JP2017163085A - Method for manufacturing bonded body - Google Patents

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美佐 砂川
Misa Sunagawa
美佐 砂川
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for manufacturing a novel bonded body.SOLUTION: The method for manufacturing a bonded body includes: forming a conductor pillar on an electrode of a first substrate; forming an insulating film on a second substrate including a conductive pattern; disposing so that the conductive pattern of the second substrate faces the conductor pillar of the first substrate; and providing an ultrasonic vibration while applying pressure to the first and second substrates, so that the conductor pillar penetrates the insulating film and the conductor pillar is fused to the conductive pattern.SELECTED DRAWING: Figure 1C

Description

本発明は、接合体の製造方法に関する。   The present invention relates to a method for manufacturing a joined body.

樹脂を含む絶縁層を介して2つの電極が配置された接合体は、例えば、半導体トランジスタ等の半導体素子や静電容量式のタッチパネルセンサや、フレキシブルプリント基板(FPC)のようなプリント基板等の種々のデバイスに用いられている。このような積層配線部材においては、通常、絶縁層にコンタクトホールを設け、このコンタクトホール内で両電極を接続する構成が採用されている。   A joined body in which two electrodes are arranged via an insulating layer containing a resin is, for example, a semiconductor element such as a semiconductor transistor, a capacitive touch panel sensor, a printed board such as a flexible printed board (FPC), or the like. Used in various devices. In such a laminated wiring member, a configuration is generally adopted in which a contact hole is provided in an insulating layer, and both electrodes are connected in the contact hole.

コンタクトホールが設けられた絶縁層の形成方法としては、従来から、基板上全面に形成された絶縁膜を、フォトリソグラフィ法やエッチング法等の手法により絶縁膜の一部を除去する方法が用いられている。
しかしながら、有機溶剤耐性やパターニング性の問題から、絶縁層にコンタクトホールを設ける方法以外の方法が探されてきた。
特許文献1には、回路電極同士を、異方性導電フィルムを介在させて、熱加圧により貼り合わせる方法が記載されている。
As a method of forming an insulating layer provided with a contact hole, a method of removing a part of the insulating film formed on the entire surface of the substrate by a technique such as a photolithography method or an etching method has been conventionally used. ing.
However, methods other than the method of providing a contact hole in an insulating layer have been sought because of problems with organic solvent resistance and patterning properties.
Patent Document 1 describes a method in which circuit electrodes are bonded together by heat and pressure with an anisotropic conductive film interposed therebetween.

特開2012−41541号公報JP 2012-41541 A

基板や各層に使用する素材は、加熱で損傷をうけるものが多く、加熱なしで基板同士を貼り合わせる方法が求められるようになった。
本発明の目的は、新規な接合体の製造方法を提供することである。
Many of the materials used for the substrate and each layer are damaged by heating, and a method for bonding substrates without heating has been demanded.
An object of the present invention is to provide a novel method for producing a joined body.

本発明によれば、以下の接合体の製造方法が提供される。
1.第1の基板の電極上に導体ピラーを形成し、導電パターンを含む第2の基板上に、絶縁膜を形成し、前記第2の基板の導電パターンに、前記第1の基板の導体ピラーが対向するように配置し、
前記第1及び第2の基板に、圧力をかけながら、超音波振動をかけることで、前記導体ピラーが前記絶縁膜を貫通し、前記導体ピラーが前記導電パターンに融着する接合体の製造方法。
2.前記導体ピラーがフッ素含有化合物を含有する1に記載の接合体の製造方法。
3.前記電極が透明電極である1又は2に記載の接合体の製造方法。
4.前記電極が、酸化インジウムスズ及び銀ナノワイヤーからなる群から選択される1以上を含む1〜3のいずれかに記載の接合体の製造方法。
5.1〜4のいずれかに記載の方法で接合体を製造し、前記接合体を用いて、積層回路を製造する、積層回路の製造方法。
6.1〜4のいずれかに記載の方法で接合体を製造し、前記接合体を用いて、フレキシブルプリント基板を製造する、フレキシブルプリント基板の製造方法。
7.1〜4のいずれかに記載の方法で接合体を製造し、前記接合体を用いて、配線基板を製造する、配線基板の製造方法。
8.1〜4のいずれかに記載の方法で接合体を製造し、前記接合体を用いて、タッチパネルモジュールを製造する、タッチパネルモジュールの製造方法。
9.1〜4のいずれかに記載の方法で接合体を製造し、前記接合体を用いて、電子機器を製造する、電子機器の製造方法。
10.前記電子機器が、液晶ディスプレイ、自動車、ロボット、テレビ、カーナビゲーション、携帯電話、ゲーム機、デジタルカメラ、パーソナルコンピュータ、プリンタ、発光ダイオード照明又はウェアラブルデバイスである9に記載の電子機器の製造方法。
11.1〜4のいずれかに記載の方法で接合体を製造し、前記接合体を用いて、表示装置を製造する、表示装置の製造方法。
12.前記表示装置が、液晶表示装置、電気泳動表示装置又は有機EL表示装置である、11に記載の表示装置の製造方法。
According to the present invention, the following method for manufacturing a joined body is provided.
1. Conductive pillars are formed on the electrodes of the first substrate, an insulating film is formed on the second substrate including the conductive pattern, and the conductive pillars of the first substrate are formed on the conductive pattern of the second substrate. Arrange to face each other,
A method of manufacturing a joined body in which the conductor pillar penetrates the insulating film and the conductor pillar is fused to the conductive pattern by applying ultrasonic vibration while applying pressure to the first and second substrates. .
2. 2. The method for producing a joined body according to 1, wherein the conductor pillar contains a fluorine-containing compound.
3. 3. The method for producing a joined body according to 1 or 2, wherein the electrode is a transparent electrode.
4). The manufacturing method of the joined body in any one of 1-3 in which the said electrode contains 1 or more selected from the group which consists of indium tin oxide and silver nanowire.
The manufacturing method of a laminated circuit which manufactures a joined body by the method in any one of 5.1-4, and manufactures a laminated circuit using the said joined body.
The manufacturing method of a flexible printed circuit board which manufactures a bonded body by the method in any one of 6.1-4, and manufactures a flexible printed circuit board using the said bonded body.
The manufacturing method of a wiring board which manufactures a bonded body by the method in any one of 7.1-4, and manufactures a wiring board using the said bonded body.
The manufacturing method of a touch panel module which manufactures a bonded body by the method in any one of 8.1-4, and manufactures a touch panel module using the said bonded body.
The manufacturing method of an electronic device which manufactures a joined body by the method in any one of 9.1-4, and manufactures an electronic device using the said joined body.
10. 10. The method for manufacturing an electronic device according to 9, wherein the electronic device is a liquid crystal display, an automobile, a robot, a television, a car navigation, a mobile phone, a game machine, a digital camera, a personal computer, a printer, a light emitting diode illumination, or a wearable device.
11. A method for manufacturing a display device, wherein a joined body is produced by the method according to any one of claims 1 to 4 and a display device is produced using the joined body.
12 12. The method for producing a display device according to 11, wherein the display device is a liquid crystal display device, an electrophoretic display device or an organic EL display device.

