JP2019017801A - Ｘ線撮影装置 - Google Patents

Abstract

【課題】入射線量を抑えることができるＸ線撮影装置を提供することを目的とする。【解決手段】Ｘ線管２１の焦点と被検体Ｍの表面との距離であるSSDを測定する距離センサと、撮影許容となる入射線量に関連付けられた基準SSDを設定する入力部と、距離センサで測定したSSDを用いて得られた入射線量に関連付けられた撮影時のSSDと、入力部で設定された基準SSDとを比較するコンパレータとを備える。これらを備えることで、SSDを用いて得られた入射線量に関連付けられた撮影時のSSDが、基準SSDを基準とした撮影許容の範囲内にあるのか否かをコンパレータによって判別することができる。そして、コンパレータでの比較結果を用いて、所定の動作として、例えばＸ線管２１の回転動作の停止を行うコントローラを備えることで、所定の動作を行うことにより入射線量を抑えることができる。【選択図】図６

Description

本発明は、Ｘ線による撮影を行うＸ線撮影装置に係り、特に、被検体への被曝低減の技術に関する。

従来、この種の装置として、被検体に造影剤を投与して血管造影像を取得する血管撮影装置を例に採って説明する。血管撮影装置は、Ｘ線を照射するためのＸ線管と、Ｘ線を検出するＸ線検出器とを備え、それらの両者を対向させたまま、患者である被検体の体軸心周りの回転（以下、「オブリーク」とも呼ぶ）や被検体の体軸方向の回転（以下、「サジタル」とも呼ぶ）の角度調整や、被検体を載置した天板を有する検診台（検診台天板）の高さ調節を行うことにより、天板に載置された被検体の血管の様子を観察することができる。

なお、本明細書での「撮影」とは、強い線量でＸ線を照射してＸ線画像を取得する場合と、それよりも弱い線量でＸ線を連続的に照射してＸ線画像を逐次に表示することで動画表示する場合（透視）とを含むことに留意されたい。

血管撮影装置を用いた検査・治療において、被検体への被曝を減らすことはとても重要である。従来から、以下のような被曝を低減する工夫がなされている。
例えば、（１）Ｘ線管の管電圧やＸ線曝射のパルス幅（曝射時間）などのＸ線条件（撮影条件）を変更設定することで被曝を低減する。
（２）上記（１）による画質低下を防止するために加算処理などのデジタルの画像処理を施すことで画質を保ったまま被曝を低減する。
（３）患者の線量マップなどのようにユーザ（術者）への情報提供によって、次回には被曝が少ない部位にＸ線を照射するようにずらして撮影を行うことで、被曝を低減する。

本発明では、上記（１）〜（３）とは別のアプローチとして、Ｘ線管やＸ線検出器の保持機構の動かし方で被曝を低減するように図る。なお、Ｘ線管の焦点と被検体との距離はSOD(Source Object Distance)と呼ばれ、特にＸ線管の焦点と被検体の表面との距離はSSD(Source Surface Distance)とも呼ばれる。これらの距離は、光学センサからなる距離センサを用いて測定される（例えば、特許文献１参照）。

特開２０１６−１１９９３９号公報

しかしながら、被検体への被曝を抑えるためには、被検体の表面（皮膚）に照射される入射線量を抑えなければならず、そのためには上述のSSDを大きく保つことが重要である。
すなわち、SSDが小さくなるとＸ線管の管球側の患者の表面（皮膚）に照射される入射線量が増大し、被曝が増大となる。そのために、被曝の低減の観点からは、できる限り大きなSSDを保つことが好ましい。

ここで、「入射線量」は、患者の皮膚位置における線量であって、SSDの２乗に反比例してSSDが大きくなるのにしたがって入射線量は小さくなる。入射線量の単位は[Gy]である。また、「面積線量」は、上述の入射線量に照射面積を乗算したものであって、SSDのような距離に依らずに面積線量は一定である。面積線量の単位は[Gy・m²]である。実際には、照射面積はSSDが変化すると変わるので、面積線量はトータルの線量と見なすことができ、線量計で面積線量を計測する、あるいはＸ線条件（Ｘ線管の管電流やＸ線曝射のパルス幅など）で面積線量を求めることができる。

しかし、図１２（ａ）の体軸方向の回転（サジタル回転）や図１２（ｂ）の体軸心周りの回転（オブリーク回転）に示すように、被検体Ｍは球形ではなく板状なので、真上あるいは真下からの照射を基準にしてサジタル・オブリークともに深い深度になるとSSDが小さくなり、ユーザ（術者）はSSDが小さくなり過ぎないように注意しながら操作しなければならない。

本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、入射線量を抑えることができるＸ線撮影装置を提供することを目的とする。

本発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。
すなわち、本発明に係るＸ線撮影装置は、Ｘ線による撮影を行うＸ線撮影装置であって、Ｘ線を照射するためのＸ線管と、前記Ｘ線管の焦点と被検体の表面との距離であるSSDを求めるSSD導出手段と、撮影許容となる入射線量に関連付けられた基準物理量を設定する設定手段と、前記SSD導出手段で求められたSSDを用いて得られた入射線量に関連付けられた撮影時の物理量と、前記設定手段で設定された前記基準物理量とを比較する比較手段と、前記比較手段での比較結果を用いて、所定の動作を行う制御手段とを備えるものである。

［作用・効果］本発明に係るＸ線撮影装置によれば、Ｘ線管の焦点と被検体の表面との距離であるSSDを求めるSSD導出手段を備える。そして、撮影許容となる入射線量に関連付けられた基準物理量を設定する設定手段と、SSD導出手段で求められたSSDを用いて得られた入射線量に関連付けられた撮影時の物理量と、設定手段で設定された基準物理量とを比較する比較手段とを備える。このような設定手段および比較手段を備えることで、SSDを用いて得られた入射線量に関連付けられた撮影時の物理量が、基準物理量を基準とした撮影許容の範囲内にあるのか否かを比較手段によって判別することができる。そして、比較手段での比較結果を用いて、所定の動作を行う制御手段を備えることで、所定の動作を行うことにより入射線量を抑えることができる。

所定の動作としては、例えば下記のような動作が挙げられる。比較手段での比較結果を用いて、制御手段は、撮影時の物理量が、基準物理量を基準とした撮影許容の範囲になるようなＸ線管の移動動作（所定の動作の前者の一例）を行う。あるいは、比較手段での比較結果を用いて、制御手段は、撮影時の物理量が、基準物理量を基準とした撮影許容の範囲から外れる時点で、その外れることを報知する（所定の動作の後者の一例）。また、前者の一例および後者の一例（報知）を組み合わせてもよい。所定の動作の前者の一例の具体的な態様については後述する。

また、比較の対象となる（入射線量に関連付けられた）物理量の一例は、上述したSSDである。物理量がSSDである場合には、比較手段は、撮影時のSSDと撮影許容となる基準SSDとを比較して、比較手段での比較結果を用いて、制御手段は、撮影時のSSDが基準SSDを下回らないようなＸ線管の移動動作を行う。もし、撮影時のSSDが基準SSDを下回ると、SSDが小さくなり過ぎて入射線量が撮影許容の範囲から外れて増大してしまう。そこで、撮影時のSSDが基準SSDを下回らないようなＸ線管の移動動作を行うことで、入射線量が撮影許容の範囲になるようにSSDを大きく保つことができ、入射線量を抑えることができる。なお、比較の対象となる（入射線量に関連付けられた）物理量は、入射線量であってもよい。入射線量の場合には、線量計で測定した面積線量[Gy・m²]または管電流値[A]・撮影時間[s]の積から、SSDの２乗[m²]で除算した値を係数倍することで求めることができる。

上述したSSD導出手段は、SSDを測定する距離センサである。SSD導出手段は距離センサに限定されずに演算によりSSDを算出してもよい。例えば、SSD導出手段は、予め撮影された被検体の形状データとＸ線管の焦点との相対位置からSSDを算出してもよい。また、例えば、SSD導出手段は、被検体を模したモデル（例えば被検体の頭部を模した楕円球や被検体の胴部を模した板状で近似したモデル）とＸ線管の焦点との相対位置からSSDを算出してもよい。

所定の動作の前者の一例の具体的な態様について述べる。比較の対象となる（入射線量に関連付けられた）物理量が上述したようなSSDである場合には、比較手段は、撮影時のSSDと撮影許容となる基準SSDとを比較して、比較手段での比較結果を用いて、制御手段は、撮影時のSSDが基準SSDを下回る時点で、その下回ることを報知するのと同時に、撮影時のSSDが基準SSDを下回らないようなＸ線管の移動動作を行う。撮影時のSSDが基準SSDを下回ることをユーザに報知して、撮影時のSSDが基準SSDを下回らないようなＸ線管の移動動作を自動的に行うことができる。

Ｘ線管の移動動作としては、Ｘ線管の回転動作が主に挙げられる。すなわち、制御手段は、上述の報知と同時に、Ｘ線管の回転動作を止める。これによって、真上あるいは真下からの照射を基準にして深い角度に回転移動しないようにする。「発明が解決しようとする課題」の欄でも述べたように、被検体は球形ではなく板状なので、真上あるいは真下からの照射を基準にしてサジタル・オブリークともに深い深度になるとSSDが小さくなるが、上述の報知と同時にＸ線管の回転動作を止めることで、深い角度に回転移動しないようにして撮影時のSSDが基準SSDを保つようにする。

Ｘ線管の移動動作としては、Ｘ線管の回転動作に限定されない。例えば、制御手段は、上述の報知と同時に、Ｘ線管を被検体から遠ざけるようにＸ線管を後退させてもよい。Ｘ線管を後退させることで、撮影時のSSDが大きくなり、基準SSDに対して余裕が生まれ、基準SSDの下限を保ちながらＸ線管の動作（例えば報知の直前と同じ方向のＸ線管の回転動作）が継続可能となる。

