JP2019146163A - ノイズ・フィルタ及びノイズ低減方法 - Google Patents

Abstract

【課題】ＤＵＴから受けた信号から、試験測定装置のチャンネルによって加えられたノイズを低減する。【解決手段】ノイズ・フィルタ１００には、信号を第１スプリット信号及び第２スプリット信号にスプリットするスプリッタ１０４がある。第１パスは、第１スプリット信号を受けると共に、可変減衰器１０８及び可変遅延ライン１１０を有し、これらは、接続されたＤＵＴのチャンネル応答に基づいて設定されても良い。第２パスには、固定遅延ラインがあっても良く、第２スプリット信号を受ける。合成部１１４は、第１パスからの信号と第２パスからの信号とを合成信号に合成する。ＡＤＣ１１６は、合成信号をデジタル化してデジタル信号を供給する。フィルタ１１８は、デジタル信号を受けて、特定のＣＴＬＥ形状の応答と合致するフィルタ処理されたデジタル信号を出力する。【選択図】図１

Description

本発明は、試験測定システムの態様に関連するノイズ・フィルタ及びノイズ低減方法に関し、特に、試験測定システムにおいてノイズと周波数の減衰を制御するためのノイズ・フィルタ及びノイズ低減方法に関する。

試験測定システムは、例えば、被試験デバイス（ＤＵＴ）からの信号入力を受け、その信号をサンプルし、その結果を波形として表示するように設計されている。試験測定システムの入力チャンネルは、ＤＵＴからの信号にノイズを加えることがある。時として、試験測定システムによって信号に加えられたノイズをフィルタ処理で除去するために、個々に合わせた（個別化した）固定パッシブ・ノイズ・フィルタを構築することがある。

特開２０１８−００９９７１号公報 特開２０１８−０１４７１８号公報 特開２０１８−０７４５８７号公報

しかし、ノイズ・フィルタは、ＤＵＴから受けた信号の形式に加えて、試験測定装置のチャンネル特性によって決まる。個々に合わせた固定ノイズ・フィルタが効果を生むためには、ユーザは、ＤＵＴを試験するのに使用するチャンネルの損失とデータ・レートに最も適合する多数の様々な固定ノイズ・フィルタが手元に必要となろう。これら種々の異なる固定ノイズ・フィルタは、高価であり、ある試験の状況について、どのノイズ・フィルタが必要であるかを把握するのは、困難なことがある。

アクティブ・ノイズ・フィルタの中には、プログマブルのものがあり、個別化した固定パッシブ・ノイズ・フィルタの代わりに使うことができる。しかし、これらプログマブル・アクティブ・ノイズ・フィルタは、広く多種多様な状況で効果的に利用するには、多くの場合、ノイズを多く生成し過ぎる。更に、これらプログマブル・アクティブ・ノイズ・フィルタは、多くの場合、７０ＧＨｚのような、高い帯域幅まで拡張できない。

実現できる帯域幅を最大化することに加えて、多数の部品の使用を最小化する広帯域幅のノイズ・フィルタが必要となっている。本発明の実施形態は、従来技術のこれらや他の欠点を解決しようとするものである。

本願で開示されるのは、ＤＵＴから受ける信号から試験測定装置のチャンネルによって加えられるノイズを除去するための、連続的又は段階的可変パッシブ・ノイズ・フィルタである。このノイズ・フィルタは、少なくとも第１スプリット信号及び第２スプリット信号の夫々に信号をスプリットするよう構成されるスプリッタを有していても良い。第１パスは、第１スプリット信号を受けると共に、可変減衰器や可変遅延ラインを有し、これらは、ＤＵＴが接続される試験測定装置のチャンネルに基づいて設定されても良い。可変減衰器や可変遅延ラインは、詳しくは後述のように、連続的又は段階的であっても良い。第２スプリット信号を受ける第２パスが更にあっても良く、そして、合成部は、第１パスからの信号と第２パスからの信号とを合成信号に合成する。

第２パスには、固定遅延ラインがあっても良く、また、場合によっては、基準信号があっても良い。第１パス中の信号は、試験測定装置で加えられるノイズを調整するように遅延及び減衰され、次いで、第１パス中の信号は、試験測定装置のチャンネルで加えられたノイズのない入力信号を求めるために、第２パス上の基準信号から引き算される。こうしたノイズ・フィルタの様々な実施形態が、図１〜６に関連して説明される。

本発明の実施形態は、試験測定装置のチャンネルが連続時間線形イコライザ（continuous time linear equalizer：CTLE）形状の応答という周波数応答を有することが可能になるのに加えて、試験測定装置のノイズを低減するという改善をもたらす。このノイズの低減は、複数の異なるＣＴＬＥフィルタを手元に保持して、特定の試験状況に基づいて、これらフィルタを交換する必要なしに実現でき、更に言えば、試験のニーズに基づいて、可変減衰器や可変遅延ラインをプログラムするか又は設定できる。本発明の実施形態は、更に、７０ＧＨｚ以上のような、高周波数帯域幅においても実現できる。

本発明の実施形態の態様、特徴及び効果は、添付の図面を参照し、以下の実施形態の説明を読むことで明らかとなろう。

図１は、本発明のある実施形態による、可変減衰器や可変遅延ラインを有するノイズ・フィルタの例示的なブロック図を示す。 図２は、本発明の別の実施形態による、可変減衰器や可変遅延ラインを有するノイズ・フィルタの別の例示的なブロック図を示す。 図３は、本発明の別の実施形態による、入力信号を高周波数帯域信号と低周波数帯域信号にスプリットするマルチプレクサを有し、更に、可変減衰器や可変遅延ラインも有するノイズ・フィルタの別の例示的なブロック図を示す。 図４は、本発明の別の実施形態による、ポジティブ及びネガティブ信号のクロス結合処理を用いる差動信号用のノイズ・フィルタの別の例示的なブロック図を示す。 図５は、本発明の別の実施形態による、クロス結合処理のない差動信号用のノイズ・フィルタの別の例示的なブロック図を示す。 図６は、本発明の別の実施形態による、ポジティブ入力信号及びネガティブ入力信号を高周波数帯域信号と低周波数帯域信号にスプリットするマルチプレクサを有する差動信号用のノイズ・フィルタの別の例示的なブロック図を示す。

