JP2017194436A - Impulse response measuring device and measuring method thereof - Google Patents
Impulse response measuring device and measuring method thereof Download PDFInfo
- Publication number
- JP2017194436A JP2017194436A JP2016086597A JP2016086597A JP2017194436A JP 2017194436 A JP2017194436 A JP 2017194436A JP 2016086597 A JP2016086597 A JP 2016086597A JP 2016086597 A JP2016086597 A JP 2016086597A JP 2017194436 A JP2017194436 A JP 2017194436A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- pulse light
- probe pulse
- probe
- local
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Abstract
Description
本開示は、光学デバイスのインパルスレスポンスを測定する測定装置及びその測定方法に関する。 The present disclosure relates to a measurement apparatus that measures an impulse response of an optical device and a measurement method thereof.
光学デバイスのインパルスレスポンス測定方法について、非特許文献１記載の方法が知られている。狭線幅ＣＷレーザをマスターレーザとして、２つの周波数コム発生光源を同期する。２つの周波数コム光源の一方をプローブ光として、もう一方をローカル光とする。参照経路を伝搬したプローブ光と被測定デバイスを伝搬したプローブ光をローカル光と干渉させ、それらの干渉信号を測定する。プローブ光とローカル光は狭線幅レーザによって同期しているため、被測定デバイスを伝搬したプローブ光とローカル光の干渉信号の位相は、参照経路を伝搬したプローブ光とローカル光の干渉信号の位相に対して、参照経路と被測定デバイス間の遅延分位相シフトしている。周波数解析によって、この位相シフト量を解析することで、インパルスレスポンスを測定する。
A method described in Non-Patent
この技術において、狭線幅レーザをマスターレーザとして、プローブ光とローカル光を同期することなく、長距離に及ぶ被測定デバイスのインパルスレスポンスを解析するために、非特許文献２の方法（以下、関連技術と呼ぶ）が考案されている。この方法では、プローブパルスを送信し、被測定デバイスに入射する。被測定デバイスを伝搬したプローブパルス光を受信側に設置したローカルパルスレーザからのローカルパルス光で線形サンプリングし、プローブパルスの振幅・位相を測定する。このとき、両パルスの繰り返し周波数をわずかに離調し、サンプリング点を波形全体にわたって掃引することで、プローブパルス波形全体について振幅と位相を測定する。 In this technique, in order to analyze the impulse response of a device under measurement over a long distance without using the narrow linewidth laser as a master laser and synchronizing the probe light and the local light, the method of Non-Patent Document 2 (hereinafter referred to as related) Called technology). In this method, a probe pulse is transmitted and incident on a device under measurement. The probe pulse light propagated through the device under test is linearly sampled with the local pulse light from the local pulse laser installed on the receiving side, and the amplitude and phase of the probe pulse are measured. At this time, the amplitude and phase of the entire probe pulse waveform are measured by slightly detuning the repetition frequency of both pulses and sweeping the sampling points over the entire waveform.
この測定と同時に、ローカルパルスレーザとは別に、連続光（ＣＷ光）レーザからのＣＷ光を、プローブパルス光、ローカルパルス光それぞれと干渉させる。この干渉の結果から、ＣＷ光との相対的な位相雑音を、プローブパルス光とローカルパルス光についてそれぞれについて測定ができ、それらの差分をとることで、プローブパルス光とローカルパルス光の間の位相雑音を計算できる。この値を使い、プローブパルス光をローカルパルス光で線形サンプリングした際の位相雑音を除去することができ、その結果のプローブパルス光の振幅・位相から、被測定デバイスの精密なインパルス応答を求めることができる。 Simultaneously with this measurement, apart from the local pulse laser, the CW light from the continuous light (CW light) laser is caused to interfere with the probe pulse light and the local pulse light, respectively. From the result of this interference, relative phase noise with the CW light can be measured for each of the probe pulse light and the local pulse light, and by taking the difference between them, the phase between the probe pulse light and the local pulse light can be measured. Noise can be calculated. Using this value, the phase noise when the probe pulse light is linearly sampled with the local pulse light can be removed, and the precise impulse response of the device under test can be obtained from the amplitude and phase of the resulting probe pulse light. Can do.
関連技術では、測定可能な被測定デバイスの群遅延時間差の測定範囲は原理的にはプローブパルス光の周期間隔までである。この測定において、プローブパルス光とＣＷ光の干渉波形のデータを取得するときのクロック信号の周期はローカルパルス光の周期に合わせたものとなる。このとき、ローカルパルス光の周期はプローブパルス光の周期とわずかに異なるため、ＣＷ光とプローブパルス光の干渉波形測定において、サンプリングされる点がずれていき、このときプローブパルス光がその周期全体に広がっていなければ、プローブパルス光が存在しないときにもサンプリングしてしまう、デッドタイムが存在することになる。 In the related art, the measurement range of the group delay time difference of the device under measurement that can be measured is in principle up to the periodic interval of the probe pulse light. In this measurement, the period of the clock signal when acquiring the interference waveform data of the probe pulse light and the CW light is adjusted to the period of the local pulse light. At this time, since the period of the local pulse light is slightly different from the period of the probe pulse light, the sampling points are shifted in the measurement of the interference waveform between the CW light and the probe pulse light. If there is no spread, there will be a dead time for sampling even when no probe pulse light is present.
そのようなことを防ぐために、データ取得時に低周波数透過フィルタ（ＬＰＦ）を用いてプローブパルス波形を広げ、取得したいプローブパルス光とＣＷ光の干渉波形を広げることが考えられる。しかし、周期的に存在するプローブパルス光の波形を重ねることはできないため、周期全体まで広げることはできず、また測定できる群遅延時間差もＬＰＦで広がった程度までしか測定できない。したがって、関連技術での測定可能な群遅延時間差は、プローブパルスの周期間隔よりも小さくなってしまう。 In order to prevent such a situation, it is conceivable to widen the probe pulse waveform by using a low frequency transmission filter (LPF) at the time of data acquisition, and to broaden the interference waveform of the probe pulse light and CW light to be acquired. However, since the waveform of the probe pulse light that exists periodically cannot be overlapped, it cannot be extended to the entire period, and the measurable group delay time difference can be measured only to the extent that it is spread by the LPF. Therefore, the group delay time difference that can be measured in the related art is smaller than the period interval of the probe pulse.
