JP2019171036A - Magnetic resonance imaging device - Google Patents

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Abstract

To adjust irradiation intensity of an RF pulse depending of a position of a receiving coil in a bore.SOLUTION: A magnetic resonance imaging device 1 according to an embodiment comprises a position information generating unit and a pulse intensity adjusting unit. The position information generating unit generates position information related to a positional relation between a transmitting coil and a receiving coil on the basis of a magnetic resonance signal received from a subject. The pulse intensity adjusting unit adjusts irradiation intensity of an RF pulse with which the subject is irradiated, depending on the position information.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明の実施形態は、磁気共鳴イメージング装置に関する。   Embodiments described herein relate generally to a magnetic resonance imaging apparatus.

従来、磁気共鳴イメージング装置は、送信用RF(Radio Frequency)コイルにより発生された高周波磁場(以下、RFパルスと呼ぶ)を被検体に照射し、被検体内で発生された磁気共鳴信号を、受信用RFコイル装置における受信コイルで受信する。送信用RFコイルは、磁気共鳴イメージング装置の架台内に設置されている。受信用RFコイル装置としては、磁気共鳴信号を効率よく受信するために撮像部位に対応した専用のRFコイル装置がある。このとき、専用のRFコイル装置は、被検体の近くに設置される。受信用RFコイル装置は、受信用RFコイル装置におけるケーブルの末端に設けられたコネクタ、および磁気共鳴イメージング装置に設けられたポートを介して磁気共鳴イメージング装置に接続され、受信された磁気共鳴信号を磁気共鳴イメージング装置に送信する。受信用RFコイル装置と磁気共鳴イメージング装置との接続に用いられるポートは、例えば、磁気共鳴イメージング装置における架台、天板等に設けられる。天板上におけるポートは、例えば、天板の長軸方向に沿って、寝台側、天板の中央部分、寝台とは反対側など、様々な位置に設けられる。   Conventionally, a magnetic resonance imaging apparatus irradiates a subject with a high-frequency magnetic field (hereinafter referred to as an RF pulse) generated by a transmitting RF (Radio Frequency) coil, and receives a magnetic resonance signal generated in the subject. The signal is received by the receiving coil in the RF coil device for use. The transmitting RF coil is installed in the gantry of the magnetic resonance imaging apparatus. As a receiving RF coil device, there is a dedicated RF coil device corresponding to an imaging region in order to efficiently receive a magnetic resonance signal. At this time, the dedicated RF coil device is installed near the subject. The receiving RF coil apparatus is connected to the magnetic resonance imaging apparatus via a connector provided at the end of the cable in the receiving RF coil apparatus and a port provided in the magnetic resonance imaging apparatus, and receives the received magnetic resonance signal. Transmit to the magnetic resonance imaging apparatus. A port used for connection between the receiving RF coil device and the magnetic resonance imaging apparatus is provided, for example, on a frame, a top plate, or the like in the magnetic resonance imaging apparatus. Ports on the top plate are provided at various positions along the long axis direction of the top plate, such as a bed side, a central portion of the top plate, and a side opposite to the bed.

送信用RFコイルにより発生されたRFパルスは、被検体に照射されるとともに、受信コイルにも照射される。受信用RFコイル装置は、RFパルスによる影響を受けないようにするために、例えば、RFパルスによる影響を受信コイルからデカップリングさせるための回路(以下、デカップリングスイッチと呼ぶ)やバラン(balun:balance to unbalance transformer(平衡−不平衡変換器))などを有する。また、送信用RFコイルから送信されるRFパルスは、被検体および受信コイルに過度に照射されないようにSAR(Specific Absorption Rate:比吸収率)、B(RF磁場)の振幅、およびBの実効値に相当しBの二乗平均の平方根を示すB1rmsの値で制限される。 The RF pulse generated by the transmitting RF coil is irradiated on the subject and also on the receiving coil. In order to prevent the reception RF coil device from being affected by the RF pulse, for example, a circuit for decoupling the influence of the RF pulse from the reception coil (hereinafter referred to as a decoupling switch) or a balun: balance to unbalance transformer (balance-unbalance converter)). In addition, the RF pulse transmitted from the transmitting RF coil is not subjected to excessive irradiation to the subject and the receiving coil. SAR (Specific Absorption Rate), B 1 (RF magnetic field) amplitude, and B 1 It is limited by the equivalent to the value of B 1Rms showing the square root of the mean square of B 1 to the effective value.

受信用RFコイル装置として、例えば、ボア内において配置される位置が固定されず、被検体の大きさ等に合わせて位置を変更可能な受信用RFコイル装置がある。このような受信用RFコイル装置において、受信コイルが送信コイルに近い場合、受信用RFコイル装置は、RFパルスの影響を大きく受けることがある。また、受信コイルからポートまでのケーブルの取り回しの状態に応じて、受信用RFコイル装置は、RFパルスの影響を大きく受けることがある。このとき、受信用RFコイル装置に搭載されている内部回路、例えばデカップリングスイッチやバランにおいて、発熱が大きくなることがある。また、磁気共鳴イメージング装置において静磁場磁石として円筒形磁石が用いられている場合、静磁場方向に沿ってケーブルが配置されると、受信用RFコイル装置は、RFパルスの影響を受けにくい。一方、ボア内において静磁場方向に対してケーブルがU字形状に湾曲している場合、受信用RFコイル装置における内部回路における発熱は、大きくなることがある。   As a receiving RF coil device, for example, there is a receiving RF coil device in which the position in the bore is not fixed and the position can be changed according to the size of the subject. In such a receiving RF coil device, when the receiving coil is close to the transmitting coil, the receiving RF coil device may be greatly affected by the RF pulse. Also, the receiving RF coil device may be greatly affected by the RF pulse depending on the state of the cable from the receiving coil to the port. At this time, heat may increase in an internal circuit such as a decoupling switch or a balun mounted on the receiving RF coil device. In addition, when a cylindrical magnet is used as a static magnetic field magnet in the magnetic resonance imaging apparatus, if the cable is arranged along the static magnetic field direction, the receiving RF coil device is not easily affected by the RF pulse. On the other hand, when the cable is bent in a U shape in the bore with respect to the direction of the static magnetic field, heat generation in the internal circuit in the receiving RF coil device may increase.

ボア内における受信コイル装置の位置、ケーブルの取り回しなどがどのような場合であっても発熱を抑制するようにB1rmsの値を制限することは、撮像条件の制限につながる。例えば、B1rmsの値の制限は、繰り返し時間(TR:Repetition time)あたりの撮像に関するスライス枚数の減少につながり、撮像時間の延長が発生する問題がある。また、RFパルスの影響により受信用RFコイル装置が過度に発熱するような受信用RFコイル装置の配置およびケーブルの取り回しは、手引書にて禁止されている。しかしながら、操作者が受信コイル装置を誤使用した場合に受信用RFコイル装置における過度な発熱や破損を起こすリスクが生じる問題がある。 Limiting the value of B 1 rms so as to suppress heat generation regardless of the position of the receiving coil device in the bore, the handling of the cable, and the like leads to a limitation of imaging conditions. For example, the limitation of the value of B 1 rms leads to a decrease in the number of slices related to imaging per repetition time (TR: Repetition time), and there is a problem that the imaging time is extended. In addition, the placement of the receiving RF coil device and the routing of the cable that cause the receiving RF coil device to generate excessive heat due to the influence of the RF pulse are prohibited in the manual. However, when the operator misuses the receiving coil device, there is a problem in that there is a risk of excessive heat generation or damage in the receiving RF coil device.

特開2010−119744号公報JP 2010-119744 A 特開2014−61176号公報JP 2014-61176 A 米国特許第4806867号明細書U.S. Pat. No. 4,806,867 米国特許出願公開第2016/0154074号明細書US Patent Application Publication No. 2016/0154074 米国特許出願公開第2017/0097396号明細書US Patent Application Publication No. 2017/0097396

本発明が解決しようとする課題は、ボア内における受信コイル装置の位置に応じて、RFパルスの照射強度を調整することである。   The problem to be solved by the present invention is to adjust the irradiation intensity of the RF pulse in accordance with the position of the receiving coil device in the bore.

本実施形態に係る磁気共鳴イメージング装置は、位置情報生成部と、パルス強度調整部とを有する。位置情報生成部は、被検体から受信された磁気共鳴信号に基づいて、送信コイルと受信コイルとの間の位置関係に関する位置情報を生成する。パルス強度調整部は、前記位置情報に応じて、前記被検体に照射されるRFパルスの照射強度を調整する。   The magnetic resonance imaging apparatus according to the present embodiment includes a position information generation unit and a pulse intensity adjustment unit. The position information generation unit generates position information related to the positional relationship between the transmission coil and the reception coil based on the magnetic resonance signal received from the subject. The pulse intensity adjustment unit adjusts the irradiation intensity of the RF pulse irradiated to the subject according to the position information.

図1は、本実施形態における磁気共鳴イメージング装置の全体構成を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing the overall configuration of the magnetic resonance imaging apparatus in the present embodiment. 図2は、本実施形態における受信コイル装置の一例を示す図である。FIG. 2 is a diagram illustrating an example of the receiving coil device according to the present embodiment. 図3は、本実施形態において、ボア内に挿入された被検体をZ軸方向から見た図である。FIG. 3 is a view of the subject inserted into the bore as viewed from the Z-axis direction in the present embodiment. 図4は、本実施形態において、ボア内に挿入された被検体をX軸方向から見た図である。FIG. 4 is a view of the subject inserted into the bore as viewed from the X-axis direction in the present embodiment. 図5は、ボア内に挿入された被検体をZ軸方向から見た比較例の一例を示す図である。FIG. 5 is a diagram illustrating an example of a comparative example in which the subject inserted into the bore is viewed from the Z-axis direction. 図6は、ボア内に挿入された被検体をX軸方向から見た比較例の一例を示す図である。FIG. 6 is a diagram illustrating an example of a comparative example in which the subject inserted into the bore is viewed from the X-axis direction. 図7は、本実施形態において、RFパルスの照射強度の調整に関する処理の手順の一例を示すフローチャートである。FIG. 7 is a flowchart illustrating an example of a processing procedure relating to adjustment of the irradiation intensity of the RF pulse in the present embodiment. 図8は、本実施形態における許容マップの一例を示す図である。FIG. 8 is a diagram illustrating an example of an allowance map in the present embodiment. 図9は、本実施形態において、天板と被検体と受信コイル装置との位置関係の一例を示す図である。FIG. 9 is a diagram illustrating an example of a positional relationship among the top plate, the subject, and the receiving coil device in the present embodiment. 図10は、本実施形態において、アキシャル像の一例を示す図である。FIG. 10 is a diagram illustrating an example of an axial image in the present embodiment. 図11は、本実施形態において、サジタル像の一例を示す図である。FIG. 11 is a diagram illustrating an example of a sagittal image in the present embodiment. 図12は、本実施形態において、図10におけるアキシャル像に対して特定された高強度領域の一例を示す図である。FIG. 12 is a diagram illustrating an example of a high-intensity region specified for the axial image in FIG. 10 in the present embodiment. 図13は、本実施形態において、図11におけるサジタル像における高強度領域の一例を示す図である。FIG. 13 is a diagram illustrating an example of a high intensity region in the sagittal image in FIG. 11 in the present embodiment. 図14は、本実施形態において、高強度領域に関する位置情報を用いて、高強度領域を許容マップに当てはめた一例を示す図である。FIG. 14 is a diagram illustrating an example in which a high-intensity region is applied to an allowance map using position information regarding the high-intensity region in the present embodiment. 図15は、本実施形態の第1の変形例において、送信コイルからの複数の距離に対する複数の許容係数の対応表の一例を示す図である。FIG. 15 is a diagram illustrating an example of a correspondence table of a plurality of allowable coefficients with respect to a plurality of distances from the transmission coil in the first modification of the present embodiment. 図16は、本実施形態の第2の変形例における処理回路の構成の一例を示す図である。FIG. 16 is a diagram illustrating an example of a configuration of a processing circuit in the second modification example of the present embodiment. 図17は、本実施形態の第2の変形例におけるパルス強度調整処理の処理手順の一例を示す図である。FIG. 17 is a diagram illustrating an example of a processing procedure of a pulse intensity adjustment process in the second modification example of the present embodiment. 図18は、本実施形態の第2の変形例において、4つのコイルエレメント各々についてのX軸強度分布、Y軸強度分布、およびZ軸強度分布の一例を示す図である。FIG. 18 is a diagram illustrating an example of the X-axis intensity distribution, the Y-axis intensity distribution, and the Z-axis intensity distribution for each of the four coil elements in the second modification example of the present embodiment. 図19は、本実施形態の応用例における処理回路の構成の一例を示す図である。FIG. 19 is a diagram illustrating an example of a configuration of a processing circuit in an application example of the present embodiment. 図20は、本実施形態の応用例において、ボア内に挿入された被検体をX軸方向から見た図である。FIG. 20 is a view of the subject inserted into the bore as viewed from the X-axis direction in the application example of the present embodiment. 図21は、本実施形態の応用例において、被検体と受信コイルとケーブルと接続ポートとの位置関係の一例を示す図である。FIG. 21 is a diagram illustrating an example of a positional relationship among the subject, the reception coil, the cable, and the connection port in the application example of the present embodiment. 図22は、本実施形態の応用例において、パルス強度調整処理の処理手順の一例を示す図である。FIG. 22 is a diagram illustrating an example of a processing procedure of pulse intensity adjustment processing in the application example of the present embodiment.

以下、図面を参照しながら、磁気共鳴イメージング装置の本実施形態について説明する。なお、以下の説明において、略同一の機能及び構成を有する構成要素については、同一符号を付し、重複説明は必要な場合に行う。   Hereinafter, this embodiment of the magnetic resonance imaging apparatus will be described with reference to the drawings. In the following description, components having substantially the same function and configuration are denoted by the same reference numerals, and redundant description will be given when necessary.

(実施形態)
図1は、本実施形態における磁気共鳴イメージング(以下、MRI(magnetic resonance imaging)と呼ぶ)装置1の全体構成を示すブロック図である。MRI装置1は、静磁場磁石101と、傾斜磁場コイル103と、傾斜磁場電源105と、寝台107と、寝台制御回路109と、送信回路113と、送信コイル115と、受信コイル装置117と、受信回路119と、撮像制御回路(撮像部)121と、インタフェース(入力部)125と、ディスプレイ(表示部)127と、記憶装置(記憶部)129と、処理回路(処理部)131とを備える。MRI装置1における架台10は、静磁場磁石101と、傾斜磁場コイル103と、送信コイル115とを有する。なお、架台10には、傾斜磁場電源105、受信回路119、撮像制御回路121等が搭載されてもよい。また、MRI装置1は、静磁場磁石101と傾斜磁場コイル103との間に、中空の円筒形状のシムコイルを有していてもよい。
(Embodiment)
FIG. 1 is a block diagram showing an overall configuration of a magnetic resonance imaging (hereinafter, referred to as MRI (magnetic resonance imaging)) apparatus 1 according to the present embodiment. The MRI apparatus 1 includes a static magnetic field magnet 101, a gradient magnetic field coil 103, a gradient magnetic field power source 105, a bed 107, a bed control circuit 109, a transmission circuit 113, a transmission coil 115, a reception coil apparatus 117, and a reception A circuit 119, an imaging control circuit (imaging unit) 121, an interface (input unit) 125, a display (display unit) 127, a storage device (storage unit) 129, and a processing circuit (processing unit) 131 are provided. The gantry 10 in the MRI apparatus 1 includes a static magnetic field magnet 101, a gradient magnetic field coil 103, and a transmission coil 115. The gantry 10 may be equipped with a gradient magnetic field power source 105, a receiving circuit 119, an imaging control circuit 121, and the like. The MRI apparatus 1 may have a hollow cylindrical shim coil between the static magnetic field magnet 101 and the gradient magnetic field coil 103.

静磁場磁石101は、例えば中空の略円筒形状に形成された磁石である。静磁場磁石101は、被検体Pが挿入される空間であるボア111に一様な静磁場を発生する。静磁場磁石101としては、例えば、超伝導磁石などが使用される。   The static magnetic field magnet 101 is, for example, a magnet formed in a hollow, substantially cylindrical shape. The static magnetic field magnet 101 generates a uniform static magnetic field in the bore 111 that is a space in which the subject P is inserted. For example, a superconducting magnet is used as the static magnetic field magnet 101.

傾斜磁場コイル103は、例えば中空の略円筒形状に形成されたコイルである。傾斜磁場コイル103は、静磁場磁石101の内側に配置される。傾斜磁場コイル103は、互いに直交するX、Y、Zの各軸に対応する3つのコイルが組み合わされて形成される。Z軸方向は、静磁場の方向と同方向であるとする。また、Y軸方向は、鉛直方向とし、X軸方向は、Z軸方向およびY軸方向に垂直な方向とする。傾斜磁場コイル103は、静磁場に重畳させる傾斜磁場を発生する。具体的には、傾斜磁場コイル103における3つのコイルは、傾斜磁場電源105から個別に電流供給を受けて、X、Y、Zの各軸に沿って磁場強度が変化する傾斜磁場を発生させる。   The gradient magnetic field coil 103 is, for example, a coil formed in a hollow, substantially cylindrical shape. The gradient magnetic field coil 103 is disposed inside the static magnetic field magnet 101. The gradient coil 103 is formed by combining three coils corresponding to the X, Y, and Z axes orthogonal to each other. The Z-axis direction is assumed to be the same as the direction of the static magnetic field. The Y-axis direction is a vertical direction, and the X-axis direction is a direction perpendicular to the Z-axis direction and the Y-axis direction. The gradient magnetic field coil 103 generates a gradient magnetic field to be superimposed on a static magnetic field. Specifically, the three coils in the gradient magnetic field coil 103 are individually supplied with current from the gradient magnetic field power supply 105 and generate gradient magnetic fields whose magnetic field strengths change along the X, Y, and Z axes.