また、Ｘ線管に限定されずに、被検体を載置する天板を動作するように制御してもよい。すなわち、制御手段は、上述の報知と同時に、被検体をＸ線管から遠ざけるように天板の載置面に垂直な方向に天板を平行移動（載置面が水平で天板の下方にＸ線管が位置する場合には天板を上昇移動、載置面が水平で天板の上方にＸ線管が位置する場合には天板を下降移動）させて、上述の報知の直前と同じ方向のＸ線管の回転動作を継続させる。Ｘ線管を被検体から遠ざけるようにＸ線管を後退させる場合と同様に、天板の載置面に垂直な方向に天板を平行移動させることで、撮影時のSSDが大きくなり、基準SSDに対して余裕が生まれ、基準SSDの下限を保ちながら報知の直前と同じ方向のＸ線管の回転動作が継続可能となる。

また、上述した設定手段による基準SSDの設定については、複数段階で行ってもよい。具体的には、nを２以上の整数とし、kを2≦k≦nを満たす整数としたときに、上述した設定手段は、基準SSDの値を、A₁，A₂，…，A_k，…，A_(n-1)，A_nに複数段階に降順に設定する（つまり、A₁>A₂>…>A_k>…>A_(n-1)>A_n）。そして、制御手段は、撮影時のSSDが基準SSD(A₁)を下回る時点で、その下回ることを報知するのと同時に、設定手段によって再設定された基準SSD(A₂)に達するまでＸ線管の回転動作を継続させる過程の後に、撮影時のSSDが基準SSD(A_(k-1))を下回る時点で、その下回ることを報知するのと同時に、設定手段によって再設定された基準SSD(A_k)に達するまでＸ線管の回転動作を継続させる過程を繰り返し行う。さらに、撮影時のSSDが基準SSD(A_n)を下回る時点で、その下回ることを報知するのと同時に、Ｘ線管の回転動作を止める。このように、真上あるいは真下からの照射を基準にして、より深い角度にＸ線管を回転移動させたい場合には、基準SSDを複数段階に降順に設定するようにする。

特に、n=2の場合には、基準SSDの値を、A₁，A₂に２段階に降順に設定する（つまり、A₁>A₂）。そして、制御手段は、撮影時のSSDが基準SSD(A₁)を下回る時点で、その下回ることを報知するのと同時に、設定手段によって再設定された基準SSD(A₂)に達するまでＸ線管の回転動作を継続させて、撮影時のSSDが基準SSD(A₂)を下回る時点で、その下回ることを報知するのと同時に、Ｘ線管の回転動作を止める。このようにn=2に限定すると、真上あるいは真下からの照射を基準にして、より深い角度にＸ線管を回転移動させたい場合には、基準SSDを２段階に降順に設定するようにする。

所定の動作の後者の一例（報知）において、Ｘ線管，Ｘ線を検出するＸ線検出器または被検体を載置する天板の複数の移動動作モードからいずれか１つの移動動作モードを選択する選択手段を備える場合には、下記のような形態が挙げられる。

前者の形態として、制御手段は、上述の報知と同時に、上述の選択手段で選択された移動動作モードにしたがってＸ線管，Ｘ線検出器または天板の移動動作を行う。前者の形態の場合には、装置の操作前に選択を予め行うことで、報知と同時に、上述の選択手段で選択された移動動作モードにしたがってＸ線管，Ｘ線検出器または天板の移動動作を迅速に行うことができ、操作が簡易になるという効果を奏する。

後者の形態として、上述の報知の後で上述の選択手段での選択を行った後に、制御手段は、上述の選択手段で選択された移動動作モードにしたがってＸ線管，Ｘ線検出器または天板の移動動作を行う。後者の形態の場合には、報知をユーザが受けてから、その時々でユーザが各移動動作モードの選択を行いたい場合に有利である。

本発明に係るＸ線撮影装置によれば、Ｘ線管の焦点と被検体の表面との距離であるSSDを求めるSSD導出手段と、撮影許容となる入射線量に関連付けられた基準物理量を設定する設定手段と、SSD導出手段で求められたSSDを用いて得られた入射線量に関連付けられた撮影時の物理量と、設定手段で設定された基準物理量とを比較する比較手段とを備える。これらを備えることで、SSDを用いて得られた入射線量に関連付けられた撮影時の物理量が、基準物理量を基準とした撮影許容の範囲内にあるのか否かを比較手段によって判別することができる。そして、比較手段での比較結果を用いて、所定の動作を行う制御手段を備えることで、所定の動作を行うことにより入射線量を抑えることができる。

各実施例に係る多関節アームを備えたＸ線撮影装置の側面図である。 図１のＸ線撮影装置の正面図である。 実施例１〜６に係るＸ線撮影装置のブロック図である。 撮影許容となる基準SSDを下回らないような、オブリークの回転動作量，サジタルの回転動作量および可動式天板の鉛直方向の動作量の組み合わせを示した模式図である。 撮影許容となる基準SSDを下回らないような、可動式天板のある高さにおけるオブリークの回転動作量の範囲およびサジタルの回転動作量の範囲を示したモニタの表示態様である。 （ａ）および（ｂ）は、実施例１に係るＸ線管の移動動作であって、オブリーク回転によるSSDの変化を示したＸ線管・Ｘ線検出器の正面図である。 （ａ）および（ｂ）は、実施例２に係るＸ線管の移動動作であって、オブリーク回転によるSSDの変化を示したＸ線管・Ｘ線検出器の正面図である。 （ａ）および（ｂ）は、実施例３に係る可動式天板の移動動作であって、オブリーク回転によるSSDの変化を示したＸ線管・Ｘ線検出器の正面図である。 （ａ）および（ｂ）は、実施例４に係るＸ線管の移動動作であって、オブリーク回転によるSSDの変化を示したＸ線管・Ｘ線検出器の正面図である。 実施例５，６に係るモニタの選択画面の表示態様である。 線量計で測定した面積線量から入射線量を求める場合における、実施例７に係るＸ線撮影装置のブロック図である。 （ａ）は体軸方向の回転（サジタル回転）の説明に供する模式図、（ｂ）は体軸心周りの回転（オブリーク回転）の説明に供する模式図である。

以下、図面を参照して本発明の実施例１を説明する。
図１は、各実施例に係る多関節アームを備えたＸ線撮影装置の側面図であり、図２は、図１のＸ線撮影装置の正面図であり、図３は、実施例１〜６に係るＸ線撮影装置のブロック図である。

後述する実施例２〜７を含めて、本実施例１に係るＸ線撮影装置は、図１および図２に示すように、被検体Ｍを載置し、本体１ｂに対して長手方向に移動可能な可動式天板１ａを有した検診台１と、Ｘ線管用の多関節アーム２とＸ線検出器用の多関節アーム３とを備えるとともに、図３に示すように、画像処理部４１とコントローラ４２と距離センサ４３とコンパレータ４４と高電圧発生器４５と入力部４６とメモリ部４７とモニタ４８とを備えている。

Ｘ線管用の多関節アーム２は、床面（図中のｘｙ平面）に支持されており、先端のアームがＸ線管２１を支持する。図１および図２では、多関節アーム２は３つのアームを端部でつないで構成されている。個々のアームの端部を支点として回転させることで、水平方向（図中のｘｙ方向）に移動させたり、鉛直方向（図中のｚ方向）に昇降移動させたり、被検体Ｍの体軸（図中のｘ軸）方向に回転（サジタル回転）させたり、被検体Ｍの体軸心周りに回転（オブリーク回転）させることが可能である。多関節アーム２を構成するアームが、回転も含んだ各方向に移動することで、多関節アーム２に支持されたＸ線管２１も、多関節アーム２と同じ方向に移動する。多関節アーム２を構成するアームの数は図１および図２に示すような３つに限定されず、３つ以上であってもよいし、２つであってもよい。

Ｘ線検出器用の多関節アーム３は、天井面（図中のｘｙ平面）から吊り掛け支持されており、先端のアームがＸ線検出器３１を支持する。Ｘ線管用の多関節アーム２と同様に、多関節アーム３は３つのアームを端部でつないで構成されている。個々のアームの端部を支点として回転させることで、水平方向（図中のｘｙ方向）に移動させたり、鉛直方向（図中のｚ方向）に昇降移動させたり、被検体Ｍの体軸（図中のｘ軸）方向に回転（サジタル回転）させたり、被検体Ｍの体軸心周りに回転（オブリーク回転）させることが可能である。多関節アーム３を構成するアームが、回転も含んだ各方向に移動することで、多関節アーム３に支持されたＸ線検出器３１も、多関節アーム３と同じ方向に移動する。Ｘ線管用の多関節アーム２と同様に、多関節アーム３を構成するアームの数は図１および図２に示すような３つに限定されず、３つ以上であってもよいし、２つであってもよい。

このように、Ｘ線管２１およびＸ線検出器３１は、それぞれ独立した多関節アーム２，３によって支持されており、Ｘ線管２１・Ｘ線検出器３１が互いに独立して駆動する。そして、コントローラ４２（図３を参照）は、Ｘ線管２１・Ｘ線検出器３１の移動が互いに同期するように制御するとともに、Ｘ線管２１・Ｘ線検出器３１が可動式天板１ａを挟んで対向するように制御する。Ｘ線検出器３１については、フラットパネル型Ｘ線検出器（FPD: Flat Panel Detector）やイメージインテンシファイア(Ｉ．Ｉ)に例示されるように、通常において用いられるＸ線検出器であれば特に限定されない。

