JP2018125436A - Electronic device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、回路素子がはんだを介して配線基板に実装され樹脂封止された電子装置に関する。 The present invention relates to an electronic device in which circuit elements are mounted on a wiring board via solder and sealed with resin.
従来、特許文献1に開示されているように、はんだを介して回路素子が実装されるプリント配線基板がある。このプリント配線基板は、表面実装部品を搭載するパッド間に凹部が形成され、表面実装部品の実装後のフラックス洗浄工程における洗浄液が凹部に導かれるようになっている。
Conventionally, as disclosed in
とことで、従来技術ではないが、電子装置は、回路素子がはんだを介して配線基板に実装され、回路素子と配線基板との間が樹脂封止された構成が考えられる。このような電子装置は、フラックスを洗浄することなく、すなわち回路素子と配線基板との間にフラックスが残存した状態で樹脂封止されることもありうる。 Therefore, although it is not a conventional technique, an electronic device may be configured such that a circuit element is mounted on a wiring board via solder and the circuit element and the wiring board are sealed with resin. Such an electronic device may be resin-sealed without cleaning the flux, that is, with the flux remaining between the circuit element and the wiring board.
しかしながら、電子装置は、フラックスが残存した状態で樹脂封止されると、高温環境下でフラックスが膨張した場合、封止用の樹脂によってフラックスの逃げ場がない。このため、電子装置は、フラックスの膨張による応力が回路素子と配線基板に印加されることになる。そして、電子装置は、応力の印加によって回路素子と配線基板との間隔が広げられことで、はんだにも応力が印加されるため、はんだの寿命が短くなるという問題がある。 However, when the electronic device is resin-sealed with the flux remaining, if the flux expands in a high temperature environment, the flux does not escape due to the sealing resin. For this reason, in the electronic device, the stress due to the expansion of the flux is applied to the circuit element and the wiring board. The electronic device has a problem that the life of the solder is shortened because the stress is applied to the solder because the distance between the circuit element and the wiring board is widened by the application of the stress.
本開示は、上記問題点に鑑みなされたものであり、はんだの短寿命化を抑制できる半導体装置を提供することを目的とする。 The present disclosure has been made in view of the above problems, and an object thereof is to provide a semiconductor device capable of suppressing the shortening of the solder life.
上記目的を達成するために本開示は、
一面(S1)の一部に、配線の一部である複数の基板側電極(11、11b)を有した配線基板(10)と、
一面に実装され、基板側電極と電気的に接続された複数の素子側電極(31、31a、31b)を有した回路素子(30、30a、30b)と、
基板側電極と素子側電極とを電気的に接続するはんだ(40)と、
少なくとも回路素子と一面との間を封止する絶縁部材(60)と、を備えた電子装置であって、
配線基板は、一面における複数の基板側電極で挟まれ回路素子と対向した対向部位の少なくとも一部に凹部(20〜25)が形成されており、
凹部の少なくとも一部にフラックスが配置されていることを特徴とする。
In order to achieve the above object, the present disclosure
A wiring substrate (10) having a plurality of substrate-side electrodes (11, 11b) which are a part of wiring on a part of one surface (S1);
A circuit element (30, 30a, 30b) having a plurality of element side electrodes (31, 31a, 31b) mounted on one surface and electrically connected to the substrate side electrode;
Solder (40) for electrically connecting the substrate side electrode and the element side electrode;
An insulating member (60) for sealing at least between the circuit element and one surface,
The wiring board is formed with recesses (20 to 25) in at least a part of a facing portion sandwiched between a plurality of substrate-side electrodes on one surface and facing a circuit element,
A flux is arranged in at least a part of the recess.
このように、本開示は、対向部位の少なくとも一部に凹部が形成されており、この凹部の少なくとも一部にフラックスが配置されているため、凹部が設けられていない場合よりも、対向部位にあるフラックスの厚みを薄くすることができる。このため、本開示は、高温環境下においてフラックスの膨張量を小さくすることができ、フラックスの膨張によって配線基板と回路素子とに印加される応力を抑制できる。よって、本開示は、基板側電極と素子側電極とを電気的に接続するはんだの接続寿命が短寿命化することを抑制できる。 Thus, the present disclosure has a recess formed in at least a part of the facing part, and the flux is disposed in at least a part of the recessed part. The thickness of a certain flux can be reduced. For this reason, this indication can make small the amount of expansion of flux under high temperature environment, and can control the stress applied to a wiring board and a circuit element by expansion of flux. Therefore, this indication can control that the connection life of the solder which electrically connects a substrate side electrode and an element side electrode becomes short life.
