JP2019002888A - Electrode extraction device, method for extracting electrode, and electrode extraction program - Google Patents

Electrode extraction device, method for extracting electrode, and electrode extraction program Download PDF

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康晴 木内
Yasuharu Kiuchi
康晴 木内
和隆 野々村
Kazutaka Nonomura
和隆 野々村
渡辺 辰巳
Tatsumi Watanabe
辰巳 渡辺
高橋 聡
Satoshi Takahashi
聡 高橋
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Abstract

To provide an electrode extraction device for extracting a plurality of electrodes from an image.SOLUTION: An electrode extraction device includes: an image acquisition unit 64 for acquiring an image including a plurality of electrodes; a pixel extraction unit for individually extracting pixels in different lightness ranges from the image; and an electrode extraction unit for extracting the electrodes from the individual extracted pixels.SELECTED DRAWING: Figure 2

Description

本発明は、電極を含む画像から電極の画像を抽出する電極抽出装置、電極抽出方法および電極抽出プログラムに関する。   The present invention relates to an electrode extraction apparatus, an electrode extraction method, and an electrode extraction program for extracting an electrode image from an image including electrodes.

従来、電極を撮像した画像の明るさに基づいて圧痕の判定を行う技術が知られている。例えば、特許文献1において、パターンマッチングによって電極が検出される構成が開示されている。また、特許文献2においては、二値化処理によってリード端子が位置する箇所を周囲に対して明るくまたは暗く表示することが開示されている。   Conventionally, a technique for determining an indentation based on the brightness of an image obtained by imaging an electrode is known. For example, Patent Document 1 discloses a configuration in which electrodes are detected by pattern matching. Japanese Patent Application Laid-Open No. H10-228561 discloses that a portion where the lead terminal is located is displayed brightly or darkly with respect to the surroundings by binarization processing.

特開2008−76184号公報JP 2008-76184 A 特開2014−21087号公報号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2014-21087

従来の技術においては、明るさが異なる電極の画像を抽出することが困難であった。すなわち、電子部品等において、複数の種類の電極(例えば材質が異なる電極等)が利用される場合がある。このような電極を撮像した画像に対し、各電極のパターンを用意してそれぞれのパターンについてのパターンマッチング処理を行うのは煩雑である。また、複数の種類の電極の形状が類似している場合、パターンマッチング処理で両者を区別することは困難である。さらに、二値化処理を行う場合、複数の種類の電極の一方のみが抽出されるか、または双方が抽出されることになり、両者を区別することは困難である。   In the prior art, it has been difficult to extract images of electrodes having different brightness. That is, in an electronic component or the like, a plurality of types of electrodes (for example, electrodes having different materials) may be used. It is complicated to prepare a pattern for each electrode and perform a pattern matching process for each pattern on an image obtained by imaging such an electrode. In addition, when the shapes of a plurality of types of electrodes are similar, it is difficult to distinguish the two by pattern matching processing. Furthermore, when the binarization process is performed, only one of a plurality of types of electrodes is extracted or both are extracted, and it is difficult to distinguish the two.

本発明は、上記の問題を解決するものであり、画像から複数の種類の電極を抽出することを目的とする。   The present invention solves the above-described problems, and an object thereof is to extract a plurality of types of electrodes from an image.

上記の目的を達成するため、電極抽出装置は、電極を含む画像を取得する画像取得部と、画像から異なる明度範囲の画素をそれぞれ抽出する画素抽出部と、抽出されたそれぞれの画素から電極を抽出する電極抽出部と、を備える。すなわち、電極抽出装置は、異なる明度範囲の画素から電極を抽出するため、異なる明るさの像として画像に含まれている複数の種類の電極を区別することができる。従って、画像から複数の種類の電極を抽出することができる。   In order to achieve the above object, an electrode extraction device includes an image acquisition unit that acquires an image including an electrode, a pixel extraction unit that extracts pixels of different brightness ranges from the image, and an electrode from each of the extracted pixels. An electrode extraction unit for extraction. That is, since the electrode extraction device extracts electrodes from pixels in different brightness ranges, it can distinguish a plurality of types of electrodes included in an image as images of different brightness. Therefore, a plurality of types of electrodes can be extracted from the image.

ここで、画像取得部は、複数の種類の電極を含む画像を取得することができればよく、例えば、複数の種類の電極を視野に含むセンサで撮像された画像を取得する構成等が挙げられる。画像は、例えば、可視光画像であっても良いし、X線画像であっても良い。また、画像は、各種の光学系で撮像されて良く、例えば、微分干渉顕微鏡等が利用されても良いし、他の光学系が利用されても良い。   Here, the image acquisition unit only needs to be able to acquire an image including a plurality of types of electrodes, and examples thereof include a configuration for acquiring an image captured by a sensor including a plurality of types of electrodes in the field of view. The image may be, for example, a visible light image or an X-ray image. The image may be captured by various optical systems. For example, a differential interference microscope or the like may be used, or another optical system may be used.

複数の種類の電極は、少なくとも明るさが異なっていれば良く、他の要素、例えば、形状等が異なっていてもよい。なお、明るさが異なる原因は、種々の原因であって良く、一例としては、電極の種類毎に材質や基板上での位置等が異なっていることを反映して電極の種類毎に明るさが異なっている構成等が挙げられる。むろん、電極の種類によって色相が異なっていても良く、明度のみならず色相の差異に基づいて電極が抽出される構成であっても良い。電極の種類は少なくとも2種類存在すれば良く、3種類以上存在しても良い。   The plurality of types of electrodes only need to have at least different brightness, and other elements, such as shapes, may differ. Note that the cause of the difference in brightness may be various causes. For example, the brightness of each electrode type reflects that the material, the position on the substrate, and the like differ for each electrode type. And the like are different. Of course, the hue may be different depending on the type of electrode, and the electrode may be extracted based on the difference in hue as well as the brightness. There may be at least two kinds of electrodes, and there may be three or more kinds.

画素抽出部は、画像から異なる明度範囲の画素をそれぞれ抽出することができればよい。すなわち、画素抽出部は、明度範囲を複数個設定し、各明度範囲に含まれる画素を画像から抽出することができればよい。明度範囲は、複数の電極のそれぞれの画像の明度が含まれ得る範囲であり、電極の種類の数と同じ個数であれば良い。例えば、画像に2種類の電極が含まれている場合、明度範囲は2個設定される。明度範囲は重複していない範囲であることが好ましい。   The pixel extraction unit only needs to be able to extract pixels in different brightness ranges from the image. That is, the pixel extraction unit only needs to be able to set a plurality of brightness ranges and extract pixels included in each brightness range from the image. The brightness range is a range in which the brightness of each image of the plurality of electrodes can be included, and may be the same number as the number of types of electrodes. For example, when the image includes two types of electrodes, two brightness ranges are set. The brightness range is preferably a range that does not overlap.

電極抽出部は、抽出されたそれぞれの画素から電極を抽出することができればよい。すなわち、電極抽出部は、各明度範囲に属する画素を電極として抽出し、または当該画素から電極の画像が占める部位を抽出し、電極として抽出することができればよい。むろん、この際には、各種のノイズ除去処理や電極の形状の修正等が行われてよい。電極が抽出されると、当該電極の画像に基づいて各種の検査に利用可能である。例えば、2枚の基板(ガラス基板とフレキシブル基板等)に形成された電極を異方性導電フィルムによって圧着する際に形成される導電材の圧痕に基づく検査等に利用可能である。   The electrode extraction part should just be able to extract an electrode from each extracted pixel. In other words, the electrode extraction unit only needs to be able to extract pixels belonging to each lightness range as electrodes, or to extract a portion occupied by an electrode image from the pixels and extract them as electrodes. Of course, in this case, various types of noise removal processing, electrode shape correction, and the like may be performed. Once the electrode is extracted, it can be used for various inspections based on the image of the electrode. For example, the present invention can be used for inspection based on indentations of a conductive material formed when an electrode formed on two substrates (such as a glass substrate and a flexible substrate) is bonded with an anisotropic conductive film.

画素抽出部において、明度範囲は、予め決められていても良いし、自動で決められても良いし、利用者の指示によって決められても良く、種々の構成を採用可能である。明度範囲が自動的に決められる際には、電極を含む画像の解析によって決められる構成を採用可能である。例えば、画素抽出部は、画像に含まれる画素の明度の度数分布を平滑化し、平滑化後の度数分布の変化に基づいて明度範囲の境界を取得する構成であっても良い。   In the pixel extraction unit, the brightness range may be determined in advance, may be determined automatically, or may be determined by a user instruction, and various configurations may be employed. When the brightness range is automatically determined, a configuration determined by analysis of an image including electrodes can be employed. For example, the pixel extraction unit may be configured to smooth the brightness frequency distribution of the pixels included in the image and acquire the boundary of the brightness range based on the change in the smoothed frequency distribution.

すなわち、明度の度数分布を平滑化すれば、ノイズや局所的な分布の形状等が解析結果に与える影響を抑制し、大局的な特徴を捉えた解析をすることが容易になるが、これらのノイズ等の影響が小さいのであれば、平滑化を省略し、度数分布の変化に基づいて明度範囲の境界を取得しても良い。   That is, if the frequency distribution of brightness is smoothed, the influence of noise, the shape of the local distribution, etc. on the analysis results can be suppressed, and it is easy to analyze the global features. If the influence of noise or the like is small, smoothing may be omitted and the boundary of the brightness range may be acquired based on the change in the frequency distribution.

さらに、同じ種類の電極の画像は明度が類似しており、異なる種類の電極の画像は明度が異なっているため、明度の度数分布を取得すると、電極の画像の種類毎にグループが形成される(例えば、異なる位置にピークが生じる分布となるなど)。そこで、明度の度数分布を解析すれば、各種類の電極の明度が存在し得る明度範囲を特定することが可能になる。   Furthermore, since images of the same type of electrodes have similar brightness, and images of different types of electrodes have different brightness, a group is formed for each type of electrode image when the brightness frequency distribution is acquired. (For example, a distribution in which peaks occur at different positions). Therefore, by analyzing the lightness frequency distribution, it is possible to specify a lightness range in which the lightness of each type of electrode can exist.

明度の度数分布を解析する際の手法としては、種々の手法が想定し得るが、度数分布の変化に着目すれば、異なる電極に起因する度数分布の変化であるか否かを推定することができる。すなわち、異なる電極は異なる明度を有していると推定され、度数分布においては、電極毎に異なるグループを形成していると考えられる。そこで、度数分布のピークや分布の幅、形状等の変化から異なる電極を異なるグループに分けるように度数分布の変化に基づいて明度範囲の境界を取得すれば、明度範囲を取得することが可能である。この構成によれば、複数の種類の電極を画像から抽出可能な明度範囲を決定することが可能になる。   Various methods can be assumed as a method for analyzing the frequency distribution of lightness. However, if attention is paid to the change in the frequency distribution, it is possible to estimate whether the frequency distribution is changed due to different electrodes. it can. That is, it is estimated that different electrodes have different brightness, and it is considered that different groups are formed for each electrode in the frequency distribution. Therefore, if the boundary of the brightness range is acquired based on the change in the frequency distribution so that different electrodes are divided into different groups based on changes in the peak of the frequency distribution, the width of the distribution, the shape, etc., it is possible to acquire the brightness range. is there. According to this configuration, it is possible to determine a brightness range in which a plurality of types of electrodes can be extracted from an image.

