JP2018064029A - Etching device - Google Patents
Etching device Download PDFInfo
- Publication number
- JP2018064029A JP2018064029A JP2016201446A JP2016201446A JP2018064029A JP 2018064029 A JP2018064029 A JP 2018064029A JP 2016201446 A JP2016201446 A JP 2016201446A JP 2016201446 A JP2016201446 A JP 2016201446A JP 2018064029 A JP2018064029 A JP 2018064029A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- glass substrate
- etching
- substrate
- conveyance
- processed
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Abstract
Description
本発明は、ガラス基板等の被処理基板のエッチング装置に関し、特に板厚の薄い被処理基板を好適に搬送することが可能なエッチング装置に関する。 The present invention relates to an etching apparatus for a substrate to be processed such as a glass substrate, and more particularly to an etching apparatus capable of suitably transporting a thin substrate to be processed.
液晶ディスプレイ等のフラットパネルディスプレイは、近年、薄型化の要請がますます強くなっている。フラットパネルディスプレイの製造プロセスでは、2枚のガラス基板で液晶層等の画像表示に必要な機能層を封止することによって製造される。薄型ディスプレイを提供するためには、エッチングプロセスによってガラス基板を薄型化することが有効である。 In recent years, there has been an increasing demand for thinning of flat panel displays such as liquid crystal displays. In the manufacturing process of a flat panel display, it is manufactured by sealing functional layers necessary for image display such as a liquid crystal layer with two glass substrates. In order to provide a thin display, it is effective to thin the glass substrate by an etching process.
エッチングプロセスは、ガラス基板をエッチング液と接触させるウェットエッチング処理が一般的に採用されている。ウェットエッチング処理は、枚葉式エッチングと浸漬式エッチングに大別される。枚葉式エッチングは、搬送されているガラス基板に対してスプレー等を用いてエッチング液を噴射する方式である。浸漬式エッチングは、複数のガラス基板が保持された治具を、エッチング液が収容されたエッチング槽に浸漬することによって処理される。特に、枚葉式エッチングは、浸漬式エッチングよりも大型のガラス基板のエッチングに有利とされており、近年では枚葉式エッチングの需要が増大している。 As the etching process, a wet etching process in which a glass substrate is brought into contact with an etching solution is generally employed. The wet etching process is roughly classified into single-wafer etching and immersion etching. Single wafer etching is a method in which an etching solution is sprayed onto a glass substrate being transported using a spray or the like. Immersion etching is processed by immersing a jig holding a plurality of glass substrates in an etching bath containing an etching solution. In particular, single-wafer etching is more advantageous for etching a large glass substrate than immersion etching, and the demand for single-wafer etching has increased in recent years.
しかし、このようなエッチング処理によってガラス基板の薄型化が進むにしたがって、製造工程におけるガラス基板の取り扱いが難しくなった。特にガラス基板の板厚が0.3mm未満になると、ガラス基板の強度が低下してしまい、ディスプレイの製造プロセスの中でガラス基板を破損してしまうことがあった。 However, as the thickness of the glass substrate has been reduced by such an etching process, it has become difficult to handle the glass substrate in the manufacturing process. In particular, when the thickness of the glass substrate is less than 0.3 mm, the strength of the glass substrate is lowered, and the glass substrate may be damaged in the display manufacturing process.
そこで、搬送ローラの外周面により直径の大きなリング状部材を配置するように構成された搬送機構があった(例えば、特許文献1参照。)。この技術によれば、リング状部材によって、ガラス基板と搬送ローラの接触面積を減少させることができるので、ガラス基板が傷ついたり、破損したりするのを防止することができる。このため、エッチング処理時やその他の製造プロセスにおいて安定的にガラス基板を搬送することが可能になるとされていた。 Therefore, there has been a transport mechanism configured to dispose a ring-shaped member having a large diameter on the outer peripheral surface of the transport roller (see, for example, Patent Document 1). According to this technique, the contact area between the glass substrate and the transport roller can be reduced by the ring-shaped member, so that the glass substrate can be prevented from being damaged or broken. For this reason, it has been said that the glass substrate can be stably conveyed during the etching process or in other manufacturing processes.
