JP2019162844A - Liquid discharge device and driving signal generating circuit - Google Patents

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Abstract

To provide a liquid discharge device which can reduce occurrence of unintended displacement of a piezoelectric element.SOLUTION: A liquid discharge device comprises: a driving circuit outputting a driving signal; a piezoelectric element having a first electrode supplied with the driving signal and a second electrode supplied with a reference voltage signal and being displaced by a potential difference between the first electrode and the second electrode; a cavity filled with liquid discharged from a nozzle in association with displacement of the piezoelectric element; a diaphragm provided between the cavity and the piezoelectric element; a detection circuit detecting whether or not voltage variations of the driving signal are within a predetermined range; and a determination circuit determining whether or not the driving signal is normal on the basis of a detection result of the detection circuit.SELECTED DRAWING: Figure 23

Description

本発明は、液体吐出装置及び駆動信号生成回路に関する。   The present invention relates to a liquid ejection device and a drive signal generation circuit.

インク等の液体を吐出して画像や文書を印刷するインクジェットプリンター(液体吐出装置)には、例えばピエゾ素子などの圧電素子を用いたものが知られている。圧電素子は、プリントヘッドにおいて、インクを吐出する複数のノズル、及びノズルから吐出されるインクを貯留するキャビティーに対応して設けられる。そして、圧電素子が駆動信号に従い変位することで、圧電素子とキャビティーとの間に設けられた振動板が撓み、キャビティーの容積が変化する。これにより、ノズルから所定のタイミングで所定量のインクが吐出され、媒体上にドットが形成される。   As an ink jet printer (liquid ejecting apparatus) that ejects a liquid such as ink to print an image or a document, a printer using a piezoelectric element such as a piezoelectric element is known. Piezoelectric elements are provided in a print head corresponding to a plurality of nozzles that eject ink and cavities that store ink ejected from the nozzles. Then, when the piezoelectric element is displaced according to the drive signal, the diaphragm provided between the piezoelectric element and the cavity is bent, and the volume of the cavity is changed. As a result, a predetermined amount of ink is ejected from the nozzles at a predetermined timing, and dots are formed on the medium.

特許文献1には、上部電極と下部電極との間の電位差に基づき変位する圧電素子に対して、上部電極に印刷データに基づき生成された駆動信号を供給し、下部電極に基準電圧を供給し、選択回路(スイッチ回路)により駆動信号を供給するか否かを制御することで、圧電素子の変位を制御し、インクを吐出する液体吐出装置が開示されている。   In Patent Document 1, a drive signal generated based on print data is supplied to the upper electrode and a reference voltage is supplied to the lower electrode for a piezoelectric element that is displaced based on a potential difference between the upper electrode and the lower electrode. A liquid ejecting apparatus is disclosed that ejects ink by controlling the displacement of a piezoelectric element by controlling whether or not a drive signal is supplied by a selection circuit (switch circuit).

特開2017−43007号公報JP 2017-43007 A

特許文献1に記載されるような圧電素子の変位に基づいてインクを吐出する液体吐出装置において、圧電素子に意図しない直流電圧が供給された場合、当該圧電素子に意図しない変位が継続して生じる。圧電素子に意図しない変位が生じた場合、当該変位に基づいて振動板も変位する。その結果、振動板に想定よりも大きな撓みが生じ、振動板に意図しない応力が加わる。   In a liquid ejecting apparatus that ejects ink based on displacement of a piezoelectric element as described in Patent Document 1, when an unintended DC voltage is supplied to the piezoelectric element, unintended displacement is continuously generated in the piezoelectric element. . When an unintended displacement occurs in the piezoelectric element, the diaphragm is also displaced based on the displacement. As a result, a larger deflection than expected occurs in the diaphragm, and an unintended stress is applied to the diaphragm.

このような振動板に生じる意図しない応力が長時間継続して加わった場合、振動板とキャビティーとの接点を中心に応力が集中し、振動板にクラック等が生じるおそれがある。   When such unintentional stress generated in the diaphragm is continuously applied for a long time, the stress concentrates around the contact point between the diaphragm and the cavity, and there is a possibility that a crack or the like is generated in the diaphragm.

さらに、振動板に意図しない撓みが生じた状態から吐出動作に遷移した場合に振動板に必要以上の負荷が掛かり、当該負荷により振動板にクラック等が生じるおそれもある。   Furthermore, when a transition is made from a state where unintentional bending has occurred to the diaphragm to a discharge operation, an unnecessary load is applied to the diaphragm, which may cause cracks or the like in the diaphragm.

仮に振動板にクラックが生じた場合、当該クラックからキャビティーに貯留されたインクが漏れ出し、キャビティーの容積の変化に対して吐出されるインク量にばらつきが生じる。その結果、インクの吐出精度が悪化する。   If a crack occurs in the diaphragm, the ink stored in the cavity leaks from the crack, and the amount of ink ejected varies with the change in the volume of the cavity. As a result, the ink ejection accuracy deteriorates.

さらに、当該クラックから漏れ出したインクが圧電素子の上部電極と下部電極との双方に付着した場合、上部電極と下部電極との間に当該インクを介した電流経路が形成される。その結果、下部電極に供給される基準電圧信号の電位が変動する。当該基準電圧信号が複数の圧電素子に対して共通に供給されている場合においては、基準電圧信号の電位の変動は複数の圧電素子の変位に影響する。すなわち、クラックが生じた振動板に対応するノズルからの吐出精度に限らず、液体吐出装置全体におけるインクの吐出精度に影響を及ぼすおそれもある。   Further, when ink leaking from the crack adheres to both the upper electrode and the lower electrode of the piezoelectric element, a current path through the ink is formed between the upper electrode and the lower electrode. As a result, the potential of the reference voltage signal supplied to the lower electrode varies. In the case where the reference voltage signal is supplied in common to the plurality of piezoelectric elements, the fluctuation of the potential of the reference voltage signal affects the displacement of the plurality of piezoelectric elements. That is, not only the ejection accuracy from the nozzle corresponding to the vibration plate in which the crack has occurred, but also the ink ejection accuracy in the entire liquid ejection apparatus may be affected.

このような圧電素子に意図しない電圧が長時間継続して加わることに起因する圧電素子及び振動板に生じる変位に対する課題は、特許文献1にも開示されていない新規な課題である。   The problem with respect to the displacement generated in the piezoelectric element and the diaphragm due to such unintentional voltage being continuously applied to the piezoelectric element for a long time is a new problem that is not disclosed in Patent Document 1.

本発明に係る液体吐出装置の一態様は、駆動信号を出力する駆動回路と、前記駆動信号が供給される第1電極と基準電圧信号が供給される第2電極とを有し、前記第1電極と前記第2電極との電位差によって変位する圧電素子と、前記圧電素子の変位に伴いノズルから吐出される液体が充填されるキャビティーと、前記キャビティーと前記圧電素子との間に設けられている振動板と、前記駆動信号の電圧変動が所定の範囲内であるか否かを検出する検出回路と、前記検出回路の検出結果に基づいて前記駆動信号が正常であるか否かを判定する判定回路と、を備える。   One aspect of the liquid ejection apparatus according to the present invention includes a drive circuit that outputs a drive signal, a first electrode that is supplied with the drive signal, and a second electrode that is supplied with a reference voltage signal. A piezoelectric element that is displaced by a potential difference between the electrode and the second electrode; a cavity that is filled with a liquid ejected from a nozzle in accordance with the displacement of the piezoelectric element; and a space between the cavity and the piezoelectric element. And a detection circuit for detecting whether or not a voltage fluctuation of the drive signal is within a predetermined range, and determining whether or not the drive signal is normal based on a detection result of the detection circuit And a determination circuit.

前記液体吐出装置の一態様では、前記検出回路において前記駆動信号の前記電圧変動が所定の期間継続して、前記所定の範囲内であると検出された場合、前記判定回路は、前記駆動信号が正常でないと判定してもよい。   In one aspect of the liquid ejecting apparatus, when the voltage fluctuation of the drive signal is detected to be within the predetermined range in the detection circuit for a predetermined period, the determination circuit You may determine that it is not normal.

前記液体吐出装置の一態様では、前記判定回路において前記駆動信号が正常でないと判定された場合、前記駆動回路は、前記駆動信号の電圧値を前記基準電圧信号の電圧値に近づくように制御してもよい。   In one aspect of the liquid ejection apparatus, when the determination circuit determines that the drive signal is not normal, the drive circuit controls the voltage value of the drive signal so as to approach the voltage value of the reference voltage signal. May be.

前記液体吐出装置の一態様では、前記判定回路において前記駆動信号が正常でないと判定された場合、前記判定回路は、前記第1電極及び前記第2電極の少なくともいずれか一方の電荷を放出させるための信号を出力してもよい。   In one aspect of the liquid ejecting apparatus, when the determination circuit determines that the drive signal is not normal, the determination circuit releases the charge of at least one of the first electrode and the second electrode. May be output.

前記液体吐出装置の一態様において、前記検出回路は、前記駆動信号の元となる元駆動信号に基づいて前記駆動信号の前記電圧変動が前記所定の範囲内であるか否かを検出してもよい。   In one aspect of the liquid ejection apparatus, the detection circuit may detect whether the voltage fluctuation of the drive signal is within the predetermined range based on an original drive signal that is an origin of the drive signal. Good.

前記液体吐出装置の一態様において、前記検出回路は、前記駆動信号に基づいて前記駆動信号の前記電圧変動が前記所定の範囲内であるか否かを検出してもよい。   In one aspect of the liquid ejection apparatus, the detection circuit may detect whether or not the voltage fluctuation of the drive signal is within the predetermined range based on the drive signal.

本発明に係る液体吐出装置に設けられる駆動信号生成回路の一態様は、第1電極と第2電極との間に生じる電位差によって変位する圧電素子と、前記圧電素子の変位に伴いノズルから吐出される液体が充填されるキャビティーと、前記キャビティーと前記圧電素子との間に設けられている振動板と、を有する液体吐出装置に用いられる駆動信号生成回路であって、前記圧電素子の第1電極に供給される駆動信号を出力する駆動回路と、前記駆動信号の電圧変動が所定の範囲内であるか否かを検出する検出回路と、前記検出回路の検出結果に基づいて前記駆動信号が正常か否かを判定する判定回路と、を備える。   One aspect of a drive signal generation circuit provided in a liquid ejection apparatus according to the present invention is a piezoelectric element that is displaced by a potential difference generated between a first electrode and a second electrode, and is ejected from a nozzle in accordance with the displacement of the piezoelectric element. A drive signal generation circuit for use in a liquid ejection apparatus having a cavity filled with a liquid to be filled and a diaphragm provided between the cavity and the piezoelectric element. A drive circuit that outputs a drive signal supplied to one electrode; a detection circuit that detects whether or not a voltage fluctuation of the drive signal is within a predetermined range; and the drive signal based on a detection result of the detection circuit And a determination circuit for determining whether or not is normal.

液体吐出装置の概略構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows schematic structure of a liquid discharge apparatus. 液体吐出装置の電気構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the electrical structure of a liquid discharge apparatus. 液体吐出装置の各動作モードにおけるモード遷移を説明するためのフローチャート図である。FIG. 10 is a flowchart for explaining mode transition in each operation mode of the liquid ejection apparatus. 駆動信号生成回路の回路構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the circuit structure of a drive signal generation circuit. 基準電圧信号生成回路の回路構成を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows the circuit structure of a reference voltage signal generation circuit. 給電切替回路の電気構成を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows the electric constitution of a feed switching circuit. 印刷モードにおける駆動信号COMの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the drive signal COM in printing mode. 吐出モジュール及び駆動ICの電気構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the electrical structure of a discharge module and drive IC. 選択回路の電気構成を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows the electric constitution of a selection circuit. デコーダーにおけるデコード内容を示す図である。It is a figure which shows the decoding content in a decoder. 印刷モードにおける駆動ICの動作を説明するための図である。It is a figure for demonstrating operation | movement of the drive IC in print mode. 吐出モジュールの分解斜視図である。It is a disassembled perspective view of a discharge module. 吐出部の概略構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows schematic structure of a discharge part. 吐出モジュール及び吐出モジュールに設けられた複数のノズルの配置の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of arrangement | positioning of the several nozzle provided in the discharge module and the discharge module. 圧電素子及び振動板の変位と吐出との関係を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the relationship between the displacement of a piezoelectric element and a diaphragm, and discharge. 圧電素子の電極の電圧値が上昇した場合における圧電素子及び振動板の変位を模式的に示す図である。It is a figure which shows typically the displacement of a piezoelectric element and a diaphragm when the voltage value of the electrode of a piezoelectric element rises. 振動板を方向Zから見た場合の平面図である。FIG. 6 is a plan view when the diaphragm is viewed from a direction Z. 振動板に一次の固有振動が生じた場合を例示した図である。It is the figure which illustrated the case where the primary natural vibration arose in a diaphragm. 振動板に三次の固有振動が生じた場合を例示した図である。It is the figure which illustrated the case where the tertiary natural vibration arose in a diaphragm. 圧電素子の電荷を放出するための放電手段を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the discharge means for discharging the electric charge of a piezoelectric element. トランスファーゲートを構成するトランジスターを模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows typically the transistor which comprises a transfer gate. 移行モードの動作を説明するためのフローチャート図である。It is a flowchart figure for demonstrating operation | movement of transfer mode. DAC回路、検出回路及び判定回路の電気構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the electrical structure of a DAC circuit, a detection circuit, and a determination circuit. 元駆動信号dAが更新されている場合における検出回路の動作を説明するためのタイミングチャート図である。It is a timing chart for demonstrating operation | movement of the detection circuit in case the original drive signal dA is updated. 元駆動信号dAが更新されていない場合における検出回路の動作を説明するためのタイミングチャート図である。It is a timing chart for demonstrating operation | movement of the detection circuit when the original drive signal dA is not updated. クロック信号φ2が供給されている場合における検出回路の動作を説明するためのタイミングチャート図である。It is a timing chart for demonstrating operation | movement of the detection circuit in case the clock signal (phi) 2 is supplied. クロック信号φ2が供給されていない場合における検出回路320の動作を説明するためのタイミグチャート図である。FIG. 6 is a timing chart for explaining the operation of the detection circuit 320 when the clock signal φ2 is not supplied. 更新検出回路における元駆動信号dAの検出動作に対応付けた判定回路の動作を示すタイミングチャート図である。FIG. 10 is a timing chart illustrating an operation of a determination circuit associated with an operation of detecting an original drive signal dA in an update detection circuit. クロック検出回路におけるクロック信号φ2の検出動作に対応付けた判定回路の動作を示すタイミングチャート図である。FIG. 10 is a timing chart showing the operation of the determination circuit associated with the detection operation of the clock signal φ2 in the clock detection circuit. 第2実施形態におけるDAC回路、検出回路及び判定回路の電気構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the electric constitution of the DAC circuit in 2nd Embodiment, a detection circuit, and the determination circuit. 第2実施形態における元駆動信号dAが更新されている場合における検出回路の動作を説明するためのタイミングチャート図である。It is a timing chart for demonstrating operation | movement of the detection circuit when the original drive signal dA in 2nd Embodiment is updated. 第2実施形態における元駆動信号dAが更新されていない場合における検出回路の動作を説明するためのタイミングチャート図である。It is a timing chart for demonstrating operation | movement of the detection circuit in case the original drive signal dA in 2nd Embodiment is not updated. 第3実施形態における駆動信号生成回路の回路構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the circuit structure of the drive signal generation circuit in 3rd Embodiment. 第3実施形態における検出回路の電気構成を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows the electric constitution of the detection circuit in 3rd Embodiment.

以下、本発明の好適な実施形態について図面を用いて説明する。用いる図面は説明の便宜上のものである。なお、以下に説明する実施形態は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではない。また以下で説明される構成の全てが本発明の必須構成要件であるとは限らない。   Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. The drawings used are for convenience of explanation. The embodiments described below do not unduly limit the contents of the present invention described in the claims. Also, not all of the configurations described below are essential constituent requirements of the present invention.

以下では、本発明に係る液体吐出装置について、液体としてインクを吐出する印刷装置であるインクジェットプリンターを例に挙げて説明する。   Hereinafter, the liquid ejection apparatus according to the present invention will be described by taking an inkjet printer as an example of a printing apparatus that ejects ink as a liquid.

なお、液体吐出装置としては、例えば、インクジェットプリンター等の印刷装置、液晶
ディスプレイ等のカラーフィルターの製造に用いられる色材吐出装置、有機ELディスプレイ、面発光ディスプレイ等の電極形成に用いられる電極材料吐出装置、バイオチップ製造に用いられる生体有機物吐出装置等を挙げることができる。
As the liquid ejection device, for example, a printing device such as an ink jet printer, a color material ejection device used for manufacturing a color filter such as a liquid crystal display, an electrode material ejection used for forming an electrode such as an organic EL display or a surface emitting display. Examples thereof include a device and a bio-organic discharge device used for biochip production.

1 第1実施形態
1.1 液体吐出装置の構成
第1実施形態に係る液体吐出装置の一例としての印刷装置は、外部のホストコンピューターから供給される画像データに応じてインクを吐出させることで、紙などの印刷媒体にドットを形成し、当該画像データに応じた文字、図形等を含む画像を印刷するインクジェットプリンターである。
1 First Embodiment 1.1 Configuration of Liquid Ejecting Apparatus A printing apparatus as an example of a liquid ejecting apparatus according to a first embodiment ejects ink according to image data supplied from an external host computer, This is an inkjet printer that forms dots on a print medium such as paper and prints an image including characters, graphics, and the like according to the image data.

図1は、液体吐出装置1の概略構成を示す斜視図である。図1には、媒体Pが搬送される方向X、方向Xと交差し移動体2が往復動する方向Y、インクが吐出される方向Zを図示している。なお、第1実施形態では、方向X、方向Y、方向Zは互いに直交する軸として説明する。   FIG. 1 is a perspective view illustrating a schematic configuration of the liquid ejection apparatus 1. FIG. 1 illustrates a direction X in which the medium P is transported, a direction Y in which the moving body 2 reciprocates across the direction X, and a direction Z in which ink is ejected. In the first embodiment, the direction X, the direction Y, and the direction Z are described as axes that are orthogonal to each other.

図1に示すように、液体吐出装置1は、移動体2と、移動体2を方向Yに沿って往復動させる移動機構3とを備える。   As shown in FIG. 1, the liquid ejection apparatus 1 includes a moving body 2 and a moving mechanism 3 that reciprocates the moving body 2 along the direction Y.

移動機構3は、移動体2の駆動源となるキャリッジモーター31と、両端が固定されたキャリッジガイド軸32と、キャリッジガイド軸32とほぼ平行に延在しキャリッジモーター31により駆動されるタイミングベルト33と、を有する。   The moving mechanism 3 includes a carriage motor 31 that is a driving source of the moving body 2, a carriage guide shaft 32 that is fixed at both ends, and a timing belt 33 that extends substantially parallel to the carriage guide shaft 32 and is driven by the carriage motor 31. And having.

移動体2に含まれるキャリッジ24は、キャリッジガイド軸32に往復動自在に支持されるとともに、タイミングベルト33の一部に固定されている。そのため、キャリッジモーター31によりタイミングベルト33を駆動させることで、移動体2がキャリッジガイド軸32に案内されて方向Yに沿って往復動する。   The carriage 24 included in the moving body 2 is supported by the carriage guide shaft 32 so as to be reciprocally movable, and is fixed to a part of the timing belt 33. Therefore, by driving the timing belt 33 by the carriage motor 31, the movable body 2 is guided by the carriage guide shaft 32 and reciprocates along the direction Y.

移動体2のうち、媒体Pと対向する部分にはヘッドユニット20が設けられている。このヘッドユニット20は多数のノズルを有し、当該ノズルのそれぞれから方向Zに沿ってインクが吐出される。また、ヘッドユニット20には、フレキシブルケーブル190を介して制御信号等が供給される。   A head unit 20 is provided in a portion of the moving body 2 that faces the medium P. The head unit 20 has a large number of nozzles, and ink is ejected along the direction Z from each of the nozzles. Further, a control signal or the like is supplied to the head unit 20 via the flexible cable 190.

液体吐出装置1は、媒体Pを、方向Xに沿ってプラテン40上で搬送させる搬送機構4を備える。搬送機構4は、駆動源である搬送モーター41と、搬送モーター41により回転して媒体Pを方向Xに沿って搬送する搬送ローラー42と、を備える。   The liquid ejection apparatus 1 includes a transport mechanism 4 that transports the medium P on the platen 40 along the direction X. The transport mechanism 4 includes a transport motor 41 that is a driving source, and a transport roller 42 that is rotated by the transport motor 41 and transports the medium P along the direction X.

そして、媒体Pが搬送機構4により搬送されるタイミングにおいて、ヘッドユニット20が媒体Pにインクを吐出することにより、媒体Pの表面に画像が形成される。   Then, at the timing when the medium P is transported by the transport mechanism 4, the head unit 20 ejects ink onto the medium P, whereby an image is formed on the surface of the medium P.

図2は、液体吐出装置1の電気構成を示すブロック図である。   FIG. 2 is a block diagram showing an electrical configuration of the liquid ejection apparatus 1.

図2に示すように、液体吐出装置1は、制御ユニット10及びヘッドユニット20を有する。また、制御ユニット10とヘッドユニット20とは、フレキシブルケーブル190を介して接続されている。   As shown in FIG. 2, the liquid ejection apparatus 1 includes a control unit 10 and a head unit 20. The control unit 10 and the head unit 20 are connected via a flexible cable 190.

制御ユニット10は、制御回路100、キャリッジモータードライバー35、搬送モータードライバー45及び電圧生成回路90を備える。   The control unit 10 includes a control circuit 100, a carriage motor driver 35, a transport motor driver 45, and a voltage generation circuit 90.

制御回路100は、ホストコンピューターから供給された画像データに基づいて、各種
構成を制御するための複数の制御信号等を供給する。
The control circuit 100 supplies a plurality of control signals and the like for controlling various configurations based on image data supplied from the host computer.

具体的には、制御回路100は、キャリッジモータードライバー35に対して制御信号CTR1を供給する。キャリッジモータードライバー35は、制御信号CTR1に従ってキャリッジモーター31を駆動する。これにより、図1に示すキャリッジ24の方向Yにおける移動が制御される。   Specifically, the control circuit 100 supplies a control signal CTR1 to the carriage motor driver 35. The carriage motor driver 35 drives the carriage motor 31 according to the control signal CTR1. Thereby, the movement in the direction Y of the carriage 24 shown in FIG. 1 is controlled.

また、制御回路100は、搬送モータードライバー45に対して制御信号CTR2を供給する。搬送モータードライバー45は、制御信号CTR2に従って搬送モーター41を駆動する。これにより、図1に示す搬送機構4による媒体Pの方向Xにおける移動が制御される。   Further, the control circuit 100 supplies a control signal CTR2 to the transport motor driver 45. The transport motor driver 45 drives the transport motor 41 in accordance with the control signal CTR2. Thereby, the movement of the medium P in the direction X by the transport mechanism 4 shown in FIG. 1 is controlled.

また、制御回路100は、ヘッドユニット20に対して、クロック信号SCK、印刷データ信号SI、ラッチ信号LAT、チェンジ信号CH、動作モード信号MC、駆動データ信号DRV及びセレクト信号ENを供給する。   Further, the control circuit 100 supplies the head unit 20 with a clock signal SCK, a print data signal SI, a latch signal LAT, a change signal CH, an operation mode signal MC, a drive data signal DRV, and a select signal EN.

電圧生成回路90は、例えばDC42Vの電圧VHVを生成しヘッドユニット20に供給する。なお、電圧VHVは、制御ユニット10に含まれる各種構成にも供給されてよい。   The voltage generation circuit 90 generates a voltage VHV of, for example, DC42V and supplies it to the head unit 20. The voltage VHV may also be supplied to various components included in the control unit 10.

ヘッドユニット20は、駆動信号生成回路50、給電切替回路70、駆動IC80及び吐出モジュール21を備える。   The head unit 20 includes a drive signal generation circuit 50, a power supply switching circuit 70, a drive IC 80, and a discharge module 21.

駆動信号生成回路50には、電圧VHV、駆動データ信号DRV及びセレクト信号ENが供給される。   The drive signal generation circuit 50 is supplied with a voltage VHV, a drive data signal DRV, and a select signal EN.

駆動信号生成回路50は、駆動データ信号DRVに基づく信号を電圧VHVに基づく電圧にD級増幅することで、駆動信号COMを生成して駆動IC80に供給する。また、駆動信号生成回路50は、電圧VHVを降圧した例えばDC5Vの基準電圧信号VBSを生成して吐出モジュール21に供給する。また、駆動信号生成回路50は、駆動データ信号DRVに基づいて給電制御信号CTVHVを生成して給電切替回路70に供給する。ここで、セレクト信号ENは、駆動信号生成回路50に供給される駆動データ信号DRVが、駆動信号COMを生成するためのデータ信号なのか又は給電制御信号CTVHVを生成するためのデータ信号なのかを指示するための信号である。   The drive signal generation circuit 50 amplifies a signal based on the drive data signal DRV into a voltage based on the voltage VHV, thereby generating a drive signal COM and supplying the drive signal COM to the drive IC 80. In addition, the drive signal generation circuit 50 generates a reference voltage signal VBS of, for example, DC5V obtained by stepping down the voltage VHV, and supplies it to the ejection module 21. The drive signal generation circuit 50 generates a power supply control signal CTVHV based on the drive data signal DRV and supplies the power supply control signal CTVHV to the power supply switching circuit 70. Here, the select signal EN indicates whether the drive data signal DRV supplied to the drive signal generation circuit 50 is a data signal for generating the drive signal COM or a data signal for generating the power supply control signal CTVHV. It is a signal for instructing.

また、駆動信号生成回路50は、生成する駆動信号COMが正常でない場合、エラー信号ERRを制御回路100に供給する。   Further, the drive signal generation circuit 50 supplies an error signal ERR to the control circuit 100 when the generated drive signal COM is not normal.

給電切替回路70には、電圧VHV及び給電制御信号CTVHVが供給される。給電切替回路70は、給電制御信号CTVHVに従い、駆動IC80に供給する電圧VHV−TGの電位を電圧VHVに基づく電位とするのか又はグラウンド電位とするのかの切り替えを行う。   The power supply switching circuit 70 is supplied with a voltage VHV and a power supply control signal CTVHV. The power supply switching circuit 70 switches whether the potential of the voltage VHV-TG supplied to the drive IC 80 is a potential based on the voltage VHV or a ground potential in accordance with the power supply control signal CTVHV.

駆動IC80には、クロック信号SCK、印刷データ信号SI、ラッチ信号LAT、チェンジ信号CH、動作モード信号MC、電圧VHV−TG及び駆動信号COMが供給される。   The drive IC 80 is supplied with a clock signal SCK, a print data signal SI, a latch signal LAT, a change signal CH, an operation mode signal MC, a voltage VHV-TG, and a drive signal COM.

駆動IC80は、クロック信号SCK、印刷データ信号SI、動作モード信号MC、ラッチ信号LAT、チェンジ信号CHに基づき、所定の期間において駆動信号COMを選択するか又は非選択とするかを切り替える。そして、駆動IC80により選択された駆動信号COMが、駆動信号VOUTとして吐出モジュール21に供給される。なお、電圧VHV−TGは、例えば駆動信号COMを選択するための高電圧論理の信号生成に用いられる。   The drive IC 80 switches whether the drive signal COM is selected or not selected in a predetermined period based on the clock signal SCK, the print data signal SI, the operation mode signal MC, the latch signal LAT, and the change signal CH. Then, the drive signal COM selected by the drive IC 80 is supplied to the ejection module 21 as the drive signal VOUT. The voltage VHV-TG is used, for example, to generate a high voltage logic signal for selecting the drive signal COM.

吐出モジュール21は、圧電素子60を含む複数の吐出部600を有する。   The discharge module 21 includes a plurality of discharge units 600 including the piezoelectric element 60.

吐出モジュール21に供給される駆動信号VOUTは、圧電素子60の一端に供給される。また、圧電素子60の他端には、基準電圧信号VBSが供給される。圧電素子60は、駆動信号VOUTと基準電圧信号VBSとの電位差に応じて変位する。そして、吐出部600から当該変位に応じた量のインクが吐出される。   The drive signal VOUT supplied to the ejection module 21 is supplied to one end of the piezoelectric element 60. The reference voltage signal VBS is supplied to the other end of the piezoelectric element 60. The piezoelectric element 60 is displaced according to the potential difference between the drive signal VOUT and the reference voltage signal VBS. Then, an amount of ink corresponding to the displacement is ejected from the ejection unit 600.

なお、上述した駆動信号生成回路50、給電切替回路70、駆動IC80及び吐出モジュール21の詳細については後述する。また、図2では、液体吐出装置1に備えられるヘッドユニット20が1つであるとして説明したが、複数のヘッドユニット20が備えられてもよい。また、図2では、ヘッドユニット20が有する吐出モジュール21は、1つであるとして説明したが、複数の吐出モジュール21が備えられてもよい。   The details of the drive signal generation circuit 50, the power supply switching circuit 70, the drive IC 80, and the ejection module 21 described above will be described later. In FIG. 2, the description has been made assuming that the liquid ejection apparatus 1 has one head unit 20, but a plurality of head units 20 may be provided. Further, in FIG. 2, the head unit 20 has been described as having one ejection module 21, but a plurality of ejection modules 21 may be provided.

以上に説明したような液体吐出装置1は、印刷モード、待機モード、移行モード及びスリープモードを含む複数の動作モードを有する。   The liquid ejection apparatus 1 as described above has a plurality of operation modes including a print mode, a standby mode, a transition mode, and a sleep mode.

印刷モードとは、供給された画像データに基づき媒体Pに対してインクを吐出することで印刷の実行が可能な動作モードである。待機モードは、印刷モードに対して消費電力を低減しながら画像データが供給された場合には短時間で印刷の実行が可能な動作モードである。移行モードは、待機モードからスリープモードに移行する間の動作モードである。スリープモードは、待機モードに対して消費電力をさらに低減することが可能な動作モードである。   The print mode is an operation mode in which printing can be executed by ejecting ink to the medium P based on supplied image data. The standby mode is an operation mode in which printing can be executed in a short time when image data is supplied while reducing power consumption with respect to the printing mode. The transition mode is an operation mode during transition from the standby mode to the sleep mode. The sleep mode is an operation mode that can further reduce power consumption compared to the standby mode.

ここで、液体吐出装置1が有する各動作モードの関係について、図3を用いて説明する。図3は、液体吐出装置1の各動作モードにおけるモード遷移を説明するためのフローチャート図である。   Here, the relationship of each operation mode which the liquid discharge apparatus 1 has is demonstrated using FIG. FIG. 3 is a flowchart for explaining mode transition in each operation mode of the liquid ejection apparatus 1.

