JP2019032266A - 検査装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】異物の存在による誤検知を低減することができる検査装置を提供する。【解決手段】検査装置1は、間隙部15を挟んで搬送方向の上流側及び下流側に各々配置されてワークWを搬送する第1コンベア11及び第2コンベア12と、間隙部の下側からワークを撮像する撮像装置20と、間隙部の上側及び下側からワークを照らす照明装置30と、を備える。撮像装置は、間隙部の真下に配置されてもよい。また、撮像装置は、第1コンベアの下方に配置され、間隙部を介してワークの下面を撮像するように構成された第1撮像装置と、第2コンベアの下方に配置され、間隙部を介してワークの下面を撮像するように構成された第2撮像装置と、を含んでもよい。【選択図】図1

Description

本開示は検査装置に関する。
従来、製品(以下、ワーク)の外観を検査するため、透明ベルトコンベア上を搬送されるワークを上方及び下方から撮像する撮像装置を備えた検査装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。
特開2014−106192号公報
上記特許文献1が開示する検査装置では、ベルトコンベアに載置されたワークの裏面すなわち載置面を、透明ベルトコンベアを介して下方から撮像するように構成されている。
しかし、特許文献1に開示された検査装置の場合、例えば、袋詰め前の固形の冷凍食品等を撮像対象(ワーク)とした場合は、透明ベルト上に落下又は付着した氷や水滴や汚れ、或いは、ワーク片(例えば、折れた冷凍麺の小片等)を異物として誤検知する可能性があるという問題があった。
上述の事情に鑑みて、本発明の少なくとも一実施形態は、異物の誤検知を低減することができる検査装置を提供することを目的とする。
(1)本発明の少なくとも一実施形態に係る検査装置は、
間隙部を挟んで搬送方向の上流側及び下流側に各々配置されてワークを搬送する第1コンベア及び第2コンベアと、
前記間隙部の下側から前記ワークを撮像する撮像装置と、
前記間隙部の上側及び前記下側から前記ワークを照らす照明装置と、
を備える。
コンベアで搬送されるワークの下面を検品のために撮像する際、例えば、透明な搬送ベルトを用いて該搬送ベルト越しに下方からワークを撮像すると、該搬送ベルト上に落下又は付着した異物の影響により誤検知の可能性が大きい。
この点、上記(1)の構成によれば、第1コンベアと第2コンベアとの間隙部の下方からワークの下面を撮像することができ、間隙部を通過するワークと撮像装置との間には撮像を遮るものが存在しないため、コンベア上に落下又は付着した異物の影響による誤検知の可能性を大幅に低減することができる。また、照明装置により、ワークの上側及び下側の何れからも照らすことにより、撮像装置側からのみ照射する場合に比べて死角の影響による影の存在を低減させることができるので、検査精度の向上を図ることができる。
(2)幾つかの実施形態では、上記(1)の構成において、
前記撮像装置は、前記間隙部の真下に配置されてもよい。
上記(2)の構成によれば、間隙部を介してワークの下面側を真下から撮像することができる。つまり、死角の影響を極力低減できるので、例えば、単一の撮像装置を用いて検査を実行することができ、上記効果を奏する検査装置を低コストで実現することができる。
(3)幾つかの実施形態では、上記(1)又は(2)の構成において、
前記撮像装置の光軸の上流側に配置され、前記間隙部からの落下物を案内するためのシュートをさらに有していてもよい。
上記(3)の構成によれば、撮像装置の光軸の上流側において、間隙部から落下する異物をシュートによって案内することができる。これにより、撮像装置の光軸上を落下物が通過することを効果的に防止することができるため、落下物によって撮像が阻害される可能性を効果的に低減して検査精度の向上を図ることができる。
(4)幾つかの実施形態では、上記(3)の構成において、
前記シュートは、上端が前記間隙部に配置され且つ下部側ほど前記撮像装置から離れて前記上流側に前記落下物を案内するように構成されていてもよい。
上記(4)の構成によれば、シュートにより、間隙部からの落下物を、撮像装置の光軸の上流側において下部側ほど撮像装置から離れるように上流側に案内することができる。従って、上記(3)による作用及び効果をより一層確実に達成することができる。