検診台１の本体１ｂは鉛直方向に昇降可能で、それによって、可動式天板１ａも鉛直方向に昇降移動可能に構成されている。図１および図２に示すように被検体Ｍを臥位姿勢で撮影するときには、可動式天板１ａの載置面は水平面であって、可動式天板１ａの載置面に垂直な方向は鉛直方向である。したがって、被検体Ｍを臥位姿勢で撮影するときには、可動式天板１ａの載置面に垂直な方向である鉛直方向に可動式天板１ａを平行移動させている。なお、可動式天板１ａの短手方向の軸（図中のｙ軸）心周りに回転させることで、可動式天板１ａをティルト動作（傾斜）させるように構成してもよい。

可動式天板１ａや多関節アーム２，３を上述のように移動させて、Ｘ線管２１から照射されたＸ線をＸ線検出器３１が検出して得られたＸ線検出信号を、画像処理部４１（図３を参照）で処理することで被検体ＭのＸ線画像を得る。透視を行う場合には、撮影よりも弱い線量のＸ線をＸ線管２１から照射して複数のＸ線画像を逐次に得て、各Ｘ線画像をモニタ４８（図３を参照）にリアルタイムに表示する。撮影を行う場合には、Ｘ線管２１からＸ線を照射して１枚のＸ線画像をモニタ４８に出力表示またはプリンタ（図示省略）に出力印刷する。

コントローラ４２（図３を参照）はＸ線撮影装置の各構成を統括制御する。特に、コントローラ４２は、可動式天板１ａや多関節アーム２，３を制御するとともに、距離センサ４３（図３を参照）で測定された撮影時のSSDが、撮影許容となる基準SSDを下回る時点で、その下回ることを、モニタ４８を介して術者に報知するように制御する。本実施例１では、上述の報知と同時に、Ｘ線管２１の回転動作を止めるようにＸ線管用の多関節アーム２を制御する。なお、図３では、図示の便宜上、コントローラ４２から、コントローラ４２が制御する構成を結ぶ結線については、一部を除き図示を省略する。コントローラ４２は、本発明における制御手段に相当する。

画像処理部４１やコントローラ４２は、中央演算処理装置（ＣＰＵ）などで構成されている。なお、画像処理部４１については、ＧＰＵ(Graphics Processing Unit) などで構成されてもよい。

距離センサ４３（図３を参照）はＸ線管２１に取り付けられており、Ｘ線管２１の焦点と被検体Ｍの表面（皮膚）との距離であるSSDを測定する。距離センサ４３は例えば光学センサで構成される。図１や図２に示すようにＸ線管２１が可動式天板１ａの下部にあるときには、距離センサ４３はＸ線管２１の焦点と可動式天板１ａとの距離を測定する。可動式天板１ａの厚みが既知であるので、可動式天板１ａの厚みと撮影時におけるＸ線の照射角度と測定された可動式天板１ａとの距離とを用いた幾何学的演算によりSSDを求めればよい。Ｘ線管２１が可動式天板１ａの上部にあるときには距離センサ４３はSSDを直接に測定することができる。距離センサ４３は、本発明におけるSSD導出手段に相当する。

コンパレータ４４（図３を参照）は、距離センサ４３で測定された撮影時のSSDと、入力部４６（図３を参照）で予め入力設定され、メモリ部４６（図３を参照）で記憶された、撮影許容となる基準SSDとを比較する。コンパレータ４４はオペアンプなどの比較器で構成される。コンパレータ４４は、本発明における比較手段に相当する。

高電圧発生器４５（図３を参照）は、Ｘ線管２１の高電圧を発生する。Ｘ線管２１の管電流や管電圧の設定は、コントローラ４２からの指令に基づいて高電圧発生器４５が行う。なお、管電流値[mA]とＸ線曝射のパルス幅（曝射時間）[s]との積は「mAs値」とも呼ばれ、線量（面積線量）に比例する。

入力部４６（図３を参照）は、術者が入力したデータや命令をコントローラ４２に送り込む。入力部４６は、マウスやキーボードやジョイスティックやトラックボールやタッチパネルなどに代表されるポインティングデバイスで構成されている。後述する実施例２〜６を含めて、本実施例１では撮影許容となる入射線量に関連付けられた基準物理量として撮影許容となる基準SSDを入力部４６で入力設定する。入力部４６は、本発明における設定手段に相当する。

メモリ部４７（図３を参照）は、コントローラ４２を介して、画像処理部４１で得られたＸ線画像や、撮影許容となる基準SSDを下回らないような、被検体Ｍの体軸心周りのＸ線管２１の回転動作量（オブリークの回転動作量），被検体Ｍの体軸方向のＸ線管２１の回転動作量（サジタルの回転動作量）および可動式天板１ａの載置面に垂直な方向である鉛直方向の動作量の組み合わせ（図４を参照）などのデータを書き込んで記憶し、適宜必要に応じて読み出して、コントローラ４２を介して、各々のデータをモニタ４８に送り込んで出力表示する。また、後述する実施例２〜６を含めて、本実施例１では入力部４６で入力設定された撮影許容となる基準SSDを書き込んで記憶し、撮影時に読み出して、コントローラ４２を介して、撮影許容となる基準SSDをコンパレータ４４に送り込む。メモリ部４７は、ＲＯＭ（Read-only Memory）やＲＡＭ（Random Access Memory）などに代表される記憶媒体で構成されている。メモリ部４７は、本発明における記憶手段に相当する。

モニタ４８（図３を参照）は、透視を行う場合には画像処理部４１で得られたＸ線画像をリアルタイムに表示し、撮影を行う場合には画像処理部４１で得られメモリ部４７に記憶されたＸ線画像を適宜必要に応じて読み出して表示するように構成されている。また、メモリ部４７に記憶された上述の組み合わせを、可動式天板１ａのある高さに応じて読み出して表示するようにモニタ４８は構成されている（図５を参照）。また、距離センサ４３で測定された撮影時のSSDが、撮影許容となる基準SSDを下回る時点で、その下回ることを、術者に報知する画面（例えばエラーメッセージや、警告を示すマーカや色）を表示するようにモニタ４８は構成されている。モニタ４８は、本発明における表示手段に相当する。

次に、本実施例１での具体的な制御について、図４〜図６を参照して説明する。図４は、撮影許容となる基準SSDを下回らないような、オブリークの回転動作量，サジタルの回転動作量および可動式天板の鉛直方向の動作量の組み合わせを示した模式図であり、図５は、撮影許容となる基準SSDを下回らないような、可動式天板のある高さにおけるオブリークの回転動作量の範囲およびサジタルの回転動作量の範囲を示したモニタの表示態様であり、図６は、実施例１に係るＸ線管の移動動作であって、オブリーク回転によるSSDの変化を示したＸ線管・Ｘ線検出器の正面図である。

上述したように、被検体Ｍ（図１および図２を参照）は球形ではなく板状なので、真上あるいは真下からの照射を基準にしてサジタル・オブリークともに深い深度になるとSSDが小さくなる。図１や図２に示すようにＸ線管２１が可動式天板１ａの下部にあるときには、Ｘ線管２１による真下からの照射を基準にして照射角度を0°とする。この真下からの照射を基準にした照射角度0°からＸ線管２１を回転させたときの回転動作量とそのときのSSDとを予め対応付けて、メモリ部４７（図３を参照）に書き込んで記憶する。

可動式天板１ａ（図１〜図３を参照）の高さ毎に、撮影許容となる基準SSDを下回らないような範囲で、図４に示すように、照射角度0°からＸ線管２１を回転させたときの回転動作量とそのときのSSDとを予め対応付けて、メモリ部４７に書き込んで記憶する。そして、撮影許容となる基準SSDを下回らないような、撮影時における可動式天板１ａの高さにおけるオブリークの回転動作量の範囲およびサジタルの回転動作量の範囲をメモリ部４７から読み出してモニタ４８（図３を参照）に表示する。そのときの一態様を図５に示す。

なお、図４に示す組み合わせにおいてSSDを求めるには、上述したSSDを測定する距離センサ４３（図３を参照）によってSSDを測定する。その他に、距離センサに限定されずに演算によりSSDを算出してもよい。例えば、予め撮影された被検体Ｍの形状データとＸ線管２１の焦点との相対位置からSSDを算出してもよい。また、例えば、被検体Ｍを模したモデル（例えば被検体Ｍの頭部を模した楕円球や被検体Ｍの胴部を模した板状で近似したモデル）とＸ線管２１の焦点との相対位置からSSDを算出してもよい。演算によりSSDを算出する場合には、コントローラ４２（図３を参照）が行う。よって、演算によりSSDを算出する場合には、コントローラ４２が、本発明におけるSSD導出手段に相当する。

図５では、撮影許容となる基準SSDを下回らないような、サジタルの回転を停止させたときの撮影時における可動式天板１ａの高さ（図５ではh₁）におけるオブリークの回転動作量の範囲（図５では-θ_Oi~θ_Oi）、オブリークの回転を停止させたときの撮影時における可動式天板１ａの高さ（h₁）におけるサジタルの回転動作量の範囲（図５では-θ_Sj~θ_Sj）をモニタ４８に表示する。さらに、図５では、撮影許容となる基準SSDを下回らないような、可動式天板１ａの高さ（h₁）におけるオブリークの回転動作量θ_Oの範囲およびサジタルの回転動作量θ_Sの範囲をモニタ４８に表示する。

例えば、オブリークの回転動作量θ_Oが範囲下限である-θ_Oiのときには、撮影許容となる基準SSDを下回らないような、可動式天板１ａの高さ（h₁）におけるサジタルの回転動作量θ_Sの範囲は0°である。一方、オブリークの回転動作量θ_Oが-θ_O(i-1)（ただし、-θ_Oi<-θ_O(i-1)）のときには、撮影許容となる基準SSDを下回らないような、可動式天板１ａの高さ（h₁）におけるサジタルの回転動作量θ_Ｓの範囲は-θ_S1~θ_S1である。以下、同様にオブリークの回転動作量θ_Oが所定の角度のときの、撮影許容となる基準SSDを下回らないような、可動式天板１ａの高さ（h₁）におけるサジタルの回転動作量θ_Sの範囲をモニタ４８にそれぞれ表示する。