また、上記目的を達成するための更なる特徴は、
一面(S1)の一部に、配線の一部である複数の基板側電極(11、11b)を有した配線基板(10)と、
一面に実装され、基板側電極と電気的に接続された複数の素子側電極(31、31a、31b)を有した回路素子(30、30a、30b)と、
基板側電極と素子側電極とを電気的に接続するはんだ(40)と、
少なくとも回路素子と一面との間を封止する絶縁部材(60)と、を備えた電子装置であって、
配線基板は、一面における複数の基板側電極で挟まれ回路素子と対向した対向部位に隣り合う非対向部位において、基板側電極に隣接して凹部(26)が形成されており、
凹部の少なくとも一部にフラックスが配置されている電子装置。
Further features for achieving the above objective are:
A wiring substrate (10) having a plurality of substrate-side electrodes (11, 11b) which are a part of wiring on a part of one surface (S1);
A circuit element (30, 30a, 30b) having a plurality of element side electrodes (31, 31a, 31b) mounted on one surface and electrically connected to the substrate side electrode;
Solder (40) for electrically connecting the substrate side electrode and the element side electrode;
An insulating member (60) for sealing at least between the circuit element and one surface,
The wiring board is formed with a recess (26) adjacent to the substrate side electrode in a non-facing portion adjacent to the facing portion sandwiched between the plurality of substrate side electrodes on one surface and facing the circuit element.
An electronic device in which a flux is disposed in at least a part of the recess.
このように、本開示は、非対向部位において、基板側電極に隣接して凹部が形成されており、この凹部の少なくとも一部にフラックスが配置されているため、凹部が設けられていない場合よりも、対向部位にあるフラックスの厚みを薄くすることができる。このため、本開示は、高温環境下においてフラックスの膨張量を小さくすることができ、フラックスの膨張によって配線基板と回路素子とに印加される応力を抑制できる。よって、本開示は、基板側電極と素子側電極とを電気的に接続するはんだの接続寿命が短寿命化することを抑制できる。 As described above, the present disclosure has a recess formed adjacent to the substrate-side electrode in the non-facing portion, and the flux is disposed in at least a part of the recess, so that the recess is not provided. In addition, the thickness of the flux at the facing portion can be reduced. For this reason, this indication can make small the amount of expansion of flux under high temperature environment, and can control the stress applied to a wiring board and a circuit element by expansion of flux. Therefore, this indication can control that the connection life of the solder which electrically connects a substrate side electrode and an element side electrode becomes short life.
なお、特許請求の範囲、及びこの項に記載した括弧内の符号は、一つの態様として後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものであって、発明の技術的範囲を限定するものではない。 It should be noted that the reference numerals in parentheses described in the claims and in this section indicate the correspondence with the specific means described in the embodiments described later as one aspect, and the technical scope of the invention It is not limited.
以下において、図面を参照しながら、発明を実施するための複数の形態を説明する。各形態において、先行する形態で説明した事項に対応する部分には同一の参照符号を付して重複する説明を省略する場合がある。各形態において、構成の一部のみを説明している場合は、構成の他の部分については先行して説明した他の形態を参照し適用することができる。 Hereinafter, a plurality of embodiments for carrying out the invention will be described with reference to the drawings. In each embodiment, portions corresponding to the matters described in the preceding embodiment may be denoted by the same reference numerals and redundant description may be omitted. In each embodiment, when only a part of the configuration is described, the other configurations described above can be applied to other portions of the configuration.
