JP2020091980A - Characteristics inspection apparatus of multi-pole connector - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、多極コネクタの特性を検査するための検査装置に関する。 The present invention relates to an inspection device for inspecting characteristics of a multipolar connector.
従来より、多極コネクタの特性を検査するための検査装置が開示されている(例えば、特許文献1参照)。 Conventionally, an inspection device for inspecting the characteristics of a multipolar connector has been disclosed (see, for example, Patent Document 1).
特許文献1の検査装置は、多極コネクタの複数の端子の接点部の位置狂いの有無を検査するための装置である。
The inspection device of
このような検査装置に関して、多極コネクタの特性をより精度良く検査することができる技術の開発が求められている。 With respect to such an inspection device, it is required to develop a technique capable of inspecting the characteristics of the multipolar connector with higher accuracy.
従って、本発明の目的は、多極コネクタの特性をより精度良く検査することができる検査装置を提供することにある。 Therefore, an object of the present invention is to provide an inspection device that can inspect the characteristics of a multipolar connector with higher accuracy.
上記目的を達成するために、本発明の検査装置は、多極コネクタの特性を検査するための検査装置であって、オス型の第1多極コネクタが実装された第1基板と、メス型の第2多極コネクタが実装された第2基板とを有し、前記第1多極コネクタと前記第2多極コネクタを互いに嵌合させた、一対の基板と、前記第1基板に取り付けられたコネクタであって、前記第1基板に形成された伝送線を通じて前記第1多極コネクタに導通した第1コネクタと、前記第2基板に取り付けられたコネクタであって、前記第2基板に形成された伝送線を通じて前記第2多極コネクタに導通した第2コネクタと、前記第1コネクタおよび前記第2コネクタに接触して前記一対の基板を保持する治具と、を備え、前記一対の基板を平面視したときに、前記治具は、前記第1多極コネクタおよび前記第2多極コネクタに重ならない位置に設けられており、前記第1多極コネクタおよび前記第2多極コネクタに重なる位置に空気層を設けている。 In order to achieve the above-mentioned object, the inspection device of the present invention is an inspection device for inspecting the characteristics of a multipolar connector, and includes a first board on which a male first multipolar connector is mounted and a female connector. A second board on which the second multi-pole connector is mounted, and a pair of boards in which the first multi-pole connector and the second multi-pole connector are fitted to each other, and the second board is attached to the first board. A first connector electrically connected to the first multi-pole connector through a transmission line formed on the first substrate, and a connector attached to the second substrate, the connector being formed on the second substrate. A pair of boards, the second connector being electrically connected to the second multi-pole connector through the transmission line, and a jig for contacting the first connector and the second connector to hold the pair of boards. When viewed in a plan view, the jig is provided at a position that does not overlap the first multi-pole connector and the second multi-pole connector, and overlaps the first multi-pole connector and the second multi-pole connector. An air layer is provided at the position.
本発明の検査装置によれば、多極コネクタの特性をより精度良く検査することができる。 According to the inspection device of the present invention, the characteristics of the multipolar connector can be inspected more accurately.
本発明の第1態様によれば、多極コネクタの特性を検査するための検査装置であって、オス型の第1多極コネクタが実装された第1基板と、メス型の第2多極コネクタが実装された第2基板とを有し、前記第1多極コネクタと前記第2多極コネクタを互いに嵌合させた、一対の基板と、前記第1基板に取り付けられたコネクタであって、前記第1基板に形成された伝送線を通じて前記第1多極コネクタに導通した第1コネクタと、前記第2基板に取り付けられたコネクタであって、前記第2基板に形成された伝送線を通じて前記第2多極コネクタに導通した第2コネクタと、前記第1コネクタおよび前記第2コネクタに接触して前記一対の基板を保持する治具と、を備え、前記一対の基板を平面視したときに、前記治具は、前記第1多極コネクタおよび前記第2多極コネクタに重ならない位置に設けられており、前記第1多極コネクタおよび前記第2多極コネクタに重なる位置に空気層を設けた、検査装置を提供する。 According to a first aspect of the present invention, there is provided an inspection device for inspecting the characteristics of a multi-pole connector, the first board having a male first multi-pole connector mounted thereon and a female second multi-pole connector. A pair of boards having a second board on which a connector is mounted, in which the first multipole connector and the second multipole connector are fitted to each other, and a connector attached to the first board. A first connector electrically connected to the first multi-pole connector through a transmission line formed on the first substrate, and a connector attached to the second substrate through a transmission line formed on the second substrate. A second connector that is electrically connected to the second multipolar connector, and a jig that contacts the first connector and the second connector and holds the pair of substrates, and when the pair of substrates is viewed in a plan view. In addition, the jig is provided at a position that does not overlap the first multipolar connector and the second multipolar connector, and an air layer is provided at a position that overlaps the first multipolar connector and the second multipolar connector. The provided inspection device is provided.
