JP2017537329A - シンチレータベースの放射線検出器のための性能安定化 - Google Patents
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Abstract
Description
本出願は、2014年10月23日に出願された先行出願の米国仮特許出願第62/067,769号明細書の優先権を主張する。
y_e[n]=(y[n]−y_dc)
を実行する。
n*dE<=E<(n+I)*dE
と表現される。
Claims (11)
- 変動温度環境でシンチレーション検出器のための多チャネル分析器の性能を安定させる方法であって、
・積分時間を変えることによってシンチレータパルス中の光の大部分を常に測定することにより、シンチレータ光パルス波形の温度誘導変化を補償するステップと、
・パイルアップ除去パラメータを変えることにより、前記シンチレータ光パルス波形が温度変化に起因して変化するときにパイルアップ除去性能を維持するステップと
を含む方法。 - 光−電気変換器の利得を調節することにより、前記光−電気変換器の温度誘導利得シフトを補償するステップをさらに含む、請求項1に記載の変動温度環境でシンチレーション検出器のための多チャネル分析器の性能を安定させる方法。
- 前記光−電気変換器の前記利得を調節することにより、前記光−電気変換器の前記温度誘導利得シフトを補償するステップは、利得調節対温度のルックアップテーブルによって実行される、請求項2に記載の変動温度環境でシンチレーション検出器のための多チャネル分析器の性能を安定させる方法。
- 前記光−電気変換器の利得を調節することにより、前記光−電気変換器の前記温度誘導利得シフトを補償するステップは、実験的に事前に決定された関数に従って前記光−電気変換器の前記利得を調節することによって実行される、請求項2に記載の変動温度環境でシンチレーション検出器のための多チャネル分析器の性能を安定させる方法。
- 前記光−電気変換器利得は、動作電圧または電子的もしくはデジタル利得を変化させることによって調節される、請求項2に記載の変動温度環境でシンチレーション検出器のための多チャネル分析器の性能を安定させる方法。
- 前記積分時間を変えることによってシンチレータパルス中の前記光の大部分を常に測定することにより、シンチレータ光パルス波形の前記温度誘導変化を補償するステップは、実験的に事前に決定された関数に従って温度の関数として前記積分時間を変えることによって行われる、請求項1に記載の変動温度環境でシンチレーション検出器のための多チャネル分析器の性能を安定させる方法。
- 前記積分時間を変えることによってシンチレータパルス中の前記光の大部分を常に測定することにより、シンチレータ光パルス波形の前記温度誘導変化を補償するステップは、積分時間対温度のルックアップテーブルの使用によって行われる、請求項1に記載の変動温度環境でシンチレーション検出器のための多チャネル分析器の性能を安定させる方法。
- 前記シンチレータ光パルス波形が温度変化に起因して変化するときにパイルアップ除去性能を維持する前記ステップは、実験的に事前に決定された関数に従って予想されるパルス長に積分時間を調節した後に、パイルアップ除去パラメータを推定することによって行われる、請求項1に記載の変動温度環境でシンチレーション検出器のための多チャネル分析器の性能を安定させる方法。
- 前記シンチレータ光パルス波形が温度変化に起因して変化するときにパイルアップ除去性能を維持する前記ステップは、ルックアップテーブルに従って予想されるパルス長に積分時間を調節した後に、パイルアップ除去パラメータを推定することによって行われる、請求項1に記載の変動温度環境でシンチレーション検出器のための多チャネル分析器の性能を安定させる方法。
- 内部温度センサは、シンチレーション検出器温度を測定し、および信号プロセッサは、前記温度を使用して、検出器性能を安定させるパラメータ値を決定する、請求項1に記載の方法。
- 外部センサおよびプロセッサ上のソフトウェアは、シンチレーション検出器温度を測定し、温度依存性係数を決定し、かつシンチレータの信号プロセッサに前記更新された係数を書き込む、請求項1に記載の方法。
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