なお、以下においては、互いに直交する3方向をX方向、Y方向、Z方向と示す。また、X方向とY方向とによって規定される平面をXY平面、X方向とZ方向とによって規定される平面をXZ平面、Y方向とZ方向とによって規定される平面をYZ平面と示す。 In the following, the three directions orthogonal to each other are referred to as an X direction, a Y direction, and a Z direction. In addition, a plane defined by the X direction and the Y direction is denoted as an XY plane, a plane defined by the X direction and the Z direction is denoted as an XZ plane, and a plane defined by the Y direction and the Z direction is denoted as a YZ plane.
(第1実施形態)
まず、本実施形態の電子装置110の構成に関して、図1、図2、図3、図4を用いて説明する。なお、図1は、封止樹脂部60で隠れている回路素子30などを破線で示している。図4は、封止樹脂部60が形成される前の配線基板10の拡大平面図であり、二点鎖線で回路素子30が実装される位置を示している。
(First embodiment)
First, the configuration of the
電子装置110は、例えば車両に搭載される車両用制御装置などに適用可能である。電子装置100は、図1や図2などに示すように、主に、配線基板10と、回路素子30と、はんだ40と、フラックス50と、封止樹脂部60とを備えている。後程詳しく説明するが、フラックス50は、リフロー工程を行った後に、配線基板10と回路素子30との間、もしくは、はんだ40の周辺に残留しているものであり、フラックス残渣、残留フラックス、フラックス成分とも言える。
The
配線基板10は、樹脂やセラミックスなどの絶縁基材に、CuやAgなどの導体パターンによって配線が形成されたものである。また、配線基板10は、例えば、導体パターンが絶縁基材を介して積層された多層基板などを採用できる。配線基板10は、例えば直方体形状をなした板状の部材である。配線基板10は、一面S1に回路素子30が実装されている。このため、一面S1は、実装面とも言える。なお、配線基板10は、一面S1の反対面S2にも回路素子30が実装されていてもよいし、反対面2にも封止樹脂部60が形成されていてもよい。
The
配線基板10は、図2、図3、図4などに示すように、一面S1の一部に、配線の一部であるランド11が形成されている。つまり、ランド11は、導電性の配線の一部として、一面S1に形成された部位である。
As shown in FIGS. 2, 3, 4, and the like, the
ランド11は、基板側電極に相当し、例えば、一面S1から突出して形成され、一面S1を基準としてZ方向に厚みを有している。また、ランド11は、回路素子30の電極31と対向配置され、電極31と電気的及び機械的に接続(接合)される部位であり実装ランドとも言える。なお、図1においては、はんだ40に隠れた位置にランド11が形成されている。以下においては、単に接続と記載した場合、電気的及び機械的に接続されていることを意味する。
The
後程説明するが、本実施形態では、二つの電極31を有した二端子素子である回路素子30を採用している。このため、本実施形態では、一つの回路素子30に対して一対のランド11、すなわち二つのランド11が形成された配線基板10を採用している。よって、二つのランド11は、一つのランド11に対して一つの電極31が対向配置され、対向配置された電極31と接続されている。
As will be described later, in the present embodiment, a
また、本実施形態では、一対のランド11がXY平面において対向配置された例を採用している。さらに、本実施形態では、図4に示すように、電極31のXY平面における形状に対応して、XY平面において矩形状を有するランド11を採用している。なお、ランド11は、XY平面に沿って平坦に形成されている。以下、XY平面における形状を平面形状とも称する。
In the present embodiment, an example is adopted in which a pair of
電極31の平面形状とは、電極31におけるランド11との対向面の形状に相当する。また、電極31におけるランド11との対向面は、電極対向面とも言える。一方、ランド11における電極31との対向面は、ランド対向面とも言える。
The planar shape of the
しかしながら、本発明はこれに限定されない。回路素子30が三つ以上の電極31を有している場合、配線基板10は、この回路素子30が実装されるランド11として、回路素子30の電極31の個数と同数のランド11が形成されることになる。なお、配線基板10は、ランド11の他に、絶縁基材の貫通穴が設けられ、この貫通穴に穴状電極が形成された構成であっても採用できる。
However, the present invention is not limited to this. When the
さらに、配線基板10は、図2、図3に示すように凹部20が形成されている。凹部20は、周辺の一面S1から窪んだ非貫通孔である。配線基板10は、周辺よりも窪んだ凹部20が形成されていると言える。また、配線基板10は、一つのランド11に対して一つの凹部20が形成されている。よって、配線基板10は、二つの凹部20が形成されている。なお、凹部20は、配線基板10の絶縁基材を貫通する孔であってもよい。
Furthermore, the
また、本実施形態では、図4などに示すように、ランド11に沿って連続的に形成された凹部20を採用している。つまり、凹部20は、ランド11に沿って直線的に形成されており、平面形状が直線状や溝状と言える。例えば、二つの凹部20は、XY平面において平行に設けられている。本実施形態では、一例として、幅X2が0.15mm程度で長さが2.5mm以上の凹部20を採用している。しかしながら、凹部20の幅X2、長さは、これに限定されない。
In the present embodiment, as shown in FIG. 4 and the like, a
また、凹部20の断面形状は、図3などに示すように、四角形状と言える。本実施形態では、底面が凹状曲面であり、側壁が一面S1に対して垂直であり、底面に対向している領域が開口した凹部20を採用している。しかしながら、本発明は、これに限定されず、底面が平坦面である凹部20や、断面形状が三角形状である凹部20を採用できるなお、断面形状とは、XZ平面における形状である。