電極抽出装置のブロック図である。It is a block diagram of an electrode extraction device. 図2Aは撮像部の斜視図であり、図2Bは基板の断面模式図である。2A is a perspective view of the imaging unit, and FIG. 2B is a schematic cross-sectional view of the substrate. 図3Aは撮像画像であり、図3Bは第一電極画像である。FIG. 3A is a captured image, and FIG. 3B is a first electrode image. 図4Aは第二電極画像であり、図4Bは明度の度数分布である。FIG. 4A is a second electrode image, and FIG. 4B is a frequency distribution of brightness. 接合状態検査処理のフローチャートである。It is a flowchart of a joining state inspection process. 図6Aは接合状態検査処理の抜粋であり、図6Bは明度の度数分布である。6A is an excerpt of the bonding state inspection process, and FIG. 6B is a frequency distribution of brightness. 図7Aは接合状態検査処理の抜粋であり、図7Bは明度の度数分布である。FIG. 7A is an excerpt of the bonding state inspection process, and FIG. 7B is a frequency distribution of brightness. 図8Aは接合状態検査処理の抜粋であり、図8Bは明度範囲の選択例である。FIG. 8A is an excerpt of the bonding state inspection process, and FIG. 8B is an example of selecting the brightness range. 図9Aは選択された明度範囲の表示例であり、図9Bは明度範囲の選択例である。9A is a display example of the selected brightness range, and FIG. 9B is a selection example of the brightness range.

ここでは、下記の順序に従って本発明の実施の形態について説明する。
(1)電極抽出装置の構成:
(2)接合状態検査処理:
(3)他の実施形態:
Here, embodiments of the present invention will be described in the following order.
(1) Configuration of the electrode extraction device:
(2) Bonding state inspection process:
(3) Other embodiments:

(1)電極抽出装置の構成:
図1は、本実施形態にかかる電極抽出装置として機能する接合状態検査装置10の概略構成を示すブロック図である。同図において、接合状態検査装置10は、制御部20と記録媒体30と表示装置40と入力装置50と撮像部60とを備えている。
(1) Configuration of the electrode extraction device:
FIG. 1 is a block diagram illustrating a schematic configuration of a bonding state inspection apparatus 10 that functions as an electrode extraction apparatus according to the present embodiment. In FIG. 1, the bonding state inspection apparatus 10 includes a control unit 20, a recording medium 30, a display device 40, an input device 50, and an imaging unit 60.

撮像部60は、照明61と微分干渉顕微鏡62とX−Yステージ63とCCDセンサ64とを備えている。図2Aは、撮像部60の斜視図である。X−Yステージ63は、基板Bが載置されるステージであり、制御部20の制御の下で基板Bを当該基板Bの面に平行な方向に移動させる。X軸とY軸は、X−Yステージ63が移動する方向の軸であり、基板Bと平行な平面上において互いに直交する座標軸である。   The imaging unit 60 includes an illumination 61, a differential interference microscope 62, an XY stage 63, and a CCD sensor 64. FIG. 2A is a perspective view of the imaging unit 60. The XY stage 63 is a stage on which the substrate B is placed, and moves the substrate B in a direction parallel to the surface of the substrate B under the control of the control unit 20. The X axis and the Y axis are axes in the direction in which the XY stage 63 moves, and are coordinate axes orthogonal to each other on a plane parallel to the substrate B.

基板Bは、液晶ディスプレイのガラス基板に半導体部品を接合した基板である。半導体部品は、例えば液晶ディスプレイの液晶素子を駆動するための駆動信号を生成する液晶ドライバ回路等である。   The board | substrate B is a board | substrate which joined the semiconductor component to the glass substrate of the liquid crystal display. The semiconductor component is, for example, a liquid crystal driver circuit that generates a drive signal for driving a liquid crystal element of a liquid crystal display.

照明61はリングライトである。CCDセンサ64は、微分干渉顕微鏡62が結像した微分干渉像(視野V内)を撮像するイメージセンサである。微分干渉顕微鏡62は、視野V内の近傍の位置にて反射した偏光同士を干渉させる光学系を有している。微分干渉顕微鏡62は、近傍の位置にて反射した偏光同士を干渉させることにより、当該偏光の位相差に応じて明度が変化する画像である微分干渉像をCCDセンサ64に結像する。視野V内の近傍の位置にて反射した偏光の位相差は、当該偏光の光路長の差に対応するため、微分干渉像は偏光が反射した位置の高さの差を鮮明に示す画像となる。つまり、微分干渉像は、基板B上に存在する光の反射体の段差や傾きを鮮明に示す画像となる。   The illumination 61 is a ring light. The CCD sensor 64 is an image sensor that captures a differential interference image (in the visual field V) formed by the differential interference microscope 62. The differential interference microscope 62 has an optical system that causes the polarized lights reflected at positions in the vicinity of the visual field V to interfere with each other. The differential interference microscope 62 causes the polarized light reflected at nearby positions to interfere with each other, thereby forming a differential interference image, which is an image in which the brightness changes according to the phase difference of the polarized light, on the CCD sensor 64. Since the phase difference of the polarized light reflected at a position in the vicinity of the field of view V corresponds to the difference in the optical path length of the polarized light, the differential interference image becomes an image that clearly shows the height difference at the position where the polarized light is reflected. . That is, the differential interference image is an image that clearly shows the level difference and inclination of the reflector of the light existing on the substrate B.

また、微分干渉像は偏光が反射した位置の高さの差に応じて明度が変化するだけでなく、微分干渉像は偏光が反射した位置の反射率が大きいほど明度が大きくなる。つまり、反射率が高い部分における高さの差に応じた明度の変化は明るい明度域で見られるとともに、反射率が低い部分における高さの差に応じた明度の変化は暗い明度域で見られることとなる。本実施形態においては、2種類の電極が同一視野に含まれる状態で微分干渉像を撮像するが、これらの2種類の電極は材質が異なることに起因して反射率が異なっている。従って、微分干渉像において、異なる種類の電極は異なる明度の像として撮像される。   Further, the differential interference image not only changes in brightness according to the height difference at the position where the polarized light is reflected, but the differential interference image has a higher brightness as the reflectance at the position where the polarized light is reflected. In other words, the change in brightness according to the height difference in the part with high reflectivity is seen in the bright brightness range, and the change in brightness according to the height difference in the part with low reflectivity is seen in the dark brightness range. It will be. In the present embodiment, differential interference images are captured in a state where two types of electrodes are included in the same field of view, but these two types of electrodes have different reflectivities due to different materials. Accordingly, in the differential interference image, different types of electrodes are captured as images of different brightness.

図1に示す制御部20は、図示しないCPUやROMやRAMで構成されるコンピュータであり、記録媒体30に記録されたプログラム、各種情報を用いて接合状態の検査に必要な処理を実行する。図1に示すように、制御部20は、接合状態検査プログラム21を実行する。   The control unit 20 shown in FIG. 1 is a computer composed of a CPU, ROM, and RAM (not shown), and executes processing necessary for inspection of the bonding state using programs and various information recorded on the recording medium 30. As shown in FIG. 1, the control unit 20 executes a bonding state inspection program 21.

記録媒体30は、撮像画像30aと第一画素情報30bと第二画素情報30cと第一電極画像30dと第二電極画像30eとを記録する。撮像画像30aは、CCDセンサ64が撮像した画像であり、2種類の電極の像を含む微分干渉像である。第一画素情報30bは、撮像画像30aに含まれる第一明度範囲の画素を示す情報であり、本実施形態においては、第一明度範囲の画素と他の画素とで二値化した画像情報である。具体的には、第一画素情報30bは、撮像画像30aに含まれる第一明度範囲の画素を1、第一明度範囲外の画素を0に二値化した画像情報である。   The recording medium 30 records the captured image 30a, the first pixel information 30b, the second pixel information 30c, the first electrode image 30d, and the second electrode image 30e. The captured image 30a is an image captured by the CCD sensor 64, and is a differential interference image including images of two types of electrodes. The first pixel information 30b is information indicating pixels in the first brightness range included in the captured image 30a. In the present embodiment, the first pixel information 30b is image information binarized with pixels in the first brightness range and other pixels. is there. Specifically, the first pixel information 30b is image information obtained by binarizing the pixels in the first brightness range included in the captured image 30a to 1 and the pixels outside the first brightness range to 0.

第二画素情報30cは、撮像画像30aに含まれる第二明度範囲の画素を示す情報であり、本実施形態においては、第二明度範囲の画素と他の画素とで二値化した画像情報である。具体的には、第二画素情報30cは、撮像画像30aに含まれる第二明度範囲の画素を1、第二明度範囲外の画素を0に二値化した画像情報である。なお、本明細書では、2種類の電極の一方を第一電極、他方を第二電極と呼ぶ。第一明度範囲は第一電極の画像の明度が含まれ得る明度範囲であり、第二明度範囲は第二電極の画像の明度が含まれ得る明度範囲である。   The second pixel information 30c is information indicating pixels in the second brightness range included in the captured image 30a. In the present embodiment, the second pixel information 30c is image information binarized by pixels in the second brightness range and other pixels. is there. Specifically, the second pixel information 30c is image information obtained by binarizing the pixels in the second brightness range included in the captured image 30a to 1 and the pixels outside the second brightness range to 0. In the present specification, one of the two types of electrodes is referred to as a first electrode and the other is referred to as a second electrode. The first brightness range is a brightness range in which the brightness of the image of the first electrode can be included, and the second brightness range is a brightness range in which the brightness of the image of the second electrode can be included.

第一電極画像30dは、撮像画像30aに含まれる第一電極の画素を示す情報であり、本実施形態においては、第一電極の画素と他の画素とで二値化した画像情報である。具体的には、第一電極画像30dは、第一画素情報30bに基づいて生成され、当該第一画素情報30bから第一電極以外の像(例えば配線やノイズ等)を除外し、第一電極の画素を1、第一電極以外の画素を0と表現した画像情報である。   The first electrode image 30d is information indicating the pixel of the first electrode included in the captured image 30a, and is image information binarized with the pixel of the first electrode and other pixels in the present embodiment. Specifically, the first electrode image 30d is generated based on the first pixel information 30b, and images (for example, wiring and noise) other than the first electrode are excluded from the first pixel information 30b. The pixel information is expressed as 1 and the pixels other than the first electrode are expressed as 0.

