JP2020061453A - Package substrate processing method - Google Patents

Package substrate processing method Download PDF

Info

Publication number
JP2020061453A
JP2020061453A JP2018191594A JP2018191594A JP2020061453A JP 2020061453 A JP2020061453 A JP 2020061453A JP 2018191594 A JP2018191594 A JP 2018191594A JP 2018191594 A JP2018191594 A JP 2018191594A JP 2020061453 A JP2020061453 A JP 2020061453A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
package substrate
adhesive tape
dividing
chuck table
region
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2018191594A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
石井 茂
Shigeru Ishii
茂 石井
貴俊 許
Kishun Kyo
貴俊 許
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Disco Corp
Original Assignee
Disco Abrasive Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Disco Abrasive Systems Ltd filed Critical Disco Abrasive Systems Ltd
Priority to JP2018191594A priority Critical patent/JP2020061453A/en
Publication of JP2020061453A publication Critical patent/JP2020061453A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

To provide a package substrate processing method capable of appropriately holding a package substrate on a chuck table while suppressing costs required for dividing the package substrate.SOLUTION: A package substrate processing method includes: an adhesive tape sticking step of sticking an adhesive tape to the rear surface side of a package substrate, the adhesive tape comprising an adhesive layer including an expansion material that expands with external stimulation and having a size corresponding to the package substrate; a division step of holding the package substrate via the adhesive tape using a chuck table and dividing the package substrate into a plurality of device chips; an adhesive force reducing step of reducing adhesive force of the adhesive layer acting on the package substrate by making the expansion material expand by applying external stimulation to the adhesive tape; and a chip housing step of moving the plurality of device chips disposed on the adhesive tape by pressing the device chips using a squeegee to house the plurality of device chips in a housing case.SELECTED DRAWING: Figure 4

Description

本発明は、パッケージ基板を複数のデバイスチップに分割する際に用いられるパッケージ基板の加工方法に関する。   The present invention relates to a method of processing a package substrate used when dividing the package substrate into a plurality of device chips.

基板上に配列されたIC(Integrated Circuit)、LSI(Large Scale Integration)等でなる複数のデバイスを、樹脂でなる封止材(モールド樹脂)によって被覆することにより、パッケージ基板が形成される。このパッケージ基板は、互いに交差するように格子状に配列された複数の分割予定ライン(ストリート)によって複数の領域に区画されており、パッケージ基板を分割予定ラインに沿って分割することにより、デバイスをそれぞれ含む複数のデバイスチップ(パッケージデバイス)が得られる。   A package substrate is formed by covering a plurality of devices such as ICs (Integrated Circuits) and LSIs (Large Scale Integrations) arranged on a substrate with a sealing material (mold resin) made of resin. The package substrate is divided into a plurality of regions by a plurality of dividing lines (streets) arranged in a grid pattern so as to intersect with each other, and the device is divided by dividing the package substrate along the dividing lines. It is possible to obtain a plurality of device chips (package devices) each of which is included.

パッケージ基板の分割には、例えば、パッケージ基板を保持するチャックテーブルと、パッケージ基板を切削する円環状の切削ブレードが装着されるスピンドルとを備える切削装置が用いられる。チャックテーブルによってパッケージ基板を保持した状態で、切削ブレードを回転させてパッケージ基板に切り込ませることにより、パッケージ基板が切削される。   For dividing the package substrate, for example, a cutting device including a chuck table for holding the package substrate and a spindle equipped with an annular cutting blade for cutting the package substrate is used. The package substrate is cut by rotating the cutting blade to cut into the package substrate while holding the package substrate by the chuck table.

パッケージ基板を保持するチャックテーブルは、例えばポーラスセラミックス等でなるポーラス状の吸引面を備えている。この吸引面の上にパッケージ基板を配置した状態で、吸引面に吸引源の負圧を作用させることにより、パッケージ基板がチャックテーブルによって吸引保持される。   The chuck table that holds the package substrate has a porous suction surface made of, for example, porous ceramics. With the package substrate placed on the suction surface, a negative pressure of a suction source is applied to the suction surface, whereby the package substrate is suction-held by the chuck table.

パッケージ基板をチャックテーブルによって保持する際には、まず、パッケージ基板の裏面の全体を覆うことが可能な円形の粘着テープを用いて、パッケージ基板を環状フレームによって支持する。具体的には、粘着テープの中央部にパッケージ基板の裏面側を貼着するとともに、粘着テープの外周部に環状フレームを貼着する。   When holding the package substrate by the chuck table, first, the package substrate is supported by the annular frame using a circular adhesive tape that can cover the entire back surface of the package substrate. Specifically, the back surface side of the package substrate is attached to the central portion of the adhesive tape, and the annular frame is attached to the outer peripheral portion of the adhesive tape.

そして、チャックテーブルの吸引面が粘着テープによって覆われるように、粘着テープを介してパッケージ基板をチャックテーブル上に配置する。このように、チャックテーブルの吸引面を粘着テープで覆うことにより、吸引面に作用する吸引源の負圧のリークが防止され、パッケージ基板がチャックテーブルによって適切に保持される。   Then, the package substrate is placed on the chuck table via the adhesive tape so that the suction surface of the chuck table is covered with the adhesive tape. As described above, by covering the suction surface of the chuck table with the adhesive tape, leakage of negative pressure of the suction source acting on the suction surface is prevented, and the package substrate is appropriately held by the chuck table.

一方、粘着テープを介さずにパッケージ基板を保持可能なチャックテーブルも提案されている。この種のチャックテーブルは、パッケージ基板の形状に対応する吸引部を備えており、この吸引部には、分割予定ラインによって区画されたパッケージ基板の各領域に対応する複数の吸引孔が設けられている(例えば、特許文献1参照)。   On the other hand, a chuck table capable of holding a package substrate without using an adhesive tape has also been proposed. This kind of chuck table is provided with a suction portion corresponding to the shape of the package substrate, and this suction portion is provided with a plurality of suction holes corresponding to respective regions of the package substrate divided by the planned dividing line. (For example, see Patent Document 1).

吸引部を覆うようにパッケージ基板をチャックテーブル上に配置し、吸引孔を介して吸引源の負圧をパッケージ基板の裏面側に作用させることにより、パッケージ基板が吸引保持される。このチャックテーブルを用いる場合、パッケージ基板が複数のデバイスチップに分割された後も、吸引源の負圧が吸引孔を介して各デバイスチップにそれぞれ作用するため、複数のデバイスチップが保持された状態を維持できる。   The package substrate is arranged on the chuck table so as to cover the suction portion, and the negative pressure of the suction source is applied to the back surface side of the package substrate through the suction holes, whereby the package substrate is suction-held. When this chuck table is used, even after the package substrate is divided into a plurality of device chips, the negative pressure of the suction source acts on each device chip via the suction hole, so that a plurality of device chips are held. Can be maintained.

特開2014−73562号公報JP, 2014-73562, A

上述のポーラス状の吸引面を備えるチャックテーブルを用いる場合には、パッケージ基板を環状フレームによって支持するために、パッケージ基板の裏面側にはパッケージ基板よりも大きな粘着テープが貼着される。そのため、パッケージ基板の保持に面積の大きな粘着テープが必要となり、パッケージ基板の分割にコストがかかる。   When the chuck table having the above-mentioned porous suction surface is used, an adhesive tape larger than the package substrate is attached to the back surface side of the package substrate in order to support the package substrate by the annular frame. Therefore, an adhesive tape having a large area is required to hold the package substrate, and the cost of dividing the package substrate is high.

一方、複数の吸引孔を介してデバイスチップに対応する領域をそれぞれ吸引するチャックテーブルを用いる場合には、粘着テープを用いることなくパッケージ基板を保持できる。しかしながら、デバイスチップのサイズが小さくなるほど、デバイスチップに対応する吸引孔も小さくなり、デバイスチップに作用する吸引力が弱くなる。そのため、特にパッケージ基板を小型のデバイスチップに分割する際、デバイスチップがチャックテーブルによって適切に保持されずに飛散してしまうことがある。   On the other hand, when the chuck table that sucks the regions corresponding to the device chips through the suction holes is used, the package substrate can be held without using the adhesive tape. However, the smaller the size of the device chip, the smaller the suction hole corresponding to the device chip, and the weaker the suction force acting on the device chip becomes. Therefore, especially when the package substrate is divided into small device chips, the device chips may be scattered without being properly held by the chuck table.

本発明はかかる問題に鑑みてなされたものであり、パッケージ基板の分割に要するコストを抑えつつ、パッケージ基板をチャックテーブルによって適切に保持することが可能なパッケージ基板の加工方法の提供を目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a method for processing a package substrate that can appropriately hold the package substrate by a chuck table while suppressing the cost required for dividing the package substrate. .

本発明の一態様によれば、格子状に配列された複数の分割予定ラインによって区画された複数の領域を備えるパッケージ基板の加工方法であって、外的刺激によって膨張する膨張材を含む粘着層を備え、該パッケージ基板に対応する大きさを有する粘着テープを、該パッケージ基板の裏面側に貼着する粘着テープ貼着ステップと、該粘着テープを介して該パッケージ基板をチャックテーブルによって保持し、該分割予定ラインに沿って該パッケージ基板を表面側から切削することにより、該パッケージ基板を複数のデバイスチップに分割する分割ステップと、該分割ステップの実施後、該粘着テープに該外的刺激を付与して該膨張材を膨張させることにより、該パッケージ基板に作用する該粘着層の粘着力を低下させる粘着力低下ステップと、該粘着力低下ステップの実施後、該粘着テープ上に配置された複数の該デバイスチップをスキージで押して移動させることにより、収容ケースに複数の該デバイスチップを収容するチップ収容ステップと、を備えるパッケージ基板の加工方法が提供される。   According to an aspect of the present invention, there is provided a method of processing a package substrate including a plurality of regions partitioned by a plurality of planned dividing lines arranged in a lattice, the adhesive layer including an expansive material that expands by an external stimulus. And an adhesive tape attaching step of attaching an adhesive tape having a size corresponding to the package substrate to the back surface side of the package substrate, and holding the package substrate by the chuck table via the adhesive tape, A dividing step of dividing the package substrate into a plurality of device chips by cutting the package substrate from the surface side along the dividing line, and applying the external stimulus to the adhesive tape after performing the dividing step. An adhesive strength lowering step of lowering the adhesive strength of the adhesive layer acting on the package substrate by applying and expanding the expandable material. A chip accommodating step of accommodating the plurality of device chips in a housing case by pushing and moving the plurality of device chips arranged on the adhesive tape with a squeegee after the step of reducing the adhesive strength. A method of processing a substrate is provided.