Moreover, it can be said that the cross-sectional shape of the recessed
配線基板10は、一面S1における複数のランド11で挟まれ回路素子30と対向した対向部位の少なくとも一部に凹部20が設けられている。つまり、凹部20は、回路素子30の底面における電極31で挟まれた部位に対向する位置に設けられている。また、凹部20は、図4に示すように、対向部位から、回路素子30と対向していない部位まで延長して設けられていてもよい。凹部20は、XY平面において、ランド11と平行に設けられている。なお、回路素子30の底面とは、配線基板10に実装された状態で、一面S1やランド11と対向する面である。
The
凹部20は、ランド11の周囲に設けられている。なお、各凹部20は、二つのランド11のそれぞれと隣り合って設けられているとも言える。詳述すると、配線基板10は、一方の凹部20が二つのランド11のうちの一方に近い位置に設けられており、他方の凹部20が二つのランド11のうちの他方に近い位置に設けられている。つまり、一方の凹部20は、二つのランド11のうちの他方よりも一方に近い位置に設けられている。同様に、他方の凹部20は、二つのランド11のうちの一方よりも他方に近い位置に設けられている。
The
また、一面における二つのランド11間の領域は、二つのランド11間の中心を通り、二つのランド11に平行な仮想直線を境界として二つの領域に分けられる。そして、二つ凹部20のそれぞれは、二つの領域のそれぞれに個別に設けられていると言える。
Further, the region between the two
さらに、凹部20は、図3などに示すように、ランド11と間隔をあけて設けられている。つまり、配線基板10は、ランド11の端部と凹部20の端部との間に平坦面(一面S1)が配置されている。また、凹部20の側壁は、ランド11の端部と面一になっていないと言える。
Further, as shown in FIG. 3 and the like, the
この間隔は、回路素子30の底面と一面S1との間におけるフラックス50の量や、回路素子30の底面と一面S1との距離によって異なる。例えば、フラックス50の量が多い場合は、少ない場合よりも間隔を長くする。また、回路素子30の底面と一面S1との距離が短い場合は、長い場合よりも間隔を長くする。なお、フラックス50の量は、実験やシミュレーションなどによって、回路素子30と一面S1との間に残留している量を算出することで予測できる。
This interval differs depending on the amount of
凹部20の少なくとも一部には、後程説明するフラックス50が配置されている。言い換えると、凹部20の少なくとも一部には、フラックス50が残存していると言える。よって、電子装置110は、配線基板10などに加えてフラックス50を備えているとも言える。また、各凹部20は、自身に近い方のランド11に接しているはんだ40に含まれていたフラックス50の一部が配置されるとも言える。
A
本実施形態では、凹部20の全体がフラックス50で満たされているのではなく、図3に示すように、一部のみにフラックス50が配置されている例を採用している。フラックス50は、凹部20の一部だけでなく、一面S1と回路素子30との対向領域にも設けられている。なお、凹部20は、回路素子30の底面と一面S1との間におけるフラックス50の量や配線基板10の体格に応じて、X方向の幅、Y方向の長さ、Z方向の深さ、すなわち容積が決定される。
In the present embodiment, the
回路素子30は、基部と、基部に形成された複数の電極31とを備えている。電極31は、素子側電極に相当する。回路素子30は、配線基板10の一面S1に実装されており、ランド11のそれぞれと個別に対向した二つの導電性の電極31を有している。各電極31は、回路素子30が配線基板10に実装された状態で、ランド11に対向する部位、すなわち電極対向面を含んでいる。回路素子30は、電極対向面の形状が矩形状を有している。回路素子30は、二つの電極31が平行に配置されている。
The
本実施形態では、一例として、幅X1と長さY1との比が3対2程度の短辺電極タイプの回路素子30を採用している。つまり、回路素子30は、比較的長さが短い、すなわち横長のチップ部品と言える。しかしながら、本発明はこれに限定されない。
In the present embodiment, as an example, a short-side electrode
なお、回路素子30は、例えばチップ抵抗やチップコンデンサなどの受動素子を採用できる。また、回路素子30は、半導体を主成分とする基部に電極が形成されたベアチップ状の半導体素子やパッケージ化された回路素子などでも採用できる。さらに、電子装置110は、複数の回路素子30を備えていてもよい。
The
はんだ40は、上記のように、ランド11と電極31とを接続している。よって、電子装置100は、一つの回路素子30に対して、二つのはんだ40を備えている。
The
はんだ40は、ランド11と電極31との間にはんだペーストが配置された状態でリフロー工程を行った後のものである。はんだ40の構成材料であるはんだペーストは、はんだ微粉末とフラックス50とを混ぜ合わせてクリーム状にしたものである。はんだ微粉末を構成する合金としては、例えば、Sn-Cu、Sn-Pb、Sn-Ag-Cu、Sn-Pb-Ag、Sn-Pb-BiなどのSn基合金、In-PbなどのIn基合金、Pb-AgなどのPb基合金が挙げられる。一方、フラックス50は、ランド11表面や電極31表面の酸化膜を除去するロジン、はんだ付け性を促進する活性剤、印刷性に関与する溶剤などで構成されている。
The
ところで、はんだペーストは、上記のように、フラックス50を含んでいる。このフラックス50は、図3に示すように、リフロー工程を行った後、配線基板10、回路素子30、はんだ40の表面に接して残留する。詳述すると、フラックス50は、はんだペーストに含まれているフラックス50のうち、リフロー工程で蒸発した成分を除く残りの成分と言える。
By the way, the solder paste contains the
フラックス50は、はんだ40を覆うように流動して、回路素子30の底面と配線基板10との間にも流入する。そして、フラックス50は、一部が凹部20に配置される。また、フラックス50は、図3に示すように、はんだ40、ランド11、一面S1に接しつつ、凹部20の少なくとも一部に存在している。
The
封止樹脂部60は、絶縁部材に相当し、少なくとも回路素子30と一面S1との間を封止している。詳述すると、封止樹脂部60は、例えばエポキシ系樹脂などからなり、図2、図3に示すように、配線基板10の一面S1に設けられている。封止樹脂部60は、一面S1や回路素子30に密着しつつ、これらを一体的に封止している。また、封止樹脂部60は、一面S1や回路素子30に加えて、はんだ40を含む接合部やフラックス50に密着しつつ、これらを一体的に封止している。さらに、封止樹脂部60は、回路素子30と一面S1との間に流れ込み、回路素子30と一面S1との間を封止している。この封止樹脂部60は、例えばコンプレッション成形やトランスファー成形によって形成することができる。よって、封止樹脂部60は、モールド樹脂と言い換えることもできる。
