JP2018063160A - 検査装置および検査方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】計算機間の伝送試験の作業時間を削減する。
【解決手段】検査システムは、検出装置20および判定装置30を有する。検出装置20は、導光部21、反射部22、導光部23、および出力部29を有する。導光部21および導光部23は、複数の光ファイバから出力された各光を計算機12のポート120へ透過させる。反射部22は、導光部21および導光部23を透過してポート120で反射した各光をさらに反射させる。出力部29は、光量を電気信号に変換する複数のPD260を含み、反射部22で反射した各光の光量をPDにより、各PDが配置された各位置における電気信号として判定装置30へ出力する。判定装置30は、出力部29から出力された各PDの位置における光量の分布に基づいて、コネクタ130とポート120との間のコンタミネーションの有無を判定する。
【選択図】図5
【解決手段】検査システムは、検出装置20および判定装置30を有する。検出装置20は、導光部21、反射部22、導光部23、および出力部29を有する。導光部21および導光部23は、複数の光ファイバから出力された各光を計算機12のポート120へ透過させる。反射部22は、導光部21および導光部23を透過してポート120で反射した各光をさらに反射させる。出力部29は、光量を電気信号に変換する複数のPD260を含み、反射部22で反射した各光の光量をPDにより、各PDが配置された各位置における電気信号として判定装置30へ出力する。判定装置30は、出力部29から出力された各PDの位置における光量の分布に基づいて、コネクタ130とポート120との間のコンタミネーションの有無を判定する。
【選択図】図5
Description
本発明は、検査装置および検査方法に関する。
並列計算機等で用いられるネットワークには複数のノード間を物理的に接続するために光ケーブルが用いられる場合がある。光ケーブルと計算機のラックの接合部との間にゴミなどの汚染物が入り込むことがある。光ケーブルと計算機のラックの接合部との間に汚染物が入り込むと、計算機が光ケーブルを介して伝送されたデータの受信に失敗する割合が増大する。そのため、ノード間のリンク接続が物理的に切断(リンクダウン)される場合がある。視覚的に検出できないサイズの汚染物でもリンクの伝送品質が低下する場合があるが、伝送品質の低下が汚染物以外の要因により発生する場合もある。そのため、リンクに関連する一部の装置の電源を落とし、光ケーブルを両端で取り外し、装置側面のポートを清掃した後、ケーブルや水冷、電源装置等で混雑している背面ラック内を目視確認する等の作業が行われる。光ケーブルの端面に付着した汚染物は、専用のクリーナを用いて除去される。
ところで、光ケーブルの掃除や背面ラック内の目視確認を行った後は、光ケーブルを再び計算機に接続し、計算機を起動して伝送品質が改善したかどうかが確認される。このような作業は、並列計算機の試験、生産、納入先等の現場で少なからず発生している。計算機は、所定の初期化の処理を経て起動されるため、時間がかかる。そのため、光ケーブルの掃除や背面ラックの目視確認、計算機の再起動等の作業は、大型並列計算機における伝送試験の作業時間を増大させる要因となっている。
本願に開示の技術は、計算機間の伝送試験の作業時間を削減する。
1つの側面では、検査装置は、複数の光ファイバをポートに接続するコネクタとポートとの間に配置される反射パターン検出部と、反射パターン検出部からの出力に基づいて、コネクタとポートとの間の汚れの有無を判定する判定部とを有する。反射パターン検出部は、導光部と、反射部と、出力部とを有する。導光部は、複数の光ファイバから出力されるそれぞれの光をポートへ透過させる。反射部は、導光部を透過しポートで反射したそれぞれの光をさらに反射させる。出力部は、光量を電気信号に変換する複数の変換器を含み、反射部で反射したそれぞれの光の光量を変換器により、それぞれの変換器が配置されたそれぞれの位置における電気信号として判定部へ出力する。判定部は、出力部から出力されたそれぞれの位置における光量の分布に基づいて、コネクタとポートとの間の汚れの有無を判定する。
1実施形態によれば、計算機間の伝送試験の作業時間を削減することができる。
以下に、本願の開示する検査装置および検査方法の実施例を、図面に基づいて詳細に説明する。なお、以下の実施例は開示の技術を限定するものではない。
[検査システム10]
図1は、検査システム10の一例を示すブロック図である。本実施例における検査システム10は、光源装置11、検出装置20、および判定装置30を有する。本実施例における検査システム10は、例えば、ケーブル13と計算機12との間の接続確認の処理に用いられる。計算機12は、複数の計算機12を有する並列計算機システムに含まれる。並列計算機システムにおいて、各計算機12は、光ファイバケーブル等のケーブル13によって互いに接続される。複数の計算機12は、ケーブル13を介して互いに通信することにより、並列計算機システムとしての機能を発揮する。
図1は、検査システム10の一例を示すブロック図である。本実施例における検査システム10は、光源装置11、検出装置20、および判定装置30を有する。本実施例における検査システム10は、例えば、ケーブル13と計算機12との間の接続確認の処理に用いられる。計算機12は、複数の計算機12を有する並列計算機システムに含まれる。並列計算機システムにおいて、各計算機12は、光ファイバケーブル等のケーブル13によって互いに接続される。複数の計算機12は、ケーブル13を介して互いに通信することにより、並列計算機システムとしての機能を発揮する。
光源装置11は、ケーブル13の両端に設けられたコネクタ130を介してケーブル13に接続され、ケーブル13に光信号を送信する。本実施例において、ケーブル13は、複数の光ファイバを有する多芯の光ファイバケーブルである。光源装置11は、ケーブル13内のそれぞれの光ファイバに光信号を送信する。
検出装置20は、一端がケーブル13のコネクタ130に接続され、他端が計算機12のポート120に接続される。また、検出装置20は、ケーブル200を介して判定装置30に接続される。検出装置20は、それぞれの光ファイバを通ってコネクタ130から出力された光信号をポート120へ透過させると共に、ポート120の端面において反射した光の強度および分布を示す電気信号をケーブル200を介して判定装置30へ出力する。検出装置20は、反射パターン検出部の一例である。
判定装置30は、検出装置20から出力された光の強度および分布に基づいて、コネクタ130とポート120との間に、ゴミ等のコンタミネーションが存在するか否かを判定する。コンタミネーションは、コネクタ130とポート120との間の汚れの一例である。また、判定装置30は、判定部の一例である。また、検出装置20および判定装置30を有する検査システム10は、検査装置の一例である。
図2は、ポート120の一例を示す図である。ポート120は、計算機12の側面に設けられ、光ファイバ毎に光信号の送信または受信を行う送受信部の端面121を含む基部123と、基部123を収容するハウジング122とを有する。
図3は、コネクタ130の一例を示す図である。コネクタ130は、光ファイバ毎に光信号が送信または受信される光ファイバの端面131を含む基部132を有する。
図4は、コネクタ130とポート120との接続の一例を示す図である。例えば図4の白矢印に示すように、コネクタ130の基部132が、ポート120のハウジング122内に挿入されることにより、コネクタ130とポート120とが接続される。コネクタ130とポート120とが接続された状態において、光ファイバ毎に端面131と端面121とが面接触する。これにより、計算機12から出力された光信号がポート120およびコネクタ130を介してケーブル13へ出力され、ケーブル13を介して伝送された光信号がコネクタ130およびポート120を介して計算機12に入力される。