図3に示すように、液体吐出装置1に電源が供給されると、制御回路100は、動作モードを待機モードに制御する(S110)。そして、制御回路100は、待機モードに遷移した後、所定の時間が経過したか否かの判断を行う(S120)。   As shown in FIG. 3, when power is supplied to the liquid ejection apparatus 1, the control circuit 100 controls the operation mode to the standby mode (S110). Then, the control circuit 100 determines whether or not a predetermined time has elapsed after shifting to the standby mode (S120).

所定の時間が経過していない場合(S120のN)、制御回路100は、液体吐出装置1に画像データが供給されているか否かの判断を行う(S130)。   If the predetermined time has not elapsed (N in S120), the control circuit 100 determines whether image data is supplied to the liquid ejection apparatus 1 (S130).

画像データが供給されていない場合(S130のN)、待機モードを継続する。一方、画像データが供給されている場合(S130のY)、制御回路100は、動作モードを印刷モードに制御する(S140)。   When the image data is not supplied (N in S130), the standby mode is continued. On the other hand, when the image data is supplied (Y in S130), the control circuit 100 controls the operation mode to the print mode (S140).

印刷モードでは、駆動信号生成回路50が、駆動信号COMが正常であるか否かの判断を行う(S150)。駆動信号COMが正常である場合(S150のY)、供給された画像データに対応する印刷が終了したか否かの判断を行う(S160)。印刷が終了していない場合(S160のN)、駆動信号生成回路50は、駆動信号COMが正常か否かの判断を行う(S150)。   In the print mode, the drive signal generation circuit 50 determines whether or not the drive signal COM is normal (S150). If the drive signal COM is normal (Y in S150), it is determined whether printing corresponding to the supplied image data has been completed (S160). If printing has not ended (N in S160), the drive signal generation circuit 50 determines whether or not the drive signal COM is normal (S150).

印刷モードにおいて、供給された画像データに対応する印刷が終了した場合(S160のY)、制御回路100は、動作モードを待機モードに制御する(S110)。   In the printing mode, when printing corresponding to the supplied image data is completed (Y in S160), the control circuit 100 controls the operation mode to the standby mode (S110).

また、所定の時間が経過した場合(S120のY)、及び駆動信号COMが正常でない場合(S150のN)、制御回路100は、動作モードを移行モードに制御する(S170)。移行モード終了後、制御回路100は、動作モードをスリープモードに制御する(S180)。   When the predetermined time has elapsed (Y in S120) and when the drive signal COM is not normal (N in S150), the control circuit 100 controls the operation mode to the transition mode (S170). After the transition mode ends, the control circuit 100 controls the operation mode to the sleep mode (S180).

スリープモードに遷移した後、制御回路100は、液体吐出装置1に画像データが供給されているか否かの判断を行う(S190)。   After the transition to the sleep mode, the control circuit 100 determines whether image data is supplied to the liquid ejection apparatus 1 (S190).

画像データが供給されていない場合(S190のN)、スリープモードを継続する。一方、画像データが供給されている場合(S190のY)、制御回路100は、動作モードを印刷モードに制御する(S140)。   When the image data is not supplied (N in S190), the sleep mode is continued. On the other hand, when image data is supplied (Y in S190), the control circuit 100 controls the operation mode to the print mode (S140).

なお、液体吐出装置1は、複数の動作モードとして、上述した動作モード以外の動作モードを含んでもよい。例えば、液体吐出装置1は、媒体Pに対してテスト印刷を行うテスト印刷モードやインク切れや媒体Pの搬送不良などにより動作を停止する停止モード等の動作モードを含んでもよい。   The liquid ejection apparatus 1 may include an operation mode other than the operation modes described above as a plurality of operation modes. For example, the liquid ejection apparatus 1 may include an operation mode such as a test printing mode for performing test printing on the medium P, a stop mode for stopping operation due to running out of ink, a conveyance failure of the medium P, or the like.

1.2 駆動信号生成回路の構成及び動作
次に、図4を用いて、駆動信号生成回路50について説明する。図4は、駆動信号生成回路50の回路構成を示すブロック図である。図4に示すように、駆動信号生成回路50は、集積回路500、出力回路550、第1帰還回路570、第2帰還回路580及びその他複数の回路素子を有する。
1.2 Configuration and Operation of Drive Signal Generation Circuit Next, the drive signal generation circuit 50 will be described with reference to FIG. FIG. 4 is a block diagram showing a circuit configuration of the drive signal generation circuit 50. As shown in FIG. 4, the drive signal generation circuit 50 includes an integrated circuit 500, an output circuit 550, a first feedback circuit 570, a second feedback circuit 580, and a plurality of other circuit elements.

また、駆動信号生成回路50は、外部の各種構成と電気的に接続するための、端子Drv−In,En−In,Err−Out,Vhv−In,Vbs−Out,Ctvh−Out,Com−Out,Gnd−Inを含む複数の端子を有する。このうち、端子Gnd−Inには、液体吐出装置1のグラウンド電位(例えば0V)が供給される。   Further, the drive signal generation circuit 50 is electrically connected to various external components such as terminals Drv-In, En-In, Err-Out, Vhv-In, Vbs-Out, Ctvh-Out, and Com-Out. , Gnd-In. Among these, the ground potential (for example, 0 V) of the liquid ejection apparatus 1 is supplied to the terminal Gnd-In.

集積回路500は、GVDD生成回路410、信号選択回路420、給電制御信号生成回路430、基準電圧信号生成回路450、DAC(Digital to Analog Converter)回路310、検出回路320、判定回路350、変調回路510、ゲートドライブ回路520及びLC放電回路530を含む。   The integrated circuit 500 includes a GVDD generation circuit 410, a signal selection circuit 420, a power supply control signal generation circuit 430, a reference voltage signal generation circuit 450, a DAC (Digital to Analog Converter) circuit 310, a detection circuit 320, a determination circuit 350, and a modulation circuit 510. A gate drive circuit 520 and an LC discharge circuit 530.

また、集積回路500は、駆動信号生成回路50の各種構成と電気的に接続するための端子Drv,En,Err,Vhv,Vfb,Vbs,Ctvh,Bst,Hdr,Sw,Gvd,Ldr,Gndを含む複数の端子を有する。   Further, the integrated circuit 500 has terminals Drv, En, Err, Vhv, Vfb, Vbs, Ctvh, Bst, Hdr, Sw, Gvd, Ldr, Gnd for electrically connecting with various components of the drive signal generation circuit 50. Having a plurality of terminals.

GVDD生成回路410には、端子Vhv−In及び端子Vhvを介して電圧VHVが供給される。GVDD生成回路410は、電圧VHVを変圧し電圧GVDDを生成し、基準電圧信号生成回路450及びゲートドライブ回路520に供給する。   The voltage VHV is supplied to the GVDD generation circuit 410 via the terminal Vhv-In and the terminal Vhv. The GVDD generation circuit 410 transforms the voltage VHV to generate the voltage GVDD and supplies it to the reference voltage signal generation circuit 450 and the gate drive circuit 520.

GVDD生成回路410は、例えばリニアレギュレーター回路やスイッチングレギュレーター回路により構成される。なお、GVDD生成回路410は、集積回路500の外部に設けられてもよい。   The GVDD generation circuit 410 is configured by, for example, a linear regulator circuit or a switching regulator circuit. Note that the GVDD generation circuit 410 may be provided outside the integrated circuit 500.

信号選択回路420には、端子Drv−In及び端子Drv端子を介して駆動データ信号DRVが、また、端子En−In及び端子En端子を介してセレクト信号ENが供給される。信号選択回路420は、駆動データ信号DRVが、DAC回路310に供給すべき信号なのか、又は基準電圧信号生成回路450、給電制御信号生成回路430及びLC放
電回路530のそれぞれに供給すべき信号なのかを、セレクト信号ENに基づいて判断し、当該構成のそれぞれに供給する。
The signal selection circuit 420 is supplied with the drive data signal DRV via the terminal Drv-In and the terminal Drv terminal, and with the select signal EN via the terminal En-In and the terminal En terminal. In the signal selection circuit 420, the drive data signal DRV is a signal to be supplied to the DAC circuit 310, or a signal to be supplied to each of the reference voltage signal generation circuit 450, the power supply control signal generation circuit 430, and the LC discharge circuit 530. Is determined based on the select signal EN and supplied to each of the components.

具体的には、信号選択回路420は、不図示の複数のレジスターを備える。そして、駆動データ信号DRVがDAC回路310に供給すべき信号である場合、信号選択回路420は、セレクト信号ENに従って駆動データ信号DRVをDAC回路310に対応する複数のレジスターに保持する。そして、信号選択回路420は保持した信号をデジタルの元駆動信号dAとしてDAC回路310に供給する。   Specifically, the signal selection circuit 420 includes a plurality of registers (not shown). When the drive data signal DRV is a signal to be supplied to the DAC circuit 310, the signal selection circuit 420 holds the drive data signal DRV in a plurality of registers corresponding to the DAC circuit 310 according to the select signal EN. Then, the signal selection circuit 420 supplies the held signal to the DAC circuit 310 as a digital original drive signal dA.

一方、駆動データ信号DRVが基準電圧信号生成回路450、給電制御信号生成回路430及びLC放電回路530のそれぞれに供給する信号である場合、信号選択回路420は、セレクト信号ENに従って駆動データ信号DRVの内、基準電圧信号生成回路450、給電制御信号生成回路430及びLC放電回路530のそれぞれに対応するデータを、所定のレジスターに保持する。そして、信号選択回路420は、保持した信号を放電制御信号DIS1,DIS2,DIS3として給電制御信号生成回路430、LC放電回路530及び基準電圧信号生成回路450のそれぞれに供給する。   On the other hand, when the drive data signal DRV is a signal supplied to each of the reference voltage signal generation circuit 450, the power supply control signal generation circuit 430, and the LC discharge circuit 530, the signal selection circuit 420 generates the drive data signal DRV according to the select signal EN. Among them, data corresponding to each of the reference voltage signal generation circuit 450, the power supply control signal generation circuit 430, and the LC discharge circuit 530 is held in a predetermined register. Then, the signal selection circuit 420 supplies the held signal as the discharge control signals DIS1, DIS2, and DIS3 to the power supply control signal generation circuit 430, the LC discharge circuit 530, and the reference voltage signal generation circuit 450, respectively.

給電制御信号生成回路430には、放電制御信号DIS1が供給される。給電制御信号生成回路430は、不図示のオープンドレイン回路を含む。そして、給電制御信号生成回路430は、供給される放電制御信号DIS1がアクティブを示す信号である場合、当該オープンドレイン回路をオフに制御し、端子Ctvhをハイインピーダンスとする。   The power supply control signal generation circuit 430 is supplied with the discharge control signal DIS1. The power supply control signal generation circuit 430 includes an open drain circuit (not shown). Then, when the supplied discharge control signal DIS1 is an active signal, the power supply control signal generation circuit 430 controls the open drain circuit to turn off and sets the terminal Ctvh to high impedance.

一方、給電制御信号生成回路430は、放電制御信号DIS1が非アクティブを示す信号である場合、オープンドレイン回路をオンに制御し、端子Ctvhをグラウンド電位とする。このとき、Lレベルの給電制御信号CTVHVが、端子Ctvh及び端子Ctvh−Outを介して図2に示す給電切替回路70に供給される。   On the other hand, when the discharge control signal DIS1 is a signal indicating inactivity, the power supply control signal generation circuit 430 controls the open drain circuit to be on and sets the terminal Ctvh to the ground potential. At this time, the L level power supply control signal CTVHV is supplied to the power supply switching circuit 70 shown in FIG. 2 via the terminal Ctvh and the terminal Ctvh-Out.

なお、後述する図20等の説明において給電制御信号生成回路430に含まれるオープンドレイン回路は、NMOSトランジスターで構成されているとして説明する。また、当該NMOSトランジスターのゲート端子には、インバーター回路を介して放電制御信号DIS1が供給されるとして説明する。したがって、第1実施形態において、放電制御信号DIS1がアクティブを示す信号とはHレベルの信号であり、放電制御信号DIS1が非アクティブを示す信号はLレベルの信号である。なお、給電制御信号生成回路430はオープンドレイン回路に限られるものではなく、例えばプッシュプル回路で構成されてもよい。   In the description of FIG. 20 and the like to be described later, the open drain circuit included in the power supply control signal generation circuit 430 will be described as being configured by an NMOS transistor. In the following description, it is assumed that the discharge control signal DIS1 is supplied to the gate terminal of the NMOS transistor via the inverter circuit. Therefore, in the first embodiment, the signal indicating that the discharge control signal DIS1 is active is an H level signal, and the signal indicating that the discharge control signal DIS1 is inactive is an L level signal. Note that the power supply control signal generation circuit 430 is not limited to an open drain circuit, and may be configured by a push-pull circuit, for example.

基準電圧信号生成回路450には、電圧GVDDが供給される。基準電圧信号生成回路450は、供給される電圧GVDDを降圧し基準電圧信号VBSを生成する。   The reference voltage signal generation circuit 450 is supplied with the voltage GVDD. The reference voltage signal generation circuit 450 reduces the supplied voltage GVDD to generate a reference voltage signal VBS.

図5は、基準電圧信号生成回路450の回路構成を示す回路図である。基準電圧信号生成回路450は、コンパレーター451、トランジスター452,453及び抵抗454,455,456を含む。なお、以下の説明では、トランジスター452をPMOSトランジスターとして、また、トランジスター453をNMOSトランジスターとして説明する。   FIG. 5 is a circuit diagram showing a circuit configuration of the reference voltage signal generation circuit 450. The reference voltage signal generation circuit 450 includes a comparator 451, transistors 452, 453, and resistors 454, 455, 456. In the following description, the transistor 452 is described as a PMOS transistor, and the transistor 453 is described as an NMOS transistor.

コンパレーター451の入力端(−)には電圧Vref1が供給される。また、コンパレーター451の入力端(+)は抵抗454の一端及び抵抗455の一端と共通に接続される。また、コンパレーター451の出力端はトランジスター452のゲート端子と接続される。   The voltage Vref <b> 1 is supplied to the input terminal (−) of the comparator 451. The input terminal (+) of the comparator 451 is connected in common with one end of the resistor 454 and one end of the resistor 455. The output terminal of the comparator 451 is connected to the gate terminal of the transistor 452.

トランジスター452のソース端子には電圧GVDDが供給される。また、トランジスター452のドレイン端子は抵抗454の他端、抵抗456の一端及び基準電圧信号VBSが出力される端子Vbsと共通に接続される。   The voltage GVDD is supplied to the source terminal of the transistor 452. The drain terminal of the transistor 452 is connected in common with the other end of the resistor 454, one end of the resistor 456, and a terminal Vbs from which the reference voltage signal VBS is output.

抵抗456の他端はトランジスター453のドレイン端子と接続される。   The other end of the resistor 456 is connected to the drain terminal of the transistor 453.

トランジスター453のゲート端子には放電制御信号DIS3が供給される。トランジスター453のソース端子にはグラウンド電位が供給される。   A discharge control signal DIS3 is supplied to the gate terminal of the transistor 453. A ground potential is supplied to the source terminal of the transistor 453.

抵抗455の他端にはグラウンド電位が供給される。   A ground potential is supplied to the other end of the resistor 455.

以上のように、基準電圧信号生成回路450は、シリーズレギュレーター回路を構成する。   As described above, the reference voltage signal generation circuit 450 constitutes a series regulator circuit.

コンパレーター451の入力端(+)には、基準電圧信号VBSが抵抗454及び抵抗455で分圧された電圧が供給される。そして、コンパレーター451の入力端(+)に供給される当該電圧が、コンパレーター451の入力端(−)に供給される電圧Vref1より大きい場合、コンパレーター451はHレベルの信号を出力する。このとき、トランジスター452はオフに制御される。したがって、端子Vbsには、電圧GVDDが供給されない。   A voltage obtained by dividing the reference voltage signal VBS by the resistor 454 and the resistor 455 is supplied to the input terminal (+) of the comparator 451. When the voltage supplied to the input terminal (+) of the comparator 451 is higher than the voltage Vref1 supplied to the input terminal (−) of the comparator 451, the comparator 451 outputs an H level signal. At this time, the transistor 452 is controlled to be off. Therefore, the voltage GVDD is not supplied to the terminal Vbs.

一方、コンパレーター451の入力端(+)に供給される電圧が、コンパレーター451の入力端(−)に供給される電圧Vref1より小さい場合、コンパレーター451はLレベルの信号を出力する。このとき、トランジスター452はオンに制御される。したがって、端子Vbsには、電圧GVDDが供給される。   On the other hand, when the voltage supplied to the input terminal (+) of the comparator 451 is smaller than the voltage Vref1 supplied to the input terminal (−) of the comparator 451, the comparator 451 outputs an L level signal. At this time, the transistor 452 is controlled to be on. Therefore, the voltage GVDD is supplied to the terminal Vbs.

以上のように、基準電圧信号生成回路450は、コンパレーター451において基準電圧信号VBSに基づく信号と、電圧Vref1とを比較し、トランジスター452を制御することで、電圧GVDDを降圧し、目標となる電圧値の基準電圧信号VBSを生成する。   As described above, the reference voltage signal generation circuit 450 compares the signal based on the reference voltage signal VBS with the voltage Vref1 in the comparator 451 and controls the transistor 452, thereby stepping down the voltage GVDD and becoming a target. A reference voltage signal VBS having a voltage value is generated.

また、トランジスター453のゲート端子に供給される放電制御信号DIS3がHレベルの信号の場合、トランジスター453はオンに制御される。このとき、端子Vbsにはグラウンド電位が抵抗456を介して供給される。換言すれば、トランジスター453は、端子Vbs及び端子Vbs−Outとグラウンド電位との電気的接続を切り替え可能に設けられる。   In addition, when the discharge control signal DIS3 supplied to the gate terminal of the transistor 453 is an H level signal, the transistor 453 is controlled to be on. At this time, the ground potential is supplied to the terminal Vbs via the resistor 456. In other words, the transistor 453 is provided so that the electrical connection between the terminal Vbs and the terminal Vbs-Out and the ground potential can be switched.

図4に戻り、基準電圧信号生成回路450で生成された基準電圧信号VBSは、端子Vbs及び端子Vbs−Outを介して、図2に示す吐出モジュール21に供給される。この基準電圧信号VBSが、圧電素子60が変位する基準となる基準電圧として機能する。   Returning to FIG. 4, the reference voltage signal VBS generated by the reference voltage signal generation circuit 450 is supplied to the ejection module 21 shown in FIG. 2 via the terminal Vbs and the terminal Vbs-Out. The reference voltage signal VBS functions as a reference voltage that serves as a reference for displacing the piezoelectric element 60.

なお、基準電圧信号生成回路450は、集積回路500の外部に設けられてもよく、さらには、駆動信号生成回路50の外部に設けられてもよい。   Note that the reference voltage signal generation circuit 450 may be provided outside the integrated circuit 500, and may be further provided outside the drive signal generation circuit 50.

DAC回路310は、元駆動信号dAを、アナログの元駆動信号aAに変換し、変調回路510に供給する。また、DAC回路310は、元駆動信号dAに基づくデジタル信号を検出回路320に供給する。   The DAC circuit 310 converts the original drive signal dA into an analog original drive signal aA and supplies it to the modulation circuit 510. Further, the DAC circuit 310 supplies a digital signal based on the original drive signal dA to the detection circuit 320.

検出回路320は、DAC回路310から供給された元駆動信号dAに基づく信号が所定の範囲内であるか否かを検出する。   The detection circuit 320 detects whether or not a signal based on the original drive signal dA supplied from the DAC circuit 310 is within a predetermined range.

判定回路350は、検出回路320の検出結果に応じて元駆動信号dAが正常であるか否かを判定する。そして、元駆動信号dAが正常でないと判定した場合、判定回路350は、エラー信号ERRを生成し、端子Err及び端子Err−Outを介して、図2に示す制御回路100に供給する。   The determination circuit 350 determines whether or not the original drive signal dA is normal according to the detection result of the detection circuit 320. If it is determined that the original drive signal dA is not normal, the determination circuit 350 generates an error signal ERR and supplies the error signal ERR to the control circuit 100 illustrated in FIG. 2 via the terminal Err and the terminal Err-Out.

なお、以上に説明したDAC回路310、検出回路320及び判定回路350の動作及び構成の詳細については後述する。   Details of the operations and configurations of the DAC circuit 310, the detection circuit 320, and the determination circuit 350 described above will be described later.

変調回路510は、加算器512、加算器513、コンパレーター514、インバーター515、積分減衰器516及び減衰器517を含む。   The modulation circuit 510 includes an adder 512, an adder 513, a comparator 514, an inverter 515, an integral attenuator 516 and an attenuator 517.

積分減衰器516は、端子Vfbを介して供給された駆動信号COMの電圧信号を減衰するとともに積分し、当該電圧信号を加算器512の入力端(−)に供給する。   The integral attenuator 516 attenuates and integrates the voltage signal of the drive signal COM supplied via the terminal Vfb, and supplies the voltage signal to the input terminal (−) of the adder 512.

加算器512の入力端(+)には元駆動信号aAが供給される。加算器512は、入力端(+)に供給される元駆動信号aAから、加算器512の入力端(−)に積分減衰器516から供給される電圧信号を差し引き、積分する。そして、当該差し引き、積分した電圧信号を、加算器513の入力端(+)に供給する。   The original drive signal aA is supplied to the input terminal (+) of the adder 512. The adder 512 subtracts and integrates the voltage signal supplied from the integration attenuator 516 to the input terminal (−) of the adder 512 from the original drive signal aA supplied to the input terminal (+). Then, the subtracted and integrated voltage signal is supplied to the input terminal (+) of the adder 513.

ここで、元駆動信号aAの最大電圧は例えば2V程度の低電圧であるのに対して、駆動信号COMの最大電圧は例えば40V程度の高電圧となる場合がある。このため、積分減衰器516は、偏差を求めるにあたり両電圧の振幅範囲を合わせるために、駆動信号COMの電圧を減衰する。   Here, the maximum voltage of the original drive signal aA is a low voltage of about 2V, for example, whereas the maximum voltage of the drive signal COM may be a high voltage of about 40V, for example. For this reason, the integral attenuator 516 attenuates the voltage of the drive signal COM in order to match the amplitude range of both voltages when obtaining the deviation.

減衰器517は、端子Ifbを介して入力される駆動信号COMの電圧信号の高周波成分を減衰し、当該電圧を加算器513の入力端(−)に供給する。   The attenuator 517 attenuates the high frequency component of the voltage signal of the drive signal COM input via the terminal Ifb, and supplies the voltage to the input terminal (−) of the adder 513.

加算器513は、加算器512から入力端(+)に供給される電圧から、減衰器517から入力端(−)に供給される電圧を減算した電圧信号Asを、コンパレーター514に出力する。   The adder 513 outputs to the comparator 514 a voltage signal As obtained by subtracting the voltage supplied from the attenuator 517 to the input terminal (−) from the voltage supplied from the adder 512 to the input terminal (+).

この加算器513から出力される電圧信号Asは、元駆動信号aAの電圧から端子Vfbに供給された電圧を差し引き、さらに端子Ifbに供給された電圧を差し引いた電圧である。すなわち、電圧信号Asは、目標である元駆動信号aAの電圧から、出力される駆動信号COMの減衰電圧を指し引いた偏差を、当該駆動信号COMの高周波成分で補正した電圧信号である。   The voltage signal As output from the adder 513 is a voltage obtained by subtracting the voltage supplied to the terminal Vfb from the voltage of the original drive signal aA and further subtracting the voltage supplied to the terminal Ifb. That is, the voltage signal As is a voltage signal obtained by correcting a deviation obtained by subtracting the attenuation voltage of the output drive signal COM from the target voltage of the original drive signal aA with the high frequency component of the drive signal COM.

コンパレーター514は、加算器513から供給される電圧信号Asに基づいて変調信号Msを生成する。具体的には、コンパレーター514は、加算器513から供給される電圧信号Asの電圧が上昇している場合、且つ所定の閾値Vth1以上になった場合にHレベルの変調信号Msを生成する。また、コンパレーター514は、電圧信号Asの電圧が下降している場合、且つ所定の閾値Vth2を下回った場合にLレベルの変調信号Msを生成する。なお、閾値Vth1及び閾値Vth2は、閾値Vth1>閾値Vth2という関係に設定されている。   The comparator 514 generates a modulation signal Ms based on the voltage signal As supplied from the adder 513. Specifically, the comparator 514 generates an H-level modulation signal Ms when the voltage of the voltage signal As supplied from the adder 513 is rising and when the voltage becomes equal to or higher than a predetermined threshold Vth1. Further, the comparator 514 generates the L-level modulation signal Ms when the voltage of the voltage signal As is decreasing and when the voltage signal As is below a predetermined threshold value Vth2. Note that the threshold value Vth1 and the threshold value Vth2 are set such that threshold value Vth1> threshold value Vth2.

コンパレーター514は、生成した変調信号Msを、ゲートドライブ回路520に含まれる第1ゲートドライバー521に供給する。また、コンパレーター514は、生成した変調信号Msを、インバーター515を介して、ゲートドライブ回路520に含まれる第2ゲートドライバー522に供給する。したがって、コンパレーター514から第1ゲー
トドライバー521に供給される信号と第2ゲートドライバー522に供給される信号とは、互いの論理レベルが排他的な関係にある。
The comparator 514 supplies the generated modulation signal Ms to the first gate driver 521 included in the gate drive circuit 520. The comparator 514 supplies the generated modulation signal Ms to the second gate driver 522 included in the gate drive circuit 520 via the inverter 515. Accordingly, the signal supplied from the comparator 514 to the first gate driver 521 and the signal supplied to the second gate driver 522 are in an exclusive relationship with each other.

ここで、第1ゲートドライバー521及び第2ゲートドライバー522に供給される信号の論理レベルが排他的な関係にあるとは、第1ゲートドライバー521及び第2ゲートドライバー522に供給される信号の論理レベルが同時にHレベルとならないようにタイミングが制御される概念を含む。   Here, the logic levels of the signals supplied to the first gate driver 521 and the second gate driver 522 are in an exclusive relationship. The logic of the signals supplied to the first gate driver 521 and the second gate driver 522 is the same. It includes the concept that the timing is controlled so that the level does not simultaneously become the H level.

ゲートドライブ回路520は、第1ゲートドライバー521及び第2ゲートドライバー522を含む。   The gate drive circuit 520 includes a first gate driver 521 and a second gate driver 522.

第1ゲートドライバー521は、コンパレーター514から出力される変調信号Msの電圧値をレベルシフトして、端子Hdrから第1増幅制御信号Hgdとして出力する。   The first gate driver 521 level-shifts the voltage value of the modulation signal Ms output from the comparator 514, and outputs the result as the first amplification control signal Hgd from the terminal Hdr.

具体的には、第1ゲートドライバー521の電源電圧のうち高電位側には端子Bstを介して、低電位側には端子Swを介して電圧が供給される。端子Bstは、集積回路500の外部に設けられたコンデンサー541の一端及び逆流防止用のダイオード542のカソード端子と共通に接続される。また、コンデンサー541の他端は端子Swと接続される。また、ダイオード542のアノード端子は、電圧GVDDが供給されている端子Gvdと接続される。したがって、端子Bstと端子Swとの電位差は、コンデンサー541の両端の電位差、すなわち電圧GVDDとおよそ等しくなる。そして、第1ゲートドライバー521は、入力される変調信号Msに従って、端子Swに対して電圧GVDDだけ大きな電圧の第1増幅制御信号Hgdを生成し、端子Hdrから出力する。   Specifically, of the power supply voltage of the first gate driver 521, a voltage is supplied to the high potential side via the terminal Bst and to the low potential side via the terminal Sw. The terminal Bst is connected in common with one end of a capacitor 541 provided outside the integrated circuit 500 and a cathode terminal of a backflow preventing diode 542. The other end of the capacitor 541 is connected to the terminal Sw. The anode terminal of the diode 542 is connected to the terminal Gvd to which the voltage GVDD is supplied. Therefore, the potential difference between the terminal Bst and the terminal Sw is approximately equal to the potential difference between both ends of the capacitor 541, that is, the voltage GVDD. The first gate driver 521 generates a first amplification control signal Hgd having a voltage larger than the terminal Sw by the voltage GVDD according to the input modulation signal Ms, and outputs the first amplification control signal Hgd from the terminal Hdr.

第2ゲートドライバー522は、第1ゲートドライバー521よりも低電位側で動作する。第2ゲートドライバー522は、コンパレーター514から出力された変調信号Msがインバーター515で反転された信号の電圧値をレベルシフトして、端子Ldrから第2増幅制御信号Lgdとして出力する。   The second gate driver 522 operates on the lower potential side than the first gate driver 521. The second gate driver 522 level-shifts the voltage value of the signal obtained by inverting the modulation signal Ms output from the comparator 514 by the inverter 515, and outputs the result as the second amplification control signal Lgd from the terminal Ldr.

具体的には、第2ゲートドライバー522の電源電圧のうち高電位側には電圧GVDDが供給され、低電位側はグラウンド電位が供給される。そして、第2ゲートドライバー522は、供給される変調信号Msの反転信号に従い、端子Gndに対して電圧GVDDだけ大きな電圧の第2増幅制御信号Lgdを生成し、端子Ldrから出力する。   Specifically, the voltage GVDD is supplied to the high potential side of the power supply voltage of the second gate driver 522, and the ground potential is supplied to the low potential side. The second gate driver 522 generates a second amplification control signal Lgd having a voltage larger than the terminal Gnd by the voltage GVDD in accordance with the inverted signal of the modulation signal Ms supplied, and outputs the second amplification control signal Lgd from the terminal Ldr.

LC放電回路530は、抵抗531及びトランジスター532を含む。なお、以下の説明では、トランジスター532をNMOSトランジスターとして説明する。   The LC discharge circuit 530 includes a resistor 531 and a transistor 532. In the following description, the transistor 532 is described as an NMOS transistor.

抵抗531の一端は端子Vfbと接続される。また、抵抗531の他端はトランジスター532のドレイン端子と接続される。   One end of the resistor 531 is connected to the terminal Vfb. The other end of the resistor 531 is connected to the drain terminal of the transistor 532.

トランジスター532のゲート端子には放電制御信号DIS2が供給される。また、トランジスター532のソース端子にはグラウンド電位が供給される。   A discharge control signal DIS2 is supplied to the gate terminal of the transistor 532. A ground potential is supplied to the source terminal of the transistor 532.

