JP2019164093A - 電荷発生装置とそれを有する微粒子検出器 - Google Patents
電荷発生装置とそれを有する微粒子検出器 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2019164093A JP2019164093A JP2018053256A JP2018053256A JP2019164093A JP 2019164093 A JP2019164093 A JP 2019164093A JP 2018053256 A JP2018053256 A JP 2018053256A JP 2018053256 A JP2018053256 A JP 2018053256A JP 2019164093 A JP2019164093 A JP 2019164093A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- discharge
- electrode
- flow path
- charge
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Abandoned
Links
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 title claims description 27
- 230000006698 induction Effects 0.000 claims abstract description 45
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims abstract description 11
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 27
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 45
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 29
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 25
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 13
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 8
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 7
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 7
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 6
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 5
- LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N N-Butanol Chemical compound CCCCO LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- BJQHLKABXJIVAM-UHFFFAOYSA-N bis(2-ethylhexyl) phthalate Chemical compound CCCCC(CC)COC(=O)C1=CC=CC=C1C(=O)OCC(CC)CCCC BJQHLKABXJIVAM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 3
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 3
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N Magnesium oxide Chemical compound [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 229920002037 poly(vinyl butyral) polymer Polymers 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 2
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N O-Xylene Chemical compound CC1=CC=CC=C1C CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 1
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 1
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- KZHJGOXRZJKJNY-UHFFFAOYSA-N dioxosilane;oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Si]=O.O=[Si]=O.O=[Al]O[Al]=O.O=[Al]O[Al]=O.O=[Al]O[Al]=O KZHJGOXRZJKJNY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 description 1
- GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N iridium atom Chemical compound [Ir] GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 229910052863 mullite Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010955 niobium Substances 0.000 description 1
- GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N niobium atom Chemical compound [Nb] GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004014 plasticizer Substances 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 1
- 238000004080 punching Methods 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 239000008096 xylene Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/06—Investigating concentration of particle suspensions
- G01N15/0606—Investigating concentration of particle suspensions by collecting particles on a support
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/06—Investigating concentration of particle suspensions
- G01N15/0656—Investigating concentration of particle suspensions using electric, e.g. electrostatic methods or magnetic methods
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/62—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
- G01N27/68—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode using electric discharge to ionise a gas
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/62—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
- G01N27/68—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode using electric discharge to ionise a gas
- G01N27/70—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode using electric discharge to ionise a gas and measuring current or voltage
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N2015/0042—Investigating dispersion of solids
- G01N2015/0046—Investigating dispersion of solids in gas, e.g. smoke
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Pathology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electrostatic Separation (AREA)
Abstract
【課題】電荷を安定して供給し得る技術を提供する。【解決手段】少なくとも一部が絶縁体で画定された流路内に電荷を発生する電荷発生装置であって、流路内に配置される放電電極と、放電電極の近傍に配置される誘導電極と、誘導電極に対して放電電極に所定の放電電圧を断続的に印加する電源とを備える。電源は、放電電圧を印加した後の期間の少なくとも一部において、誘導電極に対して放電電極に、放電電圧とは逆極性のベース電圧を印加する。【選択図】図6
Description
本明細書が開示する技術は、電荷発生装置とそれを有する微粒子検出器に関する。
流体中に含まれる微粒子を検出する微粒子検出器が知られている。微粒子検出器は、流体が導入される流路と、その流路内に電荷(荷電粒子の意、以下同じ)を発生する電荷発生装置と、流路内において放電電極よりも下流側に配置された捕集電極とを備える。捕集電極は、電荷の付着によって帯電した微粒子、又は、微粒子に付着していない電荷を捕集する。この微粒子検出器によると、捕集電極によって捕集された電荷量に基づいて、流体中に含まれる微粒子の量(例えば、微粒子の数、質量、体積など)を推定することができる。微粒子検出器の一例が、特許文献1に記載されている。この種の微粒子検出器は、自動車の排気管に取り付けられ、エンジンからの排出ガスに含まれる微粒子を検出する。
微粒子検出器では、微粒子の検出を行う流路が、セラミックといった絶縁体で画定されている。そのため、電荷発生装置の発生する電荷が過剰であると、流路の内面が帯電し、その結果、流路を通過する流体に含まれる電荷の密度が低下することがある。従って、本明細書は、流路の内面が帯電することを抑制して、電荷を安定して供給し得る技術を提供する。
本明細書が開示する技術は、少なくとも一部が絶縁体で画定された流路内に電荷を発生する電荷発生装置に具現化される。この電荷発生装置は、流路内に配置される放電電極と、放電電極の近傍に配置される誘導電極と、誘導電極に対して放電電極に所定の放電電圧を断続的に印加する電源とを備える。電源は、放電電圧を印加した後の期間の少なくとも一部において、誘導電極に対して放電電極に、放電電圧とは逆極性のベース電圧を印加する。
