JP2019117107A - Line scanner - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は電磁波によりイメージセンシングを行う技術に関する。 The present invention relates to a technology for performing image sensing by electromagnetic waves.
テラヘルツ波(以下、THz波)等の電磁波を用いて検知対象のイメージセンシングを行う装置として、例えば、図9にラインスキャナ9として示される構成の装置が知られている。
As an apparatus for performing image sensing of a detection target using electromagnetic waves such as terahertz waves (hereinafter, THz waves), for example, an apparatus having a configuration shown as a
ラインスキャナ9は、THz波を送信する送信部91と、送信部91から送信されたTHz波を平行状態に調整するレンズ92と、レンズ92を透過したTHz波の一部(例えば50%)を透過し、残りを基準ミラー98に向かい反射させるハーフミラー93と、ハーフミラー93を透過したTHz波を検知対象8に向かい周期的に変化する角度で反射するスキャンミラー94と、スキャンミラー94により反射したTHz波を平行状態に調整する対物レンズ95を備える。
The
ラインスキャナ9は、さらに、検知対象8の表面で反射し、対物レンズ95を透過した後、ハーフミラー93で反射したTHz波を収束させるレンズ96と、レンズ96を透過したTHz波を受信する受信部97と、受信部97により受信されたTHz波の強度に基づき、検知対象8の表面の当該THz波を反射した位置の相対的な位置関係を演算する演算部99を備える。
The
ラインスキャナ9から送信されるTHz波は、スキャンミラー94により検知対象8に向かう角度が周期的に変化する。そのため、THz波が検知対象8の表面に送信される位置は、図9のY軸方向に移動する。また、ラインスキャナ9がTHz波の送信を行う間、図示せぬ搬送装置によりラインスキャナ9は図9のZ軸方向に移動する。その結果、検知対象8の対物レンズ95に対向する面がY軸方向とZ軸方向の二次元において走査されることになる。THz波により走査された検知対象8の表面上の各点に関し演算部99により演算される相対距離の集合は、検知対象8の表面の三次元形状を表す。
In the THz wave transmitted from the
なお、送信部91から送信されたTHz波の一部は、ハーフミラー93において反射した後、基準ミラー98において反射し、ハーフミラー93とレンズ96を透過して受信部97に至る。演算部99は、送信部91から同時に送信されたTHz波のうち、検知対象8で反射して受信部97に到達したTHz波と、基準ミラー98で反射して受信部97に到達したTHz波の到達時間の差に基づき、基準位置から検知対象8までの絶対距離を演算する。
A part of the THz wave transmitted from the
THz波を用いて検知対象のイメージングを行う技術を開示している特許文献として、例えば、特許文献1がある。特許文献1には、THz波の発生素子又は検出素子、発生素子又は検出素子に接する第1レンズ、及び第1レンズと光軸方向において発生素子又は検出素子と反対側に配置された第2レンズを、一体的に光軸方向に可動する位置調整手段を有することにより、干渉による悪影響を低減すべく光学系の調整を可能としたテラヘルツ波計測装置が記載されている。
従来、検知対象8の種類や大きさに応じて、ハーフミラー93や対物レンズ95の種類やパラメータ(周期、振幅等)、対物レンズ95の大きさ等を調整したラインスキャナ9を個別に設計し、製造する必要があり、コスト高であった。
Conventionally, the
本発明は、上記の事情に鑑み、種類や大きさが異なる検知対象のイメージセンシングを低コストで可能とする手段を提供する。 SUMMARY OF THE INVENTION In view of the above-described circumstances, the present invention provides means for enabling image sensing of detection targets of different types and sizes at low cost.
上述した課題を解決するために、本発明は、電磁波の送受信を行うラインスキャナであって、スキャンミラーと対物レンズとを着脱可能に保持する構成としたラインスキャナを第1の態様として提供する。 In order to solve the problems described above, the present invention provides a line scanner that transmits and receives electromagnetic waves, and is configured to hold a scan mirror and an objective lens in a removable manner as a first aspect.
