JP2020012755A - 鋳片撮影装置、鋳片撮影方法及びプログラム - Google Patents

Abstract

【課題】鋳片の内部品質の評価に資する適切な撮影画像を取得することができる仕組みを提供する。【解決手段】鋳片を評価するために当該鋳片から採取した鋳片サンプル２１０の撮影を行う鋳片撮影装置１００において、鋳片サンプル２１０の第１面２１１を撮影する撮影部１１１と、撮影部１１１の合焦面１１１２を照明する照明部１１２と、鋳片サンプル２１０の第１面２１１の裏面である第２面２１２を支持する支持機構１２０と、第１面２１１の位置を測定する位置測定部１３０と、位置測定部１３０の測定結果に基づいて、第１面２１１が撮影部１１１の合焦面１１１２に配置されるように支持機構１２０を駆動制御する支持機構制御部１４１を備える。【選択図】図２

Description

本発明は、鋳片を評価するために当該鋳片から採取した鋳片サンプルの撮影を行う鋳片撮影装置及び鋳片撮影方法、並びに、当該鋳片撮影方法をコンピュータに実行させるためのプログラムに関するものである。

従来から、鋳片を評価するために当該鋳片から採取した鋳片サンプルの断面をエッチング処理して偏析を顕在化し、エッチング処理が施された鋳片サンプルの断面を撮影して得られた撮影画像を用いて、鋳片の内部品質を評価する技術が提案されている。例えば、特許文献１には、鋳片サンプルの断面を撮影手段であるラインセンサカメラで撮影する際に、ラインセンサカメラと鋳片サンプルの断面（撮影面）とを一定の距離で平行に保って走査するために、ラインセンサカメラを含む撮影機構の位置調整を行う構成が開示されている。

特開２０１４−１７４０４５号公報

鋳片サンプルの断面（撮影面）を撮影するカメラとしては、通常、特許文献１のようにラインセンサカメラが用いられるが、ラインセンサカメラではオートフォーカス機能を搭載することが難しく、固定焦点となる。そのため、ラインセンサカメラと鋳片サンプルの撮影面とを相対的に移動させて走査するときに、ラインセンサカメラと鋳片サンプルの撮影面とは一定の距離で平行に保たれるようにする必要がある。

図１は、鋳片サンプル２１０を説明するための図である。
図１に示すように、連続鋳造で製造された鋳片２００を鋳造方向に対して直角に板状に切断して鋳片サンプル２１０を採取し、その鋳片サンプル２１０の一方の断面である第１面２１１を撮影面とする場合を考える。この場合、鋳片サンプル２１０の第１面２１１を上向きにし、その上方でラインセンサカメラを水平方向に移動させることにより走査する。

この際、鋳片サンプル２１０は、鋳片２００からガスカット等により採取されるため、その断面には粗い凹凸が存在する。ここで、撮影面となる第１面２１１は、一般的に平面に機械加工した後で腐食液によりエッチングが施されるため、比較的平坦度の高い面となる。しかしながら、鋳片サンプル２１０における第１面２１１とは反対側の他方の断面である第２面２１２は、ガスカット等をしたままとするのが通常である。そのため、鋳片サンプル２１０の第２面２１２を床等に載置すると、撮影面である第１面２１１が水平から傾いてしまい、ラインセンサカメラと鋳片サンプル２１０の第１面２１１とが平行にならないことがある。なお、鋳片サンプル２１０において第１面２１１に加えて第２面２１２も平面に機械加工することが考えられるが、その加工の手間や費用が膨大なものとなってしまうため、大量の鋳片２００を評価する製鉄業では適用が困難である。

また、鋳片サンプル２１０を採取するときの厚みｔが一定でない、例えば前回採取した鋳片サンプル２１０の厚みと、今回採取した鋳片サンプル２１０の厚みとに差があることもありえる。このように鋳片サンプル２１０を採取するときの厚みｔが一定でないと、例えばラインセンサカメラの高さ位置が固定されている場合、ラインセンサカメラと鋳片サンプル２１０の撮影面である第１面２１１との距離もばらついてしまう。

