JP2019136849A - Processing method of workpiece - Google Patents
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- 238000003672 processing method Methods 0.000 title claims abstract description 26
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 claims abstract description 27
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims abstract description 25
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims abstract description 24
- 239000000498 cooling water Substances 0.000 claims abstract description 19
- 238000005498 polishing Methods 0.000 claims abstract description 17
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims abstract description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 11
- 239000002313 adhesive film Substances 0.000 claims description 54
- 239000000565 sealant Substances 0.000 claims description 8
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims description 6
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 abstract description 21
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 abstract description 20
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 abstract 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 abstract 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 abstract 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 13
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 12
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 12
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 12
- 239000002390 adhesive tape Substances 0.000 description 10
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 3
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 3
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 3
- 208000032365 Electromagnetic interference Diseases 0.000 description 2
- 229920001328 Polyvinylidene chloride Polymers 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- -1 polyethylene Polymers 0.000 description 2
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 2
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 2
- 229920000098 polyolefin Polymers 0.000 description 2
- 229920000915 polyvinyl chloride Polymers 0.000 description 2
- 239000004800 polyvinyl chloride Substances 0.000 description 2
- 239000005033 polyvinylidene chloride Substances 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 229920006302 stretch film Polymers 0.000 description 2
- OEPOKWHJYJXUGD-UHFFFAOYSA-N 2-(3-phenylmethoxyphenyl)-1,3-thiazole-4-carbaldehyde Chemical compound O=CC1=CSC(C=2C=C(OCC=3C=CC=CC=3)C=CC=2)=N1 OEPOKWHJYJXUGD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WSMQKESQZFQMFW-UHFFFAOYSA-N 5-methyl-pyrazole-3-carboxylic acid Chemical compound CC1=CC(C(O)=O)=NN1 WSMQKESQZFQMFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002601 GaN Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N Gallium nitride Chemical compound [Ga]#N JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004677 Nylon Substances 0.000 description 1
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 1
- 239000004820 Pressure-sensitive adhesive Substances 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 229920001971 elastomer Polymers 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N lithium niobate Chemical compound [Li+].[O-][Nb](=O)=O GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920001778 nylon Polymers 0.000 description 1
- 229920006280 packaging film Polymers 0.000 description 1
- 239000012785 packaging film Substances 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 1
- 229920006298 saran Polymers 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920002050 silicone resin Polymers 0.000 description 1
- 229920002379 silicone rubber Polymers 0.000 description 1
- 239000004945 silicone rubber Substances 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
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Landscapes
- Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
- Grinding Of Cylindrical And Plane Surfaces (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
Description
本発明は、被加物を研削又は研磨する被加工物の加工方法に関する。 The present invention relates to a workpiece processing method for grinding or polishing an workpiece.
半導体ウェーハ等の被加工物を研削又は研磨する際には、被加工物のデバイス側に粘着テープ(グラインディングテープ)が貼着されて、デバイスがテーブルに対して直接触れることが防止されている(例えば、特許文献1参照)。研削装置又は研磨装置のチャックテーブルに粘着テープを介して被加工物のデバイス側が保持された状態で、被加工物のデバイス側とは逆側が研削ホイール又は研磨パットで加工される。このとき、被加工物のデバイスが粘着テープで保護されているため、研削時又は研磨時にデバイスが破損したり傷付いたりすることが防止される。 When grinding or polishing a workpiece such as a semiconductor wafer, an adhesive tape (grinding tape) is stuck on the device side of the workpiece to prevent the device from touching the table directly. (For example, refer to Patent Document 1). In a state where the device side of the workpiece is held on the chuck table of the grinding apparatus or the polishing apparatus via the adhesive tape, the side opposite to the device side of the workpiece is processed by the grinding wheel or the polishing pad. At this time, since the device of the workpiece is protected by the adhesive tape, the device is prevented from being damaged or damaged during grinding or polishing.
しかしながら、特許文献1に記載の加工方法では、被加工物のデバイスに粘着テープの粘着剤が直に貼着するので、デバイス側の表面状態により被加工物から粘着テープを取り除く際に粘着剤がデバイスに残ってしまっていた。粘着テープが紫外線硬化型テープであっても、デバイスに付着した粘着剤を完全に取り除くことが困難であった。 However, in the processing method described in Patent Document 1, since the adhesive of the adhesive tape is directly attached to the device of the workpiece, the adhesive is removed when the adhesive tape is removed from the workpiece due to the surface state on the device side. It was left on the device. Even if the adhesive tape is an ultraviolet curable tape, it was difficult to completely remove the adhesive attached to the device.
本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり、被加工物に粘着剤を付着させることなく被加工物を保護し、被加工物を良好に加工することができる被加工物の加工方法を提供することを目的の1つとする。 The present invention has been made in view of the above points, and provides a processing method for a workpiece that can protect the workpiece without causing an adhesive to adhere to the workpiece and can process the workpiece satisfactorily. One of the purposes is to provide it.
