JP2018084552A - ゴム部材の断面形状の評価方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】帯状のゴムストリップを螺旋状に巻き重ねて形成された環状のゴム部材の断面形状について、周方向の均一性を能率的に評価する。【解決手段】円筒状の成形ドラムの外周面に帯状のゴムストリップを螺旋状に巻き重ねることにより形成された環状のゴム部材の断面形状を評価するための方法である。この評価方法は、ゴム部材に、周方向に第1長さを持った測定領域を、周方向に第2長さで複数設定する工程S1と、各測定領域において、第1長さ及び第2長さよりも小さい第3長さの間隔で当該測定領域内の複数箇所でゴム部材の厚さを測定する工程S2と、各測定領域において、厚さの平均値である平均厚さを計算する工程S3と、各測定領域で得られた平均厚さを比較して、断面形状の周方向の均一性を評価する工程S5とを含む。【選択図】図4
Description
本発明は、ゴム部材の断面形状の評価方法に関し、詳しくは、円筒状の成形ドラムの外周面に、帯状のゴムストリップを螺旋状に巻き重ねて形成された環状のゴム部材の断面形状を評価しうる方法に関する。
下記特許文献1は、カーカスプライの端部の異常等を検知することを目的として、円筒状の成形ドラムの外周面に形成された環状のゴム部材の断面形状を評価するための方法を提案している。この方法は、ゴム部材の厚さを周方向の複数箇所で測定し、厚さが大きく変化する箇所の有無により、ゴム部材の断面形状の均一性を評価している。
近年、円筒状の成形ドラムの外周面に、例えば、帯状のゴムストリップを螺旋状に巻き重ねることによって、ゴム部材を形成する所謂ストリップワインド法が提案されている。このゴムストリップは、一般に矩形の断面形状を有している。
ストリップワインド法では、帯状のゴムストリップを、成形ドラムの軸方向に一定のピッチで移動させながら、成形ドラムの外周面上に巻き重ねている。このため、ゴム部材の外表面には、ゴムストリップの角によって、小さな段差が形成される。さらに、この段差は、ゴム部材の周方向に対して斜めにのびている。このため、ゴム部材の厚さは、厳密に言えば、周方向に一定ではない。しかしながら、上述の段差は、加硫時のゴム流れによって吸収できる程度のものである。
しかしながら、上記特許文献1の方法をストリップワインド法で作られたゴム部材の断面形状の評価に適用すると、大部分が不良と判断されてしまい、生産性が低下するという問題があった。
本発明は、以上のような実状に鑑み案出されたもので、帯状のゴムストリップを螺旋状に巻き重ねて形成された環状のゴム部材の断面形状について、周方向の均一性を能率的に評価することができる方法を提供することを主たる目的としている。
本発明は、円筒状の成形ドラムの外周面に帯状のゴムストリップを螺旋状に巻き重ねることにより形成された環状のゴム部材の断面形状を評価するための方法であって、前記ゴム部材に、周方向に第1長さL1を持った測定領域を、周方向に第2長さL2で複数設定する工程と、前記各測定領域において、前記第1長さL1及び前記第2長さL2よりも小さい第3長さL3の間隔で当該測定領域内の複数箇所で前記ゴム部材の厚さを測定する工程と、前記各測定領域において、前記厚さの平均値である平均厚さを計算する工程と、前記各測定領域で得られた前記平均厚さを比較して、前記断面形状の周方向の均一性を評価する工程とを含むことを特徴とする。
本発明に係る前記ゴム部材の断面形状の評価方法において、前記厚さを測定する工程は、前記各測定領域において、少なくとも4箇所で行われ、前記平均厚さを計算する工程は、複数の前記厚さのうち、最大値及び最小値を除いた厚さを平均する工程を含むのが望ましい。
本発明に係る前記ゴム部材の断面形状の評価方法において、前記各測定領域の前記第1長さL1は、前記成形ドラムの軸心を中心とする中心角が10〜30°の長さに対応するのが望ましい。
本発明に係る前記ゴム部材の断面形状の評価方法において、前記厚さを測定する工程は、前記各測定領域を、6箇所以上測定するのが望ましい。
本発明に係る前記ゴム部材の断面形状の評価方法において、前記測定領域は、2〜8箇所設定されるのが望ましい。
本発明に係る前記ゴム部材の断面形状の評価方法において、複数の前記測定領域の前記平均厚さの最大値と最小値との差を計算する工程をさらに含み、前記均一性を評価する工程は、前記平均厚さの差を、予め定められた閾値と比較するのが望ましい。
