JP2019053098A - Electrophotographic photoreceptor, process cartridge, image forming device, and image formation method - Google Patents

Electrophotographic photoreceptor, process cartridge, image forming device, and image formation method Download PDF

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誠之 鳥越
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昌記 平方
秀弥 勝原
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秀弥 勝原
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Yoichi KIGOSHI
陽一 木越
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剛 岩永
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Abstract

To provide an electrophotographic photoreceptor which, while securing sensitivity, suppresses a rise in residual potential.SOLUTION: Provided is an electrophotographic photoreceptor comprising: a conductive substrate 1; an organic photosensitive layer provided on the conductive substrate (for example, a charge generation layer 2 and a charge transport layer 3 or an organic photosensitive layer 6 of single layer type); an inorganic protective layer 5 provided on the organic photosensitive layer and including a group 13 element and oxygen, the sum of element composition ratios of the group 13 element and the oxygen to all elements constituting the inorganic protective layer 5 being 0.70 or greater, the inorganic protective layer 5 including a first region where the sum of element composition ratios of the oxygen and the group 13 element (oxygen/group 13 element) is 1.10 to 1.30 inclusive and a second region where the sum of element composition ratios of the oxygen and the group 13 element (oxygen/group 13 element) is 1.40 to 1.50 inclusive on the organic photosensitive layer in the order stated, the second region being the uppermost layer.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、電子写真感光体、プロセスカートリッジ、画像形成装置、及び画像形成方法に関する。   The present invention relates to an electrophotographic photosensitive member, a process cartridge, an image forming apparatus, and an image forming method.

特許文献1には、基体と、感光層と、酸素及びガリウムを含有する保護層であって、外周面側に存在する第1の領域、及び、前記第1の領域よりも前記基体に近い側に存在し、前記第1の領域に比べて原子数比〔酸素/ガリウム〕が大きい第2の領域を有する保護層と、をこの順に有する電子写真感光体が記載されている。   Patent Document 1 discloses a substrate, a photosensitive layer, a protective layer containing oxygen and gallium, a first region existing on the outer peripheral surface side, and a side closer to the substrate than the first region And a protective layer having a second region having an atomic ratio [oxygen / gallium] larger than that of the first region in this order.

特許文献2には、基体と、前記基体上に設けられた感光層と、前記感光層上に設けられ、酸素及びガリウムを含有する保護層であって、外周面側に存在する第1の領域と、前記第1の領域よりも前記基体に近い側に存在し、前記第1の領域に比べて原子数比〔酸素/ガリウム〕が大きい第2の領域と、前記第2の領域よりも前記基体に近い側に存在し、前記第2の領域に比べて原子数比〔酸素/ガリウム〕が小さい第3の領域と、を有する保護層と、を備え、前記各領域において吸収係数が1×10(m−1)となる波長から得られる各光吸収端エネルギーとして、前記第1の領域における光吸収端エネルギーをFE1、前記第2の領域における光吸収端エネルギーをFE2、前記第3の領域における光吸収端エネルギーをFE3としたとき、関係式(1):0.5eV≦FE2−FE1≦1.5eV、関係式(2):0.5eV≦FE2−FE3≦1.5eV、及び、関係式(3):FE3≧FE1を満たす電子写真感光体が記載されている。 In Patent Document 2, a base, a photosensitive layer provided on the base, and a protective layer provided on the photosensitive layer and containing oxygen and gallium, the first region existing on the outer peripheral surface side. And a second region that is closer to the substrate than the first region and has a larger atomic ratio [oxygen / gallium] than the first region, and the second region than the second region. A protective layer having a third region present on a side closer to the substrate and having a smaller atomic ratio (oxygen / gallium) than the second region, and each region has an absorption coefficient of 1 × As each light absorption edge energy obtained from a wavelength of 10 6 (m −1 ), the light absorption edge energy in the first region is FE1, the light absorption edge energy in the second region is FE2, and the third The light absorption edge energy in the region is FE3. Relational expression (1): 0.5 eV ≦ FE2-FE1 ≦ 1.5 eV, Relational expression (2): 0.5 eV ≦ FE2-FE3 ≦ 1.5 eV, and Relational expression (3): FE3 ≧ FE1 An electrophotographic photoreceptor to satisfy is described.

特開2011−028218号公報JP 2011-028218 A 特開2011−197571号公報JP 2011-197571 A

例えば、無機保護層を備える電子写真感光体は、無機保護層に傷が発生する場合がある。無機保護層の機械的強度を高めるために、無機保護層の厚みを厚くすると、残留電位が上昇することがあった。一方で、残留電位の上昇を抑制するために、無機保護層を形成する材料の化学量論比を小さくした場合には、感度が低下することがあった。   For example, an electrophotographic photoreceptor provided with an inorganic protective layer may cause scratches in the inorganic protective layer. When the thickness of the inorganic protective layer is increased in order to increase the mechanical strength of the inorganic protective layer, the residual potential may increase. On the other hand, when the stoichiometric ratio of the material forming the inorganic protective layer is reduced in order to suppress the increase in the residual potential, the sensitivity may be lowered.

本発明の課題は、無機保護層を備える電子写真感光体において、無機保護層が、酸素及びガリウムの元素構成比率(酸素/ガリウム)として1.40以上1.50以下である層のみで構成されている場合、若しくは、体積抵抗率として2.0×1010Ωcm以上である層のみで構成されている場合、又は、無機保護層が、酸素及びガリウムの元素構成比率(酸素/ガリウム)として1.10以上1.30以下である層のみで構成されている場合、若しくは、体積抵抗率として2.0×10Ωcm以上1.0×1010Ωcm以下である層のみで構成されている場合に比べ、無機保護層全体の厚みが厚くなった場合であっても、感度を確保しつつ、残留電位の上昇を抑制する電子写真感光体を提供することである。 An object of the present invention is to provide an electrophotographic photosensitive member having an inorganic protective layer, wherein the inorganic protective layer is composed of only a layer having an elemental composition ratio of oxygen and gallium (oxygen / gallium) of 1.40 to 1.50. Or a volume resistivity of only 2.0 × 10 10 Ωcm or more, or the inorganic protective layer has an oxygen / gallium elemental composition ratio (oxygen / gallium) of 1 When composed of only a layer having a volume resistivity of not less than 10 and not more than 1.30, or composed of only a layer having a volume resistivity of not less than 2.0 × 10 7 Ωcm and not more than 1.0 × 10 10 Ωcm In contrast, it is an object to provide an electrophotographic photosensitive member that suppresses an increase in residual potential while ensuring sensitivity even when the thickness of the entire inorganic protective layer is increased.

上記課題は、以下の手段により解決される。   The above problem is solved by the following means.

請求項1に係る発明は、
導電性基体と、
前記導電性基体上に設けられた有機感光層と、
前記有機感光層上に設けられた無機保護層であって、第13族元素、及び酸素を含有し、無機保護層を構成する全元素に対する、前記第13族元素、及び前記酸素の元素構成比率の和が0.70以上であり、かつ、前記酸素及び前記第13族元素の元素構成比率(酸素/第13族元素)が1.10以上1.30以下である第1の領域、並びに、前記酸素及び前記第13族元素の元素構成比率(酸素/第13族元素)が1.40以上1.50以下である第2の領域を、前記有機感光層上にこの順で有し、前記第2の領域が最上層である無機保護層と、
を備えた電子写真感光体。
The invention according to claim 1
A conductive substrate;
An organic photosensitive layer provided on the conductive substrate;
An inorganic protective layer provided on the organic photosensitive layer, which contains a Group 13 element and oxygen, and the elemental composition ratio of the Group 13 element and oxygen to all elements constituting the inorganic protective layer A first region in which the sum of oxygen and the group composition element of oxygen and the group 13 element (oxygen / group 13 element) is 1.10 or more and 1.30 or less, and A second region having an elemental composition ratio of oxygen and the Group 13 element (oxygen / Group 13 element) of 1.40 to 1.50 on the organic photosensitive layer in this order; An inorganic protective layer in which the second region is the uppermost layer;
An electrophotographic photosensitive member comprising:

請求項2に係る発明は、
導電性基体と、
前記導電性基体上に設けられた有機感光層と、
前記有機感光層上に設けられた無機保護層であって、第13族元素、及び酸素を含有し、無機保護層を構成する全元素に対する、前記第13族元素、及び前記酸素の元素構成比率の和が0.70以上であり、かつ、体積抵抗率が2.0×10Ωcm以上1.0×1010Ωcm以下である第1の領域および体積抵抗率が2.0×1010Ωcm以上である第2の領域を、前記有機感光層上にこの順で有し、前記第2の領域が最上層である無機保護層と、
を備えた電子写真感光体。
The invention according to claim 2
A conductive substrate;
An organic photosensitive layer provided on the conductive substrate;
An inorganic protective layer provided on the organic photosensitive layer, which contains a Group 13 element and oxygen, and the elemental composition ratio of the Group 13 element and oxygen to all elements constituting the inorganic protective layer Of the first region having a volume resistivity of 2.0 × 10 7 Ωcm or more and 1.0 × 10 10 Ωcm or less and a volume resistivity of 2.0 × 10 10 Ωcm. An inorganic protective layer having the second region as described above on the organic photosensitive layer in this order, and the second region being the uppermost layer;
An electrophotographic photosensitive member comprising:

請求項3に係る発明は、
前記第13族元素が、ガリウムである請求項1又は請求項2に記載の電子写真感光体。
請求項4に係る発明は、
前記第1の領域の厚みが、前記第2の領域の厚みよりも薄い請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載の電子写真感光体。
請求項5に係る発明は、
前記第1の領域の厚みに対する前記第2の領域の厚みの比(第2の領域の厚み/第1の領域の厚み)が3以上100以下である請求項4に記載の電子写真感光体。
請求項6に係る発明は、
前記第1の領域の厚みが、0.01μm以上0.1μm以下であり、前記第2の領域の厚みが、0.3μm以上1.0μm以下である請求項4又は請求項5に記載の電子写真感光体。
請求項7に係る発明は、
前記無機保護層の全体の厚みが3μm以上10μm以下である請求項1〜請求項6のいずれか1項に記載の電子写真感光体。
請求項8に係る発明は、
前記無機保護層の全体の厚みが3μm以上6μm以下である請求項7に記載の電子写真感光体。
請求項9に係る発明は、
前記第1の領域および前記第2の領域が、前記第1の領域および前記第2の領域の順で繰り返し積層されている請求項1〜請求項8のいずれか1項に記載の電子写真感光体。
請求項10に係る発明は、
前記第1の領域および前記第2の領域の順で繰り返し積層された繰り返し回数が3回以上10回以下である請求項9に記載の電子写真感光体。
請求項11に係る発明は、
前記有機感光層が、電荷輸送材料、結着樹脂、及びシリカ粒子を含む層を有する請求項1〜請求項10のいずれか1項に記載の電子写真感光体。
請求項12に係る発明は、
前記シリカ粒子の含有量が、前記電荷輸送材料および前記結着樹脂を含む層の全体に対して40質量%以上80質量%以下である請求項11に記載の電子写真感光体。
請求項13に係る発明は、
前記導電性基体の厚みが1.5mm以上である請求項1〜請求項12のいずれか1項に記載の電子写真感光体。
The invention according to claim 3
The electrophotographic photosensitive member according to claim 1, wherein the group 13 element is gallium.
The invention according to claim 4
The electrophotographic photosensitive member according to claim 1, wherein a thickness of the first region is thinner than a thickness of the second region.
The invention according to claim 5
The electrophotographic photosensitive member according to claim 4, wherein a ratio of a thickness of the second region to a thickness of the first region (a thickness of the second region / a thickness of the first region) is 3 or more and 100 or less.
The invention according to claim 6
6. The electron according to claim 4, wherein the thickness of the first region is 0.01 μm or more and 0.1 μm or less, and the thickness of the second region is 0.3 μm or more and 1.0 μm or less. Photoconductor.
The invention according to claim 7 provides:
The electrophotographic photosensitive member according to claim 1, wherein the total thickness of the inorganic protective layer is 3 μm or more and 10 μm or less.
The invention according to claim 8 provides:
The electrophotographic photosensitive member according to claim 7, wherein the total thickness of the inorganic protective layer is 3 μm or more and 6 μm or less.
The invention according to claim 9 is:
The electrophotographic photosensitive member according to any one of claims 1 to 8, wherein the first region and the second region are repeatedly laminated in the order of the first region and the second region. body.
The invention according to claim 10 is:
The electrophotographic photosensitive member according to claim 9, wherein the number of repetitions in which the first region and the second region are repeatedly stacked in the order of 3 to 10 times.
The invention according to claim 11 is:
The electrophotographic photoreceptor according to any one of claims 1 to 10, wherein the organic photosensitive layer has a layer containing a charge transport material, a binder resin, and silica particles.
The invention according to claim 12
The electrophotographic photosensitive member according to claim 11, wherein the content of the silica particles is 40% by mass or more and 80% by mass or less with respect to the entire layer including the charge transport material and the binder resin.
The invention according to claim 13 is:
The electrophotographic photosensitive member according to claim 1, wherein the conductive substrate has a thickness of 1.5 mm or more.

請求項14に係る発明は、
請求項1〜請求項13のいずれか1項に記載の電子写真感光体を備え、
画像形成装置に脱着するプロセスカートリッジ。
請求項15に係る発明は、
請求項1〜請求項13のいずれか1項に記載の電子写真感光体と、
前記電子写真感光体の表面を帯電する帯電手段と、
帯電した前記電子写真感光体の表面に静電潜像を形成する静電潜像形成手段と、
トナーを含む現像剤により、前記電子写真感光体の表面に形成された静電潜像を現像してトナー像を形成する現像手段と、
前記トナー像を記録媒体の表面に転写する転写手段と、
を備える画像形成装置。
The invention according to claim 14 is:
The electrophotographic photosensitive member according to any one of claims 1 to 13,
A process cartridge that is detachable from the image forming apparatus.
The invention according to claim 15 is:
The electrophotographic photoreceptor according to any one of claims 1 to 13,
Charging means for charging the surface of the electrophotographic photosensitive member;
An electrostatic latent image forming means for forming an electrostatic latent image on the surface of the charged electrophotographic photosensitive member;
Developing means for developing the electrostatic latent image formed on the surface of the electrophotographic photosensitive member with a developer containing toner to form a toner image;
Transfer means for transferring the toner image to the surface of the recording medium;
An image forming apparatus comprising:

請求項1、3に係る発明によれば、無機保護層を備える電子写真感光体において、無機保護層が、酸素及びガリウムの元素構成比率(酸素/ガリウム)として1.40以上1.50以下である層のみ、又は、1.10以上1.30以下である層のみで構成されている場合に比べ、無機保護層全体の厚みが厚くなった場合であっても、感度を確保しつつ、残留電位の上昇を抑制する電子写真感光体が提供される。   According to the first and third aspects of the invention, in the electrophotographic photosensitive member provided with the inorganic protective layer, the inorganic protective layer has an elemental composition ratio of oxygen and gallium (oxygen / gallium) of 1.40 to 1.50. Even when the thickness of the entire inorganic protective layer is increased compared to a case where only a certain layer or only a layer which is 1.10 or more and 1.30 or less is formed, the residual property is ensured while ensuring the sensitivity. An electrophotographic photosensitive member that suppresses an increase in potential is provided.

請求項2に係る発明によれば、無機保護層を備える電子写真感光体において、体積抵抗率として2.0×1010Ωcm以上である層のみ、又は、2.0×10Ωcm以上1.0×1010Ωcm以下である層のみで構成されている場合に比べ、感度を確保しつつ、残留電位の上昇を抑制する電子写真感光体が提供される。 According to the invention of claim 2, in the electrophotographic photosensitive member provided with the inorganic protective layer, only the layer having a volume resistivity of 2.0 × 10 10 Ωcm or more, or 2.0 × 10 7 Ωcm or more. An electrophotographic photosensitive member is provided that suppresses an increase in residual potential while ensuring sensitivity as compared with a case where only a layer having a size of 0 × 10 10 Ωcm or less is formed.

請求項4、5、6に係る発明によれば、無機保護層において、第1の領域の厚みが第2の領域の厚みよりも同じまたは厚い場合に比べ、感度の低下が抑制される電子写真感光体が提供される。
請求項7、8に係る発明によれば、無機保護層全体の厚みが3μm未満である場合に比べ、無機保護層の傷の発生が抑制される電子写真感光体が提供される。
請求項9に係る発明によれば、第1の領域および第2の領域が、前記第2の領域および前記第1の領域の順で繰り返し積層されている場合に比べ、無機保護層全体の厚みが厚くなった場合であっても、感度を確保しつつ、残留電位の上昇を抑制する電子写真感光体が提供される。
請求項10に係る発明によれば、無機保護層において、第1の領域および第2の領域を繰り返し積層する繰り返し回数が3回未満の場合に比べ、無機保護層全体の厚みが厚くなった場合であっても、感度を確保しつつ、残留電位の上昇を抑制する電子写真感光体が提供される。
請求項11、12に係る発明によれば、有機感光層が、電荷発生層と電荷輸送層との機能分離型の感光層であるとき、電荷輸送層が、電荷輸送材料と結着樹脂のみ含む場合に比べ、無機保護層の傷の発生が抑制される電子写真感光体が提供される。
請求項13に係る発明によれば、導電性基体の厚みが1.5μm未満である場合に比べ、無機保護層の傷の発生が抑制される電子写真感光体が提供される。
According to the inventions according to claims 4, 5, and 6, in the inorganic protective layer, electrophotography in which a decrease in sensitivity is suppressed as compared with the case where the thickness of the first region is the same or thicker than the thickness of the second region A photoreceptor is provided.
According to the seventh and eighth aspects of the invention, there is provided an electrophotographic photoreceptor in which the generation of scratches on the inorganic protective layer is suppressed as compared with the case where the thickness of the entire inorganic protective layer is less than 3 μm.
According to the invention of claim 9, the thickness of the entire inorganic protective layer is greater than when the first region and the second region are repeatedly laminated in the order of the second region and the first region. Even when the thickness of the electrophotographic photosensitive member is increased, an electrophotographic photosensitive member is provided which suppresses an increase in residual potential while ensuring sensitivity.
According to the invention of claim 10, in the inorganic protective layer, when the total thickness of the inorganic protective layer is thicker than when the number of repetitions of repeatedly laminating the first region and the second region is less than 3 times. Even so, it is possible to provide an electrophotographic photosensitive member that suppresses an increase in residual potential while ensuring sensitivity.
According to the inventions according to claims 11 and 12, when the organic photosensitive layer is a function-separated type photosensitive layer of the charge generation layer and the charge transport layer, the charge transport layer contains only the charge transport material and the binder resin. Compared to the case, an electrophotographic photoreceptor in which the generation of scratches on the inorganic protective layer is suppressed is provided.
According to the thirteenth aspect of the present invention, there is provided an electrophotographic photosensitive member in which the generation of scratches on the inorganic protective layer is suppressed as compared with the case where the thickness of the conductive substrate is less than 1.5 μm.

請求項14又は15に係る発明によれば、無機保護層を備える電子写真感光体において、無機保護層が、酸素及びガリウムの元素構成比率(酸素/ガリウム)として1.40以上1.50以下である層のみ、若しくは、体積抵抗率として2.0×1010Ωcm以上である層のみで構成されている場合、又は、酸素及びガリウムの元素構成比率(酸素/ガリウム)として1.10以上1.30以下である層のみで構成されている場合、若しくは、体積抵抗率として2.0×10Ωcm以上1.0×1010Ωcm以下である層のみで構成されている場合に比べ、無機保護層全体の厚みが厚くなった場合であっても、感度を確保しつつ、残留電位の上昇を抑制する電子写真感光体を備えるプロセスカートリッジ、又は画像形成装置が提供される。 According to the invention of claim 14 or 15, in the electrophotographic photosensitive member provided with the inorganic protective layer, the inorganic protective layer has an elemental composition ratio of oxygen and gallium (oxygen / gallium) of 1.40 or more and 1.50 or less. When it is composed of only a certain layer or only a layer having a volume resistivity of 2.0 × 10 10 Ωcm or more, or an element composition ratio of oxygen and gallium (oxygen / gallium) of 1.10 or more. Compared to the case where it is composed of only a layer having a volume resistivity of 30 or less, or the case where it is composed of only a layer having a volume resistivity of 2.0 × 10 7 Ωcm or more and 1.0 × 10 10 Ωcm or less. Provided is a process cartridge or an image forming apparatus including an electrophotographic photosensitive member that suppresses an increase in residual potential while ensuring sensitivity even when the thickness of the entire layer is increased. .

本実施形態の電子写真感光体の層構成の一例を示す模式断面図である。FIG. 3 is a schematic cross-sectional view illustrating an example of a layer configuration of the electrophotographic photosensitive member of the present embodiment. 本実施形態の電子写真感光体の層構成の別の一例を示す模式断面図である。It is a schematic cross section showing another example of the layer configuration of the electrophotographic photosensitive member of the present embodiment. 本実施形態の電子写真感光体の層構成の別の一例を示す模式断面図である。It is a schematic cross section showing another example of the layer configuration of the electrophotographic photosensitive member of the present embodiment. 本実施形態の電子写真感光体の層構成の別の一例を示す模式断面図である。It is a schematic cross section showing another example of the layer configuration of the electrophotographic photosensitive member of the present embodiment. 本実施形態の電子写真感光体の無機保護層の形成に用いる成膜装置の一例を示す概略模式図である。It is a schematic diagram showing an example of a film forming apparatus used for forming the inorganic protective layer of the electrophotographic photosensitive member of the present embodiment. 本実施形態の電子写真感光体の無機保護層の形成に用いるプラズマ発生装置の例を示す概略模式図である。It is a schematic diagram which shows the example of the plasma generator used for formation of the inorganic protective layer of the electrophotographic photoreceptor of this embodiment. 本実施形態に係る画像形成装置の一例を示す概略構成図である。1 is a schematic configuration diagram illustrating an example of an image forming apparatus according to an exemplary embodiment. 本実施形態に係る画像形成装置の他の一例を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows another example of the image forming apparatus which concerns on this embodiment.

以下、本発明の実施形態について、詳細に説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail.

[電子写真感光体]
第1の実施形態に係る電子写真感光体は、導電性基体と、導電性基体上に設けられた有機感光層と、有機感光層上に設けられた無機保護層であって、第13族元素、及び酸素を含有し、無機保護層を構成する全元素に対する、第13族元素、及び酸素の元素構成比率の和が0.70以上であり、かつ、酸素及び第13族元素の元素構成比率(酸素/第13族元素)が1.10以上1.30以下である第1の領域、並びに、酸素及び前記第13族元素の元素構成比率(酸素/第13族元素)が1.40以上1.50以下である第2の領域を、有機感光層上にこの順で有し、第2の領域が最上層である無機保護層と、を備える。
[Electrophotographic photoreceptor]
The electrophotographic photosensitive member according to the first embodiment includes a conductive substrate, an organic photosensitive layer provided on the conductive substrate, and an inorganic protective layer provided on the organic photosensitive layer, and includes a group 13 element. And the sum of the elemental composition ratios of the group 13 element and oxygen with respect to all the elements that contain oxygen and constitute the inorganic protective layer is 0.70 or more, and the elemental composition ratio of oxygen and the group 13 element The first region where (oxygen / Group 13 element) is 1.10 or more and 1.30 or less, and the elemental composition ratio of oxygen and the Group 13 element (oxygen / Group 13 element) is 1.40 or more. And an inorganic protective layer having a second region of 1.50 or less in this order on the organic photosensitive layer, the second region being the uppermost layer.

第2の実施形態に係る電子写真感光体は、導電性基体と、導電性基体上に設けられた有機感光層と、有機感光層上に設けられた無機保護層であって、第13族元素、及び酸素を含有し、無機保護層を構成する全元素に対する、第13族元素、及び酸素の元素構成比率の和が0.70以上であり、かつ、体積抵抗率が2.0×10Ωcm以上1.0×1010Ωcm以下である第1の領域および体積抵抗率が2.0×1010Ωcm以上である第2の領域を、有機感光層上にこの順で有し、第2の領域が最上層である無機保護層と、を備える。 An electrophotographic photoreceptor according to a second embodiment includes a conductive substrate, an organic photosensitive layer provided on the conductive substrate, an inorganic protective layer provided on the organic photosensitive layer, and a Group 13 element. And the sum of the elemental composition ratios of the group 13 element and oxygen with respect to all the elements that contain oxygen and constitute the inorganic protective layer is 0.70 or more, and the volume resistivity is 2.0 × 10 7. A first region having a resistance of Ωcm to 1.0 × 10 10 Ωcm and a second region having a volume resistivity of 2.0 × 10 10 Ωcm or more are provided in this order on the organic photosensitive layer. And an inorganic protective layer whose uppermost layer is the uppermost layer.

第1の実施形態、及び第2の実施形態(本明細書中において、第1の実施形態、及び第2の実施形態に共通する事項については、「本実施形態」と称する)に係る電子写真感光体は、具体的には、有機感光層が単層型の有機感光層の場合、有機感光層は、例えば、電荷発生材料、電荷輸送材料、および結着樹脂を含む。
一方、有機感光層が機能分離型の有機感光層の場合、有機感光層は、電荷発生層と、電荷輸送層と、を導電性基体上にこの順で有する有機感光層であることが好ましく、この電荷輸送層は、例えば、電荷輸送材料、結着樹脂を含む。電荷輸送層は、2層以上で構成されていてもよい。
Electrophotography according to the first embodiment and the second embodiment (in this specification, matters common to the first embodiment and the second embodiment are referred to as “this embodiment”). Specifically, when the organic photosensitive layer is a single-layer type organic photosensitive layer, the organic photosensitive layer includes, for example, a charge generation material, a charge transport material, and a binder resin.
On the other hand, when the organic photosensitive layer is a function-separated type organic photosensitive layer, the organic photosensitive layer is preferably an organic photosensitive layer having a charge generation layer and a charge transport layer in this order on a conductive substrate, This charge transport layer includes, for example, a charge transport material and a binder resin. The charge transport layer may be composed of two or more layers.

ここで、従来、有機感光層上に、無機保護層を形成する技術が知られている。
有機感光層は柔軟性を有し、変形し易い傾向がある一方で、無機保護層は硬質ではあるが靭性に劣る傾向がある。そのため、無機保護層に傷が発生することがある。
Here, conventionally, a technique for forming an inorganic protective layer on an organic photosensitive layer is known.
While the organic photosensitive layer has flexibility and tends to be deformed, the inorganic protective layer tends to be inferior in toughness although it is hard. Therefore, the inorganic protective layer may be damaged.

例えば、現像工程において、現像手段からキャリアが飛散し、飛散したキャリアが電子写真感光体に付着した場合、電子写真感光体に付着したままキャリアが転写位置に到達する。そして、転写位置では、キャリアが電子写真感光体と転写手段と間に挟まった状態で、押圧力を受ける。このため、無機保護層は、例えば、電子写真感光体と転写手段との間でキャリアが擦れることにより、傷(打痕状の傷、スジ状の傷など)が生じる場合がある。   For example, in the developing process, when the carrier scatters from the developing means and the scattered carrier adheres to the electrophotographic photosensitive member, the carrier reaches the transfer position while adhering to the electrophotographic photosensitive member. At the transfer position, a pressing force is applied with the carrier sandwiched between the electrophotographic photosensitive member and the transfer means. For this reason, the inorganic protective layer may cause scratches (such as dent-like scratches and streak-like scratches) when the carrier rubs between the electrophotographic photosensitive member and the transfer unit.