本発明の一態様の被加工物の加工方法は、被加工物の加工方法であって、該被加工物と同外形の絶縁体からなるシート上面の該被加工物の外周部に該当する箇所にタック性を有するシール剤を環状に塗布するシート形成ステップと、正負の電極が面方向に間隔をおいて設置された静電チャックテーブル上に、該被加工物の外周部を環状の該シール剤に位置づけた状態で該シートを介して載置する載置ステップと、該載置ステップを実施した後、該静電チャックテーブルの該正負の電極に電圧を印加し、該シート及び該被加工物それぞれに分極を発生させて吸着させつつ一体化させる電圧印加ステップと、該電圧印加ステップを実施した後、該静電チャックテーブルから一体となった該シート付き該被加工物を剥離する剥離ステップと、該シート付き被加工物を、該シートを介して加工装置のチャックテーブルに固定し、冷却水を供給しながら該被加工物の裏面側を研削又は研磨を行う加工ステップと、を備え、該静電チャックテーブルから剥離しても、分極によって該シートと該被加工物の密着が維持されることを特徴とする。 A processing method of a workpiece according to one aspect of the present invention is a processing method of a workpiece, and a portion corresponding to an outer peripheral portion of the workpiece on the upper surface of a sheet made of an insulator having the same outer shape as the workpiece. A sheet forming step in which a sealing agent having tackiness is annularly applied to an electrostatic chuck table on which positive and negative electrodes are spaced apart in the surface direction, and the outer peripheral portion of the workpiece is annularly sealed A placement step of placing the sheet through the sheet in a state of being positioned on the agent, and after performing the placement step, a voltage is applied to the positive and negative electrodes of the electrostatic chuck table, and the sheet and the workpiece A voltage applying step for causing each of the objects to be polarized and being integrated while adsorbing, and a peeling step for peeling the workpiece with the sheet integrated from the electrostatic chuck table after performing the voltage applying step And the sea A process step of fixing a workpiece to be attached to a chuck table of a processing device via the sheet and grinding or polishing a back surface side of the workpiece while supplying cooling water. Even if it peels from a table, the adhesion | attachment of this sheet | seat and this to-be-processed object is maintained by polarization.
この構成によれば、静電チャックテーブル上でシール剤付きのシートに被加工物が分極作用によって一体化されて、シートと被加工物を密着させたまま加工装置のチャックテーブルに固定することができる。研削時又は研磨時にシートが被加工物の保護テープとして機能するため、被加工物の表面を傷付けることなく被加工物の裏面を研削又は研磨することができる。シール剤によってシートと被加工物の界面への冷却水の浸入が抑えられるため、研削中又は研磨中に被加工物とシートの静電保持が解除されることがない。よって、被加工物に粘着剤を付着させることなくシートで被加工物を保護し、被加工物の裏面を良好に研削又は研磨することができる。 According to this configuration, the workpiece is integrated with the sheet with the sealant on the electrostatic chuck table by the polarization action, and can be fixed to the chuck table of the processing apparatus while the sheet and the workpiece are in close contact with each other. it can. Since the sheet functions as a protective tape for the workpiece during grinding or polishing, the back surface of the workpiece can be ground or polished without damaging the surface of the workpiece. Since the sealing agent prevents the cooling water from entering the interface between the sheet and the workpiece, electrostatic holding between the workpiece and the sheet is not released during grinding or polishing. Therefore, it is possible to protect the workpiece with the sheet without attaching an adhesive to the workpiece, and to satisfactorily grind or polish the back surface of the workpiece.
本発明の一態様の被加工物の他の加工方法は、被加工物の加工方法であって、該被加工物の表面に絶縁体からなる密着性フィルムを貼着するフィルム貼着ステップと、該フィルム貼着ステップを実施した後に、正負の電極が面方向に間隔をおいて設置された静電チャックテーブルに載置し、該静電チャックテーブルの該正負の電極に電圧を印加し、該密着性フィルム及び該被加工物それぞれに分極を発生させて吸着させつつ一体化させる電圧印加ステップと、該電圧印加ステップを実施した後、一体となった該密着性フィルム付き該被加工物を該静電チャックテーブルから剥離する剥離ステップと、該密着性フィルム付き被加工物を、該密着性フィルムを介して加工装置のチャックテーブルに固定し、冷却水を供給しながら該被加工物の裏面側を研削又は研磨を行う加工ステップと、を備え、該静電チャックテーブルから剥離しても、分極によって該密着性フィルムと該被加工物の密着が維持されることを特徴とする。 Another processing method of the workpiece of one embodiment of the present invention is a processing method of a workpiece, and a film sticking step of sticking an adhesive film made of an insulator on the surface of the workpiece; After performing the film adhering step, the positive and negative electrodes are placed on the electrostatic chuck table installed at intervals in the surface direction, a voltage is applied to the positive and negative electrodes of the electrostatic chuck table, A voltage application step for generating and adhering polarization to each of the adhesive film and the workpiece, and integrating the workpiece with the adhesive film integrated after the voltage application step is performed. A peeling step for peeling from the electrostatic chuck table, and the work piece with the adhesive film is fixed to the chuck table of the processing apparatus via the adhesive film, and the back surface of the work piece is supplied while supplying cooling water. And a processing step of performing grinding or polishing, and even peeled from the electrostatic chuck table, wherein the adhesion of said seal adhesive film and the workpiece is maintained by the polarization.
