JP2019133730A - ディスク装置、及びディスク装置の製造方法 - Google Patents

Abstract

【課題】ディスク媒体におけるデータ容量を容易に向上できるディスク装置を提供する。【解決手段】ディスク装置１００では、ヘッド１２２は、第１のリード素子Ｒ１及び第２のリード素子Ｒ２を有する。ディスク媒体１１１は、複数のゾーンに分割されている。複数のゾーンは、第１のゾーンと第２のゾーンとを含む。第１のゾーンは、サーボ領域とデータ領域とが配されたトラックでありサーボ領域内におけるヘッドのトラック中心からのオフトラック量を検出するためのサーボバースト領域が第１のビット長を有するトラックを複数含む。第２のゾーンは、サーボ領域とデータ領域とが配されたトラックでありサーボ領域内におけるヘッドのトラック中心からのオフトラック量を検出するためのサーボバースト領域が第２のビット長を有するトラックを複数含む。第２のビット長は、第１のビット長より短い。【選択図】図１

Description

本実施形態は、ディスク装置、及びディスク装置の製造方法に関する。

サーボ領域及びデータ領域がそれぞれ配された複数のトラックを有するディスク媒体を有するディスク装置では、サーボ領域の情報を用いてヘッドの位置決めを行い、データ領域に対してデータのライト及び／又はリードを行う。このとき、ディスク媒体におけるデータ容量の向上が望まれる。

米国特許出願公開第２０１５／０３３２７１９号明細書

一つの実施形態は、ディスク媒体におけるデータ容量を容易に向上できるディスク装置、及びディスク装置の製造方法を提供することを目的とする。

一つの実施形態によれば、ヘッドとディスク媒体とを有するディスク装置が提供される。ヘッドは、第１のリード素子及び第２のリード素子を有する。ディスク媒体は、複数のゾーンに分割されている。複数のゾーンは、第１のゾーンと第２のゾーンとを含む。第１のゾーンは、サーボ領域とデータ領域とが配されたトラックでありサーボ領域内におけるヘッドのトラック中心からのオフトラック量を検出するためのサーボバースト領域が第１のビット長を有するトラックを複数含む。第２のゾーンは、サーボ領域とデータ領域とが配されたトラックでありサーボ領域内におけるヘッドのトラック中心からのオフトラック量を検出するためのサーボバースト領域が第２のビット長を有するトラックを複数含む。第２のビット長は、第１のビット長より短い。

図１は、第１の実施形態に係るディスク装置の構成を示す図である。 図２は、第１の実施形態におけるディスク媒体の構成を示す図である。 図３は、第１の実施形態におけるヘッドの構成を示す図である。 図４は、第１の実施形態におけるヘッドの動作を示す図である。 図５は、第１の実施形態におけるバーストパターンの検出結果を示す図である。 図６は、第１の実施形態における半径方向におけるバーストパターンの繰り返し長を示す図である。 図７は、第１の実施形態におけるコントローラの構成を示す図である。 図８は、第１の実施形態におけるＮＵＬＬバースト変換部の構成を示す図である。 図９は、第１の実施形態に係るディスク装置の製造方法を示すフローチャートである。 図１０は、第１の実施形態におけるオフセット量導出処理を示すフローチャートである。 図１１は、第１の実施形態におけるオフセット量測定処理を示すフローチャートである。 図１２は、第１の実施形態におけるオフセット量の測定結果を示す図である。 図１３は、第１の実施形態におけるヘッドのオフトラック量の検出結果を示す図である。 図１４は、第２の実施形態におけるオフセット量導出処理を示す図である。 図１５は、第２の実施形態におけるコントローラの構成を示す図である。 図１６は、第２の実施形態におけるＮＵＬＬバースト変換部の構成を示す図である。 図１７は、第２の実施形態におけるオフセット量導出処理を示す図である。 図１８は、第２の実施形態におけるヘッドの異なる移動速度に対応するオフセット量を示す図である。 図１９は、第２の実施形態におけるヘッドの移動速度に応じたオフセット量の変化を示す図である。 図２０は、第３の実施形態におけるヘッドの構成を示す図である。 図２１は、第３の実施形態におけるディスク媒体の構成を示す図である。 図２２は、第３の実施形態におけるコントローラの構成を示す図である。 図２３は、第３の実施形態におけるオフセット補正値のデータ構造を示す図である。

以下に添付図面を参照して、実施形態にかかるディスク装置を詳細に説明する。なお、この実施形態により本発明が限定されるものではない。

（第１の実施形態）
第１の実施形態にかかるディスク装置１００について図１を用いて説明する。図１は、ディスク装置１００の構成を示す図である。

ディスク装置１００は、例えば、ヘッド１２２を介してディスク媒体１１１に情報を記録し、ヘッド１２２を介してディスク媒体１１１から信号を読み出す装置（例えば、ディスク装置やハードディスク装置）である。具体的には、ディスク装置１００は、ディスク媒体１１１、スピンドルモータ（ＳＰＭ）１１２、モータドライバ１２１、ヘッド１２２、アクチュエータアーム１１５、ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）１１６、ヘッドアンプ１２４、リードライトチャネル（ＲＷＣ）１２５、ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）１３１、バッファメモリ１２９、及び制御部１２６を備える。

ディスク媒体１１１は、外形φ９５ｍｍの磁気記録媒体であり、ＳＰＭ１１２により、回転軸を中心に所定の回転速度で回転される。ＳＰＭ１１２は、モータドライバ１２１により回転駆動される。ディスク装置１００は、複数枚のディスク媒体１１１を有し得るが、説明及び図示の簡略化のため、１枚のディスク媒体１１１について中心に説明する。

ディスク媒体１１１の一例として、３．５ｉｎｃｈフォームファクタの一般的なハードディスクドライブ（ＨＤＤ）における、平均外径寸法φ９５ｍｍの基板を用いた一枚あるいは複数枚の磁気記録媒体を搭載し、その回転中心からの距離が４５．０ｍｍから４６．５ｍｍ以下となる位置が、複数のデータトラックの最外周半径位置となった磁気記録媒体を例示することができる。これは、磁気記録媒体の外径から略１．０ｍｍから２．５ｍｍの領域を、磁気ヘッドのロード／アンロード動作用の余裕領域として用いるためである。例えば、平均外径寸法φ９６ｍｍの基板を用いた場合は、その回転中心からの距離が４５．５ｍｍから４７．０ｍｍ以下となる位置が、複数のデータトラックの最外周半径位置となる。また、平均外径寸法φ９７ｍｍの基板を用いた場合は、その回転中心からの距離が４６．０ｍｍから４７．５ｍｍ以下となる位置が、複数のデータトラックの最外周半径位置となる。

ヘッド１２２は、アクチュエータアーム１１５の先端にあって、モータドライバ１２１によって駆動されるＶＣＭ１１６により、ディスク媒体１１１の半径方向（トラック幅方向）に沿って目標トラックへシークされ、目標トラック上でトラッキング動作を行う。ディスク媒体１１１の回転が停止しているときなどは、ヘッド１２２は、ランプ（図示せず）上に退避される。ヘッド１２２は、ＴＤＭＲ（Ｔｗｏ Ｄｉｍｅｎｓｉｏｎａｌ Ｍａｇｎｅｔｉｃ Ｒｅｃｏｒｄｉｎｇ）ヘッドであり、ライト素子Ｗおよび複数のリード素子Ｒ１，Ｒ２を有する。ディスク装置１００は、複数枚のディスク媒体１１１の各記録面（表面及び裏面）に対応して複数のヘッド１２２を有し得るが、以下では、説明及び図示の簡略化のため、１枚のディスク媒体１１１及びそれに対応する１つのヘッド１２２について中心に説明する。

ヘッドアンプ１２４は、ヘッド１２２がディスク媒体１１１からリードされた信号を増幅して出力し、ＲＷＣ１２５に供給する。また、ヘッドアンプ１２４は、ＲＷＣ１２５から供給された、ディスク媒体１１１にデータをライトするための信号を増幅して、ヘッド１２２に供給する。

ＨＤＣ１３１は、Ｉ／Ｆバスを介してホストコンピュータ１４０との間で行われるデータの送受信の制御や、バッファメモリ１２９の制御、ならびに、ライトデータに対するデータの誤り訂正処理などを行う。バッファメモリ１２９は、ホストコンピュータ１４０との間で送受信されるデータのキャッシュとして用いられる。また、バッファメモリ１２９は、ディスク媒体１１１からリードされるデータ、ディスク媒体１１１にライトされるデータ、又はディスク媒体１１１からリードされる制御用ファームウェアを、一時記憶するためなどに用いられる。

ＲＷＣ１２５は、ＨＤＣ１３１から供給される、ディスク媒体１１１にライトするためのデータをコード変調してヘッドアンプ１２４に供給する。また、ＲＷＣ１２５は、ディスク媒体１１１からリードされヘッドアンプ１２４を介して供給された信号をコード復調してデジタルデータとしてＨＤＣ１３１へ出力する。

制御部１２６には、動作用メモリ１２７（例えば、ＳＲＡＭ）、不揮発性メモリ１２８（例えば、フラッシュメモリ）および一時記憶用のバッファメモリ１２９（例えば、ＤＲＡＭ）が接続されている。制御部１２６は、例えばＣＰＵ又はＭＰＵであり、不揮発性メモリ１２８又はディスク媒体１１１に予め記憶されたファームウェアに従って、このディスク装置１００の全体的な制御を行う。ファームウェアは、初期ファームウェアおよび通常動作に用いる制御用ファームウェアである。起動時に最初に実行される初期ファームウェアは、例えば、不揮発性メモリ１２８に記憶されており、通常動作に用いる制御用ファームウェアは、ディスク媒体１１１に記録されている。初期ファームウェアに従った制御により、ディスク媒体１１１から一旦バッファメモリ１２９に読み出され、その後動作用メモリ１２７に格納される。

なお、ＲＷＣ１２５、制御部１２６、及びＨＤＣ１３１を含む構成をコントローラ１３０と見なすこともできる。コントローラ１３０は、例えばＳｏＣ（システムオンチップ）として実装され得る。

ディスク装置１００では、ディスク媒体１１１に記録されたサーボパターンによりディスク媒体１１１に同心円状に複数のトラック（複数のサーボトラック）が規定される。コントローラ１３０は、ディスク媒体１１１上における半径位置を示す情報として、複数のトラックに対して内側から外側の順に又は外側から内側の順に割り振られたトラック番号を管理できる。例えば、複数のトラックの規定の一例として、ディスク媒体１１１の最外周から略１ｍｍから２．５ｍｍ領域は、磁気ヘッドのロード／アンロード動作用の余裕領域として用いるため、最外周データトラックはＳＰＭ１１２回転中心から半径４６．５ｍｍから４５ｍｍとなり、最内周データトラックは、略半径２０ｍｍから２１ｍｍに設計されることがある。尚、ディスク媒体１１１として、外形φ９６ｍｍの磁気ディスク媒体を用いる場合の最外周データトラックは、半径４７ｍｍから４５．５ｍｍとなる様に設計されることもある。また、コントローラ１３０は、ディスク媒体１１１上における半径位置を示す情報として、複数のトラックをそれぞれ含むように同心円状に区分された複数のゾーンを管理できる。例えば、コントローラ１３０は、トラック番号とゾーン番号（内周ゾーンＩＤ、中周ゾーンＭＤ、外周ゾーンＯＤを互いに識別する情報）とが複数のトラックについて対応付けられたゾーン区分情報を管理できる。以下では、コントローラ１３０が管理するゾーンが３つのゾーン（内周ゾーンＩＤ、中周ゾーンＭＤ、外周ゾーンＯＤ）である場合について例示的に説明するが、ゾーンの区分はこれに限定されず任意に行われ得る。

なお、以下では、ヘッド１２２の移動速度とは、サーボトラックに対してヘッド１２２が移動する速度における半径方向成分を指すものとする。

ディスク媒体１１１の製造工程において、各トラックでは、図２（ｃ）に示すように、データ領域ＤＡとサーボ領域ＳＡとが周方向に交互に繰り返し設けられ得る。図２は、サーボ領域ＳＡの構成を示す図である。データ領域ＤＡは、データが記録される領域である。サーボ領域ＳＡは、サーボパターンが記録される領域である。コントローラ１３０は、サーボ領域ＳＡから読み出されたサーボパターンの情報を用いてヘッド１２２の位置決めを行い、データ領域ＤＡに対してデータのライト及び／又はリードを行うことができる。

サーボパターンは、複数種のパターンを含み、例えば、プレアンブル、サーボマーク、グレイコード、バーストパターン、ポストコードを含む。それに応じて、サーボ領域ＳＡは、プレアンブル領域Ｒｐｒ、サーボマーク領域Ｒｓａｍ、グレイコード領域Ｒｇｃ、サーボバースト領域Ｒｂｓｔ、ポストコード領域Ｒｐｃを含む。プレアンブル領域Ｒｐｒは、プレアンブルが記録される領域である。プレアンブルは、サーボパターンに対して振幅及び位相の同期を取る基準となるパターンである。サーボマーク領域Ｒｓａｍは、サーボマークが記録される領域である。サーボマークは、トラックにおける周方向の基準位置を示すパターンである。グレイコード領域Ｒｇｃは、グレイコードが記録される領域である。グレイコードは、ディスク媒体１１１におけるトラックの半径位置を示す情報（トラック番号など）を含む。サーボバースト領域Ｒｂｓｔは、バーストパターンが記録される領域である。バーストパターンは、ヘッド１２２のトラック中心からのオフトラック量を検出するためのパターンである。ポストコード領域Ｒｐｃは、ポストコードが記録される領域である。ポストコードは、バーストパターンで得られるオフトラック量の誤差を補正するための補正量（偏心補正量など）の情報を含む。