また、好ましくは、該パッケージ基板は、デバイスが配設されたデバイス領域と、該デバイス領域を囲繞する端材領域とを有し、該チャックテーブルは、該デバイス領域と該端材領域との境界に対応した位置に溝を有し、該分割ステップは、該粘着テープを介して該パッケージ基板を該チャックテーブルによって保持する保持ステップと、該パッケージ基板を該デバイス領域と該端材領域との境界に沿って該粘着テープごと切削ブレードで切削し、該端材領域を該デバイス領域から分断して除去する端材領域分断ステップと、該端材領域が除去された該パッケージ基板の該デバイス領域を該分割予定ラインに沿って切削し、該粘着テープを分断せずに該デバイス領域を複数の該デバイスチップに分割するデバイス領域分割ステップと、を備える。   Further, preferably, the package substrate has a device region in which a device is arranged, and an end material region surrounding the device region, and the chuck table defines a boundary between the device region and the end material region. And a step of holding the package substrate by the chuck table via the adhesive tape and a boundary between the device region and the end material region. Cutting the adhesive tape along with the cutting tape with a cutting blade, dividing the end material region from the device area and removing the end material area, and removing the end material area from the device area of the package substrate. A device region dividing step of cutting along the dividing line and dividing the device region into a plurality of the device chips without dividing the adhesive tape. .

また、好ましくは、該チップ収容ステップでは、該パッケージ基板の分割によって得られた該デバイスチップのみが該収容ケースに収容される。   Further, preferably, in the chip accommodation step, only the device chip obtained by dividing the package substrate is accommodated in the accommodation case.

本発明の一態様に係るパッケージ基板の加工方法では、パッケージ基板に対応する大きさを有する粘着テープを介して、パッケージ基板をチャックテーブルによって保持する。これにより、パッケージ基板を環状フレームによって支持する場合と比較して粘着テープの使用量が削減され、パッケージ基板の分割に要するコストが低減される。   In the method of processing a package substrate according to one aspect of the present invention, the package substrate is held by the chuck table via an adhesive tape having a size corresponding to the package substrate. As a result, the amount of the adhesive tape used is reduced as compared with the case where the package substrate is supported by the annular frame, and the cost required for dividing the package substrate is reduced.

また、パッケージ基板が複数のデバイスチップに分割された後、各デバイスチップはチャックテーブルによって吸引された粘着テープに貼着された状態で保持される。その結果、デバイスチップがチャックテーブル上で確実に保持され、デバイスチップの飛散が防止される。   Further, after the package substrate is divided into a plurality of device chips, each device chip is held in a state of being attached to the adhesive tape sucked by the chuck table. As a result, the device chips are securely held on the chuck table, and the device chips are prevented from scattering.

パッケージ基板を示す斜視図である。It is a perspective view which shows a package substrate. 切削装置を示す斜視図である。It is a perspective view showing a cutting device. 図3(A)は粘着テープが貼着されたパッケージ基板を示す斜視図であり、図3(B)は粘着テープが貼着されたパッケージ基板を示す断面図である。FIG. 3A is a perspective view showing the package substrate to which the adhesive tape is attached, and FIG. 3B is a sectional view showing the package substrate to which the adhesive tape is attached. パッケージ基板がチャックテーブルによって保持される様子を示す斜視図である。FIG. 6 is a perspective view showing how the package substrate is held by a chuck table. 図5(A)は端材領域がデバイス領域から分断される様子を示す一部断面正面図であり、図5(B)はデバイス領域が切削される様子を示す一部断面正面図である。FIG. 5A is a partial cross-sectional front view showing a state in which the end material region is divided from the device region, and FIG. 5B is a partial cross-sectional front view showing a state in which the device region is cut. 図6(A)はパッケージ基板が加熱テーブル上に配置された状態を示す一部断面正面図であり、図6(B)はデバイスチップが収容ケースに収容される様子を示す一部断面正面図である。FIG. 6A is a partial cross-sectional front view showing a state where the package substrate is placed on the heating table, and FIG. 6B is a partial cross-sectional front view showing a state in which the device chip is accommodated in the accommodation case. Is.

以下、添付図面を参照して本実施形態を説明する。まず、本実施形態に係るパッケージ基板の加工方法によって加工することが可能なパッケージ基板の構成例について説明する。図1は、パッケージ基板11を示す斜視図である。   The present embodiment will be described below with reference to the accompanying drawings. First, a configuration example of a package substrate that can be processed by the package substrate processing method according to the present embodiment will be described. FIG. 1 is a perspective view showing the package substrate 11.

パッケージ基板11は、例えば42アロイ(鉄とニッケルとの合金)や銅等の金属を用いて、表面11a及び裏面11bを備える板状に形成される。図1では、パッケージ基板11が平面視で矩形状に形成されている例を示している。ただし、パッケージ基板11の材質、形状、構造、大きさ等に制限はない。   The package substrate 11 is made of a metal such as 42 alloy (an alloy of iron and nickel) or copper, and is formed in a plate shape having a front surface 11a and a back surface 11b. FIG. 1 shows an example in which the package substrate 11 is formed in a rectangular shape in a plan view. However, the material, shape, structure, size, etc. of the package substrate 11 are not limited.

パッケージ基板11は、IC(Integrated Circuit)、LSI(Large Scale Integration)、LED(Light Emitting Diode)、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)等でなるデバイスが配設された複数のデバイス領域13と、複数のデバイス領域13を囲繞しデバイスが配設されていない端材領域15とを備える。なお、デバイス領域13に配設されるデバイスの種類、数量、形状、構造、大きさ、配置等に制限はない。   The package substrate 11 includes a plurality of device regions 13 in which devices such as ICs (Integrated Circuits), LSIs (Large Scale Integration), LEDs (Light Emitting Diodes), and MEMSs (Micro Electro Mechanical Systems) are arranged, and a plurality of device regions 13. An end material region 15 that surrounds the device region 13 and is not provided with a device is provided. There is no limitation on the type, quantity, shape, structure, size, arrangement, etc. of the devices arranged in the device area 13.

デバイス領域13はそれぞれ、互いに交差するように格子状に配列された複数の分割予定ライン(ストリート)17によって複数の領域13aに区画されており、領域13aにそれぞれデバイスが配置されている。また、デバイス領域13に含まれる複数のデバイスはそれぞれ、モールド樹脂と称されるデバイスを封止するための樹脂層(不図示)によって覆われている。   Each of the device regions 13 is divided into a plurality of regions 13a by a plurality of dividing lines (streets) 17 arranged in a grid pattern so as to intersect with each other, and the devices are arranged in the regions 13a, respectively. Further, each of the plurality of devices included in the device region 13 is covered with a resin layer (not shown) called a molding resin for sealing the device.

パッケージ基板11を分割予定ライン17に沿って分割することにより、樹脂によって封止されたデバイスを備える複数のデバイスチップ(パッケージデバイス)が得られる。このパッケージ基板11の分割には、例えば、パッケージ基板11を保持するチャックテーブルと、チャックテーブルによって保持されたパッケージ基板11を切削する円環状の切削ブレードが装着される切削ユニットとを備える切削装置が用いられる。切削装置の構成例を、図2を用いて説明する。   By dividing the package substrate 11 along the dividing line 17, a plurality of device chips (package devices) including devices sealed with resin can be obtained. For the division of the package substrate 11, for example, a cutting device including a chuck table holding the package substrate 11 and a cutting unit equipped with an annular cutting blade for cutting the package substrate 11 held by the chuck table is installed. Used. A configuration example of the cutting device will be described with reference to FIG.

図2は、切削装置2を示す斜視図である。切削装置2は、切削装置2を構成する各構成要素が収容又は搭載される基台4を備える。基台4は、水平方向(XY平面方向)に沿って配置された第1面4aと、第1面4aの後端から鉛直方向(Z軸方向)の上方に向かって配置された第2面4bと、第1面4aの前端から鉛直方向の下方に向かって配置された第3面4cと、を備える階段状に形成されている。   FIG. 2 is a perspective view showing the cutting device 2. The cutting device 2 includes a base 4 on which the constituent elements of the cutting device 2 are housed or mounted. The base 4 includes a first surface 4a arranged along the horizontal direction (XY plane direction) and a second surface arranged upward from the rear end of the first surface 4a in the vertical direction (Z-axis direction). 4b and a third surface 4c arranged vertically downward from the front end of the first surface 4a are formed in a stepped shape.

第2面4bの左右方向(Y軸方向)の一端側には開口4dが形成されており、開口4dの内部にはカセットエレベータ6が配置されている。カセットエレベータ6は昇降機構(不図示)に連結されており、この昇降機構はカセットエレベータ6を鉛直方向に沿って昇降させる。また、カセットエレベータ6の上面には、複数のパッケージ基板11(図1参照)を収容可能なカセット8が搭載される。   An opening 4d is formed on one end side of the second surface 4b in the left-right direction (Y-axis direction), and the cassette elevator 6 is arranged inside the opening 4d. The cassette elevator 6 is connected to an elevating mechanism (not shown), and this elevating mechanism elevates and lowers the cassette elevator 6 in the vertical direction. A cassette 8 capable of accommodating a plurality of package substrates 11 (see FIG. 1) is mounted on the upper surface of the cassette elevator 6.