傾斜磁場コイル103によって発生するX、Y、Z各軸の傾斜磁場は、例えば、周波数エンコード用傾斜磁場(リードアウト傾斜磁場ともいう)、位相エンコード用傾斜磁場およびスライス選択用傾斜磁場を形成する。周波数エンコード用傾斜磁場は、空間的位置に応じて磁気共鳴(以下、MR(Magnetic Resonance)と呼ぶ)信号の周波数を変化させるために利用される。位相エンコード用傾斜磁場は、空間的位置に応じてMR信号の位相を変化させるために利用される。スライス選択用傾斜磁場は、撮像断面を決めるために利用される。   The gradient magnetic fields of the X, Y, and Z axes generated by the gradient magnetic field coil 103 form, for example, a frequency encoding gradient magnetic field (also referred to as a readout gradient magnetic field), a phase encoding gradient magnetic field, and a slice selection gradient magnetic field. The frequency encoding gradient magnetic field is used to change the frequency of a magnetic resonance (hereinafter referred to as MR (Magnetic Resonance)) signal in accordance with the spatial position. The phase encoding gradient magnetic field is used to change the phase of the MR signal in accordance with the spatial position. The slice selection gradient magnetic field is used to determine the imaging section.

傾斜磁場電源105は、撮像制御回路121による制御のもとで、傾斜磁場コイル103に電流を供給する電源装置である。   The gradient magnetic field power supply 105 is a power supply device that supplies a current to the gradient magnetic field coil 103 under the control of the imaging control circuit 121.

寝台107は、被検体Pが載置される天板1071を備えた装置である。寝台107は、寝台制御回路109による制御のもと、被検体Pが載置された天板1071を、ボア111内へ挿入する。寝台107は、例えば、長手方向が静磁場磁石101の中心軸と平行になるように、検査室内に設置される。   The bed 107 is an apparatus including a top plate 1071 on which the subject P is placed. Under the control of the bed control circuit 109, the bed 107 inserts the top plate 1071 on which the subject P is placed into the bore 111. For example, the bed 107 is installed in the examination room so that the longitudinal direction is parallel to the central axis of the static magnetic field magnet 101.

天板1071は、受信コイル装置117が接続可能な複数のポート1073を有する。天板1071には、被検体Pが配置される。複数のポートのうち1つのポートに、受信コイル装置117におけるケーブル1173の一端に設けられたコネクタ1175が接続される。なお、ポート1073の設置場所は天板1071に限定されず、寝台107または架台10等にポート1073が設けられてもよい。ポート1073からの信号線は、受信回路119に接続される。なお、受信コイル装置117が高周波磁場の送信機能を有する場合、図1には図示されていないが、ポート1073からの信号線は、受信回路119に加えて送信回路113にも接続される。   The top plate 1071 has a plurality of ports 1073 to which the receiving coil device 117 can be connected. A subject P is disposed on the top plate 1071. A connector 1175 provided at one end of the cable 1173 in the receiving coil device 117 is connected to one port among the plurality of ports. Note that the installation location of the port 1073 is not limited to the top plate 1071, and the port 1073 may be provided on the bed 107 or the gantry 10 or the like. A signal line from the port 1073 is connected to the reception circuit 119. When the reception coil device 117 has a high-frequency magnetic field transmission function, the signal line from the port 1073 is connected to the transmission circuit 113 in addition to the reception circuit 119, although not shown in FIG.

寝台制御回路109は、寝台107を制御する回路であり、インタフェース125を介した操作者の指示により寝台107を駆動することで、天板1071を長手方向、上下方向、場合によっては左右方向へ移動させる。   The couch control circuit 109 is a circuit that controls the couch 107. By driving the couch 107 according to an instruction from the operator via the interface 125, the couch 1071 is moved in the longitudinal direction, the up-down direction, and in some cases, the left-right direction. Let

送信回路113は、撮像制御回路121の制御により、ラーモア周波数などに対応する高周波磁場(以下、RF(Radio Frequency)パルスと呼ぶ)を発生させるための高周波パルスを送信コイル115に供給する。   The transmission circuit 113 supplies the transmission coil 115 with a high-frequency pulse for generating a high-frequency magnetic field (hereinafter referred to as an RF (Radio Frequency) pulse) corresponding to the Larmor frequency or the like under the control of the imaging control circuit 121.

送信コイル115は、傾斜磁場コイル103の内側に配置されたRFコイルである。送信コイル115は、送信回路113から高周波パルスの供給を受けて、RFパルスを発生する。送信コイルは、例えば、全身用コイル(以下、WB(whole body)コイルと呼ぶ)である。WBコイルは、送受信コイルとして使用されてもよい。   The transmission coil 115 is an RF coil disposed inside the gradient magnetic field coil 103. The transmission coil 115 is supplied with a high frequency pulse from the transmission circuit 113 and generates an RF pulse. The transmission coil is, for example, a whole-body coil (hereinafter referred to as a WB (whole body) coil). The WB coil may be used as a transmission / reception coil.

受信コイル装置117は、受信コイル1171と、バラン(balun:balance to unbalance transformer(平衡−不平衡変換器))およびデカップリングスイッチなどの内部回路と、一端において受信コイル1171に接続されたケーブル1173と、ケーブル1173の他端に設けられたコネクタ1175とを有する。受信コイル装置117は、RFパルスによって被検体Pから放射されたMR信号を受信する。受信コイル装置117は、受信されたMR信号を、ケーブル1173およびコネクタ1175を介して受信回路119へ出力する。なお、受信コイル装置117は、不図示の無線送信回路により、受信されたMR信号を無線で受信回路119に送信してもよい。このとき、受信コイル装置117におけるケーブル1173およびコネクタ1175は不要となる。   The receiving coil device 117 includes a receiving coil 1171, internal circuits such as a balun (balance to unbalance transformer) and a decoupling switch, and a cable 1173 connected to the receiving coil 1171 at one end. And a connector 1175 provided at the other end of the cable 1173. The receiving coil device 117 receives the MR signal radiated from the subject P by the RF pulse. The reception coil device 117 outputs the received MR signal to the reception circuit 119 via the cable 1173 and the connector 1175. The reception coil device 117 may wirelessly transmit the received MR signal to the reception circuit 119 using a wireless transmission circuit (not shown). At this time, the cable 1173 and the connector 1175 in the receiving coil device 117 are not necessary.

受信コイル1171は、例えば、1以上、典型的には複数のコイルエレメントを有する。以下、説明を具体的にするために、コイルエレメントは4つであるものとする。4つのコイルエレメントは、例えば、4つの受信チャネルに対応する。4つのコイルエレメント各々は、ループコイルによって構成される。4つのコイルエレメント各々で受信されたMR信号は、4つのコイルエレメント各々に対して設定された順番(以下、出力順序と呼ぶ)で、受信回路119に出力される。   The reception coil 1171 has, for example, one or more, typically a plurality of coil elements. Hereinafter, for the sake of specific explanation, it is assumed that there are four coil elements. The four coil elements correspond to, for example, four reception channels. Each of the four coil elements is constituted by a loop coil. MR signals received by each of the four coil elements are output to the receiving circuit 119 in the order set for each of the four coil elements (hereinafter referred to as the output order).

なお、図1において送信コイル115と受信コイル装置117とは別個のRFコイルとして記載されているが、送信コイル115と受信コイル装置117とは、一体化された送受信コイルとして実施されてもよい。送受信コイルは、例えば、頭部コイルのような撮像部位に応じた局所的な送受信RFコイルである。   In FIG. 1, the transmission coil 115 and the reception coil device 117 are described as separate RF coils, but the transmission coil 115 and the reception coil device 117 may be implemented as an integrated transmission / reception coil. The transmission / reception coil is, for example, a local transmission / reception RF coil corresponding to an imaging region such as a head coil.

図2は、受信コイル装置117の一例を示す図である。図2に示すように、4つのコイルエレメント(ch1、ch2、ch3、ch4)各々には、バラン1177とデカップリングスイッチ1179とが設けられる。受信コイル1171において、コイルエレメントch3側とコイルエレメントch4側とに近接する一辺には、ケーブル1173が接続される。なお、受信コイル1171とケーブル1173との接続位置CPは、図2に示すような位置に限定されず、受信コイル1171に対して任意の位置に設定可能である。   FIG. 2 is a diagram illustrating an example of the receiving coil device 117. As shown in FIG. 2, each of the four coil elements (ch1, ch2, ch3, ch4) is provided with a balun 1177 and a decoupling switch 1179. In the receiving coil 1171, a cable 1173 is connected to one side close to the coil element ch3 side and the coil element ch4 side. Note that the connection position CP between the reception coil 1171 and the cable 1173 is not limited to the position shown in FIG. 2 and can be set to an arbitrary position with respect to the reception coil 1171.

4つのコイルエレメント(ch1、ch2、ch3、ch4)各々は、デカップリングスイッチ1179がOFF状態のとき、ループ構造を形成する。4つのコイルエレメント各々は、RFパルスの印加によって被検体Pから発生されたMR信号を受信する。   Each of the four coil elements (ch1, ch2, ch3, ch4) forms a loop structure when the decoupling switch 1179 is in the OFF state. Each of the four coil elements receives an MR signal generated from the subject P by applying an RF pulse.

バラン1177は、4つのコイルエレメント各々に加えて、ケーブル1173にも設けられる。バラン1177は、例えば、コンデンサとインダクタとを有する共振回路によって構成される。バラン1177は、RFパルスにより複数のコイルエレメント各々およびケーブル1173に流れる不平衡電流を共振回路により吸収し、4つのコイルエレメント各々およびケーブル1173における不平衡電流を抑制する。   A balun 1177 is provided on the cable 1173 in addition to each of the four coil elements. The balun 1177 is configured by a resonant circuit having a capacitor and an inductor, for example. The balun 1177 absorbs an unbalanced current flowing in each of the plurality of coil elements and the cable 1173 by the RF pulse by the resonance circuit, and suppresses the unbalanced current in each of the four coil elements and the cable 1173.

デカップリングスイッチ1179は、RFパルスが複数のコイルエレメント各々に印加されるとき、すなわちRF送信モードのときに、撮像制御回路121による制御のもとでONとなる。このとき、複数のコイルエレメント各々においてループ構造は切断され、複数のコイルエレメント各々における電気的結合は切り離される。また、デカップリングスイッチ1179は、MR信号を受信する受信モードのときに、撮像制御回路121による制御のもとでOFFとなる。このとき、MR信号の受信に用いられる複数のコイルエレメント各々は、ループ構造を形成する。   The decoupling switch 1179 is turned on under the control of the imaging control circuit 121 when an RF pulse is applied to each of the plurality of coil elements, that is, in the RF transmission mode. At this time, the loop structure is cut in each of the plurality of coil elements, and the electrical coupling in each of the plurality of coil elements is cut off. Further, the decoupling switch 1179 is turned off under the control of the imaging control circuit 121 in the reception mode for receiving the MR signal. At this time, each of the plurality of coil elements used for receiving the MR signal forms a loop structure.

受信回路119は、撮像制御回路121による制御のもとで、受信コイル装置117から出力されたMR信号に基づいて、デジタル化された複素数データであるデジタルのMR信号を生成する。具体的には、受信回路119は、受信コイル装置117から出力されたMR信号に対して各種信号処理を施した後、各種信号処理が施されたデータに対してアナログ/デジタル(A/D(Analog to Digital))変換を実行する。受信回路119は、A/D変換されたデータを標本化(サンプリング)することにより、デジタルのMR信号(以下、MRデータと呼ぶ)を生成する。受信回路119は、生成されたMRデータを、撮像制御回路121に出力する。   The receiving circuit 119 generates a digital MR signal that is digitized complex data based on the MR signal output from the receiving coil device 117 under the control of the imaging control circuit 121. Specifically, the receiving circuit 119 performs various signal processing on the MR signal output from the receiving coil device 117, and then performs analog / digital (A / D (A / D () on the data subjected to the various signal processing). Analog to Digital)) Perform the conversion. The receiving circuit 119 generates a digital MR signal (hereinafter referred to as MR data) by sampling the A / D converted data. The reception circuit 119 outputs the generated MR data to the imaging control circuit 121.

撮像制御回路121は、処理回路131から出力された撮像プロトコルに従って、傾斜磁場電源105、送信回路113および受信回路119などを制御し、被検体Pに対する撮像を行う。撮像プロトコルは、検査に応じた各種パルスシーケンスを有する。撮像プロトコルには、傾斜磁場電源105により傾斜磁場コイル103に供給される電流の大きさ、傾斜磁場電源105により電流が傾斜磁場コイル103に供給されるタイミング、送信回路113により送信コイル115に供給される高周波パルスの大きさ、送信回路113により送信コイル115に高周波パルスが供給されるタイミング、受信コイル1171によりMR信号が受信されるタイミング、デカップリングスイッチ1179のON/OFFのタイミングなどが予め設定されている。   The imaging control circuit 121 controls the gradient magnetic field power supply 105, the transmission circuit 113, the reception circuit 119, and the like according to the imaging protocol output from the processing circuit 131, and performs imaging on the subject P. The imaging protocol has various pulse sequences according to the examination. The imaging protocol includes the magnitude of the current supplied from the gradient magnetic field power source 105 to the gradient magnetic field coil 103, the timing at which the current is supplied from the gradient magnetic field power source 105 to the gradient magnetic field coil 103, and the transmission circuit 113 supplied to the transmission coil 115. The timing of the high frequency pulse to be transmitted, the timing at which the transmission circuit 113 supplies the high frequency pulse to the transmission coil 115, the timing at which the MR signal is received by the reception coil 1171, the ON / OFF timing of the decoupling switch 1179, etc. are preset. ing.

インタフェース125は、操作者からの各種指示や情報入力を受け付ける回路を有する。インタフェース125は、例えば、マウスなどのポインティングデバイス、あるいはキーボードなどの入力デバイスに関する回路を有する。なお、インタフェース125が有する回路は、マウス、キーボードなどの物理的な操作部品に関する回路に限定されない。例えば、インタフェース125は、本MRI装置1とは別体に設けられた外部の入力機器から入力操作に対応する電気信号を受け取り、受け取った電気信号を種々の回路へ出力するような電気信号の処理回路を有していてもよい。   The interface 125 includes a circuit that receives various instructions and information input from the operator. The interface 125 includes a circuit related to a pointing device such as a mouse or an input device such as a keyboard. The circuit included in the interface 125 is not limited to a circuit related to physical operation components such as a mouse and a keyboard. For example, the interface 125 receives an electrical signal corresponding to an input operation from an external input device provided separately from the MRI apparatus 1, and processes the electrical signal so as to output the received electrical signal to various circuits. You may have a circuit.

ディスプレイ127は、処理回路131におけるシステム制御機能1310による制御のもとで、画像情報生成機能1311により生成された各種MR画像、撮像および画像処理に関する各種情報などを表示する。ディスプレイ127は、例えば、CRTディスプレイや液晶ディスプレイ、有機ELディスプレイ、LEDディスプレイ、プラズマディスプレイ、または当技術分野で知られている他の任意のディスプレイ、モニタなどの表示デバイスである。   The display 127 displays various MR images generated by the image information generation function 1311 and various types of information related to imaging and image processing under the control of the system control function 1310 in the processing circuit 131. The display 127 is, for example, a display device such as a CRT display, liquid crystal display, organic EL display, LED display, plasma display, or any other display or monitor known in the art.

記憶装置129は、画像情報生成機能1311を介してk空間に充填されたMRデータ、画像情報生成機能1311により生成された画像データなどを記憶する。記憶装置129は、各種撮像プロトコル、撮像プロトコルを規定する複数の撮像パラメータを含む撮像条件などを記憶する。記憶装置129は、処理回路131で実行される各種機能に対応するプログラムを記憶する。記憶装置129は、例えば、RAM(Random Access Memory)、フラッシュメモリなどの半導体メモリ素子、ハードディスクドライブ(hard disk drive)、ソリッドステートドライブ(solid state drive)、光ディスクなどである。また、記憶装置129は、CD−ROMドライブやDVDドライブ、フラッシュメモリなどの可搬性記憶媒体との間で種々の情報を読み書きする駆動装置などであってもよい。   The storage device 129 stores MR data filled in the k space via the image information generation function 1311, image data generated by the image information generation function 1311, and the like. The storage device 129 stores various imaging protocols, imaging conditions including a plurality of imaging parameters that define the imaging protocols, and the like. The storage device 129 stores programs corresponding to various functions executed by the processing circuit 131. The storage device 129 is, for example, a RAM (Random Access Memory), a semiconductor memory device such as a flash memory, a hard disk drive, a solid state drive, or an optical disk. The storage device 129 may be a drive device that reads / writes various information from / to a portable storage medium such as a CD-ROM drive, a DVD drive, or a flash memory.

処理回路131は、ハードウェア資源として、図示していないプロセッサ、ROM(Read−Only Memory)やRAMなどのメモリなどを有し、本MRI装置1を制御する。処理回路131は、システム制御機能1310、画像情報生成機能1311、位置情報生成機能1313、パルス強度調整機能1315、計算機能1317を有する。システム制御機能1310、画像情報生成機能1311、位置情報生成機能1313、パルス強度調整機能1315、計算機能1317にて行われる各種機能は、コンピュータによって実行可能なプログラムの形態で記憶装置129へ記憶されている。処理回路131は、これら各種機能に対応するプログラムを記憶装置129から読み出し、実行することで各プログラムに対応する機能を実現するプロセッサである。換言すると、各プログラムを読みだした状態の処理回路131は、図1の処理回路131内に示された複数の機能等を有することになる。   The processing circuit 131 includes, as hardware resources, a processor (not shown), a memory such as a ROM (Read-Only Memory), a RAM, and the like, and controls the MRI apparatus 1. The processing circuit 131 includes a system control function 1310, an image information generation function 1311, a position information generation function 1313, a pulse intensity adjustment function 1315, and a calculation function 1317. Various functions performed by the system control function 1310, the image information generation function 1311, the position information generation function 1313, the pulse intensity adjustment function 1315, and the calculation function 1317 are stored in the storage device 129 in the form of a program executable by a computer. Yes. The processing circuit 131 is a processor that realizes a function corresponding to each program by reading a program corresponding to these various functions from the storage device 129 and executing the program. In other words, the processing circuit 131 in a state where each program is read has a plurality of functions and the like shown in the processing circuit 131 of FIG.