このような構成によれば、治具によって一対の基板を保持することで、基板に対して曲げモーメントが生じた場合でも基板の変形を抑制することができる。これにより、多極コネクタ同士の嵌合が解除されるのを抑制することができ、多極コネクタの特性をより精度良く検査することができる。さらに、治具に空気層を設けて、治具が多極コネクタと対向しない箇所を設けることで、治具と多極コネクタの間で電気的な容量結合が生じるのを抑制することができる。これにより、多極コネクタの特性をより精度良く検査することができる。 According to such a configuration, by holding the pair of substrates by the jig, the deformation of the substrates can be suppressed even when a bending moment is generated with respect to the substrates. As a result, it is possible to suppress the disengagement of the multipolar connectors from each other, and it is possible to inspect the characteristics of the multipolar connector with higher accuracy. Furthermore, by providing an air layer on the jig and providing a portion where the jig does not face the multipolar connector, it is possible to suppress electrical capacitive coupling between the jig and the multipolar connector. As a result, the characteristics of the multipolar connector can be inspected more accurately.
本発明の第2態様によれば、前記治具は、前記一対の基板を両側から挟み込む形状を有し、前記空気層は、前記一対の基板に対して少なくとも一方側に設けられている、第1態様に記載の検査装置を提供する。このような構成によれば、治具によって基板をより強固に保持することができる。 According to a second aspect of the present invention, the jig has a shape that sandwiches the pair of substrates from both sides, and the air layer is provided on at least one side of the pair of substrates. An inspection apparatus according to one aspect is provided. With this configuration, the jig can hold the substrate more firmly.
本発明の第3態様によれば、前記治具は、前記一対の基板を両側から挟み込んで前記第1コネクタおよび前記第2コネクタに接触する一対の板部と、前記一対の板部を貫通して互いに接続するネジ部とを備える、第2態様に記載の検査装置を提供する。このような構成によれば、板部によって一対の基板を強固に保持しつつ、板部とネジ部による簡単な構成で治具を実現することができる。 According to the third aspect of the present invention, the jig penetrates the pair of plate portions that sandwich the pair of substrates from both sides and contact the first connector and the second connector, and the pair of plate portions. And a screw part connected to each other, the inspection apparatus according to the second aspect is provided. With such a configuration, the jig can be realized with a simple configuration of the plate portion and the screw portion while firmly holding the pair of substrates by the plate portion.
本発明の第4態様によれば、前記一対の基板を平面視したときに、前記治具は、環状に形成される環状部を備え、前記環状部の内側に前記空気層が形成される、第1態様から第3態様のいずれか1つに記載の検査装置を提供する。このような構成によれば、環状部によって空気層を設けながら一対の基板をより強固に保持することができる。 According to the fourth aspect of the present invention, when the pair of substrates is viewed in plan, the jig includes an annular portion formed in an annular shape, and the air layer is formed inside the annular portion. An inspection apparatus according to any one of the first to third aspects is provided. With such a configuration, the pair of substrates can be more firmly held while the air layer is provided by the annular portion.