The sealing
なお、本実施形態では、図3に示すように、凹部20がフラックス50と封止樹脂部60で満たされている例を採用している。しかしながら、本発明は、これに限定されず、凹部20に封止樹脂部60が形成されていなくてもよい。
In the present embodiment, as shown in FIG. 3, an example in which the
ここで、電子装置110の製造方法の一例に関して説明する。本実施形態の製造方法は、準備工程、実装工程、封止工程を含んでいる。
Here, an example of a method for manufacturing the
まず、準備工程では、ランド11が形成された配線基板10を準備する。また、準備工程では、配線基板10にレーザなどによって凹部20を形成する。配線基板10が層間接続孔を有している場合、準備工程では、層間接続孔の開口工程と同じ工程で凹部20を形成できる。なお、準備工程後にランド11などにめっきを施すめっき工程を有する場合、めっき工程では、凹部20にマスクを施した状態で行い、凹部20にめっきが設けられないようにすると好ましい。
First, in the preparation step, the
実装工程では、ディスペンサーを用いた塗布やスクリーン印刷によって、予め決められた量のはんだペーストをランド上に形成する。その後、実装工程では、はんだペースト上に、電極31が配置されるように回路素子30を搭載する。このとき、はんだペーストは、硬化していないため、ランド11と電極31とは強固に固定されていない。
In the mounting process, a predetermined amount of solder paste is formed on the land by application using a dispenser or screen printing. Thereafter, in the mounting process, the
その後、実装工程では、はんだペーストを溶融及び硬化させることで、各電極31と各ランド11とをはんだ40によって接続する。つまり、実装工程は、リフロー工程を含んでいる。このようにして、配線基板10と回路素子30は、はんだ40を介して接続される。
Thereafter, in the mounting process, each
ところで、上記のように、リフロー工程を行った後は、配線基板10と回路素子30との間にフラックス50が残留している。しかしながら、本製造方法では、フラックス50を除去する洗浄工程を含まない。なお、通常、洗浄工程を行った場合であっても、完全にフラックス50を除去することは難しい。このため、電子装置110は、洗浄工程を経て製造されたものであっても、上記のようにフラックス50を含んでいればよい。
By the way, as described above, after the reflow process is performed, the
封止工程では、回路素子30が実装された配線基板10に対して、封止樹脂部60を形成する。つまり、本製造方法では、フラックス50を除去することなく封止工程が行われる。言い換えると、本製造方法では、配線基板10と回路素子30との間にフラックス50が残った状態で、封止工程を行う。
In the sealing step, the sealing
封止工程は、例えばコンプレッション成形やトランスファー成形で封止樹脂部60を形成する。封止工程では、封止樹脂部60で一面S1や回路素子30やフラックス50などを覆いつつ、一面S1と回路素子30との間にも封止樹脂部60が流れ込み、回路素子30などを封止樹脂部60で封止する。
In the sealing step, the sealing
電子装置110は、このような製造方法によって製造される。つまり、電子装置110は、周知の基板製造プロセスで製造することができる。
The
以上説明したように、電子装置110は、凹部20が形成されており、この凹部20の少なくとも一部にフラックス50が配置されているため、凹部20が設けられていない場合よりも、対向部位にあるフラックス50の厚みを薄くすることができる。つまり、電子装置110は、フラックス50のZ方向の厚さが、X方向において平均的に薄くなる。特に、フラックス50は、図3に示すように、はんだ40、ランド11、一面S1に接しつつ、凹部20の少なくとも一部に存在すると、厚みが平均的に薄くなりやすい。
As described above, the
このため、電子装置110は、高温環境下においてフラックス50の膨張量を小さくすることができ、フラックス50の膨張によって配線基板10と回路素子30とに印加される応力を抑制できる。よって、電子装置110は、ランド11と電極31とを電気的に接続するはんだ40の接続寿命が短寿命化することを抑制できる。
For this reason, the
つまり、電子装置110は、フラックス50の膨張によって、はんだ40にクラックが入ったり、ランド11とはんだ40とが剥離したり、電極31とはんだ40とが剥離したりすることを抑制できる。また、電子装置110は、フラックス50の膨張によって、ランド11と電極31とがオープン不良になることを抑制できると言える。
That is, the
また、電子装置110は、配線基板10と回路素子30との間において、二つのランド11間や二つのはんだ40間がフラックス50を介して連結された場合、これらの間における電気絶縁性が低下する可能性がある。しかしながら、電子装置110は、ランド11間に凹部20を備えており、凹部20にフラックス50が配置されているため、ランド11がフラックス50を介して連結されることを抑制できる。よって、電子装置110は、配線基板10と回路素子30との間における、二つのランド11間や二つのはんだ40間の電気絶縁性の低下を抑制できる。言い換えると、電子装置110は、フラックス50の活性による絶縁不具合を抑制できる。
In addition, when the
さらに、電子装置110は、ランド11の端部と凹部20の端部との間に一面S1がなかった場合、単にフラックス50が凹部20に入り込むだけで、フラックス50の厚みを薄くすることができない可能性がある。しかしながら、電子装置110は、ランド11の端部と凹部20の端部との間に一面S1が配置されているため、フラックス50の厚みを薄くしやすい。
Furthermore, in the