本発明によれば、新規な接合体の製造方法が提供できる。   According to the present invention, a novel method for producing a joined body can be provided.

図1Aは、本発明の一実施形態にかかる接合体の製造方法に関する図である。FIG. 1A is a diagram relating to a method of manufacturing a joined body according to an embodiment of the present invention. 図1Bは、本発明の一実施形態にかかる接合体の製造方法に関する図である。FIG. 1B is a diagram relating to a method for manufacturing a joined body according to an embodiment of the present invention. 図1Cは、本発明の一実施形態にかかる接合体の製造方法に関する図である。FIG. 1C is a diagram relating to a method for manufacturing a joined body according to an embodiment of the present invention. 図1Dは、本発明の一実施形態にかかる接合体の製造方法に関する図である。FIG. 1D is a diagram relating to a method for manufacturing a joined body according to an embodiment of the present invention. 図2Aは、導体組成物インクの塗布位置について説明する説明図である。FIG. 2A is an explanatory diagram for explaining the application position of the conductor composition ink. 図2Bは、導体組成物インクの塗布位置について説明する説明図である。FIG. 2B is an explanatory diagram illustrating the application position of the conductor composition ink. 図3Aは、本発明の一実施形態にかかる方法における導体ピラーの縦断面形状についての説明図である。FIG. 3A is an explanatory diagram of a longitudinal cross-sectional shape of the conductor pillar in the method according to the embodiment of the present invention. 図3Bは、本発明の一実施形態にかかる方法における導体ピラーの縦断面形状についての説明図である。Drawing 3B is an explanatory view about the longitudinal section shape of the conductor pillar in the method concerning one embodiment of the present invention. 図3Cは、本発明の一実施形態にかかる方法における導体ピラーの縦断面形状についての説明図である。FIG. 3C is an explanatory diagram of a longitudinal cross-sectional shape of the conductor pillar in the method according to the embodiment of the present invention. 図4は、導体ピラー及び電極を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing conductor pillars and electrodes.

本発明の接合体の製造方法では、第1の基板の電極上に、導体ピラーを形成し、導電パターンを含む第2の基板上に、絶縁膜を形成し、第2の基板の導電パターンに、第1の基板の導体ピラーが対向するように配置し、第1及び第2の基板に、圧力をかけながら、超音波振動をかけることで、導体ピラーが絶縁膜を突き破り、導体ピラーが導電パターンに融着する。
これにより、基板に熱による損傷がなく、電気的接続した接合体を形成することができる。
In the method for manufacturing a joined body according to the present invention, the conductor pillar is formed on the electrode of the first substrate, the insulating film is formed on the second substrate including the conductive pattern, and the conductive pattern of the second substrate is formed. The conductor pillars of the first substrate are arranged so as to face each other, and ultrasonic vibration is applied to the first and second substrates while applying pressure, so that the conductor pillars break through the insulating film, and the conductor pillars are conductive. Fuse to the pattern.
As a result, the substrate is not damaged by heat, and an electrically connected joined body can be formed.

図1A〜Dは、本発明の一実施形態にかかる接合体の製造方法を示す図である。
図1Aに示すように、第1の基板1の電極3上に、導体ピラー5を形成する。
図1Bに示すように、導体パターン4を含む第2の基板2上に、絶縁膜6を形成する。
図1Cに示すように、第2の基板2の導電パターン4に、第1の基板1の導体ピラー5が対向するように配置し、第1の基板1及び第2の基板2に、圧力をかけながら、超音波振動をかけることで、図1(E)に示すような、接合体10を形成することができる。
1A to 1D are views showing a method for manufacturing a joined body according to an embodiment of the present invention.
As shown in FIG. 1A, a conductor pillar 5 is formed on the electrode 3 of the first substrate 1.
As shown in FIG. 1B, an insulating film 6 is formed on the second substrate 2 including the conductor pattern 4.
As shown in FIG. 1C, the conductive pattern 4 of the second substrate 2 is disposed so that the conductor pillars 5 of the first substrate 1 face each other, and pressure is applied to the first substrate 1 and the second substrate 2. By applying ultrasonic vibration while applying, a joined body 10 as shown in FIG. 1E can be formed.

第1の基板及び第2の基板は、同一でもよく、異なっていてもよい。第1及び第2の基板としては、例えば、ガラス基板、シリコンウェハー、セラミック基板等の可撓性を有さないリジット基材、及びプラスチック樹脂からなるフィルム等の可撓性を有するフレキシブル基材が挙げられる。
プラスチック樹脂としては、例えば、ポリエチレンテレフタラート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリエーテルサルホン(PES)、ポリイミド(PI)、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)、ポリカーボネート(PC)、ポリフェニレンサルファイド(PPS)及びポリエーテルイミド(PEI)等が挙げられる。
The first substrate and the second substrate may be the same or different. Examples of the first and second substrates include a rigid base material such as a glass substrate, a silicon wafer, and a ceramic substrate, and a flexible base material such as a film made of a plastic resin. Can be mentioned.
Examples of the plastic resin include polyethylene terephthalate (PET), polyethylene naphthalate (PEN), polyethersulfone (PES), polyimide (PI), polyetheretherketone (PEEK), polycarbonate (PC), polyphenylene sulfide ( PPS) and polyetherimide (PEI).

第1及び第2の基板は、単層であってもよく、積層体であってもよい。形成する層としては、酸化膜、窒化膜等の絶縁膜、半導体膜、導電膜、硬化性樹脂を含む平坦化層、バリア層等が挙げられる。これらを、単独でも用いてもよく、2種以上を組み合わせてもよい。   The first and second substrates may be a single layer or a laminate. Examples of the layer to be formed include an insulating film such as an oxide film and a nitride film, a semiconductor film, a conductive film, a planarization layer containing a curable resin, a barrier layer, and the like. These may be used alone or in combination of two or more.

また、基板が透明性を有する場合、可視光領域における透過率は80%以上であることが好ましい。ここで、透過率は、JIS K7361−1(プラスチック−透明材料の全光透過率の試験方法)により測定することができる。   When the substrate has transparency, the transmittance in the visible light region is preferably 80% or more. Here, the transmittance can be measured by JIS K7361-1 (a test method for the total light transmittance of a plastic-transparent material).

第1の基板は電極を含む。電極は、基板上に形成されていればよい。電極は、通常、基板上にパターン状に形成される。パターンとしては、例えば、ライン形状や電極パッドに用いられるパッド形状等が挙げられる。
電極上の所望の位置に、導体ピラーが形成されるが、電極には、導体ピラーが形成されていない部分があってもよい。
The first substrate includes an electrode. The electrode should just be formed on the board | substrate. The electrodes are usually formed in a pattern on the substrate. Examples of the pattern include a line shape and a pad shape used for an electrode pad.
The conductor pillar is formed at a desired position on the electrode, but the electrode may have a portion where the conductor pillar is not formed.

