JP2017174641A - Manufacturing method for display device - Google Patents
Manufacturing method for display device Download PDFInfo
- Publication number
- JP2017174641A JP2017174641A JP2016059658A JP2016059658A JP2017174641A JP 2017174641 A JP2017174641 A JP 2017174641A JP 2016059658 A JP2016059658 A JP 2016059658A JP 2016059658 A JP2016059658 A JP 2016059658A JP 2017174641 A JP2017174641 A JP 2017174641A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- terminal
- substrate
- electrode
- display device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 42
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims abstract description 362
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 100
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract description 56
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract description 56
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims abstract description 45
- 239000012044 organic layer Substances 0.000 claims abstract description 28
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 51
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 16
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 14
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 claims description 13
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 claims description 13
- 239000002243 precursor Substances 0.000 claims description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 abstract description 6
- 239000010408 film Substances 0.000 description 41
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 27
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 17
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 17
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 12
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 8
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 8
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 8
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 8
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 7
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 6
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 6
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 5
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 5
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 5
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000002679 ablation Methods 0.000 description 4
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 4
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 4
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 4
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 3
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 3
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 3
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 3
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 3
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 3
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004952 Polyamide Substances 0.000 description 2
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 2
- 238000010924 continuous production Methods 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 description 2
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 2
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 2
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 2
- 238000013532 laser treatment Methods 0.000 description 2
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 2
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 2
- 238000002161 passivation Methods 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 229920002647 polyamide Polymers 0.000 description 2
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 2
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 description 2
- -1 polysiloxane Polymers 0.000 description 2
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 2
- 230000008929 regeneration Effects 0.000 description 2
- 238000011069 regeneration method Methods 0.000 description 2
- 239000000565 sealant Substances 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 2
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 2
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 1
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910007857 Li-Al Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910008447 Li—Al Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910019015 Mg-Ag Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910003023 Mg-Al Inorganic materials 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 150000001408 amides Chemical class 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 1
- 238000003618 dip coating Methods 0.000 description 1
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002861 polymer material Substances 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 1
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 1
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 1
- 238000011282 treatment Methods 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 1
- YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N zinc indium(3+) oxygen(2-) Chemical compound [O--].[Zn++].[In+3] YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Abstract
Description
本発明の一実施形態は、端子部及び画素部を含む表示装置及び表示装置の製造方法に関する。 One embodiment of the present invention relates to a display device including a terminal portion and a pixel portion, and a method for manufacturing the display device.
電気器具及び電子機器に用いられる表示装置として、液晶の電気光学効果を利用した液晶表示装置や、有機エレクトロルミネセンス素子を用いた有機エレクトロルミネセンス表示装置が開発されている。これらの表示装置は、基板上に設けられた複数の画素によって表示画面が形成される。表示装置の各画素には、表示素子として、液晶素子又は有機エレクトロルミネセンス素子が設けられる。表示装置は、このような画素が配列する画素部を、トランジスタによって構成される画素回路及び駆動回路によって駆動することで、動画及び静止画を表示する。表示装置には映像信号、回路の動作を制御するタイミング信号、電力等が印加される端子部を含んでいる。 As display devices used in electric appliances and electronic devices, liquid crystal display devices using the electro-optic effect of liquid crystals and organic electroluminescence display devices using organic electroluminescence elements have been developed. In these display devices, a display screen is formed by a plurality of pixels provided on a substrate. Each pixel of the display device is provided with a liquid crystal element or an organic electroluminescence element as a display element. The display device displays a moving image and a still image by driving a pixel portion in which such pixels are arranged by a pixel circuit and a driving circuit including transistors. The display device includes a terminal portion to which a video signal, a timing signal for controlling the operation of the circuit, power, and the like are applied.
表示装置は、絶縁膜、半導体膜及び導電膜を積層し、またこれらの薄膜を所定の形状に成形することにより、トランジスタを始め、回路を形成する配線のパターンが作製される。この場合、端子部における各端子電極は、表示装置の外部に露出させる必要がある。そのため、画素部に設けられるトランジスタや表示素子とは異なる工程が必要とされる。具体的には、端子部における各端子電極の表面を、外面に露出させる工程が必要となる。 In a display device, an insulating film, a semiconductor film, and a conductive film are stacked, and these thin films are formed into a predetermined shape, whereby a wiring pattern including a transistor and a circuit is formed. In this case, each terminal electrode in the terminal portion needs to be exposed to the outside of the display device. Therefore, a process different from that of a transistor or a display element provided in the pixel portion is required. Specifically, a step of exposing the surface of each terminal electrode in the terminal portion to the outer surface is required.
例えば、特許文献1には、表示装置の製造工程において、端子部の上にレーザ除去層を設け、基板の全面を覆うパッシベーション膜を形成した後、パッシベーション膜で覆われた端子部のレーザ除去層にレーザ光を照射し、アブレーションを発生させて端子領域の端子電極を露出させる方法が開示されている。
For example, in
しかしながら、特許文献1に開示された方法では、レーザ除去層にレーザ光を吸収させてアブレーションを生じさせているため、端子電極の表面にアブレーション後の異物が残り、接触抵抗が増加するおそれが生じる。また、レーザ除去層を確実に除去するために、レーザ光の出力を高くすると、端子電極にダメージを与えてしまうことが問題となる。また、レーザ除去層をアブレーションさせることで、異物が表示部に飛散して汚染されることが問題となる。
However, in the method disclosed in
このような課題に鑑み、本発明の一実施形態は、表示装置に設けられる端子電極にダメージを与えることなく、また、端子電極の周辺領域を汚染することなく、端子電極を露出させることを目的の一つとする。 In view of such a problem, an embodiment of the present invention aims to expose a terminal electrode without damaging the terminal electrode provided in the display device and without contaminating a peripheral region of the terminal electrode. One of them.