本発明のゴム部材の断面形状の評価方法は、円筒状の成形ドラムの外周面に帯状のゴムストリップが螺旋状に巻き重ねることにより形成された環状のゴム部材に、周方向に第1長さL1を持った測定領域を、周方向に第2長さL2で複数設定する工程と、各測定領域において、第1長さL1及び第2長さL2よりも小さい第3長さL3の間隔で当該測定領域内の複数箇所でゴム部材の厚さを測定する工程を含んでいる
また、本発明の評価方法は、各測定領域において、ゴム部材の厚さの平均値である平均厚さを計算する工程と、各測定領域で得られた平均厚さを比較して、断面形状の周方向の均一性を評価する工程とを含んでいる。従って、本発明の評価方法によれば、予め決定された各測定領域において、小さな段差を均した平均厚さを比較することにより、小さな段差を異常と判断することなく、ストリップワインド法で作られたゴム部材の断面形状の周方向の均一性を能率的に評価することができる。
以下、本発明の実施の一形態が図面に基づき説明される。
図1は、本実施形態のゴム部材の断面形状の評価方法(以下、単に「評価方法」ということがある)で使用される測定装置、及び、環状のゴム部材を形成するための成形ドラムの一例を示す斜視図である。
図1は、本実施形態のゴム部材の断面形状の評価方法(以下、単に「評価方法」ということがある)で使用される測定装置、及び、環状のゴム部材を形成するための成形ドラムの一例を示す斜視図である。
ゴム部材1は、円筒状の成形ドラム2の外周面2oに帯状のゴムストリップ3を螺旋状に巻き重ねることによって環状に形成される。ゴムストリップ3は、アプリケータ4によって供給される。本実施形態のゴム部材1は、未加硫の生タイヤ(図示省略)のトレッド部を構成するトレッドゴムである場合が例示される。なお、ゴム部材1は、例えば、サイドウォール部を構成するサイドウォールゴム等でもよい。ここで、「未加硫」とは、完全な加硫に至っていない全ての態様を含むもので、いわゆる半加硫の状態は「未加硫」に含まれる。
成形ドラム2は、タイヤ周方向に並べられた複数個のセグメント6と、各セグメント6をタイヤ半径方向内外に移動させる拡縮手段7と、拡縮手段7を固定する回転軸8とを含んでいる。成形ドラム2は、セグメント6の外面がタイヤ周方向に連ねられることにより、ゴムストリップ3が螺旋状に巻き重ねられる外周面2oが形成される。回転軸8は、その一方側に設けられた基台9によって回動自在に支持されている。本実施形態の成形ドラム2は、その軸心方向が水平に配置されている。
アプリケータ4は、コンベヤ状に形成されており、その搬送面でゴムストリップ3を成形ドラム2の外周面2oへと連続して供給する。アプリケータ4の上流側には、例えば、ゴムストリップ3を連続して押し出すゴム押出機(図示省略)やカレンダー機(図示省略)と、ゴムストリップ3の供給速度等を一時的にコントロールしうるフェスツーン(図示省略)とが設けられる。アプリケータ4は、例えば、3次元移動装置(図示省略)などによって、成形ドラム2に対して適宜移動可能に支持されている。
本実施形態のゴムストリップ3は、未加硫のゴムによって形成されている。本実施形態のゴムストリップ3は、矩形の断面形状を有している。ゴムストリップ3は、厚さに比して幅が大きく形成されている。ゴムストリップ3の幅及び厚さについては、特に限定されない。例えば、幅が1.0〜5.0mm程度であり、厚さが0.5〜1.5mm程度である。
図1に示されるように、本実施形態の評価方法で使用される測定装置11は、測定部12と、制御部13とを含んで構成されている。
本実施形態の測定部12は、非接触式の変位計16と、変位計16を支持する支持手段17とを含んで構成されている。
本実施形態の変位計16は、レーザー変位計として構成されている。変位計16は、ゴム部材1の外面1oにレーザー光Lsを照射して、その反射光を電気信号に変換することにより、変位計16からゴム部材1の外面1oまでの距離データを測定しうる。本実施形態の変位計16は、例えば、シリンドリカルレンズによって帯状に広げられたレーザー光Lsを出射部(図示省略)から出射させ、ゴム部材1の外面1oによって拡散反射されたレーザー光Lsを入射部(図示省略)から入射させ、受光素子で光電変換する。変位計16によって測定された距離に相当する電気信号(距離データ)は、制御部13に転送される。