開口4dの前方には、パッケージ基板11を仮置きするための仮置きユニット12が設けられている。仮置きユニット12は、互いに平行な状態を維持しながら接近、離隔する一対のガイドレール14a,14bを備える。また、ガイドレール14a,14bの近傍には、カセット8に収容されているパッケージ基板11を把持して引き出す搬出機構16が配置されている。   A temporary placement unit 12 for temporarily placing the package substrate 11 is provided in front of the opening 4d. The temporary placement unit 12 includes a pair of guide rails 14a and 14b that approach and separate while maintaining a state of being parallel to each other. Further, near the guide rails 14a and 14b, an unloading mechanism 16 that holds and pulls out the package substrate 11 housed in the cassette 8 is arranged.

搬出機構16は、パッケージ基板11を把持する把持部16aをカセットエレベータ6側に備え、基台4の第1面4aに沿って前後方向(X軸方向)に移動する。そして、ガイドレール14a,14bは、搬出機構16によってカセット8から引き出されたパッケージ基板11を挟み込み、パッケージ基板11の位置合わせを行う。   The carry-out mechanism 16 includes a grip portion 16a that grips the package substrate 11 on the cassette elevator 6 side, and moves in the front-rear direction (X-axis direction) along the first surface 4a of the base 4. Then, the guide rails 14a and 14b sandwich the package substrate 11 pulled out from the cassette 8 by the carry-out mechanism 16, and align the package substrate 11 with each other.

また、開口4dの上方には、長さ方向がY軸方向に沿うスリット4eが形成されており、このスリット4eの内部に搬送アーム18が挿入されている。搬送アーム18の基端側(後端側)には移動機構(不図示)が連結されており、この移動機構は搬送アーム18をY軸方向沿って移動させる。   Further, a slit 4e whose length direction extends along the Y-axis direction is formed above the opening 4d, and the transport arm 18 is inserted inside the slit 4e. A transfer mechanism (not shown) is connected to the base end side (rear end side) of the transfer arm 18, and this transfer mechanism moves the transfer arm 18 along the Y-axis direction.

搬送アーム18の先端部(前端部)には、エアシリンダ等でなる昇降機構20を介して、吸引パッド22及び撮像ユニット24が連結されている。吸引パッド22には吸引源(不図示)が接続されており、この吸引源によって吸引パッド22の下面に負圧を発生させることにより、パッケージ基板11が吸引パッド22によって吸引保持される。また、撮像ユニット24は、カメラ等でなり、吸引パッド22によって保持されたパッケージ基板11が搬送される位置を調整するための画像等を取得する。   A suction pad 22 and an imaging unit 24 are connected to the tip (front end) of the transfer arm 18 via an elevating mechanism 20 such as an air cylinder. A suction source (not shown) is connected to the suction pad 22, and the suction pad 22 suction-holds the package substrate 11 by generating a negative pressure on the lower surface of the suction pad 22 by the suction source. The imaging unit 24 is a camera or the like and acquires an image or the like for adjusting the position at which the package substrate 11 held by the suction pad 22 is transported.

第1面4aの中央部には、第2面4bの前方から後方に向かって平面視で矩形状の開口4fが形成されている。この開口4fの内部には、X軸移動テーブル26と、X軸移動テーブル26をX軸方向に移動させるX軸移動機構(不図示)と、X軸移動機構を覆う蛇腹状の防塵防滴カバー28とが配置されている。   A rectangular opening 4f is formed in the central portion of the first surface 4a in a plan view from the front of the second surface 4b toward the rear. Inside the opening 4f, an X-axis moving table 26, an X-axis moving mechanism (not shown) for moving the X-axis moving table 26 in the X-axis direction, and a bellows-like dust-proof and drip-proof cover for covering the X-axis moving mechanism. 28 and 28 are arranged.

X軸移動テーブル26上には、パッケージ基板11を保持するチャックテーブル30が配置されている。チャックテーブル30は、モータ等の回転駆動源(不図示)に連結されており、Z軸方向(鉛直方向)に概ね平行な回転軸の周りに回転する。また、チャックテーブル30はX軸移動テーブル26とともにX軸方向に沿って移動する。   A chuck table 30 that holds the package substrate 11 is arranged on the X-axis moving table 26. The chuck table 30 is connected to a rotary drive source (not shown) such as a motor, and rotates about a rotation axis substantially parallel to the Z-axis direction (vertical direction). Further, the chuck table 30 moves along with the X-axis moving table 26 along the X-axis direction.

チャックテーブル30の上面は、パッケージ基板11を保持する保持面30aを構成する。保持面30aは、X軸方向及びY軸方向に対して概ね平行に形成されており、チャックテーブル30の内部に設けられた吸引路(不図示)等を介してエジェクタ等の吸引源(不図示)に接続されている。なお、チャックテーブル30の構造及び機能の詳細については後述する(図4参照)。   The upper surface of the chuck table 30 constitutes a holding surface 30 a that holds the package substrate 11. The holding surface 30a is formed substantially parallel to the X-axis direction and the Y-axis direction, and a suction source (not shown) such as an ejector is provided via a suction path (not shown) provided inside the chuck table 30. )It is connected to the. The details of the structure and function of the chuck table 30 will be described later (see FIG. 4).

チャックテーブル30の上方には、パッケージ基板11を切削する円環状の切削ブレード34が装着される切削ユニット32が配置されている。切削ユニット32は移動機構(不図示)によって支持されており、この移動機構は切削ユニット32をY軸方向及びZ軸方向に沿って移動させる。なお、図2には切削装置2が1組の切削ユニット32を備える例を示しているが、切削装置2には2組以上の切削ユニット32が設けられていてもよい。   Above the chuck table 30, a cutting unit 32 in which an annular cutting blade 34 that cuts the package substrate 11 is mounted is arranged. The cutting unit 32 is supported by a moving mechanism (not shown), and this moving mechanism moves the cutting unit 32 along the Y-axis direction and the Z-axis direction. Although FIG. 2 shows an example in which the cutting device 2 includes one set of cutting units 32, the cutting device 2 may be provided with two or more sets of cutting units 32.

切削ユニット32は、チャックテーブル30の保持面30aに対して概ね平行な方向に軸心をとるスピンドル(不図示)を備えており、このスピンドルの先端部に切削ブレード34が装着される。スピンドルはモータ等の回転駆動源と連結されており、スピンドルに装着された切削ブレード34は回転駆動源から伝わる力によって回転する。   The cutting unit 32 includes a spindle (not shown) having an axis in a direction substantially parallel to the holding surface 30a of the chuck table 30, and the cutting blade 34 is attached to the tip of this spindle. The spindle is connected to a rotary drive source such as a motor, and the cutting blade 34 mounted on the spindle is rotated by the force transmitted from the rotary drive source.

切削ブレード34は、例えばダイヤモンド等でなる砥粒をボンド材で固定して形成される。ボンド材としては、例えばメタルボンド、レジンボンド、ビトリファイドボンドなどが用いられる。切削ブレード34を回転させ、チャックテーブル30上に配置されたパッケージ基板11に切り込ませることにより、パッケージ基板11が切削され、複数のデバイスチップに分割される。   The cutting blade 34 is formed by fixing abrasive grains made of diamond or the like with a bond material. As the bond material, for example, a metal bond, a resin bond, a vitrified bond, or the like is used. By rotating the cutting blade 34 and cutting it into the package substrate 11 arranged on the chuck table 30, the package substrate 11 is cut and divided into a plurality of device chips.

また、開口4fの上方には、切削ユニット32によって複数のデバイスチップに分割されたパッケージ基板11の上面を洗浄する洗浄ユニット36が配置されている。また、スリット4eの斜め上方には、長さ方向がY軸方向に沿うスリット4gが形成されており、このスリット4gの内部に搬送アーム38が挿入されている。   Further, a cleaning unit 36 for cleaning the upper surface of the package substrate 11 divided into a plurality of device chips by the cutting unit 32 is arranged above the opening 4f. Further, a slit 4g whose length direction extends along the Y-axis direction is formed diagonally above the slit 4e, and the transfer arm 38 is inserted inside the slit 4g.

搬送アーム38の基端側(後端側)には移動機構(不図示)が連結されており、この移動機構は搬送アーム38をY軸方向に沿って移動させる。また、搬送アーム38の先端部(前端部)には、エアシリンダ等でなる昇降機構40を介して吸引パッド42が連結されている。   A moving mechanism (not shown) is connected to the base end side (rear end side) of the transfer arm 38, and this moving mechanism moves the transfer arm 38 along the Y-axis direction. Further, a suction pad 42 is connected to the tip (front end) of the transfer arm 38 via an elevating mechanism 40 such as an air cylinder.

吸引パッド42の下面側には、パッケージ基板11の分割によって得られる複数のデバイスチップに対応する複数の貫通孔が形成されおり、貫通孔はそれぞれ吸引源(不図示)に接続されている。この吸引源によって吸引パッド42の下面に負圧を発生させることで、分割後のパッケージ基板11(複数のデバイスチップ)が吸引パッド42によって吸引保持される。   A plurality of through holes corresponding to a plurality of device chips obtained by dividing the package substrate 11 are formed on the lower surface side of the suction pad 42, and the through holes are each connected to a suction source (not shown). By generating a negative pressure on the lower surface of the suction pad 42 by this suction source, the divided package substrate 11 (a plurality of device chips) is suction-held by the suction pad 42.

開口4fの側方(左右方向の他端側)には、分割後のパッケージ基板11の下面側を洗浄する洗浄ユニット44が設けられている。また、洗浄ユニット44の側方(左右方向の他端側)には、分割後のパッケージ基板11が仮置きされ、パッケージ基板11を加熱する加熱テーブル46が配置されている。   A cleaning unit 44 for cleaning the lower surface side of the package substrate 11 after division is provided on the side of the opening 4f (the other end in the left-right direction). The package substrate 11 after division is temporarily placed on the side of the cleaning unit 44 (on the other end side in the left-right direction), and a heating table 46 for heating the package substrate 11 is arranged.

