JP2019212701A - Internal electrode lamination number detector of multilayer ceramic capacitor - Google Patents

Internal electrode lamination number detector of multilayer ceramic capacitor Download PDF

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Abstract

To detect lamination number of the internal electrodes of a multilayer ceramic capacitor in non-contact.SOLUTION: An internal electrode lamination number detector 100 of a multilayer ceramic capacitor comprises a magnetism generating section 31 generating magnetism, a flux density measurement part 32 for measuring flux density in non-contact with the multilayer ceramic capacitor, in such a state that the multilayer ceramic capacitor having lamination direction of the internal electrode aligned with a prescribed direction is located between the magnetism generating section 31 and itself, and a lamination number detector 36 for detecting the lamination number of internal electrodes of the multilayer ceramic capacitor, on the basis of the flux density measured by the flux density measurement part 32.SELECTED DRAWING: Figure 3

Description

本発明は、積層セラミックコンデンサの内部電極の積層数を検出する装置に関する。   The present invention relates to an apparatus for detecting the number of laminated internal electrodes of a multilayer ceramic capacitor.

内部電極が誘電体層を介して複数積層された構造を有する積層セラミックコンデンサが知られている。   A multilayer ceramic capacitor having a structure in which a plurality of internal electrodes are stacked via a dielectric layer is known.

そのような積層セラミックコンデンサなどの電子部品に、測定端子を接触させて、電子部品の電気的特性を測定する装置が特許文献1に記載されている。   Patent Document 1 discloses an apparatus for measuring the electrical characteristics of an electronic component by bringing a measurement terminal into contact with the electronic component such as a multilayer ceramic capacitor.

ここで、積層セラミックコンデンサの外部電極に測定端子を接触させて、積層セラミックコンデンサの静電容量を検出する方法が知られている。また、積層セラミックコンデンサの静電容量を検出することによって、内部電極の積層数を求めることもできる。   Here, a method of detecting the capacitance of a multilayer ceramic capacitor by bringing a measurement terminal into contact with an external electrode of the multilayer ceramic capacitor is known. Further, the number of laminated internal electrodes can be obtained by detecting the capacitance of the multilayer ceramic capacitor.

特開2014−153364号公報JP 2014-153364 A

しかしながら、外部電極に測定端子を接触させると、外部電極に傷がつく可能性や、積層セラミックコンデンサに想定外の衝撃荷重が加わる可能性がある。   However, if the measurement terminal is brought into contact with the external electrode, the external electrode may be damaged or an unexpected impact load may be applied to the multilayer ceramic capacitor.

本発明は、上記課題を解決するものであり、非接触で積層セラミックコンデンサの内部電極の積層数を検出することができる装置を提供することを目的とする。   The present invention solves the above-described problems, and an object thereof is to provide an apparatus capable of detecting the number of laminated internal electrodes of a multilayer ceramic capacitor in a non-contact manner.

本発明の積層セラミックコンデンサの内部電極積層数検出装置は、積層された複数の内部電極を有する積層セラミックコンデンサの前記内部電極の積層数を検出する装置であって、
磁気を発生する磁気発生部と、
前記磁気発生部との間に、前記内部電極の積層方向が所定の方向と一致している前記積層セラミックコンデンサが位置する状態で、前記積層セラミックコンデンサと非接触で磁束密度を測定する磁束密度測定部と、
前記磁束密度測定部によって測定される磁束密度に基づいて、前記積層セラミックコンデンサの内部電極の積層数を検出する積層数検出部と、
を備えることを特徴とする。
An internal electrode lamination number detection device for a multilayer ceramic capacitor of the present invention is an apparatus for detecting the number of laminations of the internal electrodes of a multilayer ceramic capacitor having a plurality of laminated internal electrodes,
A magnetic generator for generating magnetism;
Magnetic flux density measurement for measuring magnetic flux density in a non-contact manner with the multilayer ceramic capacitor in a state where the multilayer ceramic capacitor in which the lamination direction of the internal electrodes coincides with a predetermined direction is located between the magnetic generation unit And
Based on the magnetic flux density measured by the magnetic flux density measurement unit, the number of layers detection unit that detects the number of layers of the internal electrode of the multilayer ceramic capacitor,
It is characterized by providing.

前記積層セラミックコンデンサの内部電極の積層方向を前記所定の方向に一致させる方向調整部をさらに備えていてもよい。   A direction adjusting unit that aligns the stacking direction of the internal electrodes of the multilayer ceramic capacitor with the predetermined direction may be further provided.

前記積層セラミックコンデンサを、前記磁気発生部と前記磁束密度測定部との間を通過させる搬送部をさらに備え、
前記磁束密度測定部は、前記積層セラミックコンデンサが前記磁気発生部と前記磁束密度測定部との間を通過したときの最大磁束密度および累積磁束密度のうちの少なくとも一方を求めるように構成されており、
前記積層数検出部は、前記磁束密度測定部によって求められる最大磁束密度および累積磁束密度のうちの少なくとも一方に基づいて、前記内部電極の積層数を検出するように構成されていてもよい。
The multilayer ceramic capacitor further includes a transport unit that passes between the magnetic generation unit and the magnetic flux density measurement unit,
The magnetic flux density measurement unit is configured to obtain at least one of a maximum magnetic flux density and a cumulative magnetic flux density when the multilayer ceramic capacitor passes between the magnetism generation unit and the magnetic flux density measurement unit. ,
The stack number detection unit may be configured to detect the number of stacks of the internal electrodes based on at least one of a maximum magnetic flux density and a cumulative magnetic flux density obtained by the magnetic flux density measurement unit.

前記磁気発生部は、永久磁石および電磁石のうちのいずれか一方とすることができる。   The magnetism generator may be either a permanent magnet or an electromagnet.

前記積層数検出部は、外形寸法が略同一である複数の前記積層セラミックコンデンサの内部電極の積層数を検出するように構成されていてもよい。   The number-of-stacks detector may be configured to detect the number of layers of the internal electrodes of the plurality of multilayer ceramic capacitors having substantially the same outer dimensions.