そして、トランジスター532のゲート端子にHレベルの放電制御信号DIS2が供給された場合、トランジスター532はオンに制御される。このとき、駆動信号COMが出力される端子Com−Outには抵抗531,571及びトランジスター532を介してグラウンド電位が供給される。換言すれば、トランジスター532は、端子Com−Outとグラウンド電位との電気的接続を切り替え可能に設けられる。   When the H level discharge control signal DIS2 is supplied to the gate terminal of the transistor 532, the transistor 532 is controlled to be turned on. At this time, the ground potential is supplied to the terminal Com-Out from which the drive signal COM is output via the resistors 531 and 571 and the transistor 532. In other words, the transistor 532 is provided so that the electrical connection between the terminal Com-Out and the ground potential can be switched.

出力回路550は、トランジスター551,552、抵抗553,554及びローパス
フィルター560(Low Pass Filter)を有する。なお、以下の説明では、トランジスター551,552をNMOSトランジスターとして説明する。
The output circuit 550 includes transistors 551 and 552, resistors 553 and 554, and a low pass filter 560 (Low Pass Filter). In the following description, the transistors 551 and 552 are described as NMOS transistors.

トランジスター551のドレイン端子には、電圧VHVが供給される。また、トランジスター551のゲート端子は抵抗553の一端と接続される。また、トランジスター551のソース端子は端子Swと接続される。抵抗553の他端は端子Hdrと接続される。したがって、トランジスター551のゲート端子には、第1増幅制御信号Hgdが供給される。   A voltage VHV is supplied to the drain terminal of the transistor 551. The gate terminal of the transistor 551 is connected to one end of the resistor 553. The source terminal of the transistor 551 is connected to the terminal Sw. The other end of the resistor 553 is connected to the terminal Hdr. Therefore, the first amplification control signal Hgd is supplied to the gate terminal of the transistor 551.

トランジスター552のドレイン端子は、トランジスター551のソース端子と接続される。また、トランジスター552のゲート端子は抵抗554の一端と接続される。また、トランジスター552のソース端子にはグラウンド電位が供給される。抵抗554の他端は端子Ldrと接続される。したがって、トランジスター552のゲート端子には、第2増幅制御信号Lgdが供給される。   A drain terminal of the transistor 552 is connected to a source terminal of the transistor 551. The gate terminal of the transistor 552 is connected to one end of the resistor 554. A ground potential is supplied to the source terminal of the transistor 552. The other end of the resistor 554 is connected to the terminal Ldr. Therefore, the second amplification control signal Lgd is supplied to the gate terminal of the transistor 552.

以上のように接続されたトランジスター551,552において、トランジスター551がオフに制御され、トランジスター552がオンに制御されている場合、端子Swが接続される接続点はグラウンド電位となり、端子Bstには電圧GVDDが供給される。一方、トランジスター551がオンに制御され、トランジスター552がオフに制御されている場合、端子Swが接続される接続点には電圧VHVが供給される。よって、端子Bstには電圧VHV+電圧GVDDが供給される。すなわち、トランジスター551を駆動させる第1ゲートドライバー521は、コンデンサー541をフローティング電源として、トランジスター551,552の動作に応じて、端子Swの電圧がグラウンド電位又は電圧VHVに変化することで、トランジスター551のゲート端子に、Lレベルが電圧VHV、Hレベルが電圧VHV+電圧GVDDの第1増幅制御信号Hgdを供給する。そして、トランジスター551は、第1増幅制御信号Hgdに基づきスイッチング動作を行う。   In the transistors 551 and 552 connected as described above, when the transistor 551 is controlled to be turned off and the transistor 552 is controlled to be turned on, a connection point to which the terminal Sw is connected is a ground potential, and a voltage is applied to the terminal Bst. GVDD is supplied. On the other hand, when the transistor 551 is controlled to be on and the transistor 552 is controlled to be off, the voltage VHV is supplied to the connection point to which the terminal Sw is connected. Therefore, the voltage VHV + voltage GVDD is supplied to the terminal Bst. In other words, the first gate driver 521 that drives the transistor 551 uses the capacitor 541 as a floating power supply, and the voltage of the terminal Sw changes to the ground potential or the voltage VHV according to the operation of the transistors 551 and 552. A first amplification control signal Hgd having an L level of voltage VHV and an H level of voltage VHV + voltage GVDD is supplied to the gate terminal. The transistor 551 performs a switching operation based on the first amplification control signal Hgd.

トランジスター552を駆動させる第2ゲートドライバー522は、トランジスター551,552の動作に関係なく、Lレベルがグラウンド電位、Hレベルが電圧GVDDの第2増幅制御信号Lgdを出力する。そして、トランジスター552は、第2増幅制御信号Lgdに基づきスイッチング動作を行う。   The second gate driver 522 for driving the transistor 552 outputs the second amplification control signal Lgd whose L level is the ground potential and H level is the voltage GVDD regardless of the operation of the transistors 551 and 552. The transistor 552 performs a switching operation based on the second amplification control signal Lgd.

以上により、トランジスター551のソース端子とトランジスター552のドレイン端子との接続点には、変調信号Msが電圧VHVに基づき増幅された増幅変調信号が生成される。すなわち、トランジスター551,552が、変調信号Msの電圧を増幅する増幅回路として機能する。なお、前述のとおりトランジスター551,552を駆動する第1増幅制御信号Hgd及び第2増幅制御信号Lgdは、排他的な関係にある。すなわち、トランジスター551とトランジスター552とは、同時にオンしないように制御される。   As described above, an amplified modulated signal obtained by amplifying the modulated signal Ms based on the voltage VHV is generated at the connection point between the source terminal of the transistor 551 and the drain terminal of the transistor 552. That is, the transistors 551 and 552 function as an amplifier circuit that amplifies the voltage of the modulation signal Ms. As described above, the first amplification control signal Hgd and the second amplification control signal Lgd that drive the transistors 551 and 552 are in an exclusive relationship. That is, the transistor 551 and the transistor 552 are controlled so as not to be turned on simultaneously.

ローパスフィルター560は、インダクター561及びコンデンサー562を含む。   Low pass filter 560 includes an inductor 561 and a capacitor 562.

インダクター561の一端はトランジスター551のソース端子及びトランジスター552のドレイン端子と共通に接続される。また、インダクター561の他端は駆動信号COMが出力される端子Com−Out及びコンデンサー562の一端と共通に接続される。コンデンサー562の他端にはグラウンド電位が供給される。   One end of the inductor 561 is connected in common with the source terminal of the transistor 551 and the drain terminal of the transistor 552. The other end of the inductor 561 is connected in common with a terminal Com-Out from which the drive signal COM is output and one end of the capacitor 562. A ground potential is supplied to the other end of the capacitor 562.

このように、インダクター561とコンデンサー562とが、トランジスター551とトランジスター552との接続点に供給される増幅変調信号を平滑する。これにより、増幅変調信号が復調されて駆動信号COMが生成される。   As described above, the inductor 561 and the capacitor 562 smooth the amplified modulation signal supplied to the connection point between the transistor 551 and the transistor 552. As a result, the amplified modulation signal is demodulated to generate the drive signal COM.

第1帰還回路570は、抵抗571及び抵抗572を含む。抵抗571の一端は端子Com−Outと接続される。また、抵抗571の他端は端子Vfb及び抵抗572の一端と共通に接続される。抵抗572の他端には電圧VHVが供給される。これにより、端子Vfbには、端子Com−Outから第1帰還回路570を通過した駆動信号COMがプルアップされて帰還される。   The first feedback circuit 570 includes a resistor 571 and a resistor 572. One end of the resistor 571 is connected to the terminal Com-Out. The other end of the resistor 571 is connected in common with the terminal Vfb and one end of the resistor 572. A voltage VHV is supplied to the other end of the resistor 572. As a result, the drive signal COM that has passed through the first feedback circuit 570 is pulled up and fed back to the terminal Vfb from the terminal Com-Out.

第2帰還回路580は、抵抗581,582及びコンデンサー583,584,585を含む。   Second feedback circuit 580 includes resistors 581, 582 and capacitors 583, 584, 585.

コンデンサー583の一端は端子Com−Outと接続される。また、コンデンサー583の他端は抵抗581の一端及び抵抗582の一端と共通に接続される。抵抗581の他端にはグラウンド電位が供給される。これにより、コンデンサー583と抵抗581とはハイパスフィルター(High Pass Filter)として機能する。なお、コンデンサー583と抵抗581とで構成されるハイパスフィルターのカットオフ周波数は、例えば約9MHzに設定される。   One end of the capacitor 583 is connected to the terminal Com-Out. The other end of the capacitor 583 is connected in common with one end of the resistor 581 and one end of the resistor 582. A ground potential is supplied to the other end of the resistor 581. Thereby, the capacitor 583 and the resistor 581 function as a high pass filter. Note that the cutoff frequency of the high-pass filter including the capacitor 583 and the resistor 581 is set to, for example, about 9 MHz.

また、抵抗582の他端はコンデンサー584の一端及びコンデンサー585の一端と共通に接続される。コンデンサー584の他端にはグラウンド電位が供給される。これにより、抵抗582とコンデンサー584とは、ローパスフィルター(Low Pass Filter)として機能する。なお、抵抗582とコンデンサー584とで構成されるローパスフィルターのカットオフ周波数は、例えば約160MHzに設定される。   The other end of the resistor 582 is connected in common with one end of the capacitor 584 and one end of the capacitor 585. A ground potential is supplied to the other end of the capacitor 584. Thereby, the resistor 582 and the capacitor 584 function as a low pass filter. Note that the cutoff frequency of the low-pass filter including the resistor 582 and the capacitor 584 is set to, for example, about 160 MHz.

このように第2帰還回路580が、ハイパスフィルターとローパスフィルターとで構成されているため、第2帰還回路580は駆動信号COMの所定の周波数域を通過させるバンドパスフィルター(Band Pass Filter)として機能する。   Thus, since the second feedback circuit 580 is composed of a high-pass filter and a low-pass filter, the second feedback circuit 580 functions as a band pass filter that passes a predetermined frequency range of the drive signal COM. To do.

コンデンサー585の他端は端子Ifbに接続される。これにより、端子Ifbには、第2帰還回路580を通過した駆動信号COMの高周波成分のうち、直流成分がカットされて帰還される。   The other end of the capacitor 585 is connected to the terminal Ifb. As a result, the DC component of the high frequency component of the drive signal COM that has passed through the second feedback circuit 580 is cut back to the terminal Ifb.

ところで、駆動信号COMは、増幅変調信号をローパスフィルター560によって平滑した信号である。この駆動信号COMは、端子Vfbを介して積分・減算された上で、加算器512に帰還される。よって、帰還の遅延と、帰還の伝達関数で定まる周波数で自励発振することになる。しかしながら、端子Vfbを介した帰還経路の遅延量が大きいため、当該端子Vfbを介した帰還のみでは自励発振の周波数を駆動信号COMの精度を十分に確保できるほど高くすることができない場合がある。そこで、端子Vfbを介した経路とは別に、端子Ifbを介して、駆動信号COMの高周波成分を帰還する経路を設けることで、回路全体でみたときの遅延を小さくすることができる。これにより、電圧信号Asの周波数は、端子Ifbを介した経路が存在しない場合と比較して、駆動信号COMの精度を十分に確保できるほど高くなる。   By the way, the drive signal COM is a signal obtained by smoothing the amplified modulation signal by the low-pass filter 560. This drive signal COM is integrated / subtracted via the terminal Vfb and then fed back to the adder 512. Therefore, self-excited oscillation occurs at a frequency determined by the feedback delay and the transfer function of the feedback. However, since the delay amount of the feedback path via the terminal Vfb is large, there is a case where the frequency of the self-oscillation cannot be made high enough to ensure the accuracy of the drive signal COM only by the feedback via the terminal Vfb. . Therefore, by providing a path for feeding back the high-frequency component of the drive signal COM via the terminal Ifb in addition to the path via the terminal Vfb, the delay when viewed from the entire circuit can be reduced. As a result, the frequency of the voltage signal As becomes high enough to ensure the accuracy of the drive signal COM as compared to the case where there is no path through the terminal Ifb.

なお、以上に説明した駆動信号生成回路50のうち、変調回路510、ゲートドライブ回路520、LC放電回路530、出力回路550、コンデンサー541及びダイオード542を備える構成が、前述した駆動信号COMを生成する駆動回路51の一例である。   Of the drive signal generation circuit 50 described above, the configuration including the modulation circuit 510, the gate drive circuit 520, the LC discharge circuit 530, the output circuit 550, the capacitor 541, and the diode 542 generates the drive signal COM described above. 3 is an example of a drive circuit 51.

1.3 給電切替回路の構成及び動作
次に図6を用いて、給電切替回路70の構成及び動作について説明する。図6は、給電切替回路70の電気構成を示す回路図である。
1.3 Configuration and Operation of Power Supply Switching Circuit Next, the configuration and operation of the power supply switching circuit 70 will be described with reference to FIG. FIG. 6 is a circuit diagram illustrating an electrical configuration of the power supply switching circuit 70.

給電切替回路70は、トランジスター471,472,473及び抵抗474,475を含む。なお、以下の説明では、トランジスター471をPMOSトランジスターとして、トランジスター472,473をNMOSトランジスターとして説明する。   The power supply switching circuit 70 includes transistors 471, 472, 473 and resistors 474, 475. In the following description, the transistor 471 is described as a PMOS transistor, and the transistors 472 and 473 are described as NMOS transistors.

トランジスター471のソース端子は、抵抗474の一端と接続されると共に電圧VHVが供給される。また、トランジスター471のゲート端子は抵抗474の他端及びトランジスター472のドレイン端子と共通に接続される。また、トランジスター471のドレイン端子は抵抗475の一端と接続される。   The source terminal of the transistor 471 is connected to one end of the resistor 474 and supplied with the voltage VHV. The gate terminal of the transistor 471 is connected in common with the other end of the resistor 474 and the drain terminal of the transistor 472. Further, the drain terminal of the transistor 471 is connected to one end of the resistor 475.

トランジスター472のゲート端子には電圧Vdd1が供給される。また、トランジスター472のソース端子はトランジスター473のゲート端子と接続されると共に給電制御信号CTVHVが供給される。ここで、電圧Vdd1は、任意の電圧値の直流電圧信号である。   A voltage Vdd1 is supplied to a gate terminal of the transistor 472. The source terminal of the transistor 472 is connected to the gate terminal of the transistor 473 and is supplied with a power supply control signal CTVHV. Here, the voltage Vdd1 is a DC voltage signal having an arbitrary voltage value.

トランジスター473のドレイン端子は抵抗475の他端と接続される。また、トランジスター473のソース端子にはグラウンド電位が供給される。   A drain terminal of the transistor 473 is connected to the other end of the resistor 475. A ground potential is supplied to the source terminal of the transistor 473.

以上のように構成された給電切替回路70は、駆動信号生成回路50から供給される給電制御信号CTVHVに従い、電圧VHVを電圧VHV―TGとして駆動IC80に供給するか否かを切り替える。   The power supply switching circuit 70 configured as described above switches whether to supply the voltage VHV to the drive IC 80 as the voltage VHV-TG in accordance with the power supply control signal CTVHV supplied from the drive signal generation circuit 50.

具体的には、給電制御信号生成回路430に非アクティブを示す放電制御信号DIS1が供給された場合、給電制御信号生成回路430は、端子Ctvh−Outをグラウンド電位とする。よって、給電制御信号CTVHVは、Lレベルの信号となる。これにより、トランジスター473はオフに制御され、トランジスター472はオンに制御される。よって、トランジスター471のゲート端子には、トランジスター472を介してグラウンド電位が供給される。したがって、トランジスター471はオンに制御される。   Specifically, when the discharge control signal DIS1 indicating inactivity is supplied to the power supply control signal generation circuit 430, the power supply control signal generation circuit 430 sets the terminal Ctvh-Out to the ground potential. Therefore, the power supply control signal CTVHV is an L level signal. Accordingly, the transistor 473 is controlled to be off and the transistor 472 is controlled to be on. Therefore, the ground potential is supplied to the gate terminal of the transistor 471 through the transistor 472. Accordingly, the transistor 471 is controlled to be on.

以上のように、給電制御信号CTVHVがLレベルの信号の場合、トランジスター471がオンに制御され、トランジスター473がオフに制御される。したがって、給電切替回路70は、トランジスター471を介して供給される電圧VHVを、電圧VHV−TGとして駆動IC80に供給する。   As described above, when the power supply control signal CTVHV is an L level signal, the transistor 471 is controlled to be on and the transistor 473 is controlled to be off. Therefore, the power supply switching circuit 70 supplies the voltage VHV supplied via the transistor 471 to the drive IC 80 as the voltage VHV-TG.

一方、給電制御信号生成回路430にアクティブを示す放電制御信号DIS1が供給された場合、給電制御信号生成回路430は、端子Ctvh−Outをハイインピーダンスとする。このとき、端子Ctvh−Outの電圧はトランジスター472を介して供給される電圧Vdd1となる。換言すれば、給電制御信号CTVHVは、Hレベルの信号となる。これにより、トランジスター473はオンに制御される。このとき、トランジスター472のドレイン端子及びトランジスター471のゲート端子には、抵抗474を介して電圧VHVが供給される。したがって、トランジスター471がオフに制御される。   On the other hand, when the discharge control signal DIS1 indicating active is supplied to the power supply control signal generation circuit 430, the power supply control signal generation circuit 430 sets the terminal Ctvh-Out to high impedance. At this time, the voltage at the terminal Ctvh-Out becomes the voltage Vdd1 supplied via the transistor 472. In other words, the power supply control signal CTVHV is an H level signal. Accordingly, the transistor 473 is controlled to be on. At this time, the voltage VHV is supplied to the drain terminal of the transistor 472 and the gate terminal of the transistor 471 through the resistor 474. Accordingly, the transistor 471 is controlled to be turned off.

以上のように、給電制御信号CTVHVがHレベルの信号の場合、トランジスター471がオフに制御され、トランジスター473がオンに制御される。したがって、給電切替回路70は、抵抗475及びトランジスター472を介して供給されるグラウンド電位を、電圧VHV−TGとして駆動IC80に供給する。   As described above, when the power supply control signal CTVHV is an H level signal, the transistor 471 is controlled to be off and the transistor 473 is controlled to be on. Accordingly, the power supply switching circuit 70 supplies the ground potential supplied via the resistor 475 and the transistor 472 to the drive IC 80 as the voltage VHV-TG.

1.4 駆動ICの構成及び動作
次に、駆動IC80の構成及び動作について説明する。
1.4 Configuration and Operation of Drive IC Next, the configuration and operation of the drive IC 80 will be described.

まず、図7を用いて、駆動IC80に供給される駆動信号COMの一例について説明す
る。その後、図8から図11を用いて、駆動IC80の構成及び動作について説明する。
First, an example of the drive signal COM supplied to the drive IC 80 will be described with reference to FIG. Thereafter, the configuration and operation of the drive IC 80 will be described with reference to FIGS.

図7は、印刷モードにおける駆動信号COMの一例を示す図である。図7には、ラッチ信号LATが立ち上がってからチェンジ信号CHが立ち上がるまでの期間T1と、期間T1の後、次にチェンジ信号CHが立ち上がるまでの期間T2と、期間T2の後、ラッチ信号LATが立ち上がるまでの期間T3とを示している。なお、この期間T1,T2,T3からなる周期が、媒体Pに新たなドットを形成する周期Taとなる。   FIG. 7 is a diagram illustrating an example of the drive signal COM in the print mode. FIG. 7 shows the period T1 from the rise of the latch signal LAT to the rise of the change signal CH, the period T2 after the period T1, until the next rise of the change signal CH, and after the period T2, the latch signal LAT is A period T3 until rising is shown. Note that the period formed by the periods T1, T2, and T3 is a period Ta for forming a new dot on the medium P.

図7に示すように、印刷モードにおいて、駆動信号生成回路50は、期間T1において電圧波形Adpを生成する。電圧波形Adp1が圧電素子60に供給された場合、対応する吐出部600から所定量、具体的には中程度の量のインクが吐出される。   As shown in FIG. 7, in the print mode, the drive signal generation circuit 50 generates the voltage waveform Adp in the period T1. When the voltage waveform Adp1 is supplied to the piezoelectric element 60, a predetermined amount, specifically, a medium amount of ink is ejected from the corresponding ejection unit 600.

また、駆動信号生成回路50は、期間T2において電圧波形Bdpを生成する。電圧波形Bdpが圧電素子60に供給された場合、対応する吐出部600から上記所定量よりも少ない小程度の量のインクが吐出される。   Further, the drive signal generation circuit 50 generates the voltage waveform Bdp in the period T2. When the voltage waveform Bdp is supplied to the piezoelectric element 60, a small amount of ink smaller than the predetermined amount is ejected from the corresponding ejection unit 600.

また、駆動信号生成回路50は、期間T3において電圧波形Cdpを生成する。電圧波形Cdpが圧電素子60に供給された場合、圧電素子60は、対応する吐出部600からインクが吐出されない程度に変位する。したがって、媒体Pにはドットが形成されない。この電圧波形Cdpは、吐出部600のノズル開孔部付近のインクを微振動させてインクの粘度が増大することを防止するための電圧波形である。以下の説明において、インクの粘度が増大することを防止するために、吐出部600からインクが吐出されない程度に圧電素子60を変位させることを「微振動」と称する。   Further, the drive signal generation circuit 50 generates the voltage waveform Cdp in the period T3. When the voltage waveform Cdp is supplied to the piezoelectric element 60, the piezoelectric element 60 is displaced to the extent that ink is not ejected from the corresponding ejection unit 600. Accordingly, no dots are formed on the medium P. This voltage waveform Cdp is a voltage waveform for preventing the viscosity of the ink from increasing by causing the ink in the vicinity of the nozzle opening of the ejection unit 600 to vibrate. In the following description, in order to prevent the viscosity of ink from increasing, displacing the piezoelectric element 60 to the extent that ink is not ejected from the ejection unit 600 is referred to as “microvibration”.

ここで、電圧波形Adp、電圧波形Bdp及び電圧波形Cdpの開始タイミングでの電圧値及び終了タイミングでの電圧値は、いずれも電圧Vcで共通である。すなわち、電圧波形Adp,Bdp,Cdpは、電圧値が電圧Vcで開始し電圧Vcで終了する電圧波形である。したがって、印刷モードにおいて、駆動信号生成回路50は、電圧波形Adp,Bdp,Cdpが周期Taにおいて連続した電圧波形の駆動信号COMを出力する。   Here, the voltage value at the start timing and the voltage value at the end timing of the voltage waveform Adp, the voltage waveform Bdp, and the voltage waveform Cdp are all common to the voltage Vc. That is, the voltage waveforms Adp, Bdp, and Cdp are voltage waveforms that start with the voltage Vc and end with the voltage Vc. Therefore, in the print mode, the drive signal generation circuit 50 outputs the drive signal COM having a voltage waveform in which the voltage waveforms Adp, Bdp, and Cdp are continuous in the period Ta.

そして、圧電素子60に、期間T1において電圧波形Adpが供給され、期間T2において電圧波形Bdpが供給されることで、周期Taにおいて吐出部600から中程度の量のインクと小程度の量のインクとが吐出される。これにより、媒体Pに「大ドット」が形成される。また、圧電素子60に、期間T1において電圧波形Adpが供給され、期間T2において電圧波形Bdpが供給されないことで、周期Taにおいて、吐出部600から中程度の量のインクが吐出される。これにより、媒体Pに「中ドット」が形成される。また、圧電素子60に、期間T1において電圧波形Adpが供給されず、期間T2において電圧波形Bdpが供給されることで、周期Taにおいて吐出部600から小程度の量のインクが吐出される。これにより、媒体Pには「小ドット」が形成される。また、圧電素子60に、期間T1,T2において電圧波形Adp,Bdpが供給されず、期間T3において電圧波形Cdpが供給されることで、周期Taにおいて吐出部600からインクは吐出されずに微振動する。この場合、媒体Pにはドットが形成されない。   Then, the voltage waveform Adp is supplied to the piezoelectric element 60 in the period T1, and the voltage waveform Bdp is supplied in the period T2, so that a medium amount of ink and a small amount of ink are discharged from the ejection unit 600 in the period Ta. And are discharged. As a result, “large dots” are formed on the medium P. In addition, since the voltage waveform Adp is supplied to the piezoelectric element 60 in the period T1 and the voltage waveform Bdp is not supplied in the period T2, a medium amount of ink is ejected from the ejection unit 600 in the period Ta. As a result, “medium dots” are formed on the medium P. In addition, since the voltage waveform Adp is not supplied to the piezoelectric element 60 in the period T1, and the voltage waveform Bdp is supplied in the period T2, a small amount of ink is ejected from the ejection unit 600 in the period Ta. As a result, “small dots” are formed on the medium P. Further, since the voltage waveforms Adp and Bdp are not supplied to the piezoelectric element 60 in the periods T1 and T2, and the voltage waveform Cdp is supplied in the period T3, the ink is not ejected from the ejection unit 600 in the period Ta, and the micro vibration is generated. To do. In this case, no dots are formed on the medium P.

次に待機モード、移行モード及びスリープモードにおける駆動信号COMの一例について説明する。なお、待機モード、移行モード及びスリープモードにおける駆動信号COMの一例についての図示は省略する。   Next, an example of the drive signal COM in the standby mode, the transition mode, and the sleep mode will be described. Illustration of an example of the drive signal COM in the standby mode, the transition mode, and the sleep mode is omitted.

待機モード、移行モード及びスリープモードの場合、媒体Pに対してインクを吐出しない。よって、期間T1,T2,T3は規定されない。したがって、待機モード、移行モード及びスリープモードにおいて、ラッチ信号LAT及びチェンジ信号CHは、Lレベルの
信号である。
In the standby mode, transition mode, and sleep mode, ink is not ejected onto the medium P. Therefore, the periods T1, T2, and T3 are not defined. Therefore, in the standby mode, the transition mode, and the sleep mode, the latch signal LAT and the change signal CH are L level signals.

待機モードにおいて駆動信号生成回路50は、駆動信号COMの電圧値が基準電圧信号VBSの電圧値に近づくように制御する。   In the standby mode, the drive signal generation circuit 50 performs control so that the voltage value of the drive signal COM approaches the voltage value of the reference voltage signal VBS.

また、スリープモードにおいて駆動信号生成回路50は、動作を停止する。ここで、駆動信号生成回路50が動作を停止するとは、駆動信号生成回路50に駆動信号COMの生成を停止する為の駆動データ信号DRVが供給される場合であって、具体的には、駆動信号生成回路50が、グラウンド電位を駆動信号COMとして出力することを含む。   In the sleep mode, the drive signal generation circuit 50 stops operating. Here, the operation of the drive signal generation circuit 50 is stopped when the drive data signal DRV for stopping the generation of the drive signal COM is supplied to the drive signal generation circuit 50, specifically, the drive The signal generation circuit 50 includes outputting the ground potential as the drive signal COM.

また、移行モードは、前述のとおり待機モードからスリープモードに移行する間の動作モードである。本実施形態では、駆動信号生成回路50は、移行モードの遷移前において駆動信号COMの電圧値が基準電圧信号VBSの電圧値に近づくように制御し、移行モードの遷移後において動作を停止する。   The transition mode is an operation mode during the transition from the standby mode to the sleep mode as described above. In the present embodiment, the drive signal generation circuit 50 controls the voltage value of the drive signal COM to approach the voltage value of the reference voltage signal VBS before transition to the transition mode, and stops operation after transition to the transition mode.

図8は吐出モジュール21及び駆動IC80の電気構成を示すブロック図である。図8に示すように、駆動IC80は、選択制御回路210及び複数の選択回路230を含む。   FIG. 8 is a block diagram showing an electrical configuration of the discharge module 21 and the drive IC 80. As shown in FIG. 8, the drive IC 80 includes a selection control circuit 210 and a plurality of selection circuits 230.

選択制御回路210には、クロック信号SCK、印刷データ信号SI、ラッチ信号LAT、チェンジ信号CH、動作モード信号MC及び電圧VHV−TGが供給される。また、選択制御回路210には、シフトレジスター212(S/R)とラッチ回路214とデコーダー216との組が、吐出部600のそれぞれに対応して設けられている。すなわち、ヘッドユニット20には、吐出部600の総数nと同数のシフトレジスター212とラッチ回路214とデコーダー216との組が設けられている。   The selection control circuit 210 is supplied with a clock signal SCK, a print data signal SI, a latch signal LAT, a change signal CH, an operation mode signal MC, and a voltage VHV-TG. The selection control circuit 210 is provided with a set of a shift register 212 (S / R), a latch circuit 214, and a decoder 216 corresponding to each of the ejection units 600. That is, the head unit 20 is provided with a set of shift registers 212, latch circuits 214, and decoders 216 as many as the total number n of the ejection units 600.

シフトレジスター212は、対応する吐出部600毎に、印刷データ信号SIに含まれる2ビットの印刷データ[SIH,SIL]を一旦保持する。   The shift register 212 temporarily holds 2-bit print data [SIH, SIL] included in the print data signal SI for each corresponding ejection unit 600.

詳細には、吐出部600に対応した段数のシフトレジスター212が互いに縦続接続されるとともに、シリアルで供給された印刷データ信号SIが、クロック信号SCKに従って順次後段に転送される。なお、図8には、シフトレジスター212を区別するために、印刷データ信号SIが供給される上流側から順番に1段、2段、…、n段と表記している。   Specifically, the number of stages of shift registers 212 corresponding to the ejection unit 600 are connected in cascade, and the serially supplied print data signal SI is sequentially transferred to the subsequent stage according to the clock signal SCK. In FIG. 8, in order to distinguish the shift register 212, the first stage, the second stage,..., And the nth stage are shown in order from the upstream side to which the print data signal SI is supplied.

n個のラッチ回路214のそれぞれは、対応するシフトレジスター212で保持された印刷データ[SIH,SIL]をラッチ信号LATの立ち上がりでラッチする。   Each of the n latch circuits 214 latches the print data [SIH, SIL] held in the corresponding shift register 212 at the rising edge of the latch signal LAT.

n個のデコーダー216の各々は、対応するラッチ回路214によってラッチされた2ビットの印刷データ[SIH,SIL]及び動作モード信号MCに含まれる2ビットの動作モードデータ[MCH,MCL]をデコードして選択信号Sを生成し、選択回路230に供給する。   Each of the n decoders 216 decodes the 2-bit print data [SIH, SIL] latched by the corresponding latch circuit 214 and the 2-bit operation mode data [MCH, MCL] included in the operation mode signal MC. The selection signal S is generated and supplied to the selection circuit 230.

選択回路230は、吐出部600のそれぞれに対応して設けられている。すなわち、1つのヘッドユニット20が有する選択回路230の数は、ヘッドユニット20に含まれる吐出部600の総数nと同じである。選択回路230は、デコーダー216から供給される選択信号Sに基づいて、駆動信号COMの圧電素子60への供給を制御する。   The selection circuit 230 is provided corresponding to each of the ejection units 600. That is, the number of selection circuits 230 included in one head unit 20 is the same as the total number n of ejection units 600 included in the head unit 20. The selection circuit 230 controls the supply of the drive signal COM to the piezoelectric element 60 based on the selection signal S supplied from the decoder 216.