切削ユニット32によって分割されたパッケージ基板11は、吸引パッド42によって吸引保持され、チャックテーブル30上から搬出される。そして、吸引パッド42によって吸引保持されたパッケージ基板11は、洗浄ユニット44によってその下面側が洗浄された後、加熱テーブル46上に載置され、加熱テーブル46によってパッケージ基板11に加熱処理が施される(図6(A)参照)。   The package substrate 11 divided by the cutting unit 32 is suction-held by the suction pad 42 and is carried out from the chuck table 30. The package substrate 11 sucked and held by the suction pad 42 has its lower surface cleaned by the cleaning unit 44, and then placed on the heating table 46, and the heating process is performed on the package substrate 11 by the heating table 46. (See FIG. 6A).

スリット4gの下方には、長さ方向がY軸方向に沿うスリット4hが形成されており、このスリット4hの内部に収容アーム48が挿入されている。収容アーム48の基端側(後端側)には移動機構(不図示)が連結されており、この移動機構は収容アーム48をY軸方向に沿って移動させる。また、収容アーム48の先端部(前端部)には、エアシリンダ等でなる昇降機構50を介してスキージ52が連結されている。   Below the slit 4g, a slit 4h whose length direction is along the Y-axis direction is formed, and the accommodation arm 48 is inserted inside the slit 4h. A moving mechanism (not shown) is connected to the base end side (rear end side) of the accommodation arm 48, and this movement mechanism moves the accommodation arm 48 along the Y-axis direction. A squeegee 52 is connected to the tip (front end) of the storage arm 48 via an elevating mechanism 50 such as an air cylinder.

基台4の第1面4aのうち加熱テーブル46の側方(左右方向の他端側)に位置する領域には開口4iが形成されており、この開口4iの内部にはデバイスチップを収容する収容ケース54が設けられている。また、基台4の第3面4cには、収容ケース54を出し入れするための引き出し56が設けられている。   An opening 4i is formed in a region of the first surface 4a of the base 4 that is located on the side of the heating table 46 (on the other end side in the left-right direction), and the device chip is housed inside this opening 4i. A housing case 54 is provided. Further, the third surface 4c of the base 4 is provided with a drawer 56 for inserting and removing the housing case 54.

加熱テーブル46上に載置された複数のデバイスチップは、スキージ52によって押し出され、開口4iを介して収容ケース54に収容される。なお、スキージ52の構造及び機能の詳細については後述する(図6(B)参照)。   The plurality of device chips mounted on the heating table 46 are pushed out by the squeegee 52 and housed in the housing case 54 through the opening 4i. The details of the structure and function of the squeegee 52 will be described later (see FIG. 6B).

また、基台4の第3面4c側には、切削装置2に対する指示等を入力するための操作パネル58が設置されている。操作パネル58には、切削加工の条件などの情報が入力される。さらに、基台4の第2面4bには、各種の情報を表示するためのモニタ60が設けられている。   Further, an operation panel 58 for inputting an instruction or the like to the cutting device 2 is installed on the side of the third surface 4c of the base 4. Information such as cutting conditions is input to the operation panel 58. Further, a monitor 60 for displaying various kinds of information is provided on the second surface 4b of the base 4.

上記の切削装置2によって、パッケージ基板11を複数のデバイスチップに分割する加工が実施される。以下、パッケージ基板11の加工方法の具体例を説明する。   The cutting device 2 performs a process of dividing the package substrate 11 into a plurality of device chips. Hereinafter, a specific example of the method of processing the package substrate 11 will be described.

まず、パッケージ基板11の裏面11b側に粘着テープ21を貼着する粘着テープ貼着ステップを実施する。図3(A)は粘着テープ21が貼着されたパッケージ基板11を示す斜視図であり、図3(B)は粘着テープ21が貼着されたパッケージ基板11を示す断面図である。   First, an adhesive tape attaching step of attaching the adhesive tape 21 to the back surface 11b side of the package substrate 11 is performed. 3A is a perspective view showing the package substrate 11 to which the adhesive tape 21 is attached, and FIG. 3B is a sectional view showing the package substrate 11 to which the adhesive tape 21 is attached.

粘着テープ21は、ポリオレフィン、ポリ塩化ビニル、ポリエチレンテレフタラート等の樹脂でなる基材層23と、基材層23の表面に形成され、パッケージ基板11の裏面11b側に対して所定の粘着力を有する粘着層25とを備える。粘着テープ21はパッケージ基板11に対応する大きさを有し、例えば、粘着テープ21の大きさとパッケージ基板11の大きさとは同等である。より具体的には、粘着テープ21は、その形状がパッケージ基板11の裏面11bの形状と一致するように形成される。   The adhesive tape 21 is formed on the front surface of the base material layer 23 and the base material layer 23 made of a resin such as polyolefin, polyvinyl chloride, or polyethylene terephthalate, and has a predetermined adhesive force to the back surface 11b side of the package substrate 11. The adhesive layer 25 which has. The adhesive tape 21 has a size corresponding to the package substrate 11, and, for example, the size of the adhesive tape 21 and the size of the package substrate 11 are equal. More specifically, the adhesive tape 21 is formed so that its shape matches the shape of the back surface 11b of the package substrate 11.

従来、粘着テープを介してパッケージ基板をチャックテーブルによって保持する際には、パッケージ基板よりも大きな粘着テープの中央部にパッケージ基板を貼着するとともに、粘着テープの外周部に環状フレームを貼着することにより、パッケージ基板を環状フレームによって支持していた。そのため、パッケージ基板の保持に面積の大きな粘着テープが必要となり、パッケージ基板の分割にコストがかかることが問題となっていた。   Conventionally, when a package substrate is held by a chuck table via an adhesive tape, the package substrate is attached to the central portion of the adhesive tape that is larger than the package substrate, and an annular frame is attached to the outer peripheral portion of the adhesive tape. Thus, the package substrate is supported by the annular frame. Therefore, an adhesive tape having a large area is required to hold the package substrate, and it has been a problem that the package substrate is costly to divide.

本実施形態に係るパッケージ基板の加工方法では、パッケージ基板11に対応する大きさの粘着テープ21がパッケージ基板11の裏面11b側に貼着される。これにより、粘着テープ21の使用量が削減され、パッケージ基板11の分割に要するコストが低減される。   In the method of processing a package substrate according to this embodiment, the adhesive tape 21 having a size corresponding to the package substrate 11 is attached to the back surface 11b side of the package substrate 11. As a result, the amount of the adhesive tape 21 used is reduced, and the cost required for dividing the package substrate 11 is reduced.

また、粘着テープ21の粘着層25には、熱や光等の外的刺激(外部から付与されるエネルギー)によって膨張する膨張材が含まれている。例えば粘着層25は、パッケージ基板11の裏面11b側に対して所定の粘着力を有する粘着剤に、上記の膨張材を含有させることによって構成される。   Further, the adhesive layer 25 of the adhesive tape 21 contains an expansive material that expands due to an external stimulus (energy applied from the outside) such as heat or light. For example, the adhesive layer 25 is configured by including the above-mentioned expansive material in an adhesive having a predetermined adhesive force with respect to the back surface 11b side of the package substrate 11.

粘着剤としては、アクリル系粘着剤、ゴム系粘着剤、ビニルアルキルエーテル系粘着剤、シリコーン系粘着剤、ポリエステル系粘着剤、ポリアミド系粘着剤、ウレタン系粘着剤などを用いることができる。また、外的刺激によって膨張する膨張材としては、加熱によって膨張する微小球(熱膨張性微小球)や、加熱によって発泡する発泡材などを用いることができる。   As the adhesive, an acrylic adhesive, a rubber adhesive, a vinyl alkyl ether adhesive, a silicone adhesive, a polyester adhesive, a polyamide adhesive, a urethane adhesive, or the like can be used. As the expansive material that expands by an external stimulus, it is possible to use microspheres (thermally expandable microspheres) that expand when heated, or a foam material that foams when heated.

熱膨張性微小球は、例えば、弾性を有するマイクロカプセルに、加熱によって膨張する物質を内包させることによって構成される。加熱によって膨張する物質としては、例えば、プロパン、プロピレン、ブテンなどを用いることができる。熱膨張性微小球を含む粘着層25を備えた粘着テープ21の市販品の例としては、日東電工株式会社製のリバアルファ(登録商標)が挙げられる。   The heat-expandable microspheres are formed, for example, by encapsulating a substance that expands by heating in elastic microcapsules. As the substance that expands by heating, for example, propane, propylene, butene or the like can be used. As an example of a commercially available adhesive tape 21 provided with an adhesive layer 25 containing heat-expandable microspheres, Riba Alpha (registered trademark) manufactured by Nitto Denko Corporation can be mentioned.

また、加熱によって発泡する発泡材としては、例えば、炭酸アンモニウム、炭酸水素アンモニウム、炭酸水素ナトリウム、亜硝酸アンモニウム、水酸化ホウ素ナトリウム、アジド類等の無機系発泡剤や、各種の有機系発泡剤を用いることができる。   As the foaming material that is foamed by heating, for example, inorganic foaming agents such as ammonium carbonate, ammonium hydrogencarbonate, sodium hydrogencarbonate, ammonium nitrite, sodium borohydride, and azides, and various organic foaming agents are used. be able to.

ただし、粘着層25に含まれる膨張材は、加熱によって膨張する物質に限られない。例えば、紫外線の照射によって膨張する膨張材を用いることもできる。   However, the expansive material contained in the adhesive layer 25 is not limited to the substance that expands by heating. For example, an expansive material that expands when irradiated with ultraviolet rays can be used.

粘着テープ21は、粘着層25がパッケージ基板11の裏面11b側に接触するように貼着される。これにより、パッケージ基板11の裏面11bの全体が粘着テープ21によって覆われた状態となる。   The adhesive tape 21 is attached so that the adhesive layer 25 contacts the back surface 11b side of the package substrate 11. As a result, the entire back surface 11b of the package substrate 11 is covered with the adhesive tape 21.

次に、粘着テープ21を介してパッケージ基板11をチャックテーブル30によって保持し、分割予定ライン17に沿ってパッケージ基板11を表面11a側から切削することにより、パッケージ基板11を複数のデバイスチップに分割する分割ステップを実施する。図4は、パッケージ基板11がチャックテーブル30によって保持される様子を示す斜視図である。   Next, the package substrate 11 is held by the chuck table 30 via the adhesive tape 21, and the package substrate 11 is cut from the surface 11a side along the dividing line 17 to divide the package substrate 11 into a plurality of device chips. The dividing step is performed. FIG. 4 is a perspective view showing how the package substrate 11 is held by the chuck table 30.

