JP2020085900A - 相対湿度センサデバイス - Google Patents
相対湿度センサデバイス Download PDFInfo
- Publication number
- JP2020085900A JP2020085900A JP2019202839A JP2019202839A JP2020085900A JP 2020085900 A JP2020085900 A JP 2020085900A JP 2019202839 A JP2019202839 A JP 2019202839A JP 2019202839 A JP2019202839 A JP 2019202839A JP 2020085900 A JP2020085900 A JP 2020085900A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- relative humidity
- period
- microcontroller
- determined
- sensing capacitor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 120
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 61
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 32
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 claims description 15
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 5
- 238000011545 laboratory measurement Methods 0.000 claims description 5
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 claims 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 abstract description 3
- 238000012804 iterative process Methods 0.000 description 5
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000033228 biological regulation Effects 0.000 description 3
- 230000003750 conditioning effect Effects 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- FERIUCNNQQJTOY-UHFFFAOYSA-M Butyrate Chemical compound CCCC([O-])=O FERIUCNNQQJTOY-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- FERIUCNNQQJTOY-UHFFFAOYSA-N Butyric acid Natural products CCCC(O)=O FERIUCNNQQJTOY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 108010014172 Factor V Proteins 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- SMEGJBVQLJJKKX-HOTMZDKISA-N [(2R,3S,4S,5R,6R)-5-acetyloxy-3,4,6-trihydroxyoxan-2-yl]methyl acetate Chemical compound CC(=O)OC[C@@H]1[C@H]([C@@H]([C@H]([C@@H](O1)O)OC(=O)C)O)O SMEGJBVQLJJKKX-HOTMZDKISA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 229940081735 acetylcellulose Drugs 0.000 description 1
- 229920002301 cellulose acetate Polymers 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 229920000620 organic polymer Polymers 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 239000002861 polymer material Substances 0.000 description 1
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
- G01N27/22—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating capacitance
- G01N27/223—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating capacitance for determining moisture content, e.g. humidity
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
- G01N27/04—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance
- G01N27/12—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance of a solid body in dependence upon absorption of a fluid; of a solid body in dependence upon reaction with a fluid, for detecting components in the fluid
- G01N27/121—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance of a solid body in dependence upon absorption of a fluid; of a solid body in dependence upon reaction with a fluid, for detecting components in the fluid for determining moisture content, e.g. humidity, of the fluid
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
- G01N27/22—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating capacitance
