JP2019212701A - Internal electrode lamination number detector of multilayer ceramic capacitor - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、積層セラミックコンデンサの内部電極の積層数を検出する装置に関する。 The present invention relates to an apparatus for detecting the number of laminated internal electrodes of a multilayer ceramic capacitor.
内部電極が誘電体層を介して複数積層された構造を有する積層セラミックコンデンサが知られている。 A multilayer ceramic capacitor having a structure in which a plurality of internal electrodes are stacked via a dielectric layer is known.
そのような積層セラミックコンデンサなどの電子部品に、測定端子を接触させて、電子部品の電気的特性を測定する装置が特許文献1に記載されている。
ここで、積層セラミックコンデンサの外部電極に測定端子を接触させて、積層セラミックコンデンサの静電容量を検出する方法が知られている。また、積層セラミックコンデンサの静電容量を検出することによって、内部電極の積層数を求めることもできる。 Here, a method of detecting the capacitance of a multilayer ceramic capacitor by bringing a measurement terminal into contact with an external electrode of the multilayer ceramic capacitor is known. Further, the number of laminated internal electrodes can be obtained by detecting the capacitance of the multilayer ceramic capacitor.
しかしながら、外部電極に測定端子を接触させると、外部電極に傷がつく可能性や、積層セラミックコンデンサに想定外の衝撃荷重が加わる可能性がある。 However, if the measurement terminal is brought into contact with the external electrode, the external electrode may be damaged or an unexpected impact load may be applied to the multilayer ceramic capacitor.
本発明は、上記課題を解決するものであり、非接触で積層セラミックコンデンサの内部電極の積層数を検出することができる装置を提供することを目的とする。 The present invention solves the above-described problems, and an object thereof is to provide an apparatus capable of detecting the number of laminated internal electrodes of a multilayer ceramic capacitor in a non-contact manner.
本発明の積層セラミックコンデンサの内部電極積層数検出装置は、積層された複数の内部電極を有する積層セラミックコンデンサの前記内部電極の積層数を検出する装置であって、
磁気を発生する磁気発生部と、
前記磁気発生部との間に、前記内部電極の積層方向が所定の方向と一致している前記積層セラミックコンデンサが位置する状態で、前記積層セラミックコンデンサと非接触で磁束密度を測定する磁束密度測定部と、
前記磁束密度測定部によって測定される磁束密度に基づいて、前記積層セラミックコンデンサの内部電極の積層数を検出する積層数検出部と、
を備えることを特徴とする。
An internal electrode lamination number detection device for a multilayer ceramic capacitor of the present invention is an apparatus for detecting the number of laminations of the internal electrodes of a multilayer ceramic capacitor having a plurality of laminated internal electrodes,
A magnetic generator for generating magnetism;
Magnetic flux density measurement for measuring magnetic flux density in a non-contact manner with the multilayer ceramic capacitor in a state where the multilayer ceramic capacitor in which the lamination direction of the internal electrodes coincides with a predetermined direction is located between the magnetic generation unit And
Based on the magnetic flux density measured by the magnetic flux density measurement unit, the number of layers detection unit that detects the number of layers of the internal electrode of the multilayer ceramic capacitor,
It is characterized by providing.
前記積層セラミックコンデンサの内部電極の積層方向を前記所定の方向に一致させる方向調整部をさらに備えていてもよい。 A direction adjusting unit that aligns the stacking direction of the internal electrodes of the multilayer ceramic capacitor with the predetermined direction may be further provided.
前記積層セラミックコンデンサを、前記磁気発生部と前記磁束密度測定部との間を通過させる搬送部をさらに備え、
前記磁束密度測定部は、前記積層セラミックコンデンサが前記磁気発生部と前記磁束密度測定部との間を通過したときの最大磁束密度および累積磁束密度のうちの少なくとも一方を求めるように構成されており、
前記積層数検出部は、前記磁束密度測定部によって求められる最大磁束密度および累積磁束密度のうちの少なくとも一方に基づいて、前記内部電極の積層数を検出するように構成されていてもよい。
The multilayer ceramic capacitor further includes a transport unit that passes between the magnetic generation unit and the magnetic flux density measurement unit,
The magnetic flux density measurement unit is configured to obtain at least one of a maximum magnetic flux density and a cumulative magnetic flux density when the multilayer ceramic capacitor passes between the magnetism generation unit and the magnetic flux density measurement unit. ,
The stack number detection unit may be configured to detect the number of stacks of the internal electrodes based on at least one of a maximum magnetic flux density and a cumulative magnetic flux density obtained by the magnetic flux density measurement unit.
