JP2020091980A - Characteristics inspection apparatus of multi-pole connector - Google Patents

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高田 賢一
Kenichi Takada
賢一 高田
小百合 北風
Sayuri Kitakaze
小百合 北風
高橋 義則
Yoshinori Takahashi
義則 高橋
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Abstract

To provide an inspection apparatus capable of inspecting characteristics of a multi-pole connector.SOLUTION: An inspection apparatus for inspecting characteristics of a multi-pole connector includes a pair of boards where a first multi-pole connector and a second multi-pole connector are fitted to each other, a first connector, a second connector, and a jig coming into contact with the first connector and the second connector, and holding the pair of boards. In the plan view of the pair of boards, the jig is provided at a position not overlapping the first multi-pole connector and the second multi-pole connector, and an air layer is provided at the overlapping position of the first multi-pole connector and the second multi-pole connector.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、多極コネクタの特性を検査するための検査装置に関する。 The present invention relates to an inspection device for inspecting characteristics of a multipolar connector.

従来より、多極コネクタの特性を検査するための検査装置が開示されている(例えば、特許文献1参照)。 Conventionally, an inspection device for inspecting the characteristics of a multipolar connector has been disclosed (see, for example, Patent Document 1).

特許文献1の検査装置は、多極コネクタの複数の端子の接点部の位置狂いの有無を検査するための装置である。 The inspection device of Patent Document 1 is a device for inspecting the presence or absence of misalignment of the contact portions of a plurality of terminals of a multipolar connector.

特開平9−320727JP-A-9-320727

このような検査装置に関して、多極コネクタの特性をより精度良く検査することができる技術の開発が求められている。 With respect to such an inspection device, it is required to develop a technique capable of inspecting the characteristics of the multipolar connector with higher accuracy.

従って、本発明の目的は、多極コネクタの特性をより精度良く検査することができる検査装置を提供することにある。 Therefore, an object of the present invention is to provide an inspection device that can inspect the characteristics of a multipolar connector with higher accuracy.

上記目的を達成するために、本発明の検査装置は、多極コネクタの特性を検査するための検査装置であって、オス型の第1多極コネクタが実装された第1基板と、メス型の第2多極コネクタが実装された第2基板とを有し、前記第1多極コネクタと前記第2多極コネクタを互いに嵌合させた、一対の基板と、前記第1基板に取り付けられたコネクタであって、前記第1基板に形成された伝送線を通じて前記第1多極コネクタに導通した第1コネクタと、前記第2基板に取り付けられたコネクタであって、前記第2基板に形成された伝送線を通じて前記第2多極コネクタに導通した第2コネクタと、前記第1コネクタおよび前記第2コネクタに接触して前記一対の基板を保持する治具と、を備え、前記一対の基板を平面視したときに、前記治具は、前記第1多極コネクタおよび前記第2多極コネクタに重ならない位置に設けられており、前記第1多極コネクタおよび前記第2多極コネクタに重なる位置に空気層を設けている。 In order to achieve the above-mentioned object, the inspection device of the present invention is an inspection device for inspecting the characteristics of a multipolar connector, and includes a first board on which a male first multipolar connector is mounted and a female connector. A second board on which the second multi-pole connector is mounted, and a pair of boards in which the first multi-pole connector and the second multi-pole connector are fitted to each other, and the second board is attached to the first board. A first connector electrically connected to the first multi-pole connector through a transmission line formed on the first substrate, and a connector attached to the second substrate, the connector being formed on the second substrate. A pair of boards, the second connector being electrically connected to the second multi-pole connector through the transmission line, and a jig for contacting the first connector and the second connector to hold the pair of boards. When viewed in a plan view, the jig is provided at a position that does not overlap the first multi-pole connector and the second multi-pole connector, and overlaps the first multi-pole connector and the second multi-pole connector. An air layer is provided at the position.

本発明の検査装置によれば、多極コネクタの特性をより精度良く検査することができる。 According to the inspection device of the present invention, the characteristics of the multipolar connector can be inspected more accurately.

実施の形態における検査システムの概略構成を示す図The figure which shows the schematic structure of the inspection system in embodiment. 実施の形態における検査システムにおいて治具を省略した概略構成を示す図The figure which shows the schematic structure which abbreviate|omitted the jig|tool in the inspection system in embodiment. 実施の形態における検査装置において治具を省略した斜視図(嵌合後)Perspective view of the inspection device according to the embodiment with the jig omitted (after fitting) 実施の形態における検査装置において治具を省略した斜視図(嵌合前)Perspective view of the inspection device according to the embodiment without a jig (before fitting) 図3の概略平面図Schematic plan view of FIG. 第1多極コネクタを示す斜視図Perspective view showing the first multi-pole connector 第2多極コネクタを示す斜視図Perspective view showing the second multi-pole connector 第1多極コネクタと第2多極コネクタが嵌合した状態を示す斜視図FIG. 3 is a perspective view showing a state in which the first multipolar connector and the second multipolar connector are fitted together. 治具を含む検査装置の斜視図Perspective view of inspection device including jig 治具を含む検査装置の平面図Plan view of inspection device including jig 治具を含む検査装置の分解斜視図Exploded perspective view of inspection device including jig 治具と信号線の位置関係を示す平面図Plan view showing the positional relationship between the jig and the signal line

