JP2020066062A - Abnormality monitoring device and abnormality determination method - Google Patents

Abnormality monitoring device and abnormality determination method Download PDF

Info

Publication number
JP2020066062A
JP2020066062A JP2018198183A JP2018198183A JP2020066062A JP 2020066062 A JP2020066062 A JP 2020066062A JP 2018198183 A JP2018198183 A JP 2018198183A JP 2018198183 A JP2018198183 A JP 2018198183A JP 2020066062 A JP2020066062 A JP 2020066062A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
abnormality
magnetic field
electronic component
field strength
threshold
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2018198183A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
佑太 今松
Yuta Imamatsu
佑太 今松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fanuc Corp
Original Assignee
Fanuc Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fanuc Corp filed Critical Fanuc Corp
Priority to JP2018198183A priority Critical patent/JP2020066062A/en
Publication of JP2020066062A publication Critical patent/JP2020066062A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)

Abstract

To provide an abnormality monitoring device capable of monitoring an abnormality of an electronic component in a machine tool.SOLUTION: An abnormality monitoring device 20 monitors an abnormality of an electronic component 19 in a machine tool 10. The abnormality monitoring device includes: a magnetic field intensity acquisition section 27 which acquires magnetic field intensity generated by the electronic component 19 in the machine tool 10 during an operation of the machine tool 10; and an abnormality determination section 30 which determines that an abnormality occurs in the electronic component 19 when the magnetic field intensity acquired in the magnetic field intensity acquisition section 27 is a first threshold or more or a second threshold or less.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、工作機械内の電子部品の異常を監視する異常監視装置および異常判定方法に関する。   The present invention relates to an abnormality monitoring device and an abnormality determination method for monitoring an abnormality of an electronic component inside a machine tool.

下記特許文献１には、永電磁式のマグネットチャックのチャッキング異常検出装置が開示されている。   Patent Document 1 below discloses a permanent magnet type chucking abnormality detection device for a magnet chuck.

特開２００６−２２４２６１号公報JP, 2006-224261, A

工作機械の運転時には、工作機械内の電子部品は空間内に磁界を発生しており、電子部品に異常が発生している場合に磁界強度と、異常が発生していない場合の磁界強度とは異なるため、磁界強度を監視することで電子部品の異常を判定することができる。上記特許文献１の技術では、強磁界を発生するマグネットチャックについて、磁気センサからの検出信号に基づいてチャッキング異常の有無を判断している。電子部品が発生する磁界は弱磁界であるため、工作機械内の電子部品の異常監視装置や異常監視方法に適用することができなかった。   When the machine tool is in operation, the electronic components inside the machine tool generate a magnetic field in the space.What is the magnetic field strength when there is an abnormality in the electronic component and the magnetic field strength when there is no abnormality? Since they are different, it is possible to determine the abnormality of the electronic component by monitoring the magnetic field strength. In the technique of Patent Document 1, the presence or absence of chucking abnormality is determined for the magnet chuck that generates a strong magnetic field based on the detection signal from the magnetic sensor. Since the magnetic field generated by an electronic component is a weak magnetic field, it cannot be applied to an abnormality monitoring device or abnormality monitoring method for electronic components in a machine tool.

本発明は、上記の問題を解決するためになされたものであり、工作機械内の電子部品の異常を監視することができる異常監視装置および異常判定方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide an abnormality monitoring device and an abnormality determination method capable of monitoring an abnormality of an electronic component in a machine tool.

本発明の第１の態様は、工作機械内の電子部品の異常を監視する異常監視装置であって、前記工作機械の運転時に、前記工作機械内の電子部品が発生する磁界強度を取得する磁界強度取得部と、前記磁界強度取得部において取得された前記磁界強度が第１の閾値以上であるとき、または、第２の閾値以下であるときには、前記電子部品に異常が発生していると判定する異常判定部と、を有する。   A first aspect of the present invention is an abnormality monitoring device for monitoring abnormality of an electronic component in a machine tool, wherein a magnetic field for obtaining magnetic field strength generated by the electronic component in the machine tool during operation of the machine tool. When the magnetic field strength acquired by the strength acquisition unit and the magnetic field strength acquisition unit is equal to or higher than a first threshold value or equal to or lower than a second threshold value, it is determined that an abnormality has occurred in the electronic component. And an abnormality determination unit that does.

本発明の第２の態様は、工作機械内の電子部品の異常判定方法であって、前記工作機械の運転時に、前記電子部品が発生する磁界強度を取得する磁界取得ステップと、前記磁界取得ステップにおいて取得された前記磁界強度が第１の閾値以上または第２の閾値以下であるときには、前記電子部品に異常が発生していると判定する異常判定ステップと、を有する。   A second aspect of the present invention is a method for determining an abnormality of an electronic component in a machine tool, which comprises a magnetic field obtaining step of obtaining a magnetic field strength generated by the electronic component during operation of the machine tool, and the magnetic field obtaining step. An abnormality determination step of determining that an abnormality has occurred in the electronic component when the magnetic field strength acquired in step 1 is greater than or equal to a first threshold value and less than or equal to a second threshold value.

本発明によれば、工作機械内の電子部品の異常を監視することができる。   According to the present invention, it is possible to monitor the abnormality of the electronic component in the machine tool.

