JP2020008284A - Blister tester and test method - Google Patents
Blister tester and test method Download PDFInfo
- Publication number
- JP2020008284A JP2020008284A JP2018126233A JP2018126233A JP2020008284A JP 2020008284 A JP2020008284 A JP 2020008284A JP 2018126233 A JP2018126233 A JP 2018126233A JP 2018126233 A JP2018126233 A JP 2018126233A JP 2020008284 A JP2020008284 A JP 2020008284A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- coil
- output
- blister
- temperature
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Abstract
Description
本発明は、ブリスター試験機、及び当該ブリスター試験機において実行可能なブリスター試験方法に関する。 The present invention relates to a blister tester and a blister test method executable in the blister tester.
ダイカスト等の鋳物の鋳造過程における空気あるいは離型材の分解ガス等の巻き込みにより、鋳物内部にガスが含まれることがある。
かようなガスの状況を検査するため、加熱あるいは溶融塩により鋳物のサンプルのガスを泡ぶく(ブリスター)として現出させるブリスター試験機が用いられている。ブリスター試験機にかけられたサンプルにおけるブリスターの様子(個数等)により、鋳物内のガスが検査される。
加熱によるブリスター試験機としては、一般的な熱風炉が用いられている。この場合、ブリスターを十分に現出させるため、サンプルの材質及び大きさ等によるものの、約30分以上の加熱が必要である。
他方、溶融塩によるブリスター試験機として、実用新案登録第3009463号公報(特許文献1)に記載されるものが知られている。この場合、サンプルは、溶融塩(硝酸塩を加熱溶融させてなる塩浴)に浸漬することで短時間で均一に加熱され、ブリスターが短時間で現出される。
Gas may be contained in the casting due to entrainment of air or decomposed gas of the release material during the casting process of the casting such as die casting.
In order to check the state of such a gas, a blister tester is used in which a gas of a casting sample is exposed as a blister by heating or molten salt. The gas in the casting is inspected by the state (number, etc.) of the blisters in the sample subjected to the blister tester.
A general hot blast stove is used as a heating blister tester. In this case, heating for about 30 minutes or more is necessary, depending on the material and size of the sample, in order to sufficiently reveal the blister.
On the other hand, as a blister tester using a molten salt, one described in Japanese Utility Model Registration No. 3009463 (Patent Document 1) is known. In this case, the sample is uniformly heated in a short time by immersing it in a molten salt (a salt bath formed by heating and melting nitrate), and a blister appears in a short time.
上記の溶融塩によるブリスター試験機では、溶融塩を使用するため、溶融塩の取扱に細心の注意が必要であり、作動及び管理に手間がかかる。
又、気化した溶融塩の排出等が必要であり、環境に影響を与える可能性がある。
更に、サンプルに水の付着があった場合に、条件が揃うと溶融塩と水の反応による水蒸気爆発が発生する可能性があるし、溶融塩自体の分解による爆発の可能性が存在する。
In the above-described blister tester using a molten salt, since the molten salt is used, careful handling of the molten salt is required, and operation and management are troublesome.
Further, it is necessary to discharge the vaporized molten salt, which may affect the environment.
Further, when water adheres to the sample, if the conditions are met, steam explosion may occur due to the reaction between the molten salt and water, and there is a possibility of explosion due to decomposition of the molten salt itself.
そこで、本発明の主な目的は、作動及び管理が容易且つ安全に行え、環境に優しく、検査時間が比較的に短いブリスター試験機,ブリスター試験方法を提供することである。 Therefore, a main object of the present invention is to provide a blister test machine and a blister test method that can be easily and safely operated and managed, are environmentally friendly, and have a relatively short inspection time.