本発明の一実施形態によれは、画素部と端子部を含む表示装置の製造方法であって、第1基板上に端子電極を含む端子部を形成し、端子部に有機樹脂層を形成し、画素部に画素電極を形成し、画素電極上に有機層を形成し、画素部及び端子部を含む領域に対向電極層を形成し、画素部及び端子部を含む領域に対向電極層上に封止層を形成し、有機樹脂層が形成された領域にレーザ光を照射して、有機樹脂層を端子電極との界面から剥離させ、有機樹脂層、対向電極層及び封止層を除去し端子電極を露出させる表示装置の製造方法が提供される。 According to one embodiment of the present invention, there is provided a method for manufacturing a display device including a pixel portion and a terminal portion, wherein a terminal portion including a terminal electrode is formed on a first substrate, and an organic resin layer is formed on the terminal portion. A pixel electrode is formed in the pixel portion, an organic layer is formed on the pixel electrode, a counter electrode layer is formed in a region including the pixel portion and the terminal portion, and a region including the pixel portion and the terminal portion is formed on the counter electrode layer. A sealing layer is formed, the region where the organic resin layer is formed is irradiated with laser light, the organic resin layer is peeled off from the interface with the terminal electrode, and the organic resin layer, the counter electrode layer, and the sealing layer are removed. A method for manufacturing a display device exposing a terminal electrode is provided.
以下、本発明の実施の形態を、図面等を参照しながら説明する。但し、本発明は多くの異なる態様で実施することが可能であり、以下に例示する実施の形態の記載内容に限定して解釈されるものではない。図面は説明をより明確にするため、実際の態様に比べ、各部の幅、厚さ、形状等について模式的に表される場合があるが、あくまで一例であって、本発明の解釈を限定するものではない。また、本明細書と各図において、既出の図に関して前述したものと同様の要素には、同一の符号(又は数字の後にa、bなどを付した符号)を付して、詳細な説明を適宜省略することがある。さらに各要素に対する「第1」、「第2」と付記された文字は、各要素を区別するために用いられる便宜的な標識であり、特段の説明がない限りそれ以上の意味を有さない。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. However, the present invention can be implemented in many different modes and should not be construed as being limited to the description of the embodiments exemplified below. In order to clarify the description, the drawings may be schematically represented with respect to the width, thickness, shape, and the like of each part as compared to actual aspects, but are merely examples and limit the interpretation of the present invention. It is not a thing. In addition, in the present specification and each drawing, the same elements as those described above with reference to the previous drawings are denoted by the same reference numerals (or reference numerals with a, b, etc. added to the numerals), and detailed description will be given. It may be omitted as appropriate. In addition, the letters “first” and “second” attached to each element are convenient signs used to distinguish each element, and have no meaning unless otherwise specified. .
本明細書において、ある部材又は領域が他の部材又は領域の「上に(又は下に)」あるとする場合、特段の限定がない限りこれは他の部材又は領域の直上(又は直下)にある場合のみでなく他の部材又は領域の上方(又は下方)にある場合を含み、すなわち、他の部材又は領域の上方(又は下方)において間に別の構成要素が含まれている場合も含む。なお、以下の説明では、特に断りのない限り、断面視においては、第1基板に対して第2基板が配置される側を「上」又は「上方」といい、その逆を「下」又は「下方」として説明する。 In this specification, when a certain member or region is “on (or below)” another member or region, this is directly above (or directly below) the other member or region unless otherwise specified. Including not only in some cases but also above (or below) other members or regions, that is, when other components are included above (or below) other members or regions . In the following description, unless otherwise specified, in a cross-sectional view, the side on which the second substrate is disposed with respect to the first substrate is referred to as “upper” or “upper”, and vice versa. This will be described as “downward”.
本明細書において説明される第1基板は、少なくとも平面状の一主面を有し、この一主面上に絶縁層、半導体層及び導電層の各層、あるいはトランジスタ及び表示素子等の各素子が設けられる。以下の説明では、断面視において、第1基板の一主面を基準とし、第1基板に対して「上」、「上層」、「上方」又は「上面」として説明する場合には、特に断りのない限り、第1基板の一主面を基準にして述べるものとする。 The first substrate described in this specification has at least one planar main surface, and each element such as an insulating layer, a semiconductor layer, and a conductive layer, or a transistor and a display element is formed on the one main surface. Provided. In the following description, in the cross-sectional view, when it is described as “upper”, “upper layer”, “upper” or “upper surface” with respect to the first main surface of the first substrate as a reference, it is particularly refused. Unless stated otherwise, the description will be made with reference to one main surface of the first substrate.
