JP2020011502A - Molding film and method for producing the same, and molded body and method for producing the same - Google Patents

Molding film and method for producing the same, and molded body and method for producing the same Download PDF

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広一 戸崎
Koichi Tozaki
広一 戸崎
睦 中里
Mutsumi Nakazato
睦 中里
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Abstract

To provide a molding film in which lowering of conductivity by tensile force is suppressed.SOLUTION: A molding film has a conductive layer on a base film and forms the conductive layer on a base material surface having an uneven surface and a three-dimensional curved surface, in which a relationship between breaking elongation rates of each of the layers in a softening point temperature of the base film satisfies a breaking elongation rate of the base film>a breaking elongation rate of the conductive layer, the conductive layer is a cured product of a conductive composition containing a resin (A) and conductive fine particles (B), a ratio of the conductive fine particles (B) is 50-85 wt.% in the conductive layer, and the conductive fine particles (B) contain one or more conductive fine particles that are selected from silver powder, copper powder, silver coat powder, copper alloy powder, conductive oxide powder and carbon fine particles and have any one shape of a flat shape, a needle shape, a dendritic shape and a wire shape.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、成形フィルムおよびその製造方法、成形体およびその製造方法に関する。   The present invention relates to a molded film and a method for producing the same, a molded product, and a method for producing the same.

特許文献1には、樹脂成形体と、当該樹脂成形体の一面に対して面一になるように埋め込まれたベースフィルムと、前記樹脂成形体と前記ベースフィルムとの間に配置された導電回路とを有する特定の導電回路一体化成形品が開示されている。
特許文献1には、当該導電回路一体化成形品の製造方法として、特定の導電回路が形成されたベースフィルムを射出成形用金型のキャビティ面に配置した後、溶融樹脂を射出して、樹脂成形体を射出成形することが記載されている。
特許文献1において、導電回路は、特定の透明金属薄膜をエッチングすることにより形成されている。
Patent Literature 1 discloses a resin molded body, a base film embedded so as to be flush with one surface of the resin molded body, and a conductive circuit disposed between the resin molded body and the base film. A specific conductive circuit integrated molded product having the following is disclosed.
Patent Literature 1 discloses a method for manufacturing a molded article integrated with a conductive circuit, in which a base film on which a specific conductive circuit is formed is placed on a cavity surface of an injection mold, and then molten resin is injected. Injection molding of a molded article is described.
In Patent Document 1, a conductive circuit is formed by etching a specific transparent metal thin film.

エッチング法に代わる導電回路の形成方法として、導電性インキを用いた印刷方法が検討されている。導電性インキを印刷する手法によれば、エッチング法と比較して、煩雑な工程がなく、容易に導電回路を形成することができ、生産性が向上し、低コスト化を図ることができる。
例えば特許文献2には、スクリーン印刷によって高精細な導電性パターンを形成することが可能な低温処理型の導電性インキとして、特定の導電性微粒子と、特定のエポキシ樹脂とを含有する特定の導電性インキが開示されている。スクリーン印刷によれば導電パターンの厚膜化が可能であり、導電パターン低抵抗化が実現できるとされている。
As a method of forming a conductive circuit instead of the etching method, a printing method using conductive ink is being studied. According to the method of printing a conductive ink, a conductive circuit can be easily formed without a complicated process as compared with the etching method, and productivity can be improved and cost can be reduced.
For example, Patent Document 2 discloses a low-temperature processing type conductive ink capable of forming a high-definition conductive pattern by screen printing, a specific conductive particle containing specific conductive fine particles and a specific epoxy resin. A water-soluble ink is disclosed. According to screen printing, it is said that the thickness of the conductive pattern can be increased and the resistance of the conductive pattern can be reduced.

また、特許文献3には、3次元的な立体感を表現することが可能な加飾シートの製造方法として、透明樹脂層上にパターン状に印刷された印刷層を有する積層体と、ベースフィルム上に装飾層を有する積層シートとを熱圧着させることにより、前記装飾層を前記印刷層のパターンに沿った凹凸形状とする方法が開示されている。   Patent Document 3 discloses a laminated sheet having a printed layer printed in a pattern on a transparent resin layer and a base film as a method of manufacturing a decorative sheet capable of expressing a three-dimensional effect. There is disclosed a method in which the decorative layer is formed into a concavo-convex shape along the pattern of the print layer by thermocompression bonding a laminated sheet having a decorative layer thereon.

特開2012−11691号公報JP 2012-11691 A 特開2011−252140号公報JP 2011-252140 A 特開2007−296848号公報JP 2007-296848 A

特許文献1の手法によれば、成形体の表面に、容易に導電体を設けることができる。一方、凹凸面や曲面を有する基材など、様々な形状の基材表面に導電回路を形成したいという要望が高まっている。このような基材表面に導電層を有するフィルムを張り合わせて導電回路を形成する場合、当該フィルムは基材の表面形状に合わせて変形する必要がある。当該フィルムの変形時に、導電層には部分的に大きな引張力が生じることがある。当該引張力により導電層の破断などが生じ、導電性の低下が問題となった。   According to the method of Patent Document 1, a conductor can be easily provided on the surface of a molded body. On the other hand, there is an increasing demand for forming a conductive circuit on the surface of a substrate having various shapes such as a substrate having an uneven surface or a curved surface. When a conductive circuit is formed by laminating a film having a conductive layer on such a substrate surface, the film needs to be deformed according to the surface shape of the substrate. When the film is deformed, a large tensile force may be partially generated in the conductive layer. The tensile force caused the conductive layer to break or the like, resulting in a problem of a decrease in conductivity.

本発明は、このような実情に鑑みてなされたものであり、引張力による導電性の低下が抑制された成形フィルム、及び、導電性に優れた成形体及びその製造方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of such circumstances, and it is an object of the present invention to provide a molded film in which a decrease in conductivity due to a tensile force is suppressed, a molded body having excellent conductivity, and a method for producing the same. And

本実施に係る成形フィルムは、ベースフィルム上に導電層を有し、前記ベースフィルムの軟化点温度における各層の破断伸び率の関係が
ベースフィルムの破断伸び率>導電層の破断伸び率
を満たす、凹凸面や三次元曲面を有する基材表面に導電層を形成するための成形フィルムであり、
前記導電層が、樹脂(A)と導電性微粒子(B)とを含有する導電性組成物の硬化物であり、
前記導電性微粒子(B)の前記導電層に占める比率が50〜85重量%であり、かつ前記導電性微粒子(B)が、銀粉、銅粉、銀コート粉、銅合金粉、導電性酸化物粉、およびカーボン微粒子より選択される、扁平、針、樹状、ワイヤー形状のうちのいずれかの形状である1種以上の導電性微粒子を含む。
The formed film according to the present embodiment has a conductive layer on the base film, and the relationship of the elongation at break of each layer at the softening point temperature of the base film satisfies the elongation at break of the base film> the elongation at break of the conductive layer. A molded film for forming a conductive layer on the surface of a substrate having an uneven surface or a three-dimensional curved surface,
The conductive layer is a cured product of a conductive composition containing a resin (A) and conductive fine particles (B),
The ratio of the conductive fine particles (B) in the conductive layer is 50 to 85% by weight, and the conductive fine particles (B) are silver powder, copper powder, silver coating powder, copper alloy powder, conductive oxide. It contains at least one type of conductive fine particles selected from powder, carbon fine particles, and having any shape of flat, needle, dendritic, and wire shapes.

本実施の成形フィルムの一実施形態は、ベースフィルム上に、加飾層と、導電層とを有し、前記ベースフィルムの軟化点温度における各層の破断伸び率の関係が
ベースフィルムの破断伸び率>加飾層の破断伸び率>導電層の破断伸び率
を満たす、凹凸面や三次元曲面を有する基材表面に導電層を形成するための成形フィルムであり、
前記導電層が、樹脂(A)と導電性微粒子(B)とを含有する導電性組成物の硬化物であり、
前記導電性微粒子(B)の前記導電層に占める比率が50〜85重量%であり、かつ前記導電性微粒子(B)が、銀粉、銅粉、銀コート粉、銅合金粉、導電性酸化物粉、およびカーボン微粒子より選択される、扁平、針、樹状、ワイヤー形状のうちのいずれかの形状である1種以上の導電性微粒子を含む。
One embodiment of the molded film of the present embodiment has a decorative layer and a conductive layer on a base film, and the relationship between the elongation at break of each layer at the softening point temperature of the base film is the elongation at break of the base film. > Elongation at break of decorative layer> Satisfies the elongation at break of conductive layer, is a molded film for forming a conductive layer on the surface of a substrate having an uneven surface or a three-dimensional curved surface,
The conductive layer is a cured product of a conductive composition containing a resin (A) and conductive fine particles (B),
The ratio of the conductive fine particles (B) in the conductive layer is 50 to 85% by weight, and the conductive fine particles (B) are silver powder, copper powder, silver coating powder, copper alloy powder, conductive oxide. It contains at least one type of conductive fine particles selected from powder, carbon fine particles, and having any shape of flat, needle, dendritic, and wire shapes.

本実施の成形フィルムの一実施形態は、ベースフィルム上に、絶縁層と、導電層とを有し、前記ベースフィルムの軟化点温度における各層の破断伸び率の関係が
ベースフィルムの破断伸び率>絶縁層の破断伸び率>導電層の破断伸び率
を満たす、凹凸面や三次元曲面を有する基材表面に導電層を形成するための成形フィルムであり、
前記導電層が、樹脂(A)と導電性微粒子(B)とを含有する導電性組成物の硬化物であり、
前記導電性微粒子(B)の前記導電層に占める比率が50〜85重量%であり、かつ前記導電性微粒子(B)が、銀粉、銅粉、銀コート粉、銅合金粉、導電性酸化物粉、およびカーボン微粒子より選択される、扁平、針、樹状、ワイヤー形状のうちのいずれかの形状である1種以上の導電性微粒子を含む。
One embodiment of the formed film of the present embodiment has an insulating layer and a conductive layer on a base film, and the relationship between the elongation at break of each layer at the softening point temperature of the base film is the elongation at break of the base film> Elongation at break of insulating layer> Satisfies the elongation at break of conductive layer, a molded film for forming a conductive layer on the surface of a substrate having an uneven surface or a three-dimensional curved surface,
The conductive layer is a cured product of a conductive composition containing a resin (A) and conductive fine particles (B),
The ratio of the conductive fine particles (B) in the conductive layer is 50 to 85% by weight, and the conductive fine particles (B) are silver powder, copper powder, silver coating powder, copper alloy powder, conductive oxide. It contains at least one type of conductive fine particles selected from powder, carbon fine particles, and having any shape of flat, needle, dendritic, and wire shapes.

本実施の成形フィルムの一実施形態は、ベースフィルム上に、絶縁層と、加飾層と、導電層とを有する成形フィルムであって、
前記ベースフィルムの軟化点温度における各層破断伸び率の関係が
ベースフィルムの破断伸び率>加飾層の破断伸び率>導電層の破断伸び率
ベースフィルムの破断伸び率>絶縁層の破断伸び率>導電層の破断伸び率
を同時に満たす、凹凸面や三次元曲面を有する基材表面に導電層を形成するための成形フィルムであり、
前記導電層が、樹脂(A)と導電性微粒子(B)とを含有する導電性組成物の硬化物であり、
前記導電性微粒子(B)の前記導電層に占める比率が50〜85重量%であり、かつ前記導電性微粒子(B)が、銀粉、銅粉、銀コート粉、銅合金粉、導電性酸化物粉、およびカーボン微粒子より選択される、扁平、針、樹状、ワイヤー形状のうちのいずれかの形状である1種以上の導電性微粒子を含む。
One embodiment of the formed film of the present embodiment is a formed film having an insulating layer, a decorative layer, and a conductive layer on a base film,
The relationship between the elongation at break of each layer at the softening point temperature of the base film is as follows: elongation at break of base film> elongation at break of decorative layer> elongation at break of conductive layer elongation at break of base film> elongation at break of insulating layer> Simultaneously satisfying the elongation at break of the conductive layer, a molded film for forming the conductive layer on the surface of the substrate having an uneven surface or a three-dimensional curved surface,
The conductive layer is a cured product of a conductive composition containing a resin (A) and conductive fine particles (B),
The ratio of the conductive fine particles (B) in the conductive layer is 50 to 85% by weight, and the conductive fine particles (B) are silver powder, copper powder, silver coating powder, copper alloy powder, conductive oxide. It contains at least one type of conductive fine particles selected from powder, carbon fine particles, and having any shape of flat, needle, dendritic, and wire shapes.

本実施の成形フィルムの一実施形態は、前記ベースフィルムが、ポリカーボネート、ポリメチルメタクリレート、ポリプロピレン及び、ポリエチレンテレフタレートより選択されるフィルム、又はこれらの積層フィルムである。   In one embodiment of the formed film of the present embodiment, the base film is a film selected from polycarbonate, polymethyl methacrylate, polypropylene, and polyethylene terephthalate, or a laminated film thereof.

本実施に係る成形体は、基材上に前記成形フィルムが積層した成形体である。   The molded article according to the present embodiment is a molded article in which the molded film is laminated on a substrate.

本実施に係る成形体の第1の製造方法は、前記本実施の成形フィルムを配置する工程と、
オーバーレイ成形法により、前記成形フィルムと前記基材とを一体化する工程と、を含む。
A first method for manufacturing a molded article according to the present embodiment includes a step of arranging the molded film of the present embodiment,
Integrating the molded film and the base material by an overlay molding method.

本実施に係る成形体の第2の製造方法は、前記本実施の成形フィルムを所定の形状に成形する工程と、
成形後の前記成形フィルムを、射出成形用の型内に配置する工程と、
射出成形により基材を成形すると共に、前記成形フィルムと前記基材とを一体化する工程と、を含む。
A second method for manufacturing a molded article according to the present embodiment includes a step of molding the molded film of the present embodiment into a predetermined shape,
A step of arranging the molded film after molding in a mold for injection molding,
Forming the base material by injection molding, and integrating the formed film and the base material.

本実施に係る成形体の第3の製造方法は、前記本実施の成形フィルムを、射出成形用の型内に配置する工程と、
射出成形により基材を成形すると共に、前記成形フィルム中の少なくとも導電層を基材側に転写する工程と、を含む。
A third manufacturing method of a molded article according to the present embodiment includes a step of disposing the molded film of the present embodiment in a mold for injection molding;
Forming the base material by injection molding and transferring at least the conductive layer in the formed film to the base material side.

本発明によれば、引張力による導電性の低下が抑制された成形フィルム、及び、導電性に優れた成形体及びその製造方法を提供することができる。   Advantageous Effects of Invention According to the present invention, it is possible to provide a molded film in which a decrease in conductivity due to tensile force is suppressed, a molded body having excellent conductivity, and a method for producing the same.

本実施の成形フィルムの一例を示す、模式的な断面図である。FIG. 1 is a schematic cross-sectional view illustrating an example of a formed film of the present embodiment. 本実施の成形フィルムの別の一例を示す、模式的な断面図である。It is a typical sectional view showing another example of the cast film of this embodiment. 成形体の第1の製造方法の一例を示す、模式的な工程図である。It is a schematic process drawing which shows an example of the 1st manufacturing method of a molded object. 成形体の第2の製造方法の別の一例を示す、模式的な工程図である。It is a schematic process drawing which shows another example of the 2nd manufacturing method of a molded object. 成形体の第3の製造方法の別の一例を示す、模式的な工程図である。It is a schematic process drawing which shows another example of the 3rd manufacturing method of a molded object.

以下、本実施に係る成形フィルム、成形体およびその製造方法について順に詳細に説明する。
なお本実施において、硬化物とは、化学反応により硬化したもののみならず、例えば溶剤が揮発することにより硬くなったものなど、化学反応によらずに硬化したものを包含する。
Hereinafter, the molded film, the molded body, and the manufacturing method thereof according to the present embodiment will be sequentially described in detail.
In the present embodiment, the cured product includes not only a product cured by a chemical reaction but also a product cured without a chemical reaction, for example, a product hardened by the evaporation of a solvent.

[成形フィルム]
本実施の成形フィルムは、ベースフィルム上に導電層を有する凹凸面や三次元曲面を有する基材表面に導電層を形成するための成形フィルムであって、前記ベースフィルムの軟化点温度における各層の破断伸び率の関係が
ベースフィルムの破断伸び率>導電層の破断伸び率
を満たす、成形フィルムであり、前記導電層が、樹脂(A)と導電性微粒子(B)とを含有する導電性組成物の硬化物であり、前記導電性微粒子(B)の前記導電層に占める比率が50〜85重量%であり、かつ前記導電性微粒子(B)が、銀粉、銅粉、銀コート粉、銅合金粉、導電性酸化物粉、およびカーボン微粒子より選択される、扁平、針、樹状、ワイヤー形状のうちのいずれかの形状である1種以上の導電性微粒子を含む。
[Molded film]
The formed film of the present embodiment is a formed film for forming a conductive layer on the surface of a base material having an uneven surface or a three-dimensional curved surface having a conductive layer on a base film, and each layer at a softening point temperature of the base film. A molded film in which the relationship of the elongation at break satisfies the elongation at break of the base film> the elongation at break of the conductive layer, wherein the conductive layer contains a resin (A) and conductive fine particles (B). The conductive fine particles (B) occupy 50 to 85% by weight of the conductive layer, and the conductive fine particles (B) are silver powder, copper powder, silver-coated powder, copper Includes one or more conductive fine particles selected from an alloy powder, a conductive oxide powder, and a carbon fine particle, the shape being any one of flat, needle, dendritic, and wire shapes.