本発明の第1態様によれば、多極コネクタの特性を検査するための検査装置であって、オス型の第1多極コネクタが実装された第1基板と、メス型の第2多極コネクタが実装された第2基板とを有し、前記第1多極コネクタと前記第2多極コネクタを互いに嵌合させた、一対の基板と、前記第1基板に取り付けられたコネクタであって、前記第1基板に形成された伝送線を通じて前記第1多極コネクタに導通した第1コネクタと、前記第2基板に取り付けられたコネクタであって、前記第2基板に形成された伝送線を通じて前記第2多極コネクタに導通した第2コネクタと、前記第1コネクタおよび前記第2コネクタに接触して前記一対の基板を保持する治具と、を備え、前記一対の基板を平面視したときに、前記治具は、前記第1多極コネクタおよび前記第2多極コネクタに重ならない位置に設けられており、前記第1多極コネクタおよび前記第2多極コネクタに重なる位置に空気層を設けた、検査装置を提供する。 According to a first aspect of the present invention, there is provided an inspection device for inspecting the characteristics of a multi-pole connector, the first board having a male first multi-pole connector mounted thereon and a female second multi-pole connector. A pair of boards having a second board on which a connector is mounted, in which the first multipole connector and the second multipole connector are fitted to each other, and a connector attached to the first board. A first connector electrically connected to the first multi-pole connector through a transmission line formed on the first substrate, and a connector attached to the second substrate through a transmission line formed on the second substrate. A second connector that is electrically connected to the second multipolar connector, and a jig that contacts the first connector and the second connector and holds the pair of substrates, and when the pair of substrates is viewed in a plan view. In addition, the jig is provided at a position that does not overlap the first multipolar connector and the second multipolar connector, and an air layer is provided at a position that overlaps the first multipolar connector and the second multipolar connector. The provided inspection device is provided.

このような構成によれば、治具によって一対の基板を保持することで、基板に対して曲げモーメントが生じた場合でも基板の変形を抑制することができる。これにより、多極コネクタ同士の嵌合が解除されるのを抑制することができ、多極コネクタの特性をより精度良く検査することができる。さらに、治具に空気層を設けて、治具が多極コネクタと対向しない箇所を設けることで、治具と多極コネクタの間で電気的な容量結合が生じるのを抑制することができる。これにより、多極コネクタの特性をより精度良く検査することができる。 According to such a configuration, by holding the pair of substrates by the jig, the deformation of the substrates can be suppressed even when a bending moment is generated with respect to the substrates. As a result, it is possible to suppress the disengagement of the multipolar connectors from each other, and it is possible to inspect the characteristics of the multipolar connector with higher accuracy. Furthermore, by providing an air layer on the jig and providing a portion where the jig does not face the multipolar connector, it is possible to suppress electrical capacitive coupling between the jig and the multipolar connector. As a result, the characteristics of the multipolar connector can be inspected more accurately.

本発明の第2態様によれば、前記治具は、前記一対の基板を両側から挟み込む形状を有し、前記空気層は、前記一対の基板に対して少なくとも一方側に設けられている、第1態様に記載の検査装置を提供する。このような構成によれば、治具によって基板をより強固に保持することができる。 According to a second aspect of the present invention, the jig has a shape that sandwiches the pair of substrates from both sides, and the air layer is provided on at least one side of the pair of substrates. An inspection apparatus according to one aspect is provided. With this configuration, the jig can hold the substrate more firmly.

本発明の第3態様によれば、前記治具は、前記一対の基板を両側から挟み込んで前記第1コネクタおよび前記第2コネクタに接触する一対の板部と、前記一対の板部を貫通して互いに接続するネジ部とを備える、第2態様に記載の検査装置を提供する。このような構成によれば、板部によって一対の基板を強固に保持しつつ、板部とネジ部による簡単な構成で治具を実現することができる。 According to the third aspect of the present invention, the jig penetrates the pair of plate portions that sandwich the pair of substrates from both sides and contact the first connector and the second connector, and the pair of plate portions. And a screw part connected to each other, the inspection apparatus according to the second aspect is provided. With such a configuration, the jig can be realized with a simple configuration of the plate portion and the screw portion while firmly holding the pair of substrates by the plate portion.

本発明の第4態様によれば、前記一対の基板を平面視したときに、前記治具は、環状に形成される環状部を備え、前記環状部の内側に前記空気層が形成される、第1態様から第3態様のいずれか1つに記載の検査装置を提供する。このような構成によれば、環状部によって空気層を設けながら一対の基板をより強固に保持することができる。 According to the fourth aspect of the present invention, when the pair of substrates is viewed in plan, the jig includes an annular portion formed in an annular shape, and the air layer is formed inside the annular portion. An inspection apparatus according to any one of the first to third aspects is provided. With such a configuration, the pair of substrates can be more firmly held while the air layer is provided by the annular portion.

本発明の第5態様によれば、前記治具は、前記基板よりも誘電率の低い材料で形成される、第1態様から第4態様のいずれか1つに記載の検査装置を提供する。このような構成によれば、治具と多極コネクタの間で電気的な容量結合が生じるのをさらに抑制することができる。 According to a fifth aspect of the present invention, there is provided the inspection apparatus according to any one of the first to fourth aspects, in which the jig is formed of a material having a dielectric constant lower than that of the substrate. With such a configuration, it is possible to further suppress the occurrence of electrical capacitive coupling between the jig and the multipolar connector.

本発明の第6態様によれば、前記第1コネクタは、前記第1基板の端部を両側から挟むように前記第1基板に取り付けられ、前記第2コネクタは、前記第2基板の端部を両側から挟むように前記第2基板に取り付けられる、第1態様から第5態様のいずれか1つに記載の検査装置を提供する。このような構成によれば、コネクタを挟むように治具を配置することができ、一対の基板をより強固に保持することができる。 According to a sixth aspect of the present invention, the first connector is attached to the first board so as to sandwich the end of the first board from both sides, and the second connector is the end of the second board. The inspection apparatus according to any one of the first aspect to the fifth aspect, which is attached to the second substrate so as to sandwich it from both sides. With such a configuration, the jig can be arranged so as to sandwich the connector, and the pair of substrates can be more firmly held.

