JP2018525046A - ２つの波長を合成する光コヒーレンストモグラフィーシステム - Google Patents

Abstract

複数の波長を合成する光コヒーレンストモグラフィー（ＯＣＴ）システムが、概して説明されている。一例において、ＯＣＴシステムは、第１の波長を有する第１のビームを放射するように構成された第１の光源を含む。ＯＣＴシステムは、第２の波長を有する第２のビームを放射するように構成された第２の光源をさらに含む。ＯＣＴシステムは、干渉計をさらに含む。第１のビーム及び第２のビームは、干渉計に方向付けられるように構成される。干渉計は、参照通路と、干渉計試料通路とを含む。ＯＣＴシステムは、干渉計試料通路の出力から第１のビームを第１の試料通路に、及び第２のビームを第２の試料通路に分割するように構成された第１のビームスプリッタをさらに含む。ＯＣＴシステムは、第１のビーム及び第２のビームを共通の軸に合成するように構成された第２のビームスプリッタをさらに含む。【選択図】図１

Description

関連出願の相互参照
本出願は、２０１５年６月１日に出願された米国仮出願第６２／１６９，２３０号の優先権を主張し、参照によりその全体が本明細書に組み込まれる。

以下の説明は、読者の理解を助けるために提供される。提供された情報または引用された参考文献はいずれも先行技術であると認められていない。

光コヒーレンストモグラフィー（ＯＣＴ）は、撮像技術である。ＯＣＴ撮像技術は、しばしば医療現場で使用される。本技術は、生物学的組織のような光散乱試料内から三次元画像を作り出すことができる。換言すれば、試料の画像を形成するために、試料によって散乱された光を検出することができる。試料を撮像するとき、その表面下の試料の部分を撮像することができる。ＯＣＴを使用して撮像することができる生物学的組織の例には、冠状動脈、皮膚、及び眼が含まれる。別の例では、絵画の層を分析するためにＯＣＴを美術保存に使用することができる。

ＯＣＴは、しばしば、干渉計を使用して成し遂げられる。干渉計は、試料から反射して戻る光及び参照光を利用する。参照光は、概して、試料から反射して戻る光と同様の距離を進むように構成される。試料からの光及び参照光は、干渉パターンを起こすような方法で合成することができる。すなわち、試料からの光及び参照光は、建設的または破壊的に互いに干渉する。生じる干渉のレベルは、試料内の構造が識別及び撮像され得るような、試料の領域の反射率を示す。

一実施形態では、本技術は、例えば、眼の前眼房及び網膜を同時に撮像することができる２つの波長を合成する改良された光コヒーレンストモグラフィー（ＯＣＴ）システムを提供する。例示的な実施形態では、ＯＣＴシステムは、第１の波長を有する第１のビームを放射するように構成された第１の光源を含む。ＯＣＴシステムは、第２の波長を有する第２のビームを放射するように構成された第２の光源をさらに含む。ＯＣＴシステムは、干渉計をさらに含む。第１のビーム及び第２のビームは、干渉計に方向付けられるように構成される。干渉計は、参照通路及び干渉計試料通路を含む。ＯＣＴシステムは、干渉計試料通路の出力から第１のビームを第１の試料通路に、第２のビームを第２の試料通路に分割するように構成された第１のビームスプリッタをさらに含む。ＯＣＴシステムは、第１のビーム及び第２のビームを共通の軸に合成するように構成された第２のビームスプリッタをさらに含む。

例示的な方法は、第１の光源によって、第１の波長を有する第１のビームを放射することを含む。本方法はまた、第２の光源によって、第２の波長を有する第２のビームを放射することを含む。本方法はまた、第１のビーム及び第２のビームを干渉計に方向付けることを含む。干渉計は、参照通路及び干渉計試料通路を含む。本方法はまた、第１のビームスプリッタによって干渉計試料通路の出力から第１のビームを第１の試料通路に、第２のビームを第２の試料通路に分割することを含む。本方法はまた、第２のビームスプリッタによって、第１のビーム及び第２のビームを共通の軸に合成することを含む。

前述の概要は例示的なものに過ぎず、何らか限定することを意図するものではない。上述の例示的な態様、実施形態、及び特徴に加えて、さらなる態様、実施形態、及び特徴が、以下の図面及び発明を実施するための形態を参照することによって明らかになるであろう。

