JP2019045307A - Line noise testing device - Google Patents

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Abstract

To suppress an unnecessary phenomenon, when starting supply of a power source to a device to be tested.SOLUTION: A line noise testing device includes a noise generating circuit for generating a noise signal, an LC low-pass filter whose one input/output end is connected to a power source, and whose other input/output end is connected to the noise generating circuit, an unnecessary phenomenon prevention circuit for preventing, over a prescribed time, an inrush current in a device to be tested or resonance between the LC low-pass filter and the device to be tested, in which the power source on which the noise signal is overlapped is outputted from an adverse phenomenon prevention circuit to the device to be tested as a power source for testing.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、ラインノイズ試験装置に関する。   The present invention relates to a line noise test apparatus.

下記非特許文献１には、方形波インパルスノイズ試験器が公開されている。この方形波インパルスノイズ試験器は、所謂ＥＭＣ試験器の一種であり、電源ラインを介して被試験装置（電気機器）に侵入するインパルスノイズに対する耐性を評価するために、上記電源ラインにインパルスノイズが付加された交流電源を被試験装置に供給する。このような方形波インパルスノイズ試験器は、交流電源発生部とインパルスノイズ発生部とを備えており、ラインノイズ試験器あるいはラインノイズ試験装置とも言われている。   Non-Patent Document 1 below discloses a square wave impulse noise tester. This square wave impulse noise tester is a kind of so-called EMC tester, and in order to evaluate resistance to impulse noise entering the device under test (electrical equipment) through the power supply line, impulse noise is present in the power supply line. The added AC power supply is supplied to the device under test. Such a square wave impulse noise tester includes an AC power generation unit and an impulse noise generation unit, and is also referred to as a line noise tester or a line noise tester.

株式会社ノイズ研究所 テストラボ船橋、「方形波インパルスノイズ試験」、［online］、［平成２９年９月１日検索］、インターネット＜www.noiseken.co.jp/uploads/photos0/211.pdf＞Noise laboratory Co., Ltd. Test laboratory Funabashi, "Square wave impulse noise test", [online], [search on September 1, 2017], Internet <www.noiseken.co.jp/uploads/photos0/211.pdf>

ところで、ラインノイズ試験装置は、上記交流電源発生部とインパルスノイズ発生部とに加えてＬＣフィルタが備えられている。このＬＣフィルタは、交流電源発生部とインパルスノイズ発生部との間に設けられており、インパルスノイズが交流電源発生部に流入することを抑制するためのローパスフィルタである。一方、被試験装置は、電源ラインに接続されたコンデンサを備えてる。このコンデンサは、ラインノイズ試験装置から交流電源の供給が開始された際に、突入電流を電源ラインを介して被試験装置に流入させる。   The line noise test apparatus is provided with an LC filter in addition to the AC power generation unit and the impulse noise generation unit. The LC filter is provided between the AC power generation unit and the impulse noise generation unit, and is a low pass filter for suppressing the flow of the impulse noise into the AC power generation unit. On the other hand, the device under test includes a capacitor connected to the power supply line. The capacitor causes inrush current to flow into the device under test via the power supply line when the supply of alternating current power from the line noise testing device is started.

このようなラインノイズ試験装置におけるＬＣフィルタと被試験装置のコンデンサとは、ラインノイズ試験装置から被試験装置に交流電源の供給が開始された際に突入電流の共振現象を起こす場合がある。この突入電流の共振現象が発生した場合、当該共振現象が落ち着くまでの間、被試験装置の試験を開始することができないという問題がある。   The LC filter and the capacitor of the device under test in such a line noise test device may cause a resonance phenomenon of inrush current when the supply of AC power from the line noise test device to the device under test is started. If this inrush current resonance phenomenon occurs, there is a problem that the test of the device under test can not be started until the resonance phenomenon settles down.

本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであり、被試験装置に電源の供給を開始した際の不要現象を抑制あるいは防止することを目的とするものである。   The present invention has been made in view of the above-described circumstances, and an object thereof is to suppress or prevent an unnecessary phenomenon when power supply to a device under test is started.