(5)幾つかの実施形態では、上記(3)又は(4)の構成において、
前記間隙部に配置され、該間隙部を通過する前記ワークを支持する支持部材をさらに備えていてもよい。
上記(5)の構成によれば、支持部材の存在により、ワークの大きさに応じて該ワークが間隙部に滞留、もしくは、間隙部から落下しない程度に第1コンベアと第2コンベアとの間隔を広く確保することができる。これにより、照明装置によるワークの照射領域を広く確保することができるので、十分な光量の確保と死角による影の影響の低減とを図って検査精度の向上を図ることができる。また、撮像装置による撮像領域を広く確保することができるため、検査精度のさらなる向上が図られる。
(6)幾つかの実施形態では、上記(1)乃至(5)の何れか一つの構成において、
前記撮像装置を収納し、平面視にて前記搬送方向と交差する方向に長尺なスリットを有するケーシングをさらに備えていてもよく、
前記撮像装置は、前記搬送方向と交差する方向に撮像素子が配置されたラインカメラを含んでもよい。
上記(6)の構成によれば、搬送方向と交差する方向に撮像素子が配置されたラインカメラを用いて、ケーシングのスリットを介してワークの下面を撮像することができる。その際、ケーシングの存在により、例えば、間隙部からの落下物等が撮像装置上に落下することを効果的に防止しつつ、ワークの下面の像をスリット越しにラインカメラの撮像素子で受光することができる。よって、落下物等の影響による撮像装置の汚染又は破損を防止しつつワークの下面を確実に撮像することができるため、検査精度の向上が図られる。
(7)幾つかの実施形態では、上記(6)の構成において、
前記ケーシングは、前記スリットの上部開口端から外側に向けて下降する傾斜部を含んでもよい。
上記(7)の構成によれば、スリットの上部開口端から外側に向けて下降する傾斜部により、仮にケーシングのスリット近傍に落下物や浮遊物が衝突した場合であっても、これらの落下物等がスリット周辺に滞在又は付着したりスリット内に落下したりすることを防止することができる。そして、落下物等はケーシングのスリットの外側に向かって落下するため、撮像装置による撮像を妨げることがなく、誤検知を防止して確実に検査を実行することができる。
(8)幾つかの実施形態では、上記(1)乃至(7)の何れか一つの構成において、
前記撮像装置の上方に配置され、前記光軸と交差する方向に向けてエアーを噴出可能な噴射部をさらに備えていてもよい。
上記(8)の構成によれば、噴射部により噴出されるエアーが撮像装置の光軸を横切るように噴射されるため、例えば、間隙部からの落下物や浮遊物がケーシングや撮像装置に落下しないように吹き飛ばすことができる。従って、落下物等の存在により撮像が妨げられることをより効果的に防止することができる。
(9)幾つかの実施形態では、上記(8)の構成において、
前記噴射部は、前記ワークを搬送する間、常時エアーを噴射するように構成されてもよい。
上記(9)の構成によれば、間隙部からの落下物や浮遊物等が撮像装置に落下して撮像を妨げることをより一層確実に防止することができる。
(10)幾つかの実施形態では、上記(1)の構成において、
前記撮像装置は、
前記第1コンベアの下方に配置され、前記間隙部を介して前記ワークの下面を撮像するように構成された第1撮像装置と、
前記第2コンベアの下方に配置され、前記間隙部を介して前記ワークの下面を撮像するように構成された第2撮像装置と、を含んでもよい。
上記(10)の構成によれば、第1撮像装置は間隙部の真下を回避して第1コンベアの下方に配置され、第2撮像装置は間隙部の真下を回避して第2コンベアの下方に配置される。これにより、間隙部からの落下物が直接的に第1撮像装置又は第2撮像装置に落下することを効果的に防止することができる。また、第1コンベアの下方に配置された第1撮像装置と、第2コンベアの下方に配置された第2撮像装置とにより、それぞれ間隙部を介してワークの下面を斜めに撮像するため、一方の撮像装置によって撮像し難い死角を他方の撮像装置で適切に撮像することができる。よって、間隙部からの落下物の影響による撮像品質の低下を抑制しつつ、死角を低減してワーク下面の撮像を円滑に行うことができる。
(11)幾つかの実施形態では、上記(1)乃至(10)の何れか一つの構成において、
前記照明装置と前記ワークとの間に配置され、前記照明装置による照射光を拡散するための拡散部材をさらに備えていてもよい。