この構成によれば、静電チャックテーブル上で密着性フィルムに被加工物が分極作用によって一体化されて、密着性フィルムと被加工物を密着させたまま加工装置のチャックテーブルに固定することができる。研削時又は研磨時に密着性フィルムが被加工物の保護テープとして機能するため、被加工物の表面を傷付けることなく被加工物の裏面を研削又は研磨することができる。密着性フィルムと被加工物の界面への冷却水の浸入が抑えられるため、研削中又は研磨中に被加工物と密着性フィルムの静電保持が解除されることがない。よって、被加工物に粘着剤を付着させることなく密着性フィルムで被加工物を保護し、被加工物の裏面を良好に研削又は研磨することができる。 According to this configuration, the workpiece is integrated with the adhesive film on the electrostatic chuck table by the polarization action, and can be fixed to the chuck table of the processing apparatus while the adhesive film and the workpiece are in close contact with each other. it can. Since the adhesive film functions as a protective tape for the workpiece during grinding or polishing, the back surface of the workpiece can be ground or polished without damaging the surface of the workpiece. Since entry of cooling water into the interface between the adhesive film and the workpiece is suppressed, electrostatic holding between the workpiece and the adhesive film is not released during grinding or polishing. Therefore, the work piece can be protected with the adhesive film without causing the adhesive to adhere to the work piece, and the back surface of the work piece can be satisfactorily ground or polished.
本発明によれば、シール剤付きのシート又は密着性フィルムに対して被加工物を分極作用によって密着させることで、被加工物に粘着剤を付着させることなく被加工物を保護することができ、被加工物の裏面を良好に研削又は研磨することができる。 According to the present invention, a workpiece can be protected without attaching a pressure-sensitive adhesive to the workpiece by adhering the workpiece to the sheet or adhesive film with the sealant by a polarization action. The back surface of the workpiece can be ground or polished satisfactorily.
以下、添付図面を参照して、本実施の形態の被加工物の加工方法について説明する。先ず、加工対象となる被加工物について説明する。図1は、本実施の形態の被加工物の斜視図である。図2は、比較例の被加工物の加工方法の一例を示す図である。 Hereinafter, a processing method of a workpiece according to the present embodiment will be described with reference to the accompanying drawings. First, a workpiece to be processed will be described. FIG. 1 is a perspective view of a workpiece according to the present embodiment. FIG. 2 is a diagram illustrating an example of a method for processing a workpiece according to a comparative example.
図1に示すように、被加工物Wの表面は格子状の分割予定ラインLによって複数の領域に区画されており、分割予定ラインLによって区画された各領域にはデバイスDが形成されている。このような被加工物Wを研削又は研磨する際には、被加工物Wの表面に保護テープTが貼着されて、保護テープTによってデバイスDを保護した状態で被加工物Wの裏面が研削又は研磨されている。ところで通常は、保護テープTとしてテープ基材に粘着層を積層して形成した粘着テープが使用される。粘着テープは高価であると共に、被加工物Wから粘着テープを剥離してもデバイスDに粘着剤が残るという不具合がある。 As shown in FIG. 1, the surface of the workpiece W is partitioned into a plurality of regions by a grid-like division planned line L, and a device D is formed in each region partitioned by the planned division line L. . When grinding or polishing such a workpiece W, a protective tape T is attached to the surface of the workpiece W, and the back surface of the workpiece W is protected with the protective tape T protecting the device D. It is ground or polished. Normally, an adhesive tape formed by laminating an adhesive layer on a tape base material is used as the protective tape T. The adhesive tape is expensive, and there is a problem that the adhesive remains in the device D even if the adhesive tape is peeled off from the workpiece W.