- G01N27/227—Sensors changing capacitance upon adsorption or absorption of fluid components, e.g. electrolyte-insulator-semiconductor sensors, MOS capacitors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
- G01N27/22—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating capacitance
- G01N27/228—Circuits therefor
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K7/00—Modulating pulses with a continuously-variable modulating signal
- H03K7/08—Duration or width modulation ; Duty cycle modulation
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Pathology (AREA)
- Immunology (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Fluid Adsorption Or Reactions (AREA)
Abstract
【課題】感知コンデンサの静電容量に基づいて湿度データを取得し、費用、電力、および設置空間を減少させる、相対湿度センサデバイスを提供する。【解決手段】相対湿度センサデバイス100は、マイクロコントローラ20と、抵抗器14に接続されている感知コンデンサ12とを備える。マイクロコントローラは、抵抗器を通して感知コンデンサに接続されている出力と、感知コンデンサおよびカウンタに接続されている割込入力とを有するパルス幅変調器を備える。さらに、マイクロコントローラは、パルス幅変調器により抵抗器を通して感知コンデンサを周期的に充電および放電し、カウンタにより割込イベントの数を判定し、判定された割込イベントの数に基づいて感知コンデンサの充電時間を判定するように構成されている。【選択図】図1
Description
本発明は、相対湿度センサデバイスに関し、特に、相対湿度センサデバイスのセンサ要素からデータを取得する手段に関する。
適切な材料の抵抗変化および静電容量変化に基づいて、いくつかの技術により湿度を測定することができる。例えば、静電容量を測定することにより相対湿度(所与の温度における水の飽和蒸気圧に対する水蒸気の分圧の割合)を判定するための半導体ベースのシステムでは、コンデンサ誘電体として機能するポリマー材料の可逆的水吸収特性(reversible water absorption characteristics)に基づいて、湿度を測定することができる。
従来の容量相対湿度センサデバイスは、一般に、半導体基板と対の電極とを備え、電極は半導体基板の表面に形成され、特定の距離を挟んで互いに対向している。感湿性誘電体膜が、電極間に配置され、半導体基板の表面に形成される。膜の静電容量は湿度に応じて変化する。センサは、周囲湿度の変動に応じて対の電極間の静電容量の変化を検出することにより、湿度を検出する。静電容量感知型の湿度感知要素は、通常、非感湿性の非導電性構造を備え、適切な電極要素がこの構造に取り付けられまたは配置されると共に、誘電性の高感湿性材料の層または被覆が、電極を覆い、周囲大気から水を吸収して短時間で平衡を実現することができるように位置決めされる。
集積相対湿度センサデバイスの応答のオフセットおよび勾配を特定の値に設定して、センサの所望の値の精度を達成することができる。適切な調整およびデータ取得回路により、コンデンサ要素の蓄積電荷を読み出すことができる。この回路は、誘電体層の電荷の蓄積に応答して検出され、静電容量、したがって相対湿度の測定値を表すことのできる、発振器の直流電圧または振動周波数の変化を出力する。相対湿度および検出された温度に基づいて、絶対湿度および露点を判定することができる。したがって、例えば、車両のフロントガラスの露点を湿度センサデバイスにより判定することができる。
前述したように、一般に数百pFの静電容量を有する感知コンデンサの静電容量の変動を測定するために、調整およびデータ取得回路を設ける必要がある。調整回路は、感知コンデンサの静電容量に応じて電圧または周波数を出力するために使用される何らかの特定用途向け集積回路または個別の発振器であってよい。しかしながら、現在の調整回路は、プリント集積回路基板に比較的大きい空間を必要とし、比較的高価で、比較的大きい駆動電流を要求する。
以上のことから、本発明の目的は、湿度感知デバイスにより感知コンデンサの静電容量に基づいて湿度データを取得する技術を提供すると共に、当技術分野の費用、電力、および設置空間についての比較的大きい要求を減少させる、この技術を実施する相対湿度センサを提供することである。
本発明は、請求項1に記載の相対湿度センサを提供することにより、上記の問題に対処する。したがって、マイクロコントローラと、抵抗器に接続されている感知コンデンサとを備える相対湿度センサデバイスが提供される。マイクロコントローラは、抵抗器を通して感知コンデンサに接続されている出力と、カウンタおよび感知コンデンサに接続されている割込入力とを有するパルス幅変調器(PWM)を備える。コンデンサ電圧がマイクロコントローラの割込入力を通して監視される。カウンタを、マイクロコントローラで動作するソフトウェアカウンタとして実現することができる。
さらに、マイクロコントローラは、パルス幅変調器により抵抗器を通して感知コンデンサを周期的に充電および放電し(駆動電圧を供給することにより)、カウンタにより割込イベント(所定の閾値を超える割込入力、すなわち、高レベル閾値の割込入力/ピンにおける電圧入力により定義される)の数を判定し、判定された割込イベントの数に基づいて感知コンデンサの充電時間を判定するように構成されている。判定された感知コンデンサの充電時間に基づいて、環境の相対湿度を判定することができる。
さらに、マイクロコントローラは、パルス幅変調器により抵抗器を通して感知コンデンサを周期的に充電および放電し(駆動電圧を供給することにより)、カウンタにより割込イベント(所定の閾値を超える割込入力、すなわち、高レベル閾値の割込入力/ピンにおける電圧入力により定義される)の数を判定し、判定された割込イベントの数に基づいて感知コンデンサの充電時間を判定するように構成されている。判定された感知コンデンサの充電時間に基づいて、環境の相対湿度を判定することができる。
PWMは、例えば8〜40MHzの範囲で動作する高速の、例えば16ビットタイマ/発振器を有し、約125ns〜25nsの時間分解能を可能にする。充電時間は、感知コンデンサにおいて一定のコンデンサ電圧に到達するための時間期間である。割込入力において入力電圧閾値以上の電圧入力が検出されるたびに、カウンタがインクリメントされる。これにより、PWMが提供するいくつかの周期的な充電時間および放電時間のサイクル中に生じる充電イベントの数、したがって個々の充電イベントの充電時間を判定することができる。
いくつかの充電プロセスおよび放電プロセスを考慮することにより、充電時間の判定時にノイズを低減させることができる。判定された充電時間およびコンデンサ電圧に基づいて、環境の相対湿度に応じた静電容量を判定することができる。静電容量は相対湿度に換算され、環境の相対湿度および温度(同様に相対湿度センサデバイスにより測定することができる)に基づいて、露点を判定することができる。提供されるセンサデバイスは、費用および設置空間に関して有利である。
