JP2018197678A - 距離測定装置 - Google Patents

距離測定装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2018197678A
JP2018197678A JP2017101962A JP2017101962A JP2018197678A JP 2018197678 A JP2018197678 A JP 2018197678A JP 2017101962 A JP2017101962 A JP 2017101962A JP 2017101962 A JP2017101962 A JP 2017101962A JP 2018197678 A JP2018197678 A JP 2018197678A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
angle
distance measuring
pitch
measuring device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2017101962A
Other languages
English (en)
Other versions
JP7024212B2 (ja
Inventor
古山 将樹
Masaki Furuyama
将樹 古山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toppan Inc
Original Assignee
Ortus Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ortus Technology Co Ltd filed Critical Ortus Technology Co Ltd
Priority to JP2017101962A priority Critical patent/JP7024212B2/ja
Publication of JP2018197678A publication Critical patent/JP2018197678A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7024212B2 publication Critical patent/JP7024212B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Liquid Crystal (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)

Abstract

【課題】 受信強度を向上させることが可能な距離測定装置を提供する。【解決手段】 距離測定装置は、レーザ光を発光する発光素子12と、複数の第1フェーズシフタを有し、発光素子12により発光されたレーザ光を屈折させる第1偏向素子13と、複数の第2フェーズシフタを有し、対象物により反射されたレーザ光を屈折させる第2偏向素子15と、第2偏向素子15を透過したレーザ光を検知する受光素子16とを含む。第1フェーズシフタの第1ピッチは、第2フェーズシフタの第2ピッチと異なる。【選択図】 図4

