JP2017207831A - 部品配置設計プログラム、情報処理装置、および部品配置設計方法 - Google Patents
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図2は、複数の部品を実装した装置における環境温度を説明する図である。
ここでは、動作保証温度が環境温度Taで規定されたTa規定部品Aについて考える。ここで、部品Aの動作保証温度、すなわち部品Aが正常に動作する環境温度Taの最大値(許容環境温度)Tamaxが85度であるとする。すなわち、部品Aは、環境温度Taが85度以下の場合に正常に動作可能であるとする。
過剰設計の例と同様に、動作保証温度が環境温度Taで規定されたTa規定部品Aについて考える。ここで、部品Aの動作保証温度、すなわち部品Aが正常に動作する環境温度Taの最大値(許容環境温度)Tamaxが85度であるとする。
図5は、実施の形態に係る情報処理装置が実現する論理構成図である。
解析部121は、部品単体および部品を備える装置のそれぞれの熱解析を行い、部品単体および装置内の部品のそれぞれのジャンクション温度を算出する。
ここでは、Tj規定部品、Tc規定部品、およびTa規定部品を備える装置(例えば、通信装置やサーバ等)の設計を行う場合について説明する。
環境温度がTaの時の部品のジャンクション温度Tjを算出する簡易式は下記のようになる。
実施の形態の情報処理装置101は、例えば、図10に示すような情報処理装置(コンピュータ)1によって実現可能である。
(付記1)
第1の電子部品が単体で実装された基板をモデル化して熱解析を行うことにより所定の環境温度で前記第1の電子部品が動作している状態における前記第1の電子部品の第1の内部温度を算出し、
前記第1の電子部品および第2の電子部品を含む装置をモデル化して熱解析を行うことにより前記装置が稼動状態における前記装置内の前記第1の電子部品の第2の内部温度を算出し、
前記第1の内部温度と前記第2の内部温度を比較し、
前記第1の内部温度と前記第2の内部温度を比較した結果に基づいて、前記装置内の前記第1の電子部品は動作可能であると判定する
処理をコンピュータに実行させる部品配置設計プログラム。
(付記2)
前記判定する処理は、前記第2の内部温度が前記第1の内部温度以下の場合に、前記装置内の前記第1の電子部品は動作可能であると判定することを特徴とする付記1記載の部品配置設計プログラム。
(付記3)
前記所定の環境温度は、前記第1の電子部品に対して規定されている前記第1の電子部品が動作可能な環境温度の最大値であることを特徴とする付記1または2記載の部品配置設計プログラム。
(付記4)
前記第1の内部温度を算出する処理において、前記第1の電子部品の熱抵抗の値を0として熱解析を行うことを特徴とする付記1乃至3のいずれか1項に記載の部品配置設計プログラム。
(付記5)
第1の電子部品が単体で実装された基板をモデル化して熱解析を行うことにより所定の環境温度で前記第1の電子部品が動作している状態における前記第1の電子部品の第1の内部温度を算出し、前記第1の電子部品および第2の電子部品を含む装置をモデル化して熱解析を行うことにより前記装置が稼動状態における前記装置内の前記第1の電子部品の第2の内部温度を算出する解析部、
前記第1の内部温度と前記第2の内部温度を比較し、前記第1の内部温度と前記第2の内部温度を比較した結果に基づいて、前記装置内の前記第1の電子部品は動作可能であると判定する判定部と、
を備える情報処理装置。
(付記6)
前記判定部は、前記第2の内部温度が前記第1の内部温度以下の場合に、前記装置内の前記第1の電子部品は動作可能であると判定することを特徴とする付記5記載の情報処理装置。
(付記7)
前記所定の環境温度は、前記第1の電子部品に対して規定されている前記第1の電子部品が動作可能な環境温度の最大値であることを特徴とする付記5または6記載の情報処理装置。
(付記8)
前記解析部は、前記第1の電子部品の熱抵抗の値を0として熱解析を行うことを特徴とする付記5乃至7のいずれか1項に記載の情報処理装置。
(付記9)
