JP2018157689A - 漏電検出装置 - Google Patents

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中村 浩章
Hiroaki Nakamura
中村  浩章
興一 塩津
Koichi Shiozu
興一 塩津
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Abstract

【課題】検出感度を維持して、雷サージに起因する誤検出を確実に防止することができる漏電検出装置を提供する。【解決手段】ZCT出力を正の閾電圧(+Vref0)及び負の閾電圧負の閾電圧(−Vref0)とそれぞれ比較し、正極側の出力変動と負極側の出力変動とを検出する変動検出部(閾電圧源22a、22b、CP23a、23b)と、正極側もしくは負極側の出力変動が検出された後、有効期間を生成する期間生成部(コンデンサ19、可変電流源36、定電流源37、CP24〜26、FF31、32)と、有効期間に変動検出部によって逆極性の出力変動が検出されると、漏電を検出する漏電検出部(AND28、30、FF33、34、スイッチ素子41)とを備え、漏電検出部による漏電の検出によって、リレー12を動作させてACライン2を遮断させる。【選択図】図2

Description

ACラインの漏電を検出し、漏電を検出するとACラインを遮断する漏電検出装置に関する。
電子機器にて、ACラインに漏電が発生した場合、機器の誤動作や感電を引き起こす可能性がある。そのため、ACラインの漏電を検出し、漏電を検出するとACラインを遮断する漏電検出装置が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
漏電検出装置では、ACラインの往路と復路との電流値が異なる不平衡を電圧値として検出する零相変流器を設け、電圧値が予め設定された閾電圧値を超えると、ACラインを遮断するリレーを動作させる。閾電圧値は、検出感度を高める必要があるため、低い値に設定されることが多い。従って、雷サージによる誤検出への対策が必要となる。
従来、雷サージによる電圧値の変動期間が短いことに着目し、零相変流器の出力にコンデンサや抵抗等の外付け部品で構成されたノイズフィルタを接続させ、雷サージによる誤検出を防止している。
特開平9−274842号
しかしながら、雷サージによる電圧値の変動は、図6(a)に示すように、急激な変動期間T1に引き続き、零相変流器に発生する逆起電力によって、閾電圧値を超える緩やかな変動期間T2が生じることがある。この場合、図6(b)に示す漏電時における電圧値の変動期間T0と区別することができないため、雷サージによって漏電を誤検出してしまうという問題点があった。なお、閾電圧値を高い値に設定することで、誤検出を防止することができるが、この場合には、検出感度が低下してしまう。
本発明の目的は、従来技術の上記問題を解決し、検出感度を維持して、雷サージに起因する誤検出を確実に防止することができる漏電検出装置を提供することにある。
本発明の漏電検出装置は、ACラインに流れる電流の不平衡によって漏電を検出する漏電検出装置であって、前記ACラインに直列に接続されたリレーと、前記ACラインに流れる電流の不平衡を検出して電圧に変換する零相変流器と、前記零相変流器によって変換された電圧を正の閾電圧及び負の閾電圧とそれぞれ比較し、正極側の出力変動と負極側の出力変動とを検出する変動検出部と、該変動検出部によって正極側もしくは負極側の出力変動が検出された後、有効期間を生成する期間生成部と、前記有効期間に前記変動検出部によって逆極性の出力変動が検出されると、漏電を検出する漏電検出部と、該漏電検出部による漏電の検出によって、前記リレーを動作させて前記ACラインを遮断させるリレー動作制御部と、を具備することを特徴とする。
さらに、本発明の漏電検出装置において、前記期間生成部は、第1遅延期間を生成し、前記変動検出部は、前記零相変流器によって変換された電圧が正の閾電圧を正極側に超えた状態で前記第1遅延期間が経過すると正極側の出力変動を検出し、前記零相変流器によって変換された電圧が負の閾電圧を負極側に超えた状態で前記第1遅延期間が経過すると負極側の出力変動を検出しても良い。