上記の第1の態様に係るラインスキャナによれば、スキャンミラーと対物レンズを交換することで、新たなラインスキャナの設計及び製造を要することなく異なる種類や大きさの検知対象のイメージセンシングを低コストで行うことができる。 According to the line scanner of the first aspect, by replacing the scan mirror and the objective lens, image sensing of detection targets of different types and sizes can be reduced without requiring design and manufacture of a new line scanner. It can be done at cost.
上記の第1の態様に係るラインスキャナにおいて、電磁波の送信方向に対するスキャンミラーの基準角度を調整する角度調整機構を有する、という構成が第2の態様として採用されてもよい。 In the line scanner according to the first aspect described above, a configuration may be adopted as the second aspect, including an angle adjustment mechanism that adjusts the reference angle of the scan mirror with respect to the transmission direction of the electromagnetic wave.
上記の第1又は2の態様に係るラインスキャナにおいて、電磁波の送信方向と垂直な方向におけるスキャンミラーの位置を調整する位置調整機構を有する、という構成が第3の態様として採用されてもよい。 In the line scanner according to the first or second aspect described above, a configuration may be adopted as a third aspect that includes a position adjustment mechanism that adjusts the position of the scan mirror in the direction perpendicular to the transmission direction of the electromagnetic wave.
上記の第2又は第3の態様に係るラインスキャナによれば、スキャンミラーの交換時に光軸のずれが生じても、容易に調整することができる。 According to the line scanner of the second or third aspect, it is possible to easily adjust the deviation of the optical axis even when the scan mirror is replaced.
上記の第1乃至3のいずれかの態様に係るラインスキャナにおいて、直径の異なる対物レンズを着脱可能に保持する、という構成が第4の態様として採用されてもよい。 In the line scanner according to any one of the first to third aspects, the configuration in which objective lenses having different diameters are detachably held may be adopted as a fourth aspect.
上記の第4の態様に係るラインスキャナによれば、直径の異なる対物レンズの交換が容易である。 According to the line scanner of the fourth aspect, it is easy to replace objective lenses having different diameters.
上記の第1乃至4のいずれかの態様に係るラインスキャナにおいて、スキャンミラーの回転中心が電磁波の送信方向上にある場合に送信された電磁波を最大の透過率で透過する透過板を備える、という構成が第5の態様として採用されてもよい。 In the line scanner according to any one of the above first to fourth aspects, the transmission plate is provided which transmits the electromagnetic wave transmitted when the rotation center of the scan mirror is on the transmission direction of the electromagnetic wave with the maximum transmittance. The configuration may be adopted as the fifth aspect.
上記の第5の態様に係るラインスキャナによれば、スキャンミラーの交換時に光軸のずれの有無が確認でき、光軸のずれの調整が容易に行える。 According to the line scanner of the fifth aspect, it is possible to confirm the presence or absence of the deviation of the optical axis when replacing the scan mirror, and the adjustment of the deviation of the optical axis can be easily performed.
上記の第1乃至5のいずれかの態様に係るラインスキャナにおいて、電磁波の送信方向に対するスキャンミラーの角度を測定する角度測定部を備える、という構成が第6の態様として採用されてもよい。 In the line scanner according to any one of the above first to fifth aspects, a configuration may be adopted as a sixth aspect that includes an angle measurement unit that measures the angle of the scan mirror with respect to the transmission direction of the electromagnetic wave.
上記の第6の態様に係るラインスキャナによれば、スキャンミラーの角度が確認でき、スキャンミラーの設置角度等の調整が容易に行える。 According to the line scanner of the sixth aspect, the angle of the scan mirror can be confirmed, and the installation angle of the scan mirror can be easily adjusted.
また、本発明は、上記の第1乃至第6のいずれかの態様に係るラインスキャナと、前記ラインスキャナを搬送する搬送部とを備えるスキャナシステムを第7の態様として採用されてもよい。 Furthermore, the present invention may adopt, as a seventh aspect, a scanner system including the line scanner according to any one of the above first to sixth aspects, and a transport unit that transports the line scanner.
上記の第7の態様に係るスキャナシステムによれば、検知対象を二次元方向にスキャンすることができる。 According to the scanner system of the seventh aspect, the detection target can be scanned in a two-dimensional direction.