本開示は、ＣＷ光とプローブパルスの干渉波形測定におけるサンプリングタイミングのずれによるデッドタイムを防ぐことを目的とする。 An object of the present disclosure is to prevent a dead time due to a sampling timing shift in measuring an interference waveform between a CW light and a probe pulse.
本開示は、ＣＷ光とプローブパルス光の干渉光をプローブパルス光と同期したサンプリング周波数でデータ取得し、プローブパルス光の周期と同等の値の群遅延時間差のインパルス応答を測定する。 In the present disclosure, the interference light of the CW light and the probe pulse light is acquired at a sampling frequency synchronized with the probe pulse light, and the impulse response of the group delay time difference having a value equivalent to the period of the probe pulse light is measured.
本開示に係るインパルスレスポンス測定装置は、
プローブパルス光を生成するプローブパルス光源と、
ローカルパルス光を生成するローカルパルス光源と、
連続光を生成する連続光源と、
被測定デバイスを通過後のプローブパルス光をローカルパルス光で線形サンプリングし、線形サンプリング後のプローブパルス光の波形の複素振幅及び位相を、第１の干渉信号として、前記ローカルパルス光源からのローカルパルス光の出力タイミングと同期したデータ取得クロック信号を用いてサンプリングして取得する第１の測定部と、
前記被測定デバイスを通過していないプローブパルス光と前記被測定デバイスを通過していない連続光を干渉させて第２の干渉光を生成し、第２の干渉光の波形の複素振幅及び位相を、第２の干渉信号として、前記プローブパルス光源からのプローブパルス光の出力タイミングと同期したデータ取得クロック信号を用いてサンプリングして取得する第２の測定部と、
ローカルパルス光と前記被測定デバイスを通過後の連続光を干渉させて第３の干渉光を生成し、前記第３の干渉光の波形の複素振幅及び位相を、第３の干渉信号として、前記ローカルパルス光源からのローカルパルス光の出力タイミングと同期したデータ取得クロック信号を用いてサンプリングして取得する第３の測定部と、
前記プローブパルス光源と前記被測定デバイスの間に配置され、前記プローブパルス光源からのプローブパルス光を前記第１の測定部用と前記第２の測定部用に分岐する光分岐部と、
前記光分岐部で前記第１の測定部用に分岐されたプローブパルス光のうち、連続光の波長を阻止しかつ前記被測定デバイスに通過させる波長を透過する帯域通過フィルタと、
前記帯域通過フィルタを通過後のプローブパルス光と前記連続光源からの連続光を波長多重する第１の波長多重カプラと、
前記被測定デバイスを通過後のプローブパルス光と連続光を分離し、当該プローブパルス光を前記第１の測定部に出力し、当該連続光を前記第３の測定部に出力する第２の波長多重カプラと、
前記第２の干渉信号を用いて求められるプローブパルス光と連続光の位相雑音の差、及び、前記第３の干渉信号を用いて求められるローカルパルス光と連続光の位相雑音の差、を用いて、前記第１の干渉信号に含まれるプローブパルス光とローカルパルス光の位相雑音の差を除去するインパルスレスポンス解析部と、
を備える。
The impulse response measuring device according to the present disclosure is:
A probe pulse light source for generating probe pulse light;
A local pulse light source for generating local pulse light;
A continuous light source that generates continuous light;
The probe pulse light after passing through the device under test is linearly sampled with the local pulse light, and the complex amplitude and phase of the waveform of the probe pulse light after the linear sampling are used as the first interference signal as a local pulse from the local pulse light source. A first measurement unit that samples and acquires using a data acquisition clock signal synchronized with the light output timing;
The probe pulse light not passing through the device under measurement interferes with the continuous light not passing through the device under test to generate second interference light, and the complex amplitude and phase of the waveform of the second interference light are obtained. A second measurement unit that samples and acquires the second interference signal using a data acquisition clock signal synchronized with the output timing of the probe pulse light from the probe pulse light source;
A local interference light and a continuous light after passing through the device to be measured are caused to interfere to generate a third interference light, and a complex amplitude and a phase of a waveform of the third interference light are used as a third interference signal. A third measurement unit that samples and acquires using a data acquisition clock signal synchronized with the output timing of the local pulse light from the local pulse light source;
An optical branching unit disposed between the probe pulse light source and the device to be measured and branching the probe pulse light from the probe pulse light source for the first measurement unit and the second measurement unit;
Among the probe pulse lights branched for the first measuring unit in the optical branching unit, a band-pass filter that blocks the wavelength of continuous light and transmits the wavelength to be passed to the device under measurement;
A first wavelength multiplexing coupler that wavelength-multiplexes the probe pulse light after passing through the band pass filter and the continuous light from the continuous light source;
A second wavelength for separating the probe pulse light and continuous light after passing through the device under test, outputting the probe pulse light to the first measurement unit, and outputting the continuous light to the third measurement unit A multiple coupler;
Using the difference between the phase noise between the probe pulse light and the continuous light obtained using the second interference signal, and the difference between the phase noise between the local pulse light and the continuous light obtained using the third interference signal. An impulse response analyzer for removing a difference in phase noise between the probe pulse light and the local pulse light included in the first interference signal;
Is provided.