本発明の積層セラミックコンデンサの内部電極積層数検出装置によれば、磁気発生部と磁束密度測定部との間に、内部電極の積層方向が所定の方向と一致している積層セラミックコンデンサが位置する状態で、積層セラミックコンデンサと非接触で磁束密度を測定し、測定された磁束密度に基づいて、内部電極の積層数を検出するので、積層セラミックコンデンサと非接触で内部電極の積層数を検出することができる。したがって、積層セラミックコンデンサの外部電極に傷がつくこと、および、積層セラミックコンデンサに想定外の衝撃荷重が加わることを防ぐことができる。   According to the multilayer ceramic capacitor internal electrode lamination number detection device of the present invention, the multilayer ceramic capacitor in which the lamination direction of the internal electrodes coincides with the predetermined direction is located between the magnetism generation unit and the magnetic flux density measurement unit. In the state, the magnetic flux density is measured without contact with the multilayer ceramic capacitor, and the number of laminated internal electrodes is detected based on the measured magnetic flux density, so the number of laminated internal electrodes is detected without contact with the multilayer ceramic capacitor. be able to. Therefore, the external electrode of the multilayer ceramic capacitor can be prevented from being damaged, and an unexpected impact load can be prevented from being applied to the multilayer ceramic capacitor.

積層セラミックコンデンサの斜視図である。It is a perspective view of a multilayer ceramic capacitor. 図1に示す積層セラミックコンデンサをII−II線で切断したときの断面図である。It is sectional drawing when the multilayer ceramic capacitor shown in FIG. 1 is cut | disconnected by the II-II line. 第1の実施形態における積層セラミックコンデンサの内部電極積層数検出装置の全体構成を模式的に示す側面図である。It is a side view which shows typically the whole structure of the internal electrode laminated number detection apparatus of the multilayer ceramic capacitor in 1st Embodiment. 積層セラミックコンデンサを含むコンデンサ連の構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structure of the capacitor | condenser series containing a multilayer ceramic capacitor. 1つの積層セラミックコンデンサが磁気発生部と磁束密度計測部との間を通過するときに、磁束密度計測部で計測される磁束密度の変化を示す図である。It is a figure which shows the change of the magnetic flux density measured by a magnetic flux density measurement part, when one multilayer ceramic capacitor passes between a magnetism generation part and a magnetic flux density measurement part. 積層セラミックコンデンサの内部電極の積層数が異なる場合に、磁束密度計測部によって計測される磁束密度の違いを模式的に示す図である。It is a figure which shows typically the difference in the magnetic flux density measured by a magnetic flux density measurement part, when the number of lamination | stacking of the internal electrode of a multilayer ceramic capacitor differs. 静電容量Aと静電容量Bの2種類の積層セラミックコンデンサを対象として、内部電極の積層数と、その積層数を有する積層セラミックコンデンサの個数との関係を示すヒストグラムである。6 is a histogram showing the relationship between the number of laminated internal electrodes and the number of laminated ceramic capacitors having the number of laminated layers for two types of laminated ceramic capacitors of capacitance A and capacitance B. 第2の実施形態における積層セラミックコンデンサの内部電極積層数検出装置の構成を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of the internal electrode laminated number detection apparatus of the laminated ceramic capacitor in 2nd Embodiment. 図8の点線で囲まれた部分IXの拡大図である。It is an enlarged view of the part IX enclosed with the dotted line of FIG.

以下に本発明の実施形態を示して、本発明の特徴とするところを具体的に説明する。   Embodiments of the present invention will be described below to specifically describe features of the present invention.

初めに、本発明の積層セラミックコンデンサの内部電極積層数検出装置の構成について説明する前に、積層セラミックコンデンサの構成について説明する。   First, the configuration of the multilayer ceramic capacitor will be described before describing the configuration of the multi-layer ceramic capacitor internal electrode lamination number detecting device of the present invention.

図1は、積層セラミックコンデンサ1の斜視図である。また、図2は、図1に示す積層セラミックコンデンサ1をII−II線で切断したときの断面図である。   FIG. 1 is a perspective view of a multilayer ceramic capacitor 1. 2 is a cross-sectional view of the multilayer ceramic capacitor 1 shown in FIG. 1 taken along the line II-II.

図1に示すように、積層セラミックコンデンサ1は、セラミック素体10と一対の外部電極11(11a,11b)とを備える。一対の外部電極11(11a,11b)は、図1および図2に示すように、対向するように配置されている。   As shown in FIG. 1, the multilayer ceramic capacitor 1 includes a ceramic body 10 and a pair of external electrodes 11 (11a, 11b). The pair of external electrodes 11 (11a, 11b) are arranged so as to face each other as shown in FIGS.

セラミック素体10は、第1の主面10aおよび第2の主面10bと、第1の側面10cおよび第2の側面10dと、第1の端面10eおよび第2の端面10fとを備える。   The ceramic body 10 includes a first main surface 10a and a second main surface 10b, a first side surface 10c and a second side surface 10d, and a first end surface 10e and a second end surface 10f.

ここでは、第1の端面10eと第2の端面10fとが対向する方向を長さ方向L、第1の側面10cと第2の側面10dとが対向する方向を幅方向W、第1の主面10aと第2の主面10bとが対向する方向を厚さ方向Tと定義する。   Here, the direction in which the first end surface 10e and the second end surface 10f face each other is the length direction L, the direction in which the first side surface 10c and the second side surface 10d face each other is the width direction W, and the first main surface A direction in which the surface 10a and the second main surface 10b face each other is defined as a thickness direction T.

積層セラミックコンデンサ1は、全体として略直方体の形状を有する。ただし、略直方体には、角部や稜線部が面取りされた直方体や、角部や稜線部が丸められた直方体が含まれる。   The multilayer ceramic capacitor 1 has a substantially rectangular parallelepiped shape as a whole. However, the substantially rectangular parallelepiped includes a rectangular parallelepiped whose corners and ridge lines are chamfered, and a rectangular parallelepiped whose corners and ridge lines are rounded.

セラミック素体10は、例えば、誘電体セラミックを主成分とする材料により構成することができる。誘電体セラミックの具体例としては、例えば、BaTiO3、CaTiO3、SrTiO3、CaZrO3などが挙げられる。セラミック素体10には、例えば、Mn化合物、Mg化合物、Si化合物、Co化合物、Ni化合物、希土類化合物などの副成分を適宜添加してもよい。 The ceramic body 10 can be made of, for example, a material whose main component is a dielectric ceramic. Specific examples of the dielectric ceramic include BaTiO 3 , CaTiO 3 , SrTiO 3 and CaZrO 3 . For example, subcomponents such as a Mn compound, a Mg compound, a Si compound, a Co compound, a Ni compound, and a rare earth compound may be appropriately added to the ceramic body 10.