いくつかの充電プロセスおよび放電プロセスを考慮することにより、充電時間の判定時にノイズを低減させることができる。判定された充電時間およびコンデンサ電圧に基づいて、環境の相対湿度に応じた静電容量を判定することができる。静電容量は相対湿度に換算され、環境の相対湿度および温度(同様に相対湿度センサデバイスにより測定することができる)に基づいて、露点を判定することができる。提供されるセンサデバイスは、費用および設置空間に関して有利である。
実施形態によれば、マイクロコントローラは、以下のように構成されている。すなわち、マイクロコントローラは、第1の測定サイクルを提供し、第1の測定サイクル中に生じる割込イベントの数を判定するように構成されている。ここで、第1の測定サイクルは、PWMの出力におけるハイ状態のサブ期間とPWMの出力におけるロー状態のサブ期間とから各々が構成されるx個の期間からなり、xは整数である。
判定された割込イベントの数がx/2以上であれば、マイクロコントローラは、ハイ状態のサブ期間の継続時間T1 HIGHを減少させて、ハイ状態のサブ期間の調節済み継続時間T2 HIGHを取得し、判定された割込イベントの数がx/2未満であれば、マイクロコントローラは、ハイ状態のサブ期間の継続時間T1 HIGHを増加させて、ハイ状態のサブ期間の調節済み継続時間T2 HIGHを取得するように構成されている。
マイクロコントローラは、ハイ状態のサブ期間の調節済み継続時間T2 HIGHを用いて第2の測定サイクルを提供し、かつカウンタにより、第2の測定サイクル中に生じる割込イベントの数を判定し、判定された第2の測定サイクル中に生じる割込イベントの数に基づいて、感知コンデンサの充電時間を判定するように構成されている。
これにより判定された感知コンデンサの充電時間(判定された第2の測定サイクル中に生じる割込イベントの数に基づいて判定される)に基づいて、環境の相対湿度を判定することができる。
判定された割込イベントの数がx/2以上であれば、マイクロコントローラは、ハイ状態のサブ期間の継続時間T1 HIGHを減少させて、ハイ状態のサブ期間の調節済み継続時間T2 HIGHを取得し、判定された割込イベントの数がx/2未満であれば、マイクロコントローラは、ハイ状態のサブ期間の継続時間T1 HIGHを増加させて、ハイ状態のサブ期間の調節済み継続時間T2 HIGHを取得するように構成されている。
マイクロコントローラは、ハイ状態のサブ期間の調節済み継続時間T2 HIGHを用いて第2の測定サイクルを提供し、かつカウンタにより、第2の測定サイクル中に生じる割込イベントの数を判定し、判定された第2の測定サイクル中に生じる割込イベントの数に基づいて、感知コンデンサの充電時間を判定するように構成されている。
これにより判定された感知コンデンサの充電時間(判定された第2の測定サイクル中に生じる割込イベントの数に基づいて判定される)に基づいて、環境の相対湿度を判定することができる。
ハイ状態のサブ期間の継続時間T1 HIGHをT2 HIGH=T1 HIGH −nτ(nは整数(例えば、2または4よりも大きい)、τはPWMの発振器期間)に従って減少させることができ、ハイ状態のサブ期間の継続時間T1 HIGHをT2 HIGH=T1 HIGH +nτに従って増加させることができる。
特に、マイクロコントローラは、2つ以上の連続した測定サイクルについて判定された割込イベントの数がx/2未満の値とx/2以上の値とで切り替わっている、すなわち、ハイ状態のサブ期間として用いられるコンデンサの検索された充電時間について手順が安定していると判定されるまで、測定サイクル(第1の測定サイクル、第2の測定サイクル、第3の測定サイクル、第4の測定サイクルなど)の提供、割込イベントの数の判定、およびハイ状態のサブ期間の調節済み継続時間T2 HIGH、T3 HIGH、T4 HIGHの取得などを繰り返すように構成することができる。繰返しプロセス中、相対湿度を判定し、次第に高い精度でユーザに表示することができる。
繰返しプロセス中、調節ステップnを一定に維持する必要はない。実際には、繰返しプロセスの最初に比較的大きい調節ステップnを選択し、後で小さい調節ステップを選択することにより、繰返しプロセスを加速することができる。例えば、ハイ状態の第1のサブ期間T1 HIGH(T2 HIGH=T1 HIGH −nτまたはT2 HIGH=T1 HIGH +nτ)の調節をn=128で行うことができ、ハイ状態の第2のサブ期間T2 HIGH(T3 HIGH=T2 HIGH −nτまたはT3 HIGH=T2 HIGH +nτ)の調節をn=64で行うことができ、ハイ状態の第3のサブ期間T3 HIGH(T4 HIGH=T3 HIGH −nτまたはT4 HIGH=T3 HIGH +nτ,)の調節をn=32で行うことができるなどとする。
実施形態によれば、相対湿度センサデバイスは、環境から遮蔽され、感知コンデンサに並列かつ抵抗器に直列に接続されている基準コンデンサをさらに備える。さらに、基準コンデンサは、感知コンデンサと同一のマイクロコントローラの割込入力に接続される。基準コンデンサを使用して、例えば、マイクロコントローラの自己発熱を補償することができる。感知コンデンサ(12、312)により判定された相対湿度RHCsensを、以下の[数1]に基づき補正することができる。ここで、RHCrefは基準コンデンサ(316)により取得された相対湿度であり、KおよびOは実験室測定により判定される。
さらに、相対湿度センサデバイスの感知コンデンサは完全なコンデンサではないことに留意する必要がある。むしろ、補正可能な何らかの寄生抵抗が存在する。実施形態によれば、マイクロコントローラは、感知コンデンサにより判定された相対湿度RHCsensを補正して、補正相対湿度値RHcorr=RHCsens・Vfactorを取得するように構成され、ここで、Vfactor=Rp/(Rp+R)であり、Rは感知コンデンサおよび基準コンデンサがマイクロコントローラによりそれを通して充電および放電される抵抗器の抵抗であり、Rpは寄生抵抗器の抵抗である。
加えてまたはあるいは、相対湿度センサデバイスは、抵抗Rpを有する寄生抵抗の影響について、感知コンデンサおよび基準コンデンサ(上記参照)の両方により取得された相対湿度値RHcorrをさらに補正して、さらなる補正相対湿度値RHcorr corr=RHcorr・Vfactorを取得するように構成することができ、ここで、Vfactor=Rp/(Rp+R)であり、Rは抵抗器の抵抗である。
また、請求項10に記載の、パルス幅変調器(PWM)を含むマイクロコントローラと、抵抗器に接続され、かつマイクロコントローラの割込入力に接続されている感知コンデンサとを備える相対湿度センサデバイスにより、環境の相対湿度を判定する方法を提供することにより、上記の問題に対処する。方法は、第1の測定サイクル中にPWMの電圧出力により感知コンデンサを周期的に充電および放電するステップと、マイクロコントローラの割込入力において割込イベントを検出およびカウントするステップと、判定された割込イベントの数に基づいて感知コンデンサの充電時間を判定するステップとを含む。さらに、判定された感知コンデンサの充電時間に基づいて、環境の相対湿度を判定することができる。
本発明の方法は、以下のステップをさらに含むことができる。
- PWMの出力におけるハイ状態のサブ期間とPWMの出力におけるロー状態のサブ期間とから各々が構成されるx個の期間からなり、xは整数である第1の測定サイクルを提供するステップ。