本開示に係るインパルスレスポンス測定方法は、
プローブパルス光を生成するプローブパルス光源と、
ローカルパルス光を生成するローカルパルス光源と、
連続光を生成する連続光源と、
を備えるインパルスレスポンス測定装置が実行するインパルスレスポンス測定方法であって、
前記プローブパルス光源と被測定デバイスの間に配置された光分岐部が、前記プローブパルス光源からのプローブパルス光を第１の測定部用と第２の測定部用に分岐し、帯域通過フィルタが、前記光分岐部で前記第１の測定部用に分岐されたプローブパルス光のうち、連続光の波長を阻止しかつ前記被測定デバイスに通過させる波長を透過し、第１の波長多重カプラが、前記帯域通過フィルタを通過後のプローブパルス光と前記連続光源からの連続光を波長多重し、第２の波長多重カプラが、被測定デバイスを通過後のプローブパルス光と連続光を分離する手順と、
前記第２の波長多重カプラで分離されたプローブパルス光をローカルパルス光で線形サンプリングし、線形サンプリング後のプローブパルス光の波形の複素振幅及び位相を、第１の干渉信号として、前記ローカルパルス光源からのローカルパルス光の出力タイミングと同期したデータ取得クロック信号を用いてサンプリングして取得する第１の測定手順と、
前記被測定デバイスを通過していないプローブパルス光と前記被測定デバイスを通過していない連続光を干渉させて第２の干渉光を生成し、第２の干渉光の波形の複素振幅及び位相を、第２の干渉信号として、前記プローブパルス光源からのプローブパルス光の出力タイミングと同期したデータ取得クロック信号を用いてサンプリングして取得する第２の測定手順と、
ローカルパルス光と前記第２の波長多重カプラで分離された連続光を干渉させて第３の干渉光を生成し、前記第３の干渉光の波形の複素振幅及び位相を、第３の干渉信号として、前記ローカルパルス光源からのローカルパルス光の出力タイミングと同期したデータ取得クロック信号を用いてサンプリングして取得する第３の測定手順と、
前記第２の干渉信号を用いて求められるプローブパルス光と連続光の位相雑音の差、及び、前記第３の干渉信号を用いて求められるローカルパルス光と連続光の位相雑音の差、を用いて、前記第１の干渉信号に含まれるプローブパルス光とローカルパルス光の位相雑音の差を除去するインパルスレスポンス解析手順と、
を備える。
The impulse response measurement method according to the present disclosure includes:
A probe pulse light source for generating probe pulse light;
A local pulse light source for generating local pulse light;
A continuous light source that generates continuous light;
An impulse response measurement method executed by an impulse response measurement device comprising:
An optical branching unit disposed between the probe pulse light source and the device under test branches the probe pulse light from the probe pulse light source into a first measurement unit and a second measurement unit, and a bandpass filter The probe pulsed light branched for the first measuring unit by the optical branching unit transmits a wavelength that blocks the wavelength of continuous light and passes it through the device under test, and the first wavelength multiplexing coupler Steps of wavelength multiplexing the probe pulse light after passing through the band pass filter and the continuous light from the continuous light source, and the second wavelength multiplexing coupler separating the probe pulse light after passing through the device under test and the continuous light When,
The probe pulse light separated by the second wavelength multiplexing coupler is linearly sampled with local pulse light, and the complex pulse amplitude and phase of the probe pulse light after the linear sampling are used as the first interference signal as the local pulse light source. A first measurement procedure for sampling and acquiring using a data acquisition clock signal synchronized with the output timing of the local pulse light from
The probe pulse light not passing through the device under measurement interferes with the continuous light not passing through the device under test to generate second interference light, and the complex amplitude and phase of the waveform of the second interference light are obtained. Sampling as a second interference signal using a data acquisition clock signal synchronized with the output timing of the probe pulse light from the probe pulse light source, and a second measurement procedure;
The third interference light is generated by causing the local pulse light and the continuous light separated by the second wavelength multiplexing coupler to interfere with each other, and the complex amplitude and phase of the waveform of the third interference light are changed to the third interference signal. As a third measurement procedure to sample and acquire using a data acquisition clock signal synchronized with the output timing of the local pulse light from the local pulse light source,
Using the difference between the phase noise between the probe pulse light and the continuous light obtained using the second interference signal, and the difference between the phase noise between the local pulse light and the continuous light obtained using the third interference signal. An impulse response analysis procedure for removing a difference in phase noise between the probe pulse light and the local pulse light included in the first interference signal;
Is provided.
本開示によれば、ＣＷ光とプローブパルス光の干渉光をプローブパルス光と同期したサンプリング周波数でデータ取得するため、プローブパルス光の周期と同等の値の群遅延時間差のインパルス応答を測定することができる。これにより、本開示は、ＣＷ光とプローブパルスの干渉波形測定におけるサンプリングタイミングのずれによるデッドタイムを０にすることができ、より測定レンジの広いインパルスレスポンスの測定が可能となる。 According to the present disclosure, in order to acquire data at the sampling frequency synchronized with the probe pulse light, the interference light of the CW light and the probe pulse light is measured, and the impulse response of the group delay time difference having a value equivalent to the period of the probe pulse light is measured. Can do. Thereby, this indication can make dead time by sampling time shift in measurement of interference waveform of CW light and a probe pulse zero, and can measure an impulse response with a wider measurement range.
以下、本開示の実施形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、本開示は、以下に示す実施形態に限定されるものではない。これらの実施の例は例示に過ぎず、本開示は当業者の知識に基づいて種々の変更、改良を施した形態で実施することができる。なお、本明細書及び図面において符号が同じ構成要素は、相互に同一のものを示すものとする。 Hereinafter, embodiments of the present disclosure will be described in detail with reference to the drawings. In addition, this indication is not limited to embodiment shown below. These embodiments are merely examples, and the present disclosure can be implemented in various modifications and improvements based on the knowledge of those skilled in the art. In the present specification and drawings, the same reference numerals denote the same components.