第二電極画像30eは、撮像画像30aに含まれる第二電極の画素を示す情報であり、本実施形態においては、第二電極の画素と他の画素とで二値化した画像情報である。具体的には、第二電極画像30eは、第二画素情報30cに基づいて生成され、当該第二画素情報30cから第二電極以外の像(例えば配線やノイズ等)を除外し、第二電極の画素を1、第二電極以外の画素を0に二値化した画像情報である。   The second electrode image 30e is information indicating the pixel of the second electrode included in the captured image 30a. In the present embodiment, the second electrode image 30e is image information binarized with the pixel of the second electrode and other pixels. Specifically, the second electrode image 30e is generated based on the second pixel information 30c, and images (for example, wiring and noise) other than the second electrode are excluded from the second pixel information 30c. The pixel information is binarized to 1 and the pixels other than the second electrode to 0.

記録媒体30には、他にも図示しない各種の情報、例えば、制御部20が照明61や微分干渉顕微鏡62、X−Yステージ63、CCDセンサ64等を制御する際の制御情報や、検査対象となる基板Bの設計情報等が記録される。   In the recording medium 30, various other information not shown, for example, control information when the control unit 20 controls the illumination 61, the differential interference microscope 62, the XY stage 63, the CCD sensor 64, etc. The design information of the substrate B to be recorded is recorded.

図2Bは、基板Bの構成を説明する模式図である。なお、図2Bにおいては、図の右側と左側でY軸方向に異なる位置の構造を示している(例えば、図2Bの左側は図3Aの位置Y1の構造を抜き出して示しており、図2Bの右側は図3Aの位置Y2の構造を抜き出して示している)。基板Bは、液晶ディスプレイのガラス基板B1と電子部品U(フレキシブル基板等の場合もある)とを備える。ガラス基板B1は複数の第一電極P1と第二電極P2を備える。第一電極P1と第二電極P2とは材質が異なるため、ガラス基板B1は二種類の電極を備えている。本実施形態においては第一電極P1の方が第二電極P2よりも反射率が大きい。反射率は、電極に使用される材料、例えば、Ta(タンタル),Mo(モリブデン),Al(アルミニウム)およびその合金の種類や濃度等によって変化する。例えば、第一電極P1はモリブデンで形成され、第二電極P2はモリブデンよりも反射率が小さいタンタルで形成されている。   FIG. 2B is a schematic diagram illustrating the configuration of the substrate B. 2B shows the structure at different positions in the Y-axis direction on the right side and the left side of the drawing (for example, the left side of FIG. 2B shows the structure at the position Y1 in FIG. 3A. On the right side, the structure at position Y2 in FIG. 3A is extracted and shown). The substrate B includes a glass substrate B1 of a liquid crystal display and an electronic component U (which may be a flexible substrate or the like). The glass substrate B1 includes a plurality of first electrodes P1 and second electrodes P2. Since the first electrode P1 and the second electrode P2 are made of different materials, the glass substrate B1 includes two types of electrodes. In the present embodiment, the reflectance of the first electrode P1 is greater than that of the second electrode P2. The reflectance varies depending on the material used for the electrode, for example, the type and concentration of Ta (tantalum), Mo (molybdenum), Al (aluminum), and alloys thereof. For example, the first electrode P1 is made of molybdenum, and the second electrode P2 is made of tantalum having a lower reflectance than molybdenum.

ガラス基板B1は電子部品UよりもZ軸方向の正方向側に位置し、第一電極P1、第二電極P2はガラス基板B1上で電子部品U側に形成されている。電子部品Uはガラス基板B1よりもZ軸方向の負方向側に位置し、電極I1,I2は電子部品U上でガラス基板B1側に向いている。Z軸方向において、ガラス基板B1と電子部品Uとの間に異方性導電フィルムFが挟み込まれている。異方性導電フィルムFにおいては、熱硬化バインダー中に導電粒子Eがほぼ均等に分散している。   The glass substrate B1 is positioned closer to the positive side in the Z-axis direction than the electronic component U, and the first electrode P1 and the second electrode P2 are formed on the electronic component U side on the glass substrate B1. The electronic component U is located closer to the negative side in the Z-axis direction than the glass substrate B1, and the electrodes I1 and I2 face the glass substrate B1 side on the electronic component U. In the Z-axis direction, an anisotropic conductive film F is sandwiched between the glass substrate B1 and the electronic component U. In the anisotropic conductive film F, the conductive particles E are dispersed almost uniformly in the thermosetting binder.

加熱しながらガラス基板B1と電子部品Uとの間にZ軸方向の圧力を加えると、導電粒子Eを介して第一電極P1、第二電極P2と電極I1,I2とが電気的に接続した状態で異方性導電フィルムFが硬化する。導電粒子Eは、表面が絶縁膜によってコーティングされた導電性の粒子である。ガラス基板B1と電子部品Uとの間に挟まれて導電粒子Eに圧力が加わると、絶縁膜が破壊され、導電粒子Eを介して第一電極P1と電極I1が電気的に接続し、第二電極P2と電極I2とが電気的に接続する。   When pressure in the Z-axis direction is applied between the glass substrate B1 and the electronic component U while heating, the first electrode P1, the second electrode P2, and the electrodes I1, I2 are electrically connected via the conductive particles E. In the state, the anisotropic conductive film F is cured. The conductive particles E are conductive particles whose surfaces are coated with an insulating film. When pressure is applied to the conductive particles E sandwiched between the glass substrate B1 and the electronic component U, the insulating film is broken, and the first electrode P1 and the electrode I1 are electrically connected via the conductive particles E, and the first The two electrodes P2 and the electrode I2 are electrically connected.

図2Bでは第一電極P1、第二電極P2と電極I1,I2とが異方性導電フィルムFによって圧着された状態を示している。導電粒子Eは、第一電極P1、第二電極P2よりも硬く、ガラス基板B1と電子部品Uとを圧着する際に第一電極P1、第二電極P2に導電粒子Eの圧痕Qが形成される。   FIG. 2B shows a state where the first electrode P1, the second electrode P2, and the electrodes I1 and I2 are pressure-bonded by the anisotropic conductive film F. The conductive particles E are harder than the first electrode P1 and the second electrode P2, and when the glass substrate B1 and the electronic component U are pressure-bonded, the indentation Q of the conductive particles E is formed on the first electrode P1 and the second electrode P2. The

表示装置40は、制御部20の制御の下で各種画像を表示するディスプレイである。入力装置50は、ユーザの操作を受け付ける装置であり、マウスやキーボードやタッチパネル等であってもよい。   The display device 40 is a display that displays various images under the control of the control unit 20. The input device 50 is a device that receives user operations, and may be a mouse, a keyboard, a touch panel, or the like.

次に、接合状態検査プログラム21のソフトウェア構成について説明する。接合状態検査プログラム21は、画像取得部21aと画素抽出部21bと電極抽出部21cと検査部21dとを含んでいる。画像取得部21aと画素抽出部21bと電極抽出部21cとは、画像から電極を抽出する電極抽出プログラムを構成する。   Next, the software configuration of the bonding state inspection program 21 will be described. The bonding state inspection program 21 includes an image acquisition unit 21a, a pixel extraction unit 21b, an electrode extraction unit 21c, and an inspection unit 21d. The image acquisition unit 21a, the pixel extraction unit 21b, and the electrode extraction unit 21c constitute an electrode extraction program that extracts electrodes from an image.

画像取得部21aは、複数の種類の電極を含む画像を取得する機能を制御部20に実現させるプログラムモジュールである。すなわち、制御部20は、画像取得部21aの機能により、基板Bをガラス基板B1側から撮像し、視野内に第一電極P1、第二電極P2が撮像された撮像画像30aを取得する。   The image acquisition unit 21a is a program module that causes the control unit 20 to realize a function of acquiring an image including a plurality of types of electrodes. That is, the control unit 20 captures the substrate B from the glass substrate B1 side by the function of the image acquisition unit 21a, and acquires the captured image 30a in which the first electrode P1 and the second electrode P2 are captured in the field of view.

図3Aは、撮像画像30aの模式図である。図3Aでは、微分干渉像そのものではなく、説明のため撮像画像30a上に存在する各領域の分布を模式的に示すこととする。第一電極P1を白で示し、第二電極P2をグレーで示し、第一電極P1,第二電極P2が存在しない領域を黒で示している。なお、図3Aの電極に重ねて示す文字P1,P2は符号であり、実際の撮像画像30aには含まれない。   FIG. 3A is a schematic diagram of the captured image 30a. In FIG. 3A, for the sake of explanation, the distribution of each region existing on the captured image 30a is schematically shown instead of the differential interference image itself. The first electrode P1 is shown in white, the second electrode P2 is shown in gray, and the region where the first electrode P1 and the second electrode P2 do not exist is shown in black. Note that the characters P1 and P2 that are superimposed on the electrodes in FIG. 3A are symbols and are not included in the actual captured image 30a.

ガラス基板B1はほぼ透明であるため、照明光は第一電極P1、第二電極P2に到達する。なお、第一電極P1と第二電極P2は、照明61の光を反射する反射体となる。第一電極P1は、第二電極P2よりも反射率が大きいため、撮像画像30aにおいて第二電極P2よりも明るくなる。第一電極P1、第二電極P2が存在しない領域では、電子部品Uにて照明光が透過するか吸光される。図3Aにおいて、導電粒子Eの圧痕の図示を省略している。   Since the glass substrate B1 is almost transparent, the illumination light reaches the first electrode P1 and the second electrode P2. In addition, the 1st electrode P1 and the 2nd electrode P2 become a reflector which reflects the light of the illumination 61. FIG. Since the first electrode P1 has a higher reflectance than the second electrode P2, the first electrode P1 is brighter than the second electrode P2 in the captured image 30a. In the region where the first electrode P1 and the second electrode P2 are not present, the illumination light is transmitted or absorbed by the electronic component U. In FIG. 3A, the indentation of the conductive particles E is omitted.

画素抽出部21bは、撮像画像30aから異なる明度範囲の画素をそれぞれ抽出する機能を制御部20に実現させるプログラムモジュールである。すなわち、制御部20は、画素抽出部21bの機能により、撮像画像30aに基づいて第一電極の画素の明度が含まれ得る第一明度範囲と、第二電極の画素の明度が含まれ得る第二明度範囲とを設定する。   The pixel extraction unit 21b is a program module that causes the control unit 20 to realize a function of extracting pixels in different brightness ranges from the captured image 30a. That is, the control unit 20 uses the function of the pixel extraction unit 21b to include the first brightness range in which the brightness of the pixels of the first electrode can be included based on the captured image 30a and the brightness of the pixels of the second electrode. Set the brightness range.