図１は、本発明のある実施形態による例示的なノイズ・フィルタ１００のブロック図を示す。このノイズ・フィルタ１００は、例えば、ＣＴＬＥフィルタであっても良い。ノイズ・フィルタ１００には、被試験デバイス（図示せず）からの信号のような入力信号を受けるよう構成されたオプションの直流（ＤＣ）ブロック１０２がある。ＤＣブロック１０２は、例えば、無線周波数（ＲＦ）信号が通過可能である一方で、オーディオ及びＤＣ周波数の干渉は、阻止（ブロック）するよう構成されても良い。ノイズ・フィルタ１００には、更に、ＤＣブロック１０２からの出力信号を受けるか、又は、もしＤＣブロック１０２が省略された場合には入力信号を受けるスプリッタ１０４があっても良い。スプリッタ１０４は、例えば、ウィルキンソン（Wilkinson）スプリッタであっても良く、これは、３デシベル（ｄＢ）の信号損失がある。しかし、本発明の実施形態は、こうしたスプリッタに限定されず、信号をスプリット信号にスプリットする任意のスプリッタを含むことができる。いくつかの実施例では、各スプリット信号が入力信号の全帯域幅を実質的に含むように信号をスプリット（分岐）するようスプリッタが構成されても良い。例えば、使用しても良い別の形式のスプリッタとしては、３抵抗パワー・スプリッタ又はマルチプレクサがある。

スプリッタ１０４の出力信号は、２つの信号パスに供給される。第１信号パスには、固定遅延ライン１０６がある。第２信号パスには、可変減衰器（可変アッテネータ）１０８と、可変遅延ライン１１０とがある。この例示的な実施形態では、可変減衰器１０８及び可変遅延ライン１１０は、連続的に可変である。減衰器１０８及び遅延ライン１１０の両方は、連続的に可変として示されるが、実施形態は、こうした組み合わせに限定されない。逆に、減衰器１０８及び遅延１１０のいずれかだけが可変であっても良い。他の変形が、図２〜６に関して以下で詳細に説明される。更に、実施形態は、第２信号パスの信号が、遅延ライン１１０で遅延される前に減衰器１０８で減衰されることに限定されない。当業者であれば理解されるように、実施形態によっては、図示しないが、第２信号パスの信号が、減衰器１０８で減衰される前に遅延ライン１１０で遅延されても良い。

可変減衰器１０８や可変遅延ライン１１０は、手動又はコントローラ１１２によって調整されても良い。コントローラ１１２について説明するが、本発明の実施形態は、この実現形態に限定されない。それどころか、可変減衰器１０８や可変遅延ライン１１０は、ユーザによって手動で調整されても良い。

可変減衰器１０８は、低周波数と高周波数間のマグニチュードの差をデシベル単位で制御しても良い。可変減衰器１０８の調整は、ノイズ・フィルタ１００全体のポール（pole：極）の位置を動かさない。即ち、減衰器１０８は、周波数応答のピークの高さを変更するだけで、周波数に関しては、周波数応答のピークを動かさない。このように、所与のデータ・レートについて、異なるＤＵＴチャンネルの損失に適したものとなる（accommodate）ように調整されても良い。一方、可変遅延ライン１１０は、高及び低周波数間の大きさのレンジを変更することなく、周波数に関してノイズ・フィルタ１００のポールの位置を動かす。このように、可変遅延ライン１１０は、異なるデータ・レートの信号に適したものとなるように調整されても良い。即ち、可変減衰器１０８又は可変遅延ライン１１０は、ＤＵＴからの信号を受けたのが試験測定装置のどのチャンネルであるかに基づいて、そのチャンネルによって加えられた全てのノイズを除去できるように、手動又はコントローラのいずれかによって調整されても良い。例えば、詳しくは後述するように、ユーザは、所望の減衰量や遅延量を求めることができ、可変減衰器１０８の設定を設定したり、遅延ライン１１０の長さを所望量に変更したりできる。別の実施形態では、ユーザは、所望量を試験測定装置に設定できるようにしても良く、試験測定装置は、次いで、可変減衰器１０８や可変遅延ライン１１０を調整するための命令をコントローラへ送信する。更に、実施形態によっては、試験測定装置が、その各チャンネルに関してメモリに保存された特定の減衰量や遅延を有し、どのチャンネルにＤＵＴが接続されたかに基づいて、コントローラに指示しても良い。

合成部１１４は、第１信号パス及び第２信号パスの両方から信号を受け、これら２つの信号を１つに組み合わせ（合成し）、ネガティブ・ブランチ（分岐）和信号を得る。合成部１１４は、第１信号パスと第２信号パスからの信号を引き算するか、又は、一方のパスを反転させる場合には、第１信号パスと第２信号パスからの信号を結合するかのいずれかで、ネガティブ・ブランチ和信号を実現すると良い。例えば、実施形態によっては、合成部１１４は、バラン（balun）であっても良く、これには、反転入力と非反転入力があり、ノイズ・フィルタ周波数応答に関して所望の形状を提供する。実施形態によっては、バランは、６ｄＢ損失バランであっても良い。別の例としては、実施形態によっては、合成部１１４がアクティブ差動増幅器であっても良く、これは、利得を提供するのに加えて、ゼロ周波数までずっと動作できる。

合成信号は、アナログ・デジタル・コンバータ１１６によって、アナログ信号からデジタル信号へと変換されても良い。デジタル信号は、メモリに保存されるか、又は、試験測定装置において、更に処理されても良い。実施形態によっては、ノイズ・フィルタ１００内にフィルタ１１８が更に用意されても良く、これは、メモリに蓄積される前か、又は、オシロスコープ（図示せず）のような試験測定システムによって更に処理する前に、デジタル信号を更にフィルタ処理するローパス・フィルタ、ディエンベッド・フィルタ、又は再形成（reshaping）フィルタであっても良い。ローパス・フィルタは、もし使用する場合には、デジタル信号の第１スロープとピークだけを含むように、デジタル化信号の帯域幅を制限できる。例えば、ノイズ・フィルタ１００の応答（レスポンス）は、形状が正弦曲線的であっても良く、第１スロープのみ使用される。ディエンベッド・フィルタは、もし使用する場合には、試験測定装置のチャンネルの周波数応答をフラットな応答に戻るよう再形成する（作り直す）ことができる。そうするときに、ノイズ・フィルタ１００によって導入されるノイズは、ＤＵＴのノイズを低減することなく、低減される。最後に、ノイズ・フィルタ１００の出力信号ができるだけ所望の応答に近くなるように、減衰器１０８や遅延ライン１１０を調整できる。もし再成形フィルタを使う場合には、この再成形フィルタは、出力信号が所望の応答であるように更に再形成する。例えば、試験測定装置のチャンネルが、特定の工業規格のＣＴＬＥ形状応答を有する周波数応答を有することが必要な場合には常に、再成形フィルタを使っても良い。