上記本実施の成形フィルムによれば、引張力による導電性の低下が抑制された成形フィルムが製造可能となる。   According to the molded film of the present embodiment, it is possible to produce a molded film in which a decrease in conductivity due to a tensile force is suppressed.

本発明者らは、平坦でない基材表面に適用可能な成形フィルムを製造するための導電層
形成用の導電性組成物として、異なる材質・形状の導電性微粒子を各種選択して検討したところ、導電性組成物に含まれる導電性微粒子の種類および添加量によって、得られた成形フィルムを成形可能な高温化で引張ったときに生じる導電層の抵抗値の変化の大きさが異なるという知見を得た。本発明者らはこのような知見に基づいて検討を行った結果、樹脂フィルム上に銀粉、銅粉、銀コート粉、銅合金粉、導電性酸化物粉、およびカーボン微粒子より選択される、扁平、針、樹状、ワイヤー形状のうちのいずれかの形状の導電性微粒子を含有しない導電性組成物または導電性微粒子を特定の比率で含む導電性組成物を印刷および加熱乾燥した場合、成形フィルムをその軟化点に当たる高温での引っ張りにより変形させた際に当該導電性組成物の層と樹脂フィルムの接触面で密着性の低下、もしくは導電層の亀裂発生が生じることが明らかとなった。
このような高温での引っ張りにより変形させた際に樹脂フィルムとの接触面で密着性の低下、もしくは導電層の亀裂発生が生じるような導電層を有する成形フィルムであっても、それ単体を平坦なフィルム回路基板などとして使用する場合、また二次元曲面上に曲げた状態で使用する場合には問題とならなった。しかしながら平坦でない基材表面の形状、例えば凹凸形状や三次元曲面形状に追従させ一体化させる成形フィルムとして使用する場合には、成形フィルムは変形を伴うことになる。そのため、樹脂フィルムの変形に対し導電層が追随できず剥離乃至断線が起こることにより、導電層の導電性が低下しているものと予測される。
なお、本発明における凹凸面や三次元曲面とは、なだらかな曲線断面を有する面のみでなく、鋭角状の角や矩形形状を有する立体面全般を示す。すなわち、平面を伸縮することなく変形させることのみでは、成立させることのできない立体形状を指し、例えば半球状、円錐状、円柱状、四角柱状等の立体形状を指すものである。なお、ある立体形状が、連続した立体面内に先述の平面または二次元曲面と、三次元曲面の両方の要素を有する場合、例えば平面形状に1か所以上の部分的な半球状形状が組み合わされた立体形状に関しては、全体として平面を伸縮することなく変形させることによって成立させることのできない立体形状であることから、これも三次元曲面であるものとする。即ち本発明における凹凸面や三次元曲面は、フレキシブル基板等を折り曲げることでは実現できないものであり、たとえば、成形性フィルムの加熱下での立体成形による賦形などによって実現可能となる形状である。
本発明者らはこれらの知見に基づいて鋭意検討を行った結果、導電層の導電性微粒子の配合割合が組成物の固形分全体中の50〜85%であり、かつ前記導電性微粒子が銀粉、銅粉、銀コート粉、銅合金粉、導電性酸化物粉、およびカーボン微粒子より選択される、扁平、針、樹状、ワイヤー形状のうちのいずれかの形状である1種以上の導電性微粒子を含み、更に上記のような特定の比率と種類、形状の導電性微粒子を含有することに加えて、ベースフィルムの軟化点温度における導電性組成物の層の破断伸び率との関係が、ベースフィルムの破断伸び率>導電層の破断伸び率、の関係を満たす際に、成形フィルムを引張ったときに生じる抵抗値の変化が特に際立って小さくなることを見出して、本発明を完成させるに至った。このような効果が得られる理由には未解明の部分もあるが、上記のように導電層に接するベースフィルムの破断伸び率がより高いことと導電層が前記のような対称性の低い異形のフィラーを含むことで、成形フィルム変形時に導電層内の導電微粒子同士のネットワークに過剰な応力負荷がかかることを抑制し応力を効率的に拡散することで、優れた導電維持特性が発揮されるものと推察される。
即ち、本発明の成形フィルムは、導電層形成用の導電性組成物として上記樹脂(A)と、樹脂に対して特定の材質および形状の導電性微粒子(B)を特定の比率で用いるとともに、ベースフィルムの軟化点温度における各層の破断伸び率の関係が特定の序列を満たす際に、平坦でない基材表面に用いた場合であっても導電性の低下が抑制される。更に、当該成形フィルムを用いることで、凹凸面や曲面など、任意の面に導電回路が形成された成形体を得ることができる。
The present inventors, as a conductive composition for forming a conductive layer for producing a molded film applicable to a non-flat substrate surface, as a result of variously selecting and examining conductive fine particles of different materials and shapes, The knowledge that the magnitude of the change in the resistance value of the conductive layer that occurs when the obtained molded film is pulled at a high temperature at which it can be molded is different depending on the type and amount of the conductive fine particles contained in the conductive composition is obtained. Was. The present inventors have conducted a study based on such knowledge, and as a result, a flat powder selected from silver powder, copper powder, silver coat powder, copper alloy powder, conductive oxide powder, and carbon fine particles on a resin film. , Needles, dendrites, conductive film containing no conductive fine particles of any shape of wire shape or conductive composition containing conductive fine particles in a specific ratio, when printed and heated and dried, molded film It was clarified that, when the resin composition was deformed by stretching at a high temperature corresponding to its softening point, the adhesion between the layer of the conductive composition and the resin film was reduced, or the conductive layer was cracked.
Even if it is a molded film having a conductive layer that causes a decrease in adhesion at the contact surface with the resin film when the film is deformed by pulling at such a high temperature, or cracks of the conductive layer occur, the single film is flat. When used as a flexible film circuit board, etc., or when used in a state of being bent on a two-dimensional curved surface, there has been a problem. However, when used as a molded film that follows and integrates the shape of a non-flat substrate surface, for example, an uneven shape or a three-dimensional curved surface shape, the molded film is accompanied by deformation. For this reason, it is expected that the conductivity of the conductive layer is reduced because the conductive layer cannot follow the deformation of the resin film and peeling or disconnection occurs.
In addition, the uneven surface and the three-dimensional curved surface in the present invention mean not only a surface having a gentle curved cross section, but also a general three-dimensional surface having an acute corner or a rectangular shape. That is, it refers to a three-dimensional shape that cannot be achieved only by deforming a plane without expanding and contracting, for example, a three-dimensional shape such as a hemispherical shape, a conical shape, a cylindrical shape, and a quadrangular prism shape. When a certain three-dimensional shape has both the above-described plane or two-dimensional curved surface and three-dimensional curved surface elements in a continuous three-dimensional surface, for example, one or more partial hemispherical shapes are combined with the planar shape. The obtained three-dimensional shape is a three-dimensional shape that cannot be established by deforming the plane as a whole without expanding and contracting, and thus is also assumed to be a three-dimensional curved surface. That is, the uneven surface and the three-dimensional curved surface in the present invention cannot be realized by bending a flexible substrate or the like, and have a shape that can be realized by, for example, shaping by three-dimensional molding under heating of a moldable film.
The present inventors have conducted intensive studies based on these findings, and as a result, the compounding ratio of the conductive fine particles in the conductive layer is 50 to 85% of the total solid content of the composition, and the conductive fine particles are silver powder. One or more conductivity selected from flat, needle, dendritic, and wire shapes selected from copper powder, silver-coated powder, copper alloy powder, conductive oxide powder, and carbon fine particles. Including fine particles, in addition to the above specific ratio and type, in addition to containing the conductive fine particles of the shape, the relationship between the elongation at break of the layer of the conductive composition at the softening point temperature of the base film, When satisfying the relationship of elongation at break of base film> elongation at break of conductive layer, it was found that the change in resistance value generated when the molded film was pulled was particularly remarkably small. Reached. Although the reason why such an effect can be obtained is unclear, there is a higher elongation at break of the base film in contact with the conductive layer as described above, and the conductive layer has a deformed shape with low symmetry as described above. By containing a filler, it suppresses the application of excessive stress to the network of conductive particles in the conductive layer during deformation of the molded film, and diffuses the stress efficiently, thereby exhibiting excellent conductivity maintenance characteristics. It is inferred.
That is, the molded film of the present invention uses the above resin (A) as a conductive composition for forming a conductive layer, and the conductive fine particles (B) having a specific material and shape with respect to the resin at a specific ratio, When the relationship between the elongation at break of each layer at the softening point temperature of the base film satisfies a specific order, a decrease in conductivity is suppressed even when used on an uneven substrate surface. Furthermore, by using the formed film, a formed body having a conductive circuit formed on an arbitrary surface such as an uneven surface or a curved surface can be obtained.

[成形フィルム]
本実施の成形フィルムは、ベースフィルム上に導電層を備えた成形フィルムであって、
前記導電層が、前記成形フィルムの導電層形成用の導電性組成物の硬化物であることを特徴とする。
本実施の成形フィルムによれば、凹凸面や曲面など任意の基材面に導電回路が形成された成形体を得ることができる。
本実施の成形フィルムの層構成について図1及び図2を参照して説明する。図1及び図2は、本実施の成形フィルムの一例を示す、模式的な断面図である。
図1の例に示される成形フィルム10は、ベースフィルム1上に、導電層2を備えている。導電層2は、ベースフィルム1の全面に形成されていてもよく、図1の例のように所望のパターン状に形成されていてもよい。
図2の例に示される成形フィルム10は、ベースフィルム1上に、加飾層3を有し、当該加飾層3上に、導電層2を有し、更に導電層2および加飾層3の一部の上に絶縁層6を
備えている。また図2の例に示されるように、成形フィルム10は、導電層2上に、電子部品4や、取り出し回路に接続するためのピン5を備えていてもよい。
また、図示はしないが、導電層2上、又は電子部品4上には、当該導電層や電子部品を保護するための樹脂層を備えていてもよく、当該樹脂層が、後述する基材との密着性を向上するための粘着層または接着層となっていてもよい。また、絶縁層6がこのような基材との密着性を向上するための粘着層または接着層としての役割を兼ねていてもよい。
また、図示はしないが、本実施の成形フィルム10が加飾層3を備える場合、図2の例のほか、ベースフィルム1の一方の面に加飾層3を有し、他方の面に導電層2を備える層構成であってもよい。
本実施の成形フィルムは、少なくともベースフィルムと、導電層を備えるものであり、必要に応じて他の層を有してもよいものである。以下このような成形フィルムの各層について説明する。
[Molded film]
The formed film of the present embodiment is a formed film having a conductive layer on a base film,
The conductive layer is a cured product of a conductive composition for forming a conductive layer of the molded film.
According to the molded film of the present embodiment, it is possible to obtain a molded body in which a conductive circuit is formed on an arbitrary substrate surface such as an uneven surface or a curved surface.
The layer structure of the molded film of the present embodiment will be described with reference to FIGS. 1 and 2 are schematic cross-sectional views showing an example of the formed film of the present embodiment.
A molded film 10 shown in the example of FIG. 1 has a conductive layer 2 on a base film 1. The conductive layer 2 may be formed on the entire surface of the base film 1 or may be formed in a desired pattern as in the example of FIG.
The molded film 10 shown in the example of FIG. 2 has the decorative layer 3 on the base film 1, has the conductive layer 2 on the decorative layer 3, and further has the conductive layer 2 and the decorative layer 3. Is provided with an insulating layer 6 on a part of. Further, as shown in the example of FIG. 2, the molded film 10 may include, on the conductive layer 2, the electronic component 4 and the pins 5 for connecting to a takeout circuit.
Although not shown, a resin layer for protecting the conductive layer or the electronic component may be provided on the conductive layer 2 or the electronic component 4, and the resin layer may be provided with a base material described later. May be a pressure-sensitive adhesive layer or an adhesive layer for improving the adhesion. Further, the insulating layer 6 may also serve as a pressure-sensitive adhesive layer or an adhesive layer for improving the adhesion to such a base material.
Although not shown, when the molded film 10 of the present embodiment includes the decorative layer 3, in addition to the example of FIG. 2, the base film 1 has the decorative layer 3 on one surface and the conductive film on the other surface. A layer configuration including the layer 2 may be used.
The molded film of the present embodiment has at least a base film and a conductive layer, and may have another layer as necessary. Hereinafter, each layer of such a formed film will be described.

<導電層>
本実施の成形フィルムにおいて導電層は、後述する導電性組成物の硬化物である。導電層は、パターニングされた導電層であっても、ベタ塗りされた導電層であっても良い。
導電層の形成方法は特に限定されないが、本実施においては、流動性のある導電性組成物を用いたスクリーン印刷法、パッド印刷法、ステンシル印刷法、スクリーンオフセット印刷法、ディスペンサー印刷法、グラビアオフセット印刷法、反転オフセット印刷法、マイクロコンタクト印刷法により形成することが好ましく、スクリーン印刷法により形成することがより好ましい。
スクリーン印刷法においては、導電回路パターンの高精細化に対応すべく微細なメッシュ、特に好ましくは300〜650メッシュ程度の微細なメッシュのスクリーンを用いることが好ましい。この時のスクリーンの開放面積は約20〜50%が好ましい。スクリーン線径は約10〜70μmが好ましい。
スクリーン版の種類としては、ポリエステルスクリーン、コンビネーションスクリーン、メタルスクリーン、ナイロンスクリーン等が挙げられる。また、高粘度なペースト状態のものを印刷する場合は、高張力ステンレススクリーンを使用することができる。
スクリーン印刷のスキージは丸形、長方形、正方形いずれの形状であってもよく、またアタック角度(印刷時の版とスキージの角度)を小さくするために研磨スキージも使用することができる。その他の印刷条件等は従来公知の条件を適宜設計すればよい。
<Conductive layer>
In the formed film of the present embodiment, the conductive layer is a cured product of a conductive composition described later. The conductive layer may be a patterned conductive layer or a solid conductive layer.
The method for forming the conductive layer is not particularly limited, but in this embodiment, a screen printing method, a pad printing method, a stencil printing method, a screen offset printing method, a dispenser printing method, a gravure offset using a fluid conductive composition is used. It is preferably formed by a printing method, a reverse offset printing method, or a microcontact printing method, and more preferably by a screen printing method.
In the screen printing method, it is preferable to use a screen having a fine mesh, particularly preferably a fine mesh of about 300 to 650 mesh, in order to cope with higher definition of the conductive circuit pattern. At this time, the open area of the screen is preferably about 20 to 50%. The screen wire diameter is preferably about 10 to 70 μm.
Examples of the type of the screen plate include a polyester screen, a combination screen, a metal screen, and a nylon screen. When printing a paste having a high viscosity, a high-tensile stainless steel screen can be used.
The screen printing squeegee may be any of a round shape, a rectangular shape, and a square shape, and a polishing squeegee may be used to reduce the attack angle (the angle between the printing plate and the squeegee). Other printing conditions may be appropriately designed based on conventionally known conditions.

導電性組成物をスクリーン印刷により印刷後、加熱して乾燥および架橋反応を行い硬化する。
溶剤の十分な揮発および架橋反応のために、加熱温度は80〜230℃、加熱時間としては10〜120分とすることが好ましい。これにより、パターン状の導電層を得ることができる。
導電層のパターンとしては特に限定されないが、例えば直線、曲線、メッシュや、部分的な四角、丸、ひし形形状等のベタパターンやベタ抜きパターンおよびそれらの任意の組合せ、または導電層全体が一面ベタパターンであってもよく、導電層が導電回路または導電回路の一部としての機能を発揮する限りにおいて限定されない。
After printing the conductive composition by screen printing, the conductive composition is heated and dried and crosslinked to cure.
For sufficient volatilization of the solvent and the crosslinking reaction, the heating temperature is preferably from 80 to 230 ° C, and the heating time is preferably from 10 to 120 minutes. Thus, a patterned conductive layer can be obtained.
The pattern of the conductive layer is not particularly limited. For example, a solid pattern such as a straight line, a curve, a mesh, a partial square, a circle, a diamond-shaped pattern, a solid pattern, and any combination thereof, or the entire conductive layer is entirely solid. It may be a pattern, and is not limited as long as the conductive layer functions as a conductive circuit or a part of the conductive circuit.