無機保護層の機械的強度を向上させるために、例えば、無機保護層の厚みを厚くすることが考えられる。しかしながら、無機保護層の厚みを厚くすると、無機保護層に電荷が蓄積しやすくなるため、残留電位が上昇する場合がある。
一方で、残留電位の上昇を抑制するために、無機保護層を形成する材料の化学量論比を小さくすることが考えられる。化学量論比が小さい無機保護層は、電荷の蓄積が抑制されやすい。しかしながら、無機保護層を形成する材料の化学量論比を小さくすると、無機保護層が着色しやすくなるため、電位を低下させるための露光量が大きくなる。そのため、感度が低下する場合がある。
In order to improve the mechanical strength of the inorganic protective layer, for example, it is conceivable to increase the thickness of the inorganic protective layer. However, when the thickness of the inorganic protective layer is increased, charges are likely to accumulate in the inorganic protective layer, so that the residual potential may increase.
On the other hand, in order to suppress an increase in residual potential, it is conceivable to reduce the stoichiometric ratio of the material forming the inorganic protective layer. An inorganic protective layer having a small stoichiometric ratio tends to suppress charge accumulation. However, if the stoichiometric ratio of the material forming the inorganic protective layer is reduced, the inorganic protective layer is likely to be colored, so that the exposure amount for reducing the potential is increased. As a result, the sensitivity may decrease.

これに対し、本実施形態に係る電子写真感光体は、無機保護層が、第13族元素、及び酸素を含有し、無機保護層を構成する全元素に対する、第13族元素、及び酸素の元素構成比率の和が0.70以上である。
そして、第1の実施形態の電子写真感光体では、無機保護層は、酸素及び第13族元素の元素構成比率(酸素/第13族元素)が1.10以上1.30以下ある第1の領域と、酸素/第13族元素が1.40以上1.50以下である第2の領域とを、感光層上にこの順で有する。なお、第2の領域は無機保護層の最上層である。
また、第2の実施形態の電子写真感光体では、無機保護層は、体積抵抗率が2.0×10Ωcm以上1.0×1010Ωcm以下である第1の領域および体積抵抗率が2.0×1010Ωcm以上である第2の領域を、感光層上にこの順で有する。なお、第2の領域は無機保護層の最上層である。
On the other hand, in the electrophotographic photosensitive member according to this embodiment, the inorganic protective layer contains a Group 13 element and oxygen, and the Group 13 element and the oxygen element with respect to all elements constituting the inorganic protective layer. The sum of the composition ratios is 0.70 or more.
In the electrophotographic photosensitive member according to the first embodiment, the inorganic protective layer has a first elemental ratio of oxygen and a Group 13 element (oxygen / Group 13 element) of 1.10 to 1.30. A region and a second region having an oxygen / group 13 element of 1.40 to 1.50 on the photosensitive layer in this order. The second region is the uppermost layer of the inorganic protective layer.
In the electrophotographic photosensitive member of the second embodiment, the inorganic protective layer has a first region having a volume resistivity of 2.0 × 10 7 Ωcm or more and 1.0 × 10 10 Ωcm or less and a volume resistivity. A second region having a size of 2.0 × 10 10 Ωcm or more is provided on the photosensitive layer in this order. The second region is the uppermost layer of the inorganic protective layer.

第1の実施形態の電子写真感光体において、無機保護層は、化学量論比の小さい第1の領域上に、化学量論比に近い第2の領域が形成されている。化学量論比の小さい第1の領域では、酸素欠損が生じているため、電荷が移動しやすい。その結果、電界が加えられたときに、第2の領域の電子が第1の領域に供給されることで、電荷の蓄積が抑制されるため、電位が低下しやすくなる。その結果、無機保護層は、残留電位の上昇が抑制されると考えられる。また、化学量論比の小さい第1の領域は、化学量論比に近い第2の領域に比べ、着色しやすい。着色しやすい第1の領域の上に形成された第2の領域が無機保護層の最上層となっていることにより、光の透過率の低下が抑制されるため、感度の低下が抑制されると考えられる。   In the electrophotographic photosensitive member of the first embodiment, the inorganic protective layer has a second region close to the stoichiometric ratio formed on the first region having a small stoichiometric ratio. In the first region having a small stoichiometric ratio, oxygen vacancies are generated, and thus electric charges are likely to move. As a result, when an electric field is applied, electrons in the second region are supplied to the first region, whereby charge accumulation is suppressed, and the potential is likely to decrease. As a result, the inorganic protective layer is considered to suppress an increase in residual potential. In addition, the first region having a small stoichiometric ratio is more likely to be colored than the second region having a close stoichiometric ratio. Since the second region formed on the first region that is easy to be colored is the uppermost layer of the inorganic protective layer, a decrease in light transmittance is suppressed, so that a decrease in sensitivity is suppressed. it is conceivable that.

また、第2の実施形態の電子写真感光体において、無機保護層は、体積抵抗率が低い第1の領域上に、体積抵抗率が高い第2の領域が形成されている。第1の領域では、抵抗が低いために電子が流れやすく、第2の領域の電子が第1の領域に供給されるために、電荷蓄積が抑制されると考えられる。その結果、残留電位の上昇が抑制されると考えられる。また、着色し難い高抵抗の第2の領域が無機保護層の最上層となっている点、および、電荷が移動しやすい低抵抗の第1の領域が、第2の領域の下に形成されている点で、表面電位を減衰させるための露光量が低減すると考えられる。その結果、感度の低下が抑制されると考えられる。   In the electrophotographic photosensitive member of the second embodiment, the inorganic protective layer has a second region having a high volume resistivity formed on a first region having a low volume resistivity. In the first region, since the resistance is low, electrons flow easily, and the electrons in the second region are supplied to the first region, so that it is considered that charge accumulation is suppressed. As a result, it is considered that the increase in residual potential is suppressed. In addition, a high-resistance second region that is difficult to be colored is the uppermost layer of the inorganic protective layer, and a low-resistance first region in which charges easily move is formed below the second region. Therefore, it is considered that the exposure amount for attenuating the surface potential is reduced. As a result, it is considered that the decrease in sensitivity is suppressed.

以上から、本実施形態(第1の実施形態、及び第2の実施形態)に係る電子写真感光体では、上記構成により、無機保護層全体の厚みが厚くなった場合であっても、感度を確保しつつ、残留電位の上昇が抑制されると推測される。   From the above, in the electrophotographic photosensitive member according to the present embodiment (the first embodiment and the second embodiment), the sensitivity is improved even when the thickness of the entire inorganic protective layer is increased due to the above configuration. It is presumed that the increase in the residual potential is suppressed while ensuring.

なお、第1の領域および第2の領域が、感光層に、感光層側からこの順で、繰り返し積層することで、無機保護層全体の厚みが厚くなった場合であっても、より感度を確保しつつ、残留電位の上昇が抑制されやすくなる。第1の領域および第2の領域を、感光層上に、繰り返し積層して(例えば、繰り返し回数が3回以上10回以下など)、目的とする厚みの無機保護層を形成すると、厚みが薄い第1の領域と第2の領域とを多数有することになる。そのため、電子が流れやすい第1の領域が第2の領域に接して多数形成されことで、無機保護層全体で電荷が移動しやすくなり、第2の領域では電荷蓄積が低減することで残留電位の上昇を抑制しやすくなると考えられる。また、第2の領域の厚みが薄いため、感度が確保されやすくなると考えられる。   The first region and the second region are repeatedly laminated in this order from the photosensitive layer side to the photosensitive layer, so that even if the thickness of the entire inorganic protective layer is increased, the sensitivity is further improved. While ensuring, it becomes easy to suppress the rise in the residual potential. When the first region and the second region are repeatedly laminated on the photosensitive layer (for example, the number of repetitions is 3 to 10) to form an inorganic protective layer having a desired thickness, the thickness is thin. A large number of first regions and second regions are provided. Therefore, a large number of first regions in which electrons easily flow are formed in contact with the second region, so that charges easily move in the entire inorganic protective layer, and charge accumulation is reduced in the second region, thereby reducing the residual potential. It is thought that it becomes easy to suppress the rise of Moreover, since the thickness of the second region is thin, it is considered that sensitivity is easily secured.

また、本実施形態に係る電子写真感光体は、無機保護層全体の厚みが厚くなった場合であっても、感度を確保しつつ、残留電位の上昇が抑制されるため、無機保護層全体の厚みを厚くすることができる。そのため、無機保護層の傷の発生も抑制されやすくなる。さらに、最表面が上記の第2の領域で形成されていることから、無機保護層の機械的強度が向上しやすくなるため、この点でも、無機保護層の傷の発生も抑制されやすくなる。   In addition, the electrophotographic photosensitive member according to the present embodiment suppresses an increase in residual potential while ensuring sensitivity even when the thickness of the entire inorganic protective layer is increased. The thickness can be increased. Therefore, it becomes easy to suppress generation | occurrence | production of the damage | wound of an inorganic protective layer. Furthermore, since the outermost surface is formed by the second region, the mechanical strength of the inorganic protective layer is easily improved. In this respect as well, the occurrence of scratches on the inorganic protective layer is easily suppressed.

ここで、本実施形態に係る電子写真感光体の有機感光層には、シリカ粒子を含んでいてもよい。有機感光層に、シリカ粒子を用いることで、シリカ粒子が有機感光層の補強材としての機能を果すと考えられる。そのため、有機感光層が変形し難くなることにより、無機保護層の割れが抑制されると考えられる。
例えば、有機感光層が、単層型の有機感光層の場合、有機感光層には、さらに、シリカ粒子を含んでいてもよい。また、有機感光層が機能分離型の有機感光層の場合、電荷輸送層は、さらに、シリカ粒子を含んでいてもよい。ただし、電荷輸送層が2層以上で構成される場合であって、シリカ粒子が用いられる場合、表面を構成する層(電荷輸送層の最上層)の電荷輸送層が、電荷輸送材料、結着樹脂、及びシリカ粒子を含んで構成されることがよい。
Here, the organic photosensitive layer of the electrophotographic photoreceptor according to the exemplary embodiment may include silica particles. By using silica particles in the organic photosensitive layer, it is considered that the silica particles function as a reinforcing material for the organic photosensitive layer. Therefore, it is considered that cracking of the inorganic protective layer is suppressed by making the organic photosensitive layer difficult to deform.
For example, when the organic photosensitive layer is a single-layer type organic photosensitive layer, the organic photosensitive layer may further contain silica particles. When the organic photosensitive layer is a function-separated type organic photosensitive layer, the charge transport layer may further contain silica particles. However, when the charge transport layer is composed of two or more layers and silica particles are used, the charge transport layer of the layer constituting the surface (the uppermost layer of the charge transport layer) is a charge transport material, a binder. It is good to be comprised including resin and a silica particle.

以下、本実施形態に係る電子写真感光体について図面を参照しつつ詳細に説明する。なお、図面中、同一又は相当部分には同一符号を付することとし、重複する説明は省略する。
図1は、本実施形態に係る電子写真感光体の一例を示す模式断面図である。図2、図3、及び図4は、それぞれ本実施形態に係る電子写真感光体の他の一例を示す模式断面図である。
Hereinafter, the electrophotographic photoreceptor according to the exemplary embodiment will be described in detail with reference to the drawings. In the drawings, the same or corresponding parts are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted.
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing an example of an electrophotographic photosensitive member according to this embodiment. 2, 3 and 4 are schematic cross-sectional views showing other examples of the electrophotographic photosensitive member according to the present embodiment, respectively.

図1に示す電子写真感光体7Aは、いわゆる機能分離型感光体(又は積層型感光体)であり、導電性基体4上に下引層1が設けられ、その上に電荷発生層2、電荷輸送層3、及び無機保護層5が順次形成された構造を有するものである。電子写真感光体7Aにおいては、電荷発生層2及び電荷輸送層3により有機感光層が構成されている。また、無機保護層5は、電荷輸送層3上に、第1の領域5Aと第2の領域5Bが形成されている。なお、電荷輸送層3は、電荷輸送材料、及び結着樹脂を含んで構成され、必要に応じて、シリカ粒子が含有される。   An electrophotographic photoreceptor 7A shown in FIG. 1 is a so-called function-separated photoreceptor (or laminated photoreceptor), and an undercoat layer 1 is provided on a conductive substrate 4, on which a charge generation layer 2 and a charge are formed. The transport layer 3 and the inorganic protective layer 5 have a structure formed in order. In the electrophotographic photoreceptor 7A, an organic photosensitive layer is constituted by the charge generation layer 2 and the charge transport layer 3. In the inorganic protective layer 5, the first region 5 </ b> A and the second region 5 </ b> B are formed on the charge transport layer 3. The charge transport layer 3 includes a charge transport material and a binder resin, and contains silica particles as necessary.

図2に示す電子写真感光体7Bは、図1に示す電子写真感光体7Aと同様に電荷発生層2と電荷輸送層3とに機能が分離され、さらに電荷輸送層3が機能分離された機能分離型感光体である。また、図3に示す電子写真感光体7Cは、電荷発生材料と電荷輸送材料とを同一の層(単層型有機感光層6(電荷発生/電荷輸送層))に含有するものである。   The electrophotographic photoreceptor 7B shown in FIG. 2 has a function separated into the charge generation layer 2 and the charge transport layer 3 as in the electrophotographic photoreceptor 7A shown in FIG. It is a separation type photoreceptor. 3 includes the charge generation material and the charge transport material in the same layer (single layer type organic photosensitive layer 6 (charge generation / charge transport layer)).

図2に示す電子写真感光体7Bにおいては、導電性基体4上に下引層1が設けられ、その上に、電荷発生層2、電荷輸送層3B、電荷輸送層3A及び無機保護層5が順次形成された構造を有するものである。電子写真感光体7Bにおいては、電荷輸送層3A、電荷輸送層3B及び電荷発生層2により有機感光層が構成されている。
そして、図1に示す電子写真感光体7Aと同様に、無機保護層5は、電荷輸送層3上に、第1の領域5Aと第2の領域5Bが形成されている。なお、電荷輸送層3Aおよび電荷輸送層3Bは、電荷輸送材料、及び結着樹脂を含んで構成されている。また、電荷輸送層3Aは、必要に応じて、シリカ粒子が含有される。シリカ粒子を用いる場合は、電荷輸送層3Aに含有させ、電荷輸送層3Bは、シリカ粒子を含んでいてもよく、含んでいなくてもよい。
In the electrophotographic photoreceptor 7B shown in FIG. 2, an undercoat layer 1 is provided on a conductive substrate 4, and a charge generation layer 2, a charge transport layer 3B, a charge transport layer 3A, and an inorganic protective layer 5 are formed thereon. It has a structure formed sequentially. In the electrophotographic photoreceptor 7B, an organic photosensitive layer is constituted by the charge transport layer 3A, the charge transport layer 3B, and the charge generation layer 2.
As in the electrophotographic photoreceptor 7 </ b> A shown in FIG. 1, the inorganic protective layer 5 has a first region 5 </ b> A and a second region 5 </ b> B formed on the charge transport layer 3. The charge transport layer 3A and the charge transport layer 3B are configured to include a charge transport material and a binder resin. The charge transport layer 3A contains silica particles as necessary. When silica particles are used, they are contained in the charge transport layer 3A, and the charge transport layer 3B may or may not contain silica particles.

図3に示す電子写真感光体7Cにおいては、導電性基体4上に下引層1が設けられ、その上に単層型有機感光層6、無機保護層5が順次形成された構造を有するものである。
なお、単層型有機感光層6は、電荷輸送材料、及び結着樹脂を含み、必要に応じて、シリカ粒子を含んで構成されている。
The electrophotographic photoreceptor 7C shown in FIG. 3 has a structure in which an undercoat layer 1 is provided on a conductive substrate 4, and a single-layer type organic photosensitive layer 6 and an inorganic protective layer 5 are sequentially formed thereon. It is.
The single-layer type organic photosensitive layer 6 includes a charge transport material and a binder resin, and includes silica particles as necessary.

図4に示す電子写真感光体7Dは、図1に示す電子写真感光体7Aと同様に導電性基体4上に下引層1が設けられ、その上に電荷発生層2、電荷輸送層3、及び無機保護層5が順次形成された構造を有するものである。また、図1に示す電子写真感光体7Aと同様に、無機保護層5は、電荷輸送層3上に、第1の領域5Aと第2の領域5Bが形成されている。ただし、電子写真感光体7Dにおいては、無機保護層5が、電荷輸送層3側から、第1の領域5Aと第2の領域5Bとが、この順で繰り返し積層されている。電子写真感光体7Dでは、第1の領域5Aと第2の領域5Bとが積層される繰り返し回数は3回で構成されている。
なお、電荷輸送層3は、電荷輸送材料、及び結着樹脂を含んで構成され、必要に応じて、シリカ粒子が含有される。また、第1の領域5Aと第2の領域5Bとが積層される繰り返し回数は3回に限らず、4回以上でもよい。
In the electrophotographic photoreceptor 7D shown in FIG. 4, the undercoat layer 1 is provided on the conductive substrate 4 like the electrophotographic photoreceptor 7A shown in FIG. 1, and the charge generation layer 2, the charge transport layer 3, And the inorganic protective layer 5 has the structure formed sequentially. As in the electrophotographic photoreceptor 7A shown in FIG. 1, the inorganic protective layer 5 has a first region 5A and a second region 5B formed on the charge transport layer 3. However, in the electrophotographic photoreceptor 7D, the inorganic protective layer 5 includes the first region 5A and the second region 5B which are repeatedly laminated in this order from the charge transport layer 3 side. In the electrophotographic photoreceptor 7D, the first region 5A and the second region 5B are stacked three times.
The charge transport layer 3 includes a charge transport material and a binder resin, and contains silica particles as necessary. In addition, the number of repetitions in which the first region 5A and the second region 5B are stacked is not limited to three, and may be four or more.

なお、図1、図2、図3、および図4に示す各電子写真感光体において、下引層1は設けてもよいし、設けなくてもよい。また、図1、図2、および図3に示す各電子写真感光体は、図4に示す電子写真感光体7Dのように、第1の領域5Aと第2の領域5Bとが、この順で繰り返し積層されていてもよい。   In each of the electrophotographic photosensitive members shown in FIGS. 1, 2, 3, and 4, the undercoat layer 1 may or may not be provided. In addition, each electrophotographic photosensitive member shown in FIGS. 1, 2, and 3 has a first region 5A and a second region 5B in this order as in the electrophotographic photosensitive member 7D shown in FIG. You may laminate | stack repeatedly.

以下、代表例として図1に示す電子写真感光体7Aに基づいて、各要素について説明する。なお、符号は省略して説明する場合がある。   Hereinafter, each element will be described based on the electrophotographic photosensitive member 7A shown in FIG. 1 as a representative example. In some cases, the reference numerals are omitted.

(導電性基体)
導電性基体としては、例えば、金属(アルミニウム、銅、亜鉛、クロム、ニッケル、モリブデン、バナジウム、インジウム、金、白金等)又は合金(ステンレス鋼等)を含む金属板、金属ドラム、及び金属ベルト等が挙げられる。また、導電性基体としては、例えば、導電性化合物(例えば導電性ポリマー、酸化インジウム等)、金属(例えばアルミニウム、パラジウム、金等)又は合金を塗布、蒸着又はラミネートした紙、樹脂フィルム、ベルト等も挙げられる。ここで、「導電性」とは体積抵抗率が1013Ωcm未満であることをいう。
(Conductive substrate)
Examples of the conductive substrate include metal plates (eg, aluminum, copper, zinc, chromium, nickel, molybdenum, vanadium, indium, gold, platinum, etc.) or alloys (stainless steel, etc.), metal drums, metal belts, etc. Is mentioned. In addition, as the conductive substrate, for example, paper, resin film, belt, etc. coated, vapor-deposited or laminated with a conductive compound (for example, conductive polymer, indium oxide, etc.), metal (for example, aluminum, palladium, gold, etc.) or an alloy, etc. Also mentioned. Here, “conductive” means that the volume resistivity is less than 10 13 Ωcm.

導電性基体の表面は、電子写真感光体がレーザプリンタに使用される場合、レーザ光を照射する際に生じる干渉縞を抑制する目的で、中心線平均粗さRaで0.04μm以上0.5μm以下に粗面化されていることが好ましい。なお、非干渉光を光源に用いる場合、干渉縞防止の粗面化は、特に必要ないが、導電性基体の表面の凹凸による欠陥の発生を抑制するため、より長寿命化に適する。   When the electrophotographic photosensitive member is used in a laser printer, the surface of the conductive substrate has a center line average roughness Ra of 0.04 μm or more and 0.5 μm for the purpose of suppressing interference fringes generated when laser light is irradiated. The surface is preferably roughened below. When non-interfering light is used as a light source, roughening for preventing interference fringes is not particularly required, but it is suitable for extending the life because it suppresses generation of defects due to irregularities on the surface of the conductive substrate.

粗面化の方法としては、例えば、研磨剤を水に懸濁させて導電性基体に吹き付けることによって行う湿式ホーニング、回転する砥石に導電性基体を圧接し、連続的に研削加工を行うセンタレス研削、陽極酸化処理等が挙げられる。   Examples of roughening methods include wet honing by suspending an abrasive in water and spraying the conductive substrate, centerless grinding in which the conductive substrate is pressed against a rotating grindstone, and grinding is performed continuously. And anodizing treatment.

粗面化の方法としては、導電性基体の表面を粗面化することなく、導電性又は半導電性粉体を樹脂中に分散させて、導電性基体の表面上に層を形成し、その層中に分散させる粒子により粗面化する方法も挙げられる。   As a roughening method, without roughening the surface of the conductive substrate, conductive or semiconductive powder is dispersed in the resin to form a layer on the surface of the conductive substrate. A method of roughening with particles dispersed in the layer may also be mentioned.

陽極酸化による粗面化処理は、金属製(例えばアルミニウム製)の導電性基体を陽極とし電解質溶液中で陽極酸化することにより導電性基体の表面に酸化膜を形成するものである。電解質溶液としては、例えば、硫酸溶液、シュウ酸溶液等が挙げられる。しかし、陽極酸化により形成された多孔質陽極酸化膜は、そのままの状態では化学的に活性であり、汚染され易く、環境による抵抗変動も大きい。そこで、多孔質陽極酸化膜に対して、酸化膜の微細孔を加圧水蒸気又は沸騰水中(ニッケル等の金属塩を加えてもよい)で水和反応による体積膨張でふさぎ、より安定な水和酸化物に変える封孔処理を行うことが好ましい。   In the roughening treatment by anodic oxidation, a metal (for example, aluminum) conductive substrate is used as an anode, and an oxide film is formed on the surface of the conductive substrate by anodizing in an electrolyte solution. Examples of the electrolyte solution include a sulfuric acid solution and an oxalic acid solution. However, the porous anodic oxide film formed by anodic oxidation is chemically active as it is, easily contaminated, and has a large resistance fluctuation due to the environment. Therefore, the pores of the oxide film are blocked by the volume expansion due to the hydration reaction in pressurized water vapor or boiling water (a metal salt such as nickel may be added) against the porous anodic oxide film, and more stable hydration oxidation It is preferable to perform a sealing treatment for changing to a product.

陽極酸化膜の膜厚は、例えば、0.3μm以上15μm以下が好ましい。この膜厚が上記範囲内にあると、注入に対するバリア性が発揮される傾向があり、また繰り返し使用による残留電位の上昇が抑えられる傾向にある。   The thickness of the anodized film is preferably, for example, 0.3 μm or more and 15 μm or less. When this film thickness is within the above range, the barrier property against implantation tends to be exhibited, and the increase in residual potential due to repeated use tends to be suppressed.

導電性基体には、酸性処理液による処理又はベーマイト処理を施してもよい。
酸性処理液による処理は、例えば、以下のようにして実施される。先ず、リン酸、クロム酸及びフッ酸を含む酸性処理液を調製する。酸性処理液におけるリン酸、クロム酸及びフッ酸の配合割合は、例えば、リン酸が10質量%以上11質量%以下の範囲、クロム酸が3質量%以上5質量%以下の範囲、フッ酸が0.5質量%以上2質量%以下の範囲であって、これらの酸全体の濃度は13.5質量%以上18質量%以下の範囲がよい。処理温度は例えば42℃以上48℃以下が好ましい。被膜の膜厚は、0.3μm以上15μm以下が好ましい。
The conductive substrate may be treated with an acidic treatment liquid or boehmite treatment.
The treatment with the acidic treatment liquid is performed as follows, for example. First, an acidic treatment liquid containing phosphoric acid, chromic acid and hydrofluoric acid is prepared. The mixing ratio of phosphoric acid, chromic acid and hydrofluoric acid in the acidic treatment liquid is, for example, in the range of 10% by mass to 11% by mass of phosphoric acid, in the range of 3% by mass to 5% by mass of chromic acid, The concentration of these acids is preferably in the range of 13.5% by mass or more and 18% by mass or less. The treatment temperature is preferably 42 ° C. or higher and 48 ° C. or lower, for example. The film thickness is preferably from 0.3 μm to 15 μm.

ベーマイト処理は、例えば90℃以上100℃以下の純水中に5分から60分間浸漬すること、又は90℃以上120℃以下の加熱水蒸気に5分から60分間接触させて行う。被膜の膜厚は、0.1μm以上5μm以下が好ましい。これをさらにアジピン酸、硼酸、硼酸塩、燐酸塩、フタル酸塩、マレイン酸塩、安息香酸塩、酒石酸塩、クエン酸塩等の被膜溶解性の低い電解質溶液を用いて陽極酸化処理してもよい。   The boehmite treatment is performed, for example, by immersing in pure water of 90 ° C. or higher and 100 ° C. or lower for 5 minutes to 60 minutes, or by contacting with heated steam of 90 ° C. or higher and 120 ° C. or lower for 5 minutes to 60 minutes. The film thickness is preferably 0.1 μm or more and 5 μm or less. This may be further anodized using an electrolyte solution with low film solubility such as adipic acid, boric acid, borate, phosphate, phthalate, maleate, benzoate, tartrate, citrate, etc. Good.

導電性基体の厚み(肉厚)は、感光体の強度を確保し、無機保護層の傷の発生を抑制する点で、1mm以上であることがよく、1.2mm以上であることが好ましく、1.5mm以上であることがより好ましい。導電性基体の厚みの上限は特に限定されないが、例えば、無機保護層の傷の発生を抑制する点と感光体の操作性あるいは製造性との点から、3.5mm以下であることがよく、3mm以下としてもよく、3mm未満としてもよい。導電性基体の厚みが上記範囲であることで、導電性基体の撓みが抑制されやすくなり、無機保護層の傷の発生が抑制されやすくなる。   The thickness (wall thickness) of the conductive substrate is preferably 1 mm or more, and preferably 1.2 mm or more, from the viewpoint of ensuring the strength of the photoreceptor and suppressing the occurrence of scratches on the inorganic protective layer. More preferably, it is 1.5 mm or more. The upper limit of the thickness of the conductive substrate is not particularly limited. For example, it is preferably 3.5 mm or less from the viewpoint of suppressing the occurrence of scratches on the inorganic protective layer and the operability or manufacturability of the photoreceptor. It may be 3 mm or less, and may be less than 3 mm. When the thickness of the conductive substrate is in the above range, the bending of the conductive substrate is easily suppressed, and the generation of scratches on the inorganic protective layer is easily suppressed.

(下引層)
下引層は、例えば、無機粒子と結着樹脂とを含む層である。
(Undercoat layer)
The undercoat layer is, for example, a layer containing inorganic particles and a binder resin.

無機粒子としては、例えば、粉体抵抗(体積抵抗率)10Ωcm以上1011Ωcm以下の無機粒子が挙げられる。
これらの中でも、上記抵抗値を有する無機粒子としては、例えば、酸化錫粒子、酸化チタン粒子、酸化亜鉛粒子、酸化ジルコニウム粒子等の金属酸化物粒子がよく、特に、酸化亜鉛粒子が好ましい。
Examples of the inorganic particles include inorganic particles having a powder resistance (volume resistivity) of 10 2 Ωcm or more and 10 11 Ωcm or less.
Among these, as the inorganic particles having the resistance value, for example, metal oxide particles such as tin oxide particles, titanium oxide particles, zinc oxide particles, and zirconium oxide particles are preferable, and zinc oxide particles are particularly preferable.

