JP2020020916A - Optical scanning element - Google Patents

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JP2020020916A JP2018143226A JP2018143226A JP2020020916A JP 2020020916 A JP2020020916 A JP 2020020916A JP 2018143226 A JP2018143226 A JP 2018143226A JP 2018143226 A JP2018143226 A JP 2018143226A JP 2020020916 A JP2020020916 A JP 2020020916A
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Minoru Sasaki
佐々木  実
良宏 高橋
Yoshihiro Takahashi
良宏 高橋
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Toyota Gauken
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Yazaki Corp
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Abstract

To provide an optical scanning element which can simplify the manufacturing process.SOLUTION: An optical scanning element 1A includes: a reflection unit 11 in the shape of a flat plate for reflecting a light; a rocking shaft 12 for rocking the reflection unit 11; a mirror 3 on the rocking shaft 12 of the reflection unit 11, the mirror having a beam part 13 swingably supporting the reflection unit 11 to a seating 8; and a deflection angle detector 5 for detecting a deflection angle in the rocking direction of the mirror 3, the deflection angle detector 5 detecting, as the deflection angle of the mirror 3, a change in a magnetic flux caused by mirror rocking operations by a mirror driving unit 7, including driving and rocking the mirror 3.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、光走査素子に関する。   The present invention relates to an optical scanning device.

光走査素子は、揺動するミラーにレーザ光等の光を反射させて光走査を行うものである。光走査素子は、例えば、レーザプロジェクタやヘッドアップディスプレイ(HUD:Head Up Display)等の様々な機器に用いられている。光走査素子は、例えば、マイクロ電気機械システム(MEMS:Micro Electro Mechanical System)技術を用いたMEMSミラーがある。   The optical scanning element performs optical scanning by reflecting light such as laser light on a swinging mirror. The optical scanning element is used in various devices such as a laser projector and a head-up display (HUD). As the optical scanning element, for example, there is a MEMS mirror using a micro electro mechanical system (MEMS) technology.

MEMSミラーは、例えば、シリコンウエハを加工して弾性を持たせた部分にコイルを配置して外部から磁力を与えて可動部とし、可動部に反射面を形成してレーザ光を反射させることで光を偏向して走査するものである。例えば、特許文献1では、X軸周りに揺動可能な枠体部と、枠体部をX軸周りに揺動可能に支持する軸部と、軸部の厚さよりも厚く形成され、軸部を支持する支持部と、枠体部に設けられたコイルと、コイルに作用する磁界を発生させる永久磁石と、支持部に設けられた軟磁性体とを備える光スキャナーが開示されている。   For example, a MEMS mirror is configured by processing a silicon wafer, placing a coil in a portion having elasticity, applying a magnetic force from the outside to a movable portion, forming a reflective surface on the movable portion and reflecting a laser beam. It scans by deflecting light. For example, in Patent Literature 1, a frame portion that can swing around the X axis, a shaft portion that supports the frame portion so as to swing around the X axis, and a shaft portion that is formed thicker than the thickness of the shaft portion. There is disclosed an optical scanner including a support portion for supporting the magnetic field, a coil provided on the frame portion, a permanent magnet for generating a magnetic field acting on the coil, and a soft magnetic material provided on the support portion.

特開2014−56211号公報JP 2014-56211 A

しかしながら、従来のMEMSミラーは、シリコンウエハにコイルを配置したり、ピエゾ抵抗素子を形成して可動部の振れ角を検出しているが、複雑な製造プロセスが必要であり、改善の余地がある。   However, the conventional MEMS mirror detects the deflection angle of the movable part by disposing a coil on a silicon wafer or forming a piezoresistive element, but requires a complicated manufacturing process and has room for improvement. .

本発明は、製造プロセスを簡略化することができる光走査素子を提供することを目的とする。   An object of the present invention is to provide an optical scanning element capable of simplifying a manufacturing process.

上記目的を達成するため、本発明に係る光走査素子は、光を反射する平板状の反射部と、前記反射部を揺動させる第1揺動軸と、前記反射部の前記第1揺動軸上に設けられ、台座に対して前記反射部を揺動自在に支持する一対の第1梁部と、を有するミラーと、前記ミラーを揺動させるミラー駆動部と、前記ミラーの揺動方向の振れ角を検出する第1振れ角検出部と、を備え、前記第1振れ角検出部は、前記ミラー駆動部が駆動から前記ミラーを揺動するまでのミラー揺動動作に起因する磁束の変化を前記ミラーの振れ角として検出することを特徴とする。   In order to achieve the above object, an optical scanning device according to the present invention includes a flat reflecting portion for reflecting light, a first swing axis for swinging the reflecting portion, and a first swinging motion of the reflecting portion. A mirror provided on a shaft and having a pair of first beams for swingably supporting the reflecting portion with respect to a base, a mirror driving unit for swinging the mirror, and a swinging direction of the mirror A first deflection angle detection unit for detecting a deflection angle of the mirror, wherein the first deflection angle detection unit detects a magnetic flux caused by a mirror swing operation from the driving of the mirror driving unit to the swing of the mirror. The change is detected as a deflection angle of the mirror.

また、上記光走査素子において、前記ミラーは、少なくとも前記第1梁部が、歪みが生じると磁束が変化する磁性材料で構成され、前記第1振れ角検出部は、少なくとも前記反射部の揺動に起因する前記第1梁部の磁束の変化を前記ミラーの振れ角として検出することが好ましい。   Further, in the optical scanning element, in the mirror, at least the first beam portion is made of a magnetic material whose magnetic flux changes when distortion occurs, and the first deflection angle detection unit includes at least a swing of the reflection unit. It is preferable to detect a change in the magnetic flux of the first beam portion caused by the deviation as a deflection angle of the mirror.

また、上記光走査素子において、前記ミラー駆動部は、前記台座のうち、前記第1揺動軸上とは異なる位置に少なくとも1つ配置され、かつ前記反射部に磁力を与えて揺動させることが好ましい。   Further, in the optical scanning element, at least one of the mirror driving units is disposed at a position on the pedestal different from the first oscillating axis, and oscillates by applying a magnetic force to the reflecting unit. Is preferred.

また、上記光走査素子において、前記ミラー駆動部は、前記ミラーの対角線上にあって前記第1揺動軸を挟んで対向する位置に配置されることが好ましい。   Further, in the above-mentioned optical scanning element, it is preferable that the mirror driving section is disposed at a position on a diagonal line of the mirror and opposed to the first swing axis.

また、上記光走査素子において、前記第1振れ角検出部は、巻き線コイルを含んで構成され、前記巻き線コイルの中心軸と前記第1梁部に対応する第1揺動軸とが重なる位置、または、平行となる位置に配置されることが好ましい。   In the optical scanning device, the first deflection angle detection unit includes a winding coil, and a center axis of the winding coil and a first swing axis corresponding to the first beam overlap. It is preferable to be arranged at a position or a parallel position.

また、上記光走査素子において、枠状に形成され、かつ内側に前記第1梁部を介して接続された前記ミラーを有する平板状の枠部と、平面視において前記第1揺動軸と直交する第2揺動軸と、前記枠部の前記第2揺動軸上に設けられ、前記台座に対して前記枠部を揺動自在に支持する一対の第2梁部と、を有するフレームと、前記フレームの揺動方向の振れ角を検出する第2振れ角検出部と、をさらに備え、前記第2振れ角検出部は、前記ミラー駆動部が駆動から前記フレームを揺動するまでのフレーム揺動動作に起因する磁束の変化を前記フレームの振れ角として検出し、前記フレームは、少なくとも前記第2梁部が、歪みが生じると磁束が変化する磁性材料で構成され、前記第2振れ角検出部は、巻き線コイルを含んで構成され、少なくとも前記巻き線コイルの中心軸と前記第2梁部に対応する第2揺動軸とが重なる位置に配置され、前記枠部の揺動に起因する前記第2梁部の磁束の変化を前記フレームの振れ角として検出する、ことが好ましい。   Further, in the optical scanning element, a flat frame portion formed in a frame shape and having the mirror connected to the inside through the first beam portion, wherein the flat frame portion is orthogonal to the first swing axis in plan view. A frame provided with a second swinging shaft to be driven and a pair of second beam portions provided on the second swinging shaft of the frame portion and swingably supporting the frame portion with respect to the base. A second deflection angle detection unit that detects a deflection angle of the frame in a swing direction, wherein the second deflection angle detection unit includes a frame from when the mirror driving unit is driven until the frame swings. A change in magnetic flux caused by the swinging operation is detected as a deflection angle of the frame. In the frame, at least the second beam portion is made of a magnetic material that changes a magnetic flux when distortion occurs, and the second deflection angle is changed. The detection unit is configured to include a winding coil, The center axis of the winding coil and a second swing axis corresponding to the second beam portion are also arranged at overlapping positions, and the change in the magnetic flux of the second beam portion caused by the swing of the frame portion is suppressed. It is preferable to detect it as the deflection angle of the frame.

本発明に係る光走査素子によれば、製造プロセスを簡略化することができるという効果を奏する。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to the optical scanning element which concerns on this invention, there exists an effect that a manufacturing process can be simplified.

