前記自動開閉器の開閉状態を模擬する模擬開閉状態信号を生成し、前記第２出力端子に出力する第２信号生成部と、
   前記電源端子に供給された電源電圧を前記第３出力端子に出力するか否かを切り替える電源スイッチ部と、を備え、
   前記制御装置の前記第１入力端子と前記試験装置の前記第１出力端子とを接続し、前記制御装置の前記第２入力端子と前記試験装置の前記第２出力端子とを接続し、前記制御装置の前記第３入力端子と前記試験装置の前記第３出力端子とを接続する第１ステップと、
   測定装置を前記制御装置の前記制御端子に接続する第２ステップと、
   前記試験装置の前記電源スイッチ部によって前記試験装置の前記第３出力端子から前記電源電圧を出力する第３ステップと、
   前記第３ステップの後に、前記試験装置の前記電源スイッチ部によって、前記試験装置の前記第３出力端子からの前記電源電圧の出力を停止する第４ステップと、
   前記第４ステップ後に、前記測定装置によって前記制御端子の電圧の時間変化を測定する第５ステップと、を含む
   検査方法。
2. 請求項１に記載の検査方法において、
   前記第５ステップは、
   前記測定装置によって、前記第４ステップにおいて前記電源電圧の出力を停止してから前記投入リレーの前記スイッチが閉状態から開状態に切り替わるまでの時間を測定するステップを含む
   ことを特徴とする検査方法。
3. 請求項２に記載の検査方法において、
   前記第５ステップは、
   前記第４ステップにおいて前記電源電圧の出力を停止してから前記制御端子の電圧の変曲点までの時間を測定するステップを含む
   ことを特徴とする検査方法。
4. 自動開閉器を制御する制御装置の試験のための試験装置であって、
   電源端子、第１出力端子、第２出力端子、および第３出力端子と、
   前記自動開閉器に接続される高圧線に対する電力の供給状態を模擬する模擬電力供給状態信号を生成し、前記第１出力端子に出力する第１信号生成部と、
   前記自動開閉器の開閉状態を模擬する模擬開閉状態信号を生成し、前記第２出力端子に出力する第２信号生成部と、
   前記電源端子に供給された電源電圧を前記第３出力端子に出力するか否かを切り替える電源スイッチ部と、を備える
   試験装置。
5. 請求項４に記載の試験装置において、
   前記電源電圧は、交流電圧であって、
   前記第１信号生成部は、前記電源電圧としての交流電圧を変圧して前記模擬電力供給状態信号を生成する変圧器を含む
   ことを特徴とする試験装置。
6. 請求項４または５に記載の試験装置において、
   前記第２出力端子を複数有し、
   前記第２信号生成部は、第１接点、第２接点、および第３接点を有し、前記第１接点の接続先を前記第２接点と前記第３接点との間で切替可能な切替スイッチを含み、
   前記第１接点、前記第２接点、および前記第３接点は、対応する前記第２出力端子にそれぞれ接続されている
   ことを特徴とする試験装置。