図2に示すように、セラミック素体10の内部には、第1の内部電極12aおよび第2の内部電極12bが複数設けられている。第1の内部電極12aと第2の内部電極12bは、厚さ方向Tに沿って交互に設けられている。   As shown in FIG. 2, a plurality of first internal electrodes 12 a and a plurality of second internal electrodes 12 b are provided inside the ceramic body 10. The first internal electrodes 12a and the second internal electrodes 12b are alternately provided along the thickness direction T.

なお、以下の説明では、第1の内部電極12aと第2の内部電極12bとをまとめて、「内部電極12」と呼ぶ場合もある。   In the following description, the first internal electrode 12a and the second internal electrode 12b may be collectively referred to as “internal electrode 12”.

厚さ方向Tにおいて、第1の内部電極12aと第2の内部電極12bの間には、誘電体セラミック層13が配されている。すなわち、厚み方向Tにおいて隣り合う第1の内部電極12aと第2の内部電極12bは、誘電体セラミック層13を介して対向している。   In the thickness direction T, a dielectric ceramic layer 13 is disposed between the first internal electrode 12a and the second internal electrode 12b. That is, the first internal electrode 12 a and the second internal electrode 12 b that are adjacent in the thickness direction T are opposed to each other with the dielectric ceramic layer 13 interposed therebetween.

第1の内部電極12aは、第1の端面10eに引き出されている。また、第2の内部電極12bは、第2の端面10fに引き出されている。第1の内部電極12aおよび第2の内部電極12bは、例えば、Cu、Ni、Ag、Pd、AgとPdの合金、およびAuなどのうちの少なくとも1つを含有している。第1の内部電極12aおよび第2の内部電極12bは、さらに誘電体セラミック層13に含まれるセラミックと同一組成系の誘電体粒子を含んでいてもよい。   The first internal electrode 12a is drawn out to the first end face 10e. The second internal electrode 12b is drawn out to the second end face 10f. The first internal electrode 12a and the second internal electrode 12b contain, for example, at least one of Cu, Ni, Ag, Pd, an alloy of Ag and Pd, Au, and the like. The first internal electrode 12 a and the second internal electrode 12 b may further include dielectric particles having the same composition system as the ceramic included in the dielectric ceramic layer 13.

第1の外部電極11aは、セラミック素体10の第1の端面10eの全体に形成されているとともに、第1の端面10eから、第1の主面10a、第2の主面10b、第1の側面10c、および第2の側面10dに回り込むように形成されている。第1の外部電極11aは、第1の内部電極12aと電気的に接続されている。   The first external electrode 11a is formed on the entire first end surface 10e of the ceramic body 10, and from the first end surface 10e, the first main surface 10a, the second main surface 10b, and the first It is formed so as to wrap around the side surface 10c and the second side surface 10d. The first external electrode 11a is electrically connected to the first internal electrode 12a.

第2の外部電極11bは、セラミック素体10の第2の端面10fの全体に形成されているとともに、第2の端面10fから、第1の主面10a、第2の主面10b、第1の側面10c、および第2の側面10dに回り込むように形成されている。第2の外部電極11bは、第2の内部電極12bと電気的に接続されている。   The second external electrode 11b is formed on the entire second end surface 10f of the ceramic body 10, and from the second end surface 10f, the first main surface 10a, the second main surface 10b, and the first It is formed so as to wrap around the side surface 10c and the second side surface 10d. The second external electrode 11b is electrically connected to the second internal electrode 12b.

第1の外部電極11aおよび第2の外部電極11bは、例えば、Cu、Ni、Ag、Pd、AgとPdの合金、およびAuなどのうちの少なくとも1つを含有している。   The first external electrode 11a and the second external electrode 11b contain, for example, at least one of Cu, Ni, Ag, Pd, an alloy of Ag and Pd, Au, and the like.

<第1の実施形態>
図3は、第1の実施形態における積層セラミックコンデンサの内部電極積層数検出装置100の全体構成を模式的に示す側面図である。積層セラミックコンデンサの内部電極積層数検出装置100は、後述するコンデンサ連2に含まれる積層セラミックコンデンサの内部電極の積層数を検出する。
<First Embodiment>
FIG. 3 is a side view schematically showing the overall configuration of the multilayer ceramic capacitor internal electrode lamination number detection apparatus 100 according to the first embodiment. The multilayer ceramic capacitor internal electrode lamination number detection device 100 detects the number of laminations of internal electrodes of the multilayer ceramic capacitor included in the capacitor series 2 described later.

図4は、上述した積層セラミックコンデンサ1を含むコンデンサ連2の構成を示す断面図である。図4は、コンデンサ連2のうち、後述する磁気発生部31と磁束密度計測部32との間を通過する部分の断面図を示している。   FIG. 4 is a cross-sectional view showing the configuration of the capacitor series 2 including the multilayer ceramic capacitor 1 described above. FIG. 4 shows a cross-sectional view of a portion of the capacitor series 2 that passes between a magnetism generating unit 31 and a magnetic flux density measuring unit 32 described later.

コンデンサ連2は、複数の積層セラミックコンデンサ1と、複数の積層セラミックコンデンサ1を1つずつ収容する複数の収容部21aを有するテープ20とを備える。テープ20は、キャリアテープ21とカバーテープ22とから構成されている。   The capacitor series 2 includes a plurality of multilayer ceramic capacitors 1 and a tape 20 having a plurality of accommodating portions 21a that accommodate the plurality of multilayer ceramic capacitors 1 one by one. The tape 20 includes a carrier tape 21 and a cover tape 22.

キャリアテープ21には、所定の間隔で複数の収容部21aが設けられている。複数の収容部21aに、複数の積層セラミックコンデンサ1が1つずつ収容された状態で、キャリアテープ21にカバーテープ22が貼り付けられることによって、積層セラミックコンデンサ1が収容部21a内に封入されている。   The carrier tape 21 is provided with a plurality of accommodating portions 21a at predetermined intervals. In a state where the plurality of multilayer ceramic capacitors 1 are housed one by one in the plurality of housing portions 21a, the cover tape 22 is attached to the carrier tape 21, whereby the multilayer ceramic capacitor 1 is sealed in the housing portion 21a. Yes.

第1の実施形態における積層セラミックコンデンサの内部電極積層数検出装置100は、磁気発生部31と、磁束密度計測部32と、搬送部35と、積層数検出部36とを備える。   The multilayer ceramic capacitor internal electrode lamination number detection device 100 according to the first embodiment includes a magnetism generation unit 31, a magnetic flux density measurement unit 32, a transport unit 35, and a lamination number detection unit 36.