導電層の膜厚は、求められる導電性等に応じて適宜調整すればよく、特に限定されないが、例えば、0.5μm以上20μm以下とすることができ、1μm以上15μm以下とすることが好ましい。   The thickness of the conductive layer may be appropriately adjusted according to the required conductivity and the like, and is not particularly limited. For example, the thickness is 0.5 μm to 20 μm, and preferably 1 μm to 15 μm.

<導電性組成物>
本実施の成形フィルムの導電層形成用の導電性組成物は、少なくとも、樹脂(A)と、導電性微粒子(B)と、を含有するものであり、必要に応じて更に架橋剤(C)などの他の成分を含有してもよいものである。以下このような成形フィルムの導電層形成用の導電性組成物の各成分について説明する。
<Conductive composition>
The conductive composition for forming the conductive layer of the molded film of the present embodiment contains at least the resin (A) and the conductive fine particles (B), and further includes a crosslinking agent (C) if necessary. And other components may be contained. Hereinafter, each component of the conductive composition for forming a conductive layer of such a formed film will be described.

<樹脂(A)>
本実施の導電性組成物は、成膜性や、ベースフィルム乃至加飾層への密着性を付与するために、バインダー性の樹脂(A)を含有する。また、本実施においては、樹脂(A)を
含有することにより、導電層に柔軟性を付与することができる。そのため、樹脂(A)を含有することにより延伸に対する導電層の断線が抑制される。
<Resin (A)>
The conductive composition of the present embodiment contains a resin (A) having a binder property in order to impart film formability and adhesion to a base film or a decorative layer. Further, in the present embodiment, by containing the resin (A), flexibility can be imparted to the conductive layer. Therefore, disconnection of the conductive layer due to stretching is suppressed by containing the resin (A).

前記樹脂(A)は、導電性組成物用途に用いられる樹脂の中から適宜選択して用いることができる。
樹脂(A)としては、例えば、アクリル系樹脂、ビニルエーテル樹脂、ポリエーテル系樹脂、ポリエステル系樹脂、ポリウレタン系樹脂、エポキシ樹脂、フェノキシ系樹脂、ポリカーボネート系樹脂、ポリ塩化ビニル系樹脂、ポリオレフィン樹脂、スチレン系ブロック共重合樹脂、ポリアミド系樹脂、ポリイミド系樹脂などが挙げられ、1種単独で、又は2種以上を組み合わせて用いることができる。
The resin (A) can be appropriately selected and used from resins used for conductive composition applications.
As the resin (A), for example, acrylic resin, vinyl ether resin, polyether resin, polyester resin, polyurethane resin, epoxy resin, phenoxy resin, polycarbonate resin, polyvinyl chloride resin, polyolefin resin, styrene Examples include a system block copolymer resin, a polyamide system resin, and a polyimide system resin, which may be used alone or in combination of two or more.

本実施において樹脂(A)は、中でも、ヒドロキシ基、アミノ基、カルボキシル基、酸無水物基より選択される置換基を有することが好ましい。当該置換基を有することにより、後述する導電性微粒子(B)との親和性が向上し、また、ベースフィルム等への密着性も向上する。
更に本実施において樹脂(A)は、ヒドロキシ基、アミノ基、カルボキシル基、酸無水物基より選択される置換基を1分子中に2つ以上有することが好ましい。この場合、後述する架橋剤(D)と組み合わせることにより樹脂(A)を3次元架橋することができ、導電層に硬度が求められる用途において好適に用いることができる。
In this embodiment, the resin (A) preferably has a substituent selected from a hydroxy group, an amino group, a carboxyl group, and an acid anhydride group. By having the substituent, affinity with the conductive fine particles (B) described below is improved, and adhesion to a base film or the like is also improved.
Furthermore, in this embodiment, the resin (A) preferably has two or more substituents selected from a hydroxy group, an amino group, a carboxyl group, and an acid anhydride group in one molecule. In this case, the resin (A) can be three-dimensionally cross-linked by being combined with a cross-linking agent (D) described later, and can be suitably used in applications where hardness is required for the conductive layer.

樹脂(A)が、ヒドロキシ基、アミノ基、カルボキシル基、及び酸無水物基より選択される官能基を有する場合、その官能基価は、1mgKOH/g以上400mgKOH/g以下であることが好ましく、2mgKOH/g以上350mgKOH/g以下であることが好ましい。なお、官能基価の算出方法の詳細は、後述する実施例で説明する。
なお樹脂(A)が複数種類の官能基を有する場合、官能基価はその合計とする。例えば、樹脂(A)がヒドロキシ基と、カルボキシル基とを有する場合には、官能基価は、樹脂(A)の水酸基価と、酸価との合計を表す。
When the resin (A) has a functional group selected from a hydroxy group, an amino group, a carboxyl group, and an acid anhydride group, the functional group value is preferably from 1 mgKOH / g to 400 mgKOH / g, It is preferably from 2 mgKOH / g to 350 mgKOH / g. The details of the method for calculating the functional group value will be described in Examples described later.
When the resin (A) has a plurality of types of functional groups, the functional group value is the sum of the functional groups. For example, when the resin (A) has a hydroxy group and a carboxyl group, the functional group value represents the sum of the hydroxyl value and the acid value of the resin (A).

樹脂(A)のガラス転移温度(Tg)は、特に限定されないが、導電層の取り扱いの容易性の点から、樹脂(A)のガラス転移温度(Tg)が0℃以上150℃以下であることが好ましく、5℃以上120℃以下であることがより好ましい。   The glass transition temperature (Tg) of the resin (A) is not particularly limited, but the glass transition temperature (Tg) of the resin (A) is 0 ° C or more and 150 ° C or less from the viewpoint of easy handling of the conductive layer. Is preferably 5 ° C. or more and 120 ° C. or less.

本実施において樹脂(A)は、後述の実施例、その他公知の方法により合成して用いてもよく、また、所望の物性を有する市販品を用いてもよい。本実施において樹脂(A)は1種単独で又は2種以上を組み合わせて用いることができる。   In the present embodiment, the resin (A) may be used by synthesizing it according to Examples described later or other known methods, or a commercially available product having desired physical properties may be used. In this embodiment, the resin (A) can be used alone or in combination of two or more.

本実施の成形フィルムの導電層形成用の導電性組成物中の樹脂(A)の含有割合は、用途等に応じて適宜調整すればよく特に限定されないが、導電性組成物に含まれる固形分全量に対し、5質量%以上50質量%以下であることが好ましく、8質量%以上40質量%以下であることがより好ましい。樹脂(A)の含有割合が上記下限値以上であれば、成膜性や、ベースフィルム等への密着性向上し、また、導電層に柔軟性を付与することができる。また、樹脂(A)の含有割合が上記上限値以下であれば、相対的に導電性微粒子(B)の含有割合を高めることができ、導電性に優れた導電層を形成することができる。   The content ratio of the resin (A) in the conductive composition for forming the conductive layer of the molded film of the present embodiment is not particularly limited as long as it is appropriately adjusted according to the use and the like, but the solid content contained in the conductive composition is not particularly limited. The total amount is preferably 5% by mass or more and 50% by mass or less, more preferably 8% by mass or more and 40% by mass or less. When the content ratio of the resin (A) is equal to or more than the lower limit, film formability and adhesion to a base film or the like are improved, and flexibility can be imparted to the conductive layer. When the content of the resin (A) is equal to or less than the upper limit, the content of the conductive fine particles (B) can be relatively increased, and a conductive layer having excellent conductivity can be formed.

<導電性微粒子(B)>
導電性微粒子(B)は、導電層内で複数の導電性微粒子が接触して導電性を発現するものであり、本実施においては、高温で加熱することなく導電性が得られるものの中から適宜選択して用いられる。
本実施に用いられる導電性微粒子としては、金属微粒子、カーボン微粒子、導電性酸化物微粒子などが挙げられる。
金属微粒子としては、例えば、金、銀、銅、ニッケル、クロム、パラジウム、ロジウム、ルテニウム、インジウム、アルミニウム、タングステン、モルブテン、白金等の金属単体粉のほか、銅−ニッケル合金、銀−パラジウム合金、銅−スズ合金、銀−銅合金、銅−マンガン合金などの合金粉、前記金属単体粉または合金粉の表面を、銀などで被覆した金属コート粉などが挙げられる。また、カーボン微粒子としては、カーボンブラック、グラファイト、カーボンナノチューブなどが挙げられる。また、導電性酸化物微粒子としては、酸化銀、酸化インジウム、酸化スズ、酸化亜鉛、酸化ルテニウムなどが挙げられる。
<Conductive fine particles (B)>
The conductive fine particles (B) are those in which a plurality of conductive fine particles come into contact in the conductive layer to exhibit conductivity. In the present embodiment, the conductive fine particles (B) are appropriately selected from those which can obtain conductivity without heating at a high temperature. Used selectively.
Examples of the conductive fine particles used in the present embodiment include metal fine particles, carbon fine particles, and conductive oxide fine particles.
Examples of the metal fine particles include, for example, simple metal powders such as gold, silver, copper, nickel, chromium, palladium, rhodium, ruthenium, indium, aluminum, tungsten, morbutene, and platinum, as well as copper-nickel alloy, silver-palladium alloy, Alloy powders such as copper-tin alloys, silver-copper alloys, and copper-manganese alloys, and metal coating powders obtained by coating the surface of the above-mentioned metal simple powder or alloy powder with silver or the like are included. Examples of the carbon fine particles include carbon black, graphite, and carbon nanotube. In addition, examples of the conductive oxide fine particles include silver oxide, indium oxide, tin oxide, zinc oxide, ruthenium oxide, and the like.

本実施においては、中でも、銀粉、銅粉、銀コート粉、銅合金粉、導電性酸化物粉、およびカーボン微粒子より選択される1種以上の導電性微粒子を含むことが好ましい。これらの導電性微粒子(B)を用いることにより、焼結することなく、導電性に優れた導電層を形成することができる。   In the present embodiment, it is particularly preferable to include one or more kinds of conductive fine particles selected from silver powder, copper powder, silver-coated powder, copper alloy powder, conductive oxide powder, and carbon fine particles. By using these conductive fine particles (B), a conductive layer having excellent conductivity can be formed without sintering.

導電性微粒子(B)の形状は特に限定されず、不定形、凝集状、鱗片状、微結晶状、球状、フレーク状、ワイヤー状等を適宜用いることができる。成形時の導電性維持の観点や導体パターンの基材への密着性の観点から、鱗片状、針状、凝集状、樹状、ワイヤー形状のものが好ましい。   The shape of the conductive fine particles (B) is not particularly limited, and irregular shapes, aggregates, scales, microcrystals, spheres, flakes, wires, and the like can be appropriately used. From the viewpoint of maintaining conductivity during molding and the adhesion of the conductor pattern to the substrate, scaly, needle-like, aggregated, tree-like, and wire-like ones are preferred.

導電性微粒子の平均粒子径は、特に限定されないが、導電性組成物中での分散性や、導電層としたときの導電性の点から、0.1μm以上50μm以下が好ましく、0.5μm以上30μm以下がより好ましい。
なお本実施において導電性微粒子(B)の平均粒子径は以下のように算出する。JISM8511(2014)記載のレーザ回折・散乱法に準拠し、レーザ回折・散乱式粒度分布測定装置(日機装株式会社製:マイクロトラック9220FRA)を用い、分散剤として市販の界面活性剤ポリオキシエチレンオクチルフェニルエーテル(ロシュ・ダイアグノスティックス株式会社製:トリトンX−100)を0.5体積%含有する水溶液に導電性微粒子(B)を適量投入し、撹拌しながら40Wの超音波を180秒照射した後、測定を行った。求められたメディアン径(D50)の値を導電性微粒子(B)の平均粒径とした。
The average particle diameter of the conductive fine particles is not particularly limited, but from the viewpoint of the dispersibility in the conductive composition and the conductivity when the conductive layer is formed, is preferably 0.1 μm or more and 50 μm or less, more preferably 0.5 μm or more. It is more preferably 30 μm or less.
In the present embodiment, the average particle diameter of the conductive fine particles (B) is calculated as follows. According to the laser diffraction / scattering method described in JIS M8511 (2014), a commercially available surfactant polyoxyethylene octylphenyl is used as a dispersant using a laser diffraction / scattering particle size distribution analyzer (Microtrack 9220FRA manufactured by Nikkiso Co., Ltd.). An appropriate amount of the conductive fine particles (B) was added to an aqueous solution containing 0.5% by volume of ether (manufactured by Roche Diagnostics, Inc .: Triton X-100), and a 40 W ultrasonic wave was irradiated for 180 seconds with stirring. Then, the measurement was performed. The value of the obtained median diameter (D50) was defined as the average particle diameter of the conductive fine particles (B).

本実施において導電性微粒子(B)は、1種単独で、又は2種以上を組み合わせて用いることができる。
本実施の成形フィルムの導電層形成用の導電性組成物中の導電性微粒子(B)の含有割合は、用途等に応じて適宜調整すればよく特に限定されないが、導電性組成物に含まれる固形分全量に対し、45質量%以上95質量%以下であることが好ましく、50質量%以上85質量%以下であることが好ましい。導電性微粒子(B)の含有割合が上記下限値以上であれば、導電性に優れた導電層を形成することができる。また、導電性微粒子(B)の含有割合が上記上限値以下であれば、樹脂(A)の含有割合を高めることができ、成膜性や、ベースフィルム等への密着性が向上し、また、導電層に柔軟性を付与することができる。
In this embodiment, the conductive fine particles (B) can be used alone or in combination of two or more.
The content ratio of the conductive fine particles (B) in the conductive composition for forming the conductive layer of the molded film of the present embodiment is not particularly limited as long as it is appropriately adjusted depending on the use and the like, but is included in the conductive composition. It is preferably from 45% by mass to 95% by mass, and more preferably from 50% by mass to 85% by mass, based on the total solid content. When the content ratio of the conductive fine particles (B) is at least the lower limit, a conductive layer having excellent conductivity can be formed. Further, when the content ratio of the conductive fine particles (B) is equal to or less than the above upper limit, the content ratio of the resin (A) can be increased, and the film formability and adhesion to a base film or the like are improved, and In addition, flexibility can be given to the conductive layer.

<任意成分>
本発明の成形フィルムの導電層形成用の導電性組成物は、必要に応じてさらに他の成分を含有してもよい。このような他の成分としては、架橋剤(C)、溶剤(D)のほか、分散剤、耐摩擦向上剤、赤外線吸収剤、紫外線吸収剤、芳香剤、酸化防止剤、有機顔料、無機顔料、消泡剤、シランカップリング剤、可塑剤、難燃剤、保湿剤等が挙げられる。
<Optional components>
The conductive composition for forming a conductive layer of the molded film of the present invention may further contain other components as necessary. Such other components include, in addition to the crosslinking agent (C) and the solvent (D), a dispersant, a friction resistance improver, an infrared absorber, an ultraviolet absorber, a fragrance, an antioxidant, an organic pigment, and an inorganic pigment. , An antifoaming agent, a silane coupling agent, a plasticizer, a flame retardant, a humectant, and the like.

<架橋剤(C)>
架橋剤(C)は、前記樹脂(A)を架橋するために用いられる。架橋剤(C)としては、前記樹脂(A)が有する反応性官能基と架橋形成しうる反応性官能基を1分子中に2つ
以上有するものの中から適宜選択して用いることができる。このような反応性官能基としては、たとえば、エポキシ基、イソシアネート基、ブロック化イソシアネート基、アルキルオキシアミノ基、アジリジニル基、オキセタニル基、カルボジイミド基、β−ヒドロキシアルキルアミド基などが挙げられる。
架橋剤(C)は樹脂(A)100質量部に対して、0.05質量部以上30質量部以下用いることが好ましく、0.3質量部以上25質量部以下用いることがより好ましい。
<Crosslinking agent (C)>
The crosslinking agent (C) is used for crosslinking the resin (A). The cross-linking agent (C) can be appropriately selected from those having two or more reactive functional groups capable of forming a cross-link with the reactive functional group of the resin (A) in one molecule. Examples of such a reactive functional group include an epoxy group, an isocyanate group, a blocked isocyanate group, an alkyloxyamino group, an aziridinyl group, an oxetanyl group, a carbodiimide group, and a β-hydroxyalkylamide group.
The crosslinking agent (C) is preferably used in an amount of 0.05 to 30 parts by mass, more preferably 0.3 to 25 parts by mass, based on 100 parts by mass of the resin (A).

溶剤(D)としては特に限定されないが、連続スクリーン印刷性の観点から沸点180℃以上270℃以下であることが好ましい。溶剤としては、例えば、ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート、ガンマブチロラクトン、イソホロンなどが挙げられるが、これらに限定されず用いることができる。 The solvent (D) is not particularly limited, but preferably has a boiling point of 180 ° C or more and 270 ° C or less from the viewpoint of continuous screen printability. Examples of the solvent include, but are not limited to, diethylene glycol monoethyl ether acetate, gamma-butyrolactone, and isophorone.

