JP2018142300A - アセンブリの状態検証のための進路の識別 - Google Patents
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Abstract
Description
自動誘導ビークル(222)に接続されたセンサ・システム(210)を当該構造(206)と相対的な複数のテスト位置(308)に移動するステップ(1002)と、
当該センサ・システム(210)を用いて当該複数のテスト位置(308)の各テスト位置で画像データを生成して複数のテスト画像(310)を構築するステップ(1004)と、
当該複数のテスト画像(310)の各テスト画像を当該構造(206)のコンピュータ・モデル(236)に登録して、登録画像(314)の集合に追加される複数の登録画像(312)を形成するステップ(1006)と、
関心のある当該構造(206)の領域の全体を最小数の登録画像を用いて、登録画像(314)の当該集合からキャプチャできるようにする位置(318)の最適集合を当該複数のテスト位置(308)から決定するステップ(1008)と、
自動誘導ビークル(222)を位置(318)の当該最適集合の各々に最小時間で移動するための当該進路(304)を生成するステップ(1010)と、
自動検証プロセス(202)を実施する際に使用するためのコンピュータ・ファイル(320)を生成して、当該コンピュータ・ファイル(320)が当該進路(304)を識別する当該構造(206)に対する当該アセンブリ(204)の状態を検証するステップ(1012)と、
を含む、方法。
自動誘導ビークル(222)を直線経路に沿って移動して、当該センサ・システム(210)が当該複数のテスト位置(308)に移動できるようにするステップを含む、段落A1に記載の方法。
自動誘導ビークル(222)を当該構造(206)と相対的な予め決定されたテスト進路(304)に沿って移動して、当該センサ・システム(210)が当該複数のテスト位置(308)に移動できるようにするステップ
を含む、段落A1に記載の方法。
最小数の登録画像を、関心がある当該構造の当該領域の全体(206)をキャプチャして最終画像セットを形成できるようにする登録画像の当該集合(314)から選択するステップ(1102)と、
位置(318)の当該最適集合を形成するために、当該最終画像セット内の各登録画像に対応するテスト位置(308)を識別するステップ(1104)と、
を含む、段落A1に記載の方法。
当該最終画像セット内の登録画像に対応する当該センサ・システムに対するテスト位置およびテスト方位(210)を識別するステップを含む、段落5に記載の方法。
自動誘導ビークル(222)に接続されたセンサ・システム(210)を、機体構造(206)を通じて複数のテスト位置(308)に移動するステップ(1002)と、
当該センサ・システム(210)を用いて当該複数のテスト位置(308)の各テスト位置で画像データを生成して複数のテスト画像(310)を構築するステップ(1004)と、
生成された当該複数のテスト画像(310)の各テスト画像を機体構造(206)のコンピュータ・モデル(236)に登録するステップ(1006)と、
関心のある機体構造(206)の領域の全体を最小数のテスト画像を用いてキャプチャできるようにする位置(318)の最適集合を当該複数のテスト位置から決定する(308)ステップ(1008)と、
自動誘導ビークル(222)を位置(318)の当該最適集合の各々に最小時間で移動するための進路(304)を生成するステップ(1010)と、
当該ファイルが当該進路(304)を識別する機体構造(206)のための当該アセンブリ(204)の状態を検証する自動検証プロセス(202)を実施する際に使用するためのファイルを生成するステップ(1012)と、
を含む、方法。
機体構造を通る中心線に沿った直線経路(206)に沿って自動誘導ビークル(222)を移動するステップを含む、段落11に記載の方法。
テスト画像をテスト位置(308)でを生成するステップであって、当該テスト画像は機体構造内の複数の穴(206)または機体構造内の複数の穴に取り付けられた複数のファスナ(206)のうち少なくとも1つをキャプチャする、ステップを含む、
段落11に記載の方法。
最小数のテスト画像を用いて、関心のある当該構造(206)の領域の全体をキャプチャできるようにする位置(318)の最適集合を当該複数のテスト位置(308)から決定し、自動誘導ビークル(222)を位置(318)の当該最適集合の各々に最小時間で移動するための進路(304)を生成し、当該ファイルが当該進路(304)を識別する当該構造(206)に対する当該アセンブリ(204)の状態の当該自動化された検証(202)を実施する際に使用するためのファイルを生成する最適化コンポーネント(305)と
を含む、プロセッサ(302)を備えた装置。
202 自動検証プロセス
204 アセンブリの状態
206 構造
208 検証システム
210 センサ・システム
212 検証器
214 撮像システム
215 画像処理コンポーネント
216 画像データ
217 比較コンポーネント
218 複数の画像
220 画像
222 自動誘導ビークル
224 所定の経路
226 1組の位置
228 複数の撮像センサ
230 複数の固定位置
232 プロセッサ
236 コンピュータ・モデル
237 複数の設計図面
238 複数の画像セクション
240 1組の画像セクション
242 画像セクション
244 最終スコア
245 初期スコア
246 レポート
248 グラフィカル・ユーザ・インタフェース
250 ディスプレイ・システム
252 コンピュータ化された数値的に制御される機械
Claims (14)
- 構造(206)に対するアセンブリ(204)の状態の自動化された検証(202)を実施するための進路(304)を確立する方法であって、
自動誘導ビークル(222)に接続されたセンサ・システム(210)を前記構造(206)と相対的な複数のテスト位置(308)に移動するステップ(1002)と、