上記(11)の構成によれば、拡散部材により、照明装置の照射光を拡散することができるので、死角による影の影響を低減して検査精度を向上させ、誤検知を低減することができる。
(12)幾つかの実施形態では、上記(1)乃至(11)の何れか一つの構成において、
前記搬送方向において前記間隙部の下流側に配置され、特定の前記ワークを前記第2コンベア上から振り分け可能に構成された振分部と、
前記撮像装置により取得された画像に基づき前記ワークの良否を判定する判定部と、をさらに備え、
前記判定部は、不良と判定した前記ワークを前記第2コンベア上から振り分けるための作動信号を前記振分部に送信するように構成されてもよい。
上記(12)の構成によれば、撮像装置によって撮像された画像に基づき判定部が不良と判定したワークを、振分部によって良品とは別に振分けることができる。
本発明の少なくとも一実施形態によれば、異物の存在による誤検知を低減することができる検査装置が提供される。
一実施形態に係る検査装置の構成を概略的に示す図である。 一実施形態に係る検査装置による異物検出過程を示す図であり、(a)は撮像装置によるワークの撮像の様子、(b)は撮像対象のワークに混入又は付着した異物を示す。 一実施形態における撮像装置による異物検出過程を示す図である。 一実施形態における撮像装置による撮像対象であるワークに混入又は付着した異物を示す図である。 他の実施形態に係る検査装置の構成を示す概略図である。 他の実施形態におけるケーシングのスリットを示す概略斜視図である。 他の実施形態におけるスリットの開口部周辺の形状を示す概略断面図である。 他の実施形態に係る検査装置の構成を示す概略図である。 他の実施形態に係る検査装置の構成を示す概略図である。 他の実施形態に係る検査装置の構成を示す概略図である。
以下、添付図面を参照して本発明の幾つかの実施形態について説明する。ただし、実施形態として記載されている又は図面に示されている構成部品の寸法、材質、形状、その相対的配置等は、本発明の範囲をこれに限定する趣旨ではなく、単なる説明例にすぎない。
例えば、「ある方向に」、「ある方向に沿って」、「平行」、「直交」、「中心」、「同心」或いは「同軸」等の相対的或いは絶対的な配置を表す表現は、厳密にそのような配置を表すのみならず、公差、若しくは、同じ機能が得られる程度の角度や距離をもって相対的に変位している状態も表すものとする。
また例えば、四角形状や円筒形状等の形状を表す表現は、幾何学的に厳密な意味での四角形状や円筒形状等の形状を表すのみならず、同じ効果が得られる範囲で、凹凸部や面取り部等を含む形状も表すものとする。
一方、一の構成要素を「備える」、「具える」、「具備する」、「含む」、又は、「有する」という表現は、他の構成要素の存在を除外する排他的な表現ではない。
図1は、本発明の一実施形態に係る検査装置1の構成を概略的に示す図である。図2は、一実施形態に係る検査装置による異物検出過程を示す図であり、(a)は撮像装置によるワークの撮像の様子、(b)は撮像対象のワークに混入又は付着した異物を示す。図3は、一実施形態における撮像装置による異物検出過程を示す図である。図4は、一実施形態における撮像装置による撮像対象であるワークに混入又は付着した異物を示す図である。
図1に示したように、本発明の少なくとも一実施形態に係る検査装置1は、間隙部15を挟んで搬送方向Aの上流側及び下流側に各々配置されてワークWを搬送する第1コンベア11及び第2コンベア12(以下、第1コンベア11及び第2コンベア12を包括的にコンベア10とも称する)と、間隙部15の下側からワークWを撮像する撮像装置20と、間隙部15の上側及び下側からワークWを照らす照明装置30と、を備えている。
第1コンベア11及び第2コンベア12は、それぞれ平行に離隔して配置されたヘッドプーリ及びテールプーリに搬送ベルトがかけ渡されて構成されており、ワークWを搬送する各々の搬送面(載置面)が同じ高さになるように配置されて、図示しないフィーダ等から供給されたワークWを下流側に搬送する。搬送ベルトには、例えば、ゴム、樹脂、フェルト等を用いてもよく、光透過性を有する透明ベルトを用いてもよい。
撮像装置20は、ワークWの下面(裏面)を撮像可能に配置される。この撮像装置20は、例えば、レンズ(図示略)を通して入射したワークWからの反射光をCCD(charge−coupled device)又はCMOS(complementary metal oxide semiconductor)等のイメージセンサでデジタル画像に変換し、変換された画像データを図示しないコントローラに送信するように構成され得る。
