JP2019125961A - 送信装置、受信装置、及び量子鍵配送システム - Google Patents
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Abstract
【課題】 量子伝送路で生じた偏光乱れを効率的に補正する。【解決手段】 一実施形態に係る量子鍵配送システムのための送信装置は、光源と、第1の分波器と、エンコーダと、第1の合波器と、を備える。光源は、光パルスを生成する。第1の分波器は、前記光パルスを、第1の経路を移動する信号パルスと、前記第1の経路と光路長が異なる第2の経路を移動する偏光制御用パルスと、に分波する。エンコーダは、前記第1の経路に設けられ、前記信号パルスに情報を符号化する。第1の合波器は、前記エンコーダを通過した前記信号パルスと前記偏光制御用パルスとを合波する。【選択図】図1
Description
本発明の実施形態は、量子鍵配送システムに関する。
量子鍵配送システムは、送信器、受信器、及びこれらを接続する量子伝送路を含んで構成される。送信器は、量子伝送路を介して光子を受信器に送信する。その後、送信器と受信器とが相互に信号情報を確認することによって、送信器と受信器との間で暗号鍵を共有する。この技術は、一般に量子鍵配送(Quantum Key Distribution:QKD)と呼ばれる。量子力学の基本原理により、盗聴者が量子伝送路の途中で光子を盗聴した場合、光子の物理的な状態が変化する。その結果、送信器と受信器との間で信号に誤差が生じる。QKDでは、信号の共通部分を比較することによって量子伝送路の途中に盗聴者がいたことを検出することが可能である。
QKDが成り立つためには、量子伝送路において光子の状態が変化しないことが望ましい。しかしながら、量子伝送路の温度変化や振動などにより、光子の偏光状態及び位相状態に変化が生じる。量子鍵配送システムは、このような偏光及び位相の乱れを補正するフィードバック機構を備える。
本発明が解決しようとする課題は、量子伝送路で生じた偏光乱れを効率的に補正することができる量子鍵配送システム、並びに、この量子鍵配信システムのための送信装置及び受信装置を提供することである。
一実施形態に係る量子鍵配送システムのための送信装置は、光源と、第1の分波器と、エンコーダと、第1の合波器と、を備える。光源は、光パルスを生成する。第1の分波器は、前記光パルスを、第1の経路を移動する信号パルスと、前記第1の経路と光路長が異なる第2の経路を移動する偏光制御用パルスと、に分波する。エンコーダは、前記第1の経路に設けられ、前記信号パルスに情報を符号化する。第1の合波器は、前記エンコーダを通過した前記信号パルスと前記偏光制御用パルスとを合波する。
以下、図面を参照しながら実施形態を説明する。
図1及び図2は、一実施形態に係る量子鍵配送システムのための送信器(送信装置)100及び受信器(受信装置)200をそれぞれ示している。送信器100は、伝送路190によって受信器200に接続される。伝送路190は、シングルモードファイバなどの光ファイバである。送信器100と受信器200は同期される。例えば、量子鍵配送システムは、送信器100及び受信器200を同期するための同期信号を生成するタイミング制御器(図示せず)を備えていてもよい。一例として、タイミング制御器は受信器200に設けられ、同期信号は古典チャネルで送信器100へ送信される。
図1に示されるように、送信器100は、光源102、分波器104、干渉計106、減衰器114、合波器116、及び減衰器118を備える。光源102は、分波器104の入力ポートに接続される。分波器104の第1の出力ポートは、干渉計106を経由して合波器116の第1の入力ポートに接続され、分波器104の第2の出力ポートは、減衰器114を経由して合波器116の第2の入力ポートに接続される。干渉計106は、分波器108、変調器110、及び合波器112を備える。干渉計106において、分波器108の入力ポートが分波器104の第1の出力ポートに接続される。分波器108の第1の出力ポートは、変調器110を経由して合波器112の第1の入力ポートに接続され、分波器108の第2の出力ポートは、合波器112の第2の入力ポートに接続される。合波器112の出力ポートは、合波器116の第1の入力ポートに接続される。光源102から合波器116までにおいて、コンポーネント同士(例えば光源102及び分波器104)を接続する光ファイバは全て偏光保持ファイバであり得る。合波器116の出力ポートは、減衰器118を経由して伝送路190に接続される。合波器116と減衰器118とを接続する光ファイバは、例えば、シングルモードファイバである。