本開示の前述の特徴及び他の特徴は、添付図面と併せて、以下の説明及び添付の特許請求の範囲からより完全に明らかになるであろう。これらの図面は、本開示に従っていくつかの実施形態のみを描写し、したがって、その範囲を限定するものとみなされるべきではないという理解の上で、本開示は、添付図面を使用して追加の特異性及び詳細と共に記載される。

例示的な一実施形態による、２つの波長を合成する光コヒーレンストモグラフィー（ＯＣＴ）システムの表示を描写する。 例示的な一実施形態による、ＯＣＴシステムにおけるダイクロイックミラーの特性を明示するグラフを描写する。 例示的な一実施形態による、第１及び第２の光源が同時にかつ交互に変調され、検出される様子を明示するグラフを描写する。

以下の発明を実施するための形態では、本明細書の一部を形成する添付図面を参照する。図面において、類似の記号は、文脈が別途指示しない限り、典型的には同様の構成要素を同一とみなす。発明を実施するための形態、図面、及び請求項に記載された例示的な実施形態は、限定することを意味しない。本明細書に提示される主題の精神または範囲から逸脱することなく、他の実施形態が利用されてもよく、他の変更がなされてもよい。本明細書に概して記載され、図に図示された本開示の態様は、多岐にわたる異なる構成における配置、置換、組み合わせ、及び設計が可能であり、それらのすべてが明確に熟慮され、本開示の一部をなすことが容易に理解されるであろう。

本明細書では、例えば、眼の前眼房及び網膜を同時に撮像することができる２つの波長を合成する改良された光コヒーレンストモグラフィー（ＯＣＴ）システムが説明される。

眼の前眼房を撮像することは、眼の網膜の撮像とは異なる光学的構成を利用する。眼の前眼房の場合、ビーム走査は、試料（または角膜）に対して概ね垂直であり、ビームは、浅い焦点を有する。網膜を撮像するとき、眼自体によってビームを屈折させることができ、ビーム走査は、眼の深い焦点合わせのためにコリメートされたより大きなビームサイズで収束し得る。換言すれば、眼の網膜領域を走査するために使用されるビームは、眼の前眼房を走査するために使用されるビームとは異なる角度で眼に入射しなければならない。有利なことに、本明細書で開示するシステム及び方法は、眼の撮像に好適な異なる波長範囲の２つの光通路を１つの通路に重ねることによって、眼の前眼房及び網膜の両方を同時に撮像することができる。そのような構成は、コンバイナの挿入損失を有利に低減することができる。

さらに、本明細書で開示される方法及びシステムは、２つの撮像範囲を検出するために単一の検出器及び干渉計を利用することができる。これまでは、システムは、２つの試料を一度に撮像するために、複数の干渉計及び複数の光検出器を利用してきた。本明細書で開示される方法及びシステムは、単一の干渉計及び光検出器を使用し、複数の試料を一度に走査するように設計されるＯＣＴシステムのコスト、複雑性、及びサイズを大幅に低減する。

本明細書で開示される方法及びシステムは、複数の撮像範囲を実現するために、単一ビームの焦点及び入射角を合わせるために複雑な機構を利用しないことも有利である。これまでは、システムは、２つの異なる試料を走査するために単一の光源を使用していたかもしれない。しかしながら、複数の撮像範囲を切り替えるためには、そのようなシステムは単一のビームを調節するために複雑な切り替え可能または調節可能なレンズを利用していた。そのような構成は複雑であり、多くの可動部分を有し、かなり大きくなる可能性がある。さらに、そのような構成は、複数の撮像範囲の同時及びリアルタイム撮像を可能にし得ない。本明細書で開示される方法及びシステムは、複数の撮像範囲に利用される構成要素の数を有利に減少させ、複数の撮像範囲の同時及びリアルタイム撮像を可能にする。例えば、本明細書で開示されるシステム及び方法は、眼の前眼房及び眼の網膜領域のような２つの撮像範囲のリアルタイム撮像を達成することができる。

