JP2018199841A - 酸化物ターゲット材 - Google Patents
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Abstract
【課題】 閾値電圧の不安定性を抑制した、高精細のディスプレイなどを駆動するTFTのチャネル層を構成するZTO薄膜を形成するための酸化物ターゲット材を提供する。【解決手段】 金属成分全体に対して、Snを20原子%〜50原子%含有し、残部がZnおよび不可避的不純物からなり、L*a*b*表色系におけるa*が−2.5以下、b*が−0.3以下であり、a*は−3.0以上、b*は−0.8以上であることが好ましく、金属成分全体に対して、Al、Si、Ga、MoおよびWのうち1種以上を合計で0.005原子%〜4.000原子%含有することもできる。【選択図】 図1
Description
本発明は、例えば、大型液晶ディスプレイや有機ELディスプレイなどを駆動する薄膜トランジスタの酸化物半導体層を形成するために使用される酸化物ターゲット材に関するものである。
従来、薄膜トランジスタ(以下、「TFT」という。)で駆動する方式の液晶ディスプレイや有機ELディスプレイなどの表示装置では、TFTのチャネル層に非晶質シリコン膜や結晶質シリコン膜を採用したものが主流である。そして、ディスプレイの高精細化の要求に伴い、TFTのチャネル層に使用される材料として酸化物半導体が注目されている。例えば、In(インジウム)とGa(ガリウム)とZn(亜鉛)とO(酸素)とを含む酸化物半導体膜(以下、「I−G−Z−O薄膜」という。)は、優れたTFT特性を有するとして実用化が開始されている。このI−G−Z−Oの薄膜に含まれるInやGaは、日本ではレアメタル備蓄対象鋼種に指定される希少かつ高価な金属である。
そこで、上記I−G−Z−O薄膜に含まれるInやGaを含有しない酸化物半導体膜として、Zn−Sn−O系酸化物半導体膜(以下、「ZTO薄膜」という。)が注目されつつある。そして、このZTO薄膜は、ターゲットを用いたスパッタリング法によって成膜される。このスパッタリング法とは、イオンや原子またはクラスターをターゲット表面に衝突させて、その物質の表面を削る(あるいは飛ばす)ことにより、その物質を構成する成分を基板などの表面上に堆積させて成膜する方法である。
ここで、ZTO薄膜は、酸素を含有する薄膜であるため、スパッタリング法においては酸素を含有した雰囲気で成膜するいわゆる反応性スパッタリング法が用いられている。この反応性スパッタリング法とは、アルゴンガスと酸素ガスで構成される混合ガスの雰囲気下でスパッタリングする方法で、イオンや原子またはクラスターを酸素と反応させながらスパッタリングすることで、酸化物系の薄膜を形成するという手法である。
そして、この反応性スパッタリング法に用いるターゲット材は、上記ZTO薄膜の成分組成に近似した成分組成を有するZTO系酸化物焼結体からなるターゲット材が用いられる。このようなターゲット材は、生産性の観点から直流スパッタリング法により成膜され、成膜速度を向上させるために、高電力で使用されることが要求される。特許文献1では、アーキングの原因となる酸化スズ(SnO2)の結晶相を組織中に含有させないことで、高電力スパッタにおいてもアーキングの発生を抑制し、成膜速度が向上できるターゲット材用の焼結体が提案されている。
本発明者の検討によると、上述した特許文献1で開示されるSnO2の結晶相が抑制された焼結体をターゲット材としてスパッタリング法でZTO薄膜を成膜し、TFTを形成して、そのTFTが光照射下負バイアス印加状態(Negative Bias under Illumination Stress 以下、NBIS:という。)に曝されると、閾値電圧がマイナス方向にシフトするという不安定性を示す場合があることを確認した。
そして、この閾値電圧の不安定性の問題が発生すると、高精細ディスプレイ用の駆動素子を得ることが困難になるという問題が生じる。
そして、この閾値電圧の不安定性の問題が発生すると、高精細ディスプレイ用の駆動素子を得ることが困難になるという問題が生じる。
本発明の目的は、閾値電圧の不安定性を抑制した、高精細ディスプレイなどを駆動するTFTのチャネル層を構成するZTO薄膜を形成するための酸化物ターゲット材を提供することである。