なお、図1においては単一の処理回路131にてこれら各種機能が実現されるものとして説明したが、複数の独立したプロセッサを組み合わせて処理回路131を構成し、各プロセッサがプログラムを実行することにより機能を実現するものとしても構わない。換言すると、上述のそれぞれの機能がプログラムとして構成され、1つの処理回路が各プログラムを実行する場合であってもよいし、特定の機能が専用の独立したプログラム実行回路に実装される場合であってもよい。   In FIG. 1, it has been described that these various functions are realized by a single processing circuit 131. However, the processing circuit 131 is configured by combining a plurality of independent processors, and each processor executes a program. The function may be realized by the above. In other words, each function described above may be configured as a program, and one processing circuit may execute each program, or a specific function may be implemented in a dedicated independent program execution circuit. May be.

上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、CPU(Central Processing Unit)、GPU(Graphics Processing Unit)、特定用途向け集積回路(Application Specific Integrated Circuit:ASIC)、或いは、プログラマブル論理デバイス(例えば、単純プログラマブル論理デバイス(Simple Programmable Logic Device:SPLD)、複合プログラマブル論理デバイス(Complex Programmable Logic Device:CPLD)、およびフィールドプログラマブルゲートアレイ(Field Programmable Gate Array:FPGA))などの回路を意味する。   The term “processor” used in the above description is, for example, a CPU (Central Processing Unit), a GPU (Graphics Processing Unit), an application-specific integrated circuit (ASIC), or a programmable logic device (for example). Simple Programmable Logic Device (SPLD), Complex Programmable Logic Device (Complex Programmable Logic Device: CPLD), and Field Programmable Gate Array (FPGA), etc. It means circuit.

プロセッサは、記憶装置129に保存されたプログラムを読み出し実行することで各種機能を実現する。なお、記憶装置129にプログラムを保存する代わりに、プロセッサの回路内にプログラムを直接組み込むよう構成しても構わない。この場合、プロセッサは回路内に組み込まれたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、寝台制御回路109、送信回路113、受信回路119、撮像制御回路121なども同様に、上記プロセッサなどの電子回路により構成される。また、処理回路131が有するシステム制御機能1310、画像情報生成機能1311、位置情報生成機能1313、パルス強度調整機能1315、計算機能1317は、それぞれシステム制御部、画像情報生成部、位置情報生成部、パルス強度調整部、計算部の一例である。   The processor implements various functions by reading and executing a program stored in the storage device 129. Instead of storing the program in the storage device 129, the program may be directly incorporated into the processor circuit. In this case, the processor realizes the function by reading and executing the program incorporated in the circuit. Note that the bed control circuit 109, the transmission circuit 113, the reception circuit 119, the imaging control circuit 121, and the like are similarly configured by electronic circuits such as the processor. Further, the system control function 1310, the image information generation function 1311, the position information generation function 1313, the pulse intensity adjustment function 1315, and the calculation function 1317 included in the processing circuit 131 are respectively a system control unit, an image information generation unit, a position information generation unit, It is an example of a pulse intensity adjustment part and a calculation part.

処理回路131は、システム制御機能1310により、MRI装置1における各種回路等を制御する。具体的には、処理回路131は、記憶装置129に記憶されているシステム制御プログラムを読み出してメモリ上に展開し、展開されたシステム制御プログラムに従って本MRI装置1の各回路を制御する。例えば、処理回路131は、システム制御機能1310により、インタフェース125を介して操作者から入力される撮像条件に基づいて、撮像プロトコルを記憶装置129から読み出す。なお、処理回路131は、撮像条件に基づいて、撮像プロトコルを生成してもよい。処理回路131は、撮像プロトコルを撮像制御回路121に送信し、被検体Pに対する各種撮像を制御する。   The processing circuit 131 controls various circuits in the MRI apparatus 1 by the system control function 1310. Specifically, the processing circuit 131 reads out the system control program stored in the storage device 129, expands it on the memory, and controls each circuit of the MRI apparatus 1 according to the expanded system control program. For example, the processing circuit 131 reads the imaging protocol from the storage device 129 based on the imaging conditions input from the operator via the interface 125 by the system control function 1310. Note that the processing circuit 131 may generate an imaging protocol based on the imaging conditions. The processing circuit 131 transmits an imaging protocol to the imaging control circuit 121 and controls various imaging for the subject P.

処理回路131は、画像情報生成機能1311により、MRデータをk空間に充填する。処理回路131は、k空間に充填されたMRデータに対して例えばフーリエ変換を行うことにより、MR画像を生成する。画像情報生成機能1311、位置情報生成機能1313、パルス強度調整機能1315、計算機能1317については、後述の動作において説明する。   The processing circuit 131 fills the MR data in the k space by the image information generation function 1311. The processing circuit 131 generates an MR image by performing, for example, Fourier transform on the MR data filled in the k space. The image information generation function 1311, the position information generation function 1313, the pulse intensity adjustment function 1315, and the calculation function 1317 will be described later in the operation.

以上が、本実施形態におけるMRI装置1の全体構成についての概略的な説明である。このような構成に加えて、本実施形態におけるMRI装置1は、ボア111内における受信コイル1171の位置に応じて、RFパルスの照射強度を調整することができるように構成されている。   The above is a schematic description of the overall configuration of the MRI apparatus 1 in the present embodiment. In addition to such a configuration, the MRI apparatus 1 in the present embodiment is configured to be able to adjust the irradiation intensity of the RF pulse according to the position of the receiving coil 1171 in the bore 111.

図3は、本実施形態において、ボア111内に挿入された被検体PをZ軸方向から見た図である。また、図4は、本実施形態において、ボア111内に挿入された被検体PをX軸方向から見た図である。図5は、ボア111内に挿入された被検体PをZ軸方向から見た比較例の一例を示す図である。また、図6は、ボア111内に挿入された被検体PをX軸方向から見た比較例の一例を示す図である。なお、図3乃至図6において、内部回路は不図示としている。   FIG. 3 is a diagram of the subject P inserted into the bore 111 as viewed from the Z-axis direction in the present embodiment. FIG. 4 is a view of the subject P inserted into the bore 111 as viewed from the X-axis direction in the present embodiment. FIG. 5 is a diagram illustrating an example of a comparative example in which the subject P inserted into the bore 111 is viewed from the Z-axis direction. FIG. 6 is a diagram illustrating an example of a comparative example in which the subject P inserted into the bore 111 is viewed from the X-axis direction. 3 to 6, the internal circuit is not shown.

受信コイル装置117は、送信コイル115に近づいている。図3および図4に示すような場合、受信コイル装置117と送信コイル115との距離intは、図5および6における受信コイル装置117と送信コイル115との距離より短い。一方、図5および図6に示すような場合、受信コイル装置117は、送信コイル115により印加されたRFパルスによる影響を受けにくい。これらのことから、図3および図4に示すような状態で受信コイル装置117が被検体Pに設けられた場合、受信コイル装置117に対するRFパルスの影響は、図5および図6に示すような場合に比べて強くなる。このため、図3および図4に示す受信コイル装置117における内部回路の発熱は、図5および図6に比べて大きくなる。   The reception coil device 117 is approaching the transmission coil 115. 3 and 4, the distance int between the reception coil device 117 and the transmission coil 115 is shorter than the distance between the reception coil device 117 and the transmission coil 115 in FIGS. On the other hand, in the case shown in FIGS. 5 and 6, the reception coil device 117 is not easily affected by the RF pulse applied by the transmission coil 115. For these reasons, when the receiving coil device 117 is provided on the subject P in the state shown in FIGS. 3 and 4, the influence of the RF pulse on the receiving coil device 117 is as shown in FIGS. It becomes stronger than the case. For this reason, the heat generation of the internal circuit in the receiving coil device 117 shown in FIGS. 3 and 4 is larger than that in FIGS. 5 and 6.

以下、本実施形態における動作について説明する。図7は、本実施形態において、RFパルスの照射強度の調整に関する処理(以下、パルス強度調整処理と呼ぶ)の手順の一例を示すフローチャートである。パルス強度調整処理は、図3乃至図6に示すように、被検体Pに対して受信コイル装置117が設置された状態で実行される。   The operation in this embodiment will be described below. FIG. 7 is a flowchart illustrating an example of a procedure of processing relating to adjustment of irradiation intensity of RF pulses (hereinafter referred to as pulse intensity adjustment processing) in the present embodiment. The pulse intensity adjustment processing is executed in a state where the receiving coil device 117 is installed on the subject P as shown in FIGS.

記憶装置129は、送信コイル115およびボア111を含む領域の座標系(以下、架台座標系と呼ぶ)において、ボア111の内壁の位置を座標として記憶する。記憶装置129は、パルス強度調整処理により用いられる許容マップを記憶する。許容マップは、例えば、Z軸方向に垂直なアキシャル断面においてボア111を含む領域における複数の位置、すなわち架台座標系における複数の座標に、複数の許容係数をそれぞれ割り当てたマップに相当する。複数の許容係数各々は、例えば、RFパルスの照射強度の量に対する、本スキャンにおいてRFパルスの照射強度が許容される許容量の割合に相当する。許容係数は、実験またはシミュレーションによる内部回路等の発熱の状況に応じて、撮像部位に対応する受信コイル装置ごとに予め設定される。なお、1から許容係数を差分した値は、最大許容量に対して照射強度が制限される割合を示している。   The storage device 129 stores the position of the inner wall of the bore 111 as coordinates in a coordinate system of an area including the transmission coil 115 and the bore 111 (hereinafter referred to as a pedestal coordinate system). The storage device 129 stores an allowable map used by the pulse intensity adjustment process. The tolerance map corresponds to, for example, a map in which a plurality of tolerance coefficients are assigned to a plurality of positions in an area including the bore 111 in the axial section perpendicular to the Z-axis direction, that is, a plurality of coordinates in the gantry coordinate system. Each of the plurality of allowable coefficients corresponds to, for example, the ratio of the allowable amount in which the irradiation intensity of the RF pulse is allowed in the main scan to the irradiation intensity amount of the RF pulse. The allowable coefficient is set in advance for each receiving coil device corresponding to the imaging region in accordance with the heat generation state of the internal circuit or the like by experiments or simulations. Note that the value obtained by subtracting the allowable coefficient from 1 indicates the rate at which the irradiation intensity is limited with respect to the maximum allowable amount.

図8は、許容マップの一例を示す図である。図8において、送信コイル115は、ボア内壁の外側に位置する。図8において、ボア111の中心位置と中心位置の近傍領域とを含む領域における「1」は、RFパルスの照射強度の最大許容量を示している。図8に示すように、ボア内壁に近いほど許容係数の値は小さくなる。すなわち、ボア内壁に近いほど、RFパルスの最大許容量に対する照射強度の許容量の割合は小さくなる。換言すれば、ボア内壁に近いほど、RFパルスの最大許容量に対する照射強度の制限は大きくなる。   FIG. 8 is a diagram illustrating an example of an allowance map. In FIG. 8, the transmission coil 115 is located outside the bore inner wall. In FIG. 8, “1” in a region including the center position of the bore 111 and a region near the center position indicates the maximum allowable amount of irradiation intensity of the RF pulse. As shown in FIG. 8, the closer to the bore inner wall, the smaller the allowable coefficient value. That is, the closer to the bore inner wall, the smaller the ratio of the allowable amount of irradiation intensity to the maximum allowable amount of RF pulse. In other words, the closer to the bore inner wall, the greater the limit of irradiation intensity with respect to the maximum allowable amount of RF pulses.

(パルス強度調整処理)
(ステップSa1)
天板1071に載置された被検体Pに対して、受信コイル装置117が設置される。受信コイル装置117におけるケーブル1173の先端のコネクタ1175が天板1071におけるポート1073に接続される。図9は、天板1071と被検体Pと受信コイル装置117との位置関係の一例を示す図である。以下、図9に示すような位置関係のもとで、各種説明を行う。なお、図9に示す天板1071に対する被検体Pと受信コイル装置117との設置状況は、一例であり、図9における設置状況に限定されない。なお、図9において、内部回路は不図示としている。
(Pulse intensity adjustment processing)
(Step Sa1)
A receiving coil device 117 is installed for the subject P placed on the top plate 1071. The connector 1175 at the end of the cable 1173 in the receiving coil device 117 is connected to the port 1073 in the top plate 1071. FIG. 9 is a diagram illustrating an example of a positional relationship among the top plate 1071, the subject P, and the reception coil device 117. Hereinafter, various descriptions will be given based on the positional relationship shown in FIG. The installation situation of the subject P and the reception coil device 117 with respect to the top plate 1071 shown in FIG. 9 is an example, and is not limited to the installation situation in FIG. In FIG. 9, the internal circuit is not shown.

撮像制御回路121は、本スキャンの実行前に先立って、プリスキャンを実行することにより、MR信号を収集する。プリスキャンは、例えば、本スキャンに関する撮像領域が設定される位置決め画像を得るための位置決め撮像(ロケータ)、パラレルイメージングにおいて用いられる感度マップを得るための撮像等の事前撮像に相当する。また、プリスキャンは、2次元のマルチスライス撮像または3次元撮像など、被検体Pに対するボリューム撮像に関するスキャンである。なお、プリスキャンは、MR信号の収集を目的としているため、画質に依存せず短時間でMR信号を収集可能であれば、いずれの撮像方法であってもよい。撮像制御回路121は、コイルエレメント各々において収集されたMR信号に対して、コイルエレメントを弁別する情報を、出力順序を用いて付帯させる。   The imaging control circuit 121 collects MR signals by executing a pre-scan prior to the execution of the main scan. The pre-scan corresponds to pre-imaging such as positioning imaging (locator) for obtaining a positioning image in which an imaging region related to the main scan is set, and imaging for obtaining a sensitivity map used in parallel imaging. The pre-scan is a scan related to volume imaging on the subject P such as two-dimensional multi-slice imaging or three-dimensional imaging. Note that since prescan is intended to collect MR signals, any imaging method may be used as long as MR signals can be collected in a short time without depending on image quality. The imaging control circuit 121 attaches information for discriminating the coil elements to the MR signals collected in the respective coil elements using the output order.

(ステップSa2)
処理回路131は、画像情報生成機能1311により、収集されたMR信号に基づいて画像情報を生成(再構成)する。画像情報は、例えば、MR信号における複数の周波数成分各々に対応する信号強度を画素値として有する。複数の周波数成分各々は、X、Y、Z各軸の傾斜磁場における磁場強度に対応する。このため、MR信号における周波数成分は、架台座標系における位置に相当する。
(Step Sa2)
The processing circuit 131 uses the image information generation function 1311 to generate (reconstruct) image information based on the collected MR signals. The image information has, for example, a signal intensity corresponding to each of a plurality of frequency components in the MR signal as a pixel value. Each of the plurality of frequency components corresponds to the magnetic field strength in the gradient magnetic field of each axis of X, Y, and Z. Therefore, the frequency component in the MR signal corresponds to the position in the gantry coordinate system.

具体的には、処理回路131は、画像情報生成機能1311により、MR信号に基づいて、Z軸方向に垂直な複数のスライスに対応する複数の断面画像(以下、アキシャル像と呼ぶ)を生成する。処理回路131は、X、Y、Z各軸の傾斜磁場に基づいて、複数のアキシャル像における複数の画素値各々に対して架台座標系における座標を付帯させる。   Specifically, the processing circuit 131 uses the image information generation function 1311 to generate a plurality of cross-sectional images (hereinafter referred to as axial images) corresponding to a plurality of slices perpendicular to the Z-axis direction based on the MR signal. . The processing circuit 131 attaches coordinates in the gantry coordinate system to each of a plurality of pixel values in a plurality of axial images based on the gradient magnetic fields of the X, Y, and Z axes.

図10は、アキシャル像AxIの一例を示す図である。図10に示す被検体Pのアキシャル断面AxPには、コイルエレメントch1またはコイルエレメントch3に関するMR信号の強度の分布(以下、信号分布と呼ぶ)sid13と、コイルエレメントch2またはコイルエレメントch4に関する信号分布sid24とが示されている。   FIG. 10 is a diagram illustrating an example of the axial image AxI. In the axial section AxP of the subject P shown in FIG. 10, the MR signal intensity distribution (hereinafter referred to as signal distribution) sid13 related to the coil element ch1 or the coil element ch3, and the signal distribution sid24 related to the coil element ch2 or the coil element ch4. Is shown.

図11は、サジタル像SgIの一例を示す図である。図11に示す被検体Pのサジタル断面SgPには、コイルエレメントch1またはコイルエレメントch2に関する信号分布sid12と、コイルエレメントch3またはコイルエレメントch4に関する信号分布sid34とが示されている。   FIG. 11 is a diagram illustrating an example of the sagittal image SgI. A sagittal cross section SgP of the subject P shown in FIG. 11 shows a signal distribution sid12 related to the coil element ch1 or the coil element ch2 and a signal distribution sid34 related to the coil element ch3 or the coil element ch4.