前記センサ・システム(210)を用いて前記複数のテスト位置(308)の各テスト位置で画像データを生成して複数のテスト画像(310)を構築するステップ(1004)と、
前記複数のテスト画像(310)の各テスト画像を前記構造(206)のコンピュータ・モデル(236)に登録して、登録画像(314)の集合に追加される複数の登録画像(312)を形成するステップ(1006)と、
関心のある前記構造(206)の領域の全体を、最小数の登録画像を用いて、登録画像(314)の前記集合からキャプチャできるようにする位置(318)の最適集合を前記複数のテスト位置(308)から決定するステップ(1008)と、
前記自動誘導ビークル(222)を位置(318)の前記最適集合の各々に最小時間で移動するための前記進路(304)を生成するステップ(1010)と、
自動検証プロセス(202)を実施する際に使用するためのコンピュータ・ファイル(320)を生成して、前記コンピュータ・ファイル(320)が前記進路(304)を識別する前記構造(206)に対する前記アセンブリ(204)の状態を検証するステップ(1012)と、
を含む、方法。 - 前記センサ・システム(210)を移動するステップ(1002)は、
前記自動誘導ビークル(222)を直線経路に沿って移動して、前記センサ・システム(210)が前記複数のテスト位置(308)に移動できるようにするステップ
を含む、請求項1に記載の方法。 - 前記センサ・システム(210)を移動するステップ(1002)は
前記自動誘導ビークル(222)を前記構造(206)と相対的な予め決定されたテスト進路(304)に沿って移動して、前記センサ・システム(210)が前記複数のテスト位置(308)に移動できるようにするステップ
を含む、請求項1に記載の方法。 - 各テスト位置で前記画像データを生成するステップ(1004)は、
前記センサ・システム(210)がテスト位置(308)に移動されたとき、テスト画像を生成するステップであって、前記テスト位置(308)は基準座標系と相対的なテスト位置およびテスト方位を含む、ステップ
を含む、請求項1に記載の方法。 - 位置(318)の前記最適集合を前記複数のテスト位置(308)から決定するステップ(1008)は、
前記最小数の登録画像を、関心がある前記構造(206)の前記領域の全体をキャプチャして最終画像セットを形成できるようにする登録画像(314)の前記集合から選択するステップ(1102)と、
位置(318)の前記最適集合を形成するために、前記最終画像セット内の各登録画像に対応するテスト位置(308)を識別するステップ(1104)と、
を含む、請求項1に記載の方法。 - 各登録画像に対応する前記テスト位置(308)を識別するステップ(1104)は、
前記最終画像セット内の登録画像に対応する前記センサ・システム(210)に対するテスト位置およびテスト方位を識別するステップ
を含む、請求項5に記載の方法。 - 前記センサ・システム(210)を移動するステップ(1002)は、
前記センサ・システム(210)を前記構造(206)と相対的な100から100,000個のテスト位置に移動するステップであって、各テスト位置は基準座標系と相対的なテスト位置およびテスト方位を含む、ステップ
を含む、請求項1に記載の方法。 - 前記自動誘導ビークル(222)に接続された前記センサ・システム(210)を位置(318)の前記最適集合に前記コンピュータ・ファイル(320)内で識別された前記進路(304)に沿って移動して、前記自動検証プロセス(202)を実施するステップをさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 前記構造(206)と同一の設計仕様にマッチする複数の構造(206)に対する前記自動検証プロセス(202)を実施する際に使用するための前記コンピュータ・ファイル(320)を格納するステップ(1014)をさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 構造(206)と相対的な複数のテスト位置(308)で前記複数のテスト画像(310)を生成したセンサ・システム(210)から、複数のテスト画像(310)を受信し、生成された前記複数のテスト画像(310)の各テスト画像を前記構造(206)のコンピュータ・モデル(236)に登録する登録コンポーネント(303)と、
最小数のテスト画像を用いて、関心のある前記構造(206)の領域の全体をキャプチャできるようにする位置(318)の最適集合を前記複数のテスト位置(308)から決定し、前記自動誘導ビークル(222)を位置(318)の前記最適集合の各々に最小時間で移動するための進路(304)を生成し、前記ファイルが前記進路(304)を識別する前記構造(206)に対する前記アセンブリ(204)の状態の前記自動化された検証(202)を実施する際に使用するためのファイルを生成する最適化コンポーネント(305)と、
を含むプロセッサ(302)を備えた、装置。 - 前記センサ・システム(210)をさらに含み、前記センサ・システム(210)は前記センサ・システム(210)を前記構造(206)と相対的な前記複数のテスト位置(308)に移動するように構成された自動誘導ビークル(222)に接続された、請求項10に記載の装置。
- 前記構造(206)は機体構造(206)であり、前記複数のテスト画像(310)内のテスト画像は前記機体構造(206)内の複数の穴または前記機体構造(206)内の複数の穴に取り付けられた複数のファスナのうち少なくとも1つをキャプチャする、請求項10に記載の装置。
- 前記複数のテスト画像(310)は100から100,000のテスト画像を含む、請求項10に記載の装置。
- テスト位置(308)で生成された前記複数のテスト画像(310)内のテスト画像は、基準座標系に関して前記センサ・システム(210)に対する特定のテスト位置および特定のテスト方位に対応する、請求項10に記載の装置。
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