この点を考慮して、特許文献１では、撮影手段であるラインセンサカメラと鋳片サンプル２１０の撮影面との距離を一定に保つために、鋳片サンプル２１０の撮影面の複数の位置に位置決め具を設置し、位置決め具を設置した状態でラインセンサカメラを含む撮影機構と機械的に接続されている支柱を床に固定して、撮影機構の位置調整を行うようにしている。

しかしながら、特許文献１に記載の構成では、鋳片サンプル２１０の撮影面の複数の位置に位置決め具を設置するものであるため、例えば撮影面に疵がついたり撮影面に異物が付着したりすることが懸念され、その結果、鋳片２００の内部品質の評価に資する適切な撮影画像を取得することが難しい。

さらに、特許文献１に記載の構成では、鋳片サンプル２１０の撮影面を基準としてラインセンサカメラを含む撮影機構の位置調整を行うものであるため、鋳片サンプル２１０が変わるごとに撮影機構の位置調整も行われることになる。撮影機構には、カメラ等の精密な光学機器が含まれているため、鋳片サンプル２１０が変わるごとに撮影機構の位置調整が行われると、撮影機構に含まれる光学機器が振動等の外乱を受け、それにより光軸等がずれてしまう可能性がある。その結果、数多くの鋳片サンプル２１０を撮影した場合、撮影画像の品質が低下してしまい、鋳片２００の内部品質の評価を安定して継続的に実施することが困難となってしまう。

本発明は、このような問題点に鑑みてなされたものであり、鋳片の内部品質の評価に資する適切な撮影画像を取得することができる仕組みを提供することを目的とする。

本発明の鋳片撮影装置は、鋳片を評価するために当該鋳片から採取した鋳片サンプルの撮影を行う鋳片撮影装置であって、前記鋳片サンプルの第１面を撮影する撮影手段と、前記撮影手段の合焦面を照明する照明手段と、前記鋳片サンプルの前記第１面の裏面である第２面を支持する支持手段と、前記第１面の位置を測定する位置測定手段と、前記位置測定手段の測定結果に基づいて、前記第１面が前記合焦面に配置されるように前記支持手段を駆動制御する制御手段と、を有する。
また、本発明は、上述した鋳片撮影装置による鋳片撮影方法、及び、当該鋳片撮影方法をコンピュータに実行させるためのプログラムを含む。

本発明によれば、鋳片の内部品質の評価に資する適切な撮影画像を取得することができる。

鋳片サンプルを説明するための図である。 本発明の実施形態に係る鋳片撮影装置の概略構成の一例を示す図である。 本発明の実施形態に係る鋳片撮影装置による鋳片撮影方法の処理手順の一例を示すフローチャートである。 本発明の実施形態に係る鋳片撮影装置による鋳片撮影方法の処理手順の一例を示す模式図である。

以下に、図面を参照しながら、本発明を実施するための形態（実施形態）について説明する。

図２は、本発明の実施形態に係る鋳片撮影装置１００の概略構成の一例を示す図である。この鋳片撮影装置１００は、図１に示す鋳片２００を評価するために当該鋳片２００から採取した鋳片サンプル２１０の撮影を行う装置である。また、図２に示す鋳片サンプル２１０において、図１に示す構成と同様の構成については同じ符号を付している。即ち、鋳片サンプル２１０の第１面２１１は、エッチング処理が施された断面であって鋳片撮影装置１００で撮影を行う撮影面に相当する断面であり、鋳片サンプル２１０の第２面２１２は、第１面２１１の裏面である他方の断面である。

本実施形態に係る鋳片撮影装置１００は、図２に示すように、撮影機構１１０と、支持機構１２０と、位置測定部１３０と、処理・制御部１４０と、入力部１５０と、表示部１６０を有して構成されている。また、図２には、鉛直方向をＺ方向とし、当該鉛直方向と直交する水平方向に敷設されている２本のレールの敷設方向をＹ方向とし、当該２本のレールに沿って撮影機構１１０を移動（走査）する方向をＸ方向としたＸＹＺ座標系を示している。