例示的な実施形態では、異なる波長（または異なる波長の帯域）を有する２つのビームを放射するために２つの光源が使用される。一実施形態では、２つの異なるビームを放射するために波長掃引源が利用されてもよい。２つの光源の出力は、干渉計で合成される。干渉計は、参照通路及び試料通路を含む。試料通路は、ビームが透過され試料（例えば、眼）から反射される通路である。参照通路は、干渉計が試料の正確な画像を生成することができるように、ビームが試料通路と同じ光路長を有するように反射される別個の通路である。

試料通路は、干渉計から出力され、第１のビームスプリッタは、試料通路を第１の試料通路と第２の試料通路に分割する。戻り通路において（試料通路からの光が反射または後方散乱されるとき）、第１のビームスプリッタはコンバイナとして働き、第１のビームと第２のビームを共通の軸に再合成する。一実施形態では、第１及び第２の試料通路は単一の共通レンズ系を共有し、第１の試料通路内の第１のビームは共通レンズ系の中央に導入される。第１の試料通路は、１，３００ナノメートル（ｎｍ）の波長（またはほぼそれに近い帯域）を有するビームのためものである。第２の試料通路は、１，０６０ナノメートルの波長（またはほぼそれに近い帯域）を有するビームのためものである。代替の実施形態では、異なる波長または波長の帯域が、第１及び第２のビーム（及びその後に第１及び第２の試料通路）に使用されてもよい。

第１及び第２の試料通路は、干渉計の試料通路の根元で第１のダイクロイックミラー（第１のビームスプリッタ）によって分割される。そのようなダイクロイックミラーは、第１のビームの光を反射または透過し、第２のビームの光を通過させる透過特性を有するように特別に構成される（下記図２の考察を参照）。

第２の試料通路は、共通の２レンズ系の第１のレンズの焦点に位置付けられた走査ミラーで構成されている。この実施形態では、２レンズ系は４ｆ構成である。代替的な実施形態では、レンズ系は、２つより多くのまたは少ないレンズを有してもよく、４ｆ構成が他の構成であってもよい。

第２のビームが眼の網膜領域を走査することができるように、第２のビームは、第２のレンズを通過し、収束走査のために構成されたコリメートビームとなる。換言すれば、第２の試料通路は、コリメートビーム及び試料に対する収束走査パターンを有するレンズ系を有する。コリメートビームは、眼レンズ系を通過した後に網膜領域に焦点が合わされ、眼に入る前に収束走査により網膜領域にわたって走査することができる。したがって、網膜領域を走査する第２のビームの通路長は、眼の前眼房を走査する第１のビームの通路長よりも長くなる。第１の試料通路長と第２の試料通路長との間の差は、人間の眼の軸方向長に同等の光路長であることができる。第２の通路はまた、網膜領域を撮像するための第２の走査ミラーを含む。 第２の走査ミラーは、２レンズ系の第１のレンズの焦点に位置する。

第１の試料通路を通過する第１のビームからの光は、第２のレンズと第１のレンズの焦点との間に位置付けられた第２のビームスプリッタ（ここではダイクロイックミラー）を有することによって２レンズ系の第２のレンズに導入される。ここで、第２のビームスプリッタは、第１のビームと第２のビームを同じ共通の軸上に合成するコンバイナとして機能する。第１の試料通路用の走査ミラーは、第２のビームスプリッタからの反射通路上の第２のレンズの焦点に位置付けられる。第１及び第２のビームが試料から反射または後方散乱されると、第２のビームスプリッタは第１及び第２のビームをそれぞれ第１及び第２の試料通路に分割して戻す。第１の試料通路及び第１のビームは、ビームが眼の前眼房位置に対して垂直に走査するようにビームを集中するように構成される。換言すれば、第１の試料通路は、発散ビーム及び試料に垂直な横方向走査パターンを有するレンズ系を有する。

眼の前眼房及び網膜領域を撮像するとき、掃引された光源（第１及び第２の光源）は同時にかつ交互に変調される（図３の下記の考察を参照）。試料（ここでは眼）からの、２つの異なる深度範囲（前眼房及び網膜）からの後方散乱反射信号は、２つのダイクロイックミラーによって再合成された後、同じ第１及び第２の試料通路に沿って単一の干渉計に反射して戻る。