工作機械の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of a machine tool. 異常判定部において行われる異常判定処理の流れを示すフローチャートである。6 is a flowchart showing a flow of abnormality determination processing performed in the abnormality determination unit. 閾値設定部において行われる閾値設定処置の流れを示すフローチャートである。It is a flow chart which shows a flow of threshold setting processing performed in a threshold setting part. 閾値設定部において行われる閾値設定処置の流れを示すフローチャートである。It is a flow chart which shows a flow of threshold setting processing performed in a threshold setting part. 異常監視装置と工作機械の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of an abnormality monitoring device and a machine tool.

〔第１の実施の形態〕
［工作機械の構成］
図１は、工作機械１０の構成を示すブロック図である。工作機械１０は、制御盤１２を有している。制御盤１２は、電源装置１４、制御部１６、数値制御装置１８、異常監視装置２０を有している。なお、数値制御装置１８は、以下ではＣＮＣ１８と記載する。 [First Embodiment]
[Machine tool configuration]
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of the machine tool 10. The machine tool 10 has a control panel 12. The control panel 12 includes a power supply device 14, a control unit 16, a numerical control device 18, and an abnormality monitoring device 20. The numerical controller 18 will be referred to as a CNC 18 below.

電源装置１４は、商用電源２２の電気を変圧して、制御部１６およびＣＮＣ１８に供給する。ＣＮＣ１８は、あらかじめ作成されたＮＣプログラムやラダープログラムに応じて、図示しないサーボモータ等を制御するための制御信号を生成する。制御部１６は、ＣＮＣ１８が生成した制御信号に応じて、サーボモータ等に供給する電気を制御する。異常監視装置２０は、制御部１６やＣＮＣ１８内の電子部品１９の異常を監視する。制御部１６には第１磁界検出素子２４が設置され、ＣＮＣ１８には第２磁界検出素子２６が設置されている。第１磁界検出素子２４は、工作機械１０の運転時に制御部１６内の電子部品１９が発生する磁界強度を検出する。第２磁界検出素子２６は、工作機械１０の運転時にＣＮＣ１８内の電子部品１９が発生する磁界強度を検出する。   The power supply device 14 transforms the electricity of the commercial power supply 22 and supplies the electricity to the control unit 16 and the CNC 18. The CNC 18 generates a control signal for controlling a servo motor or the like (not shown) according to an NC program or a ladder program created in advance. The control unit 16 controls electricity supplied to the servo motor or the like according to the control signal generated by the CNC 18. The abnormality monitoring device 20 monitors the control unit 16 and the electronic component 19 in the CNC 18 for abnormality. The control unit 16 is provided with a first magnetic field detecting element 24, and the CNC 18 is provided with a second magnetic field detecting element 26. The first magnetic field detection element 24 detects the magnetic field strength generated by the electronic component 19 in the control unit 16 during the operation of the machine tool 10. The second magnetic field detection element 26 detects the magnetic field strength generated by the electronic component 19 in the CNC 18 during the operation of the machine tool 10.

［異常監視装置の構成］
異常監視装置２０は、磁界強度取得部２７、閾値設定部２８、異常判定部３０、入力部３２、記憶部３４および表示部３６を有している。 [Abnormality monitoring device configuration]
The abnormality monitoring device 20 includes a magnetic field strength acquisition unit 27, a threshold value setting unit 28, an abnormality determination unit 30, an input unit 32, a storage unit 34, and a display unit 36.

磁界強度取得部２７は、第１磁界検出素子２４および第２磁界検出素子２６が検出した磁界強度を取得する。   The magnetic field strength acquisition unit 27 acquires the magnetic field strengths detected by the first magnetic field detection element 24 and the second magnetic field detection element 26.

閾値設定部２８は、異常判定部３０において、制御部１６内の電子部品１９またはＣＮＣ１８内の電子部品１９に異常が発生していることを判定するための閾値を設定する。異常判定部３０は、閾値設定部２８において設定された閾値に基づいて、制御部１６内の電子部品１９またはＣＮＣ１８内の電子部品１９に異常が発生していることを判定する。   The threshold setting unit 28 sets a threshold for the abnormality determination unit 30 to determine that an abnormality has occurred in the electronic component 19 in the control unit 16 or the electronic component 19 in the CNC 18. The abnormality determination unit 30 determines that an abnormality has occurred in the electronic component 19 in the control unit 16 or the electronic component 19 in the CNC 18 based on the threshold value set by the threshold value setting unit 28.

入力部３２は、ユーザによって操作されることによって、制御部１６内の電子部品１９またはＣＮＣ１８内の電子部品１９に異常が発生しているか否かの判定が入力される。記憶部３４は、制御部１６内の電子部品１９が発生する磁界強度の日平均Ｈｄ＿ａｖｅ１、基準平均Ｈｓ＿ａｖｅ１を記憶する。また、記憶部３４は、第２磁界検出素子２６が検出したＣＮＣ１８内の電子部品１９が発生する磁界強度の日平均Ｈｄ＿ａｖｅ２、基準平均Ｈｓ＿ａｖｅ２を記憶する。   The input unit 32 is operated by the user to input a determination as to whether or not an abnormality has occurred in the electronic component 19 in the control unit 16 or the electronic component 19 in the CNC 18. The storage unit 34 stores the daily average Hd_ave1 and the reference average Hs_ave1 of the magnetic field strength generated by the electronic component 19 in the control unit 16. The storage unit 34 also stores the daily average Hd_ave2 and the reference average Hs_ave2 of the magnetic field strength generated by the electronic component 19 in the CNC 18 detected by the second magnetic field detection element 26.