請求項1に記載の発明は、ブリスター試験機において、内部にサンプルが配置されるコイルと、前記コイルの出力を調節する制御手段と、を備えており、前記制御手段は、前記コイルの出力について、所定出力とした後で、当該所定出力より小さい特定出力とすることを繰り返すことを特徴とするものである。
請求項2に記載の発明は、上記発明において、前記特定出力は、0であることを特徴とするものである。
請求項3に記載の発明は、上記発明において、前記制御手段は、前記所定出力について、前記サンプルの温度あるいは前記サンプルの周囲の温度の前記サンプルの軟化点への到達の前に比べ、その到達の後で低くすることを特徴とするものである。
請求項4に記載の発明は、上記発明において、前記サンプルと前記コイルとの間の距離が、32mm以上であることを特徴とするものである。
請求項5に記載の発明は、ブリスター試験方法において、サンプルに対し、コイルによる誘導加熱が、前記コイルの出力について、所定出力とした後で、当該所定出力より低い特定出力とすることを繰り返す状態で行われることで、前記サンプルが軟化点以上融点未満に加熱されることを特徴とするものである。
請求項6に記載の発明は、上記発明において、前記特定出力は、0であることを特徴とするものである。
請求項7に記載の発明は、上記発明において、前記所定出力は、前記サンプルの温度あるいは前記サンプルの周囲の温度の前記サンプルの軟化点への到達の前に比べ、その到達の後で低くされることを特徴とするものである。
請求項8に記載の発明は、上記発明において、前記サンプルと前記コイルとの間の距離が、32mm以上であることを特徴とするものである。
The invention according to
The invention according to
According to a third aspect of the present invention, in the above-mentioned invention, the control means determines that the predetermined output is higher than the temperature of the sample or the temperature around the sample before reaching the softening point of the sample. After that, it is characterized by being lowered.
According to a fourth aspect of the present invention, in the above-mentioned invention, a distance between the sample and the coil is 32 mm or more.
According to a fifth aspect of the present invention, in the blister test method, a state in which the induction heating by the coil is repeatedly performed on the sample after the output of the coil is set to a predetermined output and then to a specific output lower than the predetermined output. The sample is heated to a temperature equal to or higher than the softening point and lower than the melting point.
According to a sixth aspect of the present invention, in the above-mentioned invention, the specific output is 0.
According to a seventh aspect of the present invention, in the above-mentioned invention, the predetermined output is made lower after the temperature of the sample or the temperature around the sample before reaching the softening point of the sample. It is characterized by the following.
According to an eighth aspect of the present invention, in the above-mentioned invention, a distance between the sample and the coil is 32 mm or more.
本発明の主な効果は、作動及び管理がより容易且つ安全に行え、より環境に優しく、検査時間が比較的に短いブリスター試験機,ブリスター試験方法が提供されることである。 A primary advantage of the present invention is that a blister tester and method are provided that are easier and safer to operate and manage, are more environmentally friendly, and have a relatively shorter inspection time.
以下、本発明に係る実施の形態の例が、その変更例と共に、適宜図面に基づいて説明される。
尚、当該形態は、下記の例及び変更例に限定されない。
Hereinafter, examples of embodiments according to the present invention, together with modifications thereof, will be described based on the drawings as appropriate.
In addition, this form is not limited to the following examples and modified examples.
図1は、本発明に係るブリスター試験機1の模式図である。
ブリスター試験機1は、ダイカスト用アルミニウムとして多用されているADC12により鋳造されたダイカスト製品のサンプルSAについて検査するものである。ブリスター試験機1は、サンプルSAを、ADC12の軟化点である530℃程度に加熱可能である。
尚、検査対象である製品のサンプルSAは、他のアルミニウム合金製であっても良いし、アルミニウムマグネシウム合金製であっても良いし、亜鉛製であっても良いし、銅製であっても良いし、これらの内の少なくとも2つを組み合わせた合金製であっても良い。これらの場合であっても、その融点未満で融点に近い軟化点へ同様に加熱することができる。
FIG. 1 is a schematic diagram of a
The
The sample SA of the product to be inspected may be made of another aluminum alloy, an aluminum magnesium alloy, zinc, or copper. Alternatively, it may be made of an alloy in which at least two of them are combined. Even in these cases, it is possible to similarly heat to a softening point lower than the melting point and close to the melting point.
ブリスター試験機1は、誘導加熱(IH)用のIHコイル2(コイル)と、IHコイル2の電源となるインバータ電源4と、これらの間に介装される整合回路6と、これらを制御する制御手段(図示略)と、を有する。
IHコイル2内には、サンプルSAが配置される。
IHコイル2に隣接して、IHコイル2を冷却するためのコイル冷却水が通過可能である冷却器(図示略)が設けられている。
又、サンプルSAの温度を検知する温度センサ8が設けられている。温度センサ8は、ここでは放射温度計であり、制御手段に電気的に接続されている。
The
The sample SA is arranged in the
A cooler (not shown) through which coil cooling water for cooling the
Further, a temperature sensor 8 for detecting the temperature of the sample SA is provided. The temperature sensor 8 is here a radiation thermometer, and is electrically connected to the control means.