まず、撮影機構１１０について説明を行う。
撮影機構１１０は、処理・制御部１４０の制御に基づいて、図２に示すＸ方向において例えば紙面右側から紙面左側に移動しながら、エッチング処理が施された鋳片サンプル２１０の第１面２１１を撮影するための機構である。なお、本実施形態では、鋳片サンプル２１０を固定し静止させた状態で撮影機構１１０を移動させることによって、鋳片サンプル２１０の第１面２１１を撮影する形態を示すが、本発明においては、この形態に限定されるものではない。例えば、撮影機構１１０を固定し静止させた状態で鋳片サンプル２１０を移動させることによって、鋳片サンプル２１０の第１面２１１を撮影する形態も、本発明に適用可能である。この撮影機構１１０は、図２に示すように、撮影部１１１と、照明部１１２とを含み構成されている。

撮影部１１１は、処理・制御部１４０の制御に基づいて、エッチング処理が施された鋳片サンプル２１０の第１面２１１を撮影する構成部である。ここで、本実施形態においては、撮影部１１１は、例えばラインセンサカメラである。また、図２には、撮影機構１１０が図２に示す位置にある場合の撮影部１１１の合焦位置１１１１の一例と、撮影機構１１０がＸ方向に敷設されているレールに沿って移動（走査）した場合の撮影部１１１の合焦面１１１２の一例を図示している。この場合、撮影部１１１の合焦面１１１２は、Ｙ方向に敷設された２本のレールを撮影機構１１０がＸ方向に移動するため、撮影部１１１の合焦位置１１１１をＸ方向に広げた領域であってＸＹ面と平行な面として構成される。

照明部１１２は、処理・制御部１４０の制御に基づいて、撮影部１１１の合焦位置１１１１を少なくとも含む領域（合焦面１１１２の一部或いは全部）を照明する構成部である。この照明部１１２としては、例えばＬＥＤを搭載した棒状の照明装置を用いることができる。なお、図２に示す例では、Ｙ方向に伸びた棒状の照明部１１２を図示している。

続いて、支持機構１２０について説明を行う。
支持機構１２０は、処理・制御部１４０の制御に基づいて、鋳片サンプル２１０の撮影面である第１面２１１の裏面である第２面２１２を支持する機構である。この支持機構１２０は、第２面２１２における複数の点２１２１〜２１２４をそれぞれ支持する複数の支持部材１２１〜１２４を含み構成されている。具体的に、図２に示す例では、支持部材１２１は第２面２１２の点２１２１で当接して第２面２１２を支持し、支持部材１２２は第２面２１２の点２１２２で当接して第２面２１２を支持し、支持部材１２３は第２面２１２の点２１２３で当接して第２面２１２を支持し、支持部材１２４は第２面２１２の点２１２４で当接して第２面２１２を支持している。この複数の支持部材１２１〜１２４は、例えばＺ方向において昇降可能に構成されたジャッキで構成されており、また、処理・制御部１４０の制御によってそれぞれが独立して昇降可能に構成されている。また、この形態を採用する場合、例えば、支持機構１２０は、複数の支持部材１２１〜１２４のそれぞれに対応して各支持部材を昇降させるためのモーター等を含み得る。

続いて、位置測定部１３０について説明を行う。
位置測定部１３０は、処理・制御部１４０の制御に基づいて、鋳片サンプル２１０の撮影面である第１面２１１のＺ方向の位置を測定する構成部である。図２に示す例では、第２面２１２の複数の点２１２１〜２１２４に対応する第１面２１１の複数の点２１１１〜２１１４の位置を測定する複数の位置測定部１３０−１〜１３０−４を設ける形態を示している。具体的に、位置測定部１３０−１は、第２面２１２の点２１２１に対応する第１面２１１の２１１１の位置を測定する測定部であり、位置測定部１３０−２は、第２面２１２の点２１２２に対応する第１面２１１の点２１１２の位置を測定する測定部であり、位置測定部１３０−３は、第２面２１２の点２１２３に対応する第１面２１１の点２１１３の位置を測定する測定部であり、位置測定部１３０−４は、第２面２１２の点２１２４に対応する第１面２１１の点２１１４の位置を測定する測定部である。また、これらの複数の位置測定部１３０−１〜１３０−４は、例えばレーザ変位計で構成されている。