検出器は、第１のビーム及び第２のビームの２つの異なる波長（または波長帯域）に基づいて、異なるタイムスロットに対して交互に受信信号を検出及び分析することができる。換言すれば、検出器は、２つの異なる撮像範囲に対応する反射された第１及び第２のビームのそれぞれを検出することができる。プロセッサは、検出された信号の特定のタイムスロットを選択することによって、２つの撮像範囲を２つの画像に分解する。プロセッサはまた、２つの光源が掃引されたとき、プロセッサが各撮像範囲に対して検出された信号の特定のタイムスロットを知るように制御し得る。換言すれば、プロセッサは、第１のビームが試料を撮像するために放出されるときに第１の撮像範囲を認識し、かつプロセッサは、第２のビームが試料を撮像するために放射されるときに第２の撮像範囲を認識する。

したがって、２つの波長範囲は、２つの光通路を１つに重ねることによって眼の前眼房及び網膜領域撮像を同時に提供することができ、コンバイナの挿入損失を最小限に抑える。さらに、システムは、両方の撮像範囲で共用することができる検出器及び干渉計の１つの単一セットを利用する。これは有利に、眼の前眼房及び網膜領域の両方のリアルタイム撮像を提供するコンパクトなシステムを可能にする。

図１は、例示的な一実施形態による２つの波長を合成する光コヒーレンストモグラフィー（ＯＣＴ）システム１００の表示を描写する。代替の実施形態では、より少ない、追加の、及び／または異なる要素が存在してもよい。ＯＣＴシステムは、第１の光源１０５及び第２の光源１１０を含む。第１の光源１０５は、第１の波長を有する第１のビーム１４８を放射する。図１において、第１のビーム１４８は、第２のビーム１４０と区別するために破線で示されている。

第２のビーム１４０は、第２の光源１１０によって放射され、第２の波長を有する。第１のビーム１４８及び第２のビーム１４０は合成され、干渉計１１５に方向付けられる。干渉計は、参照通路１２８及び干渉計試料通路１７０を含む。参照通路１２８は矢印１３０で示されている。第１の光源１０５及び第２の光源１１０からの第１のビーム１４８及び第２のビーム１４０は、干渉計１１５を通ってミラー１２５に進む。ここでミラー１２５は、それに当たる光の一部を反射し、すべての光を反射しないハーフミラーである。したがって、第１のビーム１４８及び第２のビーム１４０の一部は、参照通路１２８に反射される。参照通路１２８は、第１の試料通路長及び第２の試料通路長に対応する２つの異なる通路を含む。すなわち、参照通路１２８は、試料のどの部分が撮像されているか（及びその後にどの試料通路が利用されているか）に応じて変化する。

したがって、眼１５６の前眼部を測定するために第１の試料通路が第１のビーム１４８と共に利用されているとき、参照通路１２８はより長く、光はミラー１３２及びミラー１３４から反射される。眼１５６の網膜領域を測定するために第２の試料通路が第２のビーム１４０と共に利用されるとき、通路長スイッチ１３５が参照通路１２８を短くするために作動され、それは第１の試料通路と第２の試料通路との間の通路長の差に対応する。代替の実施形態では、参照通路１２８（及び通路長スイッチ１３５が作動しているときの短縮参照通路）は、眼１５６の深度走査を提供するために可変であってもよい。代替の実施形態では、通路長スイッチ１３５を有する代わりに、第１のビーム１４８の参照通路と第２のビーム１４０の参照通路との間の通路長の差は、眼の前眼房及び網膜領域の間の深度範囲の相対的オフセット／非オフセットを有するように予め調節されていてもよいし、予め定められていてもよい。

第１のビーム１４８または第２のビーム１４０が第１の試料から反射して戻ると、それらはミラー１２５によって干渉計試料通路１７０に反射される。干渉計試料通路１７０は、矢印１６０で指し示されている。干渉計試料通路内の光は、ミラー１６５によって反射される。ミラー１７２（ここではハーフミラー）で、参照通路１２８及び干渉計試料通路１７０からの光は合成され、平衡光検出器１２０によって受光され、そこから試料の２つの画像を生成することができる。