本発明の第7態様によれば、前記第1コネクタおよび前記第2コネクタをそれぞれ複数設けた、第1態様から第6態様のいずれか1つに記載の検査装置を提供する。このような構成によれば、多極コネクタの端子の数が多くなっても端子の数に応じて特性検査を実施することができる。 According to a seventh aspect of the present invention, there is provided the inspection apparatus according to any one of the first aspect to the sixth aspect, in which a plurality of the first connectors and the second connectors are provided respectively. With such a configuration, even if the number of terminals of the multi-pole connector increases, the characteristic inspection can be performed according to the number of terminals.

以下に、本発明にかかる実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

(実施の形態)
図1、図2は、実施の形態における検査システム1および検査装置2の概略構成を示す図である。図2では、検査装置2の治具13を省略した状態を示す。
(Embodiment)
1 and 2 are diagrams showing schematic configurations of an inspection system 1 and an inspection apparatus 2 according to an embodiment. FIG. 2 shows a state in which the jig 13 of the inspection device 2 is omitted.

検査システム1は、多極コネクタの特性検査を行うためのシステムである。検査システム1は、検査装置2と、複数のケーブル4と、ネットワークアナライザ6とを備える。 The inspection system 1 is a system for inspecting the characteristics of a multipolar connector. The inspection system 1 includes an inspection device 2, a plurality of cables 4, and a network analyzer 6.

検査装置2は、多極コネクタの特性検査を行うための検査装置である。検査装置2の内部に、検査対象である多極コネクタが設けられている。ケーブル4は、検査装置2とネットワークアナライザ6を電気的に接続する部材である。検査装置2は、複数のケーブル4を介してネットワークアナライザ6に接続されている。ネットワークアナライザ6に接続することにより、検査対象の多極コネクタの電気特性を検査することができる。 The inspection device 2 is an inspection device for inspecting the characteristics of the multipolar connector. Inside the inspection device 2, a multipolar connector to be inspected is provided. The cable 4 is a member that electrically connects the inspection device 2 and the network analyzer 6. The inspection device 2 is connected to the network analyzer 6 via a plurality of cables 4. By connecting to the network analyzer 6, it is possible to inspect the electrical characteristics of the multipolar connector to be inspected.

検査装置2は、一対の基板8と、複数のコネクタ10、12(図2)と、治具13(図1)とを備える。 The inspection device 2 includes a pair of substrates 8, a plurality of connectors 10 and 12 (FIG. 2), and a jig 13 (FIG. 1).

検査装置2の構成について、図3、図4、図5を用いて説明する。図3、図4は、検査装置2において治具13を省略した斜視図であり、図5は、図3の概略平面図である。図3、図5では、一対の基板8が互いに嵌合した状態を示し、図4では、嵌合する前の状態を示す。 The configuration of the inspection device 2 will be described with reference to FIGS. 3, 4, and 5. 3 and 4 are perspective views in which the jig 13 is omitted in the inspection device 2, and FIG. 5 is a schematic plan view of FIG. 3 and 5 show a state where the pair of substrates 8 are fitted to each other, and FIG. 4 shows a state before they are fitted.

図3、図4に示すように、一対の基板8は、第1基板8Aと、第2基板8Bとを備える。第1基板8A、第2基板8Bはともに、多極コネクタの特性を検査するための検査用の回路基板である。図4に示すように、第1基板8Aの裏面には、第1多極コネクタ14が実装されている。同様に、第2基板8Bの表面には、第2多極コネクタ16が実装されている。 As shown in FIGS. 3 and 4, the pair of substrates 8 includes a first substrate 8A and a second substrate 8B. Both the first board 8A and the second board 8B are inspection circuit boards for inspecting the characteristics of the multipolar connector. As shown in FIG. 4, the first multi-pole connector 14 is mounted on the back surface of the first substrate 8A. Similarly, the second multi-pole connector 16 is mounted on the surface of the second substrate 8B.

第1多極コネクタ14、第2多極コネクタ16を図6A、図6B、図6Cに示す。図6Aは、第1多極コネクタ14を示す斜視図であり、図6Bは、第2多極コネクタ16を示す斜視図である。図6Cは、第1多極コネクタ14と第2多極コネクタ16が嵌合した状態を示す斜視図である。 The first multi-pole connector 14 and the second multi-pole connector 16 are shown in FIGS. 6A, 6B and 6C. FIG. 6A is a perspective view showing the first multi-pole connector 14, and FIG. 6B is a perspective view showing the second multi-pole connector 16. FIG. 6C is a perspective view showing a state in which the first multipolar connector 14 and the second multipolar connector 16 are fitted together.

実施の形態では、図6Aに示す第1多極コネクタ14はオス型の多極コネクタであり、図6Bに示す第2多極コネクタ16はメス型の多極コネクタである。 In the embodiment, the first multipole connector 14 shown in FIG. 6A is a male multipole connector, and the second multipole connector 16 shown in FIG. 6B is a female multipole connector.

第1多極コネクタ14は複数の端子15を有している。図6Aに示すように、複数の端子15は2列に並べられている。同様に、図6Bに示す第2多極コネクタ16は複数の端子17を有しており、端子17は2列に並べられている。 The first multi-pole connector 14 has a plurality of terminals 15. As shown in FIG. 6A, the plurality of terminals 15 are arranged in two rows. Similarly, the second multi-pole connector 16 shown in FIG. 6B has a plurality of terminals 17, and the terminals 17 are arranged in two rows.