本開示に係る光学デバイスのインパルスレスポンス測定装置の実施形態を図１に示す。ここで、１−１はプローブパルスレーザ光源、１−２は被測定デバイス、１−３はローカルパルスレーザ光源、１−４はＣＷ光源、１−５−１、１−５−２と１−５−３は光分岐部、１−６−１、１−６−２と１−６−３は光９０度ハイブリッド、１−７−１、１−７−２、１−７−３、１−７−４、１−７−５と１−７−６はバランス型受光器、１−８−１、１−８−２はデータ取得部、１−９はインパルスレスポンス解析部、１−１０−１はプローブパルス光源１−１から出力されるプローブパルス光、１−１０−２はプローブパルス光１−１０−１が帯域通過フィルタ１−１４を通過してスペクトルの一部をカットされた準プローブパルス光、１−１１は被測定デバイス１−２から出力されるプローブパルス光、１−１２はローカルパルスレーザ光源１−３から出力されるローカルパルス光、１−１３−１はローカルパルス光１−１２と同期したデータ取得部１−８−１でのデータ取得クロック信号、１−１３−２はプローブパルス光１−１０と同期したデータ取得部１−８−２でのデータ取得クロック信号、１−１４はプローブパルス光１−１０のスペクトルの一部を取り出す帯域通過フィルタ、１−１５−１、１−１５−２はプローブパルス光１−１０とＣＷ光源１−４からのＣＷ光を合波・分波する波長多重カプラ、１−１６は、ＣＷ光の波形における時差やタイミングを識別するための変調を加える変調部を表す。 An embodiment of an impulse response measuring apparatus for an optical device according to the present disclosure is shown in FIG. Here, 1-1 is a probe pulse laser light source, 1-2 is a device to be measured, 1-3 is a local pulse laser light source, 1-4 is a CW light source, 1-5-1, 1-5-2 and 1- 5-3 is an optical branching portion, 1-6-1, 1-6-2 and 1-6-3 are optical 90-degree hybrids, 1-7-1, 1-7-2, 1-7-3, 1 -7-4, 1-7-5 and 1-7-6 are balanced light receivers, 1-8-1 and 1-8-2 are data acquisition units, 1-9 is an impulse response analysis unit, 1-10 -1 is the probe pulse light output from the probe pulse light source 1-1, and 1-10-2 is the probe pulse light 1-10-1 that has passed through the bandpass filter 1-14 and has been partially cut off from the spectrum. The quasi-probe pulse light, 1-11 is the probe pulse light output from the device under test 1-2, and 1-12 is the local pulse. The local pulse light output from the laser light source 1-3, 1-13-1 is a data acquisition clock signal in the data acquisition unit 1-8-1 synchronized with the local pulse light 1-12, and 1-13-2 is a probe. A data acquisition clock signal in the data acquisition unit 1-8-2 synchronized with the pulsed light 1-10, 1-14 is a band pass filter for extracting a part of the spectrum of the probe pulsed light 1-10, 1-15-1, 1-15-2 is a wavelength multiplexing coupler for multiplexing / demultiplexing the probe pulse light 1-10 and the CW light from the CW light source 1-4, and 1-16 is for identifying the time difference and timing in the waveform of the CW light. This represents a modulation unit for applying the modulation.
まず、スペクトルの配置について説明する。非特許文献２にあるように、線形サンプリングや干渉光測定の際には、合波する光のスペクトルが重なっている必要がある。一方、本開示では、被測定デバイス１−２の通過前にプローブパルス光１−１０−１を光分岐部１−５−１で分岐し、一方でプローブパルス光１−１０−１とＣＷ光の干渉波形を測定し、プローブパルス光１−１０−１の分岐した他方は帯域通過フィルタ１−１４を通りスペクトルの一部をカットし、ＣＷ光を波長多重カプラ１−１５−１で合波して被測定デバイス１−２に入射する。波長多重カプラ１−１５−１による合波・分波を可能にするため、帯域通過フィルタ１−１４によって、被測定デバイス１−２に入射する準プローブパルス光１−１０−２とＣＷ光のスペクトルを離す必要がある。これらの関係をまとめると、図２のようになる。
First, the arrangement of spectra will be described. As described in
次に、図１の構成での被測定デバイス１−２のインパルスレスポンスの測定手順を説明する。基本的には非特許文献２と同等の処理を行う。プローブパルスレーザ光源１−１はプローブパルス光１−１０−１を周期Ｔで、ローカルパルスレーザ光源１−３はローカルパルス光１−１２を周期Ｔ＋ΔＴ（ΔＴ＜＜Ｔ）で送出するとする。
Next, the procedure for measuring the impulse response of the device under measurement 1-2 in the configuration of FIG. 1 will be described. Basically, the same processing as in
光９０度ハイブリッド１−６−１、バランス型受光器１−７−１、１−７−２、データ取得部１−８−１を含む第１の測定部について説明する。被測定デバイス１−２を通過したプローブパルス光１−１１を受信側にあるローカルパルスレーザ光源１−３からのローカルパルス光１−１２で線形サンプリングする。被測定デバイス１−２には、ＣＷ光源１−４からのＣＷ光も入射されているが、被測定デバイス１−２に入射される帯域通過フィルタ１−１４を通過した準プローブパルス光１−１０−２のスペクトルとＣＷ光のスペクトルは図２の通り重ならないため、波長多重カプラ１−１５−１、１−１５−２で問題なく合波、分波できる。このとき、データ取得のサンプリングクロックはローカルパルスレーザ光源１−３がローカルパルス光１−１２を送出する周期Ｔ＋ΔＴと同期したデータ取得クロック信号１−１３−１により取得する。これにより、データ取得部１−８−１は、被測定デバイス１−２のインパルスレスポンスの影響を受けた周期Ｔのプローブパルス光１−１１の波形の複素振幅及び位相を線形サンプリングの原理により取得する。 The first measurement unit including the optical 90-degree hybrid 1-6-1, the balanced light receivers 1-7-1 and 1-7-2, and the data acquisition unit 1-8-1 will be described. The probe pulse light 1-11 that has passed through the device under measurement 1-2 is linearly sampled with the local pulse light 1-12 from the local pulse laser light source 1-3 on the receiving side. Although the CW light from the CW light source 1-4 is also incident on the device under measurement 1-2, the quasi-probe pulsed light 1− that has passed through the band pass filter 1-14 incident on the device under measurement 1-2. Since the spectrum of 10-2 and the spectrum of CW light do not overlap as shown in FIG. 2, they can be multiplexed and demultiplexed without any problem by the wavelength multiplexing couplers 1-15-1 and 1-15-2. At this time, the sampling clock for data acquisition is acquired by the data acquisition clock signal 1-13-1 synchronized with the cycle T + ΔT in which the local pulse laser light source 1-3 transmits the local pulse light 1-12. As a result, the data acquisition unit 1-8-1 acquires the complex amplitude and phase of the waveform of the probe pulse light 1-11 having the period T affected by the impulse response of the device under measurement 1-2 based on the principle of linear sampling. To do.
ところがここで取得したプローブパルス光１−１１の複素振幅及び位相は、もともとのプローブパルス光１−１０−１とローカルパルス光１−１２が持つ位相雑音の影響を、含んでいる。取得するのは干渉信号のため、位相雑音の影響は、プローブパルス光１−１０−１の位相雑音をθＰ、ローカルパルス光１−１２の位相雑音をθＬとすると、次式の形で複素位相に影響する。
（数１）
θＰ−θＬ （１）
However, the complex amplitude and phase of the probe pulse light 1-11 acquired here include the influence of the phase noise of the original probe pulse light 1-10-1 and the local pulse light 1-12. Since the interference signal is acquired, the influence of the phase noise is expressed by the following equation, where θ P is the phase noise of the probe pulse light 1-10-1 and θ L is the phase noise of the local pulse light 1-12. Affects complex phase.