制御手段は、情報処理手段(CPU)、記憶手段(例えばメモリカード)及び入力手段(例えばキーボード及びポインティングデバイスの少なくとも一方)付きのコンピュータを含んでいる。
記憶手段は、各種の情報を記憶可能であり、IHコイル2の駆動電力に係る周期情報が記憶されている。即ち、周期情報は、所定の周期(ここでは20秒)におけるIHコイル2の駆動電力の推移を示すものであり、ここでは所定電力(24キロワット(kW))を所定時間(12秒間)維持する大電力情報と、その後に特定時間(8秒間)電力を所定電力より低い特定電力(0kW)にする小電力情報との組合せである。小電力情報は、特定電力が0であるから、オフ情報ともいえる。尚、周期情報は、電力を3段階以上に切り替えるものであったり、大電力情報及び小電力情報の少なくとも一方を複数含むものであってたりしても良い。又、所定電力は24kW以外であっても良いし、特定電力は0でなくても良い。更に、所定時間は12秒間以外であっても良いし、特定時間は8秒間以外であっても良い。
又、記憶手段には、サンプルSAの温度が所定温度(サンプルSAの軟化点)に達した場合に、上記大電力情報に係る所定電力を低下させてIHコイル2の出力を絞るための電力低下情報が記憶されている。電力低下情報は、ここでは上記所定電力の40%に相当する9.6kWである。尚、電力低下情報は、上記所定電力の30%以上50%以下であっても良いし、20%以上60%以下であっても良い。又、3段階以上に上記所定電力を低下させるため、第2の電力低下情報あるいは更に第3の電力低下情報・・・、等が設けられても良い。
入力手段は、ユーザの入力を受け付ける。
尚、制御手段は、コンピュータに代えて、あるいはコンピュータと共に設置される制御盤等であっても良い。又、制御手段は、複数の部材ないし部分に分散して設けられていても良い。更に、入力手段が省略されても良いし、各種の情報を表示可能な表示手段が追加されても良い。
The control means includes a computer having an information processing means (CPU), a storage means (for example, a memory card), and an input means (for example, at least one of a keyboard and a pointing device).
The storage means is capable of storing various types of information, and stores cycle information relating to the driving power of the
In addition, when the temperature of the sample SA reaches a predetermined temperature (softening point of the sample SA), the storage means reduces the predetermined power related to the large power information to reduce the power for reducing the output of the
The input means accepts a user's input.
The control means may be a control panel or the like installed in place of the computer or together with the computer. Further, the control means may be provided separately in a plurality of members or portions. Further, the input means may be omitted, or a display means capable of displaying various information may be added.
以下、このようなブリスター試験機1の動作例、及びブリスター試験機1によって実行されるブリスター試験方法の例が、主に図2により説明される。
IHコイル2内にサンプルSAがセットされ、ユーザにより入力手段を介して制御手段に対し試験開始の入力がなされると、ブリスター試験機1の動作が開始される。
ここでは、サンプルSAは、ADC12による無塗装で円盤状のダイカスト製品であって、その重量は、およそ450g(グラム)である。
Hereinafter, an operation example of such a
When the sample SA is set in the
Here, the sample SA is an unpainted, disc-shaped die-cast product by the ADC 12, and its weight is about 450 g (gram).