無機粒子のBET法による比表面積は、例えば、10m/g以上がよい。
無機粒子の体積平均粒径は、例えば、50nm以上2000nm以下(好ましくは60nm以上1000nm以下)がよい。
The specific surface area of the inorganic particles by the BET method is preferably 10 m 2 / g or more, for example.
The volume average particle diameter of the inorganic particles is, for example, preferably from 50 nm to 2000 nm (preferably from 60 nm to 1000 nm).

無機粒子の含有量は、例えば、結着樹脂に対して、10質量%以上80質量%以下であることが好ましく、より好ましくは40質量%以上80質量%以下である。   For example, the content of the inorganic particles is preferably 10% by mass or more and 80% by mass or less, and more preferably 40% by mass or more and 80% by mass or less with respect to the binder resin.

無機粒子は、表面処理が施されていてもよい。無機粒子は、表面処理の異なるもの、又は、粒子径の異なるものを2種以上混合して用いてもよい。   The inorganic particles may be subjected to a surface treatment. Two or more inorganic particles having different surface treatments or particles having different particle diameters may be mixed and used.

表面処理剤としては、例えば、シランカップリング剤、チタネート系カップリング剤、アルミニウム系カップリング剤、界面活性剤等が挙げられる。特に、シランカップリング剤が好ましく、アミノ基を有するシランカップリング剤がより好ましい。   Examples of the surface treatment agent include a silane coupling agent, a titanate coupling agent, an aluminum coupling agent, and a surfactant. In particular, a silane coupling agent is preferable, and an amino group-containing silane coupling agent is more preferable.

アミノ基を有するシランカップリング剤としては、例えば、3−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−2−(アミノエチル)−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−2−(アミノエチル)−3−アミノプロピルメチルジメトキシシラン、N,N−ビス(2−ヒドロキシエチル)−3−アミノプロピルトリエトキシシラン等が挙げられるが、これらに限定されるものではない。   Examples of the silane coupling agent having an amino group include 3-aminopropyltriethoxysilane, N-2- (aminoethyl) -3-aminopropyltrimethoxysilane, and N-2- (aminoethyl) -3-amino. Examples include, but are not limited to, propylmethyldimethoxysilane, N, N-bis (2-hydroxyethyl) -3-aminopropyltriethoxysilane, and the like.

シランカップリング剤は、2種以上混合して使用してもよい。例えば、アミノ基を有するシランカップリング剤と他のシランカップリング剤とを併用してもよい。この他のシランカップリング剤としては、例えば、ビニルトリメトキシシラン、3−メタクリルオキシプロピル−トリス(2−メトキシエトキシ)シラン、2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、ビニルトリアセトキシシラン、3−メルカプトプロピルトリメトキシシラン、3−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−2−(アミノエチル)−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−2−(アミノエチル)−3−アミノプロピルメチルジメトキシシラン、N,N−ビス(2−ヒドロキシエチル)−3−アミノプロピルトリエトキシシラン、3−クロロプロピルトリメトキシシラン等が挙げられるが、これらに限定されるものではない。   Two or more silane coupling agents may be used in combination. For example, a silane coupling agent having an amino group and another silane coupling agent may be used in combination. Other silane coupling agents include, for example, vinyltrimethoxysilane, 3-methacryloxypropyl-tris (2-methoxyethoxy) silane, 2- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane, 3-glycol. Sidoxypropyltrimethoxysilane, vinyltriacetoxysilane, 3-mercaptopropyltrimethoxysilane, 3-aminopropyltriethoxysilane, N-2- (aminoethyl) -3-aminopropyltrimethoxysilane, N-2- ( Aminoethyl) -3-aminopropylmethyldimethoxysilane, N, N-bis (2-hydroxyethyl) -3-aminopropyltriethoxysilane, 3-chloropropyltrimethoxysilane, and the like, but are not limited thereto. It is not a thing.

表面処理剤による表面処理方法は、公知の方法であればいかなる方法でもよく、乾式法又は湿式法のいずれでもよい。   The surface treatment method using the surface treatment agent may be any method as long as it is a known method, and may be either a dry method or a wet method.

表面処理剤の処理量は、例えば、無機粒子に対して0.5質量%以上10質量%以下が好ましい。   The treatment amount of the surface treatment agent is preferably 0.5% by mass or more and 10% by mass or less with respect to the inorganic particles, for example.

ここで、下引層は、無機粒子と共に電子受容性化合物(アクセプター化合物)を含有することが、電気特性の長期安定性、キャリアブロック性が高まる観点からよい。   Here, the undercoat layer may contain an electron-accepting compound (acceptor compound) together with the inorganic particles from the viewpoint of enhancing the long-term stability of the electric characteristics and the carrier blocking property.

電子受容性化合物としては、例えば、クロラニル、ブロモアニル等のキノン系化合物;テトラシアノキノジメタン系化合物;2,4,7−トリニトロフルオレノン、2,4,5,7−テトラニトロ−9−フルオレノン等のフルオレノン化合物;2−(4−ビフェニル)−5−(4−t−ブチルフェニル)−1,3,4−オキサジアゾール、2,5−ビス(4−ナフチル)−1,3,4−オキサジアゾール、2,5−ビス(4−ジエチルアミノフェニル)−1,3,4オキサジアゾール等のオキサジアゾール系化合物;キサントン系化合物;チオフェン化合物;3,3’,5,5’テトラ−t−ブチルジフェノキノン等のジフェノキノン化合物;等の電子輸送性物質等が挙げられる。
特に、電子受容性化合物としては、アントラキノン構造を有する化合物が好ましい。アントラキノン構造を有する化合物としては、例えば、ヒドロキシアントラキノン化合物、アミノアントラキノン化合物、アミノヒドロキシアントラキノン化合物等が好ましく、具体的には、例えば、アントラキノン、アリザリン、キニザリン、アントラルフィン、プルプリン等が好ましい。
Examples of the electron accepting compound include quinone compounds such as chloranil and bromoanil; tetracyanoquinodimethane compounds; 2,4,7-trinitrofluorenone, 2,4,5,7-tetranitro-9-fluorenone, and the like. 2- (4-biphenyl) -5- (4-t-butylphenyl) -1,3,4-oxadiazole, 2,5-bis (4-naphthyl) -1,3,4- Oxadiazole compounds such as oxadiazole and 2,5-bis (4-diethylaminophenyl) -1,3,4 oxadiazole; xanthone compounds; thiophene compounds; 3,3 ′, 5,5 ′ tetra- electron transporting substances such as diphenoquinone compounds such as t-butyldiphenoquinone;
In particular, the electron-accepting compound is preferably a compound having an anthraquinone structure. As the compound having an anthraquinone structure, for example, a hydroxyanthraquinone compound, an aminoanthraquinone compound, an aminohydroxyanthraquinone compound, and the like are preferable, and specifically, for example, anthraquinone, alizarin, quinizarin, anthralfin, and purpurin are preferable.

電子受容性化合物は、下引層中に無機粒子と共に分散して含まれていてもよいし、無機粒子の表面に付着した状態で含まれていてもよい。   The electron-accepting compound may be dispersed and included in the undercoat layer together with the inorganic particles, or may be included in a state of being attached to the surface of the inorganic particles.

電子受容性化合物を無機粒子の表面に付着させる方法としては、例えば、乾式法、又は、湿式法が挙げられる。   Examples of the method for attaching the electron accepting compound to the surface of the inorganic particles include a dry method and a wet method.

乾式法は、例えば、無機粒子をせん断力の大きなミキサ等で攪拌しながら、直接又は有機溶媒に溶解させた電子受容性化合物を滴下、乾燥空気や窒素ガスとともに噴霧させて、電子受容性化合物を無機粒子の表面に付着する方法である。電子受容性化合物の滴下又は噴霧するときは、溶剤の沸点以下の温度で行うことがよい。電子受容性化合物を滴下又は噴霧した後、更に100℃以上で焼き付けを行ってもよい。焼き付けは電子写真特性が得られる温度、時間であれば特に制限されない。   In the dry method, for example, while stirring inorganic particles with a mixer having a large shearing force or the like, an electron-accepting compound dissolved directly or in an organic solvent is dropped and sprayed with dry air or nitrogen gas. It is a method of adhering to the surface of inorganic particles. When the electron-accepting compound is dropped or sprayed, it is preferably performed at a temperature not higher than the boiling point of the solvent. After dropping or spraying the electron-accepting compound, baking may be performed at 100 ° C. or higher. The baking is not particularly limited as long as it is a temperature and time for obtaining electrophotographic characteristics.

湿式法は、例えば、攪拌、超音波、サンドミル、アトライター、ボールミル等により、無機粒子を溶剤中に分散しつつ、電子受容性化合物を添加し、攪拌又は分散した後、溶剤除去して、電子受容性化合物を無機粒子の表面に付着する方法である。溶剤除去方法は、例えば、ろ過又は蒸留により留去される。溶剤除去後には、更に100℃以上で焼き付けを行ってもよい。焼き付けは電子写真特性が得られる温度、時間であれば特に限定されない。湿式法においては、電子受容性化合物を添加する前に無機粒子の含有水分を除去してもよく、その例として溶剤中で攪拌加熱しながら除去する方法、溶剤と共沸させて除去する方法が挙げられる。   In the wet method, for example, an electron-accepting compound is added while dispersing inorganic particles in a solvent by stirring, ultrasonic waves, a sand mill, an attritor, a ball mill, etc., and after stirring or dispersing, the solvent is removed to remove electrons. This is a method of attaching a receptive compound to the surface of inorganic particles. The solvent removal method is distilled off by filtration or distillation, for example. After removing the solvent, baking may be performed at 100 ° C. or higher. The baking is not particularly limited as long as it is a temperature and time for obtaining electrophotographic characteristics. In the wet method, the water content of the inorganic particles may be removed before adding the electron-accepting compound. Examples thereof include a method of removing while stirring and heating in a solvent, and a method of removing by azeotropic distillation with a solvent. Can be mentioned.

なお、電子受容性化合物の付着は、表面処理剤による表面処理を無機粒子に施す前又は後に行ってよく、電子受容性化合物の付着と表面処理剤による表面処理と同時に行ってもよい。   The attachment of the electron-accepting compound may be performed before or after the surface treatment with the surface treatment agent is performed on the inorganic particles, or may be performed simultaneously with the attachment of the electron-accepting compound and the surface treatment with the surface treatment agent.

電子受容性化合物の含有量は、例えば、無機粒子に対して0.01質量%以上20質量%以下がよく、好ましくは0.01質量%以上10質量%以下である。   The content of the electron-accepting compound is, for example, from 0.01% by mass to 20% by mass with respect to the inorganic particles, and preferably from 0.01% by mass to 10% by mass.

下引層に用いる結着樹脂としては、例えば、アセタール樹脂(例えばポリビニルブチラール等)、ポリビニルアルコール樹脂、ポリビニルアセタール樹脂、カゼイン樹脂、ポリアミド樹脂、セルロース樹脂、ゼラチン、ポリウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、メタクリル樹脂、アクリル樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリビニルアセテート樹脂、塩化ビニル−酢酸ビニル−無水マレイン酸樹脂、シリコーン樹脂、シリコーン−アルキッド樹脂、尿素樹脂、フェノール樹脂、フェノール−ホルムアルデヒド樹脂、メラミン樹脂、ウレタン樹脂、アルキド樹脂、エポキシ樹脂等の公知の高分子化合物;ジルコニウムキレート化合物;チタニウムキレート化合物;アルミニウムキレート化合物;チタニウムアルコキシド化合物;有機チタニウム化合物;シランカップリング剤等の公知の材料が挙げられる。
下引層に用いる結着樹脂としては、例えば、電荷輸送性基を有する電荷輸送性樹脂、導電性樹脂(例えばポリアニリン等)等も挙げられる。
Examples of the binder resin used for the undercoat layer include acetal resins (eg, polyvinyl butyral), polyvinyl alcohol resins, polyvinyl acetal resins, casein resins, polyamide resins, cellulose resins, gelatin, polyurethane resins, polyester resins, and unsaturated polyesters. Resin, methacrylic resin, acrylic resin, polyvinyl chloride resin, polyvinyl acetate resin, vinyl chloride-vinyl acetate-maleic anhydride resin, silicone resin, silicone-alkyd resin, urea resin, phenol resin, phenol-formaldehyde resin, melamine resin, Known polymer compounds such as urethane resin, alkyd resin, epoxy resin; zirconium chelate compound; titanium chelate compound; aluminum chelate compound; titanium alkoxide compound ; Organic titanium compounds; known materials silane coupling agent, and the like.
Examples of the binder resin used for the undercoat layer include a charge transport resin having a charge transport group, a conductive resin (for example, polyaniline) and the like.

これらの中でも、下引層に用いる結着樹脂としては、上層の塗布溶剤に不溶な樹脂が好適であり、特に、尿素樹脂、フェノール樹脂、フェノール−ホルムアルデヒド樹脂、メラミン樹脂、ウレタン樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、アルキド樹脂、エポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂;ポリアミド樹脂、ポリエステル樹脂、ポリエーテル樹脂、メタクリル樹脂、アクリル樹脂、ポリビニルアルコール樹脂及びポリビニルアセタール樹脂からなる群から選択される少なくとも1種の樹脂と硬化剤との反応により得られる樹脂が好適である。
これら結着樹脂を2種以上組み合わせて使用する場合には、その混合割合は、必要に応じて設定される。
Among these, as the binder resin used for the undercoat layer, a resin insoluble in the upper coating solvent is preferable, and in particular, a urea resin, a phenol resin, a phenol-formaldehyde resin, a melamine resin, a urethane resin, and an unsaturated polyester. Thermosetting resins such as resins, alkyd resins, and epoxy resins; at least one resin selected from the group consisting of polyamide resins, polyester resins, polyether resins, methacrylic resins, acrylic resins, polyvinyl alcohol resins, and polyvinyl acetal resins; Resins obtained by reaction with curing agents are preferred.
When these binder resins are used in combination of two or more, the mixing ratio is set as necessary.

下引層には、電気特性向上、環境安定性向上、画質向上のために種々の添加剤を含んでいてもよい。
添加剤としては、多環縮合系、アゾ系等の電子輸送性顔料、ジルコニウムキレート化合物、チタニウムキレート化合物、アルミニウムキレート化合物、チタニウムアルコキシド化合物、有機チタニウム化合物、シランカップリング剤等の公知の材料が挙げられる。シランカップリング剤は前述のように無機粒子の表面処理に用いられるが、添加剤として更に下引層に添加してもよい。
The undercoat layer may contain various additives for improving electrical characteristics, improving environmental stability, and improving image quality.
Additives include known materials such as electron transport pigments such as polycyclic condensation systems and azo systems, zirconium chelate compounds, titanium chelate compounds, aluminum chelate compounds, titanium alkoxide compounds, organic titanium compounds, and silane coupling agents. It is done. The silane coupling agent is used for the surface treatment of the inorganic particles as described above, but may be further added to the undercoat layer as an additive.

添加剤としてのシランカップリング剤としては、例えば、ビニルトリメトキシシラン、3−メタクリルオキシプロピル−トリス(2−メトキシエトキシ)シラン、2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、ビニルトリアセトキシシラン、3−メルカプトプロピルトリメトキシシラン、3−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−2−(アミノエチル)−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−2−(アミノエチル)−3−アミノプロピルメチルジメトキシシラン、N,N−ビス(2−ヒドロキシエチル)−3−アミノプロピルトリエトキシシラン、3−クロロプロピルトリメトキシシラン等が挙げられる。   Examples of the silane coupling agent as the additive include vinyltrimethoxysilane, 3-methacryloxypropyl-tris (2-methoxyethoxy) silane, 2- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane, 3- Glycidoxypropyltrimethoxysilane, vinyltriacetoxysilane, 3-mercaptopropyltrimethoxysilane, 3-aminopropyltriethoxysilane, N-2- (aminoethyl) -3-aminopropyltrimethoxysilane, N-2- (Aminoethyl) -3-aminopropylmethyldimethoxysilane, N, N-bis (2-hydroxyethyl) -3-aminopropyltriethoxysilane, 3-chloropropyltrimethoxysilane and the like can be mentioned.

ジルコニウムキレート化合物としては、例えば、ジルコニウムブトキシド、ジルコニウムアセト酢酸エチル、ジルコニウムトリエタノールアミン、アセチルアセトネートジルコニウムブトキシド、アセト酢酸エチルジルコニウムブトキシド、ジルコニウムアセテート、ジルコニウムオキサレート、ジルコニウムラクテート、ジルコニウムホスホネート、オクタン酸ジルコニウム、ナフテン酸ジルコニウム、ラウリン酸ジルコニウム、ステアリン酸ジルコニウム、イソステアリン酸ジルコニウム、メタクリレートジルコニウムブトキシド、ステアレートジルコニウムブトキシド、イソステアレートジルコニウムブトキシド等が挙げられる。   Examples of the zirconium chelate compound include zirconium butoxide, zirconium zirconium acetoacetate, zirconium triethanolamine, acetylacetonate zirconium butoxide, ethyl acetoacetate butoxide, zirconium acetate, zirconium oxalate, zirconium lactate, zirconium phosphonate, zirconium octoate, Zirconium naphthenate, zirconium laurate, zirconium stearate, zirconium isostearate, methacrylate zirconium butoxide, stearate zirconium butoxide, isostearate zirconium butoxide and the like.

チタニウムキレート化合物としては、例えば、テトライソプロピルチタネート、テトラノルマルブチルチタネート、ブチルチタネートダイマー、テトラ(2−エチルヘキシル)チタネート、チタンアセチルアセトネート、ポリチタンアセチルアセトネート、チタンオクチレングリコレート、チタンラクテートアンモニウム塩、チタンラクテート、チタンラクテートエチルエステル、チタントリエタノールアミネート、ポリヒドロキシチタンステアレート等が挙げられる。   Examples of titanium chelate compounds include tetraisopropyl titanate, tetranormal butyl titanate, butyl titanate dimer, tetra (2-ethylhexyl) titanate, titanium acetylacetonate, polytitanium acetylacetonate, titanium octylene glycolate, titanium lactate ammonium salt. , Titanium lactate, titanium lactate ethyl ester, titanium triethanolamate, polyhydroxy titanium stearate and the like.

アルミニウムキレート化合物としては、例えば、アルミニウムイソプロピレート、モノブトキシアルミニウムジイソプロピレート、アルミニウムブチレート、ジエチルアセトアセテートアルミニウムジイソプロピレート、アルミニウムトリス(エチルアセトアセテート)等が挙げられる。   Examples of the aluminum chelate compound include aluminum isopropylate, monobutoxy aluminum diisopropylate, aluminum butyrate, diethyl acetoacetate aluminum diisopropylate, aluminum tris (ethyl acetoacetate) and the like.

これらの添加剤は、単独で、又は複数の化合物の混合物若しくは重縮合物として用いてもよい。   These additives may be used alone or as a mixture or polycondensate of a plurality of compounds.

下引層は、ビッカース硬度が35以上であることがよい。
下引層の表面粗さ(十点平均粗さ)は、モアレ像抑制のために、使用される露光用レーザ波長λの1/(4n)(nは上層の屈折率)から1/2までに調整されていることがよい。
表面粗さ調整のために下引層中に樹脂粒子等を添加してもよい。樹脂粒子としてはシリコーン樹脂粒子、架橋型ポリメタクリル酸メチル樹脂粒子等が挙げられる。また、表面粗さ調整のために下引層の表面を研磨してもよい。研磨方法としては、バフ研磨、サンドブラスト処理、湿式ホーニング、研削処理等が挙げられる。
The undercoat layer preferably has a Vickers hardness of 35 or more.
The surface roughness (ten-point average roughness) of the undercoat layer is from 1 / (4n) (where n is the refractive index of the upper layer) to 1/2 of the exposure laser wavelength λ used to suppress moire images. It is good that it is adjusted to.
Resin particles or the like may be added to the undercoat layer for adjusting the surface roughness. Examples of the resin particles include silicone resin particles and cross-linked polymethyl methacrylate resin particles. Further, the surface of the undercoat layer may be polished for adjusting the surface roughness. Examples of the polishing method include buffing, sandblasting, wet honing, and grinding.

下引層の形成は、特に制限はなく、周知の形成方法が利用されるが、例えば、上記成分を溶剤に加えた下引層形成用塗布液の塗膜を形成し、当該塗膜を乾燥し、必要に応じて加熱することで行う。   There is no particular limitation on the formation of the undercoat layer, and a well-known formation method is used. For example, a coating film for forming an undercoat layer in which the above components are added to a solvent is formed, and the coating film is dried. And heating as necessary.

下引層形成用塗布液を調製するための溶剤としては、公知の有機溶剤、例えば、アルコール系溶剤、芳香族炭化水素溶剤、ハロゲン化炭化水素溶剤、ケトン系溶剤、ケトンアルコール系溶剤、エーテル系溶剤、エステル系溶剤等が挙げられる。
これらの溶剤として具体的には、例えば、メタノール、エタノール、n−プロパノール、iso−プロパノール、n−ブタノール、ベンジルアルコール、メチルセルソルブ、エチルセルソルブ、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸n−ブチル、ジオキサン、テトラヒドロフラン、メチレンクロライド、クロロホルム、クロロベンゼン、トルエン等の通常の有機溶剤が挙げられる。
Solvents for preparing the coating solution for forming the undercoat layer include known organic solvents such as alcohol solvents, aromatic hydrocarbon solvents, halogenated hydrocarbon solvents, ketone solvents, ketone alcohol solvents, ether solvents. Examples include solvents and ester solvents.
Specific examples of these solvents include methanol, ethanol, n-propanol, iso-propanol, n-butanol, benzyl alcohol, methyl cellosolve, ethyl cellosolve, acetone, methyl ethyl ketone, cyclohexanone, methyl acetate, ethyl acetate, Examples include ordinary organic solvents such as n-butyl acetate, dioxane, tetrahydrofuran, methylene chloride, chloroform, chlorobenzene, and toluene.

下引層形成用塗布液を調製するときの無機粒子の分散方法としては、例えば、ロールミル、ボールミル、振動ボールミル、アトライター、サンドミル、コロイドミル、ペイントシェーカー等の公知の方法が挙げられる。   Examples of the dispersion method of the inorganic particles when preparing the coating liquid for forming the undercoat layer include known methods such as a roll mill, a ball mill, a vibration ball mill, an attritor, a sand mill, a colloid mill, and a paint shaker.

下引層形成用塗布液を導電性基体上に塗布する方法としては、例えば、ブレード塗布法、ワイヤーバー塗布法、スプレー塗布法、浸漬塗布法、ビード塗布法、エアーナイフ塗布法、カーテン塗布法等の通常の方法が挙げられる。   Examples of the method for applying the coating liquid for forming the undercoat layer onto the conductive substrate include, for example, a blade coating method, a wire bar coating method, a spray coating method, a dip coating method, a bead coating method, an air knife coating method, and a curtain coating method. The usual methods, such as these, are mentioned.

下引層の膜厚は、例えば、好ましくは15μm以上、より好ましくは20μm以上50μm以下の範囲内に設定される。   The thickness of the undercoat layer is, for example, preferably set in the range of 15 μm or more, more preferably 20 μm or more and 50 μm or less.

(中間層)
図示は省略するが、下引層と感光層との間に中間層をさらに設けてもよい。
中間層は、例えば、樹脂を含む層である。中間層に用いる樹脂としては、例えば、アセタール樹脂(例えばポリビニルブチラール等)、ポリビニルアルコール樹脂、ポリビニルアセタール樹脂、カゼイン樹脂、ポリアミド樹脂、セルロース樹脂、ゼラチン、ポリウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、メタクリル樹脂、アクリル樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリビニルアセテート樹脂、塩化ビニル−酢酸ビニル−無水マレイン酸樹脂、シリコーン樹脂、シリコーン−アルキッド樹脂、フェノール−ホルムアルデヒド樹脂、メラミン樹脂等の高分子化合物が挙げられる。
中間層は、有機金属化合物を含む層であってもよい。中間層に用いる有機金属化合物としては、ジルコニウム、チタニウム、アルミニウム、マンガン、ケイ素等の金属原子を含有する有機金属化合物等が挙げられる。
これらの中間層に用いる化合物は、単独で又は複数の化合物の混合物若しくは重縮合物として用いてもよい。
(Middle layer)
Although illustration is omitted, an intermediate layer may be further provided between the undercoat layer and the photosensitive layer.
An intermediate | middle layer is a layer containing resin, for example. Examples of the resin used for the intermediate layer include an acetal resin (for example, polyvinyl butyral), polyvinyl alcohol resin, polyvinyl acetal resin, casein resin, polyamide resin, cellulose resin, gelatin, polyurethane resin, polyester resin, methacrylic resin, acrylic resin, Polymer compounds such as polyvinyl chloride resin, polyvinyl acetate resin, vinyl chloride-vinyl acetate-maleic anhydride resin, silicone resin, silicone-alkyd resin, phenol-formaldehyde resin, melamine resin, and the like can be given.
The intermediate layer may be a layer containing an organometallic compound. Examples of the organometallic compound used for the intermediate layer include organometallic compounds containing metal atoms such as zirconium, titanium, aluminum, manganese, and silicon.
The compounds used for these intermediate layers may be used alone or as a mixture or polycondensate of a plurality of compounds.

これらの中でも、中間層は、ジルコニウム原子又はケイ素原子を含有する有機金属化合物を含む層であることが好ましい。   Among these, the intermediate layer is preferably a layer containing an organometallic compound containing a zirconium atom or a silicon atom.

中間層の形成は、特に制限はなく、周知の形成方法が利用されるが、例えば、上記成分を溶剤に加えた中間層形成用塗布液の塗膜を形成し、当該塗膜を乾燥、必要に応じて加熱することで行う。
中間層を形成する塗布方法としては、浸漬塗布法、突き上げ塗布法、ワイヤーバー塗布法、スプレー塗布法、ブレード塗布法、ナイフ塗布法、カーテン塗布法等の通常の方法が用いられる。
The formation of the intermediate layer is not particularly limited, and a well-known formation method is used. For example, a coating film of an intermediate layer forming coating solution in which the above components are added to a solvent is formed, and the coating film is dried and necessary. It is performed by heating according to.
As the coating method for forming the intermediate layer, usual methods such as a dip coating method, a push-up coating method, a wire bar coating method, a spray coating method, a blade coating method, a knife coating method, and a curtain coating method are used.

中間層の膜厚は、例えば、好ましくは0.1μm以上3μm以下の範囲に設定される。なお、中間層を下引層として使用してもよい。   For example, the thickness of the intermediate layer is preferably set in a range of 0.1 μm to 3 μm. An intermediate layer may be used as the undercoat layer.

(電荷発生層)
電荷発生層は、例えば、電荷発生材料と結着樹脂とを含む層である。また、電荷発生層は、電荷発生材料の蒸着層であってもよい。電荷発生材料の蒸着層は、LED(Light Emitting Diode)、有機EL(Electro−Luminescence)イメージアレー等の非干渉性光源を用いる場合に好適である。
(Charge generation layer)
The charge generation layer is, for example, a layer containing a charge generation material and a binder resin. The charge generation layer may be a vapor deposition layer of a charge generation material. The vapor-deposited layer of the charge generation material is suitable when an incoherent light source such as an LED (Light Emitting Diode) or an organic EL (Electro-Luminescence) image array is used.