(Equation 1)
θ P −θ L (1)
次に、光９０度ハイブリッド１−６−２、バランス型受光器１−７−３、１−７−４、データ取得部１−８−２を含む第２の測定部について説明する。被測定デバイス１−２に入射しないプローブパルス光１−１０−１とＣＷ光源１−４からのＣＷ光を光９０度ハイブリッド１−６−２で干渉させ、それらのビート信号の複素振幅及び位相を第２の干渉信号としてデータ取得部１−８−２で取得する。このとき、データ取得のサンプリングクロックは、プローブパルスレーザ光源１−１がプローブパルス光１−１０−１を送出する周期Ｔと同期したデータ取得クロック信号１−１３−２により、取得する。このように、本実施形態では、プローブパルス光１−１０−１とＣＷ光の干渉信号を被測定デバイス１−２に入射する前に、プローブパルス光１−１０−１の周期でサンプリングして取得する。これにより、データ取得部１−８−２では、サンプリングのタイミングがずれて、プローブパルス光が存在しないタイミングでサンプリングするようなデッドタイムが存在することはなく、プローブパルス光の位相雑音θＰとＣＷ光源の位相雑音θＣＷの差を、正しく測定することができる。
（数２）
θＰ−θＣＷ （２）
Next, the second measurement unit including the optical 90-degree hybrid 1-6-2, the balance type light receivers 1-7-3 and 1-7-4, and the data acquisition unit 1-8-2 will be described. The probe pulse light 1-10-1 that is not incident on the device under measurement 1-2 and the CW light from the CW light source 1-4 are interfered by the optical 90-degree hybrid 1-6-2, and the complex amplitude and phase of those beat signals Is acquired by the data acquisition unit 1-8-2 as the second interference signal. At this time, the sampling clock for data acquisition is acquired by the data acquisition clock signal 1-13-2 synchronized with the period T in which the probe pulse laser light source 1-1 transmits the probe pulse light 1-10-1. As described above, in the present embodiment, the interference signal between the probe pulse light 1-10-1 and the CW light is sampled at the period of the probe pulse light 1-10-1 before entering the device under test 1-2. get. Thereby, in the data acquisition unit 1-8-2, the sampling timing is shifted, and there is no dead time such that sampling is performed at the timing when the probe pulse light does not exist, and the phase noise θ P of the probe pulse light The difference in the phase noise θ CW of the CW light source can be measured correctly.
(Equation 2)
θ P −θ CW (2)
最後に光９０度ハイブリッド１−６−３、バランス型受光器１−７−５、１−７−６、データ取得部１−８−３を含む第３の測定部について説明する。被測定デバイス１−２を通過し、波長多重カプラ１−１５−２から分離したＣＷ光とローカルパルス光１−１２を光９０度ハイブリッド１−６−３で干渉させ、それらのビート信号の複素振幅及び位相を第３の干渉信号としてデータ取得部１−８−３で取得する。このとき、データ取得のサンプリングクロックはローカルパルスレーザ光源１−３がローカルパルス光１−１２を送出する周期Ｔ＋ΔＴと同期したデータ取得クロック信号１−１３−１により取得する。これにより、データ取得部１−８−３は、周期Ｔ＋ΔＴのローカルパルス光１−１２の位相雑音θＬとＣＷ光の位相雑音θＣＷの差を、測定することができる。
（数３）
θＬ−θＣＷ （３）
Finally, the third measurement unit including the optical 90-degree hybrid 1-6-3, the balance type light receivers 1-7-5 and 1-7-6, and the data acquisition unit 1-8-3 will be described. The CW light that has passed through the device under test 1-2 and separated from the wavelength division multiplexing coupler 1-15-2 and the local pulse light 1-12 are caused to interfere with each other by the optical 90-degree hybrid 1-6-3, and the complex of the beat signal is obtained. The amplitude and phase are acquired as a third interference signal by the data acquisition unit 1-8-3. At this time, the sampling clock for data acquisition is acquired by the data acquisition clock signal 1-13-1 synchronized with the cycle T + ΔT in which the local pulse laser light source 1-3 transmits the local pulse light 1-12. Thus, the data acquisition unit 1-8-3 has a difference in phase noise theta CW phase noise theta L and CW optical local pulse light 1-12 period T + [Delta] T, can be measured.
(Equation 3)
θ L −θ CW (3)
このとき、式（２）と式（３）でのθＣＷは、同じ値である必要があるため、ＣＷ光源１−４から光９０度ハイブリッド１−６−２までの遅延とＣＷ光源１−４から光９０度ハイブリッド１−６−３までの遅延を一致させなければならない。このため、実施形態に係るインパルスレスポンス測定装置は、連続光遅延調整部として機能する変調部１−１６を備える。調整部は、光９０度ハイブリッド１−６−２に用いられるＣＷ光のＣＷ光源１−４からの遅延と光９０度ハイブリッド１−６−３に用いられるＣＷ光のＣＷ光源１−４からの遅延とを一致させる機能を有する。 At this time, since θ CW in Expression (2) and Expression (3) needs to be the same value, the delay from the CW light source 1-4 to the optical 90-degree hybrid 1-6-2 and the CW light source 1- The delay from 4 to the 90 degree optical hybrid 1-6-3 must be matched. For this reason, the impulse response measurement apparatus according to the embodiment includes a modulation unit 1-16 that functions as a continuous light delay adjustment unit. The adjustment unit is configured to delay the CW light used for the optical 90-degree hybrid 1-6-2 from the CW light source 1-4 and the CW light used for the optical 90-degree hybrid 1-6-3 from the CW light source 1-4. It has a function to match the delay.
ＣＷ光の遅延を特定するために、変調部１−１６において、振幅などを一部だけ変調する。例えば、スイッチのように変調器を動作させ、ＣＷ光を瞬間的に遮断するなどしてＣＷ光波形の中で目印となる部分を生成する。これにより、インパルスレスポンス解析部１−９において、光９０度ハイブリッド１−６−２で干渉してサンプリングする点のＣＷ光上での位置を特定することができる。 In order to specify the delay of the CW light, the modulation unit 1-16 modulates only a part of the amplitude and the like. For example, the modulator is operated like a switch to instantaneously cut off the CW light to generate a mark portion in the CW light waveform. As a result, the impulse response analyzing unit 1-9 can identify the position on the CW light at which the light 90-degree hybrid 1-6-2 interferes and samples.