図6Cに示す嵌合状態では、第1多極コネクタ14の端子15と第2多極コネクタ16の端子17とが互いに接触して導通している。 In the fitted state shown in FIG. 6C, the terminals 15 of the first multi-pole connector 14 and the terminals 17 of the second multi-pole connector 16 are in contact with each other and are in conduction.

図3、図4等に示すように、第1基板8Aには複数の第1コネクタ10が取り付けられている。第1コネクタ10は、第1多極コネクタ14の端子15を前述したケーブル4に電気的に接続するためのコネクタである。 As shown in FIGS. 3 and 4, a plurality of first connectors 10 are attached to the first board 8A. The first connector 10 is a connector for electrically connecting the terminal 15 of the first multipolar connector 14 to the cable 4 described above.

同様に、第2基板8Bには複数の第2コネクタ12が取り付けられている。第2コネクタ12は、第2多極コネクタ16の端子17を前述したケーブル4に電気的に接続するためのコネクタである。 Similarly, a plurality of second connectors 12 are attached to the second board 8B. The second connector 12 is a connector for electrically connecting the terminal 17 of the second multipolar connector 16 to the cable 4 described above.

図5に示すように、第1基板8Aには複数の伝送線18が形成されている。伝送線18は、第1多極コネクタ14と第1コネクタ10を電気的に接続する配線である。全ての伝送線18が第1多極コネクタ14に接続されており、それぞれの伝送線18が1つの第1コネクタ10に接続されている。 As shown in FIG. 5, a plurality of transmission lines 18 are formed on the first substrate 8A. The transmission line 18 is a wiring that electrically connects the first multipolar connector 14 and the first connector 10. All the transmission lines 18 are connected to the first multipolar connector 14, and each transmission line 18 is connected to one first connector 10.

第2基板8Bにも同様に複数の伝送線20が形成されている。伝送線20は、第2多極コネクタ16と第2コネクタ12を電気的に接続する配線である。複数の伝送線20は全て第2多極コネクタ16に接続されており、それぞれの伝送線20が1つの第2コネクタ12に接続されている。 A plurality of transmission lines 20 are similarly formed on the second substrate 8B. The transmission line 20 is a wiring that electrically connects the second multipolar connector 16 and the second connector 12. The plurality of transmission lines 20 are all connected to the second multipolar connector 16, and each transmission line 20 is connected to one second connector 12.

実施の形態では、第1コネクタ10、第2コネクタ12はともに、エンドランチコネクタである。具体的には、第1コネクタ10は、第1基板8Aの端部を両側から挟み込むように取り付けられており、第2コネクタ12は、第2基板8Bの端部を両側から挟み込むように取り付けられている。 In the embodiment, both the first connector 10 and the second connector 12 are end launch connectors. Specifically, the first connector 10 is attached so as to sandwich the end portion of the first substrate 8A from both sides, and the second connector 12 is attached so as to sandwich the end portion of the second substrate 8B from both sides. ing.

図示の例では、コネクタ10、12がそれぞれ4つずつ設けられているが、コネクタ10、12の個数は4つに限らず、任意の個数であってもよい。 In the illustrated example, four connectors 10 and 12 are provided, but the number of connectors 10 and 12 is not limited to four, and may be any number.

このような構成において、多極コネクタ14、16の特性を検査する際には、図2に示すようにコネクタ10、12にはケーブル4が接続された状態で行う。このような状態では、ケーブル4から検査装置2に対してテンションがかかり、特に、基板8を湾曲させる曲げモーメントが生じる。この曲げモーメントによって、第1多極コネクタ14と第2多極コネクタ16の嵌合が解除されてしまう場合があり、多極コネクタ14、16の特性を精度良く検査できない場合がある。 With such a configuration, when the characteristics of the multipolar connectors 14 and 16 are inspected, the cable 4 is connected to the connectors 10 and 12 as shown in FIG. In such a state, tension is applied to the inspection device 2 from the cable 4, and in particular, a bending moment that bends the substrate 8 is generated. Due to this bending moment, the fitting of the first multi-pole connector 14 and the second multi-pole connector 16 may be released, and the characteristics of the multi-pole connectors 14 and 16 may not be accurately inspected.

これに対して、実施の形態の検査装置2では、第1多極コネクタ14と第2多極コネクタ16の嵌合を維持するための治具13(図1)を設けている。治具13の詳細な構成について、図7、図8、図9を用いて説明する。 On the other hand, in the inspection device 2 of the embodiment, the jig 13 (FIG. 1) for maintaining the fitting of the first multi-pole connector 14 and the second multi-pole connector 16 is provided. The detailed configuration of the jig 13 will be described with reference to FIGS. 7, 8 and 9.

図7は、治具13を含む検査装置2の斜視図であり、図8は、同検査装置2の平面図であり、図9は、同検査装置2の分解斜視図である。 7 is a perspective view of the inspection device 2 including the jig 13, FIG. 8 is a plan view of the inspection device 2, and FIG. 9 is an exploded perspective view of the inspection device 2.

図7、図9などに示すように、治具13は、第1の板部21と、接続部22と、第2の板部23とを備える。第1の板部21、接続部22、第2の板部23のいずれも、少なくとも1つのブロック体から構成されている。 As shown in FIGS. 7 and 9, the jig 13 includes a first plate portion 21, a connecting portion 22, and a second plate portion 23. Each of the first plate portion 21, the connecting portion 22, and the second plate portion 23 is composed of at least one block body.