図9は、吐出部600の1個分に対応する選択回路230の電気構成を示す回路図である。   FIG. 9 is a circuit diagram showing an electrical configuration of the selection circuit 230 corresponding to one ejection unit 600.

図9に示すように、選択回路230は、インバーター232(NOT回路)及びトランスファーゲート234を有する。また、トランスファーゲート234は、NMOSトランジスターであるトランジスター235及びPMOSトランジスターであるトランジスター236を含む。   As illustrated in FIG. 9, the selection circuit 230 includes an inverter 232 (NOT circuit) and a transfer gate 234. The transfer gate 234 includes a transistor 235 that is an NMOS transistor and a transistor 236 that is a PMOS transistor.

選択信号Sは、デコーダー216からトランジスター235のゲート端子に供給される。また選択信号Sは、インバーター232によって論理反転されて、トランジスター236のゲート端子にも供給される。   The selection signal S is supplied from the decoder 216 to the gate terminal of the transistor 235. The selection signal S is logically inverted by the inverter 232 and is also supplied to the gate terminal of the transistor 236.

また、トランジスター235のドレイン端子及びトランジスター236のソース端子には、端子TG−Inに接続される。端子TG−Inには、駆動信号COMが供給される。そして、トランジスター235及びトランジスター236が、選択信号Sに従ってオン又はオフに制御されることで、トランジスター235のソース端子及びトランジスター236のドレイン端子が共通に接続される端子TG−Outから駆動信号VOUTを出力し、吐出モジュール21に供給する。なお、以下の説明においては、トランスファーゲート234のトランジスター235及びトランジスター236が導通状態に制御されている場合を、トランスファーゲート234をオンに制御すると称し、また、トランジスター235及びトランジスター236が非導通状態に制御されている場合を、トランスファーゲート234をオフに制御すると称する場合がある。   The drain terminal of the transistor 235 and the source terminal of the transistor 236 are connected to the terminal TG-In. A drive signal COM is supplied to the terminal TG-In. Then, the transistor 235 and the transistor 236 are controlled to be turned on or off according to the selection signal S, so that the drive signal VOUT is output from the terminal TG-Out to which the source terminal of the transistor 235 and the drain terminal of the transistor 236 are connected in common. And supplied to the discharge module 21. In the following description, the case where the transistor 235 and the transistor 236 of the transfer gate 234 are controlled to be in a conductive state is referred to as controlling the transfer gate 234 to be on, and the transistor 235 and the transistor 236 are in a non-conductive state. The controlled case may be referred to as controlling the transfer gate 234 off.

次に、図10を用いてデコーダー216のデコード内容について説明する。図10は、デコーダー216におけるデコード内容を示す図である。   Next, the decoding contents of the decoder 216 will be described with reference to FIG. FIG. 10 is a diagram showing the decoding contents in the decoder 216.

デコーダー216には、2ビットの印刷データ[SIH,SIL]、2ビットの動作モードデータ[MCH,MCL]、ラッチ信号LAT及びチェンジ信号CHが入力される。   The decoder 216 receives 2-bit print data [SIH, SIL], 2-bit operation mode data [MCH, MCL], a latch signal LAT, and a change signal CH.

デコーダー216は、動作モードデータ[MCH,MCL]が[1,1]の印刷モードの場合、ラッチ信号LAT及びチェンジ信号CHにより規定される期間T1,T2,T3のそれぞれにおいて、印刷データ[SIH,SIL]に基づく論理レベルの選択信号Sを出力する。   When the operation mode data [MCH, MCL] is in the print mode [1, 1], the decoder 216 outputs the print data [SIH, M2] in each of the periods T1, T2, T3 defined by the latch signal LAT and the change signal CH. A selection signal S having a logic level based on SIL] is output.

具体的には、デコーダー216は、印刷モードにおいて印刷データ[SIH,SIL]が「大ドット」を規定する[1,1]である場合、期間T1でHレベル、期間T2でHレベル、期間T3でLレベルとなる選択信号Sを出力する。   Specifically, when the print data [SIH, SIL] is [1, 1] that defines “large dots” in the print mode, the decoder 216 sets the H level in the period T1, the H level in the period T2, and the period T3. The selection signal S which becomes L level is output.

また、デコーダー216は、印刷モードにおいて印刷データ[SIH,SIL]が「中ドット」を規定する[1,0]である場合、期間T1でHレベル、期間T2でLレベル、期間T3でLレベルとなる選択信号Sを出力する。   Further, when the print data [SIH, SIL] is [1, 0] that defines “medium dot” in the print mode, the decoder 216 is at the H level in the period T1, the L level in the period T2, and the L level in the period T3. A selection signal S is output.

また、デコーダー216は、印刷モードにおいて印刷データ[SIH,SIL]が「小ドット」を規定する[0,1]である場合、期間T1でLレベル、期間T2でHレベル、期間T3でLレベルとなる選択信号Sを出力する。   Further, when the print data [SIH, SIL] is [0, 1] defining “small dots” in the print mode, the decoder 216 is at the L level in the period T1, the H level in the period T2, and the L level in the period T3. A selection signal S is output.

また、デコーダー216は、印刷モードにおいて印刷データ[SIH,SIL]が「微振動」を規定する[0,0]である場合、期間T1でLレベル、期間T2でLレベル、期間T3でHレベルとなる選択信号Sを出力する。   Further, when the print data [SIH, SIL] is [0, 0] that defines “fine vibration” in the print mode, the decoder 216 is at the L level in the period T1, the L level in the period T2, and the H level in the period T3. A selection signal S is output.

また、デコーダー216は、待機モード、移行モード及びスリープモードにおいて印刷データ[SIH,SIL]及び期間T1,T2,T3によらず選択信号Sの論理レベルを決定する。   The decoder 216 determines the logic level of the selection signal S regardless of the print data [SIH, SIL] and the periods T1, T2, and T3 in the standby mode, the transition mode, and the sleep mode.

具体的には、デコーダー216は、動作モードデータ[MCH,MCL]が[1,0]の待機モードの場合、Hレベルの選択信号Sを出力する。   Specifically, the decoder 216 outputs an H level selection signal S in the standby mode in which the operation mode data [MCH, MCL] is [1, 0].

また、デコーダー216は、動作モードデータ[MCH,MCL]が[0,0]の移行モードの場合、Lレベルの選択信号Sを出力する。   The decoder 216 outputs an L level selection signal S when the operation mode data [MCH, MCL] is in the transition mode [0, 0].

また、デコーダー216は、動作モードデータ[MCH,MCL]が[0,1]のスリープモードの場合、Lレベルの選択信号Sを出力する。   The decoder 216 outputs an L level selection signal S in the sleep mode in which the operation mode data [MCH, MCL] is [0, 1].

ここで、選択信号Sの論理レベルは、不図示のレベルシフターによって、電圧VHV―TGに基づく高振幅論理にレベルシフトされる。   Here, the logic level of the selection signal S is level-shifted to a high amplitude logic based on the voltage VHV-TG by a level shifter (not shown).

以上に説明した駆動IC80において、駆動信号COMに基づく駆動信号VOUTが生成され、吐出モジュール21に含まれる吐出部600に供給される動作について、図11を用いて説明する。   An operation in which the drive signal VOUT based on the drive signal COM is generated in the drive IC 80 described above and supplied to the ejection unit 600 included in the ejection module 21 will be described with reference to FIG.

図11は、印刷モードにおける駆動IC80の動作を説明するための図である。   FIG. 11 is a diagram for explaining the operation of the drive IC 80 in the print mode.

印刷モードでは、印刷データ信号SIがクロック信号SCKに同期してシリアルで供給され、吐出部600に対応するシフトレジスター212において順次転送される。そして、クロック信号SCKの供給が停止すると、シフトレジスター212のそれぞれには、吐出部600に対応した印刷データ[SIH,SIL]が保持される。なお、印刷データ信号SIは、シフトレジスター212における最終n段、…、2段、1段の吐出部600に対応した順番で供給される。   In the print mode, the print data signal SI is serially supplied in synchronization with the clock signal SCK and sequentially transferred in the shift register 212 corresponding to the ejection unit 600. When the supply of the clock signal SCK is stopped, the print data [SIH, SIL] corresponding to the ejection unit 600 is held in each of the shift registers 212. The print data signal SI is supplied in the order corresponding to the last n stages,..., 2 stages, and 1 stage of the ejection unit 600 in the shift register 212.

ここで、ラッチ信号LATが立ち上がると、ラッチ回路214のそれぞれは、対応するシフトレジスター212に保持された印刷データ[SIH,SIL]を一斉にラッチする。図11において、LT1、LT2、…、LTnは、1段、2段、…、n段のシフトレジスター212に対応するラッチ回路214によってラッチされた印刷データ[SIH,SIL]を示す。   Here, when the latch signal LAT rises, each of the latch circuits 214 latches the print data [SIH, SIL] held in the corresponding shift register 212 at the same time. In FIG. 11, LT1, LT2,..., LTn indicate print data [SIH, SIL] latched by the latch circuit 214 corresponding to the first, second,.

デコーダー216は、ラッチされた印刷データ[SIH,SIL]で規定されるドットのサイズに応じて、期間T1,T2,T3のそれぞれにおいて、図10に示される内容に従う論理レベルの選択信号Sを出力する。   The decoder 216 outputs a logic level selection signal S according to the contents shown in FIG. 10 in each of the periods T1, T2, and T3 in accordance with the dot size defined by the latched print data [SIH, SIL]. To do.

そして、印刷データ[SIH,SIL]が[1,1]の場合、選択回路230は、選択信号Sに従い、期間T1において電圧波形Adpを選択し、期間T2において電圧波形Bdpを選択し、期間T3において電圧波形Cdpを選択しない。その結果、図11に示す大ドットに対応する駆動信号VOUTが吐出部600に供給される。   When the print data [SIH, SIL] is [1, 1], the selection circuit 230 selects the voltage waveform Adp in the period T1, selects the voltage waveform Bdp in the period T2, and selects the voltage waveform Bdp in the period T3. The voltage waveform Cdp is not selected. As a result, the drive signal VOUT corresponding to the large dot shown in FIG.

また、印刷データ[SIH,SIL]が[1,0]の場合、選択回路230は、選択信号Sに従い、期間T1において電圧波形Adpを選択し、期間T2において電圧波形Bdpを選択せず、期間T3において電圧波形Cdpを選択しない。その結果、図11に示す中ドットに対応する駆動信号VOUTが吐出部600に供給される。   When the print data [SIH, SIL] is [1, 0], the selection circuit 230 selects the voltage waveform Adp in the period T1 according to the selection signal S, does not select the voltage waveform Bdp in the period T2, and The voltage waveform Cdp is not selected at T3. As a result, the drive signal VOUT corresponding to the medium dot shown in FIG.

また、印刷データ[SIH,SIL]が[0,1]の場合、選択回路230は、選択信号Sに従い、期間T1において電圧波形Adpを選択せず、期間T2において電圧波形Bdpを選択し、期間T3において電圧波形Cdpを選択しない。その結果、図11に示す小ドットに対応する駆動信号VOUTが吐出部600に供給される。   When the print data [SIH, SIL] is [0, 1], the selection circuit 230 does not select the voltage waveform Adp in the period T1 and selects the voltage waveform Bdp in the period T2 according to the selection signal S. The voltage waveform Cdp is not selected at T3. As a result, the drive signal VOUT corresponding to the small dots shown in FIG.

また、印刷データ[SIH,SIL]が[0,0]の場合、選択回路230は、選択信号Sに従い、期間T1において電圧波形Adpを選択せず、期間T2において電圧波形Bdpを選択し、期間T3において電圧波形Cdpを選択しない。その結果、図11に示す微振動に対応する駆動信号VOUTが吐出部600に供給される。   When the print data [SIH, SIL] is [0, 0], the selection circuit 230 does not select the voltage waveform Adp in the period T1 and selects the voltage waveform Bdp in the period T2, according to the selection signal S. The voltage waveform Cdp is not selected at T3. As a result, the drive signal VOUT corresponding to the slight vibration shown in FIG.

待機モード、移行モード及びスリープモードでは印刷が行われない。そのため、第1実施形態における待機モード、移行モード及びスリープモードでは、前述したラッチ信号LAT及びチェンジ信号CHに加えて、クロック信号SCK及び印刷データ信号SIもLレベルの信号である。したがって、シフトレジスター212及びラッチ回路214は動作しない。したがって、待機モード、移行モード及びスリープモードでは、前述のとおり、デコーダー216は、動作モード信号MCに従って選択信号Sの論理レベルを決定する。   Printing is not performed in the standby mode, transition mode, and sleep mode. Therefore, in the standby mode, transition mode, and sleep mode in the first embodiment, in addition to the latch signal LAT and the change signal CH described above, the clock signal SCK and the print data signal SI are also L level signals. Therefore, the shift register 212 and the latch circuit 214 do not operate. Accordingly, in the standby mode, the transition mode, and the sleep mode, as described above, the decoder 216 determines the logic level of the selection signal S according to the operation mode signal MC.

動作モードデータ[MCH,MCL]が[1,0]の待機モードの場合、選択回路230は、供給されるHレベルの選択信号Sに従い、基準電圧信号VBSと同等の電圧値の駆動信号COMを選択する。その結果、基準電圧信号VBSと同等の電圧値の駆動信号VOUTが吐出部600に供給される。   In the standby mode in which the operation mode data [MCH, MCL] is [1, 0], the selection circuit 230 generates a drive signal COM having a voltage value equivalent to the reference voltage signal VBS according to the supplied H level selection signal S. select. As a result, a drive signal VOUT having a voltage value equivalent to the reference voltage signal VBS is supplied to the ejection unit 600.

また、動作モードデータ[MCH,MCL]が[0,0]の移行モードの場合、選択回路230は、供給されるLレベルの選択信号Sに従い、トランスファーゲート234を非導通とする。その結果、駆動信号COMは駆動信号VOUTとして吐出部600に供給されない。   In the transition mode in which the operation mode data [MCH, MCL] is [0, 0], the selection circuit 230 makes the transfer gate 234 nonconductive according to the L level selection signal S supplied. As a result, the drive signal COM is not supplied to the ejection unit 600 as the drive signal VOUT.

また、動作モードデータ[MCH,MCL]が[0,1]のスリープモードの場合、選択回路230は、供給されるLレベルの選択信号Sに従い、駆動信号COMを駆動信号VOUTとして選択しない。その結果、圧電素子60には直前に供給されていた電圧が保持される。   In the sleep mode in which the operation mode data [MCH, MCL] is [0, 1], the selection circuit 230 does not select the drive signal COM as the drive signal VOUT according to the L level selection signal S supplied. As a result, the voltage previously supplied to the piezoelectric element 60 is held.

1.5 吐出部の構成及び動作
次に、吐出モジュール21及び吐出部600の構成及び動作について説明する。図12は、吐出モジュール21の分解斜視図である。また、図13は、図12のIII-III線の断面図であって、吐出部600の概略構成を示す断面図である。
1.5 Configuration and Operation of Discharge Unit Next, the configuration and operation of the discharge module 21 and the discharge unit 600 will be described. FIG. 12 is an exploded perspective view of the discharge module 21. FIG. 13 is a cross-sectional view taken along the line III-III in FIG.

図12及び図13に示すように、吐出モジュール21は、方向Xに長尺な略矩形状の流路基板670を備える。流路基板670の方向Zにおける一方の面側には、圧力室基板630、振動板621、複数の圧電素子60、筐体部640及び封止体610が設けられる。また、流路基板670の方向Zにおける他方の面側には、ノズルプレート632及び吸振体633が設けられる。このような吐出モジュール21の各構成は、流路基板670と同様に方向Xに長尺な略矩形状の部材であり、接着剤等を利用して相互に接合される。   As shown in FIGS. 12 and 13, the discharge module 21 includes a substantially rectangular channel substrate 670 elongated in the direction X. On one surface side in the direction Z of the flow path substrate 670, a pressure chamber substrate 630, a vibration plate 621, a plurality of piezoelectric elements 60, a housing portion 640, and a sealing body 610 are provided. A nozzle plate 632 and a vibration absorber 633 are provided on the other surface side in the direction Z of the flow path substrate 670. Each configuration of the discharge module 21 is a substantially rectangular member that is long in the direction X like the flow path substrate 670, and is bonded to each other using an adhesive or the like.

図12に示すように、ノズルプレート632は、方向Xに沿って並ぶ複数のノズル651が形成された板状部材である。このようなノズル651は、ノズルプレート632に設けられるとともに、後述するキャビティー631に連通する開孔部である。   As shown in FIG. 12, the nozzle plate 632 is a plate-like member on which a plurality of nozzles 651 arranged in the direction X are formed. Such a nozzle 651 is provided in the nozzle plate 632 and is an opening portion communicating with a cavity 631 described later.

流路基板670は、インクの流路を形成するための板状部材である。図12及び図13に示すように、流路基板670には、開口部671、供給流路672、及び連通流路673が形成されている。開口部671は、方向Zにおいて貫通し、複数のノズル651において共通に形成された方向Xに沿った長尺状の貫通孔である。また、供給流路672及び連通流路673は、複数のノズル651のそれぞれに対応して形成された貫通孔である。さらに、図13に示すように、流路基板670の方向Zにおける一方の面には、複数の供給流路672において共通に形成された中継流路674が設けられる。中継流路674は、開口部671と複数の供給流路672とを連通する。   The flow path substrate 670 is a plate-like member for forming an ink flow path. As shown in FIGS. 12 and 13, the channel substrate 670 is formed with an opening 671, a supply channel 672, and a communication channel 673. The opening 671 is a long through hole extending along the direction X that penetrates in the direction Z and is formed in common in the plurality of nozzles 651. The supply flow path 672 and the communication flow path 673 are through holes formed corresponding to the plurality of nozzles 651. Further, as shown in FIG. 13, a relay channel 674 formed in common in the plurality of supply channels 672 is provided on one surface in the direction Z of the channel substrate 670. The relay channel 674 communicates the opening 671 and the plurality of supply channels 672.

筐体部640は、例えば樹脂材料の射出成形で製造される構造体であり、流路基板670の方向Zにおける他方の面に固定される。図13に示すように、筐体部640には供給流路641と供給口661とが形成されている。供給流路641は、流路基板670の開口部671に対応する凹部であり、供給口661は、供給流路641に連通する貫通孔である。以上のような流路基板670の開口部671と、筐体部640の供給流路641とが相互に連通する空間が、供給口661から供給されるインクを貯留するリザーバーとして機能する。   The housing portion 640 is a structure manufactured by, for example, injection molding of a resin material, and is fixed to the other surface in the direction Z of the flow path substrate 670. As shown in FIG. 13, a supply channel 641 and a supply port 661 are formed in the housing portion 640. The supply channel 641 is a recess corresponding to the opening 671 of the channel substrate 670, and the supply port 661 is a through hole communicating with the supply channel 641. A space in which the opening 671 of the flow path substrate 670 and the supply flow path 641 of the casing 640 communicate with each other functions as a reservoir that stores ink supplied from the supply port 661.

吸振体633は、リザーバーの内部で生じる圧力変動を吸収する為の構成である。具体的には、吸振体633は、流路基板670に形成された、開口部671、中継流路674及び複数の供給流路672を閉塞してリザーバーの底面を構成するように、流路基板670の方向Zにおける一方の面側に固定される。このような吸振体633は、例えば、弾性変形が可能な可撓性のシート部材であるコンプライアンス基板を含んで構成される。   The vibration absorber 633 is configured to absorb pressure fluctuations that occur inside the reservoir. Specifically, the vibration absorber 633 is configured so that the opening 671, the relay flow path 674, and the plurality of supply flow paths 672 formed in the flow path substrate 670 are closed to form the bottom surface of the reservoir. It is fixed to one surface side in the direction Z of 670. Such a vibration absorber 633 includes, for example, a compliance substrate that is a flexible sheet member capable of elastic deformation.

図12及び図13に示すように、圧力室基板630は、複数のノズル651に対応する複数のキャビティー631が形成される板状部材である。複数のキャビティー631は、方向Yに沿った長尺状であって、方向Xに沿って並んで設けられる。そして、キャビティー631の方向Yにおける一方の端部は供給流路672と連通し、キャビティー631の方向Yにおける他方の端部は連通流路673と連通する。   As shown in FIGS. 12 and 13, the pressure chamber substrate 630 is a plate-like member in which a plurality of cavities 631 corresponding to the plurality of nozzles 651 are formed. The plurality of cavities 631 have a long shape along the direction Y, and are provided side by side along the direction X. One end portion in the direction Y of the cavity 631 communicates with the supply flow path 672, and the other end portion in the direction Y of the cavity 631 communicates with the communication flow path 673.

図12及び図13に示すように、圧力室基板630のうち流路基板670が接続される面とは反対側の面には、振動板621が固定される。振動板621は、弾性的に変形可能な板状部材である。具体的には、図13に示すように、流路基板670と振動板621とは、各キャビティー631の内側で相互に間隔をあけて対向する。すなわち、振動板621は、キャビティー631の壁面の一部である上面を構成する。   As shown in FIGS. 12 and 13, a diaphragm 621 is fixed to the surface of the pressure chamber substrate 630 opposite to the surface to which the flow path substrate 670 is connected. The diaphragm 621 is an elastically deformable plate member. Specifically, as shown in FIG. 13, the flow path substrate 670 and the vibration plate 621 face each other with an interval inside each cavity 631. That is, the diaphragm 621 constitutes an upper surface that is a part of the wall surface of the cavity 631.

キャビティー631は、流路基板670と振動板621との間に位置し、当該キャビティー631の内部に充填されるインクに圧力を付与する圧力室として機能する。   The cavity 631 is located between the flow path substrate 670 and the vibration plate 621 and functions as a pressure chamber that applies pressure to the ink filled in the cavity 631.

図12及び図13に示すように、振動板621のキャビティー631とは反対側の面には、複数の圧電素子60が設けられる。換言すれば、振動板621は、キャビティー631と圧電素子60との間に設けられる。複数の圧電素子60は、複数のキャビティー631に対応するように方向Xに並んで設けられる。そして、圧電素子60の変形に連動して振動板621が振動することで、キャビティー631の内部の圧力が変動し、インクがノズル651から吐出される。具体的には、圧電素子60は、駆動信号VOUTの供給により変形するアクチュエーターであり、図13に示すように、圧電素子60は、圧電体601を一対の電極611,612で挟んだ構造である。そして、電極611には駆動信号VOUTが供給され、電極612には基準電圧信号VBSが供給される。この場合において圧電素子60は、電極611と電極612との電位差に応じて振動板621とともに圧電体601の中央部分が両端部分に対して上下方向に変形する。そして、圧電素子60の変形に伴いノズル651からインクが吐出される。ここで、振動板621は、圧電素子60によって変位し、インクが充填されるキャビティー631の内部容積を拡大/縮小させるダイヤフラムとして機能する。なお、圧電素子60に含まれる電極611が第1電極の一例であり、電極612が第2電極の一例である。   As shown in FIGS. 12 and 13, a plurality of piezoelectric elements 60 are provided on the surface of the diaphragm 621 opposite to the cavity 631. In other words, the diaphragm 621 is provided between the cavity 631 and the piezoelectric element 60. The plurality of piezoelectric elements 60 are provided side by side in the direction X so as to correspond to the plurality of cavities 631. Then, the diaphragm 621 vibrates in conjunction with the deformation of the piezoelectric element 60, whereby the pressure inside the cavity 631 fluctuates and ink is ejected from the nozzles 651. Specifically, the piezoelectric element 60 is an actuator that is deformed by the supply of the drive signal VOUT, and the piezoelectric element 60 has a structure in which the piezoelectric body 601 is sandwiched between a pair of electrodes 611 and 612 as shown in FIG. . Then, the drive signal VOUT is supplied to the electrode 611, and the reference voltage signal VBS is supplied to the electrode 612. In this case, in the piezoelectric element 60, the central portion of the piezoelectric body 601 is deformed in the vertical direction with respect to both end portions together with the diaphragm 621 in accordance with the potential difference between the electrode 611 and the electrode 612. Then, ink is ejected from the nozzle 651 as the piezoelectric element 60 is deformed. Here, the diaphragm 621 functions as a diaphragm that is displaced by the piezoelectric element 60 and expands / reduces the internal volume of the cavity 631 filled with ink. The electrode 611 included in the piezoelectric element 60 is an example of the first electrode, and the electrode 612 is an example of the second electrode.

図12及び図13の封止体610は、複数の圧電素子60を保護するとともに圧力室基板630及び振動板621の機械的な強度を補強する構造体であり、例えば接着剤で振動
板621に固定される。封止体610のうち振動板621との対向面に形成される凹部の内側に複数の圧電素子60が収容される。
12 and 13 is a structure that protects the plurality of piezoelectric elements 60 and reinforces the mechanical strength of the pressure chamber substrate 630 and the vibration plate 621. For example, the sealing member 610 is bonded to the vibration plate 621 with an adhesive. Fixed. A plurality of piezoelectric elements 60 are housed inside a recess formed in a surface of the sealing body 610 facing the diaphragm 621.

以上のように構成された吐出モジュール21において、圧電素子60、キャビティー631、振動板621及びノズル651を含む構成が吐出部600である。   In the discharge module 21 configured as described above, a configuration including the piezoelectric element 60, the cavity 631, the diaphragm 621, and the nozzle 651 is the discharge unit 600.

図14は、液体吐出装置1を方向Zに沿って平面視した場合の、吐出モジュール21及び吐出モジュール21に設けられた複数のノズル651の配置の一例を示す図である。なお、図14では、ヘッドユニット20は、4つの吐出モジュール21を備えるとして説明する。   FIG. 14 is a diagram illustrating an example of an arrangement of the discharge module 21 and a plurality of nozzles 651 provided in the discharge module 21 when the liquid discharge apparatus 1 is viewed in plan along the direction Z. In FIG. 14, the head unit 20 will be described as including four ejection modules 21.

図14に示すように、各吐出モジュール21には、所定方向に列状に設けられた複数のノズル651からなるノズル列Lが形成されている。各ノズル列Lは、方向Xに沿って列状に配置されたn個のノズル651によって形成されている。   As shown in FIG. 14, each ejection module 21 is formed with a nozzle row L composed of a plurality of nozzles 651 provided in a row in a predetermined direction. Each nozzle row L is formed by n nozzles 651 arranged in a row along the direction X.

なお、図14に示すノズル列Lは一例であって異なる構成であってもよい。例えば、各ノズル列Lにおいて、端から数えて偶数番目のノズル651と奇数番目のノズル651とで方向Yの位置が相違するように、n個のノズル651が千鳥状に配置されてもよい。また、各ノズル列Lは方向Xとは異なる方向に形成されてもよい。また、第1実施形態では、各吐出モジュール21に設けられるノズル列Lの列数を「1」として例示しているが、各吐出モジュール21には、「2」以上のノズル列Lが形成されてもよい。   The nozzle row L shown in FIG. 14 is an example and may have a different configuration. For example, in each nozzle row L, n nozzles 651 may be arranged in a staggered manner so that the even-numbered nozzles 651 and odd-numbered nozzles 651 from the end have different positions in the direction Y. Further, each nozzle row L may be formed in a direction different from the direction X. In the first embodiment, the number of nozzle rows L provided in each ejection module 21 is exemplified as “1”, but each ejection module 21 is formed with nozzle rows L of “2” or more. May be.

ここで、第1実施形態においては、ノズル列Lを形成するn個のノズル651は、吐出モジュール21において、1インチあたり300個以上の高密度で設けられている。そのため、吐出モジュール21において、圧電素子60も、n個のノズル651に対応して高密度にn個設けられている。   Here, in the first embodiment, the n nozzles 651 forming the nozzle row L are provided at a high density of 300 or more per inch in the discharge module 21. Therefore, in the ejection module 21, n piezoelectric elements 60 are also provided with high density corresponding to the n nozzles 651.

また、第1実施形態においては、圧電素子60に用いられる圧電体601は、厚さが例えば1μm以下の薄膜であることが好ましい。これにより、電極611と電極612との間の電位差に対する圧電素子60の変位量を大きくすることができる。   In the first embodiment, the piezoelectric body 601 used for the piezoelectric element 60 is preferably a thin film having a thickness of, for example, 1 μm or less. Thereby, the displacement amount of the piezoelectric element 60 with respect to the potential difference between the electrode 611 and the electrode 612 can be increased.

ここで、図15を用いて、ノズル651から吐出されるインクの吐出動作について説明する。図15は、圧電素子60に駆動信号VOUTが供給された場合における、圧電素子60及び振動板621の変位と吐出との関係を説明するための図である。なお、図15は、吐出モジュール21に含まれる複数の圧電素子60、キャビティー631及びノズル651の内の2つを方向Yから見た場合の断面図である。図15の(1)には、駆動信号VOUTとして電圧Vcが供給されている場合における圧電素子60及び振動板621の変位が模式的に示されている。また、図15の(2)には、圧電素子60に供給される駆動信号VOUTの電圧値が、電圧Vcから基準電圧信号VBSに近づくように制御されている場合における圧電素子60及び振動板621の変位が模式的に示されている。また、図15の(3)には、圧電素子60に供給される駆動信号VOUTの電圧値が、電圧Vcよりも基準電圧信号VBSから離れるように制御されている場合における圧電素子60及び振動板621の変位が模式的に示されている。   Here, the operation of discharging ink discharged from the nozzles 651 will be described with reference to FIG. FIG. 15 is a diagram for explaining the relationship between displacement and ejection of the piezoelectric element 60 and the diaphragm 621 when the drive signal VOUT is supplied to the piezoelectric element 60. FIG. 15 is a cross-sectional view when two of the plurality of piezoelectric elements 60, the cavity 631, and the nozzle 651 included in the discharge module 21 are viewed from the direction Y. FIG. 15 (1) schematically shows displacement of the piezoelectric element 60 and the diaphragm 621 when the voltage Vc is supplied as the drive signal VOUT. FIG. 15B shows the piezoelectric element 60 and the diaphragm 621 when the voltage value of the drive signal VOUT supplied to the piezoelectric element 60 is controlled so as to approach the reference voltage signal VBS from the voltage Vc. The displacement is schematically shown. Further, (3) in FIG. 15 shows the piezoelectric element 60 and the diaphragm when the voltage value of the drive signal VOUT supplied to the piezoelectric element 60 is controlled to be farther from the reference voltage signal VBS than the voltage Vc. A displacement of 621 is schematically shown.