幾つかの実施形態において、撮像装置20は、搬送方向Aと交差する方向に撮像素子が配置されたラインカメラ(例えば、モノクロラインカメラ)を含んでもよい。
照明装置30は、ワークWの表面を照らして撮像装置20による異物の検出を可能とする。ここで、ワークWとしては種々のものが適用可能であり、表面形状に複雑な凹凸を含む場合もあり得る。幾つかの実施形態では、ワークWとして、例えば、冷凍されたうどん、そば、焼きそば、ラーメン等の麺類を含み得る。このため、一実施形態では、ワークWの下面の撮像に際して、該ワークWの下面側のみならず上面側からも光を照射することで、ワークWの表面に現れる影を抑制して異物の検出をより高精度に行えるようになっている。
ここで、上記構成を備えた検査装置1によるワークWの外観検査の概要について図2及び図3を参照して説明する。
撮像装置20によってワークWの外観検査を行う場合、例えば、ワークWのうち最も面積の広い面を撮像するようにワークW及び撮像装置20を配置してもよい。例えば、図2(a)では、ワークWが、その高さが最も低くなる向きで該コンベア10に載置され、撮像装置20は、その光軸25がコンベア10の載置面に垂直に交差するようにしてコンベア10の上方又は下方に配置される。
ワークWの上面又は下面に異物Fが付着している場合や、ワークW内に異物Fが混入している場合、例えば、図2(b)に例示するように、周囲と比較して、例えば暗い(明度が低い)領域として異物Fが観察される。このため、幾つかの実施形態では、撮像装置20によって取得した画像データに含まれる各画素の画素値に基づき、該画素値が所定の閾値よりも低い場合に異物Fと判定するように構成され得る。
図3(a)〜図3(c)を参照し、例えば、撮像装置20によって撮像された画像の画像データにおいて、搬送方向A及びこれに交差する幅方向に対応する画素が連続して取得される。このうち、所定の画素値(例えば明度の値)を閾値として該閾値以上の画素82については異物Fと判定しない(図3(a)参照)。また、上記閾値未満の画素が含まれる場合であっても、該閾値未満の画素83が所定数(例えば、3個)以上連続して検出されない場合は異物Fとして検出しない(図3(b)参照)。一方、閾値未満の画素値を有する画素83が連続して所定数以上隣接する場合は異物Fとして検出する(図3(c)参照)。
コンベア10で搬送されるワークWの下面を検品のために撮像する際、例えば、透明な搬送ベルトを用いて該搬送ベルト越しに下方からワークWを撮像すると、該搬送ベルト上に落下又は付着した異物Fの影響により誤検知の可能性が高くなる。
この点、一実施形態を適用した上記の構成によれば、第1コンベア11と第2コンベア12との間隙部15の下方からワークWの下面を撮像することができ、間隙部15を通過するワークWと撮像装置20との間には撮像を遮るものが存在しないため、コンベア10上に落下又は付着した異物Fの影響による誤検知の可能性を大幅に低減することができる。また、照明装置30により、ワークWの上側及び下側の何れからも照らすことにより、撮像装置20側からのみ照射する場合に比べて死角の影響による影の存在を低減させることができるので、検査精度の向上を図ることができる。
なお、上記のような外観検査を、例えば、冷凍うどんをワークWとして行うと、該ワークWに付着又は混入した異物Fが、例えば図4のように検出される。
図5は、他の実施形態に係る検査装置の構成を示す概略図である。
幾つかの実施形態では、例えば図1及び図5に非限定的に例示するように、撮像装置20は、間隙部15の真下に配置されてもよい。すなわち、コンベア10の下方に配置される撮像装置20の光軸25が、間隙部15を通過するワークWの下面に垂直に交差するようにして検査装置1を構成してもよい。このようにすれば、間隙部15を介してワークWの下面を真下から撮像することができる。つまり、死角の影響を極力低減できるので、例えば、単一の撮像装置20を用いて検査を実行することができ、上記の作用及び効果を奏する検査装置1を低コストで実現することができる。
