JP2018152731A - Receiving circuit and eye monitor system - Google Patents

Receiving circuit and eye monitor system Download PDF

Info

Publication number
JP2018152731A
JP2018152731A JP2017047771A JP2017047771A JP2018152731A JP 2018152731 A JP2018152731 A JP 2018152731A JP 2017047771 A JP2017047771 A JP 2017047771A JP 2017047771 A JP2017047771 A JP 2017047771A JP 2018152731 A JP2018152731 A JP 2018152731A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
value
comparison result
data signal
comparison
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2017047771A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP6892592B2 (en
Inventor
崇之 柴▲崎▼
Takayuki Shibazaki
崇之 柴▲崎▼
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP2017047771A priority Critical patent/JP6892592B2/en
Priority to US15/913,122 priority patent/US10103911B2/en
Publication of JP2018152731A publication Critical patent/JP2018152731A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6892592B2 publication Critical patent/JP6892592B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L25/00Baseband systems
    • H04L25/02Details ; arrangements for supplying electrical power along data transmission lines
    • H04L25/06Dc level restoring means; Bias distortion correction ; Decision circuits providing symbol by symbol detection
    • H04L25/061Dc level restoring means; Bias distortion correction ; Decision circuits providing symbol by symbol detection providing hard decisions only; arrangements for tracking or suppressing unwanted low frequency components, e.g. removal of dc offset
    • H04L25/063Setting decision thresholds using feedback techniques only
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/01Shaping pulses
    • H03K5/08Shaping pulses by limiting; by thresholding; by slicing, i.e. combined limiting and thresholding
    • H03K5/082Shaping pulses by limiting; by thresholding; by slicing, i.e. combined limiting and thresholding with an adaptive threshold
    • H03K5/086Shaping pulses by limiting; by thresholding; by slicing, i.e. combined limiting and thresholding with an adaptive threshold generated by feedback
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B10/00Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
    • H04B10/60Receivers
    • H04B10/66Non-coherent receivers, e.g. using direct detection
    • H04B10/69Electrical arrangements in the receiver
    • H04B10/693Arrangements for optimizing the preamplifier in the receiver
    • H04B10/6933Offset control of the differential preamplifier
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L1/00Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
    • H04L1/20Arrangements for detecting or preventing errors in the information received using signal quality detector
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L1/00Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
    • H04L1/20Arrangements for detecting or preventing errors in the information received using signal quality detector
    • H04L1/206Arrangements for detecting or preventing errors in the information received using signal quality detector for modulated signals
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L7/00Arrangements for synchronising receiver with transmitter
    • H04L7/02Speed or phase control by the received code signals, the signals containing no special synchronisation information
    • H04L7/033Speed or phase control by the received code signals, the signals containing no special synchronisation information using the transitions of the received signal to control the phase of the synchronising-signal-generating means, e.g. using a phase-locked loop
    • H04L7/0334Processing of samples having at least three levels, e.g. soft decisions
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L25/00Baseband systems
    • H04L25/38Synchronous or start-stop systems, e.g. for Baudot code
    • H04L25/40Transmitting circuits; Receiving circuits
    • H04L25/49Transmitting circuits; Receiving circuits using code conversion at the transmitter; using predistortion; using insertion of idle bits for obtaining a desired frequency spectrum; using three or more amplitude levels ; Baseband coding techniques specific to data transmission systems
    • H04L25/4917Transmitting circuits; Receiving circuits using code conversion at the transmitter; using predistortion; using insertion of idle bits for obtaining a desired frequency spectrum; using three or more amplitude levels ; Baseband coding techniques specific to data transmission systems using multilevel codes

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Dc Digital Transmission (AREA)
  • Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)
  • Cable Transmission Systems, Equalization Of Radio And Reduction Of Echo (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce power consumption of a receiving circuit having eye monitor function.SOLUTION: A comparison circuit 13 outputs comparison results obtained by comparing a data signal Di with a threshold TH adjusted based on an offset value THoff at a timing synchronized with a clock signal CKe having a phase adjusted based on a phase difference between the data signal Di and clock signals CKd1, CKd2, and an offset value PSoff. An eye monitor circuit 15 decimates the comparison results between the data signal Di and the threshold in a CDR circuit 12 to be obtained for each of symbols of the data signal Di, selects a comparison result in a symbol where the comparison results by the comparison circuit 13 can be obtained, and compares the selected comparison result with the comparison results of the comparison circuit 13, to determine the presence of an error due to the offset value THoff or the offset value PSoff, and outputs the number of errors generated.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、受信回路及びアイモニタシステムに関する。   The present invention relates to a receiving circuit and an eye monitor system.

情報処理装置やLSI(Large Scale Integrated circuit)などに用いられる受信回路では、伝送されてきたデータ信号から値(データ)とクロック信号を再生するCDR(Clock Data Recovery)が行われる。CDRでは、適切なタイミングでデータ判定(サンプリング)をするために、データ判定用のクロック信号とデータ信号との位相差を検出し、クロック信号の位相を調整することが行われる。   In a receiving circuit used for an information processing device, an LSI (Large Scale Integrated circuit), or the like, CDR (Clock Data Recovery) is performed to recover a value (data) and a clock signal from a transmitted data signal. In the CDR, in order to perform data determination (sampling) at an appropriate timing, a phase difference between the data determination clock signal and the data signal is detected and the phase of the clock signal is adjusted.

従来、データ信号の1シンボル(1UI(Unit Interval)と呼ばれる場合もある)当たり2回のサンプリングを行う(以下2xサンプリングという)CDR回路がある。このCDR回路では、データ信号のエッジ部分(ゼロクロス点)を検出するためにデータ判定用のクロック信号とは別のクロック信号が用いられる。そして、その別のクロック信号に同期したタイミングにおけるデータ信号の振幅レベルに基づいて、そのタイミングがゼロクロス点にロックされるように調整される。データ判定用のクロック信号は、上記別のクロック信号に対して、位相が0.5UI分ずれるように調整される。   Conventionally, there is a CDR circuit that performs sampling twice (hereinafter referred to as 2 × sampling) per symbol (sometimes referred to as 1 UI (Unit Interval)) of a data signal. In this CDR circuit, a clock signal different from the clock signal for data determination is used to detect the edge portion (zero cross point) of the data signal. Then, based on the amplitude level of the data signal at the timing synchronized with the other clock signal, the timing is adjusted to be locked to the zero cross point. The clock signal for data determination is adjusted so that the phase is shifted by 0.5 UI with respect to the other clock signal.

ただ、2xサンプリングのCDR回路では、1シンボル当たり2回サンプリング動作が行われるため消費電力が増大する。クロック信号による消費電力を削減可能なCDR回路として、1シンボル当たり1回のサンプリングを行う(以下1xサンプリングという)CDR回路がある。1xサンプリングのCDR回路では、データ判定回路(たとえば等化回路を含む)が、クロック信号に同期したタイミングで各シンボルのデータ信号の値を判定する。さらに、2シンボル分のデータ判定を行うタイミングにおけるデータ信号の振幅レベルに基づいて、位相差の検出とクロック信号の位相の調整が行われる。   However, in the CDR circuit of 2x sampling, the power consumption increases because the sampling operation is performed twice per symbol. As a CDR circuit capable of reducing power consumption due to a clock signal, there is a CDR circuit that performs sampling once per symbol (hereinafter referred to as 1 × sampling). In a 1x sampling CDR circuit, a data determination circuit (including an equalization circuit, for example) determines the value of the data signal of each symbol at a timing synchronized with the clock signal. Further, the phase difference is detected and the phase of the clock signal is adjusted based on the amplitude level of the data signal at the timing of performing data determination for two symbols.

ところで、受信回路では、回路内部での受信特性を評価するためにアイモニタ機能を含む場合がある。アイモニタ機能は、クロック信号の位相や、データ判定をするための閾値を変化させたときにBER(Bit Error Rate)がどう変化するかを検出する機能である。2xサンプリングのCDR回路にアイモニタ機能を適用する場合は、データ判定用のクロック信号の位相に、オフセット値が加えられる。   By the way, the receiving circuit may include an eye monitor function in order to evaluate the reception characteristics inside the circuit. The eye monitor function is a function for detecting how the BER (Bit Error Rate) changes when the phase of the clock signal and the threshold value for data determination are changed. When the eye monitor function is applied to the 2x sampling CDR circuit, an offset value is added to the phase of the clock signal for data determination.

なお、最新の通信規格では、回路や素子の動作速度が限界に近付いている状況から、動作速度を上げずにデータレートを向上させる技術として、PAM4(Pulse Amplitude Modulation 4)などの多値伝送技術を採用することが提案されている。   In the latest communication standards, the multi-value transmission technology such as PAM4 (Pulse Amplitude Modulation 4) is used as a technology to improve the data rate without increasing the operating speed because the operating speed of circuits and elements is approaching the limit. It has been proposed to adopt

特開2015−192200号公報JP-A-2015-192200

1xサンプリングのCDR回路を含む受信回路では、データ判定と位相差検出の両方に用いられるクロック信号の位相にオフセット値が加えられると、位相調整機能によってオフセット値がキャンセルされてしまう。このためアイモニタ機能が実現できない。アイモニタ機能を実現するため、オフセット値で位相調整可能なクロック信号とデータ判定回路を追加し、そのクロック信号に同期したタイミングでデータ判定回路にアイモニタ用のデータ判定結果を出力させればよい。しかしその場合、消費電力が増大する問題がある。なお、多値伝送技術を用いた場合には、データ判定回路の規模が大きくなるため、この問題はより顕著となる。   In a receiving circuit including a 1x sampling CDR circuit, when an offset value is added to the phase of a clock signal used for both data determination and phase difference detection, the offset value is canceled by the phase adjustment function. For this reason, the eye monitor function cannot be realized. In order to realize the eye monitor function, a clock signal whose phase can be adjusted by an offset value and a data determination circuit are added, and the data determination result is output to the data determination circuit at a timing synchronized with the clock signal. . However, in that case, there is a problem that power consumption increases. Note that this problem becomes more prominent when the multi-level transmission technique is used because the scale of the data determination circuit increases.

1つの側面では、本発明は、アイモニタ機能を有する受信回路の消費電力を抑えること目的とする。   In one aspect, an object of the present invention is to reduce power consumption of a receiving circuit having an eye monitor function.

1つの実施態様では、データ信号を受け、第1のクロック信号に同期した第1のタイミングで前記データ信号と第1の閾値とを比較した第1の比較結果と、前記第1のタイミングで前記データ信号と複数の第2の閾値とを比較した第2の比較結果に基づいて前記データ信号と前記第1のクロック信号の位相差を検出し、前記位相差に基づいて前記第1のクロック信号の位相の調整を行うCDR回路と、前記データ信号と、第1のオフセット値に基づいて大きさが調整される第3の閾値とを、前記位相差と第2のオフセット値に基づいて位相が調整される第2のクロック信号に同期した第2のタイミングで比較した第3の比較結果を出力する比較回路と、前記データ信号の各シンボルに対してそれぞれ得られる前記第1の比較結果または前記第1の比較結果に基づいて得られる第1の値を間引いて、前記第3の比較結果が得られる第1のシンボルにおける第4の比較結果または第2の値を選択し、前記第3の比較結果と前記第4の比較結果または前記第2の値とを比較することで、前記第1のオフセット値または前記第2のオフセット値によるエラーの有無を判定し、前記エラーの発生回数を出力するアイモニタ回路と、を有する受信回路が提供される。   In one embodiment, a first comparison result of comparing the data signal with a first threshold at a first timing that receives the data signal and is synchronized with the first clock signal, and at the first timing, A phase difference between the data signal and the first clock signal is detected based on a second comparison result obtained by comparing the data signal with a plurality of second threshold values, and the first clock signal is detected based on the phase difference. A CDR circuit that adjusts the phase of the signal, a third threshold value that is adjusted based on the first offset value, the data signal, and a third threshold value that is adjusted based on the phase difference and the second offset value. A comparison circuit for outputting a third comparison result compared at a second timing synchronized with the second clock signal to be adjusted; and the first comparison result obtained for each symbol of the data signal or the First The first value obtained based on the comparison result is thinned out to select the fourth comparison result or the second value in the first symbol from which the third comparison result is obtained, and the third comparison result And the fourth comparison result or the second value to determine whether there is an error due to the first offset value or the second offset value, and to output the number of occurrences of the error And a monitor circuit.

また、1つの実施態様では、アイモニタシステムが提供される。   In one embodiment, an eye monitor system is provided.

1つの側面では、本発明は、アイモニタ機能を有する受信回路の消費電力を抑えることができる。   In one aspect, the present invention can suppress power consumption of a receiving circuit having an eye monitor function.

第1の実施の形態の受信回路の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the receiving circuit of 1st Embodiment. データ判定回路(DFE)の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of a data determination circuit (DFE). データ判定回路の他の例を示す図である。It is a figure which shows the other example of a data determination circuit. アイモニタを実行するアイモニタシステムの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the eye monitor system which performs an eye monitor. 制御装置によって制御される受信回路のアイモニタ動作の一例の流れを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the flow of an example of the eye monitor operation | movement of the receiving circuit controlled by a control apparatus. アイ波形の補正例を示す図である。It is a figure which shows the example of correction | amendment of an eye waveform. 比較例の受信回路を示す図である。It is a figure which shows the receiving circuit of a comparative example. 第2の実施の形態の受信回路の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the receiving circuit of 2nd Embodiment. 第3の実施の形態の受信回路の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the receiving circuit of 3rd Embodiment. PAM4のデータ信号における2ビット値の割り当て例を示す図である。It is a figure which shows the example of allocation of the 2-bit value in the data signal of PAM4. 閾値の調整例を示す図である(その1)。It is a figure which shows the example of adjustment of a threshold value (the 1). 閾値の調整例を示す図である(その2)。It is a figure which shows the example of adjustment of a threshold value (the 2). 1タップDFEであるデータ判定回路で用いられる閾値の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the threshold value used with the data determination circuit which is 1 tap DFE. 比較回路の特性を検出する回路の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the circuit which detects the characteristic of a comparison circuit. 参照電圧生成回路の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of a reference voltage generation circuit. 第4の実施の形態の受信回路の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the receiving circuit of 4th Embodiment. 第5の実施の形態の受信回路の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the receiving circuit of 5th Embodiment.

以下、発明を実施するための形態を、図面を参照しつつ説明する。
(第1の実施の形態)
図1は、第1の実施の形態の受信回路の一例を示す図である。
Hereinafter, embodiments for carrying out the invention will be described with reference to the drawings.
(First embodiment)
FIG. 1 is a diagram illustrating an example of a receiving circuit according to the first embodiment.

図1では、ハーフレート動作を行う受信回路10の例が示されている。
受信回路10は、等化回路11、CDR回路12、比較回路13、デマルチプレクサ(図1ではDMXと表記されている)14、アイモニタ回路15を有する。
FIG. 1 shows an example of a receiving circuit 10 that performs a half-rate operation.
The reception circuit 10 includes an equalization circuit 11, a CDR circuit 12, a comparison circuit 13, a demultiplexer (denoted as DMX in FIG. 1) 14, and an eye monitor circuit 15.

等化回路11は、1シンボル当たり0または1の2値をもつデータ信号Drを受信し、データ信号Drに対して等化処理を行い、データ信号Diを出力する。等化回路11として、たとえば、CTLE(Continuous-Time Linear Equalizer)を用いることができる。なお、等化回路11の代わりにアンプを用いてもよい。その場合、アンプは、データ信号Drを増幅することでデータ信号Diを出力する。   The equalization circuit 11 receives a data signal Dr having a binary value of 0 or 1 per symbol, performs equalization processing on the data signal Dr, and outputs a data signal Di. As the equalizing circuit 11, for example, CTLE (Continuous-Time Linear Equalizer) can be used. An amplifier may be used instead of the equalization circuit 11. In that case, the amplifier outputs the data signal Di by amplifying the data signal Dr.

CDR回路12は、データ判定回路12a、複数の比較回路12b1,12b2,12c1,12c2、デマルチプレクサ12d、位相検出回路12e、フィルタ12f、位相調整回路12g1,12g2、クロック生成回路12hを有する。   The CDR circuit 12 includes a data determination circuit 12a, a plurality of comparison circuits 12b1, 12b2, 12c1, and 12c2, a demultiplexer 12d, a phase detection circuit 12e, a filter 12f, phase adjustment circuits 12g1 and 12g2, and a clock generation circuit 12h.

データ判定回路12aは、たとえば、DFE(Decision Feedback Equalizer)であり複数の比較回路を含む(図2、図3参照)。DFEは、符号間干渉(ISI:Inter-Symbol Interference)を抑制するための等化処理をするとともにデータ判定を行う。ハーフレート動作を行うため、データ判定回路12aは、2相のクロック信号CKd1,CKd2に同期したタイミングで、データ信号Diと閾値とを比較した比較結果(データ判定結果)を出力する。クロック信号CKd1,CKd2は、180°位相が異なっている。なお、1つのクロック信号の立ち上がりタイミングをクロック信号CKd1、立ち下がりタイミングをクロック信号CKd2として用いてもよい。   The data determination circuit 12a is, for example, a DFE (Decision Feedback Equalizer) and includes a plurality of comparison circuits (see FIGS. 2 and 3). The DFE performs an equalization process for suppressing inter-symbol interference (ISI) and performs data determination. In order to perform the half-rate operation, the data determination circuit 12a outputs a comparison result (data determination result) comparing the data signal Di and the threshold at a timing synchronized with the two-phase clock signals CKd1 and CKd2. The clock signals CKd1 and CKd2 are 180 ° out of phase. Note that the rising timing of one clock signal may be used as the clock signal CKd1, and the falling timing may be used as the clock signal CKd2.

比較回路12b1は、クロック信号CKd1に同期したタイミングで、データ信号Diと閾値VHとを比較した比較結果を出力し、比較回路12b2は、クロック信号CKd2に同期したタイミングで、データ信号Diと閾値VHとを比較した比較結果を出力する。   The comparison circuit 12b1 outputs a comparison result obtained by comparing the data signal Di and the threshold value VH at a timing synchronized with the clock signal CKd1, and the comparison circuit 12b2 outputs the data signal Di and the threshold value VH at a timing synchronized with the clock signal CKd2. Output the comparison result.

比較回路12c1は、クロック信号CKd1に同期したタイミングで、データ信号Diと閾値VLとを比較した比較結果を出力し、比較回路12c2は、クロック信号CKd2に同期したタイミングで、データ信号Diと閾値VLとを比較した比較結果を出力する。   The comparison circuit 12c1 outputs a comparison result obtained by comparing the data signal Di and the threshold value VL at a timing synchronized with the clock signal CKd1, and the comparison circuit 12c2 outputs the data signal Di and the threshold value VL at a timing synchronized with the clock signal CKd2. Output the comparison result.