前記磁気発生部は、永久磁石および電磁石のうちのいずれか一方とすることができる。 The magnetism generator may be either a permanent magnet or an electromagnet.
前記積層数検出部は、外形寸法が略同一である複数の前記積層セラミックコンデンサの内部電極の積層数を検出するように構成されていてもよい。 The number-of-stacks detector may be configured to detect the number of layers of the internal electrodes of the plurality of multilayer ceramic capacitors having substantially the same outer dimensions.
本発明の積層セラミックコンデンサの内部電極積層数検出装置によれば、磁気発生部と磁束密度測定部との間に、内部電極の積層方向が所定の方向と一致している積層セラミックコンデンサが位置する状態で、積層セラミックコンデンサと非接触で磁束密度を測定し、測定された磁束密度に基づいて、内部電極の積層数を検出するので、積層セラミックコンデンサと非接触で内部電極の積層数を検出することができる。したがって、積層セラミックコンデンサの外部電極に傷がつくこと、および、積層セラミックコンデンサに想定外の衝撃荷重が加わることを防ぐことができる。 According to the multilayer ceramic capacitor internal electrode lamination number detection device of the present invention, the multilayer ceramic capacitor in which the lamination direction of the internal electrodes coincides with the predetermined direction is located between the magnetism generation unit and the magnetic flux density measurement unit. In the state, the magnetic flux density is measured without contact with the multilayer ceramic capacitor, and the number of laminated internal electrodes is detected based on the measured magnetic flux density, so the number of laminated internal electrodes is detected without contact with the multilayer ceramic capacitor. be able to. Therefore, the external electrode of the multilayer ceramic capacitor can be prevented from being damaged, and an unexpected impact load can be prevented from being applied to the multilayer ceramic capacitor.
以下に本発明の実施形態を示して、本発明の特徴とするところを具体的に説明する。 Embodiments of the present invention will be described below to specifically describe features of the present invention.
初めに、本発明の積層セラミックコンデンサの内部電極積層数検出装置の構成について説明する前に、積層セラミックコンデンサの構成について説明する。 First, the configuration of the multilayer ceramic capacitor will be described before describing the configuration of the multi-layer ceramic capacitor internal electrode lamination number detecting device of the present invention.
図1は、積層セラミックコンデンサ1の斜視図である。また、図2は、図1に示す積層セラミックコンデンサ1をII−II線で切断したときの断面図である。
FIG. 1 is a perspective view of a multilayer
図1に示すように、積層セラミックコンデンサ1は、セラミック素体10と一対の外部電極11(11a,11b)とを備える。一対の外部電極11(11a,11b)は、図1および図2に示すように、対向するように配置されている。
As shown in FIG. 1, the multilayer
セラミック素体10は、第1の主面10aおよび第2の主面10bと、第1の側面10cおよび第2の側面10dと、第1の端面10eおよび第2の端面10fとを備える。
The
ここでは、第1の端面10eと第2の端面10fとが対向する方向を長さ方向L、第1の側面10cと第2の側面10dとが対向する方向を幅方向W、第1の主面10aと第2の主面10bとが対向する方向を厚さ方向Tと定義する。