サーボバースト領域Ｒｂｓｔに記録されるバーストパターンとしては、ヌル（Ｎｕｌｌ）型のバーストパターンを採用することができる。ヌル型のバーストパターンは、Ｎ相（Ｎｕｌｌ Ｎ）とＱ相（Ｎｕｌｌ Ｑ）との２相を含み、Ａ相、Ｂ相、Ｃ相、Ｄ相の４相を含む場合に比べて、サーボバースト領域Ｒｂｓｔのビット長を略半分に短縮できる。

Ｎ相では、Ａ相−Ｂ相に相当するパターンを実現するために、Ｎ相内で半径方向に位相を１８０°（＝１ｃｙｌ）の間隔で極性が交互に反転するように磁化パターンが配置され得る。Ｑ相では、Ｃ相−Ｄ相に相当するパターンを実現するために、Ｑ相内で半径方向に位相を１８０°（＝１ｃｙｌ）の間隔で極性が交互に反転するように磁化パターンが配置され得る。Ｎ相及びＱ相間では、半径方向に位相を互いに９０°（＝０．５ｃｙｌ）シフトさせた磁化パターンが配置され得る。これにより、ヌル型のバーストパターンを採用した場合でも、図２（ｃ）に示すように、サーボバースト領域Ｒｂｓｔは、サーボ領域ＳＡ内のかなりのビット長を占めている。

一方、ヘッド１２２は、ＴＤＭＲ（Ｔｗｏ Ｄｉｍｅｎｓｉｏｎａｌ Ｍａｇｎｅｔｉｃ Ｒｅｃｏｒｄｉｎｇ）ヘッドであり、図３（ａ）〜図３（ｄ）に示すように、ライト素子Ｗおよび複数のリード素子Ｒ１，Ｒ２を有する。図３（ａ）〜図３（ｄ）は、ヘッド１２２の構成を示す図である。図３（ａ）に示す平面視においてディスク媒体１１１が時計回りに回転する場合、ライト素子Ｗは、ヘッド１２２における回転方向上流側に配され、リード素子Ｒ１は、ヘッド１２２における回転方向下流側に配され、リード素子Ｒ２は、ライト素子Ｗ及びリード素子Ｒ１の間に配される。コントローラ１３０は、ライト素子Ｗによりディスク媒体１１１にデータのライトを行ったり、複数のリード素子Ｒ１，Ｒ２によりディスク媒体１１１からデータのリードを行ったりすることができる。

２つのリード素子Ｒ１，Ｒ２のうち、リード素子Ｒ１をマスター側のリード素子とし、リード素子Ｒ２をスレーブ側のリード素子とすることができる。サーボ処理において、コントローラ１３０は、マスター側のリード素子Ｒ１からのリード信号φＲ１を元にサーボパターンの情報を復調処理してヘッド１２２の位置決めを行うことがある。しかし、このヘッド１２２によれば、コントローラ１３０は、リード素子Ｒ１，Ｒ２毎に、サーボパターンの情報を取得する事が可能である。２つのリード素子Ｒ１，Ｒ２のリード信号φＲ１，φＲ２を活用した新たなサーボ方式が望まれている。

２つのリード素子Ｒ１，Ｒ２のリード信号φＲ１，φＲ２を活用するには、半径方向におけるリード素子間のオフセット量Ｔｒについて考える必要がある。ディスク媒体１１１において、ヘッド１２２が図３（ａ）に示すどの半径位置（内周ゾーンＩＤ、中周ゾーンＭＤ、外周ゾーンＯＤのうちのどのゾーン）に位置するかに従い、アクチュエータアーム１１５のアーム角度が変わるため、ヘッド１２２のスキュー角βが変わっていく。それに伴い、ディスク媒体１１１に対するリード素子Ｒ１とリード素子Ｒ２との相対位置関係も変わるため、半径方向におけるリード素子間のオフセット量Ｔｒも変わる。

ヘッド１２２がトラッキング時に外周ゾーンＯＤ内のトラックＴＲＫ＿ｒに位置する場合、ディスク媒体１１１側からヘッド１２２を見たときのライト素子Ｗおよび複数のリード素子Ｒ１，Ｒ２の位置関係は、図３（ｂ）に示すようになる。すなわち、スキュー角βが外周側に傾いた負の角度（β＜０）となり、リード素子Ｒ１に対してリード素子Ｒ２が負のオフセット量Ｔｒ（＜０）となる。

ヘッド１２２がトラッキング時に中周ゾーンＭＤ内のトラックＴＲＫ＿ｈに位置する場合、ディスク媒体１１１側からヘッド１２２を見たときのライト素子Ｗおよび複数のリード素子Ｒ１，Ｒ２の位置関係は、図３（ｃ）に示すようになる。すなわち、スキュー角βが略ゼロ（β≒０）となり、リード素子Ｒ１に対してリード素子Ｒ２が略ゼロのオフセット量Ｔｒ（≒０）となる。

ヘッド１２２がトラッキング時に内周ゾーンＩＤ内のトラックＴＲＫ＿ｐに位置する場合、ディスク媒体１１１側からヘッド１２２を見たときのライト素子Ｗおよび複数のリード素子Ｒ１，Ｒ２の位置関係は、図３（ｄ）に示すようになる。すなわち、スキュー角βが内周側に傾いた正の角度（β＞０）となり、リード素子Ｒ１に対してリード素子Ｒ２が正のオフセット量Ｔｒ（＞０）となる。

ヘッド１２２がトラッキング時にサーボバースト領域ＲｂｓｔにおけるＮ相領域（Ｎｕｌｌ Ｎ領域）を通過する際の動作に着目すると、図４（ａ）〜図４（ｃ）及び図５（ａ）〜図５（ｃ）に示すようになる。図４（ａ）〜図４（ｃ）は、ヘッド１２２の動作を示す図である。図５（ａ）〜図５（ｃ）は、バーストパターンの検出結果を示す図である。

ヘッド１２２がトラッキング時に外周ゾーンＯＤ内のトラックＴＲＫ＿ｒに位置する場合、図４（ｃ）に示すように、オフセット量Ｔｒが負の値を有するので、リード素子Ｒ２の半径位置がリード素子Ｒ１の半径位置より外周側に｜Ｔｒ｜でシフトした状態でゲート信号におけるＮ相の復調窓ＷＮがアクティブになる。この状態で、トラック中心に対するオフトラック量を−側（外周側）から＋側（内周側）に変化させたときのＮ相のバーストパターンの検出結果ＢｓｔＮの変化について、図５（ａ）に示すように、リード素子Ｒ２によるリード信号φＲ２がリード素子Ｒ１によるリード信号φＲ１に対して進相した波形となり得る。

ヘッド１２２がトラッキング時に中周ゾーンＭＤ内のトラックＴＲＫ＿ｈに位置する場合、図４（ｂ）に示すように、オフセット量Ｔｒが略ゼロであるので、リード素子Ｒ２の半径位置がリード素子Ｒ１の半径位置と略一致した状態でゲート信号におけるＮ相の復調窓ＷＮがアクティブになる。この状態で、トラック中心に対するオフトラック量を−側（外周側）から＋側（内周側）に変化させたときのＮ相のバーストパターンの検出結果ＢｓｔＮの変化について、図５（ｂ）に示すように、２つのリード素子Ｒ１，Ｒ２によるリード信号φＲ１，φＲ２がほぼ一致する。同様に、リード素子Ｒ２の半径位置がリード素子Ｒ１の半径位置と略一致した状態でゲート信号におけるＱ相の復調窓ＷＱがアクティブになる。この状態で、トラック中心に対するオフトラック量を−側（外周側）から＋側（内周側）に変化させたときのＱ相のバーストパターンの検出結果ＢｓｔＱの変化について、図５（ｅ）に示すように、２つのリード素子Ｒ１，Ｒ２によるリード信号φＲ１，φＲ２がほぼ一致する。図５（ｅ）に示すＱ相のバーストパターンの検出結果ＢｓｔＱの波形は、図５（ｂ）に示すＮ相のバーストパターンの検出結果ＢｓｔＮの波形に対して進相した波形となり得る。

ヘッド１２２がトラッキング時に内周ゾーンＩＤ内のトラックＴＲＫ＿ｐに位置する場合、図４（ａ）に示すように、オフセット量Ｔｒが正の値を有するので、リード素子Ｒ２の半径位置がリード素子Ｒ１の半径位置より内周側に｜Ｔｒ｜でシフトした状態でゲート信号におけるＮ相の復調窓ＷＮがアクティブになる。この状態で、トラック中心に対するオフトラック量を−側（外周側）から＋側（内周側）に変化させたときのＮ相のバーストパターンの検出結果ＢｓｔＮの変化について、図５（ｃ）に示すように、リード素子Ｒ２によるリード信号φＲ２がリード素子Ｒ１によるリード信号φＲ１に対して遅相した波形となり得る。

すなわち、オフセット量Ｔｒが略ゼロとなる中周ゾーンＭＤでは、ヘッド１２２のオフトラック量の検出にサーボバースト領域ＲｂｓｔのＮ相とＱ相との両方の検出が必要である。それに対し、オフセット量Ｔｒが確保できる内周ゾーンＩＤ、外周ゾーンＯＤでは、オフセット量Ｔｒを用いることで、ヘッド１２２のオフトラック量の検出をＮ相の検出で済ますことが可能であると予想される。

そこで、第１の実施形態では、ディスク装置１００において、内周ゾーンＩＤ、外周ゾーンＯＤ内のトラックのサーボバースト領域Ｒｂｓｔを実質的にＮ相のバーストパターンのみで構成することで、ディスク媒体１１１におけるデータ容量の向上を図る。具体的には、製造工程において、Ｎ相のバーストパターン及びＱ相のバーストパターンを用いた処理を行った後に、Ｑ相のバーストパターンの少なくとも一部（すなわち、大部分又は全部）を消去する。これにより、内周ゾーンＩＤ、外周ゾーンＯＤ内のトラックのサーボバースト領域Ｒｂｓｔのビット長を中周ゾーンＭＤ内のトラックのサーボバースト領域Ｒｂｓｔのビット長より短くなるようにディスク媒体１１１を構成することで、ディスク媒体１１１におけるデータ容量の向上を図る。

例えば、図２（ｃ）に示すように、中周ゾーンＭＤ内の各トラック（例えば、トラックＴＲＫ＿ｈ）のサーボバースト領域Ｒｂｓｔは、Ｎ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｎ）及びＱ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｑ）を含む。

それに対し、図２（ａ）に示すように、外周ゾーンＯＤ内の各トラック（例えば、トラックＴＲＫ＿ｒ）のサーボバースト領域Ｒｂｓｔは、Ｎ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｎ）を含み且つＱ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｑ）を含まない。

あるいは、図２（ｂ）に示すように、外周ゾーンＯＤ内の各トラック（例えば、トラックＴＲＫ＿ｒ）のサーボバースト領域Ｒｂｓｔは、Ｎ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｎ）を含み且つ中周ゾーンＭＤ内の各トラックにおけるＱ相のバーストパターンよりビット長の短いＱ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｑ）を含む。すなわち、外周ゾーンＯＤ内の各トラックのサーボバースト領域Ｒｂｓｔは、ゲート信号におけるＱ相の復調窓ＷＱのパルス幅（図４（ｂ）参照）に対応するビット長に比較して大幅に短いビット長のＱ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｑ）を含む。

図２（ｄ）に示すように、内周ゾーンＩＤ内の各トラック（例えば、トラックＴＲＫ＿ｐ）のサーボバースト領域Ｒｂｓｔは、Ｎ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｎ）を含み且つＱ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｑ）を含まない。

あるいは、図２（ｅ）に示すように、内周ゾーンＩＤ内の各トラック（例えば、トラックＴＲＫ＿ｐ）のサーボバースト領域Ｒｂｓｔは、Ｎ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｎ）を含み且つ中周ゾーンＭＤ内の各トラックにおけるＱ相のバーストパターンよりビット長の短いＱ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｑ）を含む。すなわち、内周ゾーンＩＤ内の各トラックのサーボバースト領域Ｒｂｓｔは、ゲート信号におけるＱ相の復調窓ＷＱのパルス幅（図４（ｂ）参照）に対応するビット長に比較して大幅に短いビット長のＱ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｑ）を含む。

このとき、図５（ａ）〜図５（ｃ）に示されるリード信号φＲ１に対するリード信号φＲ２の遅れ又は進み分の位相差θｒは、半径方向におけるリード素子間のオフセット量Ｔｒと図６に示す半径方向におけるバーストパターンの繰り返し長Ｌとから次の数式１で求めることができる。図６は、リード素子間のオフセット量Ｔｒと半径方向におけるバーストパターンの繰り返し長Ｌとの関係を示す図である。バーストパターンの繰り返し長Ｌは、サーボトラックピッチＴｗの２倍に等しく（Ｌ＝２×Ｔｗ）、例えばトラックＴＲＫ＿ｎのトラック幅の２倍に等しい。