一般に、450g程度即ち鋳物特にダイカスト製品として多くを占める1kg(キログラム)程度以下の金属製品を誘導加熱するには、IHコイル2から金属製品までの距離(ギャップ)は、ギャップが大きすぎると加熱効率が悪化することから、20ミリメートル(mm)ないし30mm程度とされる。
これに対し、ブリスター試験機1によるブリスター試験では、ギャップが50mmと大きくされている。尚、ギャップは、32mm以上あるいは35mm,40mm,又は45mm以上であっても良いし、150mm以下あるいは120mm,100mm,又は80mm以下であっても良い。
Generally, in order to induction-heat a metal product of about 450 g, that is, about 1 kg (kilogram) or less, which is a large part of a casting, especially a die-cast product, the distance (gap) from the
On the other hand, in the blister test by the
制御手段は、インバータ電源4及び整合回路6を周期情報に基づき制御して、サンプルSAをIHコイル2により誘導加熱する(ステップS1)。IHコイル2における出力周波数は、ここでは10.1kHz(キロヘルツ)であるが、他の値であっても良い。
制御手段は、初期では、IHコイル2に対し、上記所定電力である24kWを12秒間供給し、次いで上記特定電力(0kW)に基づき給電を8秒間停止することを繰り返す(IHコイル2のオンオフ断続運転)。IHコイル2の出力は、断続運転のオン時に上記所定電力により所定出力となり、断続運転のオフ時に上記特定電力により特定出力(出力0)となる。
ここでは、サンプルSAの温度分布を調査するため、温度センサ8はサンプルSAについて4個設けられており、円盤状のサンプルSAの表面における、円盤円周から4mm内側で正三角形の頂点にそれぞれ位置するような各周縁部(第1〜第3部分)、及び中心部(第4部分)に係る温度を検知する。制御手段は、サンプルSAの第2部分に係る温度を参照してIHコイル2の出力を制御し、4箇所の温度を記憶する。加えて、コイル冷却水入口(冷却前)の温度及びコイル冷却水出口(冷却後)の温度を検知する各温度センサ8、並びにブリスター試験機1の周囲温度を測定する温度センサ8が設けられる。制御手段は、コイル冷却水入口温度及びコイル冷却水入口温度並びに周辺温度も記憶する。
尚、温度センサ8の個数及び配置の少なくとも一方は、上述のもの以外のものとすることができる。又、制御手段による制御において参照する温度は、第1,第3,第4部分の内の何れかであっても良いし、これらの組合せの平均であっても良いし、サンプルSAから離れた部分(サンプルSAの周囲)の温度であっても良い。更に、各種の温度の内の少なくとも何れかは、記憶されなくても良い。
The control means controls the
At first, the control means repeatedly supplies the
Here, in order to investigate the temperature distribution of the sample SA, four temperature sensors 8 are provided for the sample SA. The temperature sensors 8 are located at the vertices of an equilateral triangle on the surface of the disk-shaped sample SA, 4 mm inside the disk circumference. Then, the temperatures of the peripheral portions (first to third portions) and the central portion (fourth portion) are detected. The control means controls the output of the
At least one of the number and arrangement of the temperature sensors 8 may be other than those described above. Further, the temperature referred to in the control by the control means may be any one of the first, third, and fourth portions, may be an average of a combination thereof, or may be a distance from the sample SA. The temperature of a portion (around the sample SA) may be used. Further, at least one of the various temperatures may not be stored.
制御手段は、サンプルSAが軟化点に到達したことを把握すると(ステップS2でYes)、電力低下情報に基づき、大電力情報に係る所定電力(オン時の電力)を9.6kWに設定し直す(ステップS3)。すると、IHコイル2のオン時の出力が軟化点到達前より低下し、サンプルSAの軟化点付近での温度維持に適した誘導加熱がなされる。
尚、所定電力に係る低電力への切替は、サンプルSAが軟化点に到達した直後に代えて、サンプルSAが軟化点に到達した供給電力の周期の次に到来する周期の最初に行われても良い。又、小電力情報に係る特定電力が0でない場合、上記所定電力の低下に合わせて当該特定電力が低下されても良いし、当該特定電力の低下は行わず当該特定電力が維持されても良い。
When grasping that the sample SA has reached the softening point (Yes in step S2), the control unit resets the predetermined power (power at the time of ON) related to the large power information to 9.6 kW based on the power reduction information. (Step S3). Then, the output when the
Note that the switching to the low power related to the predetermined power is performed immediately after the sample SA reaches the softening point, instead of immediately after the cycle of the supply power at which the sample SA reaches the softening point. Is also good. When the specific power related to the small power information is not 0, the specific power may be reduced in accordance with the decrease in the predetermined power, or the specific power may be maintained without reducing the specific power. .