誘導電極に対して放電電極に、所定の放電電圧が印加されると、放電電極の近傍に存在する気体分子に電離が生じて、流路内に電荷が発生する。その後、誘導電極に対して放電電極に、放電電圧とは逆極性のベース電圧が印加されると、放電電極の近傍に発生した電荷の一部は、放電電極に引き寄せられて吸収される。この動作を繰り返すことで、電荷発生装置は、流路内に電荷を確実に発生させつつ、過剰に発生した電荷については、放電電極において直ちに回収することができる。これにより、流路内には適量の電荷が供給され、流路の内面が帯電することを抑制することができる。
本技術の一実施形態では、電源が、誘導電極に対して放電電極に、ベース電圧と放電電圧との間で変動するパルス波形の電圧を印加してもよい。このような構成によると、電源は、誘導電極に対する放電電極の電圧を、二値的に制御すればよいので、電源の構造や動作を簡素に実現することができる。あるいは、誘導電極に対して放電電極には、ベース電圧と放電電圧との間で変動する正弦波の電圧が印加されてもよい。このような構成によると、電荷発生装置の電源を、例えば汎用の交流電源を用いて容易に実現することができる。
本技術の一実施形態では、ベース電圧が、電荷を発生させない範囲内の大きさであってよい。ベース電圧の大きさは、発生した電荷を吸収し得る程度であればよいので、例えば放電電圧の大きさと比較して、十分に小さくすることができる。
本技術の一実施形態では、電源が、ベース電圧の大きさを変更可能であるとよい。ベース電圧の大きさが変更可能であると、放電電極に吸収される電荷の量を調整することができ、それによって、流路内に供給される電荷の量を調整することができる。
本技術の一実施形態では、放電電圧の大きさが、ベース電圧の大きさの2倍から5倍の範囲内であってよい。このような数値条件が満たされていると、放電電圧の印加による電荷の発生量に対して、ベース電圧の印加による電荷の吸収量の割合が安定し、流路内に安定した量の電荷を供給することができる。
本技術の一実施形態では、流路が矩形状の断面を有してもよい。この場合、矩形状の断面の短辺の寸法は、9mm以下であってよい。通常、短辺の寸法が小さくなるほど、流路の内面は帯電し易くなる。この点に関して、本技術に係る電荷発生装置では、短辺の寸法が9mm以下であっても、流路の内面が帯電することを有意に抑制することができる。
本技術の一実施形態では、放電電極から流路の下流端までの距離が、流路の矩形状の断面の短辺の長さ以上であってよい。通常、放電電極から流路の下流端までの距離が長くなるほど、流路の内面は帯電し易くなる。この点に関して、本技術に係る電荷発生装置では、放電電極から流路の下流端までの距離が、流路の矩形状の断面の短辺の寸法以上であっても、流路の内面が帯電することを有意に抑制することができる。
本技術の一実施形態では、放電電圧が正の電圧であり、放電電圧を断続的に印加するときのデューティ比が5から99パーセントの範囲内であってよい。あるいは、放電電圧が負の電圧であってもよく、この場合も、放電電圧を断続的に印加するときのデューティ比は、5から99パーセントの範囲内であってよい。
本明細書で開示する電荷発生装置は、例えば、微粒子検出器に採用することができる。この場合、微粒子検出器は、少なくとも一部が絶縁体で構成された流路を有する筐体と、流路内に電荷を発生する電荷発生装置と、流路内において放電電極よりも下流側に配置されており、電荷の付着によって帯電した微粒子、又は、微粒子に付着していない電荷を捕集する捕集電極とを備えることができる。この微粒子検出器では、流路内に適量の電荷が供給されることから、流体中に含まれる微粒子を正しく検出することができる。
図面を参照して、実施例の電荷発生装置10について説明する。図1−図3に示すように、本実施例の電荷発生装置10は、流路14を有する筐体12を備え、流路14内を通過する流体(典型的には気体)に電荷2を供給する。電荷発生装置10は、後述する微粒子検出器50に限られず、電荷2を必要とする各種の機器に採用することができる。
筐体12は、絶縁体で構成されている。筐体12を構成する絶縁体には、例えばセラミックを採用することができる。この場合、セラミックとしては、特に限定されないが、アルミナ(酸化アルミニウム)、窒化アルミニウム、炭化ケイ素、ムライト、ジルコニア、チタニア、窒化ケイ素、マグネシア、ガラス、又はこれらのうちの二以上を含む混合物が挙げられる。一例ではあるが、本実施例における筐体12は、第1の側壁12a、第2の側壁12b、本体12c及び底壁12dが接合されて構成されている。第1の側壁12aと第2の側壁12bは、互いに対向しており、それらの間に流路14が形成されている。また、本体12cと底壁12dは、第1の側壁12aと第2の側壁12bとの間において互いに対向しており、それらの間に流路14が形成されている。
流路14は、その上流端14aに位置する開口から、その下流端14bに位置する開口まで、筐体12を通過して延びている。なお、図3中の矢印Aは、流路14に導入される気体の流れ方向を示す。流路14は、筐体12を構成する絶縁体によって画定されている。即ち、筐体12の内面は、絶縁体によって構成されている。一例ではあるが、流路14は、矩形状の断面を有しており、その短辺の寸法W1は3mmであって、長辺の寸法W2は8mmである。但し、流路14の断面の形状や寸法については、特に限定されず、適宜変更することができる。
電荷発生装置10は、放電電極22と、二つの誘導電極24と、放電用電源26とを備える。放電電極22は、流路14の上流端14aの近傍において、流路14の内面に設けられている。一例ではあるが、放電電極22から流路14の上流端14aまでの距離は1mmであり、放電電極22から流路14の下流端14bまでの距離は9mmである。なお、流路14における放電電極22の位置は特に限定されず、例えば、放電電極22から流路14の下流端14bまでの距離は、流路14の矩形状の断面の短辺の寸法W1と同程度であってもよい。
二つの誘導電極24は、放電電極22の近傍において、筐体12の内部に埋設されている。一例ではあるが、本実施例における放電電極22は、流路14の矩形状の断面の長辺に沿って線状に延びており、その長手方向に沿って複数の微細な突起を有している。そして、二つの誘導電極24が、放電電極22に対して平行に延びている。放電電極22及び誘導電極24を構成する材料は、導電体であればよく、特に限定されない。また、誘導電極24は、筐体12の内部に埋設されていなくてもよく、例えば流路14の内面に設けられてもよい。誘導電極24の数についても、二つに限定されない。