図15の(1)に示す状態において、圧電素子60及び振動板621は、電極611に供給される駆動信号VOUTと、電極612に供給される基準電圧信号VBSとの電位差に応じて方向Zに撓んでいる。このとき、電極611には駆動信号VOUTとして電圧Vcが供給されている。電圧Vcは、前述のとおり、電圧波形Adp,Bdp,Cdpの開始タイミング及び終了タイミングでの電圧値である。すなわち、図15の(1)に示す圧電素子60及び振動板621の状態が、印刷モードにおける圧電素子60の基準状態とな
る。
In the state shown in FIG. 15A, the piezoelectric element 60 and the diaphragm 621 are moved in the direction Z according to the potential difference between the drive signal VOUT supplied to the electrode 611 and the reference voltage signal VBS supplied to the electrode 612. It is bent. At this time, the voltage Vc is supplied to the electrode 611 as the drive signal VOUT. The voltage Vc is a voltage value at the start timing and end timing of the voltage waveforms Adp, Bdp, Cdp as described above. That is, the state of the piezoelectric element 60 and the diaphragm 621 shown in (1) of FIG. 15 becomes the reference state of the piezoelectric element 60 in the printing mode.

そして、駆動信号VOUTの電圧値が、基準電圧信号VBSの電圧値に近づくように制御された場合、図15の(2)に示すように、圧電素子60及び振動板621の方向Zに沿って生じる変位が低減される。このとき、キャビティー631の内部容積が拡大し、キャビティー631にリザーバーからインクが供給される。   When the voltage value of the drive signal VOUT is controlled so as to approach the voltage value of the reference voltage signal VBS, as shown in (2) of FIG. 15, along the direction Z of the piezoelectric element 60 and the diaphragm 621. The resulting displacement is reduced. At this time, the internal volume of the cavity 631 increases, and ink is supplied to the cavity 631 from the reservoir.

その後、駆動信号VOUTの電圧値が、基準電圧信号VBSの電圧値から離れるように制御される。このとき、図15の(3)に示すように、圧電素子60及び振動板621の方向Zに沿った変位が増加する。このとき、キャビティー631の内部容積が縮小し、キャビティー631に充填されたインクが、ノズル651から吐出される。   Thereafter, the voltage value of the drive signal VOUT is controlled so as to be separated from the voltage value of the reference voltage signal VBS. At this time, as shown in (3) of FIG. 15, the displacement along the direction Z of the piezoelectric element 60 and the diaphragm 621 increases. At this time, the internal volume of the cavity 631 is reduced, and the ink filled in the cavity 631 is ejected from the nozzle 651.

第1実施形態では、圧電素子60に駆動信号VOUTが供給されることで、図15の(1)〜(3)の状態が繰り返えされる。これにより、ノズル651からインクが吐出され、媒体Pにドットが形成される。なお、図15の(1)〜(3)に示す圧電素子60及び振動板621の変位は、電極611に供給される駆動信号VOUTと、電極612に供給される基準電圧信号VBSとの電位差が大きくなるに従い、方向Zに沿って大きくなる。換言すれば、駆動信号VOUTと基準電圧信号VBSとの電位差に応じてノズル651から吐出されるインクの吐出量が制御される。   In the first embodiment, when the drive signal VOUT is supplied to the piezoelectric element 60, the states (1) to (3) in FIG. 15 are repeated. As a result, ink is ejected from the nozzles 651 and dots are formed on the medium P. Note that the displacement of the piezoelectric element 60 and the diaphragm 621 shown in (1) to (3) of FIG. 15 is caused by a potential difference between the drive signal VOUT supplied to the electrode 611 and the reference voltage signal VBS supplied to the electrode 612. As it increases, it increases along the direction Z. In other words, the ejection amount of ink ejected from the nozzles 651 is controlled according to the potential difference between the drive signal VOUT and the reference voltage signal VBS.

なお、図15に示す駆動信号VOUTに対する圧電素子60及び振動板621の変位は、あくまで一例であって、例えば、駆動信号VOUTと基準電圧信号VBSとの電位差が大きい場合に、キャビティー631にインクが引き込まれ、駆動信号VOUTと基準電圧信号VBSとの電位差が小さくなる場合に、キャビティー631に充填されたインクが、ノズル651から吐出されてもよい。   Note that the displacement of the piezoelectric element 60 and the diaphragm 621 with respect to the drive signal VOUT shown in FIG. 15 is merely an example. For example, when the potential difference between the drive signal VOUT and the reference voltage signal VBS is large, ink is supplied to the cavity 631. Is drawn, and ink filled in the cavity 631 may be ejected from the nozzle 651 when the potential difference between the drive signal VOUT and the reference voltage signal VBS becomes small.

1.6 移行モードの詳細と圧電素子の放電
以上に説明したように、スリープモードでは、選択回路230が有するトランスファーゲート234はオフに制御される。理想的には、スリープモードにおいて電極611に供給される電圧及び電流は、トランスファーゲート234によって遮断される。したがって、電極611には、当該トランスファーゲート234がオフに制御される直前の電圧が保持される。よって、トランスファーゲート234がオフに制御される直前において電極611に供給される電圧を、電極612に供給される基準電圧信号VBSの電圧に近づけることで、スリープモードにおいて圧電素子60に変位が生じることを低減することができる。
1.6 Details of Transition Mode and Discharge of Piezoelectric Element As described above, in the sleep mode, the transfer gate 234 included in the selection circuit 230 is controlled to be off. Ideally, the voltage and current supplied to the electrode 611 in the sleep mode are blocked by the transfer gate 234. Accordingly, the electrode 611 holds the voltage immediately before the transfer gate 234 is controlled to be turned off. Accordingly, the piezoelectric element 60 is displaced in the sleep mode by bringing the voltage supplied to the electrode 611 immediately before the transfer gate 234 is controlled to be off to the voltage of the reference voltage signal VBS supplied to the electrode 612. Can be reduced.

しかしながら、トランスファーゲート234及び圧電素子60は抵抗成分を有する。そのため、トランスファーゲート234がオフに制御されている場合であっても、電極611には、トランスファーゲート234及び圧電素子60の抵抗成分を介したリーク電流が供給される。そのため、電極611には当該リーク電流に起因する電荷が蓄積される。したがって、電極611の電圧値が上昇し、圧電素子60に意図しない変位が生じるおそれがある。   However, the transfer gate 234 and the piezoelectric element 60 have a resistance component. Therefore, even when the transfer gate 234 is controlled to be turned off, a leak current is supplied to the electrode 611 via the resistance components of the transfer gate 234 and the piezoelectric element 60. Therefore, charges caused by the leakage current are accumulated in the electrode 611. Therefore, the voltage value of the electrode 611 increases, and there is a possibility that unintended displacement occurs in the piezoelectric element 60.

図16は、リーク電流により電極611の電圧値が上昇した場合における圧電素子60及び振動板621の変位を模式的に示す図である。なお、図16は、吐出モジュール21に含まれる複数の圧電素子60、キャビティー631及びノズル651の内の2つを方向Yから見た場合の断面図である。図16の(1)には、スリープモードに遷移した直後の圧電素子60及び振動板621の変位が示されている。また、図16の(2)には、トランスファーゲート234及び圧電素子60に生じるリーク電流に起因して、電極611に電荷が蓄積された場合における圧電素子60及び振動板621の変位が示されている。   FIG. 16 is a diagram schematically showing displacement of the piezoelectric element 60 and the diaphragm 621 when the voltage value of the electrode 611 is increased by a leakage current. FIG. 16 is a cross-sectional view of two of the plurality of piezoelectric elements 60, the cavities 631, and the nozzles 651 included in the discharge module 21 when viewed from the direction Y. FIG. 16A shows the displacement of the piezoelectric element 60 and the diaphragm 621 immediately after the transition to the sleep mode. FIG. 16B shows the displacement of the piezoelectric element 60 and the diaphragm 621 when electric charges are accumulated in the electrode 611 due to leakage current generated in the transfer gate 234 and the piezoelectric element 60. Yes.

図16の(1)に示すように、スリープモードに遷移した直後の圧電素子60は、電極611の電圧と電極612の電圧との電位差に基づいて変位している。このとき、電極611には、スリープモードに遷移する直前の電圧が保持されている。すなわち、スリープモードに遷移した直後の電極611の電圧は、電極611に保持されることが想定された電圧である。したがって、圧電素子60は想定の範囲内で変位し、同様に振動板621は想定の範囲内で変位する。このとき、振動板621とキャビティー631との接点αには、想定の範囲内の応力F1が生じる。   As shown in FIG. 16 (1), the piezoelectric element 60 immediately after transitioning to the sleep mode is displaced based on the potential difference between the voltage of the electrode 611 and the voltage of the electrode 612. At this time, the electrode 611 holds the voltage immediately before the transition to the sleep mode. That is, the voltage of the electrode 611 immediately after the transition to the sleep mode is a voltage assumed to be held by the electrode 611. Therefore, the piezoelectric element 60 is displaced within the assumed range, and the diaphragm 621 is similarly displaced within the assumed range. At this time, a stress F1 within an assumed range is generated at the contact α between the diaphragm 621 and the cavity 631.

なお、図16の(1)には、スリープモードに遷移する直前における電極611の電圧と電極612の電圧とが異なる場合が例示されているが、電極611の電圧と電極612の電圧とは同等の電圧値であることが好ましい。この場合、圧電素子60及び振動板621に変位は生じない。   Note that FIG. 16 (1) illustrates a case where the voltage of the electrode 611 and the voltage of the electrode 612 immediately before the transition to the sleep mode are different, but the voltage of the electrode 611 and the voltage of the electrode 612 are equivalent. Preferably, the voltage value is In this case, the piezoelectric element 60 and the diaphragm 621 are not displaced.

そして、電極611に、リーク電流等に起因した電荷が蓄積された場合、電極611の電圧と電極612の電圧との電位差が大きくなり、図16の(2)に示すように、圧電素子60の変位が大きくなる。よって、振動板621の変位も大きくなる。このとき、振動板621とキャビティー631との接点αには、想定よりも大きな応力F2が生じる場合がある。   When charges due to leakage current or the like are accumulated in the electrode 611, the potential difference between the voltage of the electrode 611 and the voltage of the electrode 612 becomes large, and as shown in (2) of FIG. Displacement increases. Therefore, the displacement of the diaphragm 621 also increases. At this time, a larger stress F2 than expected may occur at the contact α between the diaphragm 621 and the cavity 631.

また、振動板621とキャビティー631との接点に生じる応力は、方向Yにおける振動板621とキャビティー631との接点の位置により異なる場合がある。具体的には、振動板621とキャビティー631との接点に生じる応力は、振動板621とキャビティー631との接点であって、振動板621の方向Zにおける変位が最大となる点においてより大きな応力が生じる。   Further, the stress generated at the contact point between the diaphragm 621 and the cavity 631 may vary depending on the position of the contact point between the diaphragm 621 and the cavity 631 in the direction Y. Specifically, the stress generated at the contact point between the vibration plate 621 and the cavity 631 is a contact point between the vibration plate 621 and the cavity 631, and is larger at a point where the displacement in the direction Z of the vibration plate 621 becomes maximum. Stress is generated.

このような振動板621に生じる変位の要因としては、例えば、振動板621に生じる固有振動が挙げられる。図17は、振動板621を方向Zから見た場合の平面図である。図17に示すように、本実施形態におけるキャビティー631は、方向Yに沿った長尺状であり、振動板621には、方向Yに沿った固有振動が生じる場合がある。このような固有振動は、振動板621とキャビティー631とが接する第1接点DLと、第2接点DRとの間の振動領域Dで生じる。   As a factor of the displacement that occurs in the diaphragm 621, for example, natural vibration that occurs in the diaphragm 621 can be cited. FIG. 17 is a plan view when the diaphragm 621 is viewed from the direction Z. FIG. As shown in FIG. 17, the cavity 631 in the present embodiment has a long shape along the direction Y, and the vibration plate 621 may generate a natural vibration along the direction Y. Such natural vibration occurs in a vibration region D between the first contact DL where the diaphragm 621 and the cavity 631 are in contact with the second contact DR.

図18は、振動板621に一次の固有振動が生じた場合を例示した図である。図18に示すように、振動板621に一次の固有振動が生じた場合、当該固有振動に起因する振動板621の変位ΔDは、振動領域Dの中央部で最大となる。具体的には、振動領域Dにおいて、第1接点DLから第2接点DRまでの距離をdとした場合、第1接点DLからの距離がd/2であって第2接点DRからの距離がd/2となる点で振動板621の変位ΔDが最大となる。   FIG. 18 is a diagram illustrating a case where primary natural vibration is generated in the diaphragm 621. As shown in FIG. 18, when primary natural vibration occurs in the vibration plate 621, the displacement ΔD of the vibration plate 621 caused by the natural vibration becomes maximum at the central portion of the vibration region D. Specifically, in the vibration region D, when the distance from the first contact DL to the second contact DR is d, the distance from the first contact DL is d / 2 and the distance from the second contact DR is The displacement ΔD of the diaphragm 621 is maximized at a point where d / 2.

また、図19は、振動板621に三次の固有振動が生じた場合を例示した図である。図19に示すように、振動板621に三次の固有振動が生じた場合、当該固有振動に起因する振動板621の変位ΔDは、第1接点DLからの距離がd/2であって第2接点DRからd/2となる点と、第1接点DLからの距離がd/6となる点と、第2接点DRからの距離がd/6となる点で最大となる。   FIG. 19 is a diagram illustrating a case where tertiary natural vibration is generated in the diaphragm 621. As shown in FIG. 19, when tertiary natural vibration is generated in the diaphragm 621, the displacement ΔD of the diaphragm 621 caused by the natural vibration is a distance d / 2 from the first contact DL and is second. It becomes the maximum at a point where the contact DR is d / 2, a point where the distance from the first contact DL is d / 6, and a distance where the distance from the second contact DR is d / 6.

以上のように、方向Yにおいて、振動板621の変位ΔDが最大となる点における振動板621とキャビティー631との接点αには、よりも大きな応力F2が加わるおそれがある。   As described above, in the direction Y, a larger stress F2 may be applied to the contact α between the diaphragm 621 and the cavity 631 at the point where the displacement ΔD of the diaphragm 621 becomes maximum.

さらに、スリープモード等の長時間継続する動作モードにおいては、応力F2が振動板621の接点αに長時間継続して加わるおそれがあり、その結果、振動板621にクラックが生じるおそれがある。また、振動板621に想定よりも大きな変位が生じた状態で、印刷モードに遷移した場合、インクの吐出時における圧電素子60の変位に伴い振動板621に必要以上の負荷が加わるおそれがあり、その結果、振動板621にクラックが生じるおそれがある。   Further, in an operation mode that continues for a long time such as a sleep mode, the stress F2 may be continuously applied to the contact α of the diaphragm 621 for a long time, and as a result, the diaphragm 621 may crack. In addition, when the vibration plate 621 is shifted to the printing mode in a state where a larger displacement than expected is generated, there is a possibility that an unnecessary load is applied to the vibration plate 621 due to the displacement of the piezoelectric element 60 during ink ejection. As a result, the diaphragm 621 may be cracked.

仮に振動板621にクラックが生じた場合、当該クラックからキャビティー631に充填されたインクが漏れ出す。そのため、キャビティー631の内部容積の変化に対して吐出されるインク量にばらつきが生じるおそれがある。その結果、インクの吐出精度が悪化する。   If a crack occurs in the vibration plate 621, ink filled in the cavity 631 leaks from the crack. For this reason, there is a possibility that variations in the amount of ink ejected with respect to changes in the internal volume of the cavity 631 occur. As a result, the ink ejection accuracy deteriorates.

また、当該クラックから漏れ出したインクが、電極611,612の双方に付着した場合、電極611と電極612との間に、当該インクを介した電流経路が形成される。これにより、電極612に供給される基準電圧信号VBSの電圧値が変動するおそれがある。第1実施形態に示す液体吐出装置1では、基準電圧信号VBSが複数の電極612に共通に供給されている。そのため、基準電圧信号VBSの電圧値が変動した場合、複数の圧電素子60の変位に影響を及ぼす。その結果、液体吐出装置1全体の吐出精度に影響を及ぼすおそれもある。   Further, when the ink leaking from the crack adheres to both the electrodes 611 and 612, a current path through the ink is formed between the electrode 611 and the electrode 612. As a result, the voltage value of the reference voltage signal VBS supplied to the electrode 612 may vary. In the liquid ejection device 1 shown in the first embodiment, the reference voltage signal VBS is supplied to the plurality of electrodes 612 in common. Therefore, when the voltage value of the reference voltage signal VBS varies, the displacement of the plurality of piezoelectric elements 60 is affected. As a result, the discharge accuracy of the entire liquid discharge apparatus 1 may be affected.

そこで、第1実施形態では、圧電素子60の電極611,612に意図しない電位差が生じることで、圧電素子60及び振動板621に意図しない変位が長時間継続して生じることを低減するために、電極611,612の電荷を放出するための3つの放電手段を備える。   Therefore, in the first embodiment, an unintended potential difference is generated in the electrodes 611 and 612 of the piezoelectric element 60, so that unintended displacements in the piezoelectric element 60 and the diaphragm 621 are continuously generated for a long time. Three discharge means for discharging the charges of the electrodes 611 and 612 are provided.

図20は、圧電素子60の電荷を放出するための放電手段を説明するための図である。   FIG. 20 is a view for explaining a discharging means for discharging the electric charge of the piezoelectric element 60.

なお、図20には、トランスファーゲート234に形成される寄生ダイオード241,242,243,244を破線で示している。   In FIG. 20, the parasitic diodes 241, 242, 243, and 244 formed on the transfer gate 234 are indicated by broken lines.

第1の放電手段は、図20に示す第1放電経路Aを介して電荷を放出する。具体的には、第1の放電手段では、トランスファーゲート234に形成される複数の寄生ダイオードを介して端子TG−Outと電極611との間に蓄えられた電荷、及び端子Com−Outと端子TG−Inとの間に蓄えられた電荷を放出する。   The first discharge means discharges electric charge through the first discharge path A shown in FIG. Specifically, in the first discharging means, the electric charge stored between the terminal TG-Out and the electrode 611 through the plurality of parasitic diodes formed in the transfer gate 234, and the terminal Com-Out and the terminal TG -Releases the charge stored between In.

ここで、トランスファーゲート234に形成される寄生ダイオード241,242,243,244の詳細について、図21を用いて具体的に説明する。   Here, the details of the parasitic diodes 241, 242, 243, and 244 formed in the transfer gate 234 will be specifically described with reference to FIG.

図21は、トランスファーゲート234を構成するトランジスター235,236を模式的に示す断面図である。   FIG. 21 is a cross-sectional view schematically showing the transistors 235 and 236 constituting the transfer gate 234.

図21に示すように、トランジスター235は、ポリシリコン252、N型拡散層253,254及び複数の電極を含む。   As shown in FIG. 21, the transistor 235 includes polysilicon 252, N-type diffusion layers 253 and 254, and a plurality of electrodes.

N型拡散層253,254は、P基板251上に互いに離間して形成されている。また、ポリシリコン252は、不図示の絶縁層を介してN型拡散層253とN型拡散層254との間に形成されている。   N-type diffusion layers 253 and 254 are formed on P substrate 251 so as to be separated from each other. The polysilicon 252 is formed between the N-type diffusion layer 253 and the N-type diffusion layer 254 via an insulating layer (not shown).

ポリシリコン252には電極255が形成されている。また、N型拡散層253には電極256が形成されている。また、N型拡散層254には電極257が形成されている。   An electrode 255 is formed on the polysilicon 252. An electrode 256 is formed on the N-type diffusion layer 253. An electrode 257 is formed on the N-type diffusion layer 254.

そして、電極255がゲート端子として機能し、電極256,257のいずれか一方がドレイン端子、他方がソース端子として機能する。なお、第1実施形態では、電極256をドレイン端子、電極257をソース端子として説明する。   The electrode 255 functions as a gate terminal, one of the electrodes 256 and 257 functions as a drain terminal, and the other functions as a source terminal. In the first embodiment, the electrode 256 is described as a drain terminal, and the electrode 257 is described as a source terminal.

以上のように構成されたトランジスター235には、P基板251とN型拡散層253との接触面及びP基板251とN型拡散層254との接触面のそれぞれにPN接合が形成される。したがって、トランジスター235には、P基板251をアノード、N型拡散層253をカソードとする寄生ダイオード243と、P基板251をアノード、N型拡散層254をカソードとする寄生ダイオード244とが形成される。   In the transistor 235 configured as described above, a PN junction is formed on each of the contact surface between the P substrate 251 and the N type diffusion layer 253 and the contact surface between the P substrate 251 and the N type diffusion layer 254. Therefore, the transistor 235 is formed with a parasitic diode 243 having the P substrate 251 as an anode and the N-type diffusion layer 253 as a cathode, and a parasitic diode 244 having the P substrate 251 as an anode and the N-type diffusion layer 254 as a cathode. .

また、P基板251には、電極258が形成されている。トランジスター235は、P基板251に形成されるので、電極258は、トランジスター235のバックゲート端子として機能する。なお、電極258にはグラウンド電位が供給される。   An electrode 258 is formed on the P substrate 251. Since the transistor 235 is formed on the P substrate 251, the electrode 258 functions as a back gate terminal of the transistor 235. Note that a ground potential is supplied to the electrode 258.

トランジスター236は、Nウェル261、ポリシリコン262、P型拡散層263,264及び複数の電極を含む。   The transistor 236 includes an N-well 261, polysilicon 262, P-type diffusion layers 263 and 264, and a plurality of electrodes.

P型拡散層263,264は、P基板251に形成されたNウェル261上に互いに離間して形成されている。また、ポリシリコン262は、不図示の絶縁層を介してP型拡散層263とP型拡散層264との間に形成されている。   The P-type diffusion layers 263 and 264 are formed on the N well 261 formed on the P substrate 251 so as to be separated from each other. The polysilicon 262 is formed between the P-type diffusion layer 263 and the P-type diffusion layer 264 with an insulating layer (not shown) interposed therebetween.

ポリシリコン262には電極265が形成されている。また、P型拡散層263には電極266が形成されている。また、P型拡散層264には電極267が形成されている。   An electrode 265 is formed on the polysilicon 262. An electrode 266 is formed on the P-type diffusion layer 263. An electrode 267 is formed on the P-type diffusion layer 264.

そして、電極265がゲート端子として機能し、電極266,267のいずれか一方がドレイン端子、他方がソース端子として機能する。なお、第1実施形態では、電極266をドレイン端子、電極267をソース端子として説明する。   The electrode 265 functions as a gate terminal, one of the electrodes 266 and 267 functions as a drain terminal, and the other functions as a source terminal. In the first embodiment, the electrode 266 is described as a drain terminal, and the electrode 267 is described as a source terminal.

以上のように構成されたトランジスター236には、Nウェル261とP型拡散層263との接触面及びNウェル261とP型拡散層264との接触面のそれぞれにPN接合が形成される。したがって、トランジスター236には、P型拡散層263をアノード、Nウェル261をカソードとする寄生ダイオード242と、P型拡散層264をアノード、Nウェル261をカソードとする寄生ダイオード241とが形成される。   In the transistor 236 configured as described above, a PN junction is formed on each of the contact surface between the N well 261 and the P type diffusion layer 263 and the contact surface between the N well 261 and the P type diffusion layer 264. Therefore, the transistor 236 is formed with a parasitic diode 242 having the P-type diffusion layer 263 as an anode and the N-well 261 as a cathode, and a parasitic diode 241 having the P-type diffusion layer 264 as an anode and the N-well 261 as a cathode. .

また、Nウェル261には、電極268が形成されている。トランジスター236は、Nウェル261に形成されるので、電極268は、トランジスター236のバックゲート端子として機能する。なお、電極268には電圧VHV−TGが供給される。   An electrode 268 is formed in the N well 261. Since the transistor 236 is formed in the N well 261, the electrode 268 functions as a back gate terminal of the transistor 236. Note that the voltage VHV-TG is supplied to the electrode 268.

図20に戻り、以上に説明した寄生ダイオード241,242,243,244を含む第1放電経路Aを介する第1の放電手段について説明する。   Returning to FIG. 20, the first discharging means through the first discharging path A including the parasitic diodes 241, 242, 243, and 244 described above will be described.

第1の放電手段では、まず、Hレベルの放電制御信号DIS1が給電制御信号生成回路430に供給される。   In the first discharging means, first, the H level discharge control signal DIS 1 is supplied to the power supply control signal generation circuit 430.

給電制御信号生成回路430に供給された放電制御信号DIS1は、インバーター431を介してトランジスター432に供給される。これにより、トランジスター432はオフに制御される。   The discharge control signal DIS1 supplied to the power supply control signal generation circuit 430 is supplied to the transistor 432 via the inverter 431. Thereby, the transistor 432 is controlled to be turned off.

前述のとおり、トランジスター432がオフに制御された場合、給電切替回路70のト
ランジスター473はオンに制御される。トランジスター473がオンに制御されると、電圧VHV−TGは抵抗475を介して供給されるグラウンド電位となる。これにより、トランスファーゲート234を構成するトランジスター236の電極268がグラウンド電位となる。したがって、端子COM−Outと端子TG−Inとが接続されるノードaの電位は、寄生ダイオード241を介してグラウンド電位となる。同様に、端子TG−Outと電極611が接続されるノードbの電位は、寄生ダイオード242を介してグラウンド電位となる。
As described above, when the transistor 432 is controlled to be turned off, the transistor 473 of the power supply switching circuit 70 is controlled to be turned on. When the transistor 473 is controlled to be on, the voltage VHV-TG becomes a ground potential supplied through the resistor 475. As a result, the electrode 268 of the transistor 236 constituting the transfer gate 234 becomes the ground potential. Therefore, the potential of the node a to which the terminal COM-Out and the terminal TG-In are connected becomes the ground potential via the parasitic diode 241. Similarly, the potential of the node b where the terminal TG-Out and the electrode 611 are connected becomes the ground potential via the parasitic diode 242.

換言すれば、ノードaに蓄えられた電荷は、寄生ダイオード241、抵抗475及びトランジスター473を介して放出され、同様に、ノードbに蓄えられた電荷は、寄生ダイオード242、抵抗475及びトランジスター473を介して放出される。   In other words, the electric charge stored in the node a is discharged through the parasitic diode 241, the resistor 475, and the transistor 473. Similarly, the electric charge stored in the node b passes through the parasitic diode 242, the resistor 475, and the transistor 473. Is released through.

以上のように第1の放電手段では、放電制御信号DIS1に基づき、給電切替回路70が電圧VHV−TGの電位をグラウンド電位とする。これにより、ノードa及びノードbに蓄えられた電荷は、寄生ダイオード241,242を介して放出される。したがって、電極611に意図しない電荷が蓄積されることが低減される。   As described above, in the first discharging means, the power supply switching circuit 70 sets the potential of the voltage VHV-TG to the ground potential based on the discharge control signal DIS1. Thereby, the electric charge stored in the node a and the node b is discharged through the parasitic diodes 241 and 242. Therefore, accumulation of unintended charges on the electrode 611 is reduced.

また、第1の放電手段により放出されるノードa及びノードbの電荷は、トランスファーゲート234の端子TG−In,TG−Outの電荷である。したがって、第1の放電手段による電荷の放出は、トランスファーゲート234がオンに制御されているのか、オフに制御されているかに関わらず可能となる。このため、電極611に意図しない電荷が蓄えられる可能性をさらに低減することができる。   Further, the charges at the node a and the node b released by the first discharge means are the charges at the terminals TG-In and TG-Out of the transfer gate 234. Therefore, the discharge of electric charge by the first discharge means is possible regardless of whether the transfer gate 234 is controlled to be on or off. For this reason, the possibility that unintended charges are stored in the electrode 611 can be further reduced.

なお、給電切替回路70の構成は、上述した構成に限られるものではなく、トランジスター236の電極268の電位をグラウンド電位に切り替えることが可能な構成であればよい。   Note that the configuration of the power supply switching circuit 70 is not limited to the above-described configuration, and may be any configuration that can switch the potential of the electrode 268 of the transistor 236 to the ground potential.

次に第2の放電手段について説明する。第2の放電手段では、LC放電回路530を含む第2放電経路Bを介してノードaに蓄えられた電荷を放出する。   Next, the second discharging means will be described. In the second discharge means, the electric charge stored in the node a is discharged through the second discharge path B including the LC discharge circuit 530.

第2の放電手段によって電荷を放出する場合、まず、Hレベルの放電制御信号DIS2がLC放電回路530のトランジスター532に供給される。これにより、トランジスター532はオンに制御される。よって、ノードaの電位は、抵抗571,531及びトランジスター532を介して供給されるグラウンド電位となる。換言すれば、ノードaに蓄えられた電荷は、抵抗571,531及びトランジスター532を介して放出される。   When discharging electric charges by the second discharge means, first, the H level discharge control signal DIS2 is supplied to the transistor 532 of the LC discharge circuit 530. Thereby, the transistor 532 is controlled to be turned on. Therefore, the potential of the node a becomes a ground potential supplied through the resistors 571 and 531 and the transistor 532. In other words, the electric charge stored in the node a is discharged through the resistors 571 and 531 and the transistor 532.

駆動信号生成回路50の動作が停止している場合、ノードaには、抵抗572,571を介して電圧VHVが供給される場合がある。第2の放電手段では、ノードaの電荷の放出が可能となるため、ノードaに電圧VHVに起因する電荷が蓄積されることを低減することができる。   When the operation of the drive signal generation circuit 50 is stopped, the voltage VHV may be supplied to the node a via the resistors 572 and 571. In the second discharge means, the charge of the node a can be released, so that the charge caused by the voltage VHV can be reduced in the node a.

以上のように第2の放電手段では、ノードaの電荷を放出することが可能なため、ノードaの電位を下げることができる。したがって、トランスファーゲート234の端子TG−Inから端子TG−Outに生じるリーク電流が低減される。すなわち、リーク電流に起因してノードbの電圧が上昇することを低減することができる。よって、電極611に意図しない電荷が蓄えられる可能性をさらに低減することができる。   As described above, since the second discharging means can discharge the charge of the node a, the potential of the node a can be lowered. Therefore, leakage current generated from the terminal TG-In of the transfer gate 234 to the terminal TG-Out is reduced. That is, an increase in the voltage at the node b due to the leakage current can be reduced. Therefore, the possibility that unintended charges are stored in the electrode 611 can be further reduced.

なお、LC放電回路530は、ノードaの電荷を放出することが可能な構成であればよく、例えば、トランジスター551のソース端子及びトランジスター552のドレイン端子が共通に接続される接続点に設けられてもよい。   Note that the LC discharge circuit 530 may have any structure that can discharge the charge of the node a. For example, the LC discharge circuit 530 is provided at a connection point where the source terminal of the transistor 551 and the drain terminal of the transistor 552 are connected in common. Also good.