搬送部35は、第1のロール33と、第2のロール34とを備える。第1のロール33には、コンデンサ連2が巻き取られている。第1のロール33に巻き取られているコンデンサ連2は送り出されて、第2のロール34に巻き取られる。   The transport unit 35 includes a first roll 33 and a second roll 34. The capacitor series 2 is wound around the first roll 33. The capacitor train 2 wound around the first roll 33 is sent out and wound around the second roll 34.

搬送部35は、磁気発生部31と磁束密度計測部32との間を通過するように、コンデンサ連2を搬送する。これにより、積層セラミックコンデンサ1は、磁気発生部31と磁束密度計測部32との間を通過する。   The conveyance unit 35 conveys the capacitor series 2 so as to pass between the magnetism generation unit 31 and the magnetic flux density measurement unit 32. Thereby, the multilayer ceramic capacitor 1 passes between the magnetism generating unit 31 and the magnetic flux density measuring unit 32.

複数の積層セラミックコンデンサ1は、第1の内部電極12aおよび第2の内部電極12bの積層方向が所定の方向と一致している状態で、キャリアテープ21の収容部21aに収容されている。第1の内部電極12aおよび第2の内部電極12bの積層方向は、磁気発生部31と磁束密度計測部32との間をテープ20が通過する方向、または、テープ20が通過する方向と垂直な方向である。   The plurality of multilayer ceramic capacitors 1 are accommodated in the accommodating portion 21a of the carrier tape 21 in a state where the lamination direction of the first internal electrode 12a and the second internal electrode 12b coincides with a predetermined direction. The stacking direction of the first internal electrode 12a and the second internal electrode 12b is perpendicular to the direction in which the tape 20 passes between the magnetism generating unit 31 and the magnetic flux density measuring unit 32 or the direction in which the tape 20 passes. Direction.

本実施形態では、磁気発生部31と磁束密度計測部32は、鉛直方向に互いに対向するように配置されており、テープ20は、水平方向に搬送される。図4に示すように、全ての積層セラミックコンデンサ1の内部電極12の積層方向は、鉛直方向に一致している。ただし、全ての積層セラミックコンデンサ1の内部電極12の積層方向が水平方向に一致するようにしてもよい。   In this embodiment, the magnetism generating unit 31 and the magnetic flux density measuring unit 32 are arranged so as to face each other in the vertical direction, and the tape 20 is conveyed in the horizontal direction. As shown in FIG. 4, the stacking direction of the internal electrodes 12 of all the multilayer ceramic capacitors 1 coincides with the vertical direction. However, the lamination direction of the internal electrodes 12 of all the multilayer ceramic capacitors 1 may coincide with the horizontal direction.

磁気発生部31は、永久磁石または電磁石により構成されており、磁気を発生する。磁気発生部31によって発生する磁界の強さは略一定である。ただし、磁気発生部31が永久磁石または電磁石に限定されることはない。   The magnetism generator 31 is composed of a permanent magnet or an electromagnet, and generates magnetism. The strength of the magnetic field generated by the magnetism generator 31 is substantially constant. However, the magnetism generator 31 is not limited to a permanent magnet or an electromagnet.

磁束密度計測部32は、磁気プローブを備え、磁気発生部31で発生した磁束の密度を計測する。磁気プローブの先端には、例えば直径0.76mmのホール素子が設けられている。   The magnetic flux density measuring unit 32 includes a magnetic probe and measures the density of magnetic flux generated by the magnetism generating unit 31. For example, a Hall element having a diameter of 0.76 mm is provided at the tip of the magnetic probe.

本実施形態では、磁束密度計測部32は、磁気発生部31との間に、内部電極12の積層方向が所定の方向と一致している積層セラミックコンデンサ1が位置する状態で、積層セラミックコンデンサ1と非接触で磁束密度を測定する。磁束密度の測定は、所定時間毎、または、積層セラミックコンデンサ1が所定距離移動する毎に行う。   In the present embodiment, the magnetic flux density measurement unit 32 is positioned between the magnetic generation unit 31 and the multilayer ceramic capacitor 1 in which the multilayer ceramic capacitor 1 in which the lamination direction of the internal electrodes 12 coincides with a predetermined direction is located. Measure the magnetic flux density without contact. The magnetic flux density is measured every predetermined time or every time the multilayer ceramic capacitor 1 moves a predetermined distance.

また、磁束密度計測部32は、積層セラミックコンデンサ1が磁気発生部31と磁束密度計測部32との間を通過したときの最大磁束密度および累積磁束密度のうちのいずれか一方を求める。   Further, the magnetic flux density measuring unit 32 obtains one of the maximum magnetic flux density and the accumulated magnetic flux density when the multilayer ceramic capacitor 1 passes between the magnetism generating unit 31 and the magnetic flux density measuring unit 32.

図5は、1つの積層セラミックコンデンサ1が磁気発生部31と磁束密度計測部32との間を通過するときに、磁束密度計測部32で計測される磁束密度の変化を示す図である。例えば、コンデンサ連2に含まれる積層セラミックコンデンサ1が磁気発生部31と磁束密度計測部32との間を通過する間に、磁束密度計測部32によって所定時間毎に複数回、磁束密度を計測することによって、最大磁束密度と累積磁束密度を求めることができる。   FIG. 5 is a diagram illustrating a change in magnetic flux density measured by the magnetic flux density measuring unit 32 when one multilayer ceramic capacitor 1 passes between the magnetism generating unit 31 and the magnetic flux density measuring unit 32. For example, while the multilayer ceramic capacitor 1 included in the capacitor series 2 passes between the magnetism generating unit 31 and the magnetic flux density measuring unit 32, the magnetic flux density measuring unit 32 measures the magnetic flux density a plurality of times every predetermined time. Thus, the maximum magnetic flux density and the cumulative magnetic flux density can be obtained.

図6は、積層セラミックコンデンサ1の内部電極12の積層数が異なる場合に、磁束密度計測部32によって計測される磁束密度の違いを模式的に示す図である。図6では、積層セラミックコンデンサ1の内部電極12の積層方向が、磁気発生部31と磁束密度計測部32とが対向する方向(鉛直方向)である例を示している。   FIG. 6 is a diagram schematically showing the difference in magnetic flux density measured by the magnetic flux density measuring unit 32 when the number of laminated internal electrodes 12 of the multilayer ceramic capacitor 1 is different. FIG. 6 illustrates an example in which the stacking direction of the internal electrodes 12 of the multilayer ceramic capacitor 1 is a direction (vertical direction) in which the magnetism generating unit 31 and the magnetic flux density measuring unit 32 face each other.