<成形フィルムの導電層形成用の導電性組成物の製造方法>
本実施の成形フィルムの導電層形成用の導電性組成物の製造方法は、前記樹脂(A)と、導電性微粒子(B)、架橋剤(C)と必要により用いられるその他の成分とを、溶解乃至分散する方法であればよく、公知の混合手段により混合することにより製造することができる。
<Method for producing conductive composition for forming conductive layer of molded film>
The method for producing a conductive composition for forming a conductive layer of a molded film according to the present embodiment comprises the step of mixing the resin (A), the conductive fine particles (B), the crosslinking agent (C), and other components used as necessary. Any method can be used as long as it dissolves or disperses, and can be produced by mixing with a known mixing means.

<ベースフィルム>
本実施においてベースフィルムは、成形体形成時の成形温度条件下で基材表面の形状に追従可能な程度の柔軟性および延伸性を有するものの中から適宜選択することができ、成形体の用途や、成形体の製造方法などに応じて選択することが好ましい。
例えば、成形体の製造方法として、後述するオーバーレイ成形法や、フィルムインサート法を採用する場合には、ベースフィルムが成形体に残ることから、導電層の保護層としての機能を有することなどを考慮してベースフィルムを選択することができる。
一方、成形体の製造方法として後述するインモールド転写法などを採用する場合には、剥離性を有するベースフィルムを選択することが好ましい。
<Base film>
In the present embodiment, the base film can be appropriately selected from those having flexibility and stretchability that can follow the shape of the substrate surface under the molding temperature conditions at the time of forming the molded body. It is preferable to select according to the production method of the molded article.
For example, when an overlay molding method or a film insert method described later is used as a method for manufacturing a molded body, it is considered that the base film remains in the molded body, and has a function as a protective layer of the conductive layer. To select the base film.
On the other hand, when the in-mold transfer method described below or the like is employed as a method for manufacturing a molded product, it is preferable to select a base film having releasability.

ベースフィルムは上記の観点から適宜選択することができ、例えば、ポリカーボネート、ポリメチルメタクリレート、ポリエチレンテレフタレート、ポリスチレン、ポリイミド、ポリアミド、ポリエーテルスルホン、ポリエチレンナフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリ塩化ビニル、ポリエチレン、ポリプロピレン、シクロオレフィンポリマー、ABS(アクリロニトリル−ブタジエン−スチレン共重合樹脂)、AES(アクリロニトリル−エチレン−スチレン共重合樹脂)、カイダック(アクリル変性塩ビ樹脂)、変性ポリフェニレンエーテル、及びこれら樹脂の2種以上からなるポリマーアロイ等のフィルムや、これらの積層フィルムであってもよい。中でも、ポリカーボネート、ポリメチルメタクリレート、ポリプロピレン、ポリエチレンテレフタレートより選択されるフィルム、又はこれらの積層フィルムであることが好ましい。積層フィルムとしては、中でも、ポリカーボネートとポリメチルメタクリレートの積層フィルムが好ましい。
ポリカーボネートとポリメチルメタクリレートの積層フィルムの製造方法は、特に限定されず、ポリカーボネートフィルムとポリメチルメタクリレートフィルムとを貼り合わせて積層してもよく、ポリカーボネートとポリメチルメタクリレートとを共押出しにより積層フィルムとしてもよい。
また、これらのベースフィルムの表面がコロナ処理等の改質処理が施されていることも好ましい。
Base film can be appropriately selected from the above viewpoint, for example, polycarbonate, polymethyl methacrylate, polyethylene terephthalate, polystyrene, polyimide, polyamide, polyether sulfone, polyethylene naphthalate, polybutylene terephthalate, polyvinyl chloride, polyethylene, polypropylene , Cycloolefin polymer, ABS (acrylonitrile-butadiene-styrene copolymer resin), AES (acrylonitrile-ethylene-styrene copolymer resin), Kaidac (acrylic modified vinyl chloride resin), modified polyphenylene ether, and two or more of these resins A film such as a polymer alloy or a laminated film thereof may be used. Among them, a film selected from polycarbonate, polymethyl methacrylate, polypropylene, and polyethylene terephthalate, or a laminated film thereof is preferable. As the laminated film, a laminated film of polycarbonate and polymethyl methacrylate is particularly preferable.
The method for producing a laminated film of polycarbonate and polymethyl methacrylate is not particularly limited, and may be laminated by laminating a polycarbonate film and a polymethyl methacrylate film, or may be formed as a laminated film by co-extrusion of polycarbonate and polymethyl methacrylate. Good.
It is also preferable that the surfaces of these base films have been subjected to a modification treatment such as a corona treatment.

また、必要に応じ、前記導電性組成物の印刷性を向上させるなどの目的で、ベースフィルムにアンカーコート層を設け、当該アンカーコート層上に前記導電性組成物を印刷してもよい。アンカーコート層は、ベースフィルムとの密着性、更には前記導電性組成物との密着性が良好で成形時にフィルムに追従するものであれば、特に限定されず、また樹脂ビーズ等の有機フィラーや金属酸化物等の無機フィラーも必要に応じて添加してもよい。アンカーコート層を設ける方法は特に限定されず、従来公知の塗工方法にて塗布、乾燥、硬
化して得ることができる。
また更に必要に応じ、成形体表面の傷つき防止のため、ベースフィルムにハードコート層を設け、その反対の面に前記導電性組成物および必要に応じて加飾層を印刷してもよい。ハードコート層は、ベースフィルムとの密着性、更には表面硬度が良好で成形時にフィルムに追従するものであれば、特に限定されず、また樹脂ビーズ等の有機フィラーや金属酸化物等の無機フィラーも必要に応じて添加してもよい。ハードコート層を設ける方法は特に限定されず、従来公知の塗工方法にて塗布、乾燥、硬化して得ることができる。
Further, if necessary, an anchor coat layer may be provided on a base film for the purpose of improving the printability of the conductive composition, and the conductive composition may be printed on the anchor coat layer. The anchor coat layer is not particularly limited as long as it adheres to the base film, and furthermore, adheres well to the conductive composition and follows the film at the time of molding. An inorganic filler such as a metal oxide may be added as necessary. The method for providing the anchor coat layer is not particularly limited, and it can be obtained by applying, drying and curing by a conventionally known coating method.
Further, if necessary, a hard coat layer may be provided on the base film in order to prevent the surface of the molded product from being damaged, and the conductive composition and, if necessary, a decorative layer may be printed on the opposite surface. The hard coat layer is not particularly limited as long as it has good adhesion to the base film and further has good surface hardness and follows the film at the time of molding, and is also an inorganic filler such as an organic filler such as resin beads or a metal oxide. May also be added as needed. The method for providing the hard coat layer is not particularly limited, and can be obtained by applying, drying, and curing by a conventionally known coating method.

また本実施の成形フィルムが加飾層を有する場合には、透明性を有するベースフィルムを選択することが好ましい。   When the formed film of the present embodiment has a decorative layer, it is preferable to select a transparent base film.

ベースフィルムの厚みは特に限定されないが、例えば、10μm以上500μm以下とすることができ、20μm以上450μm以下が好ましい。   Although the thickness of the base film is not particularly limited, it can be, for example, 10 μm or more and 500 μm or less, and preferably 20 μm or more and 450 μm or less.

<加飾層>
本実施の成形フィルムは、得られる成形体の意匠性の点から、加飾層を有していてもよい。
加飾層は単色の色味を有する層であってもよく、任意の模様が付されたものであってもよい。
加飾層は、一例として、色材と、樹脂と、溶剤とを含有する加飾インキを調製した後、当該加飾インキを公知の印刷手段によりベースフィルムに塗布することにより形成することができる。
前記色材としては、公知の顔料や染料の中から適宜選択して用いることができる。また樹脂としては、前記本実施の成形フィルムの導電層形成用の導電性組成物における樹脂(A)と同様のものの中から適宜選択して用いることが好ましい。
加飾層の厚みは特に限定されないが、例えば0.5μm以上10μm以下とすることができ、1μm以上5μm以下とすることが好ましい。
<Decoration layer>
The molded film of the present embodiment may have a decorative layer from the viewpoint of the design of the obtained molded body.
The decorative layer may be a layer having a single color, or may be a layer having an arbitrary pattern.
The decorative layer can be formed, for example, by preparing a decorative ink containing a coloring material, a resin, and a solvent, and then applying the decorative ink to a base film by a known printing means. .
The coloring material can be appropriately selected from known pigments and dyes. Further, as the resin, it is preferable to appropriately select and use the same resin as the resin (A) in the conductive composition for forming the conductive layer of the molded film of the present embodiment.
The thickness of the decorative layer is not particularly limited, but may be, for example, 0.5 μm or more and 10 μm or less, and preferably 1 μm or more and 5 μm or less.

<絶縁層>
パターン状導電層上には、必要に応じて、導電パターンの一部または全部を被覆するように、絶縁層を設けてもよい。絶縁層を設けることにより、導電層によって形成される配線の信頼性、特にイオンマイグレーション耐性が向上するほか、配線への応力集中を防ぐことにより、引張力による導電性の低下や破断を抑制することができる。加えて、後述する成形体の製造において、成形フィルムの基材に対する側の最表面に絶縁層を配することにより、成形フィルムと基材との密着性を向上することができる。
絶縁層としては、特に限定されず、公知の絶縁層を適用することができるが、導電層を十分に被覆可能な膜厚と簡便なパターニングが可能な点で、スクリーン印刷可能な絶縁インキの硬化物で形成されたものが好ましい。スクリーン印刷可能な絶縁インキとしては、例えば前記樹脂(A)と沸点180〜270℃の溶剤、および必要に応じて架橋剤(C)を使用した溶剤乾燥型スクリーン絶縁インキを用いることができるほか、紫外線硬化型樹脂および光開始剤を含む紫外線硬化型スクリーン絶縁インキも好適に用いることができる。また、絶縁インキには、必要に応じて顔料や染料などの着色剤や無機フィラー、有機フィラーを分散してもよく、消泡剤、レベリング剤等を含んでもよい。
絶縁層として必要な絶縁性は特に限定されず、導電層を回路等として使用する際の短絡やイオンマイグレーションを抑制できるものであればよいが、体積抵抗値として10〜1016Ω・cm程度のものであることが好ましい。
絶縁層の厚みは特に限定されないが、例えば0.5μm以上40μm以下とすることができ、1μm以上30μm以下とすることが好ましい。
<Insulating layer>
If necessary, an insulating layer may be provided on the patterned conductive layer so as to cover part or all of the conductive pattern. By providing the insulating layer, the reliability of the wiring formed by the conductive layer, particularly, the resistance to ion migration is improved. In addition, by preventing the concentration of stress on the wiring, it is possible to suppress a decrease or breakage of the conductivity due to a tensile force. Can be. In addition, in the production of a molded body described later, by providing an insulating layer on the outermost surface of the molded film on the side of the substrate, the adhesion between the molded film and the substrate can be improved.
The insulating layer is not particularly limited, and a known insulating layer can be applied. However, curing of a screen-printable insulating ink is preferable in terms of a film thickness capable of sufficiently covering the conductive layer and simple patterning. It is preferably formed of a material. As the screen-printable insulating ink, for example, a solvent-drying screen insulating ink using the resin (A) and a solvent having a boiling point of 180 to 270 ° C. and, if necessary, a crosslinking agent (C) can be used. An ultraviolet-curable screen insulating ink containing an ultraviolet-curable resin and a photoinitiator can also be suitably used. The insulating ink may contain a colorant such as a pigment or a dye, an inorganic filler, or an organic filler, if necessary, and may contain an antifoaming agent, a leveling agent, and the like.
The insulating property required for the insulating layer is not particularly limited, as long as short-circuiting and ion migration when the conductive layer is used as a circuit or the like can be suppressed, and the volume resistivity is about 10 8 to 10 16 Ω · cm. Preferably,
The thickness of the insulating layer is not particularly limited, but may be, for example, 0.5 μm or more and 40 μm or less, and preferably 1 μm or more and 30 μm or less.

本実施の成形フィルムが、ベースフィルムと導電層とを有する場合、前記ベースフィル
ムの軟化点温度における各層の破断伸び率の関係が
ベースフィルムの破断伸び率>導電層の破断伸び率
を満たすことが好ましい。
また、実施の成形フィルムが、ベースフィルムと、加飾層と、導電層とをこの順に有する場合、前記ベースフィルムの軟化点温度における各層の破断伸び率の関係が
ベースフィルムの破断伸び率>加飾層の破断伸び率>導電層の破断伸び率
を満たすことが好ましい。
またさらに、実施の成形フィルムが、ベースフィルムと、導電層と、絶縁層とをこの順に有する場合、またはベースフィルムと、加飾層と、導電層と、絶縁層とをこの順に有する場合、前記ベースフィルムの軟化点温度における各層の破断伸び率の関係が
ベースフィルムの破断伸び率>絶縁層の破断伸び率>導電層の破断伸び率
さらに、加飾層を有する場合は更に同時に
ベースフィルムの破断伸び率>加飾層の破断伸び率>導電層の破断伸び率
を満たすことが好ましい。
このような関係を満たすことにより、引張力が導電層に集中し大きな力学的負荷がかかることを防ぐことができ、引張力による導電性の低下がより抑制される。
When the formed film of the present embodiment has a base film and a conductive layer, the relationship of the elongation at break of each layer at the softening point temperature of the base film satisfies the relation of elongation at break of base film> elongation at break of conductive layer. preferable.
Further, when the formed film of the present invention has a base film, a decorative layer, and a conductive layer in this order, the relationship between the elongation at break of each layer at the softening point temperature of the base film is as follows: elongation at break of base film> It is preferable that the elongation at break of the decoration layer> the elongation at break of the conductive layer is satisfied.
Furthermore, when the formed film of the present invention has a base film, a conductive layer, and an insulating layer in this order, or has a base film, a decorative layer, a conductive layer, and an insulating layer in this order, The relationship between the elongation at break of each layer at the softening point temperature of the base film is as follows: elongation at break of base film> elongation at break of insulating layer> elongation at break of conductive layer. It is preferable that elongation> elongation at break of decorative layer> elongation at break of conductive layer.
By satisfying such a relationship, it is possible to prevent a tensile force from being concentrated on the conductive layer and to apply a large mechanical load, thereby further suppressing a decrease in conductivity due to the tensile force.

[成形体]
本実施の成形体は、基材上に前記成形フィルムが積層した成形体であることを特徴とする。本実施の成形体は、前記本実施の成形フィルムにより形成されるため、凹凸面や曲面など、任意の面に前記導電性組成物の硬化物からなる導電回路が形成された成形体となる。
以下、本実施の成形体の製造方法について、3つの実施形態を説明する。なお、本実施の成形体は、前記本実施の成形フィルムを用いて製造されたものであればよく、これらの方法に限定されるものではない。
[Molded body]
The molded article of the present embodiment is a molded article in which the molded film is laminated on a base material. Since the molded article of the present embodiment is formed from the molded film of the present embodiment, the molded article has a conductive circuit formed of a cured product of the conductive composition formed on an arbitrary surface such as an uneven surface or a curved surface.
Hereinafter, three embodiments of the manufacturing method of the molded article of the present embodiment will be described. The molded article of the present embodiment is not limited to these methods as long as it is manufactured using the molded film of the present embodiment.

<第1の製造方法>
本実施に係る成形体の第1の製造方法は
基材上に前記本実施の成形フィルムを配置する工程と、
オーバーレイ成形法により、前記成形フィルムと前記基材とを一体化する工程と、を含む。
以下、図3を参照して説明するが、成形フィルムの製造方法は前述のとおりであるので、ここでの説明は省略する。
<First manufacturing method>
A first method for producing a molded article according to the present embodiment includes a step of arranging the molded film of the present embodiment on a substrate,
Integrating the molded film and the base material by an overlay molding method.
Hereinafter, a description will be given with reference to FIG. 3, but since the method of manufacturing a molded film is as described above, description thereof will be omitted.