図６では、図１や図２の本体１ｂについては図示を省略する。図６（ａ）に示すＸ線管２１による真下からの照射を基準にしてＸ線管２１をオブリーク回転させる。Ｘ線管２１がオブリーク回転するのに同期して、Ｘ線検出器３１もオブリーク回転させてＸ線管２１・Ｘ線検出器３１が可動式天板１ａを挟んで対向するようにコントローラ４２は制御する。これによって、図６（ｂ）に示すようにSSDが小さくなる。

距離センサ４３（図３を参照）で測定された撮影時のSSDと、撮影許容となる基準SSDとをコンパレータ４４（図３を参照）が比較する。そして、コンパレータ４４での比較結果を用いて、コントローラ４２は、撮影時のSSDが基準SSDを下回る時点で、その下回ることを報知するのと同時に、撮影時のSSDが基準SSDを下回らないようなＸ線管２１の移動動作（本実施例１ではＸ線管２１の回転動作の停止）を行う。

本実施例１では、距離センサ４３で測定された撮影時のSSDが、撮影許容となる基準SSDを下回る時点で、その下回ることを、モニタ４８を介して術者に報知するようにコントローラ４２は制御する。例えば、術者に報知する画面（例えばエラーメッセージや、警告を示すマーカや色）をモニタ４８（図３を参照）に表示することでモニタ４８を介して術者に報知する。なお、モニタ以外の手段で術者に報知するようにコントローラは制御してもよい。例えば、ブザー（図示省略）による警告音で術者に報知するようにコントローラは制御してもよい。さらに本実施例１では、上述の報知と同時に、Ｘ線管２１のオブリーク回転動作を止めるようにＸ線管用の多関節アーム２をコントローラ４２は制御する。図６では、オブリーク回転によるSSDの変化における制御を例に採って説明したが、サジタル回転によるSSDの変化における制御についても同様であるので、その説明を省略する。

本実施例１に係るＸ線撮影装置によれば、Ｘ線管２１の焦点と被検体Ｍの表面との距離であるSSDを求めるSSD導出手段（各実施例では距離センサ４３）を備えている。そして、撮影許容となる入射線量に関連付けられた基準物理量（実施例１〜６では基準SSD）を設定する設定手段（各実施例では入力部４６）と、SSD導出手段（距離センサ４３）で求められたSSDを用いて得られた入射線量に関連付けられた撮影時の物理量（実施例１〜６では撮影時のSSD）と、設定手段（入力部４６）で設定された基準物理量（基準SSD）とを比較する比較手段（各実施例ではコンパレータ４４）とを備えている。このような設定手段（入力部４６）および比較手段（コンパレータ４４）を備えることで、SSDを用いて得られた入射線量に関連付けられた撮影時の物理量（撮影時のSSD）が、基準物理量（基準SSD）を基準とした撮影許容の範囲内にあるのか否かを比較手段（コンパレータ４４）によって判別することができる。そして、比較手段（コンパレータ４４）での比較結果を用いて、所定の動作（本実施例１では報知およびＸ線管２１の回転動作の停止）を行う制御手段（各実施例ではコントローラ４２）を備えることで、所定の動作（報知およびＸ線管２１の回転動作の停止）を行うことにより入射線量を抑えることができる。

所定の動作としては、本実施例１では例えば下記のような動作が挙げられる。比較手段（コンパレータ４４）での比較結果を用いて、制御手段（コントローラ４２）は、撮影時の物理量（撮影時のSSD）が、基準物理量（基準SSD）を基準とした撮影許容の範囲になるようなＸ線管２１の移動動作を行う。さらに、比較手段（コンパレータ４４）での比較結果を用いて、制御手段（コントローラ４２）は、撮影時の物理量（撮影時のSSD）が、基準物理量（基準SSD）を基準とした撮影許容の範囲から外れる時点で、その外れることを報知する。本実施例１では、この報知およびＸ線管２１の移動動作を両方組み合わせている。

また、比較の対象となる（入射線量に関連付けられた）物理量は、後述する実施例２〜６を含めて、本実施例１では上述したSSDである。物理量がSSDである場合には、比較手段（コンパレータ４４）は、撮影時のSSDと撮影許容となる基準SSDとを比較して、比較手段（コンパレータ４４）での比較結果を用いて、制御手段（コントローラ４２）は、撮影時のSSDが基準SSDを下回らないようなＸ線管２１の移動動作を行う。もし、撮影時のSSDが基準SSDを下回ると、SSDが小さくなり過ぎて入射線量が撮影許容の範囲から外れて増大してしまう。そこで、撮影時のSSDが基準SSDを下回らないようなＸ線管２１の移動動作を行うことで、入射線量が撮影許容の範囲になるようにSSDを大きく保つことができ、入射線量を抑えることができる。上述したSSD導出手段は、各実施例ではSSDを測定する距離センサ４３である。

本実施例１における報知の具体的な態様について述べる。後述する実施例２〜６を含めて、本実施例１のように比較の対象となる（入射線量に関連付けられた）物理量が上述したようなSSDである場合には、比較手段（コンパレータ４４）は、撮影時のSSDと撮影許容となる基準SSDとを比較して、比較手段（コントローラ４２）での比較結果を用いて、制御手段（コントローラ４２）は、撮影時のSSDが基準SSDを下回る時点で、その下回ることを報知するのと同時に、撮影時のSSDが基準SSDを下回らないようなＸ線管２１の移動動作を行う。撮影時のSSDが基準SSDを下回ることをユーザ（術者）に報知して、撮影時のSSDが基準SSDを下回らないようなＸ線管２１の移動動作を自動的に行うことができる。

Ｘ線管２１の移動動作としては、Ｘ線管２１の回転動作が主に挙げられる。すなわち、本実施例１では制御手段（コントローラ４２）は、上述の報知と同時に、Ｘ線管２１の回転動作を止める。これによって、真上あるいは真下からの照射を基準にして深い角度に回転移動しないようにする。上述したように被検体Ｍは球形ではなく板状なので、真上あるいは真下からの照射を基準にしてサジタル・オブリークともに深い深度になるとSSDが小さくなるが、上述の報知と同時にＸ線管２１の回転動作を止めることで、深い角度に回転移動しないようにして撮影時のSSDが基準SSDを保つようにする。

次に、図面を参照して本発明の実施例２を説明する。
図７は、実施例２に係るＸ線管の移動動作であって、オブリーク回転によるSSDの変化を示したＸ線管・Ｘ線検出器の正面図である。上述した実施例１と共通する構成については、同じ符号を付して、その説明を省略するとともに、図示を省略する。なお、後述する実施例３〜７を含めて、本実施例２では、上述した実施例１と同じ図１〜図２に示すＸ線撮影装置を用いている。

上述した実施例１では、Ｘ線管２１の移動動作として、Ｘ線管２１の回転動作を止めた。これに対して、本実施例２では、Ｘ線管２１の移動動作として、図７に示すようにＸ線管２１を被検体Ｍから遠ざけるようにＸ線管２１を後退させている。上述した実施例１の図６と同様にオブリーク回転を例に採って説明する。

上述した実施例１の図６と同様に図７では、図１や図２の本体１ｂについては図示を省略する。具体的には、図６（ａ）に示すＸ線管２１による真下からの照射を基準にしてＸ線管２１をオブリーク回転させて、図７（ａ）に示すようにSSDが基準SSDまで小さくなったとする。その場合には、図７（ｂ）に示すようにＸ線管２１を被検体Ｍから遠ざけるようにＸ線管２１を後退させる。

このように、図７ではＸ線管２１を被検体Ｍから遠ざけるようにＸ線管２１を後退させることで、撮影時のSSDが大きくなり余裕ができる。ただし、回転動作を継続させる場合に回転動作量が大きいと、Ｘ線管２１・Ｘ線検出器３１の回転中心がずれることにより撮影部位が視野外に外れる恐れがある。そこで、Ｘ線管２１を後退させた分だけＸ線検出器３１も被検体Ｍから遠ざけるように後退させることで回転中心を固定させて、回転中心と撮影部位とを一致させるのが好ましい。もちろん、回転動作を継続させる場合に回転動作量が小さく、回転中心がずれても撮影部位が視野外に外れない場合には、必ずしも回転中心と撮影部位とを一致させる必要はない。

距離センサ４３（図３を参照）で測定された撮影時のSSDと、撮影許容となる基準SSDとをコンパレータ４４（図３を参照）が比較する。そして、コンパレータ４４での比較結果を用いて、コントローラ４２（図３を参照）は、撮影時のSSDが基準SSDを下回る時点で、その下回ることを報知するのと同時に、撮影時のSSDが基準SSDを下回らないようなＸ線管２１の移動動作（本実施例２ではＸ線管２１の後退）を行う。図７では、オブリーク回転によるSSDの変化における制御を例に採って説明したが、サジタルによるSSDの変化における制御についても同様であるので、その説明を省略する。