ＡＤＣ１１６又はフィルタ１１８の出力信号は、入力信号と実質的に同様であるが、試験測定装置のチャンネルが原因で生じる周波数減衰の変動は、ＤＵＴに接続された試験測定装置のチャンネルに基づいて遅延及び減衰された第１パスの信号と、既知の固定遅延量だけ遅延された第２パスの信号とを合成部１１４によって合成することにより除去される。

図２は、本発明のある実施形態による別の例示的なノイズ・フィルタ２００のブロック図を示す。図１と同様に、ノイズ・フィルタ２００には、ＤＣブロック１０２、スプリッタ１０４、固定遅延１０６、合成部１１４、ＡＤＣ１１６及びフィルタ１１８があり、上述したこれら及びこれらの変形と同様のものである。このため、これらコンポーネントについては、図２に関して、再度、詳細には説明しない。ノイズ・フィルタ２００は、図１のノイズ・フィルタ１００のような連続的な制御ではなく、後述のように、ノイズ・フィルタの周波数応答の段階的な制御（stepped control）を提供する。

図２のノイズ・フィルタ２００には、更に、図１と同様に、可変減衰器２０２や可変遅延ライン２１０がある。しかし、可変減衰器２０２や可変遅延ライン２１０のいずれか又は両方は、多数の固定コンポーネントから構成され、これらは、第２信号パスに切り替わったり、第２信号パスから切り離されたりする。

例えば、可変減衰器２０２には、多数の固定減衰器２０４があっても良く、これらが減衰量を変更する。固定減衰器２０４として様々な減衰量を列挙しているが、こうしたものは、説明の都合上で示しているだけで、当業者であれば、本発明は、これら特定の固定減衰量に限定されないことが理解されよう。それどころか、これら固定減衰器２０４は、図２に示したものと異なる減衰量を有していても良い。選択された減衰量に第２信号パスを切り替えるのに、単極多投スイッチ（single pole multi throw switch）２０６を用意しても良い。スイッチは、ユーザによって手動で切り替えられても良いし、又は、コントローラ１１２によって操作されて切り替えられても良い。

実施形態によっては、可変遅延ライン２１０も、多数の固定遅延ライン２１２があっても良く、これらが遅延量を変更する。選択された遅延量に第２信号パスを切り替えるのに、単極多投スイッチ２１４を用意しても良い。可変減衰器２０２と同様に、スイッチは、ユーザによって手動で切り替えられても良いし、又は、コントローラ１１２によって操作されて切り替えられても良い。実施形態によっては、可変減衰器２０２及び可変遅延ライン２１０の夫々用に、別々のコントローラ１１２が用意されても良い。

図２は、可変減衰器２０２及び可変遅延ライン２１０の両方が、複数の固定コンポーネント及びスイッチを有することを図示しているが、実施形態によっては、当業者には理解されるように、減衰器２００及び遅延ライン２１０の一方だけが複数の固定コンポーネント及び複数のスイッチを有する一方で、他方は、単一の固定コンポーネントであるか又は上述した可変減衰器１０８又は可変遅延ライン１１０である。即ち、可変減衰器１０８及び２００並びに可変遅延ライン１１０及び２１０が、減衰器１０８及び２００又は遅延ライン１１０及び２１０のいずれかを固定にすることも含めて、任意の組み合わせで用意されても良い。

図２に示す実施形態では、４つの固定減衰器２０４と３つの固定遅延ライン２１２に基づいて、１２個の可能な周波数応答設定が用意される。しかし、実施形態は、こうした実現形態に限定されない。むしろ、任意の個数の固定遅延ライン２１２に加えて、任意の個数の固定減衰器２０４が存在し、第２信号パスに切り替えられても良い。

図３は、本発明のある実施形態による別の例示的なノイズ・フィルタ３００を示す。図１及び２と同様に、ノイズ・フィルタ３００には、スプリッタ１０４、固定遅延１０６、コントローラ１１２、合成部１１４、ＡＤＣ１１６及びフィルタ１１８があっても良く、上述したこれら及びこれらの変形と同様のものである。このため、これらコンポーネントについては、図３に関して、再度、詳細には説明しない。

ノイズ・フィルタ３００には、ＤＵＴからの入力信号を受けるマルチプレクサ３０２があっても良い。マルチプレクサ３０２は、パッシブ・デバイスであり、周波数領域の多重化処理（multiplexing）を実現する。マルチプレクサ３０２は、入力信号のような、広い周波数レンジの信号を、互いに排他的な周波数レンジを有する２つ以上の信号帯域に変換する。信号を２つの周波数帯域に変換するマルチプレクサ３０２は、デプレクサと呼んでも良く、信号を３つの周波数帯域に変換するマルチプレクサは、トリプレクサと呼んでも良い、等である。例えば、マルチプレクサ３０２は、高周波数帯域及び低周波数帯域を含む複数の周波数帯域に入力信号を分離するように構成されている。高周波数帯域及び低周波数帯域は、次いで、高周波数チャンネル及び低周波数チャンネルに沿って夫々送られても良い。

低周波数帯域は、上述した図１及び２と同様に、スプリッタ１０２で受けるとしても良い。図３に示す実施形態では、可変減衰器１０８及び可変遅延ライン１１０は、第２信号パスにおいて示されている。しかし、本発明の実施形態は、この実現形態に限定されない。当業者であれば理解されるように、可変減衰器２０２や可変遅延ライン２１０が、図２に示される実施形態と同様にして、第２信号パスに設けられても良い。更に、可変減衰器１０８若しくは２０２又は可変遅延ライン１１０若しくは２１０のいずれか１つだけを用意して、他のコンポーネントは固定としても良い。

合成部１１４からの合成信号は、マルチプレクサ３０４で受けるが、これは、低周波数帯域と高周波数帯域をまとめてフル帯域幅の信号に合成する合成部として機能し、フル帯域幅は、ＡＤＣ１１６がある場合には、ＡＤＣ１１６で変換され、フィルタ１１８がある場合には、フィルタ１１８でフィルタ処理されても良い。

