JP2019003453A - 不良要因分析システム及び不良要因分析方法 - Google Patents
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Abstract
Description
本実施の形態では、不良要因分析システムが、目的変数についての各製品のデータ(目的変数データ)と説明変数についての各製品のデータ(説明変数データ)とを含むデータ集合について、目的変数データの度数分布を作成し、度数分布における互いに離れた2つの抽出領域を設定し、これらの抽出領域のうちの一方に目的変数データが含まれる製品と、他方に目的変数データが含まれる製品との間における説明変数データの差を特徴量の違いとして算出する。不良要因分析システムは、抽出領域を互いに近づけるように再設定し、その都度特徴量の違いを算出し、各特徴量の違いに基づいて不良要因の特徴を表す説明変数を重要変数として選択し、これを表示する。
図1は、本実施の形態に係る不良要因分析システムの構成を示す模式図である。不良要因分析システム10は、製品の不良要因を分析するためのものである。不良要因分析システム10には、目標変数についての製品毎のデータである目標変数データと、説明変数についての製品毎のデータである説明変数データとを含むデータ集合が入力として与えられる。目標変数は、製品20が良品か不良品かを決定するために使用される変数であり、説明変数は、製品についての特徴を示す変数である。例えば、圧延鋼板を分析対象の製品20とする場合、硬さ等の試験値を目標変数とし、製造設備(圧延設備)21における温度、圧力、材料の成分等を説明変数とすることができる。図1の例では、製造設備21には温度センサ、圧力センサ等の複数のセンサ22が設置され、これらの複数のセンサによって各製品20の説明変数データが収集される。また、製造設備21で製造された製品20に対して試験装置23によって硬さ試験などの試験が実施され、その試験値が目的変数データとして収集される。
次に、不良要因分析システム10の動作について説明する。図3は、本実施の形態に係る不良要因分析システム10による不良要因分析処理の手順を示すフローチャートである。製造設備21が稼働している間、センサ22が説明変数データを収集し、試験装置23が目的変数データを収集する。これらの説明変数データ及び目的変数データを含むデータ集合が、不良要因分析システム10に入力される。又は、オペレータがセンサ22によって計測された説明変数データ、及び試験装置23によって計測された目的変数データを収集し、これらのデータ集合を、入力部120から不良要因分析システム10に手入力することもできる。不良要因分析システム10のCPU111は、このようにして入力されたデータ集合を受け付ける(ステップS11)。
(重要度)=λ×(一次近似式の傾きの絶対値)−(n次近似式とデータとの誤差の合計)
但し、上式におけるλは定数である。抽出領域の位置に対して特徴量の違いの変化が大きい程、一次近似式の傾きの絶対値は大きくなる。このため、一次近似式の傾きの絶対値は、その説明変数の不良要因との関連の強さを表している。また、図8の実線で示すグラフのように、抽出領域の位置に応じて特徴量の違いが滑らかに変化する説明変数では、n次近似式によって特徴量の違いと抽出領域の位置との関係をよく近似できるため、n次近似式とデータとの誤差が小さくなる。これに対して、図8の破線で示すグラフのように、抽出領域の位置と無関係に特徴量の違いが変化する説明変数では、n次近似式による近似が困難であり、n次近似式とデータとの誤差が大きくなる。このため、n次近似式とデータとの誤差は、抽出領域の位置と無関係に変化するような説明変数では大きくなる。以上より、上記の重要度は、不良要因との関連が強い説明変数ほど大きくなり、抽出領域の位置と無関係に変化するような説明変数ほど小さくなる。
本実施の形態では、不良要因分析システム10が、第1及び第2抽出領域の幅を一定としつつ、これらを互いに近づけるように繰り返し設定する。
本実施の形態に係る不良要因分析システムの構成は、実施の形態1に係る不良要因分析システム10の構成と同様であるので、同一構成要素については同一符号を付し、その説明を省略する。
本実施の形態に係る不良要因分析システム10の動作について説明する。図9は、本実施の形態に係る不良要因分析システム10による不良要因分析処理の手順を示すフローチャートである。ステップS11〜S13の処理については、実施の形態1において説明したものと同様であるので、その説明を省略する。