上記目的を達成するために、本発明では、ラインノイズ試験装置に係る第１の解決手段として、ノイズ信号を発生するノイズ発生回路と、一方の入出力端が電源に接続され、他方の入出力端が前記ノイズ発生回路に接続されたＬＣローパスフィルタと、被試験装置における突入電流あるいは前記ＬＣローパスフィルタと前記被試験装置との共振を所定時間に亘って防止する不要現象防止回路とを備え、前記ノイズ信号が重畳した電源を試験用電源として前記不要現象防止回路から前記被試験装置に出力する、という手段を採用する。   In order to achieve the above object, according to the present invention, as a first solution according to a line noise testing apparatus, a noise generating circuit for generating a noise signal, one input / output terminal is connected to a power supply, and the other input / output An LC low pass filter whose end is connected to the noise generating circuit, and an unnecessary phenomenon preventing circuit for preventing a rush current in the device under test or resonance between the LC low pass filter and the device under test for a predetermined time; A means is employed for outputting the power source on which the noise signal is superimposed as the test power source from the unnecessary phenomenon prevention circuit to the device under test.

本発明では、ラインノイズ試験装置に係る第２の解決手段として、上記第１の解決手段において、前記不要現象防止回路は、前記ＬＣローパスフィルタと前記被試験装置との間への抵抗器の挿入／非挿入を切り替える抵抗挿入切替回路と、前記試験信号の前記被試験装置への出力開始から所定時間を計時し、タイムアップ前に前記抵抗器を挿入するように前記抵抗挿入切替回路を制御し、タイムアップ後には前記抵抗器を非挿入とするように前記抵抗挿入切替回路を制御するタイマリレーとを備える、という手段を採用する。   In the present invention, as the second solution according to the line noise test apparatus, in the first solution, the unnecessary phenomenon prevention circuit inserts a resistor between the LC low pass filter and the device under test. A resistance insertion switching circuit for switching between non-insertion and a predetermined time from the start of output of the test signal to the device under test, and controlling the resistance insertion switching circuit to insert the resistor before time up. A timer relay is provided to control the resistance insertion switching circuit so that the resistor is not inserted after time-up.

本発明では、ラインノイズ試験装置に係る第３の解決手段として、上記第１または第２の解決手段において、前記ＬＣローパスフィルタ及び前記不要現象防止回路は一体として設けられ、前記ノイズ発生回路は、前記ＬＣローパスフィルタ及び前記不要現象防止回路に対して別体として設けられる、という手段を採用する。   In the present invention, as a third solution according to a line noise test apparatus, in the first or second solution, the LC low pass filter and the unnecessary phenomenon prevention circuit are integrally provided, and the noise generation circuit is A means is provided that is provided separately from the LC low pass filter and the unnecessary phenomenon prevention circuit.

本発明では、ラインノイズ試験装置に係る第４の解決手段として、上記第１〜第３のいずれかの解決手段において、前記ノイズ発生回路及び前記ＬＣローパスフィルタは一体として設けられ、前記不要現象防止回路は、前記ノイズ発生回路及び前記ＬＣローパスフィルタに対して別体として設けられる、という手段を採用する。   In the present invention, as the fourth solution according to the line noise test apparatus, in any one of the first to third solutions, the noise generation circuit and the LC low pass filter are integrally provided, and the unnecessary phenomenon is prevented. The circuit adopts a means provided separately from the noise generating circuit and the LC low pass filter.

本発明では、ラインノイズ試験装置に係る第５の解決手段として、上記第１の解決手段において、前記不要現象防止回路は、前記電源と前記被試験装置との間への前記ＬＣローパスフィルタの挿入／非挿入を切り替えるフィルタ挿入切替回路と、前記試験信号の前記被試験装置への出力開始から所定時間を計時し、タイムアップ前に前記ＬＣローパスフィルタを挿入するように前記フィルタ挿入切替回路を制御し、タイムアップ後には前記ＬＣローパスフィルタを非挿入とするように前記フィルタ挿入切替回路を制御するタイマリレーとを備える、という手段を採用する。   In the present invention, as the fifth solution according to the line noise test apparatus, in the first solution, the unnecessary phenomenon prevention circuit inserts the LC low-pass filter between the power supply and the device under test. A filter insertion switching circuit that switches on / off insertion, and a predetermined time from the start of output of the test signal to the device under test, controls the filter insertion switching circuit to insert the LC low pass filter before time up. And a timer relay for controlling the filter insertion switching circuit so that the LC low-pass filter is not inserted after a time-up.

本発明によれば、被試験装置における突入電流あるいはＬＣローパスフィルタと被試験装置との共振を所定時間に亘って防止する不要現象防止回路とを備えるので、被試験装置に電源の供給を開始した際の不要現象を抑制あるいは防止することが可能である。   According to the present invention, the supply of power to the device under test is started because the unnecessary phenomenon prevention circuit is provided for preventing the inrush current in the device under test or the resonance between the LC low pass filter and the device under test for a predetermined time. It is possible to suppress or prevent the unnecessary phenomenon at that time.