光源102は、光パルスを生成する。本実施形態では、光源102は、直線偏光した光パルスを生成する。光源102は、レーザーダイオードであり得るが、これに限定されない。光源102は、図示しない制御回路により適用されるトリガー信号によって駆動される。トリガー信号は、例えば、所定の周波数(例えば1GHz)を有する電圧信号であり、それにより、光源102は、一定間隔で(例えば1ナノ秒間隔で)光パルスを生成する。光源102は、光パルスの偏光方向が偏光保持ファイバの特定の軸(典型的には遅軸)に平行になるように光パルスを出力する。
分波器104は、光源102から出力された光パルスを2つに分波する。分波器104の第1の出力ポートから出力される光パルスの第1の部分151は、暗号鍵の生成に利用されるものであり、信号パルスと呼ぶこととする。分波器104の第2の出力ポートから出力される光パルスの第2の部分154は、伝送中に信号パルスに生じた偏光乱れを補正するために使用されるものであり、偏光制御用パルスと呼ぶこととする。
分波器104は、ファイバカプラであり得るが、これに限定されない。例えば、分波器104として、ビームスプリッタなどの他の光学素子が使用されてもよい。偏光制御用パルス154の強度が信号パルス151の強度よりも強くなるように、分波器104の分岐比が設定されることが望ましい。分岐比がそのように設定される場合、偏光制御用パルス154が送信器100から出力されるときにより多くの光子を有する。なお、分岐比は、1:1であってもよく(すなわち、偏光制御用パルス154の強度が信号パルス151の強度と等しくなるように設定されてもよく)、偏光制御用パルス154の強度が信号パルス151の強度よりも弱くなるように設定されてもよい。
干渉計106は、分波器104から信号パルス151を受け取り、この信号パルス151に情報を符号化するエンコーダに相当する。情報は、送信器100と受信器200とが共有することになる暗号鍵を生成するために受信器200へ送信される情報である。干渉計106は、非対称マッハツェンダー干渉計である。
干渉計106において、信号パルス151は分波器108に入射する。分波器108は、信号パルス151を2つに、すなわち、信号パルス152及び信号パルス153に分波する。分波器108は、ファイバカプラであり得るが、これに限定されない。
分波器108の第1の出力ポートから出力された信号パルス152は変調器110に入射する。変調器110は、送信する情報に基づいて信号パルス152の位相を変調する。変調器110を通過した信号パルス152は合波器112に入射する。分波器108の第2の出力ポートから出力された信号パルス153は合波器112に入射する。合波器112は、変調器110を通過した信号パルス152と信号パルス153とを合波する。合波器112は、ファイバカプラであり得るが、これに限定されない。干渉計106を通過した信号パルス152、153は、合波器116に入射する。
信号パルス153が移動する分波器108から合波器112までの経路132の光路長は、信号パルス152が移動する分波器108から合波器112までの経路131の光路長よりも長い。経路131と経路132との間の光路長差は、tdelayの光伝搬遅延時間に対応する。すなわち、干渉計106の出口では、信号パルス153は、信号パルス152よりもtdelayの時間だけ遅れる。
合波器112の第1の入力ポート及び第2の入力ポートに接続される偏光保持ファイバの遅軸は、同じ方向にそろえられる。これにより、干渉計106の出口では、信号パルス152の偏光は信号パルス153の偏光と同一になる。
分波器104から出力された偏光制御用パルス154は、減衰器114に入射する。減衰器114は、偏光制御用パルス154の強度を減衰させる。減衰器114を通過した偏光制御用パルス154は、合波器116に入射する。
合波器116は、信号パルス152、153と偏光制御用パルス154とを合波し、光パルス列155を生成する。合波器116は、偏光ビームスプリッタであり得るが、これに限定されない。偏光制御用パルス154が移動する分波器104から合波器116までの経路135の光路長は、経路131を含む分波器104から合波器116までの経路133の光路長よりも長く、経路132を含む分波器104から合波器116までの経路134の光路長よりも短い。したがって、合波器116の出口では、偏光制御用パルス154は、信号パルス152と信号パルス153との間に存在する。経路133と経路135との光路長差が経路135と経路134との光路長差と等しい場合には、偏光制御用パルス154は、信号パルス152と信号パルス153との中間に位置する。
合波器116の第1の入力ポートに接続される偏光保持ファイバの遅軸は、合波器116の第2の入力ポートに接続される偏光保持ファイバの遅軸に対して90°回転される。これにより、偏光制御用パルス154の偏光は、信号パルス152、153の偏光と直交する。これにより、偏光制御用パルス154が信号パルス152、153と干渉することが防止又は抑制される。