ここで、リード素子Ｒ１によるＮ相の検出結果ＢｓｔＮ＝Ｎ１、リード素子Ｒ１によるＱ相の検出結果ＢｓｔＱ＝Ｑ１、リード素子Ｒ２によるＮ相の検出結果ＢｓｔＮ＝Ｎ２、リード素子Ｒ２によるＱ相の検出結果ＢｓｔＱ＝Ｑ２と定義する。図５（ｂ）、図５（ｅ）に示されるように、Ｎ１は、Ｑ１に対して例えば９０°進相した波形となる。Ｎ２は、Ｑ２に対して例えば９０°進相した波形となる。

数式１に示されるように、Ｔｒ＝Ｌ／４（＞０）の場合には、θｒ＝π／２＝９０°（進相）となるので、Ｎ２＝Ｑ１とみなすことができる。すなわち、オフセット量Ｔｒの絶対値が確保できる内周ゾーンＩＤ、外周ゾーンＯＤでは、ＢｓｔＮ＝Ｎ１、ＢｓｔＱ＝Ｎ２と見なしてオフトラック復調すれば、Ｑ相のバーストパターンを一切使わなくても、ヘッド１２２のオフトラック位置を復調できることになる。

より具体的には、コントローラ１３０は、図７に示すように構成され得る。図７は、コントローラ１３０の構成を示す図である。なお、図７に示すコントローラ１３０は、機能的な構成であり、例えば、ＨＤＣ１３１等（図１参照）においてハードウェア的に（例えば、システムオンチップとして）実装されていてもよい。あるいは、図７に示すコントローラ１３０は、例えば、制御部１２６等においてソフトウェア的に（例えば、制御部１２６等により動作用メモリ１２７等に一括して又は処理の進行に応じて順次に展開される機能モジュールとして）実装されていてもよい。あるいは、図７に示すコントローラ１３０は、一部の機能がＨＤＣ１３１等においてハードウェア的に実装され、残りの機能が制御部１２６等においてソフトウェア的に実装されていてもよい。

コントローラ１３０は、リードチャネル１３１、ＮＵＬＬバースト変換部１３２、ＣＴＳ導出部１３３、処理選択部１３４、セレクタ１３５、アドレス補正部１３６、オフトラック量算出部１３７、及び加算器１３８を有する。

コントローラ１３０は、バーストパターンのリード信号からヘッド１２２のオフトラック量を検出できる。すなわち、リード素子Ｒ１，Ｒ２は、ＴＤＭＲ用の２チャンネルを独立再生できるヘッドアンプ１２４（図１参照）に接続されている。そのヘッドアンプ１２４の出力は、ＴＤＭＲ用のリードチャネル１３１に入力される。ＴＤＭＲ用のリードチャネル１３１も、２つのサーボ復調回路を持っていて、２つのリード素子Ｒ１，Ｒ２のリード信号φＲ１，φＲ２を独立に処理できる。Ｎｕｌｌ型のバーストパターンのリード信号Ｎ１，Ｎ２，Ｑ１，Ｑ２は、その基本周波数成分にてゲート信号の復調窓ＷＮ，ＷＱがアクティブな区間（図４（ａ）〜図４（ｃ）参照）に取得され正弦・余弦波係数で積分されてバースト値ＢｓｔＮ，ＢｓｔＱとしてレジスタに保存される。

例えば、位置検出処理において、アドレス補正部１３６は、Ｎｕｌｌ Ｎ，Ｑに相当する２つのバースト値ＢｓｔＮ，ＢｓｔＱとリードされたグレイコードから復調されたシリンダアドレス（トラック番号）とを読み込む。アドレス補正部１３６は、シリンダアドレスをバースト値の象限判定によりアドレス補正部１３６で必要に応じて±１補正して加算器１３８へ供給する。オフトラック量算出部１３７は、２つのバースト値ＢｓｔＮ，ＢｓｔＱからオフトラック量ｏｆｆｔｒｋを導出して加算器１３８へ供給する。加算器１３８は、補正後のシリンダアドレスにオフトラック量ｏｆｆｔｒｋを足しこんで、ヘッド１２２の現在位置を示す現ヘッド位置Ｐｏｓを生成する。

このオフトラック量算出部１３７は、公知の速度補正や回転補正、象限分け、γ補正等を用いてオフトラック量ｏｆｆｔｒｋを算出するが、理論的には、ＢｓｔＮをｃｏｓθ情報、ＢｓｔＱをｓｉｎθ情報と見なして、θに相当する位相角を求め、バーストパターンの半径方向の繰り返し長Ｌを基に、次の数式２の様に算出していることになる。

コントローラ１３０では、２つのリード素子Ｒ１，Ｒ２それぞれのリード信号φＲ１，φＲ２に対応するサーボ情報が得られる。図７に示すＢｓｔＮ，ＢｓｔＱ，Ｃｙｌ．Ａｄｄｒｅｓｓに当たる情報も、それぞれＲ１用とＲ２用との２つがある。これに応じて、２つのリード素子Ｒ１，Ｒ２のリード信号φＲ１，φＲ２（すなわち、復調窓ＷＮ，ＷＱがアクティブな区間に取得されるＮ１，Ｎ２，Ｑ１，Ｑ２）を関係づけるために、ＴＤＭＲ用のＮＵＬＬバースト変換部１３２をオフトラック算出部１３７の前段に設ける。例えば、ＮＵＬＬバースト変換部１３２は、図８に示すように構成される。図８は、ＮＵＬＬバースト変換部１３２の構成を示す図である。ＮＵＬＬバースト変換部１３２は、セレクタ１３２ａ、係数乗算部１３２ｂ、位相角換算部１３２ｃ、ｓｉｎ値・ｃｏｓ値計算部１３２ｄ、ＳＱ変換部１３２ｅ、セレクタ１３２ｆ、及び係数乗算部１３２ｇを有する。

図７に示すセレクタ１３５は、Ｃｙｌ．Ａｄｄｒｅｓｓ（トラック番号）として、マスター側のリード素子Ｒ１でリードされたグレイコードの復調結果Ｃ１を使うかスレーブ側のリード素子Ｒ２でリードされたグレイコードの復調結果Ｃ２を使うかを切替え可能となっている。

例えば、ヘッド１２２を中周ゾーンＭＤ内のトラックに位置決めする場合、リードチャネル１３１へのゲート信号は、Ｎｕｌｌ Ｎ用の復調窓ＷＮとＮｕｌｌ Ｑ用の復調窓ＷＱとに独立に立て（図４（ｂ）参照）、バースト出力は、リード素子Ｒ１側とリード素子Ｒ２側とで合計４つの情報が求まる。なお、リード素子Ｒ１によるＮ相の検出結果ＢｓｔＮ＝Ｎ１、リード素子Ｒ１によるＱ相の検出結果ＢｓｔＮ＝Ｑ１、リード素子Ｒ２によるＮ相の検出結果ＢｓｔＮ＝Ｎ２、リード素子Ｒ２によるＱ相の検出結果ＢｓｔＮ＝Ｑ２と定義されている。

中周ゾーンＭＤのサーボ信号の復調処理（ヘッド１２２の位置検出処理）には、マスター側のリード素子Ｒ１のリード信号φＲ１を使う。リード素子Ｒ１によるグレイコードの復調結果Ｃ１で示されるアドレス（トラック番号）が中周ゾーンＭＤの範囲の場合、処理選択部１３４は、処理選択信号Ｓｅｌｅｃｔを０（復調モード＝０）として、出力する。

処理選択信号Ｓｅｌｅｃｔ＝０であることに応じて、図８に示すセレクタ１３２ａ，１３２ｆは、それぞれ、「０」側に切り替える。図７に示すＮＵＬＬバースト変換部１３２は、Ｎ１をＢｓｔＮとして、Ｑ１をＢｓｔＱとしてオフトラック量算出部１３７等へ出力する。オフトラック量算出部１３７は、上記の数式２に示す計算を行い、ヘッド１２２（又はリード素子Ｒ１）のオフトラック量を算出する。加算器１３８は、リード信号φＲ１に応じた補正後のシリンダアドレスにオフトラック量ｏｆｆｔｒｋを足しこんで、ヘッド１２２（又はリード素子Ｒ１）の現在位置を示す現ヘッド位置Ｐｏｓ（又はＰｏｓ１）を生成する。

外周ゾーンＯＤ、内周ゾーンＩＤのサーボ信号の復調処理（ヘッド１２２の位置検出処理）には、２つのリード素子Ｒ１，Ｒ２のリード信号φＲ１，φＲ２と、リード素子Ｒ２がＲ１に対し半径方向にどれだけずれた位置を走行したかを示すオフセット量Ｔｒとを使う。このオフセット量Ｔｒは、ＣＴＳ（リード素子間半径方向距離）そのものなのでＣＴＳ導出部１３３の出力をＮＵＬＬバースト変換部１３２へ供給する。ＣＴＳ導出部１３３は、グレイコードの復調結果Ｃ１で示されるアドレス（トラック番号）に応じて、近似式等により、その半径位置でのＣＴＳを導出する。

マスター側のリード素子Ｒ１のＢｓｔＮ，ＢｓｔＱにあたるＮ１，Ｑ１を見ると、次の数式３の関係にある。

一方、Ｎ１とＮ２との関係に着目すると、中周ゾーンＭＤにおいては、ほぼ同一半径位置のリード素子Ｒ１，Ｒ２でバースト信号振幅を求めていることになるのでほぼ重なるが（図５（ｂ）参照）、外周ゾーンＯＤにおいては、Ｎ１がＮ２に先行した位相進み関係になっていて、逆に内周ゾーンＩＤにおいては、Ｎ１がＮ２に対し位相遅れ関係になっていると確認できる（図５（ａ）参照）。この位相差をθｒと置くと、正で進み、負で遅れとなり次の数式４で表記される。

これは、リード素子間の半径方向距離（オフセット量Ｔｒ）により、バーストパターンの復調半径位置が異なってくるためで、バーストパターンの半径方向における繰り返し長Ｌを用いて、数式１にて、位相差θｒが決まる。Ｑ相のバーストパターンは、製造工程におけるポストコード追記処理により一部又は全部が消去されているが、このＱ１に相当する信号を生成できれば、オフトラック量算出部１３７で、オフトラック量を算出できる。数式４を展開し、Ｑ１相当信号をＳＱと置くと、Ｎ１，Ｎ２，ｃｏｓθｒ，ｓｉｎθｒから、次の数式５が導出される。

図８に示すＳＱ変換部１３２ｅは、数式５に相当する変換処理を行う。強制Ｒ１再生フラグや強制Ｒ２再生フラグが設定されていない状態では、リード素子Ｒ１によるグレイコードの復調結果Ｃ１で示されるアドレス（トラック番号）が中周ゾーンＭＤの範囲にないとき（外周ゾーンＯＤ、内周ゾーンＩＤの範囲にあるとき）は、処理選択信号Ｓｅｌｅｃｔ＝１（復調モード＝１）が出力される。これにより、図７に示すセレクタ１３５は、「１」側に切り替え、図８に示すセレクタ１３２ａ，１３２ｆは、「１」側に切り替える。コントローラ１３０は、ゲート信号における復調窓としてＮ相用のＮＷを用いてＱ相用のＷＱを用いない。ＢｓｔＮ＝Ｎ１である事は変わらないが、ＳＱ変換部１３２ｅでＢｓｔＱ＝ＳＱと変換した値が採用される点が復調モード＝０の場合と異なる。オフトラック量算出部１３７がヘッド１２２のオフトラック量を算出し、加算器１３８がリード信号φＲ１に応じた補正後のシリンダアドレスにオフトラック量ｏｆｆｔｒｋを足しこんでヘッド１２２の現在位置を示す現ヘッド位置Ｐｏｓを生成する点は、復調モード＝０の場合と同様である。

なお、コントローラ１３０は、処理選択信号Ｓｅｌｅｃｔの値に応じて復調モードを切り替えることができる。コントローラ１３０は、Ｓｅｌｅｃｔ＝０にすることで復調モード＝０に切り替える。例えば、ヘッド１２２が中周ゾーンＭＤに位置していると判断した場合の他、強制Ｒ１復調モードが発行されている（強制Ｒ１復調設定が行われている）場合、処理選択信号Ｓｅｌｅｃｔ＝０となる。これに応じて、コントローラ１３０は、Ｎ１，Ｑ１をそれぞれＢｓｔＮ，ＢｓｔＱとする。コントローラ１３０は、Ｓｅｌｅｃｔ＝１にすることで復調モード＝１に切り替える。この復調モードは、Ｎ１，Ｎ２を使ってヘッド１２２の位置を検出するモードであり、例えば、ヘッド１２２が外周ゾーンＯＤ、内周ゾーンＩＤに位置していると判断した場合に選択される。この復調モードでは、Ｎ１がＢｓｔＮとされ、Ｔｒ情報を活用して求められたＮ１とＮ２との合成値がＢｓｔＱとされる。