しかし、上記のような搬送機構だけでは、エッチング装置内における搬送不良を防止することが困難な場合がある。枚葉式エッチング装置でガラス基板を処理していると、自重によって搬送中にガラス基板が撓んでしまうことがある。エッチング処理中にガラス基板が撓むと、搬送ローラの間に挟まったり、落下したりしてガラス基板が破損するおそれがある。また、エッチング装置の搬送機構にも影響を与えてしまい、装置を停止せざるを得ないこともある。 However, it may be difficult to prevent a conveyance failure in the etching apparatus with only the conveyance mechanism as described above. When a glass substrate is processed with a single-wafer etching apparatus, the glass substrate may be bent during transportation due to its own weight. If the glass substrate bends during the etching process, the glass substrate may be damaged by being pinched or dropped between the transport rollers. In addition, the transfer mechanism of the etching apparatus is also affected, and the apparatus may have to be stopped.
さらに、枚葉式エッチング装置では、ガラス基板に均一にエッチング液を噴射するために、揺動機構やスライド機構を用いてエッチング液を噴射することがある。このため、横方向からもガラス基板にエッチング液が噴射されるため、ガラス基板が搬送方向に対して左右にずれて搬送不良が発生することがある。このように、板厚の薄いガラス基板を処理する場合、枚葉式エッチング装置における固有の問題が生じるおそれがあるため、安定的な搬送機構を有するエッチング装置が求められていた。 Further, in the single wafer etching apparatus, in order to uniformly inject the etching solution onto the glass substrate, the etching solution may be injected using a swing mechanism or a slide mechanism. For this reason, since etching liquid is sprayed on a glass substrate also from a horizontal direction, a glass substrate may shift to the right and left with respect to a conveyance direction, and conveyance failure may generate | occur | produce. As described above, when processing a thin glass substrate, there is a possibility that a problem inherent in the single-wafer etching apparatus may occur. Therefore, an etching apparatus having a stable transfer mechanism has been demanded.
本発明の目的は、板厚の薄い被処理基板を好適に搬送することが可能なエッチング装置を提供することである。 The objective of this invention is providing the etching apparatus which can convey the to-be-processed substrate with thin board | plate thickness suitably.
本発明に係るエッチング装置は、所定方向に搬送されているガラス基板等の被処理基板に対してエッチング液を噴射するように構成されたエッチング装置である。このエッチング装置は、少なくとも搬送ローラと補助ローラを備えている。搬送ローラは、被処理基板の搬送方向に沿って一定間隔に配置されている。補助ローラは、被処理基板を下方から支持するように搬送ローラの間において、被処理基板の搬送方向に直交する長さ方向に沿って複数配置されている。さらに、補助ローラのうち、両端に配置された補助ローラが中央部に配置された補助ローラよりも幅広である。 The etching apparatus according to the present invention is an etching apparatus configured to inject an etching solution onto a substrate to be processed such as a glass substrate being conveyed in a predetermined direction. This etching apparatus includes at least a conveyance roller and an auxiliary roller. The transport rollers are arranged at regular intervals along the transport direction of the substrate to be processed. A plurality of auxiliary rollers are arranged along the length direction orthogonal to the conveyance direction of the substrate to be processed between the conveyance rollers so as to support the substrate to be processed from below. Further, among the auxiliary rollers, the auxiliary rollers arranged at both ends are wider than the auxiliary roller arranged at the center.
本発明では、ガラス基板を搬送するための搬送ローラの間に補助ローラを配置することによって、搬送中のガラス基板が撓むのを防止している。また、複数の補助ローラが間隔を設けて配置されることによって、搬送ローラと補助ローラの間隔が狭まっても、エッチング液とガラス基板が接触しやすくなる。さらに、両端の補助ローラを幅広にすることによって、エッチング液の液流で搬送中にガラス基板が左右にずれたとしても、好適にガラス基板を支持することができる。 In the present invention, the auxiliary roller is disposed between the transport rollers for transporting the glass substrate, thereby preventing the glass substrate being transported from being bent. In addition, since the plurality of auxiliary rollers are arranged at intervals, the etching solution and the glass substrate can easily come into contact with each other even when the interval between the transport roller and the auxiliary roller is narrowed. Furthermore, by widening the auxiliary rollers at both ends, the glass substrate can be suitably supported even if the glass substrate is shifted to the left or right during conveyance by the flow of the etching solution.