なお、本実施形態では、絶縁部材の一例として上記のような封止樹脂部60を採用した。しかしながら、本発明の絶縁部材は、これに限定されず、回路素子30と一面S1との間を封止するアンダーフィルであっても採用できる。つまり、電子装置110は、回路素子30と一面S1との間にアンダーフィルが充填される構造であっても採用でき、上記効果を奏することができる。つまり、電子装置110は、回路素子30を全体的に封止する封止樹脂部60のかわりに、回路素子30と一面S1との間にアンダーフィルが設けられた構成であっても上記効果を奏することができる。なお、この点は、以下に説明する他の形態でも同様である。
In the present embodiment, the sealing
また、電子装置110は、対向部位における、少なくとも、回路素子30の外形に近い場所に、凹部20が配置されていると好ましい。つまり、電子装置110は、対向部位において、少なくとも、回路素子30のY方向における端部に対向する位置の一部に凹部20が配置されていると好ましい。さらに、電子装置110は、対向部位であり、且つ、少なくとも、電極31における互いに対向する側の角部、すなわち対向部位の四隅に凹部20が配置されていると好ましい。
In addition, in the
はんだ40は、電極31における互いに対向する側の角部からクラックが進行することが多い。よって、電子装置110は、上記の位置に凹部20が設けられていると、クラックが進行しやすい部分のフラックス50による押し上げ応力を抑制することができる。このため、電子装置110は、はんだ40を長寿命化することができる。また、電子装置110は、加工性、コストの観点から、凹部20を削減(少なく)したい場合に効果的である。
In the
以上、本発明の好ましい実施形態について説明した。しかしながら、本発明は、上記実施形態に何ら制限されることはなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において、種々の変形が可能である。以下に、本発明のその他の形態として、変形例1、2、第2実施形態〜第7実施形態に関して説明する。各形態は、それぞれ単独で実施することも可能であるが、適宜組み合わせて実施することも可能である。本発明は、実施形態において示された組み合わせに限定されることなく、種々の組み合わせによって実施可能である。
The preferred embodiments of the present invention have been described above. However, the present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention. Hereinafter, as other embodiments of the present invention,
(変形例1)
図5に示すように、変形例1の凹部20aは、断面形状が台形形状である。つまり、変形例1の配線基板10は、底面が凹状曲面であり、側壁が一面S1に対して垂直でなく、底面に対向している領域が開口した凹部20が形成されている。よって、凹部20aは、底面から一面S1側に行くに連れて開口面積が広くなる形状をなしている。電子装置110は、このような配線基板10であっても上記の効果を奏することができる。
(Modification 1)
As shown in FIG. 5, the
(変形例2)
図6に示すように、変形例2の電子装置110は、凹部20が封止樹脂部60で埋設されていない。図6は、図3に相当する断面図である。
(Modification 2)
As shown in FIG. 6, in the
つまり、凹部20は、フラックス50と封止樹脂部60によって囲まれた空間が形成されていると言える。また、電子装置110は、凹部20内に、フラックス50と封止樹脂部60によって囲まれた空間、すなわちボイドが形成されているとも言える。
That is, it can be said that the
これによって、電子装置110は、フラックス50が膨張した場合に、フラックス50が空間に逃げやすくなる。このため、電子装置110は、フラックス50の膨張によって配線基板10と回路素子30とに印加される応力をより一層抑制できる。従って、電子装置110は、はんだ40の接続寿命が短寿命化することをより一層抑制できる。なお、変形例2は、変形例1や後程説明する各実施形態と組み合わせて実施することもできる。
Accordingly, when the
(変形例3)
図7示すように、変形例3の電子装置110は、回路素子30aとして、QFNパッケージを備えている。QFNは、quad flat non-leaded packageの略称である。図7は、図2に相当する断面図である。
(Modification 3)
As shown in FIG. 7, the
配線基板10は、複数のランド11に加えて放熱用ランド12を備えている。また、配線基板10は、ランド11と放熱用ランド12との間や、ランド11間などに凹部20が設けられている。回路素子30aは、複数の電極31aに加えて放熱パッド32aを備えている。電極31aは、素子側電極に相当する。
The
電子装置110は、ランド11と電極31aとがはんだ40で接続され、且つ放熱用ランド12と放熱パッド32aとが機械的に接続されている。そして、電子装置110は、凹部20の少なくとも一部にフラックス50が配置されている。変形例3の電子装置110であっても上記実施形態で説明した効果を奏することができる。
In the
なお、変形例3は、変形例1や変形例2や後程説明する各実施形態と組み合わせて実施することもできる。例えば、変形例2と変形例3とを組み合わせた電子装置110は、変形例2で説明した効果を奏することができる。
Note that Modification 3 can also be implemented in combination with
(第2実施形態)
図8に示すように、第2実施形態の電子装置120は、凹部21の形状が電子装置110と異なる。その他の点に関しては、電子装置110と同様である。なお、図8は、図4に相当する平面図である。
(Second Embodiment)
As shown in FIG. 8, the
凹部21は、ランド11に沿って複数箇所に設けられている。つまり、凹部21は、Y方向における複数箇所に設けられている。また、凹部21は、二つのランド11で挟まれ、且つ、二つのランド11に沿う方向における複数箇所に設けられていると言える。
The
また、凹部21は、平面形状が直線状ではなく円形状である。なお、凹部21は、凹部21を形成するためのレーザのスポット形状とも言える。電子装置120は、電子装置110と組み合わせた構成、すなわち、凹部21と凹部20とを備えた構成であっても採用できる。
Further, the
連続的に形成された凹部20は、レーザのスポットどうしの一部が重なるように連続的にスポットを移動させることで形成できる。これに対して、複数箇所に形成された凹部21は、レーザのスポットが重なるように連続的に移動させる必要がなく、所定間隔毎に移動させることで形成できる。このため、電子装置120は、電子装置110よりも凹部21を形成しやすい。
The continuously formed