- 判定された割込イベントの数がx/2以上であれば、ハイ状態のサブ期間の継続時間T1 HIGHを減少させて、ハイ状態のサブ期間の調節済み継続時間T2 HIGHを取得し、判定された割込イベントの数がx/2未満であれば、ハイ状態のサブ期間の継続時間T1 HIGHを増加させて、ハイ状態のサブ期間の調節済み継続時間T2 HIGHを取得するステップ。
- ハイ状態のサブ期間の調節済み継続時間T2 HIGHを用いて第2の測定サイクルを提供するステップ。
- カウンタにより、第2の測定サイクル中に生じる割込イベントの数を判定し、判定された第2の測定サイクル中に生じる割込イベントの数に基づいて、感知コンデンサの充電時間を判定するステップ。
これにより判定された(すなわち第2の測定サイクルについての)感知コンデンサの充電時間に基づいて、環境の相対湿度を判定することができる。
- PWMの出力におけるハイ状態のサブ期間とPWMの出力におけるロー状態のサブ期間とから各々が構成されるx個の期間からなり、xは整数である第1の測定サイクルを提供するステップ。
- 判定された割込イベントの数がx/2以上であれば、ハイ状態のサブ期間の継続時間T1 HIGHを減少させて、ハイ状態のサブ期間の調節済み継続時間T2 HIGHを取得し、判定された割込イベントの数がx/2未満であれば、ハイ状態のサブ期間の継続時間T1 HIGHを増加させて、ハイ状態のサブ期間の調節済み継続時間T2 HIGHを取得するステップ。
- ハイ状態のサブ期間の調節済み継続時間T2 HIGHを用いて第2の測定サイクルを提供するステップ。
- カウンタにより、第2の測定サイクル中に生じる割込イベントの数を判定し、判定された第2の測定サイクル中に生じる割込イベントの数に基づいて、感知コンデンサの充電時間を判定するステップ。
これにより判定された(すなわち第2の測定サイクルについての)感知コンデンサの充電時間に基づいて、環境の相対湿度を判定することができる。
継続時間T1 HIGHの調節は、ハイ状態のサブ期間の継続時間T1 HIGHをT2 HIGH=T1 HIGH −nτ(nは整数、τはPWMの発振器期間)に従って減少させ、ハイ状態のサブ期間の継続時間T1 HIGHをT2 HIGH=T1 HIGH +nτに従って増加させることにより行うことができる。
上記ステップを繰り返すことにより、相対湿度が正確に判定される。実施形態によれば、方法は、2つ以上の連続した測定サイクルについて判定された割込イベントの数がx/2未満の値とx/2以上の値とで切り替わっていると判定されるまで、測定サイクルの提供、割込イベントの数の判定、およびハイ状態のサブ期間の調節済み継続時間の取得を繰り返すステップをさらに含む(以下の詳細な説明も参照)。
さらに、実施形態による方法は、マイクロコントローラの作業負荷、特に、マイクロコントローラの自己発熱および容量センサ要素の寄生抵抗により生じるエラーを補正することができる。したがって、上記の例のうちの1つによる方法は、以下のステップをさらに含むことができる。
a)感知コンデンサ(12、312)により判定された相対湿度RHCsensを補正して、以下の[数1]に基づき補正相対湿度値を取得するステップ。ここで、RHCrefは、環境から遮蔽され、感知コンデンサに並列に接続され、かつマイクロコントローラの割込入力に接続されている基準コンデンサ(316)により取得された相対湿度である。KおよびOは実験室測定により判定される。
および特に、抵抗Rpを有する寄生抵抗の影響について、補正相対湿度値RHcorrをさらに補正して、さらなる補正相対湿度値RHcorr corr=RHcorr・Vfactorを取得するステップ。
a)感知コンデンサ(12、312)により判定された相対湿度RHCsensを補正して、以下の[数1]に基づき補正相対湿度値を取得するステップ。ここで、RHCrefは、環境から遮蔽され、感知コンデンサに並列に接続され、かつマイクロコントローラの割込入力に接続されている基準コンデンサ(316)により取得された相対湿度である。KおよびOは実験室測定により判定される。
および特に、抵抗Rpを有する寄生抵抗の影響について、補正相対湿度値RHcorrをさらに補正して、さらなる補正相対湿度値RHcorr corr=RHcorr・Vfactorを取得するステップ。
および/または
b)抵抗Rpを有する寄生抵抗の影響について、感知コンデンサ(12、312)により判定された相対湿度RHCsensを補正して、補正相対湿度値RHcorr=RHCsens・Vfactorを取得するステップであって、ここで、Vfactor=Rp/(Rp+R)であり、Rは抵抗器(14、314)の抵抗である、ステップをさらに含むことができる。 これにより補正された相対湿度の値を、例えば、ディスプレイにより、相対湿度センサデバイスのユーザに提示することができる。
b)抵抗Rpを有する寄生抵抗の影響について、感知コンデンサ(12、312)により判定された相対湿度RHCsensを補正して、補正相対湿度値RHcorr=RHCsens・Vfactorを取得するステップであって、ここで、Vfactor=Rp/(Rp+R)であり、Rは抵抗器(14、314)の抵抗である、ステップをさらに含むことができる。 これにより補正された相対湿度の値を、例えば、ディスプレイにより、相対湿度センサデバイスのユーザに提示することができる。
さらに、相対湿度センサデバイスのマイクロコントローラにおいて動作するときに、前述の実施形態のうちの1つによる方法のステップを実行するための、コンピュータにより実行可能な命令を有する1つまたは複数のコンピュータ可読媒体を含むコンピュータプログラム製品が提供される。
図面を参照しながら、本発明のさらなる特徴および利点について説明する。説明において、本発明の好ましい実施形態を示す添付図面を参照する。そのような実施形態は、本発明の完全な範囲を示すものではないことを理解されたい。
本発明は、マイクロコントローラと容量センサ要素とを備える相対湿度センサを提供する。湿度センサは、環境における相対湿度および露点を判定することができる。図1は、湿度センサ100の実施形態の一部を示す。湿度センサ100は、感知コンデンサ12を含むセンサ要素10を備える。感知コンデンサ12は抵抗器14に直列に接続される。抵抗器14は数百キロオーム、例えば、470キロオームのものであってよい。
感知コンデンサ12は、周囲条件の湿度に応じた可変容量を有する。例えば、感知コンデンサ12は、窒化ケイ素膜および感湿膜により各々覆われている対の電極を備える。感湿膜を電極間に配置し、電極(窒化ケイ素膜上に形成されている)を覆うこともできる。電極間の静電容量は、センサ周囲の大気の湿度によって変化し得る。静電容量に基づいて、湿度センサ100により湿度が検出される。感湿膜を、ポリイミドおよび酪酸アセチルセルロースなどの吸湿性有機ポリマーから形成することができる。感知コンデンサ12は、0%〜100%の全範囲の相対湿度について160pF〜200pFの範囲で変動する静電容量を有することができる。
湿度センサ100は、マイクロコントローラ20をさらに備える。マイクロコントローラ20は、パルス幅変調器(PWM)22、例えば、16ビットタイマPWMを備える。PWM出力は駆動電圧Vddを提供し、この駆動電圧Vddを用いて、PWM22のタイマクロックにより自動制御される感知コンデンサ12を充電および放電する。パルス幅変調器(PWM)22により高速タイマクロックが可能になり、パルス幅変調器(PWM)22は8〜40MHzの周波数で動作することができる。例えば32MHzのタイマ速度で、測定点ごとに約31nsの時間分解能(タイマ期間)τを、10μsの時間測定範囲における300の測定点について達成することができる。これにより、約100μsの感知コンデンサ12の充電継続時間の検出が可能になる。
