JP2019124610A5 - - Google Patents
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- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 18
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 18
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 5
- 238000004885 tandem mass spectrometry Methods 0.000 description 5
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 3
- 238000004164 analytical calibration Methods 0.000 description 2
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- OZAIFHULBGXAKX-UHFFFAOYSA-N precursor Substances N#CC(C)(C)N=NC(C)(C)C#N OZAIFHULBGXAKX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001360 collision-induced dissociation Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000010494 dissociation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000005593 dissociations Effects 0.000 description 1
- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 description 1
- 238000001819 mass spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000005405 multipole Effects 0.000 description 1
- 238000011002 quantification Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000009834 vaporization Methods 0.000 description 1
Description
次に、他の化合物、ここでは化合物Aについては、感度重視の目的化合物の定量イオンの信号強度値を超えない範囲で、できるだけ高い信号強度を示す質量電荷比を定量イオンの質量電荷比として選定する。本例では、化合物Aに対する各質量電荷比における信号強度値の中で、化合物Bの定量イオンの信号強度値(200)を超えない範囲で最も高いのはm/z 66(信号強度値は180)である。さらに、その次に信号強度値が高いのはm/z 72(信号強度値は120)である。そこで、化合物Aの定量イオン及び確認イオンの質量電荷比値としてはm/z 66及びm/z 72をそれぞれ選定する(ステップS5)。この例では化合物は二つのみであるが、化合物の数が多い場合であっても、同様にして感度重視の目的化合物を一つ選択し、その目的化合物の定量イオン及び確認イオンを選定したあと、信号強度値を比較して他の目的化合物の定量イオン及び確認イオンを順次選定すればよい。
MS/MSスペクトル情報記憶部301には、定量対象である複数の目的化合物についてそれぞれ、実際にピークが観測される複数のMRMトランジションとそのピークの信号強度値との関係をまとめたMS/MSスペクトル情報が予め格納される。
図9は、MS/MSスペクトル情報記憶部301に格納されている二つの化合物A、Bに対する標準MS/MSスペクトル情報の一例を示す図である。図中、CEはコリジョンセル26内での衝突誘起解離の条件の一つであるコリジョンエネルギの値である。MRMトランジションが異なると最適な(通常は解離効率が最大となる)コリジョンエネルギも異なる。そこで、ここでは各MRMトランジションに最適なコリジョンエネルギ値を予め対応付けておき、この情報を利用して実際のMRM測定時にそのMRMトランジションに応じてコリジョンエネルギを適切に調整できるようにしている。
図9は、MS/MSスペクトル情報記憶部301に格納されている二つの化合物A、Bに対する標準MS/MSスペクトル情報の一例を示す図である。図中、CEはコリジョンセル26内での衝突誘起解離の条件の一つであるコリジョンエネルギの値である。MRMトランジションが異なると最適な(通常は解離効率が最大となる)コリジョンエネルギも異なる。そこで、ここでは各MRMトランジションに最適なコリジョンエネルギ値を予め対応付けておき、この情報を利用して実際のMRM測定時にそのMRMトランジションに応じてコリジョンエネルギを適切に調整できるようにしている。
具体的には図9の例では、化合物Aはプリカーサイオンのm/z 115、プロダクトイオンのm/z 100のMRMトランジションにおいて信号強度が最大であり、化合物Bはプリカーサイオンのm/z 206、プロダクトイオンのm/z 191のMRMトランジションにおいて信号強度が最大である。したがって、図2中のステップS1では化合物Aの代表的なMRMトランジションとしてm/z 115>100が、化合物Bの代表的なMRMトランジションとしてm/z 206>191が選定される。そして、ステップS2では、それらMRMトランジションをターゲットとするMRM測定が実行される。このとき、コリジョンエネルギはいずれも8[eV]に設定される。図2中のステップS3以降についても、同様に、質量電荷比をMRMトランジションに置き換えることで処理を進めれば、目的化合物毎に適切な定量イオン及び確認イオンを決定することができる。
1…ガスクロマトグラフ(GC)部
10…試料気化室
11…マイクロシリンジ
12…カラムオーブン
13…カラム
2、200…質量分析(MS)部
20…チャンバ
21…イオン源
22…四重極マスフィルタ
23…イオン検出器
24…アナログデジタル変換器(ADC)
25…前段四重極マスフィルタ
26…コリジョンセル
27…多重極イオンガイド
28…後段四重極マスフィルタ
3、300…データ処理部
31…マススペクトル情報記憶部
301…MS/MSスペクトル情報記憶部
32…定量・確認イオン決定処理部
321…信号強度推定部
322…定量・確認イオン選定部
33…検量線作成部
34…検量線記憶部
35…定量処理部
4、400…制御部
41、401…事前分析実行制御部
42、402…標準試料分析制御部
43、403…通常試料分析制御部
5…主制御部
6…入力部
7…表示部
10…試料気化室
11…マイクロシリンジ
12…カラムオーブン
13…カラム
2、200…質量分析(MS)部
20…チャンバ
21…イオン源
22…四重極マスフィルタ
23…イオン検出器
24…アナログデジタル変換器(ADC)
25…前段四重極マスフィルタ
26…コリジョンセル
27…多重極イオンガイド
28…後段四重極マスフィルタ
3、300…データ処理部
31…マススペクトル情報記憶部
301…MS/MSスペクトル情報記憶部
32…定量・確認イオン決定処理部
321…信号強度推定部
322…定量・確認イオン選定部
33…検量線作成部
34…検量線記憶部
35…定量処理部
4、400…制御部
41、401…事前分析実行制御部
42、402…標準試料分析制御部
43、403…通常試料分析制御部
5…主制御部
6…入力部
7…表示部
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018006083A JP6954143B2 (ja) | 2018-01-18 | 2018-01-18 | クロマトグラフ質量分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018006083A JP6954143B2 (ja) | 2018-01-18 | 2018-01-18 | クロマトグラフ質量分析装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019124610A JP2019124610A (ja) | 2019-07-25 |
JP2019124610A5 true JP2019124610A5 (ja) | 2020-06-25 |
JP6954143B2 JP6954143B2 (ja) | 2021-10-27 |
Family
ID=67397872
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018006083A Active JP6954143B2 (ja) | 2018-01-18 | 2018-01-18 | クロマトグラフ質量分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6954143B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2023119427A1 (ja) * | 2021-12-21 | 2023-06-29 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8969791B2 (en) * | 2011-10-28 | 2015-03-03 | Shimadzu Corporation | Quantitative analysis method using mass spectrometer |
JP6036304B2 (ja) * | 2013-01-08 | 2016-11-30 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ質量分析用データ処理装置 |
US10115576B2 (en) * | 2013-12-12 | 2018-10-30 | Waters Technologies Corporation | Method and an apparatus for analyzing a complex sample |
JP6540298B2 (ja) * | 2015-07-10 | 2019-07-10 | 株式会社島津製作所 | 質量分析を用いた多成分一斉分析方法及び質量分析装置 |
JP6642125B2 (ja) * | 2016-03-04 | 2020-02-05 | 株式会社島津製作所 | 質量分析方法及び誘導結合プラズマ質量分析装置 |
-
2018
- 2018-01-18 JP JP2018006083A patent/JP6954143B2/ja active Active
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