また、電子装置120は、封止樹脂部60を形成する際に、一面S1と回路素子30との対向領域(隙間)における端部から中央へと封止樹脂部60が流れ込む。このとき、電子装置120は、凹部20が連続的に形成されている場合よりも、複数箇所に凹部21が形成されている場合の方が、フラックス50と封止樹脂部60との間に空間が形成されやすい。さらに、電子装置120は、凹部20が連続的に形成されている場合よりも、Y方向の複数箇所、すなわち凹部21毎に空間が形成されやすい。よって、電子装置120は、フラックス50の逃げ場を形成しやすく、はんだ40の短寿命化を抑制しやすくなる。なお、電子装置120は、電子装置110と同様の効果も奏することができる。
In the
(第3実施形態)
図9に示すように、第3実施形態の電子装置130は、凹部22の数が電子装置110と異なる。その他の点に関しては、電子装置110と同様である。なお、図9は、図4に相当する平面図である。
(Third embodiment)
As shown in FIG. 9, the
電子装置130は、凹部20と同様の形状を有した、すなわち連続的に形成された凹部22がランド11間の四か所に設けられている。なお、電子装置130は、凹部22がランド11間の三か所に設けられていてもよいし、五か所以上に設けられていてもよい。
The
電子装置130は、電子装置110と同様の効果を奏することができる。なお、電子装置130は、電子装置120と組み合わせた構成、すなわち、凹部21と凹部22とを備えた構成であっても採用できる。この場合、電子装置130は、電子装置120と同様の効果も奏することができる。
The
(第4実施形態)
図10に示すように、第4実施形態の電子装置140は、凹部23の形状が電子装置110と異なる。その他の点に関しては、電子装置110と同様である。なお、図10は、図4に相当する平面図である。また、図10は、断面図ではないが、凹部23を明確にするためにハッチングを施している。
(Fourth embodiment)
As shown in FIG. 10, the
電子装置140は、対向部位に加えて、一面S1と回路素子30とが対向していない非対向部位にも形成されており、ランド11を囲う位置に環状に凹部23が形成された配線基板10を備えている。つまり、凹部23は、XY平面において、ランド11を囲っている。
The
電子装置140は、ランド11を囲むように凹部23が形成されているため、フラックス50の流動を促すことができる。このため、電子装置140は、対向部位にあるフラックス50の厚みを薄くすることができる。よって、電子装置140は、はんだ40の接続寿命が短寿命化することをより一層抑制できる。
Since the
また、電子装置140は、電子装置110と同様の効果を奏することができる。なお、電子装置140は、電子装置110〜130のそれぞれと組み合わせた構成、すなわち、凹部23に加えて、凹部20〜22のいずれかを備えた構成であっても採用できる。この場合、電子装置140は、電子装置120などと同様の効果も奏することができる。
In addition, the
なお、この凹部23は、一部に環状が途絶えていてもよい。電子装置140は、例えば、ランド11を囲うC字形状の凹部23であっても同様の効果を奏することができる。
In addition, this recessed
(第5実施形態)
図11、図12に示すように、第5実施形態の電子装置150は、回路素子30bの形状と配線基板10の凹部24の大きさが電子装置110と異なる。その他の点に関しては、電子装置110と同様である。なお、図11は、図1に相当する平面図である。
(Fifth embodiment)
As shown in FIGS. 11 and 12, the
回路素子30bは、基部と、基部に形成された複数の電極31bとを備えている。電極31bは、素子側電極に相当する。回路素子30bは、図11に示すように、X方向の幅よりもY方向の長さの方が長い長辺電極タイプである。つまり、回路素子30bは、比較的長さが長い、すなわち縦長のチップ部品と言える。言い換えると、回路素子30bは、二つの電極31bの間隔よりも、二つの電極31bに沿う方向(Y方向)における長さの方が長い。また、回路素子30bは、縦長のチップ部品であるため、回路素子30よりも電極31bが長い。
The
配線基板10は、図11、図12に示すように、基板側電極としてのランド11bを複数備えており、凹部24を複数備えている。凹部24は、凹部20よりもX方向の幅が長くなっている。本実施形態では、一例として、凹部24の間隔X3を0.1mm程度としている。これは、回路素子30bにおける電極31bが長い分、はんだ40の量が多くなり、フラックス50の量も増えるためである。
As shown in FIGS. 11 and 12, the
上記のように、凹部24の容積は、回路素子30の底面と一面S1との間におけるフラックス50の量や配線基板10の体格に応じて決定される。このため、凹部24の間隔X3に関しても同様に、回路素子30の底面と一面S1との間におけるフラックス50の量や配線基板10の体格に応じて決定される。よって、凹部24の間隔X3は、0.1mmに限定されない。
As described above, the volume of the
電子装置150は、電子装置110と同様の効果を奏することができる。なお、電子装置140は、電子装置110〜130のそれぞれと組み合わせた構成、すなわち、凹部24に加えて、凹部20〜23のいずれかを備えた構成であっても採用できる。この場合、電子装置140は、電子装置120や電子装置140などと同様の効果も奏することができる。
The
(第6実施形態)
図13に示すように、第6実施形態の電子装置160は、凹部25の形状が電子装置110と異なる。その他の点に関しては、電子装置110と同様である。なお、図13は、図4に相当する平面図である。
(Sixth embodiment)
As shown in FIG. 13, the
電子装置160は、対向部位のほぼ全域に凹部25が形成されている。よって、配線基板10は、ランド11の端部から凹部25の側壁までの間に一面S1が配置されている。また、ほぼ全域とは、ランド11の端部から凹部25の側壁の間における一面S1にフラックス50が接し、フラックス50の厚みを薄くしやすくできる程度である。電子装置160は、電子装置110と同様の効果を奏することができる。
In the
(第7実施形態)
図14に示すように、第7実施形態の電子装置170は、凹部26の位置が電子装置110と異なる。その他の点に関しては、電子装置110と同様である。なお、図14は、図4に相当する平面図である。
(Seventh embodiment)
As shown in FIG. 14, the electronic device 170 of the seventh embodiment is different from the