また、コントローラ１３０は、処理選択信号Ｓｅｌｅｃｔ＝２にすることで復調モード＝２に切り替える。この復調モードは、製造工程内でオフセット量測定処理に用いられるモードであり、出荷後のヘッド１２２の位置制御としては使われない。例えば、オフセット量Ｔｒ算出時に、リード素子Ｒ２の位置を検出する際（強制Ｒ２復調設定が行われた場合）に選択される。この復調モードでは、図７に示すセレクタ１３５は、「２」側に切り替え、図８に示すセレクタ１３２ａ，１３２ｆは、「２」側に切り替える。図７に示すアドレス補正部１３６は、リード素子Ｒ２によるグレイコードの復調結果Ｃ２で示されるアドレス（トラック番号）を補正して加算器１３８へ供給する。ＮＵＬＬバースト変換部１３２は、Ｎ２をＢｓｔＮとして、Ｑ２をＢｓｔＱとしてオフトラック量算出部１３７等へ出力する。オフトラック量算出部１３７は、上記の数式２に示す計算を行い、リード素子Ｒ２のオフトラック量を算出する。加算器１３８は、リード信号φＲ２に応じた補正後のシリンダアドレスにオフトラック量ｏｆｆｔｒｋを足しこんで、リード素子Ｒ２の現在位置を示す現ヘッド位置Ｐｏｓ２を生成する。

例えば、コントローラ１３０は、強制Ｒ２位置算出用のフラグが立てられると、処理選択信号Ｓｅｌｅｃｔ＝２となる。Ｃｙｌ．ＡｄｄｒｅｓｓもＲ２側となり、ＢｓｔＮにｇ２＊Ｎ２を、ＢｓｔＱにｇ２＊Ｑ２が出力される。これは、ｇ２倍されているが、スレーブ側のリード素子Ｒ２で位置検出処理を行ったことになる。

なお、このゲインｇ２は、出荷前の調整工程にて、キャリブレーションして設定される調整ゲインであり、ほとんどの場合、ゲインｇ２＝１となるが、このゲインを設ける理由を記載しておく。ヘッドアンプ１２４が出力するリード信号は、リード素子Ｒ１，Ｒ２のＧＭＲ感度等に依存して、その振幅が異なるが、チャネル前段部にてＡＧＣと言うＡＤ取込み値時の信号振幅レベルを一定に揃える自動ゲイン調整が行われる。この調整処理により、チャネル入力の信号振幅が異なっていても、ＡＤＣ取り込み後の信号振幅は同じになり、バースト値の振幅も一定に保たれる。ほとんどの場合、ゲインｇ２＝１となり得る。ただ、実際には、Ｒ１側とＲ２側のオフトラック送り時のバースト出力プロファイルの振幅が一致しない場合も散見される。この対策として、バースト出力プロファイルの信号振幅をＮ１，Ｎ２で同じにするために、ゲインｇ２を取る。万一、信号振幅が一致しないヘッドであっても、そのヘッドのゲインｇ２で補正する事で、補正後の振幅を一致させ、ＳＱ変換への歪み発生を防止できる。

オフセット量Ｔｒを算出する際に、強制Ｒ１位置算出用フラグが立てられ、コントローラ１３０は、強制Ｒ１位置算出用フラグに従い、リード素子Ｒ１の位置検出を行ってリード素子Ｒ１の現ヘッド位置Ｐｏｓ１を取得する。そして、強制Ｒ２位置算出用フラグが立てられ、コントローラ１３０は、強制Ｒ２位置算出用フラグに従い、リード素子Ｒ２の位置検出を行ってリード素子Ｒ２の現ヘッド位置Ｐｏｓ２を取得する。

すなわち、ヘッドの位置決めはＲ１側で行うので、１回目は強制Ｒ２位置算出用フラグがクリアされた状態でまずは、Ｐｏｓを求め、これをＰｏｓ１とおく。サーボ処理実行後の後処理内で、強制Ｒ２位置算出用フラグが立てられ、２回目の位置検出処理をＲ２側で行い、そのＰｏｓをＰｏｓ２として、次の数式６に示すように、Ｐｏｓ１とＰｏｓ２とのヘッド位置の差として半径方向におけるリード素子間のオフセット量Ｔｒを求める事ができる。

なお、出荷時のバーストパターンは、図２（ｄ）（又は図２（ｅ））及び図２（ａ）（又は図２（ｂ））に示すように、外周ゾーンＯＤ内のトラック、内周ゾーンＩＤ内のトラックにおいて、サーボバースト領域Ｒｂｓｔが実質的にＱ相領域（Ｎｕｌｌ Ｑ）を持たないので、本来数式６に示す処理は不可能であるが、ポストコードを記録するまでは、このＱ相領域（Ｎｕｌｌ Ｑ）も存在するので、２つのリード素子Ｒ１，Ｒ２のヘッド位置をそれぞれ特定可能になっている。

ＳＳＷでサーボパターンが生成される際には、どのゾーンかの区別なく、通常のＮｕｌｌバーストパターンがディスク媒体１１１に記録される。このサーボパターンに、工程内にてポストコード記録することで、初めて、外周ゾーンＯＤ、内周ゾーンＩＤにＱ相の領域がない最終的なサーボパターンが形成される。つまり、中周ゾーンＭＤは、Ｑ相領域（Ｎｕｌｌ Ｑ）の直後にポストコードが来るようにポストコードがライトされるが、外周ゾーンＯＤ、内周ゾーンＩＤにおいては、Ｎ相領域（Ｎｕｌｌ Ｎ）の直後にポストコードがライトされるため、Ｑ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｑ）がポストコードによりオーバーライトされ実質的に消える。

このように、工程におけるポストコード追記処理以前の段階では、半径位置とオフセット量Ｔｒとの関係を求める事ができる。

より具体的には、ディスク装置１００の製造工程内で、リード素子間の半径方向におけるオフセット量Ｔｒを図９に示すように求める。図９は、ディスク装置１００の製造方法（ポストコード追記処理）を示すフローチャートである。

ディスク装置１００の製造工程では、ディスク媒体１１１における各トラックに図２（ｂ）に示すようなサーボパターンにおけるポストコードを除く各パターンが書き込まれる。すなわち、各トラックともサーボバースト領域ＲｂｓｔにＮ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｎ）及びＱ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｑ）が書き込まれる。例えば、ＳＳＷ（Ｓｅｌｆ Ｓｅｒｖｏ Ｗｒｉｔｅ）方式では、ＳＴＷ（Ｓｅｒｖｏ Ｔｒａｃｋ Ｗｒｉｔｅｒ）によりディスク媒体１１１に補助サーボパターンが書き込まれた後、複数枚のディスク媒体１１１がハウジング（図示せず）に搭載される。そして、コントローラ１３０は、ヘッド１２２を内周側から外周側へ送りながら、補助サーボパターンを用いて位置決め制御を行うことなどにより、各種のキャリブレーションを行う。その後、コントローラ１３０は、補助サーボパターンを用いて、ヘッド１２２を内周側から所定位置まで所定のサーボトラックピッチＴｗごとに送りながら、複数枚のディスク媒体１１１にサーボパターンを同時に書き込む。これにより、各ディスク媒体１１１上に同心円状に複数のトラックが規定される。そして、コントローラ１３０は、サーボパターンを用いて、各トラックの中心に位置決め制御しながら、Ｓ１〜Ｓ４の処理（ポストコード追記処理）を行ってサーボパターンの末尾にポストコードを追記する。Ｓ１〜Ｓ４の処理は、ディスク装置１００における複数のヘッド１２２で一括して行われてもよいし個別に行われてもよい。以下では、Ｓ１〜Ｓ４の処理が各ヘッド１２２について順次に個別に行われる場合が例示される。

ポストコード追記処理において、コントローラ１３０は、強制Ｒ１復調設定及びポストコード無効設定を行う（Ｓ１）。強制Ｒ１復調設定（復調モード＝０に固定する設定）に従い、コントローラ１３０は、ヘッド１２２の位置決めとして、リード素子Ｒ２のリード信号φＲ２を用いずに、マスター側のリード素子Ｒ１のリード信号φＲ１に応じて現ヘッド位置Ｐｏｓを求め、現ヘッド位置Ｐｏｓを目標位置に近づくように位置決めするサーボ処理を行う。ポストコード無効設定に従い、コントローラ１３０は、ディスク媒体１１１における各トラックのサーボ領域内でポストコードが記録されるべき領域の磁化を消去する。

コントローラ１３０は、半径方向におけるリード素子間のオフセット量Ｔｒを求めるオフセット量導出処理を行う（Ｓ１０）。オフセット量Ｔｒが求められると、コントローラ１３０は、通常復調モード設定（ヘッド１２２の半径位置に応じて復調モード＝０と復調モード＝１とを選択可能にする設定）を行い（Ｓ２）、サーボパターンの末尾にポストコードを追記するポストコード記録処理を行う（Ｓ３）。このとき、図２（ｃ）、図４（ｂ）に示すように、中周ゾーンＭＤとなるべき半径位置では、Ｑ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｑ）の直後にポストコードが追記される。図２（ｄ）又は図２（ｅ）、図２（ａ）又は図２（ｂ）、図４（ａ）、図４（ｃ）に示すように、外周ゾーンＯＤとなるべき半径位置、内周ゾーンＩＤとなるべき半径位置では、Ｎ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｎ）の直後にポストコードが追記される。これにより、外周ゾーンＯＤとなるべき半径位置、内周ゾーンＩＤとなるべき半径位置では、Ｑ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｑ）の一部（大部分）又は全部が消去される。そして、コントローラ１３０は、ポストコード有効設定（ポストコードを用いた補正処理をアクティブにする設定）を行う（Ｓ４）。

次に、オフセット量導出処理（Ｓ１０）について図１０を用いて説明する。図１０は、オフセット量導出処理を示すフローチャートである。

コントローラ１３０は、処理対象のヘッド番号Ｈｅａｄに初期値「０」を設定し（Ｓ１１）、処理対象のゾーン番号Ｚｏｎｅ＝０に初期値「０」を設定し（Ｓ１２）、オフセット量Ｔｒを測定するオフセット測定処理を行う（Ｓ２０）。コントローラ１３０は、Ｓ２０の測定で得られたオフセット量Ｔｒの情報（図１２参照）を不揮発性メモリ１２８又はディスク媒体１１１の管理情報格納領域に格納する（Ｓ１３）。コントローラ１３０は、処理対象のゾーン番号Ｚｏｎｅをインクリメントし（Ｓ１４）、ゾーン番号Ｚｏｎｅを規定のゾーン数と比較して全てのゾーンとなるべき半径位置について処理を行ったか否かを判断する（Ｓ１５）。コントローラ１３０は、ゾーン番号Ｚｏｎｅが規定のゾーン数以下であれば、全てのゾーンとなるべき半径位置について処理を行っていない（Ｓ１５でＮｏ）として、処理をＳ２０に戻す。コントローラ１３０は、ゾーン番号Ｚｏｎｅが規定のゾーン数を超えていれば、全てのゾーンとなるべき半径位置について処理を行った（Ｓ１５でＹｅｓ）として、オフセット量Ｔｒの近似式を導出し、導出された近似式に関するパラメータを不揮発性メモリ１２８又はディスク媒体１１１の管理情報格納領域に格納する（Ｓ１６）。コントローラ１３０は、ディスク媒体１１１の管理情報格納領域に格納された管理情報を読み出し、管理情報に含まれたヘッド１２２のスキュー角βの情報に応じて、ヘッド１２２の位置決めにオフセット量Ｔｒを使用しないゾーンＮｕｌｌ Ｚｏｎｅ（例えば、中周ゾーンＭＤ）を決定し、ゾーンＮｕｌｌ Ｚｏｎｅに関するパラメータを不揮発性メモリ１２８又はディスク媒体１１１の管理情報格納領域に格納する（Ｓ１７）。コントローラ１３０は、処理対象のヘッド番号Ｈｅａｄをインクリメントし（Ｓ１８）、ヘッド番号Ｈｅａｄを規定のヘッド数と比較して全てのヘッドとなるべき半径位置について処理を行ったか否かを判断する（Ｓ１９）。コントローラ１３０は、ヘッド番号Ｈｅａｄが規定のヘッド数以下であれば、全てのヘッドについて処理を行っていない（Ｓ１９でＮｏ）として、処理をＳ１２に戻す。コントローラ１３０は、ヘッド番号Ｈｅａｄが規定のヘッド数を超えていれば、全てのヘッドについて処理を行った（Ｓ１９でＹｅｓ）として、処理を終了する。

次に、オフセット量測定処理（Ｓ２０）について図１１を用いて説明する。図１１は、オフセット量測定処理を示すフローチャートである。

コントローラ１３０は、トラック数Ｎに初期値「０」を設定し、トラック番号Ｃｙｌに初期値「ＺｏｎｅＳｔａｒｔ」を設定する（Ｓ２１）。コントローラ１３０は、ヘッド番号Ｈｅａｄ及びトラック番号Ｃｙｌに応じて、ヘッド１２２をシークさせる制御を行う（Ｓ２２）。

そして、コントローラ１３０は、オフセット量Ｔｒを測定する（Ｓ２３）。具体的には、強制Ｒ１位置算出用フラグが立てられ、コントローラ１３０は、強制Ｒ１位置算出用フラグに従い、リード素子Ｒ１の位置検出を行ってリード素子Ｒ１の現ヘッド位置Ｐｏｓ１を取得する。そして、強制Ｒ２位置算出用フラグが立てられ、コントローラ１３０は、強制Ｒ２位置算出用フラグに従い、リード素子Ｒ２の位置検出を行ってリード素子Ｒ２の現ヘッド位置Ｐｏｓ２を取得する。コントローラ１３０は、数式６に示すように、Ｐｏｓ１とＰｏｓ２とのヘッド位置の差としてオフセット量Ｔｒを求める事ができる。

例えば、各ヘッドの各半径位置に対するオフセット量Ｔｒの測定結果は、図１２に示すようになる。図１２は、オフセット量の測定結果を示す図である。図１２に示されるように、各半径位置に対するオフセット量Ｔｒの変化は、ディスク装置１００における複数のヘッド１２２の間でばらつくため、各ヘッドに対して半径位置毎のオフセット量Ｔｒを測定する必要がある。

コントローラ１３０は、オフセット量の測定に成功すると（Ｓ２４でＹｅｓ）、トラック数Ｎをインクリメントし（Ｓ２５）、現在のゾーンについてオフセット量Ｔｒの平均を算出してバッファメモリ１２９に格納して（Ｓ２６）、トラック番号Ｃｙｌをインクリメントする（Ｓ２７）。

コントローラ１３０は、オフセット量の測定に失敗すると（Ｓ２４でＮｏ）、トラック数Ｎをそのままとして、トラック番号Ｃｙｌをインクリメントする（Ｓ２７）。

コントローラ１３０は、オフセット量Ｔｒの平均の算出に用いるトラック数Ｎが閾値Ｎｍａｘを超えたか否かを判断する（Ｓ２８）。コントローラ１３０は、トラック数Ｎが閾値Ｎｍａｘ以下である場合（Ｓ２８でＮｏ）、処理をＳ２２へ戻す。コントローラ１３０は、トラック数Ｎが閾値Ｎｍａｘを超えると（Ｓ２８でＹｅｓ）、バッファメモリ１２９に格納された平均値を現在のゾーンを代表するオフセット量Ｔｒとして決定し不揮発性メモリ１２８又はディスク媒体１１１の管理情報格納領域に格納する（Ｓ２９）。

次に、オフトラック量の検出結果について図１３を用いて説明する。図１３は、オフトラック量の検出結果を示す図である。

図１３（ａ）〜図１３（ｄ）は、外周ゾーンＯＤ（半径位置Ｒ＝４５ｍｍ）にて、Ｎｕｌｌ Ｎのチャネルバースト値Ｎ１，Ｎ２にて位置検出した場合を想定し、位置検出処理の結果を模擬計算して得られたグラフである。図１３（ｅ）〜図１３（ｈ）は、外周ゾーンＯＤ（半径位置Ｒ＝４１ｍｍ）にて、Ｎｕｌｌ Ｎのチャネルバースト値Ｎ１，Ｎ２にて位置検出した場合を想定し、位置検出処理の結果を模擬計算して得られたグラフである。図１３（ｉ）〜図１３（ｌ）は、外周ゾーンＯＤ（半径位置Ｒ＝３７ｍｍ）にて、Ｎｕｌｌ Ｎのチャネルバースト値Ｎ１，Ｎ２にて位置検出した場合を想定し、位置検出処理の結果を模擬計算して得られたグラフである。図１３（ｍ）〜図１３（ｐ）は、内周ゾーンＩＤ（半径位置Ｒ＝２１ｍｍ）にて、Ｎｕｌｌ Ｎのチャネルバースト値Ｎ１，Ｎ２にて位置検出した場合を想定し、位置検出処理の結果を模擬計算して得られたグラフである。

図１３（ａ）、図１３（ｅ）、図１３（ｉ）、図１３（ｍ）は、横軸がオフトラック量を表し、縦軸が復調位置を表している。図１３（ｂ）、図１３（ｆ）、図１３（ｊ）、図１３（ｎ）は、横軸がオフトラック量を表し、縦軸が位置復調時の検出誤差を表している。図１３（ｃ）、図１３（ｇ）、図１３（ｋ）、図１３（ｏ）は、縦軸がＢｓｔＮとし横軸がＢｓｔＱとして描いたリサージュ図である。これらの各グラフでは、実線が第１の実施形態の位置検出処理の結果を示し、参考までに、ＳＱ計算しないで、Ｎ１，Ｎ２をそのままＢｓｔＮ，ＢｓｔＱと見なして位置検出してみた結果を破線で示している。

図１３（ｄ）、図１３（ｈ）、図１３（ｌ）、図１３（ｐ）は、横軸がオフトラック量を表し、縦軸がＮ１，Ｎ２，ＳＱの値を表している。図１３（ｄ）、図１３（ｈ）、図１３（ｌ）、図１３（ｐ）では、破線がＮ１、一点鎖線がＮ２、実線が変換後のＳＱを示している。

図１３（ｂ）の破線のグラフを見ると、外周ゾーンＯＤ（半径位置Ｒ＝４５ｍｍ）では、Ｎ１，Ｎ２がほぼｓｉｎ，ｃｏｓの直交系にあるので、そのまま位置検出処理しても、それなりに位置検出できているが、本来の望ましい位置検出に比べて３％程度の位置検出誤差を持ってしまっていることがわかる。一方、図１３（ｂ）の実線のグラフを見ると、第１の実施形態の位置検出処理を採用することで、ほぼ位置検出誤差がなく、理想的な位置検出を実現できていると確認できる。

以上のように、第１の実施形態では、ディスク装置１００において、内周ゾーンＩＤ、外周ゾーンＯＤ内のトラックのサーボバースト領域Ｒｂｓｔのビット長を中周ゾーンＭＤ内のトラックのサーボバースト領域Ｒｂｓｔのビット長より短くなるようにディスク媒体１１１を構成する。これにより、ディスク媒体１１１におけるデータ領域ＤＡの面積を広げることができ、ディスク媒体１１１におけるデータ容量を容易に向上できる。

なお、ディスク媒体１１１において、各ゾーン（外周ゾーンＯＤ、中周ゾーンＭＤ、内周ゾーンＩＤ）は、更に半径方向に複数の部分ゾーンに分割されていて、ＮＵＬＬバーストの半径方向繰り返し長Ｌが外周寄りゾーンほど長くなるように、サーボパターンが形成されていてもよい。すなわち、ＳＳＷ時のサーボトラックピッチＴｗを半径方向に複数に分割された部分ゾーン毎に、可変にしてもよい。例えば、外周ゾーンＯＤ、中周ゾーンＭＤ、内周ゾーンＩＤにおける各ゾーン内が、２つの部分ゾーンに分割されていて、そのサーボトラックピッチＴｗがその部分ゾーン毎に異なるパターンとなっていてもよい。

ディスク媒体１１１におけるスキュー角の絶対値が小さくなるほど、バーストパターンによるオフトラック量の復調のリニアリティが劣化しやすいが、バーストパターンの繰り返し長Ｌは、サーボトラックピッチＴｗの略２倍（図６参照）なので、数式１は、次の数式７のように書き換えることができる。

このサーボトラックピッチＴｗを変化させれば、数式７に示されるように、オフトラック量Ｔｒを変えずに位相差θｒを変化させて９０°に近づけることができ、リニアリティを改善できる。

具体的には、外周ゾーンＯＤ内の外周側の部分ゾーンのサーボトラックピッチＴｗよりも外周ゾーンＯＤ内の中周側の部分ゾーン、中周ゾーンＭＤ内の外周側の部分ゾーンのサーボトラックピッチＴｗを高くすることで、リニアリティ（直線性）の改善を図ることができる。同様に、内周ゾーンＩＤ内の内周側の部分ゾーンのサーボトラックピッチＴｗよりも内周ゾーンＩＤ内の中周側の部分ゾーン、中周ゾーンＭＤ内の内周側の部分ゾーンのサーボトラックピッチＴｗを高くすることで、リニアリティ（直線性）の改善を図ることができる。

あるいは、外周ゾーンＯＤ内の外周側の部分ゾーンのサーボトラックピッチＴｗよりも外周ゾーンＯＤ内の中周側の部分ゾーンのサーボトラックピッチＴｗを高くし、外周ゾーンＯＤ内の中周側の部分ゾーンのサーボトラックピッチＴｗよりも中周ゾーンＭＤ内の外周側の部分ゾーンのサーボトラックピッチＴｗを高くすることで、リニアリティ（直線性）の改善を図ることができる。同様に、内周ゾーンＩＤ内の内周側の部分ゾーンのサーボトラックピッチＴｗよりも内周ゾーンＩＤ内の中周側の部分ゾーンのサーボトラックピッチＴｗを高くし、内周ゾーンＩＤ内の中周側の部分ゾーンのサーボトラックピッチＴｗよりも中周ゾーンＭＤ内の内周側の部分ゾーンのサーボトラックピッチＴｗを高くすることで、リニアリティ（直線性）の改善を図ることができる。

例えば、外周ゾーンＯＤ内の外周側の部分ゾーン及び内周ゾーンＩＤ内の内周側の部分ゾーンは５００ｋＴＰＩのサーボトラックピッチＴｗで形成でき、外周ゾーンＯＤ内の中周側の部分ゾーン、中周ゾーンＭＤ内の外周側の部分ゾーン、中周ゾーンＭＤ内の内周側の部分ゾーン、内周ゾーンＩＤ内の中周側の部分ゾーンは５５０ｋＴＰＩと一割高いサーボトラックピッチＴｗで形成できる。これにより、外周ゾーンＯＤ内の中周側の部分ゾーン、中周ゾーンＭＤ内の外周側の部分ゾーン、中周ゾーンＭＤ内の内周側の部分ゾーン、内周ゾーンＩＤ内の中周側の部分ゾーンの位相角θｒを大きくする事ができ、Ｎ２の従属影響を小さく押さえる事が可能になる。あるいは、アドレスのサーボトラックピッチＴｗは一定とし、Ｎｕｌｌ領域を形成する送りを１／２送りから１／３送りに変更して、Ｌを２／３倍に小さくする事もできる。

いずれであっても、ＳＳＷされているバーストパターンの半径方向における繰り返し長Ｌを半径方向に可変し、位相差θｒを９０°に近づけるようにして、位置検出のリニアリティ（直線性）を改善できる。

（第２の実施形態）
次に、第２の実施形態にかかるディスク装置２００について説明する。以下では、第１の実施形態と異なる部分を中心に説明する。

第１の実施形態では、ヘッド１２２がトラッキング動作をしている際に、実質的にＱ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｑ）をサーボ領域に含まない内周ゾーンＩＤ、外周ゾーンＯＤ内のトラックについて、リード素子Ｒ１，Ｒ２によるＮ相の検出結果Ｎ１，Ｎ２から数式５に相当する変換処理を行い、Ｑ１相当信号ＳＱを求め、Ｎ１とＳＱとを用いてオフトラック量を算出する場合について例示している。

一方、ヘッド１２２をシークさせている際には、ヘッド１２２の移動速度（ヘッド１２２がサーボトラックに対して移動する速度の半径方向成分）の影響で数式５が成り立たない。

そこで、第２の実施形態では、内周ゾーンＩＤ、外周ゾーンＯＤ内のトラックについて、数式５に相当する変換処理をヘッドの移動速度を考慮した変換処理に拡張し、その拡張された変換処理によりＱ１相当信号ＳＱを求めることで、ヘッドをシークさせている際にも、Ｎ１とＳＱとを用いてオフトラック量を算出できるようにする。

具体的には、実質的にＱ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｑ）をサーボ領域に含まない内周ゾーンＩＤ、外周ゾーンＯＤ内のトラックについて、ヘッド１２２の移動速度を考慮して適切な位置検出が可能となるようにＮｕｌｌ Ｎ単一バーストパターン再生方法を拡張する。すなわち、ＴＤＭＲ用のＮｕｌｌバースト変換部において、現ヘッド速度を元に、半径位置で決まるリード素子間の半径方向距離（クロストラックセパレーション）を補正した実効Ｔｒを求め、ヘッド速度を持つ場合のＮｕｌｌＱ出力と等価となる様に、変換式を拡張して、ＢｓｔＱ相当値を生成する。シーク時におけるヘッド１２２の移動速度をＶ、リード素子間の周方向距離（ダウントラックセパレーション）をＤＴＳ、及びリード素子間の半径方向距離（クロストラックセパレーション）をＣＴＳとし、次の数式８で求めた係数ｋ_ｖを用いて、次の数式９のようにシーク時の実効的な半径方向距離ＣＴＳとして半径方向のオフトラック量Ｔｒを求める。また、次の数式１０で求めた速度依存によるサーボバースト信号のズレ分の位相角αを用いて、次の数式１１でリード信号φＲ１に対するリード信号φＲ２の遅れ又は進み分の実行的な位相差θｒ’を求め、次の数式１２により、Ｑ１相当信号であるＳＱ信号に変換する。なお、実効的な半径方向距離ＣＴＳとしてのオフトラック量Ｔｒとは、リード素子間の走行軌跡が半径方向にオフセットした量として算出されたものである。

より具体的には、数式５は、ヘッド１２２の移動速度が無視できる程小さく、ＢｓｔＮとＢｓｔＱを走行するヘッド１２２が同じθ位相にあることが前提となる。ところが、シークの様なヘッド１２２が高速で移動している場合、ＢｓｔＮとＢｓｔＱを走行する半径位置がずれていくことになる。図１４を使って、これを説明する。