合波器116から出力された光パルス列155は、減衰器118に入射する。減衰器118は、信号パルス152、153の強度が単一光子レベルになるように、光パルス列155を減衰させる。具体的には、減衰器118は、信号パルス152、153の各々の1パルス当たりの平均光子数が1未満になるように、光パルス列155を減衰する。減衰後の信号パルス152、153の各々の1パルス当たりの平均光子数をμ1とすると、μ1<1である。例えばμ1=0.5である。偏光制御用パルス154も減衰器118により減衰されるが、偏光制御用パルス154の強度は信号パルス152、153の強度よりも強いため、減衰後の偏光制御用パルス154の1パルス当たりの平均光子数をμ2とすると、μ2>μ1である。本実施形態では、偏光制御用パルス154は、減衰器118を通過した後も多光子状態である。例えばμ2=10である。減衰器118を通過した光パルス列155は、伝送路190を通じて受信器200へ送信される。
なお、減衰器118は、分波器104と分波器108との間や合波器112と合波器116との間などの他の位置に設けられていてもよい。また、減衰器114は必ずしも必要というわけではない。
図2に示されるように、受信器200は、偏光制御器202、分波器204、検出器206、制御回路208、干渉計210、及び制御回路228を備える。偏光制御器202の入力ポートに伝送路190が接続される。偏光制御器202の出力ポートは、分波器204の入力ポートに接続される。分波器204の第1の出力ポートは検出器206に接続され、分波器204の第2の出力ポートは干渉計210に接続される。干渉計210は、光スイッチ212、変調器218、可変遅延線220、合波器222、検出器224、及び検出器226を備える。干渉計210において、分波器204の第2の出力ポートは、光スイッチ212の入力ポートに接続される。光スイッチ212の第1の出力ポートは、変調器218を経由して合波器222の第1の入力ポートに接続される。光スイッチ212の第2の出力ポートは、遅延線220を経由して合波器222の第2の入力ポートに接続される。偏光制御器202から合波器222までにおいて、コンポーネント同士(例えば偏光制御器202及び分波器204)を接続する光ファイバは全て偏光保持ファイバであり得る。合波器222の第1の出力ポートは検出器224に接続され、合波器222の第2の出力ポートは検出器226に接続される。合波器222と検出器224とを接続する光ファイバ、合波器222と検出器226とを接続する光ファイバ、及び分波器204と検出器206とを接続する光ファイバは、例えば、シングルモードファイバである。
受信器200は、送信器100から出力された光パルス列155を受信する。受信器200において、光パルス列155は偏光制御器202に入射する。上述したように、光パルス列155は、信号パルス152、153と、信号パルス152と信号パルス153との間の偏光制御用パルス154と、を含む。偏光制御器202は、入射光の偏光状態を制御するものである。偏光制御器202は、例えば、光ファイバに応力を適用することで入射光の偏光状態を任意の偏光状態に変更する。偏光制御器202は、光パルス列155の偏光を制御する。偏光制御器202は、偏光制御用パルス154が分波器204に入射するときにその偏光が所定の偏光になるように、制御回路208によって調整される。偏光制御器202を通過した光パルス列155は、分波器204に入射する。
分波器204は、光パルス列155を信号パルス152、153と偏光制御用パルス154とに分岐する。分波器204は、偏光制御用パルス154から所定の偏光を有する光成分を抽出する光学素子を含む。分波器204は、偏光ビームスプリッタであり得るが、これに限定されない。検出器206は、分波器204によって偏光制御用パルス154から抽出された光を検出する。本実施形態では、検出器206は、入射光の強度を測定し、測定した光強度を表す検出信号を制御回路208に出力する。制御回路208は、分波器204に入射する偏光制御用パルス154の偏光が所定の偏光になるように、検出器206から受け取った検出信号に基づいて偏光制御器202を制御する。制御回路208は、FPGA(Field Programmable Gate Array)などの専用のハードウェアプロセッサにより実現される。なお、制御回路208は、CPU(Central Processing unit)などの汎用のハードウェアプロセッサにより実現されてもよい。