Description

本発明は、レーザ光を走査することによって物体の位置を測定する距離測定装置に関する。
LIDAR(Light Detection and Ranging)と呼ばれる距離測定装置が知られている。LIDARは、光学的に周囲の物体との距離を測定するセンサである。LIDARは、対象物にパルス状のレーザ光を照射し、対象物で反射されたレーザ光が戻るまでの往復時間から距離を計測する。最近では、LIDARは、先進運転支援システム(ADAS:Advanced Driving Assistant System)や自動運転に使われている。
LIDARには、同軸光学系方式、分離光学系方式、及びCCD/CMOSイメージセンサ方式などがある。
同軸光学系方式に使われるポリゴンミラー(特許文献1)や、MEMSミラー(特許文献2)は、可動部が存在するため、車両の振動により、長期信頼性に懸念がある。また、ポリゴンミラーやMEMSミラーが光学部品であるため、コストが高くなってしまう。
分離光学系方式では、電気的に位相を変えることにより、光の出射角を変える方式が提案されている(特許文献3、特許文献4)。この構成は、可動部がなく、より安価に製造できる可能性があるが、測定距離に懸念がある。測定距離が短くなる要因として、フォトダイオードに入射する光のうち、信号であるレーザ光に対し、太陽光などの外乱光の強度が強くなってしまう、つまり、SN比(signal-to-noise ratio)の低下が挙げられる。SN比が低下すると、精度よく信号を受信及び検知することができない。
特開2010−38859号公報 特開2009−216789号公報 国際公開2014/110017号 国際公開2016/022220号
本発明は、受信強度を向上させることが可能な距離測定装置を提供する。
本発明の一態様に係る距離測定装置は、レーザ光を発光する発光素子と、複数の第1フェーズシフタを有し、前記発光素子により発光されたレーザ光を屈折させる第1偏向素子と、複数の第2フェーズシフタを有し、対象物により反射されたレーザ光を屈折させる第2偏向素子と、前記第2偏向素子を透過したレーザ光を検知する受光素子とを具備する。前記第1フェーズシフタの第1ピッチは、前記第2フェーズシフタの第2ピッチと異なる。
本発明によれば、受信強度を向上させることが可能な距離測定装置を提供することができる。
本発明に係る投光部の構成を説明する概略図。 比較例に係る受光部の構成を説明する概略図。 本発明に係る受光部の構成を説明する概略図。 本発明の実施形態に係る距離測定装置のブロック図。 実施形態に係る投光部の構成を示す模式的な断面図。 走査素子の平面図。 図6のA−A´線に沿った走査素子の断面図。 走査素子の他の構成例を説明する断面図。 実施形態に係る受光部の構成を示す模式的な断面図。 角度制限素子の平面図。 図10のB−B´線に沿った角度制限素子の断面図。 距離測定装置の基本動作を説明する概略図。 距離測定装置によるレーザ光の波形を説明する図。 距離測定装置の動作を説明するフローチャート。 走査素子の動作を説明する模式図。 実施例に係る投光部の構成を示す模式図。 実施例に係る受光部の構成を示す模式図。
以下、実施形態について図面を参照して説明する。ただし、図面は模式的または概念的なものであり、各図面の寸法および比率等は必ずしも現実のものと同一とは限らない。また、図面の相互間で同じ部分を表す場合においても、互いの寸法の関係や比率が異なって表される場合もある。特に、以下に示す幾つかの実施形態は、本発明の技術思想を具体化するための装置および方法を例示したものであって、構成部品の形状、構造、配置等によって、本発明の技術思想が特定されるものではない。なお、以下の説明において、同一の機能及び構成を有する要素については同一符号を付し、重複説明は必要な場合にのみ行う。
[1] 本発明の概要
まず、本発明の概要について説明する。
本発明は、距離測定装置に関する。距離測定装置は、LIDAR(Light Detection and Ranging)とも呼ばれる。LIDARは、レーザ光を用いて例えば車両前方のある範囲を走査し、この走査範囲に存在する対象物によって反射されたレーザ光を検出する。そして、LIDARは、投光したレーザ光と受光したレーザ光とを用いて、対象物の検出、及び車両から対象物までの距離を測定する。
図1は、本発明に係る投光部11の構成を説明する概略図である。投光部11は、レーザ光を投光する機能を有する。投光部11は、発光素子(LD)12、及び偏向素子13を備える。
偏向素子13は、光フェーズドアレイから構成される。光フェーズドアレイは、光の位相を変える複数のフェーズシフタPS1を備える。図1の偏向素子13に示した階段状の複数の四角形は、複数のフェーズシフタPS1を模式的に示している。複数のフェーズシフタPS1は、配列ピッチd1ごとに配列される。フェーズシフタPS1を表す四角形の長さは、屈折率の大きさを表しており、四角形の縦方向の長さが長いほど屈折率が大きい。
偏向素子13は、配列ピッチd1ごとに屈折率を変化させることが可能である。図1の例では、偏向素子13は、右側に向かって順に屈折率が低くなる屈折率分布(屈折率の勾配)を有する。発光素子LDから発光されたレーザ光は、偏向素子13によって屈折され、所望の出射角で偏向素子13から出射される。
偏向素子13は、規則的に配列されたフェーズシフタPS1を備えているため、偏向素子13を透過する光には、回折が起こる。すなわち、偏向素子13は、0次光、+1次光、−1次光などの回折光を出射する。0次光は、投光部11が発光する所望のレーザ光である。+1次光、−1次光などは、走査動作に不要な回折光である。