制御手段は、加熱開始から所定時間(例えば220秒)が経過すると、IHコイル2の断続運転を停止して、サンプルSAの誘導加熱によるブリスター試験を完了する(ステップS4)。
When a predetermined time (for example, 220 seconds) elapses from the start of heating, the control means stops the intermittent operation of the
図3は試験開始からの経過時間(横軸,秒)に対する電力(左縦軸,W)及び通算の電力量(右縦軸,Wh(ワット時))が示されるグラフであり、図4は経過時間(横軸,秒)に対する各種の温度(左縦軸,℃)が示されるグラフである。当該各種の温度は、サンプルSAの第1〜第4部分の温度,コイル冷却水入口温度,コイル冷却水出口温度,周囲温度である。
又、次の[表1]は、電力切替時とサンプルSAにおける温度の飽和時とにおける、運転開始からの経過時間、サンプルSAの第1〜第4部分の温度、及びそれらの内最大の温度と最小の温度との差(サンプル温度差)を示すものである。
FIG. 3 is a graph showing the power (left vertical axis, W) and the total electric energy (right vertical axis, Wh (watt hours)) with respect to the elapsed time (horizontal axis, seconds) from the start of the test, and FIG. 5 is a graph showing various temperatures (left vertical axis, ° C.) with respect to elapsed time (horizontal axis, second). The various temperatures are the temperatures of the first to fourth portions of the sample SA, the coil cooling water inlet temperature, the coil cooling water outlet temperature, and the ambient temperature.
The following [Table 1] shows the elapsed time from the start of operation, the temperatures of the first to fourth portions of the sample SA, and the maximum temperature among them at the time of power switching and at the time of temperature saturation in the sample SA. And the minimum temperature (sample temperature difference).
加熱開始時のサンプルSAの温度(第1〜第4部分の平均即ちサンプル平均温度)は20℃程度であり、断続運転されたIHコイル2による誘導加熱により、2分20秒後にはサンプルSAの第2部分が軟化点(530℃)に到達している。
誘導加熱は、サンプルSAとIHコイル2とのギャップが小さいほど効率が良く、サンプルSA中央部の第4部分が他の部分に比べて昇温し難い。ブリスター試験機1によるブリスター試験では、ギャップが50mmと大きくされているため、通常のギャップの場合に比べて加熱が穏やかであり、IHコイル2に近いサンプルSAの端縁部とIHコイル2から遠いサンプルSAの中央部との温度差が緩和される。
又、断続運転により、IHコイル2に近いサンプルSA表面が急激に加熱されて、ブリスターの発生と関わりのない変質がサンプルSAに生じる事態が防止されるし、特にオフ時にサンプルSA表面から内部への伝熱を待つことができ、サンプルSAの均一な加熱が促進される。IHコイル2がオンオフの断続運転ではなく、大電力(例えば24kW)と小電力(例えば1kW)との繰り返しによる大小切替運転であっても、断続運転と同様な効果が発揮され、又大小切替運転により断続運転時より速く加熱が行われる。
尚、図3において、時間が経過するほど大電力(所定電力)の大きさが僅かずつ大きくなっているが、これは時間の経過によりIHコイル2等がなじむことによる。
The temperature of the sample SA at the start of heating (the average of the first to fourth portions, that is, the sample average temperature) is about 20 ° C., and the induction heating by the intermittently operated
Induction heating is more efficient as the gap between the sample SA and the
Further, the intermittent operation prevents the sample SA surface close to the
In FIG. 3, the magnitude of the large power (predetermined power) gradually increases as the time elapses. This is because the
かような軟化点の到達により、所定電力が初期値(24kW)から電力低下情報に係る値(9.6kW)に切り替えられる(経過時間2分22秒)。このときのサンプル温度差は66.3℃である。
所定電力を低く切り替えることにより、サンプルSAの温度が軟化点付近に維持され、サンプル温度差が緩和していく状態が維持される。
サンプルSAにおける温度の飽和が認められる付近でブリスター試験は終了可能であり、飽和時(経過時間3分40秒)におけるサンプル温度差は43.6℃に縮小されている。
When the softening point is reached, the predetermined power is switched from the initial value (24 kW) to the value (9.6 kW) related to the power reduction information (elapsed time: 2 minutes 22 seconds). The sample temperature difference at this time is 66.3 ° C.
By switching the predetermined power low, the temperature of the sample SA is maintained near the softening point, and the state in which the sample temperature difference is reduced is maintained.