Here, the direction in which the
積層セラミックコンデンサ1は、全体として略直方体の形状を有する。ただし、略直方体には、角部や稜線部が面取りされた直方体や、角部や稜線部が丸められた直方体が含まれる。
The multilayer
セラミック素体10は、例えば、誘電体セラミックを主成分とする材料により構成することができる。誘電体セラミックの具体例としては、例えば、BaTiO3、CaTiO3、SrTiO3、CaZrO3などが挙げられる。セラミック素体10には、例えば、Mn化合物、Mg化合物、Si化合物、Co化合物、Ni化合物、希土類化合物などの副成分を適宜添加してもよい。
The
図2に示すように、セラミック素体10の内部には、第1の内部電極12aおよび第2の内部電極12bが複数設けられている。第1の内部電極12aと第2の内部電極12bは、厚さ方向Tに沿って交互に設けられている。
As shown in FIG. 2, a plurality of first
なお、以下の説明では、第1の内部電極12aと第2の内部電極12bとをまとめて、「内部電極12」と呼ぶ場合もある。
In the following description, the first
厚さ方向Tにおいて、第1の内部電極12aと第2の内部電極12bの間には、誘電体セラミック層13が配されている。すなわち、厚み方向Tにおいて隣り合う第1の内部電極12aと第2の内部電極12bは、誘電体セラミック層13を介して対向している。
In the thickness direction T, a dielectric
第1の内部電極12aは、第1の端面10eに引き出されている。また、第2の内部電極12bは、第2の端面10fに引き出されている。第1の内部電極12aおよび第2の内部電極12bは、例えば、Cu、Ni、Ag、Pd、AgとPdの合金、およびAuなどのうちの少なくとも1つを含有している。第1の内部電極12aおよび第2の内部電極12bは、さらに誘電体セラミック層13に含まれるセラミックと同一組成系の誘電体粒子を含んでいてもよい。
The first
第1の外部電極11aは、セラミック素体10の第1の端面10eの全体に形成されているとともに、第1の端面10eから、第1の主面10a、第2の主面10b、第1の側面10c、および第2の側面10dに回り込むように形成されている。第1の外部電極11aは、第1の内部電極12aと電気的に接続されている。
The first
第2の外部電極11bは、セラミック素体10の第2の端面10fの全体に形成されているとともに、第2の端面10fから、第1の主面10a、第2の主面10b、第1の側面10c、および第2の側面10dに回り込むように形成されている。第2の外部電極11bは、第2の内部電極12bと電気的に接続されている。
The second
第1の外部電極11aおよび第2の外部電極11bは、例えば、Cu、Ni、Ag、Pd、AgとPdの合金、およびAuなどのうちの少なくとも1つを含有している。
The first
<第1の実施形態>
図3は、第1の実施形態における積層セラミックコンデンサの内部電極積層数検出装置100の全体構成を模式的に示す側面図である。積層セラミックコンデンサの内部電極積層数検出装置100は、後述するコンデンサ連2に含まれる積層セラミックコンデンサの内部電極の積層数を検出する。
<First Embodiment>
FIG. 3 is a side view schematically showing the overall configuration of the multilayer ceramic capacitor internal electrode lamination
図4は、上述した積層セラミックコンデンサ1を含むコンデンサ連2の構成を示す断面図である。図4は、コンデンサ連2のうち、後述する磁気発生部31と磁束密度計測部32との間を通過する部分の断面図を示している。
FIG. 4 is a cross-sectional view showing the configuration of the
コンデンサ連2は、複数の積層セラミックコンデンサ1と、複数の積層セラミックコンデンサ1を1つずつ収容する複数の収容部21aを有するテープ20とを備える。テープ20は、キャリアテープ21とカバーテープ22とから構成されている。
The
キャリアテープ21には、所定の間隔で複数の収容部21aが設けられている。複数の収容部21aに、複数の積層セラミックコンデンサ1が1つずつ収容された状態で、キャリアテープ21にカバーテープ22が貼り付けられることによって、積層セラミックコンデンサ1が収容部21a内に封入されている。
The
第1の実施形態における積層セラミックコンデンサの内部電極積層数検出装置100は、磁気発生部31と、磁束密度計測部32と、搬送部35と、積層数検出部36とを備える。
The multilayer ceramic capacitor internal electrode lamination
搬送部35は、第1のロール33と、第2のロール34とを備える。第1のロール33には、コンデンサ連2が巻き取られている。第1のロール33に巻き取られているコンデンサ連2は送り出されて、第2のロール34に巻き取られる。
The
搬送部35は、磁気発生部31と磁束密度計測部32との間を通過するように、コンデンサ連2を搬送する。これにより、積層セラミックコンデンサ1は、磁気発生部31と磁束密度計測部32との間を通過する。