さらに、本発明の漏電検出装置において、前記期間生成部は、前記第1遅延期間に引き続く第2遅延時間を生成し、前記有効期間を前記第2遅延時間に引き続けて生成しても良い。
さらに、本発明の漏電検出装置において、前記期間生成部は、充放電によって期間を生成するコンデンサを有し、
前記コンデンサを除く前記期間生成部、前記漏電検出部及び前記リレー動作制御部は、集積回路に内蔵されていても良い。
本発明によれば、雷サージに起因して発生する逆起電力による零相変流器の出力変動は、逆起電力の極性が正負いずれかの単極性であるため、漏電として検出されることなく、マスクすることができる。このため、漏電の検出感度を維持して、雷サージに起因する誤検出を確実に防止することができるという効果を奏する。
本発明に係る漏電検出装置の実施の形態の構成を示す回路構成図である。 図1に示す制御回路の構成を示す回路構成図である。 図1に示す制御回路におけるノイズ発生時の動作を示す波形図である。 図1に示す制御回路における漏電発生時の動作を示す波形図である。 図2に示す正負の閾電圧源を入れ替えた制御回路におけるノイズ発生時の動作を示す波形図である。 零相変流器の出力波形図である。
本実施の形態の漏電検出装置10は、図1を参照すると、AC電源1に接続されたACライン2の往路と復路との電流値が異なる不平衡を検出するZCT(Zero-Phase-Current-Transformer:零相変流器)11と、ACライン2に直列に接続され、漏電検出時にACライン2を遮断するリレー12と、ZCT11の出力によって漏電を検出して、リレー12を動作させる制御回路20と、整流用ダイオード13と、平滑コンデンサ14と、電流制限抵抗15と、LED16と、回生ダイオード17と、リセット用スイッチ18と、コンデンサ19を備えている。
ZCT11は、コイル11aを巻きつけたドーナツ状の磁性体11bで構成され、磁性体11bの輪の中にACライン2が貫通されている。漏電が起き、ACライン2の往路と復路との電流値に差が生じると、磁性体11bに巻かれたコイル11aに起電力が発生し、コイル11aの両端電圧がZCT出力として制御回路20の入力端子INと基準電圧端子VRとに入力される。
リレー12は、ACライン2に直列に接続されたリレー接点12a、12bと、リレー接点12a、12bを駆動するリレー用コイル12cとを備えている。リレー12は、リレー用コイル12cに所定の電圧を印加して電流を流すことで、リレー接点12a、12bが解放される動作状態となり、ACライン2を遮断する。
制御回路20は、入力端子INと、基準電圧端子VRと、電源端子VHと、接地端子GNDと、遅延期間生成端子ODと、電流制御端子TRIPと、リセット端子REとを備えた半導体集積回路(IC)である。
ACライン2の一方のラインと接地端子との間に、整流用ダイオード13と平滑コンデンサ14とが直列に接続されている。制御回路20の電源端子VHは、整流用ダイオード13と平滑コンデンサ14との接続点に接続されていると共に、制御回路20の接地端子GNDは、グランドに接続されている。これにより、ACライン2の電圧は平滑コンデンサ14によって平滑されて制御回路20の電源端子VHに入力される。
また、整流用ダイオード13と平滑コンデンサ14との接続点と、制御回路20の電流制御端子TRIPとの間に、電流制限抵抗15とリレー12のリレー用コイル12cとLED16とが直列に接続されている。なお、リレー12のリレー用コイル12cには、リレー用コイル12cに生じる逆起電力を回生する回生ダイオード17が並列に接続されている。
制御回路20の遅延期間生成端子ODとグランドとの間には、コンデンサ19が接続されている。