PWM出力がハイ状態にあるとき、感知コンデンサ12は抵抗器14を通して充電され、PWM出力がロー状態にある(マイクロコントローラ20が短絡として機能している)とき、感知コンデンサ12は抵抗器14を通して放電される。
PWM出力がハイ状態にあるとき、感知コンデンサ12は抵抗器14を通して充電され、PWM出力がロー状態にある(マイクロコントローラ20が短絡として機能している)とき、感知コンデンサ12は抵抗器14を通して放電される。
さらに、マイクロコントローラ20は、ソフトウェアカウンタに接続されている割込入力24を備え、接地接続26を含む。コンデンサ電圧が、マイクロコントローラ20の割込24により監視される。図2の上段に示すように、監視された電圧が充電プロセス中に所定の入力閾値電圧(割込閾値電圧)Vinに到達しない場合には、割込は生じないため、割込入力24に接続されているソフトウェアタイマはインクリメントされない。他方、図2の下段に示すように、監視された電圧が充電プロセス中に所定の入力閾値電圧Vinに到達したまたはこれを超えた場合には、割込が起動されるため、割込入力24に接続されているソフトウェアタイマがインクリメントされる。
本発明によれば、PWM22の発振器期間τ(タイマ単位)または複数のタイマ期間τ(例えば、選択された振動周波数に応じてτ=30ns〜50ns)までの精度で、感知コンデンサ12を充電する時間を判定することができる。使用される感知コンデンサ12の相対湿度に対する静電容量の関数依存性が予めわかっているため、判定された充電時間(および到達した定電圧)から、相対湿度を導き出すことができる。入力閾値電圧Vinまたはそれを超える電圧をマイクロコントローラ20の割込入力24に供給する必要のある、マイクロコントローラ20のPWM22のハイ状態の継続時間から、充電時間を判定することができる。デューティサイクル(ハイサブ期間およびローサブ期間を交互に含むハイ−ローサイクル)を調節することにより、割込を検出する必要のあるハイ状態の継続時間を正確に判定することができる。
図3は、本発明の実施形態による、感知コンデンサ12の充電時間を判定するためのアルゴリズムのフローチャートである。PWM22の出力におけるハイ状態の第1の継続時間T1 HIGHを有する第1の測定サイクルが実行され(ステップ200)、サイクルは、2または4より大きい整数であるxの期間T、例えば、x=10の期間Tを含み、各期間は、PWM22の出力におけるハイ状態の1つのサブ期間とPWM22の出力におけるロー状態のサブ期間とから構成される。その後の充電プロセスにエラーを生じさせないために、感知コンデンサ22の完全な放電が保証されるように期間Tを選択する必要がある。例えば、T=1msまたはT=2msとする。PWM期間Tをタイマ期間抵抗器に設定することができ、ハイ状態の第1の継続時間T1 HIGHをタイマ出力比較抵抗器に設定することができ、ロー状態の継続時間はこれらの設定の結果として与えられることに留意されたい。
第1の測定サイクル中に生じる割込の数が判定される(ステップ210)。判定された割込の数に応じて、ハイ状態の第1の継続時間T1 HIGHが調節されて(ステップ220)、第2の測定サイクルで用いるハイ状態の第2のT2 HIGHを取得する(ステップ230)。判定された割込の数がx/2、例えば5以上であれば、T2 HIGH=T1 HIGH −nτ(nは整数)となる。判定された割込の数がx/2、例えば5未満であれば、T2 HIGH=T1 HIGH +nτとなる。
第2の測定サイクルにおいて、割込の数が再び判定される(ステップ240)。ここでも、判定された割込の数に応じて、ハイ状態の継続時間(今度はT2 HIGH)が調節される。2つ以上の連続した測定サイクルにおいてハイ状態の2つの継続時間が切り替わることにより、判定された割込の数が交互にx/2超(またはx/2)およびx/2未満になるまで、手順が繰り返される(T2 HIGH=T1 HIGH −nτまたはT2 HIGH=T1 HIGH +nτ、T3 HIGH=T2 HIGH −nτまたはT3 HIGH=T2 HIGH +nτ、T4 HIGH=T3 HIGH −nτまたはT4 HIGH=T3 HIGH +nτなどにより)。この安定した繰返しの最終状態において、充電時間が精度nτで判定される。繰返しにより得られる調節済みのハイ状態の値が、直接、充電時間についての生の値となる。
ハイ状態の第1の継続時間T1 HIGH(ハイ状態のサブ期間の継続時間)、ハイ状態の第2の継続時間T2 HIGH、ハイ状態の第3の継続時間T3 HIGHなどの調節がτ(n=1)のステップで行われる場合、前述の繰返し手順はかなり低速になり、電力を消費する。繰返し手順を加速するために、変動するステップサイズnを選択することができ、例えば、n=128から始まって第1の継続時間T1 HIGHを調節し、n=64を設定して第2の継続時間T2 HIGHを調節し、その後の調節ステップでn=32、16、8、4、2、1を設定する。さらに、実験室条件下の相対湿度50%に対応するT1 HIGHに関して繰返し手順を開始してもよい。これらの動作を実施することにより、通常、10未満の繰返しステップのみで繰返し手順を完了することができる。
測定手順をさらに図4に示す。上段は、マイクロコントローラ20のPWM22の出力が交互にハイ状態およびロー状態になる様子を示す。下段は、複数の期間Tにわたる充電プロセスおよび放電プロセスの対応する電圧−時間(V−t)曲線を示す。充電はステップ1で(サブ期間T1の時間にわたって)行われ、放電はステップ2で行われる。図4に示す例において、充電期間T1のそれぞれの終了時の2つの時間に入力閾値電圧Vinに到達する(Vin=1)。到達した定電圧Vinおよび判定された充電時間から、静電容量、したがって相対湿度を判定することができる。特定の例によれば、前述の手順により、相対湿度0%についてのT1=95μs(3035のタイマ期間τ=31nsに対応する)から相対湿度100%についてのT1=105μs(3354のタイマ期間τ=31nsに対応する)が得られる。
これらの値について、相対湿度%=100(充電に必要な判定されたタイマ期間τの数−3035)/(3354−3035)に従って他の相対湿度値が判定される。
これらの値について、相対湿度%=100(充電に必要な判定されたタイマ期間τの数−3035)/(3354−3035)に従って他の相対湿度値が判定される。
例えば、マイクロコントローラの負荷により、かつ自己発熱による温度変化により、割込入力24の入力閾値電圧Vinが時間と共にわずかに変化し得ることに留意する必要がある。実施形態による充填入力閾値電圧Vinを考慮するために、図5に示すように基準コンデンサ316が設けられる。図5に示す湿度センサ300は、感知コンデンサ312と感知コンデンサ312に並列に接続されている基準コンデンサ316とを含むセンサ要素310を備える。感知コンデンサ312および基準コンデンサ316の両方が、コンデンサの充電および放電を行うときに通る抵抗器314に直列に接続される。感知コンデンサ312は、図1に示すもの(参照符号12参照)と同一であってよく、抵抗器314は図1に示すもの(参照符号14)と同一であってよい。
基準コンデンサ316は、一定の容量を有し、例えば相対湿度55%に相当する180pFの容量を有することができる。感知コンデンサ312とは異なり、基準コンデンサ316は、感知コンデンサ312により相対湿度を感知する環境から遮蔽される。