このため、図2Aに示すように、保護テープTとして安価かつ粘着剤を使用しない静電保持テープ15を使用することが検討されている。静電保持テープ15は、絶縁性材料でシート状に形成されており、一般的な粘着テープと比べてコストを低減することができる。また、静電チャックテーブル(不図示)上に静電保持テープ15を介して被加工物Wを載置して、静電保持テープ15と被加工物Wに分極作用を生じさせることで、粘着剤を使用せずに静電保持テープ15と被加工物Wを一体化させることができる。このため、被加工物Wから静電保持テープ15を剥離してもデバイスDに粘着剤が残ることがない。
For this reason, as shown in FIG. 2A, the use of an inexpensive
しかしながら、図2Bに示すように、静電保持テープ15の表面には微細な凹凸があり、静電保持テープ15と被加工物Wの密着性が十分ではない。このため、研削手段31による研削中に静電保持テープ15と被加工物Wの微小な隙間から冷却水が浸入して、静電保持テープ15から被加工物Wが外れてしまうおそれがあった。そこで、第1の実施の形態の被加工物Wの加工方法では、保護テープTとしてシール剤11付きのシート10を用い、分極作用によってシート10と被加工物Wを密着させて、シール剤11によって冷却水の浸入による静電保持の解除を防止している(図4参照)。
However, as shown in FIG. 2B, the surface of the
以下、第1の実施の形態の被加工物の加工方法について説明する。図3及び図4は、第1の実施の形態の被加工物の加工方法の説明図である。図3Aはシート形成ステップ、図3Bは載置ステップ、図3Cは電圧印加ステップ、図4Aは剥離ステップ、図4B及び図4Cは加工ステップのそれぞれ一例を示す図である。 Hereinafter, the processing method of the to-be-processed object of 1st Embodiment is demonstrated. 3 and 4 are explanatory views of the processing method of the workpiece according to the first embodiment. 3A shows an example of a sheet forming step, FIG. 3B shows a placement step, FIG. 3C shows an example of a voltage application step, FIG. 4A shows a peeling step, and FIGS. 4B and 4C show processing examples.
図3Aに示すように、先ずシート形成ステップが実施される。シート形成ステップでは、回転テーブル20上に円形のシート10が載置され、シート10の外周の上方にディスペンサ21が位置付けられている。シート10は、被加工物W(図3B参照)と同外形の絶縁体から成り、被加工物WのデバイスDを保護する保護テープとして使用される。ディスペンサ21には、乾燥硬化するとタック性を有するシール剤11が充填されている。シート10の外周部にディスペンサ21が位置づけられると、回転テーブル20が回転されながらディスペンサ21からシート10上面にシール剤11が供給される。
As shown in FIG. 3A, a sheet forming step is first performed. In the sheet forming step, the
これにより、シート10上面の被加工物Wの外周部に該当する箇所にシール剤11が環状に塗布され、シール剤11が乾燥硬化されることでシール剤11付きのシート10が形成される。なお、シート10には、例えば、ポリエチレンフィルム、ナイロンシート、ラップフィルム、シリコーンシートといった樹脂製材料が使用されている。また、シール剤11は軟質性の樹脂でタック性を持つものであればよく、例えば、シリコーン樹脂(シリコーンゴム)で構成されていてもよい。ここで、タック性とは、粘着剤や接着剤を使用することなく、ゴム特性によって固体表面に付着する性質、いわゆる自己粘着性を意味している。タック性を持った材質が固体表面に隙間なく密着することで、固体表面を傾けた程度では剥がれることがない。
Thereby, the sealing
図3Bに示すように、シート形成ステップが実施された後に載置ステップが実施される。載置ステップでは、静電チャックテーブル25上にシート10を介して被加工物Wが載置される。このとき、被加工物Wの外周部がシート10の外周部に設けられた環状のシール剤11に位置付けられており、シール剤11のタック性によってシール剤11が被加工物Wの外周部に密着している。静電チャックテーブル25は、載置された物体との間に静電気力(グラジエント力)を発生させるグラジエント型の静電チャックを採用し、樹脂シート26に正負の電極27、28を形成して構成されている。正負の電極27、28は、樹脂シート26の面方向に間隔をおいて交互に設置されている。
As shown in FIG. 3B, the placing step is performed after the sheet forming step. In the placing step, the workpiece W is placed on the electrostatic chuck table 25 via the
樹脂シート26は、PET(Poly Ethylene Terephthalate)等の絶縁性材料で円形に形成されている。正負の電極27、28は、酸化インジウムスズ(Indium Tin Oxide)等の透明電極で形成され、隣り合う正負の電極27、28同士が離間することで電気的に絶縁されている。正の電極27には給電端子を介して電源29のプラス端子が接続され、負の電極28には給電端子を介して電源29のマイナス端子が接続されている。また、静電チャックテーブル25の樹脂シート26及び正負の電極27、28はそれぞれ可撓性を有しており、静電チャックテーブル25を撓ませることが可能になっている。なお、詳細は省略するが、静電チャックテーブル25は、樹脂シート26を下方から支持するシリコン、ガラス、石英、セラミックス等で形成された基台を備えていてもよい。
The
図3Cに示すように、載置ステップが実施された後に電圧印加ステップが実施される。電圧印加ステップでは、静電チャックテーブル25の正負の電極27、28に電圧が印加され、シート10及び被加工物Wのそれぞれに分極が発生して吸着される。この場合、正の電極27にはプラスの電圧が印加され、負の電極28にはマイナスの電圧が印加されて、シート10及び被加工物Wにはプラスの電荷とマイナスの電荷が互い違いに生じて一体化される。また、シート10と被加工物Wが引き寄せられることで、シート10の外周部のシール剤11が僅かに潰れて被加工物Wとシール剤11とが隙間なく接触される。
