JP2019116616A - Polishing pad and urethane resin composition for polishing pad - Google Patents

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Abstract

To provide a polishing pad having a high polishing rate and enabling a polished article excellent in high flatness (little in edge sagging) to be obtained.SOLUTION: The polishing pad is a cured product of a urethane resin composition comprising a main agent (i) containing a urethane prepolymer (A), and a curing agent (ii). The urethane prepolymer (A) is a reaction product of a composition comprising a polyol constituent (a) containing polyol (a1) having a molecular weight of 300 or more, and short-chain glycol (a2) having a molecular weight of less than 300, and polyisocyanate (b), and has an isocyanate group at a terminal thereof, wherein the polyol constituent (a) contains 40 mass% or more and 90 mass% or less of polytetramethylene glycol, and 1 mass% or more of short-chain glycol (a2). The cured product has a peak value of tan δ within the range of 120°C or higher to 200°C or lower, wherein the peak value of tan δ is within the range of 120°C or higher to 200°C or lower is 0.18 or greater.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、研磨パッド及び研磨パッド用ウレタン樹脂組成物に関する。   The present invention relates to a polishing pad and a urethane resin composition for a polishing pad.

本発明は、特に、光学レンズ、ガラス基板、シリコンウェハ、半導体デバイス等の研磨に好適に使用できる研磨パッド、研磨パッドの製造方法及び研磨方法に関する。   The present invention particularly relates to a polishing pad that can be suitably used for polishing an optical lens, a glass substrate, a silicon wafer, a semiconductor device, etc., and a method of manufacturing the polishing pad and a polishing method.

光学レンズ、液晶ディスプレイ(LCD)用ガラス基板、ハードディスク(HDD)用ガラス基板、シリコンウェハ、半導体デバイス等は、高度な研磨効率や非スクラッチ性が要求される。   Optical lenses, glass substrates for liquid crystal displays (LCDs), glass substrates for hard disks (HDDs), silicon wafers, semiconductor devices, etc. are required to have high polishing efficiency and non-scratch properties.

特に、前記半導体デバイスでは、半導体回路の集積度が急激に増大するにつれて高密度化を目的とした微細化や多層配線化が進み、加工面のより一層高度な表面平坦性かつ高研磨効率が求められている。また、前記液晶ディスプレイ用ガラス基板においても、液晶ディスプレイの大型化に伴い、加工面のより高度な表面平坦性かつ高研磨効率が要求されている。このように加工面の表面平坦性の要求が高度化されており、さらに、研磨加工における研磨効率等の要求性能がさらに高まってきている。   In particular, in the semiconductor device, as the degree of integration of the semiconductor circuit rapidly increases, miniaturization and multilayer wiring for the purpose of high density progress, and higher surface flatness of the processed surface and higher polishing efficiency are required. It is done. Moreover, also in the said glass substrate for liquid crystal displays, with the enlargement of a liquid crystal display, the higher surface flatness of a process surface and high polishing efficiency are calculated | required. As described above, the requirement for surface flatness of the processed surface is advanced, and further, the required performance such as the polishing efficiency in the polishing process is further increased.

そこで、光学レンズや半導体デバイスやLCDの製造プロセスにおいて、優れた平坦性を有する表面を形成することができる研磨方法として、化学的機械的研磨法、いわゆるCMP(Chemical Mechanical Polishing)法が広く採用されている。   Therefore, chemical mechanical polishing, so-called CMP (Chemical Mechanical Polishing), is widely adopted as a polishing method capable of forming a surface having excellent flatness in the manufacturing process of optical lenses, semiconductor devices and LCDs. ing.

前記CMP法では、通常、研磨加工時に砥粒(研磨粒子)をアルカリ溶液または酸溶液に分散させたスラリー(研磨液)を供給して研磨を行う遊離砥粒方式が採用されている。すなわち、被研磨物(の加工面)は、スラリー中の砥粒による機械的作用と、アルカリ溶液または酸溶液による化学的作用とで平坦化される。ここで、加工面に要求される平坦性の高度化に伴い、CMP法に求められる研磨精度や研磨効率等の研磨性能、具体的には、高研磨レート、非スクラッチ性、高平坦性の要求が高まっている。前記CMP法の遊離砥粒方式を用いる研磨パッドとしては、例えば、硬度や摩耗や緩和時間や弾性率などの特定なパラメータを制御することでスクラッチの発生しにくい研磨速度の大きい研磨パッドが提案されている(特許文献1、2参照)。
また、例えば、エチレングリコールモノフェニルエーテルなどの特定な組成を有するウレタン研磨パッドは、ドレッシング性(カットレート)に優れるとしている(特許文献3参照)。また、例えば、使用する原料のポリエステル系ポリオールとポリエーテル系ポリオールの相溶性を利用してマクロ相分離構造を形成させたウレタン研磨パッドは、研磨速度が大きくかつ安定性に優れるとしている(特許文献4、5参照)。
また、例えば、特定の気泡径や貯蔵弾性率に原料組成を規定した研磨パッドは、研磨速度が大きく、ブレイクインタイムに優れるとしている(特許文献6参照)。
In the above-mentioned CMP method, a free abrasive method is generally adopted in which polishing is performed by supplying a slurry (polishing liquid) in which abrasive particles (abrasive particles) are dispersed in an alkali solution or an acid solution at the time of polishing. That is, (the processing surface of) the object to be polished is planarized by the mechanical action by the abrasive grains in the slurry and the chemical action by the alkaline solution or the acid solution. Here, the polishing performance such as the polishing accuracy and the polishing efficiency required for the CMP method is required as the flatness of the processing surface is advanced, and specifically, the high polishing rate, the non-scratching property, and the high flatness are required. Is rising. As a polishing pad using the loose abrasive method of the above-mentioned CMP method, for example, a polishing pad having a high polishing rate which hardly generates a scratch is proposed by controlling specific parameters such as hardness, wear, relaxation time and elastic modulus. (See Patent Documents 1 and 2).
Further, for example, a urethane polishing pad having a specific composition such as ethylene glycol monophenyl ether is said to be excellent in dressing properties (cut rate) (see Patent Document 3). Further, for example, a urethane polishing pad having a macrophase separation structure formed by utilizing the compatibility between the polyester-based polyol and the polyether-based polyol used as raw materials is said to have a large polishing rate and excellent stability (patent document See 4, 5).
Further, for example, a polishing pad in which a raw material composition is specified to a specific cell diameter or storage elastic modulus is considered to have a high polishing rate and an excellent break-in time (see Patent Document 6).

上述のように、産業界からは、高精密研磨に要求される高度化された高研磨レート、低スクラッチ性、及び高平坦性を満足する研磨パッドが強く求められ、様々な試みが行われているものの、未だ見出されていないのが実情である。   As described above, the industry strongly demands a polishing pad that satisfies the advanced high polishing rate, low scratch property, and high flatness required for high precision polishing, and various attempts are made. Although it is, it is the fact that it has not been found yet.

特開2014−111296号公報JP, 2014-111296, A 特許5710353号公報Patent No. 5710353 特許5738731号広報Patent 5738731 Public Relations 特許5623927号公報Patent 5623927 gazette 特許5623927号広報Patent 5623927 Public Relations 特許5393434号広報Patent No. 5353434 Public Relations

本発明が解決しようとする課題は、高い研磨レートを有し、かつ、高平坦性(縁だれの少ない)に優れた被研磨物が得られる研磨パッドを提供することである。   The problem to be solved by the present invention is to provide a polishing pad which has a high polishing rate and is capable of obtaining an object to be polished excellent in high flatness (with less edging).

本発明者らは、上記の課題を解決すべく鋭意研究した結果、ソフトセグメントの組成とハードセグメントの割合を特定範囲にするとともに、動的粘弾性測定において、特定の温度範囲において、特定値以上のtanδピークを有するものとすることで、高い研磨レートを有し、かつ、高平坦性(縁だれの少ない)に優れた被研磨物が得られる研磨パッドを提供可能であることを見出して、本発明を完成した。   As a result of intensive studies to solve the above problems, the present inventors set the composition of the soft segment and the ratio of the hard segment to a specific range, and in the dynamic viscoelasticity measurement, a specific value or more in a specific temperature range It has been found that it is possible to provide a polishing pad having a high polishing rate and having a high flatness (with less edge) by providing a tan δ peak of The present invention has been completed.

すなわち、本発明の研磨パッドは、ウレタンプレポリマー(A)を含む主剤(i)と、硬化剤(ii)とを含むウレタン樹脂組成物の硬化物であり、前記ウレタンプレポリマー(A)が、分子量300以上のポリオール(a1)及び分子量300未満の短鎖グリコール(a2)を含むポリオール成分(a)とポリイソシアネート(b)とを原料の少なくとも一部として含む反応物であって、末端にイソシアネート基を有するものであり、前記ポリオール成分(a)が、ポリテトラメチレングリコールを40質量%以上、90質量%以下の含有率で含むものであり、前記短鎖グリコール(a2)の含有率が、前記ポリオール成分(a)中、1質量%以上であり、前記硬化物が、測定周波数を1Hzとする動的粘弾性測定において、120℃以上200℃以下の範囲にtanδのピークを有するものであり、かつ、前記120℃以上200℃以下の範囲におけるtanδのピーク値が0.18以上である。   That is, the polishing pad of the present invention is a cured product of a urethane resin composition containing a main agent (i) containing a urethane prepolymer (A) and a curing agent (ii), and the urethane prepolymer (A) is A reactant comprising a polyol component (a) containing a polyol (a1) having a molecular weight of 300 or more and a short chain glycol (a2) having a molecular weight of less than 300 and a polyisocyanate (b) as at least a part of the raw material The polyol component (a) contains polytetramethylene glycol at a content of 40% by mass or more and 90% by mass or less, and the content of the short chain glycol (a2) is 1% by mass or more in the polyol component (a), and the cured product has a measurement frequency of 1 Hz in a dynamic viscoelasticity measurement at 120 ° C. or higher 00 ° C. are those having a peak of tanδ within the scope of the following, and the peak value of tanδ in the range of the 120 ° C. or higher 200 ° C. or less is 0.18 or more.

本発明の研磨パッドは、高い研磨レートを有し、かつ、高平坦性(縁だれの少ない)に優れた被研磨物が得られる研磨パッドが可能である。   The polishing pad of the present invention is capable of a polishing pad having a high polishing rate and capable of obtaining an object to be polished excellent in high flatness (with less edging).

図1は、実施例1の研磨パッドの断面(スライス面)の走査型電子顕微鏡(SEM)画像である。FIG. 1 is a scanning electron microscope (SEM) image of a cross section (sliced surface) of the polishing pad of Example 1. 図2は、比較例1の研磨パッドの断面(スライス面)の走査型電子顕微鏡(SEM)画像である。FIG. 2 is a scanning electron microscope (SEM) image of a cross section (slice surface) of the polishing pad of Comparative Example 1. 図3は、実施例3の研磨パッドの動的粘弾性測定チャートである。FIG. 3 is a dynamic viscoelasticity measurement chart of the polishing pad of Example 3. 図4は、実施例3の研磨パッドで研磨したシリコンウェハの表面を分光干渉レーザ変位計で測定した高さの分布図である。FIG. 4 is a distribution diagram of heights obtained by measuring the surface of a silicon wafer polished by the polishing pad of Example 3 with a spectral interference laser displacement meter. 図5は、比較例7の研磨パッドの動的粘弾性測定チャートである。FIG. 5 is a dynamic viscoelasticity measurement chart of the polishing pad of Comparative Example 7. 図6は、比較例7の研磨パッドで研磨したシリコンウェハの表面を分光干渉レーザ変位計で測定した高さの分布図である。FIG. 6 is a distribution diagram of heights obtained by measuring the surface of a silicon wafer polished by the polishing pad of Comparative Example 7 with a spectral interference laser displacement meter.

本発明の研磨パッドは、ウレタンプレポリマー(A)を含む主剤(i)と、硬化剤(ii)とを含むウレタン樹脂組成物の硬化物であり、前記硬化物は、測定周波数を1Hzとする動的粘弾性測定において、120℃以上200℃以下の範囲にtanδのピークを有するものであり、かつ、前記120℃以上200℃以下の範囲におけるtanδのピーク値が0.18以上である。動的粘弾性測定において、前記を有するピークが存在することから、前記硬化物中に特定の粘弾性を有する微細なドメインが存在することが示唆され、本発明では、この微細なドメインの存在により、高い研磨レート及び被研磨物の高平坦性を達成できたものと考えられる。本発明では、前記微細なドメインは、ポリオール(a)の組成を特定のものとすることで、生じさせることが可能となる。   The polishing pad of the present invention is a cured product of a urethane resin composition containing a main agent (i) containing a urethane prepolymer (A) and a curing agent (ii), and the cured product has a measurement frequency of 1 Hz. In the dynamic viscoelasticity measurement, it has a tan δ peak in the range of 120 ° C. or more and 200 ° C. or less, and the peak value of tan δ in the range of 120 ° C. or more and 200 ° C. or less is 0.18 or more. The presence of a peak having the above in the dynamic viscoelasticity measurement suggests that a fine domain having a specific viscoelasticity is present in the cured product, and in the present invention, the presence of this fine domain It is considered that high polishing rate and high flatness of the object to be polished can be achieved. In the present invention, the fine domains can be generated by specifying the composition of the polyol (a).