基準コンデンサ316は、一定の容量を有し、例えば相対湿度55%に相当する180pFの容量を有することができる。感知コンデンサ312とは異なり、基準コンデンサ316は、感知コンデンサ312により相対湿度を感知する環境から遮蔽される。
図5に示す湿度センサ300は、マイクロコントローラ320をさらに備える。マイクロコントローラ320は、パルス幅変調器(PWM)322、例えば、16ビットタイマPWMを備える。PWM出力を用いて、PWM322のタイマクロック/発振器により自動制御される感知コンデンサ312を充電および放電する。PWM322は、図1に示すもの(参照符号22参照)と同一であってよい。感知コンデンサ312および基準コンデンサ316は、マイクロコントローラの同一の割込入力324に接続される。感知コンデンサ312または基準コンデンサ316の測定が、接続Sel_RhおよびSel_Refによりそれぞれ制御される。例えば、感知コンデンサ312はSel_Rh=レベル1およびSel_Ref=レベル0について測定され、基準コンデンサ316はSel_Rh=レベル0およびSel_Ref=レベル1について測定される。
較正された基準コンデンサ316は環境に対して遮蔽されるため、基準コンデンサ316によって行われた測定による変動する測定結果は、特にマイクロコントローラ320の自己発熱による割込入力324の入力閾値電圧Vinの変動を反映する。したがって、基準コンデンサ316によって行われた測定による測定結果を用いて、感知コンデンサ312によって行われた測定による測定結果を入力閾値電圧Vinの変動の影響について補償することができる。補償は、相対湿度および温度が正確に調整される、完全に制御された閉鎖実験室環境における測定により、定量的に判定することができる。
一例によれば、環境の補正相対湿度RHcorrを、基準コンデンサ316により取得した相対湿度(生データ)RHCrefの測定、および感知コンデンサ312により取得した相対湿度(生データ)RHCsensの測定から、以下の[数1]に基づき判定することができる。ここで、勾配KおよびオフセットO(較正係数)は温度依存性であり、実験室測定から判定される。実験室環境に設けられた、完全に較正された制御センサにより行われる比較測定は、これにより判定された相対湿度RHcorrの補正値が−45℃〜45℃の温度範囲で約3%のエラー範囲内で補正されることを証明している。基準コンデンサ316による測定RHCrefも、基準コンデンサ316の一定容量に相当する相対湿度、すなわち、前述の例における相対湿度55%に対応するT1 HIGHから適切に始まって、前述の繰返し手順をたどる。
繰返しプロセスを完全化/安定化した後、連続測定を行って、相対湿度および/または露点を連続的に監視することができる。例えば、感知コンデンサ312により、例えば8τ、4τ、2τ、および1τの調節ステップで4つの測定を1秒ごとに行い、基準コンデンサ316により、2τおよび1τの調節ステップで2つの測定を行うことができる。さらに、次の測定サイクルにおいて調節方向(正または負)が感知コンデンサ312の4つの測定にわたって一定であると判定された場合、より大きいステップ、例えば32τ、16τ、8τおよび4τを選択して、相対湿度および/または露点のより粗い推定値を高速で出力し、その後、より小さい調節ステップに基づいて微調整することができる。
別の実施形態によれば、測定された相対湿度をさらに補正することができる。実際には、図1に示す湿度センサデバイス100のセンサ要素10と図5に示す湿度センサデバイス300のセンサ要素310とは、完全な感知コンデンサ12、312をそれぞれ備えていない。むしろ、図6に示すように、何らかの寄生抵抗器400が存在する(感知コンデンサ12、312に並列)。寄生抵抗は、製造プロセスによって決まり、5メガオーム〜30メガオームで変動し得る。
したがって、PWM22、322がドライバ電圧Vddで充電するとき、感知コンデンサ12、312は抵抗器14、314を通して、VddではなくVdd・Vfactorで充電される。Vfactor=Rp/(Rp+R)であり、ここで、RPは寄生抵抗器400の抵抗であり、Rは抵抗器14、314の抵抗である。その後、測定された相対湿度RHをRHcorr=RH・Vfactorにより補正することができる。Rp=5メガオームの寄生抵抗器400の抵抗について、例えば、補正係数Vfactor=0.91を考慮する必要がある。補正係数Vfactorは、感知コンデンサ12、312の完全充電後にVinの測定から計算することができる。
したがって、PWM22、322がドライバ電圧Vddで充電するとき、感知コンデンサ12、312は抵抗器14、314を通して、VddではなくVdd・Vfactorで充電される。Vfactor=Rp/(Rp+R)であり、ここで、RPは寄生抵抗器400の抵抗であり、Rは抵抗器14、314の抵抗である。その後、測定された相対湿度RHをRHcorr=RH・Vfactorにより補正することができる。Rp=5メガオームの寄生抵抗器400の抵抗について、例えば、補正係数Vfactor=0.91を考慮する必要がある。補正係数Vfactorは、感知コンデンサ12、312の完全充電後にVinの測定から計算することができる。
前述の実施形態により、費用および空間を節約した実施が可能になり、前述の実施形態は、特に、例えば自動車の適用に使用可能な相対湿度センサの大量生産に適している。
前述の実施形態のすべては限定するものではなく、本発明の特徴および利点を示す例として機能する。前述の特徴の一部またはすべてを様々な方法で組み合わせることもできることを理解されたい。
Claims (15)
- 相対湿度センサデバイス(100、300)であって、
前記相対湿度センサデバイス(100、300)は、
- マイクロコントローラ(20、320)と、
- 抵抗器(14、314)に接続されている感知コンデンサ(12、312)と、を備えており、
前記マイクロコントローラ(20、320)は、前記抵抗器(14、314)を通して前記感知コンデンサ(12、312)に接続されている出力と、前記感知コンデンサ(12、312)およびカウンタに接続されている割込入力(24、324)とを有するパルス幅変調器(PWM)(22、322)を備え、
前記マイクロコントローラ(20、320)は、前記パルス幅変調器(22、322)により前記抵抗器(14、314)を通して前記感知コンデンサ(12、312)を周期的に充電および放電し、前記カウンタにより割込イベントの数を判定し、前記判定された割込イベントの数に基づいて前記感知コンデンサ(12、312)の充電時間を判定するように構成されている、
相対湿度センサデバイス(100、300)。 - 前記マイクロコントローラ(20、320)は、
- 前記PWMの前記出力におけるハイ状態のサブ期間と前記PWMの前記出力におけるロー状態のサブ期間とから各々が構成されるx個の期間からなり、xは整数である第1の測定サイクルを提供し、
- 前記第1の測定サイクル中に生じる割込イベントの数を判定し、
- 前記判定された割込イベントの数がx/2以上であれば、前記ハイ状態の前記サブ期間の継続時間T1 HIGHを減少させて、前記ハイ状態の前記サブ期間の調節済み継続時間T2 HIGHを取得し、前記判定された割込イベントの数がx/2未満であれば、前記ハイ状態の前記サブ期間の前記継続時間T1 HIGHを増加させて、前記ハイ状態の前記サブ期間の調節済み継続時間T2 HIGHを取得し、