[実施形態]
以下、本発明の実施形態に係るスキャナシステム1を説明する。図1は、スキャナシステム1の構成を模式的に示した図である。スキャナシステム1は、検知対象8をY軸方向に走査するラインスキャナ11と、ラインスキャナ11をZ軸方向に搬送する搬送部12を備える。
[Embodiment]
Hereinafter, a
図1において、ラインスキャナ11が備える構成部のうち、図9に示したラインスキャナ9が備える構成部と共通するものには図9で用いた符号が付されている。ラインスキャナ11は、ラインスキャナ11の他の構成部がその上に載せ置かれる基台111と、送受信ユニット112と、スキャンミラー保持部113と、スキャンミラー保持部113に着脱可能に取り付けられるスキャンミラー94と、対物レンズ保持部114と、対物レンズ保持部114に着脱可能に取り付けられる対物レンズ95と、スキャンミラー保持部113と対物レンズ保持部114の間に配置される透過板ホルダ115と、透過板ホルダ115に着脱可能に取り付けられる透過板116を備える。
In FIG. 1, among the components provided in the
送受信ユニット112は、筐体1121と、筐体1121内に収容された送信部91、レンズ92、ハーフミラー93、レンズ96、受信部97、基準ミラー98、演算部99、光センサ1122、光センサ1123を備える。なお、光センサ1122と光センサ1123の役割は後述する。
The transmission /
図2は、スキャナシステム1の外観図である。図2(a)はスキャナシステム1を斜め上方から見た場合の外観を示し、図2(b)はスキャナシステム1を図2(a)に示す矢印Aの方向に見た場合の外観を示す。
FIG. 2 is an external view of the
ラインスキャナ11が備える基台111は板状の部材で、その上に送受信ユニット112、スキャンミラー保持部113、対物レンズ保持部114、透過板ホルダ115が配置されている。スキャンミラー保持部113はスキャンミラー94を着脱可能に保持する。対物レンズ保持部114は対物レンズ95を着脱可能に保持する。透過板ホルダ115には透過板116が取り付けられている。なお、透過板116の取り付けられた透過板ホルダ115は、スキャンミラー94の位置及び角度を調整する際に基台111に取り付けられ、スキャナシステム1により検知対象8が走査される時には基台111から取り外される。
The
搬送部12は、長手方向がZ軸方向に沿うように配置された支柱121と、支柱121とラインスキャナ11を連結する連結部122と、連結部122を支柱121に沿ってZ軸方向に移動させる役割を果たす軸ネジ123と、軸ネジ123を回転させるモータ124を備える。
The
支柱121のラインスキャナ11と対向する面には、Z軸方向に沿って延伸する水平断面が台形状の溝Fが設けられている。また、連結部122の支柱121に対向する面には、溝Fと嵌まり合う突起部が設けられている。また、連結部122にはZ軸方向に貫通するネジ孔が設けられ、このネジ孔に軸ネジ123がねじ込まれる。そのため、モータ124により軸ネジ123が回転すると、溝下に嵌まった突起部により回り止めされた連結部122が支柱121に沿ってスライドし、連結部122に取り付けられたラインスキャナ11がZ軸方向に搬送される。
A groove F having a trapezoidal horizontal cross section extending along the Z-axis direction is provided on the surface of the
図3は、スキャンミラー保持部113の平面図である。スキャンミラー保持部113は、基台111の上に配置される矩形のプレート1131と、プレート1131の上に配置される矩形のプレート1132と、プレート1132の上に配置される円形のプレート1133を備える。
FIG. 3 is a plan view of the
プレート1131のX軸方向における両端部付近には、Y軸方向に細長い長孔が設けられており、それらの長孔を軸が貫通するように鍋ネジが配置されている。これらの鍋ネジのネジ部は、基台111に設けられたネジ孔(図示略)にねじ込まれている。
In the vicinity of both ends in the X-axis direction of the
プレート1132のY軸方向における両端部付近には、X軸方向に細長い長孔が設けられており、それらの長孔を軸が貫通するように鍋ネジが配置されている。これらの鍋ネジのネジ部は、プレート1131に設けられたネジ孔(図示略)にねじ込まれている。
In the vicinity of both ends in the Y-axis direction of the
プレート1133のY軸方向における両端部付近には、プレート1133の外縁に沿って弧を描く形状の長孔が設けられており、それらの長孔を軸が貫通するように鍋ネジが配置されている。これらの鍋ネジのネジ部は、プレート1132に設けられたネジ孔(図示略)にねじ込まれている。
In the vicinity of both ends of the