チャックテーブル30は、内部に吸引路(不図示)を備える治具ベース70を備える。治具ベース70は、モータ等の回転駆動源(不図示)に連結されており、鉛直方向に概ね平行な回転軸の周りに回転する。   The chuck table 30 includes a jig base 70 having a suction path (not shown) inside. The jig base 70 is connected to a rotary drive source (not shown) such as a motor and rotates about a rotation axis substantially parallel to the vertical direction.

治具ベース70の上面には、樹脂等の材料によって平面視で矩形状に形成された板状の治具72が固定される。この治具72の上面が、チャックテーブル30の保持面30a(図2参照)に相当する。   On the upper surface of the jig base 70, a plate-shaped jig 72 formed of a material such as a resin and having a rectangular shape in a plan view is fixed. The upper surface of the jig 72 corresponds to the holding surface 30a (see FIG. 2) of the chuck table 30.

治具72は、パッケージ基板11を吸引する複数の吸引部74を備える。複数の吸引部74はそれぞれ、パッケージ基板11のデバイス領域13に対応して設けられており、デバイス領域13と平面視で概ね同一の形状(矩形状)となるように形成されている。吸引部74は、例えばポーラスセラミックス等によってポーラス状に形成され、治具ベース70の内部に形成された吸引路を介して吸引源(不図示)に接続されている。   The jig 72 includes a plurality of suction units 74 that suction the package substrate 11. Each of the plurality of suction portions 74 is provided corresponding to the device region 13 of the package substrate 11, and is formed to have substantially the same shape (rectangular shape) as the device region 13 in a plan view. The suction portion 74 is formed in a porous shape by using, for example, porous ceramics, and is connected to a suction source (not shown) via a suction passage formed inside the jig base 70.

また、治具72には、治具72の上面から下面に向かって、その深さが治具72の厚さ未満である溝76が形成されている。溝76は、パッケージ基板11のデバイス領域13と端材領域15との境界に対応して設けられており、吸引部74を囲むように配列されている。また、溝76の幅は、切削ブレード34(図2参照)の幅よりも大きい。この溝76は、パッケージ基板11を切削ブレード34によって切削する際に切削ブレード34の先端が挿入される逃げ溝として機能する(図5(A)参照)。   Further, in the jig 72, a groove 76 whose depth is less than the thickness of the jig 72 is formed from the upper surface to the lower surface of the jig 72. The groove 76 is provided corresponding to the boundary between the device region 13 and the end material region 15 of the package substrate 11, and is arranged so as to surround the suction portion 74. The width of the groove 76 is larger than the width of the cutting blade 34 (see FIG. 2). The groove 76 functions as a clearance groove into which the tip of the cutting blade 34 is inserted when the package substrate 11 is cut by the cutting blade 34 (see FIG. 5A).

分割ステップではまず、粘着テープ21を介してパッケージ基板11をチャックテーブル30によって保持する(保持ステップ)。具体的には、パッケージ基板11のデバイス領域13と端材領域15との境界が、治具72の溝76と重畳するように、パッケージ基板11の裏面11b側を治具72上に配置する。これにより、複数の吸引部74が粘着テープ21によって覆われ、パッケージ基板11が粘着テープ21を介してチャックテーブル30によって吸引保持される。   In the dividing step, first, the package substrate 11 is held by the chuck table 30 via the adhesive tape 21 (holding step). Specifically, the back surface 11 b side of the package substrate 11 is arranged on the jig 72 so that the boundary between the device region 13 and the end material region 15 of the package substrate 11 overlaps the groove 76 of the jig 72. As a result, the plurality of suction units 74 are covered with the adhesive tape 21, and the package substrate 11 is suction-held by the chuck table 30 via the adhesive tape 21.

次に、パッケージ基板11をデバイス領域13と端材領域15との境界に沿って切削ブレード34で切削し、端材領域15をデバイス領域13から分断して除去する(端材領域分断ステップ)。図5(A)は、端材領域15がデバイス領域13から分断される様子を示す一部断面正面図である。   Next, the package substrate 11 is cut by the cutting blade 34 along the boundary between the device region 13 and the end material region 15, and the end material region 15 is divided and removed from the device region 13 (mill end material region cutting step). FIG. 5A is a partial cross-sectional front view showing a state in which the end material region 15 is divided from the device region 13.

端材領域分断ステップでは、まず、一の溝76の長さ方向が加工送り方向(X軸方向)と概ね平行となるように、チャックテーブル30を回転させる。また、切削ブレード34の下端がチャックテーブル30の保持面30a(治具72の上面)よりも下方で、且つ、溝76の底よりも上方に配置されるように、切削ユニット32の高さを調整する。さらに、切削ブレード34が該一の溝76の長さ方向の延長線上に配置されるように、切削ユニット32のY軸方向における位置を調整する。   In the scrap material region dividing step, first, the chuck table 30 is rotated so that the length direction of the one groove 76 is substantially parallel to the machining feed direction (X-axis direction). Further, the height of the cutting unit 32 is set so that the lower end of the cutting blade 34 is arranged below the holding surface 30 a (the upper surface of the jig 72) of the chuck table 30 and above the bottom of the groove 76. adjust. Further, the position of the cutting unit 32 in the Y-axis direction is adjusted so that the cutting blade 34 is arranged on the extension line of the one groove 76 in the length direction.

この状態で、先端部に切削ブレード34が装着されたスピンドル78を回転させながら、チャックテーブル30を加工送り方向に沿って移動させる。これにより、切削ブレード34とチャックテーブル30とが相対的に移動して、切削ブレード34がパッケージ基板11に切り込み、パッケージ基板11のデバイス領域13と端材領域15との境界が切削される。   In this state, the chuck table 30 is moved along the machining feed direction while rotating the spindle 78 having the cutting blade 34 mounted on the tip thereof. As a result, the cutting blade 34 and the chuck table 30 move relative to each other, the cutting blade 34 cuts into the package substrate 11, and the boundary between the device region 13 and the end material region 15 of the package substrate 11 is cut.

パッケージ基板11の切削は、切削ブレード34とパッケージ基板11とに純水等の切削液をしながら実施される。この切削液により、切削ブレード34とパッケージ基板11との接触領域が冷却されるとともに、切削によって発生した屑が洗い流される。   The cutting of the package substrate 11 is performed while cutting fluid such as pure water is applied to the cutting blade 34 and the package substrate 11. This cutting fluid cools the contact area between the cutting blade 34 and the package substrate 11, and also flushes away the debris generated by cutting.

なお、パッケージ基板11の切削時、切削ブレード34の下端部は溝76の内部を通過するため、切削ブレード34と治具72との接触は回避される。また、パッケージ基板11を切削する際、切削ブレード34の下端は粘着テープ21の下面よりも下方に位置付けられる。そのため、切削ブレード34はパッケージ基板11を粘着テープ21ごと切削する。   When the package board 11 is cut, the lower end of the cutting blade 34 passes through the inside of the groove 76, so that contact between the cutting blade 34 and the jig 72 is avoided. Further, when cutting the package substrate 11, the lower end of the cutting blade 34 is positioned below the lower surface of the adhesive tape 21. Therefore, the cutting blade 34 cuts the package substrate 11 together with the adhesive tape 21.

その後、同様の手順を繰り返し、全ての溝76に沿ってパッケージ基板11を切削する。これにより、端材領域15は粘着テープ21の一部が付着した状態でデバイス領域13から分断される。なお、端材領域15は、治具72の吸引部74と重ならないように配置されており(図4参照)、チャックテーブル30によって吸引されない。そのため、パッケージ基板11を切断する際、端材領域15は回転する切削ブレード34と接触して飛散したり、切削液によって洗い流されたりすることにより、チャックテーブル30上から除去される。   After that, the same procedure is repeated to cut the package substrate 11 along all the grooves 76. As a result, the end material region 15 is separated from the device region 13 with a part of the adhesive tape 21 attached. The scrap material region 15 is arranged so as not to overlap the suction portion 74 of the jig 72 (see FIG. 4) and is not sucked by the chuck table 30. Therefore, when the package substrate 11 is cut, the end material region 15 is removed from the chuck table 30 by coming into contact with the rotating cutting blade 34 and scattering, or being washed away by the cutting liquid.

ただし、端材領域分断ステップの実施後、分断された端材領域15がチャックテーブル30上に残存することがある。この場合は、例えば回転する切削ブレード34を溝76に沿って移動させ、切削ブレード34を残存する端材領域15に接触させることにより、端材領域15を飛散させてチャックテーブル30上から除去してもよい(端材領域除去ステップ)。   However, after the execution of the scrap material region cutting step, the cut scrap material region 15 may remain on the chuck table 30. In this case, for example, the rotating cutting blade 34 is moved along the groove 76 to bring the cutting blade 34 into contact with the remaining end material region 15 to scatter the end material region 15 and remove it from the chuck table 30. It may be (mill end material region removing step).

次に、パッケージ基板11のデバイス領域13を分割予定ライン17に沿って切削し、パッケージ基板11を複数のデバイスチップに分割する(デバイス領域分割ステップ)。図5(B)は、デバイス領域13が切削される様子を示す一部断面正面図である。   Next, the device region 13 of the package substrate 11 is cut along the dividing lines 17 to divide the package substrate 11 into a plurality of device chips (device region dividing step). FIG. 5B is a partial cross-sectional front view showing how the device region 13 is cut.