電極の材料としては、所望の導電性を有していれば特に限定されず、例えば、Ta、Ti、Al、Zr、Cr、Nb、Hf、Mo、Au、Ag、Pt、Cu、Mo−Ta合金、Ag合金、Cu合金、Al合金等の金属や、酸化インジウムスズ(ITO)、酸化インジウム亜鉛(IZO)等の導電性無機材料、ポリエチレンジオキシチオフェン/ポリスチレンスルホン酸(PEDOT/PSS)、の導電性有機材料を用いることができる。電極は、透明電極であってもよい。   The material of the electrode is not particularly limited as long as it has desired conductivity. For example, Ta, Ti, Al, Zr, Cr, Nb, Hf, Mo, Au, Ag, Pt, Cu, Mo—Ta Metals such as alloys, Ag alloys, Cu alloys, Al alloys, conductive inorganic materials such as indium tin oxide (ITO) and indium zinc oxide (IZO), polyethylene dioxythiophene / polystyrene sulfonic acid (PEDOT / PSS), A conductive organic material can be used. The electrode may be a transparent electrode.

また、電極には、金属材料、カーボンナノチューブ、グラフェン等の導電性材料等を含んでもよい。これにより、電極の印刷が可能となる。
金属材料としては、金属マイクロ粒子、金属ナノ粒子、金属ナノワイヤー、及びこれらの組み合わせ等が挙げられる。金属ナノ粒子及び金属ナノワイヤーが好ましい。
金属材料の金属は、銀、銅、水銀、スズ、インジウム、ニッケル、パラジウム、白金及び金等が挙げられる。また、これらの合金でもよい。金、銀、銅及びそれらの合金が好ましく、銀、銅及びこれらの合金が特に好ましい。これらは、1種単独でも用いてもよく、2種以上を組み合わせてもよい。
In addition, the electrode may include a conductive material such as a metal material, carbon nanotube, and graphene. Thereby, printing of an electrode is attained.
Examples of the metal material include metal microparticles, metal nanoparticles, metal nanowires, and combinations thereof. Metal nanoparticles and metal nanowires are preferred.
Examples of the metal of the metal material include silver, copper, mercury, tin, indium, nickel, palladium, platinum, and gold. Moreover, these alloys may be sufficient. Gold, silver, copper and alloys thereof are preferred, and silver, copper and alloys thereof are particularly preferred. These may be used alone or in combination of two or more.

金属ナノ粒子は、平均直径100nm以下が好ましく、3〜50nmがより好ましく、5〜45nmがさらに好ましい。
金属ナノワイヤーは、平均直径50nm以下が好ましく、3〜30nmがより好ましく、5〜28nmがさらに好ましい。また、金属ナノワイヤーの平均長さは、100μm以下が好ましく、5〜50μmがより好ましく、8〜30μmがさらに好ましい。
The metal nanoparticles preferably have an average diameter of 100 nm or less, more preferably 3 to 50 nm, and even more preferably 5 to 45 nm.
The metal nanowires preferably have an average diameter of 50 nm or less, more preferably 3 to 30 nm, and even more preferably 5 to 28 nm. Moreover, 100 micrometers or less are preferable, as for the average length of metal nanowire, 5-50 micrometers is more preferable, and 8-30 micrometers is more preferable.

カーボンナノチューブは、厚さ数原子層のグラファイト状炭素原子面(グラフェンシート)が筒形に巻かれた形状からなる炭素系繊維材料であり、単層ナノチューブ(SWNT)、多層ナノチューブ(MWNT)等が挙げられる。単層カーボンナノチューブは、グラフェンシートの構造の違いからカイラル(らせん)型、ジグザグ型、アームチェア型等が挙げられる。これらは、1種単独でも用いてもよく、2種以上を組み合わせてもよい。   A carbon nanotube is a carbon-based fiber material having a shape in which a graphite-like carbon atomic surface (graphene sheet) having a thickness of several atomic layers is wound into a cylindrical shape. Single-walled nanotubes (SWNT), multi-walled nanotubes (MWNT), etc. Can be mentioned. Single-walled carbon nanotubes include a chiral type, a zigzag type, and an armchair type because of the difference in the structure of the graphene sheet. These may be used alone or in combination of two or more.

カーボンナノチューブは、アスペクト比が大きい、即ち細くて長い単層ナノチューブを用いることが好ましい。例えば、アスペクト比が10以上、好ましくは10以上のカーボンナノチューブが挙げられる。
カーボンナノチューブの平均長さは、通常1μm以上、好ましくは5μm以上、さらに好ましくは10μm以上であり、平均長さの上限は特に限定されないが、例えば10mm程度である。外径としてはnmオーダーの極めて微小なカーボンナノチューブが知られている。カーボンナノチューブが有機化合物によって表面処理されていることが好ましく、具体的には、界面活性剤を使用して分散性を向上させることが好ましい。
The carbon nanotubes are preferably single-walled nanotubes having a large aspect ratio, that is, thin and long. For example, an aspect ratio of 10 2 or more, and preferably 10 3 or more carbon nanotubes.
The average length of the carbon nanotubes is usually 1 μm or more, preferably 5 μm or more, more preferably 10 μm or more, and the upper limit of the average length is not particularly limited, but is, for example, about 10 mm. As the outer diameter, extremely minute carbon nanotubes on the order of nm are known. The carbon nanotubes are preferably surface-treated with an organic compound. Specifically, it is preferable to improve dispersibility using a surfactant.

上記の直径、長さ、長径、厚さ等については、例えば、透過型電子顕微鏡を用いて、100個以上の導電性材料の直径、長さ、長径、厚さ等を測定して、それらを平均して求めることができる。特に、粒子径の場合、例えば、粒子の投影面積円相当径を測定し、その平均を算出することができる。   About the above diameter, length, major axis, thickness, etc., for example, using a transmission electron microscope, measure the diameter, length, major axis, thickness, etc. of 100 or more conductive materials, It can be obtained on average. In particular, in the case of the particle diameter, for example, the projected area circle equivalent diameter of the particles can be measured, and the average can be calculated.

導電性材料は、1種単独でも用いてもよく、2種以上を組み合わせてもよい。   A conductive material may be used individually by 1 type, and may combine 2 or more types.

電極の厚みとしては、所望の導電性を有することができれば特に限定されないが、30nm以上50μm以下が好ましく、50nm以上40μm以下がより好ましく、100nm以上40μm以下が特に好ましい。
上記範囲内の場合、電極を良好に形成でき、良好な導電性を示しやすい。
The thickness of the electrode is not particularly limited as long as it has desired conductivity, but is preferably 30 nm to 50 μm, more preferably 50 nm to 40 μm, and particularly preferably 100 nm to 40 μm.
When it is within the above range, the electrode can be formed satisfactorily and good conductivity is easily exhibited.