プレート1133の上面には、矩形の溝Gが設けられている。ユーザは、溝Gにスキャンミラー94を填め込むことにより、スキャンミラー94をスキャンミラー保持部113に取り付けることができる。また、ユーザは溝Gに填め込まれたスキャンミラー94を抜き取ることにより、スキャンミラー94をスキャンミラー保持部113から取り外すことができる。ユーザは仕様が異なるスキャンミラー94をスキャンミラー保持部113に取り付けることで、様々な仕様のスキャンミラー94を備えるラインスキャナ11を容易に構築することができる。
A rectangular groove G is provided on the top surface of the
ユーザは、プレート1131の長孔に取り付けられている鍋ネジを緩め、プレート1131をY軸方向に移動した後、それらの鍋ネジを締めることで、スキャンミラー94のY軸方向における位置を調整することができる。すなわち、スキャンミラー保持部113は、スキャンミラー94のY軸方向(ラインスキャナ11から送信されるTHz波の送信方向)における位置を調整する位置調整機構としての役割を果たす。
The user adjusts the position of the
ユーザは、プレート1132の長孔に取り付けられている鍋ネジを緩め、プレート1132をX軸方向に移動した後、それらの鍋ネジを締めることで、スキャンミラー94のX軸方向における位置を調整することができる。すなわち、スキャンミラー保持部113は、スキャンミラー94のX軸方向(ラインスキャナ11から送信されるTHz波の送信方向と垂直な方向)における位置を調整する位置調整機構としての役割を果たす。
The user adjusts the position of the
ユーザは、プレート1133の長孔に取り付けられている鍋ネジを緩め、プレート1133をプレート1133の中心点周りに回転した後、それらの鍋ネジを締めることで、スキャンミラー94の基準角度を調整することができる。すなわち、スキャンミラー保持部113は、Y軸方向(ラインスキャナ11から送信されるTHz波の送信方向)に対するスキャンミラー94の基準角度を調整する角度調整機構の役割を果たす。なお、スキャンミラー94の基準角度とは、スキャンミラー94の回転角度の基準となる角度を意味し、例えば、回転角度が0度のときのスキャンミラー94のY軸方向(又はX軸方向)に対する角度である。
The user adjusts the reference angle of the
図4は、対物レンズ保持部114の外観図である。図4(a)は対物レンズ保持部114を上から見た場合の外観を示し、図4(b)は対物レンズ保持部114を図4(a)に示す矢印Bの方向に見た場合の外観を示し、図4(c)は対物レンズ保持部114を図4(b)に示す矢印Cの方向に見た場合の外観を示す。
FIG. 4 is an external view of the
対物レンズ保持部114は、基台111の上に配置される矩形のプレート1141と、プレート1141の上に配置されるレンズホルダ1142を備える。
The objective
プレート1141のY軸方向における両端部付近には、X軸方向に細長い長孔が設けられており、それらの長孔を軸が貫通するように鍋ネジが配置されている。これらの鍋ネジのネジ部は、基台111に設けられたネジ孔(図示略)にねじ込まれている。
In the vicinity of both ends in the Y-axis direction of the
レンズホルダ1142は、支柱11421と、支柱11421の上に連結された環状の枠11422と、枠11422に取り付けられた3本の支持羽11423を備える。支柱11421の水平断面は矩形であり、ユーザはプレート1141の上面に設けられた矩形の溝(図示略)に支柱11421の下端部を填め込むことにより、レンズホルダ1142をプレート1141に取り付けることができる。また、ユーザは、プレート1141の溝に填め込まれた支柱11421を抜き取ることにより、レンズホルダ1142をプレート1141から取り外すことができる。
The
支持羽11423は、枠11422に対し水平軸周りに回動可能に取り付けられており、バネ(図示略)により枠11422の中心に向かって付勢されている。支持羽11423の側面には溝が設けられており、ユーザは、対物レンズ95の外周に設けられた鍔部を複数の支持羽11423の溝の各々に填め込むことで、対物レンズ95をレンズホルダ1142に取り付けることができる。レンズホルダ1142に取り付けられた対物レンズ95は支持羽11423により中心に向かい押さえつけられた状態で、枠11422の中央位置に安定保持される。
The
また、ユーザは、レンズホルダ1142に保持されている対物レンズ95の鍔が溝に填め込まれている状態の支持羽11423の各々を枠11422の外側に向かい押し、対物レンズ95の鍔を支持羽11423の溝から取り外すことで、対物レンズ95をレンズホルダ1142から取り外すことができる。
In addition, the user pushes each of the