デバイス領域分割ステップでは、まず、加工対象となる一の分割予定ライン17(図1参照)の長さ方向が加工送り方向(X軸方向)と概ね平行となるように、チャックテーブル30を回転させる。また、切削ブレード34の下端がパッケージ基板11の裏面11bよりも下方で、且つ、粘着テープ21の下面(チャックテーブル30の保持面30a)よりも上方に配置されるように、切削ユニット32の高さを調整する。さらに、切削ブレード34が該一の分割予定ライン17の長さ方向の延長線上に配置されるように、切削ユニット32のY軸方向における位置を調整する。   In the device area dividing step, first, the chuck table 30 is rotated so that the length direction of the one planned dividing line 17 (see FIG. 1) to be processed is substantially parallel to the processing feed direction (X-axis direction). . Further, the height of the cutting unit 32 is set so that the lower end of the cutting blade 34 is arranged below the back surface 11b of the package substrate 11 and above the lower surface of the adhesive tape 21 (the holding surface 30a of the chuck table 30). Adjust the height. Further, the position of the cutting unit 32 in the Y-axis direction is adjusted so that the cutting blade 34 is arranged on the extension line of the one planned dividing line 17 in the length direction.

この状態で、切削ブレード34が装着されたスピンドル78を回転させながらチャックテーブル30を加工送り方向に沿って移動させる。これにより、切削ブレード34とチャックテーブル30とが相対的に移動して、切削ブレード34がパッケージ基板11に切り込み、デバイス領域13が分割予定ライン17に沿って切削される。このとき、切削ブレード34の下端は粘着テープ21の下面よりも上方に位置付けられているため、粘着テープ21は分断されない。   In this state, the chuck table 30 is moved along the machining feed direction while rotating the spindle 78 on which the cutting blade 34 is mounted. As a result, the cutting blade 34 and the chuck table 30 relatively move, the cutting blade 34 cuts into the package substrate 11, and the device region 13 is cut along the dividing line 17. At this time, since the lower end of the cutting blade 34 is positioned above the lower surface of the adhesive tape 21, the adhesive tape 21 is not divided.

その後、同様の手順を繰り返し、全ての分割予定ライン17に沿ってパッケージ基板11を格子状に切削する。これにより、パッケージ基板11のデバイス領域13が複数のデバイスチップに分割される。   After that, the same procedure is repeated, and the package substrate 11 is cut in a lattice shape along all the planned dividing lines 17. As a result, the device area 13 of the package substrate 11 is divided into a plurality of device chips.

なお、従来のように、パッケージ基板11が粘着テープ21を介さずに複数の吸引孔を備えるチャックテーブルによって保持されている場合、デバイス領域13が分割された後、各デバイスチップはそれぞれ吸引孔を介して作用する負圧によって保持される。しかしながら、デバイスチップのサイズが小さくなるほど吸引孔の径も小さくなり、各デバイスチップに作用する吸引力が弱くなる。そのため、デバイスチップがチャックテーブルによって適切に保持されずに飛散してしまうことがある。   When the package substrate 11 is held by a chuck table having a plurality of suction holes without the adhesive tape 21 as in the conventional case, each device chip has a suction hole after the device region 13 is divided. It is held by the negative pressure acting through it. However, the smaller the device chip size, the smaller the diameter of the suction hole, and the weaker the suction force acting on each device chip. Therefore, the device chips may be scattered without being properly held by the chuck table.

本実施形態に係るパッケージ基板の加工方法では、パッケージ基板11が粘着テープ21を介してチャックテーブル30によって吸引保持される。そのため、デバイス領域13が分割された後、各デバイスチップはチャックテーブル30によって吸引される粘着テープ21に貼着された状態で保持される。その結果、デバイスチップがチャックテーブル30上で確実に保持され、デバイスチップの飛散が防止される。   In the method of processing a package substrate according to this embodiment, the package substrate 11 is suction-held by the chuck table 30 via the adhesive tape 21. Therefore, after the device area 13 is divided, each device chip is held in a state of being attached to the adhesive tape 21 sucked by the chuck table 30. As a result, the device chips are securely held on the chuck table 30, and the device chips are prevented from scattering.

複数のデバイスチップに分割されたパッケージ基板11は、図2に示す吸引パッド42によって吸引保持される。このとき、デバイスチップ27にはそれぞれ、吸引パッド42の下面側に形成された貫通孔(不図示)を介して吸引源の負圧が作用する。そして、パッケージ基板11の裏面11b側に貼着された粘着テープ21が洗浄ユニット44によって洗浄された後、パッケージ基板11は加熱テーブル46上に配置される。この粘着テープ21の洗浄により、加熱テーブル46の汚れが防止される。   The package substrate 11 divided into a plurality of device chips is suction-held by the suction pad 42 shown in FIG. At this time, a negative pressure of the suction source acts on each of the device chips 27 via a through hole (not shown) formed on the lower surface side of the suction pad 42. Then, after the adhesive tape 21 attached to the back surface 11 b side of the package substrate 11 is cleaned by the cleaning unit 44, the package substrate 11 is placed on the heating table 46. The cleaning of the adhesive tape 21 prevents the heating table 46 from being soiled.

次に、粘着テープ21に外的刺激を付与して粘着層25に含まれる膨張材を膨張させることにより、パッケージ基板11に作用する粘着層25の粘着力を低下させる粘着力低下ステップを実施する。ここでは、外的刺激の付与が加熱であり、粘着テープ21が加熱テーブル46によって加熱される例について説明する。   Next, an external force is applied to the pressure-sensitive adhesive tape 21 to expand the expansion material contained in the pressure-sensitive adhesive layer 25, thereby performing a pressure-sensitive adhesive force reduction step of reducing the pressure-sensitive adhesive force of the pressure-sensitive adhesive layer 25 acting on the package substrate 11. . Here, an example in which the external stimulus is applied by heating and the adhesive tape 21 is heated by the heating table 46 will be described.

図6(A)は、パッケージ基板11が加熱テーブル46上に配置された状態を示す一部断面正面図である。加熱テーブル46の上面は、パッケージ基板11が保持される保持面46aを構成する。複数のデバイスチップ27に分割されたパッケージ基板11は、粘着テープ21が保持面46aと接するように加熱テーブル46上に配置される。   FIG. 6A is a partial cross-sectional front view showing a state in which the package substrate 11 is placed on the heating table 46. The upper surface of the heating table 46 constitutes a holding surface 46 a that holds the package substrate 11. The package substrate 11 divided into the plurality of device chips 27 is arranged on the heating table 46 so that the adhesive tape 21 contacts the holding surface 46a.

加熱テーブル46の保持面46aは、加熱テーブル46の内部に設けられた吸引路(不図示)等を介してエジェクタ等の吸引源(不図示)に接続されている。加熱テーブル46上にパッケージ基板11を配置した状態で、保持面46aに吸引源の負圧を作用させることにより、パッケージ基板11が加熱テーブル46によって吸引保持される。   The holding surface 46 a of the heating table 46 is connected to a suction source (not shown) such as an ejector via a suction path (not shown) provided inside the heating table 46. The package substrate 11 is suction-held by the heating table 46 by applying a negative pressure of the suction source to the holding surface 46 a with the package substrate 11 placed on the heating table 46.

また、加熱テーブル46は、その内部にヒーター等の熱源80を備える。パッケージ基板11が加熱テーブル46上に配置された状態で熱源80を作動させると、熱源80が発する熱によって粘着テープ21が加熱され、粘着層25に含まれる膨張材が膨張する。その結果、粘着層25の上面に凹凸が形成されてパッケージ基板11と粘着層25との密着性が低下し、パッケージ基板11に作用する粘着層25の粘着力が低下する。   Further, the heating table 46 includes a heat source 80 such as a heater therein. When the heat source 80 is operated with the package substrate 11 placed on the heating table 46, the adhesive tape 21 is heated by the heat generated by the heat source 80, and the expansive material contained in the adhesive layer 25 expands. As a result, unevenness is formed on the upper surface of the adhesive layer 25, the adhesiveness between the package substrate 11 and the adhesive layer 25 decreases, and the adhesive force of the adhesive layer 25 acting on the package substrate 11 decreases.

次に、粘着テープ21上に配置された複数のデバイスチップ27をスキージ52で押して移動させることにより、収容ケース54に複数のデバイスチップ27を収容するチップ収容ステップを実施する。図6(B)は、デバイスチップ27が収容ケース54に収容される様子を示す一部断面正面図である。   Next, a chip accommodating step of accommodating the device chips 27 in the accommodating case 54 is performed by pushing and moving the device chips 27 arranged on the adhesive tape 21 with the squeegee 52. FIG. 6B is a partial cross-sectional front view showing how the device chip 27 is housed in the housing case 54.

スキージ52は、昇降機構50に連結された本体部82と、本体部82に連結された板状の庇部84とを備える。本体部82は、その高さ方向がX軸方向に沿うように配置された四角柱状の支持部82aと、支持部82aから下方に突出する四角柱状の押し出し部82bとを備える。押し出し部82bは、本体部82の前端(X軸方向の一端側)から後端(X軸方向の他端側)にわたって設けられており、押し出し部82bのY軸方向における幅は、支持部82aのY軸方向における幅よりも小さい。   The squeegee 52 includes a main body portion 82 connected to the elevating mechanism 50 and a plate-shaped eave portion 84 connected to the main body portion 82. The main body portion 82 includes a support portion 82a in the shape of a quadrangular prism that is arranged such that its height direction extends along the X-axis direction, and a push-out portion 82b in the shape of a quadrangular prism that projects downward from the support portion 82a. The push-out portion 82b is provided from the front end (one end side in the X-axis direction) to the rear end (the other end side in the X-axis direction) of the main body portion 82, and the width of the push-out portion 82b in the Y-axis direction is the support portion 82a. Is smaller than the width in the Y-axis direction.

本体部82は、例えばステンレス鋼(SUS)等によって形成される。なお、押し出し部82bは、後述の通り加熱テーブル46上に配置されたデバイスチップ27と接触する領域である。そのため、押し出し部82bを樹脂等の柔軟な材料によって形成してもよい。これにより、押し出し部82bとデバイスチップ27とが接触した際、デバイスチップ27が損傷しにくくなる。   The body portion 82 is formed of, for example, stainless steel (SUS) or the like. The pushing portion 82b is a region that comes into contact with the device chip 27 arranged on the heating table 46 as described later. Therefore, the extruded portion 82b may be formed of a flexible material such as resin. This makes it difficult for the device chip 27 to be damaged when the pushing portion 82b and the device chip 27 come into contact with each other.