The
複数の積層セラミックコンデンサ1は、第1の内部電極12aおよび第2の内部電極12bの積層方向が所定の方向と一致している状態で、キャリアテープ21の収容部21aに収容されている。第1の内部電極12aおよび第2の内部電極12bの積層方向は、磁気発生部31と磁束密度計測部32との間をテープ20が通過する方向、または、テープ20が通過する方向と垂直な方向である。
The plurality of multilayer
本実施形態では、磁気発生部31と磁束密度計測部32は、鉛直方向に互いに対向するように配置されており、テープ20は、水平方向に搬送される。図4に示すように、全ての積層セラミックコンデンサ1の内部電極12の積層方向は、鉛直方向に一致している。ただし、全ての積層セラミックコンデンサ1の内部電極12の積層方向が水平方向に一致するようにしてもよい。
In this embodiment, the
磁気発生部31は、永久磁石または電磁石により構成されており、磁気を発生する。磁気発生部31によって発生する磁界の強さは略一定である。ただし、磁気発生部31が永久磁石または電磁石に限定されることはない。
The
磁束密度計測部32は、磁気プローブを備え、磁気発生部31で発生した磁束の密度を計測する。磁気プローブの先端には、例えば直径0.76mmのホール素子が設けられている。
The magnetic flux
本実施形態では、磁束密度計測部32は、磁気発生部31との間に、内部電極12の積層方向が所定の方向と一致している積層セラミックコンデンサ1が位置する状態で、積層セラミックコンデンサ1と非接触で磁束密度を測定する。磁束密度の測定は、所定時間毎、または、積層セラミックコンデンサ1が所定距離移動する毎に行う。
In the present embodiment, the magnetic flux
また、磁束密度計測部32は、積層セラミックコンデンサ1が磁気発生部31と磁束密度計測部32との間を通過したときの最大磁束密度および累積磁束密度のうちのいずれか一方を求める。
Further, the magnetic flux
図5は、1つの積層セラミックコンデンサ1が磁気発生部31と磁束密度計測部32との間を通過するときに、磁束密度計測部32で計測される磁束密度の変化を示す図である。例えば、コンデンサ連2に含まれる積層セラミックコンデンサ1が磁気発生部31と磁束密度計測部32との間を通過する間に、磁束密度計測部32によって所定時間毎に複数回、磁束密度を計測することによって、最大磁束密度と累積磁束密度を求めることができる。
FIG. 5 is a diagram illustrating a change in magnetic flux density measured by the magnetic flux
図6は、積層セラミックコンデンサ1の内部電極12の積層数が異なる場合に、磁束密度計測部32によって計測される磁束密度の違いを模式的に示す図である。図6では、積層セラミックコンデンサ1の内部電極12の積層方向が、磁気発生部31と磁束密度計測部32とが対向する方向(鉛直方向)である例を示している。
FIG. 6 is a diagram schematically showing the difference in magnetic flux density measured by the magnetic flux
図6の(a)、(b)、(c)にそれぞれ示す積層セラミックコンデンサ1のうち、図6(a)に示す積層セラミックコンデンサ1の内部電極12の積層数が最も少なく、図6(c)に示す積層セラミックコンデンサ1の内部電極12の積層数が最も多い。
Among the multilayer
図6に示すように、内部電極12の積層数が多くなるほど、磁束密度計測部32によって計測される磁束密度は高くなる。したがって、磁束密度計測部32によって計測される磁束密度に基づいて、積層セラミックコンデンサ1の内部電極12の積層数を求めることができる。
As shown in FIG. 6, the magnetic flux density measured by the magnetic flux
なお、内部電極12の積層方向が、磁気発生部31と磁束密度計測部32とが対向する方向と直交する方向(水平方向)である場合も同様である。
The same applies to the case where the stacking direction of the
積層数検出部36は、磁束密度計測部32によって計測された磁束密度に基づいて、積層セラミックコンデンサ1の内部電極12の積層数を検出する。好ましくは、積層数検出部36は、磁束密度計測部32によって求められる最大磁束密度および累積磁束密度のうちの少なくとも一方に基づいて、積層セラミックコンデンサ1の内部電極12の積層数を検出する。最大磁束密度および累積磁束密度のうちの少なくとも一方に基づいて、内部電極12の積層数を検出することにより、精度よく積層数を求めることができる。
The lamination
積層数検出部36によって内部電極12の積層数を検出することにより、静電容量の異なる積層セラミックコンデンサ1を区別することができる。例えば、コンデンサ連2に、外形寸法が略同一であるが静電容量の異なる、複数種類の積層セラミックコンデンサ1が含まれている場合でも、積層数検出部36によって内部電極12の積層数を検出することにより、静電容量の異なる積層セラミックコンデンサ1を区別することができる。