本発明の第5態様によれば、前記治具は、前記基板よりも誘電率の低い材料で形成される、第1態様から第4態様のいずれか1つに記載の検査装置を提供する。このような構成によれば、治具と多極コネクタの間で電気的な容量結合が生じるのをさらに抑制することができる。 According to a fifth aspect of the present invention, there is provided the inspection apparatus according to any one of the first to fourth aspects, in which the jig is formed of a material having a dielectric constant lower than that of the substrate. With such a configuration, it is possible to further suppress the occurrence of electrical capacitive coupling between the jig and the multipolar connector.
本発明の第6態様によれば、前記第1コネクタは、前記第1基板の端部を両側から挟むように前記第1基板に取り付けられ、前記第2コネクタは、前記第2基板の端部を両側から挟むように前記第2基板に取り付けられる、第1態様から第5態様のいずれか1つに記載の検査装置を提供する。このような構成によれば、コネクタを挟むように治具を配置することができ、一対の基板をより強固に保持することができる。 According to a sixth aspect of the present invention, the first connector is attached to the first board so as to sandwich the end of the first board from both sides, and the second connector is the end of the second board. The inspection apparatus according to any one of the first aspect to the fifth aspect, which is attached to the second substrate so as to sandwich it from both sides. With such a configuration, the jig can be arranged so as to sandwich the connector, and the pair of substrates can be more firmly held.
本発明の第7態様によれば、前記第1コネクタおよび前記第2コネクタをそれぞれ複数設けた、第1態様から第6態様のいずれか1つに記載の検査装置を提供する。このような構成によれば、多極コネクタの端子の数が多くなっても端子の数に応じて特性検査を実施することができる。 According to a seventh aspect of the present invention, there is provided the inspection apparatus according to any one of the first aspect to the sixth aspect, in which a plurality of the first connectors and the second connectors are provided respectively. With such a configuration, even if the number of terminals of the multi-pole connector increases, the characteristic inspection can be performed according to the number of terminals.
以下に、本発明にかかる実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
(実施の形態)
図1、図2は、実施の形態における検査システム1および検査装置2の概略構成を示す図である。図2では、検査装置2の治具13を省略した状態を示す。
(Embodiment)
1 and 2 are diagrams showing schematic configurations of an
検査システム1は、多極コネクタの特性検査を行うためのシステムである。検査システム1は、検査装置2と、複数のケーブル4と、ネットワークアナライザ6とを備える。
The
検査装置2は、多極コネクタの特性検査を行うための検査装置である。検査装置2の内部に、検査対象である多極コネクタが設けられている。ケーブル4は、検査装置2とネットワークアナライザ6を電気的に接続する部材である。検査装置2は、複数のケーブル4を介してネットワークアナライザ6に接続されている。ネットワークアナライザ6に接続することにより、検査対象の多極コネクタの電気特性を検査することができる。
The inspection device 2 is an inspection device for inspecting the characteristics of the multipolar connector. Inside the inspection device 2, a multipolar connector to be inspected is provided. The
検査装置2は、一対の基板8と、複数のコネクタ10、12(図2)と、治具13(図1)とを備える。
The inspection device 2 includes a pair of