図2は、比較例に係る受光部14の構成を説明する概略図である。受光部14は、投光部11が投光したレーザ光が対象物によって反射されたレーザ光(反射光)を受光する機能を有する。受光部14は、偏向素子15´、及び受光素子(PD)16を備える。
受光部14の偏向素子15´は、投光部11の偏向素子13と同じ構成を有する。偏向素子15´における屈折率の勾配は、偏向素子13における屈折率の勾配と同じに設定される。これにより、投光部11の出射角と受光部14の入射角とを同じにできるので、受光素子16に入射する信号強度を大きくすることができる。
比較例では、投光部11の偏向素子13における配列ピッチd1と、受光部14の偏向素子15における配列ピッチd1とを同じにしている。受光部14と投光部11とで配列ピッチを同じにした場合、0次光以外に、+1次光、−1次光などの回折光が対象物以外の意図しない物体で反射した反射光も受光素子PDに入射する。これにより、受光素子PDに入射する光のうち必要な信号の強度の割合が低下し、SN比が低下してしまう。
そこで、本発明では、受光部の偏向素子における配列ピッチが、投光部の偏向素子における配列ピッチと異なるように設定する。
図3は、本発明に係る受光部14の構成を説明する概略図である。偏向素子15は、光フェーズドアレイから構成される。光フェーズドアレイは、複数のフェーズシフタPS2を備える。偏向素子15は、配列ピッチd2を有する。受光側の配列ピッチd2は、投光側の配列ピッチd1と異なる。すなわち、“d1≠d2”の関係を有する。また、受光部14の偏向素子15における屈折率の勾配は、投光部11の偏向素子13における屈折率の勾配と同じに設定される。
これにより、0次光以外に、+1次光、−1次光などの回折光が対象物以外の意図しない物体で反射した反射光は、受光素子16に入射されない。よって、ノイズとなる不要な光を削減できるので、SN比を向上させることができる。
本発明では、投光部及び受光部のそれぞれに光フェーズドアレイを用い、互いの屈折率の勾配を同一とした上で、フェーズシフタの配列ピッチに異なる周期性を持たせる。そして、投光される主信号成分を効果的に取り込みつつ、ノイズとなる回折光が受光されるのを抑制する。
[2] 距離測定装置の構成
[2−1] 距離測定装置のブロック構成
図4は、本発明の実施形態に係る距離測定装置10のブロック図である。
距離測定装置10は、車両の前側(例えば、フロントバンパー、又はフロントグリル)、車両の後ろ側(例えば、リアバンパー、又はリアグリル)、及び/又は、車両の側方(例えば、フロントバンパーの側方)に配置される。また、距離測定装置10は、ルーフやボンネット等、車両の上部に配置されてもよい。
距離測定装置10は、投光部11、受光部14、パルスタイミング制御部17、距離演算部18、及び主制御部19を備える。
投光部11は、レーザ光を発光するとともに、このレーザ光を走査(ステアリングともいう)する。投光部11は、発光素子12、及び走査素子(偏向素子)13を備える。
発光素子12は、走査素子13に向けて、レーザ光を発光する。発光素子12は、レーザーダイオードなどで構成される。レーザ光としては、例えば、赤外線レーザ光(例えば波長λ=905nm)が用いられる。また、発光素子12は、所定の周波数を有するパルス信号としてレーザ光を発生する。
走査素子13は、発光素子12から出射されたレーザ光を受け、このレーザ光を透過する。また、走査素子13は、発光素子12からのレーザ光の出射角を制御することで、レーザ光を走査する。
受光部14は、対象物2によって反射されたレーザ光を検出する。この際、受光部14は、特定の方向から入射するレーザ光に制限して、レーザ光の検知動作を行う。受光部14は、角度制限素子(偏向素子)15、及び受光素子16を備える。
角度制限素子15は、対象物2によって反射されたレーザ光を受け、このレーザ光を透過する。この際、角度制限素子15は、レーザ光を所定の角度で屈折させる。換言すると、角度制限素子15は、所定の角度で入射したレーザ光のみを受光素子16に向けて屈折させる。
受光素子16は、角度制限素子15を透過したレーザ光を検出する。受光素子16は、例えば赤外線センサから構成される。赤外線センサは、フォトダイオードやCMOS(complementary metal oxide semiconductor)フォトセンサを含む。その他、受光素子16として赤外線カメラを用いてもよい。
パルスタイミング制御部17は、発光素子12の動作を制御する。発光素子12は、パルス信号としてレーザ光(すなわち、パルス状のレーザ光)を発光する。パルスタイミング制御部17は、レーザ光に含まれるパルスのタイミングを制御する。パルスのタイミングには、パルス信号の周期、パルス信号の周波数、及びパルス幅が含まれる。
距離演算部18は、送信されたレーザ光のタイミング情報をパルスタイミング制御部17から受け、レーザ光の出射角の情報を主制御部19から受け、受信されたレーザ光のタイミング情報及び光強度の情報を受光素子16から受ける。距離演算部18は、これらの情報を用いて、車両から対象物までの距離を算出する。具体的には、距離演算部18は、出射角及び発光から受光までの時間などの情報を用いて、直線距離、水平距離、及び垂直距離を算出する。また、距離演算部18は、出射角及び発光から受光までの時間などの情報を用いて、対象物の相対座標を算出する。距離演算部18によって算出された距離及び/又は相対座標は、例えばデータDOUTとして外部に出力可能である。
主制御部19は、距離測定装置10の全体動作を統括的に制御する。主制御部19は、走査素子13に複数の電圧を印加することで、走査素子13の走査動作を制御する。主制御部19は、角度制限素子15に複数の電圧を印加することで、角度制限素子15の角度制限動作を制御する。