第1の板部21と第2の板部23は、一対の基板8を両側から挟みこむように構成された一対の板状の部材である。第1の板部21は、コネクタ10、12に一方側から接触して一対の基板8を保持し、第2の板部23は、コネクタ10、12に対して他方側から接触して一対の基板8を保持する。 The first plate portion 21 and the second plate portion 23 are a pair of plate-shaped members configured to sandwich the pair of substrates 8 from both sides. The first plate portion 21 contacts the connectors 10 and 12 from one side and holds the pair of substrates 8, and the second plate portion 23 contacts the connectors 10 and 12 from the other side and forms a pair. The substrate 8 is held.

接続部22は、第1の板部21と第2の板部23を接続するための部分である。接続部22は、第1の板部21と第2の板部23の両方に接触するように第1の板部21と第2の板部23の間に配置される。接続部22には、複数のねじ部24、26が挿通される。 The connecting portion 22 is a portion for connecting the first plate portion 21 and the second plate portion 23. The connection part 22 is arranged between the first plate part 21 and the second plate part 23 so as to contact both the first plate part 21 and the second plate part 23. A plurality of screw parts 24 and 26 are inserted into the connection part 22.

ねじ部24、26は、第1の板部21と第2の板部23を互いに接続するための部材である。ねじ部24は、第1の板部21と接続部22に挿通される。これにより、第1の板部21と接続部22が互いに接続される。ねじ部26は、接続部22と第2の板部23に挿通される。これにより、接続部22と第2の板部23が互いに接続される。 The screw parts 24 and 26 are members for connecting the first plate part 21 and the second plate part 23 to each other. The screw part 24 is inserted into the first plate part 21 and the connection part 22. As a result, the first plate portion 21 and the connecting portion 22 are connected to each other. The screw portion 26 is inserted into the connecting portion 22 and the second plate portion 23. As a result, the connecting portion 22 and the second plate portion 23 are connected to each other.

接続部22およびねじ部24、26によって、第1の板部21と第2の板部23を互いに接続して固定することができる。このように固定された第1の板部21と第2の板部23によって、一対の基板8を両側から挟み込み、強固に保持することができる。 The first plate portion 21 and the second plate portion 23 can be connected and fixed to each other by the connecting portion 22 and the screw portions 24 and 26. By the first plate portion 21 and the second plate portion 23 fixed in this way, the pair of substrates 8 can be sandwiched from both sides and firmly held.

上述した治具13によれば、一対の基板8およびコネクタ10、12を含む検査装置2の各構成部材を位置決めして強固に固定することができる。前述したように一対の基板8に対してケーブル4による曲げモーメントが生じた場合でも、第1多極コネクタ14と第2多極コネクタ16の嵌合状態を維持することができ、多極コネクタ14、16の特性検査を精度良く実施することができる。 According to the jig 13 described above, each component of the inspection device 2 including the pair of substrates 8 and the connectors 10 and 12 can be positioned and firmly fixed. As described above, even when a bending moment is generated by the cable 4 with respect to the pair of substrates 8, the fitted state of the first multipole connector 14 and the second multipole connector 16 can be maintained, and the multipole connector 14 , 16 can be accurately performed.

また図7等に示すように、実施の形態における第1の板部21は、対向する一対の板状の部材により構成されている。図7、図8に示すように、一対の第1の板部21の間の空間は空気層28として形成される。空気層28は、図7の矢印Aで示すように一対の基板8を平面視したときに、一対の基板8を外側に露出させる開口である。空気層28は特に、図8に示すように、一対の基板8を平面視したときに第1多極コネクタ14、16に重なる位置に設けられている。このような位置に空気層28を設けることで、一対の基板8を一方側から平面視したときに、治具13は多極コネクタ14、16と重ならないように配置される。治具13と多極コネクタ14、16を対向させないようにすることで、治具13と第1多極コネクタ14、16の間で電気的な容量結合が生じるのを抑制することができる。 Further, as shown in FIG. 7 and the like, the first plate portion 21 in the embodiment is composed of a pair of plate-shaped members facing each other. As shown in FIGS. 7 and 8, the space between the pair of first plate portions 21 is formed as an air layer 28. The air layer 28 is an opening that exposes the pair of substrates 8 to the outside when the pair of substrates 8 is viewed in plan as shown by the arrow A in FIG. 7. In particular, as shown in FIG. 8, the air layer 28 is provided at a position overlapping the first multipolar connectors 14 and 16 when the pair of substrates 8 is viewed in a plan view. By providing the air layer 28 at such a position, the jig 13 is arranged so as not to overlap the multipolar connectors 14 and 16 when the pair of substrates 8 is viewed in plan from one side. By preventing the jig 13 and the multipole connectors 14 and 16 from facing each other, it is possible to suppress the occurrence of electrical capacitive coupling between the jig 13 and the first multipole connectors 14 and 16.

一方で、図9に示すように、第2の板部23には開口が設けられておらず、一対の基板8を露出させる空気層は形成されていない。すなわち、実施の形態の検査装置2では、一対の基板8に対して片側のみに空気層28が設けられている。 On the other hand, as shown in FIG. 9, no opening is provided in the second plate portion 23, and an air layer that exposes the pair of substrates 8 is not formed. That is, in the inspection device 2 of the embodiment, the air layer 28 is provided only on one side of the pair of substrates 8.

さらに実施の形態では、第1の板部21および接続部22は、A方向から見た際に環状に形成されている。すなわち、第1の板部21および接続部22は、周方向に連続的につながった環状部を構成している。第1の板部21および接続部22による環状部の内側の開口として、空気層28が設けられている。このような構成によれば、簡単な構成で空気層28を設けつつ一対の基板8を強固に保持することができる。 Further, in the embodiment, the first plate portion 21 and the connecting portion 22 are formed in an annular shape when viewed from the A direction. That is, the first plate portion 21 and the connecting portion 22 form an annular portion that is continuously connected in the circumferential direction. An air layer 28 is provided as an opening inside the annular portion formed by the first plate portion 21 and the connecting portion 22. With such a configuration, the pair of substrates 8 can be firmly held while providing the air layer 28 with a simple configuration.