干渉計１１５から出力された第１のビーム１４８及び第２のビーム１４０は、ビームスプリッタ１３６に到達する。ビームスプリッタ１３６は、第１のビーム１４８を第１の試料通路に、及び第２のビーム１４０を第２の試料通路に分割する。そうするために、ビームスプリッタ１３６は、第１のビーム１４８の波長帯域を反射または透過するが、第２のビーム１４０の波長帯域を反射または透過しない（下記図２の考察を参照）。戻り通路上で、第１のビーム１４８及び第２のビーム１４０が反射または後方散乱されたとき、ビームスプリッタ１３６はコンバイナとして機能する。

したがって、第１のビーム１４８は、続いてミラー１２５、１５０及び１５２への第１の試料通路に反射される。ミラー１５２から反射した後、第１のビーム１４８は、走査ミラー１５４から反射される。走査ミラー１５４は、レンズ１５５の焦点にあるように構成される。走査ミラー１５４はまた、第１のビーム１４８をビームスプリッタ１４５上に方向付けるように構成され、次に第１のビーム１４８をレンズ１５５に反射または透過する 。ビームスプリッタ１４５は、共通の軸１４３上の第１のビーム１４８を第２のビーム１４０と再合成するように構成され、これについては後でさらに考察される。したがって、第１の試料通路は、眼１５６の前眼房を撮像することができるように、第１のビーム１４８を試料に垂直な横方向走査パターンを有する発散ビームとなるようにする。後方散乱及び／または反射された第１のビーム１４８の光は、ビームスプリッタ１３６で第２のビーム１４０と再合成されるまで、同じ第１の試料通路に沿って干渉計に戻ることができる。後方散乱及び／または反射光は、戻り通路上のビームスプリッタ１４５で分割される。

ビームスプリッタ１３６を通過した後、第２のビーム１４０は第２の試料通路を通過する。これは、ミラー１４６から反射され、レンズ１４４の焦点にあるように構成された走査ミラー１４２上に反射されることを含む。この実施形態では、レンズ１４４及びレンズ１５５は、４ｆ構成に構成されている。第２のビーム１４０は、レンズ１４４を通過し、反射されることなくビームスプリッタ１４５を通過する（下記の図２の考察を参照）。このようにして、第１のビーム１４８及び第２のビーム１４０は、各ビームが同じ試料（ここでは、眼１５６）を走査し得るように共通の軸１４３上に合成される。

第２のビーム１４０はまた、第２のビーム１４０が試料の網膜領域を走査するために収束走査パターンを有するコリメートビームであるように、レンズ１５５を通過する。反射または後方散乱された第２のビーム１４０からの光は、ビームスプリッタ１３６で第１のビーム１４８と再合成される第２の試料通路を通って戻る。

図２は、例示的な一実施形態によるＯＣＴシステムにおけるダイクロイックミラーの特性を明示するグラフ２００を描写する。代替の実施形態では、より少ない、追加の、及び／または異なる要素が存在してもよい。グラフ２００は、例示的な一実施形態で使用され得るビームスプリッタの一実施形態に関連する。特に、グラフ２００に記載されたビームスプリッタは、ダイクロイックミラーであってもよく、図１に示されかつ上で考察されるようにビームスプリッタ１３６及び／またはビームスプリッタ１４５として使用されてもよい。

グラフ２００は、透過率に関係する第１の縦軸を有する。換言すれば、透過率が高いほど、より多くの光が反射されることなくビームスプリッタを通過することになる。横軸は、波長である。したがって、ビームスプリッタは、ビームスプリッタに入射する光の波長に応じて透過率が高くなるか低くなる。ここでは、所定のビームスプリッタの特性を線２０５で示す。参考までに、第１の波長帯域２１０及び第２の波長帯域２１５もグラフ２００上に示されている。したがって、第１の波長帯域２１０の光（例えば、およそ１，０６０ナノメートル）は、図１によって明示され、上で考察されるように、ビームスプリッタを大部分透過する。逆に、第２の波長帯域２１５の光（例えば、およそ１，３００ナノメートル）は、図１によって明示され、上で考察されるように、ビームスプリッタによって大部分反射される。述べたように、一実施形態では、図２に示すビームスプリッタ特性は、図１に示すビームスプリッタ１３６及びビームスプリッタ１４５であってもよい。