本実施形態では、1つの変位計16によって構成されている。これにより、測定部12は、例えば、2つ以上の変位計16で構成される場合に比べて、変位計16の校正作業を簡略化することができる。なお、測定部12は、変位計16の測定可能領域の大きさや、ゴム部材1の大きさに応じて、例えば、ゴム部材1(成形ドラム2)の軸方向に沿って並べられた2つ以上の変位計16で構成されてもよい。
支持手段17は、変位計16を、ゴム部材1(成形ドラム2)の半径方向外側に離間させて支持するためのものである。支持手段17の一端は、基台9に固定されている。
制御部13は、予め定められた処理手順に基づいて、成形ドラム2、アプリケータ4、測定部12、及び、後述の押圧ローラ24等を制御するためのものである。制御部13は、例えば、変位計16から転送された距離データ等を記憶するメモリ、各種の演算処理や情報処理等を実行するCPU(Central Processing Unit)、磁気ディスクなどの記憶装置、処理結果等を表示するための表示部18、及び、作業者が測定装置11を操作するための操作部19を有している。記憶装置には、本実施形態の評価方法を実行するためのソフトウェア等が予め記憶されている。
図2(a)、(b)は、ゴム部材1の形成工程の一例を説明する断面図である。図3は、ゴム部材1の形成工程の一例を説明する平面図である。ゴム部材1は、図2(a)の仮想線で示されるように、予め設計された目標とする断面形状Vsを有している。
ゴム部材1の形成工程では、先ず、従来のストリップワインド法と同様に、ゴムストリップ3の周方向の端部(巻き付け始端)3sを、成形ドラム2の外周面2oに固定する。図1に示されるように、ゴムストリップ3の端部3sは、その外側に設けられた押圧ローラ24で、成形ドラム2の外周面2o側に押圧される。押圧ローラ24は、例えば、3次元移動装置(図示省略)などによって、成形ドラム2に対して適宜移動可能に支持されている。
次に、ゴム部材1の形成工程では、図3に示されるように、ゴムストリップ3を成形ドラム2の軸方向に一定のピッチで移動させながら、成形ドラム2の外周面2o上に巻き重ねられる。これにより、図1及び図2(b)に示されるように、環状のゴム部材1が形成される。なお、押圧ローラ24は、ゴムストリップ3の端部3sを押圧した後、連続供給されるゴムストリップ3を押圧しながら転動してもよいし、アプリケータ4等と干渉しない位置に移動させてもよい。また、ゴム部材1は、成形ドラム2の外周面2oに予め設けられたベルトプライ(図示省略)の半径方向外側に形成されてもよい。
図2(b)に示されるように、ストリップワインド法で作られたゴム部材1の外面1oには、ゴムストリップ3の角3cによって、小さな段差26(例えば、0.1〜1.0mm程度)が形成される。さらに、図3に示されるように、この段差26は、ゴム部材1の周方向に対して斜めにのびている。このため、ゴム部材1の厚さW1は、厳密に言えば、周方向に一定ではない。
なお、段差26は、加硫時のゴム流れによって吸収できる程度のものである。しかしながら、ストリップワインド法で作られたゴム部材1の断面形状の評価に、上記特許文献1の方法を適用すると、段差26を異常として検知し、大部分のゴム部材1が不良であると判断されてしまう。このため、従来の評価方法では、ゴム部材1の生産性が低下するという問題がある。
本実施形態の評価方法は、小さな段差26を異常と判断することなく、ストリップワインド法で作られたゴム部材1の断面形状の周方向の均一性を能率的に評価することを目的としている。図4は、評価方法の処理手順の一例を示すフローチャートである。本実施形態において、評価方法の一連の処理は、制御部13(図1に示す)によって行われる。
本実施形態の評価方法は、ゴム部材1に、測定領域27が複数設定される(工程S1)。図5は、測定領域27の一例を説明する概念図である。
測定領域27は、ゴム部材1の厚さを測定するための領域である。本実施形態では、後述の測定工程S2において、測定領域27内の周方向の複数箇所で、ゴム部材1の厚さが測定される。測定領域27は、周方向に第1長さL1をそれぞれ持っている。これら測定領域27が、周方向に第2長さL2で複数設定される。