図6の(a)、(b)、(c)にそれぞれ示す積層セラミックコンデンサ1のうち、図6(a)に示す積層セラミックコンデンサ1の内部電極12の積層数が最も少なく、図6(c)に示す積層セラミックコンデンサ1の内部電極12の積層数が最も多い。   Among the multilayer ceramic capacitors 1 shown in FIGS. 6A, 6B, and 6C, the number of laminated internal electrodes 12 of the multilayer ceramic capacitor 1 shown in FIG. The number of laminated internal electrodes 12 of the multilayer ceramic capacitor 1 shown in FIG.

図6に示すように、内部電極12の積層数が多くなるほど、磁束密度計測部32によって計測される磁束密度は高くなる。したがって、磁束密度計測部32によって計測される磁束密度に基づいて、積層セラミックコンデンサ1の内部電極12の積層数を求めることができる。   As shown in FIG. 6, the magnetic flux density measured by the magnetic flux density measuring unit 32 increases as the number of stacked internal electrodes 12 increases. Therefore, based on the magnetic flux density measured by the magnetic flux density measuring unit 32, the number of laminated internal electrodes 12 of the multilayer ceramic capacitor 1 can be obtained.

なお、内部電極12の積層方向が、磁気発生部31と磁束密度計測部32とが対向する方向と直交する方向(水平方向)である場合も同様である。   The same applies to the case where the stacking direction of the internal electrodes 12 is a direction (horizontal direction) orthogonal to the direction in which the magnetism generating unit 31 and the magnetic flux density measuring unit 32 face each other.

積層数検出部36は、磁束密度計測部32によって計測された磁束密度に基づいて、積層セラミックコンデンサ1の内部電極12の積層数を検出する。好ましくは、積層数検出部36は、磁束密度計測部32によって求められる最大磁束密度および累積磁束密度のうちの少なくとも一方に基づいて、積層セラミックコンデンサ1の内部電極12の積層数を検出する。最大磁束密度および累積磁束密度のうちの少なくとも一方に基づいて、内部電極12の積層数を検出することにより、精度よく積層数を求めることができる。   The lamination number detection unit 36 detects the number of laminations of the internal electrodes 12 of the multilayer ceramic capacitor 1 based on the magnetic flux density measured by the magnetic flux density measurement unit 32. Preferably, the lamination number detection unit 36 detects the number of laminations of the internal electrodes 12 of the multilayer ceramic capacitor 1 based on at least one of the maximum magnetic flux density and the cumulative magnetic flux density obtained by the magnetic flux density measurement unit 32. By detecting the number of stacked layers of the internal electrode 12 based on at least one of the maximum magnetic flux density and the cumulative magnetic flux density, the number of stacked layers can be obtained with high accuracy.

積層数検出部36によって内部電極12の積層数を検出することにより、静電容量の異なる積層セラミックコンデンサ1を区別することができる。例えば、コンデンサ連2に、外形寸法が略同一であるが静電容量の異なる、複数種類の積層セラミックコンデンサ1が含まれている場合でも、積層数検出部36によって内部電極12の積層数を検出することにより、静電容量の異なる積層セラミックコンデンサ1を区別することができる。   By detecting the number of layers of the internal electrode 12 by the number-of-stacks detection unit 36, the multilayer ceramic capacitors 1 having different capacitances can be distinguished. For example, even when the capacitor series 2 includes a plurality of types of multilayer ceramic capacitors 1 having substantially the same outer dimensions but different capacitances, the number of stacked internal electrodes 12 is detected by the number of stacked layers detection unit 36. By doing so, the multilayer ceramic capacitors 1 having different capacitances can be distinguished.

コンデンサ連2に静電容量の異なる積層セラミックコンデンサ1が含まれていることを検出することにより、コンデンサ連2から静電容量の異なる積層セラミックコンデンサ1を取り除くことが可能となる。   By detecting that the capacitor series 2 includes the multilayer ceramic capacitor 1 having different capacitances, the multilayer ceramic capacitor 1 having different capacitances can be removed from the capacitor series 2.

図7は、静電容量Aと静電容量B(B>A)の2種類の積層セラミックコンデンサ1を対象として、内部電極の積層数と、その積層数を有する積層セラミックコンデンサの個数との関係を示すヒストグラムである。静電容量Aの複数の積層セラミックコンデンサは、静電容量が完全に同一ではなく、略同一であるものとする。同様に、静電容量Bの複数の積層セラミックコンデンサは、静電容量が完全に同一ではなく、略同一であるものとする。   FIG. 7 shows the relationship between the number of laminated internal electrodes and the number of laminated ceramic capacitors having the number of laminated layers for two types of laminated ceramic capacitors 1 of capacitance A and capacitance B (B> A). It is a histogram which shows. The plurality of multilayer ceramic capacitors having the capacitance A are assumed to have substantially the same capacitance but not the same. Similarly, it is assumed that the plurality of multilayer ceramic capacitors having the electrostatic capacity B are not completely the same, but are substantially the same.

図7に示すように、静電容量Aの積層セラミックコンデンサ、および、静電容量Bの積層セラミックコンデンサは、ともに内部電極の積層数にばらつきはあるものの、内部電極の積層数と度数との関係は明確に異なる。したがって、積層数検出部36によって内部電極の積層数を検出することにより、静電容量Aの積層セラミックコンデンサと、静電容量Bの積層セラミックコンデンサとを明確に区別することができる。   As shown in FIG. 7, both the multilayer ceramic capacitor with capacitance A and the multilayer ceramic capacitor with capacitance B have a variation in the number of laminated internal electrodes, but the relationship between the number of laminated internal electrodes and the frequency. Are clearly different. Therefore, by detecting the number of stacked internal electrodes by the stack number detecting unit 36, it is possible to clearly distinguish the multilayer ceramic capacitor having the electrostatic capacity A from the multilayer ceramic capacitor having the electrostatic capacity B.

上述したように、本実施形態における積層セラミックコンデンサの内部電極積層数検出装置100によれば、積層セラミックコンデンサ1と非接触で、内部電極12の積層数を検出することができる。したがって、内部電極12の積層数を検出する際に、積層セラミックコンデンサ1の外部電極11に傷がつくこと、および、積層セラミックコンデンサ1に想定外の衝撃荷重が加わることを防ぐことができる。   As described above, according to the multilayer ceramic capacitor internal electrode lamination number detection device 100 in the present embodiment, the number of laminations of the internal electrodes 12 can be detected without contact with the multilayer ceramic capacitor 1. Therefore, when detecting the number of laminated internal electrodes 12, it is possible to prevent the external electrode 11 of the multilayer ceramic capacitor 1 from being damaged and an unexpected impact load from being applied to the multilayer ceramic capacitor 1.