データ信号Diの電圧が−1から+1まで変化するとした場合、データ信号Diの振幅の変化の中心は0Vであり、たとえば、閾値VHは、+2/3、閾値VLは、−2/3などとする。   When the voltage of the data signal Di changes from −1 to +1, the center of change of the amplitude of the data signal Di is 0V. For example, the threshold VH is +2/3, the threshold VL is −2/3, and the like. To do.

デマルチプレクサ12dは、データ判定回路12aが出力する2ビットの比較結果をnビットに逆多重化して出力データ信号Doとして出力する。また、デマルチプレクサ12dは、比較回路12b1,12b2が、それぞれ1ビットずつ出力する計2ビットの比較結果をnビットに逆多重化して、比較結果PHとして出力する。また、デマルチプレクサ12dは、比較回路12c1,12c2が、それぞれ1ビットずつ出力する計2ビットの比較結果をnビットに逆多重化して、比較結果PLとして出力する。nは、たとえば、デジタル回路で実現される位相検出回路12eの処理能力(図示しない動作クロック信号の周波数によって決まる)に応じて設定される。   The demultiplexer 12d demultiplexes the 2-bit comparison result output from the data determination circuit 12a into n bits and outputs the result as an output data signal Do. In addition, the demultiplexer 12d demultiplexes a total of 2 bits of comparison results output by the comparison circuits 12b1 and 12b2 into 1 bit, respectively, and outputs the result as a comparison result PH. In addition, the demultiplexer 12d demultiplexes the total 2 bits of the comparison results output by the comparison circuits 12c1 and 12c2 into 1 bit each, and outputs the result as the comparison result PL. For example, n is set according to the processing capability of the phase detection circuit 12e realized by a digital circuit (determined by the frequency of an operation clock signal not shown).

位相検出回路12eは、デマルチプレクサ12dが出力するnビットの出力データ信号Do、比較結果PH,PLを受ける。そして、位相検出回路12eは、出力データ信号Do、比較結果PH,PLに基づいて、データ信号Diとクロック信号CKd1,CKd2との位相差検出を行う。そして、位相検出回路12eは、位相差検出の結果として位相差信号UDを出力する。   The phase detection circuit 12e receives the n-bit output data signal Do output from the demultiplexer 12d and the comparison results PH and PL. The phase detection circuit 12e detects the phase difference between the data signal Di and the clock signals CKd1 and CKd2 based on the output data signal Do and the comparison results PH and PL. Then, the phase detection circuit 12e outputs a phase difference signal UD as a result of phase difference detection.

位相検出回路12eは、たとえば、MM(Mueller-Muller)型の位相検出回路である。MM型の位相検出回路では、連続する2シンボル分の比較結果PH,PLと出力データ信号Doの値に基づいて、位相差信号UDを出力する。   The phase detection circuit 12e is, for example, an MM (Mueller-Muller) type phase detection circuit. The MM type phase detection circuit outputs the phase difference signal UD based on the comparison results PH and PL for two consecutive symbols and the value of the output data signal Do.

たとえば、データ信号Diが、連続する2シンボルで1,0と変化する場合についての位相差信号UDの出力例を説明する。データ信号Diの振幅レベルが、最初のシンボルで閾値VHよりも小さく、次のシンボルで閾値VLよりも小さい場合、クロック信号CKd1,CKd2の位相が、データ信号Diのアイパターンのアイの中央の位相に対して遅れていることが検出される。この場合、クロック信号CKd1,CKd2の位相が遅れていることを示す位相差信号UDが出力される。   For example, an output example of the phase difference signal UD in the case where the data signal Di changes to 1, 0 in two consecutive symbols will be described. When the amplitude level of the data signal Di is smaller than the threshold value VH in the first symbol and smaller than the threshold value VL in the next symbol, the phase of the clock signals CKd1 and CKd2 is the phase of the center of the eye of the eye pattern of the data signal Di. It is detected that it is late. In this case, a phase difference signal UD indicating that the phases of the clock signals CKd1 and CKd2 are delayed is output.

一方、データ信号Diの振幅レベルが、最初のシンボルで閾値VHよりも大きく、次のシンボルで閾値VLよりも大きい場合、クロック信号CKd1,CKd2の位相が、データ信号Diのアイパターンのアイの中央の位相に対して進んでいることが検出される。この場合、クロック信号CKd1,CKd2の位相が進んでいることを示す位相差信号UDが出力される。   On the other hand, when the amplitude level of the data signal Di is larger than the threshold value VH in the first symbol and larger than the threshold value VL in the next symbol, the phases of the clock signals CKd1 and CKd2 are the center of the eye of the eye pattern of the data signal Di. It is detected that the phase is advanced with respect to the phase. In this case, a phase difference signal UD indicating that the phases of the clock signals CKd1 and CKd2 are advanced is output.

フィルタ12fは、位相差信号UDをフィルタリングして、調整信号を生成する。なお、フィルタ12fはデジタルフィルタに限定されず、位相差信号UDに応じて電流値を調整するチャージポンプなどを有し、調整した電流値を電圧値に変換してその電圧値を調整信号として出力するような回路であってもよい。   The filter 12f filters the phase difference signal UD to generate an adjustment signal. The filter 12f is not limited to a digital filter, and has a charge pump that adjusts the current value according to the phase difference signal UD, converts the adjusted current value into a voltage value, and outputs the voltage value as an adjustment signal. Such a circuit may be used.

位相調整回路12g1は、クロック生成回路12hが出力する4つの(3つでもよい)クロック信号のうち2つを受け、フィルタ12fが出力する調整信号に基づいて位相が調整されたクロック信号CKd1,CKd2を出力する。   The phase adjustment circuit 12g1 receives two of the four (or three) clock signals output from the clock generation circuit 12h, and the clock signals CKd1 and CKd2 whose phases are adjusted based on the adjustment signals output from the filter 12f Is output.

位相調整回路12g2は、クロック生成回路12hが出力する2つの(1つでもよい)クロック信号を受け、フィルタ12fが出力する調整信号と、オフセット値PSoffとに基づいて位相が調整された1つのクロック信号CKeを出力する。   The phase adjustment circuit 12g2 receives two (or one) clock signal output from the clock generation circuit 12h, and one clock whose phase is adjusted based on the adjustment signal output from the filter 12f and the offset value PSoff. The signal CKe is output.

クロック生成回路12hは、たとえば、同じ周波数の4つの(3つでもよい)クロック信号を生成して出力する。
比較回路13は、データ信号Diと、オフセット値THoffに基づいて大きさが調整される閾値THとを、クロック信号CKeに同期したタイミングで比較した比較結果を出力する。
The clock generation circuit 12h generates and outputs four (or three) clock signals having the same frequency, for example.
The comparison circuit 13 outputs a comparison result obtained by comparing the data signal Di and the threshold value TH whose size is adjusted based on the offset value THoff at a timing synchronized with the clock signal CKE.

デマルチプレクサ14は、比較回路13が出力する1ビットの比較結果をn/2ビットに逆多重化してデータ信号Eoとして出力する。
アイモニタ回路15は、データ信号Diの各シンボルに対してそれぞれ得られるデータ判定回路12aによる比較結果を間引いて、比較回路13による比較結果が得られるシンボルにおける比較結果を選択する。そしてアイモニタ回路15は、選択した比較結果と比較回路13による比較結果とを比較することで、オフセット値PSoff,THoffによるエラーの有無を判定し、エラーの発生回数であるエラー数ERRcnt[1:0]を出力する。なお、図1のアイモニタ回路15は、所定回数のエラー判定が終了した場合に、その旨を示す信号ECfinとして、1を出力する。
The demultiplexer 14 demultiplexes the 1-bit comparison result output from the comparison circuit 13 into n / 2 bits and outputs the result as a data signal Eo.
The eye monitor circuit 15 thins out the comparison result by the data determination circuit 12a obtained for each symbol of the data signal Di, and selects the comparison result in the symbol from which the comparison result by the comparison circuit 13 is obtained. Then, the eye monitor circuit 15 compares the selected comparison result with the comparison result by the comparison circuit 13 to determine the presence / absence of an error based on the offset values PSoff and THoff, and the error count ERRcnt [1: 0] is output. The eye monitor circuit 15 shown in FIG. 1 outputs 1 as a signal ECfin indicating that a predetermined number of times of error determination has been completed.

アイモニタ回路15は、2:1セレクタ15a、エラー検出回路15b、セレクタ15c、エラーチェック数カウンタ15d、エラー数カウンタ15eを有する。
2:1セレクタ15aは、出力データ信号Doと選択信号SELとを受け、選択信号SELに基づいて、nビットの出力データ信号Doのうち、奇数ビットまたは偶数ビットの何れかを選択してn/2ビットのデータ信号として出力する。つまり、2:1セレクタ15aは、データ判定回路12aによる比較結果を間引く機能を有する。データ判定回路12aが比較結果を出力する頻度はシンボルごとである。それに対し、比較回路13が比較結果を出力する頻度は、2シンボルに1回となるため、同じシンボルでの比較が可能なように、このような間引き機能を有する2:1セレクタ15aが用いられる。
The eye monitor circuit 15 includes a 2: 1 selector 15a, an error detection circuit 15b, a selector 15c, an error check number counter 15d, and an error number counter 15e.
The 2: 1 selector 15a receives the output data signal Do and the selection signal SEL, and selects either the odd bit or the even bit out of the n-bit output data signal Do based on the selection signal SEL. Output as 2-bit data signal. That is, the 2: 1 selector 15a has a function of thinning out the comparison result by the data determination circuit 12a. The frequency with which the data determination circuit 12a outputs the comparison result is symbol by symbol. On the other hand, since the comparison circuit 13 outputs the comparison result once every two symbols, the 2: 1 selector 15a having such a thinning function is used so that comparison with the same symbol is possible. .

エラー検出回路15bは、デマルチプレクサ14が出力するn/2ビットのデータ信号Eoと2:1セレクタ15aが出力するn/2ビットのデータ信号とを受ける。そして、エラー検出回路15bは、データ信号Diの同じシンボルにおけるデータ判定回路12aによる比較結果と比較回路13による比較結果とを比較して、一致しているか否かを判定する。つまり、エラー検出回路15bは、オフセット値PSoff,THoffを用いることで、データ信号Eoと出力データ信号Doとの不一致が生じるか(エラーが発生するか)否かのエラー判定を行う。また、エラー検出回路15bは、エラー判定を行うたびにエラー判定を行った旨を示す信号を出力するとともに、エラーが生じている場合には、エラーが発生したことを示す信号を出力する。   The error detection circuit 15b receives the n / 2-bit data signal Eo output from the demultiplexer 14 and the n / 2-bit data signal output from the 2: 1 selector 15a. Then, the error detection circuit 15b compares the comparison result by the data determination circuit 12a and the comparison result by the comparison circuit 13 in the same symbol of the data signal Di and determines whether or not they match. That is, the error detection circuit 15b uses the offset values PSoff and THoff to determine whether or not a mismatch between the data signal Eo and the output data signal Do occurs (whether an error occurs). The error detection circuit 15b outputs a signal indicating that error determination has been performed every time error determination is performed, and outputs a signal indicating that an error has occurred when an error has occurred.

なお、エラー検出回路15bは、スタート信号STを受け、スタート信号STが0から1になると、2:1セレクタ15aが出力するデータ信号とデータ信号Eoとの位相の同期(ロック)の検出を行い、ロックの検出後に、エラー判定を開始する。   The error detection circuit 15b receives the start signal ST, and when the start signal ST changes from 0 to 1, the error detection circuit 15b detects phase synchronization (lock) between the data signal output from the 2: 1 selector 15a and the data signal Eo. After the lock is detected, error determination is started.

セレクタ15cは、エラー検出回路15bが出力するエラーが発生したことを示す信号を受け、あるシンボルにおいてエラーが発生したことを示す信号を、そのシンボルよりも前のシンボルにおけるデータ判定回路12aによる比較結果の値ごとに分けて、別々に出力する。この理由については後述する。図1では、データ判定回路12aをDFEとして、DFEのタップ数が1である場合に対応したセレクタ15cの例が示されている。この場合、セレクタ15cは、1ビット(1シンボル)前の出力データ信号Doの値が0か1かにより、別々にエラーが発生したことを示す信号を出力する1:2セレクタである。   The selector 15c receives a signal indicating that an error output from the error detection circuit 15b has occurred, and compares the signal indicating that an error has occurred in a certain symbol with the data determination circuit 12a in the symbol preceding that symbol. Separate each value and output separately. The reason for this will be described later. FIG. 1 shows an example of the selector 15c corresponding to the case where the data determination circuit 12a is DFE and the number of taps of the DFE is 1. In this case, the selector 15c is a 1: 2 selector that separately outputs a signal indicating that an error has occurred depending on whether the value of the output data signal Do one bit (one symbol) before is 0 or 1.

なお、DFEのタップ数がn(n≧2)である場合(2シンボル以上前のシンボルによるISIの影響も考慮する場合)、セレクタ15cは、1:2nセレクタとなる。
エラーチェック数カウンタ15dは、エラー検出回路15bが出力するエラー判定を行った旨を示す信号を受けて、エラー判定を行った回数(エラーチェック数)をカウントする。さらにエラーチェック数カウンタ15dは、カウント値が、所定の値に達した場合に、信号ECfinとして1を出力する。
When the number of DFE taps is n (n ≧ 2) (when the influence of ISI due to two or more symbols before is considered), the selector 15c is a 1: 2 n selector.
The error check number counter 15d receives the signal indicating that the error determination output from the error detection circuit 15b has been performed, and counts the number of error determinations (error check number). Further, the error check number counter 15d outputs 1 as the signal ECfin when the count value reaches a predetermined value.

エラー数カウンタ15eは、セレクタ15cが出力するエラーが発生したことを示す信号を受け、1ビット前の出力データ信号Doの値が0か1かにより別々に、エラーの発生回数をカウントする。そして、エラー数カウンタ15eは、カウントした結果をエラー数ERRcnt[1:0]として出力する。   The error number counter 15e receives a signal indicating that an error output from the selector 15c has occurred, and counts the number of error occurrences separately depending on whether the value of the output data signal Do one bit before is 0 or 1. Then, the error number counter 15e outputs the counted result as the error number ERRcnt [1: 0].

なお、データ判定回路12aがn(n≧2)タップのDFEである場合、エラー数カウンタ15eはn2種類のエラー数を出力する。
なお、オフセット値PSoff,THoff、選択信号SEL、スタート信号STは、たとえば、受信回路10の外部または内部の、図示しない制御装置から供給される。オフセット値PSoff,THoffは、たとえば、デジタルコードなどである。
When the data determination circuit 12a is a DFE with n (n ≧ 2) taps, the error number counter 15e outputs n 2 types of errors.
Note that the offset values PSoff and THoff, the selection signal SEL, and the start signal ST are supplied from, for example, a control device (not shown) outside or inside the receiving circuit 10. The offset values PSoff and THoff are, for example, digital codes.

図1には、データ信号Diの連続する2つのシンボルm,m+1と、オフセット値PSoff,THoffの調整例が示されている。横軸は時間を表し、縦軸は電圧を表す。波形16は、データ信号Diの全遷移を重ね合わせたものである。タイミングt1,t4,t6は、クロック信号CKeに同期したタイミングを示し、タイミングt2,t5はクロック信号CKd1に同期したタイミングを示し、タイミングt3,t7はクロック信号CKd2に同期したタイミングを示す。   FIG. 1 shows an adjustment example of two consecutive symbols m and m + 1 of the data signal Di and offset values PSoff and THoff. The horizontal axis represents time, and the vertical axis represents voltage. Waveform 16 is a superposition of all transitions of data signal Di. Timings t1, t4, and t6 indicate timings synchronized with the clock signal CKe, timings t2 and t5 indicate timings synchronized with the clock signal CKd1, and timings t3 and t7 indicate timings synchronized with the clock signal CKd2.

たとえば、タイミングt1において、オフセット値THoffがΔTHoffだけ増加されると、比較回路13における閾値THが、閾値TH1から閾値TH2だけ増加する。
また、タイミングt4において、オフセット値THoffが最大値まで到達すると(図1の例では、閾値THが閾値VHに到達するオフセット値THoffの値)、オフセット値PSoffがΔPSoffだけ増加される。そして、オフセット値THoffは最小値(図1の例では、閾値THが閾値VLになるオフセット値THoffの値)に設定される。
For example, when the offset value THoff is increased by ΔTHoff at the timing t1, the threshold value TH in the comparison circuit 13 is increased from the threshold value TH1 by the threshold value TH2.
Further, when the offset value THoff reaches the maximum value at timing t4 (in the example of FIG. 1, the offset value THoff at which the threshold value TH reaches the threshold value VH), the offset value PSoff is increased by ΔPSoff. Then, the offset value THoff is set to the minimum value (in the example of FIG. 1, the value of the offset value THoff at which the threshold value TH becomes the threshold value VL).

なお、オフセット値THoff,PSoffの調整方法は、上記の方法に限定されない。たとえば、エラー数ERRcntに基づいて得られるBERが所定の値より大きくなったら、図示しない制御装置がオフセット値THoff,PSoffの増加を停止して、最小値に戻すようにしてもよい。   Note that the method of adjusting the offset values THoff and PSoff is not limited to the above method. For example, when the BER obtained based on the error number ERRcnt is greater than a predetermined value, a control device (not shown) may stop increasing the offset values THoff and PSoff and return them to the minimum value.

(データ判定回路(DFE)12aの例)
図2は、データ判定回路(DFE)の一例を示す図である。図2では、データ判定回路12aの一例として、ハーフレート動作に対応した、ダイレクト帰還型の1タップDFEが示されている。
(Example of data determination circuit (DFE) 12a)
FIG. 2 is a diagram illustrating an example of a data determination circuit (DFE). In FIG. 2, a direct feedback type 1-tap DFE corresponding to the half-rate operation is shown as an example of the data determination circuit 12a.

データ判定回路12aは、加算回路12a1,12a2、比較回路12a3,12a4、レジスタ12a5,12a6、アンプ12a7,12a8を有する。
加算回路12a1は、データ信号Diからアンプ12a8が出力する補正値(プラスまたはマイナスの値)を差し引く。加算回路12a2は、データ信号Diからアンプ12a7が出力する補正値(プラスまたはマイナスの値)を差し引く。
The data determination circuit 12a includes addition circuits 12a1 and 12a2, comparison circuits 12a3 and 12a4, registers 12a5 and 12a6, and amplifiers 12a7 and 12a8.
The adder circuit 12a1 subtracts the correction value (plus or minus value) output from the amplifier 12a8 from the data signal Di. The adder circuit 12a2 subtracts the correction value (plus or minus value) output from the amplifier 12a7 from the data signal Di.

比較回路12a3は、クロック信号CKd1に同期したタイミングで、加算回路12a1の出力信号と閾値VM(たとえば、0V)とを比較した比較結果(0または1)を出力する。比較回路12a4は、クロック信号CKd2に同期したタイミングで、加算回路12a2の出力信号と閾値VMとを比較した比較結果(0または1)を出力する。   The comparison circuit 12a3 outputs a comparison result (0 or 1) obtained by comparing the output signal of the addition circuit 12a1 with a threshold VM (for example, 0V) at a timing synchronized with the clock signal CKd1. The comparison circuit 12a4 outputs a comparison result (0 or 1) comparing the output signal of the addition circuit 12a2 and the threshold value VM at a timing synchronized with the clock signal CKd2.

