JP2018036220A - 放射イミュニティ試験装置および放射イミュニティ試験方法 - Google Patents
放射イミュニティ試験装置および放射イミュニティ試験方法 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】 本発明の第1の態様は、放射イミュニティ試験装置において、電波を放射する放射素子と、互いに交差する第1の方向および第2の方向に前記放射素子を移動させる移動手段と、前記電波を放射した状態で前記放射素子が前記第1の方向に一定速度で移動するように、前記移動手段を制御する制御手段と、を備えるようにしたものである。
【選択図】図2
Description
図6は、比較例に係る放射イミュニティ試験方法の概要を示している。比較例に係る放射イミュニティ試験方法では、図6に示すように、被試験装置69に対して、その近傍に位置するアンテナ61から電波を放射する。アンテナ61が放射する電波の電界強度は距離に反比例し、距離が離れるにつれて急激に減衰する。このため、被試験装置69の表面位置において電波の電界強度が規定の範囲内にある領域は、被試験装置69の表面(試験範囲に対応する)よりも小さい。ある面内で電界強度が規定の範囲内にある領域を均一電界面と呼ぶ。図7に均一電界面について示す。図7において、−1[dB]と書かれた領域は、この平面で電界強度の最大値からの偏差が−1[dB]以内である領域を示す。均一電界面は、電界強度の最大値からの偏差が例えば−4[dB]以内である領域と規定される。
本実施形態では、アンテナ11から電波を放射しながら、移動装置12によりアンテナ11を移動させる。例えば、被試験装置29の表面の左上部分に対向するアンテナ11を右に移動し、被試験装置29の表面の右端部分に到達したら下に移動してさらに左に移動し、被試験装置29の表面の左端部分に到達したら下に移動するなどのようにする。ここで、アンテナ11を下に移動させる距離は、印加範囲の縦方向の寸法に一致する。このようにして、被試験装置29の表面を網羅的に走査する。
Claims (6)
- 電波を放射する放射素子と、
互いに交差する第1の方向および第2の方向に前記放射素子を移動させる移動手段と、
前記電波を放射した状態で前記放射素子が前記第1の方向に一定速度で移動するように、前記移動手段を制御する制御手段と、
を備える放射イミュニティ試験装置。 - 前記制御手段は、試験範囲の一端から印加範囲の寸法の半分だけ外側から前記試験範囲の他端から前記印加範囲の寸法の半分だけ外側まで前記第1の方向に前記放射素子を移動させることと、前記印加範囲の寸法だけ前記第2の方向に前記放射素子を移動させることと、を行い、前記印加範囲は、前記放射素子と前記試験範囲との間の距離に基づいて設定される、請求項1に記載の放射イミュニティ試験装置。
- 前記電波の波長をλとすると、前記放射素子と試験範囲との距離がλ/2πより小さくなるように前記移動手段が設置される、請求項1に記載の放射イミュニティ試験装置。
- 電波を放射する放射素子と、互いに交差する第1の方向および第2の方向に前記放射素子を移動させる移動手段と、を備える放射イミュニティ試験装置によって実行される放射イミュニティ試験方法であって、
前記電波を放射した状態で前記放射素子が前記第1の方向に一定速度で移動するように、前記移動手段を制御する放射イミュニティ試験方法。 - 前記移動手段を制御することは、試験範囲の一端から印加範囲の寸法の半分だけ外側から前記試験範囲の他端から前記印加範囲の寸法の半分だけ外側まで前記第1の方向に前記放射素子を移動させることと、前記印加範囲の寸法だけ前記第2の方向に前記放射素子を移動させることと、を含み、前記印加範囲は、前記放射素子と前記試験範囲との間の距離に基づいて設定される、請求項4に記載の放射イミュニティ試験方法。
- 前記放射素子と試験範囲との距離がλ/2πより小さくなるように前記移動手段を設置することをさらに備え、λは前記電波の波長である、請求項4に記載の放射イミュニティ試験方法。
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Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09311153A (ja) * | 1996-05-24 | 1997-12-02 | Mitsubishi Electric Corp | アンテナタワーおよびこれを利用した放射イミュニティ試験設備 |
JP2000193699A (ja) * | 1998-12-28 | 2000-07-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電磁波照射装置 |
JP2003307536A (ja) * | 2002-04-16 | 2003-10-31 | Denso Emc Engineering Service Corp | 電磁波影響検査システム |
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2016
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09311153A (ja) * | 1996-05-24 | 1997-12-02 | Mitsubishi Electric Corp | アンテナタワーおよびこれを利用した放射イミュニティ試験設備 |
JP2000193699A (ja) * | 1998-12-28 | 2000-07-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電磁波照射装置 |
JP2003307536A (ja) * | 2002-04-16 | 2003-10-31 | Denso Emc Engineering Service Corp | 電磁波影響検査システム |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN117517847A (zh) * | 2024-01-04 | 2024-02-06 | 南京纳特通信电子有限公司 | 一种小型化可移动k波段宽带辐射测试系统及方法 |
CN117517847B (zh) * | 2024-01-04 | 2024-04-09 | 南京纳特通信电子有限公司 | 一种小型化可移动k波段宽带辐射测试系统及方法 |
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