図３は、例示的な一実施形態による、第１及び第２の光源が同時にかつ交互に変調され、検出される様子を明示するグラフ３００を描写する。代替の実施形態では、より少ない、追加の、及び／または異なる要素が存在してもよい。グラフ３００は、第１の試料ビーム、例えばビーム３０５を示す。グラフ３００はまた、第２の試料ビーム、例えばビーム３１０を示す。グラフ３００の横軸は時間である。したがって、グラフ３００は、図１に明示したようなシステムが、異なる時間に交互に２つの異なる波長（または波長帯域）をターンオンする（または掃引源を作動させる）ように制御され得る方法を明示する。したがって、第１のビーム及び第２のビームは、順番にスイッチオン及びオフされる。

第１の試料の第１のビーム３０５は、後方散乱または反射された信号３１５を生じてもよい。第２のビーム３１０は、後方散乱または反射された信号３２０を生じてもよい。一例として、反射された信号３１５は、図１に関して上で考察されるように、第１の試料通路を介して前眼房を撮像することに対応してもよい。同様に、反射された信号３２０は、図１に関して上で考察されるように、第２の試料通路を介して網膜房を撮像することに対応してもよい。反射された信号３１５及び反射された信号３２０は、両方とも、図１に示される光検出器１２０などの光検出器で受信され得る。このようにして、光検出器と通信する処理システムは、受光器で受信され、処理システムに出力される交互の受信信号３１５及び３２０に基づいて、第１の画像及び第２の画像を生成することができる。例えば、２つの画像は、試料の異なる画像ゾーンまたは深度範囲のものであってもよい。第１及び第２のビームの通路長差が予め調節されているかまたは予め定められており、第１及び第２のビームからの信号が迅速に切り替えられる場合、システムは、一実施形態では、眼１５６の前眼房及び網膜領域の両方の試料の同時及びリアルタイムの画像を生成することができる。

例示的な実施形態の前述の説明は、例示及び説明の目的で提示されたものである。開示された厳密な形態に関して網羅的または限定的であることを意図したものではなく、上記の教示に照らして改変もしくは変形が可能であり、または開示された実施形態の実施から取得され得る。

特定の実施形態が図示され説明されているが、以下の特許請求の範囲に規定されているような広範な態様における技術から逸脱することなく、当業者で変更及び改変を加えることができることを理解されるべきである。

本明細書において例示的に説明された実施形態は、本明細書に具体的に開示されていない要素または複数の要素、制限または複数の制限がなくても好適に実施されてもよい。このように、例えば、「備える」、「含む」、「包含する」などの用語は、広範かつ制限なしに読まれるものとする。加えて、本明細書で使用される用語及び表現は、限定ではなく説明のために使用されており、図示され説明された特徴またはその部分の等価物を排除する用語及び表現の使用として意図されておらず、特許請求される技術の範囲内で様々な改変が可能であることが認識される。さらに、「本質的に〜からなる」という句は、具体的に列挙された要素及び請求される技術の基本的及び新規の特徴に実質的に影響を与えない追加の要素を含むと理解してよい。「からなる」という句は、特定されていない要素を除外する。

本開示は、本出願に記載の特定の実施形態の観点から限定されるものではない。当業者には明らかであるように、その精神及び範囲から逸脱することなく、多くの改変及び変形が可能である。本明細書に列挙したものに加えて、本開示の範囲内の機能的に等価な方法及び組成物は、前述の記載から当業者には明らかであろう。そのような改変及び変形は、添付の特許請求の範囲内に入ることが意図される。 本開示は、添付の特許請求の範囲によって、及びそのような特許請求の範囲が権利を与えられる等価物の全範囲に沿ってのみ限定されるべきである。本開示は、特定の方法、試薬、化合物組成物または生物システムに限定されず、当然のことながら変化し得ることが理解されるべきである。本明細書で使用する用語は、特定の実施形態のみを説明するためのものであり、限定することを意図するものではないことも理解されるべきである。