ある試験値を目的変数とし、計測値等の5つの要素を説明変数(変数1〜5)として、ある製品に実施の形態1に係る不良要因分析方法を適用した。図11は、本実施例において算出された特徴量の違いと抽出領域の位置との関係を示すグラフである。図11において、縦軸は特徴量の違いを示し、横軸は抽出領域の位置(具体的には、aの値)を示している。この実施例では、分割点μが1055.202となった。図11に示すように、特徴量の違いが最も大きい説明変数は変数4である。変数4は、抽出領域が互いに離れているほど特徴量の違いが大きく、互いに近づくほど(分割点μに近づくほど)特徴量の違いが小さくなっている。また、変数4では、特徴量の違いの変化は概ね滑らかである。変数3は、変数4に次いで特徴量の違いが大きく、抽出領域の位置が分割点μに近づくにしたがって、少々ばらつきながら特徴量の違いが減少している。変数1は、特徴量の違いの変化は滑らかであるが、その変化量は小さい。変数2は、抽出領域の位置の全域にわたって、特徴量の違いが殆ど変化していない。変数5は、抽出領域の位置の変化に応じて特徴量の違いが少し増加しており、またばらつきが大きい。
上述した実施の形態1においては、度数分布において分割点μよりa大きい上側値VUと分割点μよりa小さい下側値VLとを定め、上側値VUと目的変数データの最大値Vmaxとの間を第1抽出領域31とし、下側値VLと目的変数データの最小値Vminとの間を第2抽出領域32として設定する構成について述べ、実施の形態2においては、上側値VUから領域幅dだけ目的変数データが大きい領域を第1抽出領域231とし、下側値VLから領域幅dだけ目的変数データが小さい領域を第2抽出領域232として設定する構成について述べた。しかし、度数分布において互いに離れた2つの抽出領域を設定する構成であれば、上記に限定されるものではない。例えば、度数分布において分割点μよりa大きい上側値Vuと、分割点μよりaとは異なるbだけ小さい下側値Vlとを定め、上側値Vuと目的変数データの最大値Vmaxとの間を第1抽出領域とし、下側値Vlと目的変数データの最小値Vminとの間を第2抽出領域として設定することもできるし、上側値Vlから領域幅d1だけ目的変数データが大きい領域を第1抽出領域とし、下側値Vlからd1とは異なる領域幅d2だけ目的変数データが小さい領域を第2抽出領域として設定することもできる。また、第1及び第2抽出領域の属性値(抽出領域の領域幅、抽出領域の面積、抽出領域に目的変数が含まれる製品数等)に基づいて、度数分布において互いに離れた位置に第1及び第2抽出領域を設定する構成としてもよい。例えば、第1及び第2抽出領域の面積が同じとなるように第1及び第2抽出領域を設定してもよいし、第1及び第2抽出領域のそれぞれに目的変数が含まれる製品数が同じとなるように第1及び第2抽出領域を設定してもよい。
11 コンピュータ
110 本体
120 入力部
130 表示部
111 CPU
112 ROM
113 RAM
114 ハードディスク
115 入出力インタフェース
116 映像出力インタフェース
150 不良要因分析プログラム
20 製品
21 製造設備
22 センサ
23 試験装置
31,231 第1抽出領域
32,232 第2抽出領域
Claims (14)
- 良品か不良品かの決定に使用される目的変数についての複数の製品毎の目的変数データと、前記製品についての特徴を各別に示す複数の説明変数のそれぞれについての前記複数の製品毎の説明変数データとを含むデータ集合について、前記目的変数データの度数分布を作成する度数分布作成手段と、
前記度数分布作成手段によって作成された前記度数分布における互いに離れた2つの抽出領域を設定する設定手段と、
前記設定手段によって設定された前記2つの抽出領域のうちの一方に前記目的変数データが含まれる製品と、他方に前記目的変数データが含まれる製品との間における前記説明変数データの差を表す特徴量の違いを、前記説明変数毎に算出する算出手段と、
前記算出手段によって算出された前記特徴量の違いに基づいて、説明変数の不良要因に対する関連度合いを重要度として評価する重要度評価手段と、
前記重要度評価手段による評価結果を出力する出力部と
を備える、
不良要因分析システム。 - 前記設定手段は、前記抽出領域の所定の属性値に基づいて、前記2つの抽出領域を設定するように構成されている、
請求項1に記載の不良要因分析システム。 - 前記設定手段は、前記2つの抽出領域それぞれの前記属性値を同一とするよう前記2つの抽出領域を設定するように構成されている、