マルチプレクサ３０２及び３０４は、スプリッタ１０２よりも損失が低い。マルチプレクサ３０２及び３０４は、入力信号の帯域幅がどの程度広いかに依存して、例えば、低周波数帯域では数十デジベルの損失があり、高帯域では１.５から３デシベルの損失がある。このため、ノイズ・フィルタ３００は、損失の大きい部分が入力信号の低帯域の周波数にある場合には、有益なものとなろう。ノイズ・フィルタ３００は、低帯域の周波数における信号をより良く形成し、ＳＮＲをより良くするのに利用でき、同時に、より良い分解能で捕捉されるようにシステムの高帯域における損失を低くできる。更に、ノイズ・フィルタ３００の別の利点は、可変減衰器１０８又は２０２や、可変遅延ライン１１０又は２１０が、システムの帯域幅の半分についてだけ動作することである。例えば、５０ＧＨｚ帯域幅のシステムについては、可変コンポーネントは、２５ＧＨｚの帯域幅についてだけ動作すれば良い。

図４は、本発明のある実施形態による別の例示的なノイズ・フィルタ４００を示す。ノイズ・フィルタ４００は、ＤＵＴから差動信号対を受ける場合に使用されても良い。スプリッタ４０２は、スプリッタ１０２と同様に、差動対のポジティブ信号を受けて、第１ポジティブ信号パス上の信号と第２ポジティブ信号パス上の信号とにスプリット（分岐）する一方で、スプリッタ４０４は、スプリッタ１０２と同様に、差動対のネガティブ信号を受けて、第１ネガティブ信号パス上の信号と第２ネガティブ信号パス上の信号とにスプリットする。

第１ポジティブ信号パス及び第１ネガティブ信号パスの両方には、図４に示すように、固定遅延１０６がある。第２ポジティブ及びネガティブ信号パスは、夫々、可変減衰器１０８又は２０２や、可変遅延ライン１１０又は２１０を有している。図４の実施形態は、図２に関して詳細に上述したような、可変減衰器２０２及び可変遅延ライン２１０の使用が示されている。しかし、当業者であれば理解されるように、可変減衰器１０８又は２０２及び可変遅延ライン１１０又は２１０を任意に組み合わせつつ、これらコンポーネントのいずれかを固定にして使用しても良い。

合成部４０６は、第１ポジティブ信号パスからの信号と、第２ネガティブ信号パスからの信号とを受けて、これら信号を第１合成信号に合成する。第２合成部４０８は、第２ポジティブ信号パスからの信号と、第１ネガティブ信号パスからの信号とを受けて、これら信号を第２合成信号に合成する。こうした実施形態では、ポジティブ及びネガティブ信号が合成されるので、合成部４０６及び４０８は、例えば、パワー合成部（power combiner）であっても良い。次いで、第１及び第２合成信号は、図１に関して上述したものと同様の合成部１１４が受ける。合成部１１４は、第１及び第２合成信号を単一の差動信号出力に変換し、これをＡＤＣ１１６が受ける。即ち、ノイズ・フィルタ４００は、差動信号対を巧みに利用してポジティブ信号及びネガティブ信号をクロス結合し、試験測定装置のチャンネルに由来する減衰を除去する。

図５は、本発明のある実施形態による別の例示的なノイズ・フィルタ５００を示す。ノイズ・フィルタ５００は、図４に示すような差動信号対のポジティブ信号及びネガティブ信号のクロス結合がないことを除けば、ノイズ・フィルタ４００と同様である。このため、図４と５において同様のコンポーネントについては、図５に関して更なる説明は行わない。ポジティブ信号及びネガティブ信号のクロス結合で組み合わせる単純な２つの合成部４０６及び４０８を設けるのではなく、例えば上述したバラン又は差動増幅器のいずれかである、２つの合成部１１４を用意して、スプリットされたポジティブ信号の夫々と、スプリットされたネガティブ信号の夫々とを結合しても良い。合成されたポジティブ信号と、合成されたネガティブ信号は、次いで、合成部５０２によって、更に合成されても良い。

更に、図４と同様に、可変減衰器１０８又は２００と、可変遅延ライン１１０又は２１０とが、これらコンポーネントのいずれかを固定にすることも含めて、任意の組み合わせで使用されても良い。

ノイズ・フィルタ５００の代替としては、図５に示すものと類似するが、図５に示すようにポジティブとネガティブの分岐信号を単一の差動信号に合成するのではなく、ポジティブとネガティブの信号パスを夫々のＡＤＣ１１６及びフィルタ１１８によって別々に処理して、更なる処理又はメモリへの記憶のために、合成差動信号ではなく、差動信号として試験測定装置へ送るノイズ・フィルタを用意しても良い。

図６は、本発明のある実施形態による差動信号用の別の例示的なノイズ・フィルタ６００を示す。ノイズ・フィルタ６００では、マルチプレクサ６０２及び６０４を用いて、差動入力信号対のポジティブ信号及びネガティブ信号を夫々低帯域周波数信号及び高帯域周波数信号にスプリット（分岐）しても良い。ポジティブ低周波数帯域及びポジティブ高周波数帯域の両方は、固定遅延ライン１０６によって遅延される。ネガティブ低周波数帯域及びネガティブ高周波数帯域は、可変減衰器１０８又は２０２や可変遅延ライン１１０又は２１０を含むパスが受ける。図６の実施形態は、図２に関して詳細に説明したような可変減衰器２０２及び可変遅延ライン２１０を使用することを示している。しかし、当業者であれば理解されるように、可変減衰器１０８又は２００と、可変遅延ライン１１０又は２１０とが、これらコンポーネントのいずれかを固定にすることも含めて、任意の組み合わせで使用されても良い。

ポジティブ及びネガティブ低周波数パス上の信号は、合成部６０６で合成され、また、ポジティブ及びネガティブ高周波数パス上の信号は、合成部６０８で合成されて、合成低周波数帯域信号及び合成高周波数帯域信号が出力されても良い。これら信号は、次いで、別個のマルチプレクサ６１０によって、フル周波数帯域合成信号に合成されても良い。