また、実施の形態における治具13は、誘電率の低い材料で形成されている。具体的には、治具13を構成する材料はポリアセタール(POM)である。ポリアセタールの誘電率は約3.6である。このような誘電率の低い材料で治具13を構成することにより、治具13と第1多極コネクタ14、16の電気的な容量結合をより抑制することができる。 Further, the jig 13 in the embodiment is formed of a material having a low dielectric constant. Specifically, the material forming the jig 13 is polyacetal (POM). The dielectric constant of polyacetal is about 3.6. By configuring the jig 13 with such a material having a low dielectric constant, it is possible to further suppress the electrical capacitive coupling between the jig 13 and the first multipole connectors 14 and 16.

なお、治具13の材料を選択する際には、例えば誘電率が3.6以下の材料を選択するようにしてもよい。あるいは、基板8よりも誘電率が低い材料を選択してもよい。実施の形態における基板8の材料はMEGTRON6であり、誘電率は約3.7である。 When selecting the material of the jig 13, for example, a material having a dielectric constant of 3.6 or less may be selected. Alternatively, a material having a dielectric constant lower than that of the substrate 8 may be selected. The material of the substrate 8 in the embodiment is MEGRON6, and the dielectric constant is about 3.7.

次に、治具13と信号線18、20の位置関係を図10に示す。図10に示すように、一対の基板8を平面視したときに、治具13と信号線18、20が重なる領域(外側)と、重ならない領域(内側)が存在する。実施の形態では、治具13と信号線18、20が重ならない領域が、重なる領域よりも大きくなるように空気層28を設けている。このような配置によれば、治具13と多極コネクタ14、16の間の電気的な容量結合だけでなく、治具13と信号線18、20の間の電気的な容量結合を抑制することができる。これにより、多極コネクタ14、16の特性検査をより精度良く実施することができる。 Next, the positional relationship between the jig 13 and the signal lines 18 and 20 is shown in FIG. As shown in FIG. 10, when the pair of substrates 8 are viewed in a plan view, there are regions where the jig 13 and the signal lines 18 and 20 overlap (outside) and regions where they do not overlap (inside). In the embodiment, the air layer 28 is provided so that the area where the jig 13 and the signal lines 18 and 20 do not overlap is larger than the area where they overlap. With such an arrangement, not only the electrical capacitive coupling between the jig 13 and the multipolar connectors 14 and 16 but also the electrical capacitive coupling between the jig 13 and the signal lines 18 and 20 is suppressed. be able to. As a result, the characteristic inspection of the multi-pole connectors 14 and 16 can be performed more accurately.

上述したように、実施の形態の検査装置2は、多極コネクタ14、16の特性を検査するための装置であって、一対の基板8と、第1コネクタ10と、第2コネクタ12と、治具13とを備える。一対の基板8は、オス型の第1多極コネクタ14が実装された第1基板8Aと、メス型の第2多極コネクタ16が実装された第2基板8Bとを有し、第1多極コネクタ14と第2多極コネクタ16を互いに嵌合させている。第1コネクタ10は、第1基板8Aに取り付けられたコネクタであって、第1基板8Aに形成された伝送線18を通じて第1多極コネクタ14に導通している。第2コネクタ12は、第2基板8Bに取り付けられたコネクタであって、第2基板8Bに形成された伝送線20を通じて第2多極コネクタ16に導通している。治具13は、第1コネクタ10および第2コネクタ12に接触して一対の基板8を保持する部材である。このような構成において、一対の基板8を平面視したときに、治具13は、第1多極コネクタ14および第2多極コネクタ16に重ならない位置に設けられている。また、一対の基板8を平面視したときに、第1多極コネクタ14および第2多極コネクタ16に重なる位置に空気層28を設けている。 As described above, the inspection device 2 of the embodiment is a device for inspecting the characteristics of the multipolar connectors 14 and 16, and includes a pair of substrates 8, a first connector 10, a second connector 12, and And a jig 13. The pair of substrates 8 has a first substrate 8A on which the male first multi-pole connector 14 is mounted and a second substrate 8B on which the female second multi-pole connector 16 is mounted. The polar connector 14 and the second multipolar connector 16 are fitted together. The first connector 10 is a connector attached to the first substrate 8A, and is electrically connected to the first multipolar connector 14 through the transmission line 18 formed on the first substrate 8A. The second connector 12 is a connector attached to the second substrate 8B, and is electrically connected to the second multipolar connector 16 through the transmission line 20 formed on the second substrate 8B. The jig 13 is a member that contacts the first connector 10 and the second connector 12 and holds the pair of substrates 8. In such a configuration, the jig 13 is provided at a position where it does not overlap the first multipolar connector 14 and the second multipolar connector 16 when the pair of substrates 8 is viewed in a plan view. Further, the air layer 28 is provided at a position overlapping the first multi-pole connector 14 and the second multi-pole connector 16 when the pair of substrates 8 is viewed in a plan view.