本実施形態において、第1長さL1は、ゴム部材1の周方向において、測定領域27の一端27sから他端27tまでの距離である。第2長さL2は、ゴム部材1の周方向において、測定領域27の一端27sと、該測定領域27と周方向で隣接する他の測定領域27の一端27sとの間の距離である。
第1長さL1及び第2長さL2は、成形ドラム2の軸心2cを中心とする中心角α1、α2に対応して定義されている。また、各測定領域27の一端27s及び他端27tの位置は、予め定められた基準位置(図示省略)からの中心角に対応して定義されている。このような中心角は、図1に示した成形ドラム2の回転軸8に設けられた角度検出手段(図示省略)によって検出され、制御部13に転送される。各測定領域27は、制御部13のメモリに記憶される。
第1長さL1及び第2長さL2は、適宜設定することができる。第1長さL1及び第2長さL2は、予め定められていてもよいし、ゴム部材1の外面1oの周長さの大きさに応じて定義されてもよい。なお、ゴム部材1の周長さは、ゴム部材1の半径に基づいて計算することができる。ゴム部材1の半径は、変位計16を用いて測定された変位計16からゴム部材1の外面1oまでの距離と、変位計16からゴム部材1の軸心1c(成形ドラム2の軸心2c)までの距離との差によって計算することができる。
なお、第1長さL1が小さいと、ゴム部材1の周方向において、測定領域27が小さくなり、後述の測定工程S2において、ゴム部材1の厚さを十分に測定できないおそれがある。逆に、第1長さL1が大きいと、測定領域27が大きくなり、測定時間が増大するおそれがある。このような観点より、第1長さL1は、成形ドラム2の軸心2cを中心とする中心角α1が10〜30°の長さに対応するのが望ましい。
また、第2長さL2が大きいと、ゴム部材1の周方向において、測定領域27が小さくなる、又は、測定領域27の個数が少なくなるおそれがある。逆に、第2長さL2が小さいと、測定領域27が大きくなる、又は、測定領域27の個数が多くなり、測定時間が増大するおそれがある。このような観点より、第2長さL2は、成形ドラム2の軸心2cを中心とする中心角α2が40〜180°の長さに対応するのが望ましい。
次に、本実施形態の評価方法は、各測定領域27において、ゴム部材1の厚さが複数箇所で測定される(測定工程S2)。図6は、図5の部分拡大図である。
本実施形態の測定工程S2では、各測定領域27において、第1長さL1(図5に示す)及び第2長さL2(図5に示す)よりも小さい第3長さL3の間隔で、当該測定領域27内の複数箇所でゴム部材1の厚さW1がそれぞれ測定される。図7は、測定工程S2の処理手順の一例を示すフローチャートである。
本実施形態の測定工程S2では、先ず、一つの測定領域27が選択される(工程S21)。工程S21では、図5に示したゴム部材1に設定された複数の測定領域27のうち、一つの測定領域27が選択される。選択された測定領域27は、制御部13のメモリに記憶される。
次に、本実施形態の測定工程S2では、選択された測定領域27の複数箇所において、変位計16からゴム部材1の外面1oまでの距離(以下、単に「ゴム部材の外面距離」ということがある。)M1が測定される(工程S22)。本実施形態の工程S22では、選択された測定領域27の一端27sと他端27tとの間において、第3長さL3の間隔でレーザー光Lsが照射される。
本実施形態の工程S22では、成形ドラム2を第3長さL3の間隔で回転させながら、レーザー光Lsが順次照射される。これにより、工程S22では、選択された測定領域27の複数箇所(即ち、複数の周方向測定箇所31)において、ゴム部材の外面距離M1がそれぞれ測定される。なお、各周方向測定箇所31は、選択された測定領域27の一端27sと他端27tとの間に設定されていれば、一端27sの上及び他端27tの上に設定されていなくてもよい。
図8は、図6に示した周方向測定箇所31でのゴム部材1の断面図である。本実施形態の変位計16は、ゴム部材1の外面1oに、ゴム部材1の軸方向に広がる扇状のレーザー光Lsを照射する。このため、各周方向測定箇所31では、軸方向に複数設定された測定点32(32a、32b、…)において、ゴム部材の外面距離M1がそれぞれ測定される。各測定点32(32a、32b、…)は、それぞれ任意に設定することができる。また、各周方向測定箇所31において、各測定点32(32a、32b、…)は、ゴム部材1の軸方向で同一の位置に設定されている。なお、測定点32は、各周方向測定箇所31において、1つずつ設定されていてもよい。ゴム部材の外面距離M1は、制御部13(図1に示す)のメモリに記憶される。