前記測定周波数を1Hzとする動的粘弾性測定において、tanδのピークは、120℃以上180℃以下の範囲にあることが好ましく、110℃以上170℃以下の範囲にあることがより好ましい。   In the dynamic viscoelasticity measurement in which the measurement frequency is 1 Hz, the peak of tan δ is preferably in the range of 120 ° C. or more and 180 ° C. or less, and more preferably in the range of 110 ° C. or more and 170 ° C. or less.

前記taδのピーク値は、好ましくは0.20以上、より好ましくは0.25以上、さらに好ましくは0.3以上であり、上限は特に限定されないが、例えば1以下、さらには0.8以下であってもよい。   The peak value of the above-mentioned taδ is preferably 0.20 or more, more preferably 0.25 or more, still more preferably 0.3 or more, and the upper limit is not particularly limited. It may be.

前記主剤(i)において、前記ウレタンプレポリマー(A)は、ポリオール成分(a)とポリイソシアネート(b)との反応物(ポリオール成分(a)とポリイソシアネート(b)とを原料の少なくとも一部とする反応物)であり、末端にイソシアネート基を有するものである。   In the main agent (i), the urethane prepolymer (A) is a reaction product of a polyol component (a) and a polyisocyanate (b) (a polyol component (a) and a polyisocyanate (b) at least partially) (Reactant) which has an isocyanate group at the end.

前記ポリオール成分(a)は、1種又は2種以上のポリオールを含んでいてもよく、少なくとも、分子量300以上のポリオール(a1)(以下、単に「ポリオール(a1)」という場合がある。)及び分子量300未満の短鎖グリコール(a2)(以下、単に「短鎖グリコール」という場合がある。)を含む。   The polyol component (a) may contain one or more polyols, and at least a polyol (a1) having a molecular weight of 300 or more (hereinafter sometimes simply referred to as "polyol (a1)") and It contains short chain glycol (a2) having a molecular weight of less than 300 (hereinafter sometimes simply referred to as "short chain glycol").

前記ポリオール(a1)は、得られる研磨パッドにおいて、ソフトセグメントを形成しうる。前記ポリオール(a1)の数平均分子量は、好ましくは700以上、より好ましくは1,100以上、さらに好ましくは1,400以上であり、好ましくは8,000以下、より好ましくは5,000以下、さらに好ましくは3,000以下、特に好ましくは2,500以下である。
本明細書において、数平均分子量は、ゲル・パーミエーション・クロマトグラフィ法(GPC法)により、ポリスチレンを標準試料として測定することができる。また、前記ポリオール(a1)として2種以上のポリオールが含まれる場合、前記ポリオール(a1)の数平均分子量は、各ポリオールの数平均分子量及び質量割合に基づき、加重平均値として算出することができる。
The polyol (a1) can form a soft segment in the resulting polishing pad. The number average molecular weight of the polyol (a1) is preferably 700 or more, more preferably 1,100 or more, still more preferably 1,400 or more, preferably 8,000 or less, more preferably 5,000 or less, and further Preferably it is 3,000 or less, especially preferably 2,500 or less.
In the present specification, the number average molecular weight can be measured by gel permeation chromatography (GPC method) using polystyrene as a standard sample. Moreover, when 2 or more types of polyols are contained as said polyol (a1), the number average molecular weight of the said polyol (a1) can be calculated as a weighted average value based on the number average molecular weight and mass ratio of each polyol .

前記ポリオールに含まれる水酸基の数は、2個以上であり、5個以下であることが好ましい。   The number of hydroxyl groups contained in the polyol is 2 or more, preferably 5 or less.

前記ポリオール(a1)は、ポリエーテルポリオール(a1−1)を含む。前記ポリエーテルポリオール(a1−1)としては、環状エーテルの開環重合により得られるポリオキシアルキレンポリオールが挙げられ、開始剤として活性水素原子を有する基を2個以上有する化合物の1種又は2種以上を用いて得られたものであってもよい。   The polyol (a1) contains a polyether polyol (a1-1). Examples of the polyether polyols (a1-1) include polyoxyalkylene polyols obtained by ring-opening polymerization of cyclic ethers, and one or two of compounds having two or more groups having active hydrogen atoms as initiators It may be obtained by using the above.

前記環状エーテルの炭素原子数は、好ましくは2〜10、より好ましくは2〜6、さらに好ましくは2〜4である。前記環状エーテルに含まれる水素原子は、ハロゲン原子で置換されていてもよい。前記環状エーテルとしては、1種又は2種以上を用いることができ、例えば、エチレンオキシド、プロピレンオキシド、1,2−ブチレンオキシド、2,3−ブチレンオキシド、スチレンオキシド、エピクロロヒドリン、テトラヒドロフラン、アルキル化テトラヒドロフラン等が挙げられる。   The carbon atom number of the cyclic ether is preferably 2 to 10, more preferably 2 to 6, and still more preferably 2 to 4. The hydrogen atom contained in the cyclic ether may be substituted by a halogen atom. As the cyclic ether, one or more species can be used. For example, ethylene oxide, propylene oxide, 1,2-butylene oxide, 2,3-butylene oxide, styrene oxide, epichlorohydrin, tetrahydrofuran, alkyl And the like.

前記開始剤としては1種又は2種以上を用いることができ、例えば、エチレングルコール、ジエチレングリコール、プロピレングリコール、トリメチレングリコール、1,3−ブタンジオール、1,4−ブタンジオール、1,6−ヘキサンジオール、ネオペンチルグリコール、水等の活性水素原子を2個有する化合物;グリセリン、ジグリセリン、トリメチロールエタン、トリメチロールプロパン、ヘキサントリオール、モノエタノールアミン、ジエタノールアミン、トリエタノールアミン、エチレンジアミン、ペンタエリスリトール、砂糖等の活性水素原子を3個以上有する化合物などが挙げられる。   As the initiator, one or more kinds can be used. For example, ethylene glycol, diethylene glycol, propylene glycol, trimethylene glycol, 1,3-butanediol, 1,4-butanediol, 1,6- Compounds having two active hydrogen atoms such as hexanediol, neopentyl glycol and water; glycerin, diglycerin, trimethylolethane, trimethylolpropane, hexanetriol, monoethanolamine, diethanolamine, triethanolamine, ethylenediamine, pentaerythritol, The compound etc. which have 3 or more of active hydrogen atoms, such as a sugar, are mentioned.

前記ポリエーテルポリオール(a1−1)は、少なくともポリテトラメチレングリコールを含む。前記ポリオール成分(a1)に含まれるポリテトラメチレングリコールの数平均分子量は、300以上であり、好ましくは1,100以上、より好ましくは1,300以上であり、好ましくは4,000以下、より好ましくは3,000以下、さらに好ましくは2,500以下である。異なる数平均分子量のポリテトラメチレングリコールが2種以上含まれる場合、ポリテトラメチレングリコールの数平均分子量は、各ポリテトラメチレングリコールの数平均分子量及び質量割合に基づき、加重平均値として算出することができる。   The polyether polyol (a1-1) contains at least polytetramethylene glycol. The number average molecular weight of polytetramethylene glycol contained in the polyol component (a1) is 300 or more, preferably 1,100 or more, more preferably 1,300 or more, preferably 4,000 or less, more preferably Is 3,000 or less, more preferably 2,500 or less. When two or more kinds of polytetramethylene glycols having different number average molecular weights are contained, the number average molecular weight of polytetramethylene glycol may be calculated as a weighted average value based on the number average molecular weight and mass ratio of each polytetramethylene glycol. it can.

前記ポリオール成分(a)中、ポリテトラメチレングリコールの含有率は、40質量%以上、好ましくは50質量%以上、より好ましくは60質量%以上であり、90質量%以下、好ましくは85質量%以下、より好ましくは80質量%以下である。
前記ポリオール(a1)中、ポリテトラメチレングリコールの含有率は、好ましくは50質量%超、より好ましくは60質量%以上、より好ましくは70質量%以上、さらに好ましくは75質量%以上であり、100質量%以下である。特に好ましくはポリオール(a1)は、ポリテトラメチレングリコールである。
In the polyol component (a), the content of polytetramethylene glycol is 40% by mass or more, preferably 50% by mass or more, more preferably 60% by mass or more, and 90% by mass or less, preferably 85% by mass or less And more preferably 80% by mass or less.
The content of polytetramethylene glycol in the polyol (a1) is preferably more than 50% by mass, more preferably 60% by mass or more, more preferably 70% by mass or more, and still more preferably 75% by mass or more. It is less than mass%. Particularly preferably, the polyol (a1) is polytetramethylene glycol.

前記ポリエーテルポリオール(a1−1)は、ポリオキシプロピレンポリオールを含んでいてもよい。前記ポリオキシプロピレンポリオールの数平均分子量は、300以上であり、好ましくは400以上であり、好ましくは5,000以下、より好ましくは2,000以下、さらに好ましくは1,000以下である。異なる数平均分子量のポリオキシプロピレンポリオールが2種以上含まれる場合、ポリオキシプロピレンポリオールの数平均分子量は、各ポリオキシプロピレンポリオールの数平均分子量及び質量割合に基づき、加重平均値として算出することができる。   The polyether polyol (a1-1) may contain a polyoxypropylene polyol. The number average molecular weight of the polyoxypropylene polyol is 300 or more, preferably 400 or more, preferably 5,000 or less, more preferably 2,000 or less, and still more preferably 1,000 or less. When two or more kinds of polyoxypropylene polyols having different number average molecular weights are contained, the number average molecular weight of the polyoxypropylene polyol may be calculated as a weighted average value based on the number average molecular weight and mass ratio of each polyoxypropylene polyol. it can.

前記ポリオキシプロピレンポリオールに含まれる水酸基の数は、2以上であり、好ましくは3以上であり、好ましくは5以下、より好ましくは4以下である。   The number of hydroxyl groups contained in the polyoxypropylene polyol is 2 or more, preferably 3 or more, preferably 5 or less, more preferably 4 or less.

ポリオキシプロピレンポリオールを含む場合、前記ポリオール(a1)中、ポリオキシプロピレンポリオールの含有量は、ポリテトラメチレングリコール100質量部に対して、好ましくは5質量部以上、より好ましくは10質量部以上であり、好ましくは50質量部以下、より好ましくは40質量部以下、さらに好ましくは30質量部以下である。   When the polyoxypropylene polyol is contained, the content of the polyoxypropylene polyol in the polyol (a1) is preferably 5 parts by mass or more, more preferably 10 parts by mass or more with respect to 100 parts by mass of polytetramethylene glycol. Preferably it is 50 mass parts or less, More preferably, it is 40 mass parts or less, More preferably, it is 30 mass parts or less.

前記ポリオール(a1)中、前記ポリエーテルポリオール(a1−1)の含有率は、好ましくは80質量%以上、より好ましくは90質量%以上、さらに好ましくは95質量%以上であり、上限は100質量%である。   The content of the polyether polyol (a1-1) in the polyol (a1) is preferably 80% by mass or more, more preferably 90% by mass or more, still more preferably 95% by mass or more, and the upper limit is 100%. %.

前記ポリオール(a1)は、前記ポリエーテルポリオール(a1−1)の他に、他のポリオール(a1−2)を含んでいてもよい。前記他のポリオール(a1−2)としては、1種又は2種以上を用いることができ、例えば、ポリエステルポリオール、ポリカーボネートポリオール、ポリブタジエンポリオール、ポリアクリルポリオール、ポリブタジエンポリオール、ポリイソプレンポリオール等が挙げられる。   The polyol (a1) may contain another polyol (a1-2) in addition to the polyether polyol (a1-1). As said other polyol (a1-2), 1 type (s) or 2 or more types can be used, For example, a polyester polyol, a polycarbonate polyol, a polybutadiene polyol, a polyacryl polyol, a polybutadiene polyol, a polyisoprene polyol etc. are mentioned.

前記ポリエステルポリオールとしては、1種又は2種以上を用いることができ、例えば、低分子量のポリオールと、ポリカルボン酸とを反応して得られるポリエステルポリオール;ε−カプロラクトン等の環状エステル化合物を開環重合反応して得られるポリエステルポリオール;これらを共重合して得られるポリエステルポリオール等が挙げられる。   As the polyester polyol, one type or two or more types can be used. For example, a polyester polyol obtained by reacting a low molecular weight polyol and a polycarboxylic acid; ring-opening cyclic ester compounds such as ε-caprolactone Examples include polyester polyols obtained by polymerization reaction; polyester polyols obtained by copolymerizing these.