ここで、例えば図4に示すように、コネクタ130の端面131とポート120の端面121との間にゴミ等のコンタミネーション14が存在すると、光ファイバを介する光信号が減衰したり、散乱したりする場合がある。また、コンタミネーション14によっては、光ファイバを介する光信号が遮蔽される場合もある。計算機12の受光部のポート120において受信された光信号の強度が所定の強度未満である場合、計算機12では、光信号によるデータの受信に失敗する。そして、計算機12では、データの受信失敗を示すエラーが計算機12のオペレータ等に通知される。オペレータは、データの受信失敗の原因究明を行うことになる。
データの受信失敗の原因としては、コネクタ130の端面131とポート120の端面121との間にコンタミネーション14が入り込む他に、例えば、ケーブル13内の光ファイバの断線、計算機12内部の機器の障害等も考えられる。そのため、障害の原因究明には時間がかかる。
これに対し、本実施例の検査システム10では、ケーブル13のコネクタ130と計算機12のポート120とを接続する際に、例えば図5に示すように、コネクタ130とポート120との間に検出装置20が挿入される。そして、判定装置30は、検出装置20から出力される、光ファイバを介する光信号に対応する電気信号に基づいて、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在するか否かを判定する。判定装置30によってコネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在すると判定された場合には、コネクタ130の端面131とポート120の端面121が掃除されてから再び接続される。これにより、データの受信失敗の原因究明の作業において、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在するか否かの確認作業を省くことができ、データの受信失敗の原因究明にかかる作業時間を削減することができる。
[検出装置20]
次に、図5を参照して、検出装置20の構造について説明する。図5は、検出装置20を介したコネクタ130とポート120との接続の一例を示す図である。検出装置20は、例えば図5に示すように、導光部21、反射部22、導光部23、および出力部29を有する。出力部29は、PD(Photodiode)部26、ADC(Analog to Digital Converter)27、およびインターフェイス(I/F)28を有する。
次に、図5を参照して、検出装置20の構造について説明する。図5は、検出装置20を介したコネクタ130とポート120との接続の一例を示す図である。検出装置20は、例えば図5に示すように、導光部21、反射部22、導光部23、および出力部29を有する。出力部29は、PD(Photodiode)部26、ADC(Analog to Digital Converter)27、およびインターフェイス(I/F)28を有する。
コネクタ130の基部132は、例えば図5の白矢印に示すように、検出装置20のハウジング24および導光部21によって形成された凹部25内に挿入され、導光部23は、ポート120のハウジング122内に挿入される。これにより、コネクタ130およびポート120は、検出装置20を介して接続される。
導光部21、反射部22、および導光部23は、光を透過する材料により形成される。反射部22は、光を透過する材料であって、導光部21および導光部23の材料とは屈折率が異なる材料によって形成される。反射部22は、導光部21と導光部23との間に、コネクタ130内の各光ファイバからポート120へ入射される光信号の経路に対して斜めになるように配置されている。反射部22は、導光部21と導光部23との間に斜めに形成された隙間に存在する気体であってもよい。本実施例において、導光部21および導光部23は、例えば石英ガラスであり、反射部22は、空気である。なお、導光部21および導光部23は、光を透過する材料により形成されていれば、水晶等の他の材料で形成されてもよい。また、反射部22は、光を透過する材料であって、導光部21および導光部23の材料とは屈折率が異なる材料によって形成されていれば、水晶や石英ガラス等の材料で形成されてもよい。
図6は、反射光の一例を説明する図である。例えば図6に示すように、検出装置20を介してコネクタ130とポート120とが接続された状態において、コネクタ130内の基部132から出力された各光ファイバからの光は、例えば矢印40に示すように導光部21内を通って反射部22に入射する。反射部22に入射した光は、導光部21と反射部22との境界面、および、反射部22と導光部23との境界面でそれぞれ屈折してポート120の端面121に入射する。そして、ポート120の端面121に入射した光の一部は、端面121で反射し、再び反射部22に入射する。そして、反射部22に入射した光の一部は、導光部23と反射部22との境界面において反射し、例えば図6の破線矢印41に示す経路でPD部26に入射する。
一方、ポート120の端面121にコンタミネーション14が存在する場合、ポート120の端面121に入射した光の全部または一部は、コンタミネーション14で反射または散乱する。そして、コンタミネーション14で反射または散乱した光は、例えば図6の破線矢印42に示すように、コンタミネーション14が存在しない場合の経路とは異なる経路で再び反射部22に入射する。そのため、反射部22に入射した光の一部は、導光部23と反射部22との境界面において反射し、コンタミネーション14が存在しない場合のPD部26内の位置とは異なる位置に入射する。また、コンタミネーション14で反射または散乱した光は、反射部22に入射することなく、例えば図6の破線矢印43に示すように、PD部26に直接入射する場合もある。また、コンタミネーション14で反射または散乱した光は、コンタミネーション14が存在しない場合にPD部26に入射する光の強度とは異なる強度でPD部26に入射する。例えば、コンタミネーション14で全反射光は、コンタミネーション14が存在しない場合にPD部26に入射する光の強度よりも強くなる。また、コンタミネーション14で散乱した光は、コンタミネーション14が存在しない場合にPD部26に入射する光の強度よりも弱くなる。そのため、PD部26に入射した光の位置および強度に基づいて、コンタミネーション14が存在するか否かを判定することができる。
本実施例において、PD部26は、例えば図7に示すように、アレイ状に配置された複数のPD260を有する。図7は、実施例1におけるPD260の配置の一例を示す図である。本実施例において、PD部26には、例えば図7に示すように、図7のy方向に所定間隔で並ぶ複数のPD260を含む列が、図7のx方向に所定間隔で複数配置されている。y方向は第1の方向の一例であり、x方向は第2の方向の一例である。各PD260は、光量を電気信号に変換する。PD260は、変換器の一例である。各PD260において変換された電気信号は、各PD260が配置された各位置において受光された光の強度に応じた電気信号である。各PD260は、例えば図7に示すように、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在しない場合に反射部22で反射したそれぞれの光ファイバからの光が入射する領域261が含まれる位置に、少なくとも1つ配置される。これにより、各PD260では、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在しない場合に、所定の大きさの光量を示す電気信号が出力される。各PD260から出力された電気信号を参照することにより、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在するか否かを判定することができる。