図1は、第1実施形態に係る光走査素子の概略構成を示す平面図である。FIG. 1 is a plan view showing a schematic configuration of the optical scanning element according to the first embodiment. 図2は、第1実施形態に係る光走査素子の概略構成を示す縦断面図である。FIG. 2 is a longitudinal sectional view illustrating a schematic configuration of the optical scanning element according to the first embodiment. 図3は、第1実施形態に係るミラーの揺動動作を示す模式図である。FIG. 3 is a schematic diagram illustrating the swinging operation of the mirror according to the first embodiment. 図4は、第1実施形態に係るミラーの振れ角検出を説明するための模式図である。FIG. 4 is a schematic diagram for explaining the deflection angle detection of the mirror according to the first embodiment. 図5は、第1実施形態の変形例1に係る光走査素子の概略構成を示す平面図である。FIG. 5 is a plan view illustrating a schematic configuration of the optical scanning element according to the first modification of the first embodiment. 図6は、第1実施形態の変形例2に係る光走査素子の概略構成を示す平面図である。FIG. 6 is a plan view illustrating a schematic configuration of an optical scanning element according to Modification 2 of the first embodiment. 図7は、第2実施形態に係る光走査素子の概略構成を示す平面図である。FIG. 7 is a plan view illustrating a schematic configuration of the optical scanning element according to the second embodiment. 図8は、第2実施形態に係る光走査素子の概略構成を示す縦断面図である。FIG. 8 is a longitudinal sectional view illustrating a schematic configuration of the optical scanning element according to the second embodiment. 図9(A)、図9(B)は、第2実施形態に係る光走査素子の低周波の通電電流波形とミラーの振れ角との関係を示す図である。FIGS. 9A and 9B are diagrams illustrating the relationship between the low-frequency current flow waveform of the optical scanning element according to the second embodiment and the deflection angle of the mirror. 図10(A)、図10(B)は、第2実施形態に係る光走査素子の高周波の通電電流波形とミラーの振れ角との関係を示す図である。FIGS. 10A and 10B are diagrams showing the relationship between the high-frequency current flow of the optical scanning element according to the second embodiment and the deflection angle of the mirror. 図11は、第2実施形態に係るミラーの振れ角検出を説明するための模式図である。FIG. 11 is a schematic diagram illustrating the detection of the deflection angle of the mirror according to the second embodiment. 図12は、第2実施形態の変形例1に係る光走査素子の概略構成を示す平面図である。FIG. 12 is a plan view illustrating a schematic configuration of an optical scanning element according to Modification Example 1 of the second embodiment. 図13は、第2実施形態の変形例2に係る光走査素子の概略構成を示す平面図である。FIG. 13 is a plan view illustrating a schematic configuration of an optical scanning element according to Modification 2 of the second embodiment. 図14は、第2実施形態に係る第1振れ角検出部の配置例を示す斜視図である。FIG. 14 is a perspective view illustrating an arrangement example of a first deflection angle detection unit according to the second embodiment.

以下に、本発明の実施形態に係る光走査素子を図面を参照しながら詳細に説明する。なお、以下に示す実施形態により本発明が限定されるものではない。また、下記の実施形態における構成要素には、当業者が置換可能かつ容易なもの、あるいは実質的に同一のものが含まれる。   Hereinafter, an optical scanning device according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The present invention is not limited by the embodiments described below. The components in the following embodiments include those that can be easily replaced by those skilled in the art, or those that are substantially the same.

[第1実施形態]
図1は、第1実施形態に係る光走査素子の概略構成を示す平面図である。図2は、第1実施形態に係る光走査素子の概略構成を示す縦断面図である。図3は、第1実施形態に係るミラーの揺動動作を示す模式図である。図4は、第1実施形態に係るミラーの振れ角検出を説明するための模式図である。図5は、第1実施形態の変形例1に係る光走査素子の概略構成を示す平面図である。図6は、第1実施形態の変形例2に係る光走査素子の概略構成を示す平面図である。なお、図2は、図1中のA−A断面図である。
[First Embodiment]
FIG. 1 is a plan view showing a schematic configuration of the optical scanning element according to the first embodiment. FIG. 2 is a longitudinal sectional view illustrating a schematic configuration of the optical scanning element according to the first embodiment. FIG. 3 is a schematic diagram illustrating the swinging operation of the mirror according to the first embodiment. FIG. 4 is a schematic diagram for explaining the deflection angle detection of the mirror according to the first embodiment. FIG. 5 is a plan view illustrating a schematic configuration of the optical scanning element according to the first modification of the first embodiment. FIG. 6 is a plan view illustrating a schematic configuration of an optical scanning element according to Modification 2 of the first embodiment. FIG. 2 is a sectional view taken along the line AA in FIG.

以下の説明では、図示のX方向は、光走査素子を平面視した場合における幅方向を示すものとし、Y方向はX方向に直交する方向であって奥行き方向を示すものとする。図示のZ方向は、X方向およびY方向に直交する上下方向を示すものとする。   In the following description, the illustrated X direction indicates the width direction when the optical scanning element is viewed in plan, and the Y direction indicates the depth direction that is orthogonal to the X direction. The illustrated Z direction indicates a vertical direction orthogonal to the X direction and the Y direction.

第1実施形態に係る光走査素子1Aは、図1および図2に示すように、いわゆる1軸方式のMEMSミラーである。光走査素子1Aは、例えば、レーザプロジェクタやヘッドアップディスプレイ等に利用される。光走査素子1Aは、ミラー3が揺動軸12周りに揺動しながら、光源(不図示)から出射されたレーザ光をスクリーン(不図示)に向けて反射することで当該スクリーンに画像を投影する。光走査素子1Aは、ボディ2と、ミラー3と、ボディ用支柱4と、台座8と、振れ角検出部5と、振れ角検出部用支柱6と、ミラー駆動部7とを含んで構成される。   The optical scanning element 1A according to the first embodiment is a so-called one-axis type MEMS mirror, as shown in FIGS. The optical scanning element 1A is used for, for example, a laser projector, a head-up display, and the like. The optical scanning element 1A projects an image on a screen by reflecting a laser beam emitted from a light source (not shown) toward a screen (not shown) while the mirror 3 swings around the swing axis 12. I do. The optical scanning element 1A includes a body 2, a mirror 3, a body support 4, a pedestal 8, a deflection angle detector 5, a deflection angle detector support 6, and a mirror driver 7. You.

ボディ2は、平板状に形成されたMEMSミラーの本体部である。ボディ2は、磁性材料およびシリコンウエハにより構成される。この磁性材料は、磁歪材料であり、例えば、Ni、Fe−Ni系合金、Fe−Co系合金、ソフトフェライト等が含まれる。ボディ2は、例えば、磁歪材料の薄膜がシリコンウエハ上に形成されたものである。磁歪材料は、一般的に、外部からの磁界により弾性変形する特性を有する。また、磁性材料は、外力により歪みが生じると磁束が変化する特性を有する。例えば、磁歪材料から成る平行梁の軸方向に圧縮応力を加えると磁化が減少して、平行梁の周囲の磁束が低下する。ボディ2は、揺動軸12上の両端部に外側に向けた突起部2aを有する。ボディ2は、ミラー3の周囲に一対の打ち抜き孔14が形成されている。打ち抜き孔14は、ボディ2を上下方向に貫通する孔であり、ミラー3を形作るように形成されている。   The body 2 is a main body of a MEMS mirror formed in a flat shape. The body 2 is made of a magnetic material and a silicon wafer. This magnetic material is a magnetostrictive material, and includes, for example, Ni, an Fe-Ni alloy, an Fe-Co alloy, and soft ferrite. The body 2 is, for example, a thin film of a magnetostrictive material formed on a silicon wafer. Magnetostrictive materials generally have the property of being elastically deformed by an external magnetic field. In addition, the magnetic material has a characteristic that a magnetic flux changes when a distortion occurs due to an external force. For example, when compressive stress is applied in the axial direction of a parallel beam made of a magnetostrictive material, the magnetization decreases, and the magnetic flux around the parallel beam decreases. The body 2 has outwardly projecting portions 2 a at both ends on the swing shaft 12. The body 2 has a pair of punched holes 14 formed around the mirror 3. The punched hole 14 is a hole penetrating the body 2 in the up-down direction, and is formed so as to form the mirror 3.

ミラー3は、平板状のボディ2の一部を抜き打ち加工して弾性を持たせた可動部であり、レーザ光等の光を反射する部分である。ミラー3は、反射部11と、揺動軸12と、一対の梁部13とを有する。反射部11は、光を反射する反射面11aを有する。揺動軸12は、第1揺動軸である。揺動軸12は、反射部11を揺動させる軸であり、奥行き方向に延びている。梁部13は、第1梁部であり、反射部11の揺動軸12上に設けられ、台座8に対して反射部11を揺動自在に支持するものである。梁部13は、ボディ2と反射部11とを接続する。梁部13は、反射部11の揺動軸であると共に、反射部11の揺動を抑制するねじりバネとしても機能する。梁部13は、反射部11の揺動軸12周りの揺動により弾性変形し、歪みが付加されると周囲の磁束が変化する。   The mirror 3 is a movable portion that is made elastic by punching a part of the flat body 2 and is a portion that reflects light such as a laser beam. The mirror 3 has a reflecting portion 11, a swing shaft 12, and a pair of beam portions 13. The reflection section 11 has a reflection surface 11a that reflects light. The swing shaft 12 is a first swing shaft. The swing shaft 12 is a shaft that swings the reflection unit 11, and extends in the depth direction. The beam portion 13 is a first beam portion, is provided on the swing shaft 12 of the reflection portion 11, and supports the reflection portion 11 so as to be able to swing with respect to the pedestal 8. Beam 13 connects body 2 and reflector 11. The beam 13 serves as a swing axis of the reflector 11 and also functions as a torsion spring for suppressing the swing of the reflector 11. The beam portion 13 is elastically deformed by the swing of the reflecting portion 11 around the swing axis 12, and the surrounding magnetic flux changes when strain is added.