電荷発生材料としては、ビスアゾ、トリスアゾ等のアゾ顔料;ジブロモアントアントロン等の縮環芳香族顔料;ペリレン顔料;ピロロピロール顔料;フタロシアニン顔料;酸化亜鉛;三方晶系セレン等が挙げられる。   Examples of the charge generating material include azo pigments such as bisazo and trisazo; fused aromatic pigments such as dibromoanthanthrone; perylene pigments; pyrrolopyrrole pigments; phthalocyanine pigments; zinc oxide;

これらの中でも、近赤外域のレーザ露光に対応させるためには、電荷発生材料としては、金属フタロシアニン顔料、又は無金属フタロシアニン顔料を用いることが好ましい。具体的には、例えば、特開平5−263007号公報、特開平5−279591号公報等に開示されたヒドロキシガリウムフタロシアニン;特開平5−98181号公報等に開示されたクロロガリウムフタロシアニン;特開平5−140472号公報、特開平5−140473号公報等に開示されたジクロロスズフタロシアニン;特開平4−189873号公報等に開示されたチタニルフタロシアニンがより好ましい。   Among these, in order to cope with near-infrared laser exposure, it is preferable to use a metal phthalocyanine pigment or a metal-free phthalocyanine pigment as the charge generation material. Specifically, for example, hydroxygallium phthalocyanine disclosed in JP-A-5-263007, JP-A-5-279591, etc .; chlorogallium phthalocyanine disclosed in JP-A-5-98181; More preferred are dichlorotin phthalocyanines disclosed in JP-A No. 140472, JP-A No. 5-140473 and the like; and titanyl phthalocyanine disclosed in JP-A No. 4-189873.

一方、近紫外域のレーザ露光に対応させるためには、電荷発生材料としては、ジブロモアントアントロン等の縮環芳香族顔料;チオインジゴ系顔料;ポルフィラジン化合物;酸化亜鉛;三方晶系セレン;特開2004−78147号公報、特開2005−181992号公報に開示されたビスアゾ顔料等が好ましい。   On the other hand, in order to cope with laser exposure in the near-ultraviolet region, as the charge generation material, condensed aromatic pigments such as dibromoanthanthrone; thioindigo pigments; porphyrazine compounds; zinc oxide; trigonal selenium; Bisazo pigments and the like disclosed in 2004-78147 and JP-A-2005-181992 are preferred.

450nm以上780nm以下に発光の中心波長があるLED、有機ELイメージアレー等の非干渉性光源を用いる場合にも、上記電荷発生材料を用いてもよいが、解像度の観点より、感光層を20μm以下の薄膜で用いるときには、感光層中の電界強度が高くなり、基体からの電荷注入による帯電低下、いわゆる黒点と呼ばれる画像欠陥を生じやすくなる。これは、三方晶系セレン、フタロシアニン顔料等のp−型半導体で暗電流を生じやすい電荷発生材料を用いたときに顕著となる。   The above-described charge generation material may also be used when using an incoherent light source such as an LED having an emission center wavelength of 450 nm to 780 nm and an organic EL image array. However, from the viewpoint of resolution, the photosensitive layer is 20 μm or less. When the thin film is used, the electric field strength in the photosensitive layer is increased, and a charge decrease due to charge injection from the substrate, that is, an image defect called a black spot is likely to occur. This becomes conspicuous when a charge generating material that easily generates a dark current is used in a p-type semiconductor such as trigonal selenium or a phthalocyanine pigment.

これに対し、電荷発生材料として、縮環芳香族顔料、ペリレン顔料、アゾ顔料等のn−型半導体を用いた場合、暗電流を生じ難く、薄膜にしても黒点と呼ばれる画像欠陥を抑制し得る。n−型の電荷発生材料としては、例えば、特開2012−155282号公報の段落[0288]〜[0291]に記載された化合物(CG−1)〜(CG−27)が挙げられるがこれに限られるものではない。
なお、n−型の判定は、通常使用されるタイムオブフライト法を用い、流れる光電流の極性によって判定され、正孔よりも電子をキャリアとして流しやすいものをn−型とする。
On the other hand, when an n-type semiconductor such as a condensed ring aromatic pigment, perylene pigment, azo pigment or the like is used as the charge generation material, dark current hardly occurs and even a thin film can suppress image defects called black spots. . Examples of the n-type charge generation material include compounds (CG-1) to (CG-27) described in paragraphs [0288] to [0291] of JP2012-155282A. It is not limited.
The n-type determination is performed by using a time-of-flight method that is usually used, and is determined by the polarity of the flowing photocurrent, and an n-type is more likely to flow electrons as carriers than holes.

電荷発生層に用いる結着樹脂としては、広範な絶縁性樹脂から選択され、また、結着樹脂としては、ポリ−N−ビニルカルバゾール、ポリビニルアントラセン、ポリビニルピレン、ポリシラン等の有機光導電性ポリマーから選択してもよい。
結着樹脂としては、例えば、ポリビニルブチラール樹脂、ポリアリレート樹脂(ビスフェノール類と芳香族2価カルボン酸の重縮合体等)、ポリカーボネート樹脂、ポリエステル樹脂、フェノキシ樹脂、塩化ビニル−酢酸ビニル共重合体、ポリアミド樹脂、アクリル樹脂、ポリアクリルアミド樹脂、ポリビニルピリジン樹脂、セルロース樹脂、ウレタン樹脂、エポキシ樹脂、カゼイン、ポリビニルアルコール樹脂、ポリビニルピロリドン樹脂等が挙げられる。ここで、「絶縁性」とは、体積抵抗率が1013Ωcm以上であることをいう。
これらの結着樹脂は1種を単独で又は2種以上を混合して用いられる。
The binder resin used for the charge generation layer is selected from a wide range of insulating resins, and the binder resin is selected from organic photoconductive polymers such as poly-N-vinylcarbazole, polyvinyl anthracene, polyvinyl pyrene, and polysilane. You may choose.
As the binder resin, for example, polyvinyl butyral resin, polyarylate resin (polycondensate of bisphenol and aromatic divalent carboxylic acid, etc.), polycarbonate resin, polyester resin, phenoxy resin, vinyl chloride-vinyl acetate copolymer, Examples thereof include polyamide resin, acrylic resin, polyacrylamide resin, polyvinyl pyridine resin, cellulose resin, urethane resin, epoxy resin, casein, polyvinyl alcohol resin, polyvinyl pyrrolidone resin, and the like. Here, “insulating” means that the volume resistivity is 10 13 Ωcm or more.
These binder resins are used singly or in combination of two or more.

なお、電荷発生材料と結着樹脂の配合比は、質量比で10:1から1:10までの範囲内であることが好ましい。   The mixing ratio of the charge generation material and the binder resin is preferably in the range of 10: 1 to 1:10 by mass ratio.

電荷発生層には、その他、周知の添加剤が含まれていてもよい。   In addition, the charge generation layer may contain a known additive.

電荷発生層の形成は、特に制限はなく、周知の形成方法が利用されるが、例えば、上記成分を溶剤に加えた電荷発生層形成用塗布液の塗膜を形成し、当該塗膜を乾燥し、必要に応じて加熱することで行う。なお、電荷発生層の形成は、電荷発生材料の蒸着により行ってもよい。電荷発生層の蒸着による形成は、特に、電荷発生材料として縮環芳香族顔料、ペリレン顔料を利用する場合に好適である。   The formation of the charge generation layer is not particularly limited, and a known formation method is used. For example, a coating film of a charge generation layer forming coating solution in which the above components are added to a solvent is formed, and the coating film is dried. And heating as necessary. The charge generation layer may be formed by vapor deposition of a charge generation material. Formation of the charge generation layer by vapor deposition is particularly suitable when a condensed ring aromatic pigment or perylene pigment is used as the charge generation material.

電荷発生層形成用塗布液を調製するための溶剤としては、メタノール、エタノール、n−プロパノール、n−ブタノール、ベンジルアルコール、メチルセルソルブ、エチルセルソルブ、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン、酢酸メチル、酢酸n−ブチル、ジオキサン、テトラヒドロフラン、メチレンクロライド、クロロホルム、クロロベンゼン、トルエン等が挙げられる。これら溶剤は、1種を単独で又は2種以上を混合して用いる。   Solvents for preparing the charge generation layer forming coating solution include methanol, ethanol, n-propanol, n-butanol, benzyl alcohol, methyl cellosolve, ethyl cellosolve, acetone, methyl ethyl ketone, cyclohexanone, methyl acetate, n-acetate. -Butyl, dioxane, tetrahydrofuran, methylene chloride, chloroform, chlorobenzene, toluene and the like. These solvents are used alone or in combination of two or more.

電荷発生層形成用塗布液中に粒子(例えば電荷発生材料)を分散させる方法としては、例えば、ボールミル、振動ボールミル、アトライター、サンドミル、横型サンドミル等のメディア分散機や、攪拌、超音波分散機、ロールミル、高圧ホモジナイザー等のメディアレス分散機が利用される。高圧ホモジナイザーとしては、例えば、高圧状態で分散液を液−液衝突や液−壁衝突させて分散する衝突方式や、高圧状態で微細な流路を貫通させて分散する貫通方式等が挙げられる。
なお、この分散の際、電荷発生層形成用塗布液中の電荷発生材料の平均粒径を0.5μm以下、好ましくは0.3μm以下、更に好ましくは0.15μm以下にすることが有効である。
Examples of a method for dispersing particles (for example, a charge generation material) in a coating solution for forming a charge generation layer include, for example, a media disperser such as a ball mill, a vibrating ball mill, an attritor, a sand mill, a horizontal sand mill, a stirring, an ultrasonic disperser, etc. Medialess dispersers such as roll mills and high-pressure homogenizers are used. Examples of the high-pressure homogenizer include a collision method in which a dispersion liquid is dispersed by liquid-liquid collision or liquid-wall collision in a high pressure state, and a penetration method in which a fine flow path is dispersed in a high pressure state.
In this dispersion, it is effective that the average particle size of the charge generation material in the coating solution for forming the charge generation layer is 0.5 μm or less, preferably 0.3 μm or less, more preferably 0.15 μm or less. .

電荷発生層形成用塗布液を下引層上(又は中間層上)に塗布する方法としては、例えばブレード塗布法、ワイヤーバー塗布法、スプレー塗布法、浸漬塗布法、ビード塗布法、エアーナイフ塗布法、カーテン塗布法等の通常の方法が挙げられる。   Examples of methods for applying the charge generation layer forming coating solution on the undercoat layer (or on the intermediate layer) include blade coating, wire bar coating, spray coating, dip coating, bead coating, and air knife coating. And usual methods such as a curtain coating method.

電荷発生層の膜厚は、例えば、好ましくは0.1μm以上5.0μm以下、より好ましくは0.2μm以上2.0μm以下の範囲内に設定される。   The film thickness of the charge generation layer is, for example, preferably set in the range of 0.1 μm to 5.0 μm, more preferably 0.2 μm to 2.0 μm.

(電荷輸送層)
電荷輸送層は、例えば、電荷輸送材料と結着樹脂とを含む層である。電荷輸送層は、高分子電荷輸送材料を含む層であってもよい。また、電荷輸送層は、必要に応じて、シリカ粒子を含んでいてもよい。
(Charge transport layer)
The charge transport layer is, for example, a layer containing a charge transport material and a binder resin. The charge transport layer may be a layer containing a polymer charge transport material. Further, the charge transport layer may contain silica particles as necessary.

電荷輸送材料としては、p−ベンゾキノン、クロラニル、ブロマニル、アントラキノン等のキノン系化合物;テトラシアノキノジメタン系化合物;2,4,7−トリニトロフルオレノン等のフルオレノン化合物;キサントン系化合物;ベンゾフェノン系化合物;シアノビニル系化合物;エチレン系化合物等の電子輸送性化合物が挙げられる。電荷輸送材料としては、トリアリールアミン系化合物、ベンジジン系化合物、アリールアルカン系化合物、アリール置換エチレン系化合物、スチルベン系化合物、アントラセン系化合物、ヒドラゾン系化合物等の正孔輸送性化合物も挙げられる。これらの電荷輸送材料は1種を単独で又は2種以上で用いられるが、これらに限定されるものではない。   Examples of charge transport materials include quinone compounds such as p-benzoquinone, chloranil, bromanyl and anthraquinone; tetracyanoquinodimethane compounds; fluorenone compounds such as 2,4,7-trinitrofluorenone; xanthone compounds; benzophenone compounds A cyanovinyl compound; an electron transporting compound such as an ethylene compound; Examples of the charge transporting material include hole transporting compounds such as triarylamine compounds, benzidine compounds, arylalkane compounds, aryl-substituted ethylene compounds, stilbene compounds, anthracene compounds, and hydrazone compounds. These charge transport materials may be used alone or in combination of two or more, but are not limited thereto.

電荷輸送材料としては、電荷移動度の観点から、下記構造式(a−1)で示されるトリアリールアミン誘導体、及び下記構造式(a−2)で示されるベンジジン誘導体が好ましい。   As the charge transport material, from the viewpoint of charge mobility, a triarylamine derivative represented by the following structural formula (a-1) and a benzidine derivative represented by the following structural formula (a-2) are preferable.

構造式(a−1)中、ArT1、ArT2、及びArT3は、各々独立に置換若しくは無置換のアリール基、−C−C(RT4)=C(RT5)(RT6)、又は−C−CH=CH−CH=C(RT7)(RT8)を示す。RT4、RT5、RT6、RT7、及びRT8は各々独立に水素原子、置換若しくは無置換のアルキル基、又は置換若しくは無置換のアリール基を示す。
上記各基の置換基としては、ハロゲン原子、炭素数1以上5以下のアルキル基、炭素数1以上5以下のアルコキシ基が挙げられる。また、上記各基の置換基としては、炭素数1以上3以下のアルキル基で置換された置換アミノ基も挙げられる。
In Structural Formula (a-1), Ar T1 , Ar T2 , and Ar T3 are each independently a substituted or unsubstituted aryl group, —C 6 H 4 —C (R T4 ) ═C (R T5 ) (R T6), or -C 6 H 4 -CH = CH- CH = C (R T7) shows the (R T8). R T4 , R T5 , R T6 , R T7 , and R T8 each independently represent a hydrogen atom, a substituted or unsubstituted alkyl group, or a substituted or unsubstituted aryl group.
Examples of the substituent for each group include a halogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, and an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms. Examples of the substituent of each group also include a substituted amino group substituted with an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms.

構造式(a−2)中、RT91及びRT92は各々独立に水素原子、ハロゲン原子、炭素数1以上5以下のアルキル基、又は炭素数1以上5以下のアルコキシ基を示す。RT101、RT102、RT111及びRT112は各々独立に、ハロゲン原子、炭素数1以上5以下のアルキル基、炭素数1以上5以下のアルコキシ基、炭素数1以上2以下のアルキル基で置換されたアミノ基、置換若しくは無置換のアリール基、−C(RT12)=C(RT13)(RT14)、又は−CH=CH−CH=C(RT15)(RT16)を示し、RT12、RT13、RT14、RT15及びRT16は各々独立に水素原子、置換若しくは無置換のアルキル基、又は置換若しくは無置換のアリール基を表す。Tm1、Tm2、Tn1及びTn2は各々独立に0以上2以下の整数を示す。
上記各基の置換基としては、ハロゲン原子、炭素数1以上5以下のアルキル基、炭素数1以上5以下のアルコキシ基が挙げられる。また、上記各基の置換基としては、炭素数1以上3以下のアルキル基で置換された置換アミノ基も挙げられる。
In Structural Formula (a-2), R T91 and R T92 each independently represent a hydrogen atom, a halogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, or an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms. R T101 , R T102 , R T111 and R T112 are each independently substituted with a halogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms, or an alkyl group having 1 to 2 carbon atoms. A substituted amino group, a substituted or unsubstituted aryl group, —C (R T12 ) ═C (R T13 ) (R T14 ), or —CH═CH— CH═C (R T15 ) (R T16 ), R T12 , R T13 , R T14 , R T15 and R T16 each independently represent a hydrogen atom, a substituted or unsubstituted alkyl group, or a substituted or unsubstituted aryl group. Tm1, Tm2, Tn1, and Tn2 each independently represent an integer of 0 or more and 2 or less.
Examples of the substituent for each group include a halogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, and an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms. Examples of the substituent of each group also include a substituted amino group substituted with an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms.

ここで、構造式(a−1)で示されるトリアリールアミン誘導体、及び前記構造式(a−2)で示されるベンジジン誘導体のうち、特に、「−C−CH=CH−CH=C(RT7)(RT8)」を有するトリアリールアミン誘導体、及び「−CH=CH−CH=C(RT15)(RT16)」を有するベンジジン誘導体が、電荷移動度の観点で好ましい。 Here, among the triarylamine derivative represented by the structural formula (a-1) and the benzidine derivative represented by the structural formula (a-2), in particular, “—C 6 H 4 —CH═CH—CH═ Triarylamine derivatives having “C (R T7 ) (R T8 )” and benzidine derivatives having “—CH═CH— CH═C (R T15 ) (R T16 )” are preferable from the viewpoint of charge mobility.

高分子電荷輸送材料としては、ポリ−N−ビニルカルバゾール、ポリシラン等の電荷輸送性を有する公知のものが用いられる。特に、特開平8−176293号公報、特開平8−208820号公報等に開示されているポリエステル系の高分子電荷輸送材料は特に好ましい。なお、高分子電荷輸送材料は、単独で使用してよいが、結着樹脂と併用してもよい。   As the polymer charge transporting material, known materials having charge transporting properties such as poly-N-vinylcarbazole and polysilane are used. In particular, polyester-based polymer charge transport materials disclosed in JP-A-8-176293 and JP-A-8-208820 are particularly preferable. The polymer charge transport material may be used alone or in combination with a binder resin.

電荷輸送層は、シリカ粒子を含んでいてもよい。シリカ粒子の含有量は、無機保護層の傷の発生を抑制する点から、シリカ粒子を含む電荷輸送層全体に対して40質量%以上80質量%以下であることがよい。同様の点で、シリカ粒子の含有量の下限は、45質量%以上であってもよく、50質量%以上であってもよい。また、シリカ粒子の含有量の上限は、例えば、シリカ粒子の分散性等の点から、75質量%以下であってもよく、70質量%以下であってもよい。   The charge transport layer may contain silica particles. The content of the silica particles is preferably 40% by mass or more and 80% by mass or less with respect to the entire charge transport layer including the silica particles, from the viewpoint of suppressing generation of scratches on the inorganic protective layer. In the same way, the lower limit of the content of silica particles may be 45% by mass or more, or 50% by mass or more. Further, the upper limit of the content of the silica particles may be, for example, 75% by mass or less or 70% by mass or less from the viewpoint of dispersibility of the silica particles.

シリカ粒子としては、例えば、乾式シリカ粒子、湿式シリカ粒子が挙げられる。
乾式シリカ粒子としては、シラン化合物を燃焼させて得られる燃焼法シリカ(ヒュームドシリカ)、金属珪素粉を爆発的に燃焼させて得られる爆燃法シリカが挙げられる。
湿式シリカ粒子としては、珪酸ナトリウムと鉱酸との中和反応によって得られる湿式シリカ粒子(アルカリ条件で合成・凝集した沈降法シリカ、酸性条件で合成・凝集したゲル法シリカ粒子)、酸性珪酸をアルカリ性にして重合することで得られるコロイダルシリカ粒子(シリカゾル粒子)、有機シラン化合物(例えばアルコキシシラン)の加水分解によって得られるゾルゲル法シリカ粒子が挙げられる。
これらの中でも、シリカ粒子としては、残留電位の発生、その他電気特性の低下による画像欠陥の抑制(細線再現性の低下の抑制)の観点から、表面のシラノール基が少なく、低い空隙構造を持つ燃焼法シリカ粒子を用いることがよい。
Examples of the silica particles include dry silica particles and wet silica particles.
Examples of the dry silica particles include combustion method silica (fumed silica) obtained by burning a silane compound and deflagration method silica obtained by explosively burning metal silicon powder.
Wet silica particles include wet silica particles obtained by neutralization reaction between sodium silicate and mineral acid (precipitation silica synthesized and aggregated under alkaline conditions, gel silica particles synthesized and aggregated under acidic conditions), and acidic silicic acid. Examples thereof include colloidal silica particles (silica sol particles) obtained by polymerization with alkalinity, and sol-gel silica particles obtained by hydrolysis of an organic silane compound (for example, alkoxysilane).
Among these, silica particles have low surface silanol groups and a low void structure from the viewpoint of generation of residual potential and suppression of image defects due to deterioration of other electrical characteristics (inhibition of reduction of fine line reproducibility). Method silica particles are preferably used.

シリカ粒子の体積平均粒径は、例えば、20nm以上200nm以下であることがよい。シリカ粒子の体積平均粒径の下限は、40nm以上であってもよく、50nm以上あってもよい。シリカ粒子の体積平均粒径の下限は、150nm以下であってもよく、120nm以下であってもよく、110nm以下であってもよい。   The volume average particle diameter of the silica particles is preferably 20 nm or more and 200 nm or less, for example. The lower limit of the volume average particle diameter of the silica particles may be 40 nm or more, or 50 nm or more. The lower limit of the volume average particle diameter of the silica particles may be 150 nm or less, 120 nm or less, or 110 nm or less.

シリカ粒子の体積平均粒径は、層中からシリカ粒子を分離し、このシリカ粒子の一次粒子100個をSEM(Scanning Electron Microscope)装置により40000倍の倍率で観察し、一次粒子の画像解析によって粒子ごとの最長径、最短径を測定し、この中間値から球相当径を測定する。得られた球相当径の累積頻度における50%径(D50v)を求め、これをシリカ粒子の体積平均粒径として測定する。   The volume average particle diameter of the silica particles is determined by separating the silica particles from the layer, observing 100 primary particles of the silica particles with a scanning electron microscope (SEM) device at a magnification of 40000 times, and analyzing the particles by image analysis of the primary particles. The longest diameter and the shortest diameter of each are measured, and the equivalent sphere diameter is measured from this intermediate value. The 50% diameter (D50v) in the cumulative frequency of the obtained sphere equivalent diameter is obtained, and this is measured as the volume average particle diameter of the silica particles.

シリカ粒子は、その表面が疎水化処理剤で表面処理されていることがよい。これにより、シリカ粒子の表面のシラノール基が低減し、残留電位の発生が抑制され易くなる。
疎水化処理剤としては、クロロシラン、アルコキシシラン、シラザン等の周知のシラン化合物が挙げられる。
これらの中でも、疎水化処理剤としては、残留電位の発生を抑制し易くする観点から、トリメチルシリル基、デシルシリル基、又はフェニルシリル基を持つシラン化合物が望ましい。つまり、シリカ粒子の表面には、トリメチルシリル基、デシルシリル基、又はフェニルシリル基を有することがよい。
トリメチルシリル基を持つシラン化合物としては、例えば、トリメチルクロロシラン、トリメチルメトキシシラン、1,1,1,3,3,3−ヘキサメチルジシラザン等が挙げられる。
デシルシリル基を持つシラン化合物としては、例えば、デシルトリクロロシラン、デシルジメチルクロロシラン、デシルトリメトキシシラン等が挙げられる。
フェニル基を持つシラン化合物としては、トリフェニルメトキシシラン、トリフェニルクロロシラン等が挙げられる。
The surface of the silica particles is preferably surface-treated with a hydrophobizing agent. Thereby, silanol groups on the surface of the silica particles are reduced, and generation of residual potential is easily suppressed.
Examples of the hydrophobizing agent include known silane compounds such as chlorosilane, alkoxysilane, and silazane.
Among these, as the hydrophobizing agent, a silane compound having a trimethylsilyl group, a decylsilyl group, or a phenylsilyl group is desirable from the viewpoint of easily suppressing the occurrence of a residual potential. That is, the surface of the silica particles preferably has a trimethylsilyl group, a decylsilyl group, or a phenylsilyl group.
Examples of the silane compound having a trimethylsilyl group include trimethylchlorosilane, trimethylmethoxysilane, 1,1,1,3,3,3-hexamethyldisilazane, and the like.
Examples of the silane compound having a decylsilyl group include decyltrichlorosilane, decyldimethylchlorosilane, and decyltrimethoxysilane.
Examples of the silane compound having a phenyl group include triphenylmethoxysilane and triphenylchlorosilane.

疎水化処理されたシリカ粒子の縮合率(シリカ粒子中のSiO−の結合におけるSi−O−Siの率:以下「疎水化処理剤の縮合率」とも称する)は、例えば、シリカ粒子の表面のシラノール基に対して90%以上がよく、望ましくは91%以上、より望ましくは95%以上である。
疎水化処理剤の縮合率を上記範囲にすると、シリカ粒子のシラノール基がより低減し、残留電位の発生が抑制され易くなる。
The condensation rate of the hydrophobized silica particles (Si—O—Si ratio in the SiO 4 — bonds in the silica particles: hereinafter also referred to as “condensation rate of the hydrophobizing agent”) is, for example, the surface of the silica particles It is preferably 90% or more, more preferably 91% or more, and more preferably 95% or more with respect to the silanol group.
When the condensation rate of the hydrophobizing agent is within the above range, the silanol groups of the silica particles are further reduced, and the occurrence of residual potential is easily suppressed.

疎水化処理剤の縮合率は、NMRで検出した縮合部のケイ素の全結合可能サイトに対して、縮合したケイ素の割合を示しており、次のようにして測定する。
まず、層中からシリカ粒子を分離する。分離したシリカ粒子に対して、Bruker製AVANCEIII 400でSi CP/MAS NMR分析を行い、SiOの置換数に応じたピーク面積を求め、それぞれ、2置換(Si(OH)(0−Si)−)、3置換(Si(OH)(0−Si)−)、4置換(Si(0−Si)−)の値をQ2,Q3,Q4とし、疎水化処理剤の縮合率は式:(Q2×2+Q3×3+Q4×4)/4×(Q2+Q3+Q4)により算出する。
The condensation rate of the hydrophobizing agent indicates the ratio of condensed silicon to the total bondable sites of silicon in the condensed portion detected by NMR, and is measured as follows.
First, silica particles are separated from the layer. The separated silica particles were subjected to Si CP / MAS NMR analysis with Bruker AVANCE III 400 to determine the peak areas according to the number of substitutions of SiO, and each of the two substitutions (Si (OH) 2 (0-Si) 2 -), 3-substituted (Si (OH) (0- Si) 3 -), 4 -substituted (Si (0-Si) 4 -) the value of the Q2, Q3, Q4, the condensation ratio of hydrophobic treatment agent formula : (Q2 × 2 + Q3 × 3 + Q4 × 4) / 4 × (Q2 + Q3 + Q4)

シリカ粒子の体積抵抗率は、例えば、1011Ωcm以上がよく、望ましくは1012Ωcm以上、より望ましくは1013Ωcm以上である。
シリカ粒子の体積抵抗率を上記範囲にすると、電気特性の低下が抑制される。
The volume resistivity of the silica particles may be, for example, 10 11 Ωcm or more, desirably 10 12 Ωcm or more, and more desirably 10 13 Ωcm or more.
When the volume resistivity of the silica particles is set in the above range, a decrease in electrical characteristics is suppressed.