[2−2] 投光部11の構成
次に、投光部11の構成について説明する。図5は、投光部11の構成を示す模式的な断面図である。投光部11は、発光素子(LD)12、コリメータ20、及び走査素子13を備える。
発光素子12は、コリメータ20に向けて、レーザ光を発光する。コリメータ20は、レンズで構成され、平行な光線を生成する。コリメータ20から出射されるレーザ光は、高い指向性を有し、コヒーレントで幅の狭いレーザ光である。なお、発光素子12が指向性の高いレーザ光を出射する場合は、コリメータ20は不要である。コリメータ20からのレーザ光は、走査素子13の出射面に対して垂直方向に進む。
走査素子13は、角度2αの走査範囲でレーザ光を走査するものとする。角度αは、0度より大きく、90度より小さい。走査素子13は、出射角θでレーザ光を投光する。角度θは、角度α以下である。例えば、走査素子13の出射面に対して垂直方向に進むレーザ光の角度を0度、垂直方向に対して右側が角度“+θ”、垂直方向に対して左側が角度“−θ”とすると、出射角“+θ”、すなわち垂直方向に対して右側にレーザ光を出射することも可能であるし、出射角“−θ”、すなわち垂直方向に対して左側にレーザ光を出射することも可能である。走査素子13によるレーザ光の出射角は、主制御部19によって制御される。
走査素子13は、光フェーズドアレイから構成される。光フェーズドアレイは、光の位相を変える複数のフェーズシフタを備える。走査素子13は、例えば液晶素子から構成される。走査素子13は、一方向に沿って区分けされた複数の領域を備え、複数の領域の各々において、光の位相を制御することが可能である。
(走査素子13の構成)
次に、走査素子13の構成について説明する。図6は、走査素子13の平面図である。図7は、図6のA−A´線に沿った走査素子13の断面図である。
走査素子13は、透過型の液晶素子である。走査素子13は、対向配置された基板30、31と、基板30、31間に挟持された液晶層32とを備える。基板30、31の各々は、透明基板(例えば、ガラス基板、又はプラスチック基板)から構成される。基板30は、発光素子12に対向配置され、発光素子12からのレーザ光は、基板30側から液晶層32に入射する。
液晶層32は、基板30、31間に充填される。具体的には、液晶層32は、基板30、31と、シール材33とによって包囲された領域内に封入される。図7の液晶層32に図示された楕円は、液晶分子を模式的に表している。シール材33は、例えば、紫外線硬化樹脂、熱硬化樹脂、又は紫外線・熱併用型硬化樹脂等からなり、製造プロセスにおいて基板30又は基板31に塗布された後、紫外線照射、又は加熱等により硬化させられる。
液晶層32を構成する液晶材料は、基板30、31間に印加された電圧(電界)に応じて液晶分子の配向が操作されて光学特性が変化する。本実施形態の走査素子13は、ホモジニアスモードある。すなわち、液晶層32として正の誘電率異方性を有するポジ型(P型)のネマティック液晶が用いられ、液晶分子は、電圧(電界)を印加しない時には基板面に対して概略水平方向に配向する。ホモジニアスモードでは、電圧を印加しない時に液晶分子の長軸(ダイレクタ)が概略水平方向に配向し、電圧を印加した時に液晶分子の長軸が垂直方向に向かって傾く。液晶分子の傾斜角は、印加される実効電圧に応じて変化する。液晶層32の初期配向は、液晶層32を挟むようにして基板30、31にそれぞれ設けられた2つの配向膜(図示せず)によって制御される。
なお、液晶モードとして、ネガ型(N型)のネマティック液晶を用いた垂直配向(VA:Vertical Alignment)モードを用いてもよい。VAモードでは、電界を印加しない時に液晶分子の長軸が概略垂直方向に配向し、電圧を印加した時に液晶分子の長軸が水平方向に向かって傾く。
基板30の液晶層32側には、それぞれがY方向に延び、Y方向に直交するX方向に並ぶ複数の電極34が設けられる。図7には、5個の電極34−1〜34−5を例示しているが、電極34の数は任意に設定可能である。複数の電極34は、互いに電気的に分離されており、複数の電極34に対して個別に電圧制御が可能である。電極34の電圧制御は、主制御部によって行われる。
基板31の液晶層32側には、それぞれがY方向に延び、X方向に並ぶ複数の電極35が設けられる。図7には、5個の電極35−1〜35−5を例示している。複数の電極35は、複数の電極34に対応して設けられる。すなわち、複数の電極35はそれぞれ、複数の電極34と同じ配線幅、及び同じ長さを有し、平面視において、互いに重なるように配置される。複数の電極35の間隔も、複数の電極34の間隔と同じである。複数の電極35は、互いに電気的に分離されており、複数の電極35に対して個別に電圧制御が可能である。電極35の電圧制御は、主制御部によって行われる。
複数の電極34は、配列ピッチd1を有する。電極34−1を例に挙げると、配列ピッチは、電極34−1の幅と、電極34−1と電極34−2との間の間隔との合計である。同様に、複数の電極35は、配列ピッチd1を有する。
対向する1対の電極34、35と、この1対の電極34、35間に設けられた液晶層とは、1つのフェーズシフタを構成する。よって、走査素子13は、1対の電極34、35ごとに、光の位相を制御できる。
図8に示すように、電極35は、複数の電極34を覆うサイズを有する平面状の電極で構成されていてもよい。また、図示は省略するが、電極34は、複数の電極35を覆うサイズを有する平面状の電極で構成されていてもよい。このような電極構造であっても、液晶層に対して同じ電圧制御を行うことが可能である。
