JP2019090738A - Transfer characteristic analyzer - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、制御システムの伝達特性を測定する技術に関し、特にデジタル制御システムの伝達特性を測定する技術に関する。 The present invention relates to a technique for measuring transfer characteristics of a control system, and more particularly to a technique for measuring transfer characteristics of a digital control system.
モータや電源の制御を行う制御システムの伝達特性（利得対周波数特性）については、入力信号と出力信号のデータから演算で測定可能なことが従来から知られている。制御システムには、フィードバックループを含む閉ループ制御システムと、フィードバックループを含まない開ループ制御システムがある。開ループ制御システムの一例としては、フィルタを用いた制御システムが挙げられる。この種の制御システムについては、交流信号発生器から正弦波信号を当該フィルタに掃引入力して当該フィルタの出力信号の振幅を測定し、対数演算（利得Ｇ＝20log(出力信号の電圧/入力信号の電圧)）（位相は入出力ベクトルの差分）を行うことで、縦軸が利得[dB]および位相[deg]で横軸が周波数[f]の利得対周波数特性（図１０参照）を得ることができる。伝達特性を測定する際には、ＦＦＴ（Fast Fourier Transform）アナライザ、ネットワークアナライザ、周波数特性分析器（Frequency Response Analyzer：以下、ＦＲＡ）等が用いられる（例えば、特許文献１参照）。 It has been conventionally known that the transfer characteristics (gain versus frequency characteristics) of a control system that controls a motor or a power supply can be measured by calculation from data of an input signal and an output signal. Control systems include closed loop control systems that include feedback loops and open loop control systems that do not include feedback loops. An example of an open loop control system is a control system using a filter. For this type of control system, a sine wave signal is swept into the filter from an AC signal generator, the amplitude of the output signal of the filter is measured, and logarithm operation (gain G = 20 log (voltage of input signal / input signal The vertical axis represents gain [dB] and the phase [deg], and the horizontal axis represents gain versus frequency characteristics (see FIG. 10) of frequency [f] by performing be able to. When measuring the transfer characteristic, an FFT (Fast Fourier Transform) analyzer, a network analyzer, a frequency response analyzer (hereinafter referred to as FRA) and the like are used (see, for example, Patent Document 1).
近年ではデジタル信号処理を用いて各種制御を行うことが一般化しており、制御システムについてもハードウェア或いはソフトウェア処理で実現されるデジタル制御システムが一般化している。以下では、フィードバックループを含むデジタル制御システムを「閉ループデジタル制御システム」と呼び、フィードバックループを含まないデジタル制御システムを「開ループデジタル制御システム」と呼ぶ。デジタル制御システムには、閉ループデジタル制御システムと開ループデジタル制御システムが含まれる。デジタル制御システムの伝達特性の評価検証においても、従来からのアナログ制御システムの評価検証と同様に周波数特性測定器を用いてアナログ信号の入出力が行われることが一般的である。 In recent years, performing various controls using digital signal processing has been generalized, and digital control systems realized by hardware or software processing have also been generalized for control systems. In the following, digital control systems that include feedback loops are referred to as "closed loop digital control systems" and digital control systems that do not include feedback loops are referred to as "open loop digital control systems". Digital control systems include closed loop digital control systems and open loop digital control systems. Also in the evaluation and verification of transfer characteristics of a digital control system, it is general that input and output of analog signals are performed using a frequency characteristic measuring instrument as in the evaluation and verification of a conventional analog control system.
図１１は、デジタルフィルタ１２０を用いた開ループデジタル制御システムを含む被測定器１０の伝達特性を測定するシステムの構成例を示す図である。図１１における被測定器１０は、マイコンやＦＰＧＡ（Field-Programmable Gate Array）などである。図１１における３３０はアンチエリアシングフィルタであり、１２０はアナログ信号をデジタル信号に変換するＡＤ変換器であり、１３０はデジタルフィルタ１２０の出力信吾（デジタル信号）をアナログ信号に変換するＤＡ変換器であり、３４０はＤＡ変換器１３０の出力信号からサンプリングノイズを除去するフィルタである。また、図１１における３２０は正弦波掃引信号Ｖｉｎを発生させる交流信号発生器であり、３５０は出力信号Ｖｏｕｔの電圧値を測定する交流電圧測定器である。 FIG. 11 is a diagram showing a configuration example of a system for measuring the transfer characteristic of the device under test 10 including an open loop digital control system using the digital filter 120. As shown in FIG. The device under test 10 in FIG. 11 is a microcomputer, an FPGA (Field-Programmable Gate Array), or the like. In FIG. 11, 330 is an anti-aliasing filter, 120 is an AD converter that converts an analog signal to a digital signal, and 130 is a DA converter that converts an output signal (digital signal) of the digital filter 120 to an analog signal. Reference numeral 340 denotes a filter that removes sampling noise from the output signal of the DA converter 130. Further, reference numeral 320 in FIG. 11 denotes an AC signal generator that generates a sine wave sweep signal Vin, and reference numeral 350 denotes an AC voltage measuring device that measures the voltage value of the output signal Vout.
図１１に示すシステムでは、交流信号発生器３２０の発生させた入力信号（アナログ信号）Ｖｉｎを演算装置３１０に与えるとともに、同入力信号Ｖｉｎにフィルタ３３０によるアンチエリアシングフィルタ処理を施した後にＡＤ変換器１１０によりデジタルデータに変換してデジタルフィルタ１２０に与えられる。デジタルフィルタ１２０はＡＤ変換器１１０から与えられたデジタルデータに応じたデジタルデータを出力し、当該出力されたデジタルデータはＤＡ変換器１３０により出力信号Ｖｏｕｔに変換され、さらにフィルタ３４０によりサンプリングノイズの除去された出力信号Ｖｏｕｔの電圧値が交流信号測定器３５０によって読み取られる。演算装置３１０は、入力信号Ｖｉｎおよび出力信号Ｖｏｕｔを用いて上述の対数演算を行う。これにより、デジタルフィルタ１２０の伝達特性が測定される。 In the system shown in FIG. 11, the input signal (analog signal) Vin generated by the AC signal generator 320 is applied to the arithmetic unit 310, and the input signal Vin is subjected to anti-aliasing filter processing by the filter 330 and then AD converted. The digital data is converted by the converter 110 and applied to the digital filter 120. The digital filter 120 outputs digital data corresponding to the digital data supplied from the AD converter 110, the output digital data is converted by the DA converter 130 into an output signal Vout, and the filter 340 removes sampling noise. The voltage value of the output signal Vout thus read is read by the AC signal measuring device 350. The arithmetic unit 310 performs the above-described logarithmic operation using the input signal Vin and the output signal Vout. Thereby, the transfer characteristic of the digital filter 120 is measured.
このように、被測定器がデジタル回路であっても、その伝達特性を測定する際には、アナログ信号を入出力する仕組みが必要であり、折り返し歪やクロックノイズを除去するためのアナログフィルタ（図１１におけるフィルタ３３０および３４０）を被測定器１０の外部に配置する必要があった。一般に、高精度のアナログ信号を入出力するアナログ機器は高価であり、その取扱いにはノイズの影響を排除する技術手段や高度な測定スキルが要求される。このため、デジタル回路であっても、測定者誰もがその伝達特性を容易に測定できる訳ではなかった。以上、開ループデジタル制御システムについて説明したが、これらの問題は、閉ループデジタル制御システムの伝達特性の測定においても同様に発生する。 As described above, even if the device under test is a digital circuit, a mechanism for inputting and outputting an analog signal is required to measure the transfer characteristic of the digital circuit, and an analog filter for removing aliasing distortion and clock noise ( The filters 330 and 340) in FIG. 11 have to be arranged outside the device under test 10. In general, analog devices that input and output high-precision analog signals are expensive, and their handling requires technical means to eliminate the effects of noise and advanced measurement skills. For this reason, even a digital circuit can not be easily measured by any measurer. Although the open loop digital control system has been described above, these problems also occur in the measurement of the transfer characteristic of the closed loop digital control system.
本発明は以上に説明した課題に鑑みて為されたものであり、測定者に高度なスキルを要求することなく、デジタル制御システムの伝達特性を精度良く測定することを可能にする技術を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the problems described above, and provides a technology that makes it possible to accurately measure the transfer characteristics of a digital control system without requiring a measurer to have high skills. The purpose is
上記課題を解決するために本発明は、デジタル制御システムを含む被測定器との間でデジタルデータの授受を行うデジタル入出力インタフェースと、前記デジタル制御システムへの入力信号の波形データを前記デジタル入出力インタフェースを介して前記被測定器へ与える一方、前記デジタル制御システムの出力信号の波形データを前記デジタル入出力インタフェースを介して前記被測定器から受け取り、ゲインと位相の少なくとも一方を演算する演算部と、を有することを特徴とする伝達特性解析装置、を提供する。 In order to solve the above problems, the present invention relates to a digital input / output interface for exchanging digital data with a device under test including a digital control system, and the digital input / output of waveform data of an input signal to the digital control system. An operation unit that receives waveform data of an output signal of the digital control system from the device under test via the digital input / output interface while applying to the device under test via an output interface, and calculating at least one of gain and phase And a transfer characteristic analysis device characterized by comprising:
本発明の伝達特性解析装置では、被測定器との間の信号の入出力はデジタルデータで行われ、それらデジタルデータを用いて対数演算を行うことでデジタル制御システムを含む被測定器の伝達特性が測定される。このため、本発明によれば、繊細なアナログ信号を扱う必要はなく、高価なアナログ機器を用いることなく、デジタル制御システムを含む被測定器の伝達特性を測定することが可能になる。加えて、本発明によれば、被測定器に対する入出力は全てデジタルデータで行われるため、測定誤差の少ない安定した環境で伝達特性の測定を行うことが可能になる。その結果、従来の伝達特性の測定において測定者に求められていた高度な測定スキルは不要となり、誰にでも取り扱いが容易で、かつ安価な測定環境を提供することが可能になる。 In the transfer characteristic analysis apparatus of the present invention, the input and output of signals to and from the device under test are performed using digital data, and the transfer characteristics of the device under test including the digital control system by performing logarithmic operation using these digital data. Is measured. Therefore, according to the present invention, it is not necessary to handle delicate analog signals, and it is possible to measure the transfer characteristics of a device under test including a digital control system without using expensive analog devices. In addition, according to the present invention, since all input and output to and from the device under test are performed with digital data, it is possible to measure the transfer characteristics in a stable environment with little measurement error. As a result, the advanced measurement skills required of the measurer in the conventional measurement of transfer characteristics are not required, and it is possible to provide an inexpensive measurement environment that is easy to handle for anyone.
デジタル入出力インタフェースの具体的な態様としては種々の態様が考えられ、一例を挙げれば、バスインタフェースである。デジタル入出力インタフェースの他の具体例としては、１または複数の前記被測定器が接続される外部機器インタフェースが挙げられる。また、デジタル入出力インタフェースの他の具体例としては、各々に前記被測定器が１つずつ接続される１または複数のデバッグインタフェースが挙げられる。 Various aspects can be considered as specific aspects of the digital input / output interface, and one example is a bus interface. Another specific example of the digital input / output interface is an external device interface to which one or more of the devices under test are connected. Also, as another specific example of the digital input / output interface, there may be mentioned one or more debug interfaces in which one said device under test is connected to each other.
より好ましい態様の伝達特性解析装置は、前記デジタル制御システムへの入力信号の波形データを記憶したメモリを備え、前記演算部は、前記メモリから読み出した波形データを前記デジタル入出力インタフェースを介して前記被測定器へ与えることを特徴とする。また、別の好ましい態様の伝達特性解析装置には、前記演算部による演算結果を表示装置に描画する描画部をさらに有することを特徴とする。 A transfer characteristic analysis apparatus according to a more preferable aspect includes a memory storing waveform data of an input signal to the digital control system, and the operation unit is configured to transmit waveform data read from the memory through the digital input / output interface. It is characterized in that it is given to the device under test. Further, the transfer characteristic analysis apparatus according to another preferable aspect further includes a drawing unit which draws the calculation result by the calculation unit on a display device.
以下、図面を参照しつつ本発明の実施形態を説明する。
（Ａ：第１実施形態）
図１は、本発明の第１実施形態による伝達特性解析装置２０の構成例を示す図である。伝達特性解析装置２０は、測定者に高度なスキルを要求することなく、デジタルフィルタを用いた開ループデジタル制御システムの伝達特性を精度良く測定することを可能にする装置である。図１には、伝達特性解析装置２０とともに、伝達特性の測定対象のデジタル制御システムを含む被測定器１０が図示されている。図１では図８におけるものと同一の構成要素には同一の符号が付されている。図８と同じ符号が付された構成要素については詳細な説明を省略する。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
(A: First Embodiment)
FIG. 1 is a view showing a configuration example of a transfer characteristic analysis device 20 according to a first embodiment of the present invention. The transfer characteristic analysis device 20 is a device that makes it possible to accurately measure the transfer characteristics of an open loop digital control system using a digital filter without requiring a measurer to have a high skill. FIG. 1 illustrates a device under test 10 including a transfer control system 20 and a digital control system whose transfer characteristics are to be measured. In FIG. 1, the same components as those in FIG. 8 are assigned the same reference numerals. Detailed descriptions of the components given the same reference numerals as in FIG. 8 will be omitted.
被測定器１０は、マイコン、ＤＳＰ（Digital Signal Processor）、専用半導体或いはプログラマブルロジックデバイスであり、図８に示す被測定器１０と同様にＡＤ変換器１１０、デジタルフィルタ１２０およびＤＡ変換器１３０を有する。また、被測定器１０は、ＡＤ変換器１１０、デジタルフィルタ１２０およびＤＡ変換器１３０の他に、デジタルフィルタ１２０によるフィルタ処理演算のワークエリアとして利用されるメモリ（例えばＲＡＭ（Random Access Memory））１４０と、デジタル通信を実現するためのデジタル入出力インタフェース（図１では、「Ｉ／Ｆ」と略記）１５０とを有する。詳細については後述するが、デジタル入出力インタフェース１５０の具体例としては、バスインタフェース、外部機器インタフェースおよびデバッグインタフェース等が挙げられる。 The device under test 10 is a microcomputer, a DSP (Digital Signal Processor), a dedicated semiconductor, or a programmable logic device, and includes an AD converter 110, a digital filter 120, and a DA converter 130 like the device under test 10 shown in FIG. . In addition to the AD converter 110, the digital filter 120, and the DA converter 130, the device under test 10 is a memory (for example, RAM (Random Access Memory)) 140 used as a work area for filter processing by the digital filter 120. And a digital input / output interface (abbreviated as “I / F” in FIG. 1) 150 for realizing digital communication. Although the details will be described later, specific examples of the digital input / output interface 150 include a bus interface, an external device interface, a debug interface, and the like.
メモリ１４０およびデジタル入出力インタフェース１５０は、マイコン等の被測定器１０が一般に有するものであり、図８では図示が省略されていたに過ぎない。本実施形態の特徴の一つは、マイコン等の被測定器１０が一般に有するメモリ１４０およびデジタル入出力インタフェース１５０を利用してデジタルフィルタ１２０の伝達特性の測定を行う点にある。本実施形態では、図８における入力信号Ｖｉｎに対応するデジタルデータは、デジタル入出力インタフェース１５０およびメモリ１４０を介してデジタルフィルタ１２０に与えられ、出力信号Ｖｏｕｔに対応するデジタルデータは、メモリ１４０およびデジタル入出力インタフェース１５０を介してデジタルフィルタ１２０から出力される。図１では、ＡＤ変換器１１０からデジタルフィルタ１２０への信号伝達経路を示す矢印に×印が付与されており、デジタルフィルタ１２０からＤＡ変換器１３０への信号伝達経路を示す矢印にも×印が付与されている。これらの×印は、デジタルフィルタ１２０の伝達特性の測定の際には、上記各信号伝達経路が使用されないことを意味している（図２〜図６についても同様）。 The memory 140 and the digital input / output interface 150 are generally included in the device under test 10 such as a microcomputer, and are only illustrated in FIG. One of the features of the present embodiment is that the transfer characteristic of the digital filter 120 is measured using the memory 140 and the digital input / output interface 150 generally included in the device under test 10 such as a microcomputer. In the present embodiment, digital data corresponding to the input signal Vin in FIG. 8 is applied to the digital filter 120 through the digital input / output interface 150 and the memory 140, and digital data corresponding to the output signal Vout is the memory 140 and the digital It is outputted from the digital filter 120 through the input / output interface 150. In FIG. 1, an X mark is attached to an arrow indicating a signal transmission path from AD converter 110 to digital filter 120, and an X mark is also shown on an arrow indicating a signal transmission path from digital filter 120 to DA converter 130. It has been granted. These x marks mean that the above-mentioned signal transmission paths are not used when measuring the transfer characteristics of the digital filter 120 (the same applies to FIGS. 2 to 6).
伝達特性解析装置２０は、例えばパーソナルコンピュータである。図１に示すように、伝達特性解析装置２０は、演算部２１０、印加データ生成部２２０、デジタル入出力インタフェース２３０、処理結果取得部２４０、および描画部２５０を有する。デジタル入出力インタフェース２３０は被測定器１０におけるデジタル入出力インタフェース１５０に対応するデバイスであり、被測定器１０との間でデジタルデータの授受を行う。ここで、「被測定器１０におけるデジタル入出力インタフェース１５０に対応するデバイスである」とは、例えば、デジタル入出力インタフェース１５０がバスインタフェースであれば、デジタル入出力インタフェース２３０もバスインタフェースであり、デジタル入出力インタフェース１５０が外部機器インタフェースであれば、デジタル入出力インタフェース２３０も外部機器インタフェースである、といった具合にデジタル入出力インタフェース１５０とデジタル入出力インタフェース２３０の両者が同じ規格に準拠したデバイスであるという意味である。 The transfer characteristic analysis device 20 is, for example, a personal computer. As shown in FIG. 1, the transfer characteristic analysis device 20 includes an arithmetic unit 210, an applied data generation unit 220, a digital input / output interface 230, a processing result acquisition unit 240, and a drawing unit 250. The digital input / output interface 230 is a device corresponding to the digital input / output interface 150 in the device under test 10, and exchanges digital data with the device under test 10. Here, "a device corresponding to the digital input / output interface 150 in the device under test 10" means, for example, if the digital input / output interface 150 is a bus interface, the digital input / output interface 230 is also a bus interface. If the input / output interface 150 is an external device interface, the digital input / output interface 230 is also an external device interface, and so on that both the digital input / output interface 150 and the digital input / output interface 230 are devices conforming to the same standard. It is a meaning.
演算部２１０は、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）であり、伝達特性解析装置２０の制御中枢として機能する。より詳細に説明すると、演算部２１０は、デジタルフィルタ１２０を含む被測定器１０へデジタル入出力インタフェース２３０を介してそのデジタルフィルタ１２０への入力信号の波形データを与える処理、およびデジタルフィルタ１２０の出力信号の波形データをデジタル入出力インタフェース２３０を介して受け取り、前述した対数演算（図８における演算装置３１０が実行する演算）を実行し、その測定結果を描画部２５０に描画させるように、伝達特性解析装置２０の各部（印加データ生成部２２０、デジタル入出力インタフェース２３０、処理結果取得部２４０、および描画部２５０）の作動制御を行う。 The calculation unit 210 is, for example, a CPU (Central Processing Unit), and functions as a control center of the transfer characteristic analysis device 20. More specifically, operation unit 210 performs processing for providing waveform data of an input signal to digital filter 120 to device under test 10 including digital filter 120 via digital input / output interface 230, and an output of digital filter 120. The transfer characteristic is received so that the waveform data of the signal is received through the digital input / output interface 230, the above-described logarithmic operation (the operation executed by the arithmetic device 310 in FIG. 8) is performed, and the measurement result is drawn by the drawing unit 250. The operation control of each part (the applied data generation unit 220, the digital input / output interface 230, the processing result acquisition unit 240, and the drawing unit 250) of the analysis device 20 is performed.
印加データ生成部２２０は、例えば、各々周波数の異なる複数の信号波形のサンプリングデータ（波形データ）を波形毎に格納した波形メモリである。印加データ生成部２２０は、演算部２１０による制御の下、演算部２１０により出力を指示された波形データ（以下、入力波形データ）をデジタル入出力インタフェース２３０を介して被測定器１０へ出力するとともに、当該波形データを演算部２１０に与える。処理結果取得部２４０は、上記入力波形データの入力に応じて被測定器１０から出力される波形データ（以下、出力波形データ）をデジタル入出力インタフェース２３０を介して受け取り、演算部２１０に与える。描画部２５０は例えばＲＡＭＳｃｏｐｅなどのＲＡＭモニタツールであり、演算部２１０による対数演算の結果（例えば、図Ｘ７に示す利得対周波数特性のグラフ）を液晶ディスプレイなどの表示装置に描画する。
以上が伝達特性解析装置２０の構成である。
The applied data generation unit 220 is, for example, a waveform memory which stores sampling data (waveform data) of a plurality of signal waveforms having different frequencies, for each waveform. The applied data generation unit 220 outputs waveform data (hereinafter referred to as input waveform data) whose output is instructed by the operation unit 210 under the control of the operation unit 210 to the device under test 10 via the digital input / output interface 230. The waveform data is supplied to the calculation unit 210. The processing result acquisition unit 240 receives waveform data (hereinafter referred to as output waveform data) output from the device under test 10 according to the input of the input waveform data through the digital input / output interface 230, and supplies it to the calculation unit 210. The drawing unit 250 is, for example, a RAM monitor tool such as a RAM Scope, and draws the result of logarithmic calculation by the calculation unit 210 (for example, a graph of gain versus frequency characteristics shown in FIG. X7) on a display device such as a liquid crystal display.
The above is the configuration of the transfer characteristic analysis device 20.
図１と図８とを対比すれば明らかなように、本実施形態では、デジタルフィルタ１２０に対する波形データの入出力はアナログ信号を介さずに行われるため、折り返し歪やクロックノイズを除去するためのフィルタ（図８におけるフィルタ３３０および３４０）は不要であり、測定結果に影響を与える要因を排除することができる。また、本実施形態によれば、アナログ信号のＡＤ変換およびアナログ信号へのＤＡ変換を行う際に発生する変換誤差を排除することもできる。加えて、本実施形態では、印加データ生成部２２０が交流信号発生器３２０の役割を担い、処理結果取得部２４０が交流信号測定器３５０の役割を担うため、交流信号発生器３２０および交流信号測定器３５０も不要となる。 As apparent from the comparison between FIG. 1 and FIG. 8, in the present embodiment, since the input and output of the waveform data to the digital filter 120 are performed without passing through the analog signal, aliasing and clock noise are eliminated. The filters (filters 330 and 340 in FIG. 8) are unnecessary and factors that affect the measurement results can be eliminated. Further, according to the present embodiment, it is possible to eliminate conversion errors that occur when performing AD conversion of an analog signal and DA conversion to an analog signal. In addition, in the present embodiment, the applied data generation unit 220 plays the role of the AC signal generator 320, and the processing result acquisition unit 240 plays the role of the AC signal measurement device 350. Therefore, the AC signal generator 320 and the AC signal measurement are performed. The vessel 350 is also unnecessary.
以上説明したように、本実施形態によれば、繊細なアナログ信号を扱う必要がなくなり、高価なアナログ機器を使用することなく、デジタルフィルタ１２０を含む開ループデジタル制御システムの伝達特性を測定することが可能になる。加えて、本実施形態によれば、デジタルフィルタ１２０に対する入出力は全てデジタルデータで行われるため、測定誤差の少ない安定した環境で伝達特性の測定を行うことが可能になる。その結果、従来の伝達特性の測定において測定者に求められていた高度な技術は不要となり、誰にでも取り扱いが容易で、かつ安価な測定環境を提供することが可能になる。なお、伝達特性解析装置２０については、デジタルデータから伝達特性を演算する事が出来れば、様々な構成を採用することができる。本実施形態のように、伝達特性解析装置２０としてパーソナルコンピュータを用いれば、取得、演算した結果を直ちに画面に表示し、記録することが可能となる。 As described above, according to the present embodiment, the transfer characteristic of the open loop digital control system including the digital filter 120 is measured without the need to handle delicate analog signals and without using expensive analog equipment. Becomes possible. In addition, according to the present embodiment, since all input / output to / from the digital filter 120 is performed with digital data, it becomes possible to measure the transfer characteristic in a stable environment with little measurement error. As a result, the advanced technology required of the measurer in the conventional measurement of the transfer characteristics is not necessary, and it is possible to provide an inexpensive measurement environment that is easy to handle by anyone. As the transfer characteristic analyzing apparatus 20, various configurations can be adopted as long as the transfer characteristic can be calculated from digital data. As in the present embodiment, if a personal computer is used as the transfer characteristic analysis device 20, it is possible to immediately display and record the obtained and calculated results on the screen.
（Ｂ：第２実施形態）
図２は、本発明の第２実施形態による伝達特性解析装置２０Ａの構成例を示す図である。
本実施形態の伝達特性解析装置２０Ａでは、デジタル入出力インタフェース２３０としてバスインタフェース２３０Ａが用いられている。同様に、被測定器１０Ａにおいてもデジタル入出力インタフェース１５０としてバスインタフェース２３０Ａに対応するバスインタフェース１５０Ａが用いられている。バスインタフェース２３０Ａおよびバスインタフェース１５０Ａの具体例としては、汎用バスＩ／Ｆとも呼ばれる非同期ＳＲＡＭ（Static Random Access Memory）Ｉ／Ｆ、ＤＤＲ（Double-Data-Rate）、ＤＤＲ２或いはＤＤＲ３等のＳＤＲＡＭ（Synchronous Dynamic Random Access Memory）Ｉ／Ｆ、ＳＰＩ（Serial Peripheral Interface）Ｉ／Ｆ、ＰＣＩ（Peripheral Component Interconnect）／ＰＣＩ−Ｅｘｐｒｅｓｓなどが挙げられる。
(B: Second Embodiment)
FIG. 2 is a diagram showing a configuration example of a transfer characteristic analysis apparatus 20A according to a second embodiment of the present invention.