当業者には理解されるように、任意の及びすべての目的のために、特に書面による説明を提供する観点から、本明細書に開示されるすべての範囲は、その任意の及びすべての可能な部分範囲及び部分範囲の組み合わせをも範囲に含む。列挙された範囲はいずれも、十分に記述しており、同じ範囲を少なくとも半分、三分の一、四分の一、五分の一、十分の一などに分解することを可能にすることを容易に認識することができる。非限定的な例として、本明細書で考察される各範囲は、下３分の１、中３分の１及び上３分の１などに容易に分解することができる。当業者にまた理解されるように、「〜まで」、「少なくとも」、「より大きい」、「より小さい」などのようなすべての言葉づかいは、列挙された数字を含み、上で考察されるように引き続き部分範囲に分解され得る範囲を指す。最後に、当業者には理解されるように、範囲は各個々のメンバーを含む。

本明細書で言及されるすべての刊行物、特許出願、発行された特許、及び他の文献は、各個々の刊行物、特許出願、発行された特許、または他の文書が、その全体が参照により組み込まれるように具体的かつ個別に指し示されたかのように、参照により本明細書に組み込まれる。参照により組み込まれた本文に包含される定義は、本開示における定義と矛盾する限り、除外される。

他の実施形態は、以下の特許請求の範囲に記載されている。

Claims (26)