本発明者は、上記の課題を検討した結果、酸化物ターゲット材の色度を一定の範囲内にすることで、上記の閾値電圧の不安定性を抑制できることを見出し、本発明に到達した。
すなわち、本発明の酸化物ターゲット材は、金属成分全体に対して、Snを20原子%〜50原子%含有し、残部がZnおよび不可避的不純物からなり、L*a*b*表色系におけるa*が−2.5以下、b*が−0.3以下である。
本発明の酸化物ターゲット材は、a*が−3.0以上、b*が−0.8以上であることが好ましい。
また、本発明の酸化物ターゲット材は、金属成分全体に対して、Al、Si、Ga、MoおよびWのうち1種以上を合計で0.005原子%〜4.000原子%含有することが好ましい。
また、本発明の酸化物ターゲット材は、金属成分全体に対して、Al、Si、Ga、MoおよびWのうち1種以上を合計で0.005原子%〜4.000原子%含有することが好ましい。
本発明の酸化物ターゲット材によれば、閾値電圧の不安定性を抑制したZTO薄膜を得ることができる。この閾値電圧の不安定性を抑制することにより、高精細の大型液晶ディスプレイや有機ELディスプレイなどの製造工程におけるTFTのチャネル層の形成に有用な技術となる。
本発明の酸化物ターゲット材は、L*a*b*表色系におけるa*が−2.5以下、b*が−0.3以下であることに特徴を有する。これにより、本発明の酸化物ターゲット材で得られるZTO薄膜は、TFTにおける閾値電圧の不安定性を抑制することができる。より閾値電圧の安定性を得るためには、a*は−3.0以上、b*は−0.8以上であることが好ましい。
ここで、本発明でいうa*およびb*は、JIS Z8781−4:2013で規定される色度a*b*で表わされ、酸化物ターゲット材のスパッタ面の任意の視野において、例えば、コニカミノルタ株式会社製の分光測色計(CM2500d)を用いて測定することができる。
ここで、本発明でいうa*およびb*は、JIS Z8781−4:2013で規定される色度a*b*で表わされ、酸化物ターゲット材のスパッタ面の任意の視野において、例えば、コニカミノルタ株式会社製の分光測色計(CM2500d)を用いて測定することができる。
本発明の酸化物ターゲット材は、金属成分全体に対して、Snを20原子%〜50原子%含有し、残部がZnおよび不可避的不純物からなる組成を有する。
そして、本発明の酸化物ターゲット材は、Sn量を20原子%以上とすることにより、Zn量の比率即ちZnOを減らし、ZnOが蒸発することにより発生する空孔を抑制し、b*を上記の範囲にすることができる。一方、本発明の酸化物ターゲット材は、Sn量を50原子%以下とすることにより、SnO2が過剰となることを抑制し、a*を上記の範囲にすることができる。尚、上記と同様の理由から、Sn量は、25原子%以上が好ましく、30原子%以上がより好ましい。また、Sn量は、40原子%以下が好ましく、35原子%以下がより好ましい。
また、本発明の酸化物ターゲット材は、Zn量を50原子%以上とすることにより、Snの比率即ちSnO2を減らし、SnO2が過剰となることを抑制し、a*を上記の範囲にすることができる。一方、Zn量を80原子%以下とすることにより、蒸気圧の高いZnOが蒸発することにより発生する空孔を抑制し、b*を上記の範囲にすることができる。尚、上記と同様の理由から、Zn量は、60原子%以上が好ましく、65原子%以上がより好ましい。また、Zn量は、75原子%以下が好ましく、70原子%以下がより好ましい。
また、本発明の酸化物ターゲット材は、金属成分全体に対して、Al、Si、Ga、MoおよびWのうち1種以上を合計で0.005原子%〜4.000原子%含有することが好ましい。
これら元素のうち、Al、Ga、Mo、Wは、キャリアの移動度の制御や光劣化を防止するのに有用な元素である。また、Siは、焼結性の向上に有用な元素である。
そして、本発明の酸化物ターゲット材は、Sn量を20原子%以上とすることにより、Zn量の比率即ちZnOを減らし、ZnOが蒸発することにより発生する空孔を抑制し、b*を上記の範囲にすることができる。一方、本発明の酸化物ターゲット材は、Sn量を50原子%以下とすることにより、SnO2が過剰となることを抑制し、a*を上記の範囲にすることができる。尚、上記と同様の理由から、Sn量は、25原子%以上が好ましく、30原子%以上がより好ましい。また、Sn量は、40原子%以下が好ましく、35原子%以下がより好ましい。