前記低分子量のポリオールとしては、1種又は2種以上を用いることができ、例えば、分子量が50以上300未満のポリオールが挙げられ、例えばエチレングリコール、プロピレングリコール、1,4−ブタンジオール、1,6−ヘキサンジオール、ジエチレングリコール、ネオペンチルグリコール、1,3−ブタンジオール等の脂肪族ポリオール;シクロヘキサンジメタノール等の脂環式構造を有するポリオール;ビスフェノールA及びビスフェノールF等の芳香族環を有するポリオールが挙げられる。中でも、1,6−ヘキサンジオール、ネオペンチルグリコールが好ましい。   As said low molecular weight polyol, 1 type, or 2 or more types can be used, For example, the polyol whose molecular weight is 50 or more and less than 300 is mentioned, For example, ethylene glycol, propylene glycol, 1, 4- butanediol, 1, Aliphatic polyols such as 6-hexanediol, diethylene glycol, neopentyl glycol and 1,3-butanediol; polyols having an alicyclic structure such as cyclohexanedimethanol; polyols having an aromatic ring such as bisphenol A and bisphenol F It can be mentioned. Among these, 1,6-hexanediol and neopentyl glycol are preferable.

前記ポリエステルポリオールの製造に使用可能な前記ポリカルボン酸としては、1種又は2種以上を用いることができ、例えば、コハク酸、アジピン酸、セバシン酸、ドデカンジカルボン酸等の脂肪族ポリカルボン酸;テレフタル酸、イソフタル酸、フタル酸、ナフタレンジカルボン酸等の芳香族ポリカルボン酸;それらの無水物又はエステル化物等が挙げられる。   As said polycarboxylic acid which can be used for manufacture of said polyester polyol, 1 type (s) or 2 or more types can be used, For example, aliphatic polycarboxylic acids, such as a succinic acid, adipic acid, sebacic acid, dodecane dicarboxylic acid; Aromatic polycarboxylic acids such as terephthalic acid, isophthalic acid, phthalic acid and naphthalenedicarboxylic acid; their anhydrides or esters and the like.

前記ポリカーボネートポリオールは、炭酸及び炭酸エステルと、多価アルコールとをエステル化反応させて得られるものである。前記多価アルコールとしては、1種又は2種以上を用いることができ、例えば、1,3−プロパンジオール、1,4−ブタンジオール、1,6−ヘキサンジオール、ジエチレングリコール、ポリエチレングリコール、ポリオキシプロピレングリコール、ポリテトラメチレングリコール等が挙げられる。   The polycarbonate polyol is obtained by subjecting a carbonic acid and a carbonic ester to an esterification reaction with a polyhydric alcohol. As the polyhydric alcohol, one or more species can be used. For example, 1,3-propanediol, 1,4-butanediol, 1,6-hexanediol, diethylene glycol, polyethylene glycol, polyoxypropylene And glycol, polytetramethylene glycol and the like.

ポリブタジエンポリオールとしては、ポリブタジエンにアルキレンオキシド(例えばエチレンオキシド、プロピレンオキシド等)を付加して得られるポリオール等が挙げられる。
ポリアクリルポリオールとしては、アクリル酸エステルとビニル化合物等を共重合して得られるポリオール等が挙げられる。

ポリイソプレンポリオールとしては、ポリイソプレンにアルキレンオキシド(例えばエチレンオキシド、プロピレンオキシド等)を付加して得られるポリオール等が挙げられる。
Examples of the polybutadiene polyol include polyols obtained by adding an alkylene oxide (for example, ethylene oxide, propylene oxide, etc.) to polybutadiene.
Examples of polyacrylic polyols include polyols obtained by copolymerizing an acrylic ester and a vinyl compound.

Examples of polyisoprene polyols include polyols obtained by adding an alkylene oxide (for example, ethylene oxide, propylene oxide, etc.) to polyisoprene.

前記ポリオール成分(a)中、ポリオール(a1)の含有率は、好ましくは60質量%以上、より好ましくは70質量%以上であり、好ましくは100質量%未満、より好ましくは99質量%以下である。   In the polyol component (a), the content of the polyol (a1) is preferably 60% by mass or more, more preferably 70% by mass or more, preferably less than 100% by mass, more preferably 99% by mass or less .

前記短鎖グリコール(a2)は、得られる研磨パッドにおいて、ハードセグメントを形成しうる。前記短鎖グリコール(a2)としては、分子量300未満であるグリコールのうち1種又は2種以上を用いることができ、例えば、エチレングリコール、ジエチレングリコール、1,2−プロパンジオール、1,3−プロパンジオール、2−メチル−1,3−プロパンジオール、2−ブチル−2−エチル−1,3−プロパンジオール、1,3−ブタンジオール、1,4−ブタンジオール、ネオペンチルグリコール(2,2−ジメチル−1,3−プロパンジオール)、2−イソプロピル−1,4−ブタンジオール、3−メチル−2,4−ペンタンジオール、2,4−ペンタンジオール、1,5−ペンタンジオール、3−メチル−1,5−ペンタンジオール、2−メチル−2,4−ペンタンジオール、2,4−ジメチル−1,5−ペンタンジオール、2,4−ジエチル−1,5−ペンタンジオール、1,5−ヘキサンジオール、1,6−ヘキサンジオール、2−エチル−1,3−ヘキサンジオール、2−エチル−1,6−ヘキサンジオール、1,7−ヘプタンジオール、3,5−ヘプタンジオール、1,8−オクタンジオール、2−メチル−1,8−オクタンジオール、1,9−ノナンジオール、1,10−デカンジオール等の脂肪族ジオール、シクロヘキサンジメタノール(例えば1,4−シクロヘキサンジメタノール)、シクロヘキサンジオール(例えば1,3−シクロヘキサンジオール、1,4−シクロヘキサンジオール)、2−ビス(4−ヒドロキシシクロヘキシル)−プロパン等の脂環式ジオールなどが挙げられる。   The short chain glycol (a2) can form a hard segment in the obtained polishing pad. As the short chain glycol (a2), one or more of glycols having a molecular weight of less than 300 can be used. For example, ethylene glycol, diethylene glycol, 1,2-propanediol, 1,3-propanediol , 2-methyl-1,3-propanediol, 2-butyl-2-ethyl-1,3-propanediol, 1,3-butanediol, 1,4-butanediol, neopentyl glycol (2,2-dimethyl ester 1,3-propanediol), 2-isopropyl-1,4-butanediol, 3-methyl-2,4-pentanediol, 2,4-pentanediol, 1,5-pentanediol, 3-methyl-1 5-Pentanediol, 2-Methyl-2,4-Pentanediol, 2,4-Dimethyl-1,5-Pentanedio 2,4-diethyl-1,5-pentanediol, 1,5-hexanediol, 1,6-hexanediol, 2-ethyl-1,3-hexanediol, 2-ethyl-1,6-hexanediol, Aliphatic diols such as 1,7-heptanediol, 3,5-heptanediol, 1,8-octanediol, 2-methyl-1,8-octanediol, 1,9-nonanediol and 1,10-decanediol Cycloaliphatic such as cyclohexanedimethanol (eg, 1,4-cyclohexanedimethanol), cyclohexanediol (eg, 1,3-cyclohexanediol, 1,4-cyclohexanediol), 2-bis (4-hydroxycyclohexyl) -propane, etc. Diol etc. are mentioned.

中でも、前記短鎖グリコール(a2)は、脂肪族ジオールであることが好ましく、ジエチレングリコールであることが特に好ましい。   Among them, the short chain glycol (a2) is preferably an aliphatic diol, and particularly preferably diethylene glycol.

前記ポリオール成分(a)中、前記短鎖グリコール(a2)の含有率は、1質量%以上であり、好ましくは5質量%以上、より好ましくは10質量%以上、さらに好ましくは15質量%以上であり、好ましくは50質量%以下、より好ましくは40質量%以下、さらに好ましくは30質量%以下である。   The content of the short chain glycol (a2) in the polyol component (a) is 1% by mass or more, preferably 5% by mass or more, more preferably 10% by mass or more, and still more preferably 15% by mass or more Preferably it is 50 mass% or less, More preferably, it is 40 mass% or less, More preferably, it is 30 mass% or less.

前記ポリオール成分(a)中、前記ポリオール(a1)及び前記短鎖グリコール(a2)の含有率は、好ましくは80質量%以上、より好ましくは90質量%以上、さらに好ましくは95質量%以上であり、上限は100質量%である。   The content of the polyol (a1) and the short chain glycol (a2) in the polyol component (a) is preferably 80% by mass or more, more preferably 90% by mass or more, and still more preferably 95% by mass or more. The upper limit is 100% by mass.

前記ポリオール成分(a)は、前記ポリオール(a1)及び前記短鎖グリコール(a2)に加えて、他のポリオール(a3)を含んでいてもよい。前記他のポリオール(a3)としては、トリメチロールエタン、トリメチロールプロパン、ヘキシトール類、ペンチトール類、グリセリン、ポリグリセリン、ペンタエリスリトール、ジペンタエリスリトール、テトラメチロールプロパン等の分子量が300未満であり、水酸基を3個以上有するポリオールなどが挙げられる。   The polyol component (a) may contain another polyol (a3) in addition to the polyol (a1) and the short chain glycol (a2). Examples of the other polyol (a3) include trimethylolethane, trimethylolpropane, hexitols, pentitols, glycerin, polyglycerin, pentaerythritol, dipentaerythritol, tetramethylolpropane and the like having a molecular weight of less than 300; And polyols having three or more.

前記ポリイソシアネート(b)としては、1種又は2種以上を用いることができ、例えば、シクロヘキサンジイソシアネート、ジシクロヘキシルメタンジイソシアネート、イソホロンジイソシアネート等の脂環式構造を有するポリイソシアネート;4,4’−ジフェニルメタンジイソシアネート、2,4’−ジフェニルメタンジイソシアネート、カルボジイミド変性ジフェニルメタンジイソシアネート、クルードジフェニルメタンジイソシアネート、フェニレンジイソシアネート、トリレンジイソシアネート、ナフタレンジイソシアネート等の芳香族ポリイソシアネート;ヘキサメチレンジイソシアネート、リジンジイソシアネート、キシリレンジイソシアネート、テトラメチルキシリレンジイソシアネート等の脂肪族ポリイソシアネートが挙げられる。これらの中でも、研磨パッドの高硬度性、及び、研磨レートをより一層向上できることから、芳香族ポリイソシアネートが好ましく、トルエンジイソシアネート、またはジフェニルメタンジイソシアネートが好ましく、トルエンジイソシアネートが特に好ましい。   As said polyisocyanate (b), 1 type or 2 types or more can be used, For example, polyisocyanate which has alicyclic structures, such as cyclohexane diisocyanate, dicyclohexylmethane diisocyanate, isophorone diisocyanate; 4,4'- diphenylmethane diisocyanate Aromatic polyisocyanates such as 2,4'-diphenylmethane diisocyanate, carbodiimide modified diphenylmethane diisocyanate, crude diphenylmethane diisocyanate, phenylene diisocyanate, tolylene diisocyanate, naphthalene diisocyanate; hexamethylene diisocyanate, lysine diisocyanate, xylylene diisocyanate, tetramethyl xylylene diisocyanate Aliphatic polyisocyanates such as It is below. Among these, aromatic polyisocyanates are preferable, toluene diisocyanate or diphenylmethane diisocyanate is preferable, and toluene diisocyanate is particularly preferable, because high hardness of the polishing pad and polishing rate can be further improved.

前記ポリイソシアネート(b)に含まれるイソシアネート基と前記ポリオール成分(a)に含まれる水酸基との当量比(NCO/OH)は、好ましくは1.3以上、より好ましくは1.5以上であり、好ましくは6.5以下、より好ましくは4以下、特に好ましくは3以下である。前記モル比(NCO/OH)が大きいほど、ウレタンプレポリマー(A)の粘度を引き下げることができ、研磨パッドの製造において、流量を安定化して混合性を高め、品質を向上しやすくなる。また、前記モル比(NCO/OH)が小さいほど、ウレタンプレポリマー(A)の粘度が上がり、可使時間を長くすることができる。   The equivalent ratio (NCO / OH) of the isocyanate group contained in the polyisocyanate (b) to the hydroxyl group contained in the polyol component (a) is preferably 1.3 or more, more preferably 1.5 or more, Preferably it is 6.5 or less, more preferably 4 or less, and particularly preferably 3 or less. As the molar ratio (NCO / OH) is larger, the viscosity of the urethane prepolymer (A) can be lowered, and in the production of the polishing pad, the flow rate can be stabilized to improve the mixing property and the quality can be easily improved. Further, as the molar ratio (NCO / OH) is smaller, the viscosity of the urethane prepolymer (A) can be increased, and the pot life can be lengthened.