本実施例２に係るＸ線撮影装置によれば、上述した実施例１に係るＸ線撮影装置と同様に、Ｘ線管２１の焦点と被検体Ｍの表面との距離であるSSDを求めるSSD導出手段（各実施例では距離センサ４３）と、撮影許容となる入射線量に関連付けられた基準物理量（実施例１〜６では基準SSD）を設定する設定手段（各実施例では入力部４６）と、SSD導出手段（距離センサ４３）で求められたSSDを用いて得られた入射線量に関連付けられた撮影時の物理量（実施例１〜６では撮影時のSSD）と、設定手段（入力部４６）で設定された基準物理量（基準SSD）とを比較する比較手段（各実施例ではコンパレータ４４）とを備える。これらを備えることで、SSDを用いて得られた入射線量に関連付けられた撮影時の物理量（撮影時のSSD）が、基準物理量（基準SSD）を基準とした撮影許容の範囲内にあるのか否かを比較手段（コンパレータ４４）によって判別することができる。そして、比較手段（コンパレータ４４）での比較結果を用いて、所定の動作（本実施例２では報知およびＸ線管２１の後退）を行う制御手段（各実施例ではコントローラ４２）を備えることで、所定の動作（報知およびＸ線管２１の後退）を行うことにより入射線量を抑えることができる。

上述した実施例１と同様に、本実施例２では、比較手段（コンパレータ４４）での比較結果を用いて、制御手段（コントローラ４２）は、撮影時の物理量（撮影時のSSD）が、基準物理量（基準SSD）を基準とした撮影許容の範囲から外れる時点で、その外れることを報知する。上述した実施例１と同様に、本実施例２では、この報知およびＸ線管２１の移動動作を両方組み合わせている。

上述した実施例１と同様に、比較の対象となる（入射線量に関連付けられた）物理量は、本実施例２では上述したSSDである。もし、撮影時のSSDが基準SSDを下回ると、SSDが小さくなり過ぎて入射線量が撮影許容の範囲から外れて増大してしまう。そこで、撮影時のSSDが基準SSDを下回らないようなＸ線管２１の移動動作を行うことで、入射線量が撮影許容の範囲になるようにSSDを大きく保つことができ、入射線量を抑えることができる。

上述した実施例１と同様に、本実施例２では、制御手段（コントローラ４２）は、撮影時のSSDが基準SSDを下回る時点で、その下回ることを報知するのと同時に、撮影時のSSDが基準SSDを下回らないようなＸ線管２１の移動動作を行う。撮影時のSSDが基準SSDを下回ることをユーザ（術者）に報知して、撮影時のSSDが基準SSDを下回らないようなＸ線管２１の移動動作を自動的に行うことができる。

本実施例２では、制御手段（コントローラ４２）は、上述の報知と同時に、Ｘ線管２１を被検体Ｍから遠ざけるようにＸ線管２１を後退させることで、Ｘ線管２１の移動動作を行っている。Ｘ線管２１を後退させることで、撮影時のSSDが大きくなり、基準SSDに対して余裕が生まれ、基準SSDの下限を保ちながらＸ線管２１の動作（例えば報知の直前と同じ方向のＸ線管２１の回転動作）が継続可能となる。

次に、図面を参照して本発明の実施例３を説明する。
図８は、実施例３に係る可動式天板の移動動作であって、オブリーク回転によるSSDの変化を示したＸ線管・Ｘ線検出器の正面図である。上述した実施例１，２と共通する構成については、同じ符号を付して、その説明を省略するとともに、図示を省略する。なお、後述する実施例４〜７を含めて、本実施例３では、上述した実施例１，２と同じ図１〜図２に示すＸ線撮影装置を用いている。

上述した実施例１，２では、撮影時のSSDが基準SSDを下回る時点で、その下回ることを報知するのと同時に、撮影時のSSDが基準SSDを下回らないようなＸ線管２１の移動動作（上述した実施例１ではＸ線管２１の回転動作の停止，上述した実施例２ではＸ線管２１の後退）を行った。これに対して、本実施例３では、所定の動作として、図８に示すように被検体ＭをＸ線管２１から遠ざけるように可動式天板１ａの載置面に垂直な方向に可動式天板１ａを平行移動させる。上述した実施例１の図６や上述した実施例２の図７と同様にオブリーク回転を例に採って説明する。

上述した実施例１の図６や上述した実施例２の図７と同様に図８では、図１や図２の本体１ｂについては図示を省略する。具体的には、図６（ａ）に示すＸ線管２１による真下からの照射を基準にしてＸ線管２１をオブリーク回転させて、図８（ａ）に示すようにSSDが基準SSDまで小さくなったとする。その場合には、図８（ｂ）に示すように被検体ＭをＸ線管２１から遠ざけるように可動式天板１ａの載置面に垂直な方向に可動式天板１ａを平行移動させる。

図８に示すようにＸ線管２１が可動式天板１ａの下部にあって、被検体Ｍを臥位姿勢で撮影するときには、可動式天板１ａの載置面は水平面であるので、可動式天板１ａの載置面に垂直な方向である鉛直方向に可動式天板１ａを上昇移動させることで、被検体ＭをＸ線管２１から遠ざける。逆に、Ｘ線管２１が可動式天板１ａの上部にあって、被検体Ｍを臥位姿勢で撮影するときには、可動式天板１ａの載置面に垂直な方向である鉛直方向に可動式天板１ａを下降移動させることで、被検体ＭをＸ線管２１から遠ざける。

このように、図８では可動式天板１ａを上昇移動させて被検体ＭをＸ線管２１から遠ざけることで、撮影時のSSDが大きくなり余裕ができる。ただし、回転動作を継続させる場合に回転動作量が大きいと、Ｘ線管２１・Ｘ線検出器３１の回転中心がずれることにより撮影部位が視野外に外れる恐れがある。そこで、可動式天板１ａを上昇移動させた分だけ回転中心も移動させて、回転中心と撮影部位とを一致させるのが好ましい。もちろん、上述した実施例２でも述べたように、回転動作を継続させる場合に回転動作量が小さく、回転中心がずれても撮影部位が視野外に外れない場合には、必ずしも回転中心と撮影部位とを一致させる必要はない。

距離センサ４３（図３を参照）で測定された撮影時のSSDと、撮影許容となる基準SSDとをコンパレータ４４（図３を参照）が比較する。そして、コンパレータ４４での比較結果を用いて、コントローラ４２（図３を参照）は、撮影時のSSDが基準SSDを下回る時点で、その下回ることを報知するのと同時に、可動式天板１ａの載置面に垂直な方向である鉛直方向に可動式天板１ａを上昇移動させることで、被検体ＭをＸ線管２１から遠ざける。図８では、オブリーク回転によるSSDの変化における制御を例に採って説明したが、サジタル回転によるSSDの変化における制御についても同様であるので、その説明を省略する。

本実施例３に係るＸ線撮影装置によれば、上述した実施例１，２に係るＸ線撮影装置と同様に、Ｘ線管２１の焦点と被検体Ｍの表面との距離であるSSDを求めるSSD導出手段（各実施例では距離センサ４３）と、撮影許容となる入射線量に関連付けられた基準物理量（実施例１〜６では基準SSD）を設定する設定手段（各実施例では入力部４６）と、SSD導出手段（距離センサ４３）で求められたSSDを用いて得られた入射線量に関連付けられた撮影時の物理量（実施例１〜６では撮影時のSSD）と、設定手段（入力部４６）で設定された基準物理量（基準SSD）とを比較する比較手段（各実施例ではコンパレータ４４）とを備える。これらを備えることで、SSDを用いて得られた入射線量に関連付けられた撮影時の物理量（撮影時のSSD）が、基準物理量（基準SSD）を基準とした撮影許容の範囲内にあるのか否かを比較手段（コンパレータ４４）によって判別することができる。そして、比較手段（コンパレータ４４）での比較結果を用いて、所定の動作（本実施例３では報知および可動式天板１ａの上昇移動）を行う制御手段（各実施例ではコントローラ４２）を備えることで、所定の動作（報知および可動式天板１ａの上昇移動）を行うことにより入射線量を抑えることができる。

上述した実施例１，２と同様に、本実施例３では、比較手段（コンパレータ４４）での比較結果を用いて、制御手段（コントローラ４２）は、撮影時の物理量（撮影時のSSD）が、基準物理量（基準SSD）を基準とした撮影許容の範囲から外れる時点で、その外れることを報知する。本実施例３では、この報知および可動式天板１ａの上昇移動を両方組み合わせている。

上述した実施例１，２と同様に、本実施例３では、制御手段（コントローラ４２）は、撮影時のSSDが基準SSDを下回る時点で、その下回ることを報知するのと同時に、撮影時のSSDが基準SSDを下回らないようなＸ線管２１の移動動作を行う。撮影時のSSDが基準SSDを下回ることをユーザ（術者）に報知して、撮影時のSSDが基準SSDを下回らないような移動動作を自動的に行うことができる。

本実施例３では、被検体Ｍを載置する天板（各実施例では可動式天板１ａ）を動作するように制御している。すなわち、制御手段（コントローラ４２）は、上述の報知と同時に、被検体ＭをＸ線管２１から遠ざけるように天板の載置面に垂直な方向に天板を平行移動（本実施例３の図８のように載置面が水平で可動式天板１ａの下方にＸ線管２１が位置する場合には可動式天板１ａを上昇移動、載置面が水平で天板の上方にＸ線管２１が位置する場合には天板を下降移動）させて、上述の報知の直前と同じ方向のＸ線管２１の回転動作（図８の場合にはオブリーク回転）を継続させる。上述した実施例２のようにＸ線管２１を被検体Ｍから遠ざけるようにＸ線管２１を後退させる場合と同様に、天板（可動式天板１ａ）の載置面（図８では水平面）に垂直な方向（図８では鉛直方向）に天板（可動式天板１ａ）を平行移動（図８では上昇移動）させることで、撮影時のSSDが大きくなり、基準SSDに対して余裕が生まれ、基準SSDの下限を保ちながら報知の直前と同じ方向のＸ線管２１の回転動作（図８ではオブリーク回転）が継続可能となる。