As shown in FIG. 3C, the voltage application step is performed after the placement step is performed. In the voltage application step, a voltage is applied to the positive and
具体的には、所定時間に亘って正の電極27にプラスの電圧、負の電極28にマイナスの電圧が印加されると、シート10と被加工物Wに誘電分極が発生して、互いの正負の電荷が引き寄せられることで静電気力が発生する。ここでシート10及びシール剤11の厚みを100μm以下にすることで、シート10を介していても被加工物Wにも誘電分極を良好に生じさせることができる。また、絶縁材のシート10を使用することで、分極状態が維持され易く、シート10付きの被加工物Wを静電チャックテーブル25から剥離してもシート10と被加工物Wの密着が所定期間(例えば、1−2週間)に亘って維持される。なお、正負の電極27、28の形状、大きさ、間隔を調整することで密着状態を良好に維持することが可能である。
Specifically, when a positive voltage is applied to the
図4Aに示すように、電圧印加ステップが実施された後に剥離ステップが実施される。剥離ステップでは、静電チャックテーブル25から一体となったシート10付きの被加工物Wが剥離される。この場合、静電チャックテーブル25の外周縁が掴まれて、静電チャックテーブル25を撓ませながらシート10から引き剥がされる。シート10から静電チャックテーブル25が剥離された後でも、分極によってシート10と被加工物Wの密着が維持されている。なお、剥離ステップは、剥離装置(不図示)によって静電チャックテーブル25が剥離されてもよいし、オペレータによって静電チャックテーブル25が手動で剥離されてもよい。
As shown in FIG. 4A, the peeling step is performed after the voltage application step is performed. In the peeling step, the workpiece W with the
図4Bに示すように、剥離ステップが実施された後に加工ステップが実施される。加工ステップでは、シート10付きの被加工物Wが加工装置(不図示)のチャックテーブル30に搬送され、被加工物Wの裏面側を上方に向けた状態で表面側がシート10を介してチャックテーブル30に固定される。チャックテーブル30の上方には研削手段31が位置付けられており、研削手段31の研削ホイール32がチャックテーブル30上の被加工物Wに近づけられる。そして、冷却水が供給されながら、被加工物Wの裏面側が研削ホイール32によって研削される。
As shown in FIG. 4B, the processing step is performed after the peeling step is performed. In the processing step, the workpiece W with the
図4Cに示すように、研削時にはタック性を持ったシール剤11が被加工物Wに密着しているため、シール剤11によってシート10と被加工物Wの界面への冷却水の浸入が抑えられている。よって、冷却水によってシート10と被加工物Wの静電保持が阻害されることがなく、研削中にシート10から被加工物Wが外れることが防止されている。このように、冷却水を用いた加工であっても、分極によってシート10と被加工物Wの密着が維持されるため、粘着剤の無いシート10を研削時の保護テープとして使用することができる。よって、被加工物Wからシール剤11付きのシート10を剥離してもデバイスDに粘着剤が残ることがない。
As shown in FIG. 4C, since the sealing
以上のように、第1の実施の形態の被加工物Wの加工方法によれば、静電チャックテーブル25上でシール剤11付きのシート10に被加工物Wが分極作用によって一体化されて、シート10と被加工物Wを密着させたまま加工装置のチャックテーブル30に固定することができる。研削時にシート10が被加工物Wの保護テープとして機能するため、被加工物WのデバイスDを傷付けることなく被加工物Wの裏面を研削することができる。シール剤11によってシート10と被加工物Wの界面への冷却水の浸入が抑えられるため、研削中に被加工物Wとシート10の静電保持が解除されることがない。よって、被加工物Wに粘着剤を付着させることなくシート10でデバイスDを保護することができ、被加工物Wの裏面を良好に研削することができる。
As described above, according to the processing method for the workpiece W according to the first embodiment, the workpiece W is integrated with the
続いて、第2の実施の形態の被加工物の加工方法について説明する。第2の実施の形態は、シール剤付きのシートの代わりに密着性フィルムを用いた点で第1の実施の形態と相違している。図5及び図6は、第2の実施の形態の被加工物の加工方法の説明図である。図5Aはフィルム貼着ステップ、図5B及び図5Cは電圧印加ステップ、図6Aは剥離ステップ、図6B及び図6Cは加工ステップのそれぞれ一例を示す図である。 Then, the processing method of the to-be-processed object of 2nd Embodiment is demonstrated. The second embodiment is different from the first embodiment in that an adhesive film is used instead of a sheet with a sealant. 5 and 6 are explanatory diagrams of the processing method of the workpiece according to the second embodiment. FIG. 5A shows an example of a film sticking step, FIG. 5B and FIG. 5C show an example of a voltage application step, FIG. 6A shows a peeling step, and FIG. 6B and FIG.