ボディ用支柱4は、ボディ2の幅方向の両端部をそれぞれ支持するものである。ボディ用支柱4は、それぞれが奥行き方向に長い四角柱で構成され、台座8に立設されている。台座8は、ボディ2と略同じ矩形状を有し、反射部11に平行に載置されている。   The body supports 4 support both ends of the body 2 in the width direction. Each of the body supporting columns 4 is formed of a rectangular column that is long in the depth direction, and is erected on the pedestal 8. The pedestal 8 has substantially the same rectangular shape as the body 2, and is placed in parallel with the reflector 11.

振れ角検出部5は、第1振れ角検出部であり、図3に示すように、ミラー3の揺動方向の振れ角±θ(以下、単に「振れ角θ」とする)を検出するものである。振れ角検出部5は、例えば、ボディ2を挟んで奥行き方向に対向する位置に配置されている。言い換えると、振れ角検出部5は、揺動軸12上にあってミラー3を挟んで対向する位置に配置されている。振れ角検出部5は、例えば、ミラー駆動部7が駆動からミラー3を揺動するまでのミラー揺動動作において、反射部11の揺動に起因する梁部13の磁束の変化をミラー3の振れ角θとして検出する。振れ角検出部5は、巻き線コイル5aと、鉄心5bとを含んで構成される。巻き線コイル5aは、鉄心5bに巻かれた銅線である。鉄心5bは、巻き線コイル5aの内部に入れて磁気回路として用いる鋼材である。本実施形態の振れ角検出部5は、巻き線コイル5aの中心軸と、梁部13に対応する揺動軸12とが重なるように配置される。   The deflection angle detection unit 5 is a first deflection angle detection unit, and detects a deflection angle ± θ (hereinafter, simply referred to as “deflection angle θ”) in the swing direction of the mirror 3 as shown in FIG. It is. The deflection angle detection unit 5 is arranged, for example, at a position facing the depth direction with the body 2 interposed therebetween. In other words, the deflection angle detection unit 5 is disposed on the swing shaft 12 at a position facing the mirror 3. For example, in the mirror swinging operation from the driving of the mirror driving unit 7 to the swinging of the mirror 3, the swing angle detecting unit 5 detects the change in the magnetic flux of the beam 13 caused by the swinging of the reflecting unit 11. Is detected as the deflection angle θ. The deflection angle detector 5 includes a winding coil 5a and an iron core 5b. The winding coil 5a is a copper wire wound around an iron core 5b. The iron core 5b is a steel material that is inserted into the inside of the winding coil 5a and used as a magnetic circuit. The deflection angle detection unit 5 of the present embodiment is arranged so that the center axis of the winding coil 5a and the swing shaft 12 corresponding to the beam 13 overlap.

振れ角検出部用支柱6は、それぞれが振れ角検出部5を支持するものである。振れ角検出部用支柱6は、それぞれが幅方向に長い四角柱で構成される。振れ角検出部用支柱6は、例えば、台座8に立設されることが好ましいが、これに限定されるものではない。   The support columns 6 for the deflection angle detection unit each support the deflection angle detection unit 5. Each of the deflection angle detection portion columns 6 is formed of a rectangular column that is long in the width direction. It is preferable that the swing angle detection unit support column 6 be erected on the pedestal 8, for example, but it is not limited to this.

ミラー駆動部7は、反射部11に磁力を与えて揺動させるものであり、例えば、電磁石等で構成される。本実施形態のミラー駆動部7は、反射部11に磁力を与えて揺動させる位置に配置される。ミラー駆動部7は、例えば、図1に示すように、揺動軸12上とは異なる位置に配置される。ミラー駆動部7は、例えば、矩形状のミラー3の対角線上にあって揺動軸12を挟んで対向する位置に配置される。   The mirror driving unit 7 applies a magnetic force to the reflection unit 11 to swing, and is configured by, for example, an electromagnet or the like. The mirror driving unit 7 according to the present embodiment is arranged at a position where the mirror unit 7 swings by applying a magnetic force to the reflecting unit 11. The mirror driving unit 7 is arranged at a position different from the position on the swing shaft 12, for example, as shown in FIG. The mirror driving unit 7 is disposed, for example, on a diagonal line of the rectangular mirror 3 and at a position opposite to the swing shaft 12.

次に、本実施形態に係る光走査素子1Aの動作について図3を参照して説明する。本実施形態に係る光走査素子1Aは、磁歪材料を含むミラー3が、電磁石であるミラー駆動部7の磁力により揺動軸12周りに揺動することで反射光を偏光させる。例えば、揺動軸12を挟んで対向する位置にある2つのミラー駆動部7a,7bへの通電電流を制御してミラー3を揺動させる場合、図示のミラー駆動部7aに通電して鉄心5bを励磁すると、ミラー駆動部7aの周囲に磁束30が発生する。この磁束30により反射部11に磁力が加わると、反射部11の幅方向の一方がミラー駆動部7a側に吸引されて、反射部11が揺動軸12を中心に右側に傾く。このとき、ミラー3には、梁部13の揺動方向のねじれに対して元に戻ろうとする反力が働き、反射部11が揺動軸12を中心に左側に傾こうとする。さらに、ミラー駆動部7bに、ミラー駆動部7aに流した電流と異なる向きの電流を流すと、ミラー駆動部7bの周囲に、磁束30と反対向きの磁束31が発生する。この磁束31により反射部11に磁力が加わると、反射部11の幅方向の他方がミラー駆動部7b側に吸引されて、反射部11が揺動軸12を中心に左側に傾く。このように、例えば対向する位置にある2つのミラー駆動部7a,7bへの通電電流を制御して、発生する磁束30,31の向きを交互に変更することで、反射部11が揺動軸12を中心として揺動方向に揺動させることができる。光走査素子1Aでは、反射部11の揺動に対する応力が梁部13を介してボディ2に働いてしまい、当該光走査素子1A全体が揺動する場合があるので、ミラー3を含むボディ2がボディ用支柱4により台座8に固定されていることが好ましい。   Next, the operation of the optical scanning element 1A according to the present embodiment will be described with reference to FIG. In the optical scanning element 1A according to the present embodiment, the mirror 3 including the magnetostrictive material swings around the swing axis 12 by the magnetic force of the mirror driving unit 7 which is an electromagnet, thereby polarizing the reflected light. For example, when the mirror 3 is swung by controlling the current supplied to two mirror driving units 7a and 7b located at positions opposing each other with the swing shaft 12 interposed therebetween, the mirror driving unit 7a shown in FIG. Is excited, a magnetic flux 30 is generated around the mirror driving unit 7a. When a magnetic force is applied to the reflector 11 by the magnetic flux 30, one of the widths of the reflector 11 is attracted to the mirror driving unit 7a side, and the reflector 11 tilts to the right around the swing shaft 12. At this time, a reaction force is applied to the mirror 3 to return to the original state in response to the torsion of the beam 13 in the swing direction, and the reflecting section 11 tends to tilt leftward about the swing axis 12. Further, when a current having a different direction from the current flowing to the mirror driving unit 7a is supplied to the mirror driving unit 7b, a magnetic flux 31 opposite to the magnetic flux 30 is generated around the mirror driving unit 7b. When a magnetic force is applied to the reflector 11 by the magnetic flux 31, the other in the width direction of the reflector 11 is attracted to the mirror driving unit 7 b side, and the reflector 11 tilts to the left around the swing shaft 12. In this way, for example, by controlling the energizing current to the two mirror driving units 7a and 7b located at opposing positions to alternately change the directions of the generated magnetic fluxes 30 and 31, the reflecting unit 11 can pivot the pivot shaft. 12 can be rocked in the rocking direction. In the optical scanning element 1A, the stress caused by the swing of the reflecting portion 11 acts on the body 2 via the beam portion 13, and the entire optical scanning element 1A may swing. It is preferable to be fixed to the pedestal 8 by the body support 4.