また、磁気発生部31を永久磁石および電磁石のうちのいずれか一方により構成することにより、発生する磁界の強さを略一定とすることができ、内部電極12の積層数を精度よく検出することができる。   In addition, by configuring the magnetism generator 31 with either one of a permanent magnet or an electromagnet, the strength of the generated magnetic field can be made substantially constant, and the number of stacked internal electrodes 12 can be detected with high accuracy. Can do.

また、積層数検出部36は、外形寸法が略同一である複数の積層セラミックコンデンサ1の内部電極12の積層数を検出することができるので、外形寸法が略同一であるが静電容量の異なる積層セラミックコンデンサ1を区別することができる。   In addition, since the number-of-stacks detection unit 36 can detect the number of layers of the internal electrodes 12 of the plurality of multilayer ceramic capacitors 1 having substantially the same outer dimensions, the outer dimensions are substantially the same but the capacitances are different. The multilayer ceramic capacitor 1 can be distinguished.

<第2の実施形態>
図8は、第2の実施形態における積層セラミックコンデンサの内部電極積層数検出装置100Aの構成を示す平面図である。また、図9は、図8の点線で囲まれた部分IXの拡大図である。
<Second Embodiment>
FIG. 8 is a plan view showing the configuration of the laminated ceramic capacitor internal electrode lamination number detection device 100A according to the second embodiment. FIG. 9 is an enlarged view of a portion IX surrounded by a dotted line in FIG.

第2の実施形態における積層セラミックコンデンサの内部電極積層数検出装置100Aは、ボールフィーダー80と、リニアフィーダー81と、搬送部82と、方向調整部83と、磁気発生部31Aと、磁束密度計測部32Aと、積層数検出部36Aとを備える。   The multilayer ceramic capacitor internal electrode lamination number detection device 100A according to the second embodiment includes a ball feeder 80, a linear feeder 81, a conveyance unit 82, a direction adjustment unit 83, a magnetic generation unit 31A, and a magnetic flux density measurement unit. 32A and a stacking number detection unit 36A.

ボールフィーダー80には、複数の積層セラミックコンデンサ1が収容されている。ボールフィーダー80は、振動することにより、リニアフィーダー81に積層セラミックコンデンサ1を順次供給する。   The ball feeder 80 accommodates a plurality of multilayer ceramic capacitors 1. The ball feeder 80 sequentially supplies the multilayer ceramic capacitor 1 to the linear feeder 81 by vibrating.

リニアフィーダー81は、積層セラミックコンデンサ1を搬送して、搬送部82に供給する。   The linear feeder 81 transports the multilayer ceramic capacitor 1 and supplies it to the transport unit 82.

方向調整部83は、例えば永久磁石または電磁石であり、リニアフィーダー81によって搬送される積層セラミックコンデンサ1の内部電極12の積層方向が所定の方向と一致するように調整する。所定の方向は、水平方向または鉛直方向である。例えば、内部電極12の積層方向が水平方向となっていて、内部電極12の積層方向を鉛直方向と一致させる場合には、方向調整部83から発生する磁気によって積層セラミックコンデンサ1が90°回転し、内部電極12の積層方向を鉛直方向と一致させる。   The direction adjusting unit 83 is, for example, a permanent magnet or an electromagnet, and adjusts so that the stacking direction of the internal electrodes 12 of the multilayer ceramic capacitor 1 conveyed by the linear feeder 81 coincides with a predetermined direction. The predetermined direction is a horizontal direction or a vertical direction. For example, when the stacking direction of the internal electrodes 12 is a horizontal direction and the stacking direction of the internal electrodes 12 is made to coincide with the vertical direction, the multilayer ceramic capacitor 1 is rotated by 90 ° by the magnetism generated from the direction adjusting unit 83. The stacking direction of the internal electrodes 12 is made to coincide with the vertical direction.

方向調整部83が積層セラミックコンデンサ1の内部電極12の積層方向を所定の方向と一致させることにより、後述するように、内部電極12の積層方向が所定の方向と一致した状態の積層セラミックコンデンサ1を、磁気発生部31Aと磁束密度計測部32Aとの間を通過させることができる。   The direction adjusting unit 83 matches the stacking direction of the internal electrodes 12 of the multilayer ceramic capacitor 1 with a predetermined direction, so that the multilayer ceramic capacitor 1 in a state where the stacking direction of the internal electrodes 12 matches the predetermined direction, as will be described later. Can be passed between the magnetism generating unit 31A and the magnetic flux density measuring unit 32A.

搬送部82は、中心軸84Cを中心として回転する円板状の搬送テーブル84を有する。本実施形態では、搬送テーブル84は、中心軸84Cを中心として、時計回りに回転する。搬送テーブル84は、磁気の影響を受けにくい素材により構成されている。   The conveyance unit 82 includes a disk-shaped conveyance table 84 that rotates about a central axis 84C. In the present embodiment, the transport table 84 rotates clockwise around the central axis 84C. The transfer table 84 is made of a material that is not easily affected by magnetism.

搬送テーブル84は、複数の凹部84aを備えている。複数の凹部84aは、搬送テーブル84の外周に沿って、所定の間隔で設けられている。   The transfer table 84 includes a plurality of recesses 84a. The plurality of recesses 84 a are provided at predetermined intervals along the outer periphery of the transport table 84.

搬送テーブル84の凹部84aには、ポジションP1において、リニアフィーダー81から積層セラミックコンデンサ1が振り込まれる。凹部84aに振り込まれた積層セラミックコンデンサ1は、搬送テーブル84が回転することによって、中心軸84Cを中心として周方向に沿って移動し、ポジションP3まで搬送される。   The multilayer ceramic capacitor 1 is transferred from the linear feeder 81 to the recess 84a of the transfer table 84 at the position P1. The multilayer ceramic capacitor 1 transferred to the recess 84a moves along the circumferential direction around the central axis 84C and is conveyed to the position P3 as the conveyance table 84 rotates.