制御回路20は、図2を参照すると、内部電源回路21と、閾電圧源22a、22bと、コンパレータ(以下、CPと称す)23a、23b、24〜26と、アンド回路(以下、ANDと称す)27a、27b、28〜30と、オア回路(以下、ORと称す)27cと、S型フリップフロップ(以下、FFと称す)31〜34と、定電流源35、37と、可変電流源36と、トランジスタ38、39と、立ち下がりエッジ検出回路40と、スイッチ素子41と、インバータ42〜44と、定電流基準素子45と、定電流出力素子46と、抵抗47、48と、リレー動作制御素子49と、を備えている。
内部電源回路21は、電源端子VHに入力される電力を用いて内部電圧Vccを生成すると共に、内部電圧Vccよりも小さい3種類の基準電圧を生成する。3種類の基準電圧は、第1基準電圧Vref1(例えば、1V)と、第1基準電圧Vref1よりも大きい第2基準電圧Vref2(例えば、1.8V)と、第2基準電圧Vref2よりも大きい第3基準電圧Vref3(例えば、3V)とからなる。
閾電圧源22aの負極端子は、基準電圧端子VRに、閾電圧源22aの正極端子は、CP23aの非反転入力端子にそれぞれ接続されている。また、CP23aの反転入力端子には、入力端子INが接続されている。閾電圧源22aには、雷サージに起因してZCT11に発生する逆起電力で変動するZCT出力の極性とは反対の正の閾電圧(+Vref0:例えば、+7.5mV)が設定されている。これにより、CP23aでは、ZCT出力が正の閾電圧(+Vref0)とを比較され、ZCT出力が正の閾電圧(+Vref0)より正極側に超えると、Highレベル信号が出力される。CP23aの出力端子は、OR27cを介してAND27aの一方の入力端子に接続されている。
閾電圧源22bの負極端子は、基準電圧端子VRに、閾電圧源22bの正極端子は、CP23bの非反転入力端子にそれぞれ接続されている。また、CP23bの反転入力端子には、入力端子INが接続されている。閾電圧源22bには、負の閾電圧(−Vref0:例えば、−7.5mV)が設定されている。これにより、CP23bでは、ZCT出力が負の閾電圧(−Vref0)とを比較され、ZCT出力が負の閾電圧(−Vref0)を負極側に超えると、Highレベル信号が出力される。CP23bの出力端子は、出力端子がOR27cを介してAND27aの他方の入力端子に接続されたAND27bの一方の入力端子と、AND28の一方の入力端子とにそれぞれ接続されている。
内部電圧Vccとグランドとの間に、定電流源35とトランジスタ38とが直列に接続されている。トランジスタ38は、PNP型であり、ベースには、第1基準電圧Vref1が接続されている。また、トランジスタ39は、NPN型トランジスタであり、コレクタが内部電圧Vccに、エミッタが遅延期間生成端子ODに、ベースが定電流源35とトランジスタ38との接続点にそれぞれ接続されている。これにより、起動により遅延期間生成端子ODに接続されたコンデンサ19が充電され、遅延期間生成端子ODの電圧(以下、電圧VODと称す)は、第1基準電圧Vref1に上昇する。
また、内部電圧Vccと遅延期間生成端子ODとの間は、可変電流源36が、遅延期間生成端子ODとグランドとの間には、定電流源37がそれぞれ接続されている。可変電流源36は、AND27aの出力端子に接続された第1制御端子と、AND29の出力端子に接続された第2制御端子と有している。そして、可変電流源36は、第2制御端子のみにHighレベル信号が入力されると、定電流源37よりも大きい第2電流値の電流を流す。さらに、可変電流源36は、第1制御端子のみにHighレベル信号が入力されると、第2電流値よりも大きい第1電流値の電流を流す。
さらに、遅延期間生成端子ODは、第2基準電圧Vref2が反転入力端子に接続されたCP24の非反転入力端子と、第3基準電圧Vref3が反転入力端子に接続されたCP25の非反転入力端子と、第1基準電圧Vref1が非反転入力端子に接続されたCP26の反転入力端子とにそれぞれ接続されている。
CP24の出力端子は、FF31のセット端子Sと、AND30の一方の入力端子にそれぞれ接続されている。また、CP25の出力端子は、FF32のセット端子Sに接続されている。さらに、CP26の出力端子は、FF31のリセット端子Rと、FF32のリセット端子Rとに接続されている。