前記ウレタンプレポリマー(A)は、前記ポリオール成分(a)と前記ポリイソシアネート(b)との反応物(ウレタン化反応物)である。前記ポリオール(a1)、短鎖グリコール(a2)及び必要に応じて用いる他のポリオール(a3)と前記ポリイソシアネート(b)との反応順序は特に制限されず、前記ポリオール(a1)、前記短鎖グリコール(a2)及び必要に応じて用いる前記他のポリオール(a3)と前記ポリイソシアネート(b)とを同時に反応させてもよく、前記ポリオール(a1)と前記ポリイソシアネート(b)とを反応させた後、得られた反応物と短鎖グリコール(a2)及び必要に応じて用いる他のポリオール(a3)とを反応させてもよい。   The urethane prepolymer (A) is a reaction product (urethane reaction product) of the polyol component (a) and the polyisocyanate (b). The reaction order of the polyol (a1), the short chain glycol (a2) and the other polyol (a3) used as needed and the polyisocyanate (b) is not particularly limited, and the polyol (a1), the short chain The glycol (a2) and the other polyol (a3) optionally used may be simultaneously reacted with the polyisocyanate (b), and the polyol (a1) is reacted with the polyisocyanate (b) After that, the obtained reactant may be reacted with the short chain glycol (a2) and the other polyol (a3) optionally used.

前記ウレタンプレポリマー(A)のイソシアネート基当量は、好ましくは200g/eq.以上、より好ましくは250g/eq.以上であり、好ましくは800g/eq.以下、より好ましくは600g/eq.以下である。   The isocyanate group equivalent of the urethane prepolymer (A) is preferably 200 g / eq. Or more, more preferably 250 g / eq. Or more, preferably 800 g / eq. Or less, more preferably 600 g / eq. It is below.

前記ウレタンプレポリマー(A)のイソシアネート基当量(NCO当量)は、JIS−K−7301:2003に規定の方法に準拠して、試料を乾燥トルエンに溶解し、過剰のジ−n−ブチルアミン溶液を加えて反応させ、残存するジ−n−ブチルアミンを塩酸標準溶液で逆滴定して求めた値を表す。   The isocyanate group equivalent (NCO equivalent) of the urethane prepolymer (A) dissolves the sample in dry toluene in accordance with the method prescribed in JIS-K-7301: 2003, and the excess di-n-butylamine solution In addition, the reaction is carried out, and the value obtained by back titration of the remaining di-n-butylamine with a hydrochloric acid standard solution is shown.

前記ウレタンプレポリマー(A)の粘度(80℃)は、好ましくは2,000mPa・s以下、より好ましくは1,500mPa・s以下、さらに好ましくは1,200mPa・s以下であり、例えば300mPa・s以上、さらには400mPa・s以上であってもよい。
前記ウレタンプレポリマー(A)の粘度(80℃)は、温度80℃において、B型粘度計を用いて測定することができる。
The viscosity (80 ° C.) of the urethane prepolymer (A) is preferably 2,000 mPa · s or less, more preferably 1,500 mPa · s or less, still more preferably 1,200 mPa · s or less, for example, 300 mPa · s. The above may be 400 mPa · s or more.
The viscosity (80 ° C.) of the urethane prepolymer (A) can be measured using a B-type viscometer at a temperature of 80 ° C.

前記主剤(i)は、前記ウレタンプレポリマー(A)以外の他のウレタンプレポリマーを含んでいてもよい。前記ウレタンウレタンプレポリマー(A)の含有率は、ウレタンプレポリマー(A)及び他のウレタンプレポリマーの合計中、好ましくは70質量%以上、より好ましくは80質量%以上、さらに好ましくは90質量%以上であり、上限は100質量%である。   The main agent (i) may contain another urethane prepolymer other than the urethane prepolymer (A). The content of the urethane urethane prepolymer (A) is preferably 70% by mass or more, more preferably 80% by mass or more, and still more preferably 90% by mass in the total of the urethane prepolymer (A) and the other urethane prepolymers. It is the above and an upper limit is 100 mass%.

また、前記主剤(i)は、さらにポリイソシアネートを含んでいてもよい。前記ポリイソシアネートとしては、前記ポリイソシアネート(b)として例示したポリイソシアネートを用いることができ、4,4’−ジフェニルメタンジイソシアネート、トリレンジイソシアネート等の芳香族ポリイソシアネート;ジシクロヘキシルメタンジイソシアネート、イソホロンジイソシアネート等の脂環式構造を有するポリイソシアネートなどが特に好ましい。   The main agent (i) may further contain a polyisocyanate. As the polyisocyanate, the polyisocyanate exemplified as the polyisocyanate (b) can be used, and aromatic polyisocyanates such as 4,4'-diphenylmethane diisocyanate and tolylene diisocyanate; fats such as dicyclohexylmethane diisocyanate and isophorone diisocyanate Particularly preferred are polyisocyanates having a cyclic structure.

前記硬化剤(ii)は、前記主剤(i)が有するイソシアネート基と反応する活性水素原子を含有する基([NH]基及び/又は[OH]基)を有する化合物を含有する。前記活性水素原子を含有する基を有する化合物としては、1種又は2種以上を用いることができ、例えば、エチレンジアミン、プロパンジアミン、ヘキサンジアミン、イソホロンジアミン等の脂肪族又は脂環式アミン化合物;フェニレンジアミン、3,3’−ジクロロ−4,4’−ジアミノジフェニルメタン、ポリアミノクロロフェニルメタン化合物等の芳香族アミン化合物;エチレングリコール、ジエチレングリコール、プロパンジオール、ブタンジオール、ヘキサンジオール、ネオペンチルグリコール、3−メチル−1,5−ペンタンジオール、ビスフェノールA、ビスフェノールAのアルキレンオキサイド付加物、ポリエーテルポリオール、ポリエステルポリオール、ポリカプロラクトンポリオール、ポリカーボネートポリオール等の2個以上の水酸基を有する化合物;前記芳香族アミン化合物の多量体(好ましくは2〜4量体);及びこれらの混合物などが挙げられる。   The curing agent (ii) contains a compound having a group ([NH] group and / or [OH] group) containing an active hydrogen atom that reacts with the isocyanate group of the main agent (i). As the compound having a group containing an active hydrogen atom, one or more kinds can be used. For example, aliphatic or alicyclic amine compounds such as ethylene diamine, propane diamine, hexane diamine, isophorone diamine; phenylene Aromatic amine compounds such as diamine, 3,3'-dichloro-4,4'-diaminodiphenylmethane, polyaminochlorophenylmethane compounds; ethylene glycol, diethylene glycol, propanediol, butanediol, hexanediol, neopentyl glycol, 3-methyl- 1,5-Pentanediol, bisphenol A, alkylene oxide adduct of bisphenol A, polyether polyol, polyester polyol, polycaprolactone polyol, polycarbonate polyol, etc. Compounds having more than five hydroxyl groups; multimers of the aromatic amine compound (preferably 2-4 mers); and the like and mixtures thereof.

前記混合物は、前記芳香族アミン化合物の多量体を含む混合物であることが好ましく、前記混合物において、多量体の含有率は、好ましくは10質量%以上、より好ましくは20質量%以上であり、好ましくは80質量%以下、より好ましくは70質量%以下である。   The mixture is preferably a mixture containing a multimer of the aromatic amine compound, and the content of the multimer in the mixture is preferably 10% by mass or more, more preferably 20% by mass or more, and preferably Is 80% by mass or less, more preferably 70% by mass or less.

前記混合物は、さらにポリオール(好ましくはポリエーテルポリオール)を含んでいてもよい。前記混合物に含まれていてもよいポリオールとしては、ポリエーテルポリオール(特にポリオキシテトラメチレングリコール)が好ましく、該ポリオールの数平均分子量は、好ましくは300以上、好ましくは3,000以下、より好ましくは2,000以下、さらに好ましくは1,500以下である。   The mixture may further contain a polyol (preferably a polyether polyol). The polyol which may be contained in the mixture is preferably a polyether polyol (particularly polyoxytetramethylene glycol), and the number average molecular weight of the polyol is preferably 300 or more, preferably 3,000 or less, more preferably It is 2,000 or less, more preferably 1,500 or less.

前記ウレタン樹脂組成物は、さらに助剤(iii)を含んでいてもよい。   The urethane resin composition may further contain an auxiliary (iii).

前記ウレタン樹脂組成物に含まれる助剤(iii)は、ポリオールを含むことが好ましく、前記ポリオールは、前記ウレタンプレポリマー(a)を形成するポリオール(a1)と同一であっても異なっていてもよい。前記ポリオールとしては、1種又は2種以上を用いることができ、例えば、上記環状モノエーテルの開環重合により得られるポリオキシアルキレンポリオールが挙げられ、開始剤として上記活性水素原子を有する基を2個以上有する化合物の1種又は2種以上を用いて得られたものであってもよい。   The auxiliary agent (iii) contained in the urethane resin composition preferably contains a polyol, and the polyol may be the same as or different from the polyol (a1) forming the urethane prepolymer (a). Good. As the polyol, one kind or two or more kinds can be used, and examples thereof include a polyoxyalkylene polyol obtained by ring-opening polymerization of the cyclic monoether, and a group having the above-mentioned active hydrogen atom as an initiator It may be one obtained by using one or two or more compounds having one or more.

前記ポリオールの含有率は、前記助剤(iii)中、好ましくは50質量%以上、より好ましくは70質量%以上、さらに好ましくは80質量%以上であり、上限は100質量%である。   The content of the polyol is preferably 50% by mass or more, more preferably 70% by mass or more, and still more preferably 80% by mass or more in the auxiliary agent (iii), and the upper limit is 100% by mass.

前記助剤(iii)は、さらに、水、後述する触媒及び後述する製泡剤からなる群より選ばれる少なくとも1種を含んでいてもよい。   The auxiliary agent (iii) may further contain at least one selected from the group consisting of water, a catalyst described later, and a foam-forming agent described later.

前記ウレタン樹脂組成物に助剤(iii)を含む場合、助剤(iii)の含有量は、前記ウレタンプレポリマー100質量部に対して、例えば0.1質量部以上、さらには1質量部以上であってもよく、好ましくは10質量部以下、より好ましくは5質量部以下である。   When auxiliary agent (iii) is contained in the urethane resin composition, the content of auxiliary agent (iii) is, for example, 0.1 parts by mass or more, and further 1 part by mass or more with respect to 100 parts by mass of the urethane prepolymer. Or less, preferably 10 parts by mass or less, more preferably 5 parts by mass or less.

研磨後の高い研磨レートを有し、かつ、高平坦性(縁だれの少ない)に優れた被研磨物が得られる研磨パッドが得られることから、前記硬化剤(ii)及び後述する必要に応じて用いる助剤(iii)に含まれるイソシアネート基と反応しうる基の合計モル数と、主剤(i)のイソシアネート基のモル数との比([前記硬化剤(ii)及び必要に応じて用いる助剤(iii)のイソシアネート基と反応する基の合計モル数]/[ウレタンプレポリマー(A)のイソシアネート基のモル数]。以下、「R値」という。)は、好ましくは0.7〜1.1、より好ましくは0.8〜1である。   Since a polishing pad having a high polishing rate after polishing and an object to be polished excellent in high flatness (with less edge deviation) can be obtained, the curing agent (ii) and the need to be described later can be obtained. Ratio of the total number of moles of the group capable of reacting with the isocyanate group contained in the auxiliary agent (iii) to the number of moles of the isocyanate group of the main agent (i) ([the curing agent (ii) and optionally used The total number of moles of groups reacting with the isocyanate group of the auxiliary agent (iii) / [the number of moles of isocyanate group of the urethane prepolymer (A)] (hereinafter referred to as “R value”) is preferably 0.7 to 1.1, more preferably 0.8-1.

前記硬化剤(ii)の量は、前記主剤(i)100質量部に対して、好ましくは5質量部以上、より好ましくは10質量部以上であり、好ましくは50質量部以下、より好ましくは30質量部以下である。   The amount of the curing agent (ii) is preferably 5 parts by mass or more, more preferably 10 parts by mass or more, preferably 50 parts by mass or less, more preferably 30 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the main agent (i). It is below a mass part.

本発明で使用するウレタン樹脂組成物は、前記ウレタンプレポリマー(A)を含む主剤(i)、及び、イソシアネートと反応しうる化合物を含む硬化剤(ii)を必須成分として含むものであり、その他添加剤も含んでもよい。前記その他添加剤は、主剤(i)、硬化剤(ii)及び必要に応じて用いる助剤(iii)のいずれに含まれていてもよく、主剤(i)や硬化剤(ii)と反応や蒸発などしなければ、主剤(i)や硬化剤(i)に含まれていてもよいが、反応や蒸発などする添加剤は、必要に応じて用いる助剤(iii)に含まれていることが好ましい。   The urethane resin composition used in the present invention contains as a main component the main component (i) containing the urethane prepolymer (A) and a curing agent (ii) containing a compound capable of reacting with isocyanate, and others An additive may also be included. The above-mentioned other additives may be contained in any of the main agent (i), the curing agent (ii) and the auxiliary agent (iii) optionally used, and the reaction with the main agent (i) or the curing agent (ii) If it does not evaporate, it may be contained in main agent (i) or curing agent (i), but additives that react or evaporate are contained in auxiliary agent (iii) used as needed. Is preferred.

前記その他添加剤としては、1種又は2種以上を用いることができ、例えば、水(反応性発泡剤)、化学発泡剤、物理発泡剤、触媒、整泡剤、砥粒、充填剤、顔料、増粘剤、酸化防止剤、紫外線吸収剤、界面活性剤、難燃剤、可塑剤等が挙げられる。   As the above-mentioned other additives, 1 type or 2 types or more can be used, for example, water (reactive foaming agent), a chemical foaming agent, a physical foaming agent, a catalyst, a foam regulating agent, an abrasive, a filler, a pigment And thickeners, antioxidants, UV absorbers, surfactants, flame retardants, plasticizers and the like.

中でも、前記ウレタン樹脂組成物を使用して水発泡法により研磨パッドを得る場合には、反応性発泡剤の水を用いることが好ましい。発泡剤が水の場合、水の含有量は、前記主剤(i)100質量部に対して、好ましくは0.01質量部以上1質量部以下である。
水以外の発泡剤としては、化学発泡剤や物理発泡剤も使用できる。化学発泡剤としては、有機系のADCA(アゾジカーボンアミド)、DPT(N,N‘−ジニトロペンタメチレンテトラミン)、OBSH(4,4’−オキシビスベンゼンスルホニルヒドラジド)や無機系の炭酸水素塩、炭酸塩、炭酸水素塩と有機酸塩の組み合わせなどがある。物理発泡剤としては、炭化水素系のシクロペンタンやノルマルペンタンが、フロン系のHFC−245fa、HFC−365mfc、HCFO−1233zd、HFO−1336mzzなどがある。発泡剤の量は、目標の研磨パッド密度になるよう適宜調整すればよい。
Among them, in the case of obtaining a polishing pad by a water foaming method using the above-mentioned urethane resin composition, it is preferable to use water of a reactive foaming agent. When the foaming agent is water, the content of water is preferably 0.01 parts by mass or more and 1 part by mass or less with respect to 100 parts by mass of the main agent (i).
As blowing agents other than water, chemical blowing agents and physical blowing agents can also be used. Chemical blowing agents include organic ADCA (azodicarbonamide), DPT (N, N'-dinitropentamethylenetetramine), OBSH (4,4'-oxybisbenzenesulfonyl hydrazide), and inorganic hydrogen carbonates. , Carbonates, combinations of bicarbonates and organic acid salts, and the like. Examples of physical blowing agents include hydrocarbon-based cyclopentane and normal pentane, fluorocarbon-based HFC-245fa, HFC-365mfc, HCFO-1233zd, HFO-1336mzz, and the like. The amount of foaming agent may be adjusted appropriately to achieve the target polishing pad density.

前記触媒としては、1種又は2種以上を用いることができ、例えば、N,N−ジメチルアミノエチルエーテル、トリエチレンジアミン、ジメチルエタノールアミン、トリエタノールアミン、N,N,N’,N’−テトラメチルヘキサメチレンジアミン、N−メチルイミダゾール等の三級アミン触媒;ジオクチルチンジラウレート等の金属触媒などが挙げられる。これらの中では、安定した発泡を成形できることから、三級アミン触媒がこのましく、N,N−ジメチルアミノエチルエーテルがより好ましい。   As the catalyst, one or more species can be used. For example, N, N-dimethylaminoethyl ether, triethylenediamine, dimethylethanolamine, triethanolamine, N, N, N ′, N′-tetra Tertiary amine catalysts such as methyl hexamethylene diamine and N-methyl imidazole; and metal catalysts such as dioctyltin dilaurate. Among these, tertiary amines are preferred because they can form stable foams, and N, N-dimethylaminoethyl ether is more preferred.

前記触媒を用いる場合、前記触媒の含有量は、安定した発泡を形成できることから、前記主剤(i)100質量部に対して、0.001質量部以上5質量部以下であることが好ましい。   When using the said catalyst, since content of the said catalyst can form stable foaming, it is preferable that they are 0.001 mass part or more and 5 mass parts or less with respect to 100 mass parts of said main ingredient (i).

前記整泡剤としては、シリコーン整泡剤が挙げられ、1種又は2種以上を用いることができる。例えば、東レ・ダウコーニング株式会社製「東レシリコーン SH−193」、「東レシリコーン SH−192」、「東レシリコーン SH−190」等が挙げられる。   Examples of the foam stabilizer include silicone foam stabilizers, and one or two or more can be used. For example, “Toray Silicone SH-193”, “Toray Silicone SH-192”, “Toray Silicone SH-190” and the like manufactured by Toray Dow Corning Co., Ltd. may be mentioned.

前記整泡剤を用いる場合、前記整泡剤の含有量は、微細な気泡を安定的に形成できることから、前記主剤(i)100質量部に対して、0.001質量部以上5質量部以下であることが好ましい。   When the foam stabilizer is used, the content of the foam stabilizer can stably form fine air bubbles, so that it is 0.001 parts by mass or more and 5 parts by mass or less with respect to 100 parts by mass of the main agent (i) Is preferred.

前記ウレタン樹脂組成物を使用して研磨パッドを製造する方法としては、例えば、前記主剤(i)、前記硬化剤(ii)、並びに、必要に応じて用いる助剤(iii)を混合し、金型に注入し、発泡、硬化させて発泡成形物を得、次いで、該発泡成形物を型から取り出し、シート状にスライスして製造する方法が挙げられる。   As a method of manufacturing a polishing pad using the said urethane resin composition, the said main ingredient (i), the said hardening | curing agent (ii), and the adjuvant (iii) used as needed are mixed, for example, gold | metal | money It is poured into a mold, foamed and cured to obtain a foamed molded product, and then the foamed molded product is removed from the mold and sliced into a sheet and manufactured.

助剤(iii)を用いる多くの場合は、硬化剤(ii)にMBOCA(3,3’−ジクロロ−4,4’−ジアミノメタン)を使用しかつ水発泡の場合である。水発泡の場合の反応性発泡剤としての水の添加先は、主剤(i)と水は反応してしまうため主剤(i)には添加できない。また、溶解させたMBOCAへの添加は、100℃以上で蒸発してしまうため添加できない。従って、水の添加先は助剤(iii)が好ましい。   In many cases with the aid (iii), the curing agent (ii) is with MBOCA (3,3'-dichloro-4,4'-diaminomethane) and in the case of water foaming. The addition destination of water as a reactive blowing agent in the case of water foaming can not be added to the main agent (i) because the main agent (i) and water react with each other. Moreover, the addition to the dissolved MBOCA can not be added because it evaporates at 100 ° C. or higher. Therefore, the addition destination of water is preferably auxiliary (iii).

前記ウレタン樹脂組成物に助剤(iii)を含む場合、助剤(iii)の含有量は、前記主剤(i)100質量部に対して、例えば0.1質量部以上、さらには1質量部以上であってもよく、好ましくは10質量部以下、より好ましくは8質量部以下である。   When the urethane resin composition contains the auxiliary agent (iii), the content of the auxiliary agent (iii) is, for example, 0.1 parts by mass or more, further 1 part by mass with respect to 100 parts by mass of the main agent (i) It may be more than, preferably 10 parts by mass or less, more preferably 8 parts by mass or less.

前記ウレタン樹脂組成物を混合する方法としては、前記助剤(iii)を用いる場合、予めポリオールや水や触媒や整泡剤等をよく混合した助剤(iii)を準備しておくことが好ましい。例えば、前記主剤(i)、前記硬化剤(ii)、及び、助剤(iii)を混合注型機のそれぞれ別々のタンクへ入れて、前記主剤(i)を好ましくは40〜80℃に加温し、前記硬化剤(ii)を好ましくは40〜120℃に加温し、助剤(iii)を30〜70℃に加温し、それぞれを混合注型機で混合する方法が挙げられる。   As a method of mixing the urethane resin composition, in the case of using the auxiliaries (iii), it is preferable to prepare the auxiliaries (iii) in which a polyol, water, a catalyst, a foam stabilizer, etc. are sufficiently mixed in advance. . For example, the main agent (i), the curing agent (ii), and the auxiliary agent (iii) are put into separate tanks of the mixing and casting machine, and the main agent (i) is preferably added to 40 to 80 ° C. There is a method of warming, heating the curing agent (ii) to preferably 40 to 120 ° C., heating the auxiliary agent (iii) to 30 to 70 ° C., and mixing each with a mixing and casting machine.

また、前記助剤(iii)を用いない場合、その他添加剤は、必須の主剤(i)または硬化剤(ii)に添加すればよいが、硬化剤(ii)に添加することが好ましい。予めイソシアネート基と反応する活性水素原子を含有する基([NH]基及び/又は[OH]基)を有する化合物に水や触媒や整泡剤等をよく混合した硬化剤(ii)を準備しておく。例えば、前記主剤(i)、前記硬化剤(ii)を混合注型機のそれぞれ別々のタンクへ入れて、前記主剤(i)を好ましくは40〜80℃に加温し、前記硬化剤(ii)を好ましくは30〜70℃に加温し、それぞれを混合注型機で混合する方法が挙げられる。   Further, when the auxiliary agent (iii) is not used, other additives may be added to the essential main agent (i) or the curing agent (ii), but are preferably added to the curing agent (ii). Prepare a curing agent (ii) in which water, a catalyst, a foam stabilizer, etc. are well mixed with a compound having a group ([NH] group and / or [OH] group) containing an active hydrogen atom which reacts with an isocyanate group in advance. Keep it. For example, the main agent (i) and the curing agent (ii) are put into separate tanks of the mixing and casting machine, and the main agent (i) is preferably heated to 40 to 80 ° C. A) preferably heated to 30 to 70.degree. C. and mixing them with a mixing and casting machine.

前記ウレタン樹脂組成物から研磨パッドを製造する方法としては、前記ウレタン樹脂組成物を型内(好ましくは金型内)で発泡硬化させて発泡硬化物を得、さらにアフターキュアを行う方法が挙げられる。必要に応じて、得られた発泡硬化物をさらに成型してもよい。具体的には、前記ウレタン樹脂組成物を前記混合注型機で混合した後、混合注型機からそれぞれの成分を吐出し、得られた混合物を40〜120℃に予め加温した金型に注入し、前記金型の蓋を閉め、例えば、50〜130℃の温度で10分〜10時間、発泡硬化させて発泡硬化物を得る。その後、得られた発泡硬化物を取出し、好ましくは100〜120℃で8〜20時間の条件にてアフターキュアを行う。このようにして得られた発泡硬化物をスライスして本発明の研磨パッドとすることができる。   Examples of a method for producing a polishing pad from the urethane resin composition include a method of foaming and curing the urethane resin composition in a mold (preferably, in a mold) to obtain a foamed cured product, and further performing after curing. . If necessary, the resulting foam-cured product may be further molded. Specifically, after mixing the urethane resin composition with the mixing and casting machine, each component is discharged from the mixing and casting machine, and the resulting mixture is preheated to a temperature of 40 to 120 ° C. in a mold. Then, the mold lid is closed and, for example, foam curing is performed at a temperature of 50 to 130 ° C. for 10 minutes to 10 hours to obtain a foam cured product. Thereafter, the obtained foamed cured product is taken out, and after curing is preferably performed at 100 to 120 ° C. for 8 to 20 hours. The foam-cured product thus obtained can be sliced to form the polishing pad of the present invention.

前記研磨パッドの厚さは、用途に応じて適宜決定されるが、例えば、0.6〜3mmの範囲であることが好ましい。   Although the thickness of the said polishing pad is suitably determined according to a use, it is preferable that it is the range of 0.6-3 mm, for example.

また、前記ウレタン樹脂組成物を使用して研磨パッドを製造する他の方法としては、例えば、前記主剤(i)をガスローディング法により微細気泡を含有させた主剤(i’)(以下、「微細気泡含有主剤(i’)」と略記する。)を得、前記微細気泡含有主剤(i’)、及び、硬化剤(ii)を含有するウレタン組成物を混合し、型内に注入し、硬化させて微細気泡含有成形物を得、次いで、該成形物を型から取り出し、シート状にスライスする方法が挙げられる。   In addition, as another method for producing a polishing pad using the urethane resin composition, for example, a main agent (i ') (hereinafter referred to as "fine agent") containing fine bubbles by the gas loading method of the main agent (i) (Abbreviated as bubble-containing main agent (i '))), the urethane composition containing the micro-bubble-containing main agent (i') and the curing agent (ii) is mixed, poured into a mold and cured To obtain a microcellular foam-containing molding, and then the molding is removed from the mold and sliced into a sheet.

前記主剤(i)から微細気泡含有主剤(i’)を得る方法としては、例えば、前記主剤(i)に対して、窒素、炭酸ガス、ヘリウム、アルゴン等の非反応性気体を導入し、機械的に気泡を導入する方法が挙げられる。   As a method of obtaining the microbubble-containing main agent (i ') from the main agent (i), for example, a non-reactive gas such as nitrogen, carbon dioxide gas, helium or argon is introduced into the main agent (i) And the method of introducing air bubbles.