次に、測定工程S2では、図6に示されるように、選択された測定領域27の複数箇所で、ゴム部材1の厚さW1が計算される(工程S23)。工程S23では、変位計16から成形ドラム2の外周面2oまでの距離(以下、単に「ドラムの外周面距離」ということがある。)M2から、各周方向測定箇所31で測定されたゴム部材の外面距離M1から、をそれぞれ減じることで、ゴム部材1の厚さW1が計算される(工程S23)。なお、ドラムの外周面距離M2は、成形ドラム2の外周面2oにゴム部材1が形成される前に、変位計16を用いて予め測定されるのが望ましい。
本実施形態の工程S23では、図8に示されるように、各周方向測定箇所31において、測定点32(32a、32b、…)毎に、ゴム部材1の厚さW1が計算される。ゴム部材1の各厚さW1は、制御部13のメモリに記憶される。
次に、測定工程S2では、全ての測定領域27において、ゴム部材1の厚さW1が測定されたか否かが判断される(工程S24)。工程S24において、全ての測定領域27で厚さW1が測定されたと判断された場合(工程S24において、「Y」)、図4に示した工程S3が実施される。他方、厚さW1が未だ測定されていない測定領域27が存在すると判断された場合(工程S24において、「N」)、他の測定領域27を選択して(工程S25)、工程S22〜工程S24が再度実施される。これにより、測定工程S2は、各測定領域27において、第3長さL3の間隔で、当該測定領域27内の複数箇所でゴム部材1の厚さW1を測定することができる。
次に、図4に示されるように、本実施形態の評価方法は、各測定領域27において、厚さW1の平均値である平均厚さを計算する(工程S3)。工程S3では、図6に示されるように、各測定領域27において、全ての周方向測定箇所31のゴム部材1の厚さW1の平均値である平均厚さが計算される。これにより、工程S3では、各測定領域27において、ゴムストリップ3の角3cによって形成された小さな段差26(図2(b)、図3及び図6に示す)を均した平均厚さを計算することができる。
本実施形態の工程S3では、各測定領域27において、図8に示した測定点32(32a、32b、…)毎に、複数箇所(即ち、各周方向測定箇所31)で測定されたゴム部材1の厚さW1の平均値である平均厚さが計算される。これにより、工程S3では、各測定点32(32a、32b、…)において、小さな段差26を均した平均厚さを計算することができる。平均厚さは、制御部13のメモリに記憶される。
次に、本実施形態の評価方法は、複数の測定領域27(図5に示す)の平均厚さの最大値と最小値との差が計算される(工程S4)。工程S4では、複数の測定領域27の平均厚さのうち、最も大きい平均厚さ(即ち、最大値)と、最も小さい平均厚さ(即ち、最小値)とが特定され、最大値と最小値との差が計算される。
このように、本実施形態の工程S4では、複数の測定領域27の平均厚さの最大値と最小値との差が計算されることにより、ゴム部材1の断面形状の周方向のバラツキを定量化することができる。なお、最大値と最小値との差が小さいほど、ゴム部材1の断面形状のバラツキが小さく、周方向に均一であることを示している。また、最大値と最小値との差が大きいほど、ゴム部材1の断面形状のバラツキが大きく、周方向に不均一であることを示している。
本実施形態のように、図8に示した測定点32(32a、32b、…)毎に平均厚さが計算される場合、測定点32(32a、32b、…)毎に、複数の測定領域27の平均厚さの最大値と最小値との差が計算されるのが望ましい。これにより、本実施形態では、測定点32(32a、32b、…)毎に、ゴム部材1の断面形状の周方向のバラツキを定量化することができる。
ゴム部材1の断面形状の周方向のバラツキを定量化するために、測定領域27は、2〜8箇所設定されるのが望ましい。なお、測定領域27が1箇所であると、ゴム部材1の断面形状の周方向のバラツキを定量化できないおそれがある。逆に、測定領域27が8箇所を超えると、ゴム部材1の厚さW1の測定時間が増大するおそれがある。
次に、本実施形態の評価方法は、各測定領域27で得られた平均厚さを比較して、断面形状の周方向の均一性を評価する(工程S5)。本実施形態の工程S5では、工程S4で計算された複数の測定領域27の平均厚さの最大値と最小値との差が、予め定められた閾値と比較される。