図3は、成形体の第1の製造方法の一例を示す、模式的な工程図である。図3(A)〜(C)はそれぞれTOM(Three dimension Overlay Method)成形機のチャンバーボックス内に配置された成形フィルム10と基材20を図示するものであり、図3(B)および(C)ではチャンバーボックスを省略している。
第1の製造方法においては、まず、基材20を下側チャンバーボックス22のテーブル上に設置する。次いで、前記本実施の成形フィルム10を上側チャンバーボックス21と下側チャンバーボックス22との間を通し、基材20上に配置する。この際、成形フィルム10は導電層が基材20側、もしくは基材20とは反対側のどちらと面するように配置されていてもよく、最終的な成形体の用途によって選択される。次いで上側・下側チャンバーボックスを真空状態とした後、成形フィルムを加熱する。次いで、テーブルを上昇することにより基材20を上昇15する。次いで上側チャンバーボックス21内のみを大気開放する(図3(B))。この時、成形フィルムは基材側に加圧16され、成形フィルム10と基材20とが貼り合わされて一体化する(図3(C))。このようにして成形体30を得ることができる。
FIG. 3 is a schematic process diagram illustrating an example of a first method for manufacturing a molded body. FIGS. 3A to 3C respectively show the molded film 10 and the base material 20 arranged in a chamber box of a TOM (Three Dimension Overlay Method) molding machine, and FIG. 3B and FIG. In), the chamber box is omitted.
In the first manufacturing method, first, the base material 20 is set on a table of the lower chamber box 22. Next, the molded film 10 of the present embodiment is passed between the upper chamber box 21 and the lower chamber box 22 and placed on the base material 20. At this time, the molded film 10 may be disposed so that the conductive layer faces either the base material 20 side or the side opposite to the base material 20, and is selected according to the use of the final molded body. Next, after the upper and lower chamber boxes are evacuated, the formed film is heated. Next, the base material 20 is raised 15 by raising the table. Next, only the inside of the upper chamber box 21 is opened to the atmosphere (FIG. 3B). At this time, the molded film is pressurized 16 on the substrate side, and the molded film 10 and the substrate 20 are bonded and integrated (FIG. 3C). Thus, the molded body 30 can be obtained.

当該第1の製造方法において、基材20は予め任意の方法で準備することができる。当
該第1の製造方法において、基材20の材質は特に限定されず、樹脂製であっても金属製であってもよい。
In the first manufacturing method, the base material 20 can be prepared in advance by any method. In the first manufacturing method, the material of the base material 20 is not particularly limited, and may be made of resin or metal.

<第2の製造方法>
本実施に係る成形体の第2の製造方法は、前記本実施の成形フィルムを所定の形状に成形する工程と、
成形後の前記成形フィルムを、射出成形用の型内に配置する工程と、
射出成形により基材を成形すると共に、前記成形フィルムと前記基材とを一体化する工程と、を含む。以下、図4を参照して説明する。なお、第2の製造方法をフィルムインサート法ということがある。
<Second manufacturing method>
A second method for manufacturing a molded article according to the present embodiment includes a step of molding the molded film of the present embodiment into a predetermined shape,
A step of arranging the molded film after molding in a mold for injection molding,
Forming the base material by injection molding, and integrating the formed film and the base material. Hereinafter, description will be made with reference to FIG. Note that the second manufacturing method may be referred to as a film insert method.

図4は、成形体の第2の製造方法の一例を示す、模式的な工程図である。第2の製造方法において、成形フィルム10は、金型11により予め所定の形状に成形する(図4(A))。成形フィルム10は加熱して軟化した後に、又は軟化させながら、真空による金型への吸引もしくは圧空による金型への押しつけ、またはその両方を併用して行い、金型11により成形する(図4(B))。この際、成形フィルム10は導電層が後述する基材20側、もしくは基材20とは反対側のどちらと面するように成形されていてもよく、最終的な成形体の用途によって選択される。次いで、成形後の成形フィルム10を射出成形用の金型12内に配置する(図4(C)〜図4(D))。次いで、開口部13から樹脂を射出14して、基材20を形成すると共に、前記成形フィルム10と、前記基材20とを一体化して、成形体30が得られる(図4(E))。   FIG. 4 is a schematic process diagram illustrating an example of a second method for manufacturing a molded body. In the second manufacturing method, the formed film 10 is formed into a predetermined shape by a mold 11 in advance (FIG. 4A). After the molded film 10 is softened by heating or while being softened, the film is sucked into the mold by vacuum or pressed against the mold by compressed air, or both, and molded by the mold 11 (FIG. 4). (B)). At this time, the molded film 10 may be molded so that the conductive layer faces either the side of the base material 20 described later or the side opposite to the base material 20, and is selected depending on the use of the final molded body. . Next, the molded film 10 after molding is placed in the mold 12 for injection molding (FIGS. 4C to 4D). Next, the resin is injected 14 from the opening 13 to form the base material 20, and the molded film 10 and the base material 20 are integrated to obtain a molded body 30 (FIG. 4E). .

第2の製造方法において基材20は予め準備する必要はなく、基材の成形と、成形フィルムとの一体化を同時に行うことができる。基材20の材質は、射出成形用に用いられる公知の樹脂の中から適宜選択して用いることができる。   In the second manufacturing method, it is not necessary to prepare the substrate 20 in advance, and the molding of the substrate and the integration with the molded film can be performed simultaneously. The material of the base material 20 can be appropriately selected and used from known resins used for injection molding.

<第3の製造方法>
本実施に係る成形体の第3の製造方法は、前記本実施の成形フィルムを、射出成形用の型内に配置する工程と、
射出成形により基材を成形すると共に、前記成形フィルム中の少なくとも導電層を基材側に転写する工程と、を含む。
以下、図5を参照して説明する。なお、第3の製造方法をインモールド転写法ということがある。
<Third manufacturing method>
A third manufacturing method of a molded article according to the present embodiment includes a step of disposing the molded film of the present embodiment in a mold for injection molding;
Forming the base material by injection molding and transferring at least the conductive layer in the formed film to the base material side.
Hereinafter, description will be made with reference to FIG. Note that the third manufacturing method may be referred to as an in-mold transfer method.

図5は、成形体の第3の製造方法の一例を示す、模式的な工程図である。第3の製造方法において成形フィルム10は、ベースフィルムとして剥離性を有するものを選択して用いる。当該成形フィルム10を射出成形用の金型12内に、後述する基材20側に導電層が向くように配置する(図5(A))。次いで、開口部13から樹脂を射出14して、基材20を形成すると共に、前記成形フィルム10と基材20とが密着し、基材20側に、少なくとも導電層が転写され(図5(B))、成形体30が得られる(図5(C))。なお、成形フィルム10が加飾層を有する場合には、加飾層と導電層とが転写され、また成形フィルム10が絶縁層を有する場合には絶縁層と導電層とが、成形フィルム10が加飾層と絶縁層を有する場合には加飾層と絶縁層と導電層とが、同時に転写される。   FIG. 5 is a schematic process diagram illustrating an example of a third method for manufacturing a molded body. In the third manufacturing method, as the molded film 10, a film having releasability is selected and used as a base film. The molded film 10 is disposed in the injection molding die 12 such that the conductive layer faces the base material 20 described later (FIG. 5A). Next, the resin is injected 14 from the opening 13 to form the base material 20, and at the same time, the molded film 10 and the base material 20 adhere to each other, and at least the conductive layer is transferred to the base material 20 side (see FIG. B)), and a molded body 30 is obtained (FIG. 5C). When the molded film 10 has a decorative layer, the decorative layer and the conductive layer are transferred, and when the molded film 10 has an insulating layer, the insulating layer and the conductive layer are transferred. When a decorative layer and an insulating layer are provided, the decorative layer, the insulating layer, and the conductive layer are simultaneously transferred.

第3の製造方法においては、ベースフィルムを切断する必要がないため、図5の例に示されるように長尺状のベースフィルムを配置することができる。基材20の材質は、射出成形用に用いられる公知の樹脂の中から適宜選択して用いることができる。   In the third manufacturing method, since it is not necessary to cut the base film, a long base film can be arranged as shown in the example of FIG. The material of the base material 20 can be appropriately selected and used from known resins used for injection molding.

このようにして得られた成形体は、家電製品、自動車用部品、ロボット、ドローンなどのプラスチック筐体などに、回路やタッチセンサー・各種電子部品の実装を行うことを可
能にする。また、電子機器の軽薄短小化および設計自由度の向上、多機能化に極めて有用である。
The molded body thus obtained enables mounting of circuits, touch sensors, and various electronic components on plastic housings of home electric appliances, automobile parts, robots, drones, and the like. Further, it is extremely useful for reducing the size and weight of electronic devices, improving design flexibility, and increasing the number of functions.

以下に、実施例により本発明をより詳細に説明するが、以下の実施例は本発明を何ら制限するものではない。なお、実施例中の「部」は「質量部」を、「%」は「質量%」を表す。
また、実施例中の重量平均分子量は、東ソー社製GPC(ゲル浸透クロマトグラフィー)「HLC−8320」を用いた測定におけるポリスチレン換算分子量である。
Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to examples, but the following examples do not limit the present invention in any way. In the examples, “parts” represents “parts by mass”, and “%” represents “% by mass”.
Further, the weight average molecular weight in the examples is a molecular weight in terms of polystyrene measured by using GPC (gel permeation chromatography) “HLC-8320” manufactured by Tosoh Corporation.

また実施例中の「官能基価」は各原料の官能基1つあたりの分子量(これを官能基当量とする)を基に、以下の計算式によって原料1gあたりの官能基量を等モル量の水酸化カリウム換算質量(mg)として表したものである。
(官能基価)[mgKOH/g]=(56.1×1000)/(官能基当量)
上記官能基価は、例えば官能基がカルボキシル基である場合は酸価、官能基がヒドロキシ基である場合は水酸基価、官能基がアミノ基である場合はアミン価などと表現される量の総称であり、互いに異なる官能基をもつ物質同士の官能基比率を比較する際には、上記官能基価が同じ値であれば同モル量の官能基を有すると考えてよい。
The “functional group value” in the examples is based on the molecular weight per functional group of each raw material (this is referred to as functional group equivalent), and the functional group amount per 1 g of raw material is equimolar by the following formula. In terms of potassium hydroxide equivalent mass (mg).
(Functional group value) [mgKOH / g] = (56.1 × 1000) / (functional group equivalent)
The functional group value is, for example, an acid value when the functional group is a carboxyl group, a hydroxyl value when the functional group is a hydroxy group, or an amine value when the functional group is an amino group. When comparing the functional group ratio between substances having different functional groups, it may be considered that the substances have the same molar amount if the functional group values are the same.

上記官能基価は、官能基がカルボキシル基やヒドロキシ基などの定量に水酸化カリウムの滴定を用いる場合は、例えばJIS K 0070に定められた公知公用の測定法を用いて中和に用いた水酸化カリウムの適定量から測定値(酸価および水酸基価)を直接求めることもでき、上記の計算式による計算値と同様に扱うことができる。
また、イソシアネート基など、官能基価の定量に上記の水酸化カリウムによる滴定を使用しない場合にも、官能基量を表すそれぞれの測定値から導かれた上記官能基当量ならびに上記計算式を用いて、便宜的に水酸化カリウム換算量として算出することができる。以下に具体的な計算例を示す。
In the case where potassium hydroxide titration is used for quantification of a functional group such as a carboxyl group or a hydroxy group, for example, the water used for neutralization using a known and official measurement method defined in JIS K 0070 is used. The measured values (acid value and hydroxyl value) can also be directly obtained from an appropriate amount of potassium oxide, and can be treated in the same manner as the values calculated by the above formula.
In addition, even when the titration with potassium hydroxide is not used for the quantification of the functional group value, such as the isocyanate group, using the above functional group equivalent and the above calculation formula derived from the respective measured values representing the functional group amount, For convenience, it can be calculated as an equivalent amount of potassium hydroxide. A specific calculation example is shown below.

計算例:イソシアネート基を有する化合物として、JIS K 6806(イソシアネート基をn−ジブチルアミンと反応させ、残ったn−ジブチルアミンを塩酸水溶液で滴定する方法)に定められた方法で測定されたイソシアネート量が23%である3官能イソシアネート化合物「X」について計算する。3官能イソシアネート化合物「X」の官能基当量は、上記イソシアネート量(%)とイソシアネート基の分子量(NCO=44g/mоl)から以下のように導かれる。
(「X」の官能基当量)=1/(0.23/44)=191.3
この3官能イソシアネート化合物「X」の官能基当量と上記官能基価の計算式から、下記のように3官能イソシアネート化合物「X」の官能基価を算出することができる。
(3官能イソシアネート化合物「X」の官能基価)[mgKOH/g]
=(56.1×1000)/191.3=293.3
Calculation Example: As a compound having an isocyanate group, an isocyanate amount measured by a method specified in JIS K 6806 (a method in which an isocyanate group is reacted with n-dibutylamine and the remaining n-dibutylamine is titrated with an aqueous hydrochloric acid solution). Is calculated for a trifunctional isocyanate compound “X” in which is 23%. The functional group equivalent of the trifunctional isocyanate compound “X” is derived from the above isocyanate amount (%) and the molecular weight of the isocyanate group (NCO = 44 g / mol) as follows.
(Functional group equivalent of “X”) = 1 / (0.23 / 44) = 191.3
From the functional group equivalent of the trifunctional isocyanate compound “X” and the above formula for calculating the functional group value, the functional group value of the trifunctional isocyanate compound “X” can be calculated as follows.
(Functional value of trifunctional isocyanate compound "X") [mgKOH / g]
= (56.1 × 1000) /191.3=293.3

<樹脂(A1)、(A2)>
樹脂(A1)及び(A2)として以下の樹脂を用いた。
・樹脂(A1):三菱ケミカル社製フェノキシ樹脂、jER−4275、重量平均分子量60,000、ガラス転移点73℃、ヒドロキシ基(水酸基価213mgKOH/g)およびエポキシ基(エポキシ基価5mgKOH/g)をそれぞれ1分子中に2以上含有する。
・樹脂(A2):三菱ケミカル社製アクリル樹脂、ダイヤナールBR−84、重量平均分子量120,000、ガラス転移点105℃、カルボキシル基(酸価6.5mgKOH/g)を1分子中に2以上含有する。
<Resins (A1), (A2)>
The following resins were used as the resins (A1) and (A2).
-Resin (A1): phenoxy resin manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, jER-4275, weight average molecular weight 60,000, glass transition point 73 ° C, hydroxy group (hydroxyl value 213 mgKOH / g) and epoxy group (epoxy value 5 mgKOH / g) Are contained two or more in one molecule.
-Resin (A2): Mitsubishi Chemical's acrylic resin, Dianal BR-84, weight average molecular weight 120,000, glass transition point 105 ° C, carboxyl group (acid value 6.5 mg KOH / g) 2 or more per molecule contains.

<合成例1:樹脂(A3)の合成>
攪拌機、温度計、精留管、窒素ガス導入管、減圧装置を備えた反応装置に、テレフタル酸ジメチル10.1部、イソフタル酸ジメチル30.5部、エチレングリコール12.9部、1,5−ペンタンジオール18.2部、及びテトラブチルチタネート0.03部を仕込み、窒素気流下で攪拌しながら180℃まで徐々に加熱し、180℃で3時間エステル交換反応を行なった。ついで、セバシン酸28.3部を仕込み180〜240℃まで徐々に加熱し、エステル化反応を行なった。240℃で2時間反応し、酸価を測定し、15以下になったら反応装置内を徐々に1〜2トールまで減圧し、所定の粘度に達した時、反応を停止し取り出した後に表面がフッ素加工されたパレットに移して冷却することで、重量平均分子量45,000、ガラス転移点58℃、ヒドロキシ基(水酸基価5mgKOH/g)を1分子中に2以上含有するポリエステル樹脂(A3)の固形物を得た。
<Synthesis Example 1: Synthesis of resin (A3)>
In a reactor equipped with a stirrer, a thermometer, a rectification tube, a nitrogen gas introduction tube, and a decompression device, 10.1 parts of dimethyl terephthalate, 30.5 parts of dimethyl isophthalate, 12.9 parts of ethylene glycol, 1,5- 18.2 parts of pentanediol and 0.03 part of tetrabutyl titanate were charged and gradually heated to 180 ° C. while stirring under a nitrogen stream to carry out a transesterification reaction at 180 ° C. for 3 hours. Next, 28.3 parts of sebacic acid was charged and gradually heated to 180 to 240 ° C. to carry out an esterification reaction. The reaction was carried out at 240 ° C. for 2 hours, and the acid value was measured. When the acid value became 15 or less, the pressure in the reactor was gradually reduced to 1 to 2 Torr. When the viscosity reached a predetermined value, the reaction was stopped and the surface was removed. By transferring to a fluorinated pallet and cooling, the polyester resin (A3) having a weight average molecular weight of 45,000, a glass transition point of 58 ° C., and containing two or more hydroxy groups (hydroxyl value of 5 mg KOH / g) in one molecule. A solid was obtained.