By detecting the number of layers of the
コンデンサ連2に静電容量の異なる積層セラミックコンデンサ1が含まれていることを検出することにより、コンデンサ連2から静電容量の異なる積層セラミックコンデンサ1を取り除くことが可能となる。
By detecting that the
図7は、静電容量Aと静電容量B(B>A)の2種類の積層セラミックコンデンサ1を対象として、内部電極の積層数と、その積層数を有する積層セラミックコンデンサの個数との関係を示すヒストグラムである。静電容量Aの複数の積層セラミックコンデンサは、静電容量が完全に同一ではなく、略同一であるものとする。同様に、静電容量Bの複数の積層セラミックコンデンサは、静電容量が完全に同一ではなく、略同一であるものとする。
FIG. 7 shows the relationship between the number of laminated internal electrodes and the number of laminated ceramic capacitors having the number of laminated layers for two types of laminated
図7に示すように、静電容量Aの積層セラミックコンデンサ、および、静電容量Bの積層セラミックコンデンサは、ともに内部電極の積層数にばらつきはあるものの、内部電極の積層数と度数との関係は明確に異なる。したがって、積層数検出部36によって内部電極の積層数を検出することにより、静電容量Aの積層セラミックコンデンサと、静電容量Bの積層セラミックコンデンサとを明確に区別することができる。
As shown in FIG. 7, both the multilayer ceramic capacitor with capacitance A and the multilayer ceramic capacitor with capacitance B have a variation in the number of laminated internal electrodes, but the relationship between the number of laminated internal electrodes and the frequency. Are clearly different. Therefore, by detecting the number of stacked internal electrodes by the stack
上述したように、本実施形態における積層セラミックコンデンサの内部電極積層数検出装置100によれば、積層セラミックコンデンサ1と非接触で、内部電極12の積層数を検出することができる。したがって、内部電極12の積層数を検出する際に、積層セラミックコンデンサ1の外部電極11に傷がつくこと、および、積層セラミックコンデンサ1に想定外の衝撃荷重が加わることを防ぐことができる。
As described above, according to the multilayer ceramic capacitor internal electrode lamination
また、磁気発生部31を永久磁石および電磁石のうちのいずれか一方により構成することにより、発生する磁界の強さを略一定とすることができ、内部電極12の積層数を精度よく検出することができる。
In addition, by configuring the
また、積層数検出部36は、外形寸法が略同一である複数の積層セラミックコンデンサ1の内部電極12の積層数を検出することができるので、外形寸法が略同一であるが静電容量の異なる積層セラミックコンデンサ1を区別することができる。
In addition, since the number-of-
<第2の実施形態>
図8は、第2の実施形態における積層セラミックコンデンサの内部電極積層数検出装置100Aの構成を示す平面図である。また、図9は、図8の点線で囲まれた部分IXの拡大図である。
<Second Embodiment>
FIG. 8 is a plan view showing the configuration of the laminated ceramic capacitor internal electrode lamination
第2の実施形態における積層セラミックコンデンサの内部電極積層数検出装置100Aは、ボールフィーダー80と、リニアフィーダー81と、搬送部82と、方向調整部83と、磁気発生部31Aと、磁束密度計測部32Aと、積層数検出部36Aとを備える。
The multilayer ceramic capacitor internal electrode lamination
ボールフィーダー80には、複数の積層セラミックコンデンサ1が収容されている。ボールフィーダー80は、振動することにより、リニアフィーダー81に積層セラミックコンデンサ1を順次供給する。
The
リニアフィーダー81は、積層セラミックコンデンサ1を搬送して、搬送部82に供給する。
The
方向調整部83は、例えば永久磁石または電磁石であり、リニアフィーダー81によって搬送される積層セラミックコンデンサ1の内部電極12の積層方向が所定の方向と一致するように調整する。所定の方向は、水平方向または鉛直方向である。例えば、内部電極12の積層方向が水平方向となっていて、内部電極12の積層方向を鉛直方向と一致させる場合には、方向調整部83から発生する磁気によって積層セラミックコンデンサ1が90°回転し、内部電極12の積層方向を鉛直方向と一致させる。