本発明の第１実施形態に係るラインノイズ試験装置及び被試験装置の回路図である。FIG. 1 is a circuit diagram of a line noise test apparatus and a device under test according to a first embodiment of the present invention. 本発明の第２実施形態に係るラインノイズ試験装置及び被試験装置の回路図である。FIG. 7 is a circuit diagram of a line noise test apparatus and a device under test according to a second embodiment of the present invention. 本発明の第３実施形態に係るラインノイズ試験装置及び被試験装置の回路図である。FIG. 7 is a circuit diagram of a line noise test apparatus and a device under test according to a third embodiment of the present invention.

以下、図面を参照して、本発明の実施形態について説明する。
〔第１実施形態〕
最初に、本発明の第１実施形態について説明する。第１実施形態に係るラインノイズ試験装置は、図１に示すように、別体である試験装置本体Ｍと突入電流防止装置Ｓとから構成されている。試験装置本体Ｍは、外部から供給される交流電源（商用電源）にノイズ信号を重畳させ、試験用電源として突入電流防止装置Ｓに出力する。突入電流防止装置Ｓは、上記試験用電源の被試験装置Ｅへの供給開始時に発生する突入電流（不要現象）を防止する回路（不要現象防止回路）であり、上記試験用電源を被試験装置Ｅに供給する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
First Embodiment
First, a first embodiment of the present invention will be described. The line noise test apparatus according to the first embodiment, as shown in FIG. 1, is constituted by a separate test apparatus main body M and an inrush current prevention apparatus S. The test apparatus main body M superimposes a noise signal on an AC power supply (commercial power supply) supplied from the outside, and outputs the noise signal to the inrush current prevention device S as a test power supply. The rush current prevention device S is a circuit (unnecessary phenomenon prevention circuit) for preventing inrush current (unnecessary phenomenon) generated when supply of the test power supply to the device under test E is started. Supply to E.

ここで、本第１実施形態における被試験装置Ｅは、被試験装置Ｅの電源ラインから見た入力インピーダンスとして静電容量を有する。この静電容量は、図１に示すように、被試験装置Ｅに備えられた電源回路、つまり試験用電源に含まれる交流電源がら直流電源を生成する整流回路の平滑コンデンサ８（容量性負荷）に起因するものである。   Here, the device under test E in the first embodiment has a capacitance as an input impedance viewed from the power supply line of the device under test E. This capacitance is, as shown in FIG. 1, the smoothing capacitor 8 (capacitive load) of the power supply circuit provided in the device under test E, that is, the AC power supply included in the test power supply and the rectification circuit generating the DC power supply. It is due to

試験装置本体Ｍ及び突入電流防止装置Ｓについてさらに詳細を説明すると、試験装置本体Ｍは、ＬＣフィルタ１及びノイズ波形生成回路２、第１カップリングコンデンサ３及び第２カップリングコンデンサ４を備えている。一方、突入電流防止装置Ｓは、抵抗挿入切替回路５、ＡＣ／ＤＣコンバータ６及びタイマリレー７を備えている。ただし、ＡＣ／ＤＣコンバータは入力が直流電圧の場合はＤＣ／ＤＣコンバータとなる。   The test device main body M includes the LC filter 1, the noise waveform generation circuit 2, the first coupling capacitor 3 and the second coupling capacitor 4. . On the other hand, the rush current prevention device S includes a resistance insertion switching circuit 5, an AC / DC converter 6, and a timer relay 7. However, the AC / DC converter is a DC / DC converter when the input is a DC voltage.

すなわち、本第１実施形態では、ＬＣフィルタ１及びノイズ波形生成回路２、第１カップリングコンデンサ３及び第２カップリングコンデンサ４が試験装置本体Ｍとして一体に設けられ、また抵抗挿入切替回路５、ＡＣ／ＤＣコンバータ６及びタイマリレー７は、突入電流防止装置Ｓとして一体に設けられている。   That is, in the first embodiment, the LC filter 1, the noise waveform generation circuit 2, the first coupling capacitor 3 and the second coupling capacitor 4 are integrally provided as the test apparatus main body M, and the resistance insertion switching circuit 5; The AC / DC converter 6 and the timer relay 7 are integrally provided as an inrush current prevention device S.