本実施形態において、明度範囲は2個設定されるが、明度範囲は電極の種類の数と同じ個数であればよく、電極の種類が3個なら明度範囲は3個設定される。明度範囲は、種々の手法で設定されて良く、本実施形態においては、制御部20が撮像画像30aの明度の度数分布を取得し、当該度数分布の極小値を明度範囲の境界として取得することによって第一明度範囲と第二明度範囲とを設定する。当該明度範囲の設定の詳細は後に詳述する。   In this embodiment, two lightness ranges are set, but the lightness range may be the same as the number of electrode types. If there are three electrode types, three lightness ranges are set. The brightness range may be set by various methods. In the present embodiment, the control unit 20 acquires the brightness frequency distribution of the captured image 30a, and acquires the local minimum value of the frequency distribution as the boundary of the brightness range. To set the first brightness range and the second brightness range. Details of setting the brightness range will be described later.

第一明度範囲と第二明度範囲とが設定されると、制御部20は、画素抽出部21bの機能により、撮像画像30aから第一明度範囲の画素の位置を特定する。そして、制御部20は、当該画素の値を1、他の画素の値を0とした第一画素情報30bを生成し、記録媒体30に記録する。例えば、図3Aに示す例であれば、白で示された第一電極P1、当該第一電極P1と同等の明度を有する配線W1、第一電極P1と同等の明度を有するノイズの画素が1、他の画素が0とされた第一画素情報30bが生成される。   When the first brightness range and the second brightness range are set, the control unit 20 specifies the position of the pixel in the first brightness range from the captured image 30a by the function of the pixel extraction unit 21b. Then, the control unit 20 generates the first pixel information 30b in which the value of the pixel is 1 and the values of the other pixels are 0, and records the first pixel information 30b on the recording medium 30. For example, in the example shown in FIG. 3A, the first electrode P1 shown in white, the wiring W1 having the same lightness as the first electrode P1, and the noise pixel having the same lightness as the first electrode P1 are 1 pixel. First pixel information 30b in which the other pixels are set to 0 is generated.

さらに、制御部20は、画素抽出部21bの機能により、撮像画像30aから第二明度範囲の画素の位置を特定する。そして、制御部20は、当該画素の値を1、他の画素の値を0とした第二画素情報30cを生成し、記録媒体30に記録する。例えば、図3Aに示す例であれば、グレーで示された第二電極P2、当該第二電極P2と同等の明度を有する配線W2、第二電極P2と同等の明度を有するノイズの画素が1、他の画素が0とされた第二画素情報30cが生成される。   Further, the control unit 20 specifies the position of the pixel in the second brightness range from the captured image 30a by the function of the pixel extraction unit 21b. Then, the control unit 20 generates the second pixel information 30c in which the value of the pixel is 1 and the values of the other pixels are 0, and records the second pixel information 30c on the recording medium 30. For example, in the example shown in FIG. 3A, the second electrode P2 shown in gray, the wiring W2 having the same brightness as the second electrode P2, and the noise pixel having the same brightness as the second electrode P2 are 1 pixel. Second pixel information 30c in which the other pixels are 0 is generated.

電極抽出部21cは、画素抽出部21bによって抽出されたそれぞれの画素から電極を抽出する機能を制御部20に実現させるプログラムモジュールである。本実施形態においては、電極に電極と同一の材質によって構成された配線が接続されていることに鑑み、制御部20は、電極抽出部21cの機能により、第一画素情報30bおよび第二画素情報30cからこれらの電極以外の部分を除外して電極部分を残すことによって第一電極画像30dおよび第二電極画像30eを生成する。   The electrode extraction unit 21c is a program module that causes the control unit 20 to realize a function of extracting an electrode from each pixel extracted by the pixel extraction unit 21b. In the present embodiment, in view of the fact that the wiring made of the same material as the electrode is connected to the electrode, the control unit 20 uses the function of the electrode extraction unit 21c to control the first pixel information 30b and the second pixel information. The first electrode image 30d and the second electrode image 30e are generated by excluding portions other than these electrodes from 30c and leaving electrode portions.

制御部20は、第一画素情報30bおよび第二画素情報30cに基づいて画像処理を行うことによって、当該電極部分を残す処理を実現しており、詳細は後述する。図3Bおよび図4Aは、第一電極画像30dおよび第二電極画像30eの例を示している。すなわち、図3Aに示す撮像画像30aに基づいて第一電極P1が抽出され、第一電極P1が1、他の部分が0となった第一電極画像30dについて、1の画素を白、0の画素を黒で示した例が図3Bである。図3Aに示す撮像画像30aに基づいて第二電極P2が抽出され、第二電極P2が1、他の部分が0となった第二電極画像30eについて、1の画素を白、0の画素を黒で示した例が図4Aである。   The control unit 20 realizes a process of leaving the electrode portion by performing image processing based on the first pixel information 30b and the second pixel information 30c, and details thereof will be described later. 3B and 4A show examples of the first electrode image 30d and the second electrode image 30e. That is, the first electrode P1 is extracted based on the captured image 30a shown in FIG. 3A, and the first electrode P1 is 1 and the other part is 0. For the first electrode image 30d, 1 pixel is white, 0 An example in which pixels are shown in black is FIG. 3B. Based on the captured image 30a shown in FIG. 3A, the second electrode P2 is extracted, the second electrode P2 is 1, and the other part is 0. For the second electrode image 30e, 1 pixel is white and 0 pixel is An example shown in black is FIG. 4A.

検査部21dは、第一電極P1、第二電極P2の接合状態の検査を行う機能を制御部20に実現させるプログラムモジュールである。本実施形態においては、第一電極P1、第二電極P2に形成された圧痕に基づいて、第一電極P1と異方性導電フィルムFとの接合状態の良否、第二電極P2と異方性導電フィルムFとの接合状態の良否を検査する。すなわち、制御部20は、第一電極画像30dに基づいて第一電極P1の位置を特定し、撮像画像30aから第一電極P1の位置とされた部分の画像を抽出する。そして、当該画像から圧痕の像を抽出する。   The inspection unit 21d is a program module that causes the control unit 20 to realize a function of inspecting the bonding state of the first electrode P1 and the second electrode P2. In this embodiment, based on the indentations formed on the first electrode P1 and the second electrode P2, the quality of the bonded state between the first electrode P1 and the anisotropic conductive film F, the second electrode P2 and the anisotropy The quality of the joining state with the conductive film F is inspected. That is, the control unit 20 specifies the position of the first electrode P1 based on the first electrode image 30d, and extracts the image of the portion that is the position of the first electrode P1 from the captured image 30a. Then, an indentation image is extracted from the image.

圧痕の像は、例えば、明度の変化や明度のパターン等を解析することによって抽出可能である。圧痕の像が検出されると、制御部20は、当該圧痕の像に基づいて第一電極の接合状態を検査する。接合状態の検査は、例えば、個別の第一電極P1において検出された圧痕の個数が閾値以上である場合に、第一電極P1の接合状態が正常であると判定する構成等を採用可能である。   The indentation image can be extracted by analyzing, for example, a change in lightness or a lightness pattern. When the indentation image is detected, the control unit 20 inspects the bonding state of the first electrode based on the indentation image. For the inspection of the bonding state, for example, a configuration that determines that the bonding state of the first electrode P1 is normal when the number of indentations detected at the individual first electrode P1 is equal to or greater than a threshold value can be employed. .

第二電極P2についての検査も同様であり、制御部20は、第二電極画像30eに基づいて撮像画像30aから第二電極P2の位置とされた部分の画像を抽出し、圧痕の像を抽出し、圧痕の数等の基準に基づいて第二電極P2の接合状態の良否を判定する。ただし、第一電極P1の明度と第二電極P2の明度は、互いに異なるため、各電極から圧痕を抽出するためのパラメータ(圧痕とすべき明度の変化を示すパラメータ等)は異なり得る。本実施形態においては、上述のように、異なる明度範囲の画素から電極を抽出するため、異なる明るさの像として画像に含まれている第一電極P1と第二電極P2とを区別することができる。従って、第一電極P1と第二電極P2とに対して異なるパラメータを適用して解析を行うことができ、各電極の接合状態の良否を正確に特定することが可能になる。   The same applies to the inspection of the second electrode P2, and the control unit 20 extracts an image of the indentation from the captured image 30a based on the second electrode image 30e, and extracts an image of the indentation. And the quality of the joining state of the 2nd electrode P2 is determined based on criteria, such as the number of indentations. However, since the brightness of the first electrode P1 and the brightness of the second electrode P2 are different from each other, the parameters for extracting the impression from each electrode (such as a parameter indicating the change in the brightness to be the impression) may be different. In the present embodiment, as described above, in order to extract electrodes from pixels having different brightness ranges, it is possible to distinguish the first electrode P1 and the second electrode P2 included in the image as images having different brightness. it can. Therefore, the analysis can be performed by applying different parameters to the first electrode P1 and the second electrode P2, and it is possible to accurately specify the quality of the bonding state of each electrode.

(2)接合状態検査処理:
図5は、接合状態検査処理のフローチャートである。まず、検査部21dの機能により制御部20は、基板Bの検査対象を撮像できる位置にX−Yステージ63を移動させる(ステップS100)。すなわち、制御部20は、図示しない基板Bの設計情報等に基づいて基板B上での第一電極P1と第二電極P2の位置を特定し、これらの電極が視野V内に入るようにX−Yステージ63を移動させる。
(2) Bonding state inspection process:
FIG. 5 is a flowchart of the bonding state inspection process. First, the control unit 20 moves the XY stage 63 to a position where the inspection target of the substrate B can be imaged by the function of the inspection unit 21d (step S100). That is, the control unit 20 specifies the positions of the first electrode P1 and the second electrode P2 on the substrate B based on the design information of the substrate B (not shown) and the like so that these electrodes fall within the field of view V. -The Y stage 63 is moved.

次に、制御部20は、検査部21dの機能により、検査領域を取得する(ステップS105)。検査領域は、撮像画像30aとして撮像すべき部分を含む領域であり、種々の手法で取得されて良い。例えば、上述の設計情報等に基づいて第一電極P1と第二電極P2が含まれる領域が検査領域として取得されても良いし、CCDセンサ64によって撮像された画像が表示装置40に表示された状態で、利用者が当該画像から入力装置50によって検査領域を指定しても良く、種々の構成を採用可能である。   Next, the control unit 20 acquires an inspection region by the function of the inspection unit 21d (Step S105). The inspection area is an area including a portion to be imaged as the captured image 30a, and may be acquired by various methods. For example, an area including the first electrode P1 and the second electrode P2 may be acquired as an inspection area based on the design information described above, or an image captured by the CCD sensor 64 is displayed on the display device 40. In this state, the user may designate an examination area from the image by the input device 50, and various configurations can be adopted.

次に、制御部20は、画像取得部21aの機能により、微分干渉顕微鏡62とCCDセンサ64とによって検査領域の撮像画像30aを撮像する(ステップS110)。次に、画像取得部21aの機能により制御部20は、CCDセンサ64によって撮像された検査領域の撮像画像30aを取得する(ステップS115)。撮像画像30aは、記録媒体30に記録される。   Next, the control unit 20 captures the captured image 30a of the inspection region with the differential interference microscope 62 and the CCD sensor 64 by the function of the image acquisition unit 21a (step S110). Next, by the function of the image acquisition unit 21a, the control unit 20 acquires a captured image 30a of the inspection area captured by the CCD sensor 64 (step S115). The captured image 30 a is recorded on the recording medium 30.