なお、走査素子13として、LCOS(Liquid Crystal on Silicon)方式を用いた透過型液晶素子(透過型LCOS)を用いてもよい。透過型LCOSを用いることで、電極を微細加工することが可能となり、より小型の走査素子13を実現できる。透過型LCOSでは、シリコン基板(又は透明基板上に形成されたシリコン層)が用いられる。シリコン基板は、バンドギャップとの関係で、特定の波長以上の波長を有する光(赤外線を含む)を透過するため、LCOSを透過型液晶素子として使用することができる。LCOSを使用することにより、セル電極がより小さい液晶素子とすることができるため、さらに小型化することが可能となる。また、液晶分子の移動度が高いため、レーザ光を高速で走査することが可能となる。
[2−3] 受光部14の構成
次に、受光部14の構成について説明する。図9は、受光部14の構成を示す模式的な断面図である。受光部14は、角度制限素子15、集光レンズ21、及び受光素子(PD)16を備える。
角度制限素子15は、対象物によって反射されたレーザ光を受け、このレーザ光を透過する。また、角度制限素子15は、走査素子13によるレーザ光の出射角と同じ入射角で入射したレーザ光を、角度制限素子15の入射面に対して垂直になるように(屈折角が0度で)屈折させる。角度制限素子15によるレーザ光の入射角は、主制御部19によって制御される。
走査素子13による出射角θである場合、角度制限素子15は、入射角θで入射するレーザ光を垂直方向に、すなわち屈折角が0度で屈折させる。走査素子13による出射角が0度である場合、角度制限素子15は、垂直方向に入射するレーザ光を屈折させずに透過する。
角度制限素子15は、光フェーズドアレイから構成される。光フェーズドアレイは、光の位相を変える複数のフェーズシフタを備える。角度制限素子15は、例えば液晶素子から構成される。角度制限素子15は、一方向に沿って区分けされた複数の領域を備え、複数の領域の各々において、光の位相を制御することが可能である。角度制限素子15の具体的な構成については後述する。
角度制限素子15を透過したレーザ光は、集光レンズ21を透過する。集光レンズ21は、例えば両凸レンズで構成される。集光レンズ21は、所定の屈折角でレーザ光を集光する。集光レンズ21を設けることで、受光素子16のサイズを小さくできる。集光レンズ21を透過したレーザ光は、受光素子16に入射する。
(角度制限素子15の構成)
次に、角度制限素子15の構成について説明する。図10は、角度制限素子15の平面図である。図11は、図10のB−B´線に沿った角度制限素子15の断面図である。
角度制限素子15は、配列ピッチが異なる以外は、前述した走査素子13と同じ構成を有する。
角度制限素子15は、基板40、基板41、液晶層42、シール材43を備える。基板40には、複数の電極44が設けられる。図11には、5個の電極44−1〜44−5を例示しているが、電極44の数は任意に設定可能である。基板41には、複数の電極45が設けられる。図11には、5個の電極45−1〜45−5を例示している。
複数の電極45は、複数の電極44に対応して設けられる。すなわち、複数の電極45はそれぞれ、複数の電極44と同じ配線幅、及び同じ長さを有し、平面視において、互いに重なるように配置される。複数の電極45の間隔も、複数の電極44の間隔と同じである。
複数の電極44は、互いに電気的に分離されており、複数の電極44に対して個別に電圧制御が可能である。電極44の電圧制御は、主制御部によって行われる。同様に、複数の電極45は、互いに電気的に分離されており、複数の電極45に対して個別に電圧制御が可能である。電極45の電圧制御は、主制御部によって行われる。
複数の電極44は、配列ピッチd2を有する。同様に、複数の電極45は、配列ピッチd2を有する。
対向する1対の電極44、45と、この1対の電極44、45間に設けられた液晶層とは、1つのフェーズシフタを構成する。よって、角度制限素子15は、1対の電極44、45ごとに、光の位相を制御できる。
なお、走査素子13の場合と同様に、電極45は、複数の電極44を覆うサイズを有する平面状の電極で構成されていてもよい。また、電極44は、複数の電極45を覆うサイズを有する平面状の電極で構成されていてもよい。
[2−4] 配列ピッチの条件
次に、走査素子13の配列ピッチd1と角度制限素子15の配列ピッチd2との関係について説明する。
本実施形態では、走査素子13から出射された回折光のうち、0次光以外の回折光(+1次光、−1次光など)が意図しない物体で反射された場合でも、0次光以外の回折光に関する反射光が受光素子PDに入射されるのを抑制する。このため、走査素子13の配列ピッチd1と角度制限素子15の配列ピッチd2とは、“d1≠d2”の関係を有する。
投光側(走査素子13)と受光側(角度制限素子15)とでは、0次光のみが重なり、それより高次の回折光は、重ならないことが望ましい。走査素子13の回折次数m、角度制限素子15の回折次数nとする。m、nは、自然数である。走査素子13の配列ピッチd1と角度制限素子15の配列ピッチd2とは、“m・d1≠n・d2”の関係を有する。
投光性能を重視した場合、配列ピッチd1が実現可能な最小のフェーズシフタの幅となり、この値を基準に配列ピッチd2が設定される。配列ピッチd2が大きくなるほど、受光素子に取り込まれる光の角度が増加するため、配列ピッチd2は、出来るだけ小さいことが望ましい。“d2/d1”が整数pになるとき、d1の任意の次数qの回折と、d2の“p・q”次の回折とがほぼ一致する。よって、配列ピッチd2は配列ピッチd1より大きく、d1の次数倍とd2の次数倍とが一致する値にならない範囲に設定することが望ましい。よって、“d1<d2”の場合、以下の式(1)から適切な配列ピッチd2を求めることができる。