幾つかの実施形態において、検査装置1は、撮像装置20の光軸25の上流側に配置され、間隙部15からの落下物を案内するためのシュート40をさらに有していてもよい(例えば図5参照)。このようにすれば、撮像装置20の光軸25の上流側において、間隙部15から落下する異物Fをシュート40によって所望の方向に案内することができる。これにより、撮像装置20の光軸25上を落下物が通過することを効果的に防止することができるため、落下物によって撮像装置20のレンズが汚れて撮像が阻害される可能性を効果的に低減し、検査精度の向上を図ることができる。
幾つかの実施形態において、シュート40は、上端が間隙部15に配置され且つ下部側ほど撮像装置20から離れて上流側に落下物を案内するように構成されていてもよい(例えば図5参照)。例えば、シュート40は、撮像装置20の光軸25と平行に延在する鉛直部41と、該鉛直部41の下端に連続して上流側に曲成された曲成部42とを含んでいてもよい。幾つかの実施形態では、シュート40により第1コンベア11の下方において撮像装置20よりも上流側に案内された落下物を回収するための回収部(図示略)をさらに備えていてもよい。
このようにシュート40の下部側ほど撮像装置20から離れて上流側に落下物を案内する構成によれば、間隙部15からの落下物を、撮像装置20から離れるように上流側に案内することができる。従って、撮像装置20による撮像を阻害せずに上記の作用及び効果をより一層確実に達成することができる。
幾つかの実施形態において、検査装置1は、間隙部15に配置され、該間隙部15を通過するワークWを支持する支持部材50をさらに備えていてもよい(例えば、図5参照)。支持部材50は、シュート40とは別体として独立して設けられていてもよいし、シュート40の上端部に連続して付設されていてもよい。支持部材50をシュート40の上部に連続して設けた場合、上流側の第1コンベア11からの落下物を隙間なく受け止めて間隙部15の下方に案内することができる。
また、支持部材50は、少なくともその上部が、搬送方向Aに交差する方向の中心軸を有する曲面を有していてもよく、例えば、図5に非限定的に例示するように丸棒状(円柱状)であってもよいし、或いは、上部に半円柱状の曲面を有する形状であってもよい。
このように間隙部15に支持部材50を配置した構成によれば、支持部材50の存在により、ワークWの大きさに応じて該ワークWが間隙部15に滞留、もしくは、間隙部15から落下しない程度に第1コンベア11と第2コンベア12との間隔を広く確保することができる。これにより、照明装置30によるワークWの照射領域を広く確保することができるので、死角による影の影響を低減して検査精度の向上を図ることができる。また、撮像装置20による撮像領域を広く確保することができるため、検査精度のさらなる向上が図られる。
幾つかの実施形態において、検査装置1は、例えば図5及び図6に非限定的に例示するように、撮像装置20を収納し、平面視にて搬送方向Aと交差する方向に長尺なスリット62を有するケーシング60をさらに備えていてもよい。
上記のようにケーシング60とスリット62とを設けた構成によれば、搬送方向Aと交差する方向に撮像素子が配置されたラインカメラを用いて、ケーシング60のスリット62を介してワークWの下面を撮像することができる。その際、ケーシング60の存在により、例えば、間隙部15からの落下物や浮遊物等が撮像装置20上に落下することを効果的に防止しつつ、ワークWの下面の像をスリット62越しにラインカメラの撮像素子で受光することができる。よって、落下物等の影響による撮像装置20の汚染又は破損を防止しつつワークWの下面を確実に撮像することができるため、検査精度の向上が図られる。
幾つかの実施形態において、ケーシング60は、例えば、図7に示すように、スリット62の上部開口端63から外側に向けて下降する傾斜部61を含んでもよい。この場合、傾斜部61は、スリット62の上部開口端63から外側に向けて直線的に下降する傾斜面(図7(a)参照)であってもよいし、ケーシング60の外側に向けて凸の曲面(図7(b)参照)であってもよいし、ケーシング60の外側に凹の曲面(図7(c)参照)であってもよい。
上記のように傾斜部61を設けた構成によれば、スリット62の上部開口端63から外側に向けて下降する傾斜部61により、仮にケーシング60のスリット62近傍に落下物が衝突した場合であっても、該落下物がスリット62周辺に滞在又は付着したりスリット62内に落下したりすることを防止することができる。そして、落下物はケーシング60のスリット62の外側に向かって落下するため、撮像装置20による撮像を妨げることがなく、誤検知を防止して確実に検査を実行することができる。