本実施形態では、分波器204は偏光ビームスプリッタであり、所定の偏光を有する光が第1の出力ポートから出力され、所定の偏光と直交する偏光を有する光が第2の出力ポートから出力される。理想的には、偏光制御用パルス154は所定の偏光と同じ偏光を有し、偏光制御用パルス154の全部が検出器206で検出される。偏光制御用パルス154の偏光に乱れが生じた場合、偏光制御用パルス154の一部は干渉計210に入射し或いは分波器204で失われ、それにより、検出器206で測定される偏光制御用パルス154の強度が低下する。制御回路208は、検出器206からの検出信号により示される強度が最大になるように偏光制御器202を調整する。
干渉計210は、分波器204から信号パルス152、153を受け取り、これらの信号パルス152、153から情報を復号するデコーダに相当する。干渉計210は、非対称マッハツェンダー干渉計である。
干渉計210において、信号パルス152、153は光スイッチ212に入射する。光スイッチ212は、信号パルス152と信号パルス153を分離し、信号パルス153を経路231へ導き、信号パルス152を経路232へ導く。本実施形態では、光スイッチ212は、高速偏光制御器214と、高速偏光制御器214に後段に設けられた偏光ビームスプリッタ216と、を含む。高速偏光制御器214は、信号パルス152、153の一方の偏光を制御する。例えば、高速偏光制御器214は、信号パルス152の偏光を90°回転させ、信号パルス153をそのまま通過させる。これにより、高速偏光制御器214の出口では、信号パルス152の偏光が信号パルス153の偏光と直交し、偏光ビームスプリッタ216で信号パルス152が信号パルス153と分離される。
経路231を移動する信号パルス153は、変調器218に入射する。変調器218は、信号パルス153の位相を変調する。変調器218を通過した信号パルス153は、合波器222に入射する。経路232を移動する信号パルス152もまた、合波器222に入射する。合波器222は、変調器218を通過した信号パルス153と信号パルス152とを合波する。合波器222は、ファイバカプラであり得るが、これに限定されない。
光スイッチ212から合波器222までの経路232の光路長は、光スイッチ212から合波器222までの経路231の光路長よりも長い。経路231及び経路232は、それらの間の光路長差がtdelayの光伝搬遅延時間に対応するように設計される。すなわち、送信器100内の干渉計106の光路長差は、受信器200内の干渉計210の光路長差と等しい。このため、理想的には、信号パルス152、153が同時に合波器222に入射し、合波器222において信号パルス152、153が干渉する。合波器222から出力される光子は、検出器224、226で検出される。検出器224、226は、アバランシェフォトダイオードなどの単一光子検出器である。
前述したように、非理想的な偏光により、偏光制御用パルス154の一部が干渉計210に入射することがある。このため、検出器224、226は、干渉計210に入射した偏光制御用パルス154を検出しないようにするために、すなわち、干渉した光パルスを選択的に検出できるようにするために、ゲート制御されることが望ましい。ゲート制御される単一光子検出器の例には、自己差分アバランシェフォトダイオードや正弦波ゲートアバランシェフォトダイオードが含まれる。干渉計210に入射した偏光制御用パルス154が検出器224又は226で検出されないようにするためには、光パルス列155において、偏光制御用パルス154は信号パルス152と信号パルス153との略中間に位置することが望ましい。
制御回路228は、信号パルス152、153の位相乱れを補正するために、検出器224、226による検出結果に基づいて遅延線220を制御する。遅延線220は、ファイバストレッチャーであり得るが、これに限定されない。制御回路228は、遅延線220を用いて経路232の光路長を調整する。制御回路228は、FPGAなどの専用のハードウェアプロセッサにより実現される。なお、制御回路228は、汎用のハードウェアプロセッサにより実現されてもよい。
なお、遅延線220は経路231に設けられていてもよい。また、遅延線220は、送信器100内の干渉計106の経路131又は132に設けられていてもよい。また、位相乱れの補正は、受信器200内の変調器218又は送信器100内の変調器110を用いて経路の光路長を調整することで達成されてもよい。この場合、遅延線220は設けられなくてよい。
偏光制御器202は、送信器100内に設けられていてもよい。例えば、偏光制御器202は、合波器116又は減衰器118の後段に設けられてよい。この場合、受信器200内の検出器206で得られた検出信号が古典チャネルで送信器100へ送信され、送信器100内の制御回路がその検出信号に基づいて偏光制御器202を制御する。また、偏光制御器202は、伝送路190の途中に設けられていてもよい。