庇部84は、支持部82aの下面と押し出し部82bの側面とに接し、本体部82から基台4の開口4i側に向かって、加熱テーブル46の保持面46aと概ね平行に配置されている。例えば庇部84は、パッケージ基板11の形状に対応して平面視で矩形状に形成される。   The eaves portion 84 is in contact with the lower surface of the supporting portion 82a and the side surface of the pushing portion 82b, and is arranged substantially parallel to the holding surface 46a of the heating table 46 from the main body portion 82 toward the opening 4i side of the base 4. . For example, the eaves portion 84 is formed in a rectangular shape in plan view corresponding to the shape of the package substrate 11.

また、庇部84は、パッケージ基板11を覆うことが可能な大きさに形成される。具体的には、庇部84のX軸方向(前後方向)における長さは、加熱テーブル46上に配置されたパッケージ基板11のX軸方向における長さよりも長い。また、庇部84のY軸方向(左右方向)における長さは、加熱テーブル46上に保持されたパッケージ基板11のY軸方向における長さよりも長い。   Further, the eaves portion 84 is formed in a size capable of covering the package substrate 11. Specifically, the length of the eaves portion 84 in the X-axis direction (front-back direction) is longer than the length of the package substrate 11 arranged on the heating table 46 in the X-axis direction. Further, the length of the eaves portion 84 in the Y-axis direction (left-right direction) is longer than the length of the package substrate 11 held on the heating table 46 in the Y-axis direction.

なお、スキージ52は、加熱テーブル46に向かって温風を噴射する温風噴射ノズルを備えていてもよい。加熱テーブル46上にパッケージ基板11が配置された状態で温風噴射ノズルから温風を噴射させることにより、パッケージ基板11の表面11a側の乾燥が行われる。   Note that the squeegee 52 may include a warm air jet nozzle that jets warm air toward the heating table 46. The front surface 11a side of the package substrate 11 is dried by injecting warm air from the warm air jet nozzle while the package substrate 11 is placed on the heating table 46.

チップ収容ステップでは、まず、収容アーム48(図2参照)及び昇降機構50を作動させ、スキージ52の位置を調整する。具体的には、押し出し部82bの下端がデバイスチップ27の上面よりも下方で、且つ、粘着テープ21の上面(粘着層25の上面)よりも上方に配置されるとともに、庇部84によって複数のデバイスチップ27が覆われるように、スキージ52を位置付ける(図6(A)参照)。   In the chip accommodating step, first, the accommodating arm 48 (see FIG. 2) and the elevating mechanism 50 are operated to adjust the position of the squeegee 52. Specifically, the lower end of the extruded portion 82 b is arranged below the upper surface of the device chip 27 and above the upper surface of the adhesive tape 21 (the upper surface of the adhesive layer 25), and the eaves portion 84 makes a plurality of parts. The squeegee 52 is positioned so that the device chip 27 is covered (see FIG. 6A).

この状態で、収容アーム48を基台4の開口4i側に向かって移動させる。これにより、押し出し部82bが加熱テーブル46上に配置されたデバイスチップ27と接触し、デバイスチップ27は開口4i側に向かって押される。   In this state, the storage arm 48 is moved toward the opening 4i side of the base 4. As a result, the pushing portion 82b comes into contact with the device chip 27 arranged on the heating table 46, and the device chip 27 is pushed toward the opening 4i side.

このとき、複数のデバイスチップ27と接する粘着層25の粘着力は、前述の粘着力低下ステップの実施によって低下している。そのため、図6(B)に示すようにスキージ52の押し出し部82bによってデバイスチップ27が押されると、デバイスチップ27は粘着層25上を容易に移動する。そして、デバイスチップ27は基台4の開口4iに投入され、開口4iの内部に設けられた収容ケース54に収容される。   At this time, the adhesive force of the adhesive layer 25 in contact with the plurality of device chips 27 is reduced by the above-described adhesive force reducing step. Therefore, as shown in FIG. 6 (B), when the device chip 27 is pushed by the pushing portion 82b of the squeegee 52, the device chip 27 easily moves on the adhesive layer 25. Then, the device chip 27 is put into the opening 4i of the base 4 and housed in the housing case 54 provided inside the opening 4i.

なお、スキージ52でデバイスチップ27を押して移動させる際、デバイスチップ27は庇部84に覆われている。これにより、デバイスチップ27の飛散が防止され、デバイスチップ27を基台4の開口4iに確実に投入できる。   When the squeegee 52 pushes and moves the device chip 27, the device chip 27 is covered with the eaves portion 84. As a result, the device chips 27 are prevented from scattering, and the device chips 27 can be reliably put into the opening 4i of the base 4.

また、パッケージ基板11は、端材領域15が除去された状態(図5(A)参照)で加熱テーブル46上に配置されている。そのため、スキージ52を用いてデバイスチップ27を収容ケース54に収容する際、収容ケース54への端材領域15の混入が防止され、デバイスチップ27のみが収容ケース54に収容される。   Further, the package substrate 11 is arranged on the heating table 46 in a state where the end material region 15 is removed (see FIG. 5A). Therefore, when the device chip 27 is housed in the housing case 54 using the squeegee 52, the end material region 15 is prevented from being mixed into the housing case 54, and only the device chip 27 is housed in the housing case 54.

以上の通り、本実施形態に係るパッケージ基板の加工方法では、パッケージ基板11に対応する大きさの粘着テープ21を介して、パッケージ基板11をチャックテーブル30によって保持する。これにより、パッケージ基板11を環状フレームによって支持する場合と比較して粘着テープ21の使用量が削減され、パッケージ基板11の分割に要するコストが低減される。   As described above, in the method of processing a package substrate according to this embodiment, the package substrate 11 is held by the chuck table 30 via the adhesive tape 21 having a size corresponding to the package substrate 11. As a result, the amount of the adhesive tape 21 used is reduced as compared with the case where the package substrate 11 is supported by the annular frame, and the cost required for dividing the package substrate 11 is reduced.

また、パッケージ基板11が複数のデバイスチップに分割された後、各デバイスチップはチャックテーブル30によって吸引された粘着テープ21に貼着された状態で保持される。その結果、デバイスチップがチャックテーブル30上で確実に保持され、デバイスチップの飛散が防止される。   After the package substrate 11 is divided into a plurality of device chips, each device chip is held in a state of being attached to the adhesive tape 21 sucked by the chuck table 30. As a result, the device chips are securely held on the chuck table 30, and the device chips are prevented from scattering.

さらに、本実施形態に係るパッケージ基板の加工方法では、外的刺激によって膨張する膨張材を含む粘着層25を備える粘着テープ21を介して、パッケージ基板11が保持される。そして、粘着テープ21に外的刺激を付与して膨張材を膨張させることによってパッケージ基板11に作用する粘着層25の粘着力を低下させた後、切削装置2に設けられたスキージ52によって複数のデバイスチップ27を一括で収容ケース54に収容する。これにより、デバイスチップ27の収容を自動で簡易に行うことができる。   Further, in the method of processing a package substrate according to the present embodiment, the package substrate 11 is held via the adhesive tape 21 including the adhesive layer 25 containing an expansive material that expands by an external stimulus. Then, the adhesive force of the adhesive layer 25 acting on the package substrate 11 is reduced by applying an external stimulus to the adhesive tape 21 to expand the expandable material, and then a plurality of squeegees 52 provided in the cutting device 2 are used. The device chips 27 are collectively housed in the housing case 54. This allows the device chips 27 to be automatically and easily accommodated.

なお、本実施形態では、熱源80を備える加熱テーブル46によって粘着テープ21に外的刺激(熱)を付与する例について説明したが(図6(A)参照)、外的刺激の付与の方法は、粘着テープ21の粘着層25に含まれる膨張材の材料等に応じて選択される。例えば、紫外線の照射によって膨張する膨張材が粘着層25に含まれている場合には、加熱テーブル46に代えて、例えば紫外線光源を備えるテーブルを用いる。この紫外線光源から粘着テープ21に紫外線を照射することにより、粘着層25の粘着力を低下させることができる。   In addition, in the present embodiment, an example in which an external stimulus (heat) is applied to the adhesive tape 21 by the heating table 46 including the heat source 80 has been described (see FIG. 6A), but a method of applying the external stimulus is described. It is selected according to the material of the expansion material contained in the adhesive layer 25 of the adhesive tape 21 and the like. For example, when the adhesive layer 25 contains an expansive material that expands by irradiation with ultraviolet rays, a table including an ultraviolet light source is used instead of the heating table 46. By irradiating the adhesive tape 21 with ultraviolet rays from this ultraviolet light source, the adhesive strength of the adhesive layer 25 can be reduced.

また、切削装置2には、使用済みの粘着テープ21を回収する粘着テープ回収ユニットを備えていてもよい。具体的には、収容アーム48には、デバイスチップ27の収容後に加熱テーブル46上に残った使用済みの粘着テープ21を吸引保持する粘着テープ保持部材(不図示)が装着されていてもよい。また、加熱テーブル46の周辺には、使用済みの粘着テープ21が収容されるテープ収容部(不図示)が設けられていてもよい。   In addition, the cutting device 2 may include an adhesive tape recovery unit that recovers the used adhesive tape 21. Specifically, the accommodating arm 48 may be equipped with an adhesive tape holding member (not shown) that suction-holds the used adhesive tape 21 remaining on the heating table 46 after accommodating the device chips 27. Further, a tape accommodating portion (not shown) in which the used adhesive tape 21 is accommodated may be provided around the heating table 46.

デバイスチップ27が収容ケース54に収容された後、加熱テーブル46上に配置された使用済みの粘着テープ21を粘着テープ保持部材によって吸引保持する。そして、収容アーム48によって粘着テープ21をテープ収容部まで移動させた後、粘着テープ保持部材による粘着テープ21の吸引保持を解除する。これにより、使用済みの粘着テープ21を自動で回収することが可能となる。   After the device chip 27 is housed in the housing case 54, the used adhesive tape 21 placed on the heating table 46 is sucked and held by the adhesive tape holding member. Then, after the adhesive tape 21 is moved to the tape accommodating portion by the accommodating arm 48, the suction holding of the adhesive tape 21 by the adhesive tape holding member is released. As a result, the used adhesive tape 21 can be automatically collected.