積層セラミックコンデンサ1は、ポジションP3において、搬送テーブル84から、キャリアテープ85の収容部85aに収容される。キャリアテープ85の収容部85aに積層セラミックコンデンサ1が収容された後、積層セラミックコンデンサ1を封止するように、図示しないカバーテープがキャリアテープ85に貼り付けられることによって、第1の実施形態で説明したコンデンサ連2と同じ構造を有するコンデンサ連が作製される。   The multilayer ceramic capacitor 1 is accommodated in the accommodating portion 85a of the carrier tape 85 from the conveyance table 84 at the position P3. After the multilayer ceramic capacitor 1 is accommodated in the accommodating portion 85 a of the carrier tape 85, a cover tape (not shown) is attached to the carrier tape 85 so as to seal the multilayer ceramic capacitor 1. A capacitor series having the same structure as the described capacitor series 2 is produced.

図9に示すように、ポジションP2には、磁気発生部31Aと磁束密度計測部32Aが設けられている。具体的には、搬送テーブル84を挟むように、磁気発生部31Aと磁束密度計測部32Aが設けられている。本実施形態では、搬送テーブル84の下方に磁気発生部31Aが設けられており、搬送テーブル84の上方に磁束密度計測部32Aが設けられている。ただし、搬送テーブル84の上方に磁気発生部31Aが設けられ、下方に磁束密度計測部32Aが設けられる構成としてもよい。   As shown in FIG. 9, at position P2, a magnetism generating unit 31A and a magnetic flux density measuring unit 32A are provided. Specifically, a magnetism generation unit 31A and a magnetic flux density measurement unit 32A are provided so as to sandwich the conveyance table 84. In the present embodiment, the magnetism generator 31 </ b> A is provided below the transport table 84, and the magnetic flux density measurement unit 32 </ b> A is provided above the transport table 84. However, a configuration may be adopted in which the magnetism generating unit 31A is provided above the transport table 84 and the magnetic flux density measuring unit 32A is provided below.

磁気発生部31Aと磁束密度計測部32Aの配置位置をより詳しく説明すると、鉛直方向において、搬送テーブル84の凹部84aに収容された積層セラミックコンデンサ1の移動経路を挟むように、磁気発生部31Aと磁束密度計測部32Aが設けられている。   The arrangement positions of the magnetism generating unit 31A and the magnetic flux density measuring unit 32A will be described in more detail. The magnetism generating unit 31A A magnetic flux density measurement unit 32A is provided.

なお、磁気発生部31Aと磁束密度計測部32Aの配置位置が図9に示す位置に限定されることはない。例えば、リニアフィーダー81を挟むように、磁気発生部31Aと磁束密度計測部32Aが設けられていてもよい。   Note that the arrangement positions of the magnetic generator 31A and the magnetic flux density measurement unit 32A are not limited to the positions shown in FIG. For example, the magnetism generating unit 31A and the magnetic flux density measuring unit 32A may be provided so as to sandwich the linear feeder 81.

第1の実施形態と同様に、磁束密度計測部32Aは、磁気発生部31Aとの間に積層セラミックコンデンサ1が位置する状態で、積層セラミックコンデンサ1と非接触で磁束密度を測定する。搬送テーブル84の凹部84aに収容されている積層セラミックコンデンサ1の内部電極12の積層方向は所定の方向に一致している。   Similar to the first embodiment, the magnetic flux density measurement unit 32A measures the magnetic flux density in a non-contact manner with the multilayer ceramic capacitor 1 in a state where the multilayer ceramic capacitor 1 is positioned between the magnetic generation unit 31A. The stacking direction of the internal electrodes 12 of the multilayer ceramic capacitor 1 accommodated in the recess 84a of the transfer table 84 coincides with a predetermined direction.

積層数検出部36Aは、磁束密度計測部32Aによって計測された磁束密度に基づいて、積層セラミックコンデンサ1の内部電極12の積層数を検出する。   The number-of-stacks detection unit 36A detects the number of layers of the internal electrodes 12 of the multilayer ceramic capacitor 1 based on the magnetic flux density measured by the magnetic flux density measurement unit 32A.

なお、第1の実施形態で説明したように、検出した内部電極12の積層数に基づいて、容量の異なる積層セラミックコンデンサ1を区別することができる。例えば、ボールフィーダー80に、外形寸法が略同一であるが、静電容量の異なる複数の積層セラミックコンデンサ1が収容されている場合でも、積層数検出部36Aによって内部電極の積層数を検出することにより、静電容量の異なる積層セラミックコンデンサ1を区別することができる。   As described in the first embodiment, the multilayer ceramic capacitors 1 having different capacities can be distinguished based on the detected number of stacked internal electrodes 12. For example, even when a plurality of multilayer ceramic capacitors 1 having the same outer dimensions but different electrostatic capacities are accommodated in the ball feeder 80, the number of stacked internal electrodes is detected by the stack number detecting unit 36A. Thus, it is possible to distinguish the multilayer ceramic capacitors 1 having different capacitances.

本実施形態における積層セラミックコンデンサの内部電極積層数検出装置100Aはさらに、排出部86を備える。積層数検出部36Aによって検出された内部電極12の積層数に基づいて、静電容量の異なる積層セラミックコンデンサ1が混入していることを検出すると、排出部86は、気体を吹き出すことによって、凹部84aから積層セラミックコンデンサ1を排出させる。気体は、例えば空気である。凹部84aから排出された積層セラミックコンデンサ1は、排出部86の径方向外側に位置する退避エリア90に収容され、その後取り除かれる。   The multilayer ceramic capacitor internal electrode lamination number detection device 100A according to the present embodiment further includes a discharge unit 86. When it is detected that the multilayer ceramic capacitor 1 having a different capacitance is mixed based on the number of layers of the internal electrodes 12 detected by the number-of-stacks detection unit 36A, the discharge unit 86 blows out the gas to The multilayer ceramic capacitor 1 is discharged from 84a. The gas is, for example, air. The monolithic ceramic capacitor 1 discharged from the recess 84a is accommodated in the retreat area 90 located on the radially outer side of the discharge portion 86, and then removed.

本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の範囲内において、種々の応用、変形を加えることが可能である。   The present invention is not limited to the above embodiment, and various applications and modifications can be made within the scope of the present invention.

例えば、積層セラミックコンデンサ1を、磁気発生部と磁束密度計測部との間を移動させる方法が上述した実施形態で説明した方法に限定されることはない。例えば、磁気発生部と磁束密度計測部との間に設けられた直線経路上を積層セラミックコンデンサ1が通過するようにしてもよい。   For example, the method of moving the multilayer ceramic capacitor 1 between the magnetism generating unit and the magnetic flux density measuring unit is not limited to the method described in the above-described embodiment. For example, the multilayer ceramic capacitor 1 may pass through a straight path provided between the magnetism generation unit and the magnetic flux density measurement unit.