図10および図11に示すように、複数のコイルエレメント各々に関する信号分布は、架台座標系において分離可能となる。このため、処理回路131は、画像情報生成機能1311により、複数のアキシャル断面各々において、複数のコイルエレメントに関する複数の信号分布各々に、画素の位置に応じて架台座標系における座標を付帯させる。   As shown in FIGS. 10 and 11, the signal distribution relating to each of the plurality of coil elements can be separated in the gantry coordinate system. For this reason, the processing circuit 131 attaches coordinates in the gantry coordinate system to each of the plurality of signal distributions related to the plurality of coil elements in each of the plurality of axial sections by the image information generation function 1311 according to the position of the pixel.

(ステップSa3)
処理回路131は、位置情報生成機能1313により、被検体Pから受信されたMR信号に基づいて、送信コイル115と受信コイル1171との間の位置関係に関する位置情報を生成する。換言すれば、処理回路131は、被検体Pから受信されたMR信号における複数の周波数成分各々に対応する信号強度に基づいて、ボア111内における受信コイル1171の位置情報を生成する。すなわち、処理回路131は、画像情報に基づいて、ボア111内における複数のコイルエレメントの位置情報を生成する。換言すれば、処理回路131は、MR信号を再構成して得られる画像に基づいて、位置情報を生成する。以下、位置情報の生成について具体的に説明する。
(Step Sa3)
The processing circuit 131 generates position information related to the positional relationship between the transmission coil 115 and the reception coil 1171 based on the MR signal received from the subject P by the position information generation function 1313. In other words, the processing circuit 131 generates position information of the receiving coil 1171 in the bore 111 based on the signal strength corresponding to each of a plurality of frequency components in the MR signal received from the subject P. That is, the processing circuit 131 generates position information of a plurality of coil elements in the bore 111 based on the image information. In other words, the processing circuit 131 generates position information based on the image obtained by reconstructing the MR signal. Hereinafter, the generation of position information will be specifically described.

処理回路131は、位置情報生成機能1313により、画像情報において、信号分布におけるピーク値から当該ピーク値の7割乃至8割の値までの値を含む領域(以下、高強度領域と呼ぶ)を特定する。すなわち、処理回路131は、信号分布におけるピーク値を用いて、複数のアキシャル像各々における信号分布に対して高強度領域を特定する。高強度領域には、ステップSa2における処理により、画素の位置に応じて架台座標系における複数の座標が付帯されている。   The processing circuit 131 uses the position information generation function 1313 to identify a region (hereinafter referred to as a high intensity region) that includes a value from the peak value in the signal distribution to 70% to 80% of the peak value in the image information. To do. That is, the processing circuit 131 specifies a high intensity region for the signal distribution in each of the plurality of axial images using the peak value in the signal distribution. In the high intensity region, a plurality of coordinates in the gantry coordinate system are attached according to the position of the pixel by the processing in step Sa2.

図12は、図10におけるアキシャル像AxIに対して特定された高強度領域の一例を示す図である。図12に示すアキシャル断面AxPには、コイルエレメントch1またはコイルエレメントch3に関する高強度領域HIR13と、コイルエレメントch2またはコイルエレメントch4に関する高強度領域HIR24とが示されている。   FIG. 12 is a diagram illustrating an example of a high-intensity region specified for the axial image AxI in FIG. The axial section AxP shown in FIG. 12 shows a high strength region HIR13 related to the coil element ch1 or the coil element ch3 and a high strength region HIR24 related to the coil element ch2 or the coil element ch4.

図13は、図11におけるサジタル像SgIにおける高強度領域の一例を示す図である。図13に示すサジタル断面SgPには、コイルエレメントch3またはコイルエレメントch4に関する高強度領域HIR34と、コイルエレメントch1またはコイルエレメントch2に関する高強度領域HIR12とが示されている。   FIG. 13 is a diagram illustrating an example of a high intensity region in the sagittal image SgI in FIG. The sagittal section SgP shown in FIG. 13 shows a high strength region HIR34 related to the coil element ch3 or the coil element ch4 and a high strength region HIR12 related to the coil element ch1 or the coil element ch2.

図3、図4、図9、図12、および図13によれば、受信コイル1171すなわち複数のコイルエレメントは、高強度領域の近傍に位置している。このため、高強度領域は受信コイル1171の位置すなわち複数のコイルエレメントの位置に相当するものとして説明する。   According to FIGS. 3, 4, 9, 12, and 13, the receiving coil 1171, that is, the plurality of coil elements are located in the vicinity of the high-strength region. Therefore, the description will be made assuming that the high-strength region corresponds to the position of the receiving coil 1171, that is, the position of a plurality of coil elements.

処理回路131は、位置情報生成機能1313により、複数のアキシャル像各々において、高強度領域に含まれる複数の画素にそれぞれ対応する複数の座標を、架台座標系における受信コイル1171の位置情報すなわち複数のコイルエレメント各々の位置情報として生成する。なお、処理回路131は、高強度領域を特定することなく、信号分布を受信コイル1171の位置に相当するものとして、位置情報を生成してもよい。このとき、処理回路131は、図9に示すように、複数のアキシャル像各々において、信号分布に含まれる複数の画素にそれぞれ対応する複数の座標を、受信コイル1171の位置情報として生成する。   The processing circuit 131 uses the position information generation function 1313 to obtain a plurality of coordinates corresponding to a plurality of pixels included in the high-intensity region in each of the plurality of axial images. It is generated as position information for each coil element. Note that the processing circuit 131 may generate position information assuming that the signal distribution corresponds to the position of the reception coil 1171 without specifying a high-intensity region. At this time, as illustrated in FIG. 9, the processing circuit 131 generates, as position information of the receiving coil 1171, a plurality of coordinates corresponding to a plurality of pixels included in the signal distribution in each of the plurality of axial images.

(ステップSa4)
処理回路131は、パルス強度調整機能1315により、位置情報を用いて、画像情報における受信コイル1171に関する領域を、許容マップに当てはめる。具体的には、処理回路131は、複数のアキシャル断面各々において、高強度領域に付帯された複数の座標を用いて、高強度領域を許容マップに当てはめる。すなわち、処理回路131は、許容マップへの高強度領域の重畳を、複数のアキシャル断面の総数に亘って位置情報を用いて実行する。
(Step Sa4)
Using the position information, the processing circuit 131 applies the region related to the reception coil 1171 in the image information to the tolerance map by using the pulse intensity adjustment function 1315. Specifically, the processing circuit 131 assigns the high-intensity region to the allowable map using a plurality of coordinates attached to the high-intensity region in each of the plurality of axial cross sections. That is, the processing circuit 131 performs superimposition of the high-intensity region on the tolerance map using the position information over the total number of the plurality of axial cross sections.

図14は、高強度領域HIR13に関する位置情報と、高強度領域HIR24に関する位置情報とを用いて、高強度領域HIR13と高強度領域HIR24とを許容マップに当てはめた一例を示す図である。高強度領域HIR13と高強度領域HIR24とに内包される領域における複数の数値は、高強度領域HIR13における複数の許容係数と、高強度領域HIR24における複数の許容係数とを示している。   FIG. 14 is a diagram illustrating an example in which the high-intensity region HIR13 and the high-intensity region HIR24 are applied to the tolerance map using the position information regarding the high-intensity region HIR13 and the position information regarding the high-intensity region HIR24. A plurality of numerical values in a region included in the high-intensity region HIR13 and the high-intensity region HIR24 indicate a plurality of tolerance coefficients in the high-intensity region HIR13 and a plurality of tolerance coefficients in the high-intensity region HIR24.

なお、処理回路131は、パルス強度調整機能1315により、複数のアキシャル断面に亘る全ての高強度領域を、許容マップに重畳させてもよい。このとき、図14における高強度領域HIR13はコイルエレメントch1およびコイルエレメントch3に関する全ての高強度領域を統合した領域となり、高強度領域HIR24はコイルエレメントch2およびコイルエレメントch4に関する全ての高強度領域を統合した領域となる。また、処理回路131は、高強度領域の代わりに、信号分布を許容マップに当てはめてもよい。   Note that the processing circuit 131 may superimpose all high-intensity regions over a plurality of axial sections on the tolerance map by the pulse intensity adjustment function 1315. At this time, the high strength region HIR13 in FIG. 14 is a region where all the high strength regions related to the coil element ch1 and the coil element ch3 are integrated, and the high strength region HIR24 is a region where all the high strength regions related to the coil element ch2 and the coil element ch4 are integrated. It becomes the area. Further, the processing circuit 131 may apply the signal distribution to the tolerance map instead of the high intensity region.

(ステップSa5)
処理回路131は、パルス強度調整機能1315により、受信コイル1171に関する領域が当てはめられた許容マップ(以下、領域重畳マップと呼ぶ)において、受信コイル1171に関する領域に含まれる複数の許容係数のうち最小の許容係数を特定する。具体的には、処理回路131は、複数のアキシャル断面にそれぞれ対応する複数の領域重畳マップにおいて、複数の高強度領域に含まれる複数の許容係数のうち最小の許容係数を特定する。
(Step Sa5)
The processing circuit 131 is the smallest of a plurality of allowable coefficients included in the region related to the receiving coil 1171 in the allowable map (hereinafter referred to as a region superposition map) in which the region related to the receiving coil 1171 is applied by the pulse intensity adjustment function 1315. Specify the tolerance factor. Specifically, the processing circuit 131 specifies the minimum allowable coefficient among the plurality of allowable coefficients included in the plurality of high-intensity areas in the plurality of area superimposition maps respectively corresponding to the plurality of axial cross sections.

なお、複数のアキシャル断面に亘る全ての高強度領域が許容マップに当てはめられた場合、処理回路131は、この許容マップにおける高強度領域に含まれる複数の許容係数のうち最小の許容係数を特定する。例えば、複数のアキシャル断面に亘る全ての高強度領域を許容マップに当てはめた一例が図14である場合、処理回路131は、0.5の許容係数を特定する。なお、特定された許容係数が「1」である場合、本パルス強度調整処理は終了する。   When all the high-intensity areas over a plurality of axial sections are applied to the tolerance map, the processing circuit 131 specifies the minimum tolerance coefficient among the plurality of tolerance coefficients included in the high-intensity area in the tolerance map. . For example, when FIG. 14 shows an example in which all high-intensity regions over a plurality of axial cross sections are applied to the tolerance map, the processing circuit 131 specifies a tolerance coefficient of 0.5. If the specified allowable coefficient is “1”, the pulse intensity adjustment process ends.

(ステップSa6)
処理回路131は、パルス強度調整機能1315により、特定された許容係数を用いて、本スキャンに関するRFパルスの照射強度を調整する。具体的には、処理回路131は、RFパルスの照射強度の最大許容量に、特定された許容係数を乗じることで、本スキャンに関するRFパルスの照射強度を決定する。これにより、RFパルスの照射強度の許容量は、低減される。
(Step Sa6)
The processing circuit 131 adjusts the irradiation intensity of the RF pulse related to the main scan using the specified tolerance coefficient by the pulse intensity adjustment function 1315. Specifically, the processing circuit 131 determines the irradiation intensity of the RF pulse related to the main scan by multiplying the maximum allowable amount of irradiation intensity of the RF pulse by the specified allowable coefficient. Thereby, the allowable amount of irradiation intensity of the RF pulse is reduced.

処理回路131は、パルス強度調整機能1315により、調整された照射強度を用いて、インタフェース125等を介して操作者等により予め設定された撮像条件を変更する。具体的には、処理回路131は、照射強度の調整に応じて、撮像条件における撮像パラメータを変更する。変更される撮像パラメータは、RFパルスの照射強度に関連するパラメータであって、例えば、繰り返し時間(TR:repetition time)、エコートレインレングス(ETL:echo train length)、再収束RFパルスのフリップ角(refocus frip angle)、脂肪抑制パルスの強度、DE(Driven Equilibrium)パルスの強度、MTC(magnetization transfer contrast)パルスの強度などである。処理回路131は、撮像パラメータの変更により、撮像条件を変更する。   The processing circuit 131 changes imaging conditions preset by an operator or the like via the interface 125 or the like using the irradiation intensity adjusted by the pulse intensity adjustment function 1315. Specifically, the processing circuit 131 changes the imaging parameters in the imaging conditions according to the adjustment of the irradiation intensity. The imaging parameters to be changed are parameters related to the irradiation intensity of the RF pulse. For example, the repetition time (TR: repetition time), the echo train length (ETL), the flip angle of the refocusing RF pulse ( For example, the intensity of the feedback fringe angle, the intensity of the fat suppression pulse, the intensity of the DE (Driven Equilibrium) pulse, the intensity of the MTC (Magnetization Transfer Contrast) pulse. The processing circuit 131 changes the imaging condition by changing the imaging parameter.

ステップSa4乃至ステップSa6によれは、処理回路131は、パルス強度調整機能1315により、位置情報に応じて、被検体Pに照射されるRFパルスの照射強度を調整する。例えば、処理回路131は、送信コイル115と受信コイル1171との間の距離が小さくなるにつれて照射強度を下げるように、照射強度を調整する。   In step Sa4 to step Sa6, the processing circuit 131 adjusts the irradiation intensity of the RF pulse irradiated to the subject P according to the position information by the pulse intensity adjustment function 1315. For example, the processing circuit 131 adjusts the irradiation intensity so that the irradiation intensity decreases as the distance between the transmission coil 115 and the reception coil 1171 decreases.

(ステップSa7)
処理回路131は、計算機能1317により、調整された照射強度に伴う撮像条件の変更に基づいて、撮像時間の延長時間を計算する。具体的には、処理回路131は、照射強度の調整に応じて変更された撮像条件と変更前の撮像条件とに基づいて、撮像時間の延長時間を計算する。例えば、処理回路131は、変更前の撮像条件を用いて本スキャンを実行した場合の撮像時間(以下、変更前時間と呼ぶ)を計算する。次いで、処理回路131は、変更後の撮像条件を用いて本スキャンを実行した場合の撮像時間(以下、変更後時間と呼ぶ)を計算する。処理回路131は、変更後時間から変更前時間を差分することにより、延長時間を計算する。
(Step Sa7)
The processing circuit 131 uses the calculation function 1317 to calculate an extension time of the imaging time based on the change of the imaging condition according to the adjusted irradiation intensity. Specifically, the processing circuit 131 calculates the extended time of the imaging time based on the imaging condition changed according to the adjustment of the irradiation intensity and the imaging condition before the change. For example, the processing circuit 131 calculates the imaging time when the main scan is executed using the imaging conditions before the change (hereinafter referred to as the pre-change time). Next, the processing circuit 131 calculates an imaging time (hereinafter referred to as a changed time) when the main scan is executed using the changed imaging condition. The processing circuit 131 calculates the extension time by subtracting the pre-change time from the post-change time.

(ステップSa8)
処理回路131は、パルス強度調整機能1315により、照射強度が受信コイル1171の位置すなわちコイルエレメントの位置に応じて制限されていることを、メッセージとして、ディスプレイ127に出力する。ディスプレイ127は、処理回路131から出力されたメッセージを表示する。処理回路131は、計算された延長時間をディスプレイに出力する。ディスプレイ127は、上記メッセージを、延長時間とともに表示する。
(Step Sa8)
The processing circuit 131 outputs a message to the display 127 that the irradiation intensity is limited according to the position of the receiving coil 1171, that is, the position of the coil element, by the pulse intensity adjustment function 1315. The display 127 displays the message output from the processing circuit 131. The processing circuit 131 outputs the calculated extension time to the display. The display 127 displays the message together with the extended time.

なお、処理回路131は、パルス強度調整機能1315により、変更前後の撮像条件、変更前後の撮像パラメータ、高強度領域を許容マップに当てはめた画像などを、ディスプレイ127に出力してもよい。このとき、ディスプレイ127は、変更前後の撮像条件、変更前後の撮像パラメータ、高強度領域を許容マップに当てはめた画像などを、上記メッセージおよび延長時間とともに表示する。   Note that the processing circuit 131 may output, to the display 127, imaging conditions before and after the change, imaging parameters before and after the change, an image in which the high intensity region is applied to the allowable map, and the like by the pulse intensity adjustment function 1315. At this time, the display 127 displays the imaging conditions before and after the change, the imaging parameters before and after the change, the image in which the high-intensity area is applied to the allowable map, and the like together with the message and the extension time.

本ステップの後、インタフェース125を介して本スキャンの開始指示が入力されると、処理回路131は、システム制御機能1310により、変更後の撮像条件を撮像制御回路121に出力する。撮像制御回路121は、変更後の撮像条件に従って、本スキャンを実行する。   When a main scan start instruction is input via the interface 125 after this step, the processing circuit 131 outputs the changed imaging condition to the imaging control circuit 121 by the system control function 1310. The imaging control circuit 121 executes the main scan according to the changed imaging condition.

以上に述べた構成によれば、以下に示す効果を得ることができる。
本実施形態におけるMRI装置1によれば、被検体Pから受信されたMR信号における複数の周波数成分各々に対応する信号強度に基づいて、ボア111内における受信コイル1171の位置情報を生成し、位置情報に基づいて被検体Pに照射されるRFパルスの照射強度を調整することができる。
According to the configuration described above, the following effects can be obtained.
According to the MRI apparatus 1 in the present embodiment, the position information of the receiving coil 1171 in the bore 111 is generated based on the signal intensity corresponding to each of a plurality of frequency components in the MR signal received from the subject P, and the position The irradiation intensity of the RF pulse irradiated to the subject P can be adjusted based on the information.

すなわち、本MRI装置1によれば、被検体Pから受信されたMR信号に基づいて、送信コイル115と受信コイル1171との間の位置関係に関する位置情報を生成し、位置情報に応じて、被検体Pに照射されるRFパルスの照射強度を調整することができる。また、本MRI装置1によれば、上記位置関係として、送信コイル115と受信コイル1171との間の距離を用いることができる。また、本MRI装置1によれば、MR信号を再構成して得られる画像に基づいて、位置情報を生成することができる。これらにより、本MRI装置1によれば、送信コイル115と受信コイル1171との間の距離が近づくにつれて照射強度を下げるように照射強度を調整することができる。   That is, according to the MRI apparatus 1, position information related to the positional relationship between the transmission coil 115 and the reception coil 1171 is generated based on the MR signal received from the subject P, and the object is detected according to the position information. The irradiation intensity of the RF pulse applied to the specimen P can be adjusted. Further, according to the MRI apparatus 1, the distance between the transmission coil 115 and the reception coil 1171 can be used as the positional relationship. Further, according to the MRI apparatus 1, position information can be generated based on an image obtained by reconstructing an MR signal. Thus, according to the present MRI apparatus 1, it is possible to adjust the irradiation intensity so that the irradiation intensity decreases as the distance between the transmission coil 115 and the reception coil 1171 approaches.