インパルスレスポンス解析部１−９では、変調部１−１６で生成した目印の位置と光９０度ハイブリッド１−６−３で干渉してサンプリングする点を比べて、ＣＷ光の波形上同じ点での位相雑音の差を利用できるよう、式（２）と式（３）の計算において、どちらかの受信信号をシフトさせて計算する。これにより、インパルスレスポンス解析部１−９は、同じ遅延でのθＣＷを使って式（２）と式（３）の差からθＣＷを消すことができ、式（１）で現れるプローブパルス光のローカルパルス光による線形サンプリング波形での位相雑音の差を求めることができる。インパルスレスポンス解析部１−９は、このプローブパルス光とローカルパルス光の位相雑音の差を干渉波形から除去することにより、プローブパルス波形が被測定デバイス１−２から受けたインパルスレスポンスを求めることができる。 In the impulse response analysis unit 1-9, the position of the mark generated by the modulation unit 1-16 and the point sampled by interference with the optical 90-degree hybrid 1-6-3 are compared. In order to use the difference in phase noise, the calculation is performed by shifting one of the received signals in the calculations of Expressions (2) and (3). Thereby, the impulse response analysis unit 1-9 can eliminate θ CW from the difference between Expression (2) and Expression (3) using θ CW with the same delay, and the probe pulse light appearing in Expression (1) The difference in phase noise in the linear sampling waveform due to the local pulse light can be obtained. The impulse response analyzing unit 1-9 can obtain the impulse response received by the probe pulse waveform from the device under measurement 1-2 by removing the difference in phase noise between the probe pulse light and the local pulse light from the interference waveform. it can.
（本開示の効果）
本開示によるインパルスレスポンス測定方法は、関連技術に対して、以下の優位性を持つと考えられる。プローブパルス光とローカルパルス光の間の相対的な位相雑音を共通のＣＷ光源からのＣＷ光との干渉を通じて補償し、被測定デバイス１−２のインパルスレスポンスを測定する方法において、ＣＷ光との干渉により位相雑音を測定する際に、プローブパルス光は被測定デバイス１−２への入射前、ローカルパルス光はインパルスレスポンスを受けたプローブパルス光を線形サンプリングする必要性から被測定デバイス１−２への入射後に、それぞれＣＷ光と干渉させることで、干渉信号取得サンプリング周波数をそれぞれのパルスの周期に合わせることができる。
(Effects of the present disclosure)
The impulse response measurement method according to the present disclosure is considered to have the following advantages over the related art. In the method of compensating the relative phase noise between the probe pulse light and the local pulse light through interference with the CW light from the common CW light source, and measuring the impulse response of the device under test 1-2, When measuring phase noise due to interference, the probe pulse light needs to be linearly sampled before the probe pulse light is incident on the device under measurement 1-2, and the local pulse light receives the impulse response. The interference signal acquisition sampling frequency can be adjusted to the period of each pulse by causing the CW light to interfere with each other after being incident.
このとき、プローブパルス光１−１０−１を被測定デバイス１−２への入射前に帯域通過フィルタ１−１４を通すことで、波長多重カプラ１−１５−１及び１−１５−２によるＣＷ光との合波・分波が可能になり、被測定デバイス１−２への入射前後での干渉信号取得が可能になる。これにより、本開示によるインパルスレスポンス測定方法は、干渉信号取得の際のタイミングのずれによるデッドタイムを０にすることができる。したがって、本開示によるインパルスレスポンス測定方法は、測定できるインパルスレスポンスにおける遅延時間差の範囲をプローブパルス送出周期いっぱいまで広げることが可能となり、より測定レンジを広げることができる。 At this time, the probe pulse light 1-10-1 is allowed to pass through the bandpass filter 1-14 before being incident on the device under test 1-2, whereby the CW by the wavelength multiplexing couplers 1-15-1 and 1-15-2. It becomes possible to multiplex and demultiplex light, and to acquire interference signals before and after entering the device under test 1-2. Thereby, the impulse response measurement method according to the present disclosure can reduce the dead time due to the timing shift at the time of acquiring the interference signal to zero. Therefore, the impulse response measurement method according to the present disclosure can extend the range of the delay time difference in the impulse response that can be measured to the full probe pulse transmission period, and can further increase the measurement range.
本開示は情報通信産業に適用することができる。 The present disclosure can be applied to the information communication industry.
１−１：プローブパルスレーザ光源
１−２：被測定デバイス
１−３：ローカルパルスレーザ光源
１−４：ＣＷ光源
１−５−１、１−５−２、１−５−３：光分岐部
１−６−１、１−６−２、１−６−３：光９０度ハイブリッド
１−７−１、１−７−２、１−７−３、１−７−４、１−７−５、１−７−６：バランス型受光器
１−８−１、１−８−２：データ取得部
１−９：インパルスレスポンス解析部
１−１４：帯域通過フィルタ
１−１５−１、１−１５−２：波長多重カプラ
１−１６：変調部
1-1: Probe pulse laser light source 1-2: Device to be measured 1-3: Local pulse laser light source 1-4: CW light source 1-5-1, 1-5-2, 1-5-3: Optical branching unit 1-6-1, 1-6-2, 1-6-3: Optical 90-degree hybrid 1-7-1, 1-7-2, 1-7-3, 1-7-4, 1-7- 5, 1-7-6: Balance type light receiver 1-8-1, 1-8-2: Data acquisition unit 1-9: Impulse response analysis unit 1-14: Band pass filter 1-15-1, 1- 15-2: Wavelength multiplexing coupler 1-16: Modulator
Claims (3)
ローカルパルス光を生成するローカルパルス光源と、
連続光を生成する連続光源と、
被測定デバイスを通過後のプローブパルス光をローカルパルス光で線形サンプリングし、線形サンプリング後のプローブパルス光の波形の複素振幅及び位相を、第１の干渉信号として、前記ローカルパルス光源からのローカルパルス光の出力タイミングと同期したデータ取得クロック信号を用いてサンプリングして取得する第１の測定部と、
前記被測定デバイスを通過していないプローブパルス光と前記被測定デバイスを通過していない連続光を干渉させて第２の干渉光を生成し、第２の干渉光の波形の複素振幅及び位相を、第２の干渉信号として、前記プローブパルス光源からのプローブパルス光の出力タイミングと同期したデータ取得クロック信号を用いてサンプリングして取得する第２の測定部と、
ローカルパルス光と前記被測定デバイスを通過後の連続光を干渉させて第３の干渉光を生成し、前記第３の干渉光の波形の複素振幅及び位相を、第３の干渉信号として、前記ローカルパルス光源からのローカルパルス光の出力タイミングと同期したデータ取得クロック信号を用いてサンプリングして取得する第３の測定部と、
前記プローブパルス光源と前記被測定デバイスの間に配置され、前記プローブパルス光源からのプローブパルス光を前記第１の測定部用と前記第２の測定部用に分岐する光分岐部と、
前記光分岐部で前記第１の測定部用に分岐されたプローブパルス光のうち、連続光の波長を阻止しかつ前記被測定デバイスに通過させる波長を透過する帯域通過フィルタと、
前記帯域通過フィルタを通過後のプローブパルス光と前記連続光源からの連続光を波長多重する第１の波長多重カプラと、
前記被測定デバイスを通過後のプローブパルス光と連続光を分離し、当該プローブパルス光を前記第１の測定部に出力し、当該連続光を前記第３の測定部に出力する第２の波長多重カプラと、
前記第２の干渉信号を用いて求められるプローブパルス光と連続光の位相雑音の差、及び、前記第３の干渉信号を用いて求められるローカルパルス光と連続光の位相雑音の差、を用いて、前記第１の干渉信号に含まれるプローブパルス光とローカルパルス光の位相雑音の差を除去するインパルスレスポンス解析部と、
を備えるインパルスレスポンス測定装置。 A probe pulse light source for generating probe pulse light;
A local pulse light source for generating local pulse light;
A continuous light source that generates continuous light;
The probe pulse light after passing through the device under test is linearly sampled with the local pulse light, and the complex amplitude and phase of the waveform of the probe pulse light after the linear sampling are used as the first interference signal as a local pulse from the local pulse light source. A first measurement unit that samples and acquires using a data acquisition clock signal synchronized with the light output timing;
