JP2017501661A - Rf高電力発生のための装置および方法 - Google Patents
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Abstract
Description
・番号kのモジュールがスイッチオン状態にされており、振幅Akおよび位相Ψkを有するRF信号を生成し、ここで番号kの対応するRFスイッチは通過状態に切り替えられている。また、全ての他のモジュールはオフ状態にされており、かつ/または、対応するRFスイッチは負荷状態にあり、ここでは、対応するモジュールからの信号は通過しない
・振幅Akおよび位相Ψkを、振幅および位相検出器によって測定する
Claims (13)
- RF高電力発生のための装置(1)であって、
当該装置は、複数のRF入力側(3)と少なくとも1つのRF出力側(4)とを備えている少なくとも1つの電力結合器(2)と、少なくとも2つの電力増幅器モジュール(5)とを含んでおり、当該少なくとも2つの電力増幅器モジュール(5)はそれぞれ、少なくとも1つの伝送線路(6)によって、前記少なくとも1つの電力結合器(2)の入力側(3)に電気的に接続されている、RF高電力発生のための装置において、
少なくとも1つのRFスイッチ(7)が前記少なくとも1つの伝送線路(6)に含まれており、少なくとも1つの方向性結合器(8)が、前記少なくとも1つの電力結合器(2)の前記少なくとも1つのRF出力側(4)に電気的に接続されている、
ことを特徴とする、RF高電力発生のための装置。 - 前記RFスイッチ(7)は外部からコントロールされるRFスイッチ(7)であって、特に、前記RFスイッチ(7)の種類はPINダイオードまたは機械的なスイッチであり、前記RFスイッチ(7)は特に、スイッチオフ状態において、50オームの範囲のオーム抵抗を有する、請求項1記載の装置(1)。
- 少なくとも1つの負荷(11)が含まれており、当該負荷(11)は、前記少なくとも1つの電力結合器(2)の前記少なくとも1つのRF出力側(4)に前記少なくとも1つの方向性結合器(8)を介して電気的に接続されており、前記方向性結合器(8)は、特に、少なくとも1つの出力伝送線路(6’)に含まれている、請求項1または2記載の装置(1)。
- 前記少なくとも1つの方向性結合器(8)からの測定値を記憶するためのデバイスが含まれており、当該デバイスは特に、EPROMを有するコントロールユニットである、請求項1から3までのいずれか1項記載の装置(1)。
- 振幅ADCおよび位相ΨDC検出器(9)が特にコントロールユニットに含まれており、当該コントロールユニットは、前記少なくとも1つの方向性結合器(8)に電気的に接続されており、特に前記少なくとも1つの方向性結合器(8)の順方向信号出力側に接続されている、請求項1から4までのいずれか1項記載の装置(1)。
- 特に、請求項1から5までのいずれか1項記載の装置(1)によるRF高電力発生のための方法であって、当該方法は、
少なくとも1つのデバイス(8,9)によって、少なくとも1つのRFスイッチ(7)を介して少なくとも1つの電力結合器(2)に電気的に接続されている複数の電力増幅器モジュール(5)の補正のための複数の値を測定し、特定するステップと、
前記複数の値をそれぞれ記憶し、前記電力増幅器モジュール(5)への入力信号に対する補正として使用するステップとを含む、
ことを特徴とする、RF高電力発生のための方法。 - 前記特定された、かつ/または、使用された値は、基準モジュールrと比較した、各電力増幅器モジュール(5)それぞれに対する振幅減衰ΔAiおよび位相シフトΔΨiを含んでいる、請求項6記載の方法。
- N個の電力増幅器モジュール(5)それぞれに対する補正のために値を測定するステップを含んでおり、
・番号kのモジュールがスイッチオン状態にされており、振幅Akおよび位相Ψkを有するRF信号を生成し、ここで番号kの対応するRFスイッチは通過状態に切り替えられており、全ての他のモジュールはオフ状態にされており、かつ/または、対応するRFスイッチは負荷状態にあり、当該負荷状態では、対応する前記モジュールからの信号は通過せず、
・振幅Akおよび位相Ψkを、振幅および位相検出器(9)によって測定する、請求項6または7記載の方法。 - 前記値、振幅Akおよび位相Ψkを全てのモジュールに対して測定し、当該値をそれぞれ記憶し、1つのモジュールrの値を基準値として選択し、他の全てのモジュールに対して、振幅減衰ΔAiおよび位相シフトΔΨiを、前記基準モジュールrの値に対する差分値として特定する、請求項8記載の方法。
- 最初に測定されたモジュールを基準モジュールとして選択し、かつ/または、全ての他のモジュールの値を、当該最初に測定されたモジュールの値と比較し、特に、モジュールkの各測定後に振幅差ΔAiと位相差ΔΨiを特定および記憶し、特にこの際に、前記基準モジュールrを除いて、振幅Akおよび位相Ψkを記憶しない、請求項9記載の方法。
- 全てのモジュール(5)に対して、相次いで、振幅Akおよび位相Ψkをそれぞれ測定し、かつ、記憶し、
基準モジュールrを選択し、当該基準モジュールrは特に、全てのモジュール(5)の平均値に最も近い値を有するモジュールであり、
前記基準モジュールrの値に対して相対的な振幅減衰ΔAiおよび位相シフトΔΨiを各モジュールkに対して特定し、かつ、記憶する、請求項9記載の方法。 - 当該方法は、特にコンピューターによってコントロールされる自動化された方法である、かつ/または、特に製造または保守の間に行われる手動による方法である、請求項6から11までのいずれか1項記載の方法。
- 当該方法は、ある期間の後に、特に定期的に繰り返される、請求項6から12までいずれか1項記載の方法。
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