次に、図面を参照して本発明の実施例４を説明する。
図９は、実施例４に係るＸ線管の移動動作であって、オブリーク回転によるSSDの変化を示したＸ線管・Ｘ線検出器の正面図である。上述した実施例１〜３と共通する構成については、同じ符号を付して、その説明を省略するとともに、図示を省略する。なお、後述する実施例５〜７を含めて、本実施例４では、上述した実施例１〜３と同じ図１〜図２に示すＸ線撮影装置を用いている。

上述した実施例１〜３では、基準SSDを１つのみに設定することで、特に実施例１では撮影時のSSDが基準SSDを下回る時点で、その下回ることを報知するのと同時に、Ｘ線管２１の回転動作を止めた。これに対して、本実施例４では、基準SSDを複数段階に降順に設定することで、基準SSDの下限設定を低く再設定して、Ｘ線管２１の回転動作を継続させる。上述した実施例１の図６や上述した実施例２の図７や上述した実施例３の図８と同様にオブリーク回転を例に採って説明する。

上述した実施例１の図６や上述した実施例２の図７や上述した実施例３の図８と同様に図９では、図１〜図３の本体１ｂについては図示を省略する。基準SSDの値を、A₁>A₂とする。具体的には、図６（ａ）に示すＸ線管２１による真下からの照射を基準にしてＸ線管２１をオブリーク回転させて、図９（ａ）に示すようにSSDが基準SSD(A₁)まで小さくなったとする。その場合には、図９（ｂ）に示すようにSSDが基準SSD(A₂)までＸ線管２１をオブリーク回転させる。上述した実施例１と同様に、Ｘ線管２１がオブリーク回転するのに同期して、Ｘ線検出器３１もオブリーク回転させてＸ線管２１・Ｘ線検出器３１が可動式天板１ａを挟んで対向するようにコントローラ４２（図３を参照）は制御する。これによって、図９（ｂ）に示すようにSSDが第２基準SSD(A₂)まで小さくなる。

距離センサ４３（図３を参照）で測定された撮影時のSSDと、撮影許容となる基準SSDとをコンパレータ４４（図３を参照）が比較する。そして、コンパレータ４４での比較結果を用いて、コントローラ４２（図３を参照）は、撮影時のSSDが基準SSD(A₁)を下回る時点で、その下回ることを報知するのと同時に、再設定された基準SSD(A₂)に達するまでＸ線管２１の回転動作を継続させる。図９では、オブリーク回転によるSSDの変化における制御を例に採って説明したが、サジタル回転によるSSDの変化における制御についても同様であるので、その説明を省略する。

本実施例４に係るＸ線撮影装置によれば、上述した実施例１〜３に係るＸ線撮影装置と同様に、Ｘ線管２１の焦点と被検体Ｍの表面との距離であるSSDを求めるSSD導出手段（各実施例では距離センサ４３）と、撮影許容となる入射線量に関連付けられた基準物理量（実施例１〜６では基準SSD）を設定する設定手段（各実施例では入力部４６）と、SSD導出手段（距離センサ４３）で求められたSSDを用いて得られた入射線量に関連付けられた撮影時の物理量（実施例１〜６では撮影時のSSD）と、設定手段（入力部４６）で設定された基準物理量（基準SSD）とを比較する比較手段（各実施例ではコンパレータ４４）とを備える。これらを備えることで、SSDを用いて得られた入射線量に関連付けられた撮影時の物理量（撮影時のSSD）が、基準物理量（基準SSD）を基準とした撮影許容の範囲内にあるのか否かを比較手段（コンパレータ４４）によって判別することができる。そして、比較手段（コンパレータ４４）での比較結果を用いて、所定の動作（本実施例４では報知およびＸ線管２１の回転動作の停止）を行う制御手段（各実施例ではコントローラ４２）を備えることで、所定の動作（報知およびＸ線管２１の回転動作の停止）を行うことにより入射線量を抑えることができる。

上述した実施例１〜３と同様に、本実施例４では、比較手段（コンパレータ４４）での比較結果を用いて、制御手段（コントローラ４２）は、撮影時の物理量（撮影時のSSD）が、基準物理量（基準SSD）を基準とした撮影許容の範囲から外れる時点で、その外れることを報知する。本実施例４では、この報知およびＸ線管２１の移動動作を両方組み合わせている。

上述した実施例１〜３と同様に、本実施例４では、制御手段（コントローラ４２）は、撮影時のSSDが基準SSDを下回る時点で、その下回ることを報知するのと同時に、撮影時のSSDが基準SSDを下回らないようなＸ線管２１の移動動作を行う。撮影時のSSDが基準SSDを下回ることをユーザ（術者）に報知して、撮影時のSSDが基準SSDを下回らないような移動動作を自動的に行うことができる。

本実施例４では、設定手段（入力部４６）による基準SSDの設定については、複数段階で行っている。具体的には、nを２以上の整数とし、kを2≦k≦nを満たす整数としたときに、設定手段（入力部４６）は、基準SSDの値を、A₁，A₂，…，A_k，…，A_(n-1)，A_nに複数段階に降順に設定する（つまり、A₁>A₂>…>A_k>…>A_(n-1)>A_n）。そして、制御手段（コントローラ４２）は、撮影時のSSDが基準SSD(A₁)を下回る時点で、その下回ることを報知するのと同時に、設定手段（入力部４６）によって再設定された基準SSD(A₂)に達するまでＸ線管２１の回転動作を継続させる過程の後に、撮影時のSSDが基準SSD(A_(k-1))を下回る時点で、その下回ることを報知するのと同時に、設定手段（入力部４６）によって再設定された基準SSD(A_k)に達するまでＸ線管２１の回転動作を継続させる過程を繰り返し行う。さらに、撮影時のSSDが基準SSD(A_n)を下回る時点で、その下回ることを報知するのと同時に、Ｘ線管２１の回転動作を止める。このように、真上あるいは真下からの照射を基準にして、より深い角度にＸ線管２１を回転移動させたい場合には、基準SSDを複数段階に降順に設定するようにする。

特に、n=2の場合には、基準SSDの値を、A₁，A₂に２段階に降順に設定する（つまり、A₁>A₂）。そして、制御手段（コントローラ４２）は、撮影時のSSDが基準SSD(A₁)を下回る時点で、その下回ることを報知するのと同時に、設定手段（入力部４６）によって再設定された基準SSD(A₂)に達するまでＸ線管２１の回転動作を継続させて、撮影時のSSDが基準SSD(A₂)を下回る時点で、その下回ることを報知するのと同時に、Ｘ線管２１の回転動作を止める。このようにn=2に限定すると、真上あるいは真下からの照射を基準にして、より深い角度にＸ線管２１を回転移動させたい場合には、基準SSDを２段階に降順に設定するようにする。

次に、図面を参照して本発明の実施例５を説明する。
図１０は、実施例５，６に係るモニタの選択画面の表示態様である。上述した実施例１〜４と共通する構成については、同じ符号を付して、その説明を省略するとともに、図示を省略する。なお、後述する実施例６，７を含めて、本実施例５では、上述した実施例１〜４と同じ図１〜図２に示すＸ線撮影装置を用いている。

後述する実施例６を含めて、本実施例５では、Ｘ線管２１（図１や図２などを参照），Ｘ線検出器３１（図１や図２などを参照）または可動式天板１ａ（図１や図２などを参照）の複数の移動動作モードからいずれか１つの移動動作モードを選択する選択手段の機能を入力部４６（図３を参照）が備えている。モニタをタッチパネルで構成し、モニタに入力部４６の機能を兼用する場合には、術者がモニタの選択画面上の各ボタンに触れることで、いずれか１つの移動動作モードを選択する。入力部４６をポインティングデバイスで構成する場合には、ポインタをモニタの選択画面上の各ボタンに合わせてクリックすることで、いずれか１つの移動動作モードを選択する。入力部４６は、本発明における選択手段に相当する。

図１０のモニタ４８では、上述した実施例１〜４の移動動作モードからいずれか１つの移動動作モードを選択する選択画面４８Ａを設けている。図１０では、実施例１の移動動作モードを第１モード（Ｘ線管の回転動作の停止モード）４８ａとし、実施例２の移動動作モードを第２モード（Ｘ線管の後退モード）４８ｂとし、実施例３の移動動作モードを第３モード（可動式天板の昇降移動モード）４８ｃとし、実施例４の移動動作モードを第４モード（基準SSDの再設定モード）４８ｄとする。図１０では、Ｘ線管２１または可動式天板１ａの移動動作モードであるが、上述した実施例１〜４の移動動作モードに限定されず、Ｘ線検出器の移動動作モードを組み込んでもよい。

装置の操作前に図１０に示すような選択画面４８Ａをモニタ４８に表示して、術者は第１〜第４モード４８ａ〜４８ｄからいずれか１つの移動動作モードを選択することによって当該移動動作モードを強調表示して、決定ボタン４８ｅによって最終的に決定して選択する。選択後に撮影を行い、撮影時のSSDが基準SSDを下回る時点で、その下回ることを報知するのと同時に、選択された移動動作モードにしたがってＸ線管２１または可動式天板１ａの移動動作を行う。移動動作モードの選択手法については、図１０に示す手法に限定されない。例えば、第１〜第４モード４８ａ〜４８ｄからいずれか１つの移動動作モードを選択した時点で、当該移動動作モードを最終的に選択してもよい。

本実施例５では、制御手段（各実施例ではコントローラ４２）は、上述の報知と同時に、上述の選択手段（本実施例５では入力部４６）で選択された移動動作モード（図１０では第１〜第４モード４８ａ〜４８ｄのいずれか１つの移動動作モード）にしたがってＸ線管２１，Ｘ線検出器３１または天板（各実施例では可動式天板１ａ）の移動動作を行う。本実施例５の場合には、装置の操作前に選択を予め行うことで、報知と同時に、上述の選択手段（入力部４６）で選択された移動動作モードにしたがってＸ線管２１，Ｘ線検出器３１または天板（可動式天板１ａ）の移動動作を迅速に行うことができ、操作が簡易になるという効果を奏する。