d2=d1・(1+1/(N+1)) ・・・(1)

Nは、ノイズ要因となりうる投光側の最大の回折次数の絶対値である。
一方で、受光側(角度制限素子15)の配列ピッチd2を最小にしたい場合は、“d1>d2”となる。また、以下の式(2)から適切なピッチd1を求めることができる。

d1=d2・(1+1/(M+1)) ・・・(2)

Mは、ノイズ要因となりうる受光側の最大の回折次数の絶対値である。
[3] 距離測定装置10の動作
[3−1] 距離測定装置10の基本動作
まず、距離測定装置10の基本動作について説明する。図12は、距離測定装置10の基本動作を説明する概略図である。なお、図12では、距離測定装置10が車両1の前方を走査する態様を一例として示している。
距離測定装置10に含まれる投光部11は、角度2αの走査範囲でレーザ光を投光する。受光部14は、対象物2によって反射されたレーザ光を受光する。想定する対象物2までの距離L、距離Lにおける走査範囲Rとする。例えば、角度2α=10度、距離L=10mである場合は、走査範囲R=1.7mであり、角度2α=10度、距離L=50mである場合は、走査範囲R=8.7mである。角度2α、距離L、及び走査範囲Rは、距離測定装置10に求められる仕様に応じて任意に設計可能である。
図13は、距離測定装置10によるレーザ光の波形を説明する図である。図13の上側が投光の波形、下側が受光の波形である。図13の横軸が時間であり、図13の縦軸が強度(光強度)である。
発光素子12は、パルス信号からなるレーザ光を発光する。すなわち、発光素子12は、時分割でレーザ光を出射する。距離測定装置10は、パルス信号としてレーザ光を投光する。パルス信号の周期P、パルス幅Wとする。1つのパルスを送信してから、このパルスが対象物で反射されたパルスを受信するまでの時間である遅れ量Δ、光の速度Cとする。遅れ量Δは、“Δ=2L/C”で算出される。
例えば、パルス幅W=10nsec、周期P=10μsec(すなわち、周波数f=100kHz)であるものとする。遅れ量Δ=67nsecの場合、距離L=10mが算出される。
このような動作により、対象物が検出でき、また、対象物までの距離が算出できる。
[3−2] 距離測定装置10の走査動作
信号強度を向上させるためには、外乱となる太陽光などの外乱光をカットする必要がある。外乱光は、あらゆる角度から入射する一方で、信号は、距離測定装置10から発した角度からしか返ってこない。そこで、信号が返ってくる角度に制限してレーザ光を受信することで、信号強度を向上させるようにしている。
図14は、距離測定装置10の動作を説明するフローチャートである。主制御部19は、走査素子13の出射角を角度θに設定し、角度制限素子15の入射角を角度θに設定する(ステップS100)。すなわち、主制御部19は、走査素子13と角度制限素子15とを同期して動作させる。同期とは、走査素子13の屈折角と、角度制限素子15の屈折角とを同じにすることを意味する。
図15は、走査素子13の動作を説明する模式図である。例えば、主制御部19は、電極34−1〜34−5に、この順に高くなる実効電圧を印加する。電極34と電極35との間に印加される電圧は、交流電圧である。これにより、走査素子13には、屈折率の勾配が生じる。
同様に、主制御部19は、角度制限素子15の電極44−1〜44−5に、この順に高くなる実効電圧を印加する。電極44と電極45との間に印加される電圧は、交流電圧である。これにより、角度制限素子15には、走査素子13と同じ屈折率の勾配が生じる。
続いて、主制御部19は、投光部11から出射角θでレーザ光を投光する(ステップS101)。具体的には、パルスタイミング制御部17は、パルス状のレーザ光を発光素子12から発光させる。発光素子12からのレーザ光は、走査素子13を透過するとともに、角度θだけ屈折する。図15の例では、走査素子13は、右側に向かって屈折率が小さくなる。よって、基板30側から入射したレーザ光は、左側に屈折するようにして、走査素子13から出射される。
続いて、受光部14は、入射角θで入射したレーザ光を受光する(ステップS102)。具体的には、図9に示すように、角度制限素子15は、入射角θで入射したレーザ光を、入射面に対して垂直方向に(屈折角が0度で)屈折させる。角度制限素子15を透過したレーザ光は、受光素子16に入射する。これにより、角度制限素子15は、受光素子16に入射するレーザ光を、入射角θで入射するレーザ光に制限することができる。
ここで、走査素子13から出射されるレーザ光には、所望のレーザ光(0次光)に加えて、+1次光、−1次光などの回折光が含まれる。+1次光、及び−1次光の出射角は、0次光の出射角と異なる。例えば、走査素子13から出射された+1次光は、意図しない物体によって反射され、この反射光が角度制限素子15に入射するかもしれない。しかし、本実施形態では、走査素子13の配列ピッチd1と角度制限素子15の配列ピッチd2とが異なるため、+1次光の反射光は、角度制限素子15において屈折角が0度で屈折しない。すなわち、+1次光の反射光は、受光素子16に入射されない。その他の高次回折光についても同様に、受光素子16に入射されない。
また、0次光以外の望ましくない外乱光(太陽光を含む)が角度制限素子15に入射した場合でも、この外乱光が受光素子16に入射されるのを抑制できる。図9では、望ましい反射光(信号として使用される光)を実線の矢印で示し、望ましくない外乱光を破線の矢印で示している。