レジスタ12a5は、クロック信号CKd2に同期したタイミングで、比較回路12a3が出力する値を取り込み、出力信号OUT[0]として出力する。レジスタ12a6は、クロック信号CKd1に同期したタイミングで、比較回路12a4が出力する値を取り込み、出力信号OUT[1]として出力する。   The register 12a5 takes in the value output from the comparison circuit 12a3 at a timing synchronized with the clock signal CKd2, and outputs it as the output signal OUT [0]. The register 12a6 takes in the value output from the comparison circuit 12a4 at the timing synchronized with the clock signal CKd1, and outputs it as the output signal OUT [1].

アンプ12a7は、出力信号OUT[0]に所定の等化係数(アンプ12a7のゲインに相当する)を乗じた補正値を出力する。アンプ12a8は、出力信号OUT[1]に上記等化係数(アンプ12a8のゲインに相当する)を乗じた補正値を出力する。等化係数は、1ビット前の値によるISI(Inter-Symbol Interference)の影響に応じた値である。なお、出力信号OUT[0],OUT[1]が0の場合には、補正値はマイナスの値となり、出力信号OUT[0],OUT[1]が1の場合には、補正値はプラスの値となる。   The amplifier 12a7 outputs a correction value obtained by multiplying the output signal OUT [0] by a predetermined equalization coefficient (corresponding to the gain of the amplifier 12a7). The amplifier 12a8 outputs a correction value obtained by multiplying the output signal OUT [1] by the equalization coefficient (corresponding to the gain of the amplifier 12a8). The equalization coefficient is a value corresponding to the influence of ISI (Inter-Symbol Interference) due to the value one bit before. When the output signals OUT [0] and OUT [1] are 0, the correction value is a negative value. When the output signals OUT [0] and OUT [1] are 1, the correction value is a positive value. It becomes the value of.

このようなデータ判定回路12aでは、出力信号OUT[0]と出力信号OUT[1]が交互に出力される。また、データ判定回路12aは、1ビット前の値(出力信号OUT[0]または出力信号OUT[1])に応じて発生する信号の劣化分を、上記補正値としてデータ信号Diから差し引くことで、信号の劣化を補正する。   In such a data determination circuit 12a, the output signal OUT [0] and the output signal OUT [1] are alternately output. In addition, the data determination circuit 12a subtracts the deterioration of the signal generated according to the previous value (output signal OUT [0] or output signal OUT [1]) from the data signal Di as the correction value. Correct signal degradation.

ただ、ダイレクト帰還型のDFEの帰還ループには、加算回路12a1,12a2など遅延時間が大きい回路が含まれる。
そのため、図2に示すようなデータ判定回路12aの代わりに、以下に示すようなデータ判定回路を用いてもよい。
However, the feedback loop of the direct feedback type DFE includes a circuit having a large delay time such as the addition circuits 12a1 and 12a2.
Therefore, a data determination circuit as shown below may be used instead of the data determination circuit 12a as shown in FIG.

図3は、データ判定回路の他の例を示す図である。
データ判定回路12iは、ハーフレート動作に対応した、1タップ投機型(Speculative型)DFEである。
FIG. 3 is a diagram illustrating another example of the data determination circuit.
The data determination circuit 12i is a 1-tap speculative DFE that supports half-rate operation.

データ判定回路12iは、比較回路12i1,12i2,12i3,12i4、セレクタ12i5,12i6、レジスタ12i7,12i8を有する。
比較回路12i1は、クロック信号CKd1に同期したタイミングで、データ信号Diと閾値VM+(たとえば、0Vに上記補正値を加えた値)とを比較した比較結果(0または1)を出力する。比較回路12i2は、クロック信号CKd1に同期したタイミングで、データ信号Diと閾値VM−(たとえば、0Vから上記補正値を引いた値)とを比較した比較結果(0または1)を出力する。
The data determination circuit 12i includes comparison circuits 12i1, 12i2, 12i3, 12i4, selectors 12i5, 12i6, and registers 12i7, 12i8.
The comparison circuit 12i1 outputs a comparison result (0 or 1) comparing the data signal Di and a threshold value VM + (for example, a value obtained by adding the correction value to 0V) at a timing synchronized with the clock signal CKd1. The comparison circuit 12i2 outputs a comparison result (0 or 1) comparing the data signal Di and a threshold value VM− (for example, a value obtained by subtracting the correction value from 0V) at a timing synchronized with the clock signal CKd1.

比較回路12i3は、クロック信号CKd2に同期したタイミングで、データ信号Diと閾値VM+とを比較した比較結果(0または1)を出力する。比較回路12i4は、クロック信号CKd2に同期したタイミングで、データ信号Diと閾値VM−とを比較した比較結果(0または1)を出力する。   The comparison circuit 12i3 outputs a comparison result (0 or 1) comparing the data signal Di and the threshold value VM + at a timing synchronized with the clock signal CKd2. The comparison circuit 12i4 outputs a comparison result (0 or 1) comparing the data signal Di and the threshold value VM− at a timing synchronized with the clock signal CKd2.

セレクタ12i5は、レジスタ12i8の出力信号OUT[1]が1の場合には、比較回路12i1における比較結果を選択して出力し、出力信号OUT[1]が0の場合には、比較回路12i2における比較結果を選択して出力する。   The selector 12i5 selects and outputs the comparison result in the comparison circuit 12i1 when the output signal OUT [1] of the register 12i8 is 1, and the output of the comparison circuit 12i2 when the output signal OUT [1] is 0. Select the comparison result and output it.

セレクタ12i6は、レジスタ12i7の出力信号OUT[0]が1の場合には、比較回路12i3における比較結果を選択して出力し、出力信号OUT[0]が0の場合には、比較回路12i4における比較結果を選択して出力する。   The selector 12i6 selects and outputs the comparison result in the comparison circuit 12i3 when the output signal OUT [0] of the register 12i7 is 1, and the output of the comparison circuit 12i4 when the output signal OUT [0] is 0. Select the comparison result and output it.

レジスタ12i7は、クロック信号CKd2に同期したタイミングで、セレクタ12i5が出力する値を取り込み、出力信号OUT[0]として出力する。レジスタ12i8は、クロック信号CKd1に同期したタイミングで、セレクタ12i6が出力する値を取り込み、出力信号OUT[1]として出力する。   The register 12i7 takes in the value output from the selector 12i5 at the timing synchronized with the clock signal CKd2, and outputs it as the output signal OUT [0]. The register 12i8 takes in the value output from the selector 12i6 at the timing synchronized with the clock signal CKd1, and outputs it as the output signal OUT [1].

このようなデータ判定回路12iでは、予めISIの影響を考慮した補正値が与えられた閾値VM+,VM−と、データ信号Diとの比較を行う比較回路12i1〜12i4での比較結果の何れかが、1ビット前の値に応じて選択され出力される。これによって、信号の劣化が補償される。データ判定回路12iではセレクタ12i5,12i6など比較的遅延時間が短い回路を用いられるため、帰還ループの遅延時間はダイレクト帰還型のDFEと比較して短くなる。   In such a data determination circuit 12i, any one of the comparison results in the comparison circuits 12i1 to 12i4 for comparing the threshold values VM + and VM− to which the correction value considering the influence of ISI is given in advance and the data signal Di is used. 1 bit is selected and output according to the previous value. This compensates for signal degradation. Since the data determination circuit 12i uses a circuit having a relatively short delay time such as the selectors 12i5 and 12i6, the delay time of the feedback loop is shorter than that of the direct feedback type DFE.

(受信回路10を用いたアイモニタ例)
以下、図1に示した受信回路10を用いたアイモニタの一例を説明する。
図4は、アイモニタを実行するアイモニタシステムの一例を示す図である。
(Example of an eye monitor using the receiving circuit 10)
Hereinafter, an example of an eye monitor using the receiving circuit 10 illustrated in FIG. 1 will be described.
FIG. 4 is a diagram illustrating an example of an eye monitor system that executes an eye monitor.

アイモニタシステムは、受信回路10、制御装置20、表示装置20aを有する。
制御装置20は、オフセット値PSoff,THoff、選択信号SEL、スタート信号STを受信回路10に供給し、データ信号Eo、信号ECfin、エラー数ERRcnt[1:0]を受信回路10から受ける。そして、制御装置20は、図示しないメモリに記憶されているソフトウェアを実行し、オフセット値PSoff,THoffを変化させていったときの信号ECfin、エラー数ERRcnt[1:0]に基づいて、表示装置20aにアイ波形を表示させる。
The eye monitor system includes a receiving circuit 10, a control device 20, and a display device 20a.
The control device 20 supplies the offset values PSoff and THoff, the selection signal SEL, and the start signal ST to the reception circuit 10 and receives the data signal Eo, the signal ECfin, and the error number ERRcnt [1: 0] from the reception circuit 10. Then, the control device 20 executes software stored in a memory (not shown), and based on the signal ECfin and the error number ERRcnt [1: 0] when the offset values PSoff and THoff are changed, the display device An eye waveform is displayed at 20a.

制御装置20は、たとえば、コンピュータ(パーソナルコンピュータなど)であってもよいし、受信回路10と同じ基板上に設けられたプロセッサなどであってもよい。
図5は、制御装置によって制御される受信回路のアイモニタ動作の一例の流れを示すフローチャートである。
The control device 20 may be, for example, a computer (such as a personal computer) or a processor provided on the same substrate as the receiving circuit 10.
FIG. 5 is a flowchart showing a flow of an example of the eye monitor operation of the receiving circuit controlled by the control device.

アイモニタ動作は、たとえば、受信回路10のプロトタイプが製作されたときの動作検証時、受信回路10の出荷試験時、または、受信回路10を含む送受信システムにおける動作検証時などに行われる。   The eye monitor operation is performed, for example, at the time of operation verification when a prototype of the reception circuit 10 is manufactured, at the time of a shipping test of the reception circuit 10, or at the time of operation verification in a transmission / reception system including the reception circuit 10.

まず、制御装置20による制御のもと、比較回路13にオフセット値THoffが設定される。また、位相調整回路12g2にオフセット値PSoffが設定される(ステップS1)。また、2:1セレクタ15aの選択信号SELが設定され(ステップS2)、エラー検出回路15bに対するスタート信号STが1に設定される(ステップS3)。   First, the offset value THoff is set in the comparison circuit 13 under the control of the control device 20. Further, the offset value PSoff is set in the phase adjustment circuit 12g2 (step S1). Further, the selection signal SEL of the 2: 1 selector 15a is set (step S2), and the start signal ST for the error detection circuit 15b is set to 1 (step S3).

スタート信号STが1に設定されると、エラー検出回路15bは、2:1セレクタ15aが出力するデータ信号とデータ信号Eoとの位相の同期(ロック)の検出を行い(ステップS4)、ロックの検出後に、エラー判定を開始する(ステップS5)。また、ステップS5の処理では、エラーチェック数カウンタ15dは、エラー検出回路15bが出力するエラー判定を行った旨を示す信号を受けて、エラー判定を行った回数(エラーチェック数)のカウントを開始する。また、エラー数カウンタ15eは、セレクタ15cが出力するエラーが発生したことを示す信号を受け、1ビット前の出力データ信号Doの値が0か1かにより別々に、エラーの発生回数をカウントする。   When the start signal ST is set to 1, the error detection circuit 15b detects the phase synchronization (lock) between the data signal output from the 2: 1 selector 15a and the data signal Eo (step S4), and locks the lock signal. After the detection, error determination is started (step S5). In the process of step S5, the error check number counter 15d receives the signal indicating that the error determination output from the error detection circuit 15b has been performed, and starts counting the number of error determinations (number of error checks). To do. The error number counter 15e receives a signal indicating that an error output from the selector 15c has occurred, and counts the number of occurrences of the error separately depending on whether the value of the output data signal Do one bit before is 0 or 1. .

エラーチェック数カウンタ15dは、エラーチェック数(カウント値)が所定の値Nthに達したか否かを判定し(ステップS6)、エラーチェック数が値Nthに達していない場合には、ステップS6の処理を繰り返す。エラーチェック数カウンタ15dは、エラーチェック数が、値Nthに達した場合に、信号ECfinとして1を出力する(ステップS7)。   The error check number counter 15d determines whether or not the error check number (count value) has reached a predetermined value Nth (step S6). If the error check number has not reached the value Nth, step S6 Repeat the process. The error check number counter 15d outputs 1 as the signal ECfin when the error check number reaches the value Nth (step S7).

信号ECfinが1になると、制御装置20による制御のもと、スタート信号STが0に設定される(ステップS8)。これにより、エラー検出回路15bは、エラー判定を停止する。   When the signal ECfin becomes 1, the start signal ST is set to 0 under the control of the control device 20 (step S8). Thereby, the error detection circuit 15b stops the error determination.

その後、オフセット値THoff,PSoffがともに最大値でなければ(ステップS9:NO)、オフセット値THoffまたはオフセット値PSoffがインクリメントされ(ステップS10)、ステップS1からの処理が繰り返される。   Thereafter, if the offset values THoff and PSoff are not the maximum values (step S9: NO), the offset value THoff or the offset value PSoff is incremented (step S10), and the processing from step S1 is repeated.

オフセット値THoff,PSoffがともに最大値の場合には(ステップS9:YES)、受信回路10のアイモニタ動作が終了する。
制御装置20は、たとえば、オフセット値THoff,PSoffの値の各組み合わせにおいて、信号ECfinが1になったときのエラー数ERRcnt[1:0]に基づいて、表示装置20aにアイ波形を表示させる。
When the offset values THoff and PSoff are both maximum values (step S9: YES), the eye monitoring operation of the receiving circuit 10 is finished.
For example, in each combination of the offset values THoff and PSoff, the control device 20 causes the display device 20a to display an eye waveform based on the number of errors ERRcnt [1: 0] when the signal ECfin becomes 1.

たとえば、データ信号Diのあるシンボルにおいて、データ判定回路12aが出力する判定結果が1のとき、オフセット値THoffが大きくなると閾値THが大きくなり、データ信号Diの振幅レベルを超える場合がある。その場合、比較回路13が出力する判定結果が0に反転する。これによりエラー検出回路15bにおいて、エラーが検出される。   For example, in a certain symbol of the data signal Di, when the determination result output by the data determination circuit 12a is 1, when the offset value THoff increases, the threshold value TH increases and may exceed the amplitude level of the data signal Di. In that case, the determination result output from the comparison circuit 13 is inverted to zero. As a result, an error is detected in the error detection circuit 15b.

オフセット値THoffが大きくなると、このようなエラーが多く検出されるようになる。また、オフセット値THoffが小さくなると、閾値THがデータ信号Diの値が0のときの振幅レベルを下回る場合が多くなり、エラーが多く検出されるようになる。このため、制御装置20は、エラー数ERRcnt[1:0]の増加からデータ信号Diの振幅レベル、つまり、アイ波形のアイの高さを見積もることができる。   When the offset value THoff increases, many such errors are detected. Further, when the offset value THoff decreases, the threshold value TH is often lower than the amplitude level when the value of the data signal Di is 0, and many errors are detected. Therefore, the control device 20 can estimate the amplitude level of the data signal Di, that is, the eye height of the eye waveform from the increase in the number of errors ERRcnt [1: 0].

オフセット値PSoffが大きくなっても(またはマイナス方向に大きくなっても)同様にエラー数ERRcnt[1:0]が増加する。たとえば、オフセット値PSoffが大きくなり、サンプリングタイミングが、アイの境界を越えてしまうと、エラー数ERRcntが増加する。これによりアイ波形のアイの幅を見積もることができる。   Even if the offset value PSoff increases (or increases in the negative direction), the error number ERRcnt [1: 0] increases in the same manner. For example, when the offset value PSoff increases and the sampling timing exceeds the eye boundary, the error number ERRcnt increases. Thus, the eye width of the eye waveform can be estimated.

また、制御装置20は、図2または図3に示したようなデータ判定回路12a,12iにおいて用いられる補正値に基づいてアイ波形を補正し、データ判定回路12a,12iによる等化処理後のアイ波形を再現することができる。   Further, the control device 20 corrects the eye waveform based on the correction value used in the data determination circuits 12a and 12i as shown in FIG. 2 or 3, and the eye after the equalization processing by the data determination circuits 12a and 12i. The waveform can be reproduced.

図6は、アイ波形の補正例を示す図である。図6において、横軸は時間を表し、縦軸は電圧を表す。
アイ波形25は、1ビット前の出力データ信号Doの値が1のときのエラーの発生回数に基づいて得られる。アイ波形26は、1ビット前の出力データ信号Doの値が0のときのエラーの発生回数に基づいて得られる。
FIG. 6 is a diagram showing an example of eye waveform correction. In FIG. 6, the horizontal axis represents time, and the vertical axis represents voltage.
The eye waveform 25 is obtained based on the number of occurrences of errors when the value of the output data signal Do one bit before is 1. The eye waveform 26 is obtained based on the number of occurrences of errors when the value of the output data signal Do one bit before is 0.

制御装置20は、アイ波形25に対して、データ判定回路12a,12iで用いられる補正値C1を差し引くことで、アイ波形25aを得る。また、制御装置20は、アイ波形26に対して、データ判定回路12a,12iで用いられる補正値C1を加えることで、アイ波形26aを得る。なお、制御装置20は、予め補正値C1を保持している。   The control device 20 obtains the eye waveform 25a by subtracting the correction value C1 used in the data determination circuits 12a and 12i from the eye waveform 25. Further, the control device 20 adds the correction value C1 used in the data determination circuits 12a and 12i to the eye waveform 26, thereby obtaining the eye waveform 26a. The control device 20 holds a correction value C1 in advance.

そして、制御装置20は、アイ波形25a,26aを、表示装置20aに重ねて表示させることで、等価的に、データ判定回路12a,12iによる等化処理後のアイ波形を、たとえばユーザに提示することができる。   Then, the control device 20 displays the eye waveforms 25a and 26a on the display device 20a so as to equivalently present the eye waveforms after the equalization processing by the data determination circuits 12a and 12i, for example, to the user. be able to.

以上のような第1の実施の形態の受信回路10を用いることで、上記のようなアイモニタ機能を実現できるとともに、データ判定回路12aと同様の回路を設ける代わりに、1つの比較回路13を設ければよいため、消費電力を抑えられる。   By using the receiving circuit 10 of the first embodiment as described above, the eye monitor function as described above can be realized, and instead of providing a circuit similar to the data determination circuit 12a, one comparison circuit 13 is provided. Since it suffices to provide power consumption, power consumption can be reduced.