続いて、処理・制御部１４０について説明を行う。
処理・制御部１４０は、例えば入力部１５０から入力された入力情報に基づいて、鋳片撮影装置１００の各構成部を制御して鋳片撮影装置１００の動作を統括的に制御するとともに、各種の処理を行う。この処理・制御部１４０は、図２に示すように、支持機構制御部１４１と、撮影機構制御部１４２とを含み構成されている。

支持機構制御部１４１は、位置測定部１３０の測定結果に基づいて、鋳片サンプル２１０の撮影面である第１面２１１が撮影部１１１の合焦面１１１２に配置されるように支持機構１２０を駆動制御する構成部である。具体的に、支持機構制御部１４１は、複数の位置測定部１３０−１〜１３０−４による第１面２１１の複数の点２１１１〜２１１４における位置の測定結果を用いて、複数の支持部材１２１〜１２４のそれぞれに対して上述した駆動制御を行う。

撮影機構制御部１４２は、支持機構制御部１４１の制御によって鋳片サンプル２１０の第１面２１１が撮影部１１１の合焦面１１１２に配置された後に、鋳片サンプル２１０に対して撮影部１１１及び照明部１１２を含む撮影機構１１０を走査して、撮影部１１１に鋳片サンプル２１０の第１面２１１の撮影を行わせる撮影制御を行う。

続いて、入力部１５０について説明を行う。
入力部１５０は、例えば、ユーザにより操作入力された入力情報を処理・制御部１４０に入力する構成部である。

続いて、表示部１６０について説明を行う。
表示部１６０は、処理・制御部１４０の制御に基づいて、各種の情報や各種のデータ等を表示する構成部である。

次に、図２に示す鋳片撮影装置１００による鋳片撮影方法の処理手順を説明する。
図３は、本発明の実施形態に係る鋳片撮影装置１００による鋳片撮影方法の処理手順の一例を示すフローチャートである。また、図４は、本発明の実施形態に係る鋳片撮影装置１００による鋳片撮影方法の処理手順の一例を示す模式図である。この図４において、図２に示す構成と同様の構成については同じ符号を付している。以下、図３に示すフローチャートの処理手順について、図２及び図４を用いながら説明を行う。

まず、図３のフローチャートの処理を開始する前に、ユーザは、図２に示すように、支持機構１２０における複数の支持部材１２１〜１２４上に、鋳片サンプル２１０の第２面２１２を載置する。これにより、図２に示すように、支持部材１２１が第２面２１２の点２１２１で当接して第２面２１２を支持し、支持部材１２２が第２面２１２の点２１２２で当接して第２面２１２を支持し、支持部材１２３が第２面２１２の点２１２３で当接して第２面２１２を支持し、支持部材１２４が第２面２１２の点２１２４で当接して第２面２１２を支持しているものとする。

そして、図３のステップＳ１０１において、処理・制御部１４０（具体的に、支持機構制御部１４１）は、例えば入力部１５０から入力された入力情報に基づいて、撮影部１１１の合焦面１１１２の位置を設定する。ここで、本実施形態においては、撮影部１１１の合焦面１１１２は上述したようにＸＹ面と平行な面であるため、撮影部１１１の合焦面１１１２の位置として例えばＺ方向の高さを示すＺ座標値を設定する。

この際、図３のステップＳ１０１において設定した撮影部１１１の合焦面１１１２の位置と、現時点において支持機構１２０によって第２面２１２が支持されている鋳片サンプル２１０の位置との関係は、図４（ａ）に示す位置の関係にあるものとする。具体的に、図４（ａ）では、Ｚ方向の高さに関して、鋳片サンプル２１０の第１面２１１の位置が、撮影部１１１の合焦面１１１２の位置よりも低い位置（即ち、Ｚ方向の高さを示すＺ座標値が小さい値）となっている。また、図４（ａ）では、Ｚ方向の高さに関して、鋳片サンプル２１０の第１面２１１における点２１１４の位置が、鋳片サンプル２１０の第１面２１１における他の点２１１１〜２１１３の位置よりも高い位置にある場合を示しており（即ち、点２１１４のＺ座標値が、点２１１１〜２１１３のＺ座標値よりも大きい値である場合を示しており）、このため、撮影部１１１の合焦面１１１２に対して鋳片サンプル２１０の第１面２１１が平行ではなく傾いて配置されている。