シリカ粒子の体積抵抗率は、次のようにして測定する。なお、測定環境は、温度20℃、湿度50%RHとする。
まず、層中からシリカ粒子を分離する。そして、20cmの電極板を配した円形の治具の表面に、測定対象となる分離したシリカ粒子を1mm以上3mm以下程度の厚さになるように載せ、シリカ粒子層を形成する。この上に前記同様の20cmの電極板を載せシリカ粒子層を挟み込む。シリカ粒子間の空隙をなくすため、シリカ粒子層上に載せた電極板の上に4kgの荷重をかけてからシリカ粒子層の厚み(cm)を測定する。シリカ粒子層上下の両電極には、エレクトロメーター及び高圧電源発生装置に接続されている。両電極に電界が予め定められた値となるように高電圧を印加し、このとき流れた電流値(A)を読み取ることにより、シリカ粒子の体積抵抗率(Ωcm)を計算する。シリカ粒子の体積抵抗率(Ωcm)の計算式は、下式に示す通りである。
なお、式中、ρはシリカ粒子の体積抵抗率(Ωcm)、Eは印加電圧(V)、Iは電流値(A)、Iは印加電圧0Vにおける電流値(A)、Lはシリカ粒子層の厚み(cm)をそれぞれ表す。本評価では印加電圧が1000Vの時の体積抵抗率を用いた。
・式:ρ=E×20/(I−I)/L
The volume resistivity of the silica particles is measured as follows. The measurement environment is a temperature of 20 ° C. and a humidity of 50% RH.
First, silica particles are separated from the layer. Then, the separated silica particles to be measured are placed on the surface of a circular jig provided with a 20 cm 2 electrode plate so as to have a thickness of about 1 mm or more and 3 mm or less to form a silica particle layer. A 20 cm 2 electrode plate similar to the above is placed on this and the silica particle layer is sandwiched. In order to eliminate voids between the silica particles, a load of 4 kg is applied on the electrode plate placed on the silica particle layer, and then the thickness (cm) of the silica particle layer is measured. Both electrodes above and below the silica particle layer are connected to an electrometer and a high voltage power generator. A high voltage is applied to both electrodes so that the electric field has a predetermined value, and the current value (A) flowing at this time is read to calculate the volume resistivity (Ωcm) of the silica particles. The calculation formula of the volume resistivity (Ωcm) of the silica particles is as shown in the following formula.
In the formula, ρ is the volume resistivity (Ωcm) of the silica particles, E is the applied voltage (V), I is the current value (A), I 0 is the current value (A) at an applied voltage of 0 V, and L is the silica particles. Each layer thickness (cm) is expressed. In this evaluation, the volume resistivity when the applied voltage was 1000 V was used.
Formula: ρ = E × 20 / (I−I 0 ) / L

電荷輸送層に用いる結着樹脂としては、例えば、具体的には、ポリカーボネート樹脂(ビスフェノールA、ビスフェノールZ、ビスフェノールC、ビスフェノールTP等の単独重合型、又はその共重合型)、ポリアリレート樹脂、ポリエステル樹脂、メタクリル樹脂、アクリル樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリ塩化ビニリデン樹脂、ポリスチレン樹脂、アクリロニトリル−スチレン共重合体、アクリロニトリル−ブタジエン共重合体、ポリビニルアセテート樹脂、スチレン−ブタジエン共重合体、塩化ビニル−酢酸ビニル共重合体、塩化ビニル−酢酸ビニル−無水マレイン酸共重合体、シリコーン樹脂、シリコーン−アルキッド樹脂、フェノール−ホルムアルデヒド樹脂、スチレン−アクリル共重合体、アチレン−アルキッド樹脂、ポリ−N−ビニルカルバゾール樹脂、ポリビニルブチラール樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂などが挙げられる。これらの結着樹脂は1種を単独で又は2種以上で用いる。
なお、電荷輸送材料と結着樹脂との配合比は、質量比で10:1から1:5までが好ましい。
Specific examples of the binder resin used for the charge transport layer include polycarbonate resins (homopolymerized types such as bisphenol A, bisphenol Z, bisphenol C, and bisphenol TP, or copolymerized types thereof), polyarylate resins, and polyesters. Resin, methacrylic resin, acrylic resin, polyvinyl chloride resin, polyvinylidene chloride resin, polystyrene resin, acrylonitrile-styrene copolymer, acrylonitrile-butadiene copolymer, polyvinyl acetate resin, styrene-butadiene copolymer, vinyl chloride-acetic acid Vinyl copolymer, vinyl chloride-vinyl acetate-maleic anhydride copolymer, silicone resin, silicone-alkyd resin, phenol-formaldehyde resin, styrene-acrylic copolymer, ethylene-alkyd resin, poly-N Vinylcarbazole resins, polyvinyl butyral resins, and polyphenylene ether resin. These binder resins are used alone or in combination of two or more.
The mixing ratio of the charge transport material and the binder resin is preferably 10: 1 to 1: 5 by mass ratio.

上記の結着樹脂の中でも、ポリカーボネート樹脂(ビスフェノールA、ビスフェノールZ、ビスフェノールC、ビスフェノールTP等の単独重合型、又はその共重合型)が好ましい。ポリカーボネート樹脂は、1種を単独で使用してもよく、2種以上併用してもよい。また、同様の点で、ポリカーボネート樹脂の中でも、ビスフェノールZの単独重合型ポリカーボネート樹脂を含むことがより好ましい。   Among the above binder resins, polycarbonate resins (homopolymerized types such as bisphenol A, bisphenol Z, bisphenol C, and bisphenol TP, or copolymerized types thereof) are preferable. A polycarbonate resin may be used individually by 1 type, and may be used together 2 or more types. Moreover, it is more preferable that the homopolymerization type polycarbonate resin of bisphenol Z is included among polycarbonate resins by the same point.

なお、結着樹脂の粘度平均分子量は50000未満の結着樹脂とを組み合わせて用いることがよい。   Note that the binder resin may be used in combination with a binder resin having a viscosity average molecular weight of less than 50,000.

無機保護層の傷の発生を抑制する点から、結着樹脂は、例えば、粘度平均分子量は50000以下であることがよい。45000以下であることがよく、35000以下であってもよい。粘度平均分子量の下限としては、結着樹脂としての特性を保持する点から、20000以上であることがよい。   From the viewpoint of suppressing the occurrence of scratches on the inorganic protective layer, the binder resin preferably has, for example, a viscosity average molecular weight of 50,000 or less. It may be 45000 or less, and may be 35000 or less. The lower limit of the viscosity average molecular weight is preferably 20000 or more from the viewpoint of maintaining the properties as a binder resin.

ここで、結着樹脂の粘度平均分子量の測定は、以下の一点測定法が用いられる。
まず、測定対象となる感光体から、無機保護層を剥離した後、測定対象となる感光層を露出させる。そして、その感光層の一部を削り出し測定用試料を準備する。
次に、測定試料から結着樹脂を抽出する。抽出した結着樹脂1g分をメチレンクロライド100cmに溶解し、25℃の測定環境下でウベローデ粘度計にて、その比粘度ηspを測定する。そして、ηsp/c=〔η〕+0.45〔η〕cの関係式(ただしcは濃度(g/cm)より極限粘度〔η〕(cm/g)を求め、H.Schnellによって与えられている式、〔η〕=1.23×10−4Mv0.83の関係式より粘度平均分子量Mvを求める。
Here, the measurement of the viscosity average molecular weight of the binder resin uses the following one-point measurement method.
First, after peeling off the inorganic protective layer from the photoreceptor to be measured, the photosensitive layer to be measured is exposed. Then, a part of the photosensitive layer is scraped to prepare a measurement sample.
Next, the binder resin is extracted from the measurement sample. 1 g of the extracted binder resin is dissolved in 100 cm 3 of methylene chloride, and its specific viscosity ηsp is measured with an Ubbelohde viscometer in a measurement environment at 25 ° C. Then, a relational expression of ηsp / c = [η] +0.45 [η] 2 c (where c is the intrinsic viscosity [η] (cm 3 / g) from the concentration (g / cm 3 ) is calculated by H. Schnell. The viscosity average molecular weight Mv is determined from the given equation [η] = 1.23 × 10 −4 Mv 0.83 .

電荷輸送層には、その他、周知の添加剤が含まれていてもよい。   In addition, the charge transport layer may contain a known additive.

電荷輸送層の形成は、特に制限はなく、周知の形成方法が利用されるが、例えば、上記成分を溶剤に加えた電荷輸送層形成用塗布液の塗膜を形成し、当該塗膜を乾燥、必要に応じて加熱することで行う。   The formation of the charge transport layer is not particularly limited, and a known formation method is used. For example, a coating film of a charge transport layer forming coating solution in which the above components are added to a solvent is formed, and the coating film is dried. This is done by heating as necessary.

電荷輸送層形成用塗布液を調製するための溶剤としては、ベンゼン、トルエン、キシレン、クロロベンゼン等の芳香族炭化水素類;アセトン、2−ブタノン等のケトン類;塩化メチレン、クロロホルム、塩化エチレン等のハロゲン化脂肪族炭化水素類;テトラヒドロフラン、エチルエーテル等の環状又は直鎖状のエーテル類等の通常の有機溶剤が挙げられる。これら溶剤は、単独で又は2種以上混合して用いる。   Solvents for preparing the coating solution for forming the charge transport layer include aromatic hydrocarbons such as benzene, toluene, xylene and chlorobenzene; ketones such as acetone and 2-butanone; methylene chloride, chloroform and ethylene chloride. Halogenated aliphatic hydrocarbons: Usual organic solvents such as cyclic or linear ethers such as tetrahydrofuran and ethyl ether. These solvents are used alone or in combination of two or more.

電荷輸送層形成用塗布液を電荷発生層の上に塗布する際の塗布方法としては、ブレード塗布法、ワイヤーバー塗布法、スプレー塗布法、浸漬塗布法、ビード塗布法、エアーナイフ塗布法、カーテン塗布法等の通常の方法が挙げられる。   Coating methods for applying the charge transport layer forming coating solution on the charge generation layer include blade coating method, wire bar coating method, spray coating method, dip coating method, bead coating method, air knife coating method, curtain A usual method such as a coating method may be mentioned.

なお、電荷輸送層形成用塗布液中に粒子(例えばシリカ粒子やフッ素樹脂粒子)を分散させる場合、その分散方法としては、例えば、ボールミル、振動ボールミル、アトライター、サンドミル、横型サンドミル等のメディア分散機や、攪拌、超音波分散機、ロールミル、高圧ホモジナイザー等のメディアレス分散機が利用される。高圧ホモジナイザーとしては、例えば、高圧状態で分散液を液−液衝突や液−壁衝突させて分散する衝突方式や、高圧状態で微細な流路を貫通させて分散する貫通方式などが挙げられる。   When particles (for example, silica particles or fluororesin particles) are dispersed in the charge transport layer forming coating solution, the dispersion method may be media dispersion such as ball mill, vibration ball mill, attritor, sand mill, horizontal sand mill, etc. A medialess disperser such as an agitator, an agitator, an ultrasonic disperser, a roll mill, or a high-pressure homogenizer is used. Examples of the high-pressure homogenizer include a collision method in which a dispersion liquid is dispersed by liquid-liquid collision or liquid-wall collision in a high pressure state, and a penetration method in which a fine flow path is dispersed in a high pressure state.

電荷輸送層における無機保護層側の表面の表面粗さRa(算術平均表面粗さRa)は、例えば、0.06μm以下が挙げられ、好ましくは0.03μm以下、より好ましくは0.02μm以下である。
この表面粗さRaを上記範囲とすると、無機保護層の平滑性が上がり、クリーニング性が向上する。
なお、表面粗さRaを上記範囲とするには、例えば、層の厚みを厚くする等の方法が挙げられる
The surface roughness Ra (arithmetic average surface roughness Ra) of the surface on the inorganic protective layer side in the charge transport layer is, for example, 0.06 μm or less, preferably 0.03 μm or less, more preferably 0.02 μm or less. is there.
When the surface roughness Ra is in the above range, the smoothness of the inorganic protective layer is increased and the cleaning property is improved.
In order to set the surface roughness Ra within the above range, for example, a method of increasing the thickness of the layer can be used.

この表面粗さRaは、次のように測定する。
まず、無機保護層を剥離した後、測定対象となる層を露出させる。そして、その層の一部をカッター等で切り出し、測定試料を取得する。
この測定試料に対して、触針式表面粗さ測定機(サーフコム1400A:東京精密社製等)を使用して測定する。その測定条件としては、JIS B0601−1994に準拠し、評価長さLn=4mm、基準長さL=0.8mm、カットオフ値=0.8mmとする。
The surface roughness Ra is measured as follows.
First, after peeling off the inorganic protective layer, the layer to be measured is exposed. And a part of the layer is cut out with a cutter etc., and a measurement sample is acquired.
The measurement sample is measured using a stylus type surface roughness measuring machine (Surfcom 1400A: manufactured by Tokyo Seimitsu Co., Ltd.). As the measurement conditions, based on JIS B0601-1994, the evaluation length Ln = 4 mm, the reference length L = 0.8 mm, and the cut-off value = 0.8 mm.

電荷輸送層の弾性率は、例えば、5GPa以上がよく、望ましくは6GPa以上である。 電荷輸送層の弾性率を上記範囲とすると、無機保護層の割れが抑制され易くなる。
なお、電荷輸送層の弾性率を上記範囲とするには、例えば、シリカ粒子の粒径及び含有量を調整する方法、電荷輸送材料の種類及び含有量を調整する方法が挙げられる。
For example, the elastic modulus of the charge transport layer is preferably 5 GPa or more, and more preferably 6 GPa or more. When the elastic modulus of the charge transport layer is in the above range, cracking of the inorganic protective layer is easily suppressed.
In order to set the elastic modulus of the charge transport layer within the above range, for example, a method of adjusting the particle size and content of silica particles and a method of adjusting the type and content of the charge transport material can be mentioned.

電荷輸送層の弾性率は、次のように測定する。
まず、無機保護層を剥離した後、測定対象となる層を露出させる。そして、その層の一部をカッター等で切り出し、測定試料を取得する。
この測定試料に対して、MTSシステムズ社製 Nano Indenter SA2を用いて、連続剛性法(CSM)(米国特許4848141)により深さプロファイルを得て、その押込み深さ30nmから100nmの測定値から得た平均値を用いて測定する。
The elastic modulus of the charge transport layer is measured as follows.
First, after peeling off the inorganic protective layer, the layer to be measured is exposed. And a part of the layer is cut out with a cutter etc., and a measurement sample is acquired.
For this measurement sample, a depth profile was obtained by the continuous stiffness method (CSM) (US Pat. No. 4,848,141) using Nano Indenter SA2 manufactured by MTS Systems, and the indentation depth was obtained from the measured values of 30 nm to 100 nm. Measure using the average value.

電荷輸送層の膜厚は、例えば、10μm以上40μm以下がよく、望ましくは10μm以上35μm以下、より望ましくは15μm以上35μm以下である。
電荷輸送層の膜厚を上記範囲にすると、無機保護層の割れ、及び残留電位の発生が抑制され易くなる。
The film thickness of the charge transport layer is, for example, 10 μm or more and 40 μm or less, desirably 10 μm or more and 35 μm or less, more desirably 15 μm or more and 35 μm or less.
When the thickness of the charge transport layer is within the above range, cracking of the inorganic protective layer and generation of residual potential are easily suppressed.

(無機保護層)
−無機保護層の組成−
本実施形態の電子写真感光体における無機保護層は、次に示す材料で構成されている。
すなわち、第13族元素、及び酸素を含有し、無機保護層を構成する全元素に対する、第13族元素、及び酸素の元素構成比率の和が0.70以上である。
特に、第1の実施形態の電子写真感光体における無機保護層を構成する材料は、酸素及び第13族元素の元素構成比率(酸素/第13族元素)が1.10以上1.30以下である第1の領域、並びに、酸素/第13族元素が1.40以上1.50以下である第2の領域を有する。そして、第1の領域および第2の領域が、感光層上にこの順で有し、第2の領域が最上層となる。感度を確保しつつ、残留電位の上昇を抑制する点で、第13族元素はガリウムであることが好ましい。また、第13族元素がガリウムであることで、無機保護層の傷の発生も抑制されやすくなる。
(Inorganic protective layer)
-Composition of the inorganic protective layer-
The inorganic protective layer in the electrophotographic photoreceptor of this embodiment is composed of the following materials.
That is, the sum of the elemental composition ratios of the group 13 element and oxygen with respect to all the elements containing the group 13 element and oxygen and constituting the inorganic protective layer is 0.70 or more.
In particular, the material constituting the inorganic protective layer in the electrophotographic photosensitive member of the first embodiment has an element composition ratio of oxygen and a group 13 element (oxygen / group 13 element) of 1.10 or more and 1.30 or less. A first region and a second region in which oxygen / group 13 element is 1.40 or more and 1.50 or less are included. Then, the first region and the second region are provided in this order on the photosensitive layer, and the second region is the uppermost layer. The group 13 element is preferably gallium in terms of suppressing the increase in the residual potential while ensuring the sensitivity. In addition, since the Group 13 element is gallium, the occurrence of scratches on the inorganic protective layer is easily suppressed.

感度を確保しつつ、残留電位の上昇を抑制する点で、第1の領域において、酸素及び第13族元素の元素構成比率(酸素/第13族元素)は、1.20以上1.30以下であることがよく、1.25以上1.30以下であることが好ましい。同様の点で、第2の領域において、酸素及び第13族元素の元素構成比率(酸素/第13族元素)は、1.45以上1.50以下であることがよく、1.47以上1.50以下であることが好ましい。   In the first region, the elemental composition ratio of oxygen and the group 13 element (oxygen / group 13 element) is 1.20 or more and 1.30 or less in terms of suppressing the increase in the residual potential while ensuring the sensitivity. It is preferable that it is 1.25 or more and 1.30 or less. In the same way, in the second region, the elemental composition ratio of oxygen and the Group 13 element (oxygen / Group 13 element) is preferably 1.45 or more and 1.50 or less, and 1.47 or more and 1 .50 or less is preferable.

ここで、第1の領域および第2の領域において、各々の元素構成比率(酸素/第13族元素(特にガリウム))が上記範囲であると、各々の領域での体積抵抗率を制御しやすくなる。つまり、第1の領域での体積抵抗率が、2.0×10Ωcm以上1.0×1010Ωcm以下の範囲、第2の領域での体積抵抗率が、2×1010Ωcm以上1.0×1011Ωcm以下の範囲を満たし易くなる。この点で、第2の実施形態に係る電子写真感光体の無機保護層の各領域を構成する材料は、第1の実施形態に係る電子写真感光体の無機保護層の各領域を構成する材料と同様の材料であることがよい。 Here, in each of the first region and the second region, when each elemental composition ratio (oxygen / Group 13 element (particularly gallium)) is within the above range, the volume resistivity in each region can be easily controlled. Become. That is, the volume resistivity in the first region is 2.0 × 10 7 Ωcm or more and 1.0 × 10 10 Ωcm or less, and the volume resistivity in the second region is 2 × 10 10 Ωcm or more and 1 It becomes easy to satisfy the range of 0.0 × 10 11 Ωcm or less. In this respect, the material constituting each region of the inorganic protective layer of the electrophotographic photosensitive member according to the second embodiment is the material constituting each region of the inorganic protective layer of the electrophotographic photosensitive member according to the first embodiment. It is good that it is the same material as.

また、無機表面層を構成する全元素に対する、第13族元素(特にガリウム)、及び酸素の元素構成比率の和は、0.70以上であることで、例えば、N,P,Asなどの15族元素などが混入した場合、これらが第13族元素(特にガリウム)と結合する影響などが抑制され、無機表面層の硬度や電気特性を向上させ得る酸素及び第13族元素(特にガリウム)組成比(酸素/第13族元素(特にガリウム))の適正範囲を見出しやすくなる。上記元素構成比率の和は、上記の観点で、0.75以上がよく、0.80以上が好ましく、0.85以上がより好ましい。   Further, the sum of the elemental composition ratios of the group 13 element (particularly gallium) and oxygen with respect to all the elements constituting the inorganic surface layer is 0.70 or more, for example, 15 such as N, P, As, etc. When a group element or the like is mixed, the effect of combining these with a group 13 element (especially gallium) is suppressed, and the composition of oxygen and group 13 element (particularly gallium) that can improve the hardness and electrical properties of the inorganic surface layer. It becomes easy to find an appropriate range of the ratio (oxygen / Group 13 element (especially gallium)). In view of the above, the sum of the elemental composition ratios is preferably 0.75 or more, preferably 0.80 or more, and more preferably 0.85 or more.

無機保護層には、上記無機材料の他、水素を含んでいてもよい。また、導電型の制御のために、例えば、n型の場合、C、Si、Ge、Snから選ばれる1つ以上の元素を含んでいてもよい。また、例えば、p型の場合、N、Be、Mg、Ca、Srから選ばれる1つ以上の元素を含んでいてもよい。   The inorganic protective layer may contain hydrogen in addition to the inorganic material. Further, for the control of the conductivity type, for example, in the case of the n-type, one or more elements selected from C, Si, Ge, and Sn may be included. For example, in the case of p-type, it may contain one or more elements selected from N, Be, Mg, Ca, and Sr.

ここで、無機保護層が、例えば、ガリウムと酸素と必要に応じて水素とを含んで構成された場合、機械的強度、透光性、柔軟性に優れ、その導電制御性に優れるという観点から、好適な元素構成比率は以下の通りである。
ガリウムの元素構成比率は、例えば、無機保護層の全構成元素に対して、0.20以上0.50以下であることがよく、望ましくは0.25以上0.40以下、より望ましくは0.30以上0.40以下である。
酸素の元素構成比率は、例えば、無機保護層の全構成元素に対して、0.30以上0.70以下であることがよく、望ましくは0.30以上0.60以下、より望ましくは0.35以上0.55以下である。
水素の元素構成比率は、例えば、無機保護層の全構成元素に対して、0.10以上0.40以下であることがよく、望ましくは0.10以上0.30以下、より望ましくは0.15以上0.25以下である。
Here, for example, when the inorganic protective layer is configured to include gallium, oxygen, and hydrogen as necessary, from the viewpoint of excellent mechanical strength, translucency, flexibility, and excellent conductivity controllability. The preferred elemental composition ratios are as follows.
The elemental composition ratio of gallium is, for example, preferably 0.20 or more and 0.50 or less, preferably 0.25 or more and 0.40 or less, and more preferably 0.000 or less with respect to all the constituent elements of the inorganic protective layer. 30 or more and 0.40 or less.
The elemental composition ratio of oxygen is, for example, preferably 0.30 or more and 0.70 or less, preferably 0.30 or more and 0.60 or less, and more preferably 0.000 or less with respect to all the constituent elements of the inorganic protective layer. 35 or more and 0.55 or less.
The elemental composition ratio of hydrogen is, for example, preferably 0.10 or more and 0.40 or less, preferably 0.10 or more and 0.30 or less, more preferably 0.00 with respect to all the constituent elements of the inorganic protective layer. 15 or more and 0.25 or less.

ここで、無機保護層における各元素の元素構成比率、原子数比等は、厚み方向の分布も含めてラザフォードバックスキャタリング(以下、「RBS」と称する)により求められる
なお、RBSでは、加速器としてNEC社 3SDH Pelletron、エンドステーションとしてCE&A社 RBS−400、システムとして3S−R10を用いる。解析にはCE&A社のHYPRAプログラム等を用いる。
なお、RBSの測定条件は、He++イオンビームエネルギーは2.275eV、検出角度160°、入射ビームに対してGrazing Angleは約109°とする。
Here, the elemental composition ratio, the atomic ratio, etc. of each element in the inorganic protective layer are determined by Rutherford back scattering (hereinafter referred to as “RBS”) including the distribution in the thickness direction. NEC 3SDH Pelletron, CE & A RBS-400 as the end station, and 3S-R10 as the system are used. For analysis, the CE & A HYPRA program or the like is used.
The RBS measurement conditions are: He ++ ion beam energy is 2.275 eV, detection angle is 160 °, and Grazing Angle is about 109 ° with respect to the incident beam.

RBS測定は、具体的には以下のように行う
まず、He++イオンビームを試料に対して垂直に入射し、検出器をイオンビームに対して、160°にセットし、後方散乱されたHeのシグナルを測定する。検出したHeのエネルギーと強度から組成比と膜厚を決定する。組成比及び膜厚を求める精度を向上させるために二つの検出角度でスペクトルを測定してもよい。深さ方向分解能や後方散乱力学の異なる二つの検出角度で測定しクロスチェックすることにより精度が向上する。
ターゲット原子によって後方散乱されるHe原子の数は、1)ターゲット原子の原子番号、2)散乱前のHe原子のエネルギー、3)散乱角度の3つの要素のみにより決まる。 測定された組成から密度を計算によって仮定して、これを用いて厚みを算出する。密度の誤差は20%以内である。
Specifically, the RBS measurement is performed as follows. First, a He ++ ion beam is incident perpendicularly to the sample, the detector is set at 160 ° with respect to the ion beam, and the back scattered He signal is measured. Measure. The composition ratio and the film thickness are determined from the detected energy and intensity of He. In order to improve the accuracy of obtaining the composition ratio and the film thickness, the spectrum may be measured at two detection angles. Accuracy is improved by measuring and cross-checking at two detection angles with different depth resolution and backscattering dynamics.
The number of He atoms back-scattered by the target atom is determined only by three factors: 1) the atomic number of the target atom, 2) the energy of the He atom before scattering, and 3) the scattering angle. From the measured composition, the density is assumed by calculation, and the thickness is calculated using this. The density error is within 20%.

なお、水素の元素構成比率は、ハイドロジェンフォワードスキャタリング(以下、「HFS」と称する)により求められる。
HFS測定では、加速器としてNEC社 3SDH Pelletron、エンドステーションとしてCE&A社 RBS−400を用い、システムとして3S−R10を用いる。解析にはCE&A社のHYPRAプログラムを用いる。そして、HFSの測定条件は、以下の通りである。
・He++イオンビームエネルギー:2.275eV
・検出角度:160°入射ビームに対してGrazing Angle30°
The elemental composition ratio of hydrogen is obtained by hydrogen forward scattering (hereinafter referred to as “HFS”).
In HFS measurement, NEC 3SDH Pelletron is used as an accelerator, CE & A RBS-400 is used as an end station, and 3S-R10 is used as a system. The analysis uses the CE & A HYPRA program. And the measurement conditions of HFS are as follows.
-He ++ ion beam energy: 2.275 eV
Detection angle: Grazing Angle 30 ° with respect to 160 ° incident beam

HFS測定は、He++イオンビームに対して検出器が30°に、試料が法線から75°になるようにセットすることにより、試料の前方に散乱する水素のシグナルを拾う。この時検出器をアルミ箔で覆い、水素とともに散乱するHe原子を取り除くことがよい。定量は参照用試料と被測定試料との水素のカウントを阻止能で規格化した後に比較することによって行う。参照用試料としてSi中にHをイオン注入した試料と白雲母を使用する。
白雲母は水素濃度が6.5原子%であることが知られている。
最表面に吸着しているHは、例えば、清浄なSi表面に吸着しているH量を差し引くことによって補正を行う。
The HFS measurement picks up the hydrogen signal scattered in front of the sample by setting the detector at 30 ° to the He ++ ion beam and the sample at 75 ° from the normal. At this time, the detector is preferably covered with aluminum foil to remove He atoms scattered together with hydrogen. The quantification is performed by comparing the hydrogen counts of the reference sample and the sample to be measured after normalization with the stopping power. As a reference sample, a sample obtained by ion-implanting H into Si and muscovite are used.
It is known that muscovite has a hydrogen concentration of 6.5 atomic%.
The H adsorbed on the outermost surface is corrected by subtracting the amount of H adsorbed on the clean Si surface, for example.

−無機保護層の特性−
前述のように、第2の実施形態の電子写真感光体における無機保護層は、体積抵抗率が2.0×10Ωcm以上1.0×1010Ωcm以下である第1の領域および体積抵抗率が2.0×1010Ωcm以上である第2の領域を有する。
感度を確保しつつ、残留電位の上昇を抑制する点で、第1の領域の体積抵抗率は、1.0×10Ωcm以上1.0×1010Ωcm以下であることがよく、5.0×10Ωcm以上5.0×10Ωcm以下であることが好ましい。同様の点で、第2の領域の体積抵抗率は、3.0×1010Ωcm以上であることがよく、4.0×1010Ωcm以上であることが好ましい。なお、第2の領域の体積抵抗率の上限は特に限定されないが、例えば、1.0×1011Ωcm以下が挙げられる。
また、第1の実施形態に係る電子写真感光体の無機保護層の各領域における体積抵抗率は、第2の実施形態に係る電子写真感光体の無機保護層の各領域における体積抵抗率の範囲を満たすことがよい。
-Characteristics of inorganic protective layer-
As described above, the inorganic protective layer in the electrophotographic photosensitive member according to the second embodiment includes the first region having a volume resistivity of 2.0 × 10 7 Ωcm or more and 1.0 × 10 10 Ωcm or less, and a volume resistance. The second region has a rate of 2.0 × 10 10 Ωcm or more.
4. The volume resistivity of the first region is preferably 1.0 × 10 8 Ωcm or more and 1.0 × 10 10 Ωcm or less in terms of suppressing the increase of the residual potential while ensuring the sensitivity. It is preferably 0 × 10 8 Ωcm or more and 5.0 × 10 9 Ωcm or less. In similar terms, the volume resistivity of the second region may be at 3.0 × 10 10 Ωcm or more, and preferably 4.0 × 10 10 Ωcm or more. In addition, although the upper limit of the volume resistivity of a 2nd area | region is not specifically limited, For example, 1.0 * 10 < 11 > ohm-cm or less is mentioned.
The volume resistivity in each region of the inorganic protective layer of the electrophotographic photoreceptor according to the first embodiment is the range of the volume resistivity in each region of the inorganic protective layer of the electrophotographic photoreceptor according to the second embodiment. It is good to satisfy.