厚みとは、一般的な測定方法によって得られる厚みをいう。厚みの測定方法としては、例えば、触針で表面をなぞり凹凸を検出することによって厚みを算出する触針式の方法や、透過型電子顕微鏡(TEM)、走査型電子顕微鏡(SEM)等による観察像を測定する方法、分光反射スペクトルに基づいて厚みを算出する光学式の方法等が挙げられる。尚、対象となる構成の複数箇所における厚み測定結果の平均値を用いてもよい。   The thickness means a thickness obtained by a general measurement method. As a method for measuring the thickness, for example, a stylus type method of calculating the thickness by tracing the surface with a stylus to detect unevenness, observation with a transmission electron microscope (TEM), a scanning electron microscope (SEM), etc. Examples thereof include a method for measuring an image, an optical method for calculating a thickness based on a spectral reflection spectrum, and the like. In addition, you may use the average value of the thickness measurement result in the several location of the structure used as object.

電極の表面の濡れ性については、所望の導体ピラーを形成することができれば特に限定されない。電極の表面の濡れ性としては、例えば、電極の表面と水との接触角が、25℃において、30°以上95°以下であることが好ましく、40°以上90°以下がより好ましく、40°以上80°以下が特に好ましい。
上記範囲内である場合、導通不良なしに、良好な導体ピラーを形成しやすくなる。
The wettability of the electrode surface is not particularly limited as long as a desired conductor pillar can be formed. As the wettability of the electrode surface, for example, the contact angle between the electrode surface and water is preferably 30 ° to 95 °, more preferably 40 ° to 90 °, more preferably 40 ° at 25 ° C. The angle of 80 ° or less is particularly preferable.
When it is within the above range, it becomes easy to form a good conductor pillar without conduction failure.

接触角は、例えば、測定対象上に1マイクロリットルの液体を滴下し、滴下した液滴の形状を側面より観測し、液滴と測定対象とのなす角を計測することにより測定することができる。接触角は、例えば、井元製作所製接触角測定装置、接触角計DM−901(協和界面科学製)を用いて測定することができる。   The contact angle can be measured, for example, by dropping 1 microliter of liquid onto the measurement target, observing the shape of the dropped liquid droplet from the side, and measuring the angle formed by the droplet and the measurement target. . The contact angle can be measured, for example, using a contact angle measuring device manufactured by Imoto Seisakusho, contact angle meter DM-901 (manufactured by Kyowa Interface Science).

電極の形成方法としては、一般的な電極の形成方法と同様とすることができる。具体的には、基板上に、真空蒸着法、スパッタ法、イオンプレーティング法等のPVD法、CVD法等で行うことができる。全面に形成した後、フォトリソグラフィ法を用いて所定のパターンにエッチングしてもよく、所定のパターンで開孔を持つメタルマスクを固定して、形成してもよい。
また、上述の金属材料、カーボンナノチューブ、グラフェン等を含む導電性ペーストを用いた印刷方法により形成してもよい。印刷法としては、例えば、インクジェット法、ディスペンサ法、スクリーン印刷法、グラビアオフセット印刷法、反転オフセット印刷法等を挙げることができる。また、導電性ペーストには、例えば後述する導体組成物インクで用いる溶剤、任意の成分等を適宜選択して用いてもよい。
The electrode formation method can be the same as a general electrode formation method. Specifically, it can be performed on the substrate by a vacuum deposition method, a sputtering method, a PVD method such as an ion plating method, a CVD method, or the like. After being formed on the entire surface, it may be etched into a predetermined pattern using a photolithographic method, or may be formed by fixing a metal mask having openings in a predetermined pattern.
Alternatively, a printing method using a conductive paste containing the above metal material, carbon nanotube, graphene, or the like may be used. Examples of the printing method include an inkjet method, a dispenser method, a screen printing method, a gravure offset printing method, and a reverse offset printing method. For the conductive paste, for example, a solvent used in a conductor composition ink described later, an arbitrary component, and the like may be appropriately selected and used.

導体ピラーは、導電性材料を含むことが好ましい。導電性材料は、上記電極で挙げた導電性材料と同様のものが挙げられる。1種単独でも用いてもよく、2種以上を組み合わせてもよい。
導体ピラーは、複数形成されていてもよい。
The conductor pillar preferably includes a conductive material. Examples of the conductive material include the same conductive materials as those mentioned for the electrode. 1 type may be used individually and 2 or more types may be combined.
A plurality of conductor pillars may be formed.

導体ピラーは、さらに、撥液剤含むことが好ましく、撥液性を有することが好ましい。これにより、ヴィアポストとして良好に機能しやすくなる。   The conductor pillar further preferably contains a liquid repellent, and preferably has liquid repellency. Thereby, it becomes easy to function favorably as a via post.

撥液剤としては、例えば、フッ素含有チオール化合物、フッ素含有ジスルフィド化合物等のフッ素含有化合物が挙げられる。自己組織化単分子膜を形成し、特に導電性材料として金属粒子を用いた場合に、導電性と撥液性を両立できることから、フッ素含有チオール化合物が好ましい。   Examples of the liquid repellent include fluorine-containing compounds such as fluorine-containing thiol compounds and fluorine-containing disulfide compounds. Fluorine-containing thiol compounds are preferred because they form both self-assembled monolayers and, particularly when metal particles are used as the conductive material, both conductivity and liquid repellency can be achieved.

フッ素含有チオール化合物としては、芳香環を有するフッ素含有チオール化合物、フッ化部を持つアルカンチオール等が挙げられる。これらの中でも、金属粒子の表面修飾性から、芳香環(好ましくは、ベンゼン環)を有する炭素数6〜20のフッ素含有チオールからなる群から選ばれる少なくとも1つの化合物が好ましい。   Examples of the fluorine-containing thiol compound include a fluorine-containing thiol compound having an aromatic ring and an alkanethiol having a fluorinated moiety. Among these, at least one compound selected from the group consisting of a fluorine-containing thiol having 6 to 20 carbon atoms having an aromatic ring (preferably a benzene ring) is preferable from the surface modification property of the metal particles.

芳香環を有する炭素数6〜20のフッ素含有チオールとしては、具体的には、トリフルオロメチルベンゼンチオール(例えば、4−トリフルオロメチルベンゼンチオール、3−トリフルオロメチルベンゼンチオール)、ペンタフルオロベンゼンチオール、2,3,5,6−テトラフルオロベンゼンチオール、2,3,5,6−テトラフルオロ−4−(トリフルオロメチル)ベンゼンチオール、2,3,5,6−テトラフルオロ−4−メルカプト安息香酸メチルエステル、3,5−ビストリフルオロメチルベンゼンチオール、4−フルオロベンゼンチオール及び11−(2,3,4,5,6−ペンタフルオロベン
ジルオキシ)−1−ウンデカンチオール等が挙げられる。これらの中でも、撥液性の観点からトリフルオロメチルベンゼンチオール、2,3,5,6−テトラフルオロ−4−(トリフルオロメチル)ベンゼンチオールが特に好ましい。
Specific examples of the fluorine-containing thiol having 6 to 20 carbon atoms having an aromatic ring include trifluoromethylbenzenethiol (for example, 4-trifluoromethylbenzenethiol and 3-trifluoromethylbenzenethiol), pentafluorobenzenethiol. 2,3,5,6-tetrafluorobenzenethiol, 2,3,5,6-tetrafluoro-4- (trifluoromethyl) benzenethiol, 2,3,5,6-tetrafluoro-4-mercaptobenzoic acid Examples include acid methyl ester, 3,5-bistrifluoromethylbenzenethiol, 4-fluorobenzenethiol and 11- (2,3,4,5,6-pentafluorobenzyloxy) -1-undecanethiol. Among these, trifluoromethylbenzenethiol and 2,3,5,6-tetrafluoro-4- (trifluoromethyl) benzenethiol are particularly preferable from the viewpoint of liquid repellency.