その他、上記実施形態に係る構造、方法等は、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施できる。   In addition, the structures, methods, and the like according to the above-described embodiments can be appropriately modified and implemented without departing from the scope of the object of the present invention.

11 パッケージ基板
11a 表面
11b 裏面
13 デバイス領域
13a 領域
15 端材領域
17 分割予定ライン(ストリート)
21 粘着テープ
23 基材層
25 粘着層
27 デバイスチップ
2 切削装置
4 基台
4a 第1面
4b 第2面
4c 第3面
4d,4f,4i 開口
4e,4g,4h スリット
6 カセットエレベータ
8 カセット
12 仮置きユニット
14a,14b ガイドレール
16 搬出機構
16a 把持部
18 搬送アーム
20 昇降機構
22 吸引パッド
24 撮像ユニット
26 X軸移動テーブル
28 防塵防滴カバー
30 チャックテーブル
30a 保持面
32 切削ユニット
34 切削ブレード
36 洗浄ユニット
38 搬送アーム
40 昇降機構
42 吸引パッド
44 洗浄ユニット
46 加熱テーブル
46a 保持面
48 収容アーム
50 昇降機構
52 スキージ
54 収容ケース
56 引き出し
58 操作パネル
60 モニタ
70 治具ベース
72 治具
74 吸引部
76 溝
78 スピンドル
80 熱源
82 本体部
82a 支持部
82b 押し出し部
84 庇部
11 package substrate 11a front surface 11b back surface 13 device area 13a area 15 end material area 17 planned division line (street)
21 Adhesive tape 23 Base material layer 25 Adhesive layer 27 Device chip 2 Cutting device 4 Base 4a 1st surface 4b 2nd surface 4c 3rd surface 4d, 4f, 4i opening 4e, 4g, 4h slit 6 cassette elevator 8 cassette 12 temporary Placement unit 14a, 14b Guide rail 16 Carrying out mechanism 16a Grip 18 Transfer arm 20 Lifting mechanism 22 Suction pad 24 Imaging unit 26 X-axis moving table 28 Dustproof / splash cover 30 Chuck table 30a Holding surface 32 Cutting unit 34 Cutting blade 36 Cleaning unit 38 Transport Arm 40 Lifting Mechanism 42 Suction Pad 44 Cleaning Unit 46 Heating Table 46a Holding Surface 48 Storage Arm 50 Lifting Mechanism 52 Squeegee 54 Storage Case 56 Drawer 58 Operation Panel 60 Monitor 70 Jig Base 72 Jig 4 suction portion 76 the groove 78 the spindle 80 the heat source 82 the main body portion 82a supporting portion 82b extrusion portion 84 overhanging portion

Claims (3)

格子状に配列された複数の分割予定ラインによって区画された複数の領域を備えるパッケージ基板の加工方法であって、
外的刺激によって膨張する膨張材を含む粘着層を備え、該パッケージ基板に対応する大きさを有する粘着テープを、該パッケージ基板の裏面側に貼着する粘着テープ貼着ステップと、
該粘着テープを介して該パッケージ基板をチャックテーブルによって保持し、該分割予定ラインに沿って該パッケージ基板を表面側から切削することにより、該パッケージ基板を複数のデバイスチップに分割する分割ステップと、
該分割ステップの実施後、該粘着テープに該外的刺激を付与して該膨張材を膨張させることにより、該パッケージ基板に作用する該粘着層の粘着力を低下させる粘着力低下ステップと、
該粘着力低下ステップの実施後、該粘着テープ上に配置された複数の該デバイスチップをスキージで押して移動させることにより、収容ケースに複数の該デバイスチップを収容するチップ収容ステップと、を備えることを特徴とするパッケージ基板の加工方法。
A method of processing a package substrate comprising a plurality of regions partitioned by a plurality of planned dividing lines arranged in a lattice,
An adhesive tape attaching step of attaching an adhesive tape having an expansion material that expands due to external stimulus, the adhesive tape having a size corresponding to the package substrate, to the back surface side of the package substrate,
A dividing step of dividing the package substrate into a plurality of device chips by holding the package substrate by a chuck table via the adhesive tape and cutting the package substrate from the surface side along the dividing line;
An adhesive strength lowering step of lowering the adhesive strength of the adhesive layer acting on the package substrate by applying the external stimulus to the adhesive tape to expand the expandable material after performing the dividing step;
A chip accommodating step of accommodating the device chips in the accommodating case by pushing and moving the device chips arranged on the adhesive tape with a squeegee after the adhesiveness lowering step is performed. And a method of processing a package substrate.
該パッケージ基板は、デバイスが配設されたデバイス領域と、該デバイス領域を囲繞する端材領域とを有し、
該チャックテーブルは、該デバイス領域と該端材領域との境界に対応した位置に溝を有し、
該分割ステップは、
該粘着テープを介して該パッケージ基板を該チャックテーブルによって保持する保持ステップと、
該パッケージ基板を該デバイス領域と該端材領域との境界に沿って該粘着テープごと切削ブレードで切削し、該端材領域を該デバイス領域から分断して除去する端材領域分断ステップと、
該端材領域が除去された該パッケージ基板の該デバイス領域を該分割予定ラインに沿って切削し、該粘着テープを分断せずに該デバイス領域を複数の該デバイスチップに分割するデバイス領域分割ステップと、を備えることを特徴とする請求項1記載のパッケージ基板の加工方法。
The package substrate has a device region in which devices are arranged, and an end material region surrounding the device region,
The chuck table has a groove at a position corresponding to a boundary between the device region and the end material region,
The dividing step is
A holding step of holding the package substrate by the chuck table via the adhesive tape;
An edge material region dividing step of cutting the package substrate together with the adhesive tape along a boundary between the device region and the edge material region with a cutting blade, and dividing and removing the edge material region from the device region,
A device region dividing step of cutting the device region of the package substrate from which the end material region has been removed along the dividing line, and dividing the device region into a plurality of the device chips without dividing the adhesive tape. The method for processing a package substrate according to claim 1, further comprising:
該チップ収容ステップでは、該パッケージ基板の分割によって得られた該デバイスチップのみが該収容ケースに収容されることを特徴とする請求項1または2記載のパッケージ基板の加工方法。   3. The method of processing a package substrate according to claim 1, wherein in the chip accommodation step, only the device chip obtained by dividing the package substrate is accommodated in the accommodation case.
JP2018191594A 2018-10-10 2018-10-10 Package substrate processing method Pending JP2020061453A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018191594A JP2020061453A (en) 2018-10-10 2018-10-10 Package substrate processing method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018191594A JP2020061453A (en) 2018-10-10 2018-10-10 Package substrate processing method

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2020061453A true JP2020061453A (en) 2020-04-16

Family

ID=70220318

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018191594A Pending JP2020061453A (en) 2018-10-10 2018-10-10 Package substrate processing method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2020061453A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2023209871A1 (en) * 2022-04-27 2023-11-02 ヤマハ発動機株式会社 Wafer processing apparatus, method for manufacturing semiconductor chip, and semiconductor chip

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014116461A (en) * 2012-12-10 2014-06-26 Disco Abrasive Syst Ltd Dividing device
JP2014143268A (en) * 2013-01-23 2014-08-07 Disco Abrasive Syst Ltd Tape peeling method and tape peeling device
JP2015041731A (en) * 2013-08-23 2015-03-02 株式会社ディスコ Dividing method of package substrate
JP2015088558A (en) * 2013-10-29 2015-05-07 Towa株式会社 Device and method of manufacturing electronic components

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014116461A (en) * 2012-12-10 2014-06-26 Disco Abrasive Syst Ltd Dividing device
JP2014143268A (en) * 2013-01-23 2014-08-07 Disco Abrasive Syst Ltd Tape peeling method and tape peeling device
JP2015041731A (en) * 2013-08-23 2015-03-02 株式会社ディスコ Dividing method of package substrate
JP2015088558A (en) * 2013-10-29 2015-05-07 Towa株式会社 Device and method of manufacturing electronic components

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2023209871A1 (en) * 2022-04-27 2023-11-02 ヤマハ発動機株式会社 Wafer processing apparatus, method for manufacturing semiconductor chip, and semiconductor chip

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102582783B1 (en) Machining method, etching apparatus and laser machining apparatus
JP5009179B2 (en) Wafer transfer device and wafer processing device
JP2010021464A (en) Chuck table of working device
JP2017143146A (en) Cutting device
TWI813850B (en) Chuck table
JP2020061453A (en) Package substrate processing method
TW201740445A (en) Workpiece processing method
JP7126750B2 (en) cutting equipment
TW202221779A (en) Chuck table and laser processing apparatus
JP7166709B2 (en) cutting equipment
CN110620076A (en) Belt extension device
JP5422176B2 (en) Holding table and cutting device
JP7242268B2 (en) Dicing machine
JP7208700B2 (en) CHUCK TABLE UNIT OF CUTTING MACHINE AND METHOD FOR DIVISION OF WORKED WORK
JP2002353170A (en) Dividing system, dividing method and dicing device for semiconductor wafer
JP6804154B2 (en) Package substrate processing method and cutting equipment
TWI402933B (en) Vacuum chuck table of semiconductor device cutting apparatus capable of supplying cooling water
JP5288785B2 (en) Wafer processing equipment
JP6084115B2 (en) Processing equipment
JP6943389B2 (en) Processing method of work piece
JP7286233B2 (en) Chip manufacturing method
TW202333269A (en) Cleaning apparatus capable of reliably removing foreign matters adhered to a workpiece
JP5954978B2 (en) Tool for cutting tools
US20230115306A1 (en) Cleaning assembly
JP6934395B2 (en) Dividing device and dividing method

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20210811

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20220907

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220913

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20230307