この体積抵抗率は、nF社製LCRメーターZM2371を用いて、周波数1kHz、電圧1Vの条件にて測定した抵抗値から、電極面積、試料厚みに基づき算出して求められる。
なお、測定試料は、測定対象となる無機保護層の成膜時の同条件でアルミ基体上に成膜し、その成膜物上に真空蒸着により金電極を形成し得られた試料であってもよいし、又は作製後の電子写真感光体から無機保護層を剥離し、一部エッチングして、これを一対の電極で挟み込んだ試料であってもよい。
This volume resistivity is obtained by calculation based on the electrode area and the sample thickness from the resistance value measured under the conditions of a frequency of 1 kHz and a voltage of 1 V using an LF meter ZM2371 manufactured by nF.
The measurement sample is a sample obtained by depositing a film on an aluminum substrate under the same conditions as the measurement of the inorganic protective layer to be measured, and forming a gold electrode on the film by vacuum deposition. Alternatively, it may be a sample in which the inorganic protective layer is peeled off from the electrophotographic photosensitive member after fabrication, and is partially etched, and is sandwiched between a pair of electrodes.

無機保護層は、微結晶膜、多結晶膜、非晶質膜などの非単結晶膜であることが望ましい。これらの中でも、非晶質は表面の平滑性で特に望ましいが、微結晶膜は硬度の点でより望ましい。
無機保護層の成長断面は、柱状構造をとっていてもよいが、滑り性の観点からは平坦性の高い構造が望ましく、非晶質が望ましい。
なお、結晶性、非晶質性は、RHEED(反射高速電子線回折)測定により得られた回折像の点や線の有無により判別される。
The inorganic protective layer is preferably a non-single crystal film such as a microcrystalline film, a polycrystalline film, or an amorphous film. Among these, amorphous is particularly desirable in terms of surface smoothness, but a microcrystalline film is more desirable in terms of hardness.
Although the growth cross section of the inorganic protective layer may have a columnar structure, a structure with high flatness is desirable from the viewpoint of slipperiness, and amorphous is desirable.
Crystallinity and amorphousness are determined by the presence or absence of points or lines in a diffraction image obtained by RHEED (reflection high-energy electron diffraction) measurement.

無機保護層全体の弾性率は30GPa以上80GPa以下であることがよく、望ましくは40GPa以上65GPa以下である。
この弾性率を上記範囲とすると、無機保護層の凹部(打痕状の傷)の発生、剥れや割れが抑制され易くなる。
この弾性率は、MTSシステムズ社製 Nano Indenter SA2を用いて、連続剛性法(CSM)(米国特許4848141)により深さプロファイルを得て、その押込み深さ30nmから100nmの測定値から得た平均値を用いる。下記は測定条件である。
・測定環境:23℃、55%RH
・使用圧子:ダイヤモンド製正三角錐圧子(Berkovic圧子)三角錐圧子
・試験モード:CSMモード
なお、測定試料は、測定対象となる無機保護層の成膜時の同条件で基体上に成膜した試料であってもよいし、又は作製後の電子写真感光体から無機保護層を剥離し、一部エッチングした試料であってもよい。
The elastic modulus of the entire inorganic protective layer is preferably 30 GPa or more and 80 GPa or less, and preferably 40 GPa or more and 65 GPa or less.
When this elastic modulus is within the above range, the formation of concave portions (scratch-like scratches), peeling and cracking of the inorganic protective layer can be easily suppressed.
This elastic modulus is an average value obtained from a measured value from an indentation depth of 30 nm to 100 nm by obtaining a depth profile by a continuous stiffness method (CSM) (US Pat. No. 4,848,141) using Nano Instor SA2 manufactured by MTS Systems. Is used. The following are the measurement conditions.
・ Measurement environment: 23 ℃, 55% RH
-Indenter used: Diamond regular triangular pyramid indenter (Berkovic indenter) triangular pyramid indenter-Test mode: CSM mode Note that the measurement sample is a sample formed on the substrate under the same conditions as those for forming the inorganic protective layer to be measured. Alternatively, a sample obtained by peeling off the inorganic protective layer from the electrophotographic photoreceptor after production and partially etching it may be used.

本実施形態に係る電子写真感光体において、感度を確保しつつ、残留電位の上昇を抑制する点で、第1の領域の厚みは、第2の領域の厚みよりも薄いことがよい。また、同様の点で、第1の領域の厚みに対する、第2の領域の厚みの比(第2の領域の厚み/第1の領域の厚み)の比は、3以上100以下(好ましくは、10以上100以下、より好ましくは10以上30以下)であることがよい。   In the electrophotographic photoreceptor according to the present exemplary embodiment, the thickness of the first region is preferably smaller than the thickness of the second region in terms of suppressing an increase in residual potential while ensuring sensitivity. Similarly, the ratio of the thickness of the second region to the thickness of the first region (the thickness of the second region / the thickness of the first region) is 3 to 100 (preferably, 10 or more and 100 or less, more preferably 10 or more and 30 or less.

さらに、感度を確保しつつ、残留電位の上昇を抑制する点で、第1の領域の厚みは、0.01μm以上0.1μm以下(好ましくは、0.03μm以上0.09μm以下)であることがよい。また、同様の点で、第2の領域の厚みは、0.3μm以上1.0μm以下(好ましくは、0.4μm以上0.9μm以下)であることがよい。   Furthermore, the thickness of the first region is 0.01 μm or more and 0.1 μm or less (preferably 0.03 μm or more and 0.09 μm or less) from the viewpoint of suppressing the increase in the residual potential while ensuring the sensitivity. Is good. In the same manner, the thickness of the second region is preferably 0.3 μm to 1.0 μm (preferably 0.4 μm to 0.9 μm).

また、本実施形態に係る電子写真感光体において、無機保護層の全体の膜厚は、例えば、1.5μm超10μm以下であることがよく、3μm以上10μm以下であることが好ましく、3μm以上6μm以下であることがより好ましい。
無機保護層の全体の膜厚を上記範囲とすると、無機保護層の傷の発生が抑制され易くなる。
In the electrophotographic photoreceptor according to the exemplary embodiment, the total thickness of the inorganic protective layer is preferably, for example, more than 1.5 μm and not more than 10 μm, preferably not less than 3 μm and not more than 10 μm, and preferably not less than 3 μm and not more than 6 μm. The following is more preferable.
When the total film thickness of the inorganic protective layer is within the above range, the occurrence of scratches on the inorganic protective layer is easily suppressed.

−無機保護層の形成−
無機保護層の形成には、例えば、プラズマCVD(Chemical Vapor Deposition)法、有機金属気相成長法、分子線エキタピシー法、蒸着、スパッタリング等の公知の気相成膜法が利用される。
-Formation of inorganic protective layer-
For the formation of the inorganic protective layer, for example, a known vapor deposition method such as plasma CVD (Chemical Vapor Deposition), metal organic vapor phase epitaxy, molecular beam epitaxy, vapor deposition, sputtering or the like is used.

以下、無機保護層の形成について、成膜装置の一例を図面に示しつつ具体例を挙げて説明する。なお、以下の説明は、ガリウム、酸素、及び水素を含んで構成された無機保護層の形成方法について示すが、これに限られず、目的とする無機保護層の組成に応じて、周知の形成方法を適用すればよい。   Hereinafter, the formation of the inorganic protective layer will be described with reference to specific examples while showing an example of the film forming apparatus in the drawings. In addition, although the following description shows the formation method of the inorganic protective layer comprised including gallium, oxygen, and hydrogen, it is not restricted to this, According to the composition of the target inorganic protective layer, a well-known formation method Should be applied.

図5は、本実施形態に係る電子写真感光体の無機保護層の形成に用いる成膜装置の一例を示す概略模式図であり、図5(A)は、成膜装置を側面から見た場合の模式断面図を表し、図5(B)は、図5(A)に示す成膜装置のA1−A2間における模式断面図を表す。図5中、210は成膜室、211は排気口、212は基体回転部、213は基体支持部材、214は基体、215はガス導入管、216はガス導入管215から導入したガスを噴射する開口を有するシャワーノズル、217はプラズマ拡散部、218は高周波電力供給部、219は平板電極、220はガス導入管、221は高周波放電管部である。   FIG. 5 is a schematic diagram showing an example of a film forming apparatus used for forming the inorganic protective layer of the electrophotographic photosensitive member according to the present embodiment. FIG. 5A is a case where the film forming apparatus is viewed from the side. 5B is a schematic cross-sectional view taken along line A1-A2 of the film formation apparatus illustrated in FIG. 5A. In FIG. 5, 210 is a film forming chamber, 211 is an exhaust port, 212 is a substrate rotating unit, 213 is a substrate support member, 214 is a substrate, 215 is a gas introduction pipe, and 216 is for injecting gas introduced from the gas introduction pipe 215. A shower nozzle having an opening, 217 is a plasma diffusion unit, 218 is a high-frequency power supply unit, 219 is a flat plate electrode, 220 is a gas introduction tube, and 221 is a high-frequency discharge tube unit.

図5に示す成膜装置において、成膜室210の一端には、不図示の真空排気装置に接続された排気口211が設けられており、成膜室210の排気口211が設けられた側と反対側に、高周波電力供給部218、平板電極219及び高周波放電管部221からなるプラズマ発生装置が設けられている。
このプラズマ発生装置は、高周波放電管部221と、高周波放電管部221内に配置され、放電面が排気口211側に設けられた平板電極219と、高周波放電管部221外に配置され、平板電極219の放電面と反対側の面に接続された高周波電力供給部218とから構成されたものである。なお、高周波放電管部221には、高周波放電管部221内にガスを供給するためのガス導入管220が接続されており、このガス導入管220のもう一方の端は、不図示の第1のガス供給源に接続されている。
In the film forming apparatus shown in FIG. 5, an exhaust port 211 connected to a vacuum exhaust device (not shown) is provided at one end of the film forming chamber 210, and the side on which the exhaust port 211 of the film forming chamber 210 is provided. On the opposite side, a plasma generator comprising a high frequency power supply unit 218, a plate electrode 219, and a high frequency discharge tube unit 221 is provided.
This plasma generator is arranged in a high frequency discharge tube portion 221, a high frequency discharge tube portion 221, a flat plate electrode 219 having a discharge surface provided on the exhaust port 211 side, a high frequency discharge tube portion 221 and a flat plate. The high-frequency power supply unit 218 is connected to the surface of the electrode 219 opposite to the discharge surface. The high-frequency discharge tube portion 221 is connected to a gas introduction tube 220 for supplying gas into the high-frequency discharge tube portion 221, and the other end of the gas introduction tube 220 is a first not shown. Connected to the gas supply.

なお、図5に示す成膜装置に設けられたプラズマ発生装置の代わりに、図6に示すプラズマ発生装置を用いてもよい。図6は、図5に示す成膜装置において利用されるプラズマ発生装置の他の例を示す概略模式図であり、プラズマ発生装置の側面図である。図6中、222が高周波コイル、223が石英管を表し、220は、図5中に示すものと同様である。このプラズマ発生装置は、石英管223と、石英管223の外周面に沿って設けられた高周波コイル222とからなり、石英管223の一方の端は成膜室210(図6中、不図示)と接続されている。また、石英管223のもう一方の端には、石英管223内にガスを導入するためのガス導入管220が接続されている。   Note that the plasma generator shown in FIG. 6 may be used instead of the plasma generator provided in the deposition apparatus shown in FIG. FIG. 6 is a schematic diagram showing another example of the plasma generator used in the film forming apparatus shown in FIG. 5, and is a side view of the plasma generator. In FIG. 6, 222 is a high frequency coil, 223 is a quartz tube, and 220 is the same as that shown in FIG. This plasma generator is composed of a quartz tube 223 and a high-frequency coil 222 provided along the outer peripheral surface of the quartz tube 223, and one end of the quartz tube 223 is a film forming chamber 210 (not shown in FIG. 6). Connected with. A gas introduction tube 220 for introducing gas into the quartz tube 223 is connected to the other end of the quartz tube 223.

図5において、平板電極219の放電面側には、放電面に沿って延びる棒状のシャワーノズル216が接続されており、シャワーノズル216の一端は、ガス導入管215と接続されており、このガス導入管215は成膜室210外に設けられた不図示の第2のガス供給源と接続されている。
また、成膜室210内には、基体回転部212が設けられており、円筒状の基体214が、シャワーノズル216の長手方向と基体214の軸方向とが沿って対面するように基体支持部材213を介して基体回転部212に取りつけられるようになっている。成膜に際しては、基体回転部212が回転することによって、基体214が周方向に回転する。なお、基体214としては、例えば、予め有機感光層まで積層された感光体等が用いられる。
In FIG. 5, a rod-shaped shower nozzle 216 extending along the discharge surface is connected to the discharge surface side of the plate electrode 219, and one end of the shower nozzle 216 is connected to a gas introduction pipe 215. The introduction pipe 215 is connected to a second gas supply source (not shown) provided outside the film formation chamber 210.
In addition, a substrate rotating unit 212 is provided in the film forming chamber 210, and the substrate supporting member is arranged so that the cylindrical substrate 214 faces along the longitudinal direction of the shower nozzle 216 and the axial direction of the substrate 214. It can be attached to the base rotating part 212 via 213. During film formation, the substrate 214 rotates in the circumferential direction by rotating the substrate rotating unit 212. As the substrate 214, for example, a photoconductor previously laminated up to the organic photosensitive layer is used.

無機保護層の形成は、例えば、以下のように実施する。
まず、酸素ガス(又は、ヘリウム(He)希釈酸素ガス)、ヘリウム(He)ガス、及び必要に応じ水素(H)ガスを、ガス導入管220から高周波放電管部221内に導入すると共に、高周波電力供給部218から平板電極219に、13.56MHzのラジオ波を供給する。この際、平板電極219の放電面側から排気口211側へと放射状に広がるようにプラズマ拡散部217が形成される。ここで、ガス導入管220から導入されたガスは成膜室210を平板電極219側から排気口211側へと流れる。平板電極219は電極の周りをアースシールドで囲んだものでもよい。
The inorganic protective layer is formed as follows, for example.
First, oxygen gas (or helium (He) diluted oxygen gas), helium (He) gas, and hydrogen (H 2 ) gas as needed are introduced into the high-frequency discharge tube portion 221 from the gas introduction tube 220, and A radio wave of 13.56 MHz is supplied from the high frequency power supply unit 218 to the plate electrode 219. At this time, the plasma diffusion portion 217 is formed so as to spread radially from the discharge surface side of the plate electrode 219 to the exhaust port 211 side. Here, the gas introduced from the gas introduction pipe 220 flows through the film forming chamber 210 from the plate electrode 219 side to the exhaust port 211 side. The plate electrode 219 may be one in which the electrode is surrounded by a ground shield.

次に、トリメチルガリウムガスをガス導入管215、活性化手段である平板電極219の下流側に位置するシャワーノズル216を介して成膜室210に導入することによって、基体214表面にガリウムと酸素と水素とを含む非単結晶膜を成膜する。
基体214としては、例えば、有機感光層が形成された基体を用いる。
Next, trimethylgallium gas is introduced into the film formation chamber 210 through a gas introduction pipe 215 and a shower nozzle 216 located downstream of the plate electrode 219 serving as an activating means. A non-single-crystal film containing hydrogen is formed.
As the substrate 214, for example, a substrate on which an organic photosensitive layer is formed is used.

無機保護層の成膜時の基体214表面の温度は、有機感光層を有する有機感光体を用いるので、150℃以下が望ましく、100℃以下がより望ましく、30℃以上100℃以下が特に望ましい。
基体214表面の温度が成膜開始当初は150℃以下であっても、プラズマの影響で150℃より高くなる場合には有機感光層が熱で損傷を受ける場合があるため、この影響を考慮して基体214の表面温度を制御することが望ましい。
基体214表面の温度は加熱手段、冷却手段(図中、不図示)等によって制御してもよいし、放電時の自然な温度の上昇に任せてもよい。基体214を加熱する場合にはヒータを基体214の外側や内側に設置してもよい。基体214を冷却する場合には基体214の内側に冷却用の気体又は液体を循環させてもよい。
放電による基体214表面の温度の上昇を避けたい場合には、基体214表面に当たる高エネルギーの気体流を調節することが効果的である。この場合、ガス流量や放電出力、圧力などの条件を所要温度となるように調整する。
The temperature of the surface of the substrate 214 during the formation of the inorganic protective layer is preferably 150 ° C. or lower, more preferably 100 ° C. or lower, and particularly preferably 30 ° C. or higher and 100 ° C. or lower because an organic photoreceptor having an organic photosensitive layer is used.
Even if the temperature of the surface of the substrate 214 is 150 ° C. or less at the beginning of film formation, if the temperature is higher than 150 ° C. due to the influence of plasma, the organic photosensitive layer may be damaged by heat. Thus, it is desirable to control the surface temperature of the substrate 214.
The temperature of the surface of the substrate 214 may be controlled by a heating means, a cooling means (not shown in the figure) or the like, or may be left to a natural temperature rise during discharge. In the case of heating the base 214, a heater may be installed outside or inside the base 214. When the substrate 214 is cooled, a cooling gas or liquid may be circulated inside the substrate 214.
In order to avoid an increase in the temperature of the surface of the substrate 214 due to electric discharge, it is effective to adjust a high-energy gas flow that strikes the surface of the substrate 214. In this case, conditions such as the gas flow rate, discharge output, and pressure are adjusted so as to achieve the required temperature.

また、トリメチルガリウムガスの代わりにアルミニウムを含む有機金属化合物やジボラン等の水素化物を用いることもでき、これらを2種類以上混合してもよい。
例えば、無機保護層の形成の初期において、トリメチルインジウムをガス導入管215、シャワーノズル216を介して成膜室210内に導入することにより、基体214上に窒素とインジウムとを含む膜を成膜すれば、この膜が、継続して成膜する場合に発生し、有機感光層を劣化させる紫外線を吸収する。このため、成膜時の紫外線の発生による有機感光層へのダメージが抑制される。
Further, instead of trimethylgallium gas, hydrides such as organometallic compounds containing aluminum and diborane may be used, and two or more of these may be mixed.
For example, in the initial stage of forming the inorganic protective layer, trimethylindium is introduced into the deposition chamber 210 through the gas introduction tube 215 and the shower nozzle 216, thereby forming a film containing nitrogen and indium on the substrate 214. In this case, the film absorbs ultraviolet rays that are generated when the film is continuously formed and deteriorate the organic photosensitive layer. For this reason, damage to the organic photosensitive layer due to generation of ultraviolet rays during film formation is suppressed.

また、成膜時におけるドーパントのドーピングの方法としては、n型用としてはSiH,SnHを、p型用としては、ビスシクロペンタジエニルマグネシウム、ジメチルカルシウム、ジメチルストロンチウム、などをガス状態で使用する。また、ドーパント元素を表面層中にドーピングするには、熱拡散法、イオン注入法等の公知の方法を採用してもよい。
具体的には、例えば、少なくとも一つ以上のドーパント元素を含むガスをガス導入管215、シャワーノズル216を介して成膜室210内に導入することによって、n型、p型等の導電型の無機保護層を得る。
Further, as a dopant doping method during film formation, SiH 3 and SnH 4 are used for n-type, and biscyclopentadienylmagnesium, dimethyl calcium, dimethylstrontium, etc. are used in a gas state for p-type. use. In order to dope the dopant element into the surface layer, a known method such as a thermal diffusion method or an ion implantation method may be employed.
Specifically, for example, by introducing a gas containing at least one dopant element into the film formation chamber 210 via the gas introduction pipe 215 and the shower nozzle 216, a conductive type such as n-type or p-type is used. An inorganic protective layer is obtained.

図5及び図6を用いて説明した成膜装置では、放電エネルギーにより形成される活性窒素又は活性水素を、活性装置を複数設けて独立に制御してもよいし、NHなど、窒素原子と水素原子を同時に含むガスを用いてもよい。さらにHを加えてもよい。また、有機金属化合物から活性水素が遊離生成する条件を用いてもよい。
このようにすることで、基体214表面上には、活性化された、炭素原子、ガリウム原子、窒素原子、水素原子、等が制御された状態で存在する。そして、活性化された水素原子が、有機金属化合物を構成するメチル基やエチル基等の炭化水素基の水素を分子として脱離させる効果を有する。
このため、三次元的な結合を構成する硬質膜(無機保護層)が形成される。
In the film formation apparatus described with reference to FIGS. 5 and 6, active nitrogen or active hydrogen formed by discharge energy may be controlled independently by providing a plurality of active apparatuses, or may be combined with nitrogen atoms such as NH 3. You may use the gas which contains a hydrogen atom simultaneously. Further, H 2 may be added. Alternatively, conditions under which active hydrogen is liberated from an organometallic compound may be used.
By doing so, activated carbon atoms, gallium atoms, nitrogen atoms, hydrogen atoms, and the like exist on the surface of the substrate 214 in a controlled state. Then, the activated hydrogen atom has an effect of desorbing hydrogen of a hydrocarbon group such as a methyl group or an ethyl group constituting the organometallic compound as a molecule.
For this reason, a hard film (inorganic protective layer) constituting a three-dimensional bond is formed.

図5及び図6に示す成膜装置のプラズマ発生手段は、高周波発振装置を用いたものであるが、これに限定されるものではなく、例えば、マイクロ波発振装置を用いたり、エレクトロサイクロトロン共鳴方式やヘリコンプラズマ方式の装置を用いてもよい。また、高周波発振装置の場合は、誘導型でも容量型でもよい。
さらに、これらの装置を2種類以上組み合わせて用いてもよく、あるいは、同種の装置を2つ以上用いてもよい。プラズマの照射によって基体214表面の温度上昇を抑制するためには高周波発振装置が望ましいが、熱の照射を抑制する装置を設けてもよい。
The plasma generating means of the film forming apparatus shown in FIGS. 5 and 6 uses a high-frequency oscillator, but is not limited to this. For example, a microwave oscillator or an electrocyclotron resonance method is used. Alternatively, a helicon plasma type apparatus may be used. Further, in the case of a high-frequency oscillation device, it may be inductive or capacitive.
Furthermore, two or more of these devices may be used in combination, or two or more of the same types of devices may be used. In order to suppress the temperature rise on the surface of the substrate 214 by plasma irradiation, a high-frequency oscillation device is desirable, but a device for suppressing heat irradiation may be provided.

2種類以上の異なるプラズマ発生装置(プラズマ発生手段)を用いる場合には、同じ圧力で同時に放電が生起されるようにすることが望ましい。また、放電する領域と、成膜する領域(基体が設置された部分)とに圧力差を設けてもよい。これらの装置は、成膜装置内をガスが導入される部分から排出される部分へと形成されるガス流に対して直列に配置してもよいし、いずれの装置も基体の成膜面に対向するように配置してもよい。   When two or more different plasma generators (plasma generating means) are used, it is desirable that discharges are generated simultaneously at the same pressure. In addition, a pressure difference may be provided between the discharge area and the film formation area (the portion where the base is installed). These apparatuses may be arranged in series with respect to the gas flow formed in the film forming apparatus from the part where the gas is introduced to the part where the gas is discharged. You may arrange | position so that it may oppose.

例えば、2種類のプラズマ発生手段をガス流に対して直列に設置する場合、図5に示す成膜装置を例に上げれば、シャワーノズル216を電極として成膜室210内に放電を起こさせる第2のプラズマ発生装置として利用される。この場合、例えば、ガス導入管215を介して、シャワーノズル216に高周波電圧を印加して、シャワーノズル216を電極として成膜室210内に放電を起こさせる。あるいは、シャワーノズル216を電極として利用する代わりに、成膜室210内の基体214と平板電極219との間に円筒状の電極を設けて、この円筒状電極を利用して、成膜室210内に放電を起こさせる。
また、異なる2種類のプラズマ発生装置を同一の圧力下で利用する場合、例えば、マイクロ波発振装置と高周波発振装置とを用いる場合、励起種の励起エネルギーを大きく変えることができ、膜質の制御に有効である。また、放電は大気圧近傍(70000Pa以上110000Pa以下)で行ってもよい。大気圧近傍で放電を行う場合にはキャリアガスとしてHeを使用することが望ましい。
For example, when two types of plasma generating means are installed in series with respect to the gas flow, the film forming apparatus shown in FIG. 5 is taken as an example, and a discharge is caused in the film forming chamber 210 using the shower nozzle 216 as an electrode. 2 is used as a plasma generator. In this case, for example, a high frequency voltage is applied to the shower nozzle 216 via the gas introduction pipe 215 to cause discharge in the film forming chamber 210 using the shower nozzle 216 as an electrode. Alternatively, instead of using the shower nozzle 216 as an electrode, a cylindrical electrode is provided between the substrate 214 and the plate electrode 219 in the film forming chamber 210, and this film is used to form the film forming chamber 210. Causes a discharge inside.
In addition, when two different types of plasma generators are used under the same pressure, for example, when using a microwave oscillator and a high-frequency oscillator, the excitation energy of the excited species can be greatly changed, and the film quality can be controlled. It is valid. Moreover, you may perform discharge by atmospheric pressure vicinity (70000 Pa or more and 110000 Pa or less). When discharging near atmospheric pressure, it is desirable to use He as a carrier gas.

無機保護層の形成は、例えば、成膜室210に基体上に有機感光層を形成した基体214を設置し、各々組成の異なる混合ガスを導入して、無機保護層を形成する。   For forming the inorganic protective layer, for example, the base 214 having an organic photosensitive layer formed on the base is placed in the film forming chamber 210, and mixed gases having different compositions are introduced to form the inorganic protective layer.

また、成膜条件としては、例えば高周波放電により放電する場合、低温で良質な成膜を行うには、周波数として10kHz以上50MHz以下の範囲とすることが望ましい。また、出力は基体214の大きさに依存するが、基体の表面積に対して0.01W/cm以上0.2W/cm以下の範囲とすることが望ましい。基体214の回転速度は0.1rpm以上500rpm以下の範囲が望ましい。 As film formation conditions, for example, when discharging is performed by high-frequency discharge, it is desirable that the frequency be in the range of 10 kHz to 50 MHz in order to perform high-quality film formation at a low temperature. Further, the output is dependent on the size of the substrate 214, it is desirable to 0.01 W / cm 2 or more 0.2 W / cm 2 or less in the range of the surface area of the substrate. The rotation speed of the substrate 214 is desirably in the range of 0.1 rpm to 500 rpm.

なお、無機保護層の第1の領域および第2の領域の元素構成比率(酸素/第13族元素)および体積抵抗率は、例えば、プラズマ発生装置の圧力および高周波電力を制御することで調整される。また、プラズマ発生装置に供給するトリメチルガリウム、ヘリウム希釈の酸素、及び水素の流量比によって調整される。具体的には、トリメチルガリウム及びヘリウム希釈の酸素の流量比で調整される。第1の領域および第2の領域のそれぞれの厚みについては、プラズマ発生装置に供給するトリメチルガリウムとヘリウム希釈の酸素を供給時間によって調整される。   The element composition ratio (oxygen / Group 13 element) and volume resistivity of the first region and the second region of the inorganic protective layer are adjusted by controlling the pressure and high-frequency power of the plasma generator, for example. The Further, the flow rate is adjusted by the flow ratio of trimethylgallium, helium-diluted oxygen, and hydrogen supplied to the plasma generator. Specifically, it is adjusted by the flow ratio of trimethylgallium and helium diluted oxygen. The thicknesses of the first region and the second region are adjusted according to the supply time of trimethylgallium and helium-diluted oxygen supplied to the plasma generator.