フッ素含有ジスルフィド化合物としては、芳香環を有するフッ素含有ジスルフィド化合物、フッ化部を持つ炭素鎖を有するジスルフィド化合物等が挙げられる。
芳香環を有するフッ素含有ジスルフィド化合物としては、具体的には、上述のフッ素含有チオール化合物が二量化した化合物が挙げられ、撥液性の観点から、トリフルオロメチルベンゼンチオール又は2,3,5,6−テトラフルオロ−4−(トリフルオロメチル)ベンゼンチオールが二量化した化合物が特に好ましい。
Examples of the fluorine-containing disulfide compound include a fluorine-containing disulfide compound having an aromatic ring and a disulfide compound having a carbon chain having a fluorinated portion.
Specific examples of the fluorine-containing disulfide compound having an aromatic ring include compounds obtained by dimerizing the above-mentioned fluorine-containing thiol compound. From the viewpoint of liquid repellency, trifluoromethylbenzenethiol or 2, 3, 5, A compound obtained by dimerizing 6-tetrafluoro-4- (trifluoromethyl) benzenethiol is particularly preferable.

導電性材料の含有量は、導体ピラー全量に対して、25質量%以上99質量%以下が好ましく、30質量%以上99質量%以下がより好ましい。
撥液剤の含有量は、導体ピラー全量に対して、2質量%以下が好ましく、1.8質量%以下がより好ましい。
上記範囲内であることにより、導電性と撥液性を両立しやすくなる。
The content of the conductive material is preferably 25% by mass or more and 99% by mass or less, and more preferably 30% by mass or more and 99% by mass or less with respect to the total amount of the conductor pillars.
The content of the liquid repellent is preferably 2% by mass or less, and more preferably 1.8% by mass or less, based on the total amount of the conductor pillars.
By being in the said range, it becomes easy to make electroconductivity and liquid repellency compatible.

また、導体ピラーは、重合性モノマー、及びその重合体を含んでもよい。
重合性モノマーとしては、エステル系モノマー、アクリレートモノマー等が挙げられる。
エステル系モノマーとしては、フェノキシポリエチレングリコール(好ましくはジエチレングリコール)アクリレート、ノナンジオールアクリレート等が挙げられる。
アクリレートモノマーとしては、フェノキシエチルアクリレート、テトラヒドロフルフリルアクリレート等が挙げられる。
1種を単独で用いても、2種以上を併用してもよい。
Further, the conductor pillar may include a polymerizable monomer and a polymer thereof.
Examples of the polymerizable monomer include ester monomers and acrylate monomers.
Examples of the ester monomers include phenoxypolyethylene glycol (preferably diethylene glycol) acrylate, nonanediol acrylate, and the like.
Examples of the acrylate monomer include phenoxyethyl acrylate and tetrahydrofurfuryl acrylate.
One type may be used alone, or two or more types may be used in combination.

重合性モノマー及びその重合体を含む場合、その含有量は、導体ピラー全量に対して、10質量%以下が好ましく、8質量%以下が好ましい。   When the polymerizable monomer and the polymer thereof are included, the content is preferably 10% by mass or less, and more preferably 8% by mass or less, based on the total amount of the conductor pillars.

導体ピラーは、分散剤等の任意成分、後述の導体組成物インクの溶剤を含んでもよい。   The conductor pillar may contain an optional component such as a dispersant and a solvent of a conductor composition ink described later.

導体ピラーは、例えば、90質量%以上、95質量%以上、98質量%以上、99質量%以上、100質量%が、導電性材料からなってもよい。
また、導体ピラーは、例えば、90質量%以上、95質量%以上、98質量%以上、99質量%以上、100質量%が、導電性材料及び撥液剤、又は導電性材料、撥液剤、重合性モノマー及び重合性モノマーの重合体からなってもよい。
For example, 90% by mass or more, 95% by mass or more, 98% by mass or more, 99% by mass or more, and 100% by mass of the conductor pillar may be made of a conductive material.
The conductor pillar is, for example, 90% by mass or more, 95% by mass or more, 98% by mass or more, 99% by mass or more, and 100% by mass of the conductive material and the liquid repellent, or the conductive material, the liquid repellent, and the polymerizable. It may consist of a monomer and a polymer of a polymerizable monomer.

導体ピラーの表面エネルギーは、20mN/m超80mN/m以下であることが好ましい。23mN/m以上50mN/m以下がより好ましく、23mN/m以上40mN/m以下がさらに好ましく、23mN/m以上38mN/m以下が特に好ましい。
20mN/m以下の場合、撥液剤の量が多くなり、導体組成物インク中の導電性材料が凝集し、インク状態を保持できなくなるおそれがある。80mN/mを超える場合、撥液性が低下し、絶縁膜を開孔することができなくなるおそれがある。
The surface energy of the conductor pillar is preferably more than 20 mN / m and not more than 80 mN / m. It is more preferably 23 mN / m or more and 50 mN / m or less, further preferably 23 mN / m or more and 40 mN / m or less, and particularly preferably 23 mN / m or more and 38 mN / m or less.
When the density is 20 mN / m or less, the amount of the liquid repellent increases, and the conductive material in the conductor composition ink may aggregate to keep the ink state. If it exceeds 80 mN / m, the liquid repellency is lowered and the insulating film may not be opened.

表面エネルギー及び導電性の観点から、導体ピラーの表面に、導電性材料、又は導電性材料及び撥液剤が露出していることが好ましい。
表面エネルギーを調整する手段としては、撥液剤の種類や配合量を調整すること等が挙げられる。
From the viewpoint of surface energy and conductivity, the conductive material, or the conductive material and the liquid repellent are preferably exposed on the surface of the conductor pillar.
Examples of means for adjusting the surface energy include adjusting the type and blending amount of the liquid repellent.

表面エネルギーは、例えば各溶剤にて測定した接触角の値から、北崎、畑の拡張Fowkes式に基づく幾何学平均法による解析(北崎寧昭、畑敏雄ら、日本接着協会誌、第8巻(3)131−141頁(1972年))で求めることができる。   The surface energy is analyzed by the geometric mean method based on the extended Fowkes equation of Kitazaki and Hata, for example, from the contact angle value measured with each solvent (Natsuaki Kitasaki, Toshio Hata et al., Journal of Japan Adhesion Association, Vol. 8 ( 3) 131-141 (1972)).