ＬＣフィルタ１は、一方の入出力端（２つの端子ａ、ｂ）と他方の入出力端（２つの端子ｃ、ｄ）を備える４端子回路であり、一方の入出力端と一方の出力端との間にコイル１ａが設けられ、一方の出力端と他方の出力端との間にコンデンサ１ｂが設けられている。このＬＣフィルタ１は、交流電源を通過させると共に、ノイズ波形生成回路２から出力されるノイズ信号が交流電源（商用電源）に流れ込むことを防止するＬＣローパスフィルタである。   The LC filter 1 is a four-terminal circuit including one input / output end (two terminals a and b) and the other input / output end (two terminals c and d), and one input / output end and one output end And a capacitor 1b is provided between one output end and the other output end. The LC filter 1 is an LC low pass filter that passes an AC power supply and prevents a noise signal output from the noise waveform generation circuit 2 from flowing into the AC power supply (commercial power supply).

ノイズ波形生成回路２は、パルス状のノイズ信号を生成するノイズ発生回路であり、一対の出力端子を備えている。第１カップリングコンデンサ３は、ＬＣフィルタ１の端子ｃとノイズ波形生成回路２の一方の出力端との間に設けられている。すなわち、第１カップリングコンデンサ３は、一端がＬＣフィルタ１の端子ｃに接続され、他端がノイズ波形生成回路２の一方の出力端に接続されている。   The noise waveform generation circuit 2 is a noise generation circuit that generates a pulse-like noise signal, and includes a pair of output terminals. The first coupling capacitor 3 is provided between the terminal c of the LC filter 1 and one output end of the noise waveform generation circuit 2. That is, one end of the first coupling capacitor 3 is connected to the terminal c of the LC filter 1, and the other end is connected to one output end of the noise waveform generation circuit 2.

第２カップリングコンデンサ４は、ＬＣフィルタ１の端子ｄとノイズ波形生成回路２の他方の出力端との間に設けられている。すなわち、第２カップリングコンデンサ４は、一端がＬＣフィルタ１の端子ｄに接続され、他端がノイズ波形生成回路２の他方の出力端に接続されている。このような第１、第２カップリングコンデンサ３、４は、ノイズ波形生成回路２をＬＣフィルタ１及び突入電流防止装置Ｓに交流的に、つまり直流結合を廃した状態で結合させる。   The second coupling capacitor 4 is provided between the terminal d of the LC filter 1 and the other output end of the noise waveform generation circuit 2. That is, one end of the second coupling capacitor 4 is connected to the terminal d of the LC filter 1, and the other end is connected to the other output end of the noise waveform generation circuit 2. The first and second coupling capacitors 3 and 4 couple the noise waveform generation circuit 2 to the LC filter 1 and the inrush current prevention device S in an alternating manner, that is, with the direct current coupling eliminated.

抵抗挿入切替回路５は、入力端ｅ及び出力端ｆ、また選択スイッチ５ａ及びサーミスタ５ｂを備えた２端子回路であり、ＬＣフィルタ１と被試験装置Ｅとの間へのサーミスタ５ｂの挿入／非挿入を選択スイッチ５ａで切り替える。すなわち、入力端ｅはＬＣフィルタ１の端子ｃに接続され、出力端ｆは被試験装置Ｅにおける一方の電源ラインに接続されている。   The resistance insertion switching circuit 5 is a two-terminal circuit including an input end e and an output end f, and a selection switch 5a and a thermistor 5b. Insertion / non-insertion of the thermistor 5b between the LC filter 1 and the device under test E The insertion is switched by the selection switch 5a. That is, the input end e is connected to the terminal c of the LC filter 1, and the output end f is connected to one power supply line in the device under test E.

選択スイッチ５ａは、１つの可動接点と２つの固定接点とを備え、可動接点が入力端ｅに接続され、一方の固定接点が出力端ｆに接続され、他方の固定接点がサーミスタ５ｂの一端に接続されている。サーミスタ５ｂは、一端が選択スイッチ５ａにおける他方の固定接点に接続され、他端が上記出力端ｆに接続されている。このサーミスタ５ｂは、周囲温度の上昇に従って抵抗値が低下する温度依存性の抵抗器である。   The selection switch 5a includes one movable contact and two fixed contacts, the movable contact is connected to the input end e, one fixed contact is connected to the output end f, and the other fixed contact is connected to one end of the thermistor 5b It is connected. One end of the thermistor 5b is connected to the other fixed contact of the selection switch 5a, and the other end is connected to the output end f. The thermistor 5b is a temperature dependent resistor whose resistance value decreases as the ambient temperature rises.