検査装置2の構成について、図3、図4、図5を用いて説明する。図3、図4は、検査装置2において治具13を省略した斜視図であり、図5は、図3の概略平面図である。図3、図5では、一対の基板8が互いに嵌合した状態を示し、図4では、嵌合する前の状態を示す。
The configuration of the inspection device 2 will be described with reference to FIGS. 3, 4, and 5. 3 and 4 are perspective views in which the
図3、図4に示すように、一対の基板8は、第1基板8Aと、第2基板8Bとを備える。第1基板8A、第2基板8Bはともに、多極コネクタの特性を検査するための検査用の回路基板である。図4に示すように、第1基板8Aの裏面には、第1多極コネクタ14が実装されている。同様に、第2基板8Bの表面には、第2多極コネクタ16が実装されている。
As shown in FIGS. 3 and 4, the pair of
第1多極コネクタ14、第2多極コネクタ16を図6A、図6B、図6Cに示す。図6Aは、第1多極コネクタ14を示す斜視図であり、図6Bは、第2多極コネクタ16を示す斜視図である。図6Cは、第1多極コネクタ14と第2多極コネクタ16が嵌合した状態を示す斜視図である。
The first
実施の形態では、図6Aに示す第1多極コネクタ14はオス型の多極コネクタであり、図6Bに示す第2多極コネクタ16はメス型の多極コネクタである。
In the embodiment, the
第1多極コネクタ14は複数の端子15を有している。図6Aに示すように、複数の端子15は2列に並べられている。同様に、図6Bに示す第2多極コネクタ16は複数の端子17を有しており、端子17は2列に並べられている。
The first
図6Cに示す嵌合状態では、第1多極コネクタ14の端子15と第2多極コネクタ16の端子17とが互いに接触して導通している。
In the fitted state shown in FIG. 6C, the
図3、図4等に示すように、第1基板8Aには複数の第1コネクタ10が取り付けられている。第1コネクタ10は、第1多極コネクタ14の端子15を前述したケーブル4に電気的に接続するためのコネクタである。
As shown in FIGS. 3 and 4, a plurality of
同様に、第2基板8Bには複数の第2コネクタ12が取り付けられている。第2コネクタ12は、第2多極コネクタ16の端子17を前述したケーブル4に電気的に接続するためのコネクタである。
Similarly, a plurality of
図5に示すように、第1基板8Aには複数の伝送線18が形成されている。伝送線18は、第1多極コネクタ14と第1コネクタ10を電気的に接続する配線である。全ての伝送線18が第1多極コネクタ14に接続されており、それぞれの伝送線18が1つの第1コネクタ10に接続されている。
As shown in FIG. 5, a plurality of
第2基板8Bにも同様に複数の伝送線20が形成されている。伝送線20は、第2多極コネクタ16と第2コネクタ12を電気的に接続する配線である。複数の伝送線20は全て第2多極コネクタ16に接続されており、それぞれの伝送線20が1つの第2コネクタ12に接続されている。
A plurality of
実施の形態では、第1コネクタ10、第2コネクタ12はともに、エンドランチコネクタである。具体的には、第1コネクタ10は、第1基板8Aの端部を両側から挟み込むように取り付けられており、第2コネクタ12は、第2基板8Bの端部を両側から挟み込むように取り付けられている。
In the embodiment, both the
図示の例では、コネクタ10、12がそれぞれ4つずつ設けられているが、コネクタ10、12の個数は4つに限らず、任意の個数であってもよい。
In the illustrated example, four
このような構成において、多極コネクタ14、16の特性を検査する際には、図2に示すようにコネクタ10、12にはケーブル4が接続された状態で行う。このような状態では、ケーブル4から検査装置2に対してテンションがかかり、特に、基板8を湾曲させる曲げモーメントが生じる。この曲げモーメントによって、第1多極コネクタ14と第2多極コネクタ16の嵌合が解除されてしまう場合があり、多極コネクタ14、16の特性を精度良く検査できない場合がある。
With such a configuration, when the characteristics of the
これに対して、実施の形態の検査装置2では、第1多極コネクタ14と第2多極コネクタ16の嵌合を維持するための治具13(図1)を設けている。治具13の詳細な構成について、図7、図8、図9を用いて説明する。
On the other hand, in the inspection device 2 of the embodiment, the jig 13 (FIG. 1) for maintaining the fitting of the first
図7は、治具13を含む検査装置2の斜視図であり、図8は、同検査装置2の平面図であり、図9は、同検査装置2の分解斜視図である。
7 is a perspective view of the inspection device 2 including the
図7、図9などに示すように、治具13は、第1の板部21と、接続部22と、第2の板部23とを備える。第1の板部21、接続部22、第2の板部23のいずれも、少なくとも1つのブロック体から構成されている。
As shown in FIGS. 7 and 9, the
第1の板部21と第2の板部23は、一対の基板8を両側から挟みこむように構成された一対の板状の部材である。第1の板部21は、コネクタ10、12に一方側から接触して一対の基板8を保持し、第2の板部23は、コネクタ10、12に対して他方側から接触して一対の基板8を保持する。
The