1 表示装置の構成
図1は、本発明の一実施形態に係る表示装置100の斜視図を示す。表示装置100は、第1基板102と封止材118を含む。第1基板102の第1面には、画素部104、駆動回路部106(ドライバIC105a、走査線駆動回路105b、スイッチ回路105c)及び端子部110が設けられる。画素部104は、複数の画素112が行方向及び列方向に配列される。端子部110は、複数の端子電極114が配置される。封止材118は、第1基板102の第1面側において、画素部104を覆うように配置される。端子部110は、第1基板102の端部に設けられ、封止材118の外側に配置される。また、駆動回路部106のうち、ドライバIC105aは、封止部材の外側に配置される。
1 Configuration of Display Device FIG. 1 is a perspective view of a
駆動回路部106の各回路(ドライバIC105a、走査線駆動回路105b、スイッチ回路105c)を動作させる信号は、端子部110の端子電極114を介して入力される。端子電極114導電性の電極表面が露出し、異方性導電層によってフレキシブルプリント回路基板116と接続される。フレキシブルプリント回路基板116は、表示装置100と他の機能回路又は外部機器とを接続する。
A signal for operating each circuit (
第1基板102は、ガラス基板又は有機樹脂基板が用いられる。有機樹脂基板としては、例えば、ポリイミド基板が用いられる。有機樹脂基板は、板厚を数マイクロメートルから数十マイクロメートルにすることができ、可撓性を有するシートディスプレイを実現することが可能となる。封止材118は、第1基板102と同様にガラス基板、有機樹脂基板によって形成される。また、封止材118は、第1基板のような板状の部材に代えて、有機樹脂層と無機層を交互に積層させた積層体によって形成される。
As the
第1基板102上に設けられる画素部104及び端子部110は、各領域を個別に作製するのではなく、同じ工程の中で作製される。例えば、画素部104に含まれるある配線を形成する導電層と、端子部110の端子電極114の少なくとも一部を構成する導電層とは、同じ導電膜を加工することによって作製される。
The
図2は、表示装置100の断面構造を示す。また、図3は画素部104における画素112の詳細を説明する断面図を示す。以下の説明では、図2及び図3を適宜参照して説明する。
FIG. 2 shows a cross-sectional structure of the
図2で示すように、表示装置100は、画素部104、駆動回路部106、封止部108及び端子部110を含む。駆動回路部106は、回路領域107a及び配線領域107bが含まれる。画素部104は、第1基板102上に、トランジスタ120、発光素子122、第1容量素子124、第2容量素子126が設けられる。これらの素子の詳細は、図3に示される。
As illustrated in FIG. 2, the
図3で示すように、発光素子122はトランジスタ120と電気的に接続される。トランジスタ120はゲートに印加される映像信号によってソース・ドレイン間を流れる電流が制御され、この電流によって発光素子122の発光輝度が制御される。第1容量素子124はトランジスタ120のゲート電圧を保持し、第2容量素子126は発光素子122に流れる電流量を調整するために設けられる。
As shown in FIG. 3, the light-emitting
第1基板102上の第1面には下地絶縁層128が設けられる。トランジスタ120は、下地絶縁層128上に設けられる。トランジスタ120は、半導体層130、ゲート絶縁層132、ゲート電極134が積層された構造を有する。半導体層130は、非晶質又は多結晶のシリコン、若しくは酸化物半導体等である。ソース・ドレイン電極138は、第1絶縁層136を介して、ゲート電極134の上層に設けられる。ソース・ドレイン電極138の上層には平坦化層としての第2絶縁層140が設けられる。第1絶縁層136は、酸化シリコン、窒化シリコン等の無機絶縁材料で形成され、第2絶縁層140は、ポリイミド、アクリル等の有機絶縁材料で形成される。
A
第2絶縁層140の上面に発光素子122が設けられる。発光素子122は、トランジスタ120と電気的に接続される画素電極144と、有機層148及び対向電極層150とが積層された構造を有する。発光素子122は2端子素子であり、画素電極144と対向電極層150との間の電位を制御することで発光が制御される。また、第2絶縁層140上には、画素電極144の周縁部を覆い内側領域を露出するように、有機絶縁材料によるバンク層154が設けられる。対向電極層150は、有機層148の上面に設けられ、画素電極144上からバンク層154の上面部にかけて設けられる。なお、バンク層154は、画素電極144の周縁部を覆うと共に、画素電極144の端部で滑らかな段差を形成するために、有機樹脂材料で形成される。有機樹脂材料としては、アクリルやポリイミドなどが用いられる。
The
有機層148は、有機エレクトロルミネセンス材料などの発光材料を含む層である。有機層148は、低分子系又は高分子系の有機材料を用いて形成される。低分子系の有機材料を用いる場合、有機層148は発光性の有機材料を含む発光層に加え、当該発光層を挟むように正孔注入層や電子注入層、さらに正孔輸送層や電子輸送層等含んで構成されていてもよい。例えば、有機層148は、発光層をホール注入層と電子注入層とで挟んだ構造とすることができる。また、有機層148は、ホール注入層と電子注入層に加え、ホール輸送層、電子輸送層、ホールブロック層、電子ブロック層などを適宜付加されていていてもよい。
The
なお、本発明の一実施形態において、発光素子122は、有機層148で発光した光を対向電極層150側に放射する、いわゆるトップエミッション型の構造を有する。そのため、画素電極144は光反性を有することが好ましい。画素電極144は、アルミニウム(Al)、銀(Ag)等の光反射性の金属材料によって形成されることの他、正孔注入性に優れるITO(Indium Tin Oxide:酸化インジウムスズ)やIZO(Indium Zinc Oxide:酸化インジウム亜鉛)による透明導電層と、光反射性の金属層とが積層された構造を有していてもよい。
Note that in one embodiment of the present invention, the light-emitting
対向電極層150は、有機層146で発光した光を透過させるため、透光性を有しかつ導電性を有するITO(酸化スズ添加酸化インジウム)やIZO(酸化インジウム・酸化亜鉛)等の透明導電膜で形成されていることが好ましい。
Since the
第1容量素子124は、ゲート絶縁層132を誘電体層として、半導体層130と第1容量電極135が重畳する領域に形成される。また、第2容量素子126は、画素電極144と、画素電極に重畳して設けられる第2容量電極141、及び画素電極144と第2容量電極141の間に設けられる第3絶縁層142を誘電体層として形成される。
The
発光素子122の上には封止層152が設けられる。封止層152は、発光素子122に水分等が浸入することを防ぐために設けられる。封止層152としては、窒化シリコンや酸化アルミニウムなどの無機絶縁膜により透光性を有するものとすることが好ましい。また、封止層152は、当該無機絶縁膜と、アクリル、ポリイミド、エポキシ等の有機絶縁膜が積層された構造を有していてもよい。
A
封止材118の有機層側には、カラーフィルタ層160及び遮光層162が設けられていてもよい。発光素子122から白色光が出射されるとき、カラーフィルタ層160を設けることによって、特定の波長帯域の光を画素112の出射光とすることができる。また、発光素子122から出射される光が特定の波長帯域の光(例えば、青色帯域、緑色帯域、赤色帯域)である場合、カラーフィルタ層160を、出射光に合わせて配置することで、画素112から出射される光の色純度を高めることができる。但し、有機層148が隣接する画素どうしで発光層に含まれる材料が異なるような場合は、図2及び図3で示すカラーフィルタ層160及び遮光層162は不要となる(図示せず)。
A