なお、以下では、制御部１６内の電子部品１９が発生する磁界強度の日平均Ｈｄ＿ａｖｅ１と、ＣＮＣ１８内の電子部品１９が発生する磁界強度の日平均Ｈｄ＿ａｖｅ２とを特に区別しない場合には、日平均Ｈｄ＿ａｖｅと記載する。同様に、制御部１６内の電子部品１９が発生する磁界強度の基準平均Ｈｓ＿ａｖｅ１と、ＣＮＣ１８内の電子部品１９が発生する磁界強度の基準平均Ｈｓ＿ａｖｅ２とを特に区別しない場合には、基準平均Ｈｓ＿ａｖｅと記載する。   In the following description, the daily average Hd_ave1 of the magnetic field intensity generated by the electronic component 19 in the control unit 16 and the daily average Hd_ave2 of the magnetic field intensity generated by the electronic component 19 in the CNC 18 are not particularly distinguished. Described as Hd_ave. Similarly, when the reference average Hs_ave1 of the magnetic field strength generated by the electronic component 19 in the control unit 16 and the reference average Hs_ave2 of the magnetic field strength generated by the electronic component 19 in the CNC 18 are not particularly distinguished, the reference average Hs_ave is Enter.

表示部３６は、ユーザに制御部１６内の電子部品１９またはＣＮＣ１８内の電子部品１９に異常が発生しているか否かの判定を促すメッセージを表示する。また、表示部３６は、異常判定部３０により制御部１６内の電子部品１９またはＣＮＣ１８内の電子部品１９に異常が発生していると判定された場合には、その旨をユーザに報知するメッセージを表示する。なお、表示部３６に代えて、スピーカ等を用いて、音声によりユーザに報知するようにしてもよい。   The display unit 36 displays a message that prompts the user to determine whether the electronic component 19 in the control unit 16 or the electronic component 19 in the CNC 18 is abnormal. Further, when the abnormality determination unit 30 determines that the electronic component 19 in the control unit 16 or the electronic component 19 in the CNC 18 has an abnormality, the display unit 36 notifies the user to that effect. Is displayed. Instead of the display unit 36, a speaker or the like may be used to notify the user by voice.

［異常判定処理］
図２は、異常判定処理の流れを示すフローチャートである。異常判定処理では、制御部１６内の電子部品１９が発生する磁界強度に基づき制御部１６内の電子部品１９の異常を判定し、ＣＮＣ１８内の電子部品１９が発生する磁界強度に基づきＣＮＣ１８内の電子部品１９の異常を判定する。制御部１６内の電子部品１９の異常判定処理と、ＣＮＣ１８内の電子部品１９の異常判定処理とは、その処理はほぼ同じであるため、以下では、制御部１６内の電子部品１９の異常判定処理についてのみ説明する。 [Abnormality determination process]
FIG. 2 is a flowchart showing the flow of abnormality determination processing. In the abnormality determination processing, the abnormality of the electronic component 19 in the control unit 16 is determined based on the magnetic field intensity generated by the electronic component 19 in the control unit 16, and the abnormality in the CNC 18 is determined based on the magnetic field intensity generated by the electronic component 19 in the CNC 18. The abnormality of the electronic component 19 is determined. Since the abnormality determination processing of the electronic component 19 in the control unit 16 and the abnormality determination processing of the electronic component 19 in the CNC 18 are almost the same, the abnormality determination processing of the electronic component 19 in the control unit 16 will be described below. Only the processing will be described.

ステップＳ１において、磁界強度取得部２７は、第１磁界検出素子２４から磁界強度を取得する。
ステップＳ２において、異常判定部３０は、ステップＳ１で取得した磁界強度が第１の閾値Ｔｈ＿ｈｉ以上である、または、第２の閾値Ｔｈ＿ｌｏ以下であるか否かを判定する。磁界強度が第１の閾値Ｔｈ＿ｈｉ以上である、または、第２の閾値Ｔｈ＿ｌｏ以下である場合にはステップＳ３へ移行し、磁界強度が第１の閾値Ｔｈ＿ｈｉ未満であり、かつ、第２の閾値Ｔｈ＿ｌｏより大きい場合にはステップＳ４へ移行する。 In step S1, the magnetic field strength acquisition unit 27 acquires the magnetic field strength from the first magnetic field detection element 24.
In step S2, the abnormality determination unit 30 determines whether the magnetic field strength acquired in step S1 is equal to or greater than the first threshold Th_hi or equal to or less than the second threshold Th_lo. When the magnetic field strength is equal to or greater than the first threshold Th_hi or equal to or less than the second threshold Th_lo, the process proceeds to step S3, the magnetic field strength is less than the first threshold Th_hi, and the second threshold Th_lo. If it is larger, the process proceeds to step S4.

ステップＳ３では、制御部１６内の電子部品１９に異常が発生していると判定して、処理を終了する。
ステップＳ４では、制御部１６内の電子部品１９は正常であると判定して、処理を終了する。 In step S3, it is determined that an abnormality has occurred in the electronic component 19 in the control unit 16, and the process ends.
In step S4, the electronic component 19 in the control unit 16 is determined to be normal, and the process ends.