図１４は、Ｎ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｎ）とＱ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｑ）とをサーボ領域に含む中周ゾーンＭＤ内のトラックＴＲＫ＿（ｈ−１）〜ＴＲＫ＿（ｈ＋１）でヘッド１２２がシーク動作している際のサーボパターン上のリード素子Ｒ１及びリード素子Ｒ２の軌跡を示している。図１４では、ディスク媒体１１１の回転により、リード素子Ｒ１及びリード素子Ｒ２は左上から右下に移動する場合が例示されている。Ｎｕｌｌ ＮとＮｕｌｌ Ｑは、Ｔｗ／２で半径方向にずれた位相で形成されており、半径方向に９０ｄｅｇ位相差を持ったパターンとなっている。

シーク移動している最中におけるヘッド１２２の現在位置を求めるために、チャネルのバースト出力は、ＢＧＡＴＥ信号がＯＮの区間（ウィンドウＷＮ，ＷＱ）の信号振幅を（離散フーリエ変換（ＤＦＴ）で加算することで、平均振幅として算出される。図１４に２点鎖線で示されるＮ１がリード素子Ｒ１直下のＮｕｌｌ Ｎ上の軌跡、Ｑ１がリード素子Ｒ１直下のＮｕｌｌ Ｑ上の軌跡となる。リード素子Ｒ１がマスター側のリード素子である場合、θとして求めたい位置ｄＰｏｓ（注目位置Ｐｔｇのオフトラック量）は、図１４に一点鎖線で示されるＮｕｌｌパターンの中心位置からオフトラックした位置になるが、Ｎ１出力は（周方向Ｂ２Ｃ手前の位置に対応した）半径方向にＷ手前の値に相当したものになる事がわかる。逆にＱ１出力は（周方向Ｂ２Ｃ行き過ぎた位置に対応した）半径方向にＷ行き過ぎた値に相当する。

つまり、数式５の導出に使った数式３の関係が、シーク時においては成り立っていない。

Ｎ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｎ）とＱ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｑ）とをサーボ領域に含む中周ゾーンＭＤのバースト復調処理にて、このようなシーク時にどうやって処理するのかを、図１４を用いて説明する。

Ｎ１はθに対し半径方向にＷ手前の値、Ｑ１出力は半径方向にＷ行き過ぎた値なので、速度依存のズレ量Ｗを位相角換算すると、数式３をシーク時に拡張した表記は、次の数式１３となる。

数式１３において、係数ａは、斜め走行時によりリード信号φＲ１の振幅が劣化することを示す係数である。また、位相角αは、速度依存によるサーボバースト信号のズレ分の位相角を示し、次の数式１４で求められる。

数式１４において、Ｗは、周方向距離Ｂ２Ｃに相当する時間と速度とで決まる半径方向の距離なので、位相角換算係数ｍ_ｖにて、速度（ヘッド１２２の移動速度）Ｖから直接算出する事ができる。

半径位置換算は、オフトラック量算出部１３７にて処理され、原理式で表記すると、数式２の様に処理される事を既に説明した。しかし、実際のオフトラック量算出部１３７では、速度補正処理もなされているので、厳密には数式１５となる。数式２では、バースト周期長Ｌを使用したが、数式１５ではサーボトラック幅Ｔｗにて表記しているだけで、Ｌ＝２・Ｔｗなので係数に関しては等価である。数式２との違いは、ＢｓｔＱ／ＢｓｔＮがＡＳ／ＡＣになっている点にあり、ＡＳ、ＡＣは数式１６にてＢｓｔＮ、ＢｓｔＱを速度補正した値である。

速度補正とは、数式１３による速度依存のズレ分の位相角αをキャンセルさせる演算処理であり、次の数式１６の様に、現速度（ヘッド１２２の移動速度）Ｖから、数式１４を使って、ｃｏｓα、ｓｉｎαを求めておき、これを乗算加算する。速度がほとんど無視できる場合には、ｃｏｓα＝１，ｓｉｎα＝０となり、ＡＳ＝ＢｓｔＱ，ＡＣ＝ＢｓｔＮとなって、数式２と完全に一致する。

数式１６でＢｓｔＮ＝Ｎ１、ＢｓｔＱ＝Ｑ１とし、数式１３を代入して展開すると、次の数式１７となり、ＡＣを数式２のＢｓｔＮとし、ＡＳをＢｓｔＱとして処理する数式１５の妥当性が明確になる。

ＡＣ，ＡＳは、同じ位相角θに対するｃｏｓ，ｓｉｎの関係にあり、数式１６の速度補正処理にて正しく位相角θを算出可能となるとわかる。

ただし、求めている位相角θは、ｏｆｆｔｒｋ相当値なので、シーク時は再生したグレイシリンダ（グレイコードのシリンダアドレスで示される位置）とのズレがある。グレイコード再生時にも、斜めに走行しているが、再生されるアドレスは、グレイコードの最下位ビット（ＬＳＢ）が配置された位置Ｐ_ＬＳＢになる。通常、最下位ビット（ＬＳＢ）は、グレイ領域の最終端に位置するが、スクランブル配置等を採用していると、必ずしも最終端に位置するとは限らないので注意が必要である。そのグレイコードの最下位ビット（ＬＳＢ）の位置Ｐ_ＬＳＢと、Ｎｕｌｌ中心までの距離Ｇ２Ｃに相当する時間と、シーク時速度とから、図１４に示す位置Ｐ_ＬＳＢから注目位置Ｐｔｇを含むトラックＴＲＫ＿ｈのトラック中心までの半径方向ずれ量ＣＯＶを求めることができる。実際には半径方向ずれ量ＣＯＶはシリンダ単位以下の小数点を含むが、詳細な位置はｏｆｆｔｒｋ（注目位置Ｐｔｇのオフトラック量）から求めるので、半径方向ずれ量ＣＯＶを整数値分加算して次の数式１８で位置ＰＯＳを求めることができる。

このように、Ｎ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｎ）とＱ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｑ）とをサーボ領域に含む中周ゾーンＭＤについての復調値が数式１３の様な速度影響を持っていたとしても、既存のオフトラック量算出部１３７にて行われている数式１６の速度補正処理にて、正しくオフトラック量が算出されている事が分かる。一方、実質的にＱ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｑ）をサーボ領域に含まない内周ゾーンＩＤ、外周ゾーンＯＤ内のトラックについての復調値は、数式１３のＱ１に相当するＳＱをＲ１，Ｒ２のＮ相の復調値Ｎ１とＮ２より、生成しなければならない。現ヘッドのトラック方向速度が無視できるほど小さければ、数式５にてＳＱを算出できるが、速度が無視できない程大きい場合には、速度を考慮した変換が必要となる。つまり、オフトラック量算出部１３７にて行われる速度補正処理が正しく機能するように、図７のＴＤＭＲ用ＮＵＬＬバースト変換部を、現ヘッド速度を考慮して、拡張する必要がある。

例えば、ディスク装置２００は、コントローラ１３０（図７参照）に代えて、図１５に示すようなコントローラ２３０を有する。図１５は、コントローラ２３０の構成を示す図である。コントローラ２３０は、ＮＵＬＬバースト変換部１３２に代えてＮＵＬＬバースト変換部２３２を有する点で第１の実施形態と異なる。尚、図７ではＣＴＳ導出部１３３の出力を再生素子軌跡の半径方向オフセット量Ｔｒと記したが、ヘッドが半径方向に速度を持っている場合には、素子間の半径方向距離ＣＴＳとは必ずしも一致しない。そこで、図１５ではＣＴＳをＮＵＬＬバースト変換部１３２に供給するように変更している。

ＣＴＳ導出部１３３は、グレイコードの復調結果Ｃ１で示されるアドレス（トラック番号）に応じて、現半径位置での半径方向距離ＣＴＳを導出してＮＵＬＬバースト変換部２３２へ供給する。コントローラ２３０は、オブザーバを用いることにより、ＶＣＭ１１６への電流指示値に基づいてヘッド１２２の移動速度Ｖを推定し、推定されたヘッド１２２の移動速度をＮＵＬＬバースト変換部２３２へ供給することができる。

ＮＵＬＬバースト変換部２３２は、ヘッド１２２の移動速度Ｖを参照して変換処理を行うように拡張されている点で第１の実施形態のＮＵＬＬバースト変換部１３２と異なる。ＮＵＬＬバースト変換部２３２は、ｓｉｎ値・ｃｏｓ値計算部１３２ｄ及びＳＱ変換部１３２ｅ（図８参照）に代えてｓｉｎ値・ｃｏｓ値計算部２３２ｄ及びＳＱ変換部２３２ｅを有し、係数乗算部２３２ｈ、係数乗算部２３２ｉ、及び加算器２３２ｊをさらに有する。

第１の実施形態のＮＵＬＬバースト変換部１３２では、ＣＴＳ導出部１３３にて現半径位置での半径方向距離ＣＴＳを最適化パラメータによる補間計算にて、後処理部にて算出しておき、これを半径方向における再生素子の走行軌跡のオフセット量Ｔｒとして入力する構成であったが、本実施形態のＮＵＬＬバースト変換部２３２は、更にヘッド１２２の半径方向の移動速度Ｖを用いて、速度により変化する半径方向における再生素子の走行軌跡のオフセット量Ｔｒを求める処理が追加されている。すなわち、係数乗算部２３２ｈは、ヘッドの移動速度Ｖに係数ｋ_ｖ（数式９参照）を乗算する。加算器２３２ｊは、係数乗算部２３２ｈの乗算結果（ｋ_ｖ・Ｖ）と径方向距離ＣＴＳとを加算してオフセット量Ｔｒを求めて位相角換算部１３２ｅへ供給する。これにより、数式９に示される処理が行われる。

更に、速度依存で変わる速度補正用の位相角αを求める。すなわち、係数乗算部２３２ｉは、ヘッドの移動速度Ｖに係数ｍ_ｖ（数式１０参照）を乗算し、乗算結果を速度依存による信号のずれ分の位相角αとしてｓｉｎ値・ｃｏｓ値計算部２３２ｄへ供給する。これにより、数式１０に示される処理が行われる。また、位相角換算部１３２ｅは、オフセット量Ｔｒを２つのリード素子の信号間の遅れ又は進み分の位相差θｒに換算してｓｉｎ値・ｃｏｓ値計算部２３２ｄへ供給する。これにより、数式１又は数式７に示される処理が行われる。

ｓｉｎ値・ｃｏｓ値計算部２３２ｄは、ズレ分の位相角αを係数乗算部２３２ｉから受け、オフセット量Ｔｒに対応した位相差θｒを位相角換算部１３２ｅから受ける。ｓｉｎ値・ｃｏｓ値計算部２３２ｄは、位相差θｒを用いてｓｉｎθｒを計算することに加えて、次の計算を行う。ｓｉｎ値・ｃｏｓ値計算部２３２ｄは、速度依存のズレ分の位相角αとオフセット量Ｔｒに対応した位相差θｒとを用いて数式１１により速度依存の実行的な位相差θｒ’を求め、速度依存の実行的な位相差θｒ’を用いてｃｏｓ（θｒ’）を計算する。ｓｉｎ値・ｃｏｓ値計算部２３２ｄは、速度依存のズレ分の位相角αを用いてｃｏｓ（２α）を計算する。ｓｉｎ値・ｃｏｓ値計算部２３２ｄは、それらの計算結果（ｓｉｎθｒ，ｃｏｓθｒ’，ｃｏｓ２α）をＳＱ変換部２３２ｅへ供給する。

ＳＱ変換部２３２ｅが行う変換処理の中身は、数式５に代えて、より拡張された数式１２である点で第１の実施形態と異なる。

速度Ｖが０であれば、数式９によりＴｒ＝ＣＴＳであり、数式１０によりα＝０となり、数式１１によりθｒ’＝θｒとなるので、数式１２は数式５と一致する。すなわち、数式１２は、数式５を速度Ｖ＝０の場合として含むとともに速度Ｖ≠０の場合にも対応可能であるように拡張された数式ということになる。

数式１２に数式４、数式１１を代入して展開し係数をａとおくと、次の数式１９となる。

ここで、数式５と数式１２との違いについて、図１７を用いて説明する。図１７は、オフトラック量の検出処理を示す図である。図１７（ａ）は、ヘッド１２２がトラッキング動作している場合におけるＳＱ変換処理を示す図であり、図１７（ｂ）は、ヘッド１２２がシーク動作している場合におけるＳＱ変換処理を示す図である。

ヘッド１２２のトラッキング時（半径方向の移動速度Ｖ＝０）であれば、図１７（ａ）に示すように、数式５により、外周ゾーンＯＤのトラックＴＲＫ＿ｒについてＮ１及びＮ２から求められたＳＱが、中周ゾーンＭＤのトラックＴＲＫ＿ｈについて検出されたＱ１に相当する信号になり得る。

一方、ヘッド１２２のシーク時（半径方向の移動速度Ｖ≠０）であれば、図１７（ｂ）に示すように、数式５により、外周ゾーンＯＤのトラックＴＲＫ＿ｒについてＮ１及びＮ２から求められたＳＱ’が、中周ゾーンＭＤのトラックＴＲＫ＿ｈについて検出されたＱ１に相当する信号から（半径位置のずれ量２Ｗに対応して）位相的にずれる傾向にある。その（半径位置のずれ量２Ｗに対応した）ズレ分の位相角をαとして考慮することで、図１７（ｂ）に示すように、数式１２により、外周ゾーンＯＤのトラックＴＲＫ＿ｒについてＮ１及びＮ２から求められたＳＱが、中周ゾーンＭＤのトラックＴＲＫ＿ｈについて検出されたＱ１（図１４参照）に相当する信号になり得る。