特に限定されないが、放電電極22を構成する材料には、放電時における耐熱性の観点から、1500℃以上の融点を有する金属を採用することができる。この種の金属としては、例えば、チタン、クロム、鉄、コバルト、ニッケル、ニオブ、モリブデン、タンタル、タングステン、イリジウム、パラジウム、白金、金、又はそれらのうちの二以上を含む合金が挙げられる。そのなかでも、耐腐食性をさらに考慮すると、白金又は金を採用することが考えられる。放電電極22は、例えば、ガラスペーストを介して流路14の内面に接合されてもよい。あるいは、流路14の内面に金属ペーストをスクリーン印刷し、それを焼成して焼結金属とすることにより、流路14の内面に放電電極22を形成してもよい。誘導電極24を構成する材料にも、上述した放電電極22と同様に、各種の金属を採用することができる。なお、誘導電極24を構成する材料は、放電電極22を構成する材料と同じであってもよいし、異なってもよい。
一例ではあるが、放電電極22及び誘導電極24を備えた筐体12は、複数のセラミックグリーンシートを、積層することによって製造することができる。この場合、先ずはセラミックグリーンシートを製造する。具体的には、アルミナ粉末に、バインダーとしてのポリビニルブチラール樹脂(PVB)、可塑剤としてのフタル酸ビス(2−エチルヘキシル)(DOP)、溶剤としてのキシレンおよび1−ブタノールを加え、ボールミルにて30時間混合し、グリーンシート成形用スラリーを調製する。このスラリーに真空脱泡処理を施すことにより、粘度を4000cpsに調整した後、ドクターブレード装置によってシート材を作製する。このシート材を、焼成後の寸法が筐体12の寸法(例えば10mm)となるように、外形加工と打抜き加工を行って、グリーンシートを作製する。
続いて、グリーンシートの表面に、誘導電極24になる金属ペースト(例えば白金)を、筐体12における誘導電極24の位置に合わせ、また、焼成後の膜厚が5μmになるように、スクリーン印刷し、120℃で10分間乾燥する。また、他のグリーンシートの表面に、放電電極22になる金属ペーストを、筐体12における位置に合わせ、かつ、焼成後の膜厚が5μmになるように、スクリーン印刷し、120℃で10分間乾燥する。次に、それらのグリーンシートを、誘導電極24が内包され、且つ、放電電極22が露出するように積み重ねて第1の側壁12aを成形する。第1の側壁12a上に、グリーンシートで構成される底壁12d、本体12c及び第2の側壁12bを、焼成後の流路14の断面の寸法が3mm×8mmになるように積み重ね、積層体を構成する。この積層体を1450℃で2時間一体焼成することで、直方体状の筐体12を製造することができる。
放電用電源26は、放電電極22と誘導電極24とに接続されており、誘導電極24に対して放電電極22に、所定の放電電圧を断続的に(例えばパルス列状に)印加する。誘導電極24に対して放電電極22に放電電圧が印加されると、放電電極22と誘導電極24との間の電位差によって気中放電が発生する。このとき、筐体12のうちの放電電極22と誘導電極24との間に位置する部分が、誘電体層として機能する。この気中放電によって、放電電極22の近傍に存在する気体が電離され、正又は負の電荷2が発生する。これにより、流路14を流れる流体中に電荷2が供給される。
ここで、筐体12の流路14は、セラミックといった絶縁体で画定されている。そのため、放電電圧の印加によって発生した電荷2が過剰であると、流路14の内面が帯電し、その結果、流路14を通過する流体に含まれる電荷2の密度が低下することがある。そこで、本実施例の電荷発生装置10では、放電用電源26が、放電電圧を印加した後の期間の少なくとも一部において、誘導電極24に対して放電電極22に、放電電圧とは逆極性のベース電圧を印加する。逆極性のベース電圧が放電電極22に印加されると、放電電極22の近傍に発生した電荷2の一部が、放電電極22に引き寄せられて吸収される。これにより、放電電圧の印加によって発生した電荷2のうち、過剰な電荷2については、放電電極22において直ちに回収され、流路14内へ飛散することが抑制される。これにより、流路14内には適量の電荷2が供給され、流路14の内面が帯電することを抑制することができる。以下では、いくつかの試験結果を示すことにより、本実施例の電荷発生装置10に係る特徴について説明する。
[試験1]
この試験1では、比較例としてベース電圧Vbをゼロボルトとし、誘導電極24に対して放電電極22に、図4に示す波形の電圧を印加した。図4に示すように、放電電極22には、3kV(キロボルト)の放電電圧Vaが、1ミリ秒の間隔でパルス状に印加される。パルス幅は100マイクロ秒であり、デューティ比は10パーセントである。放電電圧Vaが印加されない期間では、ベース電圧Vbとしてゼロボルトが放電電極22に印加される。このような電圧を印加しながら、流路14の流量を5リットル/分に調整し、流路14を通過した気体に含まれる正イオンの密度を測定した。参考として、正イオンの密度の測定には、泰榮エンジニアリング株式会社製の空気イオンカウンターを利用した。
この試験1では、比較例としてベース電圧Vbをゼロボルトとし、誘導電極24に対して放電電極22に、図4に示す波形の電圧を印加した。図4に示すように、放電電極22には、3kV(キロボルト)の放電電圧Vaが、1ミリ秒の間隔でパルス状に印加される。パルス幅は100マイクロ秒であり、デューティ比は10パーセントである。放電電圧Vaが印加されない期間では、ベース電圧Vbとしてゼロボルトが放電電極22に印加される。このような電圧を印加しながら、流路14の流量を5リットル/分に調整し、流路14を通過した気体に含まれる正イオンの密度を測定した。参考として、正イオンの密度の測定には、泰榮エンジニアリング株式会社製の空気イオンカウンターを利用した。