［閾値設定処理］
閾値設定部２８は、第１の閾値Ｔｈ＿ｈｉおよび第２の閾値Ｔｈ＿ｌｏを設定するための閾値設定処理を行う。第１の閾値Ｔｈ＿ｈｉおよび第２の閾値Ｔｈ＿ｌｏの設定は、１日の間に取得された磁界強度の平均である日平均Ｈｄ＿ａｖｅに応じて設定される基準平均Ｈｓ＿ａｖｅに基づいて行われる。閾値設定処理は、日平均Ｈｄ＿ａｖｅを求める処理、基準平均Ｈｓ＿ａｖｅを求める処理、および、第１の閾値Ｔｈ＿ｈｉと第２の閾値Ｔｈ＿ｌｏを設定する処理の３つの処理から構成されている。 [Threshold setting process]
The threshold setting unit 28 performs a threshold setting process for setting the first threshold Th_hi and the second threshold Th_lo. The setting of the first threshold value Th_hi and the second threshold value Th_lo is performed based on the reference average Hs_ave that is set according to the daily average Hd_ave, which is the average of the magnetic field strengths acquired during one day. The threshold setting process is composed of three processes: a process for obtaining the daily average Hd_ave, a process for obtaining the reference average Hs_ave, and a process for setting the first threshold Th_hi and the second threshold Th_lo.

図３は、日平均Ｈｄ＿ａｖｅを求める処理の流れを示すフローチャートである。図４は、基準平均Ｈｓ＿ａｖｅを求める処理、および、第１の閾値Ｔｈ＿ｈｉと第２の閾値Ｔｈ＿ｌｏを設定する処理の流れを示すフローチャートである。   FIG. 3 is a flowchart showing the flow of processing for obtaining the daily average Hd_ave. FIG. 4 is a flowchart showing a flow of processing for obtaining the reference average Hs_ave and processing for setting the first threshold Th_hi and the second threshold Th_lo.

閾値設定処理では、制御部１６内の電子部品１９が発生する磁界強度に基づき制御部１６内の電子部品１９の異常を判定するための閾値と、ＣＮＣ１８内の電子部品１９が発生する磁界強度に基づきＣＮＣ１８内の電子部品１９の異常を判定するための閾値とをそれぞれ設定する。それぞれの閾値の設定処理はほぼ同じであるため、以下では、制御部１６内の電子部品１９の異常を判定するための閾値の設定処理についてのみ説明する。   In the threshold setting process, the threshold for determining abnormality of the electronic component 19 in the control unit 16 based on the magnetic field intensity generated by the electronic component 19 in the control unit 16 and the magnetic field intensity generated by the electronic component 19 in the CNC 18 are set. Based on this, a threshold value for determining abnormality of the electronic component 19 in the CNC 18 is set. Since each threshold setting process is substantially the same, only the threshold setting process for determining an abnormality of the electronic component 19 in the control unit 16 will be described below.

図３に基づき、日平均Ｈｄ＿ａｖｅを求める処理について説明する。日平均Ｈｄ＿ａｖｅを求める処理は１日単位で行われ、翌日には新たに別の日平均Ｈｄ＿ａｖｅを求める処理が行われる。日平均Ｈｄ＿ａｖｅを求める処理は、磁界強度取得部２７が、第１磁界検出素子２４から磁界強度を取得する周期毎に行われる。   The process of obtaining the average daily Hd_ave will be described with reference to FIG. The process of obtaining the daily average Hd_ave is performed on a daily basis, and the process of newly obtaining another daily average Hd_ave is performed on the next day. The process of obtaining the daily average Hd_ave is performed in each cycle in which the magnetic field strength acquisition unit 27 acquires the magnetic field strength from the first magnetic field detection element 24.

ステップＳ１１において、磁界強度取得部２７は、第１磁界検出素子２４から磁界強度を取得する。
ステップＳ１２において、閾値設定部２８は、今日の磁界強度の平均を日平均Ｈｄ＿ａｖｅとして計算する。 In step S11, the magnetic field strength acquisition unit 27 acquires the magnetic field strength from the first magnetic field detection element 24.
In step S12, the threshold setting unit 28 calculates the average of today's magnetic field strength as the daily average Hd_ave.

ステップＳ１３において、閾値設定部２８は、ステップＳ１２において計算した日平均Ｈｄ＿ａｖｅを記憶部３４に記憶させて、処理を終了する。   In step S13, the threshold setting unit 28 stores the daily average Hd_ave calculated in step S12 in the storage unit 34, and ends the process.

図４に基づき、基準平均Ｈｓ＿ａｖｅ、第１の閾値Ｔｈ＿ｈｉおよび第２の閾値Ｔｈ＿ｌｏを設定する処理について説明する。図４の処理は、１日に１回行われる。   A process of setting the reference average Hs_ave, the first threshold Th_hi, and the second threshold Th_lo will be described with reference to FIG. The process of FIG. 4 is performed once a day.