続いて、図３のステップＳ１０２において、複数の位置測定部１３０−１〜１３０−４は、鋳片サンプル２１０の第２面２１２の複数の点２１２１〜２１２４に対応する第１面２１１の複数の点２１１１〜２１１４の位置を測定する。図４（ａ）に示す例では、位置測定部１３０−１は、図４（ａ）に示す第１面２１１の点２１１１の位置を測定し、位置測定部１３０−２は、図４（ａ）に示す第１面２１１の点２１１２の位置を測定し、位置測定部１３０−３は、図４（ａ）に示す第１面２１１の点２１１３の位置を測定し、位置測定部１３０−４は、図４（ａ）に示す第１面２１１の点２１１４の位置を測定する。この際、位置測定部１３０−１〜１３０−４は、それぞれ、図４（ａ）に示す第１面２１１の点２１１１〜２１１４の位置として、例えばＺ方向の高さを示すＺ座標値を測定する。

続いて、図３のステップＳ１０３において、支持機構制御部１４１は、図３のステップＳ１０２において位置測定部１３０−１〜１３０−４で得られた測定結果を用いて、第１面２１１の複数の点２１１１〜２１１４の中から、撮影部１１１の合焦面１１１２との距離が最も短い点を基準点として抽出する。図４（ａ）に示す例では、上述したように点２１１４のＺ座標値が点２１１１〜２１１３のＺ座標値よりも大きい値であるため、点２１１４は、撮影部１１１の合焦面１１１２との距離が最も短い距離ｄとなり、基準点として抽出される。

続いて、図３のステップＳ１０４において、支持機構制御部１４１は、鋳片サンプル２１０の第２面２１２の複数の点２１２１〜２１２４のうちの基準点に対応する対応点を除く他の点を支持する支持部材を駆動させて、撮影部１１１の合焦面１１１２に対して第１面２１１を平行にする駆動制御（第１の駆動制御）を行う。図４（ｂ）に示す例では、支持機構制御部１４１は、第２面２１２の複数の点２１２１〜２１２４のうちの基準点２１１４に対応する対応点２１２４を除く他の点２１２１〜２１２３を支持する支持部材１２１〜１２３を駆動させて、撮影部１１１の合焦面１１１２に対して第１面２１１を平行にする駆動制御を行う。これにより、図４（ｂ）に示す例では、撮影部１１１の合焦面１１１２と鋳片サンプル２１０の第１面２１１との距離がｄとなる。なお、「撮影部１１１の合焦面１１１２に対して第１面２１１を平行にする」との記載において「平行」には、わずかなバラつき（傾き）があっても実質的に平行と見なせるものが含まれるものとする。

続いて、図３のステップＳ１０５において、支持機構制御部１４１は、図３のステップＳ１０２において位置測定部１３０−１〜１３０−４で得られた測定結果を用いて、鋳片サンプル２１０の第２面２１２の、上述した対応点及び他の点の全ての点２１２１〜２１２４を支持する全ての支持部材１２１〜１２４を駆動させて、撮影部１１１の合焦面１１１２に対して鋳片サンプル２１０の第１面２１１を一致させる駆動制御（第２の駆動制御）を行う。図４（ｃ）に示す例では、支持機構制御部１４１は、鋳片サンプル２１０の第２面２１２の全ての点２１２１〜２１２４を支持する全ての支持部材１２１〜１２４をＺ方向に距離ｄだけ上昇させて、撮影部１１１の合焦面１１１２に対して鋳片サンプル２１０の第１面２１１を一致させる駆動制御を行う。

続いて、図３のステップＳ１０６において、撮影機構制御部１４２は、撮影部１１１の合焦面１１１２に第１面２１１が配置された鋳片サンプル２１０に対して撮影部１１１及び照明部１１２を含む撮影機構１１０を走査して（例えば、鋳片サンプル２１０に対して撮影機構１１０を、図２に示すＸ方向において鋳片サンプル２１０の紙面右側から紙面左側に向かう方向に走査して）、撮影部１１１に鋳片サンプル２１０の第１面２１１の撮影を行わせる撮影制御を行う。