接続部22は、第1の板部21と第2の板部23を接続するための部分である。接続部22は、第1の板部21と第2の板部23の両方に接触するように第1の板部21と第2の板部23の間に配置される。接続部22には、複数のねじ部24、26が挿通される。
The connecting
ねじ部24、26は、第1の板部21と第2の板部23を互いに接続するための部材である。ねじ部24は、第1の板部21と接続部22に挿通される。これにより、第1の板部21と接続部22が互いに接続される。ねじ部26は、接続部22と第2の板部23に挿通される。これにより、接続部22と第2の板部23が互いに接続される。
The
接続部22およびねじ部24、26によって、第1の板部21と第2の板部23を互いに接続して固定することができる。このように固定された第1の板部21と第2の板部23によって、一対の基板8を両側から挟み込み、強固に保持することができる。
The
上述した治具13によれば、一対の基板8およびコネクタ10、12を含む検査装置2の各構成部材を位置決めして強固に固定することができる。前述したように一対の基板8に対してケーブル4による曲げモーメントが生じた場合でも、第1多極コネクタ14と第2多極コネクタ16の嵌合状態を維持することができ、多極コネクタ14、16の特性検査を精度良く実施することができる。
According to the
また図7等に示すように、実施の形態における第1の板部21は、対向する一対の板状の部材により構成されている。図7、図8に示すように、一対の第1の板部21の間の空間は空気層28として形成される。空気層28は、図7の矢印Aで示すように一対の基板8を平面視したときに、一対の基板8を外側に露出させる開口である。空気層28は特に、図8に示すように、一対の基板8を平面視したときに第1多極コネクタ14、16に重なる位置に設けられている。このような位置に空気層28を設けることで、一対の基板8を一方側から平面視したときに、治具13は多極コネクタ14、16と重ならないように配置される。治具13と多極コネクタ14、16を対向させないようにすることで、治具13と第1多極コネクタ14、16の間で電気的な容量結合が生じるのを抑制することができる。
Further, as shown in FIG. 7 and the like, the
一方で、図9に示すように、第2の板部23には開口が設けられておらず、一対の基板8を露出させる空気層は形成されていない。すなわち、実施の形態の検査装置2では、一対の基板8に対して片側のみに空気層28が設けられている。
On the other hand, as shown in FIG. 9, no opening is provided in the
さらに実施の形態では、第1の板部21および接続部22は、A方向から見た際に環状に形成されている。すなわち、第1の板部21および接続部22は、周方向に連続的につながった環状部を構成している。第1の板部21および接続部22による環状部の内側の開口として、空気層28が設けられている。このような構成によれば、簡単な構成で空気層28を設けつつ一対の基板8を強固に保持することができる。
Further, in the embodiment, the
また、実施の形態における治具13は、誘電率の低い材料で形成されている。具体的には、治具13を構成する材料はポリアセタール(POM)である。ポリアセタールの誘電率は約3.6である。このような誘電率の低い材料で治具13を構成することにより、治具13と第1多極コネクタ14、16の電気的な容量結合をより抑制することができる。
Further, the
なお、治具13の材料を選択する際には、例えば誘電率が3.6以下の材料を選択するようにしてもよい。あるいは、基板8よりも誘電率が低い材料を選択してもよい。実施の形態における基板8の材料はMEGTRON6であり、誘電率は約3.7である。
When selecting the material of the
次に、治具13と信号線18、20の位置関係を図10に示す。図10に示すように、一対の基板8を平面視したときに、治具13と信号線18、20が重なる領域(外側)と、重ならない領域(内側)が存在する。実施の形態では、治具13と信号線18、20が重ならない領域が、重なる領域よりも大きくなるように空気層28を設けている。このような配置によれば、治具13と多極コネクタ14、16の間の電気的な容量結合だけでなく、治具13と信号線18、20の間の電気的な容量結合を抑制することができる。これにより、多極コネクタ14、16の特性検査をより精度良く実施することができる。
Next, the positional relationship between the
上述したように、実施の形態の検査装置2は、多極コネクタ14、16の特性を検査するための装置であって、一対の基板8と、第1コネクタ10と、第2コネクタ12と、治具13とを備える。一対の基板8は、オス型の第1多極コネクタ14が実装された第1基板8Aと、メス型の第2多極コネクタ16が実装された第2基板8Bとを有し、第1多極コネクタ14と第2多極コネクタ16を互いに嵌合させている。第1コネクタ10は、第1基板8Aに取り付けられたコネクタであって、第1基板8Aに形成された伝送線18を通じて第1多極コネクタ14に導通している。第2コネクタ12は、第2基板8Bに取り付けられたコネクタであって、第2基板8Bに形成された伝送線20を通じて第2多極コネクタ16に導通している。治具13は、第1コネクタ10および第2コネクタ12に接触して一対の基板8を保持する部材である。このような構成において、一対の基板8を平面視したときに、治具13は、第1多極コネクタ14および第2多極コネクタ16に重ならない位置に設けられている。また、一対の基板8を平面視したときに、第1多極コネクタ14および第2多極コネクタ16に重なる位置に空気層28を設けている。
As described above, the inspection device 2 of the embodiment is a device for inspecting the characteristics of the