続いて、距離演算部18は、対象物までの距離を算出する(ステップS103)。具体的には、距離演算部18は、送信されたレーザ光のタイミング情報をパルスタイミング制御部17から受け、レーザ光の出射角の情報を主制御部19から受け、受信されたレーザ光のタイミング情報及び光強度の情報を受光素子16から受ける。距離演算部18は、これらの情報を用いて、車両から対象物までの距離を算出する。
[4] 実施例
次に、投光部11の実施例について説明する。図16は、実施例に係る投光部11の構成を示す模式図である。なお、図16では、コリメータ20の図示を省略している。
走査素子13の出射面側には、平凹レンズ22が設けられる。平凹レンズ22は、その平面が走査素子13に向き合うように配置される。平凹レンズ22は、レーザ光を拡散する。すなわち、平凹レンズ22は、入射角θより大きい出射角(屈折角)θ´でレーザ光を放射する。実施例によれば、レーザ光の走査範囲を広くすることができる。
次に、受光部14の実施例について説明する。図17は、実施例に係る受光部14の構成を示す模式図である。
角度制限素子15の入射面側には、平凹レンズ23が設けられる。平凹レンズ23は、その平面が角度制限素子15に向き合うように配置される。平凹レンズ23は、入射角θ´で凹面側に入射したレーザ光を屈折角θで屈折させる。実施例によれば、レーザ光の受光範囲を広くすることができるとともに、投光部11の出射角θ´と、受光部14の入射角θ´とを同じにすることができる。
[5] 実施形態の効果
以上詳述したように本実施形態では、距離測定装置10は、レーザ光を発光する発光素子12と、複数の第1フェーズシフタPS1を有し、発光素子12により発光されたレーザ光を屈折させる走査素子(第1偏向素子)13と、複数の第2フェーズシフタPS2を有し、対象物により反射されたレーザ光を屈折させる角度制限素子(第2偏向素子)15と、角度制限素子15を透過したレーザ光を検知する受光素子16とを備える。そして、第1フェーズシフタPS1の配列ピッチd1は、第2フェーズシフタPS2の配列ピッチd2と異なるように設定される。また、走査素子13は、角度θの出射角でレーザ光を投光し、角度制限素子15は、角度θの入射角で入射するレーザ光を受光素子16に入射させる。
走査素子13の複数のフェーズシフタPS1の配列には周期性があるため、走査素子13から出射されるレーザ光には、0次光、+1次光、及び−1次光を含む回折光が含まれる。しかし、角度制限素子15の配列ピッチd2が走査素子13の配列ピッチd1と異なるため、+1次光に起因する反射光は、角度制限素子15を透過する際、受光素子16に向けて屈折しない。他の高次回折光についても同様に、受光素子16に向けて屈折しない。
従って本実施形態によれば、投光される主信号成分を効果的に取り込みつつ、ノイズとなる回折光を受光するのを抑制することができる。これにより、これにより、受信強度を向上させることができ、また、SN比を向上させることができる。
また、距離測定装置10は、距離測定装置10に入射する光(太陽光などの外乱光を含む)のうち、送信したレーザ光が対象物によって反射されたレーザ光に制限して受信することができる。これにより、受信強度を向上させることができる。また、遠距離の信号を検出することが可能となるため、測定可能な距離を向上させることができる。
なお、上記実施形態では、一次元にレーザ光を走査する走査素子13を例に挙げて説明している。しかし、複数の下側電極と複数の上側電極とが交差するように配置されたパッシブマトリクス方式を走査素子13に適用してもよい。パッシブマトリクス方式を走査素子13に適用することで、2次元に走査することが可能である。角度制限素子15についても、走査素子13と同様に構成可能である。
また、走査素子13及び角度制限素子15の他の構成例として、第1基板に複数のドットに対応しかつ互いに電気的に分離された複数の第1電極を形成し、第1基板に対向する第2基板に平面状の1つの共通電極を形成する。そして、TFT(Thin Film Transistor)などで構成される複数のスイッチング素子を用いて複数の第1電極を駆動するようにしてもよい。
上記実施形態では、距離測定装置が扱うレーザ光として赤外線レーザを用いている。しかし、これに限定されず、上記実施形態にかかる距離測定装置は、赤外線以外の光にも適用可能である。
上記実施形態では、車両に搭載される距離測定装置について説明している。しかし、これに限定されず、距離測定装置は、レーザ光を走査する機能を有する様々な電子機器に適用できる。
本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲内で、構成要素を変形して具体化することが可能である。さらに、上記実施形態には種々の段階の発明が含まれており、1つの実施形態に開示される複数の構成要素の適宜な組み合わせ、若しくは異なる実施形態に開示される構成要素の適宜な組み合わせにより種々の発明を構成することができる。例えば、実施形態に開示される全構成要素から幾つかの構成要素が削除されても、発明が解決しようとする課題が解決でき、発明の効果が得られる場合には、これらの構成要素が削除された実施形態が発明として抽出されうる。
10…距離測定装置、11…投光部、12…発光素子、13…走査素子、14…受光部、15…角度制限素子、16…受光素子、17…パルスタイミング制御部、18…距離演算部、19…主制御部、20…コリメータ、21…集光レンズ、22,23…平凹レンズ、30,31…基板、32…液晶層、33…シール材、34,35…電極、40,41…基板、42…液晶層、43…シール材、44,45…電極