続いて、図３のステップＳ１０７において、処理・制御部１４０は、撮影機構制御部１４２の撮影制御によって得られた第１面２１１の撮影画像を表示部１６０に表示する制御を行う。なお、この際、処理・制御部１４０は、撮影画像を解析して得られた鋳片２００の内部品質の評価結果を、当該撮影画像とともに表示部１６０に表示する制御を行う形態も採り得る。

そして、その後、図３に示すフローチャートの処理を終了する。

以上説明した本実施形態に係る鋳片撮影装置１００では、鋳片サンプル２１０において撮影部１１１が撮影する第１面２１１の裏面である第２面２１２を支持する支持機構１２０と、鋳片サンプル２１０の第１面２１１の位置を測定する位置測定部１３０と、位置測定部１３０の測定結果に基づいて、第１面２１１が撮影部１１１の合焦面１１１２に配置されるように支持機構１２０を駆動制御する支持機構制御部１４１を具備している。
このように、本実施形態では、撮影部１１１が撮影する鋳片サンプル２１０の第１面２１１とは異なる第２面２１２を支持する支持機構１２０を駆動制御して、撮影面である第１面２１１を撮影部１１１の合焦面１１１２に配置するようにしたので、例えば特許文献１に記載の構成で生じ得る撮影面に疵がついたり撮影面に異物が付着したりすることを回避することができ、その結果、鋳片２００の内部品質の評価に資する適切な撮影画像を取得することができる。さらに、本実施形態では、撮影機構１１０ではなく支持機構１２０を駆動制御して、撮影面である第１面２１１を撮影部１１１の合焦面１１１２に配置するようにしたので、例えば特許文献１に記載の構成で生じ得る撮影機構１１０に含まれる光学機器の光軸等が鋳片サンプル２１０が変わるごとに変更されることを回避することができ、その結果、鋳片２００の内部品質の評価に資する適切な撮影画像を、安定して継続的に取得することも可能となる。

（その他の実施形態）
上述した本発明の実施形態では、図２及び図４に示す、第２面２１２の複数の点２１２１〜２１２４のそれぞれに対応する第１面２１１の複数の点２１１１〜２１１４として、第２面２１２の複数の点２１２１〜２１２４とＸ方向の座標及びＹ方向の座標が同じでＺ方向の座標のみが異なる形態を例示したが、本発明においては、この形態に限定されるものではない。支持機構制御部１４１による支持部材１２１〜１２４のそれぞれの駆動制御をより高精度に行うという観点では、上述した図２及び図４に示す対応関係を有する第１面２１１の複数の点２１１１〜２１１４の位置を位置測定部１３０−１〜１３０−４で測定する形態がより好適であるが、本発明においては、支持部材１２１〜１２４がそれぞれ支持する第２面２１２の複数の点２１２１〜２１２４と、位置測定部１３０が位置を測定する第１面２１１の複数の点２１１１〜２１１４とが、１対１で対応関係を図れる形態であれば、Ｘ方向の座標及びＹ方向の座標が同じで無くても適用可能である。

また、上述した本発明の実施形態では、支持機構１２０が第２面２１２の４つの点２１２１〜２１２４で鋳片サンプル２１０を支持し、位置測定部１３０が第１面２１１の４つの点２１１１〜２１１４で第１面２１１の位置を測定する例を示したが、本発明においては、この形態に限定されるものではない。面を支持する及び面を測定するという観点からは、支持機構１２０が第２面２１２の３つの点２１２１〜２１２３で鋳片サンプル２１０を支持し、位置測定部１３０が第１面２１１の３つの点２１１１〜２１１３で第１面２１１の位置を測定する形態も、本発明に含まれる。即ち、本発明においては、支持機構１２０が第２面２１２の３点以上の複数の点で鋳片サンプル２１０を支持し、位置測定部１３０が第１面２１１の３点以上の複数の点で第１面２１１の位置を測定する形態であれば、適用可能である。

また、上述した本発明の実施形態では、図２において説明を簡単にするために、支持部材１２１〜１２４が直接鋳片サンプル２１０の第２面２１２を支持する形態を示したが、本発明においては、この形態に限定されるものではない。例えば、支持部材１２１〜１２４と鋳片サンプル２１０の第２面２１２との間に、鋳片サンプル２１０を受ける金属や木材等の受け台を設けて、支持部材１２１〜１２４が当該受け台を介して間接的に鋳片サンプル２１０の第２面２１２を支持する形態も、本発明に適用可能である。