また、本実施例において、PD260は、例えば図7に示すように、コンタミネーション14が存在しない場合に反射部22で反射した各光ファイバからの光が入射する領域261が含まれる位置以外の位置に、少なくとも1つ配置される。コンタミネーション14が存在する場合、反射部22で反射した各光ファイバからの光は、例えば図8に示すように、コンタミネーション14が存在しない場合に入射される領域262よりも広い領域263に拡散される場合がある。また、コンタミネーション14が存在する場合、反射部22で反射した各光ファイバからの光は、例えば図8に示すように、コンタミネーション14が存在しない場合に入射される領域262とは異なる位置の領域264に入射する場合がある。コンタミネーション14が存在しない場合に反射部22で反射した各光ファイバからの光が入射する領域261以外の位置にPD260が配置されることにより、コンタミネーション14が存在する場合の判定精度を高めることができる。
なお、PD260は、例えば図9に示すように、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在しない場合に反射部22で反射した各光ファイバからの光が入射する領域261が含まれる位置以外の位置に配置されなくてもよい。これにより、PD260の数を削減することができ、検出装置20のコストを削減することができる。
図5に戻って説明を続ける。ADC27は、PD部26内のそれぞれのPD260から出力された電気信号を、アナログ信号からデジタル信号に変換する。I/F28は、ADC27によってデジタル信号に変換された電気信号を、LAN(Local Area Network)ケーブル等のケーブル200を介して判定装置30へ出力する。
判定装置30は、例えば図5に示すように、I/F31、判定処理部32、表示部33、およびDB34を有する。I/F31は、ケーブル200を介して検出装置20から出力された電気信号を受信し、判定処理部32へ出力する。DB34には、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在しない場合の各PD260の電気信号の値を示すデータが予め格納される。また、DB34には、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在するか否かを判定するための閾値を示すデータが予め格納されている。
判定処理部32は、ケーブル200およびI/F31を介して、各PD260から出力された電気信号を取得する。そして、判定処理部32は、取得した各PD260の電気信号に基づいて、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在するか否かを判定する。本実施例において、判定処理部32は、例えば、PD260毎に、検出装置20から出力された電気信号の値と、DB34内に格納された電気信号の値との差分を算出する。そして、判定処理部32は、各PD260について算出された差分の和から求まる値が、予め定められた閾値以上である場合に、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在すると判定する。具体的には、判定処理部32は、例えば下記の(1)式に基づいて、ユークリッド距離Leを算出する。
上記(1)式において、REFiは、DB34内に格納されているi番目のPD260の電気信号の値を表し、INiは、検出装置20から出力されたi番目のPD260の電気信号の値を表す。また、上記(1)式において、Nは、PD部26内に配置されているPD260の総数を表す。
そして、判定処理部32は、(1)式を用いて算出したユークリッド距離Leが、DB34内に格納されている閾値以上か否かを判定する。ユークリッド距離Leが閾値以上である場合、判定処理部32は、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在すると判定する。一方、ユークリッド距離Leが閾値未満である場合、判定処理部32は、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在しないと判定する。
表示部33は、例えばディスプレイであり、判定処理部32による判定結果を検査システム10のオペレータ等に通知する。表示部33は、判定処理部32による判定結果を、通信回線を介して他の装置へ送信してもよい。
なお、本実施例では、ケーブル13内の光ファイバにクラックが入っていたり光ファイバが断線していたりする場合にも、判定処理部32は、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在すると判定することになる。この場合、コネクタ130とポート120との間の掃除が行われ、再び接続確認が行われる。それでも判定装置30によってコネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在すると判定される場合には、ケーブル13の交換が行われる。
また、判定処理部32は、例えば下記の(2)式に基づいて、マンハッタン距離Lmを算出し、算出したマンハッタン距離LmとDB34内に格納されている閾値との比較に基づいてコンタミネーション14が存在するか否かを判定してもよい。
[接続確認処理]
図10および図11は、接続確認処理の一例を示すフローチャートである。図10および図11に示す接続確認処理は、ケーブル13を計算機12に接続する際に行われる処理である。図10および図11における接続確認処理は、例えば図12(A)および(B)に示す接続において行われる。以下では、図12(A)に示す接続を第1の接続パターンと記載し、図12(B)に示す接続を第2の接続パターンと記載する。なお、図10および図11に示す接続確認処理は、光源装置11を用いて行われるが、開示の技術はこれに限られない。例えば、光源装置11を用いずに、ケーブル13の一方に接続された計算機12から出力された光を用いて、ケーブル13の他方に接続された計算機12について接続確認処理が行われてもよい。
図10および図11は、接続確認処理の一例を示すフローチャートである。図10および図11に示す接続確認処理は、ケーブル13を計算機12に接続する際に行われる処理である。図10および図11における接続確認処理は、例えば図12(A)および(B)に示す接続において行われる。以下では、図12(A)に示す接続を第1の接続パターンと記載し、図12(B)に示す接続を第2の接続パターンと記載する。なお、図10および図11に示す接続確認処理は、光源装置11を用いて行われるが、開示の技術はこれに限られない。例えば、光源装置11を用いずに、ケーブル13の一方に接続された計算機12から出力された光を用いて、ケーブル13の他方に接続された計算機12について接続確認処理が行われてもよい。
まず、光源装置11、ケーブル13、検出装置20、および計算機12−2が、第1の接続パターンで接続される(S100)。第1の接続パターンでは、例えば図12(A)に示すように、光源装置11とケーブル13とがコネクタ130−1を介して接続され、ケーブル13と検出装置20とがコネクタ130−2を介して接続される。また、検出装置20と計算機12−2とはポート120−2を介して接続され、検出装置20は、ケーブル200を介して判定装置30に接続される。
次に、検査システム10によって検査処理が実行される(S200)。図13は、実施例1における検査処理の一例を示すフローチャートである。本実施例における検査処理では、例えば図13に示すように、光源装置11から光が出力される(S201)。光源装置11から出力された光は、コネクタ130を介してケーブル13内に入射し、ケーブル13内のそれぞれの光ファイバを通ってコネクタ130から検出装置20に入射する。
検出装置20内に入射した光は、図6で説明したように、検出装置20内を通過してポート120で反射し、ポート120で反射した反射光は、さらに検出装置20内の反射部22で反射し、PD部26に入射する(S202)。
PD部26に入射した光ファイバ毎の反射光は、各PD260によって光量に応じた電気信号に変換される。各PD260によって変換されたアナログの電気信号は、ADC27によってデジタルの電気信号に変換され、I/F28によってケーブル200を介して判定装置30へ出力される。