次に、本実施形態に係る振れ角検出部5の振れ角検出動作について図4を参照して説明する。本実施形態に係る光走査素子1Aは、振れ角検出部5がミラー3の揺動方向の振れ角θを検出する。ミラー3が揺動方向に揺動すると、梁部13とボディ2との連結部分に応力による歪みが生じる。梁部13と連結するボディ2は、磁歪材料で構成されていることから、生じた歪みにより磁化が減少して周囲の磁束が低下する。梁部13の周囲の磁束が低下すると、振れ角検出部5の巻き線コイル5aの周囲の磁束も低下して、巻き線コイル5aに流れる励磁電流が低下する。振れ角検出部5は、例えば、巻き線コイル5aが振れ角検出装置32に接続されている。振れ角検出装置32は、巻き線コイル5aに流れる励磁電流を測定し、励磁電流の変化をミラー3の振れ角θとして検出する。振れ角検出装置32は、例えば、励磁電流の変化に対する振れ角θの関係を示すテーブル情報を有し、当該テーブル情報に基づいてミラー3の振れ角θを検出する。   Next, a shake angle detection operation of the shake angle detection unit 5 according to the present embodiment will be described with reference to FIG. In the optical scanning element 1A according to the present embodiment, the shake angle detector 5 detects the shake angle θ of the mirror 3 in the swing direction. When the mirror 3 swings in the swing direction, a distortion due to stress occurs at a connection portion between the beam portion 13 and the body 2. Since the body 2 connected to the beam portion 13 is made of a magnetostrictive material, the magnetization is reduced due to the generated strain, and the surrounding magnetic flux is reduced. When the magnetic flux around the beam portion 13 decreases, the magnetic flux around the winding coil 5a of the deflection angle detector 5 also decreases, and the exciting current flowing through the winding coil 5a decreases. In the deflection angle detection unit 5, for example, the winding coil 5a is connected to the deflection angle detection device 32. The deflection angle detection device 32 measures the excitation current flowing through the winding coil 5 a and detects a change in the excitation current as the deflection angle θ of the mirror 3. The shake angle detection device 32 has, for example, table information indicating the relationship between the change in the exciting current and the shake angle θ, and detects the shake angle θ of the mirror 3 based on the table information.

以上のように、第1実施形態に係る光走査素子1Aは、反射部11と、反射部11を揺動させる揺動軸12上に設けられ、反射部11を揺動自在に支持する梁部13とを有するミラー3と、ミラー3の揺動方向の振れ角θを検出する振れ角検出部5とを備える。ミラー3は、少なくとも梁部13が、歪みが生じると磁束が変化する磁性材料で構成される。振れ角検出部5は、反射部11の揺動に起因する梁部13の磁束の変化をミラー3の振れ角θとして検出する。   As described above, the optical scanning element 1A according to the first embodiment is provided on the reflection unit 11 and the swing shaft 12 that swings the reflection unit 11, and the beam unit that supports the reflection unit 11 so as to swing. And a deflection angle detector 5 for detecting a deflection angle θ of the mirror 3 in the swing direction. In the mirror 3, at least the beam portion 13 is made of a magnetic material whose magnetic flux changes when distortion occurs. The deflection angle detector 5 detects a change in the magnetic flux of the beam 13 caused by the swing of the reflector 11 as the deflection angle θ of the mirror 3.

上記構成を有する光走査素子1Aによれば、従来のMEMSミラーの製造プロセスにおいて、振れ角センサを形成するために、シリコンウエハに対してピエゾ抵抗素子を形成する工程が不要となり、製造プロセスの一部を簡略化することができ、製造コストを低減することができる。また、光走査素子1Aは、反射部11の揺動に起因する梁部13の磁束の変化をミラー3の振れ角θとして検出するので、簡素な構造でミラー3の振れ角θを検出することができる。また、光走査素子1Aは、梁部13を含むミラー3が磁歪材料とシリコンウエハにより構成されるので、シリコンと特性が似る磁歪材料を利用することができ、ピエゾ抵抗素子のような特性が異なる材料が不要となる。また、磁歪材料は金属性を有するので、少なくともミラー3の強度を高くすることができる。   According to the optical scanning device 1A having the above-described configuration, in the conventional MEMS mirror manufacturing process, a step of forming a piezoresistive element on a silicon wafer is not required in order to form a deflection angle sensor. The parts can be simplified, and the manufacturing cost can be reduced. Further, since the optical scanning element 1A detects a change in the magnetic flux of the beam portion 13 due to the swing of the reflecting portion 11 as the deflection angle θ of the mirror 3, it is possible to detect the deflection angle θ of the mirror 3 with a simple structure. Can be. Further, in the optical scanning element 1A, since the mirror 3 including the beam portion 13 is made of a magnetostrictive material and a silicon wafer, a magnetostrictive material having characteristics similar to silicon can be used, and characteristics such as piezoresistive elements are different. No material is required. Further, since the magnetostrictive material has metallic properties, at least the strength of the mirror 3 can be increased.

また、本実施形態に係る光走査素子1Aは、台座8のうち、揺動軸12上とは異なる位置に少なくとも1つ配置され、かつ反射部11に磁力を与えて揺動させるミラー駆動部7をさらに備える。これにより、従来のMEMSミラーの製造プロセスにおいて、シリコンウエハにコイルを配置する工程が不要となり、製造プロセスの一部を簡略化して、製造コストをさらに低減することができる。また、シリコンウエハへのコイルの配置が不要となるので、簡素な構造でミラー3を揺動することが可能となる。   In addition, at least one optical scanning element 1A according to the present embodiment is arranged at a position on the pedestal 8 different from the position on the oscillating shaft 12, and the mirror driving unit 7 that oscillates by applying a magnetic force to the reflecting unit 11. Is further provided. This eliminates the need for a step of arranging a coil on a silicon wafer in the conventional MEMS mirror manufacturing process, thereby simplifying a part of the manufacturing process and further reducing the manufacturing cost. In addition, since it is not necessary to dispose the coil on the silicon wafer, it is possible to swing the mirror 3 with a simple structure.

また、本実施形態に係る光走査素子1Aは、ミラー駆動部7が、ミラー3の対角線上にあって揺動軸12を挟んで対向する位置に少なくとも1つ配置されるので、ミラー3を磁力により容易に揺動することが可能となる。   Further, in the optical scanning element 1A according to the present embodiment, since at least one mirror driving unit 7 is disposed on the diagonal line of the mirror 3 and opposed to the mirror 3 with the swing shaft 12 interposed therebetween, the mirror 3 has a magnetic force. It is possible to swing easily.

また、本実施形態に係る光走査素子1Aは、振れ角検出部5が、巻き線コイル5aを含んで構成され、巻き線コイル5aの中心軸と梁部13に対応する揺動軸12とが重なる位置に配置される。これにより、梁部13の磁束の変化を容易に検出することが可能となる。   Further, in the optical scanning element 1A according to the present embodiment, the deflection angle detection unit 5 is configured to include the winding coil 5a, and the center axis of the winding coil 5a and the swing axis 12 corresponding to the beam 13 are formed. They are arranged at overlapping positions. This makes it possible to easily detect a change in the magnetic flux of the beam 13.

なお、上記第1実施形態に係る光走査素子1Aは、振れ角検出部5が、ミラー揺動動作において、反射部11の揺動に起因する梁部13の磁束の変化をミラー3の振れ角θとして検出しているが、これに限定されるものではない。例えば、振れ角検出部5は、ミラー揺動動作において、ミラー駆動部7の駆動により生じる磁束の変化をミラー3の振れ角θとして検出してもよい。上述したように、本実施形態では、2つのミラー駆動部7a,7bへの通電電流を制御して、発生する磁束30,31の向きを交互に変更することで、反射部11を揺動軸12を中心として揺動方向に揺動させる。そこで、振れ角検出部5は、ミラー揺動動作におけるミラー駆動部7a,7bの駆動により生じる磁束の変化をミラー3の振れ角θとして検出する。このように、振れ角検出部5は、ミラー揺動動作において、ミラー駆動部7の駆動により生じる磁束の変化をミラー3の振れ角θとして検出するので、簡素な構造でミラー3の振れ角θを検出することができる。この結果、光走査素子1Aは、製造プロセスの一部を簡略することができ、製造コストを低減することができる。   In the optical scanning device 1A according to the first embodiment, the deflection angle detector 5 detects the change in the magnetic flux of the beam 13 caused by the swing of the reflector 11 in the mirror swing operation. Although detected as θ, it is not limited to this. For example, the deflection angle detector 5 may detect a change in magnetic flux generated by driving the mirror driver 7 as the deflection angle θ of the mirror 3 in the mirror swing operation. As described above, in the present embodiment, by controlling the current supplied to the two mirror driving units 7a and 7b to alternately change the directions of the magnetic fluxes 30 and 31 to be generated, the reflecting unit 11 is pivotally moved. It is swung about 12 in the swing direction. Therefore, the deflection angle detection unit 5 detects a change in magnetic flux generated by driving the mirror driving units 7a and 7b in the mirror swing operation as the deflection angle θ of the mirror 3. As described above, the deflection angle detection unit 5 detects a change in the magnetic flux generated by driving the mirror driving unit 7 as the deflection angle θ of the mirror 3 in the mirror swinging operation, so that the deflection angle θ of the mirror 3 has a simple structure. Can be detected. As a result, the optical scanning element 1A can simplify a part of the manufacturing process and reduce the manufacturing cost.