The probe pulse light not passing through the device under measurement interferes with the continuous light not passing through the device under test to generate second interference light, and the complex amplitude and phase of the waveform of the second interference light are obtained. A second measurement unit that samples and acquires the second interference signal using a data acquisition clock signal synchronized with the output timing of the probe pulse light from the probe pulse light source;
A local interference light and a continuous light after passing through the device to be measured are caused to interfere to generate a third interference light, and a complex amplitude and a phase of a waveform of the third interference light are used as a third interference signal. A third measurement unit that samples and acquires using a data acquisition clock signal synchronized with the output timing of the local pulse light from the local pulse light source;
An optical branching unit disposed between the probe pulse light source and the device to be measured and branching the probe pulse light from the probe pulse light source for the first measurement unit and the second measurement unit;
Among the probe pulse lights branched for the first measuring unit in the optical branching unit, a band-pass filter that blocks the wavelength of continuous light and transmits the wavelength to be passed to the device under measurement;
A first wavelength multiplexing coupler that wavelength-multiplexes the probe pulse light after passing through the band pass filter and the continuous light from the continuous light source;
A second wavelength for separating the probe pulse light and continuous light after passing through the device under test, outputting the probe pulse light to the first measurement unit, and outputting the continuous light to the third measurement unit A multiple coupler;
Using the difference between the phase noise between the probe pulse light and the continuous light obtained using the second interference signal, and the difference between the phase noise between the local pulse light and the continuous light obtained using the third interference signal. An impulse response analyzer for removing a difference in phase noise between the probe pulse light and the local pulse light included in the first interference signal;
An impulse response measuring device comprising:
請求項１に記載のインパルスレスポンス測定装置。 A continuous light delay adjusting unit for matching the delay of the continuous light used for the second interference light from the continuous light source with the delay of the continuous light used for the third interference light from the continuous light source; Prepare
The impulse response measuring apparatus according to claim 1.
ローカルパルス光を生成するローカルパルス光源と、
連続光を生成する連続光源と、
を備えるインパルスレスポンス測定装置が実行するインパルスレスポンス測定方法であって、
前記プローブパルス光源と被測定デバイスの間に配置された光分岐部が、前記プローブパルス光源からのプローブパルス光を第１の測定部用と第２の測定部用に分岐し、帯域通過フィルタが、前記光分岐部で前記第１の測定部用に分岐されたプローブパルス光のうち、連続光の波長を阻止しかつ前記被測定デバイスに通過させる波長を透過し、第１の波長多重カプラが、前記帯域通過フィルタを通過後のプローブパルス光と前記連続光源からの連続光を波長多重し、第２の波長多重カプラが、被測定デバイスを通過後のプローブパルス光と連続光を分離する手順と、
前記第２の波長多重カプラで分離されたプローブパルス光をローカルパルス光で線形サンプリングし、線形サンプリング後のプローブパルス光の波形の複素振幅及び位相を、第１の干渉信号として、前記ローカルパルス光源からのローカルパルス光の出力タイミングと同期したデータ取得クロック信号を用いてサンプリングして取得する第１の測定手順と、
前記被測定デバイスを通過していないプローブパルス光と前記被測定デバイスを通過していない連続光を干渉させて第２の干渉光を生成し、第２の干渉光の波形の複素振幅及び位相を、第２の干渉信号として、前記プローブパルス光源からのプローブパルス光の出力タイミングと同期したデータ取得クロック信号を用いてサンプリングして取得する第２の測定手順と、
ローカルパルス光と前記第２の波長多重カプラで分離された連続光を干渉させて第３の干渉光を生成し、前記第３の干渉光の波形の複素振幅及び位相を、第３の干渉信号として、前記ローカルパルス光源からのローカルパルス光の出力タイミングと同期したデータ取得クロック信号を用いてサンプリングして取得する第３の測定手順と、
前記第２の干渉信号を用いて求められるプローブパルス光と連続光の位相雑音の差、及び、前記第３の干渉信号を用いて求められるローカルパルス光と連続光の位相雑音の差、を用いて、前記第１の干渉信号に含まれるプローブパルス光とローカルパルス光の位相雑音の差を除去するインパルスレスポンス解析手順と、
を備えるインパルスレスポンス測定方法。 A probe pulse light source for generating probe pulse light;
A local pulse light source for generating local pulse light;
A continuous light source that generates continuous light;
An impulse response measurement method executed by an impulse response measurement device comprising:
An optical branching unit disposed between the probe pulse light source and the device under test branches the probe pulse light from the probe pulse light source into a first measurement unit and a second measurement unit, and a bandpass filter The probe pulsed light branched for the first measuring unit by the optical branching unit transmits a wavelength that blocks the wavelength of continuous light and passes it through the device under test, and the first wavelength multiplexing coupler Steps of wavelength multiplexing the probe pulse light after passing through the band pass filter and the continuous light from the continuous light source, and the second wavelength multiplexing coupler separating the probe pulse light after passing through the device under test and the continuous light When,
The probe pulse light separated by the second wavelength multiplexing coupler is linearly sampled with local pulse light, and the complex pulse amplitude and phase of the probe pulse light after the linear sampling are used as the first interference signal as the local pulse light source. A first measurement procedure for sampling and acquiring using a data acquisition clock signal synchronized with the output timing of the local pulse light from
The probe pulse light not passing through the device under measurement interferes with the continuous light not passing through the device under test to generate second interference light, and the complex amplitude and phase of the waveform of the second interference light are obtained. Sampling as a second interference signal using a data acquisition clock signal synchronized with the output timing of the probe pulse light from the probe pulse light source, and a second measurement procedure;
The third interference light is generated by causing the local pulse light and the continuous light separated by the second wavelength multiplexing coupler to interfere with each other, and the complex amplitude and phase of the waveform of the third interference light are changed to the third interference signal. As a third measurement procedure to sample and acquire using a data acquisition clock signal synchronized with the output timing of the local pulse light from the local pulse light source,