- 前記ハイ状態の前記サブ期間の前記調節済み継続時間T2 HIGHを用いて第2の測定サイクルを提供し、かつ
- 前記カウンタにより、前記第2の測定サイクル中に生じる割込イベントの数を判定し、判定された前記第2の測定サイクル中に生じる割込イベントの数に基づいて、前記感知コンデンサの充電時間を判定するように構成されている、
請求項1に記載の相対湿度センサデバイス(100、300)。 - 前記マイクロコントローラ(20、320)は、前記ハイ状態の前記サブ期間の前記継続時間T1 HIGHをT2 HIGH=T1 HIGH −nτ(nは整数、τはPWMの発振器期間)に従って減少させ、前記ハイ状態の前記サブ期間の前記継続時間T1 HIGHをT2 HIGH=T1 HIGH +nτに従って増加させるように構成されている、
請求項1に記載の相対湿度センサデバイス(100、300)。 - 前記マイクロコントローラ(20、320)は、2つ以上の連続した測定サイクルについて前記判定された割込イベントの数がx/2未満の値とx/2以上の値とで切り替わっていると判定されるまで、測定サイクルの提供、および前記割込イベントの数の判定、および前記ハイ状態の前記サブ期間の調節済み継続時間の取得を繰り返すように構成されている、
請求項2または3に記載の相対湿度センサデバイス(100、300)。 - 前記整数nは、1つの繰返しステップから他の繰返しステップにかけて減少される、
請求項4に記載の相対湿度センサデバイス(100、300)。 - 基準コンデンサ(316)をさらに備え、
前記基準コンデンサ(316)は、環境から遮蔽され、前記感知コンデンサ(312)に並列かつ前記抵抗器(314)に直列に接続され、かつ前記マイクロコントローラ(100、300)の前記割込入力(24、324)に接続されている、
請求項1〜5のいずれか一項に記載の相対湿度センサデバイス(100、300)。 - 前記マイクロコントローラ(20、320)は、抵抗Rpを有する寄生抵抗の影響について、前記感知コンデンサ(12、312)により判定された前記相対湿度RHCsensを補正して、補正相対湿度値RHcorr=RHCsens・Vfactorを取得するように構成され、ここで、Vfactor=Rp/(Rp+R)であり、Rは前記抵抗器(14、314)の抵抗である、
請求項1〜7のいずれか一項に記載の相対湿度センサデバイス(100、300)。 - 前記マイクロコントローラ(20、320)は、抵抗Rpを有する寄生抵抗の影響について、前記補正相対湿度値RHcorrをさらに補正して、さらなる補正相対湿度値RHcorr corr=RHcorr・Vfactorを取得するように構成され、ここで、Vfactor=Rp/(Rp+R)であり、Rは前記抵抗器(14、314)の抵抗である、
請求項7に記載の相対湿度センサデバイス(100、300)。 - パルス幅変調器(PWM)(22、322)を含むマイクロコントローラ(20、320)と、抵抗器(14、314)に接続され、かつ前記マイクロコントローラ(20、320)の割込入力(24、324)に接続されている感知コンデンサ(12、312)とを備える相対湿度センサデバイスにより、環境の相対湿度を判定する方法であって、
- 第1の測定サイクル中に前記PWM(22、322)の電圧出力により前記感知コンデンサ(12、312)を周期的に充電および放電するステップと、
- 前記マイクロコントローラ(20、320)の前記割込入力(24、324)において割込イベントを検出およびカウントするステップと、
- 前記カウントされた割込イベントの数に基づいて前記感知コンデンサ(12、312)の充電時間を判定するステップと、
を含む方法。 - - 前記PWMの出力におけるハイ状態のサブ期間と前記PWMの前記出力におけるロー状態のサブ期間とから各々が構成されるx個の期間からなり、xは整数である前記第1の測定サイクルを提供するステップと、
- 前記判定された割込イベントの数がx/2以上であれば、前記ハイ状態の前記サブ期間の継続時間T1 HIGHを減少させて、前記ハイ状態の前記サブ期間の調節済み継続時間T2 HIGHを取得し、前記判定された割込イベントの数がx/2未満であれば、前記ハイ状態の前記サブ期間の前記継続時間T1 HIGHを増加させて、前記ハイ状態の前記サブ期間の調節済み継続時間T2 HIGHを取得するステップと、
- 前記ハイ状態の前記サブ期間の前記調節済み継続時間T2 HIGHを用いて第2の測定サイクルを提供するステップと、
- 前記カウンタにより、前記第2の測定サイクル中に生じる割込イベントの数を判定し、判定された前記第2の測定サイクル中に生じる割込イベントの数に基づいて、前記感知コンデンサの充電時間を判定するステップと、をさらに含む、
請求項10に記載の方法。 - 前記ハイ状態の前記サブ期間の前記継続時間T1 HIGHをT2 HIGH=T1 HIGH −nτ(nは整数、τは前記PWMの発振器期間)に従って減少させ、前記ハイ状態の前記サブ期間の前記継続時間T1 HIGHをT2 HIGH=T1 HIGH +nτに従って増加させるステップを含む、
請求項10または11に記載の方法。 - 2つ以上の連続した測定サイクルについて前記判定された割込イベントの数がx/2未満の値とx/2以上の値とで切り替わっていると判定されるまで、測定サイクルの提供、および前記割込イベントの数の判定、および前記ハイ状態の前記サブ期間の調節済み継続時間の取得を繰り返すステップをさらに含む、
請求項11または12に記載の方法。 - c)前記感知コンデンサ(12、312)により判定された相対湿度RHCsensを補正して、以下の[数1]に基づき補正相対湿度値を取得するステップであって、ここで、RHCrefは、環境から遮蔽され、前記感知コンデンサに並列に接続され、かつ前記マイクロコントローラの前記割込入力に接続されている基準コンデンサ(316)により取得された相対湿度であり、KおよびOは実験室測定により判定される、ステップ、および特に、
抵抗Rpを有する寄生抵抗の影響について、前記補正相対湿度値RHcorrをさらに補正して、さらなる補正相対湿度値RHcorr corr=RHcorr・Vfactorを取得するステップであって、ここで、Vfactor=Rp/(Rp+R)であり、Rは前記抵抗器(14、314)の抵抗である、ステップ、
および/または
d)抵抗Rpを有する寄生抵抗の影響について、前記感知コンデンサ(12、312)により判定された前記相対湿度RHCsensを補正して、補正相対湿度値RHcorr=RHCsens・Vfactorを取得するステップであって、
ここで、Vfactor=Rp/(Rp+R)であり、Rは前記抵抗器(14、314)の抵抗である、ステップをさらに含む、
請求項10〜13のいずれか一項に記載の方法。
- 相対湿度センサデバイスのマイクロコントローラにおいて動作するときに、請求項10〜14のいずれか一項に記載の方法のステップを実行するための、コンピュータにより実行可能な命令を有する1つまたは複数のコンピュータ可読媒体を含むコンピュータプログラム製品。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP18306488.0 | 2018-11-14 | ||
EP18306488.0A EP3654028A1 (en) | 2018-11-14 | 2018-11-14 | Relative humidity sensor device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020085900A true JP2020085900A (ja) | 2020-06-04 |