以上、電子写真感光体として有機感光層が機能分離型で、電荷輸送層が単層型の例を説明したが、図2に示される電子写真感光体(有機感光層が機能分離型で、電荷輸送層が複層型の例)の場合、無機保護層5と接する電荷輸送層3Aは図1に示す電子写真感光体の電荷輸送層3と同じ構成とする一方で、無機保護層5と接しない電荷輸送層3Bは周知の電荷輸送層と同じ構成とすることがよい。
但し、電荷輸送層3Aの膜厚は、1μm以上15μm以下とすることがよい。また、電荷輸送層3Bの膜厚は、15μm以上29μm以下とすることがよい。
As described above, an example in which the organic photosensitive layer is a function separation type and the charge transport layer is a single layer type as an electrophotographic photoreceptor has been described. However, the electrophotographic photoreceptor shown in FIG. In the case where the transport layer is a multilayer type), the charge transport layer 3A in contact with the inorganic protective layer 5 has the same configuration as the charge transport layer 3 of the electrophotographic photosensitive member shown in FIG. The charge transport layer 3B not to be used may have the same configuration as a known charge transport layer.
However, the thickness of the charge transport layer 3A is preferably 1 μm or more and 15 μm or less. The film thickness of the charge transport layer 3B is preferably 15 μm or more and 29 μm or less.

一方、図3に示される電子写真感光体(有機感光層が単層型の例)の場合、単層型有機感光層6(電荷発生/電荷輸送層)は、電子写真感光体の電荷輸送層3と電荷発生材料を含む以外は同じ構成とすることがよい。
但し、単層型有機感光層6中の電荷発生材料の含有量は、単層型有機感光層全体に対して、0.1質量%以上10質量%以下(好ましくは0.8質量%以上5質量%以下)とすることがよい。電荷輸送材料の含有量は、全固形分に対して5質量%以上50質量%以下がよい。
また、単層型有機感光層6の膜厚は、15μm以上30μm以下とすることがよい。
On the other hand, in the case of the electrophotographic photosensitive member shown in FIG. 3 (example in which the organic photosensitive layer is a single layer type), the single layer type organic photosensitive layer 6 (charge generation / charge transporting layer) is the charge transporting layer of the electrophotographic photosensitive member. 3 and the charge generating material are preferably used except that the charge generating material is included.
However, the content of the charge generating material in the single-layer type organic photosensitive layer 6 is 0.1% by mass or more and 10% by mass or less (preferably 0.8% by mass or more and 5% or less) with respect to the entire single-layer type organic photosensitive layer. Mass% or less). The content of the charge transport material is preferably 5% by mass or more and 50% by mass or less with respect to the total solid content.
The film thickness of the single-layer type organic photosensitive layer 6 is preferably 15 μm or more and 30 μm or less.

さらに、無機保護層は、感光層上に、前述の第1の領域と第2の領域との組み合わせを、この順で、繰り返し多層に積層して形成してもよい。
例えば、図4に示される電子写真感光体では、無機保護層が、第1の領域と第2の領域との組み合わせを、この順で繰り返し積層された繰り返し回数が3回で構成されている例を示している。なお、繰り返し回数とは、感光層側から、第1の領域と第2の領域とを、この順で積層した組み合わせを1単位とし、この単位を繰り返した回数を表す。第1の領域および第2の領域の組み合わせの繰り返し積層された繰り返し回数は、例えば、2回であってもよい。感度を確保しつつ、残留電位の上昇をより抑制する点で、第1の領域および第2の領域の繰り返し回数は、3回以上10回以下であることがよい。繰り返し回数は、4回以上でもよく、5回以上であってもよい。また、9回以下でもよく、8回以下であってもよい。
Further, the inorganic protective layer may be formed on the photosensitive layer by repeatedly laminating a combination of the first region and the second region in this order.
For example, in the electrophotographic photosensitive member shown in FIG. 4, an example in which the inorganic protective layer is configured by repeating the combination of the first region and the second region in the order of three repetitions. Is shown. Note that the number of repetitions represents the number of repetitions of this unit, with the combination of the first region and the second region stacked in this order from the photosensitive layer side as one unit. The number of repetitions of the repeated combination of the combination of the first region and the second region may be two times, for example. The number of repetitions of the first region and the second region is preferably 3 or more and 10 or less from the viewpoint of further suppressing the increase in the residual potential while ensuring the sensitivity. The number of repetitions may be 4 times or more, or 5 times or more. Further, it may be 9 times or less, or 8 times or less.

また、無機保護層の形成において、各層は、その目的とする元素構成比率、又は体積抵抗率に応じて、各々組成の異なる混合ガスを導入して、連続的に形成してもよいし、別個独立に行ってもよい。また、各層は、その目的とする元素構成比率、又は体積抵抗率に応じて、成膜条件を選択すればよい。   In the formation of the inorganic protective layer, each layer may be formed continuously by introducing mixed gases having different compositions according to the target elemental composition ratio or volume resistivity, or separately. It may be done independently. Moreover, what is necessary is just to select the film-forming conditions for each layer according to the element composition ratio or volume resistivity made into the objective.

[画像形成装置(及びプロセスカートリッジ)]
本実施形態に係る画像形成装置は、電子写真感光体と、電子写真感光体の表面を帯電する帯電手段と、帯電した電子写真感光体の表面に静電潜像を形成する静電潜像形成手段と、トナーを含む現像剤により電子写真感光体の表面に形成された静電潜像を現像してトナー像を形成する現像手段と、トナー像を記録媒体の表面に転写する転写手段と、を備える。そして、電子写真感光体として、上記本実施形態に係る電子写真感光体が適用される。
[Image forming apparatus (and process cartridge)]
The image forming apparatus according to the present embodiment includes an electrophotographic photosensitive member, a charging unit that charges the surface of the electrophotographic photosensitive member, and an electrostatic latent image formation that forms an electrostatic latent image on the surface of the charged electrophotographic photosensitive member. Means, developing means for developing the electrostatic latent image formed on the surface of the electrophotographic photosensitive member with a developer containing toner to form a toner image, and transfer means for transferring the toner image to the surface of the recording medium; Is provided. The electrophotographic photosensitive member according to the present embodiment is applied as the electrophotographic photosensitive member.

本実施形態に係る画像形成装置は、記録媒体の表面に転写されたトナー像を定着する定着手段を備える装置;電子写真感光体の表面に形成されたトナー像を直接記録媒体に転写する直接転写方式の装置;電子写真感光体の表面に形成されたトナー像を中間転写体の表面に一次転写し、中間転写体の表面に転写されたトナー像を記録媒体の表面に二次転写する中間転写方式の装置;トナー像の転写後、帯電前の電子写真感光体の表面をクリーニングするクリーニング手段を備えた装置;トナー像の転写後、帯電前に電子写真感光体の表面に除電光を照射して除電する除電手段を備える装置;電子写真感光体の温度を上昇させ、相対温度を低減させるための電子写真感光体加熱部材を備える装置等の周知の画像形成装置が適用される。   The image forming apparatus according to the present embodiment includes an apparatus having fixing means for fixing a toner image transferred to the surface of a recording medium; direct transfer for directly transferring the toner image formed on the surface of the electrophotographic photosensitive member to the recording medium Type apparatus; intermediate transfer in which the toner image formed on the surface of the electrophotographic photosensitive member is primarily transferred onto the surface of the intermediate transfer member, and the toner image transferred onto the surface of the intermediate transfer member is secondarily transferred onto the surface of the recording medium. Type of apparatus; apparatus with cleaning means for cleaning the surface of the electrophotographic photosensitive member after the toner image is transferred and before charging; after the toner image is transferred, the surface of the electrophotographic photosensitive member is irradiated with a charge eliminating light before charging. A known image forming apparatus such as an apparatus provided with an electrophotographic photoreceptor heating member for raising the temperature of the electrophotographic photoreceptor and reducing the relative temperature is applied.

中間転写方式の装置の場合、転写手段は、例えば、表面にトナー像が転写される中間転写体と、電子写真感光体の表面に形成されたトナー像を中間転写体の表面に一次転写する一次転写手段と、中間転写体の表面に転写されたトナー像を記録媒体の表面に二次転写する二次転写手段と、を有する構成が適用される。   In the case of an intermediate transfer type apparatus, the transfer means includes, for example, an intermediate transfer body on which a toner image is transferred to the surface, and a primary transfer that primarily transfers the toner image formed on the surface of the electrophotographic photosensitive member to the surface of the intermediate transfer body. A configuration including a transfer unit and a secondary transfer unit that secondarily transfers the toner image transferred onto the surface of the intermediate transfer member onto the surface of the recording medium is applied.

本実施形態に係る画像形成装置は、乾式現像方式の画像形成装置、湿式現像方式(液体現像剤を利用した現像方式)の画像形成装置のいずれであってもよい。   The image forming apparatus according to the present embodiment may be either a dry developing type image forming apparatus or a wet developing type (developing type using a liquid developer).

なお、本実施形態に係る画像形成装置において、例えば、電子写真感光体を備える部分が、画像形成装置に対して着脱されるカートリッジ構造(プロセスカートリッジ)であってもよい。プロセスカートリッジとしては、例えば、本実施形態に係る電子写真感光体を備えるプロセスカートリッジが好適に用いられる。なお、プロセスカートリッジには、電子写真感光体以外に、例えば、帯電手段、静電潜像形成手段、現像手段、転写手段からなる群から選択される少なくとも一つを備えてもよい。   In the image forming apparatus according to the present embodiment, for example, the part including the electrophotographic photosensitive member may have a cartridge structure (process cartridge) that is detachable from the image forming apparatus. As the process cartridge, for example, a process cartridge including the electrophotographic photosensitive member according to this embodiment is preferably used. In addition to the electrophotographic photosensitive member, the process cartridge may include at least one selected from the group consisting of a charging unit, an electrostatic latent image forming unit, a developing unit, and a transfer unit.

以下、本実施形態に係る画像形成装置の一例を示すが、これに限定されるわけではない。なお、図に示す主要部を説明し、その他はその説明を省略する。   Hereinafter, an example of the image forming apparatus according to the present embodiment will be described, but the present invention is not limited thereto. In addition, the main part shown to a figure is demonstrated and the description is abbreviate | omitted about others.

図7は、本実施形態に係る画像形成装置の一例を示す概略構成図である。
本実施形態に係る画像形成装置100は、図7に示すように、電子写真感光体7を備えるプロセスカートリッジ300と、露光装置9(静電潜像形成手段の一例)と、転写装置40(一次転写装置)と、中間転写体50とを備える。なお、画像形成装置100において、露光装置9はプロセスカートリッジ300の開口部から電子写真感光体7に露光し得る位置に配置されており、転写装置40は中間転写体50を介して電子写真感光体7に対向する位置に配置されており、中間転写体50はその一部が電子写真感光体7に接触して配置されている。図示しないが、中間転写体50に転写されたトナー像を記録媒体(例えば用紙)に転写する二次転写装置も有している。なお、中間転写体50、転写装置40(一次転写装置)、及び二次転写装置(不図示)が転写手段の一例に相当する。なお、画像形成装置100において、制御装置60(制御手段の一例)は、画像形成装置100内の各装置及び各部材の動作を制御する装置であり、各装置及び各部材と接続されて配置されている。
FIG. 7 is a schematic configuration diagram illustrating an example of an image forming apparatus according to the present embodiment.
As shown in FIG. 7, the image forming apparatus 100 according to this embodiment includes a process cartridge 300 including an electrophotographic photosensitive member 7, an exposure device 9 (an example of an electrostatic latent image forming unit), and a transfer device 40 (primary. Transfer device) and an intermediate transfer member 50. In the image forming apparatus 100, the exposure device 9 is disposed at a position where the electrophotographic photosensitive member 7 can be exposed from the opening of the process cartridge 300, and the transfer device 40 is interposed between the electrophotographic photosensitive member via the intermediate transfer member 50. 7, and a part of the intermediate transfer member 50 is disposed in contact with the electrophotographic photosensitive member 7. Although not shown, it also has a secondary transfer device that transfers the toner image transferred to the intermediate transfer member 50 to a recording medium (for example, paper). The intermediate transfer member 50, the transfer device 40 (primary transfer device), and the secondary transfer device (not shown) correspond to an example of a transfer unit. In the image forming apparatus 100, the control device 60 (an example of a control unit) is a device that controls the operation of each device and each member in the image forming device 100, and is connected to each device and each member. ing.

図7におけるプロセスカートリッジ300は、ハウジング内に、電子写真感光体7、帯電装置8(帯電手段の一例)、現像装置11(現像手段の一例)、及びクリーニング装置13(クリーニング手段の一例)を一体に支持している。クリーニング装置13は、クリーニングブレード(クリーニング部材の一例)131を有しており、クリーニングブレード131は、電子写真感光体7の表面に接触するように配置されている。なお、クリーニング部材は、クリーニングブレード131の態様ではなく、導電性又は絶縁性の繊維状部材であってもよく、これを単独で、又はクリーニングブレード131と併用してもよい。   In the process cartridge 300 in FIG. 7, an electrophotographic photosensitive member 7, a charging device 8 (an example of a charging unit), a developing device 11 (an example of a developing unit), and a cleaning device 13 (an example of a cleaning unit) are integrated in a housing. I support it. The cleaning device 13 includes a cleaning blade (an example of a cleaning member) 131, and the cleaning blade 131 is disposed so as to contact the surface of the electrophotographic photosensitive member 7. The cleaning member may be a conductive or insulating fibrous member instead of the cleaning blade 131, and may be used alone or in combination with the cleaning blade 131.

なお、図7には、画像形成装置として、潤滑材14を電子写真感光体7の表面に供給する繊維状部材132(ロール状)、及び、クリーニングを補助する繊維状部材133(平ブラシ状)を備えた例を示してあるが、これらは必要に応じて配置される。   In FIG. 7, as an image forming apparatus, a fibrous member 132 (roll shape) for supplying the lubricant 14 to the surface of the electrophotographic photosensitive member 7 and a fibrous member 133 (flat brush shape) for assisting cleaning are shown. Examples are provided, but these are arranged as necessary.

以下、本実施形態に係る画像形成装置の各構成について説明する。   Hereinafter, each configuration of the image forming apparatus according to the present embodiment will be described.

−帯電装置−
帯電装置8としては、例えば、導電性又は半導電性の帯電ローラ、帯電ブラシ、帯電フィルム、帯電ゴムブレード、帯電チューブ等を用いた接触型帯電器が使用される。また、非接触方式のローラ帯電器、コロナ放電を利用したスコロトロン帯電器やコロトロン帯電器等のそれ自体公知の帯電器等も使用される。
-Charging device-
As the charging device 8, for example, a contact type charger using a conductive or semiconductive charging roller, a charging brush, a charging film, a charging rubber blade, a charging tube or the like is used. Further, a non-contact type roller charger, a known charger such as a scorotron charger using a corona discharge or a corotron charger may be used.

−露光装置−
露光装置9としては、例えば、電子写真感光体7表面に、半導体レーザ光、LED光、液晶シャッタ光等の光を、定められた像様に露光する光学系機器等が挙げられる。光源の波長は電子写真感光体の分光感度領域内とする。半導体レーザの波長としては、780nm付近に発振波長を有する近赤外が主流である。しかし、この波長に限定されず、600nm台の発振波長レーザや青色レーザとして400nm以上450nm以下に発振波長を有するレーザも利用してもよい。また、カラー画像形成のためにはマルチビームを出力し得るタイプの面発光型のレーザ光源も有効である。
-Exposure device-
Examples of the exposure device 9 include optical system devices that expose the surface of the electrophotographic photoreceptor 7 with light such as semiconductor laser light, LED light, and liquid crystal shutter light in a predetermined image-like manner. The wavelength of the light source is set within the spectral sensitivity region of the electrophotographic photosensitive member. As the wavelength of the semiconductor laser, near infrared having an oscillation wavelength near 780 nm is the mainstream. However, the present invention is not limited to this wavelength, and an oscillation wavelength laser in the 600 nm range or a laser having an oscillation wavelength of 400 nm to 450 nm as a blue laser may be used. In addition, a surface-emitting type laser light source that can output a multi-beam is also effective for color image formation.

−現像装置−
現像装置11としては、例えば、現像剤を接触又は非接触させて現像する一般的な現像装置が挙げられる。現像装置11としては、上述の機能を有している限り特に制限はなく、目的に応じて選択される。例えば、一成分系現像剤又は二成分系現像剤をブラシ、ローラ等を用いて電子写真感光体7に付着させる機能を有する公知の現像器等が挙げられる。中でも現像剤を表面に保持した現像ローラを用いるものが好ましい。
-Developer-
Examples of the developing device 11 include a general developing device that performs development by bringing a developer into contact or non-contact with the developer. The developing device 11 is not particularly limited as long as it has the functions described above, and is selected according to the purpose. For example, a known developing device having a function of attaching a one-component developer or a two-component developer to the electrophotographic photosensitive member 7 using a brush, a roller, or the like can be used. Among these, those using a developing roller holding the developer on the surface are preferable.

現像装置11に使用される現像剤は、トナー単独の一成分系現像剤であってもよいし、トナーとキャリアとを含む二成分系現像剤であってもよい。また、現像剤は、磁性であってもよいし、非磁性であってもよい。これら現像剤は、周知のものが適用される。   The developer used in the developing device 11 may be a one-component developer including a toner alone or a two-component developer including a toner and a carrier. Further, the developer may be magnetic or non-magnetic. A well-known thing is applied for these developers.

−クリーニング装置−
クリーニング装置13は、クリーニングブレード131を備えるクリーニングブレード方式の装置が用いられる。
なお、クリーニングブレード方式以外にも、ファーブラシクリーニング方式、現像同時クリーニング方式を採用してもよい。
-Cleaning device-
As the cleaning device 13, a cleaning blade type device including a cleaning blade 131 is used.
In addition to the cleaning blade method, a fur brush cleaning method and a simultaneous development cleaning method may be employed.

−転写装置−
転写装置40としては、例えば、ベルト、ローラ、フィルム、ゴムブレード等を用いた接触型転写帯電器、コロナ放電を利用したスコロトロン転写帯電器やコロトロン転写帯電器等のそれ自体公知の転写帯電器が挙げられる。
-Transfer device-
Examples of the transfer device 40 include known transfer chargers such as a contact transfer charger using a belt, a roller, a film, a rubber blade, and the like, a scorotron transfer charger using a corona discharge, and a corotron transfer charger. Can be mentioned.

−中間転写体−
中間転写体50としては、半導電性を付与したポリイミド、ポリアミドイミド、ポリカーボネート、ポリアリレート、ポリエステル、ゴム等を含むベルト状のもの(中間転写ベルト)が使用される。また、中間転写体の形態としては、ベルト状以外にドラム状のものを用いてもよい。
-Intermediate transfer member-
As the intermediate transfer member 50, a belt-like member (intermediate transfer belt) containing polyimide, polyamideimide, polycarbonate, polyarylate, polyester, rubber or the like having semiconductivity is used. Further, as the form of the intermediate transfer member, a drum-like member may be used in addition to the belt-like member.

−制御装置−
制御装置60は、装置全体の制御及び各種演算を行うコンピュータとして構成されている。具体的には、制御装置60は、例えば、CPU(中央処理装置; Central Processing Unit)、各種プログラムを記憶したROM(Read Only Memory)、プログラムの実行時にワークエリアとして使用されるRAM(Random Access Memory)、各種情報を記憶する不揮発性メモリ、及び入出力インターフェース(I/O)を備えている。CPU、ROM、RAM、不揮発性メモリ、及びI/Oの各々は、バスを介して接続されている。そして、I/Oには、電子写真感光体7(駆動モータ30を含む)、帯電装置8、露光装置9、現像装置11、転写装置40等の画像形成装置100の各部が接続されている。
-Control device-
The control device 60 is configured as a computer that controls the entire device and performs various calculations. Specifically, the control device 60 includes, for example, a CPU (Central Processing Unit), a ROM (Read Only Memory) storing various programs, and a RAM (Random Access Memory) used as a work area when executing the programs. ), A nonvolatile memory for storing various information, and an input / output interface (I / O). Each of the CPU, ROM, RAM, nonvolatile memory, and I / O is connected via a bus. Each part of the image forming apparatus 100 such as the electrophotographic photosensitive member 7 (including the drive motor 30), the charging device 8, the exposure device 9, the developing device 11, and the transfer device 40 is connected to the I / O.

なお、CPUは、例えば、ROMや不揮発性メモリに記憶されているプログラム(例えば、画像形成シーケンスや回復シーケンス等)の制御プログラム)実行し、画像形成装置100の各部の動作を制御する。RAMは、ワークメモリとして使用される。ROMや不揮発性メモリには、例えば、CPUが実行するプログラムやCPUの処理に必要なデータ等が記憶されている。なお、制御プログラムや各種データは、記憶部等の他の記憶装置に記憶されていてもよいし、通信部を介して外部から取得されてもよい。   Note that the CPU executes, for example, a program (for example, a control program for an image forming sequence or a recovery sequence) stored in a ROM or a nonvolatile memory, and controls the operation of each unit of the image forming apparatus 100. The RAM is used as a work memory. The ROM and the non-volatile memory store, for example, programs executed by the CPU and data necessary for the processing of the CPU. Note that the control program and various data may be stored in another storage device such as a storage unit, or may be acquired from the outside via the communication unit.

また、制御装置60には、各種ドライブが接続されていてもよい。各種ドライブとしては、フレキシブルディスク、光磁気ディスク、CD−ROM、DVD−ROM、USB(Universal Serial Bus)メモリなどのコンピュータ読み取り可能な可搬性の記録媒体からデータを読み込んだり、記録媒体に対してデータを書き込んだりする装置が挙げられる。各種ドライブを備える場合には、可搬性の記録媒体に制御プログラムを記録しておいて、これを対応するドライブで読み込んで実行してもよい。   Various drives may be connected to the control device 60. As various drives, data is read from a computer-readable portable recording medium such as a flexible disk, magneto-optical disk, CD-ROM, DVD-ROM, USB (Universal Serial Bus) memory, etc. And a device for writing. When various types of drives are provided, a control program may be recorded on a portable recording medium, and this may be read and executed by a corresponding drive.

図8は、本実施形態に係る画像形成装置の他の一例を示す概略構成図である。
図8に示す画像形成装置120は、プロセスカートリッジ300を4つ搭載したタンデム方式の多色画像形成装置である。画像形成装置120では、中間転写体50上に4つのプロセスカートリッジ300がそれぞれ並列に配置されており、1色に付き1つの電子写真感光体が使用される構成となっている。なお、画像形成装置120は、タンデム方式であること以外は、画像形成装置100と同様の構成を有している。
FIG. 8 is a schematic configuration diagram illustrating another example of the image forming apparatus according to the present embodiment.
An image forming apparatus 120 shown in FIG. 8 is a tandem multicolor image forming apparatus equipped with four process cartridges 300. In the image forming apparatus 120, four process cartridges 300 are arranged in parallel on the intermediate transfer member 50, and one electrophotographic photosensitive member is used for one color. The image forming apparatus 120 has the same configuration as that of the image forming apparatus 100 except that it is a tandem system.

なお、本実施形態に係る画像形成装置100は、上記構成に限られず、例えば、電子写真感光体7の周囲であって、転写装置40よりも電子写真感光体7の回転方向下流側でクリーニング装置13よりも電子写真感光体の回転方向上流側に、残留したトナーの極性を揃え、クリーニングブラシで除去しやすくするための第1除電装置を設けた形態であってもよいし、クリーニング装置13よりも電子写真感光体の回転方向下流側で帯電装置8よりも電子写真感光体の回転方向上流側に、電子写真感光体7の表面を除電する第2除電装置を設けた形態であってもよい。   Note that the image forming apparatus 100 according to the present embodiment is not limited to the above configuration, and is, for example, a cleaning device around the electrophotographic photosensitive member 7 and downstream of the transfer device 40 in the rotation direction of the electrophotographic photosensitive member 7. The first toner neutralizing device may be provided on the upstream side of the rotation direction of the electrophotographic photosensitive member with respect to 13 so that the polarity of the remaining toner is aligned and easily removed with a cleaning brush. Alternatively, a configuration may be adopted in which a second static elimination device for neutralizing the surface of the electrophotographic photosensitive member 7 is provided on the downstream side in the rotation direction of the electrophotographic photosensitive member and on the upstream side in the rotational direction of the electrophotographic photosensitive member relative to the charging device 8. .

また、本実施形態に係る画像形成装置100は、上記構成に限られず、周知の構成、例えば、電子写真感光体7に形成したトナー像を直接記録媒体に転写する直接転写方式の画像形成装置を採用してもよい。   In addition, the image forming apparatus 100 according to the present embodiment is not limited to the above-described configuration, and a well-known configuration, for example, a direct transfer type image forming apparatus that directly transfers a toner image formed on the electrophotographic photoreceptor 7 to a recording medium. It may be adopted.

以下に実施例を挙げて本発明を具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例に制限されるものではない。なお、以下の実施例において「部」は質量部を意味する。   EXAMPLES The present invention will be specifically described below with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples. In the following examples, “part” means part by mass.

[シリカ粒子の準備・作製]
−シリカ粒子−
未処理(親水性)シリカ粒子「商品名:OX50(アエロジル社製)」100質量部に、疎水化処理剤として1,1,1,3,3,3−ヘキサメチルジシラザン(東京化成工業社製)30質量部を添加し、24時間反応させ、その後、濾取し疎水化処理されたシリカ粒子を得た。このシリカ粒子の縮合率は、93%であった。このシリカ粒子は、表面にトリメチルシリル基を有している。このシリカ粒子の体積平均粒径は40nmである。
[Preparation and production of silica particles]
-Silica particles-
1,1,1,3,3,3-hexamethyldisilazane (Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) as a hydrophobizing agent on 100 parts by mass of untreated (hydrophilic) silica particles “trade name: OX50 (manufactured by Aerosil)” 30 parts by mass) were added and reacted for 24 hours, and then filtered to obtain hydrophobized silica particles. The condensation rate of the silica particles was 93%. The silica particles have a trimethylsilyl group on the surface. The volume average particle diameter of the silica particles is 40 nm.