<合成例2:樹脂(A4)の合成>
攪拌機、温度計、還流冷却管、窒素ガス導入管を備えた反応装置に、1,6−ヘキサンジオールと3−メチル−1,5ペンタンジオールとから得られるポリカーボネートポリオール(クラレ社製「クラレポリオールC−2090」)127.4部、ジメチロールブタン酸4.2部、イソホロンジイソシアネート19.2部、及びジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート32.5部を仕込み、窒素気流下にて90℃で3時間反応させ、ついでジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート193.7部を加えることで、重量平均分子量34,000、ガラス転移点2℃、ヒドロキシ基(水酸基価4mgKOH/g)、カルボキシル基(酸価10mgKOH/g)をそれぞれ1分子中に2以上含有するウレタン樹脂(A3)40%、ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート溶媒60%からなる不揮発分40%のウレタン樹脂(A4)溶液を得た。
<Synthesis Example 2: Synthesis of resin (A4)>
In a reactor equipped with a stirrer, a thermometer, a reflux condenser, and a nitrogen gas inlet tube, a polycarbonate polyol obtained from 1,6-hexanediol and 3-methyl-1,5 pentanediol (“Kuraray polyol C” manufactured by Kuraray Co., Ltd.) -2090 ") 127.4 parts, 4.2 parts of dimethylolbutanoic acid, 19.2 parts of isophorone diisocyanate, and 32.5 parts of diethylene glycol monoethyl ether acetate were charged and reacted at 90 ° C. for 3 hours under a nitrogen stream. Then, by adding 193.7 parts of diethylene glycol monoethyl ether acetate, a weight average molecular weight of 34,000, a glass transition point of 2 ° C., a hydroxyl group (hydroxyl value of 4 mg KOH / g), and a carboxyl group (acid value of 10 mg KOH / g) were respectively obtained. Urethane resin (A3) 4 containing 2 or more in one molecule % To obtain a non-volatile content of 40% urethane resin (A4) a solution of 60% diethylene glycol monoethyl ether acetate solvent.

導電性微粒子、溶剤、及び架橋剤として以下のものを用いた。
<導電性微粒子(B1)〜(B5)>
・導電性微粒子(B1):福田金属箔粉社製、鱗片状銀粉、平均粒子径5.2μm
・導電性微粒子(B2):福田金属箔粉社製、凝集状銀粉、平均粒子径1.7μm
・導電性微粒子(B3):三井金属鉱業社製、樹状銀コート銅粉、銀被覆量10%、平均粒子径2μm
・導電性微粒子(B4):石原産業社製、針状導電性酸化錫粉、平均粒子径1μm
・導電性微粒子(B5):伊藤黒鉛社製、ワイヤー状膨張化黒鉛、平均粒子径15μm
・導電性微粒子(B6):DOWAエレクトロニクス社製、球状銀粉、平均粒子径3.9μm
The following were used as the conductive fine particles, the solvent, and the crosslinking agent.
<Conductive fine particles (B1) to (B5)>
-Conductive fine particles (B1): Fukuda Metal Foil Powder Co., Ltd., flaky silver powder, average particle size 5.2 μm
-Conductive fine particles (B2): manufactured by Fukuda Metal Foil Powder Co., Ltd., aggregated silver powder, average particle size 1.7 μm
-Conductive fine particles (B3): manufactured by Mitsui Kinzoku Mining Co., Ltd., dendritic silver-coated copper powder, silver coverage 10%, average particle diameter 2 µm
Conductive fine particles (B4): manufactured by Ishihara Sangyo Co., Ltd., acicular conductive tin oxide powder, average particle diameter 1 μm
-Conductive fine particles (B5): manufactured by Ito Graphite, wire-shaped expanded graphite, average particle diameter 15 µm
-Conductive fine particles (B6): Dowa Electronics Co., Ltd., spherical silver powder, average particle diameter of 3.9 µm

<架橋剤(C1)、(C2)>
・架橋剤(C1):
Baxeneden Chemicals社製ブロック化イソシアネート溶液、Trixene BI7992、ブロック化されているイソシアネート基を1分子中に3つ含有、不揮発分70%(溶剤(D2):2−メトキシプロパノール)
・架橋剤(C2):
三菱化学社製グリシジルアミン、jER604、エポキシ基を1分子中に4つ含有、不揮発分100%
<Crosslinking agent (C1), (C2)>
-Crosslinking agent (C1):
Baxeneden Chemicals' blocked isocyanate solution, Trixene BI7992, contains three blocked isocyanate groups in one molecule, nonvolatile content 70% (solvent (D2): 2-methoxypropanol)
-Crosslinking agent (C2):
Glycidylamine manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, jER604, containing four epoxy groups in one molecule, 100% non-volatile content

<溶剤>
・溶剤(D1):ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート、沸点217℃
・溶剤(D2):2−メトキシプロパノール、沸点120℃
<Solvent>
-Solvent (D1): diethylene glycol monoethyl ether acetate, boiling point 217 ° C
-Solvent (D2): 2-methoxypropanol, boiling point 120 ° C

<製造例1:加飾インキ(F1)の作成>
樹脂溶液(A4)175部(樹脂(A4)のみとして70部)にフタロシアニンブルー
顔料(トーヨーカラー社製LIONOL BLUE FG7351)10部、酸化チタン顔料(石原産業社製TIPAQUE CR−93)20質量部を撹拌混合し、3本ロールミル(小平製作所製)で混練したのち、架橋剤(C2)5部および溶剤(C1)90部を加えて均一に撹拌混合することで加飾インキ(F1)を得た。
<Production Example 1: Preparation of decorative ink (F1)>
To 175 parts of the resin solution (A4) (70 parts as the resin (A4) alone), 10 parts of a phthalocyanine blue pigment (LIONOL BLUE FG7351 manufactured by Toyo Color Co., Ltd.) and 20 parts by mass of a titanium oxide pigment (TIPAQUE CR-93 manufactured by Ishihara Sangyo Co., Ltd.) After stirring and mixing and kneading with a three-roll mill (manufactured by Kodaira Seisakusho), a decorative ink (F1) was obtained by adding 5 parts of a crosslinking agent (C2) and 90 parts of a solvent (C1) and uniformly stirring and mixing. .

<製造例2:加飾インキ(F2)の作成>
樹脂溶液(A4)175部(樹脂(A4)のみとして70部)にカーボンブラック顔料(三菱ケミカル社製MA−100)13部を撹拌混合し、3本ロールミル(小平製作所製)で混練したのち、イソシアネート硬化剤(住化コベストロウレタン社製デスモジュール
N3300、不揮発分100%)5部と溶剤(C1)90部を加えて均一に撹拌混合することで加飾インキ(F1)を得た。
<Production Example 2: Preparation of decorative ink (F2)>
After 175 parts of the resin solution (A4) (70 parts as the resin (A4) alone) and 13 parts of carbon black pigment (MA-100 manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) were stirred and mixed, and kneaded with a three-roll mill (manufactured by Kodaira Seisakusho). A decorative ink (F1) was obtained by adding 5 parts of an isocyanate curing agent (Desmodur N3300, manufactured by Sumika Kovestoururethane Co., Ltd., 100% non-volatile content) and 90 parts of a solvent (C1) and uniformly stirring and mixing.

<製造例3:絶縁インキ(G1)の作成>
樹脂(A3)70部と溶剤(C1)130部からなる樹脂溶液を準備し、これにイソシアネート硬化剤(旭化成社製デュラネート 24A−100、不揮発分100%)5部および消泡剤(ビックケミー社製、BYK−1790)1部を加えて均一に撹拌混合することで絶縁インキ(G1)を得た。
<Production Example 3: Preparation of insulating ink (G1)>
A resin solution comprising 70 parts of the resin (A3) and 130 parts of the solvent (C1) is prepared, and 5 parts of an isocyanate curing agent (Duranate 24A-100, manufactured by Asahi Kasei Corporation, 100% non-volatile content) and an antifoaming agent (manufactured by BYK-Chemie) are prepared. , BYK-1790), and uniformly stirred and mixed to obtain an insulating ink (G1).

<製造例4:絶縁インキ(G2)の作成>
ウレタンアクリレート樹脂(日本曹達社製、TEAI−1000、不揮発分100%)50部にイソデシルアクリレート20部、光開始剤(BASF社製、Darocur1173、不揮発分100%)5部および消泡剤(ビックケミー社製、BYK−1790、不揮発分100%)0.3部を加えて均一に撹拌混合することで絶縁インキ(G2)を得た。
<Production Example 4: Preparation of insulating ink (G2)>
50 parts of a urethane acrylate resin (manufactured by Nippon Soda Co., Ltd., TEAI-1000, nonvolatile content: 100%), 20 parts of isodecyl acrylate, 5 parts of a photoinitiator (manufactured by BASF, Darocur 1173, nonvolatile content: 100%), and an antifoaming agent (Big Chemie) (BYK-1790, non-volatile content: 100%), and the mixture was uniformly stirred and mixed to obtain an insulating ink (G2).

<製造例5:成形フィルムの導電層形成用の導電性組成物(E1)の作成>
樹脂(A1)20.0部を溶剤(C1)30.0部に溶解させ、導電性微粒子(B1)80.0部を撹拌混合し、3本ロールミル(小平製作所製)で混練することで成形フィルムの導電層形成用の導電性組成物(E1)を得た。
<Production Example 5: Preparation of conductive composition (E1) for forming conductive layer of molded film>
20.0 parts of the resin (A1) is dissolved in 30.0 parts of the solvent (C1), 80.0 parts of the conductive fine particles (B1) are stirred and mixed, and kneaded by a three-roll mill (manufactured by Kodaira Seisakusho) to form. A conductive composition (E1) for forming a conductive layer of a film was obtained.

<製造例6〜12:成形フィルムの導電層形成用の導電性組成物(E2)〜(E8)の作成>
製造例5において、樹脂、溶剤、導電性微粒子の種類及び配合量を表1〜表2のように変更し、必要に応じて、更に架橋剤を配合した以外は、それぞれ製造例5と同様にして、成形フィルムの導電層形成用の導電性組成物(E2)〜(E8)を得た。
なお、表1〜表2中の各材料の数値はいずれも質量部である。
<Production Examples 6 to 12: Preparation of conductive compositions (E2) to (E8) for forming conductive layer of molded film>
In Production Example 5, the types and amounts of the resin, the solvent, and the conductive fine particles were changed as shown in Tables 1 and 2, and as necessary, the same procedures as in Production Example 5 were carried out except that a crosslinking agent was further blended. Thus, conductive compositions (E2) to (E8) for forming a conductive layer of a molded film were obtained.
The numerical values of each material in Tables 1 and 2 are parts by mass.

<比較製造例1、2:成形フィルムの導電層形成用の導電性組成物(E9)、(E10)の作成>
製造例5において、樹脂、溶剤、導電性微粒子の種類及び配合量を表3のように変更した以外は、それぞれ製造例5と同様にして、成形フィルムの導電層形成用の導電性組成物(E9)、(E10)を得た。 なお、表3中の各材料の数値はいずれも質量部である。
<Comparative Production Examples 1 and 2: Preparation of conductive compositions (E9) and (E10) for forming conductive layer of molded film>
In Production Example 5, a conductive composition for forming a conductive layer of a molded film was prepared in the same manner as in Production Example 5 except that the types and amounts of the resin, the solvent, and the conductive fine particles were changed as shown in Table 3. E9) and (E10) were obtained. The numerical values of each material in Table 3 are parts by mass.

<実施例1〜8、および比較例1>
ポリカーボネート(PC)フィルム(帝人社製、パンライト2151、厚み300μm、軟化点温度160℃)基材(300mm×210mm)上に、成形フィルムの導電層形成用の導電性組成物(E1)〜(E10)をそれぞれスクリーン印刷機(ミノスクリーン社製、ミノマットSR5575半自動スクリーン印刷機)によって印刷した。次いで、熱風乾燥オーブンで120℃で30分加熱することで、幅15mm、長さ30mm、厚み10μmの四角形ベタ状および線幅3mm、長さ60mm、厚み10μmの直線状のパター
ンを有する導電層を備えた成形フィルムを得た。
<Examples 1 to 8 and Comparative Example 1>
Polycarbonate (PC) film (manufactured by Teijin Limited, Panlite 2151, thickness 300 μm, softening point temperature 160 ° C.) On a substrate (300 mm × 210 mm), a conductive composition (E1) to (E1) to form a conductive layer of a molded film E10) was printed using a screen printing machine (Minomat SR5575 semi-automatic screen printing machine, manufactured by MinoScreen Inc.). Next, by heating in a hot air drying oven at 120 ° C. for 30 minutes, a conductive layer having a rectangular solid shape having a width of 15 mm, a length of 30 mm, and a thickness of 10 μm and a linear pattern having a line width of 3 mm, a length of 60 mm, and a thickness of 10 μm were formed. The resulting molded film was obtained.

<実施例9、10、および比較例2>
ポリカーボネートフィルム(帝人社製、パンライト2151、厚み300μm、軟化点温度160℃)基材(300mm×210mm)上に、加飾インキ(F1)または(F2)を、ブレードコーターを用いて、乾燥膜厚が2μmとなるように塗工し、120℃で30分加熱して加飾層を形成した。
次いで、前記実施例1〜8において、ポリカーボネートフィルムの代わりに上記加飾層付きフィルムを用い、加飾層上に導電層を形成した以外は、前記実施例1〜8と同様にして、ポリカーボネートフィルム、加飾インキ層、導電体がこの順に積層された成形フィルムを得た。
<Examples 9, 10 and Comparative Example 2>
On a polycarbonate film (manufactured by Teijin Limited, Panlite 2151, thickness 300 μm, softening point temperature 160 ° C.), a decorative ink (F1) or (F2) is dried on a substrate (300 mm × 210 mm) using a blade coater. Coating was performed so that the thickness became 2 μm, and heating was performed at 120 ° C. for 30 minutes to form a decorative layer.
Next, in the above Examples 1 to 8, a polycarbonate film was prepared in the same manner as in Examples 1 to 8 except that the film with a decorative layer was used instead of the polycarbonate film and a conductive layer was formed on the decorative layer. Thus, a molded film in which the decorative ink layer and the conductor were laminated in this order was obtained.

<実施例11、12、および比較例3>
前記実施例9、10において得られた、ポリカーボネートフィルム、加飾インキ層、導電体がこの順に積層された成形フィルム上の、線幅3mm、長さ60mm、厚み10μmの直線状の導電層パターンの一部を被覆するように、直線状の導電層パターンの中央を基準として長さ方向に30mm、線幅方向に20mm、厚み15μmの長方形形状に絶縁インキ(G1)をスクリーン印刷機(ミノスクリーン社製、ミノマットSR5575半自動スクリーン印刷機)によって印刷した。次いで、熱風乾燥オーブンで120℃で30分加熱することで、ポリカーボネートフィルム、加飾インキ層、導電体、絶縁インキ層がこの順に積層された成形フィルムを得た。
<Examples 11 and 12, and Comparative Example 3>
A linear conductive layer pattern having a line width of 3 mm, a length of 60 mm, and a thickness of 10 μm was formed on the formed film on which the polycarbonate film, the decorative ink layer, and the conductor obtained in Examples 9 and 10 were laminated in this order. A screen printing machine (MinoScreen Co., Ltd.) is used to cover a part of the insulating ink (G1) in a rectangular shape having a length of 30 mm, a width of 20 mm, and a thickness of 15 μm based on the center of the linear conductive layer pattern. (Minomat SR5575 semi-automatic screen printer). Next, by heating in a hot air drying oven at 120 ° C. for 30 minutes, a molded film in which a polycarbonate film, a decorative ink layer, a conductor, and an insulating ink layer were laminated in this order was obtained.

<実施例13、14>
絶縁インキ(G1)の代わりに絶縁インキ(G2)スクリーン印刷機(ミノスクリーン社製、ミノマットSR5575半自動スクリーン印刷機)によって印刷し、次いで、熱風乾燥オーブンで120℃で30分加熱する代わりに、コンベア式UV照射装置(東芝ライテック社製、高圧水銀ランプ、120W/cm)を用いて、積算露光量1,500mJ/cm2紫外線照射を行ったこと以外は、前記実施例11、12と同様にして、ポリカーボネートフィルム、加飾インキ層、導電体、絶縁インキ層がこの順に積層された成形フィルムを得た。
<実施例15、16>
前記実施例9、10において得られた、ポリカーボネートフィルム、加飾インキ層、導電体がこの順に積層された成形フィルムの代わりに、実施例2および実施例4において得られた導電層を備えた成形フィルムを用いた以外は、実施例12または実施例13と同様にして、ポリカーボネートフィルム、加飾インキ層、導電体、絶縁インキ層がこの順に積層された成形フィルムを得た。
<Examples 13 and 14>
Instead of using the insulating ink (G1) instead of the insulating ink (G2), a screen printing machine (manufactured by Minoscreen, Minomat SR5575 semi-automatic screen printing machine) is used, and then a conveyor is used instead of heating in a hot air drying oven at 120 ° C. for 30 minutes. Using the same type of UV irradiation apparatus (manufactured by Toshiba Lighting & Technology Co., Ltd., high-pressure mercury lamp, 120 W / cm), the integrated exposure amount was 1,500 mJ / cm2, except that UV irradiation was performed in the same manner as in Examples 11 and 12, A molded film in which a polycarbonate film, a decorative ink layer, a conductor, and an insulating ink layer were laminated in this order was obtained.
<Examples 15 and 16>
Instead of the molded film obtained by laminating the polycarbonate film, the decorative ink layer, and the conductor obtained in Examples 9 and 10 in this order, the molding provided with the conductive layer obtained in Examples 2 and 4. Except that a film was used, a molded film in which a polycarbonate film, a decorative ink layer, a conductor, and an insulating ink layer were laminated in this order was obtained in the same manner as in Example 12 or Example 13.