Using the difference between the phase noise between the probe pulse light and the continuous light obtained using the second interference signal, and the difference between the phase noise between the local pulse light and the continuous light obtained using the third interference signal. An impulse response analysis procedure for removing a difference in phase noise between the probe pulse light and the local pulse light included in the first interference signal;
An impulse response measurement method comprising:
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2016086597A JP6722899B2 (en) | 2016-04-22 | 2016-04-22 | Impulse response measuring device and its measuring method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2016086597A JP6722899B2 (en) | 2016-04-22 | 2016-04-22 | Impulse response measuring device and its measuring method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2017194436A true JP2017194436A (en) | 2017-10-26 |
| JP6722899B2 JP6722899B2 (en) | 2020-07-15 |
Family
ID=60155427
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2016086597A Active JP6722899B2 (en) | 2016-04-22 | 2016-04-22 | Impulse response measuring device and its measuring method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP6722899B2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7454183B2 (en) | 2020-08-27 | 2024-03-22 | 日本電信電話株式会社 | Spectrometer and spectrometer measurement method |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20060274318A1 (en) * | 2004-02-26 | 2006-12-07 | Thomas Jensen | Interferometric transfer function determination |
| JP2016053525A (en) * | 2014-09-03 | 2016-04-14 | 日本電信電話株式会社 | Method and device for measuring temperature and distortion distribution |
| JP2016145786A (en) * | 2015-02-09 | 2016-08-12 | 日本電信電話株式会社 | Measuring apparatus and measuring method for impulse response of optical device |
-
2016
- 2016-04-22 JP JP2016086597A patent/JP6722899B2/en active Active
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20060274318A1 (en) * | 2004-02-26 | 2006-12-07 | Thomas Jensen | Interferometric transfer function determination |
| JP2016053525A (en) * | 2014-09-03 | 2016-04-14 | 日本電信電話株式会社 | Method and device for measuring temperature and distortion distribution |
| JP2016145786A (en) * | 2015-02-09 | 2016-08-12 | 日本電信電話株式会社 | Measuring apparatus and measuring method for impulse response of optical device |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 寺田昇平: "独立パルスレーザを用いた線形光サンプリング法における位相補正法", 電子情報通信学会 ２０１５年総合大会講演論文集, JPN6019039427, 10 March 2015 (2015-03-10), pages 512 - 13, ISSN: 0004133805 * |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7454183B2 (en) | 2020-08-27 | 2024-03-22 | 日本電信電話株式会社 | Spectrometer and spectrometer measurement method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP6722899B2 (en) | 2020-07-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP6698164B2 (en) | Optical frequency domain reflection method and system based on frequency synthesis | |
| US10859408B2 (en) | Optical fiber sensor and optical fiber sensor system | |
| JP3631025B2 (en) | Chromatic dispersion measurement apparatus and polarization dispersion measurement apparatus | |
| CN105371941B (en) | Distributed optical fiber vibration sensing detection method based on optical circulator | |
| JP5291143B2 (en) | Optical transmission system and optical transmission method | |
| JP3394902B2 (en) | Chromatic dispersion measuring device and polarization dispersion measuring device | |
| CN103760568B (en) | A kind of ultrahigh time resolution spatial phase shift surface imaging velocity interferometer | |
| US20090009772A1 (en) | Optical measuring apparatus and optical measuring method | |
| JP5363231B2 (en) | Vibration measuring apparatus and vibration measuring method | |
| JP2014045096A (en) | Laser phase noise measuring apparatus and measuring method | |
| CN110160515B (en) | Angular velocity measuring method, angular velocity measuring system and carrier | |
| JP7259383B2 (en) | Optical transmission device, optical reception device and estimation method | |
| EP2284513B1 (en) | Wavelength multiplexed signal measurement device and method | |
| JP6722899B2 (en) | Impulse response measuring device and its measuring method | |
| CN109088670B (en) | Method and system for determining sound wave signal | |
| JP6230029B2 (en) | Apparatus and method for measuring impulse response of optical device | |
| JP6806641B2 (en) | Spatial multiplex optical transmission line evaluation device and method | |
| JP2008275514A (en) | Optical sampling device and optical sampling method | |
| JP2006332999A (en) | System and method for reference signal light transmission | |
| US7253906B2 (en) | Polarization state frequency multiplexing | |
| JP5907908B2 (en) | Optical branch line characteristic analyzer and its characteristic analysis method | |
| JP6751362B2 (en) | Propagation delay time difference measurement apparatus between spatial channels and propagation delay time difference measurement method between spatial channels | |
| JP4916347B2 (en) | Optical heterodyne OFDR device | |
| JP4678236B2 (en) | Optical property measuring device | |
| CN110006418B (en) | Angular velocity measuring method, device and application system |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20160426 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20181129 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20181129 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20190911 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20191015 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20191212 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20200602 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200608 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6722899 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |