JP2019060851A5

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Publication number: JP2019060851A5
Application number: JP2018135146A
Authority: JP
Filing date: 2018-07-18
Publication date: 2021-07-26
Anticipated expiration: 2038-07-18

Description

本発明の他の態様に係るレンズ特性測定装置において、走査光学系から被検レンズの表面に至る線状光束の光路の途中に設けられ、線状光束の一部を分割する光分割部と、光分割部により分割された線状光束を受光する受光光学系と、受光光学系により受光された線状光束の受光位置に基づき、走査角度の測定値を取得する測定値取得部と、を備え、位置判別部は、線状光束の投影位置と、測定値取得部が取得した走査角度の測定値とに基づき、ピンホール位置を判別する。これにより、スクリーンに投影された各線状光束がそれぞれ透過したピンホール位置をより正確に判別することができる。

本発明の他の態様に係るレンズ特性測定装置において、走査光学系から出射される線状光束の走査角度を制御して、線状光束により被検レンズの表面を走査させる光学系制御部と、走査光学系から被検レンズの表面に至る線状光束の光路の途中に設けられ、線状光束の一部を分割する光分割部と、光分割部により分割された線状光束を受光する受光光学系と、受光光学系により受光された線状光束の受光位置に基づき、走査角度の測定値を取得する測定値取得部と、予め取得した走査角度の指示値と、測定値取得部が取得した測定値と、を比較した結果に基づき、光学系制御部による走査角度の制御を補正する補正部と、を備える。これにより、被検レンズの光学特性の測定精度及び光学特性のマッピング画像の再現性が向上する。

本発明の他の態様に係るレンズ特性測定装置の作動方法において、撮影光学系により撮影されたスクリーンの撮影画像を解析して、スクリーンに投影された線状光束の投影位置を取得する位置取得ステップと、スクリーンに投影された線状光束が透過したピンホールのピンホール位置を判別する位置判別ステップと、位置取得ステップで取得した投影位置と、位置判別ステップでのピンホール位置の判別結果と、既知の被検レンズ、ハルトマンプレート、及びスクリーンの位置関係と、に基づき、被検レンズの光学特性を取得する光学特性取得ステップと、を有し、位置判別ステップが、位置取得ステップで取得した線状光束の投影位置と、走査光学系による線状光束の走査角度であって且つ投影位置に投影された線状光束の走査角度とに基づき、ピンホール位置を判別し、走査光学系から被検レンズの表面に至る線状光束の光路の途中において、線状光束の一部を分割する光分割ステップと、光分割ステップで分割された線状光束を受光光学系で受光する受光ステップと、受光光学系により受光された線状光束の受光位置に基づき、走査角度の測定値を取得する測定値取得ステップと、を有し、位置判別ステップは、線状光束の投影位置と、測定値取得ステップで取得された走査角度の測定値とに基づき、ピンホール位置を判別する。

本発明の他の態様に係るレンズ特性測定装置の作動方法において、レンズ特性測定装置が、走査光学系から出射される線状光束の走査角度を制御して、線状光束により被検レンズの表面を走査させる光学系制御部を有しており、走査光学系から被検レンズの表面に至る線状光束の光路の途中において、線状光束の一部を分割する光分割ステップと、光分割ステップにて分割された線状光束を受光する受光ステップと、受光ステップで受光された線状光束の受光位置に基づき、走査角度の測定値を取得する測定値取得ステップと、予め取得した走査角度の指示値と、測定値取得ステップで取得した測定値と、を比較した結果に基づき、光学系制御部による走査角度の制御を補正する補正ステップと、を有する。

また、点像数の調整指令を受けた撮影制御部６４は、カメラ５０の撮像素子５０Ｂの駆動を制御して、撮像素子５０Ｂの露光時間（シャッター速度）を調整する。例えば、撮影制御部６４は、スキャナ４２の走査速度に基づき、点像数の調整指令で指定された数の線状光束４６による点像が１フレーム分の撮影画像５２に含まれるように、撮像素子５０Ｂの露光時間を調整する。なお、撮像素子５０Ｂの露光時間は固定して（撮像素子５０Ｂの制御は行わずに）、スキャナ４２の走査速度のみを調整してもよい。