ここで、日平均Ｈｄ＿ａｖｅから異常判定を行うための閾値を設定するための変数α（α≧１）を導入する。
ステップＳ２１において、閾値設定部２８は、日平均Ｈｄ＿ａｖｅが基準平均Ｈｓ＿ａｖｅをα倍した値以上である、または、日平均Ｈｄ＿ａｖｅが基準平均Ｈｓ＿ａｖｅを１／α倍した値以下であるか否かを判定する。日平均Ｈｄ＿ａｖｅが基準平均Ｈｓ＿ａｖｅをα倍した値以上である、または、日平均Ｈｄ＿ａｖｅが基準平均Ｈｓ＿ａｖｅを１／α倍した値以下である場合には、ステップＳ２２に移行し、日平均Ｈｄ＿ａｖｅが基準平均Ｈｓ＿ａｖｅをα倍した値未満であって、かつ、日平均Ｈｄ＿ａｖｅが基準平均Ｈｓ＿ａｖｅを１／α倍した値よりも大きい場合には、ステップＳ２６に移行する。 Here, a variable α (α ≧ 1) for setting a threshold value for making an abnormality determination from the daily average Hd_ave is introduced.
In step S21, the threshold setting unit 28 determines whether or not the daily average Hd_ave is equal to or more than a value obtained by multiplying the reference average Hs_ave by α, or whether the daily average Hd_ave is equal to or less than a value obtained by multiplying the reference average Hs_ave by 1 / α. To do. If the daily average Hd_ave is greater than or equal to the reference average Hs_ave multiplied by α, or if the daily average Hd_ave is less than or equal to the reference average Hs_ave multiplied by 1 / α, the process proceeds to step S22 and the daily average Hd_ave is determined as the reference. If it is less than the value obtained by multiplying the average Hs_ave by α, and if the daily average Hd_ave is greater than the value obtained by multiplying the reference average Hs_ave by 1 / α, the process proceeds to step S26.

ステップＳ２２において、閾値設定部２８は、ユーザに、制御部１６内の電子部品１９に異常が発生しているか否かの判定を入力するように促すメッセージを表示するように表示部３６を制御する。   In step S22, the threshold setting unit 28 controls the display unit 36 to display a message prompting the user to input a determination as to whether or not an abnormality has occurred in the electronic component 19 in the control unit 16. .

ステップＳ２３において、閾値設定部２８は、ユーザにより入力された判定は、異常であるか否かを判定する。入力された判定が異常である場合にはステップＳ２４へ移行し、入力された判定が正常である場合にはステップＳ２５へ移行する。   In step S23, the threshold setting unit 28 determines whether the determination input by the user is abnormal. If the input determination is abnormal, the process proceeds to step S24, and if the input determination is normal, the process proceeds to step S25.

ここで、前述の変数αを設定するための変数γ（０＜γ＜１）、および、変数γを設定するための定数Δ（０＜Δ＜１）を導入する。
ステップＳ２４において、閾値設定部２８は、γをΔ倍した値を新たなγとして、処理を終了する。
ステップＳ２５において、閾値設定部２８は、αをγ倍した値を新たなαとする。 Here, the variable γ (0 <γ <1) for setting the variable α and the constant Δ (0 <Δ <1) for setting the variable γ are introduced.
In step S24, the threshold setting unit 28 sets a value obtained by multiplying γ by Δ as a new γ, and ends the process.
In step S25, the threshold setting unit 28 sets a value obtained by multiplying α by γ as a new α.

ステップＳ２６において、閾値設定部２８は、基準平均Ｈｓ＿ａｖｅと日平均Ｈｄ＿ａｖｅとの平均を新たな基準平均Ｈｓ＿ａｖｅとする。   In step S26, the threshold setting unit 28 sets the average of the reference average Hs_ave and the daily average Hd_ave as a new reference average Hs_ave.

ステップＳ２７において、ステップＳ２６で設定された新たな基準平均Ｈｓ＿ａｖｅに基づいて、第１の閾値Ｔｈ＿ｈｉおよび第２の閾値Ｔｈ＿ｌｏを設定して、処理を終了する。なお、第１の閾値Ｔｈ＿ｈｉは、基準平均Ｈｓ＿ａｖｅをα倍した値に設定され、第２の閾値Ｔｈ＿ｌｏは、基準平均Ｈｓ＿ａｖｅを１／α倍した値に設定される。   In step S27, the first threshold Th_hi and the second threshold Th_lo are set based on the new reference average Hs_ave set in step S26, and the process ends. The first threshold Th_hi is set to a value obtained by multiplying the reference average Hs_ave by α, and the second threshold Th_lo is set at a value obtained by multiplying the reference average Hs_ave by 1 / α.

［作用効果］
工作機械１０の制御部１６内の電子部品１９やＣＮＣ１８内の電子部品１９は、工作機械１０の運転時に空間内に磁界を発生しており、電子部品１９に異常が発生している場合に磁界強度と、異常が発生していない場合の磁界強度とは異なる。そのため、磁界強度を監視することで電子部品１９の異常を監視することができる。しかし、電子部品１９が発生する磁界強度は比較的弱く、また、工作機械１０を設置する場所や周囲の環境によって外部から混入する磁界の強さが変わるため、電子部品１９の異常を判定するための閾値を一定の値として設定することができない。 [Effect]
The electronic component 19 in the control unit 16 of the machine tool 10 and the electronic component 19 in the CNC 18 generate a magnetic field in the space when the machine tool 10 is operating, and when an abnormality occurs in the electronic component 19, a magnetic field is generated. The strength is different from the magnetic field strength when no abnormality occurs. Therefore, the abnormality of the electronic component 19 can be monitored by monitoring the magnetic field strength. However, the strength of the magnetic field generated by the electronic component 19 is relatively weak, and the strength of the magnetic field mixed from the outside changes depending on the place where the machine tool 10 is installed and the surrounding environment. Cannot be set as a constant value.