より詳細には、本MRI装置によれば、MR信号に基づいて信号強度に対応する画素値を有する画像情報を生成し、ボア111を含む領域に関する座標系と画像情報とを用いて受信コイル1171の位置に関する複数の座標を位置情報として生成し、複数の座標を用いて、照射強度の許容の程度を示す複数の許容係数を座標系における複数の座標にそれぞれ対応付けた許容マップに、受信コイル1171に関する領域を当てはめ、受信コイル1171に関する領域に含まれる複数の許容係数のうち最小の許容係数を用いて、照射強度を調整することができる。   More specifically, according to the present MRI apparatus, image information having a pixel value corresponding to the signal intensity is generated based on the MR signal, and the receiving coil 1171 is generated using the coordinate system and the image information regarding the region including the bore 111. A plurality of coordinates relating to the position of the position is generated as position information, and a plurality of tolerance coefficients indicating the degree of tolerance of the irradiation intensity are associated with the plurality of coordinates in the coordinate system using the plurality of coordinates. It is possible to adjust the irradiation intensity using the minimum allowable coefficient among a plurality of allowable coefficients included in the area related to the reception coil 1171 by fitting the area related to 1171.

また、本MRI装置1によれば、照射強度の調整により、照射強度が前記受信コイルの位置に応じて制限されていることを表示することができる。加えて、本MRI装置1によれば、照射強度の調整に応じて変更された撮像条件と変更前の撮像条件とに基づいて撮像時間の延長時間を計算し、計算された延長時間を表示することができる。   Further, according to the MRI apparatus 1, it is possible to display that the irradiation intensity is limited according to the position of the receiving coil by adjusting the irradiation intensity. In addition, according to the present MRI apparatus 1, the extension time of the imaging time is calculated based on the imaging condition changed according to the adjustment of the irradiation intensity and the imaging condition before the change, and the calculated extension time is displayed. be able to.

これらのことから、本MRI装置1によれば、ボア111内における受信コイル装置117の位置に応じて、RFパルスの照射強度を過度に制限することなくかつ受信コイル1171および内部回路等を破損させるリスクを低減させて、本スキャンにおいて最適な照射強度を決定することができる。   Therefore, according to the present MRI apparatus 1, the receiving coil 1171 and the internal circuit are damaged without excessively limiting the irradiation intensity of the RF pulse according to the position of the receiving coil apparatus 117 in the bore 111. It is possible to reduce the risk and determine the optimum irradiation intensity in the main scan.

すなわち、本MRI装置1によれば、ボア111内における受信コイル装置117の様々なセッティング状態を考慮することで、受信コイル1171および内部回路における発熱が小さいと予想される受信コイル1171の配置では高周波磁場に対するRFコイル装置1117の保護を過剰にかける必要がなくなるため、高周波磁場に対する制限を緩和させた撮像条件で本スキャンを実行することができる。   That is, according to the present MRI apparatus 1, by considering various setting states of the receiving coil apparatus 117 in the bore 111, the arrangement of the receiving coil 1171 and the receiving coil 1171 expected to generate small heat in the internal circuit is high frequency. Since it is not necessary to excessively protect the RF coil device 1117 against the magnetic field, the main scan can be executed under an imaging condition in which the restriction on the high-frequency magnetic field is relaxed.

また、本MRI装置1によれば、受信コイル1171および内部回路における発熱が大きいと予想される受信コイル1171の配置において、高周波磁場に対する制限を厳しくした撮像条件、すなわちRFパルスの照射強度を下げた状態での撮像条件で本スキャンを実行することができる。このため、操作者が受信コイル装置117のセッティング方法を間違えた場合であっても、受信コイル装置117を破損することなく、安全に本スキャンを実行することができる。   Further, according to the MRI apparatus 1, in the arrangement of the receiving coil 1171 and the receiving coil 1171 expected to generate a large amount of heat in the internal circuit, the imaging conditions in which the restriction on the high frequency magnetic field is severe, that is, the irradiation intensity of the RF pulse is lowered. The main scan can be executed under the imaging conditions in the state. For this reason, even if the operator makes a mistake in the setting method of the reception coil device 117, the main scan can be executed safely without damaging the reception coil device 117.

また、本MRI装置1によれば、受信コイル装置117が高周波磁場の影響を大きく受けるセッティングであることをメッセージで、操作者に提示することができる。加えて、本MRI装置1によれば、受信コイル装置117の配置により撮像条件の制限が厳しくなったことにより、撮像時間が延長することを、操作者に提示することができる。すなわち、ボア111内における受信コイル装置117の再セッティングの目安となるこれらの情報を操作者に提供することにより、操作者は撮像条件を編集するか受信コイル装置117を再セッティングするかの選択の判断が出来るようになり、検査のスループットを向上させることができる。   Further, according to the present MRI apparatus 1, it is possible to present to the operator by a message that the receiving coil apparatus 117 is a setting that is greatly affected by the high frequency magnetic field. In addition, according to the MRI apparatus 1, it is possible to present to the operator that the imaging time is extended due to the strict limitation of the imaging conditions due to the arrangement of the receiving coil device 117. That is, by providing the operator with such information as an indication of resetting the receiving coil device 117 in the bore 111, the operator can select whether to edit the imaging condition or reset the receiving coil device 117. Judgment can be made and the inspection throughput can be improved.

(第1の変形例)
本変形例と実施形態との相違は、画像情報を用いて送信コイル115から受信コイル1171までの距離を位置情報として計算し、送信コイル115からの複数の距離に対する複数の許容係数の対応表(ルックアップテーブル)と計算された距離とを用いて最小の許容係数を決定することにある。位置関係は、例えば、送信コイル115と受信コイル1171との間の距離である。
(First modification)
The difference between the present modification and the embodiment is that a distance from the transmission coil 115 to the reception coil 1171 is calculated as position information using image information, and a correspondence table of a plurality of allowable coefficients for a plurality of distances from the transmission coil 115 ( The minimum allowable coefficient is determined using a lookup table) and the calculated distance. The positional relationship is, for example, the distance between the transmission coil 115 and the reception coil 1171.

記憶装置129は、上記対応表を記憶する。記憶装置129は、架台座標系において、送信コイル115の位置を座標として記憶する。図15は、上記対応表の一例を示す図である。図15に示すように、受信コイルの位置が送信コイル115に近いほど、許容係数は小さくなる。すなわち、送信コイル115に近いほど、RFパルスの照射強度の最大許容量に対する制限は強くなる。図15に示す対応表は、図8に示す許容マップを送信コイルからの距離に対する許容係数の関係に変換したものに相当する。   The storage device 129 stores the correspondence table. The storage device 129 stores the position of the transmission coil 115 as coordinates in the gantry coordinate system. FIG. 15 is a diagram showing an example of the correspondence table. As shown in FIG. 15, the closer the position of the receiving coil is to the transmitting coil 115, the smaller the allowable coefficient. That is, the closer to the transmission coil 115, the stronger the limit on the maximum allowable amount of irradiation intensity of the RF pulse. The correspondence table shown in FIG. 15 corresponds to a table obtained by converting the tolerance map shown in FIG.

以下、本変形例におけるパルス強度調整処理について、上記実施形態におけるステップSa3乃至ステップSa5の処理と相違する内容について説明する。   Hereinafter, the difference in the pulse intensity adjustment processing in the present modification from the processing in steps Sa3 to Sa5 in the above embodiment will be described.

(パルス強度調整処理)
(ステップSa3)
処理回路131は、位置情報生成機能1313により、画像情報を用いて、送信コイル115から受信コイル1171までの距離を、画像情報における複数の画素各々に対して計算する。図3、図5に示すように、送信コイル115は、ボア内壁の外側において、ボア111を取り囲んで配置される。このため、処理回路131は、信号分布における複数の画素各々について、送信コイル115の座標からこれらの画素各々の座標までの最短距離を計算する。具体的には、処理回路131は、送信コイル115から画素までの2点間の距離を求める計算式を用いた最適化処理により、画素ごとに最短距離を計算する。
(Pulse intensity adjustment processing)
(Step Sa3)
The processing circuit 131 uses the position information generation function 1313 to calculate the distance from the transmission coil 115 to the reception coil 1171 for each of a plurality of pixels in the image information using the image information. As shown in FIGS. 3 and 5, the transmission coil 115 is disposed outside the bore inner wall so as to surround the bore 111. For this reason, the processing circuit 131 calculates, for each of a plurality of pixels in the signal distribution, the shortest distance from the coordinates of the transmission coil 115 to the coordinates of these pixels. Specifically, the processing circuit 131 calculates the shortest distance for each pixel by an optimization process using a calculation formula for obtaining a distance between two points from the transmission coil 115 to the pixel.

(ステップSa4)
処理回路131は、パルス強度調整機能1315により、計算された距離と対応表とを照合することにより、信号分布における複数の画素にそれぞれ対応する複数の許容係数を決定する。
(Step Sa4)
The processing circuit 131 uses the pulse intensity adjustment function 1315 to collate the calculated distance with the correspondence table, thereby determining a plurality of allowable coefficients corresponding to a plurality of pixels in the signal distribution.

(ステップSa5)
処理回路131は、パルス強度調整機能1315により、決定された複数の許容係数のうち最小の許容係数を特定する。特定された許容係数は、送信コイル115に最も近い画素に対応する。
(Step Sa5)
The processing circuit 131 uses the pulse intensity adjustment function 1315 to specify the minimum allowable coefficient among the plurality of determined allowable coefficients. The specified tolerance coefficient corresponds to the pixel closest to the transmission coil 115.

以上に述べた構成によれば、以下に示す効果を得ることができる。
本変形例におけるMRI装置1によれば、被検体Pから受信されたMR信号における複数の周波数成分各々に対応する信号強度を画素値として有する画像情報をMR信号に基づいて生成し、画像情報を用いて、被検体PにRFパルスを照射する送信コイル115から受信コイル1171までの距離を、ボア111内における受信コイル1171の位置情報として、画像情報における複数の画素各々に対して計算し、送信コイル115からの複数の距離に対する照射強度の許容の程度を示す複数の許容係数の対応表と計算された距離とを用いて、複数の画素にそれぞれ対応する複数の許容係数を決定し、決定された複数の許容係数のうち最小の許容係数を用いて照射強度を調整することができる。他の効果については、実施形態と同様なため、説明は省略する。
According to the configuration described above, the following effects can be obtained.
According to the MRI apparatus 1 in the present modification, image information having signal intensities corresponding to each of a plurality of frequency components in the MR signal received from the subject P as pixel values is generated based on the MR signal, and the image information is generated. The distance from the transmission coil 115 that irradiates the subject P with the RF pulse to the reception coil 1171 is calculated as position information of the reception coil 1171 in the bore 111 for each of a plurality of pixels in the image information and transmitted. A plurality of tolerance coefficients corresponding to a plurality of pixels are determined using a correspondence table of a plurality of tolerance coefficients indicating a degree of tolerance of irradiation intensity with respect to a plurality of distances from the coil 115 and the calculated distance. Further, the irradiation intensity can be adjusted by using the minimum allowable coefficient among the plurality of allowable coefficients. Since other effects are the same as those of the embodiment, description thereof is omitted.

(第2の変形例)
本変形例と実施形態との相違は、異なる3軸に関する3つの傾斜磁場各々に対応するMR信号に基づいて、これら3軸にそれぞれ対応する複数の周波数成分各々に対する信号強度の分布を示す1次元強度分布を上記3軸ごとに生成し、3軸ごとの1次元強度分布(1次元プロファイル)に基づいて位置情報を生成することにある。以下、説明を具体的にするために、異なる3軸は、X軸とY軸とZ軸とであるものとする。なお、異なる3軸は、X軸とY軸とZ軸とに限定されない。
(Second modification)
The difference between the present modification and the embodiment is a one-dimensional distribution indicating signal intensity distributions for a plurality of frequency components respectively corresponding to the three axes based on MR signals corresponding to the three gradient magnetic fields with respect to the three different axes. An intensity distribution is generated for each of the three axes, and position information is generated based on a one-dimensional intensity distribution (one-dimensional profile) for each of the three axes. Hereinafter, for the sake of specific explanation, it is assumed that the three different axes are the X axis, the Y axis, and the Z axis. The three different axes are not limited to the X axis, the Y axis, and the Z axis.

本変形例における構成およびパルス強度調整処理について、上記実施形態と相違する内容について説明する。図16は、本変形例における処理回路131の構成の一例を示す図である。処理回路131は、強度分布生成機能1319をさらに有する。強度分布生成機能1319は、コンピュータによって実行可能なプログラムの形態で記憶装置129へ記憶されている。処理回路131が有する強度分布生成機能1319は、強度分布生成部の一例である。強度分布生成機能1319に関する処理内容については、本変形例におけるパルス強度調整処理の処理手順において説明する。   Regarding the configuration and pulse intensity adjustment processing in this modification, the contents different from those of the above embodiment will be described. FIG. 16 is a diagram illustrating an example of the configuration of the processing circuit 131 in the present modification. The processing circuit 131 further has an intensity distribution generation function 1319. The intensity distribution generation function 1319 is stored in the storage device 129 in the form of a program that can be executed by a computer. The intensity distribution generation function 1319 included in the processing circuit 131 is an example of an intensity distribution generation unit. The processing content related to the intensity distribution generation function 1319 will be described in the processing procedure of the pulse intensity adjustment processing in this modification.

図17は、本変形例におけるパルス強度調整処理の処理手順の一例を示す図である。パルス強度調整処理において、図17におけるステップSb1乃至ステップSb4は、本実施形態における図7におけるステップSa1乃至ステップSa5に置換される。すなわち、図17において、ステップSb4に続く処理は、図7のステップSa6以降の処理となる。   FIG. 17 is a diagram illustrating an example of a processing procedure of pulse intensity adjustment processing in the present modification. In the pulse intensity adjustment process, steps Sb1 to Sb4 in FIG. 17 are replaced with steps Sa1 to Sa5 in FIG. 7 in the present embodiment. That is, in FIG. 17, the processing following step Sb4 is processing after step Sa6 in FIG.

(パルス強度調整処理)
(ステップSb1)
本変形例におけるプリスキャンの実行前に、天板1071に載置された被検体Pに対して、受信コイル装置117が設置される。本変形例における受信コイル装置117の設置状況は、重複説明を避けるため、図9と同様であるものとする。
(Pulse intensity adjustment processing)
(Step Sb1)
The reception coil device 117 is installed for the subject P placed on the top board 1071 before the pre-scan in this modification is executed. The installation situation of the receiving coil device 117 in this modification is assumed to be the same as that in FIG. 9 in order to avoid redundant description.

撮像制御回路121は、プリスキャンとしてX軸、Y軸、およびZ軸に沿った3つの傾斜磁場を被検体Pにそれぞれ印加することにより、X軸、Y軸、およびZ軸各々に対応するMR信号を収集する。すなわち、撮像制御回路121は、X軸、Y軸、およびZ軸各々に対して、ラインスキャンを実行する。本変形例におけるプリスキャンは、例えば、複数のコイルエレメントにおいて、本スキャンに用いられるコイルエレメントを選択するために用いられるスキャンに相当する。なお、本変形例におけるプリスキャンは、MR信号の収集を目的としているため、画質によらず短時間でMR信号を収集可能であれば、いずれの撮像方法であってもよい。   The imaging control circuit 121 applies three gradient magnetic fields along the X-axis, Y-axis, and Z-axis to the subject P as pre-scans, respectively, so that MR corresponding to the X-axis, Y-axis, and Z-axis respectively. Collect signals. That is, the imaging control circuit 121 performs a line scan for each of the X axis, the Y axis, and the Z axis. The pre-scan in this modification corresponds to, for example, a scan used to select a coil element used for the main scan among a plurality of coil elements. Note that the pre-scan in this modification is intended to collect MR signals, so any imaging method may be used as long as MR signals can be collected in a short time regardless of image quality.

具体的には、撮像制御回路121は、X軸に沿った傾斜磁場(以下、X軸傾斜磁場と呼ぶ)をリードアウト傾斜磁場として被検体Pに印加することにより、MR信号(以下、X軸MR信号と呼ぶ)を収集する。撮像制御回路121は、Y軸に沿った傾斜磁場(以下、Y軸傾斜磁場と呼ぶ)をリードアウト傾斜磁場として被検体Pに印加することにより、MR信号(以下、Y軸MR信号と呼ぶ)を収集する。撮像制御回路121は、Z軸に沿った傾斜磁場(以下、Z軸傾斜磁場と呼ぶ)をリードアウト傾斜磁場として被検体Pに印加することにより、MR信号(以下、Z軸MR信号と呼ぶ)を収集する。   Specifically, the imaging control circuit 121 applies a gradient magnetic field along the X axis (hereinafter referred to as an X axis gradient magnetic field) to the subject P as a readout gradient magnetic field, thereby causing an MR signal (hereinafter referred to as the X axis). (Referred to as MR signals). The imaging control circuit 121 applies an MR magnetic field (hereinafter referred to as a Y-axis MR signal) by applying a gradient magnetic field along the Y axis (hereinafter referred to as a Y-axis gradient magnetic field) to the subject P as a readout gradient magnetic field. To collect. The imaging control circuit 121 applies an MR magnetic field (hereinafter referred to as a Z-axis MR signal) by applying a gradient magnetic field along the Z-axis (hereinafter referred to as a Z-axis gradient magnetic field) to the subject P as a readout gradient magnetic field. To collect.