図5Aに示すように、先ずフィルム貼着ステップが実施される。フィルム貼着ステップでは、被加工物Wの表面に絶縁体からなる密着性フィルム13が貼着される。密着性フィルム13は、自己粘着性を持ったストレッチフィルムであり、例えば、ポリ塩化ビニリデン樹脂(PVDC)、ポリ塩化ビニル樹脂(PVC)、ポリオレフィン(PO)樹脂、又はこれらの多層フィルムで形成される。特に、密着性フィルム13として、食品包装用フィルムに使用されるサランラップ(登録商標)、NEWクレラップ(登録商標)等の塩化ビニリデン製のストレッチフィルムが使用されることが好ましい。なお、密着性フィルム13は、密着性フィルム13を介して被加工物Wに誘電分極が発生するように100μm以下の厚みで形成されている。
As shown to FIG. 5A, a film sticking step is first implemented. In the film sticking step, the
第2の実施の形態では、密着性フィルム13を使用するため、第1の実施の形態とは異なり、シール剤11(図3A参照)の塗布作業及び乾燥作業が不要になる。よって、作業工数を減らした分だけ作業時間を短縮することが可能になっている。なお、フィルム貼着ステップは、貼着装置(不図示)によって被加工物Wの表面に密着性フィルム13が貼着されてもよいし、オペレータによって被加工物Wの表面に手動で密着性フィルム13が貼着されてもよい。密着性フィルム13の自己粘着性とは、粘着剤を使用することなくフィルムが自分で粘着する性質を意味している。
In the second embodiment, since the
図5Bに示すように、フィルム貼着ステップが実施された後に電圧印加ステップが実施される。電圧印加ステップでは、静電チャックテーブル25上に密着性フィルム13を介して被加工物Wが載置される。このとき、被加工物Wの表面には密着性フィルム13が自己粘着性によって貼り付いており、被加工物WのデバイスDが密着性フィルム13によって保護されている。静電チャックテーブル25は、第1の実施の形態と同様な構成であり、樹脂シート26の表面に正負の電極27、28が面方向に間隔をおいて交互に設置されると共に、可撓性を有したテーブル状に形成されている。
As shown in FIG. 5B, the voltage application step is performed after the film sticking step is performed. In the voltage application step, the workpiece W is placed on the electrostatic chuck table 25 via the
図5Cに示すように、静電チャックテーブル25上に密着性フィルム13及び被加工物Wが載置されると、静電チャックテーブル25の正負の電極27、28に電圧が印加され、密着性フィルム13及び被加工物Wのそれぞれに分極が発生して吸着される。この場合、正の電極27にはプラスの電圧が印加され、負の電極28にはマイナスの電圧が印加されて、密着性フィルム13及び被加工物Wにはプラスの電荷とマイナスの電荷が互い違いに生じて一体化される。これにより、密着性フィルム13の自己粘着性に加えて、静電保持によって被加工物Wの表面に密着性フィルム13が隙間なく密着される。
As shown in FIG. 5C, when the
図6Aに示すように、電圧印加ステップが実施された後に剥離ステップが実施される。剥離ステップでは、静電チャックテーブル25から一体となった密着性フィルム13付きの被加工物Wが剥離される。この場合、静電チャックテーブル25の外周縁が掴まれて、静電チャックテーブル25を撓ませながら密着性フィルム13から引き剥がされる。密着性フィルム13から静電チャックテーブル25が剥離された後でも、分極によって密着性フィルム13と被加工物Wの密着が維持されている。なお、剥離ステップは、剥離装置(不図示)によって静電チャックテーブル25が剥離されてもよいし、オペレータによって静電チャックテーブル25が手動で剥離されてもよい。
As shown in FIG. 6A, the peeling step is performed after the voltage application step is performed. In the peeling step, the workpiece W with the
図6Bに示すように、剥離ステップが実施された後に加工ステップが実施される。加工ステップでは、密着性フィルム13付きの被加工物Wが加工装置(不図示)のチャックテーブル30に搬送され、被加工物Wの裏面側を上方に向けた状態で表面側が密着性フィルム13を介してチャックテーブル30に固定される。チャックテーブル30の上方には研削手段31が位置付けられており、研削手段31の研削ホイール32がチャックテーブル30上の被加工物Wに近づけられる。そして、冷却水が供給されながら、被加工物Wの裏面側が研削ホイール32によって研削される。
As shown in FIG. 6B, the processing step is performed after the peeling step is performed. In the processing step, the workpiece W with the
図6Cに示すように、研削時には密着性フィルム13が被加工物Wに隙間なく密着しているため、密着性フィルム13と被加工物Wの界面への冷却水の浸入が抑えられている。よって、冷却水によって密着性フィルム13と被加工物Wの静電保持が阻害されることがなく、研削中に密着性フィルム13から被加工物Wが外れることが防止されている。このように、冷却水を用いた加工であっても、分極によって密着性フィルム13と被加工物Wの密着が維持されるため、粘着剤の無い密着性フィルム13を研削時の保護テープとして使用することができる。よって、被加工物Wから密着性フィルム13付きのシート10を剥離してもデバイスDに粘着剤が残ることがない。
As shown in FIG. 6C, since the
以上のように、第2の実施の形態の被加工物Wの加工方法によれば、静電チャックテーブル25上で密着性フィルム13に被加工物Wが分極作用によって一体化されて、密着性フィルム13と被加工物Wを密着させたまま加工装置のチャックテーブル30に固定することができる。研削時に密着性フィルム13が被加工物Wの保護テープとして機能するため、被加工物WのデバイスDを傷付けることなく被加工物Wの裏面を研削することができる。密着性フィルム13と被加工物Wの界面への冷却水の浸入が抑えられるため、研削中に被加工物Wと密着性フィルム13の静電保持が解除されることがない。よって、被加工物Wに粘着剤を付着させることなく密着性フィルム13のデバイスDを保護することができ、被加工物Wの裏面を良好に研削することができる。
As described above, according to the processing method of the workpiece W according to the second embodiment, the workpiece W is integrated with the
なお、第1の実施の形態では、シート形成ステップでシール剤を乾燥硬化させる構成にしたが、熱を加えることでシール剤を硬化させてもよいし、紫外線の照射によってシール剤を硬化させてもよい。 In the first embodiment, the sealing agent is dried and cured in the sheet forming step. However, the sealing agent may be cured by applying heat, or the sealing agent is cured by irradiation with ultraviolet rays. Also good.