The
方向調整部83が積層セラミックコンデンサ1の内部電極12の積層方向を所定の方向と一致させることにより、後述するように、内部電極12の積層方向が所定の方向と一致した状態の積層セラミックコンデンサ1を、磁気発生部31Aと磁束密度計測部32Aとの間を通過させることができる。
The
搬送部82は、中心軸84Cを中心として回転する円板状の搬送テーブル84を有する。本実施形態では、搬送テーブル84は、中心軸84Cを中心として、時計回りに回転する。搬送テーブル84は、磁気の影響を受けにくい素材により構成されている。
The
搬送テーブル84は、複数の凹部84aを備えている。複数の凹部84aは、搬送テーブル84の外周に沿って、所定の間隔で設けられている。
The transfer table 84 includes a plurality of
搬送テーブル84の凹部84aには、ポジションP1において、リニアフィーダー81から積層セラミックコンデンサ1が振り込まれる。凹部84aに振り込まれた積層セラミックコンデンサ1は、搬送テーブル84が回転することによって、中心軸84Cを中心として周方向に沿って移動し、ポジションP3まで搬送される。
The multilayer
積層セラミックコンデンサ1は、ポジションP3において、搬送テーブル84から、キャリアテープ85の収容部85aに収容される。キャリアテープ85の収容部85aに積層セラミックコンデンサ1が収容された後、積層セラミックコンデンサ1を封止するように、図示しないカバーテープがキャリアテープ85に貼り付けられることによって、第1の実施形態で説明したコンデンサ連2と同じ構造を有するコンデンサ連が作製される。
The multilayer
図9に示すように、ポジションP2には、磁気発生部31Aと磁束密度計測部32Aが設けられている。具体的には、搬送テーブル84を挟むように、磁気発生部31Aと磁束密度計測部32Aが設けられている。本実施形態では、搬送テーブル84の下方に磁気発生部31Aが設けられており、搬送テーブル84の上方に磁束密度計測部32Aが設けられている。ただし、搬送テーブル84の上方に磁気発生部31Aが設けられ、下方に磁束密度計測部32Aが設けられる構成としてもよい。
As shown in FIG. 9, at position P2, a
磁気発生部31Aと磁束密度計測部32Aの配置位置をより詳しく説明すると、鉛直方向において、搬送テーブル84の凹部84aに収容された積層セラミックコンデンサ1の移動経路を挟むように、磁気発生部31Aと磁束密度計測部32Aが設けられている。
The arrangement positions of the
なお、磁気発生部31Aと磁束密度計測部32Aの配置位置が図9に示す位置に限定されることはない。例えば、リニアフィーダー81を挟むように、磁気発生部31Aと磁束密度計測部32Aが設けられていてもよい。
Note that the arrangement positions of the
第1の実施形態と同様に、磁束密度計測部32Aは、磁気発生部31Aとの間に積層セラミックコンデンサ1が位置する状態で、積層セラミックコンデンサ1と非接触で磁束密度を測定する。搬送テーブル84の凹部84aに収容されている積層セラミックコンデンサ1の内部電極12の積層方向は所定の方向に一致している。
Similar to the first embodiment, the magnetic flux
積層数検出部36Aは、磁束密度計測部32Aによって計測された磁束密度に基づいて、積層セラミックコンデンサ1の内部電極12の積層数を検出する。
The number-of-
なお、第1の実施形態で説明したように、検出した内部電極12の積層数に基づいて、容量の異なる積層セラミックコンデンサ1を区別することができる。例えば、ボールフィーダー80に、外形寸法が略同一であるが、静電容量の異なる複数の積層セラミックコンデンサ1が収容されている場合でも、積層数検出部36Aによって内部電極の積層数を検出することにより、静電容量の異なる積層セラミックコンデンサ1を区別することができる。
As described in the first embodiment, the multilayer
本実施形態における積層セラミックコンデンサの内部電極積層数検出装置100Aはさらに、排出部86を備える。積層数検出部36Aによって検出された内部電極12の積層数に基づいて、静電容量の異なる積層セラミックコンデンサ1が混入していることを検出すると、排出部86は、気体を吹き出すことによって、凹部84aから積層セラミックコンデンサ1を排出させる。気体は、例えば空気である。凹部84aから排出された積層セラミックコンデンサ1は、排出部86の径方向外側に位置する退避エリア90に収容され、その後取り除かれる。
The multilayer ceramic capacitor internal electrode lamination
本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の範囲内において、種々の応用、変形を加えることが可能である。 The present invention is not limited to the above embodiment, and various applications and modifications can be made within the scope of the present invention.