閾値は、ゴム部材1の断面形状が、周方向に均一であると判断するためのものである。閾値については、適宜設定することができる。本実施形態では、予め設計された目標とする断面形状Vs(図2(a)に示す)に基づいて、閾値が設定される。また、本実施形態のように、図8に示した測定点32(32a、32b、…)毎に平均厚さの最大値と最小値との差が計算される場合、測定点32(32a、32b、…)毎に閾値が設定されるのが望ましい。
工程S5において、平均厚さの最大値と最小値との差が、閾値よりも小さい場合(工程S5において、「<」)、ゴム部材1の断面形状が周方向に均一であると判断される。この場合、ゴム部材1が次の工程に搬送される(工程S6)。他方、平均厚さの最大値と最小値との差が、閾値以上である場合(工程S5において、「≧」)、ゴム部材1の断面形状が周方向に不均一であると判断される。この場合、ゴム部材1を次の工程に搬送することなく、新たなゴム部材1の製造に再利用される(工程S7)。
このように、本実施形態の評価方法によれば、予め決定された各測定領域27において、小さな段差26(図2(b)、図3及び図6に示す)を均した平均厚さを比較することにより、小さな段差26を異常と判断するのを防ぐことができる。従って、本実施形態の評価方法は、ストリップワインド法で作られたゴム部材1の断面形状の周方向の均一性を能率的に評価することができる。
また、本実施形態では、ゴム部材1の軸方向に複数設定された測定点32(32a、32b、…)において、各測定領域27で得られた平均厚さを同時に比較することができるため、ゴム部材1の断面形状の周方向の均一性をさらに能率的に評価することができる。
本実施形態において、各測定領域27の平均厚さを計算する工程S3では、図6に示した全ての周方向測定箇所31のゴム部材1の厚さW1が平均されたが、このような態様に限定されない。例えば、工程S3では、複数の厚さW1(即ち、全ての周方向測定箇所31の厚さW1)のうち、最大値及び最小値を除いた厚さW1が平均されてもよい。これにより、段差26が設けられている周方向測定箇所31でのゴム部材1の厚さを除外して、平均厚さを計算できるため、ゴム部材1の断面形状の周方向の均一性を、より高い精度で能率的に評価することができる。
なお、図8に示されるように、各周方向測定箇所31に設定された複数の測定点32(32a、32b、…)毎に、ゴム部材1の厚さW1が計算される場合は、各測定点32(32a、32b、…)において、最大値及び最小値を除いた厚さW1が平均されるのが望ましい。
この実施形態のように、最大値及び最小値を除いた厚さW1を平均した平均厚さが計算される場合、測定工程S2は、図6に示されるように、各測定領域27において、少なくとも4箇所(即ち、周方向測定箇所31が4箇所以上)で行われるのが望ましい。なお、厚さW1の測定が4箇所未満であると、厚さW1を十分に均せないおそれがある。逆に、厚さW1の測定(即ち、周方向測定箇所31の数)が多くても、測定時間が増大するおそれがある。このような観点より、測定工程S2は、各測定領域27を、6箇所以上測定される(即ち、周方向測定箇所31が6箇所以上設定される)のが望ましく、また、12箇所以下測定される(即ち、周方向測定箇所31が12箇所以下設定される)のが望ましい。同様に、第3長さL3は、成形ドラム2の軸心2c(図5に示す)を中心とする中心角α3が1〜8°の長さに対応するのが望ましい。
これまでの実施形態では、断面形状の周方向の均一性を評価する工程S5において、工程S4で計算された平均厚さの最大値と最小値との差が、予め定められた閾値と比較されたが、このような態様に限定されない。例えば、工程S5では、各測定領域27において、平均厚さと、予め設計された目標とする断面形状Vsの厚さW3(図2(a)に示す)との差に基づいて、断面形状の周方向の均一性が評価されてもよい。これにより、工程S5では、各測定領域27において、平均厚さと、目標とする断面形状Vsの厚さW3との差を定量化することができる。この場合、平均厚さと、目標とする断面形状Vsの厚さW3との差が、予め定められた閾値と比較されるのが望ましい。