なお、たとえば、比較回路13の代わりにデータ判定回路12aと同じ回路を用いた場合、以下に示すような受信回路が得られる。
(比較例の受信回路)
図7は、比較例の受信回路を示す図である。図7において、図1に示した要素と同じ要素については同一符号が付されている。
For example, when the same circuit as the data determination circuit 12a is used instead of the comparison circuit 13, a receiving circuit as shown below is obtained.
(Receiving circuit of comparative example)
FIG. 7 is a diagram illustrating a receiving circuit of a comparative example. In FIG. 7, the same elements as those shown in FIG.

受信回路30では、図1に示した比較回路13の代わりに、DFE32が設けられている。DFE32は、図2に示したようなデータ判定回路12aまたは図3に示したようなデータ判定回路12iと同様の回路である。受信回路30では、DFE32がデータ信号Diと比較する閾値がオフセット値THoffにより調整される。DFE32は、ハーフレート動作するため、位相が180°異なる2相のクロック信号CKe1,CKe2に同期したタイミングで、データ信号Diと閾値との比較結果を出力する。   In the reception circuit 30, a DFE 32 is provided instead of the comparison circuit 13 shown in FIG. The DFE 32 is a circuit similar to the data determination circuit 12a as shown in FIG. 2 or the data determination circuit 12i as shown in FIG. In the receiving circuit 30, the threshold value that the DFE 32 compares with the data signal Di is adjusted by the offset value THoff. Since the DFE 32 operates at a half rate, the DFE 32 outputs a comparison result between the data signal Di and the threshold at a timing synchronized with the two-phase clock signals CKE1 and CKE2 that are 180 degrees out of phase.

このため、クロック生成回路31bは、4つのクロック信号を出力し、位相調整回路31cは、そのうち2つのクロック信号の位相を調整して、クロック信号CKe1,CKe2を出力する。   For this reason, the clock generation circuit 31b outputs four clock signals, and the phase adjustment circuit 31c adjusts the phases of the two clock signals, and outputs clock signals CKe1 and CKe2.

DFE32が出力する2ビットの比較結果は、CDR回路31のデマルチプレクサ31aでnビットに逆多重化され、データ信号Eoとして出力される。また、データ信号Eoは、アイモニタ回路33のエラー検出回路33aに供給される。   The 2-bit comparison result output from the DFE 32 is demultiplexed into n bits by the demultiplexer 31a of the CDR circuit 31 and output as a data signal Eo. The data signal Eo is supplied to the error detection circuit 33a of the eye monitor circuit 33.

エラー検出回路33aは、データ信号Eoと出力データ信号Doに基づいてエラー判定を行い、エラー数カウンタ33cは、エラー数をカウントして、エラー数ERRcntとして出力する。また、エラーチェック数カウンタ33bは、エラー判定回数が所定の値に達すると、信号ECfinとして1を出力する。   The error detection circuit 33a performs error determination based on the data signal Eo and the output data signal Do, and the error number counter 33c counts the number of errors and outputs it as an error number ERRcnt. Further, the error check number counter 33b outputs 1 as the signal ECfin when the number of error determinations reaches a predetermined value.

図1に示した受信回路10では、上記のような複数の比較回路を含むDFE32の代わりに、1つの比較回路13を用いてアイモニタ機能を実現するため、消費電力を抑制することができる。また、受信回路30では、各シンボルにおいてエラー判定が行われるため、2つのクロック信号CKe1,CKe2が用いられる。これに対して、受信回路10では、2シンボルに1回、エラー判定が行われるため、1つのクロック信号CKeでアイモニタ機能が実現でき、消費電力を抑制できる。   In the receiving circuit 10 shown in FIG. 1, the eye monitor function is realized by using one comparison circuit 13 instead of the DFE 32 including the plurality of comparison circuits as described above, so that power consumption can be suppressed. In the receiving circuit 30, since error determination is performed for each symbol, two clock signals CKE1 and CKE2 are used. On the other hand, in the receiving circuit 10, since the error determination is performed once every two symbols, the eye monitor function can be realized by one clock signal CKe, and the power consumption can be suppressed.

なお、上記の例では、ハーフレート動作を行う受信回路10を説明したが、これに限定されない。たとえば、受信回路10を、クォーターレート動作を行う受信回路に拡張する場合には、適宜回路数が増加される。たとえば、データ判定回路12aは4相のクロック信号に同期したタイミングで4ビットの比較結果を出力する回路となる。その場合、比較回路13の代わりに、たとえば、2相のクロック信号に同期したタイミングで閾値THとデータ信号Diとを比較する2つの比較回路が設けられていてもよい。なお、その場合、エラー検出回路15bに供給される、2つの比較回路による比較結果と、データ判定回路12aによる比較結果とが、同じシンボルについてのものになるように、2:1セレクタ15aで選択が行われる。   In the above example, the receiving circuit 10 that performs the half-rate operation has been described. However, the present invention is not limited to this. For example, when the receiving circuit 10 is expanded to a receiving circuit that performs a quarter rate operation, the number of circuits is appropriately increased. For example, the data determination circuit 12a is a circuit that outputs a 4-bit comparison result at a timing synchronized with a four-phase clock signal. In that case, instead of the comparison circuit 13, for example, two comparison circuits that compare the threshold value TH with the data signal Di at a timing synchronized with a two-phase clock signal may be provided. In this case, the 2: 1 selector 15a selects the comparison result of the two comparison circuits supplied to the error detection circuit 15b and the comparison result of the data determination circuit 12a for the same symbol. Is done.

(第2の実施の形態)
図1の例では、エラー検出回路15bは、出力データ信号Doを正しいものとしてエラー判定を行うが、出力データ信号Doに基づいて得られる期待値と、データ信号Eoとを比較してエラー判定を行うようにしてもよい。
(Second Embodiment)
In the example of FIG. 1, the error detection circuit 15b performs error determination with the output data signal Do being correct, but compares the expected value obtained based on the output data signal Do with the data signal Eo to perform error determination. You may make it perform.

図8は、第2の実施の形態の受信回路の一例を示す図である。図8において、図1に示した要素と同じ要素については同一符号が付されている。
第2の実施の形態の受信回路40において、アイモニタ回路41は、期待値生成回路41aを含んでいる。
FIG. 8 is a diagram illustrating an example of a receiving circuit according to the second embodiment. 8, the same elements as those shown in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals.
In the receiving circuit 40 of the second embodiment, the eye monitor circuit 41 includes an expected value generation circuit 41a.

期待値生成回路41aは、データ判定回路12aが出力する比較結果の期待値を出力する。期待値は、0と1を繰り返す0101などのデータパターンの値や、たとえば、PRBS(Pseudo-random bit sequence)などの予測可能なデータパターンの値である。期待値としてそのようなデータパターンの値を用いる場合、アイモニタ機能が実行される際に、受信回路40にはそのテストパターンがデータ信号Drとして供給される。期待値生成回路41aは、一度、上記のようなデータパターンをシードとして受けると(たとえば、初期動作時)、その後は、そのデータパターンに従って期待値を推定する。これにより、出力データ信号Doにエラーが生じていても、正しい値を出力し続けることができる。   The expected value generation circuit 41a outputs an expected value of the comparison result output from the data determination circuit 12a. The expected value is a value of a data pattern such as 0101 that repeats 0 and 1, or a predictable data pattern value such as PRBS (Pseudo-random bit sequence). When such a data pattern value is used as the expected value, the test pattern is supplied to the receiving circuit 40 as the data signal Dr when the eye monitor function is executed. Once the expected value generation circuit 41a receives the above data pattern as a seed (for example, during initial operation), the expected value is estimated according to the data pattern thereafter. Thereby, even if an error occurs in the output data signal Do, it is possible to continue to output a correct value.

2:1セレクタ15aやエラー検出回路15bでは、出力データ信号Doの代わりに期待値が用いられ、第1の実施の形態の受信回路10と同様の動作が行われる。
受信回路40のその他の動作も、図1に示した受信回路10と同様であり、受信回路40でも受信回路10と同様の効果が得られる。
In the 2: 1 selector 15a and the error detection circuit 15b, an expected value is used instead of the output data signal Do, and an operation similar to that of the reception circuit 10 of the first embodiment is performed.
Other operations of the receiving circuit 40 are the same as those of the receiving circuit 10 shown in FIG. 1, and the receiving circuit 40 can obtain the same effects as the receiving circuit 10.

(第3の実施の形態)
図9は、第3の実施の形態の受信回路の一例を示す図である。
図9では、1シンボル当たり4値をもつPAM4(Pulse Amplitude Modulation 4)のデータ信号Draを受信し、ハーフレート動作を行う受信回路50の例が示されている。
(Third embodiment)
FIG. 9 is a diagram illustrating an example of a receiving circuit according to the third embodiment.
FIG. 9 shows an example of a receiving circuit 50 that receives a data signal Dra of PAM4 (Pulse Amplitude Modulation 4) having four values per symbol and performs a half-rate operation.

受信回路50は、等化回路51、CDR回路52、比較回路53、デマルチプレクサ(図9ではDMXと表記されている)54、アイモニタ回路55を有する。
等化回路51は、PAM4のデータ信号Draを受信し、データ信号Draに対して等化処理を行い、データ信号Diaを出力する。等化回路51として、たとえば、CTLEを用いることができる。なお、等化回路51の代わりにアンプを用いてもよい。その場合、アンプは、データ信号Draを増幅することでデータ信号Diaを出力する。
The reception circuit 50 includes an equalization circuit 51, a CDR circuit 52, a comparison circuit 53, a demultiplexer (denoted as DMX in FIG. 9) 54, and an eye monitor circuit 55.
The equalization circuit 51 receives the data signal Dra of PAM4, performs equalization processing on the data signal Dra, and outputs a data signal Dia. For example, CTLE can be used as the equalization circuit 51. An amplifier may be used in place of the equalization circuit 51. In that case, the amplifier outputs the data signal Dia by amplifying the data signal Dra.

PAM4では、3つの閾値で区切られた4つの電位レベルのそれぞれに2ビット値が対応付けられる。
図10は、PAM4のデータ信号における2ビット値の割り当て例を示す図である。横軸は時間を表し、縦軸は電圧を表す。波形56は、データ信号Diaの全遷移を重ね合わせたものである。
In PAM4, a 2-bit value is associated with each of four potential levels divided by three threshold values.
FIG. 10 is a diagram illustrating an example of assignment of 2-bit values in a PAM4 data signal. The horizontal axis represents time, and the vertical axis represents voltage. A waveform 56 is obtained by superimposing all transitions of the data signal Dia.

図10に示すように、閾値V1,V2,V3で区切られた4つの電位レベルのそれぞれに2ビット値が対応付けられている。図10の例では、4つの電位レベルのうち、一番低い電位レベルには、“00”、次に低い電位レベルには、“01”、2番目に高い電位レベルには、“10”、一番高い電位レベルには、“11”が割り当てられている。なお、2ビット値の割り当ては、上記に限定されるものではない。電位レベルの低い順に“00”,“01”,“11”,“10”などと、グレイコードを用いて2ビット値が割り当てられていてもよい。   As shown in FIG. 10, a 2-bit value is associated with each of the four potential levels divided by the threshold values V1, V2, and V3. In the example of FIG. 10, among the four potential levels, the lowest potential level is “00”, the next lowest potential level is “01”, the second highest potential level is “10”, “11” is assigned to the highest potential level. The assignment of 2-bit values is not limited to the above. Two-bit values may be assigned using gray codes such as “00”, “01”, “11”, “10”, etc. in order of increasing potential level.

以下では、各2ビット値を、電位レベルの低い順に、10進数で、0、1、2、3と呼ぶ。
閾値V1,V2,V3のうち中心の閾値V2は、データ信号Diaの振幅の変化の中心であり、たとえば、0Vである。また、データ信号Diaの電圧が−1から+1まで変化するとした場合、閾値V3は、+2/3、閾値V1は、−2/3などとする。つまり、閾値V1と閾値V2との差分(電圧差)と、閾値V2と閾値V3との差分は等しい。
In the following, each 2-bit value is called 0, 1, 2, 3 in decimal notation in order of increasing potential level.
Of the threshold values V1, V2, and V3, the central threshold value V2 is the center of change in the amplitude of the data signal Dia, and is, for example, 0V. When the voltage of the data signal Dia is changed from −1 to +1, the threshold V3 is set to +2/3, the threshold V1 is set to −2/3, and the like. That is, the difference (voltage difference) between the threshold value V1 and the threshold value V2 is equal to the difference between the threshold value V2 and the threshold value V3.

CDR回路52は、PAM4用のデータ判定回路52a、比較回路52b1,52b2,52c1,52c2,52d1,52d2,52e1,52e2を有する。さらにCDR回路52は、デマルチプレクサ52f、位相検出回路52g、フィルタ52h、位相調整回路52i1,52i2、クロック生成回路52jを有する。   The CDR circuit 52 includes a data determination circuit 52a for PAM4 and comparison circuits 52b1, 52b2, 52c1, 52c2, 52d1, 52d2, 52e1, and 52e2. Further, the CDR circuit 52 includes a demultiplexer 52f, a phase detection circuit 52g, a filter 52h, phase adjustment circuits 52i1 and 52i2, and a clock generation circuit 52j.

データ判定回路52aは、たとえば、データ信号Diaと上記3つの閾値V1〜V3とを比較する複数の比較回路を含み、閾値V1〜V3のそれぞれとデータ信号Diaとの比較結果(データ判定結果)を出力する。データ判定回路52aは、ハーフレート動作を行うため、クロック信号CKd1,CKd2に同期したタイミングで比較処理を行い、3×2=6ビット(1シンボル当たり3ビット)の比較結果を出力する。   The data determination circuit 52a includes, for example, a plurality of comparison circuits that compare the data signal Dia and the three threshold values V1 to V3, and the comparison result (data determination result) between each of the threshold values V1 to V3 and the data signal Dia. Output. Since the data determination circuit 52a performs a half rate operation, the data determination circuit 52a performs a comparison process at a timing synchronized with the clock signals CKd1 and CKd2, and outputs a comparison result of 3 × 2 = 6 bits (3 bits per symbol).

なお、データ判定回路52aは、前述したダイレクト帰還型のDFE、または、投機型のDFEの機能を有していてもよい。
比較回路52b1は、クロック信号CKd1に同期したタイミングで、データ信号Diaと閾値VHHとを比較した比較結果を出力する。比較回路52b2は、クロック信号CKd2に同期したタイミングで、データ信号Diaと閾値VHHとを比較した比較結果を出力する。
The data determination circuit 52a may have the function of the direct feedback type DFE or the speculative type DFE described above.
The comparison circuit 52b1 outputs a comparison result comparing the data signal Dia and the threshold value VHH at a timing synchronized with the clock signal CKd1. The comparison circuit 52b2 outputs a comparison result comparing the data signal Dia and the threshold value VHH at a timing synchronized with the clock signal CKd2.

比較回路52c1は、クロック信号CKd1に同期したタイミングで、データ信号Diaと閾値VHLとを比較した比較結果を出力する。比較回路52c2は、クロック信号CKd2に同期したタイミングで、データ信号Diaと閾値VHLとを比較した比較結果を出力する。   The comparison circuit 52c1 outputs a comparison result comparing the data signal Dia and the threshold value VHL at a timing synchronized with the clock signal CKd1. The comparison circuit 52c2 outputs a comparison result comparing the data signal Dia and the threshold value VHL at a timing synchronized with the clock signal CKd2.

比較回路52d1は、クロック信号CKd1に同期したタイミングで、データ信号Diaと閾値VLHとを比較した比較結果を出力する。比較回路52d2は、クロック信号CKd2に同期したタイミングで、データ信号Diaと閾値VLHとを比較した比較結果を出力する。   The comparison circuit 52d1 outputs a comparison result comparing the data signal Dia and the threshold value VLH at a timing synchronized with the clock signal CKd1. The comparison circuit 52d2 outputs a comparison result comparing the data signal Dia and the threshold value VLH at a timing synchronized with the clock signal CKd2.

比較回路52e1は、クロック信号CKd1に同期したタイミングで、データ信号Diaと閾値VLLとを比較した比較結果を出力する。比較回路52e2は、クロック信号CKd2に同期したタイミングで、データ信号Diaと閾値VLLとを比較した比較結果を出力する。   The comparison circuit 52e1 outputs a comparison result comparing the data signal Dia and the threshold value VLL at a timing synchronized with the clock signal CKd1. The comparison circuit 52e2 outputs a comparison result comparing the data signal Dia and the threshold value VLL at a timing synchronized with the clock signal CKd2.

データ信号Diaの電圧が−1から+1まで変化するとした場合、たとえば、閾値VHHは、+1、閾値VHLは、+3/9、閾値VLHは、−3/9、閾値VLLは、−1などとする。   When the voltage of the data signal Dia changes from −1 to +1, for example, the threshold VHH is +1, the threshold VHL is +3/9, the threshold VLH is −3/9, the threshold VLL is −1, and the like. .

デマルチプレクサ52fは、データ判定回路52aが出力する6ビットの比較結果を3nビットに逆多重化して出力データ信号Doaとして出力する。また、デマルチプレクサ52fは、比較回路52b1,52b2が、それぞれ1ビットずつ出力する計2ビットの比較結果をnビットに逆多重化して、比較結果PHHとして出力する。さらに、デマルチプレクサ52fは、比較回路52c1,52c2が、それぞれ1ビットずつ出力する計2ビットの比較結果をnビットに逆多重化して、比較結果PHLとして出力する。また、デマルチプレクサ52fは、比較回路52d1,52d2が、それぞれ1ビットずつ出力する計2ビットの比較結果をnビットに逆多重化して、比較結果PLHとして出力する。さらに、デマルチプレクサ52fは、比較回路52e1,52e2が、それぞれ1ビットずつ出力する計2ビットの比較結果をnビットに逆多重化して、比較結果PLLとして出力する。nは、たとえば、デジタル回路で実現される位相検出回路52gの処理能力(図示しない動作クロック信号の周波数によって決まる)に応じて設定される。   The demultiplexer 52f demultiplexes the 6-bit comparison result output from the data determination circuit 52a into 3n bits and outputs the result as an output data signal Doa. Further, the demultiplexer 52f demultiplexes a total of 2 bits of the comparison results output by the comparison circuits 52b1 and 52b2 into 1 bit and outputs the result as a comparison result PHH. Further, the demultiplexer 52f demultiplexes a total of 2 bits of the comparison results output by the comparison circuits 52c1 and 52c2 by 1 bit into n bits and outputs the result as the comparison result PHL. In addition, the demultiplexer 52f demultiplexes a total of 2 bits of the comparison results output by the comparison circuits 52d1 and 52d2 into 1 bit, respectively, and outputs the result as a comparison result PLH. Further, the demultiplexer 52f demultiplexes a total of 2 bits of comparison results output by the comparison circuits 52e1 and 52e2 by 1 bit into n bits and outputs the result as a comparison result PLL. For example, n is set according to the processing capability (determined by the frequency of an operation clock signal not shown) of the phase detection circuit 52g realized by a digital circuit.