また、本発明の酸化物ターゲット材は、Zn量を50原子%以上とすることにより、Snの比率即ちSnO2を減らし、SnO2が過剰となることを抑制し、a*を上記の範囲にすることができる。一方、Zn量を80原子%以下とすることにより、蒸気圧の高いZnOが蒸発することにより発生する空孔を抑制し、b*を上記の範囲にすることができる。尚、上記と同様の理由から、Zn量は、60原子%以上が好ましく、65原子%以上がより好ましい。また、Zn量は、75原子%以下が好ましく、70原子%以下がより好ましい。
また、本発明の酸化物ターゲット材は、金属成分全体に対して、Al、Si、Ga、MoおよびWのうち1種以上を合計で0.005原子%〜4.000原子%含有することが好ましい。
これら元素のうち、Al、Ga、Mo、Wは、キャリアの移動度の制御や光劣化を防止するのに有用な元素である。また、Siは、焼結性の向上に有用な元素である。
以下に、本発明の酸化物ターゲット材の製造方法の例を説明する。本発明の酸化物ターゲット材は、例えば、ZnO粉末とSnO2粉末を純水、分散剤と混合してスラリーとし、このスラリーを乾燥させた後、造粒粉を作製し、その造粒粉を仮焼してZn2SnO4とZnOからなる仮焼粉末を作製する。そして、その仮焼粉末を湿式解砕した後、鋳込み成形により成形体を作製し、脱脂を経て、大気雰囲気で焼成することで得ることができる。
上記の仮焼粉末を作製するための造粒粉の仮焼温度は、1000℃〜1200℃に設定することが好ましい。仮焼温度を1000℃以上にすることで、ZnO粉末とSnO2粉末の反応を十分に進行させることができる。一方、仮焼温度を1200℃以下にすることで、ZnO粉末とSnO2粉末の過度な反応が抑制できるとともに、適度な粉末粒径を維持することができ、これにより緻密な酸化物ターゲット材を得ることができる。
上記の仮焼粉末を作製するための造粒粉の仮焼温度は、1000℃〜1200℃に設定することが好ましい。仮焼温度を1000℃以上にすることで、ZnO粉末とSnO2粉末の反応を十分に進行させることができる。一方、仮焼温度を1200℃以下にすることで、ZnO粉末とSnO2粉末の過度な反応が抑制できるとともに、適度な粉末粒径を維持することができ、これにより緻密な酸化物ターゲット材を得ることができる。
大気雰囲気における焼成温度は、1300℃〜1450℃に設定することが好ましい。焼成温度を1300℃以上にすることで、焼結を促進させることができ、緻密な酸化物ターゲット材を得ることができる。一方、焼成温度を1450℃以下にすることで、ZnOが蒸発することにより発生する空孔を抑制し、b*を上記の範囲にすることができる。そして、本発明では、上記と同様の理由から、焼成温度は1350℃〜1400℃の範囲にすることがより好ましい。
焼成温度での保持時間は、長くするほど、焼成による緻密化が進む反面、15時間を超えると、SnO2が過剰となることが助長され、a*を上記の範囲にすることが困難になる。このため、本発明の酸化物ターゲット材を得るためには、焼成温度での保持時間を15時間以下にすることが好ましい。そして、本発明では、上記と同様の理由から、保持時間は4時間〜10時間の範囲にすることがより好ましい。
また、本発明の酸化物ターゲット材は、上記と同様な方法で得られた仮焼粉末を解砕、造粒、脱脂して造粒粉を作製し、この造粒粉を加圧焼結することで得ることもできる。加圧焼結する手段としては、ホットプレス、熱間静水圧プレスなどの方法を適用することができる。
加圧焼結における焼結温度は、900℃〜1100℃に設定することが好ましい。焼結温度を900℃以上にすることで、焼結を促進させることができ、緻密な酸化物ターゲット材を得ることができる。一方、焼結温度を1100℃以下にすることで、SnO2の粒成長を抑制することができ、a*を上記の範囲にすることができる。
加圧焼結の加圧力は、10MPa〜30MPaに設定することが好ましい。加圧力を10MPa以上とすることで、緻密な酸化物ターゲット材を得ることができる。一方、加圧力を30MPa以下にすることで、加圧焼結用部材の割れや、得られる酸化物ターゲット材の割れを防止することができる。