前記ウレタン組成物を混合する方法としては、例えば、前記微細気泡含有主剤(i’)、及び、前記硬化剤(ii)を混合注型機のそれぞれ別々のタンクへ入れて、前記微細気泡含有主剤(i’)を好ましくは40〜80℃に加温し、前記硬化剤(ii)を好ましくは40〜120℃に加温し、それぞれを混合注型機で混合する。   As a method of mixing the urethane composition, for example, the microbubble-containing main agent (i ') and the curing agent (ii) are put into respective separate tanks of the mixing and casting machine, and the microbubble-containing main agent is mixed (I ') is preferably heated to 40 to 80 ° C, the curing agent (ii) is preferably heated to 40 to 120 ° C, and each is mixed by a mixing and casting machine.

次いで、混合注型機からそれぞれの成分を吐出し、得られた混合物を40〜120℃に予め加温した金型に注入し、前記金型の蓋を閉め、例えば、50〜130℃の温度で10分〜10時間、発泡、硬化させて発泡成形物を得る。その後、得られた発泡成形物を取出し、好ましくは100〜120℃で8〜20時間の条件にてアフターキュアを行う。   Then, the respective components are discharged from the mixing and casting machine, and the obtained mixture is poured into a mold preheated to 40 to 120 ° C., and the lid of the mold is closed, for example, a temperature of 50 to 130 ° C. The mixture is allowed to foam and cure for 10 minutes to 10 hours to obtain a foamed molded product. Thereafter, the obtained foam molded product is taken out, and after cure is preferably performed at 100 to 120 ° C. for 8 to 20 hours.

次に、前記発泡成形物を適切な厚さでシート状にスライスすることにより研磨パッドが得られる。スライス後の研磨パッドの厚さは、用途に応じて適宜決定されるが、例えば、0.6〜3mmの範囲である。   Next, a polishing pad is obtained by slicing the foam molding into a sheet at an appropriate thickness. Although the thickness of the polishing pad after slicing is suitably determined according to a use, it is the range of 0.6-3 mm, for example.

また、前記ウレタン組成物を使用して研磨パッドを製造する他の方法としては、例えば、前記主剤(i)及び硬化剤(ii)を混合注型機で混合する際、ミキサー部に非反応性気体を導入し混合し、メカニカルフロス状の混合物を型内に注入し、硬化させて発泡成形物を得、次いで、前記発泡成形物を型から取り出し、シート状にスライスするする方法が挙げられる。   Moreover, as another method of manufacturing a polishing pad using the said urethane composition, when mixing the said main ingredient (i) and hardening | curing agent (ii) by a mixing | blending caster, for example, a mixer part is non-reactive. Gas is introduced and mixed, and the mechanical floss-like mixture is poured into a mold and cured to obtain a foam, and then the foam is removed from the mold and sliced into a sheet.

さらに、前記ウレタン樹脂組成物を使用して研磨パッドを製造する他の方法としては、例えば、前記主剤(i)または、硬化剤(ii)に直径20〜120μmの中空状のプラスチック球体(マイクロバルーン)を含有させておき、主剤、硬化剤の2液を混合し、硬化させて中空プラスチック球体を含有する成形物を得、次いで、シート状にスライスするする方法が挙げられる。   Furthermore, as another method for producing a polishing pad using the urethane resin composition, for example, hollow plastic spheres (microballoon having a diameter of 20 to 120 μm) are added to the main agent (i) or the curing agent (ii). And the main agent and the curing agent are mixed and cured to obtain a molded product containing hollow plastic spheres, and then sliced into a sheet.

上記本発明の研磨パッドは、高い研磨レートを有し、かつ、高平坦性(縁だれの少ない)が得られ、光学レンズ、液晶ディスプレイ(LCD)用ガラス基板、ハードディスク(HDD)用ガラス基板、記録装置用ガラスディスク、光学用レンズ、シリコンウェハ、半導体デバイス等の高い研磨レートと高度な平坦性(縁だれ)が要求されるような研磨加工に有用である。特に、ビッカース硬度1500以下の被研磨材の研磨に有用であり、詳細にはシリコンウェハやガラスの研磨に有用である。   The polishing pad according to the present invention has a high polishing rate and high flatness (with few edges), and is an optical lens, a glass substrate for liquid crystal display (LCD), a glass substrate for hard disk (HDD), It is useful for polishing processes such as glass disks for recording devices, optical lenses, silicon wafers, semiconductor devices, etc. where high polishing rates and high flatness (edge drop) are required. In particular, it is useful for polishing a material having a Vickers hardness of 1500 or less, and in particular for polishing silicon wafers and glass.

ビッカース硬度は、押し込み硬さの指標の一種であり、ダイヤモンドでできた剛体(圧子)を披試験物に対し押し込み、そのときにできる圧痕の面積で判断する。試験方法としては、JIS−Z−2244がある。各種被研磨のおおよそのビッカース硬度はおおよそ次のとおりである。
炭化珪素(SiC):2300〜2500、サファイヤ:2300、シリコン:1050、石英ガラス:950、各種ガラス:500〜700。
Vickers hardness is a kind of index of indentation hardness, and a rigid body (indentor) made of diamond is indented against a test object and judged by the area of the indentation made at that time. As a test method, there is JIS-Z-2244. The approximate Vickers hardness of various types of polishing is approximately as follows.
Silicon carbide (SiC): 2300 to 2500, sapphire: 2300, silicon: 1050, quartz glass: 950, various glasses: 500 to 700.

本発明の研磨パッドを用いた研磨方法としては、例えば、シリコンウェハの研磨の場合、研磨パッド上にスラリー(弱塩基性のコロイダルシリカ水溶液)を滴下しつつ、被研磨体をスラリーと馴染んだパッドに加圧圧着させて、パッドを貼り付けた定盤を稼動(回転)させて研磨する方法などが挙げられる(遊離砥粒によるCMP研磨法)。   As a polishing method using the polishing pad of the present invention, for example, in the case of polishing a silicon wafer, a pad in which an object to be polished is compatible with a slurry while dropping a slurry (a weak basic colloidal silica aqueous solution) onto the polishing pad And pressure-pressing the plate, and operating (rotating) the surface plate on which the pad is attached to operate (rotation) for polishing (CMP polishing method using loose abrasive).

以下、実施例を挙げて本発明をより具体的に説明する。   Hereinafter, the present invention will be more specifically described by way of examples.

実施例において、ポリオール(a1)の数平均分子量は、ゲル・パーミエーション・グラフィー法(GPC法)により測定した。
測定装置:高速GPC装置(東ソー株式会社製「HLC−8220GPC」)
カラム:以下のカラム(いずれも東ソー株式会社製)を直列に接続して使用した。
「TSKgel G5000」(7.8mmI.D.×30cm)×1本
「TSKgel G4000」(7.8mmI.D.×30cm)×1本
「TSKgel G3000」(7.8mmI.D.×30cm)×1本
「TSKgel G2000」(7.8mmI.D.×30cm)×1本
検出器:RI(示差屈折計)
カラム温度:40℃
溶離液:テトラヒドロフラン(THF)
流速:1.0mL/分
注入量:100μL(試料濃度0.4質量%のテトラヒドロフラン溶液)
標準試料:以下の標準ポリスチレンを用いて検量線を作成した。
(標準ポリスチレン)
東ソー株式会社製「TSKgel 標準ポリスチレン A−500」
東ソー株式会社製「TSKgel 標準ポリスチレン A−1000」
東ソー株式会社製「TSKgel 標準ポリスチレン A−2500」
東ソー株式会社製「TSKgel 標準ポリスチレン A−5000」
東ソー株式会社製「TSKgel 標準ポリスチレン F−1」
東ソー株式会社製「TSKgel 標準ポリスチレン F−2」
東ソー株式会社製「TSKgel 標準ポリスチレン F−4」
東ソー株式会社製「TSKgel 標準ポリスチレン F−10」
東ソー株式会社製「TSKgel 標準ポリスチレン F−20」
東ソー株式会社製「TSKgel 標準ポリスチレン F−40」
東ソー株式会社製「TSKgel 標準ポリスチレン F−80」
東ソー株式会社製「TSKgel 標準ポリスチレン F−128」
東ソー株式会社製「TSKgel 標準ポリスチレン F−288」
東ソー株式会社製「TSKgel 標準ポリスチレン F−550」
In the examples, the number average molecular weight of the polyol (a1) was measured by gel permeation chromatography (GPC method).
Measuring device: High-speed GPC device ("HLC-8220GPC" manufactured by Tosoh Corporation)
Column: The following columns (all manufactured by Tosoh Corporation) were used in series connection.
"TSKgel G5000" (7.8 mm ID × 30 cm) × 1 "TSK gel G 4000" (7.8 mm ID × 30 cm) × 1 "TSK gel G 3000" (7.8 mm ID × 30 cm) × 1 This “TSKgel G2000” (7.8 mm ID × 30 cm) × 1 Detector: RI (differential refractometer)
Column temperature: 40 ° C
Eluent: Tetrahydrofuran (THF)
Flow rate: 1.0 mL / min Injection volume: 100 μL (tetrahydrofuran solution with a sample concentration of 0.4% by mass)
Standard sample: A standard curve was prepared using the following standard polystyrene.
(Standard polystyrene)
Tosoh Corporation "TSKgel standard polystyrene A-500"
Tosoh Corporation "TSKgel standard polystyrene A-1000"
Tosoh Corporation "TSKgel standard polystyrene A-2500"
Tosoh Corporation "TSKgel standard polystyrene A-5000"
Tosoh Corporation "TSKgel standard polystyrene F-1"
Tosoh Corporation "TSKgel standard polystyrene F-2"
Tosoh Corporation "TSKgel standard polystyrene F-4"
Tosoh Corporation "TSKgel standard polystyrene F-10"
Tosoh Corporation "TSKgel standard polystyrene F-20"
Tosoh Corporation "TSKgel standard polystyrene F-40"
Tosoh Corporation "TSKgel standard polystyrene F-80"
Tosoh Corporation "TSKgel standard polystyrene F-128"
Tosoh Corporation "TSKgel standard polystyrene F-288"
Tosoh Corporation "TSKgel standard polystyrene F-550"

(合成例1〜4、比較合成例1〜3、5〜9:ウレタンプレポリマー(A1)〜(A4)、(A’1)〜(A’3)、(A’5)〜(A’9)の合成)
窒素導入管、冷却用コンデンサー、温度計、攪拌機を備えた5リットル4ツ口丸底フラスコに、表1に示すポリイソシアネート(b)を仕込み、攪拌を開始した。次いで、表1に示すポリオール(a1)を仕込み混合し、窒素雰囲気下80℃で3時間反応を行った。次いで、表1に示す短鎖グリコール(a2)を発熱に注意しながら80℃で3時間反応させ、表1に示すNCO当量のイソシアネート基末端ウレタンプレポリマー(A1)〜(A4)、(A’1)〜(A’3)、(A’5)〜(A’9)を得た。
Synthesis Examples 1 to 4 and Comparative Synthesis Examples 1 to 3 and 5 to 9: Urethane Prepolymers (A1) to (A4), (A′1) to (A′3), and (A′5) to (A ′) 9) Synthesis)
The polyisocyanate (b) shown in Table 1 was charged into a 5-liter 4-neck round bottom flask equipped with a nitrogen inlet tube, a condenser for cooling, a thermometer, and a stirrer, and stirring was started. Subsequently, the polyol (a1) shown in Table 1 was charged and mixed, and reaction was performed at 80 ° C. for 3 hours under a nitrogen atmosphere. Next, the short chain glycol (a2) shown in Table 1 is reacted at 80 ° C. for 3 hours while paying attention to heat generation, and the isocyanate group terminated urethane prepolymer (A1) to (A4), (A ′) of NCO equivalent shown in Table 1 1) to (A'3) and (A'5) to (A'9) were obtained.

(合成例5)
窒素導入管、冷却用コンデンサー、温度計、攪拌機を備えた5リットル4ツ口丸底フラスコに、表1に示すポリイソシアネート(b)を仕込み、攪拌を開始した。次いで、表1に示すポリオール(a1)を仕込み混合し、窒素雰囲気下80℃で3時間反応を行った。次いで、表1に示す短鎖グリコール(a2)を発熱に注意しながら80℃で3時間反応させ、NCO当量:371のイソシアネート基末端ウレタンプレポリマーを得た。次いで、得られたイソシアネート基末端ウレタンプレポリマーからフリーTDI(未反応のTDI)を取り除くため、更に薄膜蒸留処理を実施し、NCO当量:435のイソシアネート基末端ウレタンプレポリマー(A5)を得た。
(Composition example 5)
The polyisocyanate (b) shown in Table 1 was charged into a 5-liter 4-neck round bottom flask equipped with a nitrogen inlet tube, a condenser for cooling, a thermometer, and a stirrer, and stirring was started. Subsequently, the polyol (a1) shown in Table 1 was charged and mixed, and reaction was performed at 80 ° C. for 3 hours under a nitrogen atmosphere. Next, the short chain glycol (a2) shown in Table 1 was reacted at 80 ° C. for 3 hours while paying attention to heat generation to obtain an isocyanate group terminated urethane prepolymer having an NCO equivalent of 371. Next, a thin film distillation treatment was further performed to remove free TDI (unreacted TDI) from the obtained isocyanate group-terminated urethane prepolymer, to obtain an isocyanate group-terminated urethane prepolymer (A5) having an NCO equivalent of 435.

(比較合成例4)
合成例5と同様に、NCO当量:380のイソシアネート基末端ウレタンプレポリマーを得た。次いで、得られたイソシアネート基末端ウレタンプレポリマーからフリーTDI(未反応のTDI)を取り除くため、更に薄膜蒸留処理を実施し、NCO当量:438のイソシアネート基末端ウレタンプレポリマー(A’4)を得た。
(Comparative Example 4)
In the same manner as in Synthesis Example 5, an isocyanate group-terminated urethane prepolymer having an NCO equivalent of 380 was obtained. Next, a thin film distillation treatment is further performed to remove free TDI (unreacted TDI) from the obtained isocyanate group-terminated urethane prepolymer, to obtain an isocyanate group-terminated urethane prepolymer (A′4) having an NCO equivalent of 438. The

表1〜2中、
ポリテトラメチレングリコール1(「PTMG1000」ともいう)は、ポリテトラメチレングリコール(数平均分子量1,000)を表し、
ポリテトラメチレングリコール2(「PTMG2000」ともいう)は、ポリテトラメチレングリコール(数平均分子量2,000)を表し、
ポリテトラメチレングリコール3(「PTMG650」ともいう)は、ポリテトラメチレングリコール(数平均分子量650)を表し、
ポリオキシプロピレンポリオール1(旭硝子ウレタン製「EL430」)は、ポリオキシプロピレンポリオール(水酸基数3、数平均分子量430)を表し、
ポリオキシプロピレンポリオール2(旭硝子ウレタン製「EL410NE」)は、ポリオキシプロピレンポリオール(水酸基数4、数平均分子量410)を表し、
ポリオキシプロピレンポリオール3(旭硝子ウレタン製「EL3030」)は、ポリプロオキシプロピレンポリオール(水酸基数3、数平均分子量3,000)、
ポリオキシプロピレンポリオール4(旭硝子ウレタン製「EL1030」)は、ポリオキシプロピレングリコール(水酸基数3、数平均分子量1,000)を表し、
ポリオキシブチレングリコール1(「PBG2000」ともいう)は、ポリオキシブチレングリコール(数平均分子量2,000)を表し、
ポリブチレンアジペート1(「BGAA2000」ともいう)は、1,4ブタンジオールとアジピン酸からなるポリエステルポリオール(水酸基数2、数平均分子量2,000)を表し、
ポリブチレンアジペート2(「BGAA1000」ともいう)は、1,4ブタンジオールとアジピン酸からなるポリエステルポリオール(水酸基数2、数平均分子量1,000)を表し、
ポリイソシアネート(T80)は、TDI(2,4/2,6の異性体比80/20)を表し、
ポリイソシアネート(T100)は、2,4−TDIを表す。
In Tables 1 and 2,
Polytetramethylene glycol 1 (also referred to as "PTMG 1000") represents polytetramethylene glycol (number average molecular weight: 1,000),
Polytetramethylene glycol 2 (also referred to as "PTMG 2000") represents polytetramethylene glycol (number average molecular weight 2,000),
Polytetramethylene glycol 3 (also referred to as "PTMG 650") represents polytetramethylene glycol (number average molecular weight 650),
Polyoxypropylene polyol 1 (Asahi Glass Urethane “EL 430”) represents polyoxypropylene polyol (number of hydroxyl groups: 3, number average molecular weight 430),
Polyoxypropylene polyol 2 (manufactured by Asahi Glass Urethane "EL 410 NE") represents polyoxypropylene polyol (having 4 hydroxyl groups and a number average molecular weight of 410),
Polyoxypropylene polyol 3 (Asahi Glass Urethane “EL3030”) is a polyprooxypropylene polyol (number of hydroxyl groups: 3, number average molecular weight 3,000),
Polyoxypropylene polyol 4 ("EL 1030" manufactured by Asahi Glass Urethane) represents polyoxypropylene glycol (number of hydroxyl groups: 3, number average molecular weight: 1,000),
Polyoxybutylene glycol 1 (also referred to as “PBG 2000”) represents polyoxybutylene glycol (number average molecular weight 2,000),
Polybutylene adipate 1 (also referred to as "BGA A 2000") represents a polyester polyol (having 2 hydroxyl groups and a number average molecular weight of 2,000) consisting of 1,4 butanediol and adipic acid,
Polybutylene adipate 2 (also referred to as “BGA A 1000”) represents a polyester polyol (having 2 hydroxyl groups and a number average molecular weight of 1,000) consisting of 1,4 butanediol and adipic acid,
Polyisocyanate (T80) represents TDI (isomer ratio 80/20 of 2,4 / 2,6),
Polyisocyanate (T100) represents 2,4-TDI.

(実施例1〜5、比較例1〜9)
合成例1〜5、比較合成例1〜9で得られたイソシアネート基末端ウレタンプレポリマー(A1)〜(A5)、(A’1)〜(A’9)を80℃に温調し、主剤(i)とした。次に、硬化剤(MBOCA)を120℃で溶融、温調し、硬化剤(ii)とした。更に表3に示す配合液を35℃で温調し、助剤(iii)とした。
次に、反応容器中に主剤(i)を表4に示された部数を仕込み80℃に温調後、その後35℃のC液を表3〜4に示された部数を投入し、直ちに120℃の硬化剤(ii)を表4に示された部数を投入して、直ちに高速ミキサーにて20秒間攪拌した。混合された主剤(i)/硬化剤(ii)/助剤(iii)の混合液6000部を60℃に温調した500×500×40mm金型に流し込み、金型の蓋を閉め、60℃で1時間保持した後、インゴット状の発泡成形品を取り出した。更に得られたインゴット状の発泡成形品を100℃で16時間のアフターキュアを行った。
得られたインゴット状の発泡成形品をスライサーで厚さ1.5mmに切り出し、シート状の研磨パッド(P1)〜(P5)、(P’1)〜(P’8)を得た。得られた研磨パッドの密度、硬度、測定周波数を1Hzとする動的粘弾性測定における120〜200℃におけるtanδピーク温度、tanδ値、研磨レート、及び縁だれの評価結果を表5〜6に示す。
(Examples 1 to 5, Comparative Examples 1 to 9)
The isocyanate group-terminated urethane prepolymers (A1) to (A5) and (A′1) to (A′9) obtained in Synthesis Examples 1 to 5 and Comparative Synthesis Examples 1 to 9 are temperature-controlled to 80 ° C. (I) Next, the curing agent (MBOCA) was melted at 120 ° C. and adjusted in temperature to obtain a curing agent (ii). Furthermore, the temperature of the combination solution shown in Table 3 was adjusted at 35 ° C. to obtain auxiliary (iii).
Next, the number of main agent (i) shown in Table 4 is charged into the reaction vessel and the temperature is adjusted to 80 ° C. After that, 35 ° C. liquid C is charged with the number of parts shown in Table 3 The curing agent (ii) of ° C. was charged in the number of parts shown in Table 4 and immediately stirred with a high-speed mixer for 20 seconds. Pour 6000 parts of a mixed solution of main agent (i) / hardener (ii) / auxiliary agent (iii) mixed in a 500 × 500 × 40 mm mold thermostatted at 60 ° C., close the lid of the mold, and 60 ° C. After holding for 1 hour, the ingot-like foamed molded product was taken out. Further, the obtained ingot-like foam-molded article was subjected to after curing at 100 ° C. for 16 hours.
The obtained ingot-like foam-formed product was cut into a thickness of 1.5 mm with a slicer to obtain sheet-like polishing pads (P1) to (P5) and (P'1) to (P'8). The evaluation results of density, hardness, tan δ peak temperature at 120 to 200 ° C. in dynamic viscoelasticity measurement with 1 Hz measurement frequency, tan δ value, polishing rate, and edge deviation of the obtained polishing pad are shown in Tables 5-6. .

(実施例6〜8、比較例10〜11)
表4に示されたイソシアネート基末端ウレタンプレポリマーを80℃に温調し、主剤(i)とした。表3に示す配合液(B1、B2)を40℃で温調し、硬化剤(ii)とした。次に、反応容器中に主剤(i)を表4に示された部数を仕込み80℃に温調後、40℃の配合液(B1、B2)を表4に示された部数を投入して、直ちに高速ミキサーにて20秒間攪拌した。混合された主剤(i)/硬化剤(ii)の混合液6000部を60℃に温調した500×500×40mm金型に流し込み、金型の蓋を閉め、60℃で1時間保持した後、インゴット状の発泡成形品を取り出した。更に得られたインゴット状の発泡成形品を80℃で16時間のアフターキュアを行った。
(Examples 6-8, comparative examples 10-11)
The isocyanate group-terminated urethane prepolymer shown in Table 4 was adjusted to a temperature of 80 ° C. and used as a main agent (i). The temperature of the combination solution (B1, B2) shown in Table 3 was adjusted at 40 ° C. to obtain a curing agent (ii). Next, after charging the main agent (i) in the number of parts shown in Table 4 into the reaction vessel and adjusting the temperature to 80 ° C., adding the parts shown in Table 4 at 40 ° C. The mixture was immediately stirred with a high-speed mixer for 20 seconds. After pouring 6000 parts of the mixed solution of main agent (i) / hardener (ii) mixed into a 500 × 500 × 40 mm mold whose temperature is adjusted to 60 ° C., closing the mold lid and holding at 60 ° C. for 1 hour , And an ingot-like foamed molded product was taken out. Further, the resulting ingot-like foam-molded article was subjected to after curing at 80 ° C. for 16 hours.

得られたインゴット状の発泡成形品をスライサーで厚さ1.5mmに切り出し、シート状の研磨パッド(P6)〜(P8)、(P’9)(P’10)を得た。得られた研磨パッドの密度、硬度、測定周波数を1Hzとする動的粘弾性測定における120〜200℃におけるtanδピーク温度、tanδ値、研磨レート、及び縁だれの評価結果を表5〜6に示す。   The obtained ingot-like foam-formed product was cut into a thickness of 1.5 mm with a slicer to obtain sheet-like polishing pads (P6) to (P8) and (P'9) and (P'9) (P'10). The evaluation results of density, hardness, tan δ peak temperature at 120 to 200 ° C. in dynamic viscoelasticity measurement with 1 Hz measurement frequency, tan δ value, polishing rate, and edge deviation of the obtained polishing pad are shown in Tables 5-6. .

tanδピーク温度、tanδ値、研磨レート及び縁だれの測定方法(評価方法)は、以下の通りである。   The measurement method (evaluation method) of tan δ peak temperature, tan δ value, polishing rate and edge deviation is as follows.

[tanδピーク温度及びtanδ値の測定方法]
厚さ1.5mmの研磨パッドを用いて、下記の手順に従いJIS K 7244に準拠し動的粘弾性分析により、tanδピーク温度(「損失係数ピーク温度」ともいう。)(℃)を測定して、1.5mm厚の研磨パッドの粘弾性を評価した。
前記研磨パッドの貯蔵弾性率(E’)及び損失弾性率(E”)を、粘弾性スペクトロメータ(型式:DMS6100、エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社製)を使用して、温度範囲−100〜200℃、昇温速度5℃/分、周波数1Hzの条件下、引張モードで測定した。
E”/E’をtanδとした場合に、120℃以上200℃以下の範囲でtanδが最大値となる温度を「tanδピーク温度(℃)」とし、tanδピーク温度におけるE”/E’をtanδ値とした。
測定条件:
(サンプルサイズ) 5×60×1.5mm
(スパン) 20mm
(ひずみ量) 0.05%
[Method of measuring tan δ peak temperature and tan δ value]
Using a polishing pad with a thickness of 1.5 mm, measure tan δ peak temperature (also referred to as “loss factor peak temperature”) (° C.) by dynamic viscoelastic analysis in accordance with JIS K 7244 according to the following procedure. The visco-elasticity of a 1.5 mm thick polishing pad was evaluated.
The storage elastic modulus (E ′) and the loss elastic modulus (E ′ ′) of the polishing pad were measured using a visco-elastic spectrometer (model: DMS 6100, manufactured by SII Nano Technology Inc.) in a temperature range of −100 to 200 The temperature was measured in a tensile mode under conditions of a temperature rise rate of 5 ° C./min and a frequency of 1 Hz.
When E ′ ′ / E ′ is tan δ, the temperature at which tan δ reaches a maximum value in the range of 120 ° C. to 200 ° C. is “tan δ peak temperature (° C.)”, and E ′ ′ / E ′ at tan δ peak temperature is tan δ It is a value.
Measurement condition:
(Sample size) 5 x 60 x 1.5 mm
(Span) 20 mm
(Strain amount) 0.05%