なお、スリット62の上部開口端63には、例えば、光透過性を有する窓(又はカバー)64を配置してもよい。このようにすれば、落下物や浮遊物がケーシング60内部に侵入することをより確実に防止することができる。
幾つかの実施形態において、検査装置1は、撮像装置20の上方に配置され、光軸25と交差する方向に向けてエアーを噴出可能な噴射部70をさらに備えていてもよい(例えば、図5参照)。噴射部70は、シュート40の曲成部42の下側に該曲成部42に沿って斜めに配置されていてもよい。
上記のように噴射部70を設けた構成によれば、噴射部70により噴出されるエアーが撮像装置20の光軸25を横切るように噴射されるため、例えば、間隙部15からの落下物や浮遊物がケーシング60や撮像装置20に落下しないように吹き飛ばすことができる。従って、落下物等の存在により撮像が妨げられることをより効果的に防止することができる。
なお、噴射部70は、ワークWが間隙部15を通過するタイミングに合わせてエアーを噴出するように構成されていてもよいし、所定のタイミングで(例えば、数秒間隔で)間欠的にエアーを噴出するように構成されていてもよい。
幾つかの実施形態において、噴射部70は、ワークWを搬送する間、常時エアーを噴射するように構成されてもよい。このようにすれば、間隙部15からの落下物が撮像装置20に落下して撮像を妨げることをより一層確実に防止することができる。
図8は、他の実施形態に係る検査装置の構成を示す概略図である。
図8に非限定的に例示するように、幾つかの実施形態において、撮像装置20は、第1コンベア11の下方に配置され、間隙部15を介してワークWの下面を撮像するように構成された第1撮像装置21と、第2コンベア12の下方に配置され、間隙部15を介してワークWの下面を撮像するように構成された第2撮像装置22と、を含んでもよい。
すなわち、幾つかの実施形態では、第1撮像装置21の光軸25と第2撮像装置22の光軸25とが、間隙部15で交差するように構成されてもよい。
上記の構成によれば、第1撮像装置21は間隙部15の真下の位置を回避して第1コンベア11の下方に配置され、第2撮像装置22は間隙部15の真下の位置を回避して第2コンベア12の下方に配置される。これにより、間隙部15からの落下物が直接的に第1撮像装置21又は第2撮像装置22に当たることを効果的に防止することができる。また、第1コンベア11の下方に配置された第1撮像装置21と、第2コンベア12の下方に配置された第2撮像装置22とにより、それぞれ間隙部15を介してワークWの下面を斜めに撮像するため、一方の撮像装置20によって撮像し難い死角を他方の撮像装置20で適切に撮像することができる。よって、間隙部15からの落下物の影響による撮像品質の低下を抑制しつつ、死角を低減してワークW下面の撮像を円滑に行うことができる。
図9は、他の実施形態に係る検査装置の構成を示す概略図である。
図9に非限定的に例示するように、幾つかの実施形態では、撮像装置20として第1撮像装置21及び第2撮像装置22を備えた場合、少なくとも一方の撮像装置20を第1コンベア11又は第2コンベア12のうち何れか一方の下方に配置し、間隙部15を介して斜め下方からワークWを撮像可能に配置し、他方の撮像装置20を第1コンベア11又は第2コンベア12のうち何れか他方と間隙部15の真下との間で配置を切替可能に構成してもよい。つまり、幾つかの実施形態では、第1コンベア11の下方に第1撮像装置21を斜めに配置するとともに、第2撮像装置22を、間隙部15の真下で垂直上方を撮像可能な位置と、第2コンベア12の下方で間隙部15を斜め下方から撮像可能な位置とに移動可能に構成してもよい。この場合、第2撮像装置22は、例えば、円弧状などのガイド24に沿って移動可能に構成されてもよい。
上記のように構成すれば、ワークWの種類や周囲の環境に応じて発生し得る落下物の大きさや間隙部15からの落下頻度、もしくは落下範囲の程度に応じて、より適切に撮像可能な配置を適切に選択することができるため、一台の検査装置1でより多くの種類のワークWの検査に対応させることができる。
幾つかの実施形態において、検査装置1は、照明装置30とワークWとの間に配置され、照明装置30による照射光を拡散するための拡散部材35をさらに備えていてもよい(例えば図5参照)。このようにすれば、拡散部材35により、照明装置30の照射光を周囲に拡散することができるので、例えば、外形に凹凸を含むワークWに形成される死角による影の影響を低減して検査精度を向上させ、誤検知を低減することができる。
