JP2018530365A5 - - Google Patents

Claims (15)

1. 呼吸二酸化炭素レベルを測定する二酸化炭素測定コンポーネントと、
   電子プロセッサと、
   を含む、カプノグラフデバイスであって、
   前記電子プロセッサは、
   時間の関数として、前記二酸化炭素測定コンポーネントによって測定された二酸化炭素レベルサンプル値を含むカプノグラム信号を生成し、
   前記カプノグラム信号から呼気終末二酸化炭素（ｅｔＣＯ_２）値を決定し、
   前記カプノグラム信号の波形に基づいて、呼気終末二酸化炭素パラメータ品質指数（ｅｔＣＯ_２ ＰＱＩ）値を計算するようにプログラミングされる、カプノグラフデバイスにおいて、
   前記電子プロセッサは、
   二酸化炭素レベル上限から二酸化炭素レベル下限までの二酸化炭素（ＣＯ _２ ）立ち下がり時間のメトリック、及び
   前記カプノグラム信号の二酸化炭素レベルサンプル値のカウントを、二酸化炭素レベルビンにビン化することによって、カプノグラムヒストグラムを生成することを含む演算
   のうちの少なくとも１つを使用して、前記ｅｔＣＯ _２ ＰＱＩ値を計算することを特徴とする、カプノグラフデバイス。
2. 前記電子プロセッサは、二酸化炭素レベル上限から二酸化炭素レベル下限までの二酸化炭素（ＣＯ_２）立ち下がり時間のメトリックを使用して、前記ｅｔＣＯ_２ ＰＱＩ値を計算する、請求項１に記載のカプノグラフデバイス。
3. 前記電子プロセッサは更に、
   前記カプノグラム信号から呼吸速度（ＲＲ）値を決定し、
   前記ＲＲ値及び前記ｅｔＣＯ_２ ＰＱＩ値を使用して、呼吸速度パラメータ品質指数（ＲＲ ＰＱＩ）値を計算するようにプログラミングされる、請求項１又は２に記載のカプノグラフデバイス。
4. 前記電子プロセッサは更に、（ｉ）呼気時間／吸気時間比のメトリック、（ｉｉ）一呼吸の前記カプノグラム信号における無効ピークカウントを定量化するメトリック及び（ｉｉｉ）カプノグラム二酸化炭素レベルダイナミックレンジを定量化するメトリックのうちの少なくとも１つを更に使用して、前記ＲＲ ＰＱＩ値を計算するようにプログラミングされる、請求項３に記載のカプノグラフデバイス。
5. 前記電子プロセッサは更に、
   前記ＲＲ値、前記ｅｔＣＯ_２値、前記ｅｔＣＯ_２ ＰＱＩ値及び前記ＲＲ ＰＱＩ値を使用して、呼吸器健康指数（ＲＷＩ）を決定するようにプログラミングされる、請求項３又は４に記載のカプノグラフデバイス。
6. 前記電子プロセッサは、前記カプノグラム信号から決定される最新の上昇ＣＯ_２レベルからの時間を更に使用して、前記ＲＷＩを計算するようにプログラミングされる、請求項５に記載のカプノグラフデバイス。
7. 前記電子プロセッサは、前記カプノグラム信号の二酸化炭素レベルサンプル値のカウントを、二酸化炭素レベルビンにビン化することによって、カプノグラムヒストグラムを生成することを含む演算によって、前記ｅｔＣＯ_２ ＰＱＩ値を計算するようにプログラミングされる、請求項１乃至６の何れか一項に記載のカプノグラフデバイス。
8. 少なくとも、決定された前記ｅｔＣＯ_２値及び計算された前記ＣＯ_２ ＰＱＩ値を表示する表示コンポーネントを更に含む、請求項１乃至７の何れか一項に記載のカプノグラフデバイス。
9. 前記電子プロセッサは、
   前記カプノグラム信号から、前記カプノグラム信号内の二酸化炭素レベルサンプル値の対応するカウントを記憶する二酸化炭素レベルビンを含むカプノグラムヒストグラムを生成することと、
   前記カプノグラムヒストグラムから、定量的カプノグラム波形メトリックを計算することと、
   を含む演算によって、前記カプノグラム信号から前記定量的カプノグラム波形メトリックを計算し、
   前記カプノグラム信号から前記ｅｔＣＯ _２ 値及び呼吸速度（ＲＲ）値を決定し、
   前記定量的カプノグラム波形メトリックを使用して、前記ｅｔＣＯ _２ ＰＱＩ値を計算し、
   前記ＲＲ値及び前記ｅｔＣＯ_２ ＰＱＩ値を使用して、呼吸速度パラメータ品質指数（ＲＲ ＰＱＩ）値を計算するようにプログラミングされる、請求項１に記載のカプノグラフデバイス。
10. 前記電子プロセッサは、
    二酸化炭素レベルサンプル値の非ゼロカウントを記憶する最高二酸化炭素レベルビンの前記二酸化炭素レベルとして、前記カプノグラムヒストグラムから前記ｅｔＣＯ_２値を決定することを含む演算によって、前記カプノグラム信号から前記ｅｔＣＯ_２値を決定するようにプログラミングされる、請求項９に記載のカプノグラフデバイス。
11. 前記定量的カプノグラム波形メトリックは、基準線よりも上の前記カプノグラムヒストグラムの一部のメトリックを含む、請求項９又は１０に記載のカプノグラフデバイス。
12. 前記定量的カプノグラム波形メトリックは、非ゼロカウントを記憶する前記カプノグラムヒストグラムの上部領域における最高二酸化炭素レベルビンの前記ＣＯ_２レベルと、二酸化炭素レベルサンプル値の最高カウントを記憶する前記カプノグラムヒストグラムの前記上部領域における前記二酸化炭素レベルビンの前記ＣＯ_２レベルとの差のメトリックを含む、請求項９乃至１１の何れか一項に記載のカプノグラフデバイス。
13. 前記定量的カプノグラム波形メトリックは、前記カプノグラムヒストグラムの上部領域のすべての二酸化炭素レベルビンに記憶されたカウントと、前記カプノグラムヒストグラムの中間領域のすべての二酸化炭素レベルビンに記憶されたカウントとを比較するメトリックを含む、請求項９乃至１２の何れか一項に記載のカプノグラフデバイス。
14. 前記定量的カプノグラム波形メトリックは、前記カプノグラムヒストグラムの上部領域における前記カプノグラムヒストグラムのすべてのカウントの一部のメトリックを含む、請求項９乃至１３の何れか一項に記載のカプノグラフデバイス。
15. 前記電子プロセッサは、二酸化炭素レベル上限から二酸化炭素レベル下限までの二酸化炭素（ＣＯ_２）立ち下がり時間のメトリックを使用して、前記ｅｔＣＯ_２ ＰＱＩ値を計算するようにプログラミングされる、請求項１０乃至１４の何れか一項に記載のカプノグラフデバイス。