1. 光コヒーレンストモグラフィー（ＯＣＴ）システムであって、
   第１の波長を有する第１のビームを放射するように構成された第１の光源と、
   第２の波長を有する第２のビームを放射するように構成された第２の光源と、
   干渉計であって、前記第１のビーム及び前記第２のビームは、前記干渉計に方向付けられるように構成され、さらに前記干渉計は、
   参照通路と、
   干渉計試料通路と、を備える、干渉計と、
   前記干渉計試料通路の出力から、
   前記第１のビームを第１の試料通路へ、かつ
   前記第２のビームを第２の試料通路へ、分割するように構成された第１のビームスプリッタと、
   前記第１のビーム及び前記第２のビームを共通の軸に合成するように構成された第２のビームスプリッタと、を備える、光コヒーレンストモグラフィー（ＯＣＴ）システム。
2. 前記第１の光源及び前記第２の光源は、波長掃引源であり、
   前記第１の光源及び前記第２の光源は、交互に掃引されるように構成される、請求項１に記載のＯＣＴシステム。
3. 前記第１のビームスプリッタは、前記第１のビームを反射または透過し、前記第２のビームを反射または透過しないように構成されたダイクロイックミラーを備え、
   前記第２のビームスプリッタは、前記第１のビームを反射または透過し、前記第２のビームを反射または透過しないように構成されたダイクロイックミラーを備える、請求項１に記載のＯＣＴシステム。
4. 前記第１の波長を有する前記第１のビームは、前記第２の波長の前記第２のビームとは異なる試料の画像ゾーンまたは深度範囲を撮像するように構成される、請求項１に記載のＯＣＴシステム。
5. 前記第１のビームは、眼の前眼房を撮像するように構成され、前記第２のビームは、前記眼の網膜を撮像するように構成される、請求項４に記載のＯＣＴシステム。
6. 前記第１の波長は、約１３００ナノメートルの帯域であり、前記第２の波長は、約１０６０ナノメートルの帯域である、請求項５に記載のＯＣＴシステム。
7. 前記第１の試料通路は、発散ビーム及び前記試料に垂直な横方向走査パターンを有し、
   第１のレンズ系と、
   第１の走査ミラーと、を備える、請求項４に記載のＯＣＴシステム。
8. 前記第２の試料通路は、収束走査パターンを有するコリメートビームと、
   第２のレンズ系と、
   第２の走査ミラーと、を有する、請求項７に記載のＯＣＴシステム。
9. 前記第２のレンズ系は、４ｆ構成で構成された第１のレンズ及び第２のレンズを備え、
   前記第１のレンズ系は、前記第２のレンズを備える、請求項８に記載のＯＣＴシステム。
10. 前記第１のビームは、前記第２のビームスプリッタを通して前記第２のレンズの焦点に位置付けられた前記第１の走査ミラーを通して前記第２のレンズに導入される、請求項９に記載のＯＣＴシステム。
11. 前記第１の試料通路と前記第２の試料通路との間の通路長差は、ほぼ人間の眼の軸方向長さに同等の光路長である、請求項１に記載のＯＣＴシステム。
12. 前記干渉計は、第１の参照長と第２の参照長との間の参照通路長を交互に変えるように構成された参照通路長スイッチを備え、
    前記第１の参照長は、第１の試料通路長に対応し、
    前記第２の参照長は、第２の試料通路長に対応する、請求項１に記載のＯＣＴシステム。
13. 光検出器及び処理ユニットであって、
    前記光検出器を通して、試料から反射された前記第１のビーム及び前記第２のビームを受容するように、かつ
    前記第１のビーム及び前記第２のビームに基づいて、前記試料の第１の画像及び第２の画像を生成するように構成された、光検出器及び処理ユニットをさらに備える、請求項１に記載のＯＣＴシステム。
14. 方法であって、
    第１の光源によって、第１の波長を有する第１のビームを放射することと、
    第２の光源によって、第２の波長を有する第２のビームを放射することと、
    前記第１のビーム及び前記第２のビームを干渉計に方向付けることであって、前記干渉計は、
    参照通路と、
    干渉計試料通路と、を備え、分割することと、
    第１のビームスプリッタによって、干渉計試料通路の出力から、
    前記第１のビームを第１の試料通路に、かつ
    前記第２のビームを第２の試料通路に、分割することと、
    第２のビームスプリッタによって、前記第１のビーム及び前記第２のビームを共通の軸に合成することと、を含む、方法。
15. 前記第１の光源及び前記第２の光源は、波長掃引源であり、前記方法は、前記第１の光源及び前記第２の光源を交互に掃引することをさらに含む、請求項１４に記載の方法。
16. 前記第１のビームスプリッタは、前記第１のビームを反射または透過し、前記第２のビームを反射または透過しないように構成されたダイクロイックミラーを備え、
    前記第２のビームスプリッタは、前記第１のビームを反射または透過し、前記第２のビームを反射または透過しないように構成されたダイクロイックミラーを備える、請求項１４に記載の方法。
17. 光検出器の出力から、前記第１の波長を有する前記第１のビームを有する試料の第１の画像ゾーンまたは深度範囲を撮像することと、
    前記光検出器の出力から、前記第２の波長を有する前記第２のビームを有する試料の第２の画像ゾーンまたは深度範囲を撮像することと、をさらに含む、請求項１４に記載の方法。
18. 前記試料の前記第１の画像ゾーンまたは深度範囲は、眼の前眼房であり、前記試料の前記第２の画像ゾーンまたは深度範囲は、眼の網膜である、請求項１７に記載の方法。
19. 前記第１の波長は、約１３００ナノメートルの帯域であり、前記第２波長は、約１０６０ナノメートルの帯域である、請求項１８に記載の方法。
20. 前記第１の試料通路は、発散ビーム及び前記試料に垂直な横方向走査パターンを有し、
    第１のレンズ系と、
    第１の走査ミラーと、を備える、請求項１７に記載の方法。
21. 前記第２の試料通路は、収束走査パターンを有するコリメートビームと、
    第２のレンズ系と、
    第２の走査ミラーと、を有する、請求項２０に記載の方法。
22. 前記第２レンズ系は、４ｆ構成で構成された第１のレンズ及び第２のレンズを備え、かつ
    前記第１のレンズ系は、前記第２のレンズを備える、請求項２１に記載の方法。
23. 前記第２のビームスプリッタを通して、前記第２のレンズの焦点に位置付けられた前記第１の走査ミラーを通して前記第２のレンズに前記第１のビームを導入することをさらに含む、請求項２２に記載の方法。
24. 前記第１の試料通路と前記第２の試料通路との間の通路長差は、ほぼ人間の眼の軸方向長さに同等の光路長である、請求項１４に記載の方法。
25. 前記干渉計の参照通路長スイッチで、第１の参照長と第２の参照長との間で参照通路長を交互に変えることをさらに含み、
    前記第１の参照長は、第１の試料通路長に対応し、
    前記第２の参照長は、第２の試料通路長に対応する、請求項１４に記載の方法。
26. 処理ユニットによって、試料から反射された前記第１のビーム及び前記第２のビームを光検出器を通して受容することと、
    前記処理ユニットによって、前記第１のビーム及び前記第２のビームに基づいて前記試料の第１の画像及び第２の画像を生成することと、をさらに含む、請求項１４に記載の方法。