次に、リード素子間の走行軌跡が半径方向にオフセットした量として算出されたものであるオフセット量Ｔｒをなぜ速度依存により変更するのかについて図１８を用いて説明する。図１８に速度による実効的な半径方向距離ＣＴＳであるオフトラック量Ｔｒの変化を示す。

ヘッド１２２の構造上、２つのリード素子Ｒ１，Ｒ２は、Ｒ−ＲＧａｐと呼ぶ距離を持つ。Ｒ−ＲＧａｐは半径方向成分としてＣＴＳ、周方向成分としてＤＴＳを含むベクトル量であり、２つのリード素子Ｒ１，Ｒ２は、半径方向にＣＴＳ、周方向にＤＴＳ分のオフセット配置されるイメージとなる。このため、ヘッド１２２が半径方向に速度Ｖで移動している場合、そのＮｕｌｌバーストを通過する位置での半径方向ズレであるオフセット量Ｔｒは、再生素子間の半径方向距離ＣＴＳではなく、再生素子間の周方向距離ＤＴＳと速度とにより補正する必要がある。

例えば、リード素子Ｒ２に対してリード素子Ｒ１が半径方向内周側にＣＴＳでオフセットしている場合、図１８（ｂ）に示すトラッキング時（半径方向の移動速度Ｖ＝０）であれば、オフセット量Ｔｒが半径方向距離ＣＴＳに略等しくなる。一方、図１８（ａ）に示すようにヘッド１２２が内周側に速度Ｖで移動していれば、オフセット量Ｔｒが半径方向距離ＣＴＳに対して速度Ｖに依存して大きくなる。あるいは、図１８（ｃ）に示すようにヘッド１２２が外周側に速度Ｖで移動していれば、オフセット量ＴｒがＣＴＳに対して速度Ｖに依存して小さくなる。

すなわち、実効的な半径方向距離ＣＴＳであるオフセット量Ｔｒは、その半径位置での半径方向距離ＣＴＳに数式９の補正を掛けることで求める事ができる。

数式９における係数ｋ_ｖは、数式８で求められたものである。数式８において、ｒは現ヘッドの半径位置であり、Ｆ_ｓｐｍはディスク媒体１１１の回転周波数である。

この数式８で分かる様に、ｋ_Ｖは半径位置に依存する係数であり、周方向距離ＤＴＳも半径位置によりスキュー角βで、ＲＲ−Ｇａｐ・ｃｏｓβで変化する。

図１９に、本実施形態のシーク時の移動速度によるオフセット量Ｔｒの変化を示す。内周ゾーンＩＤ、中周ゾーンＭＤ、外周ゾーンＯＤの３点の半径位置について実線、一点鎖線、二点鎖線にて示しているが、その半径位置でのオフセット量Ｔｒに対し、速度による変化勾配係数が異なっている事が確認できる。

この勾配を愚直に演算する事も可能であるが、かなり複雑な演算式となるため、実際には、出荷時にヘッド毎に、ゾーンごとの半径位置でのこの勾配係数を求めておき、後処理部にて、その補間計算にて係数ｋ_Ｖを更新する方式を採用している。すなわち、コントローラ２３０は、ＮＵＬＬバースト変換部２３２における係数乗算部２３２ｈの係数ｋ_ｖと係数乗算部２３２ｉの係数ｍ_ｖとを、現半径位置に応じて逐次的に更新することができる。これにより、シーク時にも、正しいヘッド位置が算出可能となる。

なお、補足しておくと、コントローラ２３０は、図１５に示すＮＵＬＬバースト変換部２３２におけるセレクタ１３２ａ，１３２ｆに対して、オブザーバの予測位置によりそのアドレスがある閾値を越えたか否かで判定して、切り替えを行う。

この際、Ｎ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｎ）とＱ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｑ）とをサーボ領域に含む中周ゾーンＭＤにおける半径位置にて、Ｓｅｌｅｃｔ＝１を選択することは問題ないが、実質的にＱ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｑ）をサーボ領域に含まない内周ゾーンＩＤ、外周ゾーンＯＤにおける半径位置にて、Ｓｅｌｅｃｔ＝０を選択してしまうと位置を正しく復調できない可能性がある。このため、セレクタ切替え半径アドレスを、中周ゾーンＭＤの通常サーボ領域内に来るように、ヘッド１２２の半径方向の移動速度とセレクタ１３２ａ，１３２ｆの切り替え処理に要する時間とを考慮したマージン分シフト設定することができる。すなわち、中周ゾーンＭＤ内に内周ゾーンＩＤに隣接する隣接領域ＭＩＤをマージン分に対応した半径方向幅で設けるとともに外周ゾーンＯＤに隣接する隣接領域ＭＯＤをマージン分に対応した半径方向幅で設けることができる。

例えば、ヘッド１２２が中周ゾーンＭＤ内で内周側にシーク移動していれば、隣接領域ＭＩＤに達する半径位置でＳｅｌｅｃｔ＝１→０に切り替える。すなわち、内周ゾーンＩＤに達する手前で通常の処理から数式１２による変換処理に切り替え、Ｎ１とＳＱとを用いてオフトラック量を算出させることができる。先述した様に、数式１２のＳＱは、数式１３のＱ１に相当する値となるので、オフトラック量算出部のｏｆｆｔｒｋが不連続になる事はなく、滑らかなシーク処理を実行できる。

あるいは、例えば、ヘッド１２２が中周ゾーンＭＤ内で外周側にシーク移動していれば、隣接領域ＭＯＤに達する半径位置でＳｅｌｅｃｔ＝１→０に切り替える。すなわち、外周ゾーンＯＤに達する手前で通常の処理から数式１２による変換処理に切り替え、Ｎ１とＳＱとを用いてオフトラック量を算出させることができる。

以上のように、第２の実施形態では、内周ゾーンＩＤ、外周ゾーンＯＤ内のトラックについて、数式５に相当する変換処理をヘッドの移動速度を考慮した変換処理に拡張し、その拡張された変換処理によりＱ１相当信号ＳＱを求めることで、ヘッド１２２をシークさせている際にも、Ｎ１とＳＱとを用いてオフトラック量を算出でき、ヘッド１２２の位置を正確に復調することができる。

（第３の実施形態）
次に、第３の実施形態にかかるディスク装置１００について説明する。以下では、第１の実施形態及び第２の実施形態と異なる部分を中心に説明する。

第３の実施形態では、図２０（ａ）〜図２０（ｄ）に示すように、ヘッド１２２’は、２つのリード素子Ｒ１，Ｒ２に加えて３つ目のリード素子Ｒ３を有する。図２０は、第３の実施形態におけるヘッド１２２’の構成を示す図である。３つのリード素子Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３は、２つのリード素子の中心を結ぶ直線に対して残りの１つのリード素子の中心がずれた位置に配されるように構成される。ヘッド１２２’において、３つのリード素子Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３は、リード素子Ｒ１，Ｒ２の中心を結ぶ線分とリード素子Ｒ２，Ｒ３の中心を結ぶ線分とリード素子Ｒ１，Ｒ３の中心を結ぶ線分とで３角形が描けるような位置関係に配される。

また、３つのリード素子Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３のうち、リード素子Ｒ１をマスター側のリード素子とし、リード素子Ｒ２及びリード素子Ｒ３のいずれかをスレーブ側のリード素子とすることができる。すなわち、リード素子Ｒ１をマスター側のリード素子としリード素子Ｒ２をスレーブ側のリード素子としてもよいし、リード素子Ｒ１をマスター側のリード素子としリード素子Ｒ３をスレーブ側のリード素子としてもよい。リード素子Ｒ１をマスター側のリード素子としリード素子Ｒ２をスレーブ側のリード素子とした場合、２つのリード素子Ｒ１，Ｒ２毎にリード信号φＲ１，φＲ２を活用してサーボパターンの情報を取得する事が可能である。リード素子Ｒ１をマスター側のリード素子としリード素子Ｒ３をスレーブ側のリード素子とした場合、２つのリード素子Ｒ１，Ｒ３毎にリード信号φＲ１，φＲ３を活用してサーボパターンの情報を取得する事が可能である。

例えば、ヘッド１２２が中周ゾーンＭＤ内のトラックＴＲＫ＿ｈに位置する場合、図３（ｃ）に示すようにリード素子Ｒ１に対してリード素子Ｒ２が略ゼロのオフセット量Ｔｒ（≒０）となるが、図２０（ｃ）に示すようにリード素子Ｒ１に対してリード素子Ｒ３が正のオフセット量Ｔｒ’（＞０）となる。これにより、中周ゾーンＭＤ内のトラックＴＲＫ＿ｈに位置する場合にリード信号φＲ２に代えてリード信号φＲ３を活用すれば、オフセット量Ｔｒ’を用いることで、ヘッド１２２’のオフトラック量の検出をＮ相の検出で済ますことが可能である。例えば、数式１におけるＴｒをＴｒ’としてθｒを求め、リード信号φＲ１に応じたＮ１とリード信号φＲ２に応じたＮ２と求められたθｒとを数式５に代入してｓｉｎθを求め、ｃｏｓθ（＝Ｎ１）と求められたｓｉｎθとを数式２に代入してヘッド１２２’のオフトラック量ｏｆｆｔｒｋを求めることができる。

この場合、図１１のＳ２３において、コントローラ１３０は、オフセット量Ｔｒに加えてオフセット量Ｔｒ’を測定することができる。オフセット量Ｔｒ’の測定では、強制Ｒ１位置算出用フラグが立てられ、コントローラ１３０は、強制Ｒ１位置算出用フラグに従い、リード素子Ｒ１の位置検出を行ってリード素子Ｒ１の現ヘッド位置Ｐｏｓ１を取得する。そして、強制Ｒ３位置算出用フラグが立てられ、コントローラ１３０は、強制Ｒ３位置算出用フラグに従い、リード素子Ｒ３の位置検出を行ってリード素子Ｒ３の現ヘッド位置Ｐｏｓ２を取得する。コントローラ１３０は、数式６に示すように、Ｐｏｓ１とＰｏｓ２とのヘッド位置の差としてオフセット量Ｔｒ’を求める事ができる。

また、図９のＳ３において、図２１に示すようにポストコード記録処理を行う。すなわち、外周ゾーンＯＤとなるべき半径位置、内周ゾーンＩＤとなるべき半径位置に加えて中周ゾーンＭＤとなるべき半径位置においても、Ｎ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｎ）の直後にポストコードが追記される。これにより、外周ゾーンＯＤとなるべき半径位置、中周ゾーンＭＤとなるべき半径位置、内周ゾーンＩＤとなるべき半径位置のそれぞれにおいて、Ｑ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｑ）の一部（大部分）又は全部が消去される。

これにより、ディスク媒体１１１における各ゾーンＩＤ，ＭＤ，ＯＤ内のトラックのサーボバースト領域Ｒｂｓｔを実質的にＮ相のバーストパターンのみで構成することで、ディスク媒体１１１におけるデータ容量の更なる向上を図ることができる。

例えば、図２１（ａ）、図２１（ｃ）、図２１（ｅ）に示すように、各ゾーンＯＤ，ＭＤ，ＩＤ内の各トラック（例えば、トラックＴＲＫ＿ｒ，ＴＲＫ＿ｈ，ＴＲＫ＿ｐ）のサーボバースト領域Ｒｂｓｔは、Ｎ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｎ）を含み且つＱ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｑ）を含まない。ディスク媒体１１１における実質的に全トラックのそれぞれのサーボバースト領域Ｒｂｓｔは、Ｎ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｎ）を含み且つＱ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｑ）を含まない。

あるいは、図２１（ｂ）、図２１（ｄ）、図２１（ｆ）に示すように、各ゾーンＯＤ，ＭＤ，ＩＤ内の各トラック（例えば、トラックＴＲＫ＿ｒ，ＴＲＫ＿ｈ，ＴＲＫ＿ｐ）のサーボバースト領域Ｒｂｓｔは、Ｎ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｎ）を含み且つＮ相のバーストパターンよりビット長の大幅に短いＱ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｑ）を含む。ディスク媒体１１１における実質的に全トラックのそれぞれのサーボバースト領域Ｒｂｓｔは、Ｎ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｎ）を含み且つＮ相のバーストパターンよりビット長の大幅に短いＱ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｑ）を含む。すなわち、各ゾーンＯＤ，ＭＤ，ＩＤ内の各トラックのサーボバースト領域Ｒｂｓｔは、ゲート信号におけるＱ相の復調窓ＷＱのパルス幅（図４（ｂ）参照）に対応するビット長に比較して大幅に短いビット長のＱ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｑ）を含む。ディスク媒体１１１における実質的に全トラックのそれぞれのサーボバースト領域Ｒｂｓｔは、ゲート信号におけるＱ相の復調窓ＷＱのパルス幅（図４（ｂ）参照）に対応するビット長に比較して大幅に短いビット長のＱ相のバーストパターン（Ｎｕｌｌ Ｑ）を含む。