次に、制御部20は、画素抽出部21bの機能により、検査領域の度数分布を取得する(ステップS120)。すなわち、制御部20は、撮像画像30aの各画素の階調値を明度値に変換し、同一の明度値の画素数をカウントすることにより、明度の度数分布を取得する。次に、制御部20は、画素抽出部21bの機能により、3個の分布になるまで度数分布を平滑化する(ステップS125)。すなわち、制御部20は、ステップS120で取得された度数分布に対して既定の強度で平滑化を実施し、上に凸のピークが3個であるか否かを判定する。そして、上に凸のピークが3個より多い場合、さらに既定の強度で平滑化を実施する処理を繰り返す。   Next, the control unit 20 acquires the frequency distribution of the inspection region by the function of the pixel extraction unit 21b (step S120). That is, the control unit 20 obtains a frequency distribution of brightness by converting the gradation value of each pixel of the captured image 30a into a brightness value and counting the number of pixels having the same brightness value. Next, the control unit 20 smoothes the frequency distribution until there are three distributions by the function of the pixel extraction unit 21b (step S125). That is, the control unit 20 performs smoothing with a predetermined intensity on the frequency distribution obtained in step S120, and determines whether or not there are three upwardly convex peaks. If there are more than three peaks that are convex upward, the process of performing smoothing with a predetermined intensity is repeated.

図4Bは、ステップS120で取得された度数分布に対して、上に凸のピークが3個になるまで平滑化が繰り返された後の度数分布の例を示している。同図4Bに示す例においては、上に凸のピークPk0〜Pk2が合計3個であり、他の部位には上に凸の変曲点は存在しない。本実施形態における検査領域には、主に第一電極P1と第二電極P2とが存在し、各電極以外の部分は暗い背景として撮像される。すなわち、撮像画像30aは、図3Aに示すように、暗い背景と明るい第一電極P1と暗い第二電極P2とによって構成される。   FIG. 4B shows an example of the frequency distribution after the frequency distribution obtained in step S120 is repeatedly smoothed until there are three upwardly convex peaks. In the example shown in FIG. 4B, there are a total of three upwardly convex peaks Pk0 to Pk2, and there are no upward inflection points in the other parts. In the inspection area in the present embodiment, there are mainly the first electrode P1 and the second electrode P2, and the part other than each electrode is imaged as a dark background. That is, as shown in FIG. 3A, the captured image 30a includes a dark background, a bright first electrode P1, and a dark second electrode P2.

そこで、度数分布の大局的な特徴を捉えると、これらの3種の像の明るさを反映した度数分布になると推定される。そこで、本実施形態においては、これらの、背景、第一電極P1および第二電極P2の明るさがピークとなった3個の分布が度数分布において形成されるとみなし、平滑化によって3個のピークを捉える構成になっている。従って、例えば、白飛びの画素がある程度存在し得る画像であれば、上に凸のピークが4個になるまで平滑化を行うなどの構成を採用してもよい。   Therefore, if the general characteristics of the frequency distribution are captured, it is estimated that the frequency distribution reflects the brightness of these three types of images. Therefore, in the present embodiment, it is considered that the three distributions in which the brightness of the background, the first electrode P1 and the second electrode P2 has a peak are formed in the frequency distribution, and three by smoothing. It is configured to capture peaks. Therefore, for example, in the case of an image in which whiteout pixels can exist to some extent, a configuration in which smoothing is performed until there are four upwardly protruding peaks may be employed.

次に、制御部20は、画素抽出部21bの機能により、度数分布の極小値を境界とする明度範囲を設定する(ステップS130)。すなわち、制御部20は、ステップS120で取得された度数分布の極小値を特定し、明度範囲の境界として取得する。上述のように、本実施形態においては、撮像画像30a内の3個の像の明度に起因して3個のピークが形成されるため、各ピークの間に少なくとも2個の極小値が存在する。そして、最小の極小値M1は背景の分布と第二電極P2の分布との境界と推定され、2番目に大きい極小値M2は第二電極P2の分布と第一電極P1の分布との境界と推定される。   Next, the control unit 20 sets a brightness range with the minimum value of the frequency distribution as a boundary by the function of the pixel extraction unit 21b (step S130). That is, the control unit 20 specifies the minimum value of the frequency distribution acquired in step S120 and acquires it as the boundary of the brightness range. As described above, in the present embodiment, three peaks are formed due to the brightness of the three images in the captured image 30a, so that there are at least two minimum values between the peaks. . The minimum minimum value M1 is estimated as the boundary between the background distribution and the distribution of the second electrode P2, and the second maximum minimum value M2 is the boundary between the distribution of the second electrode P2 and the distribution of the first electrode P1. Presumed.

そこで、本実施形態においては、極小値を明度範囲の境界として設定する、2番目に大きい極小値よりも大きい極小値M3が存在する場合、当該極小値M3も明度範囲の境界となる。具体的には、制御部20は、最小の極小値M1から2番目に大きい極小値M2までの範囲を第二明度範囲R2として設定する。また、制御部20は、2番目に大きい極小値M2から3番目に大きい極小値M3(M3が存在しない場合、明度の最大値や既定値)までの範囲を第一明度範囲R1として設定する。   Therefore, in the present embodiment, the local minimum value M3 is set as the boundary of the lightness range. When there is a local minimum value M3 larger than the second largest local minimum value, the local minimum value M3 is also the boundary of the lightness range. Specifically, the control unit 20 sets a range from the minimum minimum value M1 to the second largest minimum value M2 as the second brightness range R2. Further, the control unit 20 sets a range from the second largest minimum value M2 to the third largest minimum value M3 (the maximum value or default value of lightness when M3 does not exist) as the first lightness range R1.

次に、制御部20は、画素抽出部21bの機能により、第一画素情報30bを取得する(ステップS135)。すなわち、制御部20は、撮像画像30aの各画素の明度値と第一明度範囲とを比較し、第一明度範囲内の明度を有する画素を1、第一明度範囲外の明度を有する画素を0として第一画素情報30bを生成し、記録媒体30に記録する。   Next, the control part 20 acquires the 1st pixel information 30b by the function of the pixel extraction part 21b (step S135). That is, the control unit 20 compares the lightness value of each pixel of the captured image 30a with the first lightness range, determines 1 as a pixel having a lightness within the first lightness range, and a pixel having a lightness outside the first lightness range. First pixel information 30 b is generated as 0 and recorded on the recording medium 30.

次に、制御部20は、電極抽出部21cの機能により、第一画素情報30bに対して収縮処理を行う(ステップS140)。すなわち、第一画素情報30bには、第一電極P1ではないが第一電極P1の明るさに近い配線の像やノイズ等が値1として含まれている可能性がある。そこで、制御部20は、像を画素毎にスキャンし、着目画素の周囲に1個でも0が存在する場合に着目画素を0に置換する収縮処理を既定回数実施し、ノイズや第一電極P1に接続された配線を除去する。   Next, the control unit 20 performs a contraction process on the first pixel information 30b by the function of the electrode extraction unit 21c (step S140). That is, there is a possibility that the first pixel information 30b includes not only the first electrode P1 but also a wiring image close to the brightness of the first electrode P1, noise, and the like as the value 1. Therefore, the control unit 20 scans the image for each pixel, and performs a contraction process for replacing the pixel of interest with 0 when at least one 0 is present around the pixel of interest, and performs noise and the first electrode P1. Remove the wiring connected to.

さらに、制御部20は、電極抽出部21cの機能により、ステップS140の収縮処理後の情報に対して膨張処理を行う(ステップS145)。すなわち、ステップS140の収縮処理によって第一電極P1の像の大きさが小さくなっているため、制御部20は、元の大きさに戻すために膨張処理を実行する。具体的には、制御部20は、像を画素毎にスキャンし、着目画素の周囲に1個でも1が存在する場合に着目画素を1に置換する膨張処理を既定回数実施する。膨張処理が終了すると、制御部20は、電極抽出部21cの機能により、膨張処理後の画像を第一電極画像30dとして取得し、記録媒体30に記録する(ステップS150)。この結果、例えば、図3Bに示すような第一電極画像30dが記録媒体30に記録された状態となる。   Further, the control unit 20 performs an expansion process on the information after the contraction process in step S140 by the function of the electrode extraction unit 21c (step S145). That is, since the size of the image of the first electrode P1 has been reduced by the contraction process in step S140, the control unit 20 executes the expansion process to return to the original size. Specifically, the control unit 20 scans the image for each pixel, and performs an expansion process for replacing the pixel of interest by 1 when at least one 1 exists around the pixel of interest. When the expansion process ends, the control unit 20 acquires the image after the expansion process as the first electrode image 30d by the function of the electrode extraction unit 21c and records it on the recording medium 30 (step S150). As a result, for example, the first electrode image 30d as shown in FIG. 3B is recorded on the recording medium 30.

次に、制御部20は、画素抽出部21bの機能により、第二画素情報30cを取得する(ステップS155)。すなわち、制御部20は、撮像画像30aの各画素の明度値と第二明度範囲とを比較し、第二明度範囲内の明度を有する画素を1、第二明度範囲外の明度を有する画素を0として第二画素情報30cを生成し、記録媒体30に記録する。   Next, the control unit 20 acquires the second pixel information 30c by the function of the pixel extraction unit 21b (step S155). That is, the control unit 20 compares the lightness value of each pixel of the captured image 30a with the second lightness range, determines 1 as a pixel having a lightness within the second lightness range, and a pixel having a lightness outside the second lightness range. Second pixel information 30 c is generated as 0 and recorded on the recording medium 30.

次に、制御部20は、電極抽出部21cの機能により、第二画素情報30cに対して収縮処理を行う(ステップS160)。すなわち、第二画素情報30cには、第二電極P2ではないが第二電極P2の明るさに近い配線の像やノイズ等が値1として含まれている可能性がある。そこで、制御部20は、像を画素毎にスキャンし、着目画素の周囲に1個でも0が存在する場合に着目画素を0に置換する収縮処理を既定回数実施し、ノイズや第二電極P2に接続された配線を除去する。   Next, the control unit 20 performs a contraction process on the second pixel information 30c by the function of the electrode extraction unit 21c (step S160). That is, there is a possibility that the second pixel information 30c includes, as the value 1, an image of wiring, noise, or the like close to the brightness of the second electrode P2, but not the second electrode P2. Therefore, the control unit 20 scans the image for each pixel, and executes a contraction process for replacing the pixel of interest with 0 when there is even one around the pixel of interest, and performs noise and the second electrode P2 Remove the wiring connected to.