図10は、他の実施形態に係る検査装置の構成を示す概略図である。
図10に非限定的に例示するように、幾つかの実施形態において、検査装置1は、撮像装置20により取得された画像に基づきワークWの良否を判定する判定部80と、搬送方向Aにおいて間隙部15の下流側に配置され、特定のワークWを第2コンベア12上から振り分け可能に構成された振分部90と、をさらに備えていてもよい。
判定部80は、撮像装置20により取得したワークWの下面の画像に基づき、例えば、該画像内に画素値が所定の閾値未満の画素83(図3参照)が所定数以上連続して存在するか否かを判別することにより、ワークWに異物Fが付着しているか否かを判断する(ワークWに異物Fが付着していない場合は良、付着している場合は不良とする)。
そして、判定部80は、不良と判定したワークWを第2コンベア12上から振り分けるための作動信号を振分部90に送信するように構成されてもよい。
振分部90は、判定部80によって不良と判定されたワークWを、搬送方向Aと交差する方向(側方)に向けて選択的に移動し得るように構成されていればよく、例えば、搬送方向Aに対して水平面内で角度変更可能なバー(棒材)やアーム、プッシャー装置、又はブロワ等であってもよい。
上記の構成によれば、撮像装置20によって撮像された画像に基づき判定部80が不良と判定したワークWを、振分部90によって良品とは別に振分けることができる。
以上説明した本発明の少なくとも一実施形態によれば、異物の存在による誤検知を低減することができる検査装置が提供される。
本発明は上述した実施形態に限定されることはなく、上述した実施形態に変形を加えた形態や、これらの形態を適宜組み合わせた形態も含む。
1 検査装置
10 コンベア
11 第1コンベア
12 第2コンベア
15 間隙部
20 撮像装置
21 第1撮像装置
22 第2撮像装置
24 ガイド
25 光軸
30 照明装置
35 拡散部材
40 シュート
41 鉛直部
42 曲成部
50 支持部材
60 ケーシング
61 傾斜部
62 スリット
63 上部開口端
64 窓
70 噴射部
80 判定部
82 画素(閾値以上)
83 画素(閾値未満)
90 振分部
A 搬送方向
F 異物
W ワーク

Claims (12)

  1. 間隙部を挟んで搬送方向の上流側及び下流側に各々配置されてワークを搬送する第1コンベア11及び第2コンベア12と、
    前記間隙部の下側から前記ワークを撮像する撮像装置と、
    前記間隙部の上側及び前記下側から前記ワークを照らす照明装置と、
    を備えることを特徴とする検査装置。
  2. 前記撮像装置は、前記間隙部の真下に配置される
    ことを特徴とする請求項1に記載の検査装置。
  3. 前記撮像装置の光軸の上流側に配置され、前記間隙部からの落下物を案内するためのシュートをさらに有する
    ことを特徴とする請求項1又は2に記載の検査装置。
  4. 前記シュートは、上端が前記間隙部に配置され且つ下部側ほど前記撮像装置から離れて前記上流側に前記落下物を案内するように構成されている
    ことを特徴とする請求項3に記載の検査装置。
  5. 前記間隙部に配置され、該間隙部を通過する前記ワークを支持する支持部材をさらに備えることを特徴とする請求項3又は4に記載の検査装置。
  6. 前記撮像装置を収納し、平面視にて前記搬送方向と交差する方向に長尺なスリットを有するケーシングをさらに備え、
    前記撮像装置は、前記搬送方向と交差する方向に撮像素子が配置されたラインカメラを含む、
    ことを特徴とする請求項1乃至5の何れか一項に記載の検査装置。
  7. 前記ケーシングは、前記スリットの上部開口端から外側に向けて下降する傾斜部を含む
    ことを特徴とする請求項6に記載の検査装置。
  8. 前記撮像装置の上方に配置され、前記光軸と交差する方向に向けてエアーを噴出可能な噴射部をさらに備える
    ことを特徴とする請求項1乃至7の何れか一項に記載の検査装置。
  9. 前記噴射部は、前記ワークを搬送する間、常時エアーを噴射するように構成される
    ことを特徴とする請求項8に記載の検査装置。
  10. 前記撮像装置は、
    前記第1コンベア11の下方に配置され、前記間隙部を介して前記ワークの下面を撮像するように構成された第1撮像装置と、