また、第1、第2の実施の形態では、加工ステップとして被加工物の裏面を研削する構成にしたが、この構成に限定されない。加工ステップとして被加工物の裏面を研磨する構成にしてもよい。 In the first and second embodiments, the back surface of the workpiece is ground as the processing step. However, the present invention is not limited to this configuration. You may make it the structure which grind | polishes the back surface of a workpiece as a process step.
また、第1、第2の実施の形態では、静電チャックテーブルに正負の電極が交互に設置される構成にしたが、この構成に限定されない。静電チャックテーブルには正負の電極が間隔を空けて設置されていればよく、電極数や電極の配置構成は特に限定されない。 In the first and second embodiments, positive and negative electrodes are alternately installed on the electrostatic chuck table. However, the present invention is not limited to this configuration. It is only necessary that positive and negative electrodes be installed on the electrostatic chuck table with an interval therebetween, and the number of electrodes and the arrangement of the electrodes are not particularly limited.
また、被加工物として、加工の種類に応じて、半導体基板、無機材料基板、パッケージ基板等の各種ワークが用いられてもよい。半導体基板としては、シリコン、ヒ化ガリウム、窒化ガリウム、シリコンカーバイド等の各種基板が用いられてもよい。無機材料基板としては、サファイア、セラミックス、ガラス等の各種基板が用いられてもよい。半導体基板及び無機材料基板はデバイスが形成されていてもよいし、デバイスが形成されていなくてもよい。パッケージ基板としては、CSP(Chip Size Package)、WLCSP(Wafer Level Chip Size Package)、SIP(System In Package)、FOWLP(Fan Out Wafer Level Package)用の各種基板が用いられてもよい。パッケージ基板にはEMI(Electro Magnetic Interference)対策のシールドが形成されていてもよい。また、被加工物として、デバイス形成後又はデバイス形成前のリチウムタンタレート、リチウムナイオベート、さらに生セラミックス、圧電素材が用いられてもよい。 Various workpieces such as a semiconductor substrate, an inorganic material substrate, and a package substrate may be used as the workpiece depending on the type of processing. As the semiconductor substrate, various substrates such as silicon, gallium arsenide, gallium nitride, and silicon carbide may be used. Various substrates such as sapphire, ceramics, and glass may be used as the inorganic material substrate. A device may be formed on the semiconductor substrate and the inorganic material substrate, or the device may not be formed. As the package substrate, various substrates for CSP (Chip Size Package), WLCSP (Wafer Level Chip Size Package), SIP (System In Package), and FOWLP (Fan Out Wafer Level Package) may be used. A shield against EMI (Electro Magnetic Interference) may be formed on the package substrate. Further, lithium tantalate, lithium niobate, green ceramics, or piezoelectric material after device formation or before device formation may be used as the workpiece.
また、本実施の形態及び変形例を説明したが、本発明の他の実施の形態として、上記実施の形態及び変形例を全体的又は部分的に組み合わせたものでもよい。 Moreover, although this Embodiment and the modified example were demonstrated, what combined the said embodiment and modified example entirely or partially as another embodiment of this invention may be sufficient.
また、本発明の実施の形態及び変形例は上記の実施の形態に限定されるものではなく、本発明の技術的思想の趣旨を逸脱しない範囲において様々に変更、置換、変形されてもよい。さらには、技術の進歩又は派生する別技術によって、本発明の技術的思想を別の仕方で実現することができれば、その方法を用いて実施されてもよい。したがって、特許請求の範囲は、本発明の技術的思想の範囲内に含まれ得る全ての実施形態をカバーしている。 The embodiments and modifications of the present invention are not limited to the above-described embodiments, and various changes, substitutions, and modifications may be made without departing from the spirit of the technical idea of the present invention. Furthermore, if the technical idea of the present invention can be realized in another way by technological advancement or another derived technique, the method may be used. Accordingly, the claims cover all embodiments that can be included within the scope of the technical idea of the present invention.