このような構成によれば、治具13によって一対の基板8を保持することで、基板8に対して曲げモーメントが生じた場合でも基板8の変形を抑制することができる。これにより、多極コネクタ14、16同士の嵌合が解除されるのを抑制することができ、多極コネクタ14、16の特性をより精度良く検査することができる。さらに、治具13に空気層28を設けて、治具13が多極コネクタ14、16に対向しない箇所を設けることで、多極コネクタ14、16と治具13の間で電気的な容量結合が生じるのを抑制することができる。これにより、多極コネクタ14、16の特性をより精度良く検査することができる。
According to such a configuration, by holding the pair of
また実施の形態の検査装置2によれば、治具13は、一対の基板8を両側から挟み込む形状を有し、空気層28は、一対の基板8に対して少なくとも一方側に設けられている。このような構成によれば、一対の基板8を両側から挟み込むことで、より強固に保持することができる。
Further, according to the inspection device 2 of the embodiment, the
また実施の形態の検査装置2によれば、治具13は、一対の基板8を両側から挟み込んで第1コネクタ10および第2コネクタ12に接触する一対の板部18、20と、一対の板部18、20を貫通して互いに接続するネジ部24、26とを備える。このような構成によれば、板部18、20によって一対の基板8をより強固に保持しつつ、板部18、20とネジ部24、26による簡単な構成で治具13を実現することができる。
Further, according to the inspection device 2 of the embodiment, the
また実施の形態の検査装置2によれば、第1コネクタ10は、第1基板8Aの端部を両側から挟むように第1基板8Aに取り付けられ、第2コネクタ12は、第2基板8Bの端部を両側から挟むように第2基板8Bに取り付けられる。このような構成によれば、コネクタ10、12を挟むように治具13を配置することができ、一対の基板8をより強固に保持することができる。
Further, according to the inspection device 2 of the embodiment, the
また実施の形態の検査装置2によれば、第1コネクタ10および第2コネクタ12をそれぞれ複数設けている。このような構成によれば、多極コネクタ14、16の端子の数が多くなった場合でも、端子の数に応じて特性検査を実施することができる。
Further, according to the inspection device 2 of the embodiment, each of the
以上、上述の実施の形態を挙げて本発明を説明したが、本発明は上述の実施の形態に限定されない。例えば、上記実施の形態では、治具13が一対の基端8を両側から挟み込む場合について説明したが、このような場合に限らない。例えば、治具13が基板8を片側のみから保持するようにしてもよい。
Although the present invention has been described with reference to the above embodiment, the present invention is not limited to the above embodiment. For example, although the case where the
また、上記実施の形態では、空気層28が一対の基板8に対して片側のみに設けられる場合について説明したが、このような場合に限らない。例えば、一対の基板8の両側に空気層28を設けるようにしてもよい。すなわち、図9に示す第2の板部23においても、一対の基板8を露出させる開口を設けてもよい。
Further, in the above embodiment, the case where the
また、上記実施の形態では、第1コネクタ10、第2コネクタ12がエンドランチコネクタである場合について説明したが、このような場合に限らず、任意の種類のコネクタを用いてもよい(例えば、SMAコネクタ)。
Further, in the above embodiment, the case where the
本開示は、添付図面を参照しながら好ましい実施の形態に関連して充分に記載されているが、この技術の熟練した人々にとっては種々の変形や修正は明白である。そのような変形や修正は、添付した特許請求の範囲による本開示の範囲から外れない限りにおいて、その中に含まれると理解されるべきである。また、各実施の形態における要素の組合せや順序の変化は、本開示の範囲及び思想を逸脱することなく実現し得るものである。 While the present disclosure has been fully described in connection with the preferred embodiments with reference to the accompanying drawings, various variations and modifications will be apparent to those skilled in the art. It is to be understood that such variations and modifications are included within the scope of the present disclosure as defined by the appended claims. In addition, the combination of elements and the change in order in each embodiment can be realized without departing from the scope and concept of the present disclosure.