次に、本実施形態に係る量子鍵配送システムにおいて暗号鍵を生成する方法例について説明する。
送信器100内の変調器110は、信号パルス152ごとに2つの符号化基底の一方をランダムに選択し、選択した符号化基底を用いて信号パルス152の位相を変調する。第1の符号化基底は、情報“0”が0°の位相シフトに対応し、情報“1”が180°の位相シフトに対応するように、規定される。第1の符号化基底が選択された場合、変調器110は、情報“0”を符号化するために、信号パルス152に0°の位相シフトを適用する。変調器110は、情報“1”を符号化するために、信号パルス152に180°の位相シフトを適用する。第2の符号化基底は、情報“0”は90°の位相シフトに対応し、情報“1”は270°の位相シフトに対応するように、規定される。第2の符号化基底が選択された場合、変調器110は、情報“0”を符号化するために、信号パルス152に90°の位相シフトを適用する。変調器110は、情報“1”を符号化するために、信号パルス152に270°の位相シフトを適用する。
一方、受信器200内の変調器218は、信号パルスごとに2つの復号基底の一方をランダムに選択し、選択した復号基底を用いて信号パルスの位相を変調する。第1の復号基底は、0°の位相シフトとして規定される。第1の復号基底が選択された場合、変調器218は、信号パルスに0°の位相シフトを適用する。第2の復号基底は、90°の位相シフトとして規定される。第2の復号基底が選択された場合、変調器218は、信号パルスに90°の位相シフトを適用する。
信号パルス152、153の偏光が理想的な場合には、信号パルス152は、下記(1)のルートを移動し、信号パルス153は、下記(2)のルートを移動する。
(1)送信器100内の干渉計106の光路長の短い経路131及び受信器200内の干渉計210の光路長の長い経路232に沿ったルート。
(2)送信器100内の干渉計106の光路長の長い経路132及び受信器200内の干渉計210の光路長の短い経路231に沿ったルート。
(1)送信器100内の干渉計106の光路長の短い経路131及び受信器200内の干渉計210の光路長の長い経路232に沿ったルート。
(2)送信器100内の干渉計106の光路長の長い経路132及び受信器200内の干渉計210の光路長の短い経路231に沿ったルート。
この場合には、信号パルス152、153は合波器222において干渉し、検出器224、226のいずれか一方で光子が検出される。検出器224で光子が検出された場合には、干渉計210は情報“0”を取得し、検出器224で光子が検出された場合には、干渉計210は情報“1”を取得する。どちらの検出器で光子が検出されるかは、変調器110により適用された位相シフトと変調器218により適用された位相シフトとに依存する。変調器110が0°の位相シフトを適用し、変調器218が0°の位相シフトを適用する場合、検出器224で光子が検出される。変調器110が180°の位相シフトを適用し、変調器218が0°の位相シフトを適用する場合、検出器226で光子が検出される。変調器110が90°の位相シフトを適用し、変調器218が90°の位相シフトを適用する場合、検出器224で光子が検出される。変調器110が270°の位相シフトを適用し、変調器218が90°の位相シフトを適用する場合、検出器226で光子が検出される。これらの組み合わせは、送信器100と受信器200とで同じ変調基底が使用された場合に対応する。
上記の組み合わせ以外の組み合わせで変調が行われた場合には、検出器224で光子が検出される確率及び検出器226で光子が検出される確率がそれぞれ50%になる。例えば、変調器110が0°の位相シフトを適用し、変調器218が90°の位相シフトを適用する場合、50%の確率で検出器224で光子が検出され、50%の確率で検出器226で光子が検出される。このような場合には、情報を正しく復号できないので、このような光子は暗号鍵の生成に寄与しない。
非理想的な偏光により、短い経路131を移動した信号パルス152が短い経路231を移動することがあり、また、長い経路132を移動した信号パルス153が長い経路232を移動することがある。このような場合には、信号パルス152、153は干渉せずに検出器224又は226に到達する。これらの干渉しない光子は、暗号鍵の生成に寄与しないため、それらの検出結果は破棄される。検出器224、226がゲート制御される場合には、検出器224、226は、これらの干渉しない光子を自動的に排除することができる。干渉しない光子を効率的に排除するためには、遅延時間tdelayは、ゲート動作周期の半分に設定される。1GHzのゲート動作にとって遅延時間tdelayは500ピコ秒である。