FF31の出力端子Qは、AND27aの他方の反転入力端子と、AND29の一方の入力端子とにそれぞれ接続されている。また、FF32の出力端子Qは、AND28の他方の入力端子と、AND29の他方の反転入力端子と、立ち下がりエッジ検出回路40の入力端子とにそれぞれ接続されている。
従って、AND27aは、CP23aの出力がHigh、もしくはCP23b及びFF33の出力がHighで、FF31の出力がLowの場合にHighレベル信号を出力する。また、AND28は、CP23bの出力がHighで、FF32の出力がHighの場合にHighレベル信号を出力する。
AND29の一つの反転入力端子には、AND30の出力端子が接続されている。従って、AND29は、FF31の出力がHighで、FF32及びAND30の出力がLowの場合にHighレベル信号を出力する。
これにより、FF31の出力がLowの状態で、CP23aの出力がHighになるか、CP23b及びFF33の出力がHighになると、AND27aの出力がHighになり、可変電流源36が第1電流値に設定される。第1電流値は、定電流源37の電流値よりも大きい値に設定されているため、その差分によってコンデンサ19が充電されて電圧VODが上昇する。
そして、電圧VODが第2基準電圧Vref2を超えると、CP24からHighレベル信号が出力されてFF31がセットされるため、AND27aの出力がLowに切り換わると共に、AND29の出力がHighに切り換わる。これにより、AND27aの出力がLow、AND29の出力がHighになり、可変電流源36が第2電流値に設定される。第2電流値は、定電流源37の電流値よりも大きい値に設定されているため、その差分によってコンデンサ19が充電されて電圧VODが上昇する。なお、第2電流値は第1電流値よりも小さいため、電圧VODの上昇は緩やかになる。
次に、電圧VODが第3基準電圧Vref3を超えると、CP25からHighレベル信号が出力されてFF32がセットされるため、AND29の出力がLowに切り換わる。これにより、定電流源37の電流値によってコンデンサ19に蓄積された電荷が放電され、電圧VODが下降し始める。
なお、MOSFET(metal-oxide-semiconductor field-effect transistor、電界効果トランジスタ)で構成されたスイッチ素子41は、遅延期間生成端子ODとグランドとの間に接続され、ゲートにAND28の出力端子が接続されている。従って、FF32がセットされた状態で、CP23bの出力がHighに切り換わると、スイッチ素子41がオンされてコンデンサ19に蓄積された電荷が急速に放電される。
次に、電圧VODが第1基準電圧Vref1に到達すると、CP26からHighレベル信号が出力されてFF31及びFF32がリセットされる。FF32のリセットによって立ち下がりエッジ検出回路40の出力端子からパルス信号が出力される。立ち下がりエッジ検出回路40の出力端子は、FF33のセット端子Sに接続されている。従って、FF32のリセットによってFF33がセットされる。
FF33の出力端子Qは、AND27bの他方の入力端子と、AND30の他方の入力端子とにそれぞれ接続されている。また、FF33のリセット端子Rには、AND27aの出力端子がインバータ42を介して接続されている。
AND30の出力端子には、漏電検出をラッチするラッチ回路として機能するFF34のセット端子Sが接続されている。従って、FF33がセットされた状態で、CP24の出力がHighに切り換わると、漏電が検出される。
定電流基準素子45と定電流出力素子46とは、カレントミラー回路を構成する回路であり、例えば、MOSFET(metal-oxide-semiconductor field-effect transistor、電界効果トランジスタ)で構成されている。内部電圧Vccとグランドとの間に、抵抗47と定電流基準素子45とが直列に接続され、電流制御端子TRIPとグランドとの間に定電流出力素子46が接続されている。そして、定電流基準素子45のゲートと定電流出力素子46とのゲートとが接続され、この接続点が定電流基準素子45のドレインに接続されている。