<実施例17〜32、および比較例4、5>
前記実施例1〜16において、ポリカーボネートフィルム基材の代わりに、アクリル樹脂フィルム(住友化学社製、テクノロイS001G、厚み250μm、軟化点温度120℃)基材(300mm×210mm)を用いたこと、及び、熱風乾燥オーブンでの各乾燥条件をいずれも80℃で30分としたこと以外は、前記実施例1〜16と同様にして、成形フィルムを得た。
<Examples 17 to 32 and Comparative Examples 4 and 5>
In the above Examples 1 to 16, an acrylic resin film (Technoloy S001G, thickness 250 µm, softening point temperature 120 ° C) (300 mm x 210 mm) was used instead of the polycarbonate film substrate, and A molded film was obtained in the same manner as in Examples 1 to 16, except that each drying condition in a hot air drying oven was 80 ° C. for 30 minutes.

<実施例33、34および比較例6>
前記実施例11、実施例14および比較例1において、アクリル樹脂フィルム基材の代わりに、ポリカーボネート樹脂/アクリル樹脂2種2層共押し出しフィルム(住友化学社製、テクノロイC001、厚み125μm、軟化点温度160℃)基材(300mm×210mm)を用い、ポリカーボネート樹脂側に成形フィルムの導電層形成用の導電性組成物の印刷を行ったこと以外は、前記実施例11、実施例14および比較例1と同様にして
、成形フィルムを得た。
<Examples 33 and 34 and Comparative Example 6>
In Example 11, Example 14 and Comparative Example 1, instead of the acrylic resin film substrate, a polycarbonate resin / acrylic resin two-layer, two-layer co-extruded film (Technoloy C001, manufactured by Sumitomo Chemical Co., thickness 125 μm, softening point temperature) Example 11, Example 14, and Comparative Example 1 except that a conductive composition for forming a conductive layer of a molded film was printed on the polycarbonate resin side using a base material (300 mm x 210 mm) at 160 ° C). In the same manner as in the above, a molded film was obtained.

[(1)体積固有抵抗測定]
上記実施例1〜34、および比較例1〜6の成形フィルムに形成された、15mm×30mmの四角形ベタ状の導電層について、抵抗率計(三菱化学アナリテック社製、ロレスタGP MCP−T610型抵抗率計、JIS−K7194準拠、4端子4探針法定電流印加方式)(0.5cm間隔の4端子プローブ)を用いて体積固有抵抗(Ω・cm)を測定した。結果を表1〜3に示す。
[(1) Volume resistivity measurement]
Regarding a square solid conductive layer of 15 mm × 30 mm formed on the molded films of Examples 1 to 34 and Comparative Examples 1 to 6, a resistivity meter (Loresta GP MCP-T610 manufactured by Mitsubishi Chemical Analytech Co., Ltd.) The volume resistivity (Ω · cm) was measured using a resistivity meter, JIS-K7194 compliant, 4-terminal 4-probe method, constant current application method (4-terminal probe at 0.5 cm intervals). The results are shown in Tables 1 to 3.

[(2)剥離密着性評価]
上記実施例1〜34、および比較例1〜6の成形フィルムに形成された、15mm×30mmの四角形ベタ状の導電層に対し、ガードナー社製1mm間隔クロスカットガイドを使用してカッターナイフで当該導電層を貫通するように10x10マスの碁盤目状の切れ込みを入れ、ニチバン社製セロハンテープを貼り付け噛み込んだ空気を抜いてよく密着させたのち、垂直に引きはがした。塗膜の剥離度合いをASTM−D3519規格に従って下記のように評価した。結果を表1〜3に示す。
(剥離密着性評価基準)
A:評価5B〜4B、密着性に優れる
B:評価上は5B〜4Bであるが、塗膜が凝集破壊し、表面側の塗膜の一部が脱離する
C:評価3B以下、密着性に劣る
[(2) Evaluation of peel adhesion]
For a 15 mm × 30 mm square solid conductive layer formed on the molded films of Examples 1 to 34 and Comparative Examples 1 to 6, the above was performed with a cutter knife using a 1 mm interval cross cut guide manufactured by Gardner. A 10 × 10 square grid-like cut was made to penetrate the conductive layer, and a cellophane tape manufactured by Nichiban Co., Ltd. was adhered to the air, and the air that had been bitten was removed. The degree of peeling of the coating film was evaluated as follows in accordance with ASTM-D3519 standard. The results are shown in Tables 1 to 3.
(Peel adhesion evaluation criteria)
A: Evaluation 5B to 4B, excellent in adhesion B: Evaluation is 5B to 4B, but the coating film undergoes cohesive failure and a part of the coating film on the surface side is detached. C: Evaluation 3B or less, adhesion Inferior

[(3)配線抵抗評価]
上記実施例1〜34、および比較例1〜6の成形フィルムに形成された、3mm×60mmの直線状パターンの導電層が真ん中に来るように長手方向に70mm、幅方向に10mmに切り出し、測定用クーポンとした。この測定用クーポン上の導電層とは反対側の面に、長手方向端から当該導電層と垂直な線を目印として油性マジックで4cm間隔に2本書き加えた。この目印に従い、40mm間隔となる位置を、テスターを用いて抵抗値測定し、これを配線抵抗(Ω)とした。結果を表1〜3に示す。
[(3) Wiring resistance evaluation]
Cut and measure 70 mm in the longitudinal direction and 10 mm in the width direction so that the conductive layer of the linear pattern of 3 mm × 60 mm formed on the molded films of Examples 1 to 34 and Comparative Examples 1 to 6 is located in the middle, and measured. And a coupon. On the surface of the measurement coupon opposite to the conductive layer, two lines were added at 4 cm intervals with oily magic using a line perpendicular to the conductive layer from the longitudinal end as a mark. According to this mark, the resistance value was measured at a position at an interval of 40 mm using a tester, and the measured value was taken as the wiring resistance (Ω). The results are shown in Tables 1 to 3.

[(4)熱延伸評価1]
上記実施例1〜16、33、34および比較例1〜3,6の前記測定用クーポンを160℃の加熱オーブン中で、長手方向に引っ張り速度10mm/分で伸長率50%まで引き延ばした。オーブンから取出し、冷却後に光学顕微鏡を用いて断線の有無を評価した。また、上記配線抵抗の測定と同様の方法で、元の目印基準で40mm間隔に相当する位置の配線抵抗(Ω)を測定し、伸縮後の配線抵抗/伸縮前の配線抵抗を熱延伸時抵抗変動率(倍)とし、それぞれ以下の基準で評価した。結果を表1及び表3に示す。
(断線の有無)
A:断線は見られなかった。
B:1〜2個の軽微なヒビが確認された
C:重度の断線または導電塗膜の剥離が確認された
(熱延伸時抵抗変動率)
A:5倍以上10倍未満
B:10倍以上100倍未満
C:100倍以上
[(4) Thermal stretching evaluation 1]
The measuring coupons of Examples 1 to 16, 33, and 34 and Comparative Examples 1 to 3 and 6 were stretched in a heating oven at 160 ° C in the longitudinal direction at a pulling rate of 10 mm / min to an elongation of 50%. After removal from the oven and cooling, the presence or absence of disconnection was evaluated using an optical microscope. Further, the wiring resistance (Ω) at a position corresponding to the interval of 40 mm is measured based on the original mark in the same manner as the above-described measurement of the wiring resistance, and the wiring resistance after expansion / contraction / the wiring resistance before expansion / contraction is calculated as the resistance during thermal stretching. The rate of change (fold) was used, and each was evaluated according to the following criteria. The results are shown in Tables 1 and 3.
(Presence of disconnection)
A: No disconnection was observed.
B: One or two minor cracks were observed. C: Severe disconnection or peeling of the conductive coating film was observed (resistance change rate during hot stretching).
A: 5 times or more and less than 10 times B: 10 times or more and less than 100 times C: 100 times or more

なお、伸長率は以下のように算出される値である。
(伸長率)[%]={(延伸後の長さ−延伸前の長さ)/(延伸前の長さ)}×100
The elongation rate is a value calculated as follows.
(Elongation ratio) [%] = {(length after stretching−length before stretching) / (length before stretching)} × 100

[(5)熱延伸評価2]
前記熱延伸評価1において、伸長率を100%に変更した以外は、前記熱延伸評価1と
同様にして、以下の基準で評価した。結果を表1及び表3に示す。
(断線の有無)
A:断線は見られなかった。
B:1〜2個の軽微なヒビが確認された
C:重度の断線または導電塗膜の剥離が確認された
(熱延伸時抵抗変動率)
A:10倍以上100倍未満
B:100倍以上1000倍未満
C:1000倍以上
[(5) Thermal stretching evaluation 2]
In the heat stretching evaluation 1, except that the elongation rate was changed to 100%, the evaluation was performed in the same manner as the heat stretching evaluation 1 according to the following criteria. The results are shown in Tables 1 and 3.
(Presence of disconnection)
A: No disconnection was observed.
B: One or two minor cracks were observed. C: Severe disconnection or peeling of the conductive coating film was observed (resistance change rate during hot stretching).
A: 10 times or more and less than 100 times B: 100 times or more and less than 1000 times C: 1000 times or more

[(6)熱延伸評価3]
上記実施例17〜32、および比較例4、5の前記測定用クーポンを120℃の加熱オーブン中で、長手方向に引っ張り速度10mm/分で伸長率50%まで引き延ばした。オーブンから取出し、冷却後に光学顕微鏡を用いて断線の有無を評価した。また、上記配線抵抗の測定と同様の方法で、元の目印基準で40mm間隔に相当する位置の配線抵抗(Ω)を測定し、伸縮後の配線抵抗/伸縮前の配線抵抗を熱延伸時抵抗変動率(倍)とし、それぞれ以下の基準で評価した。結果を表2及び表3に示す。
(断線の有無)
A:断線は見られなかった。
B:1〜2個の軽微なヒビが確認された
C:重度の断線または導電塗膜の剥離が確認された
(熱延伸時抵抗変動率)
A:5倍以上10倍未満
B:10倍以上100倍未満
C:100倍以上
[(6) Thermal stretching evaluation 3]
The measurement coupons of Examples 17 to 32 and Comparative Examples 4 and 5 were stretched in a heating oven at 120 ° C. in a longitudinal direction at a pulling rate of 10 mm / min to an elongation of 50%. After removal from the oven and cooling, the presence or absence of disconnection was evaluated using an optical microscope. Further, the wiring resistance (Ω) at a position corresponding to the interval of 40 mm is measured based on the original mark in the same manner as the above-described measurement of the wiring resistance, and the wiring resistance after expansion / contraction / the wiring resistance before expansion / contraction is calculated as the resistance during thermal stretching. The rate of change (fold) was used, and each was evaluated according to the following criteria. The results are shown in Tables 2 and 3.
(Presence of disconnection)
A: No disconnection was observed.
B: One or two minor cracks were observed. C: Severe disconnection or peeling of the conductive coating film was observed (resistance change rate during hot stretching).
A: 5 times or more and less than 10 times B: 10 times or more and less than 100 times C: 100 times or more

[(7)熱延伸評価4]
前記熱延伸評価3において、伸長率を100%に変更した以外は、前記熱延伸評価3と同様にして、以下の基準で評価した。結果を表2及び表3に示す。
(断線の有無)
A:断線は見られなかった。
B:1〜2個の軽微なヒビが確認された
C:重度の断線または導電塗膜の剥離が確認された
(熱延伸時抵抗変動率)
A:10倍以上100倍未満
B:100倍以上1000倍未満
C:1000倍以上
[(7) Evaluation of hot stretching 4]
In the heat stretching evaluation 3, except that the elongation rate was changed to 100%, evaluation was performed in the same manner as the heat stretching evaluation 3 according to the following criteria. The results are shown in Tables 2 and 3.
(Presence of disconnection)
A: No disconnection was observed.
B: One or two minor cracks were observed. C: Severe disconnection or peeling of the conductive coating film was observed (resistance change rate during hot stretching).
A: 10 times or more and less than 100 times B: 100 times or more and less than 1000 times C: 1000 times or more

[(8)実施例1〜34、比較例1〜6の破断伸び率測定]
剥離処理PETフィルム(リンテック社製、CN100)基材上に、前記の導電性組成物(E1)〜(E10)をスクリーン印刷機(ミノスクリーン社製、ミノマットSR5575半自動スクリーン印刷機)によって乾燥膜厚が10μmとなるように印刷した後、熱風乾燥オーブンで120℃で30分加熱することで、ベタ状の導電性組成物(E1)の導電層を形成した。次いで、剥離処理PETフィルムから導電層を剥離し、破断伸び率測定用の導電層とした。
また、破断伸び率測定用のベースフィルムとして、ポリカーボネートフィルム(帝人社製、パンライト2151、厚み300μm、軟化点温度160℃)を準備した。
さらに加飾インキを用いる実施例9〜14、25〜30および比較例2,3,5についてはこれとは別に剥離処理PETフィルム基材を用意し、当該基材上に加飾インキ(F1)乃至(F2)をブレードコーターを用いて、乾燥膜厚が5μmとなるように塗工し、1
20℃で30分加熱して加飾層を形成した。次いで、剥離処理PETフィルムから加飾層を剥離し、破断伸び率測定用の加飾層とした。
加えて絶縁インキを用いる実施例11〜16、27〜34および比較例3についてはこれとは別に剥離処理PETフィルム基材を用意し、当該基材上に絶縁インキ(G1)乃至(G2)をブレードコーターを用いて、乾燥膜厚が30μmとなるように塗工し、実施例11、12、15、27、28、31、33については熱風乾燥オーブンで120℃で30分加熱して、また実施例13、14、16、29、30、32、34についてはコンベア式UV照射装置(東芝ライテック社製、高圧水銀ランプ、120W/cm)を用いて積算露光量1,500mJ/cm2紫外線照射を行うことにより、絶縁層を形成した。次いで、剥離処理PETフィルムから絶縁層を剥離し、破断伸び率測定用の絶縁層とした。
前記破断伸び率測定用の導電層、加飾層、絶縁層及びベースフィルムを、それぞれ60mm×10mmの形状に切り抜き、それぞれ実施例1〜16、33、34および比較例1〜3,6については160℃の加熱オーブン中で、また実施例17〜32、および比較例4、5については120℃の加熱オーブン中で、引っ張り速度10mm/分で引き延ばした際の破断伸び率を測定した。結果を表1〜表3に示す。
[(8) Measurement of elongation at break in Examples 1 to 34 and Comparative Examples 1 to 6]
The above conductive compositions (E1) to (E10) were dried on a base material of a release-treated PET film (manufactured by Lintec Corporation, CN100) by a screen printing machine (Minomat SR5575, a semi-automatic screen printing machine manufactured by MinoScreen). Was printed at 120 ° C. for 30 minutes in a hot-air drying oven to form a solid conductive layer of the conductive composition (E1). Next, the conductive layer was peeled from the release-treated PET film to obtain a conductive layer for elongation at break.
In addition, a polycarbonate film (manufactured by Teijin Limited, Panlite 2151, thickness 300 µm, softening point temperature 160 ° C) was prepared as a base film for elongation at break.
Further, for Examples 9 to 14, 25 to 30 and Comparative Examples 2, 3, and 5 using a decorative ink, a release-treated PET film substrate was separately prepared, and the decorative ink (F1) was formed on the substrate. To (F2) using a blade coater so that the dry film thickness becomes 5 μm.
Heating was performed at 20 ° C. for 30 minutes to form a decorative layer. Next, the decorative layer was peeled from the release-treated PET film to obtain a decorative layer for measuring the elongation at break.
In addition, for Examples 11 to 16, 27 to 34 and Comparative Example 3 using an insulating ink, a release-treated PET film base material was separately prepared, and the insulating inks (G1) to (G2) were formed on the base material. Using a blade coater, coating was performed so that the dry film thickness was 30 μm, and Examples 11, 12, 15, 27, 28, 31, and 33 were heated in a hot-air drying oven at 120 ° C. for 30 minutes, and For Examples 13, 14, 16, 29, 30, 32, and 34, an integrated exposure amount of 1,500 mJ / cm2 ultraviolet irradiation was performed using a conveyor type UV irradiation apparatus (manufactured by Toshiba Lighting & Technology Corp., high-pressure mercury lamp, 120 W / cm). As a result, an insulating layer was formed. Next, the insulating layer was peeled off from the release-treated PET film to obtain an insulating layer for measuring the elongation at break.
The conductive layer, decorative layer, insulating layer and base film for measuring the elongation at break were cut out into shapes each having a size of 60 mm × 10 mm. Examples 1 to 16, 33 and 34 and Comparative Examples 1 to 3 and 6, respectively, were used. The elongation at break was measured in a heating oven at 160 ° C. and in Examples 17 to 32 and Comparative Examples 4 and 5 in a heating oven at 120 ° C. at a tensile rate of 10 mm / min. The results are shown in Tables 1 to 3.