送信器100は、光パルス列155を周期的に送信し、それにより、受信器200は、多数の干渉検出結果を取得する。その後に、送信器100とともに使用される第1の古典通信装置から、受信器200とともに使用される第2の古典通信装置は、それぞれの光パルスに対して選択した符号化基底を表す基底情報を受信する。基底情報は古典チャネルで送受信される。受信器200の制御回路228は、送信器100が選択した符号化基底に適合する復号基底を選択したときに得られた情報を結合し、それによりビット列(シフト鍵)を生成する。同様にして、基底情報が第1の古典通信装置から第2の古典通信装置に送信され、送信器100においてシフト鍵が生成される。その後に、誤り訂正処理及び秘匿性増幅処理が行なわれ、送信器100と受信器200とに共有される暗号鍵が生成される。
次に、偏光乱れ及び位相乱れを補正する方法例について説明する。
偏光乱れ及び位相乱れは、積極的に安定させる必要がある。本実施形態では、偏光乱れは、検出器206による検出結果に基づいて偏光制御器202を積極的に調整することによって補正され、位相乱れは、検出器224、226による検出結果に基づいて遅延線220を積極的に調整することによって補正される。
送信器100では、偏光乱れを補正するための偏光制御用パルス154が生成され、信号パルス152、153とともに伝送路190へ送出される。受信器200では、偏光制御用パルス154は偏光制御器202によって偏光を制御され、所定の偏光を有する偏光制御用パルス154の光成分が分波器204によって検出器206へ導かれる。偏光制御用パルス154の光強度が検出器206によって測定され、制御回路208は、検出器206によって測定される偏光制御用パルス154の光強度が最大になるように、偏光制御器202を調整する。検出器206によって測定される偏光制御用パルス154の光強度が最大になるように偏光制御器202が調整されると、偏光制御器202を通過した偏光制御用パルス154の偏光は所定の偏光と同一になり、すなわち、偏光乱れが適切に補正される。
信号パルス152、153に生じる偏光乱れは偏光制御用パルス154に生じる偏光乱れと実質的に同じである。このため、上述のようにして調整された偏光制御器202は、信号パルス152、153の偏光乱れを適切に補正することができる。このようなフィードバック制御により、偏光乱れが補正される。
制御回路228は、検出器224、226による検出結果に基づいて生成されるフィードバック信号に基づいて遅延線220を調整する。フィードバック信号は、例えば量子ビット誤り率(QBER)である。量子ビット誤り率は、シフト鍵に含まれるビットの総数に対する間違ったビットの割合として定義される。量子ビット誤り率は、誤り訂正処理後に算出される。位相乱れは、量子ビット誤り率を増大させる。制御回路228は遅延線220を調整し、それにより、量子ビット誤り率が最小化される。このようなフィードバック制御により、位相乱れが適切に補正される。
図3は、偏光制御用パルスを用いない従来の量子鍵配送システムにおける量子ビット誤り率の時間変化を模式的に示している。従来の量子鍵配送システムでは、検出器(本実施形態の検出器224、226に対応する)による干渉の測定結果に基づいて偏光乱れ及び位相乱れの両方が補正される。図3に示されるように、従来の量子鍵配送システムでは、量子ビット誤り率のばらつきが大きい。量子ビット誤り率が大きい場合には、暗号鍵の生成速度が低下する。
図4は、偏光乱れがない状況下での従来の量子鍵配送システムにおける量子ビット誤り率の時間変化を模式的に示している。ここで、図4の縦軸及び横軸のスケールは図3のものと同じである。図4に示されるように、位相乱れのみを補正する場合には、量子ビット誤り率のばらつきが小さく、量子ビット誤り率は低く保たれている。
干渉測定結果は、偏光乱れ及び位相乱れの両方に依存する。このため、従来の量子鍵配送システムでは、偏光及び位相を同時に制御する必要があり、制御が複雑である。これに対し、本実施形態に係る量子鍵配送システムでは、偏光乱れと位相乱れが別々のパラメータで補正される。偏光乱れは、干渉測定結果ではなく、偏光制御用パルス154の検出結果に基づいて補正される。すなわち、偏光乱れの補正については位相乱れの影響を受けない。これにより、偏光乱れを効率的に補正することができる。偏光乱れの補正が高効率になると、位相乱れも高効率で補正できるようになり、図4に示されるような量子ビット誤り率の改善が期待される。