第1の実施形態では、キャリアテープ21の収容部21aに収容されている積層セラミックコンデンサ1の内部電極12の積層方向が所定の方向に一致しているものとして説明した。しかし、収容部21aに積層セラミックコンデンサ1が収容されたときに、内部電極12の積層方向が所定の方向以外の方向に向いていることを許容しつつ、収容部21aに収容された積層セラミックコンデンサ1の内部電極12の積層方向を所定の方向に一致させる方向調整部をさらに備える構成としてもよい。   In the first embodiment, it has been described that the stacking direction of the internal electrodes 12 of the multilayer ceramic capacitor 1 housed in the housing portion 21a of the carrier tape 21 matches the predetermined direction. However, when the multilayer ceramic capacitor 1 is accommodated in the accommodating portion 21a, the multilayer ceramic capacitor accommodated in the accommodating portion 21a is allowed while allowing the lamination direction of the internal electrodes 12 to be oriented in a direction other than a predetermined direction. It is good also as a structure further provided with the direction adjustment part which makes the lamination | stacking direction of the one internal electrode 12 correspond to a predetermined direction.

1 積層セラミックコンデンサ
2 コンデンサ連
10 セラミック素体
11(11a,11b) 外部電極
12a 第1の内部電極
12b 第2の内部電極
13 誘電体セラミック層
20 テープ
21 キャリアテープ
21a 収容部
22 カバーテープ
31、31A 磁気発生部
32、32A 磁束密度計測部
33 第1のロール
34 第2のロール
35 搬送部
36、36A 積層数検出部
80 ボールフィーダー
81 リニアフィーダー
82 搬送部
83 方向調整部
84 搬送テーブル
84a 凹部
85 キャリアテープ
86 排出部
90 退避エリア
100 第1の実施形態における積層セラミックコンデンサの内部電極積層数検出装置
100A 第2の実施形態における積層セラミックコンデンサの内部電極積層数検出装置
1 multilayer ceramic capacitor 2 capacitor series 10 ceramic body 11 (11a, 11b) external electrode 12a first internal electrode 12b second internal electrode 13 dielectric ceramic layer 20 tape 21 carrier tape 21a accommodating portion 22 cover tapes 31 and 31A Magnetic generation unit 32, 32A Magnetic flux density measurement unit 33 First roll 34 Second roll 35 Transport unit 36, 36A Stack number detection unit 80 Ball feeder 81 Linear feeder 82 Transport unit 83 Direction adjustment unit 84 Transport table 84a Recess 85 Carrier Tape 86 Discharge unit 90 Retraction area 100 Multilayer ceramic capacitor internal electrode lamination number detection device 100A in the first embodiment Multilayer ceramic capacitor internal electrode lamination number detection device in the second embodiment

Claims (5)

積層された複数の内部電極を有する積層セラミックコンデンサの前記内部電極の積層数を検出する装置であって、
磁気を発生する磁気発生部と、
前記磁気発生部との間に、前記内部電極の積層方向が所定の方向と一致している前記積層セラミックコンデンサが位置する状態で、前記積層セラミックコンデンサと非接触で磁束密度を測定する磁束密度測定部と、
前記磁束密度測定部によって測定される磁束密度に基づいて、前記積層セラミックコンデンサの内部電極の積層数を検出する積層数検出部と、
を備えることを特徴とする積層セラミックコンデンサの内部電極積層数検出装置。
A device for detecting the number of laminated internal electrodes of a multilayer ceramic capacitor having a plurality of laminated internal electrodes,
A magnetic generator for generating magnetism;
Magnetic flux density measurement for measuring magnetic flux density in a non-contact manner with the multilayer ceramic capacitor in a state where the multilayer ceramic capacitor in which the stacking direction of the internal electrodes coincides with a predetermined direction is located between the magnetic generation unit And
Based on the magnetic flux density measured by the magnetic flux density measurement unit, the number of layers detection unit that detects the number of layers of the internal electrode of the multilayer ceramic capacitor,
A device for detecting the number of laminated internal electrodes of a multilayer ceramic capacitor.
前記積層セラミックコンデンサの内部電極の積層方向を前記所定の方向に一致させる方向調整部をさらに備えることを特徴とする請求項1に記載の積層セラミックコンデンサの内部電極積層数検出装置。   The apparatus for detecting the number of laminated internal electrodes of a multilayer ceramic capacitor according to claim 1, further comprising a direction adjusting unit that aligns the lamination direction of the internal electrodes of the multilayer ceramic capacitor with the predetermined direction. 前記積層セラミックコンデンサを、前記磁気発生部と前記磁束密度測定部との間を通過させる搬送部をさらに備え、
前記磁束密度測定部は、前記積層セラミックコンデンサが前記磁気発生部と前記磁束密度測定部との間を通過したときの最大磁束密度および累積磁束密度のうちの少なくとも一方を求めるように構成されており、
前記積層数検出部は、前記磁束密度測定部によって求められる最大磁束密度および累積磁束密度のうちの少なくとも一方に基づいて、前記内部電極の積層数を検出するように構成されていることを特徴とする請求項1または2に記載の積層セラミックコンデンサの内部電極積層数検出装置。
The multilayer ceramic capacitor further includes a transport unit that passes between the magnetic generation unit and the magnetic flux density measurement unit,
The magnetic flux density measurement unit is configured to obtain at least one of a maximum magnetic flux density and a cumulative magnetic flux density when the multilayer ceramic capacitor passes between the magnetism generation unit and the magnetic flux density measurement unit. ,
The stack number detection unit is configured to detect the number of stacks of the internal electrodes based on at least one of a maximum magnetic flux density and a cumulative magnetic flux density obtained by the magnetic flux density measurement unit. The apparatus for detecting the number of laminated internal electrodes of a multilayer ceramic capacitor according to claim 1 or 2.
前記磁気発生部は、永久磁石および電磁石のうちのいずれか一方であることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の積層セラミックコンデンサの内部電極積層数検出装置。   The apparatus for detecting the number of laminated internal electrodes of a multilayer ceramic capacitor according to any one of claims 1 to 3, wherein the magnetism generator is one of a permanent magnet and an electromagnet. 前記積層数検出部は、外形寸法が略同一である複数の前記積層セラミックコンデンサの内部電極の積層数を検出するように構成されていることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の積層セラミックコンデンサの内部電極積層数検出装置。   5. The stack number detection unit is configured to detect the number of stacks of internal electrodes of a plurality of the multilayer ceramic capacitors having substantially the same external dimensions. For detecting the number of laminated internal electrodes of multilayer ceramic capacitors.
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