<実施例35〜37:成形体の製造>
実施例1、実施例25および実施例33の成形フィルムの3mm×60mmの直線状パターンの位置と重なるように、半径3cmの半球状のABS樹脂成形物を導電体側の面と向かい合うように合わせ、TOM成形機(布施真空社製)を用いて設定温度160℃でオーバーレイ成形を行うことで、半球形状に成形された成形フィルムとABS樹脂成形物とが一体化した成形体を得た。直線状パターンの断線の有無および熱延伸時抵抗変動率を確認した結果、断線は確認されず、また抵抗値の変動は10倍以上100倍未満であり、回路として実用可能な立体回路であることが確認された。
<Examples 35 to 37: Production of molded article>
A hemispherical ABS resin molded product having a radius of 3 cm is aligned so as to face the surface on the conductor side so as to overlap the position of the linear pattern of 3 mm × 60 mm of the molded films of Examples 1, 25 and 33, By performing overlay molding at a set temperature of 160 ° C. using a TOM molding machine (manufactured by Fuse Vacuum Co., Ltd.), a molded article in which a hemispherical molded film and an ABS resin molded product were integrated was obtained. As a result of checking the presence / absence of disconnection of the linear pattern and the rate of resistance variation during hot stretching, no disconnection was confirmed, and the variation of the resistance value was 10 times or more and less than 100 times. Was confirmed.

<実施例38〜40>
実施例1、実施例25および実施例33で得られた成形フィルムの3mm×60mmの直線状パターンの位置と重なるように、半径3cmの半球状の金属製モールドを導電体側の面と向かい合うように合わせ、TOM成形機(布施真空社製)を用いて設定温度160℃でオーバーレイ成形を行うことで、半球形状に成形されたパターン化導電体付き成形用フィルムを得た。
次いで、当該半球形状に成形された成形フィルムを、バルブゲートタイプのインモールド成形用テスト金型が取り付けられた射出成形機(IS170(i5)、東芝機械社製)にセットし、PC/ABS樹脂(LUPOYPC/ABSHI5002、LG化学社製)を射出成形することで、パターン化導電体付き成形用フィルムと一体化された成形体を得た(射出条件:スクリュー径40mm、シリンダー温度250℃、金型温度(固定側、
可動側)60℃ 、射出圧力160MPa(80%)、保圧力100MPa、射出速度6
0mm/秒(28%)、射出時間4秒、冷却時間20秒)。直線状パターンの断線の有無および熱延伸時抵抗変動率を確認した結果、断線は確認されず、また抵抗値の変動は10倍以上100倍未満であり、回路として実用可能な立体回路であることが確認された。
<Examples 38 to 40>
A hemispherical metal mold having a radius of 3 cm is placed so as to face the surface on the conductor side so as to overlap the position of the linear pattern of 3 mm × 60 mm of the molded films obtained in Examples 1, 25 and 33. Then, overlay molding was performed at a set temperature of 160 ° C. using a TOM molding machine (manufactured by Fuse Vacuum Co., Ltd.) to obtain a hemispherically shaped film for forming with a patterned conductor.
Next, the hemispherical molded film is set on an injection molding machine (IS170 (i5), manufactured by Toshiba Machine Co., Ltd.) to which a test mold for in-mold molding of a valve gate type is attached, and PC / ABS resin is set. (LUPOYPC / ABSHI5002, manufactured by LG Chemical Co., Ltd.) was injection-molded to obtain a molded body integrated with a molding film with a patterned conductor (injection conditions: screw diameter 40 mm, cylinder temperature 250 ° C., mold) Temperature (fixed side,
Movable side) 60 ° C, injection pressure 160MPa (80%), holding pressure 100MPa, injection speed 6
0 mm / sec (28%), injection time 4 sec, cooling time 20 sec). As a result of checking the presence / absence of disconnection of the linear pattern and the rate of resistance variation during hot stretching, no disconnection was confirmed, and the variation of the resistance value was 10 times or more and less than 100 times. Was confirmed.

[結果のまとめ]
ベースフィルムの軟化点温度における各層の破断伸び率の関係が
ベースフィルムの破断伸び率≦導電層の破断伸び率
を満たす比較例1〜6の成形フィルムを用いて形成された導電層は、熱延伸時に破断を生じ、抵抗値が上昇することが明らかとなった。
[Summary of results]
The relationship between the elongation at break of each layer at the softening point temperature of the base film satisfies the elongation at break of the base film ≦ the elongation at break of the conductive layer. Occasionally, a break occurred and the resistance value was found to increase.

一方、実施例1〜34の結果から、本実施の導電性組成物は、得られる導電層の密着性および成形時の導電層の延伸に対し断線や脱落が起きず、抵抗値の増大も良好に保たれていた。これは本実施の導電性組成物の使用溶剤が高沸点かつ特定の種類・形状・添加量の導電性微粒子を用いたことにより高温成形時の引張に対し、導電パスが断裂しにくかったことに加え、ベースフィルムの軟化点温度における各層の破断伸び率の関係が特定の領域を満たすことにより、高温成形時の導電層への過度の引張応力集中を抑制することにより、導電性を保持した状態での延伸適性が発揮されたものと推定される。   On the other hand, from the results of Examples 1 to 34, the conductive composition of the present embodiment shows good adhesion of the obtained conductive layer and no disconnection or dropout due to stretching of the conductive layer at the time of molding, and the resistance value is also increased. Was kept in This is because the conductive path used in the conductive composition of the present embodiment has a high boiling point and specific types, shapes, and amounts of conductive fine particles are used. In addition, the relationship between the elongation at break of each layer at the softening point temperature of the base film satisfies a specific region, thereby suppressing excessive tensile stress concentration on the conductive layer during high-temperature molding, thereby maintaining conductivity. It is presumed that the stretching aptitude was exhibited.

また実施例35〜40の結果から、本発明の導電性組成物の導電層を備えた成形フィルムによれば、基材面が平坦でない立体形状であっても、優れた配線一体型の成形体が得られた。   Also, from the results of Examples 35 to 40, according to the molded film provided with the conductive layer of the conductive composition of the present invention, even if the substrate surface is not a flat three-dimensional shape, an excellent wiring-integrated molded product was gotten.

このように、本実施の導電性組成物を用いた成形フィルムおよび配線一体型の成形体は、家電製品、自動車用部品、ロボット、ドローンなどのプラスチック筐体および立体形状部品へ直接、デザイン自由度を損なうことなく軽量かつ省スペースな回路の作り込みやタッチセンサー・アンテナ・面状発熱体・電磁波シールド・インダクタ(コイル)・抵抗体の作り込みや、・各種電子部品の実装を行うことを可能にする。また、電子機器の軽薄短小化および設計自由度の向上、多機能化に極めて有用である。   Thus, the molded film and the wiring-integrated molded body using the conductive composition of this embodiment can be directly designed into plastic housings and three-dimensional parts such as home appliances, automobile parts, robots and drones. It is possible to build a lightweight and space-saving circuit and to build touch sensors, antennas, planar heating elements, electromagnetic wave shields, inductors (coils), and resistors, and to mount various electronic components without compromising performance. To Further, it is extremely useful for reducing the size and weight of electronic devices, improving design flexibility, and increasing the number of functions.

1 ベースフィルム
2 導電層
3 加飾層
4 電子部品
5 ピン
6 絶縁層
10 成形フィルム
11 金型
12 射出成形用金型
13 開口部
14 射出
15 上昇
16 加圧
17 樹脂
20 基材
21 上側チャンバーボックス
22 下側チャンバーボックス
30 成形体
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Base film 2 Conductive layer 3 Decorative layer 4 Electronic component 5 Pin 6 Insulating layer 10 Molded film 11 Mold 12 Injection mold 13 Opening 14 Injection 15 Ascent 16 Pressurization 17 Resin 20 Base material 21 Upper chamber box 22 Lower chamber box 30 molded body

Claims (9)

ベースフィルム上に導電層を有し、凹凸面や三次元曲面を有する基材表面に導電層を形成するための成形フィルムであって、
前記ベースフィルムの軟化点温度における各層の破断伸び率の関係が
ベースフィルムの破断伸び率>導電層の破断伸び率
を満たす、成形フィルムであり、
前記導電層が、樹脂(A)と導電性微粒子(B)とを含有する導電性組成物の硬化物であり、
前記導電性微粒子(B)の前記導電層に占める比率が50〜85重量%であり、かつ前記導電性微粒子(B)が、銀粉、銅粉、銀コート粉、銅合金粉、導電性酸化物粉、およびカーボン微粒子からなる群より選択される1種以上を含み、かつ導電性微粒子(B)の形状が、扁平、針、樹状、およびワイヤー形状からなる群より選択される1種以上の形状を含む、成形フィルム。
Having a conductive layer on the base film, a molded film for forming a conductive layer on the surface of the substrate having an uneven surface or a three-dimensional curved surface,
A molded film, wherein the relationship of the elongation at break of each layer at the softening point temperature of the base film satisfies the elongation at break of the base film> the elongation at break of the conductive layer,
The conductive layer is a cured product of a conductive composition containing a resin (A) and conductive fine particles (B),
The ratio of the conductive fine particles (B) in the conductive layer is 50 to 85% by weight, and the conductive fine particles (B) are silver powder, copper powder, silver coating powder, copper alloy powder, conductive oxide. Powder, and at least one selected from the group consisting of flat, needle, dendritic, and wire-shaped, wherein the shape of the conductive fine particles (B) includes at least one selected from the group consisting of carbon fine particles. Molded film, including shape.
ベースフィルム上に、加飾層と、導電層とを有し、凹凸面や三次元曲面を有する基材表面に導電層形成するための成形フィルムであって、
前記ベースフィルムの軟化点温度における各層の破断伸び率の関係が
ベースフィルムの破断伸び率>加飾層の破断伸び率>導電層の破断伸び率
を満たす、成形フィルムであり、
前記導電層が、樹脂(A)と導電性微粒子(B)とを含有する導電性組成物の硬化物であり、
前記導電性微粒子(B)の前記導電層に占める比率が50〜85重量%であり、かつ前記導電性微粒子(B)が、銀粉、銅粉、銀コート粉、銅合金粉、導電性酸化物粉、およびカーボン微粒子からなる群より選択される1種以上を含み、かつ導電性微粒子(B)の形状が、扁平、針、樹状、およびワイヤー形状からなる群より選択される1種以上の形状を含む、成形フィルム。
On a base film, having a decorative layer and a conductive layer, a molded film for forming a conductive layer on the surface of the substrate having an uneven surface or a three-dimensional curved surface,
A relationship between the elongation at break of each layer at the softening point temperature of the base film, the elongation at break of the base film> the elongation at break of the decorative layer> the elongation at break of the conductive layer, a molded film,
The conductive layer is a cured product of a conductive composition containing a resin (A) and conductive fine particles (B),
The ratio of the conductive fine particles (B) in the conductive layer is 50 to 85% by weight, and the conductive fine particles (B) are silver powder, copper powder, silver coating powder, copper alloy powder, conductive oxide. Powder, and at least one selected from the group consisting of flat, needle, dendritic, and wire-shaped, wherein the shape of the conductive fine particles (B) includes at least one selected from the group consisting of carbon fine particles. Molded film, including shape.
ベースフィルム上に、絶縁層と、導電層とを有し、凹凸面や三次元曲面を有する基材表面に導電層を形成するための成形フィルムであって、
前記ベースフィルムの軟化点温度における各層破断伸び率の関係が
ベースフィルムの破断伸び率>絶縁層の破断伸び率>導電層の破断伸び率
を満たす、成形フィルムであり、
前記導電層が、樹脂(A)と導電性微粒子(B)とを含有する導電性組成物の硬化物であり、
前記導電性微粒子(B)の前記導電層に占める比率が50〜85重量%であり、かつ前記導電性微粒子(B)が、銀粉、銅粉、銀コート粉、銅合金粉、導電性酸化物粉、およびカーボン微粒子からなる群より選択される1種以上を含み、かつ導電性微粒子(B)の形状が、扁平、針、樹状、およびワイヤー形状からなる群より選択される1種以上の形状を含む、成形フィルム。
On a base film, having an insulating layer and a conductive layer, a molded film for forming a conductive layer on the surface of a substrate having an uneven surface or a three-dimensional curved surface,
A relationship between the elongation at break of each layer at the softening point temperature of the base film, elongation at break of base film> elongation at break of insulating layer> elongation at break of conductive layer, a molded film,
The conductive layer is a cured product of a conductive composition containing a resin (A) and conductive fine particles (B),
The ratio of the conductive fine particles (B) in the conductive layer is 50 to 85% by weight, and the conductive fine particles (B) are silver powder, copper powder, silver coating powder, copper alloy powder, conductive oxide. Powder, and at least one selected from the group consisting of flat, needle, dendritic, and wire-shaped, wherein the shape of the conductive fine particles (B) includes at least one selected from the group consisting of carbon fine particles. Molded film, including shape.
ベースフィルム上に、絶縁層と、加飾層と、導電層とを有し、凹凸面や三次元曲面を有する基材表面に導電層を形成するための成形フィルムであって、
前記ベースフィルムの軟化点温度における各層破断伸び率の関係が
ベースフィルムの破断伸び率>加飾層の破断伸び率>導電層の破断伸び率
ベースフィルムの破断伸び率>絶縁層の破断伸び率>導電層の破断伸び率
を同時に満たす、成形フィルムであり、
前記導電層が、樹脂(A)と導電性微粒子(B)とを含有する導電性組成物の硬化物であり、
前記導電性微粒子(B)の前記導電層に占める比率が50〜85重量%であり、かつ前記導電性微粒子(B)が、銀粉、銅粉、銀コート粉、銅合金粉、導電性酸化物粉、およびカーボン微粒子からなる群より選択される1種以上を含み、かつ導電性微粒子(B)の形状が、扁平、針、樹状、およびワイヤー形状からなる群より選択される1種以上の形状を含む、成形フィルム。
On a base film, having an insulating layer, a decorative layer, and a conductive layer, a molded film for forming a conductive layer on the surface of a substrate having an uneven surface or a three-dimensional curved surface,
The relationship between the elongation at break of each layer at the softening point temperature of the base film is as follows: elongation at break of base film> elongation at break of decorative layer> elongation at break of conductive layer elongation at break of base film> elongation at break of insulating layer> A molded film that simultaneously satisfies the elongation at break of the conductive layer,
The conductive layer is a cured product of a conductive composition containing a resin (A) and conductive fine particles (B),
The ratio of the conductive fine particles (B) in the conductive layer is 50 to 85% by weight, and the conductive fine particles (B) are silver powder, copper powder, silver coating powder, copper alloy powder, conductive oxide. Powder, and at least one selected from the group consisting of flat, needle, dendritic, and wire-shaped, wherein the shape of the conductive fine particles (B) includes at least one selected from the group consisting of carbon fine particles. Molded film, including shape.
前記ベースフィルムが、ポリカーボネート、ポリメチルメタクリレート、ポリプロピレン、およびポリエチレンテレフタレートからなる群より選択されるフィルム、又はこれらの積層フィルムである、請求項1〜4のいずれか一項記載の成形フィルム。   The molded film according to any one of claims 1 to 4, wherein the base film is a film selected from the group consisting of polycarbonate, polymethyl methacrylate, polypropylene, and polyethylene terephthalate, or a laminated film thereof. 基材上に、請求項1〜5のいずれか一項記載の成形フィルムが積層された成形体。   A molded product in which the molded film according to any one of claims 1 to 5 is laminated on a substrate. 基材上に請求項1〜5のいずれか一項記載の成形フィルムを配置する工程と、
オーバーレイ成形法により、前記成形フィルムと前記基材とを一体化する工程と、を含む、成形体の製造方法。
A step of arranging the molded film according to any one of claims 1 to 5 on a substrate,
Integrating the molded film and the base material by an overlay molding method.
請求項1〜5のいずれか一項記載の成形フィルムを所定の形状に成形する工程と、
成形後の成形フィルムを、射出成形用の型内に配置する工程と、
射出成形により基材を成形すると共に、前記成形後の成形フィルムと前記基材とを一体化する工程と、を含む、成形体の製造方法。
Forming the molded film according to any one of claims 1 to 5 into a predetermined shape,
A step of arranging the molded film after molding in a mold for injection molding,
Molding a substrate by injection molding, and integrating the molded film with the substrate after the molding.
請求項1〜5のいずれか一項記載の成形フィルムを、射出成形用の型内に配置する工程と、
射出成形により基材を成形すると共に、前記成形フィルム中の少なくとも導電層を基材側に転写する工程と、を含む、成形体の製造方法。
A step of disposing the molded film according to any one of claims 1 to 5 in a mold for injection molding,
Molding a substrate by injection molding, and transferring at least the conductive layer in the molded film to the substrate side.
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