In the transfer characteristic analysis apparatus 20A of the present embodiment, a bus interface 230A is used as the digital input / output interface 230. Similarly, in the device under test 10A, a bus interface 150A corresponding to the bus interface 230A is used as the digital input / output interface 150. Specific examples of the bus interface 230A and the bus interface 150A include an asynchronous static random access memory (SRAM) I / F also referred to as a general-purpose bus I / F, a double-data-rate (DDR), and an SDRAM (synchronous dynamic) such as DDR2 or DDR3. Random Access Memory (I / F) I / F, Serial Peripheral Interface (SPI) I / F, Peripheral Component Interconnect (PCI) / PCI-Express, and the like.
本実施形態によっても、前述した第１実施形態と同様に、繊細なアナログ信号を扱う必要がなくなり、高価なアナログ機器を使用することなくデジタルフィルタ１２０を含む開ループデジタル制御システムの伝達特性を測定することが可能になり、測定誤差の少ない安定した環境で伝達特性の測定を行うことが可能になる。その結果、従来の伝達特性の測定において測定者に求められていた高度な技術は不要となり、誰にでも取り扱いが容易で、かつ安価な測定環境を提供することが可能になる。 Also in the present embodiment, as in the first embodiment described above, it is not necessary to handle delicate analog signals, and the transfer characteristics of the open loop digital control system including the digital filter 120 can be measured without using expensive analog equipment. It becomes possible to measure the transfer characteristics in a stable environment with little measurement error. As a result, the advanced technology required of the measurer in the conventional measurement of the transfer characteristics is not necessary, and it is possible to provide an inexpensive measurement environment that is easy to handle by anyone.
加えて、本実施形態にように、デジタル入出力インタフェース１５０としてバスインタフェース１５０Ａを使用すると、被測定器１０Ａでは、図２に示すように、デジタルフィルタ１２０へのデータの入出力をメモリ１４０を介さずに直接行うことが可能になる。マイコンシステムの応用で考えるならば、伝達特性解析装置２０Ａは、外部メモリや外部周辺機器のようにして取り扱うことが可能となる。 In addition, when the bus interface 150A is used as the digital input / output interface 150 as in the present embodiment, in the device under test 10A, the input / output of data to the digital filter 120 is performed via the memory 140 as shown in FIG. It can be done directly without Considering the application of the microcomputer system, the transfer characteristic analysis device 20A can be handled like an external memory or an external peripheral device.
（Ｃ：第３実施形態）
図３は、本発明の第３実施形態による伝達特性解析装置２０Ｂの構成例を示す図である。
本実施形態では、デジタル入出力インタフェース２３０として、他の外部機器を接続する外部機器インタフェース２３０Ｂが用いられており、被測定器１０Ｂについてもデジタル入出力インタフェース１５０として外部機器インタフェース２３０Ｂに対応する外部機器インタフェース１５０Ｂが用いられている。外部機器インタフェース２３０Ｂおよび外部機器インタフェース１５０Ｂの具体例としては、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）のような短距離汎用通信インタフェースや、ネットワークに使用されるＥｔｈｅｒｎｅｔ（登録商標）などが挙げられる。なお、図３には、被測定器１０Ｂにおけるメモリ１４０と外部機器インタフェース１５０Ｂとの間のデータ転送をＤＭＡ（Direct Memory Access）コントローラ（以下、「ＤＭＡＣ」と略記：図３においても同様）１６０が行う態様について図示されているが、前述の第１実施形態と同様にＤＭＡＣ１６０を省略した構成としても勿論良い。
(C: Third Embodiment)
FIG. 3 is a view showing a configuration example of a transfer characteristic analysis device 20B according to a third embodiment of the present invention.
In the present embodiment, an external device interface 230B connecting other external devices is used as the digital input / output interface 230, and an external device corresponding to the external device interface 230B as the digital input / output interface 150 is also used for the device under test 10B. An interface 150B is used. Specific examples of the external device interface 230B and the external device interface 150B include short-range general-purpose communication interfaces such as USB (Universal Serial Bus) and Ethernet (registered trademark) used for networks. In FIG. 3, a DMA (Direct Memory Access) controller (hereinafter abbreviated as “DMAC”: 160 also in FIG. 3) 160 transfers data between the memory 140 and the external device interface 150 B in the device under test 10 B. Although the embodiment to be performed is illustrated, it is of course possible to omit the DMAC 160 as in the first embodiment described above.
本実施形態においても、伝達特性の測定の際の被測定器１０Ｂへの入出力はデジタルデータで行われる。このため、第１および第２実施形態と同様に本実施形態によっても、繊細なアナログ信号を扱うことや高価なアナログ機器を必要とすることなく、測定誤差の少ない安定した環境で開ループデジタル制御システムの伝達特性の測定を行うことが可能になる。加えて、本実施形態の伝達特性解析装置２０Ｂであれば、図４に示すうように１つの伝達特性解析装置２０Ｂに複数の被測定器１０Ｂを接続したり、被測定器１０Ｂと伝達特性解析装置２０Ｂの間のデジタル通信路を長くしたりするために、ハブやルータなどのネットワーク機器を含めたデジタル通信路を採用することも可能である。 Also in this embodiment, input / output to / from the device under test 10B at the time of measurement of the transfer characteristic is performed by digital data. Therefore, as in the first and second embodiments, according to the present embodiment, open loop digital control in a stable environment with little measurement error without requiring handling of delicate analog signals or requiring expensive analog devices. It is possible to measure the transfer characteristics of the system. In addition, in the case of the transfer characteristic analysis apparatus 20B according to the present embodiment, as shown in FIG. 4, a plurality of measured devices 10B are connected to one transfer characteristic analysis apparatus 20B, or the transfer characteristic analysis of the measured device 10B. In order to lengthen the digital communication path between the devices 20B, it is also possible to adopt a digital communication path including network devices such as hubs and routers.