The blister test can be completed in the vicinity where the saturation of the temperature in the sample SA is recognized, and the sample temperature difference at the time of saturation (elapsed time of 3 minutes and 40 seconds) is reduced to 43.6 ° C.
このブリスター試験の完了後、サンプルSAが目視で観察され、サンプルSAの表面及び裏面にブリスターの発生が認められた。
ブリスターは、サンプルSAが均一に軟化点まで加熱されれば比較的短時間(サンプルSAの大きさ及び形状等にもよるが軟化点到達後1分程度)で発生する。よって、2.5分程度後の軟化点(目標温度)への到達及び1分間程度の維持により、3.5分間程度の加熱でブリスターがサンプルSAの全体に発生し得、ブリスター試験が完了する。尚、以上と異なり、サンプルSAが不均一に加熱されると、ある部分が軟化点以上となる一方で他の部分で軟化点に達しないこととなり、その軟化点に達しない部分においてブリスター試験が完全に行われないこととなる。又、サンプルSAがその融点以上に加熱されると、サンプルSAの少なくとも一部が融解して変形し、その変形した部分とブリスターとの区別がつかなかったり、ブリスター発生部分が融解したりして、検査の正確性が比較的に低くなる。
After the completion of the blister test, the sample SA was visually observed, and blisters were observed on the front and back surfaces of the sample SA.
Blisters are generated in a relatively short time (about 1 minute after reaching the softening point depending on the size and shape of the sample SA) when the sample SA is uniformly heated to the softening point. Therefore, by reaching the softening point (target temperature) after about 2.5 minutes and maintaining the temperature for about 1 minute, blisters can be generated in the entire sample SA by heating for about 3.5 minutes, and the blister test is completed. . Note that, unlike the above, when the sample SA is heated non-uniformly, a certain portion has a softening point or higher while another portion does not reach the softening point. It will not be done completely. When the sample SA is heated to a temperature higher than its melting point, at least a portion of the sample SA is melted and deformed, and the deformed portion and the blister cannot be distinguished or the blister-generated portion is melted. And the accuracy of the test is relatively low.
かようなブリスター試験機1は、次のような作用効果を奏する。
即ち、ブリスター試験機1は、内部にサンプルSAが配置されるIHコイル2と、IHコイル2の出力を調節する制御手段と、を備えており、制御手段は、IHコイル2の出力について、所定出力とした後で、当該所定出力より低い特定出力とすることを繰り返す。
よって、サンプルSAを加熱する熱源は、IHコイル2であり、ブリスター試験機1の作動及び管理は容易且つ安全に行える。又、ブリスター試験機1が作動に際し排出するものはコイル冷却水及び至近距離のみ強度の大きい電磁波だけであり、環境への影響が低減される。更に、サンプルSAが、IHコイル2に係る所定出力とこれより低い特定出力との繰り返しにより、なるべく均一であるように加熱されるため、検査時間が3.5分程度と短時間で済み、検査が正確に行える。
Such a
That is, the
Therefore, the heat source for heating the sample SA is the
又、特定出力は0であり、IHコイル2の出力は、断続的にオンオフされる。よって、サンプル温度差がより一層緩和する。
更に、制御手段は、所定出力について、サンプルSAの温度の軟化点への到達の前(24kWでの出力)に比べ、その到達の後で低くする(9.6kWでの出力)。よって、サンプルSAの温度が軟化点付近に維持されながら、サンプル温度差が緩和される。
加えて、サンプルSAとIHコイル2との間の距離(ギャップ)が、32mm以上である。よって、サンプル温度差が更に緩和される。
The specific output is 0, and the output of the
Further, the control means lowers the predetermined output (output at 9.6 kW) after reaching the softening point of the sample SA before the temperature reaches the softening point (output at 24 kW). Thus, the temperature difference of the sample SA is reduced while the temperature of the sample SA is maintained near the softening point.