レンズホルダ1142は、回動する支持羽11423が保持可能な範囲内で異なる直径の対物レンズ95を保持することができる。すなわち、対物レンズ保持部114は、直径の異なる対物レンズ95を着脱可能に保持する機構を備える。
The
ただし、1つのレンズホルダ1142が保持可能な対物レンズ95の直径は所定の範囲内に限られるので、例えば、直径が10cm〜15cmの対物レンズ95を保持可能なレンズホルダ1142、直径が15cm〜20cmの対物レンズ95を保持可能なレンズホルダ1142、直径が20cm〜25cmの対物レンズ95を保持可能なレンズホルダ1142、という具合に、保持可能な対物レンズ95の直径の範囲が互いに異なる複数のレンズホルダ1142が準備されている。ユーザは、プレート1141に適するサイズのレンズホルダ1142を取り付け、レンズホルダ1142に対物レンズ95を取り付けることで、様々な直径の対物レンズ95を備えるラインスキャナ11を容易に構築することができる。
However, since the diameter of the
ユーザは、プレート1141の長孔に取り付けられている鍋ネジを緩め、プレート1141をX軸方向に移動した後、それらの鍋ネジを締めることで、対物レンズ95のX軸方向における位置を調整することができる。すなわち、対物レンズ保持部114は、対物レンズ95のX軸方向(ラインスキャナ11から送信されるTHz波の送信方向と垂直な方向)における位置を調整する位置調整機構としての役割を果たす。
The user adjusts the position of the
図5は、透過板ホルダ115及び透過板116をX軸方向に見た場合の外観を示した図である。透過板ホルダ115は支柱1151と、支柱1151の上に連結された環状の枠1152を備える。支柱1151の水平断面は矩形であり、ユーザは基台111の上面に設けられた矩形の溝(図示略)に支柱1151の下端部を填め込むことにより、透過板ホルダ115を基台111に取り付けることができる。また、ユーザは、基台111の溝に填め込まれた支柱1151を抜き取ることにより、透過板ホルダ115を基台111から取り外すことができる。
FIG. 5 is a view showing the appearance of the
透過板116は、例えば浅いドーム形状をしており、その曲面に垂直に入射されるTHz波を最も高い透過率で透過する。透過板116は、スキャンミラー94の回転中心がTHz波の送信方向上にあり、かつ、対物レンズ95に垂直で対物レンズ95の中心を通る直線上にある場合に、最大の透過率でTHz波を透過するように、その位置が調整されている。
The
図6は、透過板116の役割を説明するための図である。図6(a)はスキャンミラー94の回転中心が送信部91から送信されるTHz波の送信方向上であり、かつ、対物レンズ95に垂直で対物レンズ95の中心を通る直線上となるように、スキャンミラー94の位置が正しく調整されている状態を示している。図6(a)の状態では、スキャンミラー94において反射するTHz波はスキャンミラー94の回転角度に関わらず透過板116の湾曲した表面に概ね垂直に入射する。従って、この場合、透過板116を透過するTHz波の強度はスキャンミラー94の回転角度によって変化しない。
FIG. 6 is a view for explaining the role of the
図6(b)はスキャンミラー94の回転中心の位置が正しく調整されていない状態を示している。図6(b)の状態では、スキャンミラー94において反射するTHz波が透過板116の湾曲した表面に入射する角度は、スキャンミラー94の回転角度によって異なる。従って、この場合、透過板116を透過するTHz波の強度はスキャンミラー94の回転角度によって変化する。
FIG. 6B shows a state in which the position of the rotation center of the
ユーザは、スキャンミラー94の回転角度を変化させながら受信部97が受信するTHz波の強度を観察し、プレート1131及びプレート1132の位置を調整することで、スキャンミラー94の回転中心を適正な位置に合わせることができる。
The user observes the intensity of the THz wave received by the receiving
図7は、光センサ1122と光センサ1123の役割を説明するための図である。光センサ1122と光センサ1123の各々は、スキャンミラー94に向けて発光するとともに、検知対象8で反射しスキャンミラー94から戻ってくる光を受光し、受光した光の強度を測定するセンサである。光センサ1122と光センサ1123は演算部99に接続されており、光センサ1122と光センサ1123による発光のタイミングは演算部99により制御される。また、光センサ1122と光センサ1123により測定された反射光の強度は演算部99に出力される。
FIG. 7 is a diagram for explaining the roles of the
演算部99は、光センサ1122による発光のタイミングから、発光された光の反射光の受光のタイミングまでの時間(以下、「時間RTT1」という)を計測する。また、演算部99は、光センサ1123についても、発光のタイミングから、発光された光の反射光の受光のタイミングまでの時間(以下、「時間RTT2」という)を計測する。