導体ピラーの撥液性としては、導体ピラーが絶縁膜に侵入する場合に、絶縁膜を弾き、導体ピラーがヴィアポストとして機能することができれば特に限定されない。導体ピラーの表面と水との接触角としては、80°以上であることが好ましく、90°以上120°以下がより好ましい。80°未満の場合、導体ピラーの維持が困難となるおそれがある。   The liquid repellency of the conductor pillar is not particularly limited as long as the conductor pillar can play the insulating film and function as a via post when the conductor pillar enters the insulating film. The contact angle between the surface of the conductor pillar and water is preferably 80 ° or more, and more preferably 90 ° or more and 120 ° or less. If it is less than 80 °, it may be difficult to maintain the conductor pillars.

「導体ピラーが撥液性を有する」とは、導体ピラーの表面と水との接触角が、第2の基板上の絶縁膜の表面と水との接触角よりも大きいことをいう。
具体的には、導体ピラーの表面と水との接触角と、絶縁膜の表面と水との接触角との差が、5°以上であることが好ましく、より好ましくは20°以上である。両者の接触角の差が5°未満の場合、導体ピラーが、絶縁膜を弾くことが困難となるおそれがある。
また、上記接触角の差の上限値としては、導体ピラーの材料、絶縁膜の材料等に応じて適宜決定され、特に限定されないが、例えば、100°である。
“The conductor pillar has liquid repellency” means that the contact angle between the surface of the conductor pillar and water is larger than the contact angle between the surface of the insulating film on the second substrate and water.
Specifically, the difference between the contact angle between the surface of the conductor pillar and water and the contact angle between the surface of the insulating film and water is preferably 5 ° or more, and more preferably 20 ° or more. If the difference between the contact angles is less than 5 °, it may be difficult for the conductor pillar to repel the insulating film.
Further, the upper limit value of the contact angle difference is appropriately determined according to the material of the conductor pillar, the material of the insulating film, and the like, and is not particularly limited, but is 100 °, for example.

導体ピラーは、例えば導体組成物インクを電極上に、塗布し、形成する。導体組成物インクは、パターン状に塗布することが好ましい。
「導体組成物インクをパターン状に塗布する」とは、電極上に所定の平面視形状を有するように導体組成物インクを塗布することをいい、電極が形成された電極上の全面に導体組成物インクを塗布する場合を含まないことをいう。
The conductor pillar is formed, for example, by applying a conductor composition ink on the electrode. The conductor composition ink is preferably applied in a pattern.
“Applying the conductor composition ink in a pattern” means that the conductor composition ink is applied on the electrode so as to have a predetermined plan view shape. The conductor composition is applied to the entire surface of the electrode on which the electrode is formed. This does not include the case where physical ink is applied.

導体組成物インクは、導電性材料及び溶剤を含むことが好ましい。導体インクは、さらに撥液剤を含むことが好ましい。また、導体組成物インクは、さらに重合性モノマーを含んでもよい。
導電性材料、撥液剤、及び重合性モノマーは、導体ピラーで挙げた導電性材料、撥液剤、及び重合性モノマーと同様のものが挙げられる。
The conductor composition ink preferably contains a conductive material and a solvent. The conductor ink preferably further contains a liquid repellent. The conductor composition ink may further contain a polymerizable monomer.
Examples of the conductive material, the liquid repellent, and the polymerizable monomer include the same materials as the conductive material, the liquid repellent, and the polymerizable monomer mentioned for the conductor pillar.

導体組成物インク中、導電性材料が、溶剤中に分散したナノコロイドであってもよい。   In the conductor composition ink, the conductive material may be a nanocolloid dispersed in a solvent.

溶剤は、導電性材料及び撥液剤を分散又は溶解させるものであれば、特に限定されない。
溶剤としては、水、アルコール系溶剤(モノアルコール系溶剤、ジオール系溶剤、多価アルコール系溶剤等)、炭化水素系溶剤、ケトン系溶剤、エステル系溶剤、エーテル系溶剤、グライム系溶剤、ハロゲン系溶剤等が挙げられる。これらの溶剤は、1種を単独で用いてもよく、2種以上を混合して用いてもよい。
これらの中でも、印刷性の観点から、アルコール系溶剤が好ましい。アルコール系溶剤としては、イソプロピルアルコール、ヘキサノール、ヘプタノール、オクタノール、ノナノール、デカノール、ウンデカノール、ドデカノール、トリデカノール、テトラデカノール、ペンタデカノール、ヘキサデカノール、シクロヘキサノール、1−メトキシ−2−プロパノール、エチレングリコール、グリセリン、1,3−プロパンジオールが挙げられる。
The solvent is not particularly limited as long as it can disperse or dissolve the conductive material and the liquid repellent.
Solvents include water, alcohol solvents (monoalcohol solvents, diol solvents, polyhydric alcohol solvents, etc.), hydrocarbon solvents, ketone solvents, ester solvents, ether solvents, glyme solvents, halogen solvents. A solvent etc. are mentioned. These solvents may be used alone or in a combination of two or more.
Among these, alcohol solvents are preferable from the viewpoint of printability. Examples of alcohol solvents include isopropyl alcohol, hexanol, heptanol, octanol, nonanol, decanol, undecanol, dodecanol, tridecanol, tetradecanol, pentadecanol, hexadecanol, cyclohexanol, 1-methoxy-2-propanol, ethylene glycol , Glycerin and 1,3-propanediol.

ケトン系溶剤としては、シクロヘキサノン、メチルイソブチルケトン等が挙げられる。   Examples of the ketone solvent include cyclohexanone and methyl isobutyl ketone.

溶剤の表面張力は、25℃において20mN/m以上65mN/m以下であることが好ましい。溶剤の表面張力が上記範囲内であれば、導体組成物インクを下地に十分に付着させることができる。
表面張力は、ペンダントドロップ法により測定できる。
The surface tension of the solvent is preferably 20 mN / m or more and 65 mN / m or less at 25 ° C. When the surface tension of the solvent is within the above range, the conductor composition ink can be sufficiently adhered to the ground.
The surface tension can be measured by a pendant drop method.

表面張力が25℃において20mN/m以上65mN/m以下のアルコール系溶剤としては、エチレングリコール、グリセリン、1,3−プロパンジオール等が挙げられる。これらの中でも、1,3−プロパンジオールが特に好ましい。   Examples of the alcohol solvent having a surface tension of 20 mN / m or more and 65 mN / m or less at 25 ° C. include ethylene glycol, glycerin, and 1,3-propanediol. Among these, 1,3-propanediol is particularly preferable.

導電性材料の含有量は、導体組成物インク全量に対して、15質量%以上80質量%以下が好ましく、20質量%以上70質量%以下がより好ましい。上記範囲内であれば、より効率よく導体ピラーが形成できる。   The content of the conductive material is preferably 15% by mass or more and 80% by mass or less, and more preferably 20% by mass or more and 70% by mass or less with respect to the total amount of the conductor composition ink. If it is in the said range, a conductor pillar can be formed more efficiently.