ＡＣ／ＤＣコンバータ６は、一方の入力端がＬＣフィルタ１の端子ｃに接続され、他方の入力端がＬＣフィルタ１の端子ｄに接続された直流電源回路であり、試験用電源に含まれる交流電力から直流電源を生成してタイマリレー７に供給する。タイマリレー７は、試験用電源の被試験装置Ｅへの出力開始から所定時間Ｔを計時し、当該計時の状態に基づいて抵抗挿入切替回路５を制御する。すなわち、このタイマリレー７は、所定時間Ｔの計時の終了前（タイムアップ前）においてサーミスタ５ｂを挿入するように抵抗挿入切替回路５を制御し、所定時間Ｔの計時の終了後（タイムアップ後）には、サーミスタ５ｂを非挿入とするように抵抗挿入切替回路５を制御する。   The AC / DC converter 6 is a DC power supply circuit in which one input end is connected to the terminal c of the LC filter 1 and the other input end is connected to the terminal d of the LC filter 1, and the AC included in the test power supply DC power is generated from the power and supplied to the timer relay 7. The timer relay 7 counts a predetermined time T from the start of the output of the test power supply to the device under test E, and controls the resistance insertion switching circuit 5 based on the state of the clock. That is, the timer relay 7 controls the resistance insertion switching circuit 5 to insert the thermistor 5b before the end of the predetermined time T (before the time up), and after the end of the predetermined time T (after the time up) Control the resistance insertion switching circuit 5 so that the thermistor 5b is not inserted.

続いて、このように構成された第１実施形態に係るラインノイズ試験装置の動作について詳しく説明する。   Subsequently, the operation of the line noise test apparatus according to the first embodiment configured as described above will be described in detail.

このラインノイズ試験装置は、作業員によって作動スイッチ（図示略）が押下されることによって試験用電源の被試験装置Ｅへの出力を開始するが、この給電開始からタイマリレー７がタイムアップするまでの間、抵抗挿入切替回路５はサーミスタ５ｂを挿入するようにタイマリレー７によって制御される。すなわち、タイマリレー７の計時開始（つまり給電開始）から所定時間Ｔの計時が終了するまでの間、被試験装置Ｅにはサーミスタ５ｂを介して試験用電源が供給される。   The line noise test apparatus starts outputting the test power supply to the device under test E by pressing an operation switch (not shown) by the operator, but from the start of the power supply until the timer relay 7 times up. In the meantime, the resistance insertion switching circuit 5 is controlled by the timer relay 7 so as to insert the thermistor 5b. That is, the test power supply is supplied to the device under test E via the thermistor 5b from the start of time counting of the timer relay 7 (that is, the start of power supply) to the end of the time measurement of the predetermined time T.

したがって、このラインノイズ試験装置によれば、給電開始における突入電流（不要現象）の発生を抑制あるいは防止することができる。このような本第１実施形態に係るラインノイズ試験装置によれば、給電開始における突入電流（不要現象）が発生しないので、速やかにラインノイズ試験を実施することが可能になる。   Therefore, according to this line noise testing device, it is possible to suppress or prevent the occurrence of inrush current (unnecessary phenomenon) at the start of feeding. According to such a line noise test apparatus according to the first embodiment, since the rush current (unnecessary phenomenon) at the start of feeding does not occur, the line noise test can be performed promptly.

また、このラインノイズ試験装置では、タイマリレー７が計時開始から所定時間Ｔが経過してタイムアップすると、抵抗挿入切替回路５はサーミスタ５ｂの挿入状態から非挿入状態に切り替わる。したがって、タイマリレー７の計時開始（つまり給電開始）から所定時間Ｔが経過して以降、被試験装置Ｅにはサーミスタ５ｂを介することなく試験用電源が供給される。   Further, in this line noise test device, when the timer relay 7 has timed up after a predetermined time T has elapsed from the start of clocking, the resistance insertion switching circuit 5 switches from the insertion state of the thermistor 5b to the non-insertion state. Therefore, after a predetermined time T has elapsed since the timer relay 7 starts timing (i.e., power supply start), the test power supply is supplied to the device under test E without intervention of the thermistor 5b.

〔第２実施形態〕
次に、本発明の第２実施形態について説明する。第２実施形態に係るラインノイズ試験装置は、図２に示すように、ＬＣフィルタ１、第１カップリングコンデンサ３、第２カップリングコンデンサ４、抵抗挿入切替回路５、ＡＣ／ＤＣコンバータ６及びタイマリレー７が試験装置本体Ｍａとして一体に設けられ、ノイズ波形生成回路２が試験装置本体Ｍａに対して別体として設けられている。 Second Embodiment
Next, a second embodiment of the present invention will be described. The line noise test apparatus according to the second embodiment is, as shown in FIG. 2, an LC filter 1, a first coupling capacitor 3, a second coupling capacitor 4, a resistance insertion switching circuit 5, an AC / DC converter 6, and a timer. The relay 7 is integrally provided as a test apparatus body Ma, and the noise waveform generation circuit 2 is provided separately from the test apparatus body Ma.