In addition, the distance (gap) between the sample SA and the
他方、ブリスター試験機1で実行可能なブリスター試験方法では、サンプルSAに対し、IHコイル2による誘導加熱が、IHコイル2の出力について、所定出力とした後で、当該所定出力より低い特定出力とすることを繰り返す状態で行われることで、サンプルSAが軟化点以上融点未満に加熱される。
よって、作動及び管理がより容易且つ安全に行え、より環境に優しく、サンプルSAが均一に加熱され、検査時間が比較的に短いブリスター試験方法が提供される。
On the other hand, in the blister test method that can be executed by the
Thus, a blister test method is provided that is easier and safer to operate and manage, is more environmentally friendly, uniformly heats the sample SA, and has a relatively short inspection time.
又、特定出力は、0である。よって、サンプル温度差がより一層緩和する。
更に、所定出力は、サンプルSAの温度の軟化点への到達の前(24kWでの出力)に比べ、その到達の後で低くされる(9.6kWでの出力)。よって、サンプルSAの温度が軟化点付近に維持されながら、サンプル温度差が緩和される。
加えて、サンプルSAとIHコイル2との間の距離(ギャップ)が、32mm以上である。よって、サンプル温度差が更に緩和される。
The specific output is 0. Therefore, the sample temperature difference is further reduced.
Further, the predetermined output is reduced (output at 9.6 kW) after reaching the softening point of the sample SA before (at 24 kW) before reaching the softening point. Thus, the temperature difference of the sample SA is reduced while the temperature of the sample SA is maintained near the softening point.
In addition, the distance (gap) between the sample SA and the
1・・ブリスター試験機、2・・IHコイル(コイル)、SA・・サンプル。 1. Blister tester, 2. IH coil (coil), SA sample.
Claims (8)
前記コイルの出力を調節する制御手段と、
を備えており、
前記制御手段は、前記コイルの出力について、所定出力とした後で、当該所定出力より小さい特定出力とすることを繰り返す
ことを特徴とするブリスター試験機。 A coil in which the sample is placed,
Control means for adjusting the output of the coil;
With
The blister tester according to claim 2, wherein the control means repeats, after setting the output of the coil to a predetermined output, to a specific output smaller than the predetermined output.
ことを特徴とする請求項1に記載のブリスター試験機。 The said specific output is 0, The blister test machine of Claim 1 characterized by the above-mentioned.
ことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のブリスター試験機。 2. The control unit according to claim 1, wherein the predetermined output is lower after the temperature of the sample or the temperature around the sample than before reaching the softening point of the sample. Or the blister testing machine according to claim 2.
ことを特徴とする請求項1ないしは請求項3の何れかに記載のブリスター試験機。 The blister tester according to any one of claims 1 to 3, wherein a distance between the sample and the coil is 32 mm or more.
ことを特徴とするブリスター試験方法。 For the sample, the induction heating by the coil is performed in a state where the output of the coil is set to a predetermined output, and then the specific output lower than the predetermined output is repeatedly performed, so that the sample has a softening point or more and a melting point or less. Blister test method characterized by being heated to a temperature.
ことを特徴とする請求項5に記載のブリスター試験方法。 The blister test method according to claim 5, wherein the specific output is zero.
ことを特徴とする請求項5又は請求項6に記載のブリスター試験方法。 7. The method according to claim 5, wherein the predetermined output is decreased after the temperature of the sample or the temperature around the sample reaches the softening point of the sample, before the temperature reaches the softening point. The described blister test method.