次に、第3の放電手段について説明する。第3の放電手段では、基準電圧信号生成回路450のトランジスター453を含む第3放電経路Cを介して、電極612と端子Vbs−Outとが接続されるノードcに蓄えられる電荷を放出する。   Next, the third discharging means will be described. In the third discharge means, the charge stored in the node c to which the electrode 612 and the terminal Vbs-Out are connected is discharged through the third discharge path C including the transistor 453 of the reference voltage signal generation circuit 450.

第3の放電手段によって電荷を放出する場合、まず、Hレベルの放電制御信号DIS3が基準電圧信号生成回路450のトランジスター453に供給される。これによりトランジスター453はオンに制御される。よって、ノードcの電位は、抵抗456及びトランジスター453を介して供給されるグラウンド電位となる。換言すれば、ノードcに蓄えられた電荷は、抵抗456及びトランジスター453を介して放出される。   When discharging the charge by the third discharging means, first, the H level discharge control signal DIS3 is supplied to the transistor 453 of the reference voltage signal generation circuit 450. Thus, the transistor 453 is controlled to be on. Therefore, the potential of the node c becomes a ground potential supplied through the resistor 456 and the transistor 453. In other words, the electric charge stored in the node c is discharged through the resistor 456 and the transistor 453.

前述のとおり、圧電素子60は電極611の電圧と電極612の電圧との電位差により変位する。第3の放電手段により、ノードcに蓄えられる電荷を放出することで、電極612に意図しない電圧が供給されることを低減することができる。したがって、圧電素子60に意図しない変位が生じることをさらに低減することが可能となる。   As described above, the piezoelectric element 60 is displaced by the potential difference between the voltage of the electrode 611 and the voltage of the electrode 612. By discharging the charge stored in the node c by the third discharging means, it is possible to reduce the supply of an unintended voltage to the electrode 612. Therefore, it is possible to further reduce the occurrence of unintended displacement in the piezoelectric element 60.

第1実施形態では、上述した第1の放電手段、第2の放電手段及び第3の放電手段による電荷の放出は、移行モードで実行される。そこで、図22を用いて、第1実施形態における第1の放電手段、第2の放電手段及び第3の放電手段による電荷の放出方法について説明する。   In the first embodiment, the discharge of electric charges by the first discharge means, the second discharge means, and the third discharge means described above is executed in the transition mode. Therefore, a method for discharging charges by the first discharge means, the second discharge means, and the third discharge means in the first embodiment will be described with reference to FIG.

図22は、移行モードの動作を説明するためのフローチャート図である。   FIG. 22 is a flowchart for explaining the operation in the transition mode.

まず、制御回路100は、動作モードが移行モードに遷移する前に、駆動信号COMの電圧値が基準電圧信号VBSの電圧値に近づくように制御する(S171)。具体的には、制御回路100は、駆動信号生成回路50に対して駆動信号COMの電圧値が基準電圧信号VBSの電圧値となる駆動データ信号DRVを供給する。そして、駆動信号生成回路50は、供給された駆動データ信号DRVに基づいて駆動信号COMの電圧値を基準電圧信号VBSの電圧値に近づくように制御する。   First, the control circuit 100 performs control so that the voltage value of the drive signal COM approaches the voltage value of the reference voltage signal VBS before the operation mode transitions to the transition mode (S171). Specifically, the control circuit 100 supplies the drive data generation circuit 50 with the drive data signal DRV in which the voltage value of the drive signal COM is the voltage value of the reference voltage signal VBS. Then, the drive signal generation circuit 50 controls the voltage value of the drive signal COM so as to approach the voltage value of the reference voltage signal VBS based on the supplied drive data signal DRV.

移行モードでは、動作モードがスリープモードに遷移する過程において駆動信号COM及び基準電圧信号VBSの双方の電圧値が変動する場合がある。そのため、移行モードに遷移する前に、駆動信号COMの電圧値を基準電圧信号VBSの電圧値に近づくように制御することで、移行モードにおいて圧電素子60に意図しない電位差が生じる可能性を低減することができる。   In the transition mode, the voltage values of both the drive signal COM and the reference voltage signal VBS may fluctuate in the process in which the operation mode transitions to the sleep mode. Therefore, by controlling the voltage value of the drive signal COM to approach the voltage value of the reference voltage signal VBS before shifting to the transition mode, the possibility that an unintended potential difference occurs in the piezoelectric element 60 in the transition mode is reduced. be able to.

なお、駆動信号COMの電圧値を基準電圧信号VBSの電圧値に近づくように制御されるとは、好ましくは、駆動信号COMの電圧値と基準電圧信号VBSの電圧値とが同じであることを意味するが、広義には、駆動信号COMと基準電圧信号VBSとの電位差によって圧電素子60に意図しない変位が生じない程度に電圧値が近づくように制御されればよい。具体的には、駆動信号COMと基準電圧信号VBSとの電位差が2V以下となるように制御されることが好ましい。   Note that the control so that the voltage value of the drive signal COM approaches the voltage value of the reference voltage signal VBS preferably means that the voltage value of the drive signal COM and the voltage value of the reference voltage signal VBS are the same. In a broad sense, the voltage value may be controlled so as to approach the piezoelectric element 60 so as not to cause an unintended displacement due to the potential difference between the drive signal COM and the reference voltage signal VBS. Specifically, it is preferable to control the potential difference between the drive signal COM and the reference voltage signal VBS to be 2V or less.

そして、駆動信号COMの電圧値と基準電圧信号VBSの電圧値とが十分に近づいた場合、制御回路100は、動作モードを移行モードに制御する(S172)。   When the voltage value of the drive signal COM and the voltage value of the reference voltage signal VBS are sufficiently close, the control circuit 100 controls the operation mode to the transition mode (S172).

動作モードが移行モードに遷移した後、制御回路100は、トランスファーゲート234をオフするように制御する(S173)。これにより、電極611に供給される電圧は、移行モードに遷移する直前の電圧、すなわち、基準電圧信号VBSの電圧に十分に近づいた電圧で保持される。   After the operation mode transitions to the transition mode, the control circuit 100 controls to turn off the transfer gate 234 (S173). As a result, the voltage supplied to the electrode 611 is held at the voltage immediately before the transition to the transition mode, that is, the voltage sufficiently close to the voltage of the reference voltage signal VBS.

トランスファーゲート234がオフに制御された後、所定の時間経過した場合、制御回路100は、第2の放電手段による電荷の放出を制御する(S174)。具体的には、制御回路100は、Hレベルの放電制御信号DIS2を生成するための駆動データ信号DRVを駆動信号生成回路50に供給する。   When a predetermined time has elapsed after the transfer gate 234 is controlled to be turned off, the control circuit 100 controls the discharge of electric charges by the second discharge means (S174). Specifically, the control circuit 100 supplies the drive signal generation circuit 50 with the drive data signal DRV for generating the H level discharge control signal DIS2.

トランスファーゲート234がオフに制御された後、第2の放電手段によってノードaに蓄えられた電荷が放出されることで、ノードaの電圧が低下する。したがって、トランスファーゲート234に生じるリーク電流が低減され、当該リーク電流に起因する電極611の電圧上昇が低減される。なお、第2の放電手段による電荷の放出は、印刷モード又は待機モードに遷移するまで継続して実施されてもよい。   After the transfer gate 234 is controlled to be turned off, the charge stored in the node a is released by the second discharging means, so that the voltage of the node a is lowered. Therefore, leakage current generated in the transfer gate 234 is reduced, and voltage increase of the electrode 611 due to the leakage current is reduced. Note that the discharge of electric charge by the second discharging means may be continuously performed until the mode is changed to the printing mode or the standby mode.

第2の放電手段による電荷の放出が開始した後、所定の時間経過した場合、制御回路100は、第3の放電手段による電荷の放出を制御する(S175)。具体的には、制御回路100は、Hレベルの放電制御信号DIS3を生成するための駆動データ信号DRVを駆動信号生成回路50に供給する。第1の放電手段によりノードbに蓄えられた電荷を放出する前に、第3の放電手段によりノードcに蓄えられた電荷を放出することで、電極612に供給される電圧が、電極611に供給される電圧に対して大きくなることが低減される。すなわち、印刷動作時に圧電素子60に生じる変位とは逆向きの変位が圧電素子60に生じることを低減することが可能となる。これにより、圧電素子60及び振動板621に生じるストレスを低減することが可能となる。   When a predetermined time has elapsed after the start of the discharge of the charge by the second discharge means, the control circuit 100 controls the discharge of the charge by the third discharge means (S175). Specifically, the control circuit 100 supplies the drive signal generation circuit 50 with a drive data signal DRV for generating the H level discharge control signal DIS3. Before the charge stored in the node b is released by the first discharge means, the voltage supplied to the electrode 612 is discharged to the electrode 611 by releasing the charge stored in the node c by the third discharge means. The increase with respect to the supplied voltage is reduced. That is, it is possible to reduce the occurrence of displacement in the piezoelectric element 60 that is opposite to the displacement that occurs in the piezoelectric element 60 during the printing operation. As a result, the stress generated in the piezoelectric element 60 and the diaphragm 621 can be reduced.

なお、第2の放電手段による電荷の放出と第3の放電手段による電荷の放出とは、例えば、制御回路100により同時に実行されてもよく、また、第3の放電手段による電荷の放出が先に実行された後、第2の放電手段による電荷の放出が実行されてもよい。また、第3の放電手段による電荷の放出は、印刷モード又は待機モードに遷移するまで継続して実施されてもよい。   Note that the discharge of electric charge by the second discharge unit and the discharge of electric charge by the third discharge unit may be performed simultaneously by the control circuit 100, for example, and the discharge of the electric charge by the third discharge unit is first performed. After being executed, the discharge of electric charge by the second discharging means may be executed. Further, the discharge of electric charges by the third discharging means may be continuously performed until the mode is changed to the printing mode or the standby mode.

そして、第2の放電手段及び第3の放電手段による電荷の放出が開始した後、所定の時間経過した場合、制御回路100は、第1の放電手段による電荷の放出を制御する(S176)。具体的には、制御回路100は、Hレベルの放電制御信号DIS1を生成するための駆動データ信号DRVを駆動信号生成回路50に供給する。これにより、電極611に蓄えられる電荷が放出される。よって、圧電素子60に意図しない電圧が生じる可能性が低減され、圧電素子60及び振動板621に意図しない変位が生じることが低減される。なお、第1の放電手段による電荷の放出は、印刷モード又は待機モードに遷移するまで継続して実施されてもよい。   Then, when a predetermined time has elapsed after the start of the discharge of charges by the second discharge means and the third discharge means, the control circuit 100 controls the discharge of charges by the first discharge means (S176). Specifically, the control circuit 100 supplies a drive data signal DRV for generating the H level discharge control signal DIS1 to the drive signal generation circuit 50. Thereby, the electric charge stored in the electrode 611 is released. Therefore, the possibility that an unintended voltage is generated in the piezoelectric element 60 is reduced, and the occurrence of an unintended displacement in the piezoelectric element 60 and the diaphragm 621 is reduced. Note that the discharge of electric charge by the first discharging means may be continuously performed until the mode is changed to the printing mode or the standby mode.

上述した第1の放電手段、第2の放電手段及び第3の放電手段による電荷の放出が開始した後、所定の時間が経過した場合、制御回路100は、図3に示すように動作モードをスリープモードに遷移させる。なお、第1の放電手段、第2の放電手段及び第3の放電手段による電荷の放出は、スリープモードにおいて継続して実施されてもよい。   When a predetermined time has elapsed after the discharge of electric charges by the first discharge means, the second discharge means, and the third discharge means described above has started, the control circuit 100 switches the operation mode as shown in FIG. Transition to sleep mode. Note that the discharge of electric charges by the first discharge unit, the second discharge unit, and the third discharge unit may be continuously performed in the sleep mode.

1.7 駆動信号の異常検出
圧電素子60に意図しない電荷が蓄積されることで生じる電位差により、圧電素子60に意図しない変位が長時間継続して生じる要因としては、上述したようにスリープモードにおいて圧電素子60に意図しない電荷が蓄積されることが挙げられる。その他の要因として、印刷モードにおいて駆動信号COMが正常に出力されず、一定の電圧値を継続して出力する要因が挙げられる。
1.7 Anomaly Detection of Drive Signal As described above, in the sleep mode, as described above, the unintended displacement of the piezoelectric element 60 due to the potential difference caused by the accumulation of unintended charges in the piezoelectric element 60 may occur. For example, unintended charges are accumulated in the piezoelectric element 60. Another factor is that the drive signal COM is not normally output in the print mode, and a constant voltage value is continuously output.

そこで、液体吐出装置1は、駆動信号COMの出力が所定の範囲内であるか否かを検出し、駆動信号COMが一定の電圧を出力しているか否かを検出する検出回路320を備え
る。また、液体吐出装置1は、検出回路320の検出結果に基づいて駆動信号COMが正常であるか否か、具体的には、駆動信号COMが一定の電圧を所定の期間継続して出力しているかの判定を行う判定回路350を備える。
Therefore, the liquid ejection apparatus 1 includes a detection circuit 320 that detects whether or not the output of the drive signal COM is within a predetermined range and detects whether or not the drive signal COM is outputting a constant voltage. Further, the liquid ejecting apparatus 1 continuously outputs a constant voltage based on the detection result of the detection circuit 320 as to whether or not the drive signal COM is normal. A determination circuit 350 for determining whether or not

駆動信号COMが一定の電圧を継続して出力する要因としては、駆動信号生成回路50に供給される元駆動信号dAが更新されていないこと、及び元駆動信号dAを更新するためのクロック信号が供給されていないことが挙げられる。そこで、第1実施形態における液体吐出装置1では、検出回路320が、元駆動信号dAが更新されているか否か及び元駆動信号dAを更新するためのクロック信号が供給されているか否か検出し、判定回路350が、検出回路320の検出結果に基づいて、駆動信号COMが一定の電圧を継続して出力しているか否かの判定を行う。   The factors that cause the drive signal COM to continuously output a constant voltage are that the original drive signal dA supplied to the drive signal generation circuit 50 has not been updated and that the clock signal for updating the original drive signal dA is It is mentioned that it is not supplied. Therefore, in the liquid ejection apparatus 1 according to the first embodiment, the detection circuit 320 detects whether or not the original drive signal dA is updated and whether or not a clock signal for updating the original drive signal dA is supplied. The determination circuit 350 determines whether or not the drive signal COM continuously outputs a constant voltage based on the detection result of the detection circuit 320.

第1実施形態における検出回路320及び判定回路350の構成及び動作の詳細について図23から図29を用いて説明する。図23は、DAC回路310、検出回路320及び判定回路350の電気構成を示すブロック図である。   Details of configurations and operations of the detection circuit 320 and the determination circuit 350 in the first embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 23 is a block diagram showing an electrical configuration of the DAC circuit 310, the detection circuit 320, and the determination circuit 350.

DAC回路310は、DACインターフェース(I/F:Interface)311、比較器312、ラッチ回路313及びDAC314を含む。   The DAC circuit 310 includes a DAC interface (I / F) 311, a comparator 312, a latch circuit 313, and a DAC 314.

DACインターフェース311には、クロック信号φ1及び元駆動信号dAが供給される。そして、DACインターフェース311は、クロック信号φ1に従い元駆動信号dAを取り込み、元駆動信号dAに基づく信号S1を比較器312に出力する。   The DAC interface 311 is supplied with the clock signal φ1 and the original drive signal dA. Then, the DAC interface 311 takes in the original drive signal dA according to the clock signal φ1 and outputs a signal S1 based on the original drive signal dA to the comparator 312.

比較器312は、信号S1を今回供給されたデータ信号として、また、後述するラッチ回路313から供給される信号S2を前回供給されたデータ信号として比較する。具体的には、比較器312は、信号S1と信号S2との比較結果が所定の範囲内の場合、信号S1をラッチ回路313に出力する。一方、比較器312は、信号S1と信号S2との比較結果が所定の範囲外の場合、所定のデータ信号をラッチ回路313に出力する。   The comparator 312 compares the signal S1 as a data signal supplied this time, and a signal S2 supplied from a latch circuit 313 described later as a data signal supplied last time. Specifically, the comparator 312 outputs the signal S1 to the latch circuit 313 when the comparison result between the signal S1 and the signal S2 is within a predetermined range. On the other hand, the comparator 312 outputs a predetermined data signal to the latch circuit 313 when the comparison result between the signal S1 and the signal S2 is outside the predetermined range.

ラッチ回路313は、クロック信号φ2の立ち下りで比較器312から入力されるデータ信号をラッチする。ラッチ回路313は、ラッチしたデータ信号を信号S2としてDAC314、比較器312及び検出回路320に出力する。   The latch circuit 313 latches the data signal input from the comparator 312 at the falling edge of the clock signal φ2. The latch circuit 313 outputs the latched data signal as a signal S2 to the DAC 314, the comparator 312 and the detection circuit 320.

DAC314は、信号S2をデジタル−アナログ変換しアナログの元駆動信号aAとして図4に示す駆動回路51に出力する。   The DAC 314 converts the signal S2 from digital to analog and outputs the signal S2 to the drive circuit 51 shown in FIG. 4 as an analog original drive signal aA.

検出回路320は、更新検出回路321、クロック検出回路322、NAND回路323及び発振回路330を含む。   The detection circuit 320 includes an update detection circuit 321, a clock detection circuit 322, a NAND circuit 323, and an oscillation circuit 330.

更新検出回路321は、ラッチ回路324,326及び比較器325を含む。   The update detection circuit 321 includes latch circuits 324 and 326 and a comparator 325.

ラッチ回路324は、クロック信号φ2の立ち上がりで信号S2をラッチし信号S3として比較器325に出力する。   The latch circuit 324 latches the signal S2 at the rising edge of the clock signal φ2 and outputs the signal S2 to the comparator 325 as the signal S3.

比較器325には、信号S2及び信号S3が入力される。そして、比較器325は、信号S2と信号S3とを比較する。具体的には、比較器325は、信号S2と信号S3とが同じ場合に信号S4としてLレベルの信号を出力し、異なる場合に信号S4としてHレベルの信号を出力する。   The comparator 325 receives the signal S2 and the signal S3. Then, the comparator 325 compares the signal S2 and the signal S3. Specifically, the comparator 325 outputs an L level signal as the signal S4 when the signals S2 and S3 are the same, and outputs an H level signal as the signal S4 when they are different.

ラッチ回路326は、クロック信号φ2の立ち上がりで信号S4をラッチする。そして
、ラッチ回路326はラッチした信号S4を更新検出回路321の出力信号である信号S5としてNAND回路323に出力する。
The latch circuit 326 latches the signal S4 at the rising edge of the clock signal φ2. Then, the latch circuit 326 outputs the latched signal S4 to the NAND circuit 323 as a signal S5 that is an output signal of the update detection circuit 321.

なお、比較器325は、入力されるデータ信号のすべてのデータビットを比較し、入力されるデータ信号が同じであるか異なるかの比較をしてもよく、また、例えば特定のデータビットのみを比較し、入力されるデータ信号が同じであるか異なるかの比較をしてもよい。具体的には、入力されるデータ信号の上位数ビット、又は下位数ビットのデータビットのみを比較してもよい。   Note that the comparator 325 may compare all the data bits of the input data signal and compare whether the input data signal is the same or different. For example, only the specific data bit may be compared. The comparison may be made to compare whether the input data signals are the same or different. Specifically, only the upper few bits or the lower few bits of the input data signal may be compared.

クロック検出回路322は、分周回路327、ラッチ回路328及び微分回路329を含む。   The clock detection circuit 322 includes a frequency dividing circuit 327, a latch circuit 328, and a differentiating circuit 329.

分周回路327は、クロック信号φ2を分周した信号S6を出力する。   The frequency dividing circuit 327 outputs a signal S6 obtained by dividing the clock signal φ2.

ラッチ回路328は、発振回路330から供給されるクロック信号CLKの立ち上がりで信号S6をラッチし信号S7として出力する。   The latch circuit 328 latches the signal S6 at the rising edge of the clock signal CLK supplied from the oscillation circuit 330 and outputs it as the signal S7.

微分回路329には、分周回路327から出力された信号S6及びラッチ回路328から出力された信号S7が入力される。微分回路329は、入力されるデータ信号の排他的論理和を演算し出力する。すなわち、微分回路329は、信号S6の論理レベルと信号S7の論理レベルとが異なる場合に信号S8としてHレベルの信号を出力し、同じ場合に信号S8としてLレベルの信号を出力する。そして、微分回路329は、信号S8をクロック検出回路322の出力信号としてNAND回路323に出力する。   The differentiation circuit 329 receives the signal S6 output from the frequency dividing circuit 327 and the signal S7 output from the latch circuit 328. The differentiating circuit 329 calculates and outputs an exclusive OR of the input data signal. That is, the differentiating circuit 329 outputs an H level signal as the signal S8 when the logic level of the signal S6 and the logic level of the signal S7 are different, and outputs an L level signal as the signal S8 in the same case. Then, the differentiation circuit 329 outputs the signal S8 as an output signal of the clock detection circuit 322 to the NAND circuit 323.

NAND回路323は、更新検出回路321から出力される信号S5及びクロック検出回路322から出力される信号S8の論理レベルが共にHレベルの場合、Lレベルのリセット信号RSTを出力する。また、NAND回路323は、信号S5及び信号S8の少なくともいずれか一方の論理レベルがLレベルの場合、Hレベルのリセット信号RSTを出力する。このリセット信号RSTが、検出回路320の出力信号として判定回路350に供給される。   The NAND circuit 323 outputs an L level reset signal RST when both the logic level of the signal S5 output from the update detection circuit 321 and the signal S8 output from the clock detection circuit 322 are H level. The NAND circuit 323 outputs an H level reset signal RST when the logic level of at least one of the signal S5 and the signal S8 is L level. This reset signal RST is supplied to the determination circuit 350 as an output signal of the detection circuit 320.

判定回路350は、カウンター351及びデコーダー352を含む。   The determination circuit 350 includes a counter 351 and a decoder 352.

カウンター351は、Hレベルのリセット信号RSTが入力されている場合、クロック信号CLKの立ち下がりでカウント値をインクリメントして当該カウント値をデコーダー352に出力する。また、カウンター351は、Lレベルのリセット信号RSTが入力された場合、カウント値を0にリセットして当該カウント値をデコーダー352に出力する。   When the H level reset signal RST is input, the counter 351 increments the count value at the falling edge of the clock signal CLK and outputs the count value to the decoder 352. In addition, when the L level reset signal RST is input, the counter 351 resets the count value to 0 and outputs the count value to the decoder 352.

デコーダー352は、カウンター351から入力されるカウント値が所定の値を超えた場合、すなわち、判定回路350に所定の期間継続してHレベルの信号が入力された場合、駆動信号COMが一定の電圧を継続して出力していると判定してエラー信号ERRを出力する。   When the count value input from the counter 351 exceeds a predetermined value, that is, when an H level signal is continuously input to the determination circuit 350 for a predetermined period, the decoder 352 generates a constant voltage. Is output, and an error signal ERR is output.

ここで、図24から図27を用いて検出回路320における元駆動信号dAが更新されているか否かの検出方法及びクロック信号φ2が供給されているか否かの検出方法について具体的に説明する。   Here, a method for detecting whether or not the original drive signal dA in the detection circuit 320 is updated and a method for detecting whether or not the clock signal φ2 is supplied will be specifically described with reference to FIGS.

図24は、元駆動信号dAが更新されている場合における検出回路320の動作を説明するためのタイミングチャート図である。   FIG. 24 is a timing chart for explaining the operation of the detection circuit 320 when the original drive signal dA is updated.

DACインターフェース311は、供給される元駆動信号dAをクロック信号φ1に基づき取り込むことで信号S1を生成する。そして、信号S1を比較器312に供給する。具体的には、DACインターフェース311は、元駆動信号dAとして供給された、5ビットのデータ信号Da[9−5]と5ビットのデータ信号Da[4−0]とをクロック信号φ1に基づき順次取り込み、結合することで信号S1を生成する。   The DAC interface 311 generates the signal S1 by taking in the supplied original drive signal dA based on the clock signal φ1. Then, the signal S1 is supplied to the comparator 312. Specifically, the DAC interface 311 sequentially receives the 5-bit data signal Da [9-5] and the 5-bit data signal Da [4-0] supplied as the original drive signal dA based on the clock signal φ1. The signal S1 is generated by capturing and combining.

比較器312は、信号S1とラッチ回路313から入力される信号S2とを比較する。そして、比較器312は、当該比較結果に基づいてデータ信号Daを出力する。   The comparator 312 compares the signal S1 with the signal S2 input from the latch circuit 313. Then, the comparator 312 outputs the data signal Da based on the comparison result.

ラッチ回路313は、クロック信号φ2の立ち下りにおいて比較器312が出力するデータ信号Daを信号S2としてラッチする。   The latch circuit 313 latches the data signal Da output from the comparator 312 as the signal S2 at the falling edge of the clock signal φ2.

ラッチ回路324は、クロック信号φ2の立ち上がりにおいてラッチ回路313でラッチされたデータ信号Daを信号S3としてラッチする。   The latch circuit 324 latches the data signal Da latched by the latch circuit 313 at the rising edge of the clock signal φ2 as the signal S3.

比較器325には、信号S2及び信号S3が入力され、入力される信号が同じである場合にLレベルの信号を出力し、異なる場合にHレベル信号を出力する。   The comparator 325 receives the signal S2 and the signal S3, outputs an L level signal when the input signals are the same, and outputs an H level signal when they are different.

具体的には、ラッチ回路324は、クロック信号φ2の立ち上がりにおいてデータ信号Daを信号S3としてラッチする。このとき、ラッチ回路313は、信号S2としてデータ信号Daを保持する。したがって、比較器325には同じデータ信号Daが供給される。その結果、比較器325は信号S4としてLレベルの信号を出力する。   Specifically, the latch circuit 324 latches the data signal Da as the signal S3 at the rising edge of the clock signal φ2. At this time, the latch circuit 313 holds the data signal Da as the signal S2. Therefore, the same data signal Da is supplied to the comparator 325. As a result, the comparator 325 outputs an L level signal as the signal S4.

ラッチ回路313は、次のクロック信号φ2の立ち下がりにおいてデータ信号Dbを信号S2としてラッチする。このとき、ラッチ回路324は、信号S3としてデータ信号Daを保持する。したがって、比較器325には、異なるデータ信号であるデータ信号Daとデータ信号Dbとが入力される。その結果、比較器325はHレベルの信号を出力する。   Latch circuit 313 latches data signal Db as signal S2 at the fall of the next clock signal φ2. At this time, the latch circuit 324 holds the data signal Da as the signal S3. Therefore, the comparator 325 receives the data signal Da and the data signal Db that are different data signals. As a result, the comparator 325 outputs an H level signal.

ラッチ回路326は、クロック信号φ2の立ち上がりであって、且つラッチ回路324が信号S2をラッチする前に信号S4をラッチする。したがって、ラッチ回路326は信号S5としてHレベルの信号をラッチし更新検出回路321の出力信号としてNAND回路323に出力する。   The latch circuit 326 latches the signal S4 at the rising edge of the clock signal φ2 and before the latch circuit 324 latches the signal S2. Therefore, the latch circuit 326 latches an H level signal as the signal S5 and outputs it to the NAND circuit 323 as an output signal of the update detection circuit 321.

次に、図25を用いて元駆動信号dAが更新されていない場合における検出回路320の動作について説明する。図25は、元駆動信号dAが更新されていない場合における検出回路320の動作を説明するためのタイミングチャート図である。   Next, the operation of the detection circuit 320 when the original drive signal dA is not updated will be described with reference to FIG. FIG. 25 is a timing chart for explaining the operation of the detection circuit 320 when the original drive signal dA is not updated.

DACインターフェース311は、元駆動信号dAが更新されている場合と同様に、供給される元駆動信号dAをクロック信号φ1に基づき順次取り込み、結合することで信号S1を生成する。   As in the case where the original drive signal dA is updated, the DAC interface 311 sequentially takes and supplies the supplied original drive signal dA based on the clock signal φ1 to generate the signal S1.

比較器312は、信号S1とラッチ回路313から入力される信号S2とを比較する。そして、比較器312は、当該比較結果に基づいてデータ信号Daを出力する。   The comparator 312 compares the signal S1 with the signal S2 input from the latch circuit 313. Then, the comparator 312 outputs the data signal Da based on the comparison result.

ラッチ回路313は、クロック信号φ2の立ち下りにおいて比較器312が出力するデータ信号Daを信号S2としてラッチする。   The latch circuit 313 latches the data signal Da output from the comparator 312 as the signal S2 at the falling edge of the clock signal φ2.

ラッチ回路324は、クロック信号φ2の立ち上がりにおいてデータ信号Daを信号S
3としてラッチする。このとき、ラッチ回路313は、信号S2としてデータ信号Daを保持する。したがって、比較器325には同じデータ信号Daが供給される。その結果、比較器325は信号S4としてLレベルの信号を出力する。
The latch circuit 324 outputs the data signal Da to the signal S at the rising edge of the clock signal φ2.
Latch as 3. At this time, the latch circuit 313 holds the data signal Da as the signal S2. Therefore, the same data signal Da is supplied to the comparator 325. As a result, the comparator 325 outputs an L level signal as the signal S4.

元駆動信号dAが更新されない場合、ラッチ回路313は、次のクロック信号φ2の立ち下がりにおいてデータ信号Daを信号S2として再度ラッチする。このとき、ラッチ回路324は、信号S3としてデータ信号Daを保持する。したがって、比較器325には、同じデータ信号Daが入力される。その結果、比較器325はLレベルの信号を出力する。   When the original drive signal dA is not updated, the latch circuit 313 latches the data signal Da again as the signal S2 at the next falling edge of the clock signal φ2. At this time, the latch circuit 324 holds the data signal Da as the signal S3. Therefore, the same data signal Da is input to the comparator 325. As a result, the comparator 325 outputs an L level signal.

ラッチ回路326は、クロック信号φ2の立ち上がりであって、且つラッチ回路324が信号S2をラッチする前に信号S4をラッチする。したがって、ラッチ回路326は信号S5としてLレベルの信号をラッチし更新検出回路321の出力信号として、NAND回路323に供給する。   The latch circuit 326 latches the signal S4 at the rising edge of the clock signal φ2 and before the latch circuit 324 latches the signal S2. Therefore, the latch circuit 326 latches an L level signal as the signal S5 and supplies it to the NAND circuit 323 as an output signal of the update detection circuit 321.

以上のように、更新検出回路321は、元駆動信号dAが更新された場合に信号S5としてHレベルの信号をNAND回路323に出力し、元駆動信号dAが更新されていない場合に信号S5としてLレベルの信号をNAND回路323に出力する。   As described above, the update detection circuit 321 outputs an H level signal as the signal S5 to the NAND circuit 323 when the original drive signal dA is updated, and as the signal S5 when the original drive signal dA is not updated. An L level signal is output to the NAND circuit 323.