なお、図8に示されるように、各周方向測定箇所31に設定された複数の測定点32(32a、32b、…)毎に、ゴム部材1の平均厚さが計算される場合は、測定点32(32a、32b、…)毎に、平均厚さと、目標とする断面形状Vsの厚さW3(図2(a)に示す)との差に基づいて、断面形状の周方向の均一性が評価されるのが望ましい。
図9は、本発明の他の実施形態の評価方法の処理手順の一例を示すフローチャートである。この実施形態の評価方法は、測定工程S2に先立ち、変位計16を校正する工程S8を含んでいる。これにより、この実施形態の評価方法では、ゴム部材1の断面形状の周方向の均一性を、より精度良く評価することができる。図10は、変位計16を校正する工程S8の一例を説明する概念図である。
変位計16を校正する工程S8は、校正治具33が用いられる。校正治具33は、基部34と、反射板35とを含んで構成されている。基部34は、円筒状に形成されており、成形ドラム2(図1に示す)の回転軸8に回動可能に連結されている。反射板35は、基部34に一体に取り付けられている。
本実施形態の反射板35は、成形ドラム2の回転軸8の軸心2cから半径方向に距離F1を隔てた第1の反射板35aと、第1の反射板35aから半径方向外側に距離F2を隔てた第2の反射板35bと、第1の反射板35aから半径方向内側に距離F2を隔てた第3の反射板35cとを含んで構成されている。各反射板35a、35b、35cは、周方向に互いに間隔を隔てて配される。
本実施形態の変位計16を校正する工程S8では、先ず、第1の反射板35aを用いて、変位計16の原点調整が行われる。次に、第2の反射板35b及び第3の反射板35cを用い、変位計16のゲイン調整が行われる。本実施形態の校正治具33は、成形ドラム2の回転軸8に連結されているため、例えば、成形ドラム2の外周面2oに校正治具(図示省略)を載置して、変位計16を校正する場合に比べて、高い精度で校正することができる。
第1の反射板35a、第2の反射板35b及び第3の反射板35cの反射面は、それぞれ軸心2cからの距離と等しい曲率半径r1、r2、r3を有する凸円筒面からなることが好ましい。即ち、r1=F1、r2=F1+F2、及び、r3=F1−F2である。これにより、第1の反射板35a、第2の反射板35b及び第3の反射板35cを、回転軸8の軸心2c廻りで位置替えする際に、第1の反射板35a、第2の反射板35b及び第3の反射板35cの位置替えの角度が多少ずれている場合にも、レーザー光Lsを正確に反射でき、校正工程を迅速に実施することができる。
以上、本発明の特に好ましい実施形態について詳述したが、本発明は図示の実施形態に限定されることなく、種々の態様に変形して実施しうる。
成形ドラムの外周面に、ゴムストリップを螺旋状に巻き重ねることによって形成された環状のゴム部材の断面形状が評価された(実験例、実施例、比較例1及び比較例2)。実験例及び実施例では、図4及び図7に示した処理手順に従って、ゴム部材に下記測定領域が設定された。
実験例では、CTスキャンにより、各測定領域内の周方向の複数箇所(複数の周方向測定箇所)でゴム部材の厚さが測定された。実施例では、レーザー変位計を用いて、各測定領域内の周方向の複数箇所(複数の周方向測定箇所)でゴム部材の厚さが測定された。なお、実験例及び実施例では、各周方向測定箇所において、軸方向に測定点が20箇所(軸方向に10mmの間隔)設定された。これらの測定点において、ゴム部材の厚さが測定された。
実験例及び実施例では、各測定領域において、測定点毎に平均厚さが計算された。そして、実施例では、互いに対応する測定点毎に、実施例の平均厚さと、実験例の平均厚さとの差が計算され、さらに、それらの差について標準偏差が計算された。
比較例1では、複数の周方向測定箇所でゴム部材が切断され、各測定領域において、ノギスを用いて、測定点毎に平均厚さが測定された。そして、比較例1では、互いに対応する測定点毎に、比較例の平均厚さと、実験例の平均厚さとの差が計算され、さらに、それらの差について標準偏差が計算された。
比較例2では、上記特許文献1と同様に、ゴム部材の厚さが周方向の複数箇所で測定され、厚さが大きく変化する箇所の有無により、ゴム部材の断面形状の均一性が評価された。共通仕様は次のとおりである。
タイヤサイズ:195/65R15
ゴム部材:トレッドゴム
ゴムストリップ:
幅:1.5mm
厚さ:0.8mm
測定領域(2箇所(第1測定領域、第2測定領域)):
第1長さL1(中心角α1):52mm(10°)
第2長さL2(中心角α2):927mm(180°)
第3長さL3(中心角α3):5.2mm(1°)
変位計:キーエンス社製のレーザー変位計(LJV7000)
テストの結果を、表1に示す。
タイヤサイズ:195/65R15
ゴム部材:トレッドゴム
ゴムストリップ:
幅:1.5mm
厚さ:0.8mm
測定領域(2箇所(第1測定領域、第2測定領域)):
第1長さL1(中心角α1):52mm(10°)
第2長さL2(中心角α2):927mm(180°)
第3長さL3(中心角α3):5.2mm(1°)
変位計:キーエンス社製のレーザー変位計(LJV7000)
テストの結果を、表1に示す。
テストの結果、実施例の標準偏差は、比較例1の標準偏差よりも小であり、実験例のCTスキャンによる精度に近似することが確認できた。また、比較例2は、ゴムストリップによる段差を不良と判断してしまい、ゴム部材の断面形状の評価することができなかった。従って、実施例は、帯状のゴムストリップを螺旋状に巻き重ねて形成された環状のゴム部材の断面形状について、周方向の均一性を能率的かつ精度良く評価することができた。なお、CTを用いた実験例は、ゴム部材1本を評価するのに2時間程度を要し、能率的に評価することができなかった。さらに、工場の製造ラインに、CTを設置することが困難であった。
S1 測定領域を複数設定する工程
S2 測定領域内の複数箇所でゴム部材の厚さを測定する工程
S3 各測定領域の平均厚さを計算する工程
S5 ゴム部材の断面形状の均一性を評価する工程
S2 測定領域内の複数箇所でゴム部材の厚さを測定する工程
S3 各測定領域の平均厚さを計算する工程
S5 ゴム部材の断面形状の均一性を評価する工程
Claims (6)
- 円筒状の成形ドラムの外周面に帯状のゴムストリップを螺旋状に巻き重ねることにより形成された環状のゴム部材の断面形状を評価するための方法であって、
前記ゴム部材に、周方向に第1長さL1を持った測定領域を、周方向に第2長さL2で複数設定する工程と、
前記各測定領域において、前記第1長さL1及び前記第2長さL2よりも小さい第3長さL3の間隔で当該測定領域内の複数箇所で前記ゴム部材の厚さを測定する工程と、
前記各測定領域において、前記厚さの平均値である平均厚さを計算する工程と、
前記各測定領域で得られた前記平均厚さを比較して、前記断面形状の周方向の均一性を評価する工程とを含むゴム部材の断面形状の評価方法。 - 前記厚さを測定する工程は、前記各測定領域において、少なくとも4箇所で行われ、
前記平均厚さを計算する工程は、複数の前記厚さのうち、最大値及び最小値を除いた厚さを平均する工程を含む請求項1記載のゴム部材の断面形状の評価方法。 - 前記各測定領域の前記第1長さL1は、前記成形ドラムの軸心を中心とする中心角が10〜30°の長さに対応する請求項1又は2記載のゴム部材の断面形状の評価方法。
- 前記厚さを測定する工程は、前記各測定領域を、6箇所以上測定する請求項1乃至3のいずれかに記載のゴム部材の断面形状の評価方法。
- 前記測定領域は、2〜8箇所設定される請求項1乃至4のいずれかに記載のゴム部材の断面形状の評価方法。
- 複数の前記測定領域の前記平均厚さの最大値と最小値との差を計算する工程をさらに含み、
前記均一性を評価する工程は、前記平均厚さの差を、予め定められた閾値と比較する請求項1乃至5のいずれかに記載のゴム部材の断面形状の評価方法。
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JP2016229223A JP2018084552A (ja) | 2016-11-25 | 2016-11-25 | ゴム部材の断面形状の評価方法 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2020006680A (ja) * | 2018-06-29 | 2020-01-16 | 住友ゴム工業株式会社 | ゴム成形体の検査装置 |
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2016
- 2016-11-25 JP JP2016229223A patent/JP2018084552A/ja active Pending
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