以上のように、本実施形態では、送信器100は、光源102から出射された光パルスを2つに分岐し、2つの分岐光パルスの一方は、暗号情報を持つ信号パルス151として使用され、2つの分岐光パルスの他方は、偏光乱れを補正するための偏光制御用パルス154として使用される。これにより、偏光乱れと位相乱れを別々に制御することが可能になる。偏光乱れは偏光制御用パルス154の偏光状態に応じて制御されるので、位相乱れは偏光乱れの制御に影響を及ぼさない。このため、偏光乱れを効率的に補正することができる。
また、本実施形態では、偏光制御用パルス154は送信器100から送信されるときに多光子状態である。これにより、検出器206で測定される光の強度に基づいて偏光乱れを制御することが可能になり、偏光制御用パルス154を受信するたびに偏光制御器202に対する調整を行うことが可能になる。その結果、偏光乱れをより効率的に制御することができる。
他の実施形態では、偏光制御用パルス154は送信器100から送信されるときに単一光子状態であってもよい。偏光制御用パルスの強度をより弱くすることで、偏光制御用パルス154が信号パルス152、153と干渉することが防止又は抑制される。この場合、検出器206としては、アバランシェフォトダイオードなどの単一光子検出器が使用される。非理想的な偏光により、信号パルスが検出器206に導かれることがある。このため、好ましくは、自己差分アバランシェフォトダイオードや正弦波ゲートアバランシェフォトダイオードなどのゲート制御される単一光子検出器が使用される。制御回路208は、単位時間当たりに検出器206によって検出される偏光制御用パルス154(光子)の数をモニタする。単位時間は、光源102から光パルスが出射される時間間隔よりも十分に長い。光パルスが出射される時間間隔が1ナノ秒である場合、単位時間は、例えば、20ナノ秒である。この場合、単位時間の間隔で偏光制御器202に対する調整を行うことになる。このため、制御効率の観点からは、偏光制御用パルスは多光子状態であることが望ましい。
さらに、本実施形態では、信号パルス151は2つの信号パルス152、153に分岐され、信号パルス152、153は、偏光方向が揃った状態で出力される。この場合、伝送中に信号パルス152と信号パルス153で実質的に同じ位相乱れが生じる。このため、2つの信号パルス152、153の偏光が直交する場合よりも、相対的な位相乱れが小さくなり、位相乱れの制御が容易になる。
さらにまた、本実施形態では、偏光制御用パルス154は、偏光制御用パルス154の偏光方向が信号パルス152、153の偏光方向と直交する状態で出力される。これにより、偏光制御用パルス154が信号パルス152、153と干渉することを防止又は抑制することができる。さらに、偏光ビームスプリッタなどの光学素子で偏光制御用パルス154と信号パルス152、153とを容易に分離することができる。
他の実施形態では、偏光制御用パルス154は、偏光制御用パルス154の偏光方向が信号パルス152、153の偏光方向と同じ状態で出力されてもよい。この場合、受信器200内の分波器204は、例えば、高速偏光制御器と、高速偏光制御器の後段に設けられた偏光ビームスプリッタ又はポラライザと、を含む。高速偏光制御器は、偏光制御用パルス154の偏光又は信号パルス152、153の偏光を選択的に制御する。例えば、高速偏光制御器は、偏光制御用パルス154の偏光を90°回転させ、信号パルス152、153をそのまま通過させる。偏光制御用パルス154の偏光方向が信号パルス152、153の偏光方向と直交する本実施形態では、このような高速偏光制御器が不要であり、分波器204の構造を簡単にすることができる。さらに、上述したように、偏光制御用パルス154が信号パルス152、153と干渉することが防止される。
上述した実施形態では、BB84と呼ばれる量子鍵配送方式に基づいた量子鍵配送システムについて説明した。上述した偏光乱れ及び位相乱れを補正する方法は、他の量子鍵配送方式、例えば、差動位相シフト量子鍵配送(DPS−QKD)に適用することもできる。差動位相シフト量子鍵配送では、エンコーダは、送信する情報に基づいて信号パルスの位相を変調する位相変調器である。
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
100…送信器、102…光源、104…分波器、106…干渉計、108…分波器、
110…変調器、112…合波器、114…減衰器、116…合波器、
118…減衰器、151、152、153…信号パルス、154…偏光制御用パルス、
190…伝送路、200…受信器、202…偏光制御器、204…分波器、
206…検出器、208…制御回路、210…干渉計、212…光スイッチ、
214…高速偏光制御器、216…偏光ビームスプリッタ、218…変調器、
220…遅延線、222…合波器、224…検出器、226…検出器、
228…制御回路。