図2において、駆動回路部106の回路領域107aは、トランジスタ121a、121bによって走査線駆動回路105b、スイッチ回路105cが形成される。例えば、トランジスタ121aはnチャネル型トランジスタであり、トランジスタ121bはpチャネル型トランジスタである。また、配線領域107bには、画素部104から対向電極層150が延伸している。
In FIG. 2, in a
配線領域107bにおいて、第2絶縁層140を貫通する開口部164が設けられる。開口部164は、画素部104の少なくとも一辺に沿って設けられている。第2絶縁層140は、開口部164によって、画素部104側と第1基板102の端部側とに分断されている。また、バンク層154も開口部164によって、同様に分断されている。第2絶縁層140上の第3絶縁層142と、バンク層154の上面に設けられる対向電極層150は開口部164に沿って設けられる。すなわち、第3絶縁層142は、開口部164の側面(第2絶縁層140の側面)及び開口部164の底面(第1絶縁層136の上面)に沿って設けられる。
In the
このように、配線領域107bにおいて、有機絶縁材料で形成される第2絶縁層140及びバンク層154を開口部164によって分断し、開口部164の側面及び底面を被覆するように無機材料で形成される第3絶縁層142及び対向電極層150が配設されることで、封止構造が形成される。第3絶縁層142は、開口部164の底部において密接するように設けられる。このように有機絶縁材料で形成される第2絶縁層140及びバンク層154を、無機材料の層により挟み込むことで、封止部108側から画素部104への水分等の浸入を防ぐことができる。すなわち、この封止構造により、有機絶縁材料で形成される第2絶縁層140やバンク層154を通って、水分等が画素部104に領域に浸入することを防止している。第2絶縁層140及びバンク層154を分離する開口部164が設けられた領域は水分遮断領域172として機能させることができ、その構造を「水分遮断構造」ということができる。
As described above, in the
駆動回路部106には、対向電極層150が下層の配線168と電気的に接続されるコンタクト部170が含まれていてもよい。対向電極層150は配線168接続されることで、所定の電位に制御される。なお、コンタクト部170において、第2絶縁層140上に設けられる配線168b及び第1絶縁層136上に設けられる配線168aによって接続を形成する場合には、第2絶縁層140にコンタクトホール167を設ける。
The
封止部108にはシール材158が設けられる。シール材158は第1基板102と封止材118とを接着している。シール材158により第1基板102と封止材118とで挟まれる領域は大気と遮断される。画素部104は、第1基板102、封止材118及びシール材158に挟まれた密閉空間に設けられる。なお、第1基板102と封止材118との間隙部には、充填材156が設けられていてもよい。
A sealing
端子部110は、端子電極114が設けられる。端子電極114は、第1端子層115a及び第2端子層115bを含む。第1端子層115aは、例えば、ソース・ドレイン電極138を形成する導電層と同じ層により設けられる。ソース・ドレイン電極138が、アルミニウム(Al)の上層側及び下層側にチタン(Ti)層を設けた積層構造を有する場合、第1端子層115aも同じ層構造を有する。また、第1端子層115aは、ゲート電極134と同じ導電層によって形成されていてもよい。第2端子層115bは、導電性の金属酸化物の被膜で形成される。例えば、第2端子層115bは、ITOやIZO等の透明導電膜で形成される。このような第2端子層115bは、第1端子層115aに比べて硬質であり、酸化しても導電性を有するので、端子電極114の表面層として好適に設けられる。
The
第1基板102上には、下地絶縁層128、ゲート絶縁層132、第1絶縁層136、第2絶縁層140、第3絶縁層142、対向電極層150及び封止層152が略全面に設けられるが、端子部110においては、少なくとも端子電極114の上層側に配置される、第2絶縁層140、第3絶縁層142、対向電極層150及び封止層152が除去された領域を含む。このような除去領域により、端子電極114は外面に露出される。
On the
従来、端子電極114の上面を露出するには、第2絶縁層140、第3絶縁層142、対向電極層150及び封止層152の各層を、ウェットエッチングやドライエッチング等による処理により行われている。一方、本発明の一実施形態においては、このようなエッチング処理によらず、より簡便な方法で端子電極114を露出させている。以下、その詳細を表示装置100の製造工程に従って説明する。
Conventionally, in order to expose the upper surface of the
2 表示装置の製造方法(第1の実施形態)
以下、図面を参照して、本発明の一実施形態に係る表示装置の製造方法を説明する。なお、以下に示す製造方法は、図2及び図3で説明される表示装置に対応するものである。
2. Manufacturing method of display device (first embodiment)
A method for manufacturing a display device according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. The manufacturing method described below corresponds to the display device described with reference to FIGS.
2−1 トランジスタ及び層間絶縁層の形成
図4は、第1基板102の第1面に、下地絶縁層128、画素部104のトランジスタ120(半導体層130、ゲート絶縁層132及びゲート電極134を含んで形成される)及び第1容量素子124(第1容量電極135、ゲート絶縁層132、ソース・ドレイン電極138によって形成される)、駆動回路部106のトランジスタ121a、121b、端子部110の第1端子層115a、第1絶縁層136、ソース・ドレイン電極138、第2絶縁層140が形成された段階を示す。画素部104のトランジスタ120と、駆動回路部106のトランジスタ121a、121bとは同じ構造を有している。また、端子部110の第1端子層115aは、第1絶縁層136上に、ソース・ドレイン電極138と同じ導電層で形成されている。第1端子層115aは、例えば、下層側かチタン(Ti)層、アルミニウム(Al)層、チタン層(Ti)の3層が積層された構造を有する。
2-1 Formation of Transistor and Interlayer Insulating Layer FIG. 4 shows a
図4において示される第1絶縁層136は、単層又は複数の層で形成される。例えば、第1絶縁層136は、窒化シリコン膜と酸化シリコン膜とを積層して形成される。このような第1絶縁層136は、プラズマCVD法、スパッタリング法によって作製される。第1絶縁層136上に形成される第2絶縁層140は有機絶縁材料で形成される。有機絶縁材料としては、ポリエステル、ポリアミド、ポリイミド、ポリシロキサンなどの高分子材料を含むことが好ましい。第2絶縁層140は、このような有機絶縁材料を用い、スピンコート法、インクジェット法、ラミネート法、印刷法、ディップコーティング法、蒸着重合法等を用いて第1基板102の略全面に形成される。第2絶縁層140は、1マイクロメートル以上の厚みで形成することが好ましい。これにより、第2絶縁層140によってトランジスタ120等による凹凸が埋設され、平坦な表面を第1基板102上に形成することができる。
The first insulating
2−2 層間絶縁層の加工と端子電極の形成
図5は、画素部104において、第2絶縁層140上に第2容量電極141を形成し、第2絶縁層140を貫通しソース・ドレイン電極138に達するコンタクトホール166、開口部164を設ける段階を示す。なお、第1絶縁層136上に配線168aが設けられる場合には、第2絶縁層140にコンタクトホール167を形成する。第2絶縁層140は、コンタクトホール166の形成と同時に、端子部110において、第1端子層115aの上面を覆う部位も除去される。第2絶縁層140は、第1端子層115aの上面部を露出させ、側面部を覆うように加工されることが好ましい。なお、第2絶縁層140が感光性の有機絶縁材料で形成される場合には、第2絶縁層140の成膜後に、光露光工程行われ、現像及び焼成によってコンタクトホール166及び端子部110の除去パターンの形成が行われる。
2-2 Processing of Interlayer Insulating Layer and Formation of Terminal Electrode FIG. 5 shows that in the