次に、図面を参照して本発明の実施例６を説明する。
上述した実施例１〜５と共通する構成については、同じ符号を付して、その説明を省略するとともに、図示を省略する。なお、後述する実施例７を含めて、本実施例６では、上述した実施例１〜５と同じ図１〜図２に示すＸ線撮影装置を用いている。また、本実施例６では、上述した実施例５と同じ図１０に示すモニタを用いて所定の移動動作モードを選択する。

上述した実施例５と同様に、本実施例６では、Ｘ線管２１（図１や図２などを参照），Ｘ線検出器３１（図１や図２などを参照）または可動式天板１ａ（図１や図２などを参照）の複数の移動動作モードからいずれか１つの移動動作モードを選択する選択手段の機能を入力部４６（図３を参照）が備えている。

上述した実施例５と同様に、図１０のモニタ４８では、上述した実施例１〜４の移動動作モードからいずれか１つの移動動作モードを選択する選択画面４８Ａを設けている。上述した実施例５では、装置の操作前に選択を予め行うことで、報知と同時に、入力部４６で選択された移動動作モード（図１０では第１〜第４モード４８ａ〜４８ｄのいずれか１つの移動動作モード）にしたがってＸ線管２１，Ｘ線検出器３１または可動式天板１ａの移動動作を行っていた。

これに対して、本実施例６では、撮影時のSSDが基準SSDを下回る時点で、その下回ることを報知した直後に、図１０に示すような選択画面４８Ａをモニタ４８に表示する。そして、術者は第１〜第４モード４８ａ〜４８ｄからいずれか１つの移動動作モードを選択することによって当該移動動作モードを強調表示して、決定ボタン４８ｅによって最終的に決定して選択を行った後に、選択された移動動作モードにしたがってＸ線管２１または可動式天板１ａの移動動作を行う。

本実施例６では、上述の報知の後で上述の選択手段（本実施例６では入力部４６）での選択を行った後に、制御手段（各実施例ではコントローラ４２）は、上述の選択手段（入力部４６）で選択された移動動作モード（図１０では第１〜第４モード４８ａ〜４８ｄのいずれか１つの移動動作モード）にしたがってＸ線管２１，Ｘ線検出器３１または天板（可動式天板１ａ）の移動動作を行う。本実施例６の場合には、報知をユーザ（術者）が受けてから、その時々でユーザ（術者）が各移動動作モードの選択を行いたい場合に有利である。

次に、図面を参照して本発明の実施例７を説明する。
図１１は、線量計で測定した面積線量から入射線量を求める場合における、実施例７に係るＸ線撮影装置のブロック図である。上述した実施例１〜６と共通する構成については、同じ符号を付して、その説明を省略するとともに、図示を省略する。なお、本実施例７では、上述した実施例１〜６と同じ図１〜図２に示すＸ線撮影装置を用いている。

上述した実施例１〜６では、比較の対象となる（入射線量に関連付けられた）物理量が上述したようなSSDであった。そして、比較手段（各実施例１〜６ではコンパレータ４４）は、撮影時のSSDと撮影許容となる基準SSDとを比較して、比較手段（コンパレータ４４）での比較結果を用いて、制御手段（各実施例１〜６ではコントローラ４２）は、撮影時のSSDが基準SSDを下回らないようなＸ線管２１の移動動作あるいは所定の動作（各実施例１〜６では報知および実施例３では可動式天板１ａの上昇移動）を行った。これに対して、本実施例７では、比較の対象となる（入射線量に関連付けられた）物理量は、入射線量である。入射線量の場合には、線量計で測定した面積線量[Gy・m²]または管電流値[A]・撮影時間[s]の積から、SSDの２乗[m²]で除算した値を係数倍することで求めることができる。

図１１に示すように、線量計４９で測定した面積線量[Gy・m²]から入射線量を求める場合には、下記（１）式のように入射線量は表される。

D=α×S×(1/SSD²) …（１）

上記（１）式のDは入射線量[Gy]，αは係数，Sは線量計から出力される面積線量[Gy・m²]である。つまり、上記（１）式により、面積線量S[Gy・m²]からSSDの２乗[m²]で除算した値を係数α倍することで、入射線量D[Gy]を求める。係数αについては、線量計の種類に応じて事前に適宜に設定する。上記（１）式による演算をコントローラ４２（図１１を参照）が行う。

本実施例７では、撮影許容となる入射線量に関連付けられた基準物理量として撮影許容となる基準入射線量を入力部４６（図１１を参照）で入力設定する。入力部４６で入力設定された撮影許容となる基準入射線量を、コントローラ４２を介してメモリ部４７（図１１を参照）に書き込んで記憶し、撮影時に読み出して、コントローラ４２を介して、撮影許容となる基準入射線量をコンパレータ４４（図１１を参照）に送り込む。

距離センサ４３（図１１を参照）で測定された撮影時のSSDを用いて上記（１）式で得られた撮影時の入射線量D[Gy]が、基準入射線量を基準とした撮影許容の範囲内にあるのか否かをコンパレータ４４によって判別する。具体的には、距離センサ４３で測定された撮影時のSSDを用いて上記（１）式で得られた撮影時の入射線量D[Gy]と、撮影許容となる基準入射線量とをコンパレータ４４が比較する。そして、コンパレータ４４での比較結果を用いて、コントローラ４２は、撮影時の入射線量D[Gy]が基準入射線量を基準とした撮影許容の範囲内となるようなＸ線管２１（図１１を参照）の移動動作（例えば、Ｘ線管２１の回転動作の停止，またはＸ線管２１の後退）あるいは所定の動作（例えば報知および可動式天板１ａの上昇移動）を行う。また、所定の動作として、撮影時の入射線量D[Gy]が基準入射線量を上回らないようにＸ線条件（撮影条件）を変更してもよい。例えば、管電圧値や管電流値を下げてもよいし、Ｘ線曝射のパルス幅（曝射時間）を短くしてもよいし、フレームレートを下げてもよい。

図１１に示す線量計がない場合には、管電流値[A]・撮影時間[s]の積から入射線量を求めることが可能である。管電流値[A]・撮影時間[s]の積から入射線量を求める場合には、下記（２）式のように入射線量は表される。

D=β×As×(1/SSD²) …（２）

上記（２）式のDは入射線量[Gy]，βは係数，Asは管電流値[A]・撮影時間[s]の積である。つまり、上記（２）式により、管電流値[A]・撮影時間[s]の積AsからSSDの２乗[m²]で除算した値を係数β倍することで、入射線量D[Gy]を求める。係数βについては、Ｘ線管の種類に応じて事前に適宜に設定する。上記（２）式による演算をコントローラ４２が行う。

線量計４９で測定した面積線量[Gy・m²]から入射線量を求める場合と同様に、撮影許容となる基準入射線量を入力部４６で入力設定する。入力部４６で入力設定された撮影許容となる基準入射線量を、コントローラ４２を介してメモリ部４７に書き込んで記憶し、撮影時に読み出して、コントローラ４２を介して、撮影許容となる基準入射線量をコンパレータ４４に送り込む。

距離センサ４３で測定された撮影時のSSDを用いて上記（２）式で得られた撮影時の入射線量D[Gy]が、基準入射線量を基準とした撮影許容の範囲内にあるのか否かをコンパレータ４４によって判別する。具体的には、距離センサ４３で測定された撮影時のSSDを用いて上記（２）式で得られた撮影時の入射線量D[Gy]と、撮影許容となる基準入射線量とをコンパレータ４４が比較する。そして、コンパレータ４４での比較結果を用いて、コントローラ４２は、撮影時の入射線量D[Gy]が基準入射線量を基準とした撮影許容の範囲内となるようなＸ線管２１の移動動作（例えば、Ｘ線管２１の回転動作の停止，またはＸ線管２１の後退）あるいは所定の動作（例えば報知および可動式天板１ａの上昇移動）を行う。線量計４９で測定した面積線量[Gy・m²]から入射線量を求める場合と同様に、所定の動作として、撮影時の入射線量D[Gy]が基準入射線量を上回らないようにＸ線条件（撮影条件）を変更してもよい。

本実施例７に係るＸ線撮影装置によれば、上述した実施例１〜６に係るＸ線撮影装置と同様に、Ｘ線管２１の焦点と被検体Ｍの表面との距離であるSSDを求めるSSD導出手段（各実施例では距離センサ４３）と、撮影許容となる入射線量に関連付けられた基準物理量（本実施例７では基準入射線量）を設定する設定手段（各実施例では入力部４６）と、SSD導出手段（距離センサ４３）で求められたSSDを用いて得られた入射線量に関連付けられた撮影時の物理量（本実施例７では撮影時の入射線量D[Gy]）と、設定手段（入力部４６）で設定された基準物理量（基準入射線量）とを比較する比較手段（各実施例ではコンパレータ４４）とを備える。これらを備えることで、SSDを用いて得られた入射線量に関連付けられた撮影時の物理量（撮影時の入射線量D[Gy]）が、基準物理量（基準入射線量）を基準とした撮影許容の範囲内にあるのか否かを比較手段（コンパレータ４４）によって判別することができる。そして、比較手段（コンパレータ４４）での比較結果を用いて、所定の動作（例えば、Ｘ線管２１の回転動作の停止，Ｘ線管２１の後退，Ｘ線条件の変更または可動式天板１ａの上昇移動からなる動作および報知）を行う制御手段（各実施例ではコントローラ４２）を備えることで、所定の動作（Ｘ線管２１の回転動作の停止，Ｘ線管２１の後退，Ｘ線条件の変更または可動式天板１ａの上昇移動からなる動作および報知）を行うことにより入射線量を抑えることができる。