Family
ID=64572266
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019202839A Pending JP2020085900A (ja) | 2018-11-14 | 2019-11-08 | 相対湿度センサデバイス |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20200150071A1 (ja) |
EP (1) | EP3654028A1 (ja) |
JP (1) | JP2020085900A (ja) |
CN (1) | CN111189889A (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2020184496A1 (en) * | 2019-03-08 | 2020-09-17 | Ball Wave Inc. | System, method and program for calibrating moisture sensor |
CN112603185B (zh) * | 2020-12-10 | 2021-08-31 | 重庆锟铻电子科技有限公司 | 一种环保型方便器生物降解系统及其控制方法 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2020434B (en) * | 1978-05-02 | 1982-09-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Apparatus for humidity detection |
JPS55121145A (en) * | 1979-03-12 | 1980-09-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Humidity control circuit |
JPS5943346A (ja) * | 1982-09-03 | 1984-03-10 | Citizen Watch Co Ltd | 湿度検出装置 |
WO2006002301A1 (en) * | 2004-06-21 | 2006-01-05 | Kele, Inc. | Measuring the capacitance of a capacitive sensor with a microprocessor |
DE102006034931A1 (de) * | 2006-07-28 | 2008-01-31 | E + E Elektronik Ges.M.B.H. | Schaltungsanordnung und Verfahren zur Feuchtmessung |
US7884678B2 (en) * | 2009-01-14 | 2011-02-08 | Nuvoton Technology Corporation | Single-pin RC oscillator |
-
2018
- 2018-11-14 EP EP18306488.0A patent/EP3654028A1/en not_active Withdrawn
-
2019
- 2019-11-07 US US16/677,353 patent/US20200150071A1/en not_active Abandoned
- 2019-11-08 JP JP2019202839A patent/JP2020085900A/ja active Pending
- 2019-11-11 CN CN201911093593.XA patent/CN111189889A/zh active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN111189889A (zh) | 2020-05-22 |
US20200150071A1 (en) | 2020-05-14 |
EP3654028A1 (en) | 2020-05-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7504833B1 (en) | Automatically balanced sensing device and method for multiple capacitive sensors | |
US7472028B2 (en) | Sensor or capacitance measuring with a microprocessor | |
US8476910B2 (en) | Capacitive sensor having calibration mechanism and capacitive sensing method | |
US10120477B2 (en) | Push amount detecting sensor and touch input device | |
US7724000B2 (en) | Method of automatically testing an electronic circuit with a capacitive sensor and electronic circuit for the implementation of the same | |
JP5429207B2 (ja) | 容量式物理量検出装置 | |
US7084644B2 (en) | Circuit arrangement for capacitive humidity measurement and method for operating the same | |
JP7379098B2 (ja) | 湿度センサデバイスの較正 | |
US9403671B2 (en) | Calibration of MEMS sensor | |
JP2020085900A (ja) | 相対湿度センサデバイス | |
ES2688394T3 (es) | Procedimiento para medir un valor de capacidad | |
US6564633B2 (en) | Measurement method and system for a humidity or gas concentration sensor | |
US20210018379A1 (en) | Capacitance detection device | |
US11460495B2 (en) | Measurement circuit and method for measuring characteristic of passive component by means of comparison signals | |
US11243237B2 (en) | Method for determining an electrical parameter and measurement arrangement for determining an electrical parameter | |
JP2000055746A (ja) | 温度検出装置及び温度検出システム | |
JP6084538B2 (ja) | 信号処理装置 | |
JP3829064B2 (ja) | 静電容量型センサ | |
CN116745582A (zh) | 使用ctmu的增强阻抗测量 | |
JP2013257645A (ja) | 入力装置 | |
JPS6152941B2 (ja) |