撥液剤を含む場合、撥液剤の含有量は、導体組成物インク全量に対して、10質量%以下が好ましく、5質量%以下がより好ましい。上記範囲内であれば、導電性材料を良好に分散させることができる。
また、撥液剤を含む場合、撥液剤の含有量は、導体ピラーの撥液性の観点から、0.1質量%以上が好ましい。
When the liquid repellent is included, the content of the liquid repellent is preferably 10% by mass or less, and more preferably 5% by mass or less with respect to the total amount of the conductor composition ink. If it is in the said range, an electroconductive material can be disperse | distributed favorably.
When the liquid repellent is included, the content of the liquid repellent is preferably 0.1% by mass or more from the viewpoint of the liquid repellency of the conductor pillar.

重合性モノマーを含む場合、重合性モノマーの含有量は、導体組成物インク全量に対して、10質量%以下が好ましく、5質量%以下がより好ましい。
また、重合性モノマーを含む場合、重合性モノマーの含有量は、0.1質量%以上が好ましい。
When the polymerizable monomer is included, the content of the polymerizable monomer is preferably 10% by mass or less, and more preferably 5% by mass or less with respect to the total amount of the conductor composition ink.
Moreover, when a polymerizable monomer is included, as for content of a polymerizable monomer, 0.1 mass% or more is preferable.

溶剤の含有量は、導体組成物インク全量に対して、20質量%以上85質量%以下が好ましく、40質量%以上80質量%以下がより好ましい。溶剤の含有量が上記範囲内であれば、導体組成物インクを適正に塗布できる。   20 mass% or more and 85 mass% or less are preferable with respect to the conductor composition ink whole quantity, and, as for content of a solvent, 40 mass% or more and 80 mass% or less are more preferable. When the content of the solvent is within the above range, the conductor composition ink can be appropriately applied.

導体組成物インクは、例えば、90質量%以上、95質量%以上、98質量%以上、99質量%以上、100質量%が、導電性材料及び溶剤からなってもよい。
また、導体組成物インクは、例えば、90質量%以上、95質量%以上、98質量%以上、99質量%以上、100質量%が、導電性材料、撥液剤及び溶剤、又は導電性材料、撥液剤、重合性モノマー及び溶剤からなってもよい。
For example, 90% by mass or more, 95% by mass or more, 98% by mass or more, 99% by mass or more, and 100% by mass of the conductor composition ink may be made of a conductive material and a solvent.
The conductive composition ink is, for example, 90% by mass or more, 95% by mass or more, 98% by mass or more, 99% by mass or more, and 100% by mass of a conductive material, a liquid repellent and a solvent, or a conductive material, You may consist of a liquid agent, a polymerizable monomer, and a solvent.

導体組成物インクは、分散剤等の任意の成分を含んでいてもよい。
任意成分は、導体組成物インク全量に対して、10質量%以下であることが好ましい。
The conductor composition ink may contain an optional component such as a dispersant.
The optional component is preferably 10% by mass or less based on the total amount of the conductor composition ink.

導体組成物インクの塗布方法としては、特に限定されず、例えば、インクジェット法、ディスペンサ法、スクリーン印刷法、グラビア印刷法、グラビアオフセット印刷法、反転オフセット印刷法、凸版印刷法等が挙げられる。中でもインクジェット法、ディスペンサ法、スクリーン印刷法を用いることが好ましい。   The method for applying the conductor composition ink is not particularly limited, and examples thereof include an inkjet method, a dispenser method, a screen printing method, a gravure printing method, a gravure offset printing method, a reverse offset printing method, and a relief printing method. Among these, it is preferable to use an inkjet method, a dispenser method, or a screen printing method.

導体組成物インクを、塗布後、焼成してもよい。
焼成方法としては、塗布した導体組成物インクに含まれる溶剤を除去し、電気的接続を可能にすることができれば特に限定されず、一般的な焼成方法を用いることができる。具体的には、ホットプレート、光焼成等を用いて焼成することができる。
The conductor composition ink may be baked after being applied.
The firing method is not particularly limited as long as the solvent contained in the applied conductor composition ink can be removed and electrical connection can be made, and a general firing method can be used. Specifically, firing can be performed using a hot plate, light firing, or the like.

焼成温度及び焼成時間については、導体組成物インクに含まれる溶剤、撥液剤等の種類に応じて適宜調整される。   The firing temperature and firing time are appropriately adjusted according to the type of solvent, liquid repellent, etc. contained in the conductor composition ink.

焼成温度としては、特に限定されないが、100℃以上220℃以下が好ましく、110℃以上180℃以下がより好ましい。
220℃を超える場合、導電性材料が劣化して所望の導電性を示すことが困難となるおそれがある。また、100℃未満の場合、導体ピラーでの溶剤の残存量が多くなり、貼り合わせる際に、絶縁膜に不純物が混入するおそれがある。
Although it does not specifically limit as a calcination temperature, 100 to 220 degreeC is preferable and 110 to 180 degreeC is more preferable.
When it exceeds 220 ° C., the conductive material may be deteriorated and it may be difficult to exhibit desired conductivity. Moreover, when the temperature is lower than 100 ° C., the residual amount of the solvent in the conductor pillar is increased, and there is a possibility that impurities are mixed into the insulating film at the time of bonding.

焼成時間としては、導体組成物インクに含まれる溶剤を除去し、導体化することが可能な時間であれば特に限定されないが、1分間以上60分間以下であることが好ましく、3分間以上30分間以下がより好ましく、5分間以上20分間以下が特に好ましい。   The firing time is not particularly limited as long as the solvent contained in the conductor composition ink can be removed to form a conductor, but is preferably 1 minute to 60 minutes, and preferably 3 minutes to 30 minutes. The following is more preferable, and 5 minutes or more and 20 minutes or less is particularly preferable.

1分間未満の場合、導体ピラーでの溶剤の残存量が多くなり所望の導電性を示すことが困難となるおそれがある。60分間を超える場合、撥液剤が劣化して所望の撥液性を示すことが困難となるおそれがある。また、生産性が低下するおそれがある。   If it is less than 1 minute, the residual amount of the solvent in the conductor pillar increases, and it may be difficult to exhibit desired conductivity. If it exceeds 60 minutes, the liquid repellent may deteriorate and it may be difficult to exhibit desired liquid repellency. In addition, productivity may be reduced.

図2A及びBは、導体組成物インクの塗布位置について説明する説明図である。
図2Aに示すように、電極上にのみ導体組成物インクを塗布し、付着物5Aを形成してもよく、図2Bに示すように電極上及びその近傍に導体組成物インクを塗布し、付着物5Aを形成してもよい。この場合、導体組成物インクは、通常、電極上に塗布され、かつ上記電極に隣接する他の電極3aと導通しないように塗布される。
電極の表面の濡れ性及び導体組成物インクの物性を調整し、導体ピラーの形状を調整しやすくし、導体組成物インクを電極上にのみ塗布することが好ましい。
2A and 2B are explanatory diagrams for explaining the application position of the conductor composition ink.
As shown in FIG. 2A, the conductor composition ink may be applied only on the electrode to form the deposit 5A. The conductor composition ink is applied on and near the electrode as shown in FIG. The kimono 5A may be formed. In this case, the conductor composition ink is usually applied on the electrode so as not to be electrically connected to the other electrode 3a adjacent to the electrode.
It is preferable to adjust the wettability of the electrode surface and the physical properties of the conductor composition ink to facilitate the adjustment of the shape of the conductor pillar, and to apply the conductor composition ink only on the electrode.