また、上記第1実施形態に係る光走査素子1Aは、振れ角検出部5が、ミラー駆動部7の駆動により生じる磁束の変化を、ボディ2を介してミラー3の振れ角θとして検出する構成であってもよい。ボディ2は、上述したように、磁性材料であることから、ミラー駆動部7の駆動により生じる磁界の磁束変化を、振れ角検出部5に伝達することができる。すなわち、振れ角検出部5は、ミラー揺動動作において、ミラー駆動部7の駆動により発生し、磁歪材料で構成されたボディ2を介して伝達される磁束の変化を、ミラー3の振れ角θとして検出する。これにより、簡素な構造でミラー3の振れ角θを検出することができる。この結果、光走査素子1Aは、振れ角センサを形成するための工程が不要となり、製造プロセスの一部を簡略することができ、製造コストを低減することができる。   In the optical scanning device 1A according to the first embodiment, the deflection angle detection unit 5 detects a change in magnetic flux generated by driving the mirror driving unit 7 as the deflection angle θ of the mirror 3 via the body 2. It may be. As described above, since the body 2 is made of a magnetic material, a change in magnetic flux of a magnetic field generated by driving the mirror driving unit 7 can be transmitted to the deflection angle detection unit 5. That is, the deflection angle detection unit 5 determines the change in the magnetic flux generated by the driving of the mirror driving unit 7 and transmitted through the body 2 made of the magnetostrictive material in the mirror swinging operation, based on the deflection angle θ of the mirror 3. Detected as Thus, the deflection angle θ of the mirror 3 can be detected with a simple structure. As a result, the optical scanning element 1A does not require a step for forming the deflection angle sensor, and can simplify a part of the manufacturing process and reduce the manufacturing cost.

[第1実施形態の変形例1,2]
次に、第1実施形態の変形例1,2に係る光走査素子1B,1Cについて図5及び図6を参照して説明する。上記第1実施形態に係る光走査素子1Aでは、ミラー駆動部7が図1に示す位置に配置されているが、ミラー3に磁力を与えて揺動可能にする位置であれば、例えば、図5および図6に示す位置に配置されていてもよい。図5に示す光走査素子1Bは、ミラー駆動部7が、揺動軸12上とは異なる位置で、かつ矩形状のミラー3の対角線上に配置されている。図6に示す光走査素子1Cは、ミラー駆動部7が、揺動軸12上とは異なる位置で、かつミラー3の揺動軸12と直交する方向の両端側に配置されている。なお、図示のすべての位置にミラー駆動部7が配置されていてもよいし、いずれか1箇所にのみ配置されていてもよい。
[Modifications 1 and 2 of First Embodiment]
Next, optical scanning elements 1B and 1C according to modified examples 1 and 2 of the first embodiment will be described with reference to FIGS. In the optical scanning element 1A according to the first embodiment, the mirror driving unit 7 is arranged at the position shown in FIG. 1. However, if the mirror driving unit 7 can be swung by applying a magnetic force to the mirror 3, for example, FIG. 5 and the position shown in FIG. In the optical scanning device 1B shown in FIG. 5, the mirror driving unit 7 is arranged at a position different from the position on the swing shaft 12 and on a diagonal line of the rectangular mirror 3. In the optical scanning element 1C shown in FIG. 6, the mirror driving unit 7 is disposed at a position different from the position on the oscillation axis 12 and at both ends in the direction orthogonal to the oscillation axis 12 of the mirror 3. Note that the mirror driving unit 7 may be disposed at all positions shown in the drawing, or may be disposed only at any one position.

[第2実施形態]
次に、本発明の第2実施形態に係る光走査素子について図7〜図14を参照して説明する。図7は、第2実施形態に係る光走査素子の概略構成を示す平面図である。図8は、第2実施形態に係る光走査素子の概略構成を示す縦断面図である。図9(A)、図9(B)は、第2実施形態に係る光走査素子の低周波の通電電流波形とミラーの振れ角との関係を示す図である。図10(A)、図10(B)は、第2実施形態に係る光走査素子の高周波の通電電流波形とミラーの振れ角との関係を示す図である。図11は、第2実施形態に係るミラーの振れ角検出を説明するための模式図である。図12は、第2実施形態の変形例1に係る光走査素子の概略構成を示す平面図である。図13は、第2実施形態の変形例2に係る光走査素子の概略構成を示す平面図である。図14は、第2実施形態に係る振れ角検出部の配置例を示す斜視図である。なお、図8は、図7中のB−B断面図である。
[Second embodiment]
Next, an optical scanning element according to a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 7 is a plan view illustrating a schematic configuration of the optical scanning element according to the second embodiment. FIG. 8 is a longitudinal sectional view illustrating a schematic configuration of the optical scanning element according to the second embodiment. FIGS. 9A and 9B are diagrams illustrating the relationship between the low-frequency current flow waveform of the optical scanning element according to the second embodiment and the deflection angle of the mirror. FIGS. 10A and 10B are diagrams showing the relationship between the high-frequency current flow of the optical scanning element according to the second embodiment and the deflection angle of the mirror. FIG. 11 is a schematic diagram illustrating the detection of the deflection angle of the mirror according to the second embodiment. FIG. 12 is a plan view illustrating a schematic configuration of an optical scanning element according to Modification Example 1 of the second embodiment. FIG. 13 is a plan view illustrating a schematic configuration of an optical scanning element according to Modification 2 of the second embodiment. FIG. 14 is a perspective view illustrating an arrangement example of a deflection angle detection unit according to the second embodiment. FIG. 8 is a sectional view taken along the line BB in FIG.

第2実施形態に係る光走査素子1Dは、図7および図8に示すように、いわゆる2軸方式のMEMSミラーである。光走査素子1Dは、フレーム9と、振れ角検出部25とを含んで構成される点が上記第1実施形態に係る光走査素子1Aと異なる。なお、以下の説明において、上記第1実施形態と共通する構成は同一の符号を付して、その説明を省略または簡略化する。   The optical scanning element 1D according to the second embodiment is a so-called two-axis type MEMS mirror, as shown in FIGS. The optical scanning element 1D is different from the optical scanning element 1A according to the first embodiment in that the optical scanning element 1D includes a frame 9 and a deflection angle detection unit 25. In the following description, the same components as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted or simplified.

フレーム9は、平板状の枠部21と、揺動軸22と、一対の梁部23とを有する。枠部21は、枠状に形成され、かつ内側に梁部13を介して接続されたミラー3を有する。揺動軸22は、第2揺動軸である。揺動軸22は、フレーム9を揺動させる軸であり、平面視において揺動軸12と直交する。本実施形態の揺動軸12は、第1揺動軸であり、幅方向に延びているものとする。梁部23は、第2梁部であり、枠部21の揺動軸22上に設けられ、台座8に対して枠部21を揺動自在に支持するものである。梁部23は、ボディ2とフレーム9とを接続する。ボディ2は、フレーム9の周囲に一対の打ち抜き孔24が形成されている。打ち抜き孔24は、ボディ2の上下方向に貫通する孔であり、フレーム9を形作るように形成されている。本実施形態の梁部13は、第1梁部であり、フレーム9と反射部11とを接続する。梁部23は、フレーム9の揺動軸であると共に、フレーム9の揺動を抑制するねじりバネとしても機能する。梁部23は、フレーム9の揺動軸22周りの揺動により弾性変形して、歪みが付加されると周囲の磁束が変化する。   The frame 9 has a flat frame portion 21, a swing shaft 22, and a pair of beam portions 23. The frame 21 has a mirror 3 formed in a frame shape and connected to the inside through the beam 13. The swing shaft 22 is a second swing shaft. The swing shaft 22 swings the frame 9 and is orthogonal to the swing shaft 12 in a plan view. The swing shaft 12 of the present embodiment is a first swing shaft and extends in the width direction. The beam portion 23 is a second beam portion, is provided on the swing shaft 22 of the frame portion 21, and supports the frame portion 21 to be able to swing with respect to the pedestal 8. Beam 23 connects body 2 and frame 9. The body 2 has a pair of punched holes 24 formed around the frame 9. The punching hole 24 is a hole penetrating in the vertical direction of the body 2 and is formed so as to form the frame 9. The beam portion 13 of the present embodiment is a first beam portion, and connects the frame 9 and the reflection portion 11. The beam 23 serves as a swing axis of the frame 9 and also functions as a torsion spring for suppressing the swing of the frame 9. The beam portion 23 is elastically deformed by the swing of the frame 9 around the swing shaft 22, and when a strain is added, the surrounding magnetic flux changes.

振れ角検出部25は、第2振れ角検出部であり、フレーム9の揺動方向の振れ角θを検出するものである。本実施形態の振れ角検出部25は、フレーム9に含まれるミラー3の揺動方向の振れ角θを検出することができる。振れ角検出部25により検出されるミラー3の振れ方向と、振れ角検出部5により検出されるミラー3の振れ方向とは直交する。振れ角検出部25により検出されるミラー3の振れ方向は、例えば幅方向であり、副走査方向である。一方、振れ角検出部5により検出されるミラー3の振れ方向は、例えば奥行き方向であり、主走査方向である。振れ角検出部25は、ボディ2を挟んで奥行き方向に対向する位置に配置されている。振れ角検出部25は、揺動軸22上にあってミラー3を挟んで対向する位置に配置されている。振れ角検出部25は、例えば、ミラー駆動部7が駆動からフレーム9を揺動するまでのフレーム揺動動作において、枠部21の揺動に起因する梁部23の磁束の変化をフレーム9の振れ角θとして検出する。振れ角検出部25は、振れ角検出部5と同様に、巻き線コイル5aと、鉄心5bとを含んで構成される。本実施形態の振れ角検出部25は、巻き線コイル5aの中心軸と、梁部23に対応する揺動軸22とが重なる位置に配置される。   The deflection angle detection unit 25 is a second deflection angle detection unit that detects the deflection angle θ of the frame 9 in the swing direction. The swing angle detection unit 25 of the present embodiment can detect the swing angle θ of the mirror 3 included in the frame 9 in the swing direction. The deflection direction of the mirror 3 detected by the deflection angle detection unit 25 is orthogonal to the deflection direction of the mirror 3 detected by the deflection angle detection unit 5. The deflection direction of the mirror 3 detected by the deflection angle detection unit 25 is, for example, the width direction and the sub-scanning direction. On the other hand, the deflection direction of the mirror 3 detected by the deflection angle detection unit 5 is, for example, the depth direction and the main scanning direction. The deflection angle detection unit 25 is disposed at a position facing the depth direction with the body 2 interposed therebetween. The deflection angle detection unit 25 is disposed on the swing shaft 22 at a position facing the mirror 3 with the mirror 3 interposed therebetween. For example, in the frame swinging operation from the driving of the mirror driving unit 7 to the swinging of the frame 9, the swing angle detecting unit 25 detects the change of the magnetic flux of the beam 23 due to the swinging of the frame 21. Is detected as the deflection angle θ. The deflection angle detection unit 25 includes a winding coil 5a and an iron core 5b, like the deflection angle detection unit 5. The deflection angle detection unit 25 of the present embodiment is disposed at a position where the center axis of the winding coil 5a and the swing shaft 22 corresponding to the beam 23 overlap.