（Ｄ：第４実施形態）
図５は、本発明の第４実施形態による伝達特性解析装置２０Ｃの構成例を示す図である。本実施形態では、デジタル入出力インタフェース２３０としてデバッグインタフェース２３０Ｃを用いた点が第２実施形態と異なる。デバッグインタフェース２３０Ｃの具体例としては、ＪＴＡＧベースデバッグＩ／Ｆ、パラレルＮｅｘｕｓＩ／Ｆ、シリアルＮｅｘｕｓＩ／Ｆ（Ａｕｒｏｒａ）、ＲＡＭモニタ専用Ｉ／Ｆなどが挙げられる。
(D: Fourth Embodiment)
FIG. 5 is a view showing a configuration example of a transfer characteristic analysis apparatus 20C according to a fourth embodiment of the present invention. The present embodiment differs from the second embodiment in that a debug interface 230C is used as the digital input / output interface 230. Specific examples of the debug interface 230C include a JTAG based debug I / F, a parallel Nexus I / F, a serial Nexus I / F (Aurora), a RAM monitor dedicated I / F, and the like.
多くの半導体デバイスは、ソフトウェア開発のためにオンチップデバッグ機能を搭載しており、本実施形態では被測定器１０Ｃ側のデジタル入出力インタフェース１５０として、このオンチップデバッグ機能を実現するデバッグインタフェース１５０Ｃが利用される。デバッグインタフェース１５０Ｃは、オンチップデバッグ機能を実現するデバッグ専用のメモリアクセスコントローラである。このメモリアクセスコントローラは、デバイスの指定されたメモリアドレスに対してメモリ１４０のリード／ライトを直接実行できる。このため、本実施形態によれば、バスインタフェースや外部機器インタフェースをデジタル入出力インタフェース１５０として用いる態様に比較して、被測定器１０Ｃのメモリ１４０における入出力データの配置に関する制限が極めて少ない、といった利点がある。 Many semiconductor devices have an on-chip debug function for software development, and in the present embodiment, as the digital input / output interface 150 on the side of the device under test 10C, the debug interface 150C for realizing this on-chip debug function is used. It is used. The debug interface 150C is a memory access controller dedicated to debugging that implements an on-chip debug function. This memory access controller can directly execute the read / write of the memory 140 to the designated memory address of the device. Therefore, according to the present embodiment, the restriction on the arrangement of input / output data in the memory 140 of the device under test 10C is extremely small as compared with the aspect in which the bus interface or the external device interface is used as the digital input / output interface 150. There is an advantage.
本実施形態においても、伝達特性の測定の際の被測定器１０Ｃへの入出力はデジタルデータで行われる。このため、第１、第２および第３実施形態と同様に本実施形態によっても、繊細なアナログ信号を扱うことや高価なアナログ機器を必要とすることなく、測定誤差の少ない安定した環境で開ループデジタル制御システムの伝達特性の測定を行うことが可能になる。 Also in this embodiment, input / output to / from the device under test 10C at the time of measurement of the transfer characteristic is performed with digital data. Therefore, as in the first, second and third embodiments, according to the present embodiment as well, it is possible to open in a stable environment with few measurement errors without handling delicate analog signals or requiring expensive analog devices. It is possible to measure the transfer characteristics of the loop digital control system.
図６は、本実施形態の伝達特性解析装置２０Ｃの他の構成例を示す図である。図６に示す伝達特性解析装置２０Ｃは、複数のデバッグインタフェース（図６に示す例では、デバッグインタフェース２３０Ｃ−１〜２３０Ｃ−Ｎ：Ｎは２以上の任意の整数）を有する点が図５に示す伝達特性解析装置２０Ｃと異なる。図６に示す伝達特性解析装置２０Ｃのデバッグインタフェース２３０Ｃ−１〜２３０Ｃ−Ｎの各々には、互いに異なる被測定器が接続される。図６に示す例では、デバッグインタフェース２３０Ｃ−ｎ（ｎ＝１〜Ｎ）には非測定器１０Ｃ−ｎが接続されている。デバッグインタフェース２３０Ｃ−ｎは全て同一であっても良く、互いに異なっていても良い。被測定器に対応した任意のデバッグインタフェース２３０Ｃを任意数搭載する事で解決出来る。このように、デジタル入出力インタフェース２３０としてデバッグインタフェース２３０Ｃを用いる態様においても、多数の被測定器に対して単一の伝達特性解析装置２０Ｃで伝達特性の測定を行うことが可能である。 FIG. 6 is a view showing another configuration example of the transfer characteristic analysis device 20C of the present embodiment. The transfer characteristic analysis apparatus 20C shown in FIG. 6 is shown in FIG. 5 in that it has a plurality of debug interfaces (in the example shown in FIG. 6, debug interfaces 230C-1 to 230C-N: N is an arbitrary integer of 2 or more). It differs from the transfer characteristic analysis device 20C. Different measured devices are connected to each of the debug interfaces 230C-1 to 230C-N of the transfer characteristic analysis apparatus 20C shown in FIG. In the example shown in FIG. 6, the non-measuring device 10C-n is connected to the debug interface 230C-n (n = 1 to N). The debug interfaces 230C-n may all be the same or may be different from one another. This can be solved by mounting an arbitrary number of debug interfaces 230C corresponding to the device under test. As described above, even in a mode in which the debug interface 230C is used as the digital input / output interface 230, it is possible to measure the transfer characteristic with a single transfer characteristic analyzer 20C for a large number of devices to be measured.
（Ｅ：第５実施形態）
上述した第１〜第４実施形態では、デジタルフィルタ１２０を含む開ループデジタル制御システムの伝達特性が測定された。しかし、本発明による伝達特性の測定対象はデジタルフィルタを含むシステムには限定されず、開ループデジタル制御システムであれば同様にその伝達特性を測定することが可能である。また、本発明による伝達特性の測定対象は開ループデジタル制御システムには限定されず、閉ループデジタル制御システムであっても、繊細なアナログ信号の扱いや高価なアナログ機器を必要とすることなく、かつ測定誤差の少ない安定した環境で、その伝達特性（閉ループ特性）を測定することが可能である。
(E: Fifth Embodiment)
In the first to fourth embodiments described above, the transfer characteristics of the open loop digital control system including the digital filter 120 were measured. However, the measurement target of the transfer characteristic according to the present invention is not limited to the system including the digital filter, and it is possible to measure the transfer characteristic in the same manner in an open loop digital control system. Moreover, the measurement object of the transfer characteristic according to the present invention is not limited to the open loop digital control system, and even in the closed loop digital control system, it is not necessary to handle delicate analog signals or require expensive analog equipment and It is possible to measure the transfer characteristic (closed loop characteristic) in a stable environment with little measurement error.