このような構成によれば、治具13によって一対の基板8を保持することで、基板8に対して曲げモーメントが生じた場合でも基板8の変形を抑制することができる。これにより、多極コネクタ14、16同士の嵌合が解除されるのを抑制することができ、多極コネクタ14、16の特性をより精度良く検査することができる。さらに、治具13に空気層28を設けて、治具13が多極コネクタ14、16に対向しない箇所を設けることで、多極コネクタ14、16と治具13の間で電気的な容量結合が生じるのを抑制することができる。これにより、多極コネクタ14、16の特性をより精度良く検査することができる。 According to such a configuration, by holding the pair of substrates 8 with the jig 13, it is possible to suppress the deformation of the substrate 8 even when a bending moment is generated with respect to the substrates 8. Accordingly, it is possible to suppress the disengagement of the multipolar connectors 14 and 16 from each other, and it is possible to inspect the characteristics of the multipolar connectors 14 and 16 with higher accuracy. Further, by providing the air layer 28 on the jig 13 and providing a portion where the jig 13 does not face the multipolar connectors 14 and 16, electrical capacitive coupling between the multipolar connectors 14 and 16 and the jig 13 is performed. Can be suppressed. Thereby, the characteristics of the multi-pole connectors 14 and 16 can be inspected more accurately.

また実施の形態の検査装置2によれば、治具13は、一対の基板8を両側から挟み込む形状を有し、空気層28は、一対の基板8に対して少なくとも一方側に設けられている。このような構成によれば、一対の基板8を両側から挟み込むことで、より強固に保持することができる。 Further, according to the inspection device 2 of the embodiment, the jig 13 has a shape of sandwiching the pair of substrates 8 from both sides, and the air layer 28 is provided on at least one side of the pair of substrates 8. .. With such a configuration, the pair of substrates 8 can be held more firmly by sandwiching them from both sides.

また実施の形態の検査装置2によれば、治具13は、一対の基板8を両側から挟み込んで第1コネクタ10および第2コネクタ12に接触する一対の板部18、20と、一対の板部18、20を貫通して互いに接続するネジ部24、26とを備える。このような構成によれば、板部18、20によって一対の基板8をより強固に保持しつつ、板部18、20とネジ部24、26による簡単な構成で治具13を実現することができる。 Further, according to the inspection device 2 of the embodiment, the jig 13 includes the pair of plate portions 18 and 20 that sandwich the pair of substrates 8 from both sides and come into contact with the first connector 10 and the second connector 12, and the pair of plates. And threaded portions 24, 26 that pass through the portions 18, 20 and connect to each other. With such a configuration, the jig 13 can be realized with a simple configuration of the plate portions 18 and 20 and the screw portions 24 and 26 while holding the pair of substrates 8 more firmly by the plate portions 18 and 20. it can.

また実施の形態の検査装置2によれば、第1コネクタ10は、第1基板8Aの端部を両側から挟むように第1基板8Aに取り付けられ、第2コネクタ12は、第2基板8Bの端部を両側から挟むように第2基板8Bに取り付けられる。このような構成によれば、コネクタ10、12を挟むように治具13を配置することができ、一対の基板8をより強固に保持することができる。 Further, according to the inspection device 2 of the embodiment, the first connector 10 is attached to the first substrate 8A so as to sandwich the end portion of the first substrate 8A from both sides, and the second connector 12 is attached to the second substrate 8B. It is attached to the second substrate 8B so as to sandwich the end portion from both sides. According to such a configuration, the jig 13 can be arranged so as to sandwich the connectors 10 and 12, and the pair of substrates 8 can be more firmly held.

また実施の形態の検査装置2によれば、第1コネクタ10および第2コネクタ12をそれぞれ複数設けている。このような構成によれば、多極コネクタ14、16の端子の数が多くなった場合でも、端子の数に応じて特性検査を実施することができる。 Further, according to the inspection device 2 of the embodiment, each of the first connector 10 and the second connector 12 is provided in plurality. With such a configuration, even when the number of terminals of the multi-pole connectors 14 and 16 increases, the characteristic inspection can be performed according to the number of terminals.

以上、上述の実施の形態を挙げて本発明を説明したが、本発明は上述の実施の形態に限定されない。例えば、上記実施の形態では、治具13が一対の基端8を両側から挟み込む場合について説明したが、このような場合に限らない。例えば、治具13が基板8を片側のみから保持するようにしてもよい。 Although the present invention has been described with reference to the above embodiment, the present invention is not limited to the above embodiment. For example, although the case where the jig 13 sandwiches the pair of base ends 8 from both sides has been described in the above embodiment, the present invention is not limited to such a case. For example, the jig 13 may hold the substrate 8 from only one side.

また、上記実施の形態では、空気層28が一対の基板8に対して片側のみに設けられる場合について説明したが、このような場合に限らない。例えば、一対の基板8の両側に空気層28を設けるようにしてもよい。すなわち、図9に示す第2の板部23においても、一対の基板8を露出させる開口を設けてもよい。 Further, in the above embodiment, the case where the air layer 28 is provided only on one side of the pair of substrates 8 has been described, but the present invention is not limited to such a case. For example, the air layers 28 may be provided on both sides of the pair of substrates 8. That is, also in the second plate portion 23 shown in FIG. 9, an opening for exposing the pair of substrates 8 may be provided.

また、上記実施の形態では、第1コネクタ10、第2コネクタ12がエンドランチコネクタである場合について説明したが、このような場合に限らず、任意の種類のコネクタを用いてもよい(例えば、SMAコネクタ)。 Further, in the above embodiment, the case where the first connector 10 and the second connector 12 are end launch connectors has been described, but the present invention is not limited to such a case, and any type of connector may be used (for example, SMA connector).