例えば、積層セラミックコンデンサ1を、磁気発生部と磁束密度計測部との間を移動させる方法が上述した実施形態で説明した方法に限定されることはない。例えば、磁気発生部と磁束密度計測部との間に設けられた直線経路上を積層セラミックコンデンサ1が通過するようにしてもよい。
For example, the method of moving the multilayer
第1の実施形態では、キャリアテープ21の収容部21aに収容されている積層セラミックコンデンサ1の内部電極12の積層方向が所定の方向に一致しているものとして説明した。しかし、収容部21aに積層セラミックコンデンサ1が収容されたときに、内部電極12の積層方向が所定の方向以外の方向に向いていることを許容しつつ、収容部21aに収容された積層セラミックコンデンサ1の内部電極12の積層方向を所定の方向に一致させる方向調整部をさらに備える構成としてもよい。
In the first embodiment, it has been described that the stacking direction of the
1 積層セラミックコンデンサ
2 コンデンサ連
10 セラミック素体
11(11a,11b) 外部電極
12a 第1の内部電極
12b 第2の内部電極
13 誘電体セラミック層
20 テープ
21 キャリアテープ
21a 収容部
22 カバーテープ
31、31A 磁気発生部
32、32A 磁束密度計測部
33 第1のロール
34 第2のロール
35 搬送部
36、36A 積層数検出部
80 ボールフィーダー
81 リニアフィーダー
82 搬送部
83 方向調整部
84 搬送テーブル
84a 凹部
85 キャリアテープ
86 排出部
90 退避エリア
100 第1の実施形態における積層セラミックコンデンサの内部電極積層数検出装置
100A 第2の実施形態における積層セラミックコンデンサの内部電極積層数検出装置
1 multilayer
Claims (5)
磁気を発生する磁気発生部と、
前記磁気発生部との間に、前記内部電極の積層方向が所定の方向と一致している前記積層セラミックコンデンサが位置する状態で、前記積層セラミックコンデンサと非接触で磁束密度を測定する磁束密度測定部と、
前記磁束密度測定部によって測定される磁束密度に基づいて、前記積層セラミックコンデンサの内部電極の積層数を検出する積層数検出部と、
を備えることを特徴とする積層セラミックコンデンサの内部電極積層数検出装置。 A device for detecting the number of laminated internal electrodes of a multilayer ceramic capacitor having a plurality of laminated internal electrodes,
A magnetic generator for generating magnetism;
Magnetic flux density measurement for measuring magnetic flux density in a non-contact manner with the multilayer ceramic capacitor in a state where the multilayer ceramic capacitor in which the stacking direction of the internal electrodes coincides with a predetermined direction is located between the magnetic generation unit And
Based on the magnetic flux density measured by the magnetic flux density measurement unit, the number of layers detection unit that detects the number of layers of the internal electrode of the multilayer ceramic capacitor,
A device for detecting the number of laminated internal electrodes of a multilayer ceramic capacitor.
前記磁束密度測定部は、前記積層セラミックコンデンサが前記磁気発生部と前記磁束密度測定部との間を通過したときの最大磁束密度および累積磁束密度のうちの少なくとも一方を求めるように構成されており、
前記積層数検出部は、前記磁束密度測定部によって求められる最大磁束密度および累積磁束密度のうちの少なくとも一方に基づいて、前記内部電極の積層数を検出するように構成されていることを特徴とする請求項1または2に記載の積層セラミックコンデンサの内部電極積層数検出装置。 The multilayer ceramic capacitor further includes a transport unit that passes between the magnetic generation unit and the magnetic flux density measurement unit,
The magnetic flux density measurement unit is configured to obtain at least one of a maximum magnetic flux density and a cumulative magnetic flux density when the multilayer ceramic capacitor passes between the magnetism generation unit and the magnetic flux density measurement unit. ,
The stack number detection unit is configured to detect the number of stacks of the internal electrodes based on at least one of a maximum magnetic flux density and a cumulative magnetic flux density obtained by the magnetic flux density measurement unit. The apparatus for detecting the number of laminated internal electrodes of a multilayer ceramic capacitor according to claim 1 or 2.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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