位相検出回路52gは、デマルチプレクサ52fが出力する3nビットの出力データ信号Doa、比較結果PHH,PHL,PLH,PLLを受ける。そして、位相検出回路52gは、出力データ信号Doa、比較結果PHH,PHL,PLH,PLLに基づいて、データ信号Diaとクロック信号CKd1,CKd2との位相差検出を行う。そして、位相検出回路52gは、位相差検出の結果として位相差信号UDを出力する。   The phase detection circuit 52g receives the 3n-bit output data signal Doa output from the demultiplexer 52f and the comparison results PHH, PHL, PLH, and PLL. Then, the phase detection circuit 52g detects a phase difference between the data signal Dia and the clock signals CKd1 and CKd2 based on the output data signal Doa and the comparison results PHH, PHL, PLH, and PLL. Then, the phase detection circuit 52g outputs a phase difference signal UD as a result of the phase difference detection.

第1の実施の形態の受信回路10の位相検出回路12eと同様に、位相検出回路52gも、たとえば、MM型の位相検出回路で実現できる。PAM4のデータ信号Diaを扱うMM型の位相検出回路は、連続する2シンボル分の比較結果PHH,PHL,PLH,PLLと出力データ信号Doaの値に基づいて、位相差信号UDを出力する。   Similar to the phase detection circuit 12e of the reception circuit 10 of the first embodiment, the phase detection circuit 52g can also be realized by, for example, an MM type phase detection circuit. The MM type phase detection circuit that handles the data signal Dia of the PAM4 outputs a phase difference signal UD based on the comparison results PHH, PHL, PLH, PLL for two consecutive symbols and the value of the output data signal Doa.

フィルタ52hは、位相差信号UDをフィルタリングして、調整信号を生成する。なお、フィルタ52hはデジタルフィルタに限定されず、位相差信号UDに応じて電流値を調整するチャージポンプなどを有し、調整した電流値を電圧値に変換してその電圧値を調整信号として出力するような回路であってもよい。   The filter 52h filters the phase difference signal UD to generate an adjustment signal. The filter 52h is not limited to a digital filter, and has a charge pump that adjusts the current value according to the phase difference signal UD, converts the adjusted current value into a voltage value, and outputs the voltage value as an adjustment signal. Such a circuit may be used.

位相調整回路52i1は、クロック生成回路52jが出力する4つの(3つでもよい)クロック信号のうち2つを受け、フィルタ52hが出力する調整信号に基づいて位相が調整されたクロック信号CKd1,CKd2を出力する。   The phase adjustment circuit 52i1 receives two of the four (or three) clock signals output from the clock generation circuit 52j, and the clock signals CKd1 and CKd2 whose phases are adjusted based on the adjustment signals output from the filter 52h. Is output.

位相調整回路52i2は、クロック生成回路52jが出力する2つの(1つでもよい)クロック信号を受け、フィルタ52hが出力する調整信号と、オフセット値PSoffとに基づいて位相が調整された1つのクロック信号CKeを出力する。オフセット値PSoffは、たとえば、図示しない制御装置から供給される。   The phase adjustment circuit 52i2 receives two (or one) clock signals output from the clock generation circuit 52j, and one clock whose phase is adjusted based on the adjustment signal output from the filter 52h and the offset value PSoff. The signal CKe is output. The offset value PSoff is supplied from a control device (not shown), for example.

クロック生成回路52jは、たとえば、同じ周波数の4つの(3つでもよい)クロック信号を生成して出力する。
比較回路53は、データ信号Diaと、オフセット値THoffに基づいて大きさが調整される閾値THとを、クロック信号CKeに同期したタイミングで比較した比較結果を出力する。オフセット値THoffは、たとえば、図示しない制御装置から供給される。
The clock generation circuit 52j generates and outputs four (or three) clock signals having the same frequency, for example.
The comparison circuit 53 outputs a comparison result in which the data signal Dia is compared with the threshold value TH whose size is adjusted based on the offset value THoff at a timing synchronized with the clock signal CKe. The offset value THoff is supplied from a control device (not shown), for example.

デマルチプレクサ54は、比較回路53が出力する1ビットの比較結果をn/2ビットに逆多重化してデータ信号Eoaとして出力する。
アイモニタ回路55は、データ信号Diaの各シンボルに対してそれぞれ得られるデータ判定回路52aによる比較結果を間引いて、比較回路53による比較結果が得られるシンボルにおける比較結果を選択する。そしてアイモニタ回路55は、選択した比較結果と比較回路53による比較結果とを比較することで、オフセット値PSoff,THoffによるエラーの有無を判定し、エラーの発生回数であるエラー数ERRcnt[3:0]を出力する。また、アイモニタ回路55は、所定回数のエラー判定が終了した場合に、その旨を示す信号ECfinとして、1を出力する。
The demultiplexer 54 demultiplexes the 1-bit comparison result output from the comparison circuit 53 into n / 2 bits and outputs the result as a data signal Eoa.
The eye monitor circuit 55 thins out the comparison result by the data determination circuit 52a obtained for each symbol of the data signal Dia, and selects the comparison result in the symbol from which the comparison result by the comparison circuit 53 is obtained. Then, the eye monitor circuit 55 compares the selected comparison result with the comparison result of the comparison circuit 53 to determine the presence or absence of an error based on the offset values PSoff and THoff, and the error count ERRcnt [3: 0] is output. Further, when a predetermined number of error determinations are completed, the eye monitor circuit 55 outputs 1 as a signal ECfin indicating that.

アイモニタ回路55は、6:1セレクタ55a、エラー検出回路55b、セレクタ55c、エラーチェック数カウンタ55d、エラー数カウンタ55eを有する。
6:1セレクタ55aは、出力データ信号Doaと選択信号SELとを受ける。6:1セレクタ55aは、選択信号SELに基づいて、データ信号Diaの奇数または偶数シンボルの一方に対してデータ判定回路52aが出力する1シンボル当たり3ビットの比較結果のうち1ビットを、出力データ信号Doaから選択する。これによって、6:1セレクタ55aから、n/2ビットのデータ信号が出力される。つまり、6:1セレクタ55aは、データ判定回路52aによる比較結果を間引く機能を有する。データ判定回路52aが比較結果を出力する頻度はシンボルごとである。それに対し、比較回路53が比較結果を出力する頻度は、2シンボルに1回となる。また、データ判定回路52aが1シンボル当たり3ビットの比較結果を出力するのに対して、比較回路53は、1シンボル当たり1ビットの比較結果を出力する。このため、同じシンボルで、対応するビットの値の比較が可能なように、このような間引き機能を有する6:1セレクタ55aが用いられる。
The eye monitor circuit 55 includes a 6: 1 selector 55a, an error detection circuit 55b, a selector 55c, an error check number counter 55d, and an error number counter 55e.
The 6: 1 selector 55a receives the output data signal Doa and the selection signal SEL. Based on the selection signal SEL, the 6: 1 selector 55a outputs one bit of the comparison result of 3 bits per symbol output by the data determination circuit 52a to one of the odd or even symbols of the data signal Dia. Select from signal Doa. As a result, an n / 2-bit data signal is output from the 6: 1 selector 55a. That is, the 6: 1 selector 55a has a function of thinning out the comparison result by the data determination circuit 52a. The frequency with which the data determination circuit 52a outputs the comparison result is symbol by symbol. On the other hand, the frequency at which the comparison circuit 53 outputs the comparison result is once every two symbols. The data determination circuit 52a outputs a comparison result of 3 bits per symbol, whereas the comparison circuit 53 outputs a comparison result of 1 bit per symbol. Therefore, the 6: 1 selector 55a having such a thinning function is used so that the values of corresponding bits can be compared with the same symbol.

なお、選択信号SELは、たとえば、図示しない制御装置から供給される。制御装置は、たとえば、オフセット値THoffの大きさ(すなわち閾値THの電位レベル)に応じて、異なる選択信号SELを6:1セレクタ55aに供給する。   The selection signal SEL is supplied from, for example, a control device (not shown). For example, the control device supplies a different selection signal SEL to the 6: 1 selector 55a according to the magnitude of the offset value THoff (that is, the potential level of the threshold value TH).

オフセット値THoffの大きさに応じてどのような選択信号SELを出力するか決定するにあたって、制御装置は、予め、たとえば、以下のような検出を行う。
たとえば、制御装置は、受信回路50に対して、値が0で固定としたデータ信号Draを供給する。そして、制御装置は、オフセット値THoffを変化させて、比較回路53の比較結果が反転するオフセット値THoffを検出する。検出されたオフセット値THoffで調整された閾値THが、0の振幅レベル(DCレベル)となる。なお、このような検出が行われる場合、制御装置には、比較回路53の出力端子が接続される入力端子が設けられることになる。
In determining which selection signal SEL is output according to the magnitude of the offset value THoff, the control device performs, for example, the following detection in advance.
For example, the control device supplies a data signal Dra whose value is fixed at 0 to the receiving circuit 50. Then, the control device changes the offset value THoff and detects the offset value THoff at which the comparison result of the comparison circuit 53 is inverted. The threshold value TH adjusted with the detected offset value THoff becomes an amplitude level (DC level) of zero. When such detection is performed, the control device is provided with an input terminal to which the output terminal of the comparison circuit 53 is connected.

同様に、制御装置は、受信回路50に対して、値が1,2,3で固定としたデータ信号Draを供給して、オフセット値THoffを変化させて、比較回路53の比較結果が反転するオフセット値THoffを検出する。検出された各オフセット値THoffで調整された閾値THが、1,2,3の振幅レベル(DCレベル)となる。   Similarly, the control device supplies the data signal Dra whose values are fixed to 1, 2, and 3 to the receiving circuit 50, changes the offset value THoff, and the comparison result of the comparison circuit 53 is inverted. An offset value THoff is detected. The threshold value TH adjusted with each detected offset value THoff becomes the amplitude level (DC level) of 1, 2, and 3.

そして、制御装置は、受信回路50を用いたアイモニタ動作時に、オフセット値THoffの大きさに基づいて、たとえば、以下のような選択信号SELを6:1セレクタ55aに供給する。   Then, the control device supplies, for example, the following selection signal SEL to the 6: 1 selector 55a based on the magnitude of the offset value THoff during the eye monitoring operation using the receiving circuit 50.

オフセット値THoffが閾値THを、0のDCレベルから1のDCレベルの間に調整する値である場合、制御装置は、たとえば、データ信号Diaと閾値V3との比較結果を示すビットを選択させる旨の選択信号SELを、6:1セレクタ55aに供給する。オフセット値THoffが閾値THを、1のDCレベルから2のDCレベルの間に調整する値である場合、制御装置は、たとえば、データ信号Diaと閾値V2との比較結果を示すビットを選択させる旨の選択信号SELを、6:1セレクタ55aに供給する。オフセット値THoffが閾値THを、2のDCレベルから3のDCレベルの間に調整する値である場合、制御装置は、たとえば、データ信号Diaと閾値V1との比較結果を示すビットを選択させる旨の選択信号SELを、6:1セレクタ55aに供給する。   When the offset value THoff is a value that adjusts the threshold value TH between a DC level of 0 and a DC level of 1, the control device, for example, selects a bit indicating a comparison result between the data signal Dia and the threshold value V3. The selection signal SEL is supplied to the 6: 1 selector 55a. When the offset value THoff is a value that adjusts the threshold value TH between a DC level of 1 and a DC level of 2, the control device, for example, selects a bit indicating a comparison result between the data signal Dia and the threshold value V2. The selection signal SEL is supplied to the 6: 1 selector 55a. When the offset value THoff is a value that adjusts the threshold value TH between the DC level of 2 and the DC level of 3, the control device, for example, selects a bit indicating the comparison result between the data signal Dia and the threshold value V1. The selection signal SEL is supplied to the 6: 1 selector 55a.

エラー検出回路55bは、デマルチプレクサ54が出力するn/2ビットのデータ信号Eoaと、上記の6:1セレクタ55aの機能によって、データ信号Eoaの各ビットに対応するビットを有するn/2ビットのデータ信号とを受ける。そして、エラー検出回路55bは、データ信号Eoaの各ビットの値と、その各ビットに対応した、6:1セレクタ55aが出力するデータ信号のビットの値とを比較し、一致しているか否かを判定する。   The error detection circuit 55b has an n / 2-bit data signal Eoa output from the demultiplexer 54 and an n / 2-bit data having a bit corresponding to each bit of the data signal Eoa by the function of the 6: 1 selector 55a. Receive data signals. Then, the error detection circuit 55b compares the value of each bit of the data signal Eoa with the value of the bit of the data signal output by the 6: 1 selector 55a corresponding to each bit, and determines whether or not they match. Determine.

つまり、エラー検出回路55bは、オフセット値PSoff,THoffを用いることで、データ信号Eoaと出力データ信号Doaとの不一致が生じるか(エラーが発生するか)否かのエラー判定を行う。また、エラー検出回路55bは、エラー判定を行うたびにエラー判定を行った旨を示す信号を出力するとともに、エラーが生じている場合には、エラーが発生したことを示す信号を出力する。   That is, the error detection circuit 55b uses the offset values PSoff and THoff to determine whether or not the data signal Eoa does not match the output data signal Doa (whether an error occurs). The error detection circuit 55b outputs a signal indicating that error determination has been performed each time error determination is performed, and outputs a signal indicating that an error has occurred when an error has occurred.

なお、エラー検出回路55bは、スタート信号STを受け、スタート信号STが0から1になると、6:1セレクタ55aが出力するデータ信号とデータ信号Eoaとの位相の同期(ロック)の検出を行い、ロックの検出後に、エラー判定を開始する。スタート信号STは、たとえば、図示しない制御装置から供給される。   The error detection circuit 55b receives the start signal ST, and when the start signal ST changes from 0 to 1, the error detection circuit 55b detects the phase synchronization (lock) of the data signal output from the 6: 1 selector 55a and the data signal Eoa. After the lock is detected, error determination is started. The start signal ST is supplied from a control device (not shown), for example.

セレクタ55cは、エラー検出回路55bが出力するエラーが発生したことを示す信号を受ける。そしてセレクタ55cは、あるシンボルにおいてエラーが発生したことを示す信号を、そのシンボルよりも前のシンボルにおけるデータ判定回路52aによる比較結果の値ごとに分けて、別々に出力する。図9では、データ判定回路52aをDFEとして、DFEのタップ数が1である場合に対応したセレクタ55cの例が示されている。この場合、セレクタ55cは、1シンボル前の出力データ信号Doaの値が0〜3の何れかにより、別々にエラーが発生したことを示す信号を出力する1:4セレクタである。   The selector 55c receives a signal indicating that an error output from the error detection circuit 55b has occurred. Then, the selector 55c divides the signal indicating that an error has occurred in a certain symbol for each value of the comparison result by the data determination circuit 52a in the symbol before the symbol, and outputs it separately. FIG. 9 shows an example of the selector 55c corresponding to the case where the data determination circuit 52a is DFE and the number of taps of the DFE is 1. In this case, the selector 55c is a 1: 4 selector that outputs a signal indicating that an error has occurred separately, depending on whether the value of the output data signal Doa one symbol before is 0-3.

エラーチェック数カウンタ55dは、エラー検出回路55bが出力するエラー判定を行った旨を示す信号を受けて、エラー判定を行った回数(エラーチェック数)をカウントする。さらにエラーチェック数カウンタ55dは、カウント値が、所定の値に達した場合に、信号ECfinとして1を出力する。   The error check number counter 55d receives the signal indicating that the error determination output from the error detection circuit 55b has been performed, and counts the number of error determinations (number of error checks). Further, the error check number counter 55d outputs 1 as the signal ECfin when the count value reaches a predetermined value.

エラー数カウンタ55eは、セレクタ55cが出力するエラーが発生したことを示す信号を受け、1シンボル前の出力データ信号Doaの値が0〜3の何れかにより別々に、エラーの発生回数をカウントする。そして、エラー数カウンタ55eは、カウントした結果をエラー数ERRcnt[3:0]として出力する。   The error number counter 55e receives a signal indicating that an error output from the selector 55c has occurred, and separately counts the number of error occurrences depending on whether the value of the output data signal Doa one symbol before is 0 to 3. . Then, the error number counter 55e outputs the counted result as the error number ERRcnt [3: 0].

なお、DFEのタップ数がn(n≧2)である場合(2シンボル以上前のシンボルによるISIの影響も考慮する場合)、セレクタ55cは、1:4nセレクタとなり、エラー数カウンタ55eが出力するエラー数も4n種類となる。 Note that (when considering the effects of ISI by the previous symbol or two symbols) number of taps DFE is n (n ≧ 2) in which case, the selector 55c is 1: 4 becomes n selector, the error number counter 55e is output There are 4 n types of errors.

図11、図12は、閾値の調整例を示す図である。
図11、図12には、データ信号Diaの連続する2つのシンボルm,m+1におけるオフセット値PSoff,THoffの調整例が示されている。横軸は時間を表し、縦軸は電圧を表す。波形56は、データ信号Diaの全遷移を示したものである。タイミングt10,t13,t15は、クロック信号CKeに同期したタイミングを示し、タイミングt11,t14はクロック信号CKd1に同期したタイミングを示し、タイミングt12,t16はクロック信号CKd2に同期したタイミングを示す。
11 and 12 are diagrams illustrating examples of threshold adjustment.
11 and 12 show adjustment examples of offset values PSoff and THoff in two consecutive symbols m and m + 1 of the data signal Dia. The horizontal axis represents time, and the vertical axis represents voltage. A waveform 56 shows all transitions of the data signal Dia. Timings t10, t13, and t15 indicate timings synchronized with the clock signal CKe, timings t11 and t14 indicate timings synchronized with the clock signal CKd1, and timings t12 and t16 indicate timings synchronized with the clock signal CKd2.

たとえば、タイミングt10において、オフセット値THoffがΔTHoff1だけ増加されると、比較回路53における閾値THが、閾値TH3から閾値TH4だけ増加する。   For example, when the offset value THoff is increased by ΔTHoff1 at timing t10, the threshold value TH in the comparison circuit 53 is increased from the threshold value TH3 by the threshold value TH4.

また、タイミングt13において、オフセット値THoffが最大値まで到達すると(図12の例では、閾値THが閾値VHHに到達するオフセット値THoffの値)、オフセット値PSoffがΔPSoff1だけ増加される。そして、オフセット値THoffは最小値(図12の例では、閾値THが閾値VLLになるオフセット値THoffの値)に設定される。   Further, when the offset value THoff reaches the maximum value at timing t13 (in the example of FIG. 12, the value of the offset value THoff at which the threshold value TH reaches the threshold value VHH), the offset value PSoff is increased by ΔPSoff1. The offset value THoff is set to the minimum value (in the example of FIG. 12, the value of the offset value THoff at which the threshold value TH becomes the threshold value VLL).