［第４実施形態］
図１８は、第４実施形態のレンズ特性測定装置１０Ｃの機能ブロック図である。この第４実施形態のレンズ特性測定装置１０Ｃでは、既述の第３実施形態で説明した測定値取得部４１０により取得された各ガルバノミラー４２Ａの揺動角度θ，φの測定値を用いて、眼鏡レンズ１０２の光学特性（マッピング画像）を求める。

Claims

前記走査光学系から前記被検レンズの表面に至る前記線状光束の光路の途中に設けられ、前記線状光束の一部を分割する光分割部と、
前記光分割部により分割された前記線状光束を受光する受光光学系と、
前記受光光学系により受光された前記線状光束の受光位置に基づき、前記走査角度の測定値を取得する測定値取得部と、
を備え、
前記位置判別部は、前記線状光束の投影位置と、前記測定値取得部が取得した前記走査角度の測定値とに基づき、前記ピンホール位置を判別する請求項３に記載のレンズ特性測定装置。
前記走査光学系から出射される前記線状光束の走査角度を制御して、前記線状光束により前記被検レンズの表面を走査させる光学系制御部と、
前記走査光学系から前記被検レンズの表面に至る前記線状光束の光路の途中に設けられ、前記線状光束の一部を分割する光分割部と、
前記光分割部により分割された前記線状光束を受光する受光光学系と、
前記受光光学系により受光された前記線状光束の受光位置に基づき、前記走査角度の測定値を取得する測定値取得部と、
予め取得した前記走査角度の指示値と、前記測定値取得部が取得した前記測定値と、を比較した結果に基づき、前記光学系制御部による前記走査角度の制御を補正する補正部と、
を備える請求項１から８のいずれか１項に記載のレンズ特性測定装置。
前記撮影光学系により撮影された前記スクリーンの撮影画像を解析して、前記スクリーンに投影された前記線状光束の投影位置を取得する位置取得ステップと、
前記スクリーンに投影された前記線状光束が透過した前記ピンホールのピンホール位置を判別する位置判別ステップと、
前記位置取得ステップで取得した前記投影位置と、前記位置判別ステップでの前記ピンホール位置の判別結果と、既知の前記被検レンズ、前記ハルトマンプレート、及び前記スクリーンの位置関係と、に基づき、前記被検レンズの光学特性を取得する光学特性取得ステップと、
を有し、
前記位置判別ステップが、前記位置取得ステップで取得した前記線状光束の投影位置と、前記走査光学系による前記線状光束の走査角度であって且つ前記投影位置に投影された前記線状光束の走査角度とに基づき、前記ピンホール位置を判別し、
前記走査光学系から前記被検レンズの表面に至る前記線状光束の光路の途中において、前記線状光束の一部を分割する光分割ステップと、
前記光分割ステップで分割された前記線状光束を受光光学系で受光する受光ステップと、
前記受光光学系により受光された前記線状光束の受光位置に基づき、前記走査角度の測定値を取得する測定値取得ステップと、
を有し、
前記位置判別ステップは、前記線状光束の投影位置と、前記測定値取得ステップで取得された前記走査角度の測定値とに基づき、前記ピンホール位置を判別する請求項１０に記載のレンズ特性測定装置の作動方法。
前記レンズ特性測定装置が、前記走査光学系から出射される前記線状光束の走査角度を制御して、前記線状光束により前記被検レンズの表面を走査させる光学系制御部を有しており、
前記走査光学系から前記被検レンズの表面に至る前記線状光束の光路の途中において、前記線状光束の一部を分割する光分割ステップと、
前記光分割ステップにて分割された前記線状光束を受光する受光ステップと、
前記受光ステップで受光された前記線状光束の受光位置に基づき、前記走査角度の測定値を取得する測定値取得ステップと、
予め取得した前記走査角度の指示値と、前記測定値取得ステップで取得した前記測定値と、を比較した結果に基づき、前記光学系制御部による前記走査角度の制御を補正する補正ステップと、
を有する請求項１０又は１１に記載のレンズ特性測定装置の作動方法。