第3絶縁層142は、窒化シリコン膜又は酸化シリコン膜で作製される。第3絶縁層142は、プラズマCVD法やスパッタリング法により、成膜時にシャドーマスクを用いずに第1基板102の略全面に作製される。コンタクトホールの形成後に第3絶縁層142を形成すると、コンタクトホール166の底面が第3絶縁層142によって被覆されてしまう。この場合、第3絶縁層142にもコンタクトホール166と重畳する開口部169を設けることが好ましい。この開口部169の形成と同時に、第1端子層115aの上面に形成された第3絶縁層142を除去することができる。
The third
図11(A)は、端子部110の断面図を示す。図11(A)で示すように、この段階で端子電極114は、第1端子層115aに上に、第2端子層115bが形成される。第2端子層115bは、第1端子層115aの上面にある第2絶縁層140が除去された後、形成されることが好ましい。第2端子層115bは、第2容量電極141と同じ導電層で形成されてもよいし、画素部104又は駆動回路部106に形成される他の配線又は電極と同じ導電層によって形成されてもよい。第2端子層115bは、ITOやIZO等の透明導電膜で形成されることが好ましい。
FIG. 11A shows a cross-sectional view of the
以上までの段階によって、第1基板102上には、画素部104及び駆動回路部106にトランジスタを含む回路が形成され、端子部110においては端子電極114が形成される。
Through the above steps, a circuit including a transistor is formed in the
以降の工程は、図15で示すように、端子電極114上への有機樹脂層117の形成(S201)、画素電極144の形成(S202)有機層の成膜(S203)、対向電極層の成膜(S204)、封止層の形成(S205)、封止材の取り付け(S206)、端子電極の露出処理(S207)が行われる。また、マザーガラス基板(大面積基板)を用いて表示パネルが多面取りされる場合には、ステップS206とS208との間に、マザーガラス基板の分断工程(S208)が行われる。
In the subsequent steps, as shown in FIG. 15, the
2−3 端子部における有機樹脂層の形成
図6は、端子部110に有機樹脂層117を設ける段階(S201)を示す。また、図11(B)は、この段階における端子部110の断面図を示す。有機樹脂層117は、端子電極114の全面を覆うように設けられる。有機樹脂層117は、有機樹脂材料の前駆体を含む溶液を第1基板に塗布し、露光及び現像処理により端子部110の領域に形成する。有機樹脂層117としては、ポリイミド、ポリアミド、ポリイミドアミド、アクリル、エポキシ等有機樹脂材料が用いられる。これらの中でも、レーザ加工による剥離の容易性及び確実性の観点からポリイミドを用いることが好ましい。なお、有機樹脂層117は、後述するバンク層154と同時に形成してもよい。
2-3 Formation of Organic Resin Layer at Terminal Portion FIG. 6 shows a step of providing the
2−4 画素電極の形成
図7は、画素電極144を形成する段階(S202)を示す。画素電極144は、発光素子122からの発光を第1基板102側に出射させる場合には透明導電膜として、ITOやIZO等の透明導電膜により形成する。また、本実施形態におけるように、発光素子122からの光を対向電極層150側に出射させる場合には、アルミニウム(Al)や銀(Ag)などの金属、あるいはこれらの合金を用いる。あるいは、これらの金属層と、導電性金属酸化物層との積層によって画素電極144を形成する。例えば、金属層を導電性金属酸化物層で挟んだ積層構造(例えばITO/Ag/ITO等)で画素電極144を作製する。また、画素電極144と第2容量電極141、及びこれらに挟まれる第3絶縁層142によって第2容量素子126が形成される。
2-4 Formation of Pixel Electrode FIG. 7 shows a step of forming the pixel electrode 144 (S202). The
また、駆動回路部106において、対向電極層150のコンタクト部170を形成するために、第2絶縁層140に形成されたコンタクトホール167において、配線168aと接続する配線168bを形成する。配線168bは、画素電極144と同じ導電層によって形成することができる。
In the
画素電極144を形成後、無機絶縁材料又は有機絶縁材料によってバンク層154を形成する。バンク層154は、画素電極144の端部及び第2絶縁層140に形成されたコンタクトホール166、167に起因する段差を埋設する。なお、このようなバンク層154は、隔壁又はリブとも呼ばれることがある。バンク層154は、アクリル、ポイミド等の第2絶縁層140で使用可能な材料を用いて形成することができる。バンク層154は、画素電極144、開口部164の底部、配線168bの上面を露出するように開口部が形成される。バンク層154の開口部の端部は、なだらかなテーパー形状となるのが好ましい。バンク層154の開口部の端部が急峻な勾配を有すると、後に形成される有機層148等の段差被覆性が悪くなり、不良の原因となりやすいためである。また、バンク層154は、端子部110において、端子電極114の上面には設けられないように形成する。すなわち、前述したように、バンク層154の開口部を形成するときに、端子電極114の上面部も開口されるようにバンク層154を形成する。
After the
2−5 有機層、対向電極層及び封止層の形成
図8は、有機層148、対向電極層150及び封止層152を形成する段階(S203,S204,S205)を示す。また、図12(A)は、この段階における端子部110の断面図を示す。
2-5 Formation of Organic Layer, Counter Electrode Layer, and Sealing Layer FIG. 8 shows the steps of forming the
有機層148は、少なくとも画素電極144と重なるように形成する(S203)。例えば、有機層148は、真空蒸着法によりシャドーマスクを用い、端子部110には成膜されないように形成する。有機層148は、有機エレクトロルミネセンス材料を含む層であり、単層又は複数の層により形成される。例えば、有機層148は、キャリア注入層、キャリア輸送層、発光層、キャリア阻止層、励起子阻止層など適宜を組み合わせて形成される。なお、有機層148は、隣接する画素と発光層に含まれる材料が異なり、キャリア輸送層等の他の層が同じ構造を有するように形成してもよい。これにより、隣接する画素同士で異なる発光色を得ることができ、フルカラー表示が可能となる。逆に全ての画素において同一の有機層148を用いてもよい。この場合、例えば白色光を出射する有機層148を全ての画素に共有されるように形成してもよく、カラーフィルタなどを用いて各画素から取り出す光の波長を選択すればよい。
The
有機層148を形成した後、対向電極層150を形成する(S204)。対向電極層150は、透光性を有する導電層をスパッタリング法により成膜する。本実施形態において、発光素子122は対向電極層150側から光を出射するトップエミッション型であるため、対向電極層150の膜厚は均一であることが好ましい。本実施形態では、対向電極層150を形成するときに、被成膜面に異物が付着しないようにシャドーマスクを用いない方式を採用する。なお、シャドーマスクとは、金属又はセラミクスの部材に開口部が設けられた構造を有し、基板に近接又は当接して配置することで、開口部に被膜が成膜され、それ以外の領域には被膜が成膜されないように遮蔽するマスクである。
After the
スパッタリング装置において、シャドーマスクは繰り返し使用される。シャドーマスクの遮蔽面には被膜が堆積するため、一定回数使用した後は被膜を除去する再生処理がされる。しかし、再生処理によっても容易に除去できない異物がシャドーマスクに残存すると、次回の成膜時において異物として基板に付着することがある。対向電極層150の形成時に、第1基板102の被堆積表面におけるいずれかの場所に異物が付着すると、その後の工程で成膜される封止層152に欠陥が出来てしまう。例えば、異物の周りで膜厚が薄くなってしまう領域が出来てしまったり、クラックが生じてしまったりする。封止層152のこのような欠陥部分は、水分等の浸入経路となり、発光素子122の劣化をもたらす原因となるため好ましくない。
In a sputtering apparatus, a shadow mask is repeatedly used. Since a film is deposited on the shielding surface of the shadow mask, a regeneration process for removing the film is performed after a certain number of uses. However, if foreign matter that cannot be easily removed by the regeneration process remains in the shadow mask, it may adhere to the substrate as foreign matter at the next film formation. If foreign matter adheres to any location on the deposition surface of the