内部電圧Vccが抵抗48を介してインバータ43の入力に接続され、インバータ43の出力はFF34のリセット端子Rに接続されている。そして、抵抗48とインバータ43との接続点がリセット端子REに接続されている。また、FF34の出力端子Qは、インバータ44を介してリレー動作制御素子49の制御端子に接続されている。
リレー動作制御素子49は、制御端子によってオンオフ制御可能な半導体素子、例えば、MOSFET、バイポーラトランジスタで構成され、定電流基準素子45と並列に接続されている。本実施の形態では、リレー動作制御素子49として、MOSFETを使用した例について説明する。
FF34がセットされると、FF34の出力がHighになり、リレー動作制御素子49のゲート(制御端子)に入力されるインバータ44の出力がLowになり、リレー動作制御素子49はオフされる。リレー動作制御素子49はオフされると、定電流基準素子45と定電流出力素子46とに、抵抗47の抵抗値によって決定される定電流が流れる。これにより、電流制御端子TRIPに定電流が流れ込み、リレー12のリレー用コイル12cとLED16とに定電流が流れ、ACライン2に直列に接続されたリレー接点12a、12bが開放されてリレー12が動作状態となり、ACライン2が遮断される。また、LED16の点灯によって、漏電の検出及びACライン2の遮断が通知される。
電流制御端子TRIPに流れ込む定電流は、漏電の原因を取り除いても、FF34によってラッチされて流れ続け、ACライン2の遮断状態が維持される。FF34のリセットは、リセット端子REとグランドとの間に接続されたリセット用スイッチ18によって行われる。リセット用スイッチ18をオンすると、インバータ43の入力がLowレベル、インバータ43の出力がHighレベルとなり、FF34がリセットされる。FF34がリセットされると、FF34からの出力がLowに切り換わる。これにより、インバータ44の出力がHighになってリレー動作制御素子49はオンされ、定電流基準素子45と定電流出力素子46とがオフ状態となる。従って、電流制御端子TRIPへの定電流の流れ込みが停止されてリレー14は停止状態となり、リレー12によるACライン2の遮断が解消されると共に、LED16が消灯される。この状態が、漏電が検出される前の初期状態である。
次に、制御回路20の動作について図3及び図4を参照して詳細に説明する。図3及び図4は、制御回路20の各部の信号波形及び動作波形を示したもので、上からAC電源1、電源端子VHの電圧、内部電圧Vcc、入力端子INおよび基準電圧端子VRに入力されるZCT出力、遅延期間生成端子ODの電圧VOD、CP23aの出力、CP23bの出力、AND27aの出力、AND29の出力、FF31の出力、FF32の出力、FF33の出力、FF34の出力をそれぞれ示している。
まず、制御回路20におけるノイズ発生時の動作について図3を参照して詳細に説明する。時刻t11でAC電源1に接続されると、平滑コンデンサ14への充電が開始され、電源端子VHの電圧が立ち上がりと共に、内部電圧Vcc、ZCT出力、電圧VODが立ち上がる。そして、電圧VODが第1基準電圧Vref1に到達した後、時刻t12で平滑コンデンサ14への充電が完了すると、漏電検出を監視する待機期間となる。待機期間では、FF31〜FF34のいずれもがセットされていない状態である。
待機期間において、時刻t13のノイズが発生し、ZCT出力が正の閾電圧(+Vref0)を超えると、CP23aの出力がHighになる。すると、AND27aの出力もHighになって、可変電流源36が第1電流値に設定され、電圧VODが上昇する。