このような試験装置本体Ｍａとノイズ波形生成回路２とは、同軸ケーブル等の信号線Ｃによって相互接続されている。すなわち、ノイズ波形生成回路２から出力されたノイズ信号は、信号線Ｃを介して試験装置本体Ｍａに供給され、ＬＣフィルタ１から出力される交流電力に重畳される。   The test apparatus main body Ma and the noise waveform generation circuit 2 as described above are mutually connected by a signal line C such as a coaxial cable. That is, the noise signal output from the noise waveform generation circuit 2 is supplied to the test apparatus main body Ma via the signal line C, and is superimposed on the AC power output from the LC filter 1.

このような第２実施形態に係るラインノイズ試験装置によれば、ノイズ波形生成回路２が試験装置本体Ｍａに対して着脱自在なので、異なるノイズ信号を出力するノイズ波形生成回路２を試験装置本体Ｍａに接続することにより、被試験装置Ｅのラインノイズ試験に使用するノイズ信号を容易に変更することが可能である。   According to the line noise test apparatus according to the second embodiment, the noise waveform generation circuit 2 outputs a different noise signal because the noise waveform generation circuit 2 is attachable to and detachable from the test apparatus main body Ma. By connecting to, it is possible to easily change the noise signal used for the line noise test of the device under test E.

〔第３実施形態〕
次に、本発明の第３実施形態について説明する。この第３実施形態に係るラインノイズ試験装置は、図３に示すように、第２実施形態に係るラインノイズ試験装置において、抵抗挿入切替回路５に代えてフィルタ挿入切替回路９が設けられた試験装置本体Ｍｂを備える。 Third Embodiment
Next, a third embodiment of the present invention will be described. The line noise test apparatus according to the third embodiment is, as shown in FIG. 3, a test in which a filter insertion switching circuit 9 is provided instead of the resistance insertion switching circuit 5 in the line noise test apparatus according to the second embodiment. An apparatus body Mb is provided.

このフィルタ挿入切替回路９は、選択スイッチ９ａと、当該選択スイッチ９ａの一方の固定接点とＬＣフィルタ１の端子ｃとを接続する接続線９ｂとを備えており、交流電源と被試験装置Ｅとの間へのＬＣフィルタ１の挿入／非挿入を切り替える。すなわち、このフィルタ挿入切替回路９は、交流電力の伝送路にＬＣフィルタ１を挿入するか、あるいはＬＣフィルタ１を非挿入にするかを切り替える回路である。   The filter insertion switching circuit 9 includes a selection switch 9a and a connection line 9b connecting one fixed contact of the selection switch 9a to the terminal c of the LC filter 1, and the AC power supply and the device under test E Switch the insertion / non-insertion of the LC filter 1 between them. That is, the filter insertion switching circuit 9 is a circuit that switches whether to insert the LC filter 1 into the AC power transmission line or to not insert the LC filter 1.

このような第３実施形態に係るラインノイズ試験装置では、フィルタ挿入切替回路９は、試験用電源の出力を開始からタイマリレー７がタイムアップするまでの間、交流電源の伝送路にＬＣフィルタ１を挿入させない。すなわち、このラインノイズ試験装置によれば、試験用電源の出力を開始から所定時間Ｔに亘って被試験装置Ｅの平滑コンデンサ８（容量性負荷）とＬＣフィルタ１との共振（不要現象）を抑制あるいは防止することができる。したがって、本第３実施形態に係るラインノイズ試験装置によれば、被試験装置Ｅの平滑コンデンサ８（容量性負荷）と試験装置本体ＭｂのＬＣフィルタ１との共振（不要現象）が発生しないので、速やかにラインノイズ試験を実施することが可能になる。   In the line noise test apparatus according to the third embodiment, the filter insertion switching circuit 9 generates the LC filter 1 in the transmission path of the AC power supply from the start of the output of the test power supply to the time-up of the timer relay 7. Do not insert That is, according to this line noise test apparatus, the resonance (unnecessary phenomenon) between the smoothing capacitor 8 (capacitive load) of the device under test E and the LC filter 1 is performed for a predetermined time T from the start of the output of the test power supply. It can be suppressed or prevented. Therefore, according to the line noise test apparatus according to the third embodiment, resonance (unnecessary phenomenon) between the smoothing capacitor 8 (capacitive load) of the device under test E and the LC filter 1 of the test device main body Mb does not occur. It becomes possible to carry out the line noise test promptly.

なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、例えば以下のような変形例が考えられる。
（１）上記第１、第２実施形態は、試験用電源の被試験装置Ｅへの供給開始時における不要現象として突入電流を防止するものであり、上記第３実施形態は、このような不要現象として共振を防止するものであるが、本発明はこれに限定されない。本発明は、突入電流や共振以外の不要現象に適用することが可能である。 In addition, this invention is not limited to the said embodiment, For example, the following modifications are considered.
(1) In the first and second embodiments, the rush current is prevented as an unnecessary phenomenon at the start of supply of the test power supply to the device under test E, and in the third embodiment, such unnecessary Although the phenomenon is to prevent resonance, the present invention is not limited thereto. The present invention is applicable to unnecessary phenomena other than inrush current and resonance.

（２）上記第１、第２実施形態は、サーミスタ５ｂを採用したが、本発明はこれに限定されない。例えばサーミスタ５ｂに代えて一般的な抵抗器、つまり温度依存性が顕著でない抵抗器を採用してもよい。 (2) The first and second embodiments employ the thermistor 5b, but the present invention is not limited to this. For example, instead of the thermistor 5b, a general resistor, that is, a resistor whose temperature dependency is not remarkable may be adopted.

（３）上記第３実施形態では、選択スイッチ９ａと接続線９ｂとによってフィルタ挿入切替回路９を構成したが、本発明はこれに限定されない。例えば、接続線９ｂに代えて、平滑コンデンサ８との共振周波数が比較的な可くなるようなインダクタンス、つまり平滑コンデンサ８との共振がラインノイズ試験の妨げにならないようなコイルを採用してもよい。 (3) In the said 3rd Embodiment, although the filter insertion switching circuit 9 was comprised with the selection switch 9a and the connection wire 9b, this invention is not limited to this. For example, instead of the connecting wire 9b, even if an inductance with which the resonance frequency with the smoothing capacitor 8 becomes relatively short, that is, a coil with which the resonance with the smoothing capacitor 8 does not interfere with the line noise test is adopted. Good.

Ｅ 被試験装置
Ｍ、Ｍａ、Ｍｂ 試験装置本体
Ｓ 突入電流防止装置
１ ＬＣフィルタ
２ ノイズ波形生成回路
３ 第１カップリングコンデンサ
４ 第２カップリングコンデンサ
５ 抵抗挿入切替回路
５ａ 選択スイッチ
５ｂ サーミスタ
６ ＡＣ／ＤＣコンバータ
７ タイマリレー７
８ 平滑コンデンサ
９ａ 選択スイッチ
９ｂ 接続線 E Test Device M, Ma, Mb Test Device Body S Inrush Current Prevention Device 1 LC Filter 2 Noise Waveform Generation Circuit 3 First Coupling Capacitor 4 Second Coupling Capacitor 5 Resistance Insertion Switching Circuit 5a Selection Switch 5b Thermistor 6 AC / DC converter 7 timer relay 7
8 smoothing capacitor 9a selection switch 9b connection wire

Claims (5)