The
時間RTT1と時間RTT2はスキャンミラー94の回転角度によって変化するとともに、スキャンミラー94と検知対象8の距離によって大きく変化する。ただし、時間RTT1と時間RTT2の時間差(以下、「時間差DT」という)は、スキャンミラー94と検知対象8の距離により影響を受けず、スキャンミラー94の回転角度のみの影響を受ける。
The time RTT1 and the time RTT2 change depending on the rotation angle of the
演算部99には、スキャンミラー94の回転角度と、時間差DTとの対応関係を示すテーブル(以下、「回転角度テーブル」という)が記憶されている。演算部99は、スキャンミラー94の動作中、継続的に時間差DTを算出し、回転角度テーブルを参照して、算出した時間差DTに対応する回転角度を特定する。その結果、演算部99はリアルタイムにスキャンミラー94の回転角度を認識することができる。このように、光センサ1122、光センサ1123、及び演算部99は、THz波の送信方向に対するスキャンミラー94の角度を測定する角度測定部として機能する。
The
演算部99により特定されたスキャンミラー94の回転角度は、例えば、ユーザへの通知に利用されてもよいし、演算部99によるスキャンミラー94の動作の制御に用いられてもよい。
The rotation angle of the
上述したラインスキャナ11によれば、検知対象8の種類や大きさに応じてスキャンミラー94と対物レンズ95を交換することにより、様々な種類と大きさの検知対象8の三次元形状を測定することができる。そのため、検知対象8の種類や大きさに応じて個別にラインスキャナを設計し製造する場合と比較し、手間とコストが低減される。
According to the
上述したスキャナシステム1は本発明の一実施形態であって、本発明の技術的思想の範囲内で様々に変形されてよい。以下にそれらの変形の例を示す。なお、以下の変形例の2以上が適宜組み合わされてもよい。
The
(1)上述した実施形態において、透過板116はスキャンミラー94と対物レンズ95の間に配置される。これに代えて、透過板116が対物レンズ95と検知対象8の間に配置されてもよい。図8は、この変形例における透過板116の位置及び形状を例示した図である。
(1) In the embodiment described above, the
(2)上述した実施形態において、搬送部12はラインスキャナ11を搬送する。これに代えて、搬送部12が検知対象8を搬送してもよい。
(2) In the embodiment described above, the
(3)上述した実施形態において説明した送受信ユニット112の構成は例示であって、他の構成を備える送受信ユニットが採用されてもよい。例えば、基準位置から検知対象8までの絶対距離を計測する必要がなければ、送受信ユニット112は基準ミラー98に代えて光吸収板を備えてもよい。
(3) The configuration of the transmission /
(4)上述した実施形態において説明したスキャナシステム1の各構成部の具体的な形状、配置、大きさ、保持機構の仕組み、調整機構の仕組み等は例示であって、他の形状、配置、大きさ、保持機構の仕組み、調整機構の仕組み等が採用されてもよい。
(4) The specific shape, arrangement, and size of each component of the
(5)上述した実施形態において説明したスキャナシステム1においては、検知対象の三次元形状を計測するためにテラヘルツ波が用いられるが、ミラーで反射し、レンズで収束が可能な電磁波である限り、いずれの周波数帯の電磁波が用いられてもよい。
(5) In the
(6)上述した実施形態の図において、スキャンミラーはミラーが回転中心周りに振動(往復運動)するタイプのものを例示したが、スキャンミラーの方式はこれに限られない。例えば、一方向に回転しながら電磁波を反射する方向を変化させるポリゴンミラーを用いるタイプのスキャンミラーが採用されてもよい。 (6) In the drawings of the embodiments described above, the scanning mirror is of a type in which the mirror vibrates (reciprocates) around the rotation center, but the system of the scanning mirror is not limited to this. For example, a scan mirror of a type using a polygon mirror that changes the direction of reflecting the electromagnetic wave while rotating in one direction may be employed.