また、エッチング装置は複数の処理チャンバを有しており、補助ローラは、処理チャンバの連結部に配置されることが好ましい。枚葉式のエッチング装置は、配管等への負荷を抑制するために同一の構成の複数の処理チャンバが連結される構成が採用されることがあるが、各処理チャンバの連結部は搬送ローラの配置間隔が広くなってしまう。このため、連結部に補助ローラを配置することによって、連結部でガラス基板が撓むのを防止することができる。 Further, the etching apparatus preferably has a plurality of processing chambers, and the auxiliary roller is preferably disposed at a connection portion of the processing chambers. A single-wafer etching apparatus may employ a configuration in which a plurality of processing chambers having the same configuration are connected in order to suppress a load on a pipe or the like. The arrangement interval becomes wide. For this reason, it can prevent that a glass substrate bends in a connection part by arrange | positioning an auxiliary roller to a connection part.
また、両端に配置された補助ローラが被処理基板の縁部を支持し、かつ、被処理基板の縁部より延出するように配置されることが好ましい。被処理基板は、前述のようにエッチング液の噴射方向によって移動することがあるため、被処理基板の縁部から延出するような幅広の補助ローラを配置することによって、被処理基板を安定的に搬送することが可能になる。 In addition, it is preferable that auxiliary rollers disposed at both ends support the edge of the substrate to be processed and extend from the edge of the substrate to be processed. Since the substrate to be processed may move depending on the etching liquid injection direction as described above, the substrate to be processed can be stably provided by arranging a wide auxiliary roller extending from the edge of the substrate to be processed. It becomes possible to convey to.
本発明によれば、板厚の薄い被処理基板を好適に搬送することが可能なエッチング装置を提供することが可能になる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, it becomes possible to provide the etching apparatus which can convey the to-be-processed substrate with thin board | plate thickness suitably.
ここから、図面を用いて本発明の一実施形態について説明する。図1は、本実施形態に係るエッチング装置10の概略側面図である。エッチング装置10は、搬入部12、前水洗チャンバ14、第1のエッチングチャンバ161〜第4のエッチングチャンバ164、後水洗チャンバ18、乾燥チャンバ20、搬出部22を備えている。
From here, one Embodiment of this invention is described using drawing. FIG. 1 is a schematic side view of an
搬入部12は、被処理基板であるガラス基板24を搬送ローラ30に載置することによってガラス基板24をエッチング装置10に導入するように構成される。ガラス基板24は、搬送ローラ30に水平方向に搬送されながら各チャンバで通過することによってエッチング処理が行われる。ガラス基板24は、所定間隔を設けて順次エッチング装置10に投入される。
The carry-in
搬送ローラ30は、ガラス基板24の搬送方向に沿って一定間隔で配置され、ガラス基板24を下方から支持することによって搬送するように構成される。搬送ローラ30は、不図示の駆動部からの動力により、ガラス基板24の搬送方向に回転する。なお、駆動部はエッチング液の酸雰囲気により汚損しないように各処理チャンバから隔離された領域に配置されている。
The
前水洗チャンバ14は、搬入部12の後段に配置されている。前水洗チャンバ14は、搬送ローラ30によって搬送されているガラス基板24に対して、搬送ローラ30の上下に配置されたスプレーユニット32より洗浄液を噴射するように構成される。乾燥したガラス基板に対してエッチング液を接触させてしまうと、ガラス基板が白濁してしまうおそれがある。このため、エッチング装置10では、エッチングチャンバの前段にて洗浄液を噴射するように構成される。本実施形態では、洗浄液として市水を使用している。
The
第1のエッチングチャンバ161、第2のエッチングチャンバ162、第3のエッチングチャンバ163、第4のエッチングチャンバ164は、実質的に同一の構成であり、搬送されているガラス基板24にエッチング液を噴射するように構成される。各エッチングチャンバは、搬送ローラ30の上下にスプレーユニット32が配置されており、スプレーユニット32よりエッチング液が噴射される。スプレーユニット32は、送液配管321に複数の噴射ノズル322が配置されており、ガラス基板24に均一にエッチング液が噴射されるように構成される。また、スプレーユニット32は、図2(A)および図2(B)に示すように、搬送方向と直交する方向にスライド可能な状態で支持されている。スプレーユニット32が往復移動することによって、ガラス基板24により均一にエッチング液を噴射するとともに、ガラス基板24の上面にエッチング液が滞留するのを防止することができる。なお、スプレーユニット32の配置や噴射ノズル322の数は被処理基板の大きさやエッチング量に応じて、適宜変更することができる。
The
なお、本実施形態におけるエッチング液は、少なくともフッ酸が含まれており、塩酸や硫酸等の無機酸や界面活性剤が含まれていてもよい。エッチング液の組成や液温はエッチング量や被処理基板に応じて適宜変更することが可能である。また、エッチング装置10は、4つのエッチングチャンバを有しているが、エッチングチャンバの数は被処理基板や設置場所等を考慮して変更することが可能である。
Note that the etching solution in the present embodiment contains at least hydrofluoric acid, and may contain an inorganic acid such as hydrochloric acid or sulfuric acid, or a surfactant. The composition and temperature of the etching solution can be appropriately changed according to the etching amount and the substrate to be processed. The
後水洗チャンバ18は、第4のエッチングチャンバ164の後段に配置されている。後水洗チャンバ18は、前水洗チャンバ14と実質的に同一の構成であり、ガラス基板24に対して上下方向から洗浄液を噴射することによってエッチング液を洗い流すように構成される。洗浄液は、前水洗チャンバ14と同様に市水が使用されている。
The
乾燥チャンバ20は、エアナイフ201によってガラス基板24の主面にエアを吹き付けて、ガラス基板24を乾燥するように構成される。エアナイフ201以外にも、絞りローラをガラス基板24の主面に押し当てることで、乾燥処理を行うことも可能である。乾燥処理が行われたガラス基板24は、搬出部22により搬出される。エッチング処理が行われたガラス基板24は、適宜後工程において処理される。
The drying
搬送補助ローラ34は、図3に示すように各処理チャンバの連結部において、ガラス基板24の搬送方向と直交する方向に沿って一定間隔を設けて複数配置されており、ガラス基板24を下方から支持するように構成される。搬送補助ローラ34は、搬送ローラ30よりも径が小さくなるように構成されており、その直径が搬送ローラ30の直径の半分以下に構成されることが好ましい。搬送補助ローラ34は、支柱36の先端に回転可能に支持されており、ガラス基板24の搬送によって従動的に回転するように構成される。支柱36は、エッチング装置10の底部に固定されており、垂直方向に立設されている。支柱36の高さは、搬送補助ローラ34が搬送ローラ30と同じ高さになるように調節される。搬送補助ローラ34および支柱36は、ポリ塩化ビニル、ポリプロピレン、ポリカーボネート等の耐フッ酸性を有する樹脂によって形成される。
As shown in FIG. 3, a plurality of
各処理チャンバの連結部は、図3に示すように隔壁によって分離されており、ガラス基板24が通過するためのスリット40が設けられている。なお、本発明において連結部とは、処理チャンバ内に配置されている搬送ローラ中で、搬送方向の両端に配置されている搬送ローラとスリット40が設けられている隔壁の間の領域のことを示す。この連結部は、ガラス基板24の搬送に必要な間隔で搬送ローラ30を配置することが困難なため、従動式でかつ小径の搬送補助ローラ34によってガラス基板24を下方から支持する。
As shown in FIG. 3, the connection part of each processing chamber is separated by a partition, and a
搬送補助ローラ34は、各チャンバの連結部に配置されることによって、ガラス基板24が搬送中に撓むのを防止することができる。各チャンバの連結部に搬送補助ローラ34を配置する理由は、各チャンバの連結部においては駆動部の配置やエッチング装置10の水密性および気密性の確保等の制約があり、薄型のガラス基板を搬送するために必要な間隔で搬送ローラ30を配置することが難しいためである。処理チャンバ内の搬送ローラの間隔は適宜設定することが可能であるが、連結部は上記のような理由により、処理チャンバ内よりも搬送ローラ30の配置間隔が広くなってしまう。そのため、板厚が0.2mm未満に薄型化されたガラス基板を処理する場合は、図4に記載のようにガラス基板24が撓んでしまい、隔壁に衝突するおそれがある。搬送補助ローラ34は、駆動部からの動力を必要としない構成のため、連結部においても適宜配置することが可能である。本実施形態では、前水洗チャンバ14と第1のエッチングチャンバ161の連結部、各エッチングチャンバの連結部、第4のエッチングチャンバ164と後水洗チャンバ18の連結部および後水洗チャンバ18と乾燥チャンバ20の連結部に搬送補助ローラ34が配置されている。
The conveyance
なお、エッチング装置10を1つの長大な処理チャンバで構成することによって、連結部がないエッチング装置を使用することも考えられるが、現実的ではない。その理由は、1つの処理チャンバが長くなり過ぎると、送液配管等がエッチング液の重みにより撓んでしまうおそれがあるからである。また、エッチング液は、エッチング速度を向上させるために液温が35℃以上になるように温度管理されており、処理チャンバの分割は熱膨張による送液配管への影響を抑制する効果もある。上記の理由により、エッチング装置10は、各エッチングチャンバや水洗チャンバがあえて分割されており、連結部に搬送補助ローラ34を配置する必要がある。
Although it is possible to use an etching apparatus having no connecting portion by configuring the
搬送補助ローラ34は、一定間隔を設けて配置することによって、下方から噴射されるエッチング液がガラス基板24に当たりやすくなるように構成される。このため、搬送補助ローラ34の幅は、3〜10mmであることが好ましい。また、板厚が0.2mm未満のガラス基板24を処理する場合、搬送ローラ30および搬送補助ローラ34の間隔を30〜70mmにすることが好ましい。ローラの間隔が30mm未満になった場合、搬送補助ローラ34が間隔を設けて配置されていてもガラス基板24の下面にエッチング液を供給しにくくなるため、エッチング効率が低下する。また、ローラの間隔が70mmより大きくなると、ガラス基板24が撓むおそれがあるため、好ましくない。
The conveyance
また、両端に配置された搬送補助ローラ341は、中央部に配置された搬送補助ローラ34よりも幅広なものが使用されている。これはエッチング処理中にガラス基板24が搬送方向と直交する方向にずれてしまうおそれがあるからである。図2(A)および図2(B)に示すように、エッチング装置10は、スプレーユニット32をスライド可能に構成することにより、エッチング液を均一に噴射するように構成される。このため、エッチング液がガラス基板24の横方向から噴射されて、搬入部12で載置されていた位置からガラス基板24がずれてしまうことがある。特に板厚が0.2mm以下になると、ガラス基板24の重量も軽くなるため、エッチング液の影響を受けやすく、左右へのずれが生じることがある。出願人の実験によると、液晶ディスプレイ基板のエッチング処理中に最大で70mm程度左右にずれることがあることが確認されている。このため、両端に配置されている搬送補助ローラ341の幅は、80〜150mmあることが好ましい。特に、ガラス基板24の搬送方向における先端の角部は撓みやすいため、中央部に配置された搬送ローラ34では撓んだ角部が支柱36に衝突するおそれがある。このため、図5に示すように、搬送されているガラス基板24の縁部を跨ぐような幅広な搬送補助ローラ341を両端に配置することによって安定した搬送を行うことができる。
Further, the conveyance
なお、搬送補助ローラ34は、連結部のみに限定されず、処理内チャンバの任意の位置に配置することも可能である。搬送補助ローラ34は、搬送ローラ30よりも比較的容易に着脱することすることが可能であるため、被処理基板の板厚に応じてローラの間隔を調整することができる。
In addition, the conveyance
上述の実施形態の説明は、すべての点で例示であって、制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上述の実施形態ではなく、特許請求の範囲によって示される。さらに、本発明の範囲には、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。 The above description of the embodiment is to be considered in all respects as illustrative and not restrictive. The scope of the present invention is shown not by the above embodiments but by the claims. Furthermore, the scope of the present invention is intended to include all modifications within the meaning and scope equivalent to the scope of the claims.
10‐エッチング装置
12‐搬入部
14-前水洗チャンバ
161‐第1のエッチングチャンバ
18-後水洗チャンバ
20‐乾燥チャンバ
22-搬出部
24‐ガラス基板
30-搬送ローラ
32‐スプレーユニット
34‐搬送補助ローラ
40‐スリット
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10-Etching apparatus 12-Carry-in part 14-Pre-wash chamber 161-1st etching chamber 18-Post-wash chamber 20-Drying chamber 22-Carry-out part 24-Glass substrate 30-Transport roller 32-Spray unit 34-Transport auxiliary roller 40-slit
Claims (3)
前記被処理基板の搬送方向に沿って一定間隔で配置される搬送ローラと、
前記被処理基板を下方から支持するように前記搬送ローラの間において搬送方向に直交する長さ方向に沿って配置された複数の補助ローラと、
を少なくとも備えており、
前記補助ローラのうち、両端に配置された補助ローラが中央部に配置された補助ローラよりも幅広であることを特徴とするエッチング装置。 An etching apparatus configured to inject an etching liquid onto a substrate to be processed such as a glass substrate being conveyed in a predetermined direction,
A transport roller disposed at regular intervals along the transport direction of the substrate to be processed;
A plurality of auxiliary rollers disposed along the length direction perpendicular to the transport direction between the transport rollers so as to support the substrate to be processed from below;
At least,
An etching apparatus characterized in that among the auxiliary rollers, the auxiliary rollers arranged at both ends are wider than the auxiliary rollers arranged at the center.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016201446A JP2018064029A (en) | 2016-10-13 | 2016-10-13 | Etching device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016201446A JP2018064029A (en) | 2016-10-13 | 2016-10-13 | Etching device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018064029A true JP2018064029A (en) | 2018-04-19 |
Family
ID=61968002
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016201446A Pending JP2018064029A (en) | 2016-10-13 | 2016-10-13 | Etching device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2018064029A (en) |
-
2016
- 2016-10-13 JP JP2016201446A patent/JP2018064029A/en active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101353490B1 (en) | Processing apparatus for substrate | |
JP4384685B2 (en) | Normal pressure drying apparatus, substrate processing apparatus, and substrate processing method | |
KR20080084926A (en) | Apparatus and method for wet-chemical processing of flat, thin substrate in a continuous method | |
US9890998B2 (en) | Substrate heating apparatus | |
US10157754B2 (en) | Liquid knife cleaning device | |
CN107170667B (en) | Substrate wet processing process method and substrate wet processing process device | |
JP4384686B2 (en) | Normal pressure drying apparatus, substrate processing apparatus, and substrate processing method | |
JP2005340425A (en) | Vacuum treatment device | |
JP2017034101A (en) | Etching device | |
JP2018064029A (en) | Etching device | |
JP2010159164A (en) | Vacuum processing device, vacuum processing system and processing method | |
JP2018073960A (en) | Etching apparatus | |
JP2014069126A (en) | Substrate treatment apparatus | |
JP2008249964A (en) | Carrier for cleaning display substrate and method for cleaning display substrate | |
WO2014180133A1 (en) | Mechanical arm device | |
JP2006179789A (en) | Device and method of wet processing | |
JP2018073872A (en) | Etching apparatus | |
JP2007175653A (en) | Washing device, and manufacturing method of display device using the same | |
JP2020047820A (en) | Float transportation device | |
KR20100067993A (en) | Apparatus for substrate transfer | |
KR102473692B1 (en) | Substrate etching system | |
JP2010219187A (en) | Substrate treatment apparatus and substrate treatment method | |
KR102278080B1 (en) | Substrate processing apparatus and substrate processing method | |
KR101581319B1 (en) | Substrate treating apparatus and method | |
KR20160003925U (en) | Jig for transportingslimmed glass |