図5に、試験1の測定結果を示す。図5に示すように、試験開始の直後では、測定された正イオンの密度が7×106個/cm3であったが、約10秒を経過した時点から正イオンの密度が急激に低下し始め、約5分を経過した時点において、測定された正イオンの密度は1×103個/cm3まで低下した。このように、ベース電圧Vbがゼロボルトであって、放電電圧Vaに対して逆極性でないと、時間の経過とともに正イオンの密度が有意に低下する。これは、過剰に発生した正イオンによって流路14の内面が帯電し、帯電した流路14から受ける反力によって、流路14を通過する正イオンが減少したためと推察される。
[試験2]
この試験2では、一実施例としてベース電圧Vbを−1kVに変更し、誘導電極24に対して放電電極22に、図6に示す波形の電圧を印加した。図6に示すように、放電電極22には、3kVの放電電圧Vaが、1ミリ秒の間隔でパルス状に印加される。パルス幅は100マイクロ秒であり、デューティ比は10パーセントである。放電電圧Vaが印加されない期間では、ベース電圧Vbとして、−1kVの電圧が放電電極22に印加される。即ち、比較例の試験と異なる点は、ベース電圧Vbが、放電電圧Vaに対して逆極性である点である。このような電圧を印加しながら、流路14の流量を5リットル/分に調整し、流路14を通過した気体に含まれる正イオンの密度を測定した。この試験においても、正イオンの密度の測定には、泰榮エンジニアリング株式会社製の空気イオンカウンターを利用した。
この試験2では、一実施例としてベース電圧Vbを−1kVに変更し、誘導電極24に対して放電電極22に、図6に示す波形の電圧を印加した。図6に示すように、放電電極22には、3kVの放電電圧Vaが、1ミリ秒の間隔でパルス状に印加される。パルス幅は100マイクロ秒であり、デューティ比は10パーセントである。放電電圧Vaが印加されない期間では、ベース電圧Vbとして、−1kVの電圧が放電電極22に印加される。即ち、比較例の試験と異なる点は、ベース電圧Vbが、放電電圧Vaに対して逆極性である点である。このような電圧を印加しながら、流路14の流量を5リットル/分に調整し、流路14を通過した気体に含まれる正イオンの密度を測定した。この試験においても、正イオンの密度の測定には、泰榮エンジニアリング株式会社製の空気イオンカウンターを利用した。
上記した試験の結果、試験開始後から5分を経過した時点において、測定された正イオンの密度は7×106個/cm3となり、良好な結果が確認されてた。そこで、ベース電圧Vbを変更しながら同様の試験を繰り返し、試験開始後から5分を経過した時点での正イオンの密度をそれぞれ測定した。その結果、図7に示すように、ベース電圧Vbが低下するにつれて正イオンの密度は上昇し、−0.7kVから−1.4kVの間では、7×106個/cm3でほぼ一定となった。さらにベース電圧Vbを低下させ、−1.5kVとすると、急激に正イオンの密度が低下した。
次に、放電電圧Vaを−3kVとし、他の条件は変更せず、ベース電圧Vbをゼロボルトから1kVへと変更しながら、負イオンの密度を測定する試験を実施したところ、上記した正イオンの密度と同様の結果が確認された。これらの結果から、放電電圧Vaの後に印加するベース電圧Vbを、放電電圧Vaとは逆極性とすることで、流路14に電荷2が安定して供給されることが理解される。
ここで、誘導電極24に対して放電電極22に印加される電圧の波形は、例えば図8に例示するように、様々に変更可能である。図8に示す波形例1−7では、放電電圧Vaが正の電圧であり、ベース電圧Vbが負の電圧であって、ベース電圧Vbが放電電圧Vaに対して逆極性となっている。放電用電源26の簡素化という観点では、波形例1のパルス波、波形例2の正弦半波、又は波形例7の正弦波を採用することが好ましい。パルス波については、直流電源を用いて放電用電源26を構成し、スイッチング素子によって直流電圧を断続的に出力させればよい。正弦半波又は正弦波については、交流電源を用いて放電用電源26を構成し、ダイオードを介して、又は直接的に出力させればよい。なお、図8に示す波形例1−7のいずれにおいても、極性を反転させて、放電電圧Vaを負の電圧とし、ベース電圧Vbを正の電圧としてもよい。
なお、流路14の流量を5リットル/分に調整した場合、流路14の開口において計測された風速は1.77メートル毎秒であった。流路14の流量を調整して徐々に下げていったところ、流量が1.5リットル/分となったときに、ベース電圧Vbを放電電圧Vaに対して逆極性にしても、計測されるイオンの密度は比較的に小さいままであった。このとき、流路14の開口において計測された風速は0.57メートル毎秒であった。逆に、流路14の流量を調整して徐々に上げていったところ、流量が15リットル/分となったときに、イオン密度の低下はみられず、ベース電圧Vbを放電電圧Vaに対して逆極性にしなくても、計測されるイオンの密度は比較的に高いままであった。このとき、流路14の開口において計測された風速は4.5メートル毎秒であった。
[試験3]
この試験3では、誘導電極24に対して放電電極22に印加する放電電圧Vaのデューティ比を変更しながら、試験開始後から5分を経過した時点での正イオンの密度をそれぞれ測定した。なお、放電電圧Vaは3kVであり、ベース電圧Vbは−1kVであり、周期は1ミリ秒である。その結果、図9に示すように、デューティ比が5パーセントから99パーセントの間では正イオンの密度が7×106個/cm3でほぼ一定となったが、デューティ比が99パーセントを超えると正イオンの密度が急激に低下した。
この試験3では、誘導電極24に対して放電電極22に印加する放電電圧Vaのデューティ比を変更しながら、試験開始後から5分を経過した時点での正イオンの密度をそれぞれ測定した。なお、放電電圧Vaは3kVであり、ベース電圧Vbは−1kVであり、周期は1ミリ秒である。その結果、図9に示すように、デューティ比が5パーセントから99パーセントの間では正イオンの密度が7×106個/cm3でほぼ一定となったが、デューティ比が99パーセントを超えると正イオンの密度が急激に低下した。