判定装置30は、ケーブル200を介して検出装置20から出力されたPD260毎の電気信号を取得する(S203)。そして、判定装置30は、PD260毎の電気信号の値に基づいて、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在するか否かを判定する判定処理を実行する(S204)。具体的には、判定装置30の判定処理部32は、前述の(1)式に基づいて算出したユークリッド距離Leが、DB34内に格納されている閾値以上か否かを判定する。ユークリッド距離Leが閾値以上である場合、判定処理部32は、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在すると判定する。判定処理部32は、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在すると判定した場合、検査結果をNGとして表示部33に表示する。一方、ユークリッド距離Leが閾値未満である場合、判定処理部32は、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在しないと判定する。判定処理部32は、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在しないと判定した場合、検査結果をOKとして表示部33に表示する。
図10に戻って説明を続ける。検査処理が終了した後、検査処理による検査結果がNGか否か、即ち、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在するか否かが判定される(S101)。検査結果がNGではない場合(S101:No)、図11のステップS109に示す処理が実行される。
一方、検査結果がNGである場合(S101:Yes)、図12(A)に示した第1の接続パターンにおいて、光源装置11側のコネクタ130−1の端面131が掃除される(S102)。そして、光源装置11、ケーブル13、検出装置20、および計算機12−2が、第1の接続パターンで再び接続され(S103)、再びステップS200に示した検査処理が実行される。
次に、検査処理が終了した後、検査処理による検査結果がNGか否かが判定される(S104)。検査結果がNGではない場合(S104:No)、図11のステップS109に示す処理が実行される。
一方、検査結果がNGである場合(S104:Yes)、図12(A)に示した第1の接続パターンにおいて、計算機12−2側のコネクタ130−2の端面131および計算機12−2のポート120−2の端面121が掃除される(S105)。そして、光源装置11、ケーブル13、検出装置20、および計算機12−2が、第1の接続パターンで再び接続され(S106)、再びステップS200に示した検査処理が実行される。
次に、検査処理が終了した後、検査処理による検査結果がNGか否かが判定される(S107)。検査結果がNGではない場合(S107:No)、図11のステップS109に示す処理が実行される。一方、検査結果がNGである場合(S107:Yes)、ケーブル13が交換され(S108)、再びステップS100に示した処理が実行される。
ステップS101、S104、およびS107において、検査処理による検査結果がNGではない場合、光源装置11、ケーブル13、検出装置20、および計算機12−1が、第2の接続パターンで接続される(S109)。第2の接続パターンでは、例えば図12(B)に示すように、光源装置11とケーブル13とがコネクタ130−2を介して接続され、ケーブル13と検出装置20とがコネクタ130−1を介して接続される。また、検出装置20と計算機12−1とはポート120−1を介して接続され、検出装置20は、ケーブル200を介して判定装置30に接続される。
次に、再びステップS200に示した検査処理が実行される。そして、検査処理が終了した後、検査処理による検査結果がNGか否かが判定される(S110)。検査結果がNGではない場合(S110:No)、ステップS118に示す処理が実行される。
一方、検査結果がNGである場合(S110:Yes)、図12(B)に示した第2の接続パターンにおいて、計算機12−1側のコネクタ130−1の端面131および計算機12−1のポート120−1の端面121が掃除される(S111)。そして、光源装置11、ケーブル13、検出装置20、および計算機12−1が、第2の接続パターンで再び接続され(S112)、再びステップS200に示した検査処理が実行される。
次に、検査処理が終了した後、検査処理による検査結果がNGか否かが判定される(S113)。検査結果がNGではない場合(S113:No)、ステップS118に示す処理が実行される。
一方、検査結果がNGである場合(S113:Yes)、図12(B)に示した第2の接続パターンにおいて、光源装置11側のコネクタ130−2の端面131が掃除される(S114)。そして、光源装置11、ケーブル13、検出装置20、および計算機12−1が、第2の接続パターンで再び接続され(S115)、再びステップS200に示した検査処理が実行される。
次に、検査処理が終了した後、検査処理による検査結果がNGか否かが判定される(S116)。検査結果がNGではない場合(S116:No)、検出装置20が取り外される。そして、ケーブル13を介して計算機12−1および計算機12−2が接続され(S118)、本フローチャートに示した接続確認処理が終了する。一方、検査結果がNGである場合(S116:Yes)、ケーブル13が交換され(S117)、再びステップS100に示した処理が実行される。
[実施例1の効果]
上記説明から明らかなように、本実施例の検査システム10は、検出装置20および判定装置30を有する。検出装置20は、導光部21、反射部22、導光部23、および出力部29を有する。導光部21および導光部23は、複数の光ファイバから出力されたそれぞれの光を計算機12のポート120へ透過させる。反射部22は、導光部21および導光部23を透過しポート120で反射したそれぞれの光をさらに反射させる。出力部29は、光量を電気信号に変換する複数のPD260を含み、反射部22で反射したそれぞれの光の光量をPD260により、それぞれのPD260が配置されたそれぞれの位置における電気信号として判定装置30へ出力する。判定装置30は、出力部29から出力されたそれぞれのPD260の位置における光量の分布に基づいて、コネクタ130とポート120との間のコンタミネーション14の有無を判定する。これにより、計算機12間の伝送試験の作業時間を削減することができる。
上記説明から明らかなように、本実施例の検査システム10は、検出装置20および判定装置30を有する。検出装置20は、導光部21、反射部22、導光部23、および出力部29を有する。導光部21および導光部23は、複数の光ファイバから出力されたそれぞれの光を計算機12のポート120へ透過させる。反射部22は、導光部21および導光部23を透過しポート120で反射したそれぞれの光をさらに反射させる。出力部29は、光量を電気信号に変換する複数のPD260を含み、反射部22で反射したそれぞれの光の光量をPD260により、それぞれのPD260が配置されたそれぞれの位置における電気信号として判定装置30へ出力する。判定装置30は、出力部29から出力されたそれぞれのPD260の位置における光量の分布に基づいて、コネクタ130とポート120との間のコンタミネーション14の有無を判定する。これにより、計算機12間の伝送試験の作業時間を削減することができる。
また、本実施例の検査システム10において、出力部29が有するそれぞれのPD260は、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14がない場合に反射部22で反射したそれぞれの光が入射する位置に、少なくとも1つ配置される。これにより、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在するか否かを判定することができる。
また、本実施例の検査システム10において、出力部29が有するそれぞれのPD260は、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14がない場合に反射部22で反射したそれぞれの光が入射する位置以外の位置に、少なくとも1つ配置される。これにより、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在する場合の判定精度を高めることができる。
また、本実施例の検査システム10において、PD部26には、第1の方向に所定間隔で並ぶ複数のPD260を含む列が、第2の方向に所定間隔で複数配置されている。また、判定装置30は、それぞれのPD260について、PD260から出力された電気信号の値と、コンタミネーション14がない場合にPD260から出力される電気信号の値との差分を算出する。そして、判定装置30は、それぞれのPD260について算出された差分の和から求まる値が、予め定められた閾値以上である場合に、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在すると判定する。これにより、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在するか否かを精度よく判別することができる。
上記した実施例1では、アレイ状に配置されたPD260において、PD260によって受光された光の強度と、コンタミネーション14がない場合にPD260によって受光される光の強度との差分を用いてコンタミネーション14の有無が判定された。これに対し、本実施例では、アレイ状に配置された複数のPD260を有するPD部26に入射した光の領域の配置に規則性があるか否かに基づいて、コンタミネーション14が存在するか否かが判定される。
図14は、実施例2におけるPD260の配置の一例を示す図である。本実施例においても、PD部26は、例えば図14に示すように、アレイ状に配置された複数のPD260を有する。PD部26には、例えば図14に示すように、図14のy方向に所定間隔で並ぶ複数のPD260を含む列が、図14のx方向に所定間隔で複数配置されている。PD部内における各PD260の位置を示す情報は、DB34内に予め格納されている。
コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在しない場合、コネクタ130内の各光ファイバから出力され、ポート120の端面121および反射部22で反射した光は、例えば図14に示すように、PD部26上において略等間隔の領域261に入射する。各領域に配置されているPD260は、反射部22で反射した光を受光する。ここで、反射部22で反射した光を受光したPD260を第1のPD265と定義し、反射部22で反射した光を受光していないPD260を第2のPD266と定義する。第1のPD265は第1の変換器の一例であり、第2のPD266は第2の変換器の一例である。
図14のy方向に所定間隔で並べて配置されている複数のPD260を含む列の中で、例えば点線Aに沿う方向に配置されている列において、第1のPD265および第2のPD266の配置を抜き出すと、例えば図15のようになる。図15は、第1のPD265および第2のPD266の配置の一例を示す図である。
ここで、反射部22で反射した光が入射する領域261がPD部上に規則的に並んでいる場合、例えば図14および図15に示すように、2つの第1のPD265の間に少なくとも1つの第2のPD266が配置されている第1のPD265の組が複数存在する。例えば、図15に示す例において、第1のPD265−1と265−2との間には、第2のPD266−1および266−2が配置されているため、第1のPD265−1および265−2は、第1のPD265の組となる。同様に、第1のPD265−3と265−4との間には、第2のPD266−3および266−4が配置されているため、第1のPD265−3および265−4は、第1のPD265の組となる。同様に、第1のPD265−4と265−5との間には、第2のPD266−5および266−6が配置されているため、第1のPD265−4および265−5は、第1のPD265の組となる。従って、例えば図14の点線Aに沿う方向に配置されている列には、第1のPD265の組が複数存在している。
そして、反射部22で反射した光が入射する領域261がPD部上に規則的に並んでいる場合、それぞれの第1のPD265の組において、第1のPD265の組の間に配置されている第2のPD266の数nが同一になる。図14および図15に示す例では、それぞれの第1のPD265の組の間に配置されている第2のPD266の数nは2である。複数のPD260を含む他の列(例えば図14の点線Bに沿う方向に配置されている列)においても、同様に、反射部22で反射した光が入射する領域261がPD部上に規則的に並んでいる場合、それぞれの第1のPD265の組の間に配置されている第2のPD266の数nが同一になる。
また、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在する場合、コネクタ130内の各光ファイバから出力された光は、コンタミネーション14で反射および散乱する。そして、反射部22で反射した光は、例えば図16に示すように、コンタミネーション14が存在しない場合に入射する領域261とは異なる領域263に入射する。
図16の点線Aに沿う方向に配置されているPD260の列において、第1のPD265および第2のPD266の配置を抜き出すと、例えば図17のようになる。図17は、コンタミネーション14がある場合の第1のPD265および第2のPD266の配置の一例を示す図である。コンタミネーション14がある場合、第1のPD265の組が複数存在するとしても、例えば図17に示すように、それぞれの第1のPD265の組において、第1のPD265の組の間に配置されている第2のPD266の数が異なる。例えば図17の例では、第1のPD265−6と265−7との間に配置されている第2のPD266の数n1は6であり、第1のPD265−7と265−8との間に配置されている第2のPD266の数n2は2である。
従って、判定装置30の判定処理部32は、図14のy方向に所定間隔で並べて配置されている複数のPD260を含む列の中で、第1のPD265の組が複数存在する列において、第1のPD265の組の間に配置されている第2のPD266の数が同一か否かを判定することにより、コンタミネーション14が存在するか否かを判定することが可能となる。
なお、本実施例では、例えば図3で説明したように、コネクタ130に上下に2列の光ファイバが配置されているため、コンタミネーション14が存在しない場合にPD部26に入射する光の領域261は、図14のy方向には3つ以上存在するが、x方向には2つ存在する。そのため、x方向については、第1のPD265の組が複数存在する列は存在しない。しかし、コネクタ130に上下に3列以上の光ファイバが配置されている他の例においては、コンタミネーション14が存在しない場合にPD部26に入射する光の領域261は、図14のx方向に3つ以上存在することになる。そのような他の例においては、さらにx方向について、第1のPD265の組が複数存在する列において、第1のPD265の組の間に配置されている第2のPD266の数が同一か否かを判定することにより、コンタミネーション14が存在するか否かを判定するようにしてもよい。これにより、コンタミネーション14が存在するか否かの判定精度をさらに高めることができる。
[検査処理]
本実施例では、実施例1において図10から図13を用いて説明した接続確認処理のうち、図13を用いて説明した検査処理が異なる。以下では、本実施例における検査処理について説明する。図18は、実施例2における検査処理の一例を示すフローチャートである。
本実施例では、実施例1において図10から図13を用いて説明した接続確認処理のうち、図13を用いて説明した検査処理が異なる。以下では、本実施例における検査処理について説明する。図18は、実施例2における検査処理の一例を示すフローチャートである。
まず、図12で説明した第1の接続パターンまたは第2の接続パターンの接続状態において、光源装置11から光が出力される(S300)。光源装置11から出力された光は、コネクタ130を介してケーブル13内に入射し、ケーブル13内のそれぞれの光ファイバを通ってコネクタ130から検出装置20に入射する。
検出装置20内に入射した光は、図6で説明したように、検出装置20内を通過してポート120で反射し、ポート120で反射した反射光は、さらに検出装置20内の反射部22で反射し、PD部26に入射する(S301)。
PD部26に入射した光ファイバ毎の反射光は、各PD260によって光量に応じた電気信号に変換される。各PD260によって変換されたアナログの電気信号は、ADC27によってデジタルの電気信号に変換される。本実施例では、反射光を受光したPD260から出力されたアナログの電気信号は、ADC27によって、受光したことを示すデジタル値(例えば「1」)に変換され、反射光を受光していないPD260から出力されたアナログの電気信号は、ADC27によって、受光していないことを示すデジタル値(例えば「0」)に変換される。そして、デジタル値に変換された各PD260の電気信号は、I/F28によってケーブル200を介して判定装置30へ出力される。
判定装置30の判定処理部32は、ケーブル200およびI/F31を介して、検出装置20から出力されたPD260毎の電気信号を取得する(S302)。そして、判定処理部32は、PD260毎の電気信号の値に基づいて、受光したことを示すデジタル値が出力されたPD260を第1のPD265として特定し、受光していないことを示すデジタル値が出力されたPD260を第2のPD266として特定する(S303)。
次に、判定処理部32は、DB34内に格納されている各PD260の位置を示す情報を参照して、所定の方向(例えば図14のy方向)に並べて配置されている複数のPD260を含む列の中で、1つの列を選択する(S304)。そして、判定処理部32は、ステップS304で選択した列において、第1のPD265の組が複数存在するか否かを判定する(S305)。第1のPD265の組が複数存在ない場合(S305:No)、判定処理部32は、ステップS309に示す処理を実行する。
一方、第1のPD265の組が複数存在する場合(S305:Yes)、判定処理部32は、第1のPD265の組毎に、当該第1のPD265の組の間に配置されている第2のPD266の数を特定する(S306)。そして、判定処理部32は、複数の第1のPD265の組の間で第2のPD266の数が等しいか否かを判定する(S307)。
複数の第1のPD265の組の間で第2のPD266の数が異なる場合(S307:No)、判定処理部32は、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在すると判定する。そして、判定処理部32は、検査結果としてNGを表示部33に表示する(S308)。
一方、複数の第1のPD265の組の間で第2のPD266の数が等しい場合(S307:Yes)、判定処理部32は、所定の方向に並べて配置されている複数のPD260を含む列を全て選択したか否かを判定する(S309)。未選択の列が存在する場合(S309:No)、判定処理部32は、再びステップS304に示した処理を実行する。
一方、所定の方向に並べて配置されている複数のPD260を含む列を全て選択した場合(S309:Yes)、判定処理部32は、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在しないと判定する。そして、判定処理部32は、検査結果としてOKを表示部33に表示する(S310)。
[実施例2の効果]
本実施例の検査システム10によれば、反射光が入射されたPD部26上の領域の配置の規則性に基づいて、コンタミネーション14が存在するか否かが判定される。これにより、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在するか否かを精度よく判別することができる。また、本実施例では、各PD260からは反射光を受光したか否かを示す情報が得られればよいため、ビット数が少ないADC27を用いることができる。これにより、検査システム10のコストを削減することができる。
本実施例の検査システム10によれば、反射光が入射されたPD部26上の領域の配置の規則性に基づいて、コンタミネーション14が存在するか否かが判定される。これにより、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在するか否かを精度よく判別することができる。また、本実施例では、各PD260からは反射光を受光したか否かを示す情報が得られればよいため、ビット数が少ないADC27を用いることができる。これにより、検査システム10のコストを削減することができる。
また、本実施例の検査システム10において、判定装置30は、反射部22で反射した光を受光したPD260である第1のPD265と、反射部22で反射した光を受光していないPD260である第2のPD266とを検出する。そして、判定装置30は、所定の方向(例えば図14のy方向)に並ぶ複数のPD260を含むそれぞれの列において、2つの第1のPD265の間に少なくとも1つの第2のPD266が配置されている第1のPD265の組毎に、第1のPD265の組の間に配置されている第2のPD266の数を特定する。そして、判定装置30は、特定した第2のPD266の数が第1のPD265の組のいずれかにおいて異なる場合に、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在すると判定する。これにより、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在するか否かを精度よく判別することができる。
なお、本実施例では、コンタミネーション14が存在しない場合に反射光が入射するPD部26内の位置だけでなく、コンタミネーション14が存在しない場合に反射光が入射するPD部26内の位置とは異なる位置にもPD260が配置される。しかし、開示の技術はこれに限られない。例えば、図19に示すように、コンタミネーション14が存在しない場合に反射光が入射するPD部26内の位置にPD260が配置され、コンタミネーション14が存在しない場合に反射光が入射するPD部26内の位置とは異なる位置にはPD260が配置されなくてもよい。なお、図19に示す複数のPD260は、PD部26の面上に規則的に配置されている。
コンタミネーション14が存在しない場合、反射部22で反射した反射光は、例えば図19に示すように、PD260が配置された位置を含む領域261に入射する。各PD260は、PD部26の面上に規則的に配置されているため、反射光が規則的な配置でPD部26に入射した場合、全てのPD260において反射光が受光されることになる。
一方、コンタミネーション14が存在する場合には、光ファイバからの光はコンタミネーション14で反射および散乱する。そのため、反射部22で反射した反射光は、例えば図20に示すように、コンタミネーション14が存在しない場合に入射するPD部26上の領域261とは異なる領域263に入射する。そのため、コンタミネーション14が存在する場合には、一部のPD260において反射光が受光されないことになる。図20の例では、ハッチングが施されたPD260が反射光を受光したPD260を示し、ハッチングが施されていないPD260が反射光を受光していないPD260を示している。
従って、図19および図20の例では、判定処理部32は、全てのPD260において反射光が受光された場合に、コンタミネーション14が存在しないと判定し、少なくとも一部のPD260において反射光が受光されない場合に、コンタミネーション14が存在すると判定することができる。
[ハードウェア]
上記した実施例1または実施例2における判定装置30は、例えば図21に示すようなハードウェアにより実現される。図21は、判定装置30のハードウェアの一例を示す図である。判定装置30は、例えば図21に示すように、メモリ300、通信インターフェイス回路301、プロセッサ302、およびユーザインターフェイス回路303を有する。
上記した実施例1または実施例2における判定装置30は、例えば図21に示すようなハードウェアにより実現される。図21は、判定装置30のハードウェアの一例を示す図である。判定装置30は、例えば図21に示すように、メモリ300、通信インターフェイス回路301、プロセッサ302、およびユーザインターフェイス回路303を有する。
通信インターフェイス回路301は、検出装置20との間でケーブル200を介して通信を行うためのインターフェイスである。通信インターフェイス回路301は、例えばI/F31の機能を実現する。ユーザインターフェイス回路303は、例えばディスプレイやキーパッドなど、プロセッサ302からの出力を判定装置30のオペレータ等に通知したり、該オペレータがプロセッサ302にデータを入力するためのインターフェイスである。ユーザインターフェイス回路303は、例えば表示部33の機能を実現する。
メモリ300には、例えば判定装置30の機能を実現するための各種プログラムやデータ等が格納される。また、メモリ300には、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在しない場合の各PD260の電気信号の値、および、コンタミネーション14が存在するか否かを判定するための閾値等の情報が予め格納されている。プロセッサ302は、メモリ300から読み出したプログラムを実行することにより、メモリ300内のデータを用いて、例えば判定装置30の各機能を実現する。
また、メモリ300内のプログラムやデータ等は、必ずしも全てが最初からメモリ300内に記憶されていなくてもよい。例えば、判定装置30に挿入されるメモリカードなどの可搬型記録媒体にプログラムやデータ等が記憶され、判定装置30がこのような可搬型記録媒体からプログラムやデータ等を取得して実行するようにしてもよい。また、プログラムやデータ等を記憶させた他のコンピュータまたはサーバ装置などから、無線通信回線、公衆回線、インターネット、LAN、WANなどを介して、判定装置30がプログラムを取得して実行するようにしてもよい。
<その他>
なお、開示の技術は、上記した各実施例に限定されるものではなく、その要旨の範囲内で数々の変形が可能である。
なお、開示の技術は、上記した各実施例に限定されるものではなく、その要旨の範囲内で数々の変形が可能である。
例えば、上記した実施例1の検出装置20では、反射部22が、導光部21と導光部23との間に、光ファイバから出力される、あるいは、光ファイバに入射される光の経路に対して斜めに配置されるが、開示の技術はこれに限られない。例えば、互いに屈折率が異なる導光部21と導光部23とが、光ファイバから出力される、あるいは、光ファイバに入射される光の経路に対して斜めに形成された面において接合されていてもよい。このような構成においても、計算機12の端面121で反射した光の一部は、導光部21と導光部23との間の境界面において反射し、PD部26に入射することができる。導光部21と導光部23との間の境界面は、反射部の一例である。
また、上記した実施例1において、判定処理部32は、PD260毎に、検出装置20から出力された電気信号の値と、DB34内に格納されている電気信号の値との差分に基づいてコンタミネーション14が存在するか否かを判定する。しかし、開示の技術はこれに限られない。例えば、PD260の位置毎の光量を示す電気信号を特徴ベクトルとして算出し、算出した特徴ベクトルを用いて、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在するか否かを判定してもよい。
例えば、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在しない場合に各PD260から出力された電気信号のパターンが予めいくつか収集され、収集された各パターンについて、第1の特徴ベクトルがそれぞれ算出される。そして、算出された複数の第1の特徴ベクトルがDB34内に格納される。同様に、例えば、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在する場合に各PD260から出力された電気信号のパターンが予めいくつか収集され、収集された各パターンについて、第2の特徴ベクトルがそれぞれ算出される。そして、算出された複数の第2の特徴ベクトルがDB34内に格納される。
検査処理において、判定処理部32は、検出装置20から出力された電気信号に基づいて第3の特徴ベクトルを算出する。そして、判定処理部32は、DB34から複数の第1の特徴ベクトルおよび複数の第2の特徴ベクトルを読み出す。そして、判定処理部32は、例えば図22に示すように、算出した第3の特徴ベクトル51が、第1の特徴ベクトルのクラスの範囲50に属するか否かを判定することで、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在するか否かを判定する。図22は、特徴ベクトルの分類の一例を説明する図である。図22では、一例として、2つの特徴量で表される各特徴ベクトルに対応する点の分布が示されている。第3の特徴ベクトル51が、第1の特徴ベクトルが属するクラスと、第2の特徴ベクトルが属するクラスのどちらに分類されるかは、例えば、「K-means」や「Support Vector Machine」等のアルゴリズムを用いて判定することができる。
第3の特徴ベクトル51が、第1の特徴ベクトルのクラスに属すると判定された場合、判定処理部32は、第3の特徴ベクトルを第1の特徴ベクトルとしてDB34に追加格納する。一方、第3の特徴ベクトル51が、第2の特徴ベクトルのクラスに属すると判定された場合、判定処理部32は、第3の特徴ベクトルを第2の特徴ベクトルとしてDB34に追加格納する。これにより、検査処理が繰り返されることにより、第1の特徴ベクトルおよび第2の特徴ベクトルのサンプルが増加し、コネクタ130とポート120との間にコンタミネーション14が存在するか否かを判定する処理の精度が向上する。
10 検査システム
11 光源装置
12 計算機
120 ポート
121 端面
122 ハウジング
123 基部
13 ケーブル
130 コネクタ
131 端面
132 基部
14 コンタミネーション
20 検出装置
21 導光部
22 反射部
23 導光部
24 ハウジング
25 凹部
26 PD部
260 PD
261 領域
262 領域
263 領域
264 領域
27 ADC
28 I/F
29 出力部
200 ケーブル
30 判定装置
31 I/F
32 判定処理部
33 表示部
34 DB
40 矢印
41 破線矢印
42 破線矢印
43 破線矢印
50 範囲
51 第3の特徴ベクトル
300 メモリ
301 通信インターフェイス回路
302 プロセッサ
303 ユーザインターフェイス回路
11 光源装置
12 計算機
120 ポート
121 端面
122 ハウジング
123 基部
13 ケーブル
130 コネクタ
131 端面
132 基部
14 コンタミネーション
20 検出装置
21 導光部
22 反射部
23 導光部
24 ハウジング
25 凹部
26 PD部
260 PD
261 領域
262 領域
263 領域
264 領域
27 ADC
28 I/F
29 出力部
200 ケーブル
30 判定装置
31 I/F
32 判定処理部
33 表示部
34 DB
40 矢印
41 破線矢印
42 破線矢印
43 破線矢印
50 範囲
51 第3の特徴ベクトル
300 メモリ
301 通信インターフェイス回路
302 プロセッサ
303 ユーザインターフェイス回路
Claims (8)
- 複数の光ファイバをポートに接続するコネクタと前記ポートとの間に配置される反射パターン検出部と、
前記反射パターン検出部からの出力に基づいて、前記コネクタと前記ポートとの間の汚れの有無を判定する判定部と
を有し、
前記反射パターン検出部は、
前記複数の光ファイバから出力されるそれぞれの光を前記ポートへ透過させる導光部と、
前記導光部を透過し、前記ポートで反射したそれぞれの前記光をさらに反射させる反射部と、
光量を電気信号に変換する複数の変換器を含み、前記反射部で反射したそれぞれの前記光の光量を前記変換器により、それぞれの前記変換器が配置されたそれぞれの位置における電気信号として前記判定部へ出力する出力部と
を有し、
前記判定部は、
前記出力部から出力されたそれぞれの前記位置における前記光量の分布に基づいて、前記コネクタと前記ポートとの間の汚れの有無を判定することを特徴とする検査装置。 - 前記導光部は、
異なる屈折率の2つの部材を有し、前記2つの部材の接触面が、それぞれの前記光ファイバから出力される光の光路に対して斜めになるように配置されており、
前記反射部は、
前記2つの部材の接触面であることを特徴とする請求項1に記載の検査装置。 - 前記出力部が有するそれぞれの前記変換器は、
前記コネクタと前記ポートとの間に前記汚れがない場合に前記反射部で反射したそれぞれの前記光が入射する位置に、少なくとも1つ配置されることを特徴とする請求項1または2に記載の検査装置。 - 前記出力部が有するそれぞれの前記変換器は、
前記コネクタと前記ポートとの間に前記汚れがない場合に前記反射部で反射したそれぞれの前記光が入射する位置以外の位置に、少なくとも1つ配置されることを特徴とする請求項3に記載の検査装置。 - 前記出力部には、第1の方向に所定間隔で並ぶ複数の前記変換器を含む列が、前記第1の方向とは異なる第2の方向に所定間隔で複数配置されており、
前記判定部は、
それぞれの前記変換器について、前記変換器から出力された電気信号の値と、前記汚れがない場合に前記変換器から出力される電気信号の値との差分を算出し、それぞれの前記変換器について算出された前記差分の和から求まる値が、予め定められた閾値以上である場合に、前記コネクタと前記ポートとの間に前記汚れが存在すると判定することを特徴とする請求項1から4のいずれか一項に記載の検査装置。 - 前記出力部には、第1の方向に所定間隔で並ぶ複数の前記変換器を含む列が、前記第1の方向とは異なる第2の方向に所定間隔で複数配置されており、
前記判定部は、
前記反射部で反射した前記光を受光した前記変換器である第1の変換器と、前記反射部で反射した前記光を受光していない前記変換器である第2の変換器とを検出し、前記第1の方向に並ぶ複数の前記変換器を含むそれぞれの前記列において、2つの前記第1の変換器の間に少なくとも1つの前記第2の変換器が配置されている前記第1の変換器の組毎に、前記第1の変換器の組の間に配置されている前記第2の変換器の数を特定し、特定した前記第2の変換器の数が前記第1の変換器の組の間で異なる場合に、前記コネクタと前記ポートとの間に前記汚れが存在すると判定することを特徴とする請求項1から4のいずれか一項に記載の検査装置。 - 前記出力部には、第1の方向に所定間隔で並ぶ複数の前記変換器を含む列が、前記第1の方向とは異なる第2の方向に所定間隔で複数配置されており、
前記判定部は、
前記位置毎の前記光量に対応する電気信号を特徴ベクトルとして算出し、算出した特徴ベクトルと、前記コネクタと前記ポートとの間に前記汚れがない場合の特徴ベクトルとの類似度と、前記コネクタと前記ポートとの間に前記汚れがある場合の特徴ベクトルとの類似度とに基づいて、前記コネクタと前記ポートとの間の汚れの有無を判定することを特徴とする請求項1から4のいずれか一項に記載の検査装置。 - 複数の光ファイバをポートに接続するコネクタと、前記ポートとの間に配置される反射パターン検出部と、前記反射パターン検出部からの出力に基づいて、前記コネクタと前記ポートとの間の汚れの有無を判定する判定部とを有する検査装置の検査方法において、
前記判定部は、
前記反射パターン検出部によって、前記複数の光ファイバから出力されるそれぞれの光を前記ポートへ透過させ、前記ポートで反射したそれぞれの前記光をさらに反射させ、さらに反射したそれぞれの前記光の光量を複数の変換器により、それぞれの変換器が配置されたそれぞれの位置における電気信号として出力された信号を取得し、
前記反射パターン検出部から出力されたそれぞれの前記位置における前記光量の分布に基づいて、前記コネクタと前記ポートとの間の汚れの有無を判定する
処理を実行することを特徴とする検査方法。
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JP2016201153A JP2018063160A (ja) | 2016-10-12 | 2016-10-12 | 検査装置および検査方法 |
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Families Citing this family (2)
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---|---|---|---|---|
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US6615072B1 (en) * | 1999-02-04 | 2003-09-02 | Olympus Optical Co., Ltd. | Optical imaging device |
TWI234658B (en) * | 2000-11-02 | 2005-06-21 | Tb Optical Co Ltd | Photosensor device and disk inspection apparatus using it |
US6831738B2 (en) * | 2001-06-26 | 2004-12-14 | Adc Telecommunications, Inc. | Method and apparatus for inspecting end surfaces on optical connectors |
US20030026567A1 (en) * | 2001-08-01 | 2003-02-06 | Schott Communications Technologies, Inc. | Graded index fiber, array and method of manufacture |
US6989895B2 (en) * | 2002-03-18 | 2006-01-24 | Mike Buzzetti | Automated fiber optic inspection system |
US6954262B2 (en) * | 2002-03-18 | 2005-10-11 | Mike Buzzetti | Automated fiber optic inspection system |
JP3922085B2 (ja) * | 2002-04-25 | 2007-05-30 | ヤマハ株式会社 | 光ファイバ束の保持構造 |
US6963062B2 (en) * | 2003-04-07 | 2005-11-08 | Eksigent Technologies, Llc | Method for multiplexed optical detection including a multimode optical fiber in which propagation modes are coupled |
WO2013117497A1 (en) | 2012-02-07 | 2013-08-15 | Tyco Electronics Raychem Bvba | Visually inspecting optical fibers |
KR102082302B1 (ko) * | 2014-09-02 | 2020-02-27 | 삼성전자주식회사 | 엑스선 검출 장치 및 엑스선 장치 |
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2016
- 2016-10-12 JP JP2016201153A patent/JP2018063160A/ja active Pending
-
2017
- 2017-09-07 US US15/697,482 patent/US10088434B2/en not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110967164A (zh) * | 2018-09-28 | 2020-04-07 | 梅州亚力盛电子有限公司 | 一种网线故障检测分析装置 |
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