加圧焼結の焼結時間は、3時間〜15時間に設定することが好ましい。焼結時間を3時間以上にすることで、焼結を十分に進行させることができ、緻密な酸化物ターゲット材を得ることができる。一方、焼結時間を15時間以下にすることで、製造効率の低下を抑制できる。
そして、本発明の酸化物ターゲット材は、L*a*b*表色系におけるa*が−2.5以下、b*が−0.3以下になるように、酸化物ターゲット材の表面を研磨して得ることができる。
加圧焼結における焼結温度は、900℃〜1100℃に設定することが好ましい。焼結温度を900℃以上にすることで、焼結を促進させることができ、緻密な酸化物ターゲット材を得ることができる。一方、焼結温度を1100℃以下にすることで、SnO2の粒成長を抑制することができ、a*を上記の範囲にすることができる。
加圧焼結の加圧力は、10MPa〜30MPaに設定することが好ましい。加圧力を10MPa以上とすることで、緻密な酸化物ターゲット材を得ることができる。一方、加圧力を30MPa以下にすることで、加圧焼結用部材の割れや、得られる酸化物ターゲット材の割れを防止することができる。
加圧焼結の焼結時間は、3時間〜15時間に設定することが好ましい。焼結時間を3時間以上にすることで、焼結を十分に進行させることができ、緻密な酸化物ターゲット材を得ることができる。一方、焼結時間を15時間以下にすることで、製造効率の低下を抑制できる。
そして、本発明の酸化物ターゲット材は、L*a*b*表色系におけるa*が−2.5以下、b*が−0.3以下になるように、酸化物ターゲット材の表面を研磨して得ることができる。
先ず、金属成分全体に対してSnが30原子%、残部がZnおよび不可避的不純物となるように、平均粒径(累積粒度分布のD50)が0.70μmのZnO粉末と、平均粒径(累積粒度分布のD50)が1.85μmのSnO2粉末を秤量して、所定量の純水と分散剤の入った撹拌容器内に投入後、混合してスラリーを得た。このスラリーを乾燥、造粒させた後、1090℃で仮焼成し、仮焼粉末を得た。仮焼粉末は、湿式解砕により平均粒径(累積粒度分布のD50)が1μmになるように粒度調整した。
仮焼粉末を湿式解砕した後、鋳込み成形により、厚さ10mm×直径125mmの成形体を3枚得た。
仮焼粉末を湿式解砕した後、鋳込み成形により、厚さ10mm×直径125mmの成形体を3枚得た。
次に、得られた成形体の内1枚を、1400℃、10時間、大気雰囲気で焼成し、次いで、1400℃、4時間、窒素雰囲気で常圧の還元熱処理を行ない、酸化物焼結体を得た。そして、この焼結体に機械加工をして、厚さ5mm×直径50mmとし、エロージョン面となる酸化物ターゲット材の表面を、L*a*b*表色系におけるa*が−2.5以下、b*が−0.3以下となるように研磨して、本発明例1となる酸化物ターゲット材を得た。
また、得られた成形体の内1枚を、1400℃、10時間、大気雰囲気で焼成し、次いで、1400℃、4時間、窒素雰囲気で常圧の還元熱処理を行ない、酸化物焼結体を得た。そして、この焼結体に機械加工をして、厚さ5mm×直径50mmとし、エロージョン面となる酸化物ターゲット材の表面を、L*a*b*表色系におけるa*が−2.5以下、b*が−0.3以下となるように研磨して、本発明例2となる酸化物ターゲット材を得た。
また、得られた成形体の内1枚を、1400℃、10時間、大気雰囲気で焼成し、次いで、1400℃、4時間、窒素雰囲気で常圧の還元熱処理を行ない、酸化物焼結体を得た。そして、この焼結体に機械加工をして、厚さ5mm×直径50mmとし、エロージョン面となる酸化物ターゲット材の表面を、L*a*b*表色系におけるa*およびb*が本発明の範囲外となるように研磨して、比較例となる酸化物ターゲット材を得た。
上記で得た各酸化物ターゲット材のエロージョン面となる面の任意の位置で、コニカミノルタ株式会社製の分光測色計(CM2500d)を用いて、色度a*およびb*を測定した。その結果を表1に示す。
表1の結果から、本発明の酸化物ターゲット材は、a*が−2.5以下、b*が−0.3以下であることが確認できた。一方、比較例の酸化物ターゲット材は、本発明の範囲外であった。