図７は、閉ループ制御システムの構成例を示す図である。図７に示すように、この制御システムは、加算器４１０、アンプ４２０、およびフィードバック演算部４３０を含む。加算器４１０には、当該制御システムへの入力信号ＩＮＳとフィードバック演算部４３０の出力信号Ｓ１とが与えられる。加算器４１０は、入力信号ＩＮＳから信号Ｓ１を減算した信号Ｓ２をアンプ４２０へ出力する。アンプ４２０は、信号Ｓ２に増幅率Ａの増幅を施して出力する。アンプ４２０の出力信号Ｓ３は、当該制御システムの出力信号ＯＵＴＳとなるとともに、フィードバック演算部４３０に与えられる。フィードバック演算部４３０は、遅延の付与等の信号処理βを信号Ｓ３に施して信号Ｓ２を生成し、加算器４１０へ出力する。 FIG. 7 is a diagram showing a configuration example of a closed loop control system. As shown in FIG. 7, the control system includes an adder 410, an amplifier 420, and a feedback operation unit 430. The adder 410 receives the input signal INS to the control system and the output signal S1 of the feedback operation unit 430. The adder 410 outputs a signal S2 obtained by subtracting the signal S1 from the input signal INS to the amplifier 420. The amplifier 420 amplifies the amplification factor A to the signal S2 and outputs it. The output signal S3 of the amplifier 420 serves as the output signal OUTS of the control system and is given to the feedback operation unit 430. Feedback operation unit 430 applies signal processing β such as delay assignment to signal S 3 to generate signal S 2, and outputs the signal to adder 410.
図８は、図７に示す制御システムの閉ループ特性をＦＲＡ４５０を用いて測定するシステムの構成例を示す図である。図８に示すように、ＦＲＡ４５０を用いて閉ループ特性を測定する場合、フィードバックループを切断し、測定用信号を発生させる信号源４４０をループ内に挿入し、信号ｅ１および信号ｅ２をＦＲＡ４５０で演算して利得および位相を周波数軸で表示することが一般的である。しかし、ＦＲＡを用いた閉ループ特性の測定には、フィードバックループを切断しなければならない、といった問題がある。加えて、フィードバックループ内に本来存在しない回路（信号源４４０）を挿入することや、フィードバックループを２本のプローブによってＦＲＡに接続することは、不安定要素の追加に他ならない。さらに、ＦＲＡを用いた閉ループ特性の測定には、これらのデメリットの他に、セッティングや調整に技術力が要求されるといったデメリットもあった。 FIG. 8 is a diagram showing a configuration example of a system that measures the closed loop characteristics of the control system shown in FIG. 7 using FRA 450. As shown in FIG. 8, when measuring the closed loop characteristic using the FRA 450, the feedback loop is cut, a signal source 440 for generating a measurement signal is inserted in the loop, and the signals e1 and e2 are calculated by the FRA 450. It is common to display the gain and phase on the frequency axis. However, measurement of closed loop characteristics using FRA has a problem that the feedback loop must be disconnected. In addition, inserting a circuit (signal source 440) which is not originally present in the feedback loop, and connecting the feedback loop to the FRA with two probes is nothing but the addition of an unstable element. In addition to these disadvantages, the measurement of closed-loop characteristics using FRA also has the disadvantage that technical skill is required for setting and adjustment.
図９は、本発明の第５実施形態による閉ループデジタル制御システムの伝達特性の測定例を示す図である。本実施形態では、前述の第４実施形態と同様に、デジタル入出力インタフェース２３０としてデバッグインタフェース２３０Ｃを用いた伝達特性解析装置２０Ｃが用いられる。図９における被測定器１０Ｄでは、例えばＣＰＵなどの制御部１７０が図７或いは図８におけるフィードバック演算部４３０の役割を果たす。本実施形態では、デバッグインタフェース２３０Ｃを介した通信によりループ制御信号へ測定用信号（印加データ生成部２２０により生成された波形データの示す信号）が重畳されるとともに、フィードバック信号から重畳した測定用信号成分が抽出され、重畳した測定用信号とフィードバック信号から抽出した信号とを演算することで閉ループ特性が測定される。 FIG. 9 is a diagram showing an example of measurement of the transfer characteristic of the closed loop digital control system according to the fifth embodiment of the present invention. In the present embodiment, as in the fourth embodiment described above, the transfer characteristic analyzer 20C using the debug interface 230C as the digital input / output interface 230 is used. In the device under test 10D in FIG. 9, for example, a control unit 170 such as a CPU plays a role of the feedback operation unit 430 in FIG. 7 or FIG. In the present embodiment, the measurement signal (signal indicated by the waveform data generated by the application data generation unit 220) is superimposed on the loop control signal by communication via the debug interface 230C, and the measurement signal superimposed from the feedback signal The component is extracted, and the closed loop characteristic is measured by calculating the superimposed measurement signal and the signal extracted from the feedback signal.
ここで注目すべき点は、本実施形態では、フィードバックループを切断する必要はなく、不安定要素の追加もないといった点である。このため、本実施形態には、モータや電源等の制御対象を接続し実動作させた状態での閉ループ測定を容易に行えるといったメリットがある。また、本実施形態によれば、取得した周波数データを逆フーリエ変換することで時間軸での応答特性を表示することも可能である。 The point to be noted here is that in the present embodiment, it is not necessary to cut the feedback loop, and there is no addition of an unstable factor. For this reason, the present embodiment has an advantage that the closed loop measurement can be easily performed in the state where the control objects such as the motor and the power source are connected and actually operated. Further, according to the present embodiment, it is also possible to display the response characteristic on the time axis by performing inverse Fourier transform on the acquired frequency data.
本実施形態においても、伝達特性の測定の際の被測定器１０Ｄへの入出力はデジタルデータで行われ、この点は、第１〜第４実施形態と同様である。したがって、本実施形態によれば、繊細なアナログ信号を扱うことや高価なアナログ機器を必要とすることはなく、測定誤差の少ない安定した環境で閉ループデジタル制御システムの伝達特性の測定を行うことが可能になる。以上第１〜第５実施形態にて説明したように、本発明によれば、繊細なアナログ信号を扱うことや高価なアナログ機器を必要とすることはなく、測定誤差の少ない安定した環境でデジタル制御システムの伝達特性の測定を行うことが可能になる。 Also in the present embodiment, input / output to / from the device under test 10D at the time of measurement of the transfer characteristic is performed with digital data, and this point is the same as in the first to fourth embodiments. Therefore, according to the present embodiment, it is possible to measure the transfer characteristic of the closed loop digital control system in a stable environment with little measurement error, without dealing with delicate analog signals or requiring expensive analog equipment. It will be possible. As described above in the first to fifth embodiments, according to the present invention, it is not necessary to handle delicate analog signals or require expensive analog devices, and digital in a stable environment with little measurement error. It is possible to measure the transfer characteristics of the control system.
