JP2019184430A - 3次元位置計測システム - Google Patents

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彰吾 芝井
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彰吾 芝井
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【課題】計測対象物の全体的な3次元座標を効率的に計測することができる3次元位置計測システムを提供する。【解決手段】本発明は、計測操作装置2と、複数のカメラ1から取得した反射マーカ22に関する撮像データに基づいて、三角測量の原理により、反射マーカ22の3次元座標を演算する演算装置3と、を備える3次元位置計測システムにおいて、本体部21は、計測対象物Bにレーザーを照射することで、非接触で計測対象物Bの位置を計測し、計測結果を演算装置3に送信するレーザースキャナ211を備え、演算装置3は、反射マーカ22の3次元座標とレーザースキャナ211の計測結果に基づいて、3次元座標系におけるレーザースキャナ211で計測された計測対象物Bの3次元座標を演算する。【選択図】図1

Description

本発明は、3次元位置計測システムに関する。
3次元位置計測システムは、例えば特開2017−96738号公報に記載されているように、複数のカメラと、複数の反射マーカを有するプローブと、カメラの撮像結果に基づいてプローブの所定点(例えば先端)の3次元座標を演算する演算装置と、を備えている。このシステムによれば、プローブの所定点と計測対象物とを接触させることで、計測対象物の当該接触点の3次元座標を得ることができる。
特開2017−96738号公報
しかしながら、上記システムでは、計測対象物に対してポイントごとの計測に優れているが、計測対象物の面形状など、計測対象物の全体的な3次元座標の計測に関しては、手間がかかり、改良の余地がある。
本発明は、このような事情に鑑みて為されたものであり、計測対象物の全体的な3次元座標を効率的に計測することができる3次元位置計測システムを提供することを目的とする。
本発明の3次元位置計測システムは、赤外線照射可能な複数のカメラと、本体部及び前記本体部に設けられた3つ以上の反射マーカを有する計測操作装置と、前記複数のカメラから取得した前記反射マーカに関する撮像データに基づいて、三角測量の原理により、所定位置を原点とした3次元座標系における前記反射マーカの3次元座標を演算する演算装置と、を備える3次元位置計測システムにおいて、前記本体部は、計測対象物にレーザーを照射することで、非接触で前記計測対象物の位置を計測し、計測結果を前記演算装置に送信するレーザースキャナを備え、前記演算装置は、前記反射マーカの前記3次元座標と前記レーザースキャナの計測結果に基づいて、前記3次元座標系における前記レーザースキャナで計測された前記計測対象物の前記3次元座標を演算する。
本発明によれば、レーザースキャナを利用するため、計測対象物を効率的に計測することができ、計測対象物の位置・形状を1つの3次元座標系上に再現することができる。本発明によれば、計測対象物の全体的な3次元座標を効率的に計測することができる。
本実施形態の3次元位置計測システムの構成図である。 本実施形態の計測操作装置の斜視図である。
以下、本発明の実施形態について図に基づいて説明する。本実施形態の3次元位置計測システムAは、図1及び図2に示すように、複数のカメラ1と、計測操作装置2と、演算装置3と、を備えている。カメラ1は、画像を撮像する撮像部11と、赤外線を照射する照射部12と、を備えている。カメラ1は、赤外線照射可能なカメラであって、例えばカメラセンサや光学式カメラである。各カメラ1は、例えば単独で移動可能なスタンド(例えば三脚)に設置されている。なお、各カメラ1は、例えば部屋の壁面(天井等)に固定されても良い。複数のカメラ1により、撮像対象スペースSが形成されている。
計測操作装置2は、ユーザに把持されて操作される装置であって、本体部21と、本体部21に設けられた3つ以上の反射マーカ22と、を備えている。本体部21は、計測対象物Bにレーザーを照射することで、非接触で計測対象物Bの位置を計測するハンディタイプのレーザースキャナ211を備えている。レーザースキャナ211は、図2に示すようにユーザが把持して操作可能なハンディタイプに構成されており、有線又は無線により、演算装置3に計測結果を送信する。レーザースキャナ211は、例えば、計測対象物Bに照射したレーザーの計測対象物Bからの反射光に検知して、当該反射光に基づいて、計測対象物Bの位置・形状を測定する装置である。レーザースキャナ211の光源は、例えば、一度に照射される複数のレーザー光が線状又は面状となるように配置されている。例えばレーザー光が直線状に照射されるレーザースキャナでは、ユーザが当該直線に交差するようにレーザースキャナを移動させることで、計測対象物Bの面形状を計測することができる。レーザースキャナ211としては、公知の装置を用いることができる。反射マーカ22は、赤外線を反射するためのものであり、例えば球状に形成されている。
演算装置3は、複数のカメラ1から取得した反射マーカ22に関する撮像データに基づいて、三角測量の原理により、所定位置を原点とした3次元座標系(X、Y、Z)における反射マーカ22の3次元座標を演算する装置である。具体的に、演算装置3は、CPUやメモリ等を有するコンピュータ31と、当該コンピュータ31で作動する計測ソフトウェア32と、を備えている。計測ソフトウェア32は、例えば市販のソフトウェア(3次元位置計測やモーションキャプチャーに関するソフトウェア)を利用することができる。コンピュータ31は、すべてのカメラ1と通信可能に接続されている。
演算装置3は、複数のカメラ1の撮像データに基づいて、三角測量の原理により、各反射マーカ22の3次元座標を演算する。演算装置3には、予め反射マーカ22の位置関係(マーカピッチ)が設定されている。演算装置3は、すべての反射マーカ22の3次元座標を算出し、そこから計測操作装置2の位置や向き(姿勢)を把握する。演算装置3は、例えば計測操作装置2に対して予め設定された特定位置を計測操作装置2の位置として認識する。例えば、本体部21のある部分が位置特定部21aに設定され、位置特定部21aと反射マーカ22との位置関係が演算装置3に予め設定されている。
演算装置3は、反射マーカ22の3次元座標と本体部21の計測結果に基づいて、3次元座標系における本体部21で計測された計測対象物Bの3次元座標を演算する。演算装置3は、レーザースキャナ211の3次元座標系を、システムの3次元座標系(反射マーカ22の位置を表す3次元座標系)と同期させ、1つの3次元座標系における計測対象物Bの測定個所の座標すなわち計測対象物Bの形状データ(点群データ)を演算する。例えば、位置特定部21aとレーザースキャナ211の計測基準点又は3次元座標系における原点との位置関係が予め設定されている。演算装置3は、レーザースキャナ211の位置及び向きの時系列データ(3次元座標時系列データ)と、レーザースキャナ211の計測結果の時系列データとを照合・同期することにより、計測対象物Bの3次元座標を算出することができる。演算装置3は、レーザースキャナ211に対する計測対象物Bの相対位置(各測定点の相対位置)を、反射マーカ22(位置特定部21a)の位置を表す3次元座標系に反映させるともいえる。
本実施形態によれば、1つの3次元座標系において、非接触で、計測対象物Bの形状を効率良く再現することができる。例えば、3DCADに基づいて製造された製品の実際の形状と、3DCADとを比較し、製品が設計通りに製造されているか否かを検証することができる。本実施形態によれば、3DCADデータと3次元位置計測システムで計測された形状とを重ねて(座標を一致させて)配置することもできる。このように、本実施形態によれば、精度の良い計測と、精度の良い検証が可能となる。また、本システムは、容易に移動可能に構成されており、例えばシステムを工場内から野外に移動させて計測することができる。また、例えば、工場のライン内にシステムが配置されることで(インラインで)、ユーザにより、又はロボットアーム等により自動的に、ライン上で計測対象物Bを計測することもできる。
1…カメラ、2…計測操作装置、21…本体部、211…レーザースキャナ、22…反射マーカ、3…演算装置、A…3次元位置計測システム。