なお、上記様々な実施の形態および変形例のうちの任意の実施の形態あるいは変形例を適宜組み合わせることにより、それぞれの有する効果を奏するようにすることができる。 It is to be noted that, by properly combining the arbitrary embodiments or modifications of the various embodiments and modifications described above, the effects possessed by them can be produced.
本発明は、多極コネクタの特性を検査するための検査装置であれば適用可能である。 The present invention can be applied to any inspection device for inspecting the characteristics of a multipolar connector.
2 検査装置
4 ケーブル
6 ネットワークアナライザ
8 基板
8A 第1基板
8B 第2基板
10 第1コネクタ
12 第2コネクタ
14 第1多極コネクタ
15 端子
16 第2多極コネクタ
17 端子
18 伝送線
20 伝送線
21 第1の板部
22 接続部
23 第2の板部
24 ねじ部
26 ねじ部
28 空気層
2
Claims (7)
オス型の第1多極コネクタが実装された第1基板と、メス型の第2多極コネクタが実装された第2基板とを有し、前記第1多極コネクタと前記第2多極コネクタを互いに嵌合させた、一対の基板と、
前記第1基板に取り付けられたコネクタであって、前記第1基板に形成された伝送線を通じて前記第1多極コネクタに導通した第1コネクタと、
前記第2基板に取り付けられたコネクタであって、前記第2基板に形成された伝送線を通じて前記第2多極コネクタに導通した第2コネクタと、
前記第1コネクタおよび前記第2コネクタに接触して前記一対の基板を保持する治具と、を備え、
前記一対の基板を平面視したときに、前記治具は、前記第1多極コネクタおよび前記第2多極コネクタに重ならない位置に設けられており、前記第1多極コネクタおよび前記第2多極コネクタに重なる位置に空気層を設けた、検査装置。 An inspection device for inspecting the characteristics of a multipolar connector,
A first board on which a male first multi-pole connector is mounted; and a second board on which a female second multi-pole connector is mounted, the first multi-pole connector and the second multi-pole connector A pair of boards, which are fitted to each other,
A connector attached to the first substrate, wherein the first connector is electrically connected to the first multipolar connector through a transmission line formed on the first substrate;
A second connector attached to the second substrate, the second connector being electrically connected to the second multipolar connector through a transmission line formed on the second substrate;
A jig that holds the pair of boards by contacting the first connector and the second connector,
The jig is provided at a position that does not overlap the first multi-pole connector and the second multi-pole connector when the pair of substrates is viewed in a plan view. An inspection device that has an air layer at a position that overlaps the pole connector.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018227557A JP2020091980A (en) | 2018-12-04 | 2018-12-04 | Characteristics inspection apparatus of multi-pole connector |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018227557A JP2020091980A (en) | 2018-12-04 | 2018-12-04 | Characteristics inspection apparatus of multi-pole connector |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020091980A true JP2020091980A (en) | 2020-06-11 |
Family
ID=71013033
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018227557A Pending JP2020091980A (en) | 2018-12-04 | 2018-12-04 | Characteristics inspection apparatus of multi-pole connector |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2020091980A (en) |
-
2018
- 2018-12-04 JP JP2018227557A patent/JP2020091980A/en active Pending
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