このような問題に対し、本実施形態では、上述のようにシャドーマスクを用いない成膜をすることで、対向電極層150の作製時に異物が付着することを防いでいる。なお、対向電極層150としては、可視光を透過する程度の膜厚を有するアルミニウム(Al)や金(Au)等の金属膜、ITOやIZOのような透明導電膜が用いられる。この場合、キャリア注入性を高めるために、Li−Al、Mg−Ag、Mg−Al等の薄膜を有機層148との間に設けてもよい。
In order to deal with such a problem, in the present embodiment, by forming a film without using a shadow mask as described above, it is possible to prevent foreign matter from adhering to the
対向電極層150は、画素部104から駆動回路部106に設けられるコンタクト部170まで設けられることで、コンタクト部170において、配線168bと電気的な接続が形成される。また、シャドーマスクを用いないことから、端子部110の領域にも対向電極層150が成膜される。この場合、図12(A)で示すように、端子電極114上には有機樹脂層117が形成されているので、対向電極層150が端子電極114と直接接することが防がれている。
The
対向電極層150を形成後、封止層152を形成する(S205)。封止層152は、発光素子122に対し外部からの水分の侵入を防止することを機能の一つとしている。封止層152としては水蒸気に対してバリア性の高い膜を用いて形成することが好ましい。例えば、封止層152は、窒シリコンや酸化シリコン、窒化酸化シリコン、酸化窒化シリコンなどの無機絶縁材料を用いて封止層152を形成することが好ましい。また、封止層152は、アクリル樹脂、ポリシロキサン、ポリイミド、ポリエステルなどを含む有機絶縁材料を、前述の無機絶縁材料による層と組み合わせて用いてもよい。例えば、封止層152を、前述の有機絶縁材料による有機絶縁層の下層側と上層側に、前述の無機絶縁材料の層を設けた3層構造としてもよい。このように、水蒸気バリア性を有する無機絶縁層を、有機絶縁層を介して複数層設けることで、一部の無機絶縁層にピンホール等の欠陥が出来てしまったとしても、他の無機絶縁層がその欠陥を補って、水蒸気バリア性を高めることができる。
After forming the
封止層152は、無機絶縁層であればスパッタリング法やプラズマCVD法により成膜する。また、有機絶縁層であれば、塗布法及び蒸着重合法等により成膜することができる。このような封止層152は、シャドーマスク等を用いずに、第1基板102の略全面に形成する。図12(A)で示すように、端子部110において、端子電極114を埋設する有機樹脂層117上に、対向電極層150及び封止層152が形成される。
If the
ここで、第2絶縁層140の開口部164では、底面において第1絶縁層136と第3絶縁層142が接する領域に、さらに封止層152が形成されることで、水蒸気に対するバリア性をさらに高めることができる。また、封止層152は、コンタクト部170を覆うように設けられることで、対向電極層150と配線168bとの電気的な接続状態の信頼性を高めることができる。
Here, in the
2−6 封止材の形成
その後、図9で示すように、封止層152の上から、封止材118を第1基板102に設ける(S206)。封止材118が透光性を有するガラス又はプラスチックの板状部材である場合には、シール材158により第1基板102に取り付けられる。封止材118には、画素の配置に合わせて、カラーフィルタ層160や遮光層162が設けられていてもよい。遮光層162は、クロムやモリブデンなど比較的反射率の低い金属、あるいは樹脂材料に黒色又はそれに準ずる着色材を含有させたものを用いて形成することが好ましい。これにより、発光素子122から出射される光以外の散乱光や外光反射等を遮断する機能を有する。カラーフィルタ層160は、隣接する画素毎に異ならせ、例えば赤色、緑色、青色の発光を取り出すように形成することができる。遮光層162とカラーフィルタ層160とは下地膜を介して対向基板に設けても良いし、また、遮光層162及びカラーフィルタ層160を覆うようにオーバーコート層をさらに設けても良い。
2-6 Formation of Sealant Thereafter, as shown in FIG. 9, the
なお、封止材118は、第1基板102上において、画素部104と、駆動回路部106の少なくとも一部を覆うように設け、その一方、端子部110とは重畳しないように配設される。また、第1基板102と封止材118とは間隙をもって配設される。第1基板102と封止材118の間隙部には、充填材156が設けられていてもよい。また、当該間隙部には、不活性ガスが充填されていてもよい。充填材を用いる場合には、可視光に対して高い透明性を有することが好ましい。封止材118を第1基板102に固定する際、スペーサーが介在するようにして、ギャップを調整しても良い。
Note that the sealing
2−7 有機樹脂層の除去
次に、図10に示すように、端子部110において、端子電極114を露出させる処理を行う(S207)。これまでの工程で、端子電極114上には、少なくとも、有機樹脂層117、対向電極層150及び封止層152が形成されている。本実施形態では、図12(B)において示すように、有機樹脂層117を、端子電極114及び第3絶縁層142との界面から剥離することで、端子電極114を露出させる。
2-7 Removal of Organic Resin Layer Next, as shown in FIG. 10, a process of exposing the
有機樹脂層117の剥離は、レーザ光174を照射することにより行われる。レーザ光174の光源としては、各種のレーザを用いることができる。例えば、パルス発振し、紫外光を出力するエキシマレーザを用いることができる。また、後述するように、ガラス基板を切断するレーザ加工と、端子電極114を露出させるレーザ処理を連続する工程として行うこともできる。ガラス基板を切断するレーザとしては炭酸ガスレーザ(CO2レーザ)が用いられる。この場合、有機樹脂層117を剥離するときのレーザ出力を、ガラス切断時のレーザ出力より小さくすることで、双方の加工を行うことが可能となる。
The
本実施形態において、対向電極層150は透明導電膜であり、また封止層152は窒化シリコン膜等の無機絶縁膜や、アクリル、ポリイミド、エポキシ等の有機絶縁膜が用いられるので、いずれも透光性を有する。したがって、封止層152側からレーザ光174を照射して有機樹脂層117の剥離を行うことができる。
In this embodiment, the
レーザ処理により、有機樹脂層117の下地面(第2端子層115b、第3絶縁層142)との付着力を低下させることで、有機樹脂層117を、端子電極114の第2端子層115b及び第3絶縁層142と界面から剥離することができる。この場合において、有機樹脂層117に熱的影響を与える程度にレーザ光174によって瞬時に加熱しても、第2端子層115bがITO又はIZOであれば融点は約1500〜1900℃であるとされ、第3絶縁層142が窒化シリコン膜である場合には融点が約1900℃であるとされているので、これらはほとんど熱的影響を受けることがない。したがって、レーザ光174の照射により、有機樹脂層117を下地面から剥離することで、その上層に形成された対向電極層150及び封止層152を一括で除去することができる。
By reducing the adhesion of the
本実施形態において、端子電極114を露出させる段階では、画素部104には封止材118が設けられているので、仮にレーザ処理によって異物が飛散したとしても、異物によって画素部104の領域が汚染されないで済む。
In this embodiment, since the sealing
以上のようにして、図2で説明した構造の表示装置100を製造することができる。本発明の一実施形態によれば、端子部110に有機樹脂層117を設け、対向電極層150及び封止層152を形成した後に、この有機樹脂層117を剥離することで、エッチング等の処理を行わずに、端子電極114を露出させることができる。端子電極114を露出させるためのエッチング書影が省略されることにより、エッチング液や水分が封止された領域に浸入し、発光素子122が劣化するのを防止することができる。