なお、前述のように、閾値THの電位レベルに基づいて、選択信号SELが変わる。たとえば、閾値THが、閾値TH3,TH4の電位レベルである場合には、閾値V1とデータ信号Diaとの比較結果を示すビットを選択させる選択信号SELが、6:1セレクタ55aに供給される。   As described above, the selection signal SEL changes based on the potential level of the threshold value TH. For example, when the threshold TH is the potential level of the thresholds TH3 and TH4, the selection signal SEL for selecting a bit indicating the comparison result between the threshold V1 and the data signal Dia is supplied to the 6: 1 selector 55a.

(受信回路50を用いたアイモニタ例)
第1の実施の形態の受信回路10を用いた場合と同様に、第3の実施の形態の受信回路50を用いた場合も、図4に示したような制御装置20や表示装置20aを含むシステムにより、アイモニタが実現される。制御装置20によって制御される受信回路50のアイモニタ動作の流れも、たとえば、図5に示したフローチャートと同じである。
(Example of an eye monitor using the receiving circuit 50)
Similar to the case of using the receiving circuit 10 of the first embodiment, the case of using the receiving circuit 50 of the third embodiment includes the control device 20 and the display device 20a as shown in FIG. An eye monitor is realized by the system. The flow of the eye monitor operation of the receiving circuit 50 controlled by the control device 20 is also the same as the flowchart shown in FIG. 5, for example.

また、データ判定回路52aがダイレクト型DFEまたは投機型DFEである場合、制御装置20は、データ判定回路52aで用いられる補正値に基づいてアイ波形を補正し、データ判定回路52aによる等化処理後のアイ波形を再現することができる。   When the data determination circuit 52a is a direct type DFE or speculative DFE, the control device 20 corrects the eye waveform based on the correction value used in the data determination circuit 52a, and after the equalization processing by the data determination circuit 52a The eye waveform can be reproduced.

データ判定回路52aが1タップのDFEで、PAM4のデータ信号Diaの等化処理を行う場合、1シンボル前の値が0〜3の何れかによって、4つの補正値が用いられる。
図13は、1タップDFEであるデータ判定回路で用いられる閾値の一例を示す図である。図13において、横軸は時間を表し、縦軸は電圧を表す。
When the data determination circuit 52a performs the equalization processing of the data signal Dia of the PAM4 with a 1-tap DFE, four correction values are used depending on whether the value one symbol before is 0 to 3.
FIG. 13 is a diagram illustrating an example of a threshold value used in a data determination circuit that is a 1-tap DFE. In FIG. 13, the horizontal axis represents time, and the vertical axis represents voltage.

閾値V10,V11,V12,V13は、閾値V1が、4つの補正値で調整された値である。閾値V20,V21,V22,V23は、閾値V2が、4つの補正値で調整された値である。閾値V30,V31,V32,V33は、閾値V3が、4つの補正値で調整された値である。   The threshold values V10, V11, V12, and V13 are values obtained by adjusting the threshold value V1 with four correction values. The threshold values V20, V21, V22, and V23 are values obtained by adjusting the threshold value V2 with four correction values. The threshold values V30, V31, V32, and V33 are values obtained by adjusting the threshold value V3 with four correction values.

データ判定回路52aが1タップ投機型DFEである場合、シンボルmにおけるデータ判定結果に応じて、データ判定回路52aは、シンボルm+1のデータ信号Diaに対して、以下のような比較結果を出力する。シンボルmにおけるデータ判定結果が0である場合、データ判定回路52aは、閾値V10,V20,V30と、シンボルm+1におけるデータ信号Diaとの比較結果を出力する。シンボルmにおけるデータ判定結果が1である場合、データ判定回路52aは、閾値V11,V21,V31と、シンボルm+1におけるデータ信号Diaとの比較結果を出力する。シンボルmにおけるデータ判定結果が2である場合、データ判定回路52aは、閾値V12,V22,V32と、シンボルm+1におけるデータ信号Diaとの比較結果を出力する。シンボルmにおけるデータ判定結果が3である場合、データ判定回路52aは、閾値V13,V23,V33と、シンボルm+1におけるデータ信号Diaとの比較結果を出力する。   When the data determination circuit 52a is a 1-tap speculative DFE, the data determination circuit 52a outputs the following comparison result for the data signal Dia of the symbol m + 1 according to the data determination result for the symbol m. When the data determination result at symbol m is 0, data determination circuit 52a outputs a comparison result between threshold values V10, V20, and V30 and data signal Dia at symbol m + 1. When the data determination result at the symbol m is 1, the data determination circuit 52a outputs a comparison result between the threshold values V11, V21, and V31 and the data signal Dia at the symbol m + 1. When the data determination result at the symbol m is 2, the data determination circuit 52a outputs a comparison result between the threshold values V12, V22, V32 and the data signal Dia at the symbol m + 1. When the data determination result at the symbol m is 3, the data determination circuit 52a outputs a comparison result between the threshold values V13, V23, and V33 and the data signal Dia at the symbol m + 1.

なお、データ判定回路52aがダイレクト帰還型の1タップDFEである場合、シンボルm+1におけるデータ信号Diaに、シンボルmでのデータ判定結果に応じた4つの補正値の何れかが加えられることになる。そして、補正値が加えられたデータ信号Diaと、閾値V1〜V3との比較結果が出力される。これは、図13に示したような閾値V10〜V33のうち、4つの補正値の何れか1つに基づいて調整された3つと、シンボルm+1におけるデータ信号Diaとの比較結果を出力することに相当する。なお、DFEのタップ数が増えると、補正値が増え、それに応じて閾値の数も多くなる。   When the data determination circuit 52a is a direct feedback type 1-tap DFE, any one of four correction values corresponding to the data determination result at the symbol m is added to the data signal Dia at the symbol m + 1. Then, a comparison result between the data signal Dia to which the correction value is added and the threshold values V1 to V3 is output. This is because the comparison result between three threshold values V10 to V33 shown in FIG. 13 adjusted based on any one of four correction values and the data signal Dia in the symbol m + 1 is output. Equivalent to. As the number of DFE taps increases, the correction value increases, and the number of thresholds increases accordingly.

制御装置20は、受信回路50が出力するエラー数ERRcnt[3:0]に基づいてアイ波形を得る際、上記のような補正値に基づいて、アイ波形を補正する。これにより、等価的に、データ判定回路52aによる等化処理後のアイ波形を、たとえばユーザに提示することができる。   When obtaining the eye waveform based on the number of errors ERRcnt [3: 0] output from the receiving circuit 50, the control device 20 corrects the eye waveform based on the correction value as described above. Thereby, the eye waveform after the equalization processing by the data determination circuit 52a can be equivalently presented to the user, for example.

なお、オフセット値THoffを線形に増加させたとき、比較回路53の特性によっては、閾値THの増加が非線形になる場合がある。このような場合、以下のような回路を追加することで、比較回路53の特性を検出できる。   When the offset value THoff is increased linearly, the increase in the threshold value TH may be nonlinear depending on the characteristics of the comparison circuit 53. In such a case, the characteristics of the comparison circuit 53 can be detected by adding the following circuit.

図14は、比較回路の特性を検出する回路の一例を示す図である。
図14に示されている回路では、比較回路53と同じ特性をもつ比較回路53aに対して、参照電圧生成回路57が生成する参照電圧Vrefが供給されている。
FIG. 14 is a diagram illustrating an example of a circuit that detects the characteristics of the comparison circuit.
In the circuit shown in FIG. 14, the reference voltage Vref generated by the reference voltage generation circuit 57 is supplied to the comparison circuit 53 a having the same characteristics as the comparison circuit 53.

参照電圧生成回路57は、たとえば、制御装置20から供給される設定信号Vrsetに基づく大きさの参照電圧Vrefを出力する。
図15は、参照電圧生成回路の一例を示す図である。
The reference voltage generation circuit 57 outputs a reference voltage Vref having a magnitude based on the setting signal Vrset supplied from the control device 20, for example.
FIG. 15 is a diagram illustrating an example of a reference voltage generation circuit.

参照電圧生成回路57は、電源VDDとグランドGNDの間に直列に接続された可変抵抗57a,57bを有する。可変抵抗57a,57bの間のノードから参照電圧Vrefが出力される。   The reference voltage generation circuit 57 includes variable resistors 57a and 57b connected in series between the power supply VDD and the ground GND. A reference voltage Vref is output from a node between the variable resistors 57a and 57b.

図示を省略しているが、可変抵抗57a,57bのそれぞれは、たとえば、スイッチ付きの抵抗素子が複数並列に接続された素子であり、オンにするスイッチ数を設定信号Vrsetに基づいて変えることで、参照電圧Vrefの大きさを変えることができる。   Although not shown, each of the variable resistors 57a and 57b is, for example, an element in which a plurality of resistive elements with switches are connected in parallel, and the number of switches to be turned on can be changed based on the setting signal Vrset. The magnitude of the reference voltage Vref can be changed.

比較回路53aの特性検出時、制御装置20は、オフセット値THoffを変えていったときの、比較回路53aによる比較結果(出力信号Out)を検出する。制御装置20がオフセット値THoffを大きくしていったとき、出力信号Outが0から1に変化した点が、参照電圧Vrefと閾値THとの交点となる。制御装置20は、設定信号Vrsetにより、参照電圧Vrefを線形に変化させていき、参照電圧Vrefを変化させるごとに、オフセット値THoffを上記のように変え、上記のような交点を検出する。これにより、比較回路53aの非線形性を求めることが可能である。なぜなら、参照電圧Vrefが線形に変化するため、交点における閾値THは非線形に変化するためである。   When detecting the characteristics of the comparison circuit 53a, the control device 20 detects the comparison result (output signal Out) by the comparison circuit 53a when the offset value THoff is changed. When the control device 20 increases the offset value THoff, the point where the output signal Out changes from 0 to 1 is the intersection of the reference voltage Vref and the threshold value TH. The control device 20 linearly changes the reference voltage Vref according to the setting signal Vrset, and changes the offset value THoff as described above each time the reference voltage Vref is changed, and detects the intersection as described above. Thereby, the nonlinearity of the comparison circuit 53a can be obtained. This is because the threshold voltage TH at the intersection changes nonlinearly because the reference voltage Vref changes linearly.

制御装置20は、このような比較回路53aの非線形性を考慮してアイ波形を補正するようにしてもよい。たとえば、制御装置20がオフセット値THoffを線形に増加させたとき、閾値THが非線形に増加する場合、エラー数が増加しやすくなりアイ波形のアイが狭くなる可能性がある。そのため、たとえば、制御装置20は、アイモニタ回路55が出力するエラー数ERRcnt[3:0]を受けると、その数を、比較回路53aの非線形性の度合いに応じて減らしてアイ波形を補正する。   The control device 20 may correct the eye waveform in consideration of the nonlinearity of the comparison circuit 53a. For example, when the control device 20 increases the offset value THoff linearly, if the threshold value TH increases non-linearly, the number of errors tends to increase and the eye of the eye waveform may become narrower. Therefore, for example, when receiving the error number ERRcnt [3: 0] output from the eye monitor circuit 55, the control device 20 reduces the number according to the degree of nonlinearity of the comparison circuit 53a and corrects the eye waveform. .

なお、比較回路53aとして、受信回路50の比較回路53を用いてもよい。その場合、比較回路53の特性を検出するときに、比較回路53と、参照電圧生成回路57とを接続するスイッチが設けられることになる。   Note that the comparison circuit 53 of the reception circuit 50 may be used as the comparison circuit 53a. In that case, when detecting the characteristics of the comparison circuit 53, a switch for connecting the comparison circuit 53 and the reference voltage generation circuit 57 is provided.

また、このような比較回路53の特性に応じたアイ波形の補正を、第1の実施の形態の受信回路10を用いた場合についても同様に行うことができる。
以上のような第3の実施の形態の受信回路50を用いることで、上記のようなアイモニタ機能を実現できる。また、データ判定回路52aと同様の回路を設ける代わりに、1つの比較回路53を設ければよいため、消費電力を抑えられる。また、受信回路50では、2シンボルに1回、エラー判定が行われるため、1つのクロック信号CKeでアイモニタ機能が実現でき、消費電力を抑制できる。
Further, the correction of the eye waveform according to the characteristics of the comparison circuit 53 can be performed in the same manner even when the receiving circuit 10 of the first embodiment is used.
By using the receiving circuit 50 of the third embodiment as described above, the eye monitor function as described above can be realized. Further, instead of providing a circuit similar to the data determination circuit 52a, a single comparison circuit 53 may be provided, so that power consumption can be suppressed. In addition, since the error determination is performed once every two symbols in the receiving circuit 50, an eye monitor function can be realized with one clock signal CKe, and power consumption can be suppressed.

なお、上記の例では、ハーフレート動作を行う受信回路50を説明したが、これに限定されない。たとえば、フルレート動作を行う受信回路を実現する場合、データ判定回路52aは、3ビットを出力する回路となり、閾値VLL〜VHHとデータ信号Diaとを比較する比較回路はそれぞれ1つとなる。また、6:1セレクタ55aの代わりに、3:1セレクタが用いられることになる。   In the above example, the receiving circuit 50 that performs the half-rate operation has been described. However, the present invention is not limited to this. For example, when realizing a receiving circuit that performs a full rate operation, the data determination circuit 52a is a circuit that outputs 3 bits, and there is one comparison circuit that compares the threshold values VLL to VHH with the data signal Dia. Further, a 3: 1 selector is used instead of the 6: 1 selector 55a.

また、受信回路50を、クォーターレート動作を行う受信回路に拡張する場合には、逆に適宜比較回路などが追加されることになる。
また、1つの比較回路53の代わりに複数の比較回路を設けてもよい。たとえば、閾値V1,V2,V3のうち、何れか2つに対応した2つの閾値と、データ信号Diaとを比較する2つの比較回路を設けてもよい。たとえば、その場合、2つの閾値はオフセット値THoffによって同時に調整される。また、6:1セレクタ55aは、3:1セレクタとすればよい。
Further, when the receiving circuit 50 is expanded to a receiving circuit that performs a quarter rate operation, a comparison circuit or the like is appropriately added.
Further, a plurality of comparison circuits may be provided instead of one comparison circuit 53. For example, two comparison circuits that compare two threshold values corresponding to any two of the threshold values V1, V2, and V3 and the data signal Dia may be provided. For example, in that case, the two thresholds are adjusted simultaneously by the offset value THoff. The 6: 1 selector 55a may be a 3: 1 selector.

(第4の実施の形態)
図16は、第4の実施の形態の受信回路の一例を示す図である。図16において、図9に示した受信回路50と同じ要素については同一符号が付されている。
(Fourth embodiment)
FIG. 16 is a diagram illustrating an example of a receiving circuit according to the fourth embodiment. In FIG. 16, the same elements as those of the receiving circuit 50 shown in FIG.

第4の実施の形態の受信回路60において、CDR回路61のデータ判定回路61aは、デコーダ61a1を有する。デコーダ61a1は、3つの閾値とデータ信号Diaとを比較した比較結果に基づいて、PAM4の4値をデコードする。たとえば、デコーダ61a1は、データ信号Diaが閾値V1よりも大きく、閾値V2より小さい場合、デコード結果として“01”を出力する。受信回路60は、ハーフレート動作を行うため、データ判定回路61aは、2シンボル分のデコード結果、すなわち4ビットの値を出力する。   In the reception circuit 60 according to the fourth embodiment, the data determination circuit 61a of the CDR circuit 61 includes a decoder 61a1. The decoder 61a1 decodes the four values of PAM4 based on the comparison result obtained by comparing the three threshold values with the data signal Dia. For example, when the data signal Dia is larger than the threshold value V1 and smaller than the threshold value V2, the decoder 61a1 outputs “01” as a decoding result. Since the receiving circuit 60 performs a half-rate operation, the data determination circuit 61a outputs a decoding result for two symbols, that is, a 4-bit value.

CDR回路61のデマルチプレクサ61bは、nビットの比較結果PHH,PHL,PLH,PLLを出力するとともに、データ判定回路61aが出力する4ビットの比較結果を2nビットに逆多重化して出力データ信号Dobとして出力する。   The demultiplexer 61b of the CDR circuit 61 outputs n-bit comparison results PHH, PHL, PLH, and PLL, and demultiplexes the 4-bit comparison results output from the data determination circuit 61a into 2n bits to output the data signal Dob. Output as.

アイモニタ回路62の期待値生成回路62aは、出力データ信号Dobに基づいて2nビットの期待値を出力する。期待値は、0と1を繰り返す0101などのデータパターンの値や、たとえば、PRBSなどの予測可能なデータパターンの値である。期待値としてそのようなデータパターンの値を用いる場合、アイモニタ機能が実行される際に、受信回路60にはそのテストパターンがデータ信号Draとして供給される。期待値生成回路62aは、一度、上記のようなデータパターンをシードとして受けると(たとえば、初期動作時)、その後は、期待値を推定し、出力データ信号Dobにエラーが生じていても、正しい値を出力し続けることができる。   The expected value generation circuit 62a of the eye monitor circuit 62 outputs a 2n-bit expected value based on the output data signal Dob. The expected value is a data pattern value such as 0101 that repeats 0 and 1, or a predictable data pattern value such as PRBS, for example. When such a data pattern value is used as the expected value, the test pattern is supplied to the receiving circuit 60 as the data signal Dra when the eye monitor function is executed. Once the expected value generation circuit 62a receives the above data pattern as a seed (for example, at the time of initial operation), the expected value is estimated and then correct even if an error occurs in the output data signal Dob. You can continue to output values.

4:1セレクタ62bは、2nビットの期待値と選択信号SELとを受ける。4:1セレクタ62bは、選択信号SELに基づいて、データ信号Diaの奇数または偶数シンボルの一方に対してデータ判定回路61aが出力する1シンボル当たり2ビットのデコード結果のうち1ビットを、期待値から選択する。これによって、4:1セレクタ62bから、n/2ビットのデータ信号が出力される。   The 4: 1 selector 62b receives the 2n-bit expected value and the selection signal SEL. Based on the selection signal SEL, the 4: 1 selector 62b converts one bit out of the two-bit decoding result output by the data determination circuit 61a for one of the odd or even symbols of the data signal Dia into the expected value. Select from. As a result, an n / 2-bit data signal is output from the 4: 1 selector 62b.

図10に示したように4つの電位レベルのそれぞれに2ビット値が対応付けられている場合、閾値THの大きさに応じて選択信号SELは、たとえば、以下のように変わる。閾値THが0のDCレベルと1のDCレベルの間の大きさである場合、選択信号SELは、1シンボル当たり2ビットのデコード結果のうち、最下位ビットを4:1セレクタ62bに選択させる信号となる。また、閾値THが1のDCレベルと2のDCレベルの間の大きさである場合、選択信号SELは、1シンボル当たり2ビットのデコード結果のうち、最上位ビットを4:1セレクタ62bに選択させる信号となる。閾値THが2のDCレベルと3のDCレベルの間の大きさである場合、選択信号SELは、1シンボル当たり2ビットのデコード結果のうち、最下位ビットを4:1セレクタ62bに選択させる信号となる。   As shown in FIG. 10, when a 2-bit value is associated with each of the four potential levels, the selection signal SEL changes as follows according to the magnitude of the threshold value TH, for example. When the threshold value TH is a magnitude between a DC level of 0 and a DC level of 1, the selection signal SEL is a signal that causes the 4: 1 selector 62b to select the least significant bit of the decoding result of 2 bits per symbol. It becomes. Further, when the threshold value TH is between the DC level of 1 and the DC level of 2, the selection signal SEL selects the most significant bit from the decoding result of 2 bits per symbol by the 4: 1 selector 62b. Signal. When the threshold value TH is a magnitude between the DC level of 2 and the DC level of 3, the selection signal SEL is a signal that causes the 4: 1 selector 62b to select the least significant bit of the decoding result of 2 bits per symbol. It becomes.