次に、放電電圧Vaを−3kVに変更し、ベース電圧Vbを−1kVに変更して、試験開始後から5分を経過した時点での負イオンの密度を測定する試験を実施した。その結果、正イオンの測定と同様に、デューティ比が5パーセントから99パーセントの間では正イオンの密度が7×106個/cm3でほぼ一定となったが、デューティ比が99パーセントを超えると正イオンの密度が急激に低下した。これらの結果から、正イオンについても、負イオンについても、放電電圧Vaを印加するデューティ比が5パーセントから99パーセントの間であれば、流路14に電荷2を安定して供給できることが確認される。
[試験4]
この試験4では、流路14の矩形状の断面の短辺の寸法W1が異なる筐体12を複数用意して、試験開始後から5分を経過した時点での正イオンの密度をそれぞれ測定した。なお、流路14の短辺の寸法W1による影響を確認するために、ベース電圧Vbはゼロボルトとして、誘導電極24に対して放電電極22に、図4に示す波形の電圧を印加した。その結果、図10に示すように、短辺の寸法W1が5mm以下では正イオンの密度が非常に少なく、短辺の寸法W1が5mmを超えると、正イオンが急激に上昇していった。そして、短辺の寸法W1が9mm以上では、正イオンの密度が7×106個/cm3に到達した。この結果から、短辺の寸法W1が9mm以下では、ベース電圧Vbをゼロボルトとした場合に、正イオンの密度が低下することが確認された。これに対して、前述した試験2では、短辺の寸法W1が3mmであっても、ベース電圧Vbを放電電圧Vaに対して逆極性とすることで、測定された正イオンの密度は7×106個/cm3であった。そのことから、短辺の寸法W1が9mm以下であるときは、ベース電圧Vbを放電電圧Vaに対して逆極性とすることで、電荷2の密度低下が有意に抑制されることが確認される。
この試験4では、流路14の矩形状の断面の短辺の寸法W1が異なる筐体12を複数用意して、試験開始後から5分を経過した時点での正イオンの密度をそれぞれ測定した。なお、流路14の短辺の寸法W1による影響を確認するために、ベース電圧Vbはゼロボルトとして、誘導電極24に対して放電電極22に、図4に示す波形の電圧を印加した。その結果、図10に示すように、短辺の寸法W1が5mm以下では正イオンの密度が非常に少なく、短辺の寸法W1が5mmを超えると、正イオンが急激に上昇していった。そして、短辺の寸法W1が9mm以上では、正イオンの密度が7×106個/cm3に到達した。この結果から、短辺の寸法W1が9mm以下では、ベース電圧Vbをゼロボルトとした場合に、正イオンの密度が低下することが確認された。これに対して、前述した試験2では、短辺の寸法W1が3mmであっても、ベース電圧Vbを放電電圧Vaに対して逆極性とすることで、測定された正イオンの密度は7×106個/cm3であった。そのことから、短辺の寸法W1が9mm以下であるときは、ベース電圧Vbを放電電圧Vaに対して逆極性とすることで、電荷2の密度低下が有意に抑制されることが確認される。
次に、図11−14を参照して、実施例の微粒子検出器50について説明する。本実施例の微粒子検出器50は、上述した電荷発生装置10を用いて構成されている。電荷発生装置10に相当する部分については、同一の符号を付すことによって、重複する説明は省略する。
本実施例の微粒子検出器50は、例えば自動車に搭載され、エンジンからの排出ガスに含まれる微粒子の数を監視するために用いられる。微粒子検出器50は、流路14を有する筐体12を備える。筐体12は、エンジンに接続された排気管6内に取り付けられ、筐体12の流路14は排気管6内に配置される。微粒子検出器50は、流路14を通過する排出ガスに含まれる微粒子4の数を測定する。
筐体12には、放電電極22、誘導電極24、第1捕集電極52、第1電界発生電極54、第2捕集電極56及び第2電界発生電極58が設けられている。前述したように、放電電極22は、流路14の内面に設けられており、誘導電極24は、放電電極22の近傍において筐体12内に埋設されている。放電電極22と誘導電極24は、放電用電源26に接続されており、放電電圧Vaが断続的に印加される。これにより、流路14内に電荷2が発生するとともに、その電荷2が排出ガス中の微粒子4に付着することによって、微粒子4が帯電する。このとき、各々の微粒子4に付着する電荷2の数は、おおよそ一定(例えば一つ)である。
放電用電源26は、放電電圧Vaを印加した後の期間の少なくとも一部において、誘導電極24に対して放電電極22に、放電電圧Vaとは逆極性のベース電圧Vbを印加する(例えば、図6、図8参照)。これにより、前述したように、流路14内には適量の電荷2が供給され、排出ガスに供給される電荷2の密度が経時的に安定する。従って、微粒子検出器50は、排出ガスに含まれる微粒子4を高い精度で検出することができる。
第1捕集電極52と第1電界発生電極54は、放電電極22よりも下流側において、流路14の内面に設けられている。第1捕集電極52と第1電界発生電極54は、互いに対向している。第1捕集電極52と第1電界発生電極54は、直流電源(図示省略)に接続され、それらの間に電界を形成する。この電界は比較的に弱く、微粒子4に付着していない余剰の電荷2のみが、第1捕集電極52へ吸い寄せられ、第1捕集電極52において捕集される。帯電した微粒子4(即ち、電荷2が付着した微粒子4)は、電荷2よりも質量が大きいことから、第1捕集電極52において捕集されることなく、第1捕集電極52と第1電界発生電極54との間を通過していく。
第2捕集電極56と第2電界発生電極58は、第1捕集電極52と第1電界発生電極54よりも下流側において、流路14の内面に設けられている。第2捕集電極56と第2電界発生電極58は、互いに対向している。第2捕集電極56と第2電界発生電極58は、直流電源(図示省略)に接続され、それらの間に電界を形成する。第2捕集電極56と第2電界発生電極58との間に形成される電界は、第1捕集電極52と第1電界発生電極54との間に形成される電界よりも強い。従って、帯電した微粒子4が、第2捕集電極56へ吸い寄せられ、第2捕集電極56において捕集される。第2捕集電極56には、例えば電流計60が接続される。電流計60の測定値は、第2捕集電極56において単位時間あたりに捕集された微粒子4の数に対応する。従って、電流計60の測定値及びその他の指標(例えば、流路14を流れる排出ガスの流量)に基づいて、排出ガスに含まれる微粒子4の数又は密度を測定することができる。