そこで、本実施の形態では、閾値設定部２８において、１日の間に取得された磁界強度の平均である日平均Ｈｄ＿ａｖｅの平均である基準平均Ｈｓ＿ａｖｅを求め、基準平均Ｈｓ＿ａｖｅに基づいて第１の閾値Ｔｈ＿ｈｉと第２の閾値Ｔｈ＿ｌｏを設定するようにした。さらに、ユーザにより電子部品１９が正常であると判定されたときの日平均Ｈｄ＿ａｖｅのみに基づいて、基準平均Ｈｓ＿ａｖｅを求めるようにした。これにより、電子部品１９が正常であるときの日平均Ｈｄ＿ａｖｅから求めた基準平均Ｈｓ＿ａｖｅに基づいて、第１の閾値Ｔｈ＿ｈｉおよび第２の閾値Ｔｈ＿ｌｏを設定することができる。   Therefore, in the present embodiment, the threshold setting unit 28 obtains the reference average Hs_ave, which is the average of the daily average Hd_ave, which is the average of the magnetic field strengths acquired during one day, and the first average is calculated based on the reference average Hs_ave. The threshold value Th_hi and the second threshold value Th_lo are set. Further, the reference average Hs_ave is calculated based only on the daily average Hd_ave when the user determines that the electronic component 19 is normal. Thereby, the first threshold Th_hi and the second threshold Th_lo can be set based on the reference average Hs_ave obtained from the daily average Hd_ave when the electronic component 19 is normal.

〔変形例〕
図５は、異常監視装置２０と工作機械１０の構成を示すブロック図である。第１の実施の形態では、工作機械１０に異常監視装置２０が設けられていたが、図５に示されるように、異常監視装置２０が工作機械１０の外部に設けられ、異常監視装置２０は、複数台の工作機械１０の異常監視を行うようにしてもよい。 [Modification]
FIG. 5 is a block diagram showing the configurations of the abnormality monitoring device 20 and the machine tool 10. Although the machine tool 10 is provided with the abnormality monitoring device 20 in the first embodiment, the abnormality monitoring device 20 is provided outside the machine tool 10 as shown in FIG. Alternatively, abnormality monitoring of a plurality of machine tools 10 may be performed.

〔実施の形態から得られる技術的思想〕
上記実施の形態から把握しうる技術的思想について、以下に記載する。 [Technical ideas obtained from the embodiments]
The technical ideas that can be understood from the above-described embodiment will be described below.

工作機械（１０）内の電子部品（１９）の異常を監視する異常監視装置（２０）であって、前記工作機械の運転時に、前記工作機械内の電子部品が発生する磁界強度を取得する磁界強度取得部（２７）と、前記磁界強度取得部において取得された前記磁界強度が第１の閾値以上であるとき、または、第２の閾値以下であるときには、前記電子部品に異常が発生していると判定する異常判定部（３０）と、を有する。これにより、工作機械内の電子部品の異常を監視することができる。   An abnormality monitoring device (20) for monitoring an abnormality of an electronic component (19) in a machine tool (10), the magnetic field acquiring the magnetic field strength generated by the electronic component in the machine tool during operation of the machine tool. When the magnetic field strength acquired by the strength acquisition unit (27) and the magnetic field strength acquisition unit is equal to or higher than a first threshold value or equal to or lower than a second threshold value, an abnormality occurs in the electronic component. And an abnormality determination unit (30) that determines that there is. Accordingly, it is possible to monitor the abnormality of the electronic component in the machine tool.

上記の異常監視装置であって、前記磁界強度に関する情報を記憶する磁界強度記憶部（３４）と、前記磁界強度記憶部において記憶された前記磁界強度に関する情報に応じて、前記第１の閾値および前記第２の閾値を設定する閾値設定部（２８）と、を有してもよい。これにより、工作機械が設置される環境に応じて第１の閾値および第２の閾値を設定することができる。   The abnormality monitoring device described above, wherein the magnetic field strength storage unit (34) stores information about the magnetic field strength, and the first threshold and the first threshold value according to the information about the magnetic field strength stored in the magnetic field strength storage unit. A threshold value setting unit (28) for setting the second threshold value. Thereby, the first threshold and the second threshold can be set according to the environment in which the machine tool is installed.

上記の異常監視装置であって、ユーザが操作することにより、前記電子部品に異常が発生しているか否かの判定を入力する入力部（３２）を有し、前記閾値設定部は、前記ユーザが前記入力部を介して入力した前記判定に基づいて前記第１の閾値および前記第２の閾値を設定してもよい。これにより、工作機械が設置される環境に応じて第１の閾値および第２の閾値を設定することができる。   The abnormality monitoring device described above, further comprising an input unit (32) for inputting a determination as to whether or not an abnormality has occurred in the electronic component when the user operates the threshold value setting unit. May set the first threshold and the second threshold based on the determination input via the input unit. Thereby, the first threshold and the second threshold can be set according to the environment in which the machine tool is installed.