Claims (2)

  1. 赤外線照射可能な複数のカメラと、
    本体部及び前記本体部に設けられた3つ以上の反射マーカを有する計測操作装置と、
    前記複数のカメラから取得した前記反射マーカに関する撮像データに基づいて、三角測量の原理により、所定位置を原点とした3次元座標系における前記反射マーカの3次元座標を演算する演算装置と、
    を備える3次元位置計測システムにおいて、
    前記本体部は、計測対象物にレーザーを照射することで、非接触で前記計測対象物の位置を計測し、計測結果を前記演算装置に送信するレーザースキャナを備え、
    前記演算装置は、前記反射マーカの前記3次元座標と前記レーザースキャナの計測結果に基づいて、前記3次元座標系における前記レーザースキャナで計測された前記計測対象物の前記3次元座標を演算する3次元位置計測システム。
  2. 前記レーザースキャナは、ユーザが把持して操作可能なハンディタイプに構成されている請求項1に記載の3次元位置計測システム。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111595265A (zh) * 2020-06-01 2020-08-28 中铁二院工程集团有限责任公司 一种用于三维激光扫描仪的反射靶标装置及其使用方法

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JP2011237430A (ja) * 2010-05-03 2011-11-24 Steinbichler Optotechnik Gmbh 物体の3次元座標を決定するための方法、および装置
JP2016517513A (ja) * 2013-03-15 2016-06-16 ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド 有向性のプローブ処理による、三次元スキャナにおける多経路干渉の診断および排除
JP2017096738A (ja) * 2015-11-24 2017-06-01 大豊精機株式会社 3次元位置計測システム、3次元位置計測用プローブ、及びキャリブレータ

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