<実施例1>
−下引層の作製−
酸化亜鉛(平均粒子径70nm:テイカ社製:比表面積値15m/g)100質量部をテトラヒドロフラン500質量部と攪拌混合し、シランカップリング剤(KBM503:信越化学工業社製)1.3質量部を添加し、2時間攪拌した。その後テトラヒドロフランを減圧蒸留にて留去し、120℃で3時間焼き付けを行い、シランカップリング剤表面処理酸化亜鉛を得た。
前記表面処理を施した酸化亜鉛110質量部を500質量部のテトラヒドロフランと攪拌混合し、アリザリン0.6質量部を50質量部のテトラヒドロフランに溶解させた溶液を添加し、50℃にて5時間攪拌した。その後、減圧ろ過にてアリザリンを付与させた酸化亜鉛をろ別し、さらに60℃で減圧乾燥を行い、アリザリン付与酸化亜鉛を得た。
このアリザリン付与酸化亜鉛60質量部と、硬化剤(ブロック化イソシアネート スミジュール3175、住友バイエルンウレタン社製)13.5質量部と、ブチラール樹脂(エスレック BM−1、積水化学工業社製)15質量部とを、メチルエチルケトン85質量部と混合し、混合液を得た。この混合液38質量部とメチルエチルケトン25質量部とを混合し、1mmφのガラスビーズを用いてサンドミルにて2時間の分散を行い、分散液を得た。
得られた分散液に触媒としてジオクチルスズジラウレート:0.005質量部、シリコーン樹脂粒子(トスパール145、モメンティブ・パフォーマンス・マテリアルズ社製)40質量部を添加し、下引層形成用塗布液を得た。この塗布液を浸漬塗布法にて外径30mm、長さ365mm、厚み(肉厚)1.0mmのアルミニウム基体上に塗布し、170℃、40分の乾燥硬化を行い厚さ19μmの下引層を得た。
<Example 1>
-Production of undercoat layer-
100 parts by mass of zinc oxide (average particle diameter 70 nm: manufactured by Teika: specific surface area value 15 m 2 / g) is stirred and mixed with 500 parts by mass of tetrahydrofuran, and a silane coupling agent (KBM503: manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) 1.3 parts by mass Part was added and stirred for 2 hours. Tetrahydrofuran was then distilled off under reduced pressure and baked at 120 ° C. for 3 hours to obtain a silane coupling agent surface-treated zinc oxide.
110 parts by mass of the surface-treated zinc oxide was stirred and mixed with 500 parts by mass of tetrahydrofuran, a solution prepared by dissolving 0.6 parts by mass of alizarin in 50 parts by mass of tetrahydrofuran was added, and the mixture was stirred at 50 ° C. for 5 hours. did. Then, the zinc oxide to which alizarin was imparted by filtration under reduced pressure was filtered off, and further dried at 60 ° C. under reduced pressure to obtain alizarin imparted zinc oxide.
60 parts by mass of this alizarin-provided zinc oxide, 13.5 parts by mass of a curing agent (blocked isocyanate Sumijoule 3175, manufactured by Sumitomo Bayern Urethane Co., Ltd.), and 15 parts by mass of butyral resin (ESLEC BM-1, manufactured by Sekisui Chemical Co., Ltd.) Were mixed with 85 parts by mass of methyl ethyl ketone to obtain a mixed solution. 38 parts by mass of this mixed liquid and 25 parts by mass of methyl ethyl ketone were mixed, and dispersed for 2 hours with a sand mill using 1 mmφ glass beads to obtain a dispersion.
Dioctyltin dilaurate: 0.005 parts by mass and 40 parts by mass of silicone resin particles (Tospearl 145, manufactured by Momentive Performance Materials) are added to the resulting dispersion as a catalyst to obtain a coating solution for forming an undercoat layer. It was. This coating solution is applied onto an aluminum substrate having an outer diameter of 30 mm, a length of 365 mm, and a thickness (thickness) of 1.0 mm by a dip coating method, followed by drying and curing at 170 ° C. for 40 minutes, and an undercoat layer having a thickness of 19 μm. Got.

−電荷発生層の作製−
電荷発生物質としてのCukα特性X線を用いたX線回折スペクトルのブラッグ角度(2θ±0.2°)が少なくとも7.3°、16.0°、24.9°、28.0°の位置に回折ピークを有するヒドロキシガリウムフタロシアニン15質量部、結着樹脂としての塩化ビニル・酢酸ビニル共重合体(VMCH、日本ユニカー社製)10質量部、n−酢酸ブチル200質量部からなる混合物を、直径1mmφのガラスビーズを用いてサンドミルにて4時間分散した。得られた分散液にn−酢酸ブチル175質量部、メチルエチルケトン180質量部を添加し、攪拌して電荷発生層形成用の塗布液を得た。この電荷発生層形成用塗布液を下引層上に浸漬塗布し、常温(25℃)で乾燥して、膜厚が0.2μmの電荷発生層を形成した。
-Fabrication of charge generation layer-
Positions where the Bragg angle (2θ ± 0.2 °) of the X-ray diffraction spectrum using the Cukα characteristic X-ray as a charge generation material is at least 7.3 °, 16.0 °, 24.9 °, 28.0 ° A mixture comprising 15 parts by mass of hydroxygallium phthalocyanine having a diffraction peak at 10 parts, 10 parts by mass of vinyl chloride / vinyl acetate copolymer (VMCH, manufactured by Nihon Unicar) as a binder resin, and 200 parts by mass of n-butyl acetate, Dispersion was performed in a sand mill for 4 hours using 1 mmφ glass beads. To the obtained dispersion, 175 parts by mass of n-butyl acetate and 180 parts by mass of methyl ethyl ketone were added and stirred to obtain a coating solution for forming a charge generation layer. This charge generation layer forming coating solution was dip coated on the undercoat layer and dried at room temperature (25 ° C.) to form a charge generation layer having a thickness of 0.2 μm.

−電荷輸送層の作製−
シリカ粒子(1)65質量部に、テトラヒドロフラン250質量部を入れ、20℃の液温に保ちながら4−(2,2−ジフェニルエチル)−4’,4’’−ジメチル−トリフェニルアミン25質量部、結着樹脂として、ビスフェノールZ型ポリカーボネート樹脂(粘度平均分子量:30000)25質量部を加え、12時間攪拌混合し、電荷輸送層形成用塗布液を得た。
-Preparation of charge transport layer-
Into 65 parts by mass of silica particles (1), 250 parts by mass of tetrahydrofuran was added, and 25 masses of 4- (2,2-diphenylethyl) -4 ′, 4 ″ -dimethyl-triphenylamine was maintained at a liquid temperature of 20 ° C. As a binder resin, 25 parts by mass of a bisphenol Z-type polycarbonate resin (viscosity average molecular weight: 30000) was added and mixed with stirring for 12 hours to obtain a coating solution for forming a charge transport layer.

この電荷輸送層形成用塗布液を電荷発生層上に塗布して135℃で40分間乾燥し、膜厚が30μmの電荷輸送層を形成し、電子写真感光体を得た。   This coating solution for forming a charge transport layer was applied onto the charge generation layer and dried at 135 ° C. for 40 minutes to form a charge transport layer having a thickness of 30 μm to obtain an electrophotographic photoreceptor.

以上の工程を経て、アルミニウム基体上に、下引層と電荷発生層と電荷輸送層とをこの順に積層形成した有機感光体(1)を得た。   Through the above steps, an organic photoreceptor (1) was obtained in which an undercoat layer, a charge generation layer, and a charge transport layer were laminated in this order on an aluminum substrate.

−無機保護層の形成−
まず、無機保護層を形成するための条件を表1に示す。
無機保護層の形成には、下記の成膜装置を使用した。
・方式:プラズマCVD、容量結合型、高周波電源の周波数13.56MHz、基材回転用に磁性流体式、回転導入機を設置
・真空チャンバ形状:円筒型、直径165mm×長さ1050mm
・放電電極:寸法850mm×85mm、放電電極と基材の距離40mm
・マスフローコントローラによりガス流量設定
・ロータリーポンプおよびメカニカルブースターポンプで真空排気
・成膜前の真空到達:1.0×10−2Pa
なお、表1中、OガスはHe希釈40%濃度酸素ガス Hガスは100%濃度水素ガス TMGガスは100%濃度トリメチルガリウムガス、Heガスは100%ヘリウムガスを表す。
-Formation of inorganic protective layer-
First, Table 1 shows conditions for forming the inorganic protective layer.
The following film forming apparatus was used for forming the inorganic protective layer.
・ Method: Plasma CVD, capacitive coupling type, frequency of high frequency power supply 13.56 MHz, magnetic fluid type for substrate rotation, rotary introduction machine installed ・ Vacuum chamber shape: cylindrical type, diameter 165 mm × length 1050 mm
-Discharge electrode: Dimensions 850 mm x 85 mm, distance between discharge electrode and substrate 40 mm
・ Gas flow setting by mass flow controller ・ Vacuum evacuation by rotary pump and mechanical booster pump ・ Achieving vacuum before film formation: 1.0 × 10 −2 Pa
In Table 1, O 2 gas represents He diluted 40% concentration oxygen gas, H 2 gas represents 100% concentration hydrogen gas, TMG gas represents 100% concentration trimethyl gallium gas, and He gas represents 100% helium gas.

また、表1中の各特性は以下のようにして測定した。
原子数比:厚さ0.5mmのシリコン基板に、厚みが1.0μmとなるように成膜したサンプル膜をEDS(エネルギー分散型X線分析装置)および既述の方法で評価した。
分光透過率:厚さ1.0mm石英基板に、厚みが1.0μmとなるように成膜したサンプル膜を紫外−可視分光光度計で波長780nmでの光線透過率を評価した。
体積抵抗率:厚さ1.0mmアルミ基板に、厚みが1.0μmとなるように成膜したサンプル膜上にDCスパッタ法で直径2mmの金電極を形成し評価した。
Moreover, each characteristic in Table 1 was measured as follows.
Atom ratio: A sample film formed to a thickness of 1.0 μm on a silicon substrate having a thickness of 0.5 mm was evaluated by EDS (energy dispersive X-ray analyzer) and the method described above.
Spectral transmittance: A sample film formed to a thickness of 1.0 μm on a quartz substrate having a thickness of 1.0 mm was evaluated for light transmittance at a wavelength of 780 nm with an ultraviolet-visible spectrophotometer.
Volume resistivity: A gold electrode having a diameter of 2 mm was formed and evaluated by a DC sputtering method on a sample film formed to a thickness of 1.0 μm on an aluminum substrate having a thickness of 1.0 mm.

(第1の領域の形成)
上記で作製した有機感光体(1)を、成膜装置の成膜室内の基体支持部材に載せ、排気口を介して成膜室内を、圧力が0.01Paになるまで真空排気した。なお、この真空排気は、上記高濃度酸素含有気体の置換終了後、5分以内に行った。
次に、表2に示すように、条件4の成膜条件で成膜した。すなわち、He希釈40%酸素ガス(6sccm)、及びHガス(500sccm)を、ガス導入管から直径85mmの平板電極が設けられた高周波放電管部内に導入し、高周波電力供給部及びマッチング回路により、13.56MHzのラジオ波を出力500Wにセットしチューナでマッチングを取り平板電極から放電を行った。この時の反射波は0Wであった。
次に、トリメチルガリウムガス(7.5sccm)を、ガス導入管を介してシャワーノズルから成膜室内のプラズマ拡散部に導入した。この時、バラトロン真空計で測定した成膜室内の反応圧力は25Paであった。
この状態で、有機感光体(1)を500rpmの速度で回転させながら4分間成膜し、有機感光体(1)の電荷輸送層表面に、無機保護層の第1の領域を、膜厚0.05μmで形成した。
(Formation of the first region)
The organic photoreceptor (1) produced above was placed on a substrate support member in the film forming chamber of the film forming apparatus, and the film forming chamber was evacuated through the exhaust port until the pressure reached 0.01 Pa. The evacuation was performed within 5 minutes after the replacement of the high-concentration oxygen-containing gas.
Next, as shown in Table 2, the film was formed under the film forming conditions of Condition 4. That is, He-diluted 40% oxygen gas (6 sccm) and H 2 gas (500 sccm) are introduced from a gas introduction tube into a high-frequency discharge tube portion provided with a flat plate electrode having a diameter of 85 mm. A 13.56 MHz radio wave was set at an output of 500 W, matching was performed with a tuner, and discharge was performed from the plate electrode. The reflected wave at this time was 0 W.
Next, trimethylgallium gas (7.5 sccm) was introduced from the shower nozzle into the plasma diffusion portion in the film formation chamber via the gas introduction tube. At this time, the reaction pressure in the film forming chamber measured with a Baratron vacuum gauge was 25 Pa.
In this state, the organic photoreceptor (1) was formed for 4 minutes while rotating at a speed of 500 rpm, and the first region of the inorganic protective layer was formed on the surface of the charge transport layer of the organic photoreceptor (1) with a film thickness of 0. .05 μm.

(第2の領域の形成)
次に、高周波放電を停止し、He希釈40%酸素ガス(13sccm)、Hガス(500sccm)トリメチルガリウムガス(10sccm)に変更した後、再び高周波放電を開始した。
この状態で、第1の領域を形成した有機感光体(1)を500rpmの速度で回転させながら27分間成膜し、第1の領域上に、厚み0.5μmの第2の領域を形成した。
(Formation of second region)
Next, the high frequency discharge was stopped and changed to He diluted 40% oxygen gas (13 sccm), H 2 gas (500 sccm) and trimethyl gallium gas (10 sccm), and then high frequency discharge was started again.
In this state, the organophotoreceptor (1) on which the first region was formed was formed for 27 minutes while rotating at a speed of 500 rpm, and a second region having a thickness of 0.5 μm was formed on the first region. .

次に、第1の領域の形成の操作手順にしたがって、第2の領域上に第1の領域を形成した。さらに、第2の領域の形成の操作手順にしたがって、第2の領域上に形成した第1の領域上に、再び第2の領域を形成した。この操作を繰り返し、第1の領域と第2の領域とを繰り返し積層し、第1の領域および第2の領域繰り返し回数を8回として、第2の領域が最表層となるように、無機保護層の全体の厚みが4.4μmの無機保護層を形成した。なお、無機保護層の全体を成膜する時間は245分であった。   Next, the first region was formed on the second region in accordance with the operation procedure for forming the first region. Further, the second region was formed again on the first region formed on the second region in accordance with the operation procedure for forming the second region. This operation is repeated, the first region and the second region are repeatedly laminated, and the first region and the second region are repeated eight times, so that the second region becomes the outermost layer. An inorganic protective layer having a total thickness of 4.4 μm was formed. The time for forming the entire inorganic protective layer was 245 minutes.

以上の工程を経て、導電性基体上に、下引層、電荷発生層、電荷輸送層、無機保護層(第1の領域+第2の領域)が順次形成された、実施例1の電子写真感光体を得た。   The electrophotography of Example 1 in which an undercoat layer, a charge generation layer, a charge transport layer, and an inorganic protective layer (first region + second region) were sequentially formed on the conductive substrate through the above steps. A photoreceptor was obtained.

<実施例2〜17、比較例1〜10>
表2および表3にしたがって、無機保護層の第1の領域および第2の領域における元素構成比率、体積抵抗率、第1の領域および第2の領域の繰り返し回数、無機保護層の全体の厚み(膜厚)、第1の領域および第2の領域の各領域の厚み、電荷輸送層のシリカ粒子の量、導電性基体の厚み(肉厚)を変更した以外は、実施例1と同様にして、各例の電子写真感光体を得た。なお、シリカ粒子の質量%は、電荷輸送層全体に対する量として表1の値となるように電荷輸送層の組成を調整した。
<Examples 2 to 17, Comparative Examples 1 to 10>
According to Table 2 and Table 3, the element composition ratio, the volume resistivity, the number of repetitions of the first region and the second region in the first region and the second region of the inorganic protective layer, the total thickness of the inorganic protective layer (Film thickness), the thickness of each region of the first region and the second region, the amount of silica particles in the charge transport layer, and the thickness (thickness) of the conductive substrate were changed as in Example 1. Thus, an electrophotographic photosensitive member of each example was obtained. In addition, the composition of the charge transport layer was adjusted so that the mass% of the silica particles became the value shown in Table 1 as an amount with respect to the entire charge transport layer.

(評価)
−感光体の感度および残留電位の評価−
予め定められた帯電電位および露光量を設定可能なユニバーサルスキャナーを用い、各例の感度と残留電位について評価を行った。
・感度の評価:−700Vに帯電させたときの半減露光量として評価した。−700Vに帯電させた後、帯電直後における感光体表面電位が、光照射(光源:半導体レーザ、波長780nm、出力5mW)により2分の1(−350V)となる半減露光量(mJ/m)を測定した。
・残留電位の評価:光減衰後の感光体表面の電位(V)を測定した。
(Evaluation)
-Evaluation of sensitivity and residual potential of photoconductor-
Using a universal scanner capable of setting a predetermined charging potential and exposure amount, the sensitivity and residual potential of each example were evaluated.
Sensitivity evaluation: Evaluated as half-exposure when charged to -700V. After charging to -700 V, the half-exposure amount (mJ / m 2 ) that the photoreceptor surface potential immediately after charging becomes half (-350 V) by light irradiation (light source: semiconductor laser, wavelength 780 nm, output 5 mW). ) Was measured.
Evaluation of residual potential: The potential (V) of the photoreceptor surface after light attenuation was measured.

−感光体の凹みおよび傷の評価−
富士ゼロックス製複合機 DocuCentre V 7775に、各例で得られた感光体を取り付けて、連続で10枚の画像を形成し、これを繰り返して累計で10000枚の画像を形成した。その後、感光体表面を光学顕微鏡(視野寸法500μm×500μm)で観察し、凹み、および傷の個数をカウントし、以下の評価基準で評価した。なお、凹み(打痕)、傷は次のようにして判断した。
・凹みの形状規定:最大径50μm以内で縦横比が0.8から1.2となる楕円形状
・傷の形状規定:幅が50μm以内で感光体円周方向に長さ0.1mmから3mmの筋状の形状
−凹み評価基準−
A(◎):10視野の観察で凹みは観察されず(0個)
B(○):10視野の観察で凹みは1個
C(△):10視野の観察で凹みは2個以上、かつ、1視野の観察で凹みは4個以下
D(×):10視野の観察で凹みは2個以上、かつ、1視野の観察で凹みは5個以上
−傷評価基準−
A(◎):20視野の観察で傷は観察されず(0個)
B(○):10視野の観察で傷は観察されず(0個)、かつ、20視野の観察で傷は1個
C(△):10視野の観察で傷は1個
D(×):10視野の観察で傷は2個以上
-Evaluation of dents and scratches on the photoreceptor-
The photoconductor obtained in each example was attached to a multifunction machine manufactured by Fuji Xerox, DocuCenter V 7775, and 10 images were continuously formed, and this was repeated to form a total of 10,000 images. Thereafter, the surface of the photoreceptor was observed with an optical microscope (field size: 500 μm × 500 μm), the number of dents and scratches was counted, and evaluated according to the following evaluation criteria. The dents (dents) and scratches were judged as follows.
Deflection shape specification: Ellipse shape with aspect ratio of 0.8 to 1.2 within maximum diameter of 50 μm. Scratch shape specification: width within 50 μm and length of 0.1 mm to 3 mm in the circumferential direction of the photoreceptor. Streaky shape-dent evaluation criteria-
A (◎): No dent observed in 10 fields of view (0)
B (◯): One dent in observation of 10 fields C (Δ): Two or more dents in observation of 10 fields, and 4 or less in dents in observation of one field D (x): 10 fields of observation Two or more dents in observation, and five or more dents in one field of view -Scratch evaluation criteria-
A (◎): No scratches observed in 20 fields of view (0)
B (◯): No flaws are observed by observation of 10 fields (0), and 1 flaw is observed by observation of 20 fields C (Δ): 1 flaw is observed by observation of 10 fields D (×): More than 2 scratches in 10 fields of view

なお、表2および表3中の成膜条件欄に示す条件は、表1に示す成膜条件と同じである。また、表2および表3中の、[Ga]+[O]は、無機保護層を構成する全元素に対する、ガリウム及び酸素の元素構成比率の和を表す。   The conditions shown in the film formation conditions column in Tables 2 and 3 are the same as the film formation conditions shown in Table 1. In Tables 2 and 3, [Ga] + [O] represents the sum of the elemental composition ratios of gallium and oxygen with respect to all elements constituting the inorganic protective layer.

上記結果から、本実施例では、比較例に比べ、感度が確保されており、残留電位の上昇が抑制されていることがわかる。   From the above results, it can be seen that, in this example, the sensitivity is ensured and the increase in the residual potential is suppressed as compared with the comparative example.

1 下引層、2 電荷発生層、3、3A、3B 電荷輸送層、4 導電性基体、5、5A、5B、5C 無機保護層、7、7A、7B、7C、7D 電子写真感光体、8 帯電装置、9 露光装置、11 現像装置、13 クリーニング装置、14 潤滑材、30 駆動モータ、40 転写装置、50 中間転写体、60 制御装置、100 画像形成装置、120 画像形成装置、131 クリーニングブレード、132 繊維状部材(ロール状)、133 繊維状部材(平ブラシ状)、300 プロセスカートリッジ、210 成膜室、211 排気口、212 基体回転部、213 基体支持部材、214 基体、215、220 ガス導入管、216 シャワーノズル、217 プラズマ拡散部、218 高周波電力供給部、219 平板電極、221 高周波放電管部、222 高周波コイル、223 石英管、 1 subbing layer, 2 charge generation layer, 3, 3A, 3B charge transport layer, 4 conductive substrate, 5, 5A, 5B, 5C inorganic protective layer, 7, 7A, 7B, 7C, 7D electrophotographic photosensitive member, 8 Charging device, 9 Exposure device, 11 Developing device, 13 Cleaning device, 14 Lubricant, 30 Drive motor, 40 Transfer device, 50 Intermediate transfer member, 60 Control device, 100 Image forming device, 120 Image forming device, 131 Cleaning blade, 132 Fibrous member (roll shape), 133 Fibrous member (flat brush shape), 300 Process cartridge, 210 Deposition chamber, 211 Exhaust port, 212 Substrate rotating part, 213 Substrate support member, 214 Substrate, 215, 220 Gas introduction Tube, 216 shower nozzle, 217 plasma diffusion unit, 218 high frequency power supply unit, 219 plate electrode, 221 high Frequency discharge tube, 222 high frequency coil, 223 quartz tube,

Claims (15)

導電性基体と、
前記導電性基体上に設けられた有機感光層と、
前記有機感光層上に設けられた無機保護層であって、第13族元素、及び酸素を含有し、無機保護層を構成する全元素に対する、前記第13族元素、及び前記酸素の元素構成比率の和が0.70以上であり、かつ、前記酸素及び前記第13族元素の元素構成比率(酸素/第13族元素)が1.10以上1.30以下である第1の領域、並びに、前記酸素及び前記第13族元素の元素構成比率(酸素/第13族元素)が1.40以上1.50以下である第2の領域を、前記有機感光層上にこの順で有し、前記第2の領域が最上層である無機保護層と、
を備えた電子写真感光体。
A conductive substrate;
An organic photosensitive layer provided on the conductive substrate;
An inorganic protective layer provided on the organic photosensitive layer, which contains a Group 13 element and oxygen, and the elemental composition ratio of the Group 13 element and oxygen to all elements constituting the inorganic protective layer A first region in which the sum of oxygen and the group composition element of oxygen and the group 13 element (oxygen / group 13 element) is 1.10 or more and 1.30 or less, and A second region having an elemental composition ratio of oxygen and the Group 13 element (oxygen / Group 13 element) of 1.40 to 1.50 on the organic photosensitive layer in this order; An inorganic protective layer in which the second region is the uppermost layer;
An electrophotographic photosensitive member comprising:
導電性基体と、
前記導電性基体上に設けられた有機感光層と、
前記有機感光層上に設けられた無機保護層であって、第13族元素、及び酸素を含有し、無機保護層を構成する全元素に対する、前記第13族元素、及び前記酸素の元素構成比率の和が0.70以上であり、かつ、体積抵抗率が2.0×10Ωcm以上1.0×1010Ωcm以下である第1の領域および体積抵抗率が2.0×1010Ωcm以上である第2の領域を、前記有機感光層上にこの順で有し、前記第2の領域が最上層である無機保護層と、
を備えた電子写真感光体。
A conductive substrate;
An organic photosensitive layer provided on the conductive substrate;
An inorganic protective layer provided on the organic photosensitive layer, which contains a Group 13 element and oxygen, and the elemental composition ratio of the Group 13 element and oxygen to all elements constituting the inorganic protective layer Of the first region having a volume resistivity of 2.0 × 10 7 Ωcm or more and 1.0 × 10 10 Ωcm or less and a volume resistivity of 2.0 × 10 10 Ωcm. An inorganic protective layer having the second region as described above on the organic photosensitive layer in this order, and the second region being the uppermost layer;
An electrophotographic photosensitive member comprising:
前記第13族元素が、ガリウムである請求項1又は請求項2に記載の電子写真感光体。   The electrophotographic photosensitive member according to claim 1, wherein the group 13 element is gallium. 前記第1の領域の厚みが、前記第2の領域の厚みよりも薄い請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載の電子写真感光体。   The electrophotographic photosensitive member according to claim 1, wherein a thickness of the first region is thinner than a thickness of the second region. 前記第1の領域の厚みに対する前記第2の領域の厚みの比(第2の領域の厚み/第1の領域の厚み)が3以上100以下である請求項4に記載の電子写真感光体。   The electrophotographic photosensitive member according to claim 4, wherein a ratio of a thickness of the second region to a thickness of the first region (a thickness of the second region / a thickness of the first region) is 3 or more and 100 or less. 前記第1の領域の厚みが、0.01μm以上0.1μm以下であり、前記第2の領域の厚みが、0.3μm以上1.0μm以下である請求項4又は請求項5に記載の電子写真感光体。   6. The electron according to claim 4, wherein the thickness of the first region is 0.01 μm or more and 0.1 μm or less, and the thickness of the second region is 0.3 μm or more and 1.0 μm or less. Photoconductor. 前記無機保護層の全体の厚みが3μm以上10μm以下である請求項1〜請求項6のいずれか1項に記載の電子写真感光体。   The electrophotographic photosensitive member according to claim 1, wherein the total thickness of the inorganic protective layer is 3 μm or more and 10 μm or less. 前記無機保護層の全体の厚みが3μm以上6μm以下である請求項7に記載の電子写真感光体。   The electrophotographic photosensitive member according to claim 7, wherein the total thickness of the inorganic protective layer is 3 μm or more and 6 μm or less. 前記第1の領域および前記第2の領域が、前記第1の領域および前記第2の領域の順で繰り返し積層されている請求項1〜請求項8のいずれか1項に記載の電子写真感光体。   The electrophotographic photosensitive member according to any one of claims 1 to 8, wherein the first region and the second region are repeatedly laminated in the order of the first region and the second region. body. 前記第1の領域および前記第2の領域の順で繰り返し積層された繰り返し回数が3回以上10回以下である請求項9に記載の電子写真感光体。   The electrophotographic photosensitive member according to claim 9, wherein the number of repetitions in which the first region and the second region are repeatedly stacked in the order of 3 to 10 times. 前記有機感光層が、電荷輸送材料、結着樹脂、及びシリカ粒子を含む層を有する請求項1〜請求項10のいずれか1項に記載の電子写真感光体。   The electrophotographic photoreceptor according to any one of claims 1 to 10, wherein the organic photosensitive layer has a layer containing a charge transport material, a binder resin, and silica particles. 前記シリカ粒子の含有量が、前記電荷輸送材料および前記結着樹脂を含む層の全体に対して40質量%以上80質量%以下である請求項11に記載の電子写真感光体。   The electrophotographic photosensitive member according to claim 11, wherein the content of the silica particles is 40% by mass or more and 80% by mass or less with respect to the entire layer including the charge transport material and the binder resin. 前記導電性基体の厚みが1.5mm以上である請求項1〜請求項12のいずれか1項に記載の電子写真感光体。   The electrophotographic photosensitive member according to claim 1, wherein the conductive substrate has a thickness of 1.5 mm or more. 請求項1〜請求項13のいずれか1項に記載の電子写真感光体を備え、
画像形成装置に脱着するプロセスカートリッジ。
The electrophotographic photosensitive member according to any one of claims 1 to 13,
A process cartridge that is detachable from the image forming apparatus.
請求項1〜請求項13のいずれか1項に記載の電子写真感光体と、
前記電子写真感光体の表面を帯電する帯電手段と、
帯電した前記電子写真感光体の表面に静電潜像を形成する静電潜像形成手段と、
トナーを含む現像剤により、前記電子写真感光体の表面に形成された静電潜像を現像してトナー像を形成する現像手段と、
前記トナー像を記録媒体の表面に転写する転写手段と、
を備える画像形成装置。
The electrophotographic photoreceptor according to any one of claims 1 to 13,
Charging means for charging the surface of the electrophotographic photosensitive member;
An electrostatic latent image forming means for forming an electrostatic latent image on the surface of the charged electrophotographic photosensitive member;
Developing means for developing the electrostatic latent image formed on the surface of the electrophotographic photosensitive member with a developer containing toner to form a toner image;
Transfer means for transferring the toner image to the surface of the recording medium;
An image forming apparatus comprising:
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