請求項2に記載の不良要因分析システム。 - 前記設定手段は、前記算出手段によって前記特徴量の違いが算出された後、前記2つの抽出領域を互いに近づけるよう再設定するように構成されており、
前記算出手段は、前記2つの抽出領域が再設定されると、再設定された前記2つの抽出領域についての前記特徴量の違いを前記説明変数毎に算出するように構成されており、
前記重要度評価手段は、前記算出手段によって算出された複数の前記特徴量の違いに基づいて、前記重要度を評価するように構成されている、
請求項1乃至3のいずれかに記載の不良要因分析システム。 - 前記設定手段は、前記度数分布における互いに離れた前記目的変数データである上側値と、前記上側値よりも小さい下側値とを定め、前記上側値と前記度数分布における前記目的変数データの最大値との間を一方の前記抽出領域とし、前記下側値と前記度数分布における前記目的変数データの最小値との間を他方の前記抽出領域として設定し、前記算出手段によって前記特徴量の違いが算出された後、前記上側値と前記下側値とを互いに近づけるように変更することで、前記2つの抽出領域を再設定するように構成されている、
請求項4に記載の不良要因分析システム。 - 前記設定手段は、前記算出手段によって前記特徴量の違いが算出された後、前記2つの抽出領域の所定の属性値を変えずに前記2つの抽出領域を再設定するように構成されている、
請求項4に記載の不良要因分析システム。 - 前記属性値は、前記抽出領域の領域幅である、
請求項2、3又は6に記載の不良要因分析システム。 - 前記属性値は、前記抽出領域の面積である、
請求項2、3又は6に記載の不良要因分析システム。 - 前記属性値は、前記抽出領域に前記目的変数が含まれる製品数である、
請求項2、3又は6に記載の不良要因分析システム。 - 前記重要度評価手段は、前記特徴量の違いと前記抽出領域の前記度数分布上の位置との関係の近似式を算出し、算出された前記近似式に基づいて、前記説明変数毎に前記重要度を算出するように構成されている、
請求項4乃至6の何れかに記載の不良要因分析システム。 - 前記重要度評価手段は、前記関係の一次近似式及びn次近似式(nは2以上の整数)を算出し、算出された前記一次近似式及びn次近似式に基づいて、前記説明変数毎に前記重要度を算出するように構成されている、
請求項10に記載の不良要因分析システム。 - 前記度数分布作成手段によって作成された前記度数分布での目的変数データの代表値を分割点に決定する決定手段をさらに備え、
前記設定手段は、前記決定手段によって決定された前記分割点を挟むよう前記2つの抽出領域を設定するように構成されている、
請求項1乃至11の何れかに記載の不良要因分析システム。 - 前記設定手段は、前記算出手段によって前記特徴量の違いが算出された後、前記2つの抽出領域の両方が前記分割点と重なっていない場合に、前記2つの抽出領域のそれぞれを前記分割点に近づけるよう再設定するように構成されており、
前記重要度評価手段は、前記2つの抽出領域の何れかが前記分割点と重なっている場合に、前記重要度を評価するように構成されている、
請求項12に記載の不良要因分析システム。 - 良品か不良品かの決定に使用される目的変数についての複数の製品毎の目的変数データと、前記製品についての特徴を各別に示す複数の説明変数のそれぞれについての前記複数の製品毎の説明変数データとを含むデータ集合について、前記目的変数データの度数分布を作成するステップと、
作成された前記度数分布における互いに離れた2つの抽出領域を設定するステップと、
設定された前記2つの抽出領域のうちの一方に前記目的変数データが含まれる製品と、他方に前記目的変数データが含まれる製品との間における前記説明変数データの差を表す特徴量の違いを、前記説明変数毎に算出するステップと、
算出された前記特徴量の違いに基づいて、説明変数の不良要因に対する関連度合いを重要度として評価するステップと、
評価結果を出力するステップと
を有する、
不良要因分析方法。
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WO2023112167A1 (ja) * | 2021-12-14 | 2023-06-22 | 三菱電機株式会社 | 要因分析装置、要因分析方法及び要因分析プログラム |
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- 2017-06-16 JP JP2017118218A patent/JP6849543B2/ja active Active
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