(ステップSb2)
処理回路131は、強度分布生成機能1319により、MR信号に基づいて、X軸、Y軸、およびZ軸にそれぞれ対応する複数の周波数成分各々に対する信号強度の分布を示す1次元強度分布を、X軸、Y軸、およびZ軸ごとに生成する。具体的には、処理回路131は、X軸MR信号に対してフーリエ変換を実行することにより、X軸傾斜磁場に関する周波数(以下、X軸周波数と呼ぶ)に対するX軸MR信号の強度の分布(以下、X軸強度分布と呼ぶ)を生成する。処理回路131は、Y軸MR信号に対してフーリエ変換を実行することにより、Y軸傾斜磁場に関する周波数(以下、Y軸周波数と呼ぶ)に対するY軸MR信号の強度の分布(以下、Y軸強度分布と呼ぶ)を生成する。処理回路131は、Z軸MR信号に対してフーリエ変換を実行することにより、Z軸傾斜磁場に関する周波数(以下、Z軸周波数と呼ぶ)に対するZ軸MR信号の強度の分布(以下、Z軸強度分布と呼ぶ)を生成する。X軸強度分布、Y軸強度分布、およびZ軸強度分布各々は、上記1次元強度分布に対応する。また、X軸周波数、Y軸周波数、およびZ軸周波数は、X軸の位置、Y軸の位置、およびZ軸の位置にそれぞれ対応する。
(Step Sb2)
Based on the MR signal, the processing circuit 131 uses the intensity distribution generation function 1319 to generate a one-dimensional intensity distribution indicating a signal intensity distribution for each of a plurality of frequency components respectively corresponding to the X axis, the Y axis, and the Z axis. Generated for each axis, Y axis, and Z axis. Specifically, the processing circuit 131 performs Fourier transformation on the X-axis MR signal, thereby distributing the intensity of the X-axis MR signal with respect to the frequency related to the X-axis gradient magnetic field (hereinafter referred to as the X-axis frequency) ( Hereinafter, this is referred to as an X-axis intensity distribution. The processing circuit 131 performs a Fourier transform on the Y-axis MR signal to thereby distribute the intensity of the Y-axis MR signal (hereinafter referred to as the Y-axis intensity) with respect to the frequency related to the Y-axis gradient magnetic field (hereinafter referred to as the Y-axis frequency). Called distribution). The processing circuit 131 performs a Fourier transform on the Z-axis MR signal to thereby distribute the intensity of the Z-axis MR signal (hereinafter referred to as the Z-axis intensity) with respect to the frequency related to the Z-axis gradient magnetic field (hereinafter referred to as the Z-axis frequency). Called distribution). Each of the X-axis intensity distribution, the Y-axis intensity distribution, and the Z-axis intensity distribution corresponds to the one-dimensional intensity distribution. The X-axis frequency, the Y-axis frequency, and the Z-axis frequency correspond to the X-axis position, the Y-axis position, and the Z-axis position, respectively.

図18は、4つのコイルエレメント(ch1、ch2、ch3、ch4)各々についてのX軸強度分布、Y軸強度分布、およびZ軸強度分布の一例を示す図である。ボア111内における4つのコイルエレメントの位置等に応じて、X軸強度分布、Y軸強度分布、およびZ軸強度分布は、コイルエレメントごとに異なるものとなる。   FIG. 18 is a diagram illustrating an example of the X-axis intensity distribution, the Y-axis intensity distribution, and the Z-axis intensity distribution for each of the four coil elements (ch1, ch2, ch3, ch4). Depending on the position of the four coil elements in the bore 111, the X-axis intensity distribution, the Y-axis intensity distribution, and the Z-axis intensity distribution differ for each coil element.

(ステップSb3)
処理回路131は、位置情報生成機能1313により、X軸、Y軸およびZ軸にそれぞれ対応する3つの1次元強度分布を用いて、送信コイル115から受信コイル1171までの距離を算出する。具体的には、処理回路131は、コイルエレメントごとに、X軸強度分布における信号強度のピークに対応するX軸周波数、またはX軸強度分布における重心に対応するX軸周波数を特定する。処理回路131は、コイルエレメントごとに、Y軸強度分布における信号強度のピークに対応するY軸周波数、またはY軸強度分布における重心に対応するY軸周波数を特定する。処理回路131は、コイルエレメントごとに、Z軸強度分布における信号強度のピークに対応するZ軸周波数、またはZ軸強度分布における重心に対応するZ軸周波数を特定する。
(Step Sb3)
The processing circuit 131 calculates the distance from the transmission coil 115 to the reception coil 1171 by using the three one-dimensional intensity distributions respectively corresponding to the X axis, the Y axis, and the Z axis by the position information generation function 1313. Specifically, the processing circuit 131 specifies, for each coil element, the X-axis frequency corresponding to the signal intensity peak in the X-axis intensity distribution or the X-axis frequency corresponding to the center of gravity in the X-axis intensity distribution. The processing circuit 131 specifies, for each coil element, a Y-axis frequency corresponding to a signal intensity peak in the Y-axis intensity distribution or a Y-axis frequency corresponding to the center of gravity in the Y-axis intensity distribution. The processing circuit 131 specifies, for each coil element, the Z-axis frequency corresponding to the signal intensity peak in the Z-axis intensity distribution or the Z-axis frequency corresponding to the center of gravity in the Z-axis intensity distribution.

処理回路131は、位置情報生成機能1313により、特定されたX軸周波数、特定されたY軸周波数、特定されたZ軸周波数を、架台座標系における座標(以下、エレメント座標と呼ぶ)に、それぞれ変換する。複数のコイルエレメント各々に対応するエレメント座標は、複数のコイルエレメント各々の位置に相当する。処理回路131は、送信コイル115の位置からコイルエレメント各々の位置までの距離を、架台座標系における送信コイル115の座標とエレメント座標とを用いて計算する。計算される距離は、第1の変形例における最短距離と同様なため、説明は省略する。以上の処理により、処理回路131は、X軸強度分布、Y軸強度分布、およびZ軸強度分布を用いて、複数のコイルエレメントにそれぞれ対応する複数の最短距離を、受信コイル1171の位置情報として生成する。   The processing circuit 131 uses the position information generation function 1313 to specify the specified X-axis frequency, the specified Y-axis frequency, and the specified Z-axis frequency as coordinates in the gantry coordinate system (hereinafter referred to as element coordinates), respectively. Convert. The element coordinates corresponding to each of the plurality of coil elements corresponds to the position of each of the plurality of coil elements. The processing circuit 131 calculates the distance from the position of the transmission coil 115 to the position of each coil element using the coordinates of the transmission coil 115 and the element coordinates in the gantry coordinate system. Since the calculated distance is the same as the shortest distance in the first modification, description thereof is omitted. With the above processing, the processing circuit 131 uses the X-axis intensity distribution, the Y-axis intensity distribution, and the Z-axis intensity distribution as a plurality of shortest distances respectively corresponding to the plurality of coil elements as position information of the receiving coil 1171. Generate.

(ステップSb4)
処理回路131は、パルス強度調整機能1315により、許容係数に関する対応表すなわち図15に示す対応表と複数のコイルエレメントごとに算出された複数の最短距離とを用いて、最小の許容係数を特定する。具体的には、処理回路131は、対応表と複数の最短距離とを照合することにより、複数の最短距離にそれぞれ対応する複数の許容係数を決定する。次いで、処理回路131は、決定された複数の許容係数のうち最小の許容係数を特定する。
(Step Sb4)
The processing circuit 131 uses the pulse intensity adjustment function 1315 to specify the minimum allowable coefficient using the allowable coefficient correspondence table, that is, the correspondence table shown in FIG. 15 and the plurality of shortest distances calculated for each of the plurality of coil elements. . Specifically, the processing circuit 131 collates the correspondence table with a plurality of shortest distances to determine a plurality of allowable coefficients respectively corresponding to the plurality of shortest distances. Next, the processing circuit 131 specifies the minimum allowable coefficient among the plurality of determined allowable coefficients.

以上に述べた構成によれば、以下に示す効果を得ることができる。
本変形例におけるMRI装置1によれば、異なる3軸に関する3つの傾斜磁場各々に対応するMR信号に基づいて、3軸にそれぞれ対応する複数の周波数成分各々に対する信号強度の分布を示す1次元強度分布を、3軸ごとに生成し、3軸ごとの前記1次元強度分布に基づいて、位置情報を生成することができる。すなわち、本MRI装置1によれば、傾斜磁場により形成される3軸方向において、磁気共鳴信号の1次元プロファイルを求めることにより位置情報を生成することができる。本変形例におけるMRI装置によれば、プリスキャンとしてラインスキャンを実行する場合においても、RFパルスの最適な照射強度を決定することができる。他の効果については、実施形態と同様なため、説明は省略する。
According to the configuration described above, the following effects can be obtained.
According to the MRI apparatus 1 in the present modification, based on MR signals corresponding to three gradient magnetic fields with respect to three different axes, a one-dimensional intensity indicating a signal intensity distribution for each of a plurality of frequency components corresponding to the three axes, respectively. A distribution can be generated for each of the three axes, and position information can be generated based on the one-dimensional intensity distribution for each of the three axes. That is, according to the MRI apparatus 1, position information can be generated by obtaining a one-dimensional profile of the magnetic resonance signal in the three-axis directions formed by the gradient magnetic field. According to the MRI apparatus in the present modification, the optimum irradiation intensity of the RF pulse can be determined even when a line scan is executed as a prescan. Since other effects are the same as those of the embodiment, description thereof is omitted.

(応用例)
本応用例と実施形態との相違は、ボア111内における受信コイル1171の位置情報と、受信コイル1171からケーブル1173が導出される方向(以下、導出方向と呼ぶ)と、複数のポート1073のうちコネクタ1175が接続されたポート(以下、接続ポートと呼ぶ)の位置とに基づいて、ボア111内におけるケーブル1173の取り回しがU字形状か否かを判定し、取り回しがU字形状であると判定された場合、本スキャンで用いられるRFパルスの照射強度を調整することにある。
(Application examples)
The difference between this application example and the embodiment is that the position information of the receiving coil 1171 in the bore 111, the direction in which the cable 1173 is derived from the receiving coil 1171 (hereinafter referred to as the derivation direction), and the plurality of ports 1073 Based on the position of the port to which the connector 1175 is connected (hereinafter referred to as a connection port), it is determined whether or not the cable 1173 in the bore 111 is U-shaped, and it is determined that the routing is U-shaped. In this case, the irradiation intensity of the RF pulse used in the main scan is adjusted.

図19は、本応用例における処理回路131の構成の一例を示す図である。処理回路131は、判定機能1321をさらに有する。判定機能1321は、コンピュータによって実行可能なプログラムの形態で記憶装置129へ記憶されている。判定機能1321に関する処理内容については、後程説明する。処理回路131が有する判定機能1321は、判定部の一例である。   FIG. 19 is a diagram illustrating an example of the configuration of the processing circuit 131 in this application example. The processing circuit 131 further has a determination function 1321. The determination function 1321 is stored in the storage device 129 in the form of a program that can be executed by a computer. The processing contents regarding the determination function 1321 will be described later. The determination function 1321 included in the processing circuit 131 is an example of a determination unit.

図20は、本応用例に関して、ボア111内に挿入された被検体PをX軸方向から見た図である。また、図21は、本応用例に関して、被検体Pと受信コイル1171とケーブル1173と接続ポート1073cとの位置関係を、Y軸方向から見た図である。図20、図21に示すように、ボア111内におけるケーブル1173の取り回しは、U字形状となっている。なお、図20および図21において、内部回路は不図示としている。   FIG. 20 is a view of the subject P inserted into the bore 111 as viewed from the X-axis direction in this application example. FIG. 21 is a view of the positional relationship among the subject P, the reception coil 1171, the cable 1173, and the connection port 1073c as viewed from the Y-axis direction in this application example. As shown in FIGS. 20 and 21, the cable 1173 in the bore 111 is U-shaped. In FIG. 20 and FIG. 21, the internal circuit is not shown.

記憶装置129は、撮像部位に応じた複数の受信コイル装置各々において、導出方向を記憶する。導出方向は、例えば図2において、接続位置CPからケーブル1173が導出している方向、すなわち接続位置CPにおけるケーブル1173の接線方向のうち受信コイル1171から離れる方向に相当する。導出方向は、架台座標系に無関係であって、受信コイル装置117に対して設定された方向である。記憶装置129は、コネクタ1175が接続される複数のポート1073の位置を、架台座標系における複数のポート1073の座標として記憶する。また、記憶装置129は、接続ポート1073cの位置、すなわち架台座標系における座標を記憶する。天板1071がボア内に挿入される場合、記憶装置129は、天板1071の位置に応じて、接続ポート1073cの座標を更新させて記憶する。   The storage device 129 stores the derivation direction in each of the plurality of reception coil devices corresponding to the imaging region. The lead-out direction corresponds to, for example, the direction in which the cable 1173 is led out from the connection position CP in FIG. 2, that is, the direction away from the receiving coil 1171 in the tangential direction of the cable 1173 at the connection position CP. The derivation direction is irrelevant to the gantry coordinate system, and is a direction set for the receiving coil device 117. The storage device 129 stores the positions of the plurality of ports 1073 to which the connector 1175 is connected as the coordinates of the plurality of ports 1073 in the gantry coordinate system. The storage device 129 stores the position of the connection port 1073c, that is, the coordinates in the gantry coordinate system. When the top plate 1071 is inserted into the bore, the storage device 129 updates and stores the coordinates of the connection port 1073c according to the position of the top plate 1071.

記憶装置129は、ボア111内におけるケーブル1173の取り回しがU字形状である場合、RFパルスの照射強度を制限するための制限係数を、撮像部位に応じた複数の受信コイル装置各々に対応付けて記憶する。制限係数は、1未満の正の小数であって、ボア111内におけるケーブル1173の取り回しがU字形状である場合の実験またはシミュレーションによる内部回路等の発熱の状況に応じて、撮像部位に対応する受信コイル装置ごとに予め設定される。   When the cable 1173 in the bore 111 is U-shaped, the storage device 129 associates a limiting coefficient for limiting the irradiation intensity of the RF pulse with each of the plurality of receiving coil devices according to the imaging region. Remember. The limiting coefficient is a positive decimal number less than 1, and corresponds to the imaging region depending on the state of heat generation in the internal circuit or the like by experiments or simulations when the cable 1173 in the bore 111 is U-shaped. It is preset for each receiving coil device.

図22は、本応用例におけるパルス強度調整処理の処理手順の一例を示す図である。本応用例におけるパルス強度調整処理は、例えば、本実施形態における図7におけるステップSa6の後に実行される。なお、図22におけるステップSc1乃至ステップSc4の処理は、ステップSa3の後に実行されてもよい。以下、図20および図21に示すケーブル1173の取り回しのもとで、本応用例におけるパルス強度調整処理について説明する。   FIG. 22 is a diagram illustrating an example of a processing procedure of a pulse intensity adjustment process in this application example. For example, the pulse intensity adjustment process in this application example is executed after step Sa6 in FIG. Note that the processing of step Sc1 to step Sc4 in FIG. 22 may be executed after step Sa3. Hereinafter, the pulse intensity adjustment processing in this application example will be described with reference to the cable 1173 shown in FIGS.

(パルス強度調整処理)
(ステップSc1)
処理回路131は、判定機能1321により、導出方向と、位置情報と、コネクタ1175が接続された接続ポート1073cの位置とに基づいて、ボア111内におけるケーブル1173の取り回しがU字形状か否かを判定する。被検体Pに対する4つのコイルエレメントの位置が図21に示すような場合、Z軸方向(静磁場方向)に沿った信号分布の位置関係は、コイルエレメントch1とコイルエレメントch2とは被検体Pの頭部側となり、コイルエレメントch3とコイルエレメントch4とは被検体Pの足側となる。一方、受信コイル装置117に関連付けて記憶装置129に記憶された導出方向は、図2に示すように、コイルエレメントch1、ch2からコイルエレメントch3、ch4に向かう方向である。このため、処理回路131は、複数のコイルエレメントと接続ポート1073cとの相対的な位置関係と導出方向とを用いて、U字形状の有無を判定する。
(Pulse intensity adjustment processing)
(Step Sc1)
Based on the derivation direction, the position information, and the position of the connection port 1073c to which the connector 1175 is connected, the processing circuit 131 determines whether the cable 1173 in the bore 111 is U-shaped based on the determination function 1321. judge. When the positions of the four coil elements with respect to the subject P are as shown in FIG. 21, the positional relationship of the signal distribution along the Z-axis direction (static magnetic field direction) indicates that the coil element ch1 and the coil element ch2 are The head side is the coil element ch3 and the coil element ch4 are the foot side of the subject P. On the other hand, the derivation direction stored in the storage device 129 in association with the reception coil device 117 is a direction from the coil elements ch1 and ch2 toward the coil elements ch3 and ch4 as shown in FIG. For this reason, the processing circuit 131 determines the presence or absence of the U shape using the relative positional relationship and the derivation direction of the plurality of coil elements and the connection port 1073c.

複数のコイルエレメントの位置と導出方向とにより、図20および図21において、受信コイル1171からケーブル1173が出ている方向(以下、ケーブル方向と呼ぶ)は、架台座標系において被検体Pの足側の方向となる。図20および図21に示すように、架台座標系において、接続ポート1073cは被検体Pの頭側であって、ケーブル方向は被検体Pの足側であるため、処理回路131は、ボア111内におけるケーブル1173の取り回しがU字形状であると判定する。   20 and 21, the direction in which the cable 1173 protrudes from the receiving coil 1171 (hereinafter referred to as the cable direction) in FIG. 20 and FIG. 21 is the foot side of the subject P in the gantry coordinate system. Direction. 20 and 21, in the gantry coordinate system, since the connection port 1073c is on the head side of the subject P and the cable direction is on the foot side of the subject P, the processing circuit 131 is provided in the bore 111. It is determined that the cable 1173 is U-shaped.