また、本実施の形態では、本発明を被加工物の研削方法及び研磨方法に適用した構成について説明したが、保護テープでデバイスを保護しながら被加工物を加工する他の加工方法に適用することも可能である。 In the present embodiment, the configuration in which the present invention is applied to the workpiece grinding method and polishing method has been described. However, the present invention is applied to other processing methods for processing a workpiece while protecting the device with a protective tape. It is also possible.
以上説明したように、本発明は、被加工物に粘着剤を付着させることなく被加工物を保護することができ、被加工物を良好に加工することができるという効果を有し、特に、被加物を研削又は研磨する被加工物の加工方法に有効である。 As described above, the present invention can protect the workpiece without attaching an adhesive to the workpiece, and has an effect that the workpiece can be processed satisfactorily. It is effective for a processing method of a workpiece for grinding or polishing the workpiece.
10 シート
11 シール剤
13 密着性フィルム
25 静電チャックテーブル
26 樹脂シート
27 正の電極
28 負の電極
30 チャックテーブル
31 研削手段
W 被加工物
DESCRIPTION OF
Claims (2)
該被加工物と同外形の絶縁体からなるシート上面の該被加工物の外周部に該当する箇所にタック性を有するシール剤を環状に塗布するシート形成ステップと、
正負の電極が面方向に間隔をおいて設置された静電チャックテーブル上に、該被加工物の外周部を環状の該シール剤に位置づけた状態で該シートを介して載置する載置ステップと、
該載置ステップを実施した後、該静電チャックテーブルの該正負の電極に電圧を印加し、該シート及び該被加工物それぞれに分極を発生させて吸着させつつ一体化させる電圧印加ステップと、
該電圧印加ステップを実施した後、該静電チャックテーブルから一体となった該シート付き該被加工物を剥離する剥離ステップと、
該シート付き被加工物を、該シートを介して加工装置のチャックテーブルに固定し、冷却水を供給しながら該被加工物の裏面側を研削又は研磨を行う加工ステップと、を備え、
該静電チャックテーブルから剥離しても、分極によって該シートと該被加工物の密着が維持されることを特徴とする被加工物の加工方法。 A processing method for a workpiece,
A sheet forming step of annularly applying a sealing agent having tackiness to a portion corresponding to the outer peripheral portion of the workpiece on the upper surface of the sheet made of an insulator having the same outer shape as the workpiece;
A placing step for placing the outer peripheral portion of the workpiece on the electrostatic chuck table in which positive and negative electrodes are spaced apart in the plane direction with the outer peripheral portion of the workpiece positioned on the annular sealant via the sheet. When,
A voltage applying step of applying a voltage to the positive and negative electrodes of the electrostatic chuck table after performing the placing step, and generating a polarization to each of the sheet and the work piece while adsorbing them;
A peeling step of peeling the workpiece with the sheet integrated from the electrostatic chuck table after performing the voltage application step;
The workpiece with the sheet is fixed to a chuck table of a processing apparatus via the sheet, and a processing step of grinding or polishing the back side of the workpiece while supplying cooling water is provided.
A method of processing a workpiece, wherein even if the electrostatic chuck table is peeled off, the adhesion between the sheet and the workpiece is maintained by polarization.
該被加工物の表面に絶縁体からなる密着性フィルムを貼着するフィルム貼着ステップと、
該フィルム貼着ステップを実施した後に、正負の電極が面方向に間隔をおいて設置された静電チャックテーブルに載置し、該静電チャックテーブルの該正負の電極に電圧を印加し、該密着性フィルム及び該被加工物それぞれに分極を発生させて吸着させつつ一体化させる電圧印加ステップと、
該電圧印加ステップを実施した後、一体となった該密着性フィルム付き該被加工物を該静電チャックテーブルから剥離する剥離ステップと、
該密着性フィルム付き被加工物を、該密着性フィルムを介して加工装置のチャックテーブルに固定し、冷却水を供給しながら該被加工物の裏面側を研削又は研磨を行う加工ステップと、を備え、
該静電チャックテーブルから剥離しても、分極によって該密着性フィルムと該被加工物の密着が維持されることを特徴とする被加工物の加工方法。 A processing method for a workpiece,
A film sticking step for sticking an adhesive film made of an insulator to the surface of the workpiece;
After performing the film adhering step, the positive and negative electrodes are placed on the electrostatic chuck table installed at intervals in the surface direction, a voltage is applied to the positive and negative electrodes of the electrostatic chuck table, A voltage application step for integrating the adhesion film and the work piece while generating and adsorbing polarization, and
After performing the voltage application step, a peeling step of peeling the workpiece with the adhesive film integrated from the electrostatic chuck table;
A processing step of fixing the workpiece with the adhesive film to the chuck table of the processing apparatus via the adhesive film and grinding or polishing the back side of the workpiece while supplying cooling water. Prepared,
A method of processing a workpiece, wherein the adhesion between the adhesive film and the workpiece is maintained by polarization even after peeling from the electrostatic chuck table.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Applications Claiming Priority (1)
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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Country Status (1)
Country | Link |
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