上記の異常監視装置であって、複数の前記工作機械のそれぞれの前記電子部品の異常を監視してもよい。これにより、複数の工作機械を１つの異常監視装置により異常の監視を行うことができる。   The abnormality monitoring device may be configured to monitor the abnormality of the electronic component of each of the plurality of machine tools. Thereby, a plurality of machine tools can be monitored for abnormality by one abnormality monitoring device.

工作機械（１０）内の電子部品（１９）の異常判定方法であって、前記工作機械の運転時に、前記電子部品が発生する磁界強度を取得する磁界取得ステップと、前記磁界取得ステップにおいて取得された前記磁界強度が第１の閾値以上または第２の閾値以下であるときには、前記電子部品に異常が発生していると判定する異常判定ステップと、を有するこれにより、工作機械内の電子部品の異常を監視することができる。   A method of determining abnormality of an electronic component (19) in a machine tool (10), comprising: a magnetic field acquisition step of acquiring a magnetic field strength generated by the electronic component when the machine tool is operating; and a magnetic field acquisition step. An abnormality determination step of determining that an abnormality has occurred in the electronic component when the magnetic field strength is equal to or higher than a first threshold value or equal to or lower than a second threshold value. Anomalies can be monitored.

上記の異常判定方法であって、前記磁界強度に関する情報を記憶する磁界強度記憶ステップと、前記磁界強度記憶ステップにおいて記憶された前記磁界強度に関する情報に応じて、前記第１の閾値および前記第２の閾値を設定する閾値設定ステップと、を有してもよい。これにより、工作機械が設置される環境に応じて第１の閾値および第２の閾値を設定することができる。   In the above abnormality determination method, the first threshold value and the second threshold value are stored according to a magnetic field strength storing step of storing information on the magnetic field strength, and information on the magnetic field strength stored in the magnetic field strength storing step. And a threshold setting step of setting the threshold of. Thereby, the first threshold and the second threshold can be set according to the environment in which the machine tool is installed.

上記の異常判定方法であって、ユーザによる前記電子部品に異常が発生しているか否かの判定の入力を受け付ける入力ステップを有し、前記閾値設定ステップは、前記入力ステップにおいて入力された前記判定に基づいて前記第１の閾値および前記第２の閾値を設定してもよい。これにより、工作機械が設置される環境に応じて第１の閾値および第２の閾値を設定することができる。   In the above abnormality determination method, there is an input step of receiving an input of a determination of whether or not an abnormality has occurred in the electronic component by a user, and the threshold setting step includes the determination input in the input step. The first threshold value and the second threshold value may be set based on Thereby, the first threshold and the second threshold can be set according to the environment in which the machine tool is installed.

１０…工作機械 １９…電子部品
２０…異常監視装置 ２７…磁界強度取得部
２８…閾値設定部 ３０…異常判定部
３２…入力部 ３４…記憶部（磁界強度記憶部） 10 ... Machine tool 19 ... Electronic component 20 ... Abnormality monitoring device 27 ... Magnetic field intensity acquisition unit 28 ... Threshold setting unit 30 ... Abnormality determination unit 32 ... Input unit 34 ... Storage unit (magnetic field intensity storage unit)

Claims (7)