As described above, the
なお、本実施形態では、端子部110において有機樹脂層を用いる場合を示すが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、レーザ光の照射により下地面との付着力が低下する部材であれば、有機樹脂層に代えて他の材質のものを設けてもよい。
In this embodiment, the case where an organic resin layer is used in the
また、本実施形態は、画素に発光素子が設けられる表示装置について例示したが、本発明はこれに限定されず、例えば液晶表示装置に対して適用することもできる。 Moreover, although this embodiment illustrated about the display apparatus provided with a light emitting element in a pixel, this invention is not limited to this, For example, it can apply also to a liquid crystal display device.
3 表示装置の製造方法(第2の実施形態)
第1基板102が、マザーガラス基板と呼ばれる大面積基板であって、当該基板から複数の表示装置を個片化する場合には、図15で示すように、端子電極を露出させる処理(S207)の後に、第1基板102を切断する処理が行われる(S208)。
3. Manufacturing method of display device (second embodiment)
When the
図13は、マザーガラス基板である第1基板102に複数の表示装置100が作り込まれる態様を示す。第1基板102の切断と、端子電極114の露出処理とは、共にレーザ光174の照射により行われるので、この工程を連続する一連の工程として実行することもできる。また、有機樹脂層117に照射するレーザ光174を、照射面が線状となるようにシリンドリカルレンズ等で集光すれば、端子部110の領域を複数箇所同時に処理することもできる。それにより、生産性を向上させることができる。
FIG. 13 shows a mode in which a plurality of
なお、端子電極114を露出させる処理と、マザーガラス基板を切断する処理とが共にレーザ光の照射によって行われる場合、一連の処理として略同時に行われてもよい。また、図15に示す手順によらず、マザーガラス基板を切断後に、端子電極を露出させる処理を行ってもよい。いずれにしても、本実施形態に係る表示装置の製造方法は、生産性を著しく低下させるものではなく、レーザ装置においても同じ設備を流用することができる。
In addition, when both the process which exposes the
4 表示装置の製造方法(第3の実施形態)
図14は、本実施形態における工程を、シートディスプレイの製造に適用する場合を示す。シートディスプレイとは、第1基板及び封止材に相当する部材が薄く、シート状であり、可撓性を有する表示装置をいう。シートディスプレイにおいて、第1基板102としてはポリイミド等の有機樹脂フィルムが用いられる。この場合、柔軟性のある有機樹脂フィルムは、製造工程において扱いが困難である。そのため、支持基板に付着させた状態で製造工程に流される。すなわち、トランジスタや発光素子の製造工程においては、シート状の第1基板102は支持基板103に付着されており、工程の終段で支持基板103から第1基板102が剥離される。この工程は、例えば、図15で示すように、端子電極の露出処理(S207)の後に行われる。また、支持基板103がマザーガラス基板である場合には、例えば、マザーガラス基板の切断(S208)の後に行われる。
4. Manufacturing method of display device (third embodiment)
FIG. 14 shows a case where the process in the present embodiment is applied to the manufacture of a sheet display. A sheet display is a flexible display device in which members corresponding to a first substrate and a sealing material are thin, sheet-like, and flexible. In the sheet display, an organic resin film such as polyimide is used as the
図14で示すように、第1基板102を支持基板103から剥離する処理ではレーザ光174が照射される。レーザ光174が第1基板102に照射されることで、支持基板103に対する付着力を低下し、剥離が容易に行われる。このレーザ処理は、有機樹脂層117にレーザ光174を照射して端子電極114を露出させる処理と同様である。すなわち、支持基板103側からレーザ光174を照射することで、第1基板102が剥離され、第1基板102側から端子領域にレーザ光174を照射することで有機樹脂層117が剥離される。これらの処理におけるレーザ光源としては、例えば、紫外光をパルス発振するエキシマレーザを用いることができる。
As shown in FIG. 14,
この、端子電極114を露出させる処理は、支持基板103から有機樹脂フィルムである第1基板102を剥離するレーザ処理と同じタイミングで行うこともできる。そのため、表示装置の生産性を著しく低下させることがなく、レーザ装置においても同じ設備を流用することができる。また、第1基板102を支持基板103から剥離する処理以外は、製造方法として説明される第1の実施形態又は第2の実施形態と同様であり、同様の作用効果を奏するものとなる。
This process of exposing the
100・・・表示装置、102・・・第1基板、104・・・画素部、105a・・・ドライバIC、105b・・・走査線駆動回路、105c・・・スイッチ回路、106・・・駆動回路部、107a・・・回路領域、107b・・・配線領域、108・・・封止部、110・・・端子部、112・・・画素、114・・・端子電極、115a・・・第1端子層、115b・・・第2端子層、116・・・フレキシブルプリント回路基板、117・・・有機樹脂層118・・・封止材、120・・・トランジスタ、121・・・トランジスタ、122・・・発光素子、124・・・第1容量素子、126・・・第2容量素子、128・・・下地絶縁層、130・・・半導体層、132・・・ゲート絶縁層、134・・・ゲート電極、135・・・第1容量電極、136・・・第1絶縁層、138・・・ソース・ドレイン電極、140・・・第2絶縁層、141・・・第2容量電極、142・・・第3絶縁層、144・・・画素電極、148・・・有機層、150・・・対向電極層、152・・・封止層、154・・・バンク層、156・・・充填材、158・・・シール材、160・・・カラーフィルタ層、162・・・遮光層、164・・・開口部、166・・・コンタクトホール、167・・・コンタクトホール、168・・・配線、169・・・開口部、170・・・コンタクト部、172・・・水分遮断領域174・・・レーザ光
DESCRIPTION OF
Claims (10)
第1基板上に端子電極を含む端子部を形成し、
前記端子部に有機樹脂層を形成し、
前記画素部に画素電極を形成し、
前記画素電極上に有機層を形成し、
前記画素部及び前記端子部を含む領域に対向電極層を形成し、
前記画素部及び前記端子部を含む領域に前記対向電極層上に封止層を形成し、
前記有機樹脂層が形成された領域にレーザ光を照射して、前記有機樹脂層を前記端子電極との界面から剥離させ、前記有機樹脂層、前記対向電極層及び前記封止層を除去して前記端子電極を露出させること
を特徴とする表示装置の製造方法。 A manufacturing method of a display device including a pixel portion and a terminal portion,
Forming a terminal portion including a terminal electrode on the first substrate;
Forming an organic resin layer on the terminal portion;
Forming a pixel electrode in the pixel portion;
Forming an organic layer on the pixel electrode;
Forming a counter electrode layer in a region including the pixel portion and the terminal portion;