（Ｆ：変形例）
以上本発明の各実施形態について説明したが、この実施形態に以下の変形を加えても勿論良い。
（１）上記第２実施形態におけるデジタル入出力インタフェース２３０はバスインタフェース２３０Ａであり、第３実施形態におけるデジタル入出力インタフェース２３０は外部機器インタフェース２３０Ｂであり、第４および第５実施形態におけるデジタル入出力インタフェース２３０はデバッグインタフェース２３０Ｃであった。しかし、バスインタフェース２３０Ａ、外部機器インタフェース２３０Ｂおよびデバッグインタフェース２３０Ｃのうちの任意の複数の組み合わせによりデジタル入出力インタフェース２３０を構成しても良い。
(F: Modified example)
Although each embodiment of the present invention has been described above, the following modification may of course be added to this embodiment.
(1) The digital input / output interface 230 in the second embodiment is the bus interface 230A, and the digital input / output interface 230 in the third embodiment is the external device interface 230B. The digital input / output in the fourth and fifth embodiments The interface 230 was a debug interface 230C. However, the digital input / output interface 230 may be configured by any combination of the bus interface 230A, the external device interface 230B and the debug interface 230C.
（２）第１〜第５実施形態における演算部２１０は、被測定器１０のデジタル制御システムへの入力信号の波形データをデジタル入出力インタフェースを介して被測定器１０へ与える一方、デジタル制御システムの出力信号の波形データをデジタル入出力インタフェースを介して被測定器１０から受け取り、ゲインを演算したが、ゲインに代えて位相の演算を行ってもよく、ゲインと位相のそれぞれを演算しても良い。要は、ゲインと位相の少なくとも一方を演算する態様であれば良い。 (2) The arithmetic unit 210 in the first to fifth embodiments provides waveform data of an input signal to the digital control system of the device under test 10 to the device under test 10 via the digital input / output interface, while the digital control system The waveform data of the output signal of is received from the device under test 10 via the digital input / output interface, and the gain is calculated. However, instead of the gain, phase calculation may be performed, even if each of the gain and phase is calculated. good. The point is that it is sufficient to calculate at least one of gain and phase.
（３）第１〜第５実施形態の伝達特性解析装置は、印加データ生成部２２０、処理結果取得部２４０、および描画部２５０を含んでいたが、印加データ生成部２２０、処理結果取得部２４０、および描画部２５０のうちの任意の１つまたは複数は伝達特性解析装置に接続される外部装置であっても良い。要は、本発明の伝達特性解析装置は、デジタル制御システムを含む被測定器との間でデジタルデータの授受を行うデジタル入出力インタフェースと、前記デジタル制御システムへの入力信号の波形データを前記デジタル入出力インタフェースを介して前記被測定器へ与える一方、前記デジタル制御システムの出力信号の波形データを前記デジタル入出力インタフェースを介して前記被測定器から受け取り、ゲインと位相の少なくとも一方を演算する演算部と、を有していれば良い。 (3) The transfer characteristic analysis apparatus according to the first to fifth embodiments includes the applied data generation unit 220, the processing result acquisition unit 240, and the drawing unit 250. However, the applied data generation unit 220 and the processing result acquisition unit 240 , And any one or more of the drawing units 250 may be an external device connected to the transfer characteristic analysis device. The point is that the transfer characteristic analysis apparatus of the present invention comprises a digital input / output interface for exchanging digital data with a device under test including a digital control system, and the digital data of waveform data of an input signal to the digital control system. An operation of receiving waveform data of an output signal of the digital control system from the device under test via the digital input / output interface and calculating at least one of gain and phase while applying to the device under test via the input / output interface It suffices to have a part.
１０，１０Ａ，１０Ｂ、１０Ｃ、１０Ｄ…被測定器、２０，２０Ａ，２０Ｂ、２０Ｃ…伝達特性解析装置、１１０…ＡＤ変換器、１２０…デジタルフィルタ、１３０…ＤＡ変換器、１４０…メモリ、１５０，２３０…デジタル入出力インタフェース、１５０Ａ、２３０Ａ…バスインタフェース、１５０Ｂ、２３０Ｂ…外部機器インタフェース、１５０Ｃ、２３０Ｃ…デバッグインタフェース、１６０…ＤＭＡＣ、１７０…制御部、２１０…演算部、２２０…印加データ生成部、２４０…処理結果取得部、２５０…描画部、３１０…演算装置、３２０…交流信号発生器、３３０，３４０…フィルタ、３５０…交流信号測定器、４１０…加算器、４２０…アンプ、４３０…フィードバック演算部。 10, 10A, 10B, 10C, 10D: measured device, 20, 20A, 20B, 20C: transmission characteristic analysis device, 110: AD converter, 120: digital filter, 130: DA converter, 140: memory, 150, 230 Digital input / output interface 150A, 230A Bus interface 150B, 230B External device interface 150C, 230C Debug interface 160 DMAC 170 Control unit 210 Operation unit 220 Applied data generation unit 240: processing result acquisition unit, 250: drawing unit, 310: arithmetic device, 320: AC signal generator, 330, 340: filter, 350: AC signal measuring device, 410: adder, 420: amplifier, 430: feedback operation Department.
Claims (6)
前記デジタル制御システムへの入力信号の波形データを前記デジタル入出力インタフェースを介して前記被測定器へ与える一方、前記デジタル制御システムの出力信号の波形データを前記デジタル入出力インタフェースを介して前記被測定器から受け取り、ゲインと位相の少なくとも一方を演算する演算部と、
を有することを特徴とする伝達特性解析装置。 A digital input / output interface that exchanges digital data with a device under test including a digital control system;
The waveform data of the input signal to the digital control system is provided to the device under test via the digital input / output interface, while the waveform data of the output signal of the digital control system is via the digital input / output interface Operation unit for receiving at least one of gain and phase from the
A transfer characteristic analysis device characterized by having.
前記演算部は、前記メモリから読み出した波形データを前記デジタル入出力インタフェースを介して前記被測定器へ与えることを特徴とする請求項１〜４の何れか１項に記載の伝達特性解析装置。 A memory storing waveform data of an input signal to the digital control system;
The transfer characteristic analysis apparatus according to any one of claims 1 to 4, wherein the operation unit provides waveform data read from the memory to the device under test via the digital input / output interface.
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