本実施形態の振れ角検出部5は、第1振れ角検出部であり、ミラー3の揺動方向の振れ角θを検出するものである。振れ角検出部5は、巻き線コイル5aの中心軸と梁部13に対応する揺動軸12とが平行となる位置に配置される。振れ角検出部5は、例えば、ミラー3の対角線上にあって揺動軸12を挟んで対向する位置に配置される。振れ角検出部5は、上述したミラー揺動動作において、反射部11の揺動に起因する梁部13の磁束の変化をミラー3の振れ角θとして検出する。   The deflection angle detector 5 of the present embodiment is a first deflection angle detector, and detects the deflection angle θ of the mirror 3 in the swing direction. The deflection angle detector 5 is arranged at a position where the center axis of the winding coil 5a and the swing axis 12 corresponding to the beam 13 are parallel. The deflection angle detection unit 5 is disposed, for example, at a position on a diagonal line of the mirror 3 and facing the swing shaft 12 therebetween. The deflection angle detection unit 5 detects, as the deflection angle θ of the mirror 3, a change in the magnetic flux of the beam 13 caused by the swing of the reflection unit 11 in the above-described mirror swing operation.

本実施形態のミラー駆動部7は、反射部11およびフレーム9にそれぞれ磁力を与えて揺動させる位置に配置されることが好ましく、例えば、図7に示すように、揺動軸22とは異なる位置に配置される。ミラー駆動部7は、例えば、矩形状のフレーム9の対角線上にあって揺動軸22を挟んで対向する位置に配置される。   The mirror driving unit 7 of the present embodiment is preferably disposed at a position where the mirror unit 7 applies a magnetic force to each of the reflection unit 11 and the frame 9 to swing the mirror unit. For example, as shown in FIG. Placed in the position. The mirror drive unit 7 is disposed, for example, on a diagonal line of the rectangular frame 9 and opposed to each other with the swing shaft 22 interposed therebetween.

次に、本実施形態に係る光走査素子1Dの動作について図1、図9(A)、図9(B)、図10(A)、および図10(B)を参照して説明する。本実施形態に係る光走査素子1Dは、ミラー3が、ミラー駆動部7の磁力により、直交する2本の揺動軸12および揺動軸22の周りに揺動することで反射光を偏光させる。例えば、ミラー3の対角線上にあって揺動軸22を挟んで対向する位置にある2つのミラー駆動部7a,7bへの通電電流を制御してミラー3を揺動させる場合について説明する。ミラー駆動部7a,7bには、一般的なMEMSミラーと同じく、高周波成分と低周波成分とを重畳した電流Iを流す。ミラー駆動部7a,7bに電流Iをそれぞれ流すと(図9(A)、図10(A))、フレーム9は、低周波成分により揺動軸22を中心に幅方向(X方向)に揺動する(図9(B))。一方、電流Iの高周波成分は小さいので、フレーム9に対する影響は生じない(図10(B))。ミラー3は、高周波成分(例えば共振周波数f)により揺動軸12を中心に奥行き方向(Y方向)に揺動する(図10(B))。このように、電流Iの高周波成分をミラー3の共振周波数fに合わせて設定すると、ミラー駆動部7a,7bの駆動力が小さく(図10(A))、フレーム9の共振周波数からずれているため、その影響を無視することができる。一方、電流Iの高周波成分がミラー3の共振周波数fと一致するため、ミラー3を大きな振れ角で揺動することができる。例えば、レーザプロジェクタ用のMEMSミラーでは、揺動軸22を中心とするフレーム9の共振周波数が1KHz以下であり、揺動軸12を中心とするミラー3の共振周波数が20KHz以上である。   Next, the operation of the optical scanning element 1D according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 1, 9A, 9B, 10A, and 10B. In the optical scanning element 1D according to the present embodiment, the mirror 3 oscillates around two orthogonal oscillation axes 12 and 22 by the magnetic force of the mirror driving unit 7, thereby polarizing the reflected light. . For example, a case will be described in which the mirror 3 is swung by controlling the current supplied to two mirror driving units 7a and 7b located on the diagonal line of the mirror 3 and opposed to each other with the swing shaft 22 interposed therebetween. A current I in which a high-frequency component and a low-frequency component are superimposed flows through the mirror driving units 7a and 7b as in a general MEMS mirror. When the current I flows through the mirror driving units 7a and 7b (FIGS. 9A and 10A), the frame 9 swings around the swing shaft 22 in the width direction (X direction) due to the low frequency component. (FIG. 9B). On the other hand, since the high-frequency component of the current I is small, there is no effect on the frame 9 (FIG. 10B). The mirror 3 swings in the depth direction (Y direction) around the swing shaft 12 by a high-frequency component (for example, the resonance frequency f) (FIG. 10B). When the high-frequency component of the current I is set in accordance with the resonance frequency f of the mirror 3 as described above, the driving force of the mirror driving units 7a and 7b is small (FIG. 10A) and deviates from the resonance frequency of the frame 9. Therefore, the influence can be ignored. On the other hand, since the high-frequency component of the current I matches the resonance frequency f of the mirror 3, the mirror 3 can swing with a large deflection angle. For example, in a MEMS mirror for a laser projector, the resonance frequency of the frame 9 about the oscillation axis 22 is 1 KHz or less, and the resonance frequency of the mirror 3 about the oscillation axis 12 is 20 KHz or more.

次に、本実施形態に係る振れ角検出部5の振れ角検出動作について図11を参照して説明する。本実施形態に係る光走査素子1Dは、振れ角検出部5がミラー3の揺動方向の振れ角θを検出する。ミラー3が揺動方向に揺動すると、梁部13とフレーム9との連結部分に応力による歪みが生じる。梁部13と連結するフレーム9は、ボディ2と同様に、磁歪材料で構成されていることから、生じた歪みにより磁化が減少して周囲の磁束が低下する。梁部13の周囲の磁束が低下すると、振れ角検出部5の巻き線コイル5aの周囲の磁束も低下して、巻き線コイル5aに流れる励磁電流が低下する。振れ角検出部5は、例えば、巻き線コイル5aが振れ角検出装置32に接続されている。振れ角検出装置32は、巻き線コイル5aに流れる励磁電流を測定し、励磁電流の変化をミラー3の振れ角θとして検出する。振れ角検出装置32は、例えば、励磁電流の変化に対する振れ角θの関係を示すテーブル情報を有し、当該テーブル情報に基づいてミラー3の振れ角θを検出する。   Next, a shake angle detection operation of the shake angle detection unit 5 according to the present embodiment will be described with reference to FIG. In the optical scanning element 1D according to the present embodiment, the shake angle detector 5 detects the shake angle θ of the mirror 3 in the swing direction. When the mirror 3 swings in the swinging direction, distortion occurs due to stress at a connection portion between the beam portion 13 and the frame 9. Since the frame 9 connected to the beam portion 13 is made of a magnetostrictive material, similarly to the body 2, the generated strain reduces the magnetization and the surrounding magnetic flux. When the magnetic flux around the beam portion 13 decreases, the magnetic flux around the winding coil 5a of the deflection angle detector 5 also decreases, and the exciting current flowing through the winding coil 5a decreases. In the deflection angle detection unit 5, for example, the winding coil 5a is connected to the deflection angle detection device 32. The deflection angle detection device 32 measures the excitation current flowing through the winding coil 5 a and detects a change in the excitation current as the deflection angle θ of the mirror 3. The shake angle detection device 32 has, for example, table information indicating the relationship between the change in the exciting current and the shake angle θ, and detects the shake angle θ of the mirror 3 based on the table information.