さらに、制御部20は、電極抽出部21cの機能により、ステップS160の収縮処理後の情報に対して膨張処理を行う(ステップS165)。すなわち、ステップS160の収縮処理によって第二電極P2の像の大きさが小さくなっているため、制御部20は、元の大きさに戻すために膨張処理を実行する。具体的には、制御部20は、像を画素毎にスキャンし、着目画素の周囲に1個でも1が存在する場合に着目画素を1に置換する膨張処理を既定回数実施する。膨張処理が終了すると、制御部20は、電極抽出部21cの機能により、膨張処理後の画像を第二電極画像30eとして取得し、記録媒体30に記録する(ステップS170)。   Further, the control unit 20 performs an expansion process on the information after the contraction process in step S160 by the function of the electrode extraction unit 21c (step S165). That is, since the size of the image of the second electrode P2 has been reduced by the contraction processing in step S160, the control unit 20 executes the expansion processing to return to the original size. Specifically, the control unit 20 scans the image for each pixel, and performs an expansion process for replacing the pixel of interest by 1 when at least one 1 exists around the pixel of interest. When the expansion process ends, the control unit 20 acquires the image after the expansion process as the second electrode image 30e by the function of the electrode extraction unit 21c, and records it on the recording medium 30 (step S170).

この結果、例えば、図4Aに示すような第二電極画像30eが記録媒体30に記録された状態となる。なお、本実施形態における収縮処理と膨張処理のみでも配線やノイズ除去は行えるが、他の手法、例えば、一定の面積や一定の幅を有していない部位を除外する手法等を組み合わせても良い。   As a result, for example, the second electrode image 30e as shown in FIG. 4A is recorded on the recording medium 30. In addition, although the wiring and noise removal can be performed only by the contraction process and the expansion process in the present embodiment, other methods, for example, a method of excluding a part that does not have a certain area or a certain width may be combined. .

次に、制御部20は、検査部21dの機能により圧痕を検出する(ステップS175)。すなわち、制御部20は、第一電極画像30dに基づいて第一電極P1の画像を撮像画像30aから抽出し、第一電極P1の圧痕を検出するためのパラメータに基づいて圧痕を検出する。また、制御部20は、第二電極画像30eに基づいて第二電極P2の画像を撮像画像30aから抽出し、第二電極P2の圧痕を検出するためのパラメータに基づいて圧痕を検出する。   Next, the control unit 20 detects an indentation by the function of the inspection unit 21d (step S175). That is, the control unit 20 extracts the image of the first electrode P1 from the captured image 30a based on the first electrode image 30d, and detects the indentation based on the parameter for detecting the indentation of the first electrode P1. Moreover, the control part 20 extracts the image of the 2nd electrode P2 from the captured image 30a based on the 2nd electrode image 30e, and detects an indentation based on the parameter for detecting the indentation of the 2nd electrode P2.

次に、制御部20は、検査部21dの機能により圧痕の検出結果に基づいて良否判定を行う(ステップS180)。すなわち、制御部20は、ステップS175で検出された第一電極P1上の圧痕に基づいて各第一電極P1の接合状態の良否を判定する。また、制御部20は、ステップS175で検出された第二電極P2上の圧痕に基づいて各第二電極P2の接合状態の良否を判定する。   Next, the control unit 20 performs pass / fail determination based on the detection result of the indentation by the function of the inspection unit 21d (step S180). That is, the control unit 20 determines the quality of the bonding state of each first electrode P1 based on the indentation on the first electrode P1 detected in step S175. Moreover, the control part 20 determines the quality of the joining state of each 2nd electrode P2 based on the impression on the 2nd electrode P2 detected by step S175.

(3)他の実施形態:
上述の実施形態は一例であり、他にも種々の実施形態が採用されてよい。例えば、撮像画像30aは微分干渉像であることが望ましいが、通常の顕微鏡によって撮像された画像であってもよいし、当該画像に対して微分演算を行った画像であっても良い。また、検査対象の電極は明るさが異なる電極であればよい。電極の明るさが異なる要因は、必ずしも電極の材料の差でなくてもよい。例えば、電極の表面処理等によって電極の明るさが異なってもよい。
(3) Other embodiments:
The above-described embodiment is an example, and various other embodiments may be adopted. For example, the captured image 30a is desirably a differential interference image, but may be an image captured by a normal microscope or an image obtained by performing a differential operation on the image. The electrodes to be inspected may be electrodes having different brightness. The factor that the brightness of the electrode is different does not necessarily have to be the difference in the material of the electrode. For example, the brightness of the electrode may differ depending on the surface treatment of the electrode.

上述の実施形態においては、収縮処理の後に膨張処理を行って配線やノイズの像を除去しているが、これらの処理はオープニング処理とも呼ばれ、着目すべき像以外の像を除去するなどの目的で利用される。一方、膨張処理の後に収縮処理を行う一連の処理はクロージング処理と呼ばれ、像であるべき部分が欠けている場合に欠けている部分を補う補正を行う等の目的で利用される。このような、クロージング処理が実施されても良い。   In the above-described embodiment, the expansion process is performed after the contraction process to remove the wiring and noise images, but these processes are also called opening processes, such as removing images other than the image of interest. Used for purposes. On the other hand, a series of processes for performing a contraction process after an expansion process is called a closing process, and is used for the purpose of correcting a missing part when a part that should be an image is missing. Such a closing process may be performed.

さらに、明度範囲を設定するための手法は他の手法であっても良い。例えば、上述の図1と同様の構成において、制御部20が画素抽出部21bの機能により、度数分布の変化率が相対的に大きい極小値を明度範囲の境界として取得する構成であっても良い。この構成は、例えば、図5に示すフローチャートのステップS125,S130を、図6Aに示すステップS125−1,S130−1に置換する構成等によって実現可能である。   Furthermore, the method for setting the brightness range may be another method. For example, in the configuration similar to FIG. 1 described above, the control unit 20 may acquire a minimum value having a relatively large change rate of the frequency distribution as a boundary of the lightness range by the function of the pixel extraction unit 21b. . This configuration can be realized by, for example, a configuration in which steps S125 and S130 in the flowchart shown in FIG. 5 are replaced with steps S125-1 and S130-1 shown in FIG. 6A.

ステップS125−1において、制御部20は、画素抽出部21bの機能により、度数分布を平滑化する。この際、ノイズ等による度数分布の急激な変化が解消できる程度に平滑が行われれば充分であり、一般的には、ステップS125よりもステップS125−1の方が平滑化の強度は小さくて良い。図6Bは、ステップS125−1による平滑化後の度数分布を示している。図6Bと図4Bとでは、同一の撮像画像30aの明度の度数分布を平滑化したことが想定されているが、図6Bの方が平滑化の強度が小さく、その結果、ピークの数が多くなっている。   In step S125-1, the control unit 20 smoothes the frequency distribution by the function of the pixel extraction unit 21b. At this time, it is sufficient that the smoothing is performed to such an extent that a sudden change in the frequency distribution due to noise or the like can be eliminated. In general, step S125-1 may have a lower level of smoothing than step S125. . FIG. 6B shows the frequency distribution after smoothing in step S125-1. In FIG. 6B and FIG. 4B, it is assumed that the frequency distribution of the brightness of the same captured image 30a is smoothed. However, the intensity of smoothing is smaller in FIG. 6B, and as a result, the number of peaks is larger. It has become.

次に、制御部20は、ステップS130−1において、画素抽出部21bの機能により、変化が大きい上位2個の極小値を境界とする明度範囲を設定する。すなわち、制御部20は、ステップS125−1で取得された度数分布の極小値を特定し、極小値の変化率を例えば、極小値近傍での変化率の傾きの絶対値や極小値を含む既定範囲での度数の変化幅等に基づいて取得する。   Next, in step S <b> 130-1, the control unit 20 sets a lightness range with the upper two minimum values having a large change as a boundary by the function of the pixel extraction unit 21 b. That is, the control unit 20 specifies the minimum value of the frequency distribution acquired in step S125-1, and sets the change rate of the minimum value, for example, a default value including the absolute value or the minimum value of the gradient of the change rate near the minimum value. Acquired based on the frequency range of change in the range.

以上の処理によって複数個の極小値が得られると、制御部20は、変化率の大きさが大きい順に2個の極小値を取得する。図6Bに示す極小値M1,M2は変化率が大きい上位2個の極小値である。この例においても、撮像画像30aは、背景、第一電極P1および第二電極P2の3種類の画像を主に含むことが想定されるため、制御部20は、2個の極小値の中で明度値が相対的に小さい極小値M1から相対的に大きい極小値M2までの範囲を第二明度範囲R2として設定する。また、制御部20は、相対的に大きい極小値M2以上の範囲を第一明度範囲R1として設定する。なお、図6Bに示す例において、明度値の最大値はM3であるため、第一明度範囲は極小値M2から最大値M3までの範囲であっても良い。   When a plurality of minimum values are obtained by the above processing, the control unit 20 acquires two minimum values in descending order of the rate of change. The minimum values M1 and M2 shown in FIG. 6B are the top two minimum values having a large change rate. Also in this example, since the captured image 30a is assumed to mainly include three types of images of the background, the first electrode P1 and the second electrode P2, the control unit 20 has two minimum values. A range from a minimum value M1 having a relatively small brightness value to a minimum value M2 having a relatively large brightness value is set as the second brightness range R2. Moreover, the control part 20 sets the range more than the relatively large minimum value M2 as 1st brightness range R1. In the example shown in FIG. 6B, since the maximum value of the brightness value is M3, the first brightness range may be a range from the minimum value M2 to the maximum value M3.

以上の処理によって、明度範囲が設定されると、上述の実施形態と同様の処理によって第一電極P1および第二電極P2の画像を抽出することが可能であり、各電極の接合状態も検査することができる。また、第一電極P1と第二電極P2とを区別して抽出することができるため、第一電極P1と第二電極P2とに対して異なるパラメータを適用して解析を行うことができ、各電極の接合状態の良否を正確に特定することが可能になる。なお、本例においては、変化率が相対的に大きい極小値が明度範囲の分離に適切であったために変化率が相対的に大きい極小値を明度範囲の境界としたが、度数分布が比較的きれいに分離している場合などにおいては、変化率が相対的に小さい極小値を明度範囲の境界とする構成が採用されてもよい。   When the brightness range is set by the above processing, images of the first electrode P1 and the second electrode P2 can be extracted by the same processing as in the above-described embodiment, and the bonding state of each electrode is also inspected. be able to. In addition, since the first electrode P1 and the second electrode P2 can be distinguished and extracted, analysis can be performed by applying different parameters to the first electrode P1 and the second electrode P2. It becomes possible to accurately specify the quality of the bonding state. In this example, a minimum value with a relatively large change rate was appropriate for the separation of the brightness range, so a minimum value with a relatively large change rate was used as the boundary of the brightness range, but the frequency distribution was relatively In the case where the images are neatly separated, a configuration in which a minimum value having a relatively small change rate is used as the boundary of the brightness range may be employed.

