JP2019040185A - 断面厚を改善した高分解能2d顕微鏡法 - Google Patents
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Abstract
Description
(1)生の像信号は、既に上で示したように、PSF系で重畳された試料に対応する。
(2)空間領域での重畳は、フーリエ領域での乗算に対応する。すなわち、生の像信号は、フーリエ領域において試料とOTFとの積として表すことができる。
Claims (8)
- −試料(P)は、照明放射線(B)が前記試料(P)内又は前記試料(P)上で集束して、ポイントにおいて回折限界照明スポット(14)を形成するように照明放射線で照明され、
−前記ポイントは、空間分解表面検出器(17)上の回折像(18)に回折限界的に撮像され、前記表面検出器(17)は、前記回折像(18)の回折構造(18a)を分解する空間分解能を有し、
−撮像点広がり関数も照明点広がり関数も、非対称を生成するように操作されず、
−前記ポイントは、前記照明スポット(14)の直径の半分未満の増分で前記試料(P)に相対して異なる走査位置に変位され、前記撮像の焦点面のz位置を固定したまま、複数の走査位置が走査され、
−前記表面検出器(17)は読み取られ、前記試料(P)の2D像が、前記表面検出器(17)のデータ及び前記データに割り当てられた前記走査位置から生成され、前記2D像は、撮像の分解能限界を超えて増大される分解能を有する、前記試料(P)の高分解能2D走査顕微鏡方法において、
−前記焦点面の前記固定されたz位置における前記複数の走査位置に割り当てられた前記表面検出器(17)の前記データは、暫定深さ分解3D像を提供する三次元逆重畳の実行に使用され、
−前記撮像により生成される断面厚さ未満の低断面厚が指定又は予め決定され、
−前記暫定深さ分解3D像において、前記焦点面の前記固定されたz位置の周囲の前記低断面厚に位置する部分のみが選択され、前記焦点面の前記固定されたz位置の周囲の前記低断面厚外にある部分は、前記2D像を生成するために破棄される
ことを特徴とする方法。 - 前記暫定深さ分解3D像の前記三次元逆重畳は、複数の離散した切断面を含むように生成され、選択された部分として、前記焦点面の前記固定されたz位置に割り当てられ、又は最も近い前記切断面が使用されることを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 前記撮像点広がり関数及び前記照明点広がり関数は、光軸に対して対称である、請求項1又は2に記載の方法。
- 前記試料(P)は前記照明放射線(B)により励起して、蛍光放射線を放射する、請求項1、2、又は3に記載の方法。
- −照明放射線(B)で試料(P)を照明する照明ビーム路であって、前記照明放射線は、前記試料(P)内又は前記試料(P)上で集束して、ポイントにおいて回折限界照明スポット(14)を形成し、前記照明ビーム路は、照明点広がり関数を操作する要素を有さない、照明ビーム路と、
−空間分解表面検出器(17)上の回折像(18)に前記ポイントを回折限界撮像する撮像ビーム路であって、前記撮像ビーム路は、撮像点広がり関数を操作する要素を有さず、前記表面検出器(17)は、前記回折像(18)の回折構造(18a)を分解する空間分解能を有する、撮像ビーム路と、
−前記照明スポット(14)の直径の半分未満の増分で前記試料(P)に相対して前記ポイントを異なる走査位置に変位させる走査デバイス(10)であって、前記走査デバイスは、前記像の焦点面のz位置を固定したまま、複数の走査位置を走査する、走査デバイス(10)と、
−前記表面検出器(17)のデータ及び前記データに割り当てられた前記走査位置から前記試料(P)の2D像を生成する評価デバイス(C)であって、前記2D像は、前記撮像ビーム路の分解能限界を超えて増大される分解能を有する、評価デバイス(C)と
を備える、前記試料(P)の高分解能2D走査顕微鏡法の顕微鏡において、
−前記評価デバイス(C)は、前記表面検出器(17)の前記データ及び前記焦点面の前記固定されたz位置における前記複数の割り当てられた走査位置の三次元逆重畳を実行し、暫定深さ分解3D像を生成し、
−前記評価デバイス(C)は低断面厚を指定し、又は低断面厚は、前記評価デバイスに対して予め決定され、前記低断面厚は、前記撮像により生成される断面厚未満であり、
−前記評価デバイス(C)は、前記暫定深さ分解3D像において、前記焦点面の前記固定されたz位置の周囲の前記低断面厚に位置する部分のみを選択し、前記2D像を生成するために、前記焦点面の前記固定されたz位置の周囲の前記低断面厚外にある部分を破棄する
ことを特徴とする顕微鏡。 - 前記評価デバイス(C)は、複数の離散した切断面を含むように前記三次元逆重畳において前記暫定深さ分解3D像を生成し、選択された部分として、前記焦点面の前記固定されたz位置に割り当てられ、又は最も近い前記切断面を使用する、請求項5に記載の顕微鏡。
- 前記撮像点広がり関数及び前記照明点広がり関数は、光軸に対して対称である、請求項5又は6に記載の顕微鏡。
- 前記照明放射ビームは、前記試料(P)を励起させて、蛍光放射線を放射させる、請求項5、6又は7に記載の顕微鏡。
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