本発明は、上記実施形態に限られることはなく、下記のように変形実施することができる。

（１）上述した各実施例では、図１および図２に示すような多関節アーム２，３を備えたＸ線撮影装置であったが、Ｘ線管・Ｘ線検出器を保持する保持機構（例えばＣアーム）を備え、保持機構を駆動することでＸ線管・Ｘ線検出器が一体的に移動可能なＸ線撮影装置や、被検体を載置する天板の移動（例えばティルト動作）に連動してＸ線管・Ｘ線検出器が一体的に移動可能なＸ線撮影装置に例示されるように、適用するＸ線撮影装置の構造については特に限定されない。

（２）上述した各実施例では、図１および図２に示すように、Ｘ線管用の多関節アーム２は床面に支持されており、Ｘ線検出器用の多関節アーム３は天井面から吊り掛け支持されていたが、逆に、Ｘ線管用の多関節アームが天井面から吊り掛け支持されており、Ｘ線検出器用の多関節アーム３が床面に支持された構造に適用してもよい。すなわち、図１および図２ではＸ線を下から照射したが、Ｘ線管用の多関節アームが天井面から吊り掛け支持された場合には、Ｘ線を上から照射してもよい。特に、上述した実施例３のように天板の載置面が水平で天板の下方にＸ線管が位置する場合には、天板を上昇移動させることで被検体をＸ線管から遠ざけるように天板の載置面に垂直な方向に天板を平行移動させたが、Ｘ線管用の多関節アームが天井面から吊り掛け支持された場合（天板の載置面が水平で天板の上方にＸ線管が位置する場合）には、天板を下降移動させることで被検体をＸ線管から遠ざけるように天板の載置面に垂直な方向に天板を平行移動させてもよい。

（３）上述した各実施例では、SSD導出手段は、SSDを測定する距離センサであったが、実施例１でも言及したようにSSD導出手段は演算によりSSDを算出してもよい。例えば、SSD導出手段は、予め撮影された被検体の形状データとＸ線管の焦点との相対位置からSSDを算出してもよい。また、例えば、SSD導出手段は、被検体を模したモデル（例えば被検体の頭部を模した楕円球や被検体の胴部を模した板状で近似したモデル）とＸ線管の焦点との相対位置からSSDを算出してもよい。

（４）上述した各実施例では、撮影時の物理量（実施例１〜６では撮影時のSSD，実施例７では撮影時の入射線量D[Gy]）が、基準物理量（実施例１〜６では基準SSD，実施例７では基準入射線量）を基準とした撮影許容の範囲から外れる時点で、その外れることを報知したが、必ずしも報知する必要はない。報知以外の所定の動作（例えば、Ｘ線管の回転動作の停止，Ｘ線管の後退または天板の上昇移動）のみを行ってもよい。

１ａ … 可動式天板
２１ … Ｘ線管
３１ … Ｘ線検出器
４２ … コントローラ
４３ … 距離センサ
４４ … コンパレータ
４６ … 入力部
４７ … メモリ部
４８ … 表示手段
４８Ａ … 選択画面
４９ … 線量計
θ_O … オブリークの回転動作量
θ_S … サジタルの回転動作量
A₁，A₂，…，A_k，…，A_(n-1)，A_n … 基準SSDの値
D … 入射線量
S … 線量計から出力される面積線量
As … 管電流値・撮影時間の積
α, β … 係数
Ｍ … 被検体

Claims (15)

1. Ｘ線による撮影を行うＸ線撮影装置であって、
   Ｘ線を照射するためのＸ線管と、
   前記Ｘ線管の焦点と被検体の表面との距離であるSSDを求めるSSD導出手段と、
   撮影許容となる入射線量に関連付けられた基準物理量を設定する設定手段と、
   前記SSD導出手段で求められたSSDを用いて得られた入射線量に関連付けられた撮影時の物理量と、前記設定手段で設定された前記基準物理量とを比較する比較手段と、
   前記比較手段での比較結果を用いて、所定の動作を行う制御手段と
   を備える、
   Ｘ線撮影装置。
2. 請求項１に記載のＸ線撮影装置において、
   前記比較手段での比較結果を用いて、前記制御手段は、前記撮影時の物理量が、前記基準物理量を基準とした撮影許容の範囲になるような前記Ｘ線管の移動動作を行う、
   Ｘ線撮影装置。
3. 請求項２に記載のＸ線撮影装置において、
   前記物理量は前記SSDであって、
   前記比較手段は、撮影時のSSDと撮影許容となる基準SSDとを比較して、
   前記比較手段での比較結果を用いて、前記制御手段は、撮影時のSSDが基準SSDを下回らないような前記Ｘ線管の移動動作を行う、
   Ｘ線撮影装置。
4. 請求項１または請求項２に記載のＸ線撮影装置において、
   前記SSD導出手段は、前記SSDを測定する距離センサである、
   Ｘ線撮影装置。
5. 請求項１または請求項２に記載のＸ線撮影装置において、
   前記SSD導出手段は、予め撮影された被検体の形状データと前記Ｘ線管の焦点との相対位置から前記SSDを算出するSSD算出手段である、
   Ｘ線撮影装置。
6. 請求項１または請求項２に記載のＸ線撮影装置において、
   前記SSD導出手段は、被検体を模したモデルと前記Ｘ線管の焦点との相対位置から前記SSDを算出するSSD算出手段である、
   Ｘ線撮影装置。
7. 請求項１から請求項６のいずれかに記載のＸ線撮影装置において、
   前記物理量は前記SSDであって、
   前記被検体を載置する天板と、
   撮影許容となる基準SSDを下回らないような、前記被検体の体軸心周りの前記Ｘ線管の回転動作量，前記被検体の体軸方向の前記Ｘ線管の回転動作量および前記天板の載置面に垂直な方向の動作量の組み合わせを記憶する記憶手段と、
   前記組み合わせを表示する表示手段と
   を備える、
   Ｘ線撮影装置。
8. 請求項１から請求項７のいずれかに記載のＸ線撮影装置において、
   前記比較手段での比較結果を用いて、前記制御手段は、前記撮影時の物理量が、前記基準物理量を基準とした撮影許容の範囲から外れる時点で、その外れることを報知する、
   Ｘ線撮影装置。
9. 請求項８に記載のＸ線撮影装置において、
   前記物理量は前記SSDであって、
   前記比較手段は、撮影時のSSDと撮影許容となる基準SSDとを比較して、
   前記比較手段での比較結果を用いて、前記制御手段は、撮影時のSSDが基準SSDを下回る時点で、その下回ることを報知するのと同時に、撮影時のSSDが基準SSDを下回らないような前記Ｘ線管の移動動作を行う、
   Ｘ線撮影装置。
10. 請求項９に記載のＸ線撮影装置において、
    前記制御手段は、前記報知と同時に、前記Ｘ線管の回転動作を止める、
    Ｘ線撮影装置。
11. 請求項９に記載のＸ線撮影装置において、
    前記制御手段は、前記報知と同時に、前記Ｘ線管を前記被検体から遠ざけるようにＸ線管を後退させる、
    Ｘ線撮影装置。
12. 請求項９に記載のＸ線撮影装置において、
    前記被検体を載置する天板を備え、
    前記制御手段は、前記報知と同時に、前記被検体を前記Ｘ線管から遠ざけるように前記天板の載置面に垂直な方向に天板を平行移動させて、前記報知の直前と同じ方向の前記Ｘ線管の回転動作を継続させる、
    Ｘ線撮影装置。
13. 請求項９に記載のＸ線撮影装置において、
    nを２以上の整数とし、kを2≦k≦nを満たす整数としたときに、
    前記設定手段は、基準SSDの値を、A₁，A₂，…，A_k，…，A_(n-1)，A_nに複数段階に降順に設定し、
    前記制御手段は、
    撮影時のSSDが前記基準SSD(A₁)を下回る時点で、その下回ることを報知するのと同時に、前記設定手段によって再設定された前記基準SSD(A₂)に達するまで前記Ｘ線管の回転動作を継続させる過程の後に、
    撮影時のSSDが前記基準SSD(A_(k-1))を下回る時点で、その下回ることを報知するのと同時に、前記設定手段によって再設定された前記基準SSD(A_k)に達するまで前記Ｘ線管の回転動作を継続させる過程を繰り返し行い、
    撮影時のSSDが前記基準SSD(A_n)を下回る時点で、その下回ることを報知するのと同時に、前記Ｘ線管の回転動作を止める、
    Ｘ線撮影装置。
14. 請求項９から請求項１３のいずれかに記載のＸ線撮影装置において、
    前記Ｘ線管，Ｘ線を検出するＸ線検出器または前記被検体を載置する天板の複数の移動動作モードからいずれか１つの移動動作モードを選択する選択手段を備え、
    前記制御手段は、前記報知と同時に、前記選択手段で選択された移動動作モードにしたがって前記Ｘ線管，前記Ｘ線検出器または前記天板の移動動作を行う、
    Ｘ線撮影装置。
15. 請求項９から請求項１３のいずれかに記載のＸ線撮影装置において、
    前記Ｘ線管，Ｘ線を検出するＸ線検出器または前記被検体を載置する天板の複数の移動動作モードからいずれか１つの移動動作モードを選択する選択手段を備え、
    前記報知の後で前記選択手段での選択を行った後に、前記制御手段は、前記選択手段で選択された移動動作モードにしたがって前記Ｘ線管，前記Ｘ線検出器または前記天板の移動動作を行う、
    Ｘ線撮影装置。

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