本開示は、添付図面を参照しながら好ましい実施の形態に関連して充分に記載されているが、この技術の熟練した人々にとっては種々の変形や修正は明白である。そのような変形や修正は、添付した特許請求の範囲による本開示の範囲から外れない限りにおいて、その中に含まれると理解されるべきである。また、各実施の形態における要素の組合せや順序の変化は、本開示の範囲及び思想を逸脱することなく実現し得るものである。 While the present disclosure has been fully described in connection with the preferred embodiments with reference to the accompanying drawings, various variations and modifications will be apparent to those skilled in the art. It is to be understood that such variations and modifications are included within the scope of the present disclosure as defined by the appended claims. In addition, the combination of elements and the change in order in each embodiment can be realized without departing from the scope and concept of the present disclosure.

なお、上記様々な実施の形態および変形例のうちの任意の実施の形態あるいは変形例を適宜組み合わせることにより、それぞれの有する効果を奏するようにすることができる。 It is to be noted that, by properly combining the arbitrary embodiments or modifications of the various embodiments and modifications described above, the effects possessed by them can be produced.

本発明は、多極コネクタの特性を検査するための検査装置であれば適用可能である。 The present invention can be applied to any inspection device for inspecting the characteristics of a multipolar connector.

2 検査装置
4 ケーブル
6 ネットワークアナライザ
8 基板
8A 第1基板
8B 第2基板
10 第1コネクタ
12 第2コネクタ
14 第1多極コネクタ
15 端子
16 第2多極コネクタ
17 端子
18 伝送線
20 伝送線
21 第1の板部
22 接続部
23 第2の板部
24 ねじ部
26 ねじ部
28 空気層
2 inspection device 4 cable 6 network analyzer 8 board 8A first board 8B second board 10 first connector 12 second connector 14 first multipole connector 15 terminal 16 second multipole connector 17 terminal 18 transmission line 20 transmission line 21 1 plate part 22 connection part 23 2nd plate part 24 screw part 26 screw part 28 air layer

Claims (7)

多極コネクタの特性を検査するための検査装置であって、
オス型の第1多極コネクタが実装された第1基板と、メス型の第2多極コネクタが実装された第2基板とを有し、前記第1多極コネクタと前記第2多極コネクタを互いに嵌合させた、一対の基板と、
前記第1基板に取り付けられたコネクタであって、前記第1基板に形成された伝送線を通じて前記第1多極コネクタに導通した第1コネクタと、
前記第2基板に取り付けられたコネクタであって、前記第2基板に形成された伝送線を通じて前記第2多極コネクタに導通した第2コネクタと、
前記第1コネクタおよび前記第2コネクタに接触して前記一対の基板を保持する治具と、を備え、
前記一対の基板を平面視したときに、前記治具は、前記第1多極コネクタおよび前記第2多極コネクタに重ならない位置に設けられており、前記第1多極コネクタおよび前記第2多極コネクタに重なる位置に空気層を設けた、検査装置。
An inspection device for inspecting the characteristics of a multipolar connector,
A first board on which a male first multi-pole connector is mounted; and a second board on which a female second multi-pole connector is mounted, the first multi-pole connector and the second multi-pole connector A pair of boards, which are fitted to each other,
A connector attached to the first substrate, wherein the first connector is electrically connected to the first multipolar connector through a transmission line formed on the first substrate;
A second connector attached to the second substrate, the second connector being electrically connected to the second multipolar connector through a transmission line formed on the second substrate;
A jig that holds the pair of boards by contacting the first connector and the second connector,
The jig is provided at a position that does not overlap the first multi-pole connector and the second multi-pole connector when the pair of substrates is viewed in a plan view. An inspection device that has an air layer at a position that overlaps the pole connector.
前記治具は、前記一対の基板を両側から挟み込む形状を有し、前記空気層は、前記一対の基板に対して少なくとも一方側に設けられている、請求項1に記載の検査装置。 The inspection device according to claim 1, wherein the jig has a shape that sandwiches the pair of substrates from both sides, and the air layer is provided on at least one side of the pair of substrates. 前記治具は、前記一対の基板を両側から挟み込んで前記第1コネクタおよび前記第2コネクタに接触する一対の板部と、前記一対の板部を貫通して互いに接続するネジ部とを備える、請求項2に記載の検査装置。 The jig includes a pair of plate portions that sandwich the pair of substrates from both sides and are in contact with the first connector and the second connector, and screw portions that penetrate the pair of plate portions and are connected to each other. The inspection apparatus according to claim 2. 前記一対の基板を平面視したときに、前記治具は、環状に形成される環状部を備え、前記環状部の内側に前記空気層が形成される、請求項1から3のいずれか1つに記載の検査装置。 4. The jig has an annular portion formed in an annular shape when the pair of substrates is viewed in a plan view, and the air layer is formed inside the annular portion. Inspection device according to. 前記治具は、前記基板よりも誘電率の低い材料で形成される、請求項1から4のいずれか1つに記載の検査装置。 The inspection device according to claim 1, wherein the jig is formed of a material having a dielectric constant lower than that of the substrate. 前記第1コネクタは、前記第1基板の端部を両側から挟むように前記第1基板に取り付けられ、前記第2コネクタは、前記第2基板の端部を両側から挟むように前記第2基板に取り付けられる、請求項1から5のいずれか1つに記載の検査装置。 The first connector is attached to the first substrate so as to sandwich the end portion of the first substrate from both sides, and the second connector is the second substrate so as to sandwich the end portion of the second substrate from both sides. The inspection apparatus according to any one of claims 1 to 5, which is attached to the. 前記第1コネクタおよび前記第2コネクタをそれぞれ複数設けた、請求項1から6のいずれか1つに記載の検査装置。 The inspection device according to any one of claims 1 to 6, wherein a plurality of the first connectors and a plurality of the second connectors are provided.
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