また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。
即ち、上述した本発明の実施形態に係る鋳片撮影装置１００の機能を実現するソフトウェア（プログラム）を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）がプログラムを読み出して実行する処理である。このプログラム及び当該プログラムを記憶したコンピュータ読み取り可能な記録媒体は、本発明に含まれる。

なお、上述した本発明の実施形態は、本発明を実施するにあたっての具体化の例を示したものに過ぎず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。即ち、本発明はその技術思想、又はその主要な特徴から逸脱することなく、様々な形で実施することができる。

１００：鋳片撮影装置、１１０：撮影機構、１１１：撮影部、１１１１：撮影部の合焦位置、１１１２：撮影部の合焦面、１１２：照明部、１２０：支持機構、１２１〜１２４：支持部材、１３０−１〜１３０−４：位置測定部、１４０：処理・制御部、１４１：支持機構制御部、１４２：撮影機構制御部、１５０：入力部、１６０：表示部、２１０：鋳片サンプル、２１１：鋳片サンプル２１０の第１面、２１１１〜２１１４：第１面の点、２１２：鋳片サンプル２１０の第２面、２１２１〜２１２４：第２面の点

Claims (6)

1. 鋳片を評価するために当該鋳片から採取した鋳片サンプルの撮影を行う鋳片撮影装置であって、
   前記鋳片サンプルの第１面を撮影する撮影手段と、
   前記撮影手段の合焦面を照明する照明手段と、
   前記鋳片サンプルの前記第１面の裏面である第２面を支持する支持手段と、
   前記第１面の位置を測定する位置測定手段と、
   前記位置測定手段の測定結果に基づいて、前記第１面が前記合焦面に配置されるように前記支持手段を駆動制御する制御手段と、
   を有することを特徴とする鋳片撮影装置。
2. 前記支持手段は、前記第２面における３点以上の複数の点をそれぞれ支持する複数の支持部材を含み構成されており、
   前記位置測定手段は、前記第２面の前記複数の点に対応する前記第１面の複数の点の位置を測定することにより、前記第１面の位置を測定し、
   前記制御手段は、前記位置測定手段による前記第１面の前記複数の点における位置の測定結果を用いて、前記複数の支持部材に対して前記駆動制御を行うことを特徴とする請求項１に記載の鋳片撮影装置。
3. 前記制御手段は、前記駆動制御として、
   前記位置測定手段の測定結果を用いて、前記第１面の前記複数の点の中から前記合焦面との距離が最も短い基準点を抽出し、前記第２面の前記複数の点のうちの前記基準点に対応する対応点を除く他の点を支持する前記支持部材を駆動させて、前記合焦面に対して前記第１面を平行にする第１の駆動制御と、
   前記位置測定手段の測定結果を用いて、前記第２面の前記対応点および前記他の点を支持する前記複数の支持部材を駆動させて、前記合焦面に対して前記第１面を一致させる第２の駆動制御と、
   を行うことを特徴とする請求項２に記載の鋳片撮影装置。
4. 前記制御手段は、さらに、前記鋳片サンプルに対して前記撮影手段および前記照明手段を含む撮影機構を走査して、前記撮影手段に前記第１面の撮影を行わせる撮影制御を行うことを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の鋳片撮影装置。
5. 鋳片を評価するために当該鋳片から採取した鋳片サンプルの撮影を行う鋳片撮影装置による鋳片撮影方法であって、
   前記鋳片撮影装置は、前記鋳片サンプルの第１面を撮影する撮影手段と、前記撮影手段の合焦面を照明する照明手段と、前記鋳片サンプルの前記第１面の裏面である第２面を支持する支持手段と、を備えており、
   前記第１面の位置を測定する位置測定ステップと、
   前記位置測定ステップの測定結果に基づいて、前記第１面が前記合焦面に配置されるように前記支持手段を駆動制御する制御ステップと、
   を有することを特徴とする鋳片撮影方法。
6. 請求項５に記載の鋳片撮影方法における各ステップをコンピュータに実行させるためのプログラム。