110…変調器、112…合波器、114…減衰器、116…合波器、
118…減衰器、151、152、153…信号パルス、154…偏光制御用パルス、
190…伝送路、200…受信器、202…偏光制御器、204…分波器、
206…検出器、208…制御回路、210…干渉計、212…光スイッチ、
214…高速偏光制御器、216…偏光ビームスプリッタ、218…変調器、
220…遅延線、222…合波器、224…検出器、226…検出器、
228…制御回路。
Claims (10)
- 量子鍵配送システムのための送信装置であって、
光パルスを生成する光源と、
前記光パルスを、第1の経路を移動する信号パルスと、前記第1の経路と光路長が異なる第2の経路を移動する偏光制御用パルスと、に分波する第1の分波器と、
前記第1の経路に設けられ、前記信号パルスに情報を符号化するエンコーダと、
前記エンコーダを通過した前記信号パルスと前記偏光制御用パルスとを合波する第1の合波器と、
を備える送信装置。 - 前記偏光制御用パルスは、前記送信装置から送信されるときに多光子状態である、請求項1に記載の送信装置。
- 前記第1の合波器の出口では、前記偏光制御用パルスの偏光は前記信号パルスの偏光と直交する、請求項1又は2に記載の送信装置。
- 前記エンコーダは干渉計であり、
前記干渉計は、
前記信号パルスを、第3の経路を移動する第1の信号パルスと、前記第3の経路と光路長が異なる第4の経路を移動する第2の信号パルスと、に分波する第2の分波器と、
前記情報に基づいて前記第1の信号パルスの位相を変調する変調器と、
前記変調器を通過した前記第1の信号パルスと前記第2の信号パルスとを合波する第2の合波器と、
を備え、
前記第2の合波器の出口では、前記第1の信号パルスの偏光は前記第2の信号パルスの偏光と同一である、請求項1乃至3のいずれか1項に記載の送信装置。 - 量子鍵配送システムのための受信装置であって、
信号パルスと偏光制御用パルスとを含む、偏光制御器によって偏光を制御された光パルス列を受け取り、前記光パルス列を前記信号パルスと前記偏光制御用パルスとに分波する分波器と、
前記分波器から出力された前記偏光制御用パルスを検出し、前記偏光制御器を調整するために検出結果を出力する検出器と、
前記分波器から出力された前記信号パルスから情報を復号する干渉計と、
を備える受信装置。 - 前記偏光制御器と、
前記分波器に入射した前記光パルス列中の前記偏光制御用パルスの偏光が所定の偏光になるように、前記検出結果に基づいて前記偏光制御器を調整する制御回路と、
をさらに備える請求項5に記載の受信装置。 - 前記分波器は、前記分波器に入射した前記光パルス列中の前記偏光制御用パルスから前記所定の偏光を有する光成分を抽出する光学素子を含み、
前記制御回路は、前記検出器によって測定される前記偏光制御用パルスの強度が最大になるように、前記偏光制御器を調整する、請求項6に記載の受信装置。 - 前記分波器は、前記分波器に入射した前記光パルス列中の前記偏光制御用パルスから前記所定の偏光を有する光成分を抽出する光学素子を含み、
前記制御回路は、単位時間当たりに前記検出器によって検出される前記偏光制御用パルスの数が最大になるように、前記偏光制御器を調整する、請求項6に記載の受信装置。 - 前記光パルス列は、前記偏光制御用パルスの偏光が前記信号パルスの偏光と直交する状態で送信装置から送信され、
前記分波器は、偏光ビームスプリッタである、請求項6乃至8のいずれか1項に記載の受信装置。 - 送信装置、受信装置、及び偏光制御器を備える量子鍵配送システムであって、
前記送信装置は、
光パルスを生成する光源と、
前記光パルスを、第1の経路を移動する信号パルスと、前記第1の経路と光路長が異なる第2の経路を移動する偏光制御用パルスと、に分波する第1の分波器と、
前記第2の経路に設けられ、前記信号パルスに情報を符号化するエンコーダと、
前記エンコーダを通過した前記信号パルスと前記偏光制御用パルスとを合波して光パルス列を生成する合波器と、
を備え、
前記偏光制御器は、前記光パルス列の偏光を制御し、
前記受信装置は、
前記偏光制御器を通過した前記光パルス列を受け取り、前記光パルス列を前記信号パルスと前記偏光制御用パルスとに分波する第2の分波器と、
前記第2の分波器から出力された前記偏光制御用パルスを検出する検出器と、
前記第2の分波器から出力された前記信号パルスから前記情報を復号する干渉計と、
を備え、
前記偏光制御器は、前記第2の分波器に入射した前記光パルス列中の前記偏光制御用パルスの偏光が所定の偏光になるように、前記検出器による検出結果に基づいて調整される、量子鍵配送システム。
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