ここで、電圧VODが第2基準電圧Vref2を超える前に、ZCT出力が正の閾電圧(+Vref0)を下回り、CP23aの出力がLowになると、可変電流源36が停止される。これにより、定電流源37の電流値によってコンデンサ19に蓄積された電荷が放電され、電圧VODが第1基準電圧Vref1になり、待機期間に戻る。すなわち、電圧VODが第2基準電圧Vref2を超えるまでの期間が、漏電検出までの第1遅延期間となり、この第1遅延期間によって雷サージ等に起因するZCT出力の急激な変動による誤検出が防止される。第1遅延期間は、第1基準電圧Vref1と第2基準電圧Vref2との電圧差と、定電流源37の電流値と第1電流値との差分と、コンデンサ19の容量によって決定される。従って、遅延期間生成端子ODに接続するコンデンサ19によって適切な第1遅延期間を簡単に設定することができる。
なお、待機状態では、FF33がセットされていない状態であるため、AND27bがHighにならない。従って、時刻t14〜時刻t15において、雷サージに起因してZCT11に発生する逆起電力でZCT出力が負極側に変動して負の閾電圧(−Vref0)が超え、CP23bの出力がHighになっても、漏電として検出されることがない。
次に、制御回路20における漏電発生時の動作について図4を参照して詳細に説明する。なお、ノイズ発生時の共通する動作については適宜省略する。
待機期間において、漏電が発生し、時刻t21でZCT出力が正の閾電圧(+Vref0)を超えると、CP23aの出力がHighになる。すると、AND27aの出力もHighになって、可変電流源36が定電流源37よりも大きい第1電流値に設定され、電圧VODが上昇する。
ここで、電圧VODが第2基準電圧Vref1を超えるまでの期間は、第1遅延期間Xとなる。第1遅延期間Xは、漏電によるZCT出力の変動期間よりも短い期間に設定されているため、AND27aの出力がHighに維持され、時刻t21で上昇を開始した電圧VODが時刻t22で第2基準電圧Vref2を超える。
時刻t22で第2基準電圧Vref2を超えると、CP24の出力がHighになってFF31がセットされるため、AND27aの出力がLowに切り換わると共に、AND29の出力がHighに切り換わる。これにより、AND27aの出力がLow、AND29の出力がHighになり、可変電流源36が第2電流値に設定され、電圧VODが上昇する。なお、第2電流値は第1電流値よりも小さいため、電圧VODの上昇は緩やかになる。
ここで、電圧VODが第3基準電圧Vref3を超えるまでの期間は、第2遅延期間Yとなる。第2遅延期間Yは、第2基準電圧Vref2と第3基準電圧Vref3との電圧差と、定電流源37の電流値と第2電流値との差分と、コンデンサ19の容量によって決定される。従って、遅延期間生成端子ODに接続するコンデンサ19によって適切な第2遅延期間を簡単に設定することができる。また、第2遅延期間Yでは、CP24の出力がHighに切り換わっているが、FF33がセットされていないため、AND30によってマスクされて漏電が検出されることがない。
時刻t23で電圧VODが第3基準電圧Vref3を超えると、CP25の出力がHighになってFF32がセットされるため、AND29の出力がLowに切り換わる。これにより、定電流源37の電流値によってコンデンサ19に蓄積された電荷が放電され、電圧VODが下降し始める。時刻t23で下降し始めた電圧VODが第1基準電圧Vref1に到達する予定時刻t26までの期間が漏電検出によるラッチ動作の有効期間となる(一部点線で示されている)。
有効期間において、時刻t24でZCT出力が負の閾電圧(−Vref0)を超えると、CP23bの出力がHighになる。すると、FF32がセットされた状態で、CP23bの出力がHighに切り換わるため、AND28の出力がHighになって、スイッチ素子41がオンされてコンデンサ19に蓄積された電荷が急速に放電される。そして、電圧VODが第1基準電圧Vref1に到達すると、FF32がリセットされるため、スイッチ素子41がオフされると共に、立ち下がりエッジ検出回路40から出力されるパルス信号によってFF33がセットされる。すると、AND27bの出力もHighになるため、可変電流源36が定電流源37よりも大きい第1電流値に設定され、電圧VODが上昇する。