さらに、画素抽出部が明度の度数分布の特徴を解析することによって、第一電極P1、第二電極P2の明度の特徴が現れた明度範囲を特定することで第一明度範囲や第二明度範囲を取得しても良い。このような構成としては、例えば、上述の図1と同様の構成において、制御部20が画素抽出部21bの機能により、画像に含まれる画素の明度の度数分布を、分離度が最大となる複数の明度範囲に分離する構成であっても良い。この構成は、例えば、図5に示すフローチャートのステップS125,S130を、図7Aに示すステップS125−2,S130−2に置換する構成等によって実現可能である。   Further, the pixel extraction unit analyzes the characteristics of the frequency distribution of the brightness, and specifies the brightness range in which the brightness characteristics of the first electrode P1 and the second electrode P2 appear, whereby the first brightness range and the second brightness range. You may get As such a configuration, for example, in the same configuration as in FIG. 1 described above, the control unit 20 uses a function of the pixel extraction unit 21b to change the brightness distribution of the brightness of the pixels included in the image to a plurality of separation degrees. The light intensity range may be separated. This configuration can be realized by, for example, a configuration in which steps S125 and S130 in the flowchart illustrated in FIG. 5 are replaced with steps S125-2 and S130-2 illustrated in FIG. 7A.

ステップS125−2において、制御部20は、画素抽出部21bの機能により、撮像画像30aの背景部分の入力を受け付ける。すなわち、撮像画像30a内には第一電極P1および第二電極P2以外の背景が含まれると考えられ、度数分布の解析の際にノイズとなり得るため、ステップS125−2において除外すべき背景部分を特定するための情報を受け付ける。   In step S125-2, the control unit 20 receives an input of the background portion of the captured image 30a by the function of the pixel extraction unit 21b. That is, it is considered that the background other than the first electrode P1 and the second electrode P2 is included in the captured image 30a and may become noise in the analysis of the frequency distribution. Therefore, the background portion to be excluded in step S125-2 is determined. Accept information for identification.

背景部分の入力方法としては、種々の入力方法を採用可能であり、例えば、明度の上位の一定割合と下位の一定割合を入力装置50によって受け付け可能に構成し、利用者が入力装置50によって入力した割合によって背景部分を特定する構成等が挙げられる。図7Bは、明度の度数分布の例を示す図であり、この例においては、明度の上位5%、下位10%が背景として入力された状態を想定し、上位5%の境界を閾値T1、下位10%の境界を閾値T2として示している。   Various input methods can be employed as the background portion input method. For example, the input device 50 is configured to accept a certain upper ratio and a lower certain ratio of brightness, and the user can input using the input apparatus 50. The structure etc. which specify a background part by the ratio which performed are mentioned. FIG. 7B is a diagram showing an example of the frequency distribution of brightness. In this example, assuming that the upper 5% and the lower 10% of the brightness are input as the background, the boundary of the upper 5% is set as the threshold T1, The lower 10% boundary is shown as the threshold value T2.

むろん、ここで示した背景部分の入力方法は一例であり、背景部分を特定するためのパラメータは既定の値であっても良いし、自動で決められても良い。また、画像内の背景の明るさに応じて、上位または下位のみが背景部分として入力される構成であっても良い。なお、図7Bに示す明度の度数分布は、平滑化が行われていないが、平滑化が行われてもよい。   Of course, the background portion input method shown here is an example, and the parameter for specifying the background portion may be a predetermined value or may be determined automatically. Further, only the upper level or the lower level may be input as the background portion according to the brightness of the background in the image. Note that the brightness frequency distribution shown in FIG. 7B is not smoothed, but may be smoothed.

次に、制御部20は、撮像画像30aの背景部分の明度の範囲を除外し、残りの範囲から電極の画像の明度範囲を取得する。具体的には、制御部20は、ステップS130−2において、画素抽出部21bの機能により、背景部分を除外した度数分布の分離度が最大となる閾値を境界とする明度範囲を設定する。すなわち、撮像画像30aが背景と第一電極P1と第二電極P2とを含む場合、背景部分が除外された画像には2種類の電極の明度を反映した分布が残ると考えられる。そこで、背景部分が除外された画像の度数分布を2個の分布に分離すれば、一方が第一電極P1の明度の度数分布、他方が第二電極P2の明度の度数分布になると考えられる。   Next, the control unit 20 excludes the brightness range of the background portion of the captured image 30a, and acquires the brightness range of the electrode image from the remaining range. Specifically, in step S130-2, the control unit 20 sets a lightness range with a threshold at which the degree of separation of the frequency distribution excluding the background portion is maximized by the function of the pixel extraction unit 21b. That is, when the captured image 30a includes the background, the first electrode P1, and the second electrode P2, it is considered that a distribution reflecting the brightness of the two types of electrodes remains in the image from which the background portion is excluded. Therefore, if the frequency distribution of the image excluding the background portion is separated into two distributions, one is considered to be the lightness frequency distribution of the first electrode P1, and the other is the lightness frequency distribution of the second electrode P2.

分離度は、値が大きくなるほど値が大きくなる指標であり、例えば、判別分析(大津の二値化)によって定義される分離度が挙げられる。この分離度は、背景部分が除外された度数分布に仮の閾値T3を設定し、閾値T3以下の明度の分布と閾値T3より大きい明度の分布のそれぞれにおいて、画素数、平均、分散を取得し、これらの値からクラス内分散とクラス間分散とを取得し、クラス間分散/クラス内分散を計算することで定義することができる。従って、制御部20が閾値T3を仮定し、分離度が最大となる閾値T3を取得することにより、2個の分布が最も適切に分離するように明度範囲を規定することができる。   The degree of separation is an index that increases as the value increases, and includes, for example, the degree of separation defined by discriminant analysis (binarization of Otsu). For this degree of separation, a temporary threshold value T3 is set for the frequency distribution from which the background portion is excluded, and the number of pixels, average, and variance are obtained for each of the lightness distribution below the threshold T3 and the lightness distribution higher than the threshold T3. The intra-class variance and inter-class variance are obtained from these values, and can be defined by calculating the inter-class variance / intra-class variance. Therefore, the brightness range can be defined so that the two distributions are most appropriately separated by assuming the threshold value T3 and acquiring the threshold value T3 that maximizes the degree of separation.

分離度が最大となる閾値が取得されると、制御部20は、当該閾値を境界とする明度範囲を設定する。図7Bに示す閾値T3が分離度の最大となる閾値であるならば、制御部20は、範囲R1を第一明度範囲、範囲R2を第二明度範囲として設定する。以上の処理によって、明度範囲が設定されると、上述の実施形態と同様の処理によって第一電極P1および第二電極P2の画像を抽出することが可能であり、各電極の接合状態も検査することができる。また、第一電極P1と第二電極P2とを区別して抽出することができるため、第一電極P1と第二電極P2とに対して異なるパラメータを適用して解析を行うことができ、各電極の接合状態の良否を正確に特定することが可能になる。むろん、背景部分の除外は、任意の実施形態に適用されて良い。   When a threshold value that maximizes the degree of separation is acquired, the control unit 20 sets a brightness range with the threshold value as a boundary. If the threshold value T3 shown in FIG. 7B is a threshold value that maximizes the degree of separation, the control unit 20 sets the range R1 as the first lightness range and the range R2 as the second lightness range. When the brightness range is set by the above processing, images of the first electrode P1 and the second electrode P2 can be extracted by the same processing as in the above-described embodiment, and the bonding state of each electrode is inspected. be able to. In addition, since the first electrode P1 and the second electrode P2 can be distinguished and extracted, analysis can be performed by applying different parameters to the first electrode P1 and the second electrode P2. It becomes possible to accurately specify the quality of the bonding state. Of course, the exclusion of the background portion may be applied to any embodiment.

さらに、制御部20が、利用者の入力情報に基づいて明度範囲を取得する構成であっても良い。このような構成としては、例えば、上述の図1と同様の構成において、制御部20が画素抽出部21bの機能により、入力装置50によって利用者が入力する入力情報を受け付け、当該入力情報に基づいて明度範囲を取得する構成が挙げられる。   Furthermore, the structure which the control part 20 acquires the brightness range based on a user's input information may be sufficient. As such a configuration, for example, in the same configuration as in FIG. 1 described above, the control unit 20 receives input information input by the user through the input device 50 by the function of the pixel extraction unit 21b, and based on the input information. Thus, a configuration for acquiring the brightness range is given.

入力情報は、明度範囲を特定するための情報であればよく、種々の情報を採用可能である。例えば、撮像画像30aに基づいて利用者が第一電極P1および第二電極P2の像の範囲を入力することによって制御部20が第一明度範囲と第二明度範囲を取得しても良い。この構成は、例えば、図5に示すフローチャートのステップS125,S130を、図8Aに示すステップS125−3,S130−3に置換する構成等によって実現可能である。   The input information may be information for specifying the brightness range, and various information can be adopted. For example, the control unit 20 may acquire the first lightness range and the second lightness range by inputting the image ranges of the first electrode P1 and the second electrode P2 based on the captured image 30a. This configuration can be realized by, for example, a configuration in which steps S125 and S130 in the flowchart illustrated in FIG. 5 are replaced with steps S125-3 and S130-3 illustrated in FIG. 8A.

ステップS125−3において、制御部20は、画素抽出部21bの機能により、第一電極P1の範囲および第二電極P2の範囲の入力を受け付ける。すなわち、本例において、制御部20は、撮像画像30aを表示装置40に表示する。利用者は、入力装置50を操作することにより、電極の範囲を画像上で指定することができる。   In step S125-3, the control unit 20 receives an input of the range of the first electrode P1 and the range of the second electrode P2 by the function of the pixel extraction unit 21b. That is, in this example, the control unit 20 displays the captured image 30a on the display device 40. The user can designate the range of the electrodes on the image by operating the input device 50.

図8Bは、撮像画像30a上で利用者がマウス等の入力装置50により第一電極P1の範囲Z1を指定し、第二電極P2の範囲Z2を指定した状態を例示した図である。この例においては、利用者がマウス等の入力装置50により矩形の範囲を指定することができ、第一電極P1と第二電極P2とのそれぞれに含まれる矩形の範囲を指定する。制御部20は、当該入力を受け付けることにより第一電極P1と第二電極P2との画像内での範囲を取得する。   FIG. 8B is a diagram illustrating a state in which the user designates the range Z1 of the first electrode P1 and designates the range Z2 of the second electrode P2 on the captured image 30a using the input device 50 such as a mouse. In this example, the user can designate a rectangular range with the input device 50 such as a mouse, and designates a rectangular range included in each of the first electrode P1 and the second electrode P2. The control part 20 acquires the range in the image of the 1st electrode P1 and the 2nd electrode P2 by receiving the said input.