ノイズ信号を発生するノイズ発生回路と、
一方の入出力端が電源に接続され、他方の入出力端が前記ノイズ発生回路に接続されたＬＣローパスフィルタと、
被試験装置における突入電流あるいは前記ＬＣローパスフィルタと前記被試験装置との共振を所定時間に亘って防止する不要現象防止回路とを備え、
前記ノイズ信号が重畳した電源を試験用電源として前記不要現象防止回路から前記被試験装置に出力することを特徴とするラインノイズ試験装置。 A noise generation circuit that generates a noise signal,
An LC low-pass filter in which one input / output terminal is connected to a power supply and the other input / output terminal is connected to the noise generating circuit;
And an unnecessary phenomenon prevention circuit for preventing, for a predetermined time, the inrush current in the device under test or the resonance between the LC low pass filter and the device under test,
A line noise test apparatus, wherein a power source on which the noise signal is superimposed is output from the unnecessary phenomenon prevention circuit to the device under test as a test power source. 前記不要現象防止回路は、
前記ＬＣローパスフィルタと前記被試験装置との間への抵抗器の挿入／非挿入を切り替える抵抗挿入切替回路と、
前記試験用電源への出力開始から所定時間を計時し、タイムアップ前に前記抵抗器を挿入するように前記抵抗挿入切替回路を制御し、タイムアップ後には前記抵抗器を非挿入とするように前記抵抗挿入切替回路を制御するタイマリレーと
を備えることを特徴とする請求項１記載のラインノイズ試験装置。 The unnecessary phenomenon prevention circuit is
A resistance insertion switching circuit that switches between insertion and non-insertion of a resistor between the LC low pass filter and the device under test;
It measures a predetermined time from the start of output to the test power supply, controls the resistor insertion switching circuit to insert the resistor before time-up, and makes the resistor non-insertion after time-up. The line noise test apparatus according to claim 1, further comprising: a timer relay that controls the resistance insertion switching circuit. 前記ＬＣローパスフィルタ及び前記不要現象防止回路は一体として設けられ、
前記ノイズ発生回路は、前記ＬＣローパスフィルタ及び前記不要現象防止回路に対して別体として設けられることを特徴とする請求項１または２記載のラインノイズ試験装置。 The LC low pass filter and the unnecessary phenomenon prevention circuit are integrally provided.
3. The line noise test apparatus according to claim 1, wherein the noise generation circuit is provided separately from the LC low pass filter and the unnecessary phenomenon prevention circuit. 前記ノイズ発生回路及び前記ＬＣローパスフィルタは一体として設けられ、
前記不要現象防止回路は、前記ノイズ発生回路及び前記ＬＣローパスフィルタに対して別体として設けられることを特徴とする請求項１〜３のいずれか一項に記載のラインノイズ試験装置。 The noise generation circuit and the LC low pass filter are integrally provided,
The line noise test apparatus according to any one of claims 1 to 3, wherein the unnecessary phenomenon prevention circuit is provided separately from the noise generation circuit and the LC low pass filter. 前記不要現象防止回路は、
前記電源と前記被試験装置との間への前記ＬＣローパスフィルタの挿入／非挿入を切り替えるフィルタ挿入切替回路と、
前記試験用電源の前記被試験装置への出力開始から所定時間を計時し、タイムアップ前に前記ＬＣローパスフィルタを挿入するように前記フィルタ挿入切替回路を制御し、タイムアップ後には前記ＬＣローパスフィルタを非挿入とするように前記フィルタ挿入切替回路を制御するタイマリレーと
を備えることを特徴とする請求項１記載のラインノイズ試験装置。 The unnecessary phenomenon prevention circuit is
A filter insertion switching circuit that switches between insertion and non-insertion of the LC low pass filter between the power supply and the device under test;
A predetermined time is counted from the start of output of the test power supply to the device under test, and the filter insertion switching circuit is controlled to insert the LC low pass filter before time up, and after time up, the LC low pass filter 2. The line noise test apparatus according to claim 1, further comprising: a timer relay that controls the filter insertion switching circuit so as not to be inserted.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021117156A (en) * 2020-01-28 2021-08-10 Ｎｅｃプラットフォームズ株式会社 Test system, method for testing, and program

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05215800A (en) * 1992-02-04 1993-08-24 Toyota Autom Loom Works Ltd Method for diagnosing deterioration of capacitor
US5337014A (en) * 1991-06-21 1994-08-09 Harris Corporation Phase noise measurements utilizing a frequency down conversion/multiplier, direct spectrum measurement technique
JPH0993940A (en) * 1995-09-25 1997-04-04 Sony Corp Power supply circuit and switching power supply circuit
JP2001201546A (en) * 2000-01-17 2001-07-27 Meidensha Corp Noise testing method
JP2013129969A (en) * 2011-12-20 2013-07-04 Hitachi Constr Mach Co Ltd Construction machine
JP2017044670A (en) * 2015-08-28 2017-03-02 Tdk株式会社 Capacitor testing device, coil testing device and battery testing device

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5337014A (en) * 1991-06-21 1994-08-09 Harris Corporation Phase noise measurements utilizing a frequency down conversion/multiplier, direct spectrum measurement technique
JPH05215800A (en) * 1992-02-04 1993-08-24 Toyota Autom Loom Works Ltd Method for diagnosing deterioration of capacitor
JPH0993940A (en) * 1995-09-25 1997-04-04 Sony Corp Power supply circuit and switching power supply circuit
JP2001201546A (en) * 2000-01-17 2001-07-27 Meidensha Corp Noise testing method
JP2013129969A (en) * 2011-12-20 2013-07-04 Hitachi Constr Mach Co Ltd Construction machine
JP2017044670A (en) * 2015-08-28 2017-03-02 Tdk株式会社 Capacitor testing device, coil testing device and battery testing device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021117156A (en) * 2020-01-28 2021-08-10 Ｎｅｃプラットフォームズ株式会社 Test system, method for testing, and program

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