また、製造工程において、中周ゾーンＭＤにヘッド１２２’が位置する場合など２つのリード素子Ｒ１，Ｒ３のリード信号φＲ１，φＲ３がリードされた場合に、図７に示すリードチャネル１３１が復調窓ＷＮ，ＷＱのアクティブな区間に取得されたリード信号φＲ３をそれぞれＮ２、Ｑ２として採用することで、コントローラ１３０はオフセット量Ｔｒ’を求めることができる。また、出荷後において、中周ゾーンＭＤにヘッド１２２’が位置する場合など２つのリード素子Ｒ１，Ｒ３のリード信号φＲ１，φＲ３がリードされた場合に、図７に示すリードチャネル１３１が復調窓ＷＮのアクティブな区間に取得されたリード信号φＲ３をそれぞれＮ２、Ｑ２として採用することで、コントローラ１３０はオフセット量Ｔｒ’を用いてヘッド１２２’のオフトラック量を求めることができる。

また、ヘッド１２２’における３つのリード素子Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３のうちマスター側のリード素子が変更される場合、マスター側のリード素子で読み出されるグレイコードが変更されると、現ヘッド位置が不連続変化してしまう可能性がある。

そこで、グレイコード復調に使う再生素子（マスター側のリード素子）を切替える場合は、マスター側のリード素子間の切替え位置での周方向距離ＣＴＳをオフセット補正情報としてあらかじめ求めておき、その周方向距離ＣＴＳ分のオフセット補正量を復調されるヘッド位置に加算補正する。

例えば、ディスク装置３００は、コントローラ２３０（図１５参照）に代えて、図２２に示すようなコントローラ３３０を有する。図２２は、コントローラ３３０の構成を示す図である。コントローラ３３０は、ＣＴＳオフセット補正値３４０及び加算器３３９をさらに有する。

ＣＴＳオフセット補正値３４０は、マスター側再生素子を切替た際に、その切替前後のマスター側再生素子間ＣＴＳによる検出位置の不連続ズレを補正するための補正量を保持するメモリ部であり、シーク時に３再生素子から２再生素子を切替える時点で、そのオフセット補正量ΔＴｒが更新設定される。

図２３に、各半径領域にて、３リード素子からどの２リード素子を選択して採用するかを示す。本実施例では、データ領域を５ゾーン分割して、位置検出ノイズが最小となる様に、サーボパターンに対し、リード素子間の半径方向距離ＣＴＳが、サーボパターンの位相差として９０度近傍となるものを選択する様にしている。半径位置欄３４１ｂは、３２データゾーンの半径位置に相当し、データゾーン０からデータゾーン３の半径位置では、Ｎ１，Ｃ１信号を生成するマスター側リード素子３４１ｃはＲ２の素子を使い、Ｎ２信号を生成するスレーブ側リード素子３４１ｄには、Ｒ３の素子を使う事を示している。このＩＤ領域でのオフセット補正量３４１ｅは、常時ＣＴＳ１２Ｚ４で、ＣＴＳオフセット補正値３４０はこの補正量を保持している。尚、ＣＴＳ１２Ｚ４は、データゾーン３とデータゾーン４の境界半径位置での、リード素子Ｒ１とリード素子Ｒ２との半径方向の素子間距離である。また、ＯＤ領域でのオフセット補正量３４１ｅは、ＣＴＳ１２Ｚ３０で、データゾーン２９とデータゾーン３０の境界半径位置での、リード素子Ｒ１とリード素子Ｒ２との半径方向の素子間距離である。ＩＤ領域からＭＤ領域に切替える際には、リード素子の切替対応とともに、ＣＴＳオフセット補正値３４０には、オフセット補正量３４１ｅがロードされ、オフセット補正量ΔＴｒは０になる。逆に、ＭＤ領域からＩＤ領域に切り替える際には、オフセット補正量ΔＴｒはＣＴＳ１２Ｚ４になる。

マスター側リード素子の切替えにより、Ｃ１やＮ１のリード素子の走行半径位置がＣＴＳ分急変してしまうが、マスター側リード素子の切替えに同期して、ＣＴＳオフセット補正値３４０を適切に更新設定することで、検出位置の不連続分を補正できる。

加算器１３８は、現ヘッド位置Ｐｏｓを加算器３３９へ供給する。ＣＴＳオフセット補正値３４０は、オフセット補正量ΔＴｒを加算器３３９へ供給する。加算器３３９は、現ヘッド位置Ｐｏｓにオフセット補正量ΔＴｒを加算して補正後の現ヘッド位置Ｐｏｓ’を生成する。

以上のように、第３の実施形態では、ディスク媒体１１１における各ゾーンＩＤ，ＭＤ，ＯＤ内のトラックのサーボバースト領域Ｒｂｓｔを実質的にＮ相のバーストパターンのみで構成する。これにより、ディスク媒体１１１におけるデータ容量の更なる向上を図ることができる。

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。

１００，２００，３００ ディスク装置、１１１ ディスク媒体、１２２，１２２’ ヘッド。

Claims (16)

1. 第１のリード素子及び第２のリード素子を有するヘッドと、
   複数のゾーンに分割されたディスク媒体と、
   を備え、
   前記複数のゾーンは、
   サーボ領域とデータ領域とが配されたトラックであり前記サーボ領域内における前記ヘッドのトラック中心からのオフトラック量を検出するためのサーボバースト領域が第１のビット長を有するトラックを複数含む第１のゾーンと、
   サーボ領域とデータ領域とが配されたトラックであり前記サーボ領域内における前記ヘッドのトラック中心からのオフトラック量を検出するためのサーボバースト領域が前記第１のビット長より短い第２のビット長を有するトラックを複数含む第２のゾーンと、
   を含む
   ディスク装置。
2. 前記第１のゾーンにおける前記サーボバースト領域は、第１のバーストパターン及び第２のバーストパターンを含み、
   前記第２のゾーンにおける前記サーボバースト領域は、前記第１のバーストパターンを含み且つ前記第２のバーストパターンを含まない、あるいは、前記第１のバーストパターンを含み且つ前記第１のゾーンにおける前記第２のバーストパターンよりビット長の短い前記第２のバーストパターンを含む
   請求項１に記載のディスク装置。
3. 第１の処理と第２の処理とを切り替える位置検出手段をさらに備え、
   前記第１の処理は、前記第１のバーストパターン及び前記第２のバーストパターンの検出結果に応じて前記ヘッドのオフトラック量を求めて現ヘッド位置を検出する処理であり、
   前記第２の処理は、前記第１のバーストパターンの前記第１のリード素子による検出結果と前記第１のバーストパターンの前記第２のリード素子による検出結果と半径方向における前記第１のリード素子及び前記第２のリード素子のオフセット量とに応じて前記ヘッドのオフトラック量を求めて現ヘッド位置を検出する処理である
   請求項１又は２に記載のディスク装置。
4. 前記オフセット量は、リード素子間の物理的な配置関係と前記ヘッドの移動速度とに基づきリード素子間の走行軌跡が半径方向にオフセットした量として算出されたものである
   請求項３に記載のディスク装置。
5. 前記位置検出手段は、前記第１のゾーンに前記ヘッドが位置する場合に前記第１の処理を行い、前記第２のゾーンに前記ヘッドが位置する場合に前記第２の処理を行う
   請求項３に記載のディスク装置。
6. 前記位置検出手段は、前記ヘッドが前記第１のゾーンから前記第２のゾーンへ移動する場合に、前記第１のゾーン内で前記第１の処理から前記第２の処理への切り替えを行う
   請求項３に記載のディスク装置。
7. 前記位置検出手段は、前記ヘッドが前記第２のゾーンから前記第１のゾーンへ移動する場合に、前記第１のゾーン内で前記第２の処理から前記第１の処理への切り替えを行う
   請求項３に記載のディスク装置。
8. 前記第１のゾーンにおけるサーボトラックピッチは、前記第２のゾーンにおけるサーボトラックピッチより狭い
   請求項１から７のいずれか１項に記載のディスク装置。
9. 前記第１のゾーンに前記ヘッドが位置する場合における前記第１のリード素子の中心と前記第２のリード素子の中心との半径方向のオフセット量の絶対値は、前記第２のゾーンに前記ヘッドが位置する場合における前記第１のリード素子の中心と前記第２のリード素子の中心との半径方向のオフセット量の絶対値より大きい
   請求項１から８のいずれか１項に記載のディスク装置。
10. 第１のリード素子及び第２のリード素子を有するヘッドとディスク媒体とを有するディスク装置の製造方法であって、
    第１のバーストパターン及び第２のバーストパターンを含むサーボパターンを記録し、前記第１のバーストパターン及び前記第２のバーストパターンが記録されるサーボバースト領域を含むサーボ領域を前記ディスク媒体の複数の半径位置のそれぞれに形成することと、
    前記複数の半径位置のそれぞれに対して、前記第１のバーストパターン及び前記第２のバーストパターンの前記第１のリード素子による検出結果に応じた前記第１のリード素子の位置と前記第１のバーストパターン及び前記第２のバーストパターンの前記第２のリード素子による検出結果に応じた前記第２のリード素子の位置との差分を取って前記第１のリード素子及び前記第２のリード素子間のオフセット量を求めることと、
    前記複数の半径位置のそれぞれの前記第１のリード素子及び前記第２のリード素子間のオフセット量に基づき、前記複数の半径位置が分割された複数のゾーンのうち第１のゾーンにおける前記サーボバースト領域から前記第２のバーストパターンを消去せずに第２のゾーンにおける前記サーボバースト領域から前記第２のバーストパターンを消去することと、
    を備えたディスク装置の製造方法。
11. 第１のリード素子、第２のリード素子、及び前記第１のリード素子の中心及び前記第２のリード素子の中心を結ぶ直線に対してずれた位置に配される第３のリード素子を有するヘッドと、
    複数のトラックを有するディスク媒体と、
    を備え、
    前記複数のトラックのそれぞれは、サーボ領域とデータ領域とが配され
    前記サーボ領域は、前記ヘッドのトラック中心からのオフトラック量を検出するためのサーボバースト領域を含み、
    前記サーボバースト領域は、第１のバーストパターンを含み且つ前記第１のバーストパターンと異なる位相を持つ第２のバーストパターンを含まない、あるいは、前記第１のバーストパターンを含み且つ前記第１のバーストパターンよりビット長の短い前記第２のバーストパターンを含む
    ディスク装置。
12. 前記第１から第３のリード素子のうち半径位置に応じて２つのリード素子を選択し、前記２つのリード素子の一方を主リード素子として、前記サーボ領域からアドレス情報及び前記第１のバーストパターンを再生して第１のバースト検出結果を取得し、前記２つのリード素子の他方を副リード素子として、前記第１のバーストパターンを再生して第２のバースト検出結果を取得し、前記第１のバースト検出結果と前記第２のバースト検出結果と主副リード素子間の半径方向におけるオフセット量とに応じて、前記ヘッドのオフトラック量を求めて現ヘッド位置を検出する位置検出手段をさらに備えた
    請求項１１に記載のディスク装置。
13. 前記主副リード素子間の半径方向におけるオフセット量は、前記主リード素子と前記副リード素子との物理的な配置関係と前記ヘッドの移動速度とに基づき前記主リード素子と前記副リード素子との走行軌跡が半径方向にオフセットした量として算出されたものである
    請求項１２に記載のディスク装置。
14. 前記位置検出手段は、前記２つのリード素子の選択により前記主リード素子が変更されることに応じて、変更前の前記主リード素子と変更後の前記主リード素子との半径方向距離に対応する補正値で前記求められたオフトラック量を補正して、現ヘッド位置を検出する
    請求項１２又は１３に記載のディスク装置。
15. 前記第１のトラックにおけるサーボトラックピッチは、前記第２のトラックにおけるサーボトラックピッチより狭い
    請求項１１から１４のいずれか１項に記載のディスク装置。
16. 第１のリード素子、第２のリード素子、及び前記第１のリード素子の中心及び前記第２のリード素子の中心を結ぶ直線に対してずれた位置に配される第３のリード素子を有するヘッドとディスク媒体とを有するディスク装置の製造方法であって、
    第１のバーストパターン及び第２のバーストパターンを含むサーボパターンを記録し、前記第１のバーストパターン及び前記第２のバーストパターンが記録されるサーボバースト領域を含むサーボ領域を前記ディスク媒体の複数の半径位置のそれぞれに形成することと、
    前記複数の半径位置のそれぞれに対して、前記第１のバーストパターン及び前記第２のバーストパターンの前記第１のリード素子による検出結果に応じた前記第１のリード素子の位置と前記第１のバーストパターン及び前記第２のバーストパターンの前記第２のリード素子による検出結果に応じた前記第２のリード素子の位置との差分を取って前記第１のリード素子及び前記第２のリード素子間のオフセット量を求めることと、
    前記複数の半径位置のそれぞれに対して、前記第１のバーストパターン及び前記第２のバーストパターンの前記第１のリード素子による検出結果に応じた前記第１のリード素子の位置と前記第１のバーストパターン及び前記第２のバーストパターンの前記第３のリード素子による検出結果に応じた前記第３のリード素子の位置との差分を取って前記第１のリード素子及び前記第３のリード素子間のオフセット量を求めることと、
    前記複数の半径位置のそれぞれの前記第１のリード素子及び前記第２のリード素子間のオフセット量と前記第１のリード素子及び前記第３のリード素子間のオフセット量とに基づき、前記複数の半径位置のそれぞれにおける前記サーボバースト領域から前記第２のバーストパターンを消去することと、
    を備えたディスク装置の製造方法。