本実施形態に係る振れ角検出部25は、フレーム9が揺動方向に揺動すると、梁部23とボディ2との連結部分に応力による歪みが生じる。梁部23と連結するボディ2は、磁歪材料で構成されていることから、生じた歪みにより磁化が減少して周囲の磁束が低下する。梁部23の周囲の磁束が低下すると、振れ角検出部25の巻き線コイル5aの周囲の磁束も低下して、巻き線コイル5aに流れる励磁電流が低下する。振れ角検出部25は、巻き線コイル5aが振れ角検出装置32に接続されており、振れ角検出装置32によりフレーム9の振れ角θが検出される。   In the deflection angle detection unit 25 according to the present embodiment, when the frame 9 swings in the swing direction, a strain occurs due to stress in a connection portion between the beam 23 and the body 2. Since the body 2 connected to the beam portion 23 is made of a magnetostrictive material, the generated strain reduces the magnetization and the surrounding magnetic flux. When the magnetic flux around the beam portion 23 decreases, the magnetic flux around the winding coil 5a of the deflection angle detector 25 also decreases, and the exciting current flowing through the winding coil 5a decreases. In the deflection angle detection unit 25, the winding coil 5 a is connected to a deflection angle detection device 32, and the deflection angle detection device 32 detects the deflection angle θ of the frame 9.

以上のように、第2実施形態に係る光走査素子1Dは、光走査素子1Aに対して、枠状に形成され、かつ内側に梁部13を介して接続されたミラー3を有する平板状の枠部21と、平面視において揺動軸12と直交する揺動軸22と、枠部21の揺動軸22上に設けられ、台座8に対して枠部21を揺動自在に支持する一対の梁部23と、を有するフレーム9と、フレーム9の揺動方向の振れ角θを検出する振れ角検出部25とをさらに備える。フレーム9は、少なくとも梁部23が磁性材料で構成される。振れ角検出部25は、枠部21の揺動に起因する梁部23の磁束の変化をフレーム9の振れ角θとして検出する。   As described above, the optical scanning device 1D according to the second embodiment is a flat plate having the mirror 3 formed in a frame shape and connected to the optical scanning device 1A via the beam 13 inside. A frame 21, a swing shaft 22 orthogonal to the swing shaft 12 in a plan view, and a pair provided on the swing shaft 22 of the frame 21 and supporting the frame 21 to be able to swing with respect to the base 8. And a deflection angle detection unit 25 that detects a deflection angle θ of the frame 9 in the swing direction. In the frame 9, at least the beam portion 23 is made of a magnetic material. The deflection angle detector 25 detects a change in the magnetic flux of the beam portion 23 caused by the swing of the frame portion 21 as the deflection angle θ of the frame 9.

上記構成を有する光走査素子1Dによれば、上記第1実施形態に係る光走査素子1Aと同様の効果を奏することができる。   According to the optical scanning element 1D having the above configuration, the same effects as those of the optical scanning element 1A according to the first embodiment can be obtained.

また、本実施形態に係る光走査素子1Dは、振れ角検出部25は、巻き線コイル5aを含んで構成され、巻き線コイル5aの中心軸と梁部23に対応する揺動軸22とが重なる位置に配置される。これにより、梁部23の磁束の変化を容易に検出することが可能となる。   Further, in the optical scanning element 1D according to the present embodiment, the deflection angle detection unit 25 is configured to include the winding coil 5a, and the center axis of the winding coil 5a and the swing shaft 22 corresponding to the beam 23 are formed. They are arranged at overlapping positions. This makes it possible to easily detect a change in the magnetic flux of the beam 23.

また、本実施形態に係る光走査素子1Dは、振れ角検出部5は、巻き線コイル5aの中心軸と梁部13に対応する揺動軸12とが平行となる位置に配置される。これにより、振れ角検出部25により検出される梁部23の磁束と干渉することなく、梁部13の磁束の変化を検出することが可能となる。   In the optical scanning element 1D according to the present embodiment, the deflection angle detector 5 is disposed at a position where the center axis of the winding coil 5a and the swing axis 12 corresponding to the beam 13 are parallel. This makes it possible to detect a change in the magnetic flux of the beam 13 without interfering with the magnetic flux of the beam 23 detected by the deflection angle detecting unit 25.

また、本実施形態に係る光走査素子1Dは、ミラー駆動部7が、ミラー3の対角線上にあって揺動軸12を挟んで対向する位置に少なくとも1つ配置されるので、ミラー3を磁力により容易に揺動することが可能となる。   Further, in the optical scanning element 1D according to the present embodiment, at least one mirror driving unit 7 is disposed on a diagonal line of the mirror 3 and opposed to the mirror 3 with the swing shaft 12 interposed therebetween. It is possible to swing easily.

なお、上記第2実施形態に係る光走査素子1Dは、振れ角検出部25が、フレーム揺動動作において、枠部21の揺動に起因する梁部23の磁束の変化をフレーム9の振れ角θとして検出しているが、これに限定されるものではない。例えば、振れ角検出部25は、フレーム揺動動作において、ミラー駆動部7の駆動により生じる磁束の変化をフレーム9の振れ角θとして検出してもよい。上述したように、本実施形態では、2つのミラー駆動部7a,7bへの通電電流を制御して、発生する磁束30,31の向きを交互に変更することで、フレーム9を揺動軸22を中心として揺動方向に揺動させる。そこで、振れ角検出部25は、フレーム揺動動作におけるミラー駆動部7a,7bの駆動により生じる磁束の変化をフレーム9の振れ角θとして検出する。このように、振れ角検出部25は、フレーム揺動動作において、ミラー駆動部7の駆動により生じる磁束の変化をフレーム9の振れ角θとして検出するので、簡素な構造でフレーム9の振れ角θを検出することができる。この結果、光走査素子1Dは、上記光走査素子1Aと同様に、製造プロセスの一部を簡略することができ、製造コストを低減することができる。   In the optical scanning device 1D according to the second embodiment, in the swinging motion of the frame 9, the swing angle detecting unit 25 detects the change in the magnetic flux of the beam 23 caused by the swing of the frame 21. Although detected as θ, it is not limited to this. For example, the shake angle detection unit 25 may detect a change in magnetic flux generated by driving the mirror drive unit 7 as the shake angle θ of the frame 9 in the frame swing operation. As described above, in the present embodiment, the current flowing through the two mirror driving units 7a and 7b is controlled to alternately change the directions of the generated magnetic fluxes 30 and 31 so that the frame 9 is moved to the swing shaft 22. Swing in the swing direction around. Therefore, the deflection angle detection unit 25 detects a change in magnetic flux generated by driving the mirror driving units 7a and 7b in the frame swing operation as the deflection angle θ of the frame 9. As described above, the swing angle detecting section 25 detects the change in the magnetic flux generated by driving the mirror driving section 7 as the swing angle θ of the frame 9 in the frame swinging operation, so that the swing angle θ of the frame 9 has a simple structure. Can be detected. As a result, like the optical scanning element 1A, a part of the manufacturing process of the optical scanning element 1D can be simplified, and the manufacturing cost can be reduced.

また、上記第2実施形態に係る光走査素子1Dは、振れ角検出部25が、ミラー駆動部7の駆動により生じる磁束の変化を、ボディ2を介してフレーム9の振れ角θとして検出する構成であってもよい。ボディ2は、上述したように、磁歪材料であることから、ミラー駆動部7の駆動により生じる磁界の磁束変化を、振れ角検出部25に伝達することができる。すなわち、振れ角検出部25は、フレーム揺動動作において、ミラー駆動部7の駆動により発生し、磁歪材料で構成されたボディ2を介して伝達される磁束の変化を、フレーム9の振れ角θとして検出する。これにより、簡素な構造でフレーム9の振れ角θを検出することができる。この結果、光走査素子1Dは、振れ角センサを形成するための工程が不要となり、製造プロセスの一部を簡略することができ、製造コストを低減することができる。   In the optical scanning element 1D according to the second embodiment, the deflection angle detection unit 25 detects a change in magnetic flux generated by driving the mirror driving unit 7 as the deflection angle θ of the frame 9 via the body 2. It may be. As described above, since the body 2 is made of a magnetostrictive material, a change in magnetic flux of a magnetic field generated by driving the mirror driving unit 7 can be transmitted to the deflection angle detection unit 25. That is, in the frame swinging operation, the deflection angle detection unit 25 detects the change in the magnetic flux generated by driving the mirror driving unit 7 and transmitted through the body 2 made of the magnetostrictive material, to the deflection angle θ of the frame 9. Detected as Thus, the deflection angle θ of the frame 9 can be detected with a simple structure. As a result, in the optical scanning element 1D, a step for forming the deflection angle sensor is not required, and a part of the manufacturing process can be simplified, and the manufacturing cost can be reduced.

[第2実施形態の変形例1,2]
次に、第2実施形態の変形例1,2に係る光走査素子1E,1Fについて図12及び図13を参照して説明する。上記第2実施形態に係る光走査素子1Dでは、ミラー駆動部7が図7に示す位置に配置されているが、フレーム9に磁力を与えて揺動可能にする位置であれば、例えば、図12および図13に示す位置に配置されていてもよい。図12に示す光走査素子1Eおよび図13に示す光走査素子1Fは、ミラー駆動部7が、揺動軸22上とは異なる位置で、かつ矩形状のフレーム9の対角線上にそれぞれ配置されている。図12に示すミラー駆動部7は、フレーム9の対角部分にそれぞれ配置されている。図13に示すミラー駆動部7は、揺動軸22を挟んで振れ角検出部5と対向する位置にそれぞれ配置されている。なお、図示のすべての位置にミラー駆動部7が配置されていてもよいし、いずれか1箇所にのみ配置されていてもよい。
[Modifications 1 and 2 of Second Embodiment]
Next, optical scanning elements 1E and 1F according to modified examples 1 and 2 of the second embodiment will be described with reference to FIGS. In the optical scanning element 1D according to the second embodiment, the mirror driving unit 7 is arranged at the position shown in FIG. 7. 12 and the position shown in FIG. In the optical scanning element 1E shown in FIG. 12 and the optical scanning element 1F shown in FIG. 13, the mirror driving unit 7 is arranged at a position different from the position on the swing shaft 22 and on the diagonal line of the rectangular frame 9. I have. The mirror driving units 7 shown in FIG. 12 are respectively arranged at diagonal portions of the frame 9. The mirror driving unit 7 illustrated in FIG. 13 is disposed at a position facing the deflection angle detection unit 5 with the swing shaft 22 interposed therebetween. Note that the mirror driving unit 7 may be disposed at all positions shown in the drawing, or may be disposed only at any one position.