次に、図26、図27を用いてクロック信号φ2が供給されているか否かの検出方法の詳細について説明する。図26は、クロック信号φ2が供給されている場合における検出回路320の動作を説明するためのタイミングチャート図である。   Next, details of a method for detecting whether or not the clock signal φ2 is supplied will be described with reference to FIGS. FIG. 26 is a timing chart for explaining the operation of the detection circuit 320 when the clock signal φ2 is supplied.

分周回路327は、クロック信号φ2を分周した信号S6を出力する。   The frequency dividing circuit 327 outputs a signal S6 obtained by dividing the clock signal φ2.

ラッチ回路328は、クロック信号CLKの立ち上がりで信号S6を信号S7としてラッチする。   The latch circuit 328 latches the signal S6 as the signal S7 at the rising edge of the clock signal CLK.

第1実施形態では、クロック信号CLKは、クロック信号φ2との周期が異なる。すなわち、クロック信号φ2が正常に入力されている場合、信号S6と信号S7との論理レベルが異なるタイミングが発生する。   In the first embodiment, the clock signal CLK has a different period from the clock signal φ2. That is, when the clock signal φ2 is normally input, a timing at which the logic levels of the signal S6 and the signal S7 are different occurs.

したがって、クロック信号CLKの立ち上がりでラッチ回路328が信号S6をラッチした後、次にクロック信号CLKが立ち上がるまでの期間において、信号S6の論理レベルがクロック信号φ2に基づき変化した場合、微分回路329に入力される信号S6と信号S7との論理レベルが異なる。   Therefore, when the logic level of the signal S6 changes based on the clock signal φ2 in the period after the latch circuit 328 latches the signal S6 at the rise of the clock signal CLK and until the next rise of the clock signal CLK, the differential circuit 329 The input signal S6 and the signal S7 have different logic levels.

微分回路329は、信号S6と信号S7との論理レベルが同じ場合、Lレベルの信号S8をクロック検出回路322の出力信号としてNAND回路323に出力する。また、微分回路329は、信号S6と信号S7との論理レベルが異なる場合、Hレベルの信号S8をクロック検出回路322の出力信号としてNAND回路323に出力する。すなわち、クロック信号φ2が供給されている場合、クロック検出回路322は、信号S8としてHレベルの信号とLレベルの信号とを交互に出力する。   Differentiating circuit 329 outputs L level signal S8 to NAND circuit 323 as an output signal of clock detection circuit 322 when signal S6 and signal S7 have the same logic level. Further, the differentiating circuit 329 outputs an H level signal S8 to the NAND circuit 323 as an output signal of the clock detection circuit 322 when the signal S6 and the signal S7 have different logic levels. That is, when the clock signal φ2 is supplied, the clock detection circuit 322 outputs an H level signal and an L level signal alternately as the signal S8.

次に、図27を用いてクロック信号φ2が供給されていない場合における検出回路320の動作について説明する。図27は、クロック信号φ2が供給されていない場合における検出回路320の動作を説明するためのタイミグチャート図である。   Next, the operation of the detection circuit 320 when the clock signal φ2 is not supplied will be described with reference to FIG. FIG. 27 is a timing chart for explaining the operation of the detection circuit 320 when the clock signal φ2 is not supplied.

分周回路327は、クロック信号φ2が供給されていない場合、Hレベル又はLレベルの信号S6を継続して出力する。なお、図27の説明では、信号S6としてHレベル信号
を出力しているとして説明を行うが、Lレベル信号であってもよい。
When the clock signal φ2 is not supplied, the frequency dividing circuit 327 continuously outputs the H level or L level signal S6. In the description of FIG. 27, it is assumed that an H level signal is output as the signal S6, but an L level signal may be used.

ラッチ回路328は、クロック信号CLKの立ち上がりで信号S6を信号S7としてラッチする。   The latch circuit 328 latches the signal S6 as the signal S7 at the rising edge of the clock signal CLK.

微分回路329には、Hレベルの信号S6とHレベルの信号S7とが入力される。したがって、Lレベルの信号S8をクロック検出回路322の出力信号として、NAND回路323に供給する。   The differentiation circuit 329 receives an H level signal S6 and an H level signal S7. Therefore, the L level signal S8 is supplied to the NAND circuit 323 as an output signal of the clock detection circuit 322.

以上のように、クロック検出回路322は、クロック信号φ2が供給されている場合、信号S8としてHレベルとLレベルとが交互に生じる出力信号をNAND回路323に出力する。また、クロック検出回路322は、クロック信号φ2が供給されていない場合、信号S8としてLレベルの出力信号を継続してNAND回路323に出力する。   As described above, when the clock signal φ2 is supplied, the clock detection circuit 322 outputs an output signal in which H level and L level are alternately generated to the NAND circuit 323 as the signal S8. Further, when the clock signal φ2 is not supplied, the clock detection circuit 322 continues to output the L level output signal to the NAND circuit 323 as the signal S8.

NAND回路323には、更新検出回路321が出力する信号S5及びクロック検出回路322の出力する信号S8が入力される。そして、NAND回路323は更新検出回路321の出力及びクロック検出回路322の出力の双方がHレベルの信号である場合、Lレベルのリセット信号RSTを出力する。   The NAND circuit 323 receives the signal S5 output from the update detection circuit 321 and the signal S8 output from the clock detection circuit 322. The NAND circuit 323 outputs an L level reset signal RST when both the output of the update detection circuit 321 and the output of the clock detection circuit 322 are H level signals.

前述のとおり、更新検出回路321は、元駆動信号dAが更新された場合に信号S5としてHレベルの出力信号をNAND回路323に出力し、元駆動信号dAが更新されていない場合に信号S5としてLレベルの出力信号をNAND回路323に出力する。また、クロック検出回路322は、クロック信号φ2が供給されている場合、信号S8としてHレベルの出力信号とLレベルの出力信号とを交互にNAND回路323に出力し、クロック信号φ2が供給されていない場合、信号S8としてLレベルの出力信号を継続してNAND回路323に出力する。   As described above, the update detection circuit 321 outputs an H level output signal to the NAND circuit 323 as the signal S5 when the original drive signal dA is updated, and as the signal S5 when the original drive signal dA is not updated. The L level output signal is output to the NAND circuit 323. Further, when the clock signal φ2 is supplied, the clock detection circuit 322 alternately outputs the H level output signal and the L level output signal to the NAND circuit 323 as the signal S8, and the clock signal φ2 is supplied. If not, the L level output signal is continuously output to the NAND circuit 323 as the signal S8.

したがって、NAND回路323は、元駆動信号dAが更新された場合、且つクロック信号φ2が供給されている場合であってHレベルの信号を出力した場合に、Lレベルのリセット信号RSTを出力し、その他の状態では、Hレベルのリセット信号RSTを出力する。   Therefore, when the original drive signal dA is updated and the clock signal φ2 is supplied and the NAND circuit 323 outputs the H level signal, the NAND circuit 323 outputs the L level reset signal RST, In other states, an H level reset signal RST is output.

次に図28及び図29を用いて判定回路350の動作について説明する。図28は、更新検出回路321における元駆動信号dAの検出動作に対応付けた判定回路350の動作を示すタイミングチャート図である。   Next, the operation of the determination circuit 350 will be described with reference to FIGS. FIG. 28 is a timing chart showing the operation of the determination circuit 350 associated with the detection operation of the original drive signal dA in the update detection circuit 321.

前述のとおり、更新検出回路321は、元駆動信号dAが更新されている場合、信号S5としてHレベルの信号を出力する。   As described above, the update detection circuit 321 outputs an H level signal as the signal S5 when the original drive signal dA is updated.

NAND回路323は、入力される信号S5がHレベルの場合、且つ信号S8がHレベルの場合にLレベルの信号を出力する。このとき、カウンター351が出力するカウント値は、0にリセットされる。   The NAND circuit 323 outputs an L level signal when the input signal S5 is at an H level and the signal S8 is at an H level. At this time, the count value output from the counter 351 is reset to zero.

また、更新検出回路321は、元駆動信号dAが更新されていない場合、信号S5としてLレベルの信号を出力する。   The update detection circuit 321 outputs an L level signal as the signal S5 when the original drive signal dA is not updated.

NAND回路323は、入力される信号S5がLレベルの場合、信号S8の論理レベルに関わらずHレベルの信号を出力する。このとき、カウンター351が出力するカウント値は、クロック信号CLKの立ち下がりでインクリメントされる。   When the input signal S5 is at L level, the NAND circuit 323 outputs a signal at H level regardless of the logic level of the signal S8. At this time, the count value output from the counter 351 is incremented at the falling edge of the clock signal CLK.

カウンター351が出力するカウント値は、デコーダー352に出力される。そして、デコーダー352は、当該カウント値が所定の値を超えた場合、エラー信号ERRを出力する。   The count value output from the counter 351 is output to the decoder 352. When the count value exceeds a predetermined value, the decoder 352 outputs an error signal ERR.

次に、クロック検出回路322におけるクロック信号φ2の検出動作に対応する判定回路350の動作について図29を用いて説明する。図29は、クロック検出回路322におけるクロック信号φ2の検出動作に対応付けた判定回路350の動作を示すタイミングチャート図である。   Next, the operation of the determination circuit 350 corresponding to the detection operation of the clock signal φ2 in the clock detection circuit 322 will be described with reference to FIG. FIG. 29 is a timing chart showing the operation of determination circuit 350 associated with the detection operation of clock signal φ2 in clock detection circuit 322.

前述のとおり、クロック検出回路322は、クロック信号φ2が供給されている場合、上述したタイミングにおいて論理レベルがHレベル又はLレベルの信号S8を交互に出力する。そして、NAND回路323は、信号S8の論理レベルがHレベルの場合、且つ信号S5がHレベルの信号を出力している場合にLレベルの信号を出力する。これにより、カウンター351が出力するカウント値は0にリセットされる。   As described above, when the clock signal φ2 is supplied, the clock detection circuit 322 alternately outputs the signal S8 having a logic level of H level or L level at the timing described above. The NAND circuit 323 outputs an L level signal when the logic level of the signal S8 is an H level and when the signal S5 outputs an H level signal. As a result, the count value output from the counter 351 is reset to zero.

また、クロック検出回路322は、クロック信号φ2が供給されていない場合、信号S8としてLレベルの信号を連続して出力する。   Further, when the clock signal φ2 is not supplied, the clock detection circuit 322 continuously outputs an L level signal as the signal S8.

NAND回路323は、信号S8の論理レベルがLレベルの場合、信号S5の論理レベルに関わらずHレベルの信号を出力する。このとき、カウンター351が出力するカウント値は、クロック信号CLKの立ち下がりにおいて、インクリメントされる。   When the logic level of the signal S8 is L level, the NAND circuit 323 outputs an H level signal regardless of the logic level of the signal S5. At this time, the count value output from the counter 351 is incremented at the falling edge of the clock signal CLK.

カウンター351が出力するカウント値は、デコーダー352に入力される。デコーダー352は、当該カウント値が所定の値を超えた場合、エラー信号ERRを出力する。   The count value output from the counter 351 is input to the decoder 352. The decoder 352 outputs an error signal ERR when the count value exceeds a predetermined value.

以上のように、判定回路350は、元駆動信号dAの更新及びクロック信号φ2の供給の少なくともいずれか一方が行われない場合、エラー信号ERRを出力する。これにより、判定回路350は、印刷モードにおいて駆動信号COMが一定の電圧信号を継続して出力しているか否かの判定を行う。これにより、印刷モードにおいて駆動信号COMが一定の電圧信号を継続して出力されることを検出・判定することが可能となり、よって、当該検出・判定結果に基づいて低減することができる。したがって、圧電素子60に意図しない直流電圧が継続して供給されることで、圧電素子60及び振動板621に意図しない変位が継続して加わることを低減することが可能となる。   As described above, the determination circuit 350 outputs the error signal ERR when at least one of the update of the original drive signal dA and the supply of the clock signal φ2 is not performed. Thereby, the determination circuit 350 determines whether or not the drive signal COM continuously outputs a constant voltage signal in the print mode. Accordingly, it is possible to detect / determine that the drive signal COM is continuously output as a constant voltage signal in the print mode, and therefore, it can be reduced based on the detection / determination result. Therefore, by continuously supplying an unintended DC voltage to the piezoelectric element 60, it is possible to reduce the unintentional displacement continuously applied to the piezoelectric element 60 and the diaphragm 621.

また、図2に示すようにエラー信号ERRは、制御回路100に供給される。制御回路100は、エラー信号ERRに基づいて、例えば、動作モードを移行モードに遷移する。このとき、図22に示すように、駆動信号COMの電圧値は、基準電圧信号VBSの電圧値に近づくように制御される。そして、圧電素子60の電極611及び電極612の少なくともいずれか一方の電荷を放出させる。これにより、圧電素子60に意図しない電圧が継続して供給されること、また、圧電素子60及び振動板621に意図しない変位が継続して加わることをさらに低減できる。   Further, as shown in FIG. 2, the error signal ERR is supplied to the control circuit 100. For example, the control circuit 100 changes the operation mode to the transition mode based on the error signal ERR. At this time, as shown in FIG. 22, the voltage value of the drive signal COM is controlled so as to approach the voltage value of the reference voltage signal VBS. Then, the charge of at least one of the electrode 611 and the electrode 612 of the piezoelectric element 60 is released. Thereby, it is possible to further reduce the continuous supply of unintended voltage to the piezoelectric element 60 and the continuous application of unintended displacement to the piezoelectric element 60 and the diaphragm 621.

ここで、駆動信号COMの電圧波形Adp,Bdp,Cdpには、図7に示すように一定の電圧値が生成される期間がある。したがって、カウント値が0にリセットされてから、所定のカウント値に到達しデコーダー352がエラー信号ERRを出力するまでの時間は、駆動信号COMの電圧波形Adp,Bdp,Cdpが一定の電圧を出力する時間に対して十分長くなる。   Here, the voltage waveforms Adp, Bdp, Cdp of the drive signal COM have a period during which a constant voltage value is generated as shown in FIG. Therefore, the voltage waveform Adp, Bdp, Cdp of the drive signal COM outputs a constant voltage during the time from when the count value is reset to 0 until the decoder 352 outputs the error signal ERR after reaching the predetermined count value. Long enough for the time to do.

1.8 作用効果
以上に説明したように、第1実施形態の液体吐出装置1では、検出回路320が、供給
された元駆動信号dAと、前回の元駆動信号dAとの比較を行い元駆動信号dAが更新されているか否かを検出するとともに、クロック信号φ2が供給されているか否かの検出も行う。これにより、検出回路320は、駆動信号COMが一定の電圧を出力しているか否かを検出することが可能となる。
1.8 Effects As described above, in the liquid ejection apparatus 1 according to the first embodiment, the detection circuit 320 compares the supplied original drive signal dA with the previous original drive signal dA to perform the original drive. It is detected whether or not the signal dA is updated, and whether or not the clock signal φ2 is supplied is also detected. Thereby, the detection circuit 320 can detect whether or not the drive signal COM is outputting a constant voltage.

そして、判定回路350は、検出回路320の検出結果に基づいて、駆動信号COMが一定の電圧を出力する期間をクロック信号CLKに基づいて計測する。よって、駆動信号COMが長時間継続して一定の電圧を出力することを低減することが可能となる。   Based on the detection result of the detection circuit 320, the determination circuit 350 measures the period during which the drive signal COM outputs a constant voltage based on the clock signal CLK. Therefore, it is possible to reduce the drive signal COM from outputting a constant voltage for a long time.

したがって、圧電素子60に意図しない直流電圧として、一定の電圧の駆動信号COMが長時間継続して加わることが低減される。よって、圧電素子60及び振動板621に意図しない変位が生じることが低減される。   Accordingly, it is possible to reduce the continuous application of the drive signal COM having a constant voltage as the unintended DC voltage to the piezoelectric element 60 for a long time. Therefore, the occurrence of unintended displacement in the piezoelectric element 60 and the diaphragm 621 is reduced.

また、第1実施形態では、検出回路320はデジタルの元駆動信号dAに基づいて、駆動信号COMの電圧が一定の電圧を出力しているか否かを検出している。これにより、駆動信号生成回路50で生じるノイズ等の影響が低減され、当該検出の精度を高めることが可能となる。   In the first embodiment, the detection circuit 320 detects whether or not the voltage of the drive signal COM is outputting a constant voltage based on the digital original drive signal dA. As a result, the influence of noise or the like generated in the drive signal generation circuit 50 is reduced, and the detection accuracy can be increased.

また、第1実施形態の液体吐出装置1では、圧電素子60に供給される駆動信号COMが長時間継続して一定の電圧を出力した場合、電極611に供給される駆動信号COMの電圧値は、電極612に供給される基準電圧信号VBSの電圧値に近づくように制御される。したがって、圧電素子60の電極611,612間に意図しない電位差が生じることがさらに低減され、圧電素子60及び振動板621に意図しない変位が生じる可能性がさらに低減される。   In the liquid ejection device 1 of the first embodiment, when the drive signal COM supplied to the piezoelectric element 60 outputs a constant voltage for a long time, the voltage value of the drive signal COM supplied to the electrode 611 is The reference voltage signal VBS supplied to the electrode 612 is controlled to approach the voltage value. Therefore, the occurrence of an unintended potential difference between the electrodes 611 and 612 of the piezoelectric element 60 is further reduced, and the possibility of an unintended displacement occurring in the piezoelectric element 60 and the diaphragm 621 is further reduced.

さらに、第1実施形態の液体吐出装置1では、圧電素子60に供給される駆動信号COMが長時間継続して一定の電圧を出力する場合、エラー信号ERRに基づいて移行モードに遷移する。よって、電極611及び電極612の電荷が放出される。したがって、圧電素子60の電極611,612間に意図しない電位差が生じることが低減され、圧電素子60及び振動板621に意図しない変位が生じる可能性をさらに低減することが可能となる。   Furthermore, in the liquid ejection device 1 of the first embodiment, when the drive signal COM supplied to the piezoelectric element 60 continues to output a constant voltage for a long time, the liquid ejection device 1 transits to the transition mode based on the error signal ERR. Accordingly, electric charges of the electrode 611 and the electrode 612 are released. Therefore, the occurrence of an unintended potential difference between the electrodes 611 and 612 of the piezoelectric element 60 is reduced, and the possibility of an unintended displacement occurring in the piezoelectric element 60 and the diaphragm 621 can be further reduced.

また、第1実施形態では、駆動信号COMを生成する駆動回路51と、駆動信号COMが一定の電圧を出力しているか否かを検出する検出回路320と、検出回路320の検出結果に基づいて駆動信号COMが一定の電圧を継続して出力しているか否かを判定する判定回路とが、駆動信号生成回路50に設けられている。そのため、駆動信号COMの生成、検出及び判定を制御ユニットに依らず検出することが可能となる。したがって、生成、検出及び判定に遅延が生じる可能性を低減することが可能となる。   In the first embodiment, the drive circuit 51 that generates the drive signal COM, the detection circuit 320 that detects whether the drive signal COM outputs a constant voltage, and the detection result of the detection circuit 320 are used. A determination circuit that determines whether or not the drive signal COM continuously outputs a constant voltage is provided in the drive signal generation circuit 50. Therefore, generation, detection and determination of the drive signal COM can be detected without depending on the control unit. Therefore, it is possible to reduce the possibility of delays in generation, detection, and determination.

2 第2実施形態
次に、図30から図32を用いて、第2実施形態における液体吐出装置1について説明する。
2 Second Embodiment Next, a liquid ejection apparatus 1 according to a second embodiment will be described with reference to FIGS. 30 to 32.

第2実施形態の液体吐出装置1は、検出回路320の構成が第1実施形態の液体吐出装置1と異なる。以下の説明では、第1実施形態と重複する説明は省略又は簡略し、主として第1実施形態と異なる内容について説明する。   The liquid ejection apparatus 1 according to the second embodiment is different from the liquid ejection apparatus 1 according to the first embodiment in the configuration of the detection circuit 320. In the following description, descriptions overlapping with the first embodiment are omitted or simplified, and contents different from the first embodiment will be mainly described.

図30は、第2実施形態におけるDAC回路310、検出回路320及び判定回路350の電気構成を示すブロック図である。   FIG. 30 is a block diagram showing an electrical configuration of the DAC circuit 310, the detection circuit 320, and the determination circuit 350 in the second embodiment.

DAC回路310は、第1実施形態と同様に、DACインターフェース(I/F:Interface)311,比較器312、ラッチ回路313及びDAC314を含む。そしてDAC回路310は、供給される元駆動信号dAに基づきアナログの元駆動信号aAを生成するとともに、ラッチ回路313でラッチされた信号S2を検出回路320に出力する。   As in the first embodiment, the DAC circuit 310 includes a DAC interface (I / F) 311, a comparator 312, a latch circuit 313, and a DAC 314. The DAC circuit 310 generates an analog original drive signal aA based on the supplied original drive signal dA, and outputs the signal S2 latched by the latch circuit 313 to the detection circuit 320.

検出回路320は、DATA更新検出回路331、インバーター335及び発振回路330を含む。   The detection circuit 320 includes a DATA update detection circuit 331, an inverter 335, and an oscillation circuit 330.

DATA更新検出回路331は、ラッチ回路332,334及び比較器333を含む。   The DATA update detection circuit 331 includes latch circuits 332 and 334 and a comparator 333.

ラッチ回路332は、発振回路330から出力されるクロック信号CLKの立ち下がりで、信号S2を信号S11としてラッチする。なお、第2実施形態では、クロック信号CLKは、クロック信号φ2と周期が異なる。   The latch circuit 332 latches the signal S2 as the signal S11 at the falling edge of the clock signal CLK output from the oscillation circuit 330. In the second embodiment, the clock signal CLK has a different period from the clock signal φ2.

比較器333には、信号S2及び信号S11が入力される。そして、比較器333は、信号S2と信号S11とが同じであるか否かの比較を行い、当該比較結果に基づいて信号S12を出力する。具体的には、比較器333は、信号S2と信号S11とが同じである場合に信号S12としてLレベルの信号を出力し、異なる場合に信号S12としてHレベルの信号を出力する。   The comparator S333 receives the signal S2 and the signal S11. Then, the comparator 333 compares whether or not the signal S2 and the signal S11 are the same, and outputs a signal S12 based on the comparison result. Specifically, the comparator 333 outputs an L level signal as the signal S12 when the signal S2 and the signal S11 are the same, and outputs an H level signal as the signal S12 when they are different.

ラッチ回路334は、クロック信号CLKの立ち上がりで信号S12をラッチする。そして、ラッチ回路334は信号S13をDATA更新検出回路331の出力信号としてインバーター335に出力する。   The latch circuit 334 latches the signal S12 at the rising edge of the clock signal CLK. Then, the latch circuit 334 outputs the signal S13 to the inverter 335 as an output signal of the DATA update detection circuit 331.

インバーター335は、信号S13の論理レベルを反転し、リセット信号RSTとして判定回路350に出力する。   Inverter 335 inverts the logic level of signal S13 and outputs the inverted signal to determination circuit 350 as reset signal RST.

判定回路350は、第1実施形態と同様に、カウンター351及びデコーダー352を含む。   The determination circuit 350 includes a counter 351 and a decoder 352 as in the first embodiment.

カウンター351は、リセット信号RSTがHレベルの場合、カウント値をインクリメントし、当該カウント値をデコーダー352に出力する。また、リセット信号RSTがLレベルの場合、カウント値を0にリセットしてデコーダー352に出力する。   When the reset signal RST is at the H level, the counter 351 increments the count value and outputs the count value to the decoder 352. When the reset signal RST is at L level, the count value is reset to 0 and output to the decoder 352.

デコーダー352は、カウンター351から入力されるカウント値が所定の値を超えた場合、エラー信号ERRを生成し、判定回路350から出力する。   When the count value input from the counter 351 exceeds a predetermined value, the decoder 352 generates an error signal ERR and outputs the error signal ERR.

ここで、図31及び図32を用いて、元駆動信号dAが更新されているか否かの検出方法の詳細について説明する。図31は、元駆動信号dAが更新されている場合における検出回路320の動作を説明するためのタイミングチャート図である。   Here, the details of a method for detecting whether or not the original drive signal dA has been updated will be described with reference to FIGS. 31 and 32. FIG. 31 is a timing chart for explaining the operation of the detection circuit 320 when the original drive signal dA is updated.

DAC回路310に含まれる各構成の動作は、第1実施形態と同様であり、その動作の説明を省略する。   The operation of each component included in the DAC circuit 310 is the same as that of the first embodiment, and the description of the operation is omitted.

ラッチ回路332は、発振回路330が生成するクロック信号CLKの立ち下がりでラッチ回路313が信号S2として保持するデータ信号Daをラッチし、信号S11として出力する。このとき、ラッチ回路313は、信号S2としてデータ信号Daを保持する。したがって、比較器333には同じデータ信号Daが供給される。その結果、比較器333は信号S12としてLレベルの信号を出力する。   The latch circuit 332 latches the data signal Da held as the signal S2 by the latch circuit 313 at the falling edge of the clock signal CLK generated by the oscillation circuit 330, and outputs it as the signal S11. At this time, the latch circuit 313 holds the data signal Da as the signal S2. Therefore, the same data signal Da is supplied to the comparator 333. As a result, the comparator 333 outputs an L level signal as the signal S12.

元駆動信号dAが更新されている場合、ラッチ回路313は、クロック信号φ2の立ち下がりにおいてデータ信号Dbを信号S2としてラッチする。このとき、ラッチ回路332は、信号S11としてデータ信号Daを保持する。したがって、比較器333には信号S2としてのデータ信号Dbと信号S11としてのデータ信号Daとが供給される。その結果、比較器333は信号S12としてHレベルの信号を出力する。   When the original drive signal dA is updated, the latch circuit 313 latches the data signal Db as the signal S2 at the falling edge of the clock signal φ2. At this time, the latch circuit 332 holds the data signal Da as the signal S11. Therefore, the comparator 333 is supplied with the data signal Db as the signal S2 and the data signal Da as the signal S11. As a result, the comparator 333 outputs an H level signal as the signal S12.

そして、ラッチ回路334は、クロック信号CLKの立ち下がりにおいて、且つラッチ回路332が信号S2をラッチする前に、信号S12をラッチする。この結果、ラッチ回路334は、信号S13としてのHレベルの信号をDATA更新検出回路331の出力信号としてインバーター335に出力する。   The latch circuit 334 latches the signal S12 at the falling edge of the clock signal CLK and before the latch circuit 332 latches the signal S2. As a result, the latch circuit 334 outputs an H level signal as the signal S13 to the inverter 335 as an output signal of the DATA update detection circuit 331.

インバーター335は、DATA更新検出回路331が出力するHレベルの信号の論理レベルを反転し、Lレベルのリセット信号RSTを判定回路350に出力する。   The inverter 335 inverts the logic level of the H level signal output from the DATA update detection circuit 331 and outputs an L level reset signal RST to the determination circuit 350.

次に、図32を用いて元駆動信号dAが更新されていない場合の検出方法の詳細について説明する。図32は、元駆動信号dAが更新されていない場合における検出回路320の動作を説明するためのタイミングチャート図である。   Next, the details of the detection method when the original drive signal dA is not updated will be described with reference to FIG. FIG. 32 is a timing chart for explaining the operation of the detection circuit 320 when the original drive signal dA is not updated.

DAC回路310に含まれる各構成の動作は、第1実施形態と同様であり、その動作の説明を省略する。   The operation of each component included in the DAC circuit 310 is the same as that of the first embodiment, and the description of the operation is omitted.

ラッチ回路332は、クロック信号CLKの立ち下がりでラッチ回路313が信号S2として保持するデータ信号Daをラッチし、信号S11として出力する。   The latch circuit 332 latches the data signal Da held as the signal S2 by the latch circuit 313 at the falling edge of the clock signal CLK, and outputs it as the signal S11.

このとき、ラッチ回路313は、信号S2としてデータ信号Daを保持する。したがって、比較器333には同じデータ信号Daが供給される。その結果、比較器333は信号S12としてLレベルの信号を出力する。   At this time, the latch circuit 313 holds the data signal Da as the signal S2. Therefore, the same data signal Da is supplied to the comparator 333. As a result, the comparator 333 outputs an L level signal as the signal S12.

元駆動信号dAが更新されていない場合、ラッチ回路313は、クロック信号φ2の立ち下がりにおいて同じ元駆動信号dAに基づくデータ信号Daをラッチする。このとき、ラッチ回路332は、信号S11としてデータ信号Daを保持する。したがって、比較器333には、同じデータ信号が継続し入力される。その結果、比較器333は、信号S12としてLレベルの信号を出力する。   When the original drive signal dA has not been updated, the latch circuit 313 latches the data signal Da based on the same original drive signal dA at the falling edge of the clock signal φ2. At this time, the latch circuit 332 holds the data signal Da as the signal S11. Therefore, the same data signal is continuously input to the comparator 333. As a result, the comparator 333 outputs an L level signal as the signal S12.

ラッチ回路334は、クロック信号CLKの立ち下がりにおいて、且つラッチ回路332が信号S2をラッチする前に、信号S12をラッチする。この結果、ラッチ回路334は、信号S13としてのLレベルの信号をDATA更新検出回路331の出力信号としてインバーター335に出力する。   The latch circuit 334 latches the signal S12 at the falling edge of the clock signal CLK and before the latch circuit 332 latches the signal S2. As a result, the latch circuit 334 outputs an L level signal as the signal S13 to the inverter 335 as an output signal of the DATA update detection circuit 331.

インバーター335は、DATA更新検出回路331が出力するLレベルの信号の論理レベルを反転し、Hレベルのリセット信号RSTを判定回路350に出力する。   Inverter 335 inverts the logic level of the L-level signal output from DATA update detection circuit 331 and outputs an H-level reset signal RST to determination circuit 350.

判定回路350は、Lレベルのリセット信号RSTが入力された場合、元駆動信号dAは更新されているとして、カウンター351がデコーダー352に出力するカウント値をリセットする。一方、判定回路350は、Hレベルのリセット信号RSTが入力された場合、カウンター351がデコーダー352に出力するカウント値を、クロック信号CLKの立ち下がりにおいて、インクリメントする。そして、判定回路350は、デコーダー352において当該カウント値が所定の値を超えたと判断された場合、エラー信号ERRを出力する。   When the L level reset signal RST is input, the determination circuit 350 resets the count value output from the counter 351 to the decoder 352, assuming that the original drive signal dA has been updated. On the other hand, when an H level reset signal RST is input, the determination circuit 350 increments the count value output from the counter 351 to the decoder 352 at the falling edge of the clock signal CLK. When the decoder 352 determines that the count value exceeds a predetermined value, the determination circuit 350 outputs an error signal ERR.

以上のように、第2実施形態における判定回路350は、元駆動信号dAの更新が行われない場合にエラー信号ERRを出力する。したがって、第1実施形態と同様に、印刷モードにおいて駆動信号COMが一定の電圧を継続して出力することを低減することができる。   As described above, the determination circuit 350 in the second embodiment outputs the error signal ERR when the original drive signal dA is not updated. Therefore, as in the first embodiment, it is possible to reduce the drive signal COM from continuously outputting a constant voltage in the print mode.

また、第2実施形態において、ラッチ回路313はクロック信号φ2の立ち下がりでラッチする。したがって、クロック信号φ2が供給されていない場合、信号S2は更新されない。   In the second embodiment, the latch circuit 313 latches at the falling edge of the clock signal φ2. Therefore, when the clock signal φ2 is not supplied, the signal S2 is not updated.

すなわち、第2実施形態における検出回路320では、比較器333に供給される信号S2と信号S11との比較に基づいて、クロック信号φ2が供給されているか否かの検出も行う。したがって、第1実施形態の検出回路320の構成に対して、より簡易な構成で元駆動信号dAの更新が行われているか否かの検出、及びクロック信号φ2が供給されているかの検出を行うことができる。したがって、第2実施形態における液体吐出装置1では、第1実施形態と同様の作用効果を、より小さな構成で実現することが可能となる。   That is, the detection circuit 320 in the second embodiment also detects whether or not the clock signal φ2 is supplied based on the comparison between the signal S2 supplied to the comparator 333 and the signal S11. Therefore, with respect to the configuration of the detection circuit 320 of the first embodiment, detection of whether or not the original drive signal dA is updated and detection of whether or not the clock signal φ2 is supplied are performed with a simpler configuration. be able to. Therefore, in the liquid ejection device 1 in the second embodiment, it is possible to achieve the same operational effects as in the first embodiment with a smaller configuration.

3 第3実施形態
次に、図33及び図34を用いて、第3実施形態の液体吐出装置1について説明する。
3 Third Embodiment Next, a liquid ejection apparatus 1 according to a third embodiment will be described with reference to FIGS. 33 and 34.

第3実施形態の液体吐出装置1は、検出回路320が、駆動信号生成回路50から出力される駆動信号COMに基づいて、当該駆動信号COMが一定であるかの検出を行う点で、第1実施形態及び第2実施形態と異なる。以下では、第1実施形態及び第2実施形態と重複する説明は省略又は簡略し、主として第1実施形態及び第2実施形態と異なる内容について説明する。   The liquid ejection apparatus 1 according to the third embodiment is the first in that the detection circuit 320 detects whether the drive signal COM is constant based on the drive signal COM output from the drive signal generation circuit 50. Different from the embodiment and the second embodiment. Below, the description which overlaps with 1st Embodiment and 2nd Embodiment is abbreviate | omitted or simplified, and the content different from 1st Embodiment and 2nd Embodiment is mainly demonstrated.

図33は、第3実施形態における駆動信号生成回路50の回路構成を示すブロック図である。図33に示すように第3実施形態における検出回路320は、端子Vfbを介して帰還される駆動信号COMに基づく信号を検出することで、駆動信号COMが一定であるか否かの検出を行う。   FIG. 33 is a block diagram showing a circuit configuration of the drive signal generation circuit 50 in the third embodiment. As shown in FIG. 33, the detection circuit 320 in the third embodiment detects whether or not the drive signal COM is constant by detecting a signal based on the drive signal COM fed back through the terminal Vfb. .

図34は、第3実施形態における検出回路320の電気構成を示す回路図である。   FIG. 34 is a circuit diagram showing an electrical configuration of the detection circuit 320 in the third embodiment.

第3実施形態における検出回路320は、微分回路360、ウィンドウコンパレーター回路370、保持回路380及びインバーター390を含む。   The detection circuit 320 in the third embodiment includes a differentiation circuit 360, a window comparator circuit 370, a holding circuit 380, and an inverter 390.

微分回路360は、コンパレーター361、コンデンサー362、抵抗363を含む。   The differentiation circuit 360 includes a comparator 361, a capacitor 362, and a resistor 363.

コンパレーター361の入力端(+)には、電圧Vref2が供給される。また、コンパレーター361の入力端(−)は、コンデンサー362の一端及び抵抗363の一端と接続される。また、コンパレーター361の出力端は、抵抗363の他端と接続される。   The voltage Vref <b> 2 is supplied to the input terminal (+) of the comparator 361. The input terminal (−) of the comparator 361 is connected to one end of the capacitor 362 and one end of the resistor 363. The output end of the comparator 361 is connected to the other end of the resistor 363.

また、コンデンサー362の他端には、図33に示す集積回路500の端子Vfbが接続される。そして、コンデンサー362の他端には、当該端子Vfbを介して駆動信号COMに基づく電圧Vcomが供給される。   Further, the other end of the capacitor 362 is connected to a terminal Vfb of the integrated circuit 500 shown in FIG. The voltage Vcom based on the drive signal COM is supplied to the other end of the capacitor 362 through the terminal Vfb.

以上のように構成された微分回路360は、電圧Vcomの電圧値が変動しない場合、コンパレーター361の出力端子には、電圧Vref2に基づく一定の電圧信号が出力される。一方、電圧Vcomの電圧値が変動した場合、コンパレーター361の出力端子には、当該変動に応じた略パルス形状の電圧信号が出力される。   The differentiation circuit 360 configured as described above outputs a constant voltage signal based on the voltage Vref2 to the output terminal of the comparator 361 when the voltage value of the voltage Vcom does not fluctuate. On the other hand, when the voltage value of the voltage Vcom fluctuates, a voltage signal having a substantially pulse shape corresponding to the fluctuation is output to the output terminal of the comparator 361.

ウィンドウコンパレーター回路370は、コンパレーター371,372、インバーター377及びオア回路378を含む。   The window comparator circuit 370 includes comparators 371 and 372, an inverter 377, and an OR circuit 378.

オア回路378は、2つの入力端に供給される信号のそれぞれを反転し、当該反転した信号の論理和を演算し出力する。   The OR circuit 378 inverts each of the signals supplied to the two input terminals, and calculates and outputs a logical sum of the inverted signals.

コンパレーター371の入力端(−)には微分回路360の出力信号が供給される。また、コンパレーター371の入力端(+)には電圧Vref3が供給される。また、コンパレーター371の出力端にはオア回路378の入力端の一方が接続される。   The output signal of the differentiation circuit 360 is supplied to the input terminal (−) of the comparator 371. The voltage Vref3 is supplied to the input terminal (+) of the comparator 371. One output terminal of the OR circuit 378 is connected to the output terminal of the comparator 371.

コンパレーター372の入力端(−)には微分回路360の出力信号が供給される。また、コンパレーター372の入力端(+)には電圧Vref3より小さな電圧Vref4が接続される。また、コンパレーター372の出力端にはインバーター377の入力端が接続される。そして、インバーター377の出力端は、オア回路378の入力端の他方と接続される。   The output signal of the differentiation circuit 360 is supplied to the input terminal (−) of the comparator 372. A voltage Vref4 smaller than the voltage Vref3 is connected to the input terminal (+) of the comparator 372. The input terminal of the inverter 377 is connected to the output terminal of the comparator 372. The output terminal of the inverter 377 is connected to the other input terminal of the OR circuit 378.

以上のように構成されたウィンドウコンパレーター回路370において、微分回路360から入力される電圧信号の電圧値が、電圧Vref3,Vref4のいずれよりも大きい場合、コンパレーター371及びコンパレーター372は共にLレベルの信号を出力する。   In the window comparator circuit 370 configured as described above, when the voltage value of the voltage signal input from the differentiation circuit 360 is larger than any of the voltages Vref3 and Vref4, both the comparator 371 and the comparator 372 are at the L level. The signal is output.

この場合、オア回路378には、コンパレーター371が出力したLレベルの信号と、コンパレーター372が出力したLレベルの信号がインバーター377により反転されたHレベルの信号とが供給される。したがって、オア回路378は、Hレベルの信号を出力する。   In this case, the OR circuit 378 is supplied with an L level signal output from the comparator 371 and an H level signal obtained by inverting the L level signal output from the comparator 372 by the inverter 377. Therefore, the OR circuit 378 outputs an H level signal.

また、微分回路360から入力される電圧信号の電圧値が、電圧Vref3,Vref4のいずれよりも小さい場合、コンパレーター371及びコンパレーター372は共にHレベルの信号を出力する。   When the voltage value of the voltage signal input from the differentiation circuit 360 is smaller than any of the voltages Vref3 and Vref4, both the comparator 371 and the comparator 372 output an H level signal.

この場合、オア回路378には、コンパレーター371が出力したHレベルの信号と、コンパレーター372が出力したHレベルの信号がインバーター377により反転されたLレベルの信号とが供給される。したがって、オア回路378は、Hレベルの信号を出力する。   In this case, the OR circuit 378 is supplied with the H level signal output from the comparator 371 and the L level signal obtained by inverting the H level signal output from the comparator 372 by the inverter 377. Therefore, the OR circuit 378 outputs an H level signal.

また、微分回路360から入力される電圧信号の電圧値が、電圧Vref3より小さく、電圧Vref4よりも大きい場合、コンパレーター371はHレベルの信号を出力し、コンパレーター372はLレベルの信号を出力する。   When the voltage value of the voltage signal input from the differentiating circuit 360 is smaller than the voltage Vref3 and larger than the voltage Vref4, the comparator 371 outputs an H level signal, and the comparator 372 outputs an L level signal. To do.

この場合、オア回路378には、コンパレーター371が出力したHレベルの信号と、コンパレーター372が出力したLレベルの信号がインバーター377により反転されたHレベルの信号とが供給される。したがって、オア回路378は、Lレベルの信号を出力する。   In this case, the OR circuit 378 is supplied with the H level signal output from the comparator 371 and the H level signal obtained by inverting the L level signal output from the comparator 372 by the inverter 377. Therefore, the OR circuit 378 outputs an L level signal.

以上のように、ウィンドウコンパレーター回路370は、微分回路360から入力される電圧信号の電圧値が、電圧Vref3と電圧Vref4との間である場合、Lレベルの信号を出力し、電圧Vref3と電圧Vref4との間でない場合、Hレベルの信号を出力する。この電圧Vref3と電圧Vref4と間の電圧値が、駆動信号COMが所定の範囲であるか否かの検出閾値として機能する。なお、微分回路360に入力される電圧Vre2は、電圧Vref4より大きく、且つ電圧Vref3より小さい電圧値に設定され
る。
As described above, when the voltage value of the voltage signal input from the differentiating circuit 360 is between the voltage Vref3 and the voltage Vref4, the window comparator circuit 370 outputs an L level signal, and the voltage Vref3 and the voltage If not between Vref4, an H level signal is output. The voltage value between the voltage Vref3 and the voltage Vref4 functions as a detection threshold value for determining whether or not the drive signal COM is within a predetermined range. The voltage Vref2 input to the differentiating circuit 360 is set to a voltage value that is larger than the voltage Vref4 and smaller than the voltage Vref3.

保持回路380は、NAND回路381,382,383,384及びインバーター385を含む。   The holding circuit 380 includes NAND circuits 381, 382, 383, 384 and an inverter 385.

NAND回路381の入力端の一方にはウィンドウコンパレーター回路370の出力が供給され、入力端の他方には制御信号MASKが供給される。また、NAND回路381の出力端はNAND回路383の入力端の一方と接続される。   The output of the window comparator circuit 370 is supplied to one input terminal of the NAND circuit 381, and the control signal MASK is supplied to the other input terminal. The output terminal of the NAND circuit 381 is connected to one input terminal of the NAND circuit 383.

NAND回路382の入力端の一方にはウィンドウコンパレーター回路370の出力がインバーター385を介して供給され、入力端の他方には制御信号MASKが供給される。また、NAND回路382の出力端はNAND回路384の入力端の一方と接続される。   The output of the window comparator circuit 370 is supplied to one of the input terminals of the NAND circuit 382 via the inverter 385, and the control signal MASK is supplied to the other input terminal. The output terminal of the NAND circuit 382 is connected to one of the input terminals of the NAND circuit 384.

ここで制御信号MASKとは、ウィンドウコンパレーター回路370の出力に依らず保持回路380の状態を制御するための信号である。本実施形態では、制御信号MASKはHレベルの信号として説明する。   Here, the control signal MASK is a signal for controlling the state of the holding circuit 380 regardless of the output of the window comparator circuit 370. In the present embodiment, the control signal MASK will be described as an H level signal.

NAND回路383の入力端の他方はNAND回路384の出力端と接続される。また、NAND回路383の出力端はNAND回路384の入力端の他方及びインバーター390の入力端と接続される。   The other input terminal of the NAND circuit 383 is connected to the output terminal of the NAND circuit 384. The output terminal of the NAND circuit 383 is connected to the other input terminal of the NAND circuit 384 and the input terminal of the inverter 390.

以上のように構成された保持回路380に、ウィンドウコンパレーター回路370からHレベルの信号が入力された場合、NAND回路381はLレベルの信号を出力し、NAND回路382はHレベルの信号を出力し、NAND回路383はHレベルの信号を出力し、NAND回路384はLレベルの信号を出力する。この結果、保持回路380の出力としてNAND回路383,384によりHレベルの信号が保持される。   When an H level signal is input from the window comparator circuit 370 to the holding circuit 380 configured as described above, the NAND circuit 381 outputs an L level signal, and the NAND circuit 382 outputs an H level signal. The NAND circuit 383 outputs an H level signal, and the NAND circuit 384 outputs an L level signal. As a result, an H level signal is held by the NAND circuits 383 and 384 as an output of the holding circuit 380.

また、ウィンドウコンパレーター回路370からLレベルの信号が入力された場合、NAND回路381はHレベルの信号を出力し、NAND回路382はLレベルの信号を出力し、NAND回路383はLレベルの信号を出力し、NAND回路384はHレベルの信号を出力する。この結果、保持回路380の出力としてNAND回路383,384によりLレベルの信号が保持される。   When an L level signal is input from the window comparator circuit 370, the NAND circuit 381 outputs an H level signal, the NAND circuit 382 outputs an L level signal, and the NAND circuit 383 outputs an L level signal. NAND circuit 384 outputs an H level signal. As a result, an L level signal is held by the NAND circuits 383 and 384 as an output of the holding circuit 380.

そして、保持回路380の出力として保持された信号は、インバーター390を介して判定回路350に出力される。   Then, the signal held as the output of the holding circuit 380 is output to the determination circuit 350 via the inverter 390.

判定回路350は、第1実施形態と同様に、Hレベルの信号が供給された場合、カウンター351が出力するカウント値をクロック信号CLKの立ち下がりにおいて、インクリメントし、Lレベルの信号が供給された場合、カウンター351が出力するカウント値をリセットする。そして、デコーダー352は、当該カウント値が所定の値を超えた場合、エラー信号ERRを出力する。   As in the first embodiment, the determination circuit 350 increments the count value output from the counter 351 at the falling edge of the clock signal CLK when the H level signal is supplied, and the L level signal is supplied. In the case, the count value output from the counter 351 is reset. When the count value exceeds a predetermined value, the decoder 352 outputs an error signal ERR.

以上のように構成された検出回路320では、駆動信号COMの電圧が変動した場合、微分回路360は、当該電圧変動に応じた略パルス形状の電圧信号を出力する。そして、当該パルス形状の電圧信号の電圧値が、電圧Vref3より大きい、又は電圧Vref4より小さい場合、ウィンドウコンパレーター回路370は、Hレベルの信号を出力する。よって、保持回路380はHレベルの信号を出力し、判定回路350には、Lレベルの信号が供給される。したがって、駆動信号COMの電圧値が所定の範囲より大きな変動をした場合、判定回路350は、カウンター351のカウント値をリセットする。   In the detection circuit 320 configured as described above, when the voltage of the drive signal COM fluctuates, the differentiating circuit 360 outputs a substantially pulse-shaped voltage signal corresponding to the voltage fluctuation. When the voltage value of the pulse-shaped voltage signal is larger than the voltage Vref3 or smaller than the voltage Vref4, the window comparator circuit 370 outputs an H level signal. Therefore, the holding circuit 380 outputs an H level signal, and the determination circuit 350 is supplied with an L level signal. Therefore, when the voltage value of the drive signal COM fluctuates more than a predetermined range, the determination circuit 350 resets the count value of the counter 351.

また、駆動信号COMが一定の電圧を継続している場合、微分回路360は、電圧Vref2に基づく一定電位の電圧信号を出力する。この電圧Vref2に基づく一定電位の電圧信号の電圧値は、電圧Vref3より小さく、且つ電圧Vref4より大きい。したがって、ウィンドウコンパレーター回路370は、Lレベルの信号を出力する。よって、保持回路380はLレベルの信号を出力し、判定回路350には、Hレベルの信号が供給される。したがって、駆動信号COMが一定の電圧を継続している場合、判定回路350は、制御回路100にエラー信号ERRを出力する。   When the drive signal COM continues at a constant voltage, the differentiating circuit 360 outputs a voltage signal having a constant potential based on the voltage Vref2. The voltage value of the voltage signal having a constant potential based on the voltage Vref2 is smaller than the voltage Vref3 and larger than the voltage Vref4. Therefore, the window comparator circuit 370 outputs an L level signal. Therefore, the holding circuit 380 outputs an L level signal, and the determination circuit 350 is supplied with an H level signal. Therefore, when the drive signal COM continues at a constant voltage, the determination circuit 350 outputs an error signal ERR to the control circuit 100.

第3実施形態に示す液体吐出装置1では、印刷モードにおいて駆動回路51で生成される駆動信号COMの電圧波形を直接検出することが可能となる。したがって、第1実施形態及び第2実施形態に対して、駆動信号COMが一定であるか否かの検出精度を高めることが可能となる。   In the liquid ejection device 1 shown in the third embodiment, it is possible to directly detect the voltage waveform of the drive signal COM generated by the drive circuit 51 in the print mode. Therefore, it is possible to improve the detection accuracy as to whether or not the drive signal COM is constant as compared with the first embodiment and the second embodiment.

本発明は、第1実施形態から第3実施形態で説明した構成と実質的に同一の構成(例えば、機能、方法及び結果が同一の構成、あるいは目的及び効果が同一の構成)を含む。また、本発明は、実施形態で説明した構成の本質的でない部分を置き換えた構成を含む。また、本発明は、実施形態で説明した構成と同一の作用効果を奏する構成又は同一の目的を達成することができる構成を含む。また、本発明は、実施形態で説明した構成に公知技術を付加した構成を含む。   The present invention includes substantially the same configuration (for example, a configuration having the same function, method, and result, or a configuration having the same purpose and effect) as the configuration described in the first to third embodiments. In addition, the invention includes a configuration in which a non-essential part of the configuration described in the embodiment is replaced. In addition, the present invention includes a configuration that exhibits the same operational effects as the configuration described in the embodiment or a configuration that can achieve the same object. In addition, the invention includes a configuration in which a known technique is added to the configuration described in the embodiment.

1…液体吐出装置、2…移動体、3…移動機構、4…搬送機構、10…制御ユニット、20…ヘッドユニット、21…吐出モジュール、24…キャリッジ、31…キャリッジモーター、32…キャリッジガイド軸、33…タイミングベルト、35…キャリッジモータードライバー、40…プラテン、41…搬送モーター、42…搬送ローラー、45…搬送モータードライバー、50…駆動信号生成回路、51…駆動回路、60…圧電素子、70…給電切替回路、80…駆動IC、90…電圧生成回路、100…制御回路、190…フレキシブルケーブル、210…選択制御回路、212…シフトレジスター、214…ラッチ回路、216…デコーダー、230…選択回路、232…インバーター、234…トランスファーゲート、235,236…トランジスター、241,242,243,244…寄生ダイオード、251…P基板、252…ポリシリコン、253,254…N型拡散層、255,256,257,258…電極、261…Nウェル、262…ポリシリコン、263,264…P型拡散層、265,266,267,268…電極、310…DAC回路、311…DACインターフェース、312…比較器、313…ラッチ回路、320…検出回路、321…更新検出回路、322…クロック検出回路、323…NAND回路、324…ラッチ回路、325…比較器、326…ラッチ回路、327…分周回路、328…ラッチ回路、329…微分回路、330…発振回路、331…DATA更新検出回路、332…ラッチ回路、333…比較器、334…ラッチ回路、335…インバーター、350…判定回路、351…カウンター、352…デコーダー、360…微分回路、361…コンパレーター、362…コンデンサー、363…抵抗、370…ウィンドウコンパレーター回路、371,372…コンパレーター、377…インバーター、378…オア回路、380…保持回路、381,382,383,384…NAND回路、385,390…インバーター、410…GVDD生成回路、420…信号選択回路、430…給電制御信号生成回路、431…インバーター、432…トランジスター、450…基準電圧信号生成回路、451…コンパレーター、452,453…トランジスター、454,455,456…抵抗、471,472,473…トランジスター、474,475…抵抗、500…集積回路、510…変調回路、512,513…加算器、514…コンパレーター、515…インバーター、516…積分減衰器、517…減衰器、520…ゲートドライブ回路、521…第1ゲートドライバー、522…第2ゲートドライバー、530…
LC放電回路、531…抵抗、532…トランジスター、541…コンデンサー、542…ダイオード、550…出力回路、551,552…トランジスター、553,554…抵抗、560…ローパスフィルター、561…インダクター、562…コンデンサー、570…第1帰還回路、571,572…抵抗、580…第2帰還回路、581,582…抵抗、583,584,585…コンデンサー、600…吐出部、601…圧電体、610…封止体、611,612…電極、621…振動板、630…圧力室基板、631…キャビティー、632…ノズルプレート、633…吸振体、640…筐体部、641…供給流路、651…ノズル、661…供給口、670…流路基板、671…開口部、672…供給流路、673…連通流路、674…中継流路、Bst,COM−Out,Com−Out,Ctvh,Ctvh−Out,Drv,Drv−In,En,En−In,Err,Err−Out,Gnd,Gnd−In,Gvd,Hdr,Ifb,Ldr,Sw,TG−In,TG−Out,Vbs,Vbs−Out,Vfb,Vhv,Vhv−In…端子、P…媒体
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Liquid discharge apparatus, 2 ... Moving body, 3 ... Movement mechanism, 4 ... Conveyance mechanism, 10 ... Control unit, 20 ... Head unit, 21 ... Discharge module, 24 ... Carriage, 31 ... Carriage motor, 32 ... Carriage guide shaft , 33 ... Timing belt, 35 ... Carriage motor driver, 40 ... Platen, 41 ... Conveyance motor, 42 ... Conveyance roller, 45 ... Conveyance motor driver, 50 ... Drive signal generation circuit, 51 ... Drive circuit, 60 ... Piezoelectric element, 70 DESCRIPTION OF SYMBOLS ... Feed switching circuit, 80 ... Drive IC, 90 ... Voltage generation circuit, 100 ... Control circuit, 190 ... Flexible cable, 210 ... Selection control circuit, 212 ... Shift register, 214 ... Latch circuit, 216 ... Decoder, 230 ... Selection circuit 232: Inverter, 234: Transfer gate, 235, 2 6 ... transistor, 241, 242, 243, 244 ... parasitic diode, 251 ... P substrate, 252 ... polysilicon, 253,254 ... N-type diffusion layer, 255, 256, 257,258 ... electrode, 261 ... N well, 262 ... polysilicon, 263, 264 ... P-type diffusion layer, 265, 266, 267, 268 ... electrode, 310 ... DAC circuit, 311 ... DAC interface, 312 ... comparator, 313 ... latch circuit, 320 ... detection circuit, 321 ... Update detection circuit, 322 ... Clock detection circuit, 323 ... NAND circuit, 324 ... Latch circuit, 325 ... Comparator, 326 ... Latch circuit, 327 ... Frequency divider circuit, 328 ... Latch circuit, 329 ... Differentiation circuit, 330 ... Oscillation circuit 331 ... DATA update detection circuit, 332 ... latch circuit, 333 ... comparator, 334 ... latch Path, 335 ... inverter, 350 ... determination circuit, 351 ... counter, 352 ... decoder, 360 ... differentiation circuit, 361 ... comparator, 362 ... capacitor, 363 ... resistor, 370 ... window comparator circuit, 371, 372 ... comparator 377: Inverter, 378: OR circuit, 380 ... Holding circuit, 381, 382, 383, 384 ... NAND circuit, 385, 390 ... Inverter, 410 ... GVDD generation circuit, 420 ... Signal selection circuit, 430 ... Power supply control signal generation Circuit, 431 ... Inverter, 432 ... Transistor, 450 ... Reference voltage signal generation circuit, 451 ... Comparator, 452, 453 ... Transistor, 454, 455, 456 ... Resistance, 471, 472, 473 ... Transistor, 474, 475 ... Resistance , 500 ... integrated circuit, 510 ... modulation circuit, 512, 513 ... adder, 514 ... comparator, 515 ... inverter, 516 ... integral attenuator, 517 ... attenuator, 520 ... gate drive circuit, 521 ... first gate driver 522 ... Second gate driver, 530 ...
LC discharge circuit, 531 ... resistor, 532 ... transistor, 541 ... capacitor, 542 ... diode, 550 ... output circuit, 551, 552 ... transistor, 553, 554 ... resistor, 560 ... low-pass filter, 561 ... inductor, 562 ... capacitor, 570 ... first feedback circuit, 571,572 ... resistor, 580 ... second feedback circuit, 581,582 ... resistor, 583,584,585 ... condenser, 600 ... discharge part, 601 ... piezoelectric body, 610 ... sealed body, 611, 612 ... electrodes, 621 ... diaphragm, 630 ... pressure chamber substrate, 631 ... cavity, 632 ... nozzle plate, 633 ... vibration absorber, 640 ... casing, 641 ... supply flow path, 651 ... nozzle, 661 ... Supply port, 670 ... Channel substrate, 671 ... Opening, 672 ... Supply channel, 673 ... Communication channel 674: Relay channel, Bst, COM-Out, Com-Out, Ctvh, Ctvh-Out, Drv, Drv-In, En, En-In, Err, Err-Out, Gnd, Gnd-In, Gvd, Hdr, Ifb, Ldr, Sw, TG-In, TG-Out, Vbs, Vbs-Out, Vfb, Vhv, Vhv-In ... terminal, P ... medium

Claims (7)

駆動信号を出力する駆動回路と、
前記駆動信号が供給される第1電極と基準電圧信号が供給される第2電極とを有し、前記第1電極と前記第2電極との電位差によって変位する圧電素子と、
前記圧電素子の変位に伴いノズルから吐出される液体が充填されるキャビティーと、
前記キャビティーと前記圧電素子との間に設けられている振動板と、
前記駆動信号の電圧変動が所定の範囲内であるか否かを検出する検出回路と、
前記検出回路の検出結果に基づいて前記駆動信号が正常であるか否かを判定する判定回路と、
を備えることを特徴とする液体吐出装置。
A drive circuit for outputting a drive signal;
A piezoelectric element having a first electrode to which the drive signal is supplied and a second electrode to which a reference voltage signal is supplied, and being displaced by a potential difference between the first electrode and the second electrode;
A cavity filled with a liquid discharged from a nozzle in accordance with the displacement of the piezoelectric element;
A diaphragm provided between the cavity and the piezoelectric element;
A detection circuit for detecting whether or not the voltage fluctuation of the drive signal is within a predetermined range;
A determination circuit for determining whether or not the drive signal is normal based on a detection result of the detection circuit;
A liquid ejection apparatus comprising:
前記検出回路において前記駆動信号の前記電圧変動が所定の期間継続して、前記所定の範囲内であると検出された場合、前記判定回路は、前記駆動信号が正常でないと判定する、
ことを特徴とする請求項1に記載の液体吐出装置。
The detection circuit determines that the drive signal is not normal when the detection circuit detects that the voltage fluctuation of the drive signal continues for a predetermined period and is within the predetermined range;
The liquid ejection apparatus according to claim 1, wherein
前記判定回路において前記駆動信号が正常でないと判定された場合、前記駆動回路は、前記駆動信号の電圧値を前記基準電圧信号の電圧値に近づくように制御する、
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の液体吐出装置。
When the determination circuit determines that the drive signal is not normal, the drive circuit controls the voltage value of the drive signal so as to approach the voltage value of the reference voltage signal.
The liquid ejecting apparatus according to claim 1, wherein the liquid ejecting apparatus is a liquid ejecting apparatus.
前記判定回路において前記駆動信号が正常でないと判定された場合、前記判定回路は、前記第1電極及び前記第2電極の少なくともいずれか一方の電荷を放出させるための信号を出力する、
ことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の液体吐出装置。
When the determination circuit determines that the drive signal is not normal, the determination circuit outputs a signal for discharging the charge of at least one of the first electrode and the second electrode.
The liquid discharge apparatus according to claim 1, wherein the liquid discharge apparatus is a liquid discharge apparatus.
前記検出回路は、前記駆動信号の元となる元駆動信号に基づいて前記駆動信号の前記電圧変動が前記所定の範囲内であるか否かを検出する、
ことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の液体吐出装置。
The detection circuit detects whether or not the voltage fluctuation of the drive signal is within the predetermined range based on an original drive signal that is the source of the drive signal.
The liquid discharge apparatus according to claim 1, wherein the liquid discharge apparatus is a liquid discharge apparatus.
前記検出回路は、前記駆動信号に基づいて前記駆動信号の前記電圧変動が前記所定の範囲内であるか否かを検出する、
ことを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の液体吐出装置。
The detection circuit detects whether the voltage fluctuation of the drive signal is within the predetermined range based on the drive signal;
The liquid ejecting apparatus according to claim 1, wherein the liquid ejecting apparatus is a liquid ejecting apparatus.
第1電極と第2電極との間に生じる電位差によって変位する圧電素子と、前記圧電素子の変位に伴いノズルから吐出される液体が充填されるキャビティーと、前記キャビティーと前記圧電素子との間に設けられている振動板と、を有する液体吐出装置に用いられる駆動信号生成回路であって、
前記圧電素子の第1電極に供給される駆動信号を出力する駆動回路と、
前記駆動信号の電圧変動が所定の範囲内であるか否かを検出する検出回路と、
前記検出回路の検出結果に基づいて前記駆動信号が正常か否かを判定する判定回路と、
を備える駆動信号生成回路。
A piezoelectric element that is displaced by a potential difference generated between the first electrode and the second electrode, a cavity that is filled with a liquid discharged from a nozzle in accordance with the displacement of the piezoelectric element, and the cavity and the piezoelectric element A drive signal generation circuit used in a liquid ejection device having a diaphragm provided therebetween,
A drive circuit for outputting a drive signal supplied to the first electrode of the piezoelectric element;
A detection circuit for detecting whether or not the voltage fluctuation of the drive signal is within a predetermined range;
A determination circuit for determining whether or not the drive signal is normal based on a detection result of the detection circuit;
A drive signal generation circuit comprising:
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