Forming a sealing layer on the counter electrode layer in a region including the pixel portion and the terminal portion;
The region where the organic resin layer is formed is irradiated with laser light, the organic resin layer is peeled off from the interface with the terminal electrode, and the organic resin layer, the counter electrode layer, and the sealing layer are removed. A method of manufacturing a display device, wherein the terminal electrode is exposed.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016059658A JP2017174641A (en) | 2016-03-24 | 2016-03-24 | Manufacturing method for display device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016059658A JP2017174641A (en) | 2016-03-24 | 2016-03-24 | Manufacturing method for display device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017174641A true JP2017174641A (en) | 2017-09-28 |
Family
ID=59971436
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016059658A Pending JP2017174641A (en) | 2016-03-24 | 2016-03-24 | Manufacturing method for display device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2017174641A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2019186893A1 (en) * | 2018-03-29 | 2019-10-03 | シャープ株式会社 | Display device production method |
JP2020194526A (en) * | 2019-05-29 | 2020-12-03 | 廣達電腦股▲ふん▼有限公司Quanta Computer Inc. | Expansion card interfaces for high-frequency signals and methods of producing the same |
US11349098B2 (en) | 2018-02-07 | 2022-05-31 | Japan Display Inc. | Display device with an improved sealing layer |
-
2016
- 2016-03-24 JP JP2016059658A patent/JP2017174641A/en active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11349098B2 (en) | 2018-02-07 | 2022-05-31 | Japan Display Inc. | Display device with an improved sealing layer |
WO2019186893A1 (en) * | 2018-03-29 | 2019-10-03 | シャープ株式会社 | Display device production method |
JP2020194526A (en) * | 2019-05-29 | 2020-12-03 | 廣達電腦股▲ふん▼有限公司Quanta Computer Inc. | Expansion card interfaces for high-frequency signals and methods of producing the same |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US11844231B2 (en) | Display device | |
JP6609495B2 (en) | Display device and manufacturing method of display device | |
JP5964807B2 (en) | Flexible organic electroluminescent device and manufacturing method thereof | |
US9887384B2 (en) | Method for producing flexible display device, and flexible display device | |
US20190326549A1 (en) | Display device and method for manufacturing display device | |
JP5284544B2 (en) | Semiconductor device and display device | |
WO2018179047A1 (en) | Display device and method for producing same | |
US10347862B2 (en) | EL display device and method for manufacturing EL display device | |
US20180226617A1 (en) | Display device | |
JP2017123216A (en) | Display device and manufacturing method for the same | |
KR102385339B1 (en) | Display device and manufacturing method thereof | |
JP6462325B2 (en) | Display device manufacturing method and display device terminal exposure method | |
JP2019078847A (en) | Display and method for manufacturing display | |
JP2017138354A (en) | Display device, and manufacturing method of display device | |
US10319943B2 (en) | Display device | |
JP2017174641A (en) | Manufacturing method for display device | |
JP6615001B2 (en) | Display device and manufacturing method thereof | |
JP2017071842A (en) | Mask for film deposition, and film deposition method using the same | |
TWI609603B (en) | Display device and its manufacturing method | |
JP2019020509A (en) | Display and method for manufacturing display | |
KR20180074139A (en) | Display device and method for manufacturing thereof | |
JP2018160314A (en) | Method of manufacturing display device | |
WO2018179175A1 (en) | Display device, display device production method, display device production apparatus, deposition apparatus, and controller | |
KR102652822B1 (en) | Electroluminescent display device | |
JP2018181429A (en) | Display device and manufacturing method thereof |