Claims (5)

  1. レーザ光を発光する発光素子と、
    複数の第1フェーズシフタを有し、前記発光素子により発光されたレーザ光を屈折させる第1偏向素子と、
    複数の第2フェーズシフタを有し、対象物により反射されたレーザ光を屈折させる第2偏向素子と、
    前記第2偏向素子を透過したレーザ光を検知する受光素子と
    を具備し、
    前記第1フェーズシフタの第1ピッチは、前記第2フェーズシフタの第2ピッチと異なる
    距離測定装置。
  2. 前記第1偏向素子は、第1角度の出射角でレーザ光を投光し、
    前記第2偏向素子は、前記第1角度の入射角で入射するレーザ光を前記受光素子に入射させる
    請求項1に記載の距離測定装置。
  3. 前記第1ピッチd1、前記第2ピッチd2、前記第1偏向素子の回折次数m(mは自然数)、及び前記第2偏向素子の回折次数n(nは自然数)とすると、前記第1ピッチd1、及び前記第2ピッチd2は、
    m・d1≠n・d2
    の関係を有する
    請求項1又は2に記載の距離測定装置。
  4. 前記第1及び第2偏向素子は、液晶素子で構成される
    請求項1乃至3のいずれかに記載の距離測定装置。
  5. 前記第1偏向素子は、
    第1及び第2基板と、
    前記第1及び第2基板間に充填された第1液晶層と、
    前記第1基板に設けられ、それぞれが第1方向に延びる複数の第1電極と、
    前記第2基板に設けられた第2電極とを含み、
    前記第2偏向素子は、
    第3及び第4基板と、
    前記第3及び第4基板間に充填された第2液晶層と、
    前記第3基板に設けられ、それぞれが前記第1方向に延びる複数の第3電極と、
    前記第4基板に設けられた第4電極とを含み、
    前記第1ピッチは、前記複数の第1電極のピッチに対応し、
    前記第2ピッチは、前記複数の第3電極のピッチに対応する
    請求項1乃至4のいずれかに記載の距離測定装置。
JP2017101962A 2017-05-23 2017-05-23 距離測定装置 Active JP7024212B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017101962A JP7024212B2 (ja) 2017-05-23 2017-05-23 距離測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017101962A JP7024212B2 (ja) 2017-05-23 2017-05-23 距離測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018197678A true JP2018197678A (ja) 2018-12-13
JP7024212B2 JP7024212B2 (ja) 2022-02-24

Family

ID=64663932

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017101962A Active JP7024212B2 (ja) 2017-05-23 2017-05-23 距離測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7024212B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020176983A (ja) * 2019-04-22 2020-10-29 パイオニア株式会社 検知装置、測距方法、プログラム及び記録媒体
JP7413858B2 (ja) 2020-03-16 2024-01-16 株式会社デンソー 測距モジュール

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0566427A (ja) * 1991-02-28 1993-03-19 Raytheon Co サブ開口アドレス指定光ビーム・ステアリング装置におけるビーム・ステアリング方法
JP2001099933A (ja) * 1990-12-03 2001-04-13 Raytheon Co フェーズド・アレイ・ビーム指向装置を備えたレーザ・レーダ・システム
JP2007240384A (ja) * 2006-03-09 2007-09-20 Omron Corp レーダ装置
JP2012063230A (ja) * 2010-09-15 2012-03-29 Ricoh Co Ltd レーザレーダ装置
JP2013076891A (ja) * 2011-09-30 2013-04-25 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光信号選択スイッチ
US20150346340A1 (en) * 2013-01-08 2015-12-03 Ami YAACOBI Optical phased arrays

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001099933A (ja) * 1990-12-03 2001-04-13 Raytheon Co フェーズド・アレイ・ビーム指向装置を備えたレーザ・レーダ・システム
JPH0566427A (ja) * 1991-02-28 1993-03-19 Raytheon Co サブ開口アドレス指定光ビーム・ステアリング装置におけるビーム・ステアリング方法
JP2007240384A (ja) * 2006-03-09 2007-09-20 Omron Corp レーダ装置
JP2012063230A (ja) * 2010-09-15 2012-03-29 Ricoh Co Ltd レーザレーダ装置
JP2013076891A (ja) * 2011-09-30 2013-04-25 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光信号選択スイッチ
US20150346340A1 (en) * 2013-01-08 2015-12-03 Ami YAACOBI Optical phased arrays

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020176983A (ja) * 2019-04-22 2020-10-29 パイオニア株式会社 検知装置、測距方法、プログラム及び記録媒体
JP7413858B2 (ja) 2020-03-16 2024-01-16 株式会社デンソー 測距モジュール

Also Published As

Publication number Publication date
JP7024212B2 (ja) 2022-02-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN108377344B (zh) 摄像系统
JP7385724B2 (ja) 互いに位置整合された伝送経路および受信経路を有するlidar
US11686823B2 (en) LIDAR receiver using a waveguide and an aperture
US10048376B2 (en) Distance measuring device and photodetector
WO2019050643A1 (en) SHARED WAVEGUIDE FOR LIDAR TRANSMITTER AND RECEIVER
US11867808B2 (en) Waveguide diffusers for LIDARs
US8102514B2 (en) Beam irradiation apparatus
JP2018156051A (ja) レーザ走査装置
JP7024212B2 (ja) 距離測定装置
JP2019023703A (ja) レーザ走査装置
US11714233B2 (en) Optical signal routing devices and systems
US20210063839A1 (en) Optical deflection apparatus
JP2018197680A (ja) 距離測定装置及び走査方法
JP2020052331A (ja) 光走査装置
JP2019028293A (ja) 距離測定装置
WO2024004538A1 (ja) 測定装置、照射装置、及び、バンドパスフィルタ
JP2024024483A (ja) 測定装置及びバンドパスフィルタ
JP2019020208A (ja) 距離測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20190425

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20200413

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20210219

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20210330

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20210531

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20211116

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20211221

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20220111

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20220124

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7024212

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150