当然ながら、このマルチプレクサの構成は、図１〜３の２チャンネルの構成に組み入れることが可能である。

先に開示された本発明の実施形態は、信号パスに可変減衰器や可変遅延ラインのいずれかを設け、基準信号から引き算して試験測定装置のチャンネルによって加えられたノイズを除去することで、７０ＧＨｚ以上の周波数帯域幅のような高周波数帯域幅にわたるノイズ・フィルタの周波数応答を調整する方法を提供する。本発明の実施形態によれば、様々な異なる試験状況にに合わせてプログラム又は設定ができる可変ノイズ・フィルタが可能となり、これら試験状況の夫々に合わせて新しいノイズ・フィルタに切り替える必要はない。更に、本発明の実施形態によれば、特定の規格に対する試験のために、ノイズ・フィルタの設定を調整できる。

本発明の実施例は、特別に作成されたハードウェア、ファームウェア、デジタル・シグナル・プロセッサ又はプログラムされた命令に従って動作するプロセッサを含む特別にプログラムされた汎用コンピュータ上で動作できる。本願における「コントローラ」又は「プロセッサ」という用語は、マイクロプロセッサ、マイクロコンピュータ、ＡＳＩＣ及び専用ハードウェア・コントローラ等を意図する。本発明の態様は、１つ又は複数のコンピュータ（モニタリング・モジュールを含む）その他のデバイスによって実行される、１つ又は複数のプログラム・モジュールなどのコンピュータ利用可能なデータ及びコンピュータ実行可能な命令で実現できる。概して、プログラム・モジュールとしては、ルーチン、プログラム、オブジェクト、コンポーネント、データ構造などを含み、これらは、コンピュータその他のデバイス内のプロセッサによって実行されると、特定のタスクを実行するか、又は、特定の抽象データ形式を実現する。コンピュータ実行可能命令は、ハードディスク、光ディスク、リムーバブル記憶媒体、ソリッド・ステート・メモリ、ＲＡＭなどのコンピュータ可読記憶媒体に記憶しても良い。当業者には理解されるように、プログラム・モジュールの機能は、様々な実施例において必要に応じて組み合わせられるか又は分散されても良い。更に、こうした機能は、集積回路、ＦＰＧＡなどのようなファームウェア又はハードウェア同等物において全体又は一部を具体化できる。特定のデータ構造を使用して、本発明の１つ以上の態様をより効果的に実施することができ、そのようなデータ構造は、本願に記載されたコンピュータ実行可能命令及びコンピュータ使用可能データの範囲内と考えられる。

開示された態様は、場合によっては、ハードウェア、ファームウェア、ソフトウェア又はそれらの任意の組み合わせで実現されても良い。開示された態様は、１つ以上のプロセッサによって読み取られ、実行され得る１つ又は複数のコンピュータ可読媒体によって運搬されるか又は記憶される命令として実現されても良い。そのような命令は、コンピュータ・プログラム・プロダクトと呼ぶことができる。本願で説明するコンピュータ可読媒体は、コンピューティング装置によってアクセス可能な任意の媒体を意味する。限定するものではないが、一例としては、コンピュータ可読媒体は、コンピュータ記憶媒体及び通信媒体を含むことができる。

コンピュータ記憶媒体は、コンピュータ読み取り可能な情報を記憶するために使用することができる任意の媒体を意味する。限定するものではないが、例としては、コンピュータ記憶媒体としては、ランダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ）、読み出し専用メモリ（ＲＯＭ）、電気消去可能プログラマブル読み出し専用メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）、フラッシュメモリやその他のメモリ技術、コンパクト・ディスク読み出し専用メモリ（ＣＤ-ＲＯＭ）、ＤＶＤ（Digital Video Disc）やその他の光ディスク記憶装置、磁気カセット、磁気テープ、磁気ディスク記憶装置やその他の磁気記憶装置、及び任意の技術で実装された任意の他の揮発性又は不揮発性の取り外し可能又は取り外し不能の媒体を含んでいても良い。コンピュータ記憶媒体としては、信号そのもの及び信号伝送の一時的な形態は排除される。

通信媒体は、コンピュータ可読情報の通信に利用できる任意の媒体を意味する。限定するものではないが、例としては、通信媒体には、電気、光、無線周波数（ＲＦ）、赤外線、音又はその他の形式の信号の通信に適した同軸ケーブル、光ファイバ・ケーブル、空気又は任意の他の媒体を含むことができる。

複数の実施例
以下では、本願で開示される技術の説明に有益な実施例が提示される。この技術の実施形態は、以下で記述する実施例の１つ以上及び任意の組み合わせを含んでいても良い。

実施例１は、ノイズ・フィルタであって、信号を受けて、該信号を少なくとも第１スプリット信号及び第２スプリット信号にスプリットするよう構成されるスプリッタと、可変減衰器及び可変遅延ラインを有し、上記第１スプリット信号を受けるよう構成される第１パスと、上記第２スプリット信号を受けるよう構成される第２パスと、上記第１パスからの信号と上記第２パスからの信号とを合成信号に合成するよう構成される合成部とを具えている。

実施例２は、実施例１のノイズ・フィルタであって、このとき、上記第２パスには、固定遅延ラインがある。

実施例３は、実施例１又は２のいずれかのノイズ・フィルタであって、このとき、上記可変減衰器及び上記可変遅延ラインの少なくとも１つは、コントローラによって調整される。

実施例４は、実施例１〜３のいずれかのノイズ・フィルタであって、このとき、上記可変減衰器には、夫々異なる減衰量を有する複数の減衰器と、複数のスイッチとがあり、上記可変減衰器は、複数の上記減衰器のいずれかを上記第１パスへ切り替えることによって調整される。

実施例５は、実施例１〜４のいずれかのノイズ・フィルタであって、このとき、上記可変遅延ラインには、夫々異なる遅延量を有する複数の遅延ラインと、複数のスイッチとがあり、上記可変遅延ラインは、複数の上記遅延ラインのいずれかを上記第１パスへ切り替えることによって調整される。

実施例６は、実施例１〜５のいずれかのノイズ・フィルタであって、このとき、上記合成部は、反転入力端子と非反転入力端子を有するバラン（balun）である。

実施例７は、実施例１〜６のいずれかのノイズ・フィルタであって、このとき、上記合成部は、差動増幅器である。

実施例８は、実施例１〜７のいずれかのノイズ・フィルタであって、入力信号を受けて該入力信号を高周波数帯域信号及び低周波数帯域信号に分離するよう構成されるマルチプレクサを更に具え、このとき、上記スプリッタで受ける上記信号は、上記低周波数帯域信号である。