電子装置170は、一面S1における複数のランド11で挟まれ回路素子30と対向した対向部位に隣り合う非対向部位において、ランド11に隣接して凹部26が形成された配線基板10を備えている。つまり、凹部26は、対向部位には形成されておらず、非対向部位に形成されている。本実施形態では、非対向部位におけるランド11間の領域で、ランド11に隣接して凹部26が形成された配線基板10を採用している。そして、電子装置170は、上記実施形態と同様に、凹部26の少なくとも一部にフラックス50が配置されている。
The electronic device 170 includes a
このように、電子装置170は、非対向部位において、ランド11に隣接して凹部26が形成されており、この凹部26の少なくとも一部にフラックス50が配置されている。このため、電子装置170は、凹部26が設けられていない場合よりも、対向部位にあるフラックス50の厚みを薄くすることができる。つまり、電子装置170は、フラックス50のZ方向の厚さが、X方向において平均的に薄くなる。特に、フラックス50は、上記実施形態で説明したように、はんだ40、ランド11、一面S1に接しつつ、凹部20の少なくとも一部に存在すると、厚みが平均的に薄くなりやすい。よって、電子装置170は、電子装置110と同様の効果を奏することができる。
As described above, in the electronic device 170, the concave portion 26 is formed adjacent to the
10…配線基板、11,11b…ランド、12…放熱用ランド、20〜26…凹部、30,30a,30b…回路素子、31,31a,31b…電極、32a…放熱パッド、40…はんだ、50…フラックス、60…封止樹脂部、100〜170…電子装置、S1…一面、S2…反対面
DESCRIPTION OF
Claims (7)
前記一面に実装され、前記基板側電極と電気的に接続された複数の素子側電極(31、31a、31b)を有した回路素子(30、30a、30b)と、
前記基板側電極と前記素子側電極とを電気的に接続するはんだ(40)と、
少なくとも前記回路素子と前記一面との間を封止する絶縁部材(60)と、を備えた電子装置であって、
前記配線基板は、前記一面における複数の前記基板側電極で挟まれ前記回路素子と対向した対向部位の少なくとも一部に凹部(20〜25)が形成されており、
前記凹部の少なくとも一部にフラックスが配置されている電子装置。 A wiring substrate (10) having a plurality of substrate-side electrodes (11, 11b) which are a part of wiring on a part of one surface (S1);
A circuit element (30, 30a, 30b) having a plurality of element side electrodes (31, 31a, 31b) mounted on the one surface and electrically connected to the substrate side electrode;
Solder (40) for electrically connecting the substrate side electrode and the element side electrode;
An electronic device comprising at least an insulating member (60) for sealing between the circuit element and the one surface,
The wiring board has a recess (20 to 25) formed in at least a part of a facing portion that is sandwiched between the plurality of substrate-side electrodes on the one surface and faces the circuit element,
An electronic device in which a flux is disposed in at least a part of the recess.
前記一面に実装され、前記基板側電極と電気的に接続された複数の素子側電極(31、31a、31b)を有した回路素子(30、30a、30b)と、
前記基板側電極と前記素子側電極とを電気的に接続するはんだ(40)と、
少なくとも前記回路素子と前記一面との間を封止する絶縁部材(60)と、を備えた電子装置であって、
前記配線基板は、前記一面における複数の前記基板側電極で挟まれ前記回路素子と対向した対向部位に隣り合う非対向部位において、前記基板側電極に隣接して凹部(26)が形成されており、
前記凹部の少なくとも一部にフラックスが配置されている電子装置。 A wiring substrate (10) having a plurality of substrate-side electrodes (11, 11b) which are a part of wiring on a part of one surface (S1);
A circuit element (30, 30a, 30b) having a plurality of element side electrodes (31, 31a, 31b) mounted on the one surface and electrically connected to the substrate side electrode;
Solder (40) for electrically connecting the substrate side electrode and the element side electrode;
An electronic device comprising at least an insulating member (60) for sealing between the circuit element and the one surface,
The wiring board is formed with a recess (26) adjacent to the substrate-side electrode at a non-facing portion adjacent to the facing portion sandwiched between the plurality of substrate-side electrodes on the one surface and facing the circuit element. ,
An electronic device in which a flux is disposed in at least a part of the recess.
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