ここで、第1遅延期間Xは、漏電によるZCT出力の変動期間よりも短い期間に設定されているため、AND27aの出力がHighに維持され、時刻t24で上昇を開始した電圧VODが時刻t25で第2基準電圧Vref2を超える。
時刻t25で電圧VODが第2基準電圧Vref2を超えると、FF33がセットされた状態でCP24の出力がHighになる。これにより、AND30の出力がHighになってFF34がセットされ、漏電が検出される。なお、CP24の出力がHighでFF31がセットされるが、AND30の出力がHighになるため、可変電流源36が第2電流値に設定されることなく、定電流源37の電流値によってコンデンサ19に蓄積された電荷が放電される。
なお、有効期間は、漏電によるZCT出力の変動周期よりも長い期間に設定されている。これにより、漏電によるZCT出力の変動が継続している場合に、確実に漏電を検出することができる。また、有効期間は、第1基準電圧Vref1と第3基準電圧Vref3との電圧差と、定電流源37の電流値と、コンデンサ19の容量によって決定される。従って、遅延期間生成端子ODに接続するコンデンサ19によって適切な有効期間を簡単に設定することができる。
制御回路20において、正負の閾電圧源22a、22bを入れ替えてもノイズによる誤検出を防止することができる。図5を参照すると、時刻t31でノイズが発生する。そして、時刻t32で雷サージに起因してZCT11に発生する逆起電力によるZCT出力の変動でCP23aの出力がHighになる。すると、時刻t32から時刻t33の第1遅延時間Xと、時刻t33から時刻t34の第2遅延時間Yとを経過後、時刻t34から時刻t35が有効期間となる。しかし、有効期間において、ZCT出力に逆極性の出力変動が現れないため、時刻t35で待機期間に戻ることになる。
以上説明したように、本実施の形態によれば、ACライン2に流れる電流の不平衡によって漏電を検出する漏電検出装置10であって、ACライン2に直列に接続されたリレー12と、ACライン2に流れる電流の不平衡を検出して電圧に変換するZCT11と、ZCT11によって変換された電圧を正の閾電圧(+Vref0)及び負の閾電圧負の閾電圧(−Vref0)とそれぞれ比較し、正極側の出力変動と負極側の出力変動とを検出する変動検出部(閾電圧源22a、22b、CP23a、23b)と、変動検出部によって正極側もしくは負極側の出力変動が検出された後、有効期間を生成する期間生成部(コンデンサ19、可変電流源36、定電流源37、CP24〜26、FF31、32)と、有効期間に変動検出部によって逆極性の出力変動が検出されると、漏電を検出する漏電検出部(AND28、30、FF33、34、スイッチ素子41)と、漏電検出部による漏電の検出によって、リレー12を動作させてACライン2を遮断させるリレー動作制御部(定電流基準素子45、定電流出力素子46、リレー動作制御素子49)とを備えている。
この構成により、雷サージに起因して発生する逆起電力によるZCT11のZCT出力変動は、起電力の極性が正負いずれかの単極性であるため、漏電として検出されることなく、マスクすることができる。このため、漏電の検出感度を維持して、雷サージに起因する誤検出を確実に防止することができる。
さらに、本実施の形態において、期間生成部は、第1遅延期間Xを生成し、変動検出部は、ZCT11によって変換された電圧が正の閾電圧(+Vref0)を正極側に超えた状態で第1遅延期間Xが経過すると正極側の出力変動を検出し、ZCT11によって変換された電圧が負の閾電圧負の閾電圧(−Vref0)を負極側に超えた状態で第1遅延期間Xが経過すると負極側の出力変動を検出する。
この構成により、第1遅延期間によって雷サージに起因する急激なZCT出力の変動をマスクすることができる。
さらに、本実施の形態において、期間生成部は、第1遅延期間Xに引き続く第2遅延時間Yを生成し、有効期間を第2遅延時間Yに引き続けて生成する。