受信回路60のその他の動作は、図9に示した受信回路50と同様であり、受信回路60でも受信回路50と同様の効果が得られる。さらに、受信回路60では、データ判定回路61aの出力信号(デコード結果)のビット数が少なくなるので、デマルチプレクサ61bや、位相検出回路52gの回路構成を簡素化できる。   Other operations of the receiving circuit 60 are the same as those of the receiving circuit 50 shown in FIG. 9, and the receiving circuit 60 can obtain the same effects as the receiving circuit 50. Further, in the receiving circuit 60, since the number of bits of the output signal (decoded result) of the data determination circuit 61a is reduced, the circuit configuration of the demultiplexer 61b and the phase detection circuit 52g can be simplified.

なお、セレクタ55cは、期待値生成回路62aで生成された1シンボル前の期待値ごとに分けてエラーの発生を示す信号を出力してもよい。
また、期待値生成回路62aはなくてもよく、出力データ信号Dob(デコード結果)が、4:1セレクタ62bに供給されるようにしてもよい。
Note that the selector 55c may output a signal indicating the occurrence of an error separately for each expected value one symbol before generated by the expected value generating circuit 62a.
Further, the expected value generation circuit 62a may not be provided, and the output data signal Dob (decode result) may be supplied to the 4: 1 selector 62b.

(第5の実施の形態)
図17は、第5の実施の形態の受信回路の一例を示す図である。図17において、図16に示した受信回路60と同じ要素については同一符号が付されている。
(Fifth embodiment)
FIG. 17 is a diagram illustrating an example of a receiving circuit according to the fifth embodiment. In FIG. 17, the same elements as those of the receiving circuit 60 shown in FIG.

第5の実施の形態の受信回路70のCDR回路71には、第4の実施の形態の受信回路60のCDR回路61のクロック生成回路52jと位相調整回路52i1の代わりに、VCO(Voltage Controlled Oscillator)71aが設けられている。さらに、CDR回路71は、分周回路71b、位相調整回路71cを有する。   The CDR circuit 71 of the receiving circuit 70 of the fifth embodiment includes a VCO (Voltage Controlled Oscillator) instead of the clock generation circuit 52j and the phase adjustment circuit 52i1 of the CDR circuit 61 of the receiving circuit 60 of the fourth embodiment. ) 71a is provided. Further, the CDR circuit 71 includes a frequency dividing circuit 71b and a phase adjusting circuit 71c.

VCO71aは、フィルタ52hが出力する調整信号に基づいて位相が調整されたクロック信号CKd1,CKd2を出力する。つまり、VCO71aは、第4の実施の形態の受信回路60のCDR回路61のクロック生成回路52jと位相調整回路52i1の機能を有している。   The VCO 71a outputs clock signals CKd1 and CKd2 whose phases are adjusted based on the adjustment signal output from the filter 52h. That is, the VCO 71a has the functions of the clock generation circuit 52j and the phase adjustment circuit 52i1 of the CDR circuit 61 of the reception circuit 60 of the fourth embodiment.

分周回路71bは、クロック信号CKd1,CKd2を半分の周波数に分周し、4相のクロック信号を出力する。
位相調整回路71cは、4相のクロック信号のうち1つのクロック信号の位相をオフセット値PSoffに基づいて調整して、クロック信号CKe1として比較回路53に供給する。
The frequency dividing circuit 71b divides the clock signals CKd1 and CKd2 by half and outputs a four-phase clock signal.
The phase adjustment circuit 71c adjusts the phase of one of the four-phase clock signals based on the offset value PSoff, and supplies it to the comparison circuit 53 as the clock signal CKe1.

デマルチプレクサ72は、比較回路53が出力する1ビットの比較結果をn/4ビットに逆多重化してデータ信号Eobとして出力する。
アイモニタ回路73において8:1セレクタ73aは、2nビットの期待値と選択信号SELとを受ける。8:1セレクタ73aは、選択信号SELに基づいて、データ信号Diaの連続する4シンボルの何れか1つのシンボルに対してデータ判定回路61aが出力する1シンボル当たり2ビットのデコード結果のうち1ビットを、期待値から選択する。これによって、8:1セレクタ73aから、n/4ビットのデータ信号が出力される。
The demultiplexer 72 demultiplexes the 1-bit comparison result output from the comparison circuit 53 into n / 4 bits and outputs the result as a data signal Eob.
In the eye monitor circuit 73, the 8: 1 selector 73a receives the 2n-bit expected value and the selection signal SEL. Based on the selection signal SEL, the 8: 1 selector 73a selects one bit out of the decoding result of 2 bits per symbol output by the data determination circuit 61a for any one of the four consecutive symbols of the data signal Dia. Is selected from the expected values. As a result, an n / 4-bit data signal is output from the 8: 1 selector 73a.

エラー検出回路73bは、デマルチプレクサ72が出力するn/4ビットのデータ信号Eobと、上記の8:1セレクタ73aの機能によって、データ信号Eobの各ビットに対応するビットを有するn/4ビットのデータ信号とを受ける。そして、エラー検出回路73bは、データ信号Eobの各ビットの値と、その各ビットに対応した、8:1セレクタ73aが出力するデータ信号のビットの値とが一致しているか否かを判定する。   The error detection circuit 73b has an n / 4-bit data signal Eob output from the demultiplexer 72 and an n / 4-bit data having a bit corresponding to each bit of the data signal Eob by the function of the 8: 1 selector 73a. Receive data signals. Then, the error detection circuit 73b determines whether or not the value of each bit of the data signal Eob matches the value of the bit of the data signal output from the 8: 1 selector 73a corresponding to each bit. .

つまり、エラー検出回路73bは、オフセット値PSoff,THoffを用いることで、データ信号Eobと出力データ信号Dobとの不一致が生じるか(エラーが発生するか)否かのエラー判定を行う。また、エラー検出回路73bは、エラー判定を行うたびにエラー判定を行った旨を示す信号を出力するとともに、エラーが生じている場合には、エラーが発生したことを示す信号を出力する。   That is, the error detection circuit 73b uses the offset values PSoff and THoff to determine whether or not the data signal Eob does not match the output data signal Dob (whether an error occurs). The error detection circuit 73b outputs a signal indicating that error determination has been performed every time error determination is performed, and outputs a signal indicating that an error has occurred when an error has occurred.

なお、エラー検出回路73bは、スタート信号STを受け、スタート信号STが0から1になると、8:1セレクタ73aが出力するデータ信号とデータ信号Eobとの位相の同期(ロック)の検出を行い、ロックの検出後に、エラー判定を開始する。   The error detection circuit 73b receives the start signal ST, and when the start signal ST changes from 0 to 1, the error detection circuit 73b detects the phase synchronization (lock) between the data signal output from the 8: 1 selector 73a and the data signal Eob. After the lock is detected, error determination is started.

受信回路70のその他の動作は、図9に示した受信回路50と同様である。受信回路70において比較回路53では、4シンボル当たり1回のデータ判定を行うため、受信回路50と比べて、データ判定が行われる頻度が下がり、さらに消費電力を削減できる。   Other operations of the receiving circuit 70 are the same as those of the receiving circuit 50 shown in FIG. In the receiving circuit 70, since the comparison circuit 53 performs data determination once per four symbols, the frequency of data determination is reduced compared to the reception circuit 50, and power consumption can be further reduced.

なお、上記では、分周回路71bは、クロック信号CKd1,CKd2を半分の周波数に分周するものとしたが、これに限定されず、1/4の周波数に分周するようにしてもよい。その場合、8:1セレクタ73aは、16:1セレクタとすればよい。   In the above description, the frequency dividing circuit 71b divides the clock signals CKd1 and CKd2 to half the frequency. However, the frequency dividing circuit 71b is not limited to this and may divide the frequency to ¼ frequency. In that case, the 8: 1 selector 73a may be a 16: 1 selector.

ところで、上記第3乃至第5の実施の形態の受信回路50,60,70では、PAM4のデータ信号Draを受信するものとして説明したが、これらの受信回路50,60,70を、PAM8など、より多値のデータ信号を受信する受信回路に拡張することができる。その場合、データ信号と比較するための閾値が増えるため、それに応じて比較回路などの回路が増えることになる。また、セレクタ(たとえば、図9の6:1セレクタ55a)の入力と出力の比が変更される。PAM8のデータ信号Draを受信する受信回路では、たとえば、6:1セレクタ55aの代わりに、14:1セレクタが用いられ、セレクタ55cの代わりに、1:8セレクタが用いられる。   The receiving circuits 50, 60, and 70 of the third to fifth embodiments have been described as receiving the data signal Dra of PAM4. However, these receiving circuits 50, 60, and 70 are replaced with PAM8 and the like. The present invention can be extended to a receiving circuit that receives a multi-value data signal. In that case, since the threshold value for comparison with the data signal increases, the number of circuits such as comparison circuits increases accordingly. Further, the ratio of the input to the output of the selector (for example, 6: 1 selector 55a in FIG. 9) is changed. In the receiving circuit that receives the data signal Dra of PAM8, for example, a 14: 1 selector is used instead of the 6: 1 selector 55a, and a 1: 8 selector is used instead of the selector 55c.

以上、実施の形態に基づき、本発明の受信回路及びアイモニタシステムの一観点について説明してきたが、これらは一例にすぎず、上記の記載に限定されるものではない。
以上説明した複数の実施の形態に関し、さらに以下の付記を開示する。
As described above, one aspect of the receiving circuit and the eye monitor system of the present invention has been described based on the embodiments. However, these are merely examples, and the present invention is not limited to the above description.
The following additional notes are further disclosed with respect to the plurality of embodiments described above.

(付記1) データ信号を受け、第1のクロック信号に同期した第1のタイミングで前記データ信号と第1の閾値とを比較した第1の比較結果と、前記第1のタイミングで前記データ信号と複数の第2の閾値とを比較した第2の比較結果に基づいて前記データ信号と前記第1のクロック信号の位相差を検出し、前記位相差に基づいて前記第1のクロック信号の位相の調整を行うCDR回路と、
前記データ信号と、第1のオフセット値に基づいて大きさが調整される第3の閾値とを、前記位相差と第2のオフセット値に基づいて位相が調整される第2のクロック信号に同期した第2のタイミングで比較した第3の比較結果を出力する比較回路と、
前記データ信号の各シンボルに対してそれぞれ得られる前記第1の比較結果または前記第1の比較結果に基づいて得られる第1の値を間引いて、前記第3の比較結果が得られる第1のシンボルにおける第4の比較結果または第2の値を選択し、前記第3の比較結果と前記第4の比較結果または前記第2の値とを比較することで、前記第1のオフセット値または前記第2のオフセット値によるエラーの有無を判定し、前記エラーの発生回数を出力するアイモニタ回路と、
を有する受信回路。
(Supplementary note 1) A first comparison result obtained by comparing the data signal with a first threshold at a first timing that receives the data signal and is synchronized with the first clock signal, and the data signal at the first timing And detecting a phase difference between the data signal and the first clock signal based on a second comparison result obtained by comparing the first clock signal with a plurality of second threshold values, and determining the phase of the first clock signal based on the phase difference. A CDR circuit for adjusting
The data signal and a third threshold whose size is adjusted based on a first offset value are synchronized with a second clock signal whose phase is adjusted based on the phase difference and the second offset value. A comparison circuit that outputs a third comparison result compared at the second timing,
The first comparison result obtained for each symbol of the data signal or the first value obtained based on the first comparison result is thinned out to obtain the third comparison result. Selecting the fourth comparison result or the second value in the symbol, and comparing the third comparison result with the fourth comparison result or the second value, so that the first offset value or the An eye monitor circuit for determining the presence or absence of an error due to the second offset value and outputting the number of occurrences of the error;
A receiving circuit.

(付記2) 前記アイモニタ回路は、
前記第1の比較結果と前記第4の比較結果または前記第2の値とを比較することで、前記エラーの有無を判定するエラー検出回路と、
前記データ信号の前記各シンボルに対してそれぞれ得られる前記第1の比較結果または前記第1の値を間引いて前記エラー検出回路に供給する前記第4の比較結果または前記第2の値を選択するセレクタと、
を有する付記1に記載の受信回路。
(Appendix 2) The eye monitor circuit
An error detection circuit for determining the presence or absence of the error by comparing the first comparison result with the fourth comparison result or the second value;
The fourth comparison result or the second value supplied to the error detection circuit by thinning out the first comparison result or the first value obtained for each symbol of the data signal is selected. A selector,
The receiving circuit according to claim 1, further comprising:

(付記3) 前記セレクタは、前記CDR回路において前記第1の比較結果が得られる頻度と、前記比較回路が前記第3の比較結果を出力する頻度の差に基づいて前記第1の比較結果または前記第1の値を間引き、前記エラー検出回路に供給する前記第4の比較結果または前記第2の値を選択する、付記2に記載の受信回路。   (Supplementary Note 3) The selector may select the first comparison result based on a difference between a frequency at which the first comparison result is obtained in the CDR circuit and a frequency at which the comparison circuit outputs the third comparison result. The receiving circuit according to appendix 2, wherein the first value is thinned out, and the fourth comparison result or the second value supplied to the error detection circuit is selected.

(付記4) 前記データ信号が1シンボル当たりn(n≧4)値をもつ多値信号である場合、前記第1の閾値は、nに応じた数の複数の第4の閾値を含み、
前記セレクタは、前記第3の閾値の電位レベルに基づいて、前記複数の第4の閾値のうち何れか1つと前記データ信号とを比較した前記第4の比較結果または前記第2の値を選択し、前記エラー検出回路に供給する付記2または3に記載の受信回路。
(Supplementary Note 4) When the data signal is a multilevel signal having n (n ≧ 4) values per symbol, the first threshold value includes a plurality of fourth threshold values corresponding to n,
The selector selects the fourth comparison result or the second value obtained by comparing any one of the plurality of fourth thresholds with the data signal based on the potential level of the third threshold. The receiving circuit according to appendix 2 or 3, which is supplied to the error detection circuit.

(付記5) 前記アイモニタ回路は、前記第1のシンボルにおける前記エラーの発生を、前記第1のシンボルよりも前の第2のシンボルにおける、前記第1の比較結果の値ごと、または前記第1の値ごとに分けてカウントして、前記第2のシンボルにおける前記第1の比較結果の値ごと、または前記第1の値ごとの前記エラーの前記発生回数を出力するカウンタを、更に有する付記1乃至4の何れか一つに記載の受信回路。   (Supplementary Note 5) The eye monitor circuit determines the occurrence of the error in the first symbol for each value of the first comparison result in the second symbol before the first symbol, or in the first symbol. The counter further includes a counter that counts each value of 1 and outputs the number of occurrences of the error for each value of the first comparison result in the second symbol or for each first value. The receiving circuit according to any one of 1 to 4.

(付記6) 予測可能なデータパターンで前記第1の比較結果を受け、前記データパターンに従って前記第1の値を出力する期待値生成回路を、更に有する付記1乃至5の何れか一つに記載の受信回路。   (Appendix 6) The appendix 6 further includes an expected value generation circuit that receives the first comparison result in a predictable data pattern and outputs the first value in accordance with the data pattern. Receiver circuit.

(付記7) 前記CDR回路は、前記第1の比較結果に基づいて前記n値の各値である前記第1の値をデコードし、前記アイモニタ回路に供給する、付記4に記載の受信回路。
(付記8) データ信号を受け、第1のクロック信号に同期した第1のタイミングで前記データ信号と第1の閾値とを比較した第1の比較結果と、前記第1のタイミングで前記データ信号と複数の第2の閾値とを比較した第2の比較結果に基づいて前記データ信号と前記第1のクロック信号の位相差を検出し、前記位相差に基づいて前記第1のクロック信号の位相の調整を行うCDR回路と、前記データ信号と、第1のオフセット値に基づいて大きさが調整される第3の閾値とを、前記位相差と第2のオフセット値に基づいて位相が調整される第2のクロック信号に同期した第2のタイミングで比較した第3の比較結果を出力する比較回路と、前記データ信号の各シンボルに対してそれぞれ得られる前記第1の比較結果または前記第1の比較結果に基づいて得られる第1の値を間引いて、前記第3の比較結果が得られる第1のシンボルにおける第4の比較結果または第2の値を選択し、前記第3の比較結果と前記第4の比較結果または前記第2の値とを比較することで、前記第1のオフセット値または前記第2のオフセット値によるエラーの有無を判定し、前記エラーの発生回数を出力するアイモニタ回路と、を備えた受信回路と、
前記第1のオフセット値及び前記第2のオフセット値を調整し、前記エラーの前記発生回数を受け、前記第1のオフセット値または前記第2のオフセット値を調整するたびに得られる前記エラー発生回数に基づいて、前記データ信号のアイ波形を表示装置に表示させる制御装置と、
を有するアイモニタシステム。
(Supplementary note 7) The reception circuit according to Supplementary note 4, wherein the CDR circuit decodes the first value which is each value of the n value based on the first comparison result and supplies the first value to the eye monitor circuit. .
(Supplementary Note 8) A first comparison result obtained by comparing the data signal with a first threshold at a first timing that receives the data signal and is synchronized with the first clock signal, and the data signal at the first timing And detecting a phase difference between the data signal and the first clock signal based on a second comparison result obtained by comparing the first clock signal with a plurality of second threshold values, and determining the phase of the first clock signal based on the phase difference. The phase of the CDR circuit is adjusted based on the phase difference and the second offset value, and the CDR circuit for performing the adjustment of the data, the data signal, and the third threshold value whose magnitude is adjusted based on the first offset value. A comparison circuit for outputting a third comparison result compared at a second timing synchronized with the second clock signal, and the first comparison result obtained for each symbol of the data signal or the first Comparison results The first value obtained based on the result is thinned out to select the fourth comparison result or the second value in the first symbol from which the third comparison result is obtained, and the third comparison result and the An eye monitor circuit that determines whether there is an error due to the first offset value or the second offset value by comparing a fourth comparison result or the second value, and outputs the number of occurrences of the error And a receiving circuit comprising:
The number of error occurrences obtained each time the first offset value and the second offset value are adjusted, the number of occurrences of the error is received, and the first offset value or the second offset value is adjusted. And a control device for displaying the eye waveform of the data signal on a display device,
An eye monitor system.