実施例９は、実施例８のノイズ・フィルタであって、このとき、上記マルチプレクサは第１マルチプレクサであり、上記合成信号は第１合成信号であって、上記ノイズ・フィルタが、上記第１合成信号及び上記高周波数帯域信号を受けて、第２合成信号を出力するよう構成される第２マルチプレクサを更に具えている。

実施例１０は、実施例１〜９のいずれかのノイズ・フィルタであって、上記合成信号を受けて、該合成信号を表すデジタル信号を出力するよう構成されるアナログ・デジタル・コンバータと、上記デジタル信号を受けて、特定の時間線形イコライザ（continuous time linear equalizer）形状の応答と合致するフィルタ処理デジタル信号を出力するよう構成される再成形フィルタとを具えている。

実施例１１は、ノイズ・フィルタであって、差動信号対のポジティブ信号を受けて、該ポジティブ信号の全帯域幅を実質的に夫々含む少なくとも第１スプリット信号及び第２スプリット信号に上記ポジティブ信号をスプリットするよう構成される第１スプリッタと、上記差動信号対のネガティブ信号を受けて、該ネガティブ信号の全帯域幅を実質的に夫々含む少なくとも第３スプリット信号及び第４スプリット信号に上記ネガティブ信号をスプリットするよう構成される第２スプリッタと、第１可変減衰器及び第１可変遅延ラインを有し、上記第１スプリット信号を受けるよう構成される第１パスと、上記第２スプリット信号を受けるよう構成される第２パスと、第２可変減衰器及び第２可変遅延ラインを有し、上記第３スプリット信号を受けるよう構成される第３パスと、上記第４スプリット信号を受けるよう構成される第４パスと、上記第１パスからの信号と上記第４パスからの信号とを第１合成信号に合成するよう構成される第１合成部と、上記第２パスからの信号と上記第３パスからの信号とを第２合成信号に合成するよう構成される第２合成部と、上記第１合成信号及び上記第２合成信号を第３合成信号に合成するよう構成される第３合成部とを具えている。

実施例１２は、実施例１１のノイズ・フィルタであって、このとき、上記第２パス及び上記第４パスの夫々が、固定遅延ラインを有している。

実施例１３は、実施例１１又は１２のいずれかのノイズ・フィルタであって、このとき、上記第１可変減衰器、上記第１可変遅延ライン、上記第２可変減衰器及び上記第２可変遅延ラインの中の少なくとも１つが、コントローラによって調整される。

実施例１４は、実施例１１〜１３のいずれかのノイズ・フィルタであって、このとき、上記第１可変減衰器及び上記第２可変減衰器の中の少なくとも１つが、夫々異なる減衰量を有する複数の減衰器と、複数のスイッチとを有し、複数の上記減衰器の１つを上記第１パスに切り替えることによって調整される。

実施例１５は、実施例１１〜１４のいずれかのノイズ・フィルタであって、このとき、上記第１可変遅延ライン及び上記第２可変遅延の中の少なくとも１つが、夫々異なる遅延量を有する複数の遅延ラインと、複数のスイッチとを有し、複数の上記遅延ラインの１つを上記第１パスに切り替えることによって調整される。

実施例１６は、実施例１１〜１５のいずれかのノイズ・フィルタであって、このとき、上記第３合成部は、反転入力端子と非反転入力端子を有するバラン（balun）である。

実施例１７は、実施例１１〜１６のいずれかのノイズ・フィルタであって、このとき、上記第１合成部、上記第２合成部及び上記第３合成部の中の少なくとも１つが、マルチプレクサである。

実施例１８は、実施例１１〜１７のいずれかのノイズ・フィルタであって、上記第３合成信号を受けて、該第３合成信号を表すデジタル信号を出力するよう構成されるアナログ・デジタル・コンバータと、上記デジタル信号を受けて、フィルタ処理されたデジタル信号を出力するよう構成されるフィルタとを更に具えている。

実施例１９は、実施例１１〜１８のいずれかのノイズ・フィルタであって、このとき、上記第１及び第２スプリット信号の夫々は、実質的に上記ポジティブ信号の全帯域幅を含み、上記第３及び第４スプリット信号の夫々は、実質的に上記ネガティブ信号の全帯域幅を含む。

実施例２０は、ノイズ・フィルタであって、差動信号対のポジティブ信号を受けて、該ポジティブ信号をポジティブ高周波数帯域信号及びポジティブ低周波数帯域信号に分離するように構成される第１マルチプレクサと、上記差動信号対のネガティブ信号を受けて、該ネガティブ信号をネガティブ高周波数帯域信号及びネガティブ低周波数帯域信号に分離するように構成される第２マルチプレクサと、第１可変減衰器及び第１可変遅延ラインを有し、上記ネガティブ高周波数帯域信号を受けるよう構成される第１パスと、上記ポジティブ高周波数帯域信号を受けるよう構成される第２パスと、第２可変減衰器及び第２可変遅延ラインを有し、上記ネガティブ低周波数帯域信号を受けるよう構成される第３パスと、上記ネガティブ低周波数帯域信号を受けるよう構成される第４パスと、上記第１パスからの信号と上記第２パスからの信号とを第１合成信号に合成するよう構成される第１合成部と、上記第３パスからの信号と上記第４パスからの信号とを第２合成信号に合成するよう構成される第２合成部と、上記第１合成信号及び上記第２合成信号を第３合成信号に合成するよう構成される第３マルチプレクサとを具えている。

実施例２１は、実施例２０のノイズ・フィルタであって、このとき、上記第２パス及び上記第４パスの夫々が、固定遅延ラインを有している。

実施例２２は、実施例２０又は２１のいずれかのノイズ・フィルタであって、このとき、上記第１可変減衰器、上記第１可変遅延ライン、上記第２可変減衰器及び上記第２可変遅延ラインの少なくとも１つが、コントローラによって調整される。

実施例２３は、実施例２０〜２２のいずれかのノイズ・フィルタであって、このとき、上記第１可変減衰器及び上記第２可変減衰器の中の少なくとも１つが、夫々異なる減衰量を有する複数の減衰器と、複数のスイッチとを有し、複数の上記減衰器の１つを上記第１パスに切り替えることによって調整される。

実施例２４は、実施例２０〜２３のいずれかのノイズ・フィルタであって、このとき、上記第１可変遅延ライン及び上記第２可変遅延の中の少なくとも１つが、夫々異なる遅延量を有する複数の遅延ラインと、複数のスイッチとを有し、複数の上記遅延ラインの１つを上記第１パスに切り替えることによって調整される。

実施例２５は、実施例２０〜２４のいずれかのノイズ・フィルタであって、このとき、上記第３合成信号を受けて、該第３合成信号を表すデジタル信号を出力するよう構成されるアナログ・デジタル・コンバータと、上記デジタル信号を受けて、フィルタ処理されたデジタル信号を出力するよう構成されるフィルタとを更に具えている。

実施例２６は、方法であって、信号を、該入力信号の全帯域幅を実質的に夫々含む少なくとも第１スプリット信号及び第２スプリット信号にスプリットする処理と、可変減衰器に減衰量を設定する処理と、可変遅延ラインに遅延量を設定する処理と、上記可変減衰器により上記減衰量だけ上記第１スプリット信号を減衰する処理と、上記可変遅延ラインにより上記遅延量だけ減衰された第１スプリット信号を遅延する処理と、減衰及び遅延された上記第１スプリット信号と上記第２スプリット信号とを合成信号に合成する処理とを具えている。

実施例２７は、実施例２６の方法であって、上記第２スプリット信号と減衰及び遅延された上記第１スプリット信号とを合成する処理の前に、固定遅延ラインにより上記第２スプリット信号を遅延する処理を更に具えている。

実施例２８は、実施例２６又は２７のいずれかの方法であって、このとき、上記可変減衰器に上記減衰量を設定する処理は、複数の異なる減衰器の中の１つに切り替える処理を含む。

実施例２９は、実施例２６〜２８のいずれかの方法であって、このとき、上記可変遅延ラインに上記遅延量を設定する処理は、複数の異なる遅延ラインの中の１つに切り替える処理を含む。

実施例３０は、実施例２６〜２９のいずれかの方法であって、このとき、上記信号が第１信号であって、上記方法が、入力信号を高周波数帯域信号及び低周波数帯域信号にスプリットする処理を更に具え、このとき、上記第１信号が上記低周波数帯域信号である。

実施例３１は、実施例３０の方法であって、このとき、上記合成信号は、第１合成信号であって、上記方法が、上記第１合成信号及び上記高周波数帯域信号を第２合成信号に合成する処理を更に具える。

実施例３２は、実施例２６〜３１のいずれかの方法であって、上記合成信号を、該合成信号を表すデジタル信号に変換する処理と、試験測定装置によって加えられたノイズを入力信号から低減するために上記デジタル信号にフィルタをかける処理とを更に具えている。

実施例３３は、コンピュータ・プログラムであって、これは、ノイズ・フィルタの１つ以上のプロセッサで実行されると、上記ノイズ・フィルタに、信号を、該入力信号の全帯域幅を実質的に夫々含む少なくとも第１スプリット信号及び第２スプリット信号にスプリットさせ、可変減衰器に減衰量を設定させ、可変遅延ラインに遅延量を設定させ、上記可変減衰器により上記第１スプリット信号を減衰させ、上記可変遅延ラインにより第１スプリット信号を遅延させ、減衰及び遅延された上記第１スプリット信号と上記第２スプリット信号とを合成信号に合成させる。

実施例３４は、実施例３３のコンピュータ・プログラムであって、このとき、その命令は、更に、上記ノイズ・フィルタに、上記第２スプリット信号と減衰及び遅延された上記第１スプリット信号とを合成する処理の前に、固定遅延ラインにより上記第２スプリット信号を遅延させる。

実施例３５は、実施例３３又は３４のいずれかのコンピュータ・プログラムであって、このとき、上記可変減衰器に上記減衰量を設定する処理は、複数の異なる減衰器の中の１つに切り替える処理を含む。

実施例３６は、実施例３３〜３５のいずれかのコンピュータ・プログラムであって、このとき、上記可変遅延ラインに上記遅延量を設定する処理は、複数の異なる遅延ラインの中の１つに切り替える処理を含む。

開示された主題の上述のバージョンは、記述したか又は当業者には明らかであろう多くの効果を有する。それでも、開示された装置、システム又は方法のすべてのバージョンにおいて、これらの効果又は特徴のすべてが要求されるわけではない。

加えて、本願の記述は、特定の特徴に言及している。本明細書における開示には、これらの特定の特徴の全ての可能な組み合わせが含まれると理解すべきである。ある特定の特徴が特定の態様又は実施例の状況において開示される場合、その特徴は、可能である限り、他の態様及び実施例の状況においても利用できる。

また、本願において、２つ以上の定義されたステップ又は工程を有する方法に言及する場合、これら定義されたステップ又は工程は、状況的にそれらの可能性を排除しない限り、任意の順序で又は同時に実行しても良い。

説明の都合上、本発明の具体的な実施例を図示し、説明してきたが、本発明の要旨と範囲から離れることなく、種々の変更が可能なことが理解できよう。従って、本発明は、添付の特許請求の範囲を除いて限定されるべきではない。

１００ ノイズ・フィルタ
１０２ 直流（ＤＣ）ブロック
１０４ スプリッタ
１０６ 固定遅延ライン
１０８ 可変減衰器
１１０ 可変遅延ライン
１１２ コントローラ
１１４ 合成部
１１６ アナログ・デジタル・コンバータ
１１８ フィルタ
２００ ノイズ・フィルタ
２０２ 可変減衰器
２０４ 固定減衰器
２０６ 単極多投スイッチ
２１０ 可変遅延ライン
２１２ 固定遅延ライン
２１４ 単極多投スイッチ
３００ ノイズ・フィルタ
３０２ マルチプレクサ
３０４ マルチプレクサ
４００ ノイズ・フィルタ
４０２ スプリッタ
４０４ スプリッタ
４０６ 合成部
４０８ 合成部
５００ ノイズ・フィルタ
５０２ 合成部
６００ ノイズ・フィルタ
６０２ マルチプレクサ
６０４ マルチプレクサ
６０６ 合成部
６０８ 合成部
６１０ マルチプレクサ

Claims (13)

1. 信号を受けて、該信号を少なくとも第１スプリット信号及び第２スプリット信号にスプリットするよう構成されるスプリッタと、
   可変減衰器と、
   可変遅延ラインと
   を有し、上記第１スプリット信号を受けるよう構成される第１パスと、
   上記第２スプリット信号を受けるよう構成される第２パスと、
   上記第１パスからの信号と上記第２パスからの信号とを合成信号に合成するよう構成される合成部と
   を具えるノイズ・フィルタ。
2. 上記第２パスが固定遅延ラインを有する請求項１のノイズ・フィルタ。
3. 上記合成部が、反転入力端子と非反転入力端子を有するバランである請求項１又は２のノイズ・フィルタ。
4. 入力信号を受けて、該入力信号を高周波数帯域信号及び低周波数帯域信号に分離するよう構成されるマルチプレクサを更に具え、
   上記スプリッタで受ける上記信号が上記低周波数帯域信号である請求項１から３のいずれかのノイズ・フィルタ。
5. 上記マルチプレクサは第１マルチプレクサであり、上記合成信号は第１合成信号であって、上記ノイズ・フィルタが、上記第１合成信号及び上記高周波数帯域信号を受けて、第２合成信号を出力するよう構成される第２マルチプレクサを更に具える請求項４のノイズ・フィルタ。
6. 上記合成信号を受けて、該合成信号を表すデジタル信号を出力するよう構成されるアナログ・デジタル・コンバータと、
   上記デジタル信号を受けて、特定の時間線形イコライザ形状の応答と合致するフィルタ処理デジタル信号を出力するよう構成される再成形フィルタと
   を具える請求項１から５のいずれかのノイズ・フィルタ。
7. 差動信号対のポジティブ信号を受けて、該ポジティブ信号の全帯域幅を実質的に夫々含む少なくとも第１スプリット信号及び第２スプリット信号に上記ポジティブ信号をスプリットするよう構成される第１スプリッタと、
   上記差動信号対のネガティブ信号を受けて、該ネガティブ信号の全帯域幅を実質的に夫々含む少なくとも第３スプリット信号及び第４スプリット信号に上記ネガティブ信号をスプリットするよう構成される第２スプリッタと、
   第１可変減衰器及び第１可変遅延ラインを有し、上記第１スプリット信号を受けるよう構成される第１パスと、
   上記第２スプリット信号を受けるよう構成される第２パスと、
   第２可変減衰器及び第２可変遅延ラインを有し、上記第３スプリット信号を受けるよう構成される第３パスと、
   上記第４スプリット信号を受けるよう構成される第４パスと、
   上記第１パスからの信号と上記第４パスからの信号とを第１合成信号に合成するよう構成される第１合成部と、
   上記第２パスからの信号と上記第３パスからの信号とを第２合成信号に合成するよう構成される第２合成部と、
   上記第１合成信号及び上記第２合成信号を第３合成信号に合成するよう構成される第３合成部と
   を具えるノイズ・フィルタ。
8. 差動信号対のポジティブ信号を受けて、該ポジティブ信号の全帯域幅を実質的に夫々含む少なくとも第１スプリット信号及び第２スプリット信号に上記ポジティブ信号をスプリットするよう構成される第１スプリッタと、
   上記差動信号対のネガティブ信号を受けて、該ネガティブ信号の全帯域幅を実質的に夫々含む少なくとも第３スプリット信号及び第４スプリット信号に上記ネガティブ信号をスプリットするよう構成される第２スプリッタと、
   第１可変減衰器及び第１可変遅延ラインを有し、上記第１スプリット信号を受けるよう構成される第１パスと、
   上記第２スプリット信号を受けるよう構成される第２パスと、
   第２可変減衰器及び第２可変遅延ラインを有し、上記第３スプリット信号を受けるよう構成される第３パスと、
   上記第４スプリット信号を受けるよう構成される第４パスと、
   上記第１パスからの信号と上記第２パスからの信号とを第１合成信号に合成するよう構成される第１合成部と、
   上記第３パスからの信号と上記第４パスからの信号とを第２合成信号に合成するよう構成される第２合成部と、
   上記第１合成信号及び上記第２合成信号を第３合成信号に合成するよう構成される第３合成部と
   を具えるノイズ・フィルタ。
9. 差動信号対のポジティブ信号を受けて、該ポジティブ信号をポジティブ高周波数帯域信号及びポジティブ低周波数帯域信号に分離するように構成される第１マルチプレクサと、
   上記差動信号対のネガティブ信号を受けて、該ネガティブ信号をネガティブ高周波数帯域信号及びネガティブ低周波数帯域信号に分離するように構成される第２マルチプレクサと、
   第１可変減衰器及び第１可変遅延ラインを有し、上記ネガティブ高周波数帯域信号を受けるよう構成される第１パスと、
   上記ポジティブ高周波数帯域信号を受けるよう構成される第２パスと、
   第２可変減衰器及び第２可変遅延ラインを有し、上記ネガティブ低周波数帯域信号を受けるよう構成される第３パスと、
   上記ネガティブ低周波数帯域信号を受けるよう構成される第４パスと、
   上記第１パスからの信号と上記第２パスからの信号とを第１合成信号に合成するよう構成される第１合成部と、
   上記第３パスからの信号と上記第４パスからの信号とを第２合成信号に合成するよう構成される第２合成部と、
   上記第１合成信号及び上記第２合成信号を第３合成信号に合成するよう構成される第３マルチプレクサと
   を具えるノイズ・フィルタ。
10. 上記第３合成信号を受けて、該第３合成信号を表すデジタル信号を出力するよう構成されるアナログ・デジタル・コンバータと、
    上記デジタル信号を受けて、フィルタ処理されたデジタル信号を出力するよう構成されるフィルタと
    を更に具える請求項７から９のいずれかのノイズ・フィルタ。
11. 信号を、少なくとも第１スプリット信号及び第２スプリット信号にスプリットする処理と、
    可変減衰器に減衰量を設定する処理と、
    可変遅延ラインに遅延量を設定する処理と、
    上記可変減衰器により上記減衰量だけ上記第１スプリット信号を減衰する処理と、
    上記可変遅延ラインにより上記遅延量だけ減衰された上記第１スプリット信号を遅延する処理と、
    減衰及び遅延された上記第１スプリット信号と上記第２スプリット信号とを合成信号に合成する処理と
    を具えるノイズ低減方法。
12. 上記第２スプリット信号と減衰及び遅延された上記第１スプリット信号とを合成する処理の前に、固定遅延ラインにより上記第２スプリット信号を遅延する処理を更に具える請求項１１のノイズ低減方法。
13. 上記合成信号を、該合成信号を表すデジタル信号に変換する処理と、
    試験測定装置によって加えられたノイズを上記入力信号から低減するために上記デジタル信号にフィルタをかける処理と
    を更に具える請求項１１又は１２のノイズ低減方法。

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