この構成により、漏電に起因するZCT出力の変動を確実に検出することができ、検出精度を向上させることができる。
さらに、本実施の形態において、期間生成部は、充放電によって期間を生成するコンデンサ19を有し、コンデンサ19を除く期間生成部、漏電検出部及びリレー動作制御部は、集積回路に内蔵されている。
この構成により、外付け部品を削減して装置の小型化が実現でき、製品実装スペースを小さくできる。また、遅延期間生成端子ODに接続するコンデンサ19によって適切な第1遅延期間、第2遅延期間及び有効期間を簡単に設定することができる。
以上、本発明を具体的な実施形態で説明したが、上記実施形態は一例であって、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で変更して実施できることは言うまでも無い。
例えば、変動検出部の正の閾値電圧と負の閾値電圧とを入れ替えた極性に置き換えても、前述の実施形態と同様に動作することができる。
1 AC電源
2 ACライン
10 漏電検出装置
11 零相変流器(ZCT)
11a コイル
11b 磁性体
12 リレー
12a、12b リレー接点
12c リレー用コイル
13 整流用ダイオード
14 平滑コンデンサ
15 電流制限抵抗
16 LED
17 回生ダイオード
18 リセット用スイッチ
19 コンデンサ
20 制御回路
21 内部電源回路
22a、22b 閾電圧源
23a、23b、24〜26 コンパレータ(CP)
27a、27c、28〜30 アンド回路(AND)
27c オア回路(OR)
31〜34 RS型フリップフロップ(FF)
35、37 定電流源
36 可変電流源
38、39 トランジスタ
40 立ち下がりエッジ検出回路
41 スイッチ素子
42〜44 インバータ
45 定電流基準素子
46 定電流出力素子
47、48 抵抗
49 リレー動作制御素子
IN 入力端子
VR 基準電圧端子
VH 電源端子
GND 接地端子
OD 遅延期間生成端子
TRIP 電流制御端子
RE リセット端子

Claims (4)

  1. ACラインに流れる電流の不平衡によって漏電を検出する漏電検出装置であって、
    前記ACラインに直列に接続されたリレーと、
    前記ACラインに流れる電流の不平衡を検出して電圧に変換する零相変流器と、
    前記零相変流器によって変換された電圧を正の閾電圧及び負の閾電圧とそれぞれ比較し、正極側の出力変動と負極側の出力変動とを検出する変動検出部と、
    該変動検出部によって正極側もしくは負極側の出力変動が検出された後、有効期間を生成する期間生成部と、
    前記有効期間に前記変動検出部によって逆極性の出力変動が検出されると、漏電を検出する漏電検出部と、
    該漏電検出部による漏電の検出によって、前記リレーを動作させて前記ACラインを遮断させるリレー動作制御部と、を具備することを特徴とする漏電検出装置。
  2. 前記期間生成部は、第1遅延期間を生成し、
    前記変動検出部は、前記零相変流器によって変換された電圧が正の閾電圧を正極側に超えた状態で前記第1遅延期間が経過すると正極側の出力変動を検出し、前記零相変流器によって変換された電圧が負の閾電圧を負極側に超えた状態で前記第1遅延期間が経過すると負極側の出力変動を検出することを特徴とする請求項1記載の漏電検出装置。
  3. 前記期間生成部は、前記第1遅延期間に引き続く第2遅延時間を生成し、前記有効期間を前記第2遅延時間に引き続けて生成することを特徴とする請求項2記載の漏電検出装置。
  4. 前記期間生成部は、充放電によって期間を生成するコンデンサを有し、
    前記コンデンサを除く前記期間生成部、前記漏電検出部及び前記リレー動作制御部は、集積回路に内蔵されていることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の漏電検出装置。
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