工作機械内の電子部品の異常を監視する異常監視装置であって、
前記工作機械の運転時に、前記工作機械内の電子部品が発生する磁界強度を取得する磁界強度取得部と、
前記磁界強度取得部において取得された前記磁界強度が第１の閾値以上であるとき、または、第２の閾値以下であるときには、前記電子部品に異常が発生していると判定する異常判定部と、
を有する、異常監視装置。 An abnormality monitoring device for monitoring abnormality of electronic parts in a machine tool,
A magnetic field strength acquisition unit that acquires a magnetic field strength generated by an electronic component in the machine tool during operation of the machine tool,
An abnormality determination unit that determines that an abnormality has occurred in the electronic component when the magnetic field intensity acquired by the magnetic field intensity acquisition unit is equal to or higher than a first threshold value or equal to or lower than a second threshold value. ,
An abnormality monitoring device having: 請求項１に記載の異常監視装置であって、
前記磁界強度に関する情報を記憶する磁界強度記憶部と、
前記磁界強度記憶部において記憶された前記磁界強度に関する情報に応じて、前記第１の閾値および前記第２の閾値を設定する閾値設定部と、
を有する、異常監視装置。 The abnormality monitoring device according to claim 1,
A magnetic field strength storage unit that stores information about the magnetic field strength;
A threshold value setting unit that sets the first threshold value and the second threshold value in accordance with information about the magnetic field strength stored in the magnetic field strength storage unit;
An abnormality monitoring device having: 請求項２に記載の異常監視装置であって、
ユーザが操作することにより、前記電子部品に異常が発生しているか否かの判定を入力する入力部を有し、
前記閾値設定部は、前記ユーザが前記入力部を介して入力した前記判定に基づいて前記第１の閾値および前記第２の閾値を設定する、異常監視装置。 The abnormality monitoring device according to claim 2, wherein
By an operation of a user, an input unit for inputting a determination as to whether or not an abnormality has occurred in the electronic component,
The abnormality monitoring device, wherein the threshold setting unit sets the first threshold and the second threshold based on the determination input by the user via the input unit. 請求項１〜３のいずれか１項に記載に異常監視装置であって、
複数の前記工作機械のそれぞれの前記電子部品の異常を監視する、異常監視装置。 The abnormality monitoring device according to any one of claims 1 to 3,
An abnormality monitoring device for monitoring abnormality of the electronic component of each of the plurality of machine tools. 工作機械内の電子部品の異常判定方法であって、
前記工作機械の運転時に、前記電子部品が発生する磁界強度を取得する磁界取得ステップと、
前記磁界取得ステップにおいて取得された前記磁界強度が第１の閾値以上または第２の閾値以下であるときには、前記電子部品に異常が発生していると判定する異常判定ステップと、
を有する、異常判定方法。 A method for determining an abnormality in an electronic component in a machine tool,
A magnetic field acquisition step of acquiring the magnetic field strength generated by the electronic component during operation of the machine tool;
An abnormality determination step of determining that an abnormality has occurred in the electronic component when the magnetic field strength acquired in the magnetic field acquisition step is equal to or higher than a first threshold value or equal to or lower than a second threshold value,
An abnormality determination method having: 請求項５に記載の異常判定方法であって、
前記磁界強度に関する情報を記憶する磁界強度記憶ステップと、
前記磁界強度記憶ステップにおいて記憶された前記磁界強度に関する情報に応じて、前記第１の閾値および前記第２の閾値を設定する閾値設定ステップと、
を有する、異常判定方法。 The abnormality determination method according to claim 5, wherein
A magnetic field strength storing step of storing information on the magnetic field strength;
A threshold value setting step of setting the first threshold value and the second threshold value according to the information on the magnetic field strength stored in the magnetic field strength storing step;
An abnormality determination method having: 請求項６に記載の異常判定方法であって、
ユーザによる前記電子部品に異常が発生しているか否かの判定の入力を受け付ける入力ステップを有し、
前記閾値設定ステップは、前記入力ステップにおいて入力された前記判定に基づいて前記第１の閾値および前記第２の閾値を設定する、異常判定方法。 The abnormality determination method according to claim 6,
An input step of accepting an input of a determination of whether or not an abnormality has occurred in the electronic component by a user,
The said threshold setting step is an abnormality determination method which sets the said 1st threshold value and the said 2nd threshold value based on the said determination input in the said input step.
JP2018198183A 2018-10-22 2018-10-22 Abnormality monitoring device and abnormality determination method Pending JP2020066062A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018198183A JP2020066062A (en) 2018-10-22 2018-10-22 Abnormality monitoring device and abnormality determination method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018198183A JP2020066062A (en) 2018-10-22 2018-10-22 Abnormality monitoring device and abnormality determination method

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2020066062A true JP2020066062A (en) 2020-04-30

Family

ID=70389187

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018198183A Pending JP2020066062A (en) 2018-10-22 2018-10-22 Abnormality monitoring device and abnormality determination method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2020066062A (en)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1071537A (en) * 1996-08-29 1998-03-17 Brother Ind Ltd Circuit board abnormality detecting device for machine tool
JP2017150911A (en) * 2016-02-24 2017-08-31 日置電機株式会社 Circuit board inspection device
JP2018097494A (en) * 2016-12-09 2018-06-21 Dmg森精機株式会社 Information processing method, information processing system and information processing apparatus

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1071537A (en) * 1996-08-29 1998-03-17 Brother Ind Ltd Circuit board abnormality detecting device for machine tool
JP2017150911A (en) * 2016-02-24 2017-08-31 日置電機株式会社 Circuit board inspection device
JP2018097494A (en) * 2016-12-09 2018-06-21 Dmg森精機株式会社 Information processing method, information processing system and information processing apparatus

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20160008938A1 (en) Control device of machine tool which estimates overheating of motor
JP6070139B2 (en) Voltage abnormality detector
CN110224660B (en) Frequency converter control method
US20130320892A1 (en) Motor drive circuit
KR101683354B1 (en) Power supply device and power supply switching method
US10788527B2 (en) Method for detecting an error in a generator unit
CN110173802B (en) Air conditioner, communication control method and device thereof and electronic equipment
KR101601323B1 (en) Method for detecting switch input in the sleep mode
JP2020066062A (en) Abnormality monitoring device and abnormality determination method
CN108054774B (en) Inverter grid-connected island detection method and device, storage medium and computer equipment
JP4057795B2 (en) Static eliminator cleaning time display device
US11210191B2 (en) Using steady-state changes to discern the operating performance of an individual machine operating on a commonly supplied electrical network connected to multiple machines
JP2008203962A (en) Alarm diagnostic device and diagnostic method
JP2009223354A (en) Numerical control device having function for displaying alarm information
CA3033831A1 (en) Dynamic power limitation
CN105897011A (en) PWM rectifier control method and control apparatus
CN111965539A (en) Motor alarm method and motor
KR20140132860A (en) Multi monitoring apparatus for spot welding machine
JP2006325334A (en) Power conversion device
JP6705782B2 (en) Synchronous motor magnetic pole position detection device and synchronous motor magnetic pole position detection method
JP2006067726A (en) Motor state informing method and motor drive device
JP2000161532A (en) Abnormality detection device for solenoid valve
KR100486023B1 (en) Apparatus for self-diagnosis of printed circuit board
JP2008182818A (en) Method and apparatus for detecting isolated operation and power line conditioner
KR20140019675A (en) Apparatus for controlling motor speed and the method thereof

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20210817

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20220420

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220426

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20221018