表1の結果から、本発明の酸化物ターゲット材は、a*が−2.5以下、b*が−0.3以下であることが確認できた。一方、比較例の酸化物ターゲット材は、本発明の範囲外であった。
次に、ZTO薄膜によるTFT特性への影響を確認するために、図1に示す簡易TFTを作製して評価を実施した。
先ず、ガラス基板1上に、ゲート電極2となるMoの金属薄膜を形成した。その後、ホトレジストでゲートパターンのマスクを形成した。このマスクを介してエッチング加工し、厚さ70nmのゲート電極2を形成した。その後、ゲート絶縁膜3となるSiO2膜を全面に100nmの厚さで形成した。そして、上記で作製した各酸化物ターゲットを用いてスパッタリングにより、厚さ30nmのチャネル層4を形成した。
次に、チャネル層4の上に、後にチャネルパターンとなるホトレジスト層を形成した。ここで、チャネル領域を加工するために、ホトレジスト層にチャネルパターンを描画、露光、現像してマスクを形成した。そして、このマスクを用いてエッチング加工し、チャネル領域を形成した。
さらに、ソース電極5およびドレイン電極6となるMoの金属薄膜を厚さ140nmで形成し、ホトレジストをマスクとしてエッチング加工し、ソース電極5およびドレイン電極6を形成した。そして、保護膜で被覆し、簡易TFTを作製した。
先ず、ガラス基板1上に、ゲート電極2となるMoの金属薄膜を形成した。その後、ホトレジストでゲートパターンのマスクを形成した。このマスクを介してエッチング加工し、厚さ70nmのゲート電極2を形成した。その後、ゲート絶縁膜3となるSiO2膜を全面に100nmの厚さで形成した。そして、上記で作製した各酸化物ターゲットを用いてスパッタリングにより、厚さ30nmのチャネル層4を形成した。
次に、チャネル層4の上に、後にチャネルパターンとなるホトレジスト層を形成した。ここで、チャネル領域を加工するために、ホトレジスト層にチャネルパターンを描画、露光、現像してマスクを形成した。そして、このマスクを用いてエッチング加工し、チャネル領域を形成した。
さらに、ソース電極5およびドレイン電極6となるMoの金属薄膜を厚さ140nmで形成し、ホトレジストをマスクとしてエッチング加工し、ソース電極5およびドレイン電極6を形成した。そして、保護膜で被覆し、簡易TFTを作製した。
上記で作製した各簡易TFTを用いて、NBISによる信頼性評価を行なった。室温(25℃)で、0〜1000秒のNBIS(ゲート電圧Vg=−15V、ドレイン電圧Vd=0V、照度=1000lx)を与え、1000秒経過後の閾値電圧(Vth)を試験前と比較して、その差分をΔVthとして算出した。その結果を表2に示す。
その結果、本発明の酸化物ターゲット材でZTO薄膜を形成した簡易TFTは、ΔVthが−10.0V未満であり、安定性が確保されたTFTであることが確認できた。
一方、比較例の酸化物ターゲット材でZTO薄膜を形成した簡易TFTは、ΔVthが−10.0Vを超えており、TFTとして不適であった。
その結果、本発明の酸化物ターゲット材でZTO薄膜を形成した簡易TFTは、ΔVthが−10.0V未満であり、安定性が確保されたTFTであることが確認できた。
一方、比較例の酸化物ターゲット材でZTO薄膜を形成した簡易TFTは、ΔVthが−10.0Vを超えており、TFTとして不適であった。
1.ガラス基板
2.ゲート電極
3.ゲート絶縁膜
4.チャネル層
5.ソース電極
6.ドレイン電極
2.ゲート電極
3.ゲート絶縁膜
4.チャネル層
5.ソース電極
6.ドレイン電極
Claims (3)
- 金属成分全体に対して、Snを20原子%〜50原子%含有し、残部がZnおよび不可避的不純物からなり、L*a*b*表色系におけるa*が−2.5以下、b*が−0.3以下であることを特徴とする酸化物ターゲット材。
- a*が−3.0以上、b*が−0.8以上であることを特徴とする請求項1に記載の酸化物ターゲット材。
- 金属成分全体に対して、Al、Si、Ga、MoおよびWのうち1種以上を合計で0.005原子%〜4.000原子%含有することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の酸化物ターゲット材。
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