ことを特徴とする請求項5ないしは請求項7の何れかに記載のブリスター試験方法。 The blister test method according to claim 5, wherein a distance between the sample and the coil is 32 mm or more.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018126233A JP7118777B2 (en) | 2018-07-02 | 2018-07-02 | Blister tester and method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018126233A JP7118777B2 (en) | 2018-07-02 | 2018-07-02 | Blister tester and method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020008284A true JP2020008284A (en) | 2020-01-16 |
JP7118777B2 JP7118777B2 (en) | 2022-08-16 |
Family
ID=69151135
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018126233A Active JP7118777B2 (en) | 2018-07-02 | 2018-07-02 | Blister tester and method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7118777B2 (en) |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63166188A (en) * | 1986-12-26 | 1988-07-09 | 松下電器産業株式会社 | Electric hot plate controller |
JPH041561A (en) * | 1990-04-18 | 1992-01-07 | Ahresty Corp | Blister testing method for die casting product |
JPH09257752A (en) * | 1996-03-22 | 1997-10-03 | Mitsubishi Motors Corp | Apparatus for detecting transformation point of member to be heated by high frequency induction heating and tempering apparatus |
US20100033565A1 (en) * | 2006-06-16 | 2010-02-11 | Worcester Polytechnic Institute | Infrared Defect Detection System and Method for the Evaluation of Powdermetallic Compacts |
JP2012083791A (en) * | 2012-01-31 | 2012-04-26 | Canon Inc | Image forming device |
JP2016070867A (en) * | 2014-10-01 | 2016-05-09 | 新日鐵住金株式会社 | Quality determination method of laminated metal thin plate |
-
2018
- 2018-07-02 JP JP2018126233A patent/JP7118777B2/en active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63166188A (en) * | 1986-12-26 | 1988-07-09 | 松下電器産業株式会社 | Electric hot plate controller |
JPH041561A (en) * | 1990-04-18 | 1992-01-07 | Ahresty Corp | Blister testing method for die casting product |
JPH09257752A (en) * | 1996-03-22 | 1997-10-03 | Mitsubishi Motors Corp | Apparatus for detecting transformation point of member to be heated by high frequency induction heating and tempering apparatus |
US20100033565A1 (en) * | 2006-06-16 | 2010-02-11 | Worcester Polytechnic Institute | Infrared Defect Detection System and Method for the Evaluation of Powdermetallic Compacts |
JP2012083791A (en) * | 2012-01-31 | 2012-04-26 | Canon Inc | Image forming device |
JP2016070867A (en) * | 2014-10-01 | 2016-05-09 | 新日鐵住金株式会社 | Quality determination method of laminated metal thin plate |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
KEISER, D. D. ET AL.: "Microstructural characterization of an irradiated RERTR-6 U-7Mo/AA4043 alloy dispersion fuel plate s", JOURNAL OF NUCLEAR MATERIALS, vol. 488, JPN6022014609, 27 February 2017 (2017-02-27), pages 100 - 122, XP029970990, ISSN: 0004752916, DOI: 10.1016/j.jnucmat.2017.02.038 * |
鈴木大介 ほか: "誘導加熱による急速局所加熱を利用した非鉄軽金属の高機能化(第2報)", 山梨県工業技術センター 研究報告NO.25, JPN6022014608, 2011, pages 50 - 54, ISSN: 0004752917 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP7118777B2 (en) | 2022-08-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
BR102016018379A2 (en) | "method of treating a press hardened part" | |
JP2008034244A5 (en) | ||
CN106413163A (en) | Semiconductor microwave heating apparatus, control method and control device thereof | |
US11546970B2 (en) | Plasma processing apparatus and temperature control method | |
CN105499476B (en) | One kind is forged with vacuum heat-preserving induction heater | |
JPH05502128A (en) | Cookware control device and control method | |
JP2011099567A (en) | Infrared heating device, infrared irradiating device, and infrared irradiating direction adjusting device | |
JP2020008284A (en) | Blister tester and test method | |
CN106322453B (en) | For the method for heating and controlling, heating control devices and micro-wave oven of micro-wave oven | |
JP6764926B2 (en) | Methods for heat treatment of surface coatings on metal parts with microwaves | |
Kang et al. | Numerical analysis by new proposed coil design method in induction heating process for semi-solid forming and its experimental verification with globalization evaluation | |
JP5740698B2 (en) | Dehydrogenation treatment method for plated parts | |
CN217479531U (en) | Annealing device for aluminum alloy manufacturing | |
Bara | Review paper on numerical analysis of induction furnace | |
JP7146490B2 (en) | Blister tester and method | |
JP2003322467A (en) | Drying method of refractory by microwave | |
JP6954556B2 (en) | Induction melting furnace | |
CN101624695A (en) | Heat treatment method of target blank | |
KR100432751B1 (en) | A heating temperature control method of microwave oven | |
JP2014162936A (en) | Heat treatment method and heating furnace | |
CN104033934A (en) | Magnetism leakage detecting and warning system and method of induction cooker | |
JP6164097B2 (en) | Heat treatment equipment | |
WANG et al. | Precipitation kinetics and yield strength model for NZ30K-Mg alloy | |
KR101996463B1 (en) | Apparatus for heating material | |
JP2006012606A (en) | Induction heating cooker |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20210624 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20220415 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20220419 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220614 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20220705 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20220803 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7118777 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |