JP2017528244A - スペクトル投影拡張 - Google Patents
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Abstract
Description
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- 検査領域の横軸に沿って配置されるスペクトル検出器のセット及び積分検出器のセットを有するハイブリッドデータ検出器アレイを含む、イメージングシステムのハイブリッドデータ検出システムによって、放射線を受信するステップと、
前記スペクトル検出器の第1のセットを用いて、不完全なスペクトル投影のセットを発生させるステップと、
前記積分検出器のスペクトル投影のセットを推定するステップと、
前記不完全なスペクトル投影のセットと、推定された前記スペクトル投影のセットとを組み合わせるステップと、
スペクトル投影の完全なセットを生成するように、前記組み合わせられたセットに基づいて、スペクトル投影のセットを推定するステップと、
ボリュメトリック画像データを発生させるように、前記スペクトル投影の完全なセットを処理するステップと、
を含む、方法。 - 前記積分検出器のセットについて、前記スペクトル検出器のセットから補完的スペクトル投影のセットを決定するステップと、
前記補完的スペクトル投影のセットに基づいて、前記積分検出器の前記スペクトル投影のセットを推定するステップと、
を更に含む、請求項1に記載の方法。 - 前記補完的スペクトル投影のセットについて、実効第1エネルギービン吸収と、実効第2エネルギービン吸収とを決定するステップと、
前記補完的スペクトル投影のセットの前記実効第1エネルギービン吸収と、前記実効第2エネルギービン吸収とに基づいて、前記積分検出器の前記スペクトル投影のセットを推定するステップと、
を更に含む、請求項2に記載の方法。 - 前記実効第1エネルギービン吸収は、実効光電子吸収であり、前記実効第2エネルギービン吸収は、実効コンプトン散乱吸収である、請求項3に記載の方法。
- 強度測定結果をマッチさせるために、前記積分検出器のセットの前記強度測定結果に基づいて、前記補完的スペクトル投影のセットの前記実効第1エネルギービン吸収と、前記実効第2エネルギービン吸収とをスケーリングするステップと、
スケーリングされた前記実効第1エネルギービン吸収と、スケーリングされた前記実効第2エネルギービン吸収とに基づいて、前記積分検出器の前記スペクトル投影のセットを推定するステップと、
を更に含む、請求項3又は4に記載の方法。 - 前記積分検出器のセットの前記実効第1エネルギービン吸収及び前記実効第2エネルギービン吸収を、それぞれ、スケーリングされた前記実効第1エネルギービン吸収及びスケーリングされた前記実効第2エネルギービン吸収として推定するステップを更に含む、請求項5に記載の方法。
- 前記補完的スペクトル投影のセットの実効第1エネルギービン吸収の実効第2エネルギービン吸収に対する比率を決定するステップと、
前記比率に基づいて、前記積分検出器の前記スペクトル投影のセットを推定するステップと、
を更に含む、請求項3に記載の方法。 - 前記実効第1エネルギービン吸収は、実効光電子吸収であり、前記実効第2エネルギービン吸収は、実効コンプトン散乱吸収である、請求項7に記載の方法。
- 前記強度測定結果をマッチさせるために、前記積分検出器のセットの前記強度測定結果に基づいて、前記比率をスケーリングするステップと、
スケーリングされた前記比率に基づいて、前記積分検出器の前記スペクトル投影のセットを推定するステップと、
を更に含む、請求項7又は8に記載の方法。 - エネルギー積分検出器のセットの吸収投影のセットを発生させるステップと、
前記スペクトル検出器のセットから補完的スペクトル投影のセットを発生させるステップと、
前記吸収投影のセットの前記補完的スペクトル投影のセットに対する比率に基づいて、前記積分検出器のスペクトル投影のセットを推定するステップと、
を更に含む、請求項2に記載の方法。 - 前記吸収投影のセットの対数の前記補完的スペクトル投影のセットの対数に対する比率に基づいて、前記積分検出器の前記スペクトル投影のセットを推定するステップを更に含む、請求項10に記載の方法。
- 前記補完的スペクトル投影のセットを決定するために、Choマッチングを使用するステップを更に含む、請求項2乃至11の何れか一項に記載の方法。
- 放射線を放出する放射線源と、
ハイブリッド検出器アレイの中心領域に対して非対称に配置され、不完全なスペクトル投影を発生させるスペクトル検出器と、積分検出器とを含む、放射線を受信する前記ハイブリッド検出器アレイと、
前記積分検出器のスペクトル投影を推定し、スペクトル投影の完全なセットを生成するように、前記不完全なスペクトル投影と推定された前記スペクトル投影とを組み合わせ、ボリュメトリック画像データを発生させるように、前記スペクトル投影の完全なセットを処理する再構成器と、
を含む、イメージングシステム。 - 前記スペクトル検出器のセットは、小視野に対する投影の完全なセットと、大視野に対する前記不完全なスペクトル投影とを生成する、請求項13に記載のイメージングシステム。
- プロセッサは、前記スペクトル検出器から前記積分検出器の補完的スペクトル投影を決定し、前記補完的スペクトル投影の実効第1エネルギービン吸収及び実効第2エネルギービン吸収を決定し、前記積分検出器の強度測定結果に基づいて、前記補完的スペクトル投影のセットの前記実効第1エネルギービン吸収及び前記実効第2エネルギービン吸収をスケーリングし、前記補完的スペクトル投影のセットのスケーリングされた前記実効第1エネルギービン吸収及びスケーリングされた前記実効第2エネルギービン吸収に基づいて、前記積分検出器の前記スペクトル投影を推定する、請求項13又は14に記載のイメージングシステム。
- プロセッサは、前記スペクトル検出器から前記積分検出器の補完的スペクトル投影を発生させ、前記補完的スペクトル投影の実効第1エネルギービン吸収と実効第2エネルギービン吸収との比率を決定し、前記積分検出器の強度測定結果に基づいて、前記比率をスケーリングし、スケーリングされた前記比率に基づいて、前記積分検出器の前記スペクトル投影を推定する、請求項13又は14に記載のイメージングシステム。
- 前記実効第1エネルギービン吸収は、実効光電子吸収であり、前記実効第2エネルギービン吸収は、実効コンプトン散乱吸収である、請求項15又は16に記載のイメージングシステム。
- プロセッサは、前記積分検出器によって発生される吸収投影を取得し、前記吸収投影の前記補完的スペクトル投影のセットに対する比率に基づいて、前記積分検出器の前記スペクトル投影を推定する、請求項13又は14に記載のイメージングシステム。
- プロセッサは、前記積分検出器によって発生される吸収投影を取得し、前記吸収投影の対数の前記補完的スペクトル投影の対数に対する比率に基づいて、前記積分検出器の前記スペクトル投影を推定する、請求項13又は14に記載のイメージングシステム。
- 命令を格納するメモリと、
前記命令を実行するプロセッサと、
を含み、
前記プロセッサは、前記命令の実行に反応して、
スペクトル検出器及び積分検出器を含む検出器アレイから、不完全なスペクトル投影及び積分投影を受信し、
前記積分検出器に対する前記スペクトル検出器の補完的スペクトル投影に基づいて、前記積分検出器のスペクトル投影を推定し、
スペクトル投影の完全なセットを生成するために、前記不完全なスペクトル投影及び推定された前記スペクトル投影を組み合わせる、装置。
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