また、上記第2実施形態に係る光走査素子1Dでは、振れ角検出部5が、図7、図8、図11〜図13に示す位置に配置されているが、これに限定されるものではない。すなわち、振れ角検出部5は、巻き線コイル5aの中心軸と梁部13に対応する揺動軸12とが平行となる位置に配置されていれば、図14に示すように、ボディ2の周囲に配置されていてもよい。振れ角検出部5は、例えば、ボディ2のうち、揺動軸22と直交する幅方向(X方向)上に配置されていてもよい。また、振れ角検出部5は、ボディ2のうち、ボディ用支柱4に接続された下面側に配置されていてもよいし、当該下面側と反対側の上面側に配置されていてもよい。また、振れ角検出部5は、ボディ2のうち、打ち抜き孔24内に配置されていてもよいし、突起部2a側に配置されていてもよい。   In addition, in the optical scanning element 1D according to the second embodiment, the deflection angle detection unit 5 is arranged at the position shown in FIGS. 7, 8, and 11 to 13, but is not limited thereto. Absent. That is, if the swing angle detection unit 5 is arranged at a position where the center axis of the winding coil 5a and the swing axis 12 corresponding to the beam unit 13 are parallel to each other, as shown in FIG. It may be arranged around. The deflection angle detection unit 5 may be arranged, for example, in the width direction (X direction) of the body 2 orthogonal to the swing shaft 22. Further, the deflection angle detection unit 5 may be arranged on the lower surface side of the body 2 connected to the body support 4, or may be arranged on the upper surface side opposite to the lower surface side. Further, the deflection angle detection unit 5 may be disposed in the punched hole 24 of the body 2 or may be disposed on the side of the protrusion 2a.

なお、上記第1実施形態では、振れ角検出部5は、2つ配置されているが、いずれか一方に配置されていてもよい。また、上記第2実施形態では、振れ角検出部5,25がそれぞれ2つずつ配置されているが、いずれか一方に1つずつ配置されていてもよい。   In addition, in the said 1st Embodiment, although the deflection angle detection part 5 is arrange | positioned, it may be arrange | positioned at any one. Further, in the second embodiment, the two deflection angle detection units 5 and 25 are arranged, but one of them may be arranged on either one.

また、上記第1および第2実施形態では、ミラー駆動部7が、複数の位置に配置されているが、いずれか1箇所に1つ配置されていてもよい。   In the first and second embodiments, the mirror driving unit 7 is disposed at a plurality of positions, but one mirror driving unit 7 may be disposed at any one position.

1A,1B,1C,1D,1E,1F 光走査素子
2 ボディ
2a 突起部
3 ミラー
4 ボディ用支柱
5,25 振れ角検出部
5a 巻き線コイル
5b 鉄心
6 振れ角検出部用支柱
7,7a,7b ミラー駆動部
8 台座
9 フレーム
11 反射部
11a 反射面
12,22 揺動軸
13,23 梁部
14,24 打ち抜き孔
21 枠部
30,31 磁束
32 振れ角検出装置
1A, 1B, 1C, 1D, 1E, 1F Optical Scanning Element 2 Body 2a Projection 3 Mirror 4 Body Support 5,25 Shake Angle Detector 5a Winding Coil 5b Iron Core 6 Shake Angle Support 7,7a, 7b Mirror drive unit 8 Base 9 Frame 11 Reflecting unit 11a Reflecting surface 12,22 Swing axis 13,23 Beam unit 14,24 Punch hole 21 Frame unit 30,31 Magnetic flux 32 Deflection angle detecting device

Claims (6)

光を反射する平板状の反射部と、前記反射部を揺動させる第1揺動軸と、前記反射部の前記第1揺動軸上に設けられ、台座に対して前記反射部を揺動自在に支持する一対の第1梁部と、を有するミラーと、
前記ミラーを揺動させるミラー駆動部と、
前記ミラーの揺動方向の振れ角を検出する第1振れ角検出部と、
を備え、
前記第1振れ角検出部は、
前記ミラー駆動部が駆動から前記ミラーを揺動するまでのミラー揺動動作に起因する磁束の変化を前記ミラーの振れ角として検出する、
ことを特徴とする光走査素子。
A plate-like reflecting portion for reflecting light, a first swing axis for swinging the reflecting portion, and a first swinging axis of the reflecting portion, wherein the reflecting portion swings with respect to a base. A mirror having a pair of first beams for freely supporting;
A mirror driving unit for swinging the mirror,
A first deflection angle detection unit that detects a deflection angle of the mirror in the swing direction;
With
The first deflection angle detection unit includes:
The mirror drive unit detects a change in magnetic flux due to a mirror swing operation from driving to swinging the mirror as a swing angle of the mirror,
An optical scanning element characterized by the above-mentioned.
前記ミラーは、
少なくとも前記第1梁部が、歪みが生じると磁束が変化する磁性材料で構成され、
前記第1振れ角検出部は、
少なくとも前記反射部の揺動に起因する前記第1梁部の磁束の変化を前記ミラーの振れ角として検出する、
請求項1に記載の光走査素子。
The mirror is
At least the first beam portion is made of a magnetic material whose magnetic flux changes when strain occurs,
The first deflection angle detection unit includes:
Detecting at least a change in magnetic flux of the first beam portion caused by the swing of the reflection portion as a deflection angle of the mirror;
The optical scanning device according to claim 1.
前記ミラー駆動部は、前記台座のうち、前記第1揺動軸上とは異なる位置に少なくとも1つ配置され、かつ前記反射部に磁力を与えて揺動させる、
請求項1または2に記載の光走査素子。
The mirror drive unit is arranged at least one of the pedestals at a position different from the position on the first swing axis, and applies a magnetic force to the reflection unit to swing the mirror.
The optical scanning element according to claim 1.
前記ミラー駆動部は、
前記ミラーの対角線上にあって前記第1揺動軸を挟んで対向する位置に配置される、
請求項3に記載の光走査素子。
The mirror driving unit,
Disposed on a diagonal line of the mirror and opposed to each other across the first swing axis;
The optical scanning device according to claim 3.
前記第1振れ角検出部は、
巻き線コイルを含んで構成され、
前記巻き線コイルの中心軸と前記第1梁部に対応する第1揺動軸とが重なる位置、または、平行となる位置に配置される、
請求項1〜4のいずれか1項に記載の光走査素子。
The first deflection angle detection unit includes:
It is configured to include a winding coil,
It is arranged at a position where a central axis of the winding coil and a first swing axis corresponding to the first beam portion overlap or are parallel.
The optical scanning element according to claim 1.
枠状に形成され、かつ内側に前記第1梁部を介して接続された前記ミラーを有する平板状の枠部と、平面視において前記第1揺動軸と直交する第2揺動軸と、前記枠部の前記第2揺動軸上に設けられ、前記台座に対して前記枠部を揺動自在に支持する一対の第2梁部と、を有するフレームと、
前記フレームの揺動方向の振れ角を検出する第2振れ角検出部と、
をさらに備え、
前記第2振れ角検出部は、
前記ミラー駆動部が駆動から前記フレームを揺動するまでのフレーム揺動動作に起因する磁束の変化を前記フレームの振れ角として検出し、
前記フレームは、
少なくとも前記第2梁部が、歪みが生じると磁束が変化する磁性材料で構成され、
前記第2振れ角検出部は、
巻き線コイルを含んで構成され、
少なくとも前記巻き線コイルの中心軸と前記第2梁部に対応する第2揺動軸とが重なる位置に配置され、
前記枠部の揺動に起因する前記第2梁部の磁束の変化を前記フレームの振れ角として検出する、
請求項1〜5のいずれか1項に記載の光走査素子。
A plate-shaped frame portion having a frame shape and having the mirror connected to the inside through the first beam portion, a second swing axis orthogonal to the first swing axis in plan view, A frame provided on the second swinging shaft of the frame, and having a pair of second beams for swingably supporting the frame with respect to the pedestal;
A second deflection angle detection unit that detects a deflection angle of the frame in the swing direction;
Further comprising
The second deflection angle detection unit includes:
Detecting a change in magnetic flux due to a frame swing operation from the drive of the mirror driving unit to swing the frame as a deflection angle of the frame,
The frame is
At least the second beam portion is made of a magnetic material whose magnetic flux changes when strain occurs,
The second deflection angle detection unit includes:
It is configured to include a winding coil,
At least a center axis of the winding coil and a second swing axis corresponding to the second beam portion are arranged at positions overlapping each other;
Detecting a change in magnetic flux of the second beam portion due to the swing of the frame portion as a deflection angle of the frame;
The optical scanning device according to claim 1.
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