[研磨レートの評価方法]
両面テープの片面に実施例及び比較例で得られた研磨パッドを貼付け、両面テープの他方片面に研磨機の定盤を貼付け、以下の装置、条件、計算式で研磨レートを測定した。
研磨機:FAM 18 GPAW(Speed Fam社製 定盤直径=457m 水冷式)
研磨条件:
(パッド前処理) パッド表面に赤色鉛筆で2cm間隔で縦横に描いた線が消えるまで、ダイヤモンドドレッサー(#100)にてドレス処理(パッドの平坦化及び目立て)を行った。給水量200ml/分
(研磨対象)4インチ単結晶シリコンウェハ 厚み:540μm
(シリコンウェハ支持方法) セラミックブロック/微多孔スウェードパッド(水吸着)シリコンウェハ
(研磨機冷却水) 20℃
(スラリー)コロイダルシリカ溶液 ニッタ・ハース株式会社製「N6501」20倍希釈
(スラリー流量)100ml/分 (循環式)
(定盤回転数)50rpm (連れ回り式)
(研磨圧力)30kPa
(研磨時間)20分
(研磨レート)研磨前後のポリウレタン研磨パッドの重量差から算出した。
即ち、研磨レート(μm/min)=(研磨前のシリコンウェハの重量(g)−研磨後のシリコンウェハの重量(g))×10000/(単結晶シリコンの密度(g/cm3)×シリコンウェハの面積(cm2)×研磨時間(min))
単結晶シリコンの密度=2.329g/cm3
シリコンウェハの面積=20.4cm2
[Evaluation method of polishing rate]
The polishing pad obtained in the examples and comparative examples was attached to one side of a double-sided tape, the surface plate of a polishing machine was attached to the other side of the double-sided tape, and the polishing rate was measured by the following apparatus, conditions and calculation formula.
Polishing machine: FAM 18 GPAW (manufactured by Speed Fam, Plate diameter: 457 m water-cooled type)
Polishing conditions:
(Pad pre-treatment) Dressing treatment (flattening and setting of the pad) was performed with a diamond dresser (# 100) until lines drawn vertically and horizontally at intervals of 2 cm with a red pencil disappeared on the pad surface. Water supply amount 200 ml / min (for polishing) 4 inch single crystal silicon wafer Thickness: 540 μm
(Silicon wafer support method) Ceramic block / microporous suede pad (water adsorption) silicon wafer (polish cooling water) 20 ° C
(Slurry) Colloidal silica solution Nita Haas Co., Ltd. “N6501” 20-fold diluted (Slurry flow rate) 100 ml / min (recirculation type)
(Plate rotation speed) 50 rpm (corotation type)
(Polishing pressure) 30 kPa
(Polishing time) 20 minutes (Polishing rate) It was calculated from the difference in weight of the polyurethane polishing pad before and after polishing.
That is, polishing rate (μm / min) = (weight of silicon wafer before polishing (g) −weight of silicon wafer after polishing (g)) × 10,000 / (density of single crystal silicon (g / cm 3 ) × silicon Wafer area (cm 2 ) x polishing time (min))
Density of single crystal silicon = 2.329 g / cm 3
Silicon wafer area = 20.4 cm 2

[縁だれの評価方法]
上記研磨レート評価後、ダイヤモンドドレッサー(#100)にて再ドレス処理を1時間行った。その後、新たな被研磨体に替え、下記研磨条件で研磨を行った。研磨終了後、分光干渉レーザ変位計で被研磨体高さを測定した。
研磨条件:
(研磨対象)4インチ単結晶シリコンウェハ 厚み:540μm
(シリコンウェハ支持方法) セラミックブロック/ワックス/シリコンウェハ
(研磨機冷却水) 20℃
(スラリー)コロイダルシリカ溶液 ニッタ・ハース株式会社製「N6501」20倍希釈
(スラリー流量)100ml/分 (循環式)
(定盤回転数)50rpm (連れ回り式)
(研磨圧力)30kPa
(研磨時間)60分
レーザ変位計条件:
(機器) SI−F10/KS−1100(キーエンス株式会社製)
(測定点)101×101=10201点(セラミックブロックに貼り付けたままで測定)
(解析ソフト) KSアナライザー(キーエンス株式会社)
(縁だれ評価場所) シリコンウェハ中心部を通る線分(直径)
(縁だれ評価) 最大高さ−左端から2mm部位の高さで評価した。
[Method of evaluating rims]
After the evaluation of the polishing rate, the red dress process was performed for 1 hour with a diamond dresser (# 100). Then, it changed to the new to-be-polished body and grind | polished on the following grinding | polishing conditions. After completion of the polishing, the height of the object to be polished was measured with a spectral interference laser displacement meter.
Polishing conditions:
(For polishing) 4 inch single crystal silicon wafer thickness: 540 μm
(Silicon wafer support method) Ceramic block / wax / silicon wafer (polishing machine cooling water) 20 ° C
(Slurry) Colloidal silica solution Nita Haas Co., Ltd. “N6501” 20-fold diluted (Slurry flow rate) 100 ml / min (recirculation type)
(Plate rotation speed) 50 rpm (corotation type)
(Polishing pressure) 30 kPa
(Polishing time) 60 minutes Laser displacement meter conditions:
(Device) SI-F10 / KS-1100 (manufactured by KEYENCE CORPORATION)
(Measurement point) 101 × 101 = 10 201 points (measured as it is attached to the ceramic block)
(Analysis software) KS analyzer (Keyence Corporation)
(Edge evaluation site) Line segment (diameter) passing through silicon wafer center
(Hedge evaluation) Maximum height-It evaluated by the height of a 2 mm site | part from a left end.

表3中、
ポリオキシプロピレンポリオール3(旭硝子ウレタン製「EL3030」)は、ポリオキシプロピレングリコール(水酸基数3、数平均分子量3,000)を表し、
芳香族アミノクロロフェニルメタンコンパウンドは、MBOCA(3,3’−ジクロロ−4,4−ジアミノフェニルメタン)とその多量体とポリエーテルポリオールからなる混合物(活性水素当量:189)を表し
TOYOCAT ETは、東ソー株式会社製、ビス(ジメチルアミノエチル)エーテル(70%)とジプロピレングリコール(30%)の混合物を表し、
SH−193は、東レ・ダウコーニング株式会社製、シリコーン整泡剤を表す。
In Table 3,
Polyoxypropylene polyol 3 (Asahi Glass Urethane “EL 3030”) represents polyoxypropylene glycol (number of hydroxyl groups: 3, number average molecular weight 3,000),
The aromatic aminochlorophenylmethane compound represents MBOCA (3,3'-dichloro-4,4-diaminophenylmethane), a mixture of its multimer and polyether polyol (active hydrogen equivalent: 189). TOYOCAT ET Ltd., represents a mixture of bis (dimethylaminoethyl) ether (70%) and dipropylene glycol (30%),
SH-193 represents a silicone foam stabilizer manufactured by Toray Dow Corning Co., Ltd.

表4中、MBOCAは、3,3’−ジクロロ−4,4−ジアミノフェニルメタンを表す。   In Table 4, MBOCA represents 3,3'-dichloro-4,4-diaminophenylmethane.

実施例1〜8の研磨パッドは、本発明の研磨パッドであり、高研磨レートを有し、かつ、高平坦性に優れた(縁だれが少ない)被研磨物を得ることができた。
比較例1〜3、5、7は、tanδ値が小さく、比較例4、7、9、10は、tanδピーク温度が低く、比較例6は、ポリオール成分(a)に含まれるポリテトラメチレングリコールの含有率が低く、比較例8は、tanδピーク温度がなく、高研磨レート及び高平坦性を両立することができなかった。
The polishing pads of Examples 1 to 8 were the polishing pads of the present invention, and it was possible to obtain an object to be polished which has a high polishing rate and which is excellent in high flatness (with less edge deviation).
Comparative Examples 1 to 3, 5 and 7 have small tan δ values, Comparative Examples 4, 7 and 9 and 10 have low tan δ peak temperatures, and Comparative Example 6 has polytetramethylene glycol contained in the polyol component (a). The comparative example 8 had no tan δ peak temperature and could not simultaneously achieve high polishing rate and high flatness.

また、本発明の研磨パッドの断面は、図1に示すように、毛羽立っており、特定の粘弾性を有する微細なドメインが存在することが確認された。一方、比較例の研磨パッドの断面は、図2に示すように、平滑であった。   In addition, as shown in FIG. 1, the cross section of the polishing pad of the present invention is fluffed, and it has been confirmed that a fine domain having a specific viscoelasticity is present. On the other hand, the cross section of the polishing pad of the comparative example was smooth as shown in FIG.

Claims (7)

ウレタンプレポリマー(A)を含む主剤(i)と、硬化剤(ii)とを含むウレタン樹脂組成物の硬化物であり、
前記ウレタンプレポリマー(A)が、分子量300以上のポリオール(a1)及び分子量300未満の短鎖グリコール(a2)を含むポリオール成分(a)とポリイソシアネート(b)との反応物であって、末端にイソシアネート基を有するものであり、
前記ポリオール成分(a)が、ポリテトラメチレングリコールを40質量%以上、90質量%以下の含有率で含むものであり、
前記短鎖グリコール(a2)の含有率が、前記ポリオール成分(a)中、1質量%以上であり、
前記硬化物が、測定周波数を1Hzとする動的粘弾性測定において、120℃以上200℃以下の範囲にtanδのピークを有するものであり、かつ、
前記120℃以上200℃以下の範囲におけるtanδのピーク値が0.18以上であることを特徴とする研磨パッド。
It is a cured product of a urethane resin composition comprising a main agent (i) containing a urethane prepolymer (A) and a curing agent (ii),
The urethane prepolymer (A) is a reaction product of a polyol component (a) containing a polyol (a1) having a molecular weight of 300 or more and a short chain glycol (a2) having a molecular weight of less than 300 with polyisocyanate (b) With an isocyanate group,
The polyol component (a) contains polytetramethylene glycol at a content of 40% by mass or more and 90% by mass or less,
The content of the short chain glycol (a2) is 1% by mass or more in the polyol component (a),
The cured product has a tan δ peak in a range of 120 ° C. or more and 200 ° C. or less in dynamic viscoelasticity measurement with a measurement frequency of 1 Hz, and
The polishing pad characterized in that the peak value of tan δ in the range of 120 ° C. or more and 200 ° C. or less is 0.18 or more.
前分子量300未満の短鎖グリコール(a2)が、ジエチレングリコールである請求項1記載の研磨パッド。   The polishing pad according to claim 1, wherein the short chain glycol (a2) having a pre-molecular weight of less than 300 is diethylene glycol. 前記ポリオール(a1)が、ポリテトラメチレングリコールであり、前記ポリオール(a)中、ポリテトラメチレングリコールの含有率が、60質量%以上である請求項1又は2記載の研磨パッド。   The polishing pad according to claim 1 or 2, wherein the polyol (a1) is polytetramethylene glycol, and the content of polytetramethylene glycol in the polyol (a) is 60% by mass or more. 前記ポリオール(a1)の数平均分子量が、1,100以上である請求項1〜3のいずれか1項記載の研磨パッド。   The polishing pad according to any one of claims 1 to 3, wherein the number average molecular weight of the polyol (a1) is 1,100 or more. 前記ポリイソシアネート(b)が、芳香族ポリイソシアネートである請求項1〜4のいずれか1項記載の研磨パッド。   The polishing pad according to any one of claims 1 to 4, wherein the polyisocyanate (b) is an aromatic polyisocyanate. 前記硬化剤(ii)が、芳香族アミン化合物である請求項1〜5のいずれか1項記載の研磨パッド。   The polishing pad according to any one of claims 1 to 5, wherein the curing agent (ii) is an aromatic amine compound. ウレタンプレポリマー(A)を含む主剤(i)と、硬化剤(ii)とを含むウレタン樹脂組成物であって、
前記ウレタンプレポリマー(A)が、分子量300以上のポリオール(a1)及び分子量300未満の短鎖グリコール(a2)を含むポリオール成分(a)とポリイソシアネート(b)とを含む組成物の反応物であって、末端にイソシアネート基を有するものであり、
前記短鎖グリコールがジエチレングリコールであり、
前記ポリオール成分(a)中、前記短鎖グリコール(a2)の含有率が1質量%以上であり、
前記ポリオール成分(a1)が、ポリテトラメチレングリコールを40質量%以上90質量%以下の含有率で含むものであり、
前記ポリオール(a1)の数平均分子量が1,100以上であることを特徴とする研磨パッド用ウレタン樹脂組成物。
A urethane resin composition comprising a main agent (i) containing a urethane prepolymer (A) and a curing agent (ii),
The reaction product of a composition comprising a polyol component (a) containing a polyol (a1) having a molecular weight of 300 or more and a short chain glycol (a2) having a molecular weight of less than 300 and the polyisocyanate component (b). And has an isocyanate group at the end,
The short chain glycol is diethylene glycol,
In the polyol component (a), the content of the short chain glycol (a2) is 1% by mass or more,
The polyol component (a1) contains polytetramethylene glycol at a content of 40% by mass to 90% by mass,
The urethane resin composition for a polishing pad, wherein the number average molecular weight of the polyol (a1) is 1,100 or more.
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