1…スキャナシステム、8…検知対象、9…ラインスキャナ、11…ラインスキャナ、12…搬送部、91…送信部、92…レンズ、93…ハーフミラー、94…スキャンミラー、95…対物レンズ、96…レンズ、97…受信部、98…基準ミラー、99…演算部、111…基台、112…送受信ユニット、113…スキャンミラー保持部、114…対物レンズ保持部、115…透過板ホルダ、116…透過板、121…支柱、122…連結部、123…軸ネジ、124…モータ、1121…筐体、1122…光センサ、1123…光センサ、1131…プレート、1132…プレート、1133…プレート、1141…プレート、1142…レンズホルダ、1151…支柱、1152…枠、11421…支柱、11422…枠、11423…支持羽
DESCRIPTION OF
Claims (7)
請求項1又は2に記載のラインスキャナ。 The line scanner according to claim 1, further comprising an alignment mechanism that adjusts the position of the scan mirror in the direction perpendicular to the transmission direction of the electromagnetic wave.
請求項1乃至3のいずれか1項に記載のラインスキャナ。 The line scanner according to any one of claims 1 to 3, wherein objective lenses having different diameters are detachably held.
請求項1乃至4のいずれか1項に記載のラインスキャナ。 The line scanner according to any one of claims 1 to 4, further comprising: a transmission plate that transmits the electromagnetic wave transmitted when the center of rotation of the scan mirror is in the transmission direction of the electromagnetic wave with the maximum transmittance.
請求項1乃至5のいずれか1項に記載のラインスキャナ。 The line scanner according to any one of claims 1 to 5, further comprising an angle measurement unit configured to measure an angle of the scan mirror with respect to the transmission direction of the electromagnetic wave.
前記ラインスキャナを搬送する搬送部と
を備えるスキャナシステム。 A line scanner according to any one of claims 1 to 6,
And a transport unit for transporting the line scanner.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2017250958A JP2019117107A (en) | 2017-12-27 | 2017-12-27 | Line scanner |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2017250958A JP2019117107A (en) | 2017-12-27 | 2017-12-27 | Line scanner |
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Publication Number | Publication Date |
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JP2019117107A true JP2019117107A (en) | 2019-07-18 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2017250958A Pending JP2019117107A (en) | 2017-12-27 | 2017-12-27 | Line scanner |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2019117107A (en) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112304431A (en) * | 2019-07-26 | 2021-02-02 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | Imaging system and imaging method |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006030296A (en) * | 2004-07-12 | 2006-02-02 | Olympus Corp | Optical scanning microscope device |
JP2007155527A (en) * | 2005-12-06 | 2007-06-21 | Opcell Co Ltd | Apparatus for observing surface of object |
JP2007279021A (en) * | 2006-03-14 | 2007-10-25 | Hitachi High-Technologies Corp | Optical defect inspection device |
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2017
- 2017-12-27 JP JP2017250958A patent/JP2019117107A/en active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006030296A (en) * | 2004-07-12 | 2006-02-02 | Olympus Corp | Optical scanning microscope device |
JP2007155527A (en) * | 2005-12-06 | 2007-06-21 | Opcell Co Ltd | Apparatus for observing surface of object |
JP2007279021A (en) * | 2006-03-14 | 2007-10-25 | Hitachi High-Technologies Corp | Optical defect inspection device |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112304431A (en) * | 2019-07-26 | 2021-02-02 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | Imaging system and imaging method |
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