第1の電子部品が単体で実装された基板をモデル化して熱解析を行うことにより所定の環境温度で前記第1の電子部品が動作している状態における前記第1の電子部品の第1の内部温度を算出し、
前記第1の電子部品および第2の電子部品を含む装置をモデル化して熱解析を行うことにより前記装置が稼動状態における前記装置内の前記第1の電子部品の第2の内部温度を算出し、
前記第1の内部温度と前記第2の内部温度を比較し、
前記第1の内部温度と前記第2の内部温度を比較した結果に基づいて、前記装置内の前記第1の電子部品は動作可能であると判定する
処理を備える部品配置設計方法。
(付記10)
前記判定する処理は、前記第2の内部温度が前記第1の内部温度以下の場合に、前記装置内の前記第1の電子部品は動作可能であると判定することを特徴とする付記9記載の部品配置設計方法。
(付記11)
前記所定の環境温度は、前記第1の電子部品に対して規定されている前記第1の電子部品が動作可能な環境温度の最大値であることを特徴とする付記9または10記載の部品配置設計方法。
(付記12)
前記第1の内部温度を算出する処理において、前記第1の電子部品の熱抵抗の値を0として熱解析を行うことを特徴とする付記9乃至10のいずれか1項に記載の部品配置設計方法。
111 モデル作成部
121 解析部
131 判定部
141 記憶部
Claims (6)
- 第1の電子部品が単体で実装された基板をモデル化して熱解析を行うことにより所定の環境温度で前記第1の電子部品が動作している状態における前記第1の電子部品の第1の内部温度を算出し、
前記第1の電子部品および第2の電子部品を含む装置をモデル化して熱解析を行うことにより前記装置が稼動状態における前記装置内の前記第1の電子部品の第2の内部温度を算出し、
前記第1の内部温度と前記第2の内部温度を比較し、
前記第1の内部温度と前記第2の内部温度を比較した結果に基づいて、前記装置内の前記第1の電子部品は動作可能であると判定する
処理をコンピュータに実行させる部品配置設計プログラム。 - 前記判定する処理は、前記第2の内部温度が前記第1の内部温度以下の場合に、前記装置内の前記第1の電子部品は動作可能であると判定することを特徴とする請求項1記載の部品配置設計プログラム。
- 前記所定の環境温度は、前記第1の電子部品に対して規定されている前記第1の電子部品が動作可能な環境温度の最大値であることを特徴とする請求項1または2記載の部品配置設計プログラム。
- 前記第1の内部温度を算出する処理において、前記第1の電子部品の熱抵抗の値を0として熱解析を行うことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の部品配置設計プログラム。
- 第1の電子部品が単体で実装された基板をモデル化して熱解析を行うことにより所定の環境温度で前記第1の電子部品が動作している状態における前記第1の電子部品の第1の内部温度を算出し、前記第1の電子部品および第2の電子部品を含む装置をモデル化して熱解析を行うことにより前記装置が稼動状態における前記装置内の前記第1の電子部品の第2の内部温度を算出する解析部と、
前記第1の内部温度と前記第2の内部温度を比較し、前記第1の内部温度と前記第2の内部温度を比較した結果に基づいて、前記装置内の前記第1の電子部品は動作可能であると判定する判定部と、
を備える情報処理装置。 - 第1の電子部品が単体で実装された基板をモデル化して熱解析を行うことにより所定の環境温度で前記第1の電子部品が動作している状態における前記第1の電子部品の第1の内部温度を算出し、
前記第1の電子部品および第2の電子部品を含む装置をモデル化して熱解析を行うことにより前記装置が稼動状態における前記装置内の前記第1の電子部品の第2の内部温度を算出し、
前記第1の内部温度と前記第2の内部温度を比較し、
前記第1の内部温度と前記第2の内部温度を比較した結果に基づいて、前記装置内の前記第1の電子部品は動作可能であると判定する
処理を備える部品配置設計方法。
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