第2捕集電極56と第2電界発生電極58との間に印加する直流電圧を小さくすると、大きな質量の微粒子4は、第2捕集電極56において捕集されることなく、第1捕集電極52と第1電界発生電極54との間を通過する。それに対して、第2捕集電極56と第2電界発生電極58との間に印加する直流電圧を大きくすると、大きな質量の微粒子4についても、第2捕集電極56に引き寄せて、捕集することができる。そのことから、第2捕集電極56と第2電界発生電極58との間に印加する直流電圧を調整することで、特定の範囲の質量を有する微粒子4のみを選択的に捕集して、その数又は密度を測定することができる。従って、第2捕集電極56と第2電界発生電極58との間に印加する直流電圧を、例えば段階的に変化させることにより、排出ガスに含まれる微粒子4を分級して、その数又は密度をそれぞれ測定することができる。
ここで、第1捕集電極52で捕集される余剰な電荷2の数と、第2捕集電極56で捕集される帯電した微粒子4の数との間には、負の相関関係がある。即ち、排出ガスに含まれる微粒子4の数が多いときほど、第1捕集電極52で捕集される余剰な電荷2の数は減少し、その一方で、第2捕集電極56で捕集される帯電した微粒子4の数は増大する。そのことから、他の実施形態として、第1捕集電極52に電流計60を接続して余剰な電荷2の数を測定し、その測定値に基づいて微粒子4の数を推定してもよい。このような構成であると、第2捕集電極56及び第2電界発生電極58が必ずしも必要とされず、それらを省略することができる。
以上、本発明の具体例を詳細に説明したが、これらは例示に過ぎず、特許請求の範囲を限定するものではない。特許請求の範囲に記載の技術には、以上に例示した具体例を様々に変形、変更したものが含まれる。本明細書又は図面に説明した技術要素は、単独で、あるいは各種の組合せによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時の請求項に記載の組合せに限定されるものではない。本明細書又は図面に例示した技術は、複数の目的を同時に達成し得るものであり、そのうちの一つの目的を達成すること自体で技術的有用性を持つものである。
2:電荷
4:微粒子
6:排気管
10:電荷発生装置
12:筐体
14:流路
22:放電電極
24:誘導電極
26:放電用電源
50:微粒子検出器
52:第1捕集電極
54:第1電界発生電極
56:第2捕集電極
58:第2電界発生電極
60:電流計
4:微粒子
6:排気管
10:電荷発生装置
12:筐体
14:流路
22:放電電極
24:誘導電極
26:放電用電源
50:微粒子検出器
52:第1捕集電極
54:第1電界発生電極
56:第2捕集電極
58:第2電界発生電極
60:電流計
Claims (10)
- 少なくとも一部が絶縁体で画定された流路内に電荷を発生する電荷発生装置であり、
前記流路内に配置される放電電極と、
前記放電電極の近傍に配置される誘導電極と、
前記誘導電極に対して前記放電電極に所定の放電電圧を断続的に印加する電源と、を備え、
前記電源は、前記放電電圧を印加した後の期間の少なくとも一部において、前記誘導電極に対して前記放電電極に、前記放電電圧とは逆極性のベース電圧を印加する、
電荷発生装置。 - 前記電源は、前記誘導電極に対して前記放電電極に、前記ベース電圧と前記放電電圧との間で変動するパルス波形又は正弦波の電圧を印加する、請求項1に記載の電荷発生装置。
- 前記ベース電圧は、電荷を発生させない範囲内の大きさである、請求項1又は2に記載の電荷発生装置。
- 前記電源は、前記ベース電圧の大きさを変更可能である、請求項1から3のいずれか一項に記載の電荷発生装置。
- 前記放電電圧の大きさは、前記ベース電圧の大きさの2倍から5倍の範囲内である、請求項1から4のいずれか一項に記載の電荷発生装置。
- 前記流路は矩形状の断面を有し、前記矩形状の断面の短辺の寸法が9mm以下である、請求項1から5のいずれか一項に記載の電荷発生装置。
- 前記放電電極から前記流路の下流端までの距離は、前記流路の矩形状の断面の短辺の寸法以上である、請求項6に記載の電荷発生装置。
- 前記放電電圧が正の電圧であり、前記放電電圧を断続的に印加するときのデューティ比が5から99パーセントの範囲内である、請求項1から7のいずれか一項に記載の電荷発生装置。
- 前記放電電圧が負の電圧であり、前記放電電圧を断続的に印加するときのデューティ比が5から99パーセントの範囲内である、請求項1から7のいずれか一項に記載の電荷発生装置。
- 少なくとも一部が絶縁体で構成された流路を有する筐体と、
前記流路内に電荷を発生する請求項1から9のいずれか一項に記載の電荷発生装置と、
前記流路内において前記放電電極よりも下流側に配置され、前記電荷の付着によって帯電した微粒子、又は前記微粒子に付着していない前記電荷を捕集する捕集電極と、
を備える微粒子検出器。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018053256A JP2019164093A (ja) | 2018-03-20 | 2018-03-20 | 電荷発生装置とそれを有する微粒子検出器 |
US16/352,013 US20190293602A1 (en) | 2018-03-20 | 2019-03-13 | Ion generator and fine particle sensor including the same |
CN201910205918.2A CN110308198A (zh) | 2018-03-20 | 2019-03-19 | 电荷发生装置和具有该电荷发生装置的微粒检测器 |
DE102019107186.0A DE102019107186A1 (de) | 2018-03-20 | 2019-03-20 | Ionengenerator und Feinpartikelsensor mit einem solchen Ionengenerator |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018053256A JP2019164093A (ja) | 2018-03-20 | 2018-03-20 | 電荷発生装置とそれを有する微粒子検出器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019164093A true JP2019164093A (ja) | 2019-09-26 |