    前記第2コンベア12の下方に配置され、前記間隙部を介して前記ワークの下面を撮像するように構成された第2撮像装置と、を含む
    ことを特徴とする請求項1に記載の検査装置。
  11. 前記照明装置と前記ワークとの間に配置され、前記照明装置による照射光を拡散するための拡散部材をさらに備える
    ことを特徴とする請求項1乃至10の何れか一項に記載の検査装置。
  12. 前記搬送方向において前記間隙部の下流側に配置され、特定の前記ワークを前記第2コンベア12上から振り分け可能に構成された振分部と、
    前記撮像装置により取得された画像に基づき前記ワークの良否を判定する判定部と、をさらに備え、
    前記判定部は、不良と判定した前記ワークを前記第2コンベア12上から振り分けるための作動信号を前記振分部に送信するように構成される
    ことを特徴とする請求項1乃至11の何れか一項に記載の検査装置。
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Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002205716A (ja) * 2002-02-12 2002-07-23 Kishiho Kogyo Kk 容器入り食品の欠如検出方法及び装置
JP2006170669A (ja) * 2004-12-13 2006-06-29 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd 青果物の品質検査装置
JP2008127029A (ja) * 2006-11-17 2008-06-05 Dac Engineering Co Ltd 製函装置
JP2008541007A (ja) * 2005-06-03 2008-11-20 株式会社前川製作所 食品の異物検出装置
JP3176803U (ja) * 2012-04-23 2012-07-05 株式会社エム・アイ・エル 検査用照明装置
JP2012189563A (ja) * 2011-03-10 2012-10-04 System Square Inc 光学検査装置
JP2013083491A (ja) * 2011-10-06 2013-05-09 Yatomi Atsuko 半導体ウェハの表面検査システム
JP2013253823A (ja) * 2012-06-06 2013-12-19 Shibuya Seiki Co Ltd 計測装置
JP2017065855A (ja) * 2015-09-29 2017-04-06 大日本印刷株式会社 折れ込み検査装置

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002205716A (ja) * 2002-02-12 2002-07-23 Kishiho Kogyo Kk 容器入り食品の欠如検出方法及び装置
JP2006170669A (ja) * 2004-12-13 2006-06-29 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd 青果物の品質検査装置
JP2008541007A (ja) * 2005-06-03 2008-11-20 株式会社前川製作所 食品の異物検出装置
JP2008127029A (ja) * 2006-11-17 2008-06-05 Dac Engineering Co Ltd 製函装置
JP2012189563A (ja) * 2011-03-10 2012-10-04 System Square Inc 光学検査装置
JP2013083491A (ja) * 2011-10-06 2013-05-09 Yatomi Atsuko 半導体ウェハの表面検査システム
JP3176803U (ja) * 2012-04-23 2012-07-05 株式会社エム・アイ・エル 検査用照明装置
JP2013253823A (ja) * 2012-06-06 2013-12-19 Shibuya Seiki Co Ltd 計測装置
JP2017065855A (ja) * 2015-09-29 2017-04-06 大日本印刷株式会社 折れ込み検査装置

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