次に、制御部20は、ステップS130−3において、画素抽出部21bの機能により、入力された範囲に属する画素の明度から明度範囲を設定する。すなわち、制御部20は、第一電極P1の範囲として指定された範囲Z1内の画素の明度を取得し、当該明度の最小値から最大値までを第一明度範囲として取得する。また、制御部20は、第二電極P2の範囲として指定された範囲Z2内の画素の明度を取得し、当該明度の最小値から最大値までを第二明度範囲として取得する。   Next, in step S130-3, the control unit 20 sets a lightness range from the lightness of the pixels belonging to the input range by the function of the pixel extraction unit 21b. That is, the control unit 20 acquires the brightness of the pixels in the range Z1 designated as the range of the first electrode P1, and acquires the minimum brightness value to the maximum brightness value as the first brightness range. Further, the control unit 20 acquires the brightness of the pixels in the range Z2 designated as the range of the second electrode P2, and acquires the minimum brightness value to the maximum brightness value as the second brightness range.

以上の処理によって、明度範囲が設定されると、上述の実施形態と同様の処理によって第一電極P1および第二電極P2の画像を抽出することが可能であり、各電極の接合状態も検査することができる。また、第一電極P1と第二電極P2とを区別して抽出することができるため、第一電極P1と第二電極P2とに対して異なるパラメータを適用して解析を行うことができ、各電極の接合状態の良否を正確に特定することが可能になる。   When the brightness range is set by the above processing, images of the first electrode P1 and the second electrode P2 can be extracted by the same processing as in the above-described embodiment, and the bonding state of each electrode is also inspected. be able to. In addition, since the first electrode P1 and the second electrode P2 can be distinguished and extracted, analysis can be performed by applying different parameters to the first electrode P1 and the second electrode P2. It becomes possible to accurately specify the quality of the bonding state.

また、利用者が直接的または間接的に明度範囲の数値を示す入力情報を入力する構成であっても良い。例えば、利用者が明度の度数分布や撮像画像30aを確認しながら明度範囲の境界を入力可能な構成であっても良い。この構成は、例えば、図5に示すフローチャートのステップS125,S130を省略し、替わりに、制御部20によって利用者による明度範囲の入力を受け付けることで実現可能である。   Moreover, the structure which the user inputs the input information which shows the numerical value of the brightness range directly or indirectly may be sufficient. For example, the configuration may be such that the user can input the boundary of the lightness range while confirming the lightness frequency distribution and the captured image 30a. This configuration can be realized, for example, by omitting steps S125 and S130 in the flowchart shown in FIG. 5 and accepting the input of the brightness range by the user by the control unit 20 instead.

図9Aおよび図9Bは、利用者による入力を受け付ける際のユーザインタフェースを示す図である。図9Aは、利用者によって指定された明度範囲に属する画素を強調し、撮像画像30aに重畳した状態を示している。制御部20は、撮像画像30aを表示装置40に表示するとともに、利用者が入力装置50を操作することによって度数分布上で明度範囲を指定すると、当該明度範囲に属する画素を強調する。図9Aにおいては、強調された画素をハッチングによって示している。   9A and 9B are diagrams showing a user interface when accepting an input by a user. FIG. 9A shows a state in which pixels belonging to the brightness range designated by the user are emphasized and superimposed on the captured image 30a. The control unit 20 displays the captured image 30a on the display device 40. When the user designates a brightness range on the frequency distribution by operating the input device 50, the control unit 20 emphasizes pixels belonging to the brightness range. In FIG. 9A, the emphasized pixels are indicated by hatching.

図9Bは、明度の度数分布を示すグラフであり、制御部20は、図9Bに示すような撮像画像30aの度数分布を表示装置40に対して表示する。利用者は、入力装置50を操作することにより、当該度数分布上で明度範囲の境界Bo1,Bo2を移動させることができる。制御部20は、移動後の境界Bo1,Bo2を明度範囲の境界として取得し、図9Aに示すように当該明度範囲に属する画素を強調する。この構成によれば、利用者は、利用者自身が度数分布上で指定した明度範囲が適切であるか否かを撮像画像30a上で確認しながら明度範囲を入力することができる。以上の処理を第一明度範囲、第二明度範囲のそれぞれに対して実行すれば、制御部20は、第一明度範囲と第二明度範囲とを取得することができる。   FIG. 9B is a graph showing the frequency distribution of brightness, and the control unit 20 displays the frequency distribution of the captured image 30 a as shown in FIG. 9B on the display device 40. The user can move the boundaries Bo1 and Bo2 of the brightness range on the frequency distribution by operating the input device 50. The control unit 20 acquires the boundaries Bo1 and Bo2 after movement as boundaries of the brightness range, and emphasizes pixels belonging to the brightness range as illustrated in FIG. 9A. According to this configuration, the user can input the brightness range while confirming on the captured image 30a whether or not the brightness range specified by the user on the frequency distribution is appropriate. If the above processing is executed for each of the first brightness range and the second brightness range, the control unit 20 can acquire the first brightness range and the second brightness range.

以上の処理によって、明度範囲が設定されると、上述の実施形態と同様の処理によって第一電極P1および第二電極P2の画像を抽出することが可能であり、各電極の接合状態も検査することができる。また、第一電極P1と第二電極P2とを区別して抽出することができるため、第一電極P1と第二電極P2とに対して異なるパラメータを適用して解析を行うことができ、各電極の接合状態の良否を正確に特定することが可能になる。   When the brightness range is set by the above processing, images of the first electrode P1 and the second electrode P2 can be extracted by the same processing as in the above-described embodiment, and the bonding state of each electrode is also inspected. be able to. In addition, since the first electrode P1 and the second electrode P2 can be distinguished and extracted, analysis can be performed by applying different parameters to the first electrode P1 and the second electrode P2. It becomes possible to accurately specify the quality of the bonding state.

10…接合状態検査装置、20…制御部、21…接合状態検査プログラム、21a…画像取得部、21b…画素抽出部、21c…電極抽出部、21d…検査部、30…記録媒体、30a…撮像画像、30b…第一画素情報、30c…第二画素情報、30d…第一電極画像、30e…第二電極画像、40…表示装置、50…入力装置、60…撮像部、61…照明、62…微分干渉顕微鏡、63…X−Yステージ、64…CCDセンサ、B…基板、B1…ガラス基板、E…導電粒子、F…異方性導電フィルム DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Joining state inspection apparatus, 20 ... Control part, 21 ... Joining state inspection program, 21a ... Image acquisition part, 21b ... Pixel extraction part, 21c ... Electrode extraction part, 21d ... Inspection part, 30 ... Recording medium, 30a ... Imaging Image, 30b ... 1st pixel information, 30c ... 2nd pixel information, 30d ... 1st electrode image, 30e ... 2nd electrode image, 40 ... Display apparatus, 50 ... Input device, 60 ... Imaging part, 61 ... Illumination, 62 ... Differential interference microscope, 63 ... XY stage, 64 ... CCD sensor, B ... Substrate, B1 ... Glass substrate, E ... Conductive particles, F ... Anisotropic conductive film

Claims (10)

複数の種類の電極を含む画像を取得する画像取得部と、
前記画像から異なる明度範囲の画素をそれぞれ抽出する画素抽出部と、
抽出されたそれぞれの前記画素から前記電極を抽出する電極抽出部と、
を備える電極抽出装置。
An image acquisition unit for acquiring an image including a plurality of types of electrodes;
A pixel extraction unit for extracting each pixel of a different brightness range from the image;
An electrode extraction unit for extracting the electrode from each of the extracted pixels;
An electrode extraction apparatus comprising:
前記画素抽出部は、
前記電極の種類の数と同じ個数の前記明度範囲を設定する、
請求項1に記載の電極抽出装置。
The pixel extraction unit
Setting the same number of brightness ranges as the number of types of electrodes;
The electrode extraction apparatus according to claim 1.
前記画素抽出部は、
前記画像に含まれる前記画素の明度の度数分布を平滑化し、平滑化後の前記度数分布の変化に基づいて前記明度範囲の境界を取得する、
請求項1または請求項2のいずれか記載の電極抽出装置。
The pixel extraction unit
Smoothing the frequency distribution of the brightness of the pixels included in the image, and obtaining a boundary of the brightness range based on a change in the frequency distribution after smoothing;
The electrode extraction device according to claim 1.
前記画素抽出部は、
前記度数分布の極小値を前記明度範囲の境界として取得する、
請求項3に記載の電極抽出装置。
The pixel extraction unit
Obtaining a minimum value of the frequency distribution as a boundary of the brightness range;
The electrode extraction apparatus according to claim 3.
前記画素抽出部は、
前記度数分布の変化率が相対的に大きい前記極小値を前記明度範囲の境界として取得する、
請求項4に記載の電極抽出装置。
The pixel extraction unit
Obtaining the minimum value having a relatively large change rate of the frequency distribution as a boundary of the brightness range;
The electrode extraction apparatus according to claim 4.
前記画素抽出部は、
前記画像に含まれる前記画素の明度の度数分布を、分離度が最大となる複数の前記明度範囲に分離する、
請求項1〜請求項5のいずれかに記載の電極抽出装置。
The pixel extraction unit
Separating the brightness frequency distribution of the pixels included in the image into a plurality of brightness ranges in which the degree of separation is maximized;
The electrode extraction apparatus in any one of Claims 1-5.
前記画素抽出部は、
前記画像に含まれる前記画素の明度の度数分布に基づいて前記画像の背景部分の明度の範囲を除外し、残りの範囲から前記明度範囲を取得する、
請求項1〜請求項6のいずれかに記載の電極抽出装置。
The pixel extraction unit
Excluding the brightness range of the background portion of the image based on the brightness distribution of the pixels included in the image, and obtaining the brightness range from the remaining range;
The electrode extraction apparatus in any one of Claims 1-6.
前記画素抽出部は、
利用者の入力情報に基づいて前記明度範囲を取得する、
請求項1〜請求項7のいずれかに記載の電極抽出装置。
The pixel extraction unit
Obtaining the brightness range based on user input information;
The electrode extraction apparatus in any one of Claims 1-7.
複数の種類の電極を含む画像を取得する画像取得工程と、
前記画像から異なる明度範囲の画素をそれぞれ抽出する画素抽出工程と、
抽出されたそれぞれの前記画素から前記電極を抽出する電極抽出工程と、
を含む電極抽出方法。
An image acquisition step of acquiring an image including a plurality of types of electrodes;
A pixel extraction step of extracting pixels of different brightness ranges from the image,
An electrode extraction step of extracting the electrode from each of the extracted pixels;
An electrode extraction method comprising:
複数の種類の電極を含む画像を取得する画像取得機能と、
前記画像から異なる明度範囲の画素をそれぞれ抽出する画素抽出機能と、
抽出されたそれぞれの前記画素から前記電極を抽出する電極抽出機能と、
をコンピュータに実現させる電極抽出プログラム。
An image acquisition function for acquiring an image including a plurality of types of electrodes;
A pixel extraction function for respectively extracting pixels of different brightness ranges from the image;
An electrode extraction function for extracting the electrode from each of the extracted pixels;
Electrode extraction program that makes a computer realize.
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