Family
ID=67848410
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018053256A Abandoned JP2019164093A (ja) | 2018-03-20 | 2018-03-20 | 電荷発生装置とそれを有する微粒子検出器 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20190293602A1 (ja) |
JP (1) | JP2019164093A (ja) |
CN (1) | CN110308198A (ja) |
DE (1) | DE102019107186A1 (ja) |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5213979B2 (ja) * | 2011-03-17 | 2013-06-19 | 日本特殊陶業株式会社 | 微粒子センサおよびその取付構造 |
JP5774516B2 (ja) * | 2012-02-21 | 2015-09-09 | 日本特殊陶業株式会社 | 微粒子センサ |
JP6053603B2 (ja) * | 2013-05-02 | 2016-12-27 | 日本特殊陶業株式会社 | 微粒子測定システム |
US10330579B2 (en) * | 2013-10-25 | 2019-06-25 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Particulate measurement system |
JP2018038988A (ja) * | 2016-09-09 | 2018-03-15 | 株式会社島津製作所 | 粒子濃縮装置 |
JP2019163975A (ja) * | 2018-03-19 | 2019-09-26 | 日本碍子株式会社 | 微粒子検出器 |
-
2018
- 2018-03-20 JP JP2018053256A patent/JP2019164093A/ja not_active Abandoned
-
2019
- 2019-03-13 US US16/352,013 patent/US20190293602A1/en not_active Abandoned
- 2019-03-19 CN CN201910205918.2A patent/CN110308198A/zh active Pending
- 2019-03-20 DE DE102019107186.0A patent/DE102019107186A1/de not_active Withdrawn
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20190293602A1 (en) | 2019-09-26 |
DE102019107186A1 (de) | 2019-09-26 |
CN110308198A (zh) | 2019-10-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5081897B2 (ja) | 粒子状物質検出装置及び粒子状物質検出方法 | |
US8176768B2 (en) | Particulate matter detection device | |
JP4512658B2 (ja) | 粒子状物質検出装置 | |
US8366813B2 (en) | Particulate matter detection device | |
JP2019164094A (ja) | 電荷発生装置とそれを有する微粒子検出器 | |
US20190391063A1 (en) | Particulate detecting element and particulate detector | |
US20190346357A1 (en) | Particle counter | |
US20200003672A1 (en) | Charge generation element and fine-particle count detector | |
JP2019164093A (ja) | 電荷発生装置とそれを有する微粒子検出器 | |
JP5193911B2 (ja) | 粒子状物質検出装置 | |
WO2018212156A1 (ja) | 微粒子数検出器 | |
JP2009207989A (ja) | 集塵フィルタおよび集塵装置 | |
US20200200668A1 (en) | Particle detection element and particle detector | |
US20200200710A1 (en) | Particle detection element and particle detector | |
JPWO2019039072A1 (ja) | 微粒子数検出器 | |
US20200209134A1 (en) | Particle detection element and particle detector | |
US20200166448A1 (en) | Gas flow sensor and particle counter | |
CN111094935A (zh) | 具有平坦的、露出的电晕放电电极的颗粒传感器 | |
JP2019045416A (ja) | 微粒子数検出器 | |
JP2019045415A (ja) | 微粒子数検出器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20201019 |
|
A762 | Written abandonment of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A762 Effective date: 20201224 |