例えば、処理回路131は、判定機能1321により、受信コイル1171の位置情報、例えばコイルエレメント各々の座標を用いて導出方向を架台座標系に関連付けることにより、ケーブル方向を決定する。また、処理回路131は、複数のコイルエレメントにそれぞれ対応する複数の座標を平均化することにより、受信コイル装置117の座標を決定する。受信コイル装置117の座標は、例えば、複数のコイルエレメントによる重心座標に相当する。処理回路131は、受信コイル装置117の座標と接続ポート1073cの座標とを用いて、受信コイル装置117から接続ポート1073cへ向かうポート方向を計算する。ケーブル方向は図21に示す矢印cddに対応し、ポート方向は図21に示す矢印ctpに対応する。   For example, the processing circuit 131 uses the determination function 1321 to determine the cable direction by associating the derived direction with the gantry coordinate system using the position information of the receiving coil 1171, for example, the coordinates of each coil element. Further, the processing circuit 131 determines the coordinates of the reception coil device 117 by averaging a plurality of coordinates respectively corresponding to the plurality of coil elements. The coordinates of the receiving coil device 117 correspond to, for example, barycentric coordinates by a plurality of coil elements. The processing circuit 131 uses the coordinates of the reception coil device 117 and the coordinates of the connection port 1073c to calculate the port direction from the reception coil device 117 toward the connection port 1073c. The cable direction corresponds to the arrow cdd shown in FIG. 21, and the port direction corresponds to the arrow ctp shown in FIG.

処理回路131は、判定機能1321により、ケーブル方向を示すベクトルとポート方向を示すベクトルとの内積を計算する。内積が負であるか否かは、ケーブル方向が接続ポート1073cに向いていないか否かに相当する。計算された内積が負である場合、処理回路131は、ボア111内におけるケーブル1173の取り回しがU字形状であると判定する。処理回路131は、計算された内積が負でない場合、ボア111内におけるケーブル1173の取り回しがU字形状ではないと判定する。なお、上記説明は一例であり、ケーブル方向が接続ポート1073cに向いていないか否かを判定することができれば、上記説明に限定されない。   The processing circuit 131 uses the determination function 1321 to calculate the inner product of the vector indicating the cable direction and the vector indicating the port direction. Whether the inner product is negative corresponds to whether the cable direction does not face the connection port 1073c. If the calculated inner product is negative, the processing circuit 131 determines that the routing of the cable 1173 in the bore 111 is U-shaped. If the calculated inner product is not negative, the processing circuit 131 determines that the routing of the cable 1173 in the bore 111 is not U-shaped. Note that the above description is an example, and the present invention is not limited to the above description as long as it can be determined whether or not the cable direction is facing the connection port 1073c.

ボア111内におけるケーブル1173の取り回しがU字形状であると判定された場合、処理回路131は、判定機能1321により、接続ポート1073cに接続された受信コイル装置117に対応する制限係数を、記憶装置129から読み出す。ボア111内におけるケーブル1173の取り回しがU字形状でないと判定された場合、本パルス強度調整処理は終了する。   When it is determined that the routing of the cable 1173 in the bore 111 is U-shaped, the processing circuit 131 uses the determination function 1321 to store the limiting coefficient corresponding to the reception coil device 117 connected to the connection port 1073c as a storage device. Read from 129. If it is determined that the routing of the cable 1173 in the bore 111 is not U-shaped, this pulse intensity adjustment process ends.

(ステップSc2)
処理回路131は、パルス強度調整機能1315により、照射強度をさらに調整する。具体的には、処理回路131は、ステップSa6の処理において調整された照射強度に、読み出された制限係数を乗じることで、本スキャンに関するRFパルスの照射強度をさらに調整する。処理回路131は、さらに調整された照射強度を用いて、撮像条件を変更する。
(Step Sc2)
The processing circuit 131 further adjusts the irradiation intensity by the pulse intensity adjustment function 1315. Specifically, the processing circuit 131 further adjusts the irradiation intensity of the RF pulse related to the main scan by multiplying the irradiation intensity adjusted in the process of step Sa6 by the read limiting coefficient. The processing circuit 131 changes the imaging condition using the adjusted irradiation intensity.

(ステップSc3)
処理回路131は、計算機能1317により、さらに調整された照射強度に伴う撮像条件の変更に基づいて、撮像時間の延長時間を計算する。本ステップにおける処理内容は、ステップSa7と同様なため説明は省略する。
(Step Sc3)
The processing circuit 131 uses the calculation function 1317 to calculate an extension time of the imaging time based on the change of the imaging condition according to the further adjusted irradiation intensity. Since the processing content in this step is the same as that in step Sa7, description thereof is omitted.

(ステップSc4)
処理回路131は、パルス強度調整機能1315により、照射強度がケーブル1173の取り回しの状態に応じて制限されていることを、メッセージとして、ディスプレイ127に出力する。ディスプレイ127は、照射強度がケーブル1173の取り回しの状態に応じて制限されているメッセージを表示する。処理回路131は、計算された延長時間をディスプレイに出力する。ディスプレイ127は、上記メッセージを、延長時間とともに表示する。
(Step Sc4)
The processing circuit 131 outputs a message to the display 127 that the irradiation intensity is limited by the pulse intensity adjustment function 1315 according to the state of the cable 1173. The display 127 displays a message whose irradiation intensity is limited according to the state of the cable 1173. The processing circuit 131 outputs the calculated extension time to the display. The display 127 displays the message together with the extended time.

以上に述べた構成によれば、以下に示す効果を得ることができる。
本応用例におけるMRI装置1によれば、受信コイル1171と、受信コイル1171に接続されMR信号を伝送するケーブル1173と、ケーブル1173の一端に設けられたコネクタ1175とを有する受信コイル装置117と、受信コイル装置117に接続可能であってコネクタ1175を介してMR信号が入力される複数のポート1073とを具備し、受信コイル1171からケーブル1173が導出される方向と、複数のポート1073のうちコネクタ1175が接続されたポート1071cの位置と、位置情報とに基づいて、ボア111内におけるケーブル1173の取り回しがU字形状か否かを判定し、取り回しがU字形状であると判定された場合、照射強度を調整することができる。
According to the configuration described above, the following effects can be obtained.
According to the MRI apparatus 1 in this application example, the receiving coil apparatus 117 includes a receiving coil 1171, a cable 1173 that is connected to the receiving coil 1171 and transmits an MR signal, and a connector 1175 provided at one end of the cable 1173; A plurality of ports 1073 that can be connected to the receiving coil device 117 and receive MR signals via the connector 1175; the direction in which the cable 1173 is led out from the receiving coil 1171; and the connector of the plurality of ports 1073 Based on the position of the port 1071c to which 1175 is connected and the position information, it is determined whether or not the routing of the cable 1173 in the bore 111 is U-shaped, and if it is determined that the routing is U-shaped, Irradiation intensity can be adjusted.

これにより、本MRI装置1によれば、ボア111内における受信コイル装置117の位置およびボア内におけるケーブルの取り回しに応じて、受信コイル1171および内部回路等を破損させるリスクを低減させて、本スキャンにおいて最適な照射強度を決定することができる。換言すれば、本応用例におけるMRI装置1によれば、仮に、ボア111内におけるケーブル1173の取り回しが理想的な取り回し、すなわち内部回路等における発熱のリスクが最も低いケーブル1173の配置でなかったとしても、パルス強度調整処理(B強度の調整処理)により、ボア111内における受信コイル装置117の配置やケーブル1173の取り回しを再セッティングすることなく本スキャンを実行することができる。これにより、本MRI装置1によれば、本スキャンの実効前におけるワークフローにかかる時間を短縮することができる。 Thereby, according to this MRI apparatus 1, the risk of damaging the receiving coil 1171 and the internal circuit is reduced according to the position of the receiving coil apparatus 117 in the bore 111 and the routing of the cable in the bore, and the main scanning is performed. The optimum irradiation intensity can be determined at. In other words, according to the MRI apparatus 1 in this application example, it is assumed that the cable 1173 in the bore 111 is not ideally arranged, that is, the arrangement of the cable 1173 having the lowest risk of heat generation in the internal circuit or the like. In addition, the main scan can be executed without resetting the arrangement of the receiving coil device 117 in the bore 111 and the handling of the cable 1173 by the pulse intensity adjustment process (B 1 intensity adjustment process). Thereby, according to the present MRI apparatus 1, it is possible to reduce the time required for the workflow before the actual scan is executed.

また、本MRI装置1によれば、照射強度の調整により照射強度が取り回しの状態に応じて制限されていることを表示することができる。例えば、本応用例における本MRI装置によれば、照射強度がケーブル1173の取り回しの状態に応じて制限されていることや照射強度が受信コイル1171の位置すなわちコイルエレメントの位置に応じて制限されていることをメッセージとして、延長時間とともに表示することができる。これにより、操作者は、撮像条件の変更、受信コイル装置117の設置の変更、ケーブル1173の取り回しの変更、高周波磁場の制限の緩和等の判断を、容易に選択することができる。例えば、ディスプレイ127に表示された延長時間が5分以内である場合、操作者は、撮像条件を変更することにより、延長時間を短縮することができる。また、ディスプレイ127に表示された延長時間が5分以上であって、受信コイル装置117とケーブル1173の取り回しとのうち少なくとも一方に関して再セッティングが可能であれば、操作者は、受信コイル装置117の配置とケーブル1173の取り回しとのうち少なくとも一方の再セッティングを実行することができる。   Further, according to the MRI apparatus 1, it is possible to display that the irradiation intensity is limited according to the handling state by adjusting the irradiation intensity. For example, according to the present MRI apparatus in this application example, the irradiation intensity is limited according to the state of handling of the cable 1173, and the irradiation intensity is limited according to the position of the receiving coil 1171, that is, the position of the coil element. Can be displayed as a message along with the extended time. Thereby, the operator can easily select judgments such as changing the imaging conditions, changing the installation of the receiving coil device 117, changing the routing of the cable 1173, and relaxing the restriction on the high-frequency magnetic field. For example, when the extended time displayed on the display 127 is within 5 minutes, the operator can shorten the extended time by changing the imaging condition. Further, if the extension time displayed on the display 127 is 5 minutes or longer and at least one of the reception coil device 117 and the cable 1173 can be set again, the operator can change the reception coil device 117. A resetting of at least one of placement and routing of the cable 1173 can be performed.

(第3の変形例)
本変形例と実施形態との相違は、位置情報に応じて、RFパルスの送信に関する設定値(以下、送信設定値と呼ぶ)を用いて照射強度を調整することにある。送信設定値は、例えば、被検体Pの撮像部位に応じて決定されたRFパルスの位相とRFパルスの振幅とに相当する。送信設定値は、RFパルスの送信強度の空間的な分布(以下、送信強度分布と呼ぶ)に関連している。
(Third Modification)
The difference between the present modification and the embodiment is that the irradiation intensity is adjusted using a setting value (hereinafter referred to as a transmission setting value) related to the transmission of the RF pulse in accordance with the position information. The transmission set value corresponds to, for example, the phase of the RF pulse and the amplitude of the RF pulse determined according to the imaging region of the subject P. The transmission set value is related to the spatial distribution of RF pulse transmission intensity (hereinafter referred to as transmission intensity distribution).

記憶装置129は、送信設定値に応じて許容マップを修正するためのマップ(以下、修正マップ)を記憶する。修正マップは、送信強度分布がボア111の中心位置に対して非対称である場合、送信強度分布の非対称性を許容マップに反映させるために用いられる。例えば、修正マップは、複数の座標各々において許容マップに乗じられる係数(以下、修正係数と呼ぶ)を有する。なお、修正マップは、修正係数の代わりに、複数の座標各々において、許容マップから差分される係数または許容マップに加算される係数を有していてもよい。以下、説明を具体的にするために、修正マップは、複数の座標各々において修正係数を有するものとして説明する。   The storage device 129 stores a map for correcting the allowable map according to the transmission setting value (hereinafter referred to as a correction map). When the transmission strength distribution is asymmetric with respect to the center position of the bore 111, the correction map is used to reflect the asymmetry of the transmission strength distribution in the tolerance map. For example, the correction map has a coefficient (hereinafter referred to as a correction coefficient) that is multiplied by the tolerance map at each of a plurality of coordinates. Note that the correction map may have a coefficient that is different from the allowable map or a coefficient that is added to the allowable map in each of the plurality of coordinates instead of the correction coefficient. Hereinafter, for the sake of specific description, the correction map will be described as having a correction coefficient at each of a plurality of coordinates.

具体的には、記憶装置129は、複数の送信設定値にそれぞれ対応する複数の修正マップを記憶する。例えば、送信コイル115が複数のコイルエレメントにより構成されている場合、記憶装置129は、複数のコイルエレメントにそれぞれ対応する複数の送信設定値の組み合わせに応じた複数の修正マップを記憶する。記憶装置129は、撮像部位の形状(身長、体重、撮像部位等で変わる)に対する送信設定値の対応表(以下、部位設定値対応表と呼ぶ)を記憶する。   Specifically, the storage device 129 stores a plurality of correction maps respectively corresponding to a plurality of transmission setting values. For example, when the transmission coil 115 is configured by a plurality of coil elements, the storage device 129 stores a plurality of correction maps corresponding to combinations of a plurality of transmission setting values respectively corresponding to the plurality of coil elements. The storage device 129 stores a correspondence table (hereinafter referred to as a part setting value correspondence table) of transmission setting values with respect to the shape of the imaging part (which varies depending on the height, weight, imaging part, and the like).

インタフェース125は、被検体Pに対する撮像部位を入力する。本変形例における撮像部位の入力は、パルス強度調整処理におけるステップSa1の前段に実施される。   The interface 125 inputs an imaging part for the subject P. The input of the imaging region in this modification is performed before the step Sa1 in the pulse intensity adjustment process.

処理回路131は、パルス強度調整機能1315により、撮像部位を部位設定値対応表と照合することにより、送信設定値を決定する。本変形例における送信設定値の決定は、パルス強度調整処理におけるステップSa4より前段の処理において適宜実施される。なお、処理回路131は、被検体Pに対するプリスキャンにより生成されたBマップを用いて送信強度分布を被検体内において均一にするように(すなわちBシミングにより)、送信設定値を決定してもよい。このとき、部位設定値対応表は不要となり、送信設定値の決定はステップSa1の処理より後段であってステップSa4より前段の処理において適宜実施される。Bマップの生成に関するプリスキャンは、撮像制御回路121により、受信コイル1171に影響が出ないシーケンスを用いて実行される。 The processing circuit 131 determines the transmission setting value by collating the imaging region with the region setting value correspondence table by the pulse intensity adjustment function 1315. The determination of the transmission set value in the present modification is appropriately performed in a process preceding step Sa4 in the pulse intensity adjustment process. The processing circuit 131 (by i.e. B 1 shimming) so as to equalize the transmission intensity distribution within the object by using the B 1 map generated by the pre-scan of the subject P, and determines the transmission setting value May be. At this time, the part set value correspondence table is not necessary, and the transmission set value is determined appropriately after the process of step Sa1 and before the process of step Sa4. The pre-scan relating to the generation of the B 1 map is executed by the imaging control circuit 121 using a sequence that does not affect the reception coil 1171.

処理回路131は、パルス強度調整機能1315により、送信コイル115と受信コイル1171との間の位置関係に関する位置情報と送信設定値とに基づいて、照射強度を調整する。具体的には、処理回路131は、記憶装置129に記憶された複数の修正マップから、送信設定値に対応する修正マップを特定する。次いで、処理回路131は、特定された修正マップを許容マップに乗じることにより、修正後の許容マップ(以下、修正許容マップとよぶ)を生成する。処理回路131は、修正許容マップに、受信コイル1171に関する領域(または高強度領域)を当てはめる。上述の修正許容マップの生成及び修正許容マップへの領域の当てはめは、パルス強度調整処理におけるステップSa4の処理の代わりに実施される。本変形例におけるパルス強度調整処理において、ステップSa5以降の処理は、実施形態に記載のパルス強度調整処理と同様なため、説明は省略する。   The processing circuit 131 uses the pulse intensity adjustment function 1315 to adjust the irradiation intensity on the basis of the position information regarding the positional relationship between the transmission coil 115 and the reception coil 1171 and the transmission set value. Specifically, the processing circuit 131 specifies a correction map corresponding to the transmission setting value from a plurality of correction maps stored in the storage device 129. Next, the processing circuit 131 generates a corrected tolerance map (hereinafter referred to as a correction tolerance map) by multiplying the tolerance map by the identified correction map. The processing circuit 131 assigns the region (or high intensity region) related to the reception coil 1171 to the correction allowable map. The generation of the correction allowance map and the fitting of the area to the correction allowance map described above are performed instead of the process of step Sa4 in the pulse intensity adjustment process. In the pulse intensity adjustment process in the present modification, the processes after step Sa5 are the same as the pulse intensity adjustment process described in the embodiment, and thus the description thereof is omitted.

なお、処理回路131は、パルス強度調整機能1315により、送信設定値に基づいて送信強度分布を生成し、生成された送信強度分布に基づいて修正マップを生成してもよい。具体的には、処理回路131は、送信コイル115における給電点に送信設定値を適用することにより、送信強度分布を計算する。次いで、処理回路131は、生成された送信強度分布における中心位置の値を1にするように、送信強度分布の全域の値を規格化することにより、修正マップを生成する。   Note that the processing circuit 131 may generate a transmission intensity distribution based on the transmission setting value by the pulse intensity adjustment function 1315 and generate a correction map based on the generated transmission intensity distribution. Specifically, the processing circuit 131 calculates the transmission intensity distribution by applying the transmission set value to the feeding point in the transmission coil 115. Next, the processing circuit 131 generates a correction map by normalizing the values of the entire transmission intensity distribution so that the value of the center position in the generated transmission intensity distribution is 1.