(付記9) 前記アイモニタ回路は、前記第1のシンボルにおける前記エラーの発生を、前記第1のシンボルよりも前の第2のシンボルにおける前記第1の比較結果の値ごと、または前記第1の値ごとに分けてカウントして、前記第2のシンボルにおける前記第1の比較結果の値ごと、または前記第1の値ごとの前記エラーの前記発生回数を出力し、
前記制御装置は、前記第2のシンボルにおける前記第1の比較結果の値ごと、または前記第1の値ごとの前記エラーの前記発生回数と、前記第2のシンボルにおける前記第1の比較結果の値ごと、または前記第1の値ごとの補正値と、に基づいて、前記アイ波形を補正する、付記8に記載のアイモニタシステム。
(Supplementary Note 9) The eye monitor circuit determines the occurrence of the error in the first symbol for each value of the first comparison result in the second symbol before the first symbol, or in the first symbol. The number of occurrences of the error for each value of the first comparison result or the first value in the second symbol is output separately for each value of
The control device is configured to calculate the number of occurrences of the error for each value of the first comparison result in the second symbol or the first value, and the first comparison result for the second symbol. The eye monitor system according to appendix 8, wherein the eye waveform is corrected on the basis of each value or a correction value for each first value.

10 受信回路
11 等化回路
12 CDR回路
12a データ判定回路
12b1,12b2,12c1,12c2,13 比較回路
12d,14 デマルチプレクサ
12e 位相検出回路
12f フィルタ
12g1,12g2 位相調整回路
12h クロック生成回路
15 アイモニタ回路
15a 2:1セレクタ
15b エラー検出回路
15c セレクタ
15d エラーチェック数カウンタ
15e エラー数カウンタ
16 波形
CKd1,CKd2,CKe クロック信号
Dr,Di,Eo データ信号
Do 出力データ信号
ECfin 信号
ERRcnt[1:0] エラー信号
m,m+1 シンボル
PH,PL 比較結果
PSoff,THoff オフセット値
SEL 選択信号
ST スタート信号
UD 位相差信号
VH,VL,TH,TH1,TH2 閾値
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Receiving circuit 11 Equalization circuit 12 CDR circuit 12a Data determination circuit 12b1, 12b2, 12c1, 12c2, 13 Comparison circuit 12d, 14 Demultiplexer 12e Phase detection circuit 12f Filter 12g1, 12g2 Phase adjustment circuit 12h Clock generation circuit 15 Eye monitor circuit 15a 2: 1 selector 15b error detection circuit 15c selector 15d error check number counter 15e error number counter 16 waveform CKd1, CKd2, CKE clock signal Dr, Di, Eo data signal Do output data signal ECfin signal ERRcnt [1: 0] error signal m, m + 1 symbol PH, PL comparison result PSoff, THoff offset value SEL selection signal ST start signal UD phase difference signal VH, VL, TH, TH1, TH2 Value

Claims (8)

データ信号を受け、第1のクロック信号に同期した第1のタイミングで前記データ信号と第1の閾値とを比較した第1の比較結果と、前記第1のタイミングで前記データ信号と複数の第2の閾値とを比較した第2の比較結果に基づいて前記データ信号と前記第1のクロック信号の位相差を検出し、前記位相差に基づいて前記第1のクロック信号の位相の調整を行うCDR回路と、
前記データ信号と、第1のオフセット値に基づいて大きさが調整される第3の閾値とを、前記位相差と第2のオフセット値に基づいて位相が調整される第2のクロック信号に同期した第2のタイミングで比較した第3の比較結果を出力する比較回路と、
前記データ信号の各シンボルに対してそれぞれ得られる前記第1の比較結果または前記第1の比較結果に基づいて得られる第1の値を間引いて、前記第3の比較結果が得られる第1のシンボルにおける第4の比較結果または第2の値を選択し、前記第3の比較結果と前記第4の比較結果または前記第2の値とを比較することで、前記第1のオフセット値または前記第2のオフセット値によるエラーの有無を判定し、前記エラーの発生回数を出力するアイモニタ回路と、
を有する受信回路。
A first comparison result obtained by comparing the data signal with a first threshold at a first timing in synchronization with the first clock signal, and the data signal and a plurality of second signals at the first timing. A phase difference between the data signal and the first clock signal is detected based on a second comparison result obtained by comparing a threshold value of 2, and the phase of the first clock signal is adjusted based on the phase difference. A CDR circuit;
The data signal and a third threshold whose size is adjusted based on a first offset value are synchronized with a second clock signal whose phase is adjusted based on the phase difference and the second offset value. A comparison circuit that outputs a third comparison result compared at the second timing,
The first comparison result obtained for each symbol of the data signal or the first value obtained based on the first comparison result is thinned out to obtain the third comparison result. Selecting the fourth comparison result or the second value in the symbol, and comparing the third comparison result with the fourth comparison result or the second value, so that the first offset value or the An eye monitor circuit for determining the presence or absence of an error due to the second offset value and outputting the number of occurrences of the error;
A receiving circuit.
前記アイモニタ回路は、
前記第1の比較結果と前記第4の比較結果または前記第2の値とを比較することで、前記エラーの有無を判定するエラー検出回路と、
前記データ信号の前記各シンボルに対してそれぞれ得られる前記第1の比較結果または前記第1の値を間引いて前記エラー検出回路に供給する前記第4の比較結果または前記第2の値を選択するセレクタと、
を有する請求項1に記載の受信回路。
The eye monitor circuit is
An error detection circuit for determining the presence or absence of the error by comparing the first comparison result with the fourth comparison result or the second value;
The fourth comparison result or the second value supplied to the error detection circuit by thinning out the first comparison result or the first value obtained for each symbol of the data signal is selected. A selector,
The receiving circuit according to claim 1.
前記セレクタは、前記CDR回路において前記第1の比較結果が得られる頻度と、前記比較回路が前記第3の比較結果を出力する頻度の差に基づいて前記第1の比較結果または前記第1の値を間引き、前記エラー検出回路に供給する前記第4の比較結果または前記第2の値を選択する、請求項2に記載の受信回路。   The selector selects the first comparison result or the first comparison based on a difference between a frequency at which the first comparison result is obtained in the CDR circuit and a frequency at which the comparison circuit outputs the third comparison result. The receiving circuit according to claim 2, wherein a value is thinned out and the fourth comparison result or the second value supplied to the error detection circuit is selected. 前記データ信号が1シンボル当たりn(n≧4)値をもつ多値信号である場合、前記第1の閾値は、nに応じた数の複数の第4の閾値を含み、
前記セレクタは、前記第3の閾値の電位レベルに基づいて、前記複数の第4の閾値のうち何れか1つと前記データ信号とを比較した前記第4の比較結果または前記第2の値を選択し、前記エラー検出回路に供給する請求項2または3に記載の受信回路。
When the data signal is a multi-level signal having n (n ≧ 4) values per symbol, the first threshold value includes a plurality of fourth threshold values corresponding to n,
The selector selects the fourth comparison result or the second value obtained by comparing any one of the plurality of fourth thresholds with the data signal based on the potential level of the third threshold. The receiving circuit according to claim 2, wherein the receiving circuit is supplied to the error detection circuit.
前記アイモニタ回路は、前記第1のシンボルにおける前記エラーの発生を、前記第1のシンボルよりも前の第2のシンボルにおける、前記第1の比較結果の値ごと、または前記第1の値ごとに分けてカウントして、前記第2のシンボルにおける前記第1の比較結果の値ごと、または前記第1の値ごとの前記エラーの前記発生回数を出力するカウンタを、更に有する請求項1乃至4の何れか一項に記載の受信回路。   The eye monitor circuit detects occurrence of the error in the first symbol for each value of the first comparison result or for each first value in a second symbol before the first symbol. 5. The counter further includes a counter that outputs the number of occurrences of the error for each value of the first comparison result in the second symbol or for each of the first values. The receiving circuit according to any one of the above. 予測可能なデータパターンで前記第1の比較結果を受け、前記データパターンに従って前記第1の値を出力する期待値生成回路を、更に有する請求項1乃至5の何れか一項に記載の受信回路。   The receiving circuit according to claim 1, further comprising an expected value generation circuit that receives the first comparison result with a predictable data pattern and outputs the first value according to the data pattern. . 前記CDR回路は、前記第1の比較結果に基づいて前記n値の各値である前記第1の値をデコードし、前記アイモニタ回路に供給する、請求項4に記載の受信回路。   The receiving circuit according to claim 4, wherein the CDR circuit decodes the first value, which is each value of the n value, based on the first comparison result, and supplies the first value to the eye monitor circuit. データ信号を受け、第1のクロック信号に同期した第1のタイミングで前記データ信号と第1の閾値とを比較した第1の比較結果と、前記第1のタイミングで前記データ信号と複数の第2の閾値とを比較した第2の比較結果に基づいて前記データ信号と前記第1のクロック信号の位相差を検出し、前記位相差に基づいて前記第1のクロック信号の位相の調整を行うCDR回路と、前記データ信号と、第1のオフセット値に基づいて大きさが調整される第3の閾値とを、前記位相差と第2のオフセット値に基づいて位相が調整される第2のクロック信号に同期した第2のタイミングで比較した第3の比較結果を出力する比較回路と、前記データ信号の各シンボルに対してそれぞれ得られる前記第1の比較結果または前記第1の比較結果に基づいて得られる第1の値を間引いて、前記第3の比較結果が得られる第1のシンボルにおける第4の比較結果または第2の値を選択し、前記第3の比較結果と前記第4の比較結果または前記第2の値とを比較することで、前記第1のオフセット値または前記第2のオフセット値によるエラーの有無を判定し、前記エラーの発生回数を出力するアイモニタ回路と、を備えた受信回路と、
前記第1のオフセット値及び前記第2のオフセット値を調整し、前記エラーの前記発生回数を受け、前記第1のオフセット値または前記第2のオフセット値を調整するたびに得られる前記エラー発生回数に基づいて、前記データ信号のアイ波形を表示装置に表示させる制御装置と、
を有するアイモニタシステム。
A first comparison result obtained by comparing the data signal with a first threshold at a first timing in synchronization with the first clock signal, and the data signal and a plurality of second signals at the first timing. A phase difference between the data signal and the first clock signal is detected based on a second comparison result obtained by comparing a threshold value of 2, and the phase of the first clock signal is adjusted based on the phase difference. A CDR circuit, the data signal, and a third threshold whose magnitude is adjusted based on the first offset value, and a second whose phase is adjusted based on the phase difference and the second offset value. A comparison circuit for outputting a third comparison result compared at a second timing synchronized with the clock signal, and the first comparison result or the first comparison result respectively obtained for each symbol of the data signal; Based on The first value obtained is thinned out, and the fourth comparison result or the second value in the first symbol from which the third comparison result is obtained is selected, and the third comparison result and the fourth comparison are selected. An eye monitor circuit that determines the presence or absence of an error due to the first offset value or the second offset value by comparing the result or the second value, and outputs the number of occurrences of the error; A receiving circuit;
The number of error occurrences obtained each time the first offset value and the second offset value are adjusted, the number of occurrences of the error is received, and the first offset value or the second offset value is adjusted. And a control device for displaying the eye waveform of the data signal on a display device,
An eye monitor system.
JP2017047771A 2017-03-13 2017-03-13 Receiving circuit and eye monitor system Active JP6892592B2 (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017047771A JP6892592B2 (en) 2017-03-13 2017-03-13 Receiving circuit and eye monitor system
US15/913,122 US10103911B2 (en) 2017-03-13 2018-03-06 Receiver circuit and eye monitor system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017047771A JP6892592B2 (en) 2017-03-13 2017-03-13 Receiving circuit and eye monitor system

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018152731A true JP2018152731A (en) 2018-09-27
JP6892592B2 JP6892592B2 (en) 2021-06-23

Family

ID=63445613

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017047771A Active JP6892592B2 (en) 2017-03-13 2017-03-13 Receiving circuit and eye monitor system

Country Status (2)

Country Link
US (1) US10103911B2 (en)
JP (1) JP6892592B2 (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10944601B2 (en) 2019-05-09 2021-03-09 Fujitsu Limited Reception circuit, receiver, and reception control method
JP2023504954A (en) * 2020-11-05 2023-02-08 アナロジクス (スージョウ) セミコンダクター カンパニー リミテッド Decision Feedback Equalizer and Data Acquisition Correction Method
WO2024085037A1 (en) * 2022-10-17 2024-04-25 ザインエレクトロニクス株式会社 Reception signal quality monitor

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6738682B2 (en) * 2016-08-01 2020-08-12 日本ルメンタム株式会社 Optical transmitter/receiver, optical transmitter integrated circuit, and optical receiver integrated circuit
CN107707258B (en) * 2017-10-31 2022-06-10 上海兆芯集成电路有限公司 Eye diagram generator
US10230359B1 (en) * 2018-04-27 2019-03-12 Imec Vzw DFE hysteresis compensation (specific)
US10911052B2 (en) * 2018-05-23 2021-02-02 Macom Technology Solutions Holdings, Inc. Multi-level signal clock and data recovery
US11005573B2 (en) 2018-11-20 2021-05-11 Macom Technology Solutions Holdings, Inc. Optic signal receiver with dynamic control
JP2020145619A (en) 2019-03-07 2020-09-10 キオクシア株式会社 Receiving device and method
JP2021150930A (en) 2020-03-23 2021-09-27 キオクシア株式会社 Equalizer control device, receiving device, and control method of receiving device
US11095487B1 (en) * 2020-04-16 2021-08-17 International Business Machines Corporation Operating a wireline receiver with a tunable timing characteristic
US11569975B2 (en) * 2020-06-08 2023-01-31 Rambus Inc. Baud-rate clock recovery lock point control
KR20220023911A (en) 2020-08-21 2022-03-03 삼성전자주식회사 Semiconductor device and memory system
US12013423B2 (en) 2020-09-30 2024-06-18 Macom Technology Solutions Holdings, Inc. TIA bandwidth testing system and method
KR20220060939A (en) 2020-11-05 2022-05-12 삼성전자주식회사 A decision feedback equalizer and a device including same
US11658630B2 (en) 2020-12-04 2023-05-23 Macom Technology Solutions Holdings, Inc. Single servo loop controlling an automatic gain control and current sourcing mechanism
KR20220088159A (en) 2020-12-18 2022-06-27 삼성전자주식회사 An integrated circuit and an operation method thereof
US11546127B2 (en) * 2021-03-18 2023-01-03 Samsung Display Co., Ltd. Systems and methods for symbol-spaced pattern-adaptable dual loop clock recovery for high speed serial links
US11477004B1 (en) * 2021-03-23 2022-10-18 Nvidia Corp. Clock data recovery convergence in modulated partial response systems
US12003279B2 (en) * 2022-03-15 2024-06-04 Hewlett Packard Enterprise Development Lp Common-mode current adjustment in a receiver

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014116880A (en) * 2012-12-12 2014-06-26 Fujitsu Ltd Reception circuit
JP2014187529A (en) * 2013-03-22 2014-10-02 Fujitsu Ltd Receiving circuit, and semiconductor integrated circuit
JP2014187527A (en) * 2013-03-22 2014-10-02 Fujitsu Ltd Receiver circuit and control method therefor

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7400181B2 (en) * 2005-09-30 2008-07-15 Agere Systems Inc. Method and apparatus for delay line control using receive data
US8300684B2 (en) * 2009-06-29 2012-10-30 Lsi Corporation Real-time eye monitor for statistical filter parameter calibration
JP2012151699A (en) * 2011-01-20 2012-08-09 Hitachi Ltd Latch circuit, cdr circuit, and receiving device
US20130271193A1 (en) * 2012-04-13 2013-10-17 Intersil Americas LLC Circuits and methods to guarantee lock in delay locked loops and avoid harmonic locking
JP2015192200A (en) 2014-03-27 2015-11-02 富士通株式会社 receiving circuit
US9419746B1 (en) * 2014-05-16 2016-08-16 Altera Corporation Apparatus and methods for tuning a communication link for power conservation
US9397872B2 (en) * 2014-07-01 2016-07-19 Samsung Display Co., Ltd. System and method of link optimization

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014116880A (en) * 2012-12-12 2014-06-26 Fujitsu Ltd Reception circuit
JP2014187529A (en) * 2013-03-22 2014-10-02 Fujitsu Ltd Receiving circuit, and semiconductor integrated circuit
JP2014187527A (en) * 2013-03-22 2014-10-02 Fujitsu Ltd Receiver circuit and control method therefor

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10944601B2 (en) 2019-05-09 2021-03-09 Fujitsu Limited Reception circuit, receiver, and reception control method
JP2023504954A (en) * 2020-11-05 2023-02-08 アナロジクス (スージョウ) セミコンダクター カンパニー リミテッド Decision Feedback Equalizer and Data Acquisition Correction Method
JP7333419B2 (en) 2020-11-05 2023-08-24 アナロジクス (スージョウ) セミコンダクター カンパニー リミテッド Decision Feedback Equalizer and Data Acquisition Correction Method
WO2024085037A1 (en) * 2022-10-17 2024-04-25 ザインエレクトロニクス株式会社 Reception signal quality monitor

Also Published As

Publication number Publication date
US20180262373A1 (en) 2018-09-13
JP6892592B2 (en) 2021-06-23
US10103911B2 (en) 2018-10-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6892592B2 (en) Receiving circuit and eye monitor system
US10367636B2 (en) Phase calibration of clock signals
US9520883B2 (en) Frequency detection circuit and reception circuit
JP4558028B2 (en) Clock data recovery device
US9515856B2 (en) Offset and decision feedback equalization calibration
JP4956840B2 (en) Judgment feedback equalization apparatus and method
JP6912702B2 (en) CDR circuit and receiving circuit
US20150304136A1 (en) Partial Response Receiver And Related Method
US11368341B2 (en) Signal processing method and system, and non-transitory computer-readable recording medium
KR20210141718A (en) Variable Gain Amplifier and Sampler Offset Calibration Without Clock Recovery
CN110635805B (en) Apparatus and method for providing timing recovery
JP5937753B2 (en) Distortion-resistant clock data recovery system
CN112187256B (en) Clock data recovery device and operation method thereof
JP2006042339A (en) Equalizer, receiver, and equalizing method
Choi et al. A 0.99-pJ/b 15-Gb/s counter-based adaptive equalizer using single comparator in 28-nm CMOS
US8520725B2 (en) Data equalizing circuit and data equalizing method
JP2017028491A (en) Receiving circuit
JP2015115850A (en) Data reception device and data transmission/reception system
US11146274B1 (en) Equalizer control device, receiving device, and control method for receiving device
JP2021150843A (en) Semiconductor integrated circuit, receiver, and control method for receiver
WO2012029597A1 (en) Clock replay circuit and clock replay method
WO2018217786A1 (en) Multi-stage sampler with increased gain
US9740580B2 (en) Systems and methods for serial data transfer margin increase
CN117459203A (en) Re-timer with limiter level adjustment

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20191212

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20191219

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20191219

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20200826

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200929

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20201125

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20210427

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20210510

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6892592

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150