以上に述べた構成によれば、以下に示す効果を得ることができる。
本変形例におけるMRI装置1によれば、RFパルスの送信に関する設定値を用いて、照射強度を調整することができる。これにより、撮像部位ごとまたはBシミングの結果ごとに照射強度を調整することができ、RFパルスの照射強度を過度に制限することなくかつ受信コイル1171および内部回路等を破損させるリスクを低減させて、本スキャンにおいてより最適な照射強度を決定することができる。他の効果は、実施形態などと同様なため、説明は省略する。
According to the configuration described above, the following effects can be obtained.
According to the MRI apparatus 1 in the present modification, the irradiation intensity can be adjusted using the set value related to the transmission of the RF pulse. As a result, the irradiation intensity can be adjusted for each imaging region or for each B 1 shimming result, and the risk of damaging the receiving coil 1171 and the internal circuit is reduced without excessively limiting the irradiation intensity of the RF pulse. Thus, it is possible to determine a more optimal irradiation intensity in the main scan. Since other effects are the same as those of the embodiment, the description thereof is omitted.

(第4の変形例)
本変形例と実施形態との相違は、MR信号を用いずに、ボア111内における受信コイル1171の位置情報を生成することにある。本変形例におけるMRI装置1は、例えば、不図示の複数のカメラを有する。複数のカメラ各々は、例えば、ボア111内を異なる方向から撮影することができる位置に設けられる。異なる方向は、例えば、3方向である。複数のカメラは、例えば、光学カメラである。
(Fourth modification)
The difference between this modification and the embodiment is that position information of the receiving coil 1171 in the bore 111 is generated without using the MR signal. The MRI apparatus 1 in this modification has, for example, a plurality of cameras (not shown). Each of the plurality of cameras is provided, for example, at a position where the inside of the bore 111 can be photographed from different directions. The different directions are, for example, three directions. The plurality of cameras are, for example, optical cameras.

複数のカメラ各々は、本スキャンに先立ってボア111内に挿入された被検体Pに設けられた受信コイル装置117を撮影する。複数のカメラは、例えば、ボア111内において受信コイル装置117を含む複数の画像(以下、光学画像と呼ぶ)をそれぞれ生成する。複数のカメラは、複数の光学画像を処理回路131にそれぞれ出力する。   Each of the plurality of cameras images the receiving coil device 117 provided on the subject P inserted into the bore 111 prior to the main scan. For example, the plurality of cameras generate a plurality of images (hereinafter referred to as optical images) including the receiving coil device 117 in the bore 111, respectively. The plurality of cameras output a plurality of optical images to the processing circuit 131, respectively.

記憶装置129は、架台座標系における複数のカメラ各々の座標(以下、カメラ座標と呼ぶ)を記憶する。   The storage device 129 stores the coordinates of each of a plurality of cameras in the gantry coordinate system (hereinafter referred to as camera coordinates).

処理回路131は、位置情報生成機能1313により、複数の光学画像に基づいて、ボア111内における受信コイル1171の位置情報を生成する。例えば、処理回路131は、複数の光学画像各々において既存のセグメンテーション処理および認識処理などを実行することにより、複数の光学画像における受信コイル装置117の領域(以下、コイル装置領域と呼ぶ)を抽出する。次いで、処理回路131は、受信コイル装置117における複数の受信コイル1171の位置と、コイル装置抽出領域と、カメラ座標とを用いて、ボア111内における受信コイル1171の位置情報を生成する。   The processing circuit 131 uses the position information generation function 1313 to generate position information of the reception coil 1171 in the bore 111 based on the plurality of optical images. For example, the processing circuit 131 extracts a region of the receiving coil device 117 (hereinafter referred to as a coil device region) in the plurality of optical images by executing existing segmentation processing and recognition processing in each of the plurality of optical images. . Next, the processing circuit 131 generates position information of the reception coil 1171 in the bore 111 by using the positions of the plurality of reception coils 1171 in the reception coil device 117, the coil device extraction region, and the camera coordinates.

ボア内における受信コイル装置117の撮影とボア111内における受信コイル1171の位置情報の生成とは、パルス強度調整処理において、ステップSa1乃至ステップSa3の処理の代わりに実行される。本変形例に関するパルス強度調整処理において、ステップSa4以降の処理は、第1変形例に記載のパルス強度調整処理と同様なため、説明は省略する。   Imaging of the receiving coil device 117 in the bore and generation of position information of the receiving coil 1171 in the bore 111 are executed in the pulse intensity adjustment process instead of the processes of Step Sa1 to Step Sa3. In the pulse intensity adjustment process according to this modification, the processes after step Sa4 are the same as the pulse intensity adjustment process described in the first modification, and thus description thereof is omitted.

以上に述べた構成によれば、以下に示す効果を得ることができる。
本変形例におけるMRI装置1によれば、ボア111内における受信コイル1171の位置情報を生成し、位置情報に基づいて被検体Pに照射されるRFパルスの照射強度を調整することができる。他の効果は、第1の変形例などと同様なため、説明は省略する。
According to the configuration described above, the following effects can be obtained.
According to the MRI apparatus 1 of the present modification, position information of the receiving coil 1171 in the bore 111 can be generated, and the irradiation intensity of the RF pulse irradiated to the subject P can be adjusted based on the position information. Since other effects are the same as those of the first modification, description thereof will be omitted.

以上述べた実施形態等の磁気共鳴イメージング装置1によれば、ボア111内における受信コイル装置117の位置に応じて、RFパルスの照射強度を調整することができる。   According to the magnetic resonance imaging apparatus 1 such as the embodiment described above, the irradiation intensity of the RF pulse can be adjusted according to the position of the receiving coil apparatus 117 in the bore 111.

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。   Although several embodiments of the present invention have been described, these embodiments are presented by way of example and are not intended to limit the scope of the invention. These novel embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, replacements, and changes can be made without departing from the spirit of the invention. These embodiments and modifications thereof are included in the scope and gist of the invention, and are included in the invention described in the claims and the equivalents thereof.

1…磁気共鳴イメージング装置
10…架台
101…静磁場磁石
103…傾斜磁場コイル
105…傾斜磁場電源
107…寝台
109…寝台制御回路
111…ボア
113…送信回路
115…送信コイル
117…受信コイル装置
119…受信回路
121…撮像制御回路
125…インタフェース
127…ディスプレイ
129…記憶装置
131…処理回路
1071…天板
1073…ポート
1171…受信コイル
1173…ケーブル
1175…コネクタ
1177…バラン
1179…デカップリングスイッチ
1310…システム制御機能
1311…画像情報生成機能
1313…位置情報生成機能
1315…パルス強度調整機能
1317…計算機能
1319…強度分布生成機能
1321…判定機能
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Magnetic resonance imaging apparatus 10 ... Base 101 ... Static magnetic field magnet 103 ... Gradient magnetic field coil 105 ... Gradient magnetic field power supply 107 ... Bed bed 109 ... Bed control circuit 111 ... Bore 113 ... Transmission circuit 115 ... Transmission coil 117 ... Reception coil device 119 ... Reception circuit 121 ... Imaging control circuit 125 ... Interface 127 ... Display 129 ... Storage device 131 ... Processing circuit 1071 ... Top plate 1073 ... Port 1171 ... Reception coil 1173 ... Cable 1175 ... Connector 1177 ... Balun 1179 ... Decoupling switch 1310 ... System control Function 1311 ... Image information generation function 1313 ... Position information generation function 1315 ... Pulse intensity adjustment function 1317 ... Calculation function 1319 ... Intensity distribution generation function 1321 ... Determination function

Claims (13)

被検体から受信された磁気共鳴信号に基づいて、送信コイルと受信コイルとの間の位置関係に関する位置情報を生成する位置情報生成部と、
前記位置情報に応じて、前記被検体に照射されるRFパルスの照射強度を調整するパルス強度調整部と、
を具備する磁気共鳴イメージング装置。
A position information generation unit that generates position information related to the positional relationship between the transmission coil and the reception coil based on the magnetic resonance signal received from the subject;
A pulse intensity adjusting unit that adjusts the irradiation intensity of the RF pulse irradiated to the subject according to the position information;
A magnetic resonance imaging apparatus comprising:
前記位置関係は、前記送信コイルと前記受信コイルとの間の距離である、
請求項1に記載の磁気共鳴イメージング装置。
The positional relationship is a distance between the transmission coil and the reception coil.
The magnetic resonance imaging apparatus according to claim 1.
前記パルス強度調整部は、前記RFパルスの送信に関する設定値を用いて、前記照射強度を調整する、
請求項1または2に記載の磁気共鳴イメージング装置。
The pulse intensity adjustment unit adjusts the irradiation intensity using a setting value related to transmission of the RF pulse,
The magnetic resonance imaging apparatus according to claim 1 or 2.
前記パルス強度調整部は、前記送信コイルと前記受信コイルとの間の距離が小さくなるにつれて前記照射強度を下げるように前記照射強度を調整する、
請求項1乃至3のうちいずれか一項に記載の磁気共鳴イメージング装置。
The pulse intensity adjustment unit adjusts the irradiation intensity so as to decrease the irradiation intensity as the distance between the transmission coil and the reception coil decreases.
The magnetic resonance imaging apparatus according to claim 1.
前記位置情報生成部は、前記磁気共鳴信号を再構成して得られる画像に基づいて、前記位置情報を生成する、
請求項1乃至4のうちいずれか一項に記載の磁気共鳴イメージング装置。
The position information generation unit generates the position information based on an image obtained by reconstructing the magnetic resonance signal.
The magnetic resonance imaging apparatus according to any one of claims 1 to 4.
前記磁気共鳴信号に基づいて、前記磁気共鳴信号における複数の周波数成分各々に対応する信号強度を画素値として有する画像情報を生成する画像情報生成部をさらに具備し、
前記位置情報生成部は、前記画像情報を用いて、前記送信コイルから前記受信コイルまでの距離を前記位置情報として、前記画像情報における複数の画素各々に対して計算し、
前記パルス強度調整部は、
前記送信コイルからの複数の距離に対する、前記照射強度の許容の程度を示す複数の許容係数の対応表と前記計算された距離とを用いて、前記複数の画素にそれぞれ対応する複数の許容係数を決定し、
前記決定された複数の許容係数のうち最小の許容係数を用いて、前記照射強度を調整する、
請求項1乃至5のうちいずれか一項に記載の磁気共鳴イメージング装置。
Based on the magnetic resonance signal, further comprising an image information generation unit that generates image information having a signal intensity corresponding to each of a plurality of frequency components in the magnetic resonance signal as a pixel value;
The position information generation unit uses the image information to calculate the distance from the transmission coil to the reception coil as the position information for each of a plurality of pixels in the image information,
The pulse intensity adjustment unit
A plurality of tolerance coefficients corresponding to the plurality of pixels are obtained using a correspondence table of a plurality of tolerance coefficients indicating a degree of tolerance of the irradiation intensity with respect to a plurality of distances from the transmission coil and the calculated distance. Decide
Adjusting the irradiation intensity using a minimum tolerance coefficient among the plurality of tolerance coefficients determined;
The magnetic resonance imaging apparatus according to any one of claims 1 to 5.
前記磁気共鳴信号に基づいて、前記磁気共鳴信号における複数の周波数成分各々に対応する信号強度に対応する画素値を有する画像情報を生成する画像情報生成部をさらに具備し、
前記位置情報生成部は、ボアを含む領域に関する座標系と前記画像情報とを用いて、前記受信コイルの位置に関する複数の座標を前記位置情報として生成し、
前記パルス強度調整部は、
前記複数の座標を用いて、前記照射強度の許容の程度を示す複数の許容係数を前記座標系における複数の座標にそれぞれ対応付けた許容マップに、前記受信コイルに関する領域を当てはめ、
前記受信コイルに関する領域に含まれる複数の許容係数のうち最小の許容係数を用いて、前記照射強度を調整する、
請求項1乃至5のうちいずれか一項に記載の磁気共鳴イメージング装置。
An image information generation unit that generates image information having pixel values corresponding to signal intensities corresponding to a plurality of frequency components in the magnetic resonance signal based on the magnetic resonance signal;
The position information generation unit generates, as the position information, a plurality of coordinates related to the position of the receiving coil using a coordinate system related to an area including a bore and the image information.
The pulse intensity adjustment unit
Using the plurality of coordinates, fit a region relating to the receiving coil to a tolerance map in which a plurality of tolerance coefficients indicating the degree of tolerance of the irradiation intensity are associated with the plurality of coordinates in the coordinate system,
Adjusting the irradiation intensity using a minimum allowable coefficient among a plurality of allowable coefficients included in the region related to the receiving coil,
The magnetic resonance imaging apparatus according to any one of claims 1 to 5.
前記位置情報生成部は、傾斜磁場により形成される3軸方向において、前記磁気共鳴信号の1次元プロファイルを求めることにより前記位置情報を生成する、
請求項1乃至3のうちいずれか一項に記載の磁気共鳴イメージング装置。
The position information generation unit generates the position information by obtaining a one-dimensional profile of the magnetic resonance signal in three axial directions formed by a gradient magnetic field.
The magnetic resonance imaging apparatus according to claim 1.
前記受信コイルと、前記受信コイルに接続され前記磁気共鳴信号を伝送するケーブルと、前記ケーブルの一端に設けられたコネクタとを有する受信コイル装置と、
前記受信コイル装置に接続可能であって、前記コネクタを介して前記磁気共鳴信号が入力される複数のポートと、
前記受信コイルから前記ケーブルが導出される方向と、前記複数のポートのうち前記コネクタが接続されたポートの位置と、前記位置情報とに基づいて、ボア内における前記ケーブルの取り回しがU字形状か否かを判定する判定部と、
をさらに具備し、
前記パルス強度調整部は、
前記取り回しが前記U字形状であると判定された場合、前記照射強度を調整する、
請求項1乃至8のうちいずれか一項に記載の磁気共鳴イメージング装置。
A receiving coil device comprising: the receiving coil; a cable connected to the receiving coil for transmitting the magnetic resonance signal; and a connector provided at one end of the cable;
A plurality of ports that can be connected to the receiving coil device and to which the magnetic resonance signal is input via the connector;
Based on the direction in which the cable is led out from the receiving coil, the position of the port to which the connector is connected among the plurality of ports, and the position information, whether the routing of the cable in the bore is U-shaped. A determination unit for determining whether or not,
Further comprising
The pulse intensity adjustment unit
When the handling is determined to be the U-shape, the irradiation intensity is adjusted.
The magnetic resonance imaging apparatus according to claim 1.
前記照射強度の調整により前記照射強度が前記受信コイルの位置に応じて制限されていることを表示する表示部をさらに具備する、
請求項1乃至9のうちいずれか一項に記載の磁気共鳴イメージング装置。
A display unit for displaying that the irradiation intensity is limited according to the position of the receiving coil by adjusting the irradiation intensity;
The magnetic resonance imaging apparatus according to claim 1.
前記照射強度の調整により前記照射強度が前記ケーブルの前記取り回しの状態に応じて制限されていることを表示する表示部をさらに具備する、
請求項9に記載の磁気共鳴イメージング装置。
A display unit for displaying that the irradiation intensity is limited according to the state of the routing of the cable by adjusting the irradiation intensity;
The magnetic resonance imaging apparatus according to claim 9.
前記照射強度の調整に応じて変更された撮像条件と変更前の撮像条件とに基づいて撮像時間の延長時間を計算する計算部をさらに具備し、
前記表示部は、前記延長時間を表示する、
請求項10または11に記載の磁気共鳴イメージング装置。
Further comprising a calculation unit that calculates an extended time of the imaging time based on the imaging condition changed according to the adjustment of the irradiation intensity and the imaging condition before the change,
The display unit displays the extended time.
The magnetic resonance imaging apparatus according to claim 10 or 11.
ボア内における受信コイルの位置情報を生成する位置情報生成部と、
前記位置情報に基づいて、被検体に照射されるRFパルスの照射強度を調整するパルス強度調整部と、
を具備する磁気共鳴イメージング装置。
A position information generator for generating position information of the receiving coil in the bore;
A pulse intensity adjusting unit that adjusts the irradiation intensity of the RF pulse applied to the subject based on the position information;
A magnetic resonance imaging apparatus comprising:
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021069386A (en) * 2019-10-29 2021-05-06 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 Magnetic resonance imaging system and position display method
JP2023538973A (en) * 2020-09-22 2023-09-12 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ Detection of off-label use of magnetic resonance imaging coils

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011045627A (en) * 2009-08-28 2011-03-10 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc Magnetic resonance imaging apparatus and program
JP2014079573A (en) * 2012-09-25 2014-05-08 Toshiba Corp Magnetic resonance imaging device and high frequency output measurement device thereof
JP2015180240A (en) * 2014-03-07 2015-10-15 株式会社東芝 Magnetic resonance imaging apparatus, and rf coil

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011045627A (en) * 2009-08-28 2011-03-10 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc Magnetic resonance imaging apparatus and program
JP2014079573A (en) * 2012-09-25 2014-05-08 Toshiba Corp Magnetic resonance imaging device and high frequency output measurement device thereof
JP2015180240A (en) * 2014-03-07 2015-10-15 株式会社東芝 Magnetic resonance imaging apparatus, and rf coil

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021069386A (en) * 2019-10-29 2021-05-06 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 Magnetic resonance imaging system and position display method
JP7416601B2 (en) 2019-10-29 2024-01-17 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 Magnetic resonance imaging system and position display method
JP2023538973A (en) * 2020-09-22 2023-09-12 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ Detection of off-label use of magnetic resonance imaging coils
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