導体ピラーの平面視形状としては、ヴィアポストとして機能できれば特に限定されず、例えば、円形状、楕円形状、四角形状、多角形状等が挙げられる。中でも、導体ピラーの平面視形状が、円形状、楕円形状が好ましい。   The shape of the conductor pillar in plan view is not particularly limited as long as it can function as a via post, and examples thereof include a circular shape, an elliptical shape, a rectangular shape, and a polygonal shape. Among these, the planar shape of the conductor pillar is preferably a circular shape or an elliptical shape.

図3A〜Cは、本発明の一実施形態にかかる方法における導体ピラーの縦断面形状についての説明図である。
導体ピラーの縦断面形状とは、基板に対して垂直方向の導体ピラーの断面形状をいう。
導体ピラー3の縦断面形状としては、図3Aに示すような半円形状、図3Bに示すような半楕円形状、図示はしないが台形状、四角形状等が挙げられる。また、これらの形状は中央に平坦部又は窪みを有していてもよい。尚、図3Cにおいては、半楕円形状の中央に平坦部を有する形状を示している。
3A to 3C are explanatory views of the longitudinal cross-sectional shape of the conductor pillar in the method according to the embodiment of the present invention.
The longitudinal cross-sectional shape of the conductor pillar means the cross-sectional shape of the conductor pillar in the direction perpendicular to the substrate.
Examples of the vertical cross-sectional shape of the conductor pillar 3 include a semicircular shape as shown in FIG. 3A, a semi-elliptical shape as shown in FIG. 3B, a trapezoidal shape, a quadrangular shape, and the like (not shown). Moreover, these shapes may have a flat part or a hollow in the center. In FIG. 3C, a shape having a flat portion at the center of the semi-elliptical shape is shown.

導体ピラーの大きさとしては、導体ピラーを介して電極及び導電パターンを導通させることが可能なヴィアポストを形成することができれば特に限定されず、例えば、1μm以上5000μm以下が好ましく、5μm以上1000μm以下がより好ましく、10μm以上100μm以下が特に好ましい。
5000μmを超える場合には、製造される接合体の高精細化、高集積化が困難となるおそれがある。また、1μm未満の場合には、導体ピラーと導電パターンとを良好に導通させることが困難となるおそれがある。
「導体ピラーの大きさ」とは、導体ピラーの平面視形状の大きさをいい、例えば、平面視形状が円形状の場合は直径をいい、平面視形状が四角形状の場合は、一辺の幅をいう。また、平面視形状が長方形、楕円形等の短辺及び長辺を有する形状の場合は短辺の幅をいう。また、平面視形状が多角形状の場合は、内接円の直径をいう。
具体的に導体ピラーの大きさとは、図4においてuで示される距離をいう。図4は、導体ピラー5及び電極3を示す図である。
The size of the conductor pillar is not particularly limited as long as a via post capable of conducting an electrode and a conductive pattern through the conductor pillar can be formed. For example, the size is preferably 1 μm or more and 5000 μm or less, and preferably 5 μm or more and 1000 μm or less. Is more preferable, and 10 μm or more and 100 μm or less is particularly preferable.
If the thickness exceeds 5000 μm, it may be difficult to achieve high definition and high integration of the manufactured joined body. On the other hand, when the thickness is less than 1 μm, it may be difficult to make the conductor pillar and the conductive pattern conductive.
“The size of the conductor pillar” refers to the size of the shape of the conductor pillar in a plan view. For example, when the shape in a plan view is a circle, the diameter refers to the diameter. Say. Further, when the shape in plan view is a shape having a short side and a long side, such as a rectangle or an ellipse, the width of the short side is meant. Moreover, when the planar view shape is a polygonal shape, it refers to the diameter of the inscribed circle.
Specifically, the size of the conductor pillar means a distance indicated by u in FIG. FIG. 4 is a diagram showing the conductor pillar 5 and the electrode 3.

導体ピラーの高さとしては、導電パターンと導通させることができれば特に限定されないが、100nm以上100μm以下であることが好ましく、1μm以上60μm以下がより好ましい。
100μmを超える場合には、製造される接合体の導電パターン側表面の平坦性を良好とすることが困難となるおそれがある。100nm未満の場合には、導体ピラーが所望の導電性を示すことが困難となるおそれがある。
「導体ピラーの高さ」とは、導体ピラーの縦断面形状において基材と垂直方向の距離が最大となる部分の値をいう。
The height of the conductor pillar is not particularly limited as long as it can be electrically connected to the conductive pattern, but is preferably 100 nm or more and 100 μm or less, and more preferably 1 μm or more and 60 μm or less.
When it exceeds 100 μm, it may be difficult to improve the flatness of the conductive pattern side surface of the manufactured joined body. If it is less than 100 nm, it may be difficult for the conductor pillar to exhibit desired conductivity.
The “height of the conductor pillar” refers to the value of the portion where the distance in the vertical direction to the base material is maximum in the longitudinal cross-sectional shape of the conductor pillar.

導体ピラーのアスペクト比(高さ/大きさ)としては、ヴィアポストを形成することができれば、特に限定されないが、0.001以上1以下であることが好ましく、0.01以上0.8以下がより好ましく、0.03以上0.8以下が特に好ましい。
1を超える場合、導体ピラー自体を形成することが困難となるおそれがあり、導体ピラーに破損等を生じやすくなるおそれがある。0.001未満の場合、導体ピラーが十分な導電性、撥液性を示すことが困難となるおそれがある。
The aspect ratio (height / size) of the conductor pillar is not particularly limited as long as a via post can be formed, but is preferably 0.001 or more and 1 or less, and preferably 0.01 or more and 0.8 or less. More preferably, it is 0.03 or more and 0.8 or less.
If it exceeds 1, it may be difficult to form the conductor pillar itself, and the conductor pillar may be easily damaged. If it is less than 0.001, it may be difficult for the conductor pillar to exhibit sufficient conductivity and liquid repellency.

導体ピラーの形成後、導体ピラーに親水化処理を行なってもよい。親水化処理としては、導体ピラーの導電性の低下を抑制することができ、導体ピラーの表面と水との接触角を小さくすることができれば特に限定されない。例えば、水素プラズマを用いた親水化処理等が挙げられる。   After the formation of the conductor pillar, the conductor pillar may be subjected to a hydrophilic treatment. The hydrophilization treatment is not particularly limited as long as the decrease in the conductivity of the conductor pillar can be suppressed and the contact angle between the surface of the conductor pillar and water can be reduced. For example, hydrophilization treatment using hydrogen plasma can be used.

導電パターンの材料、物性、形成方法等は、上述の電極と同様のものが挙げられる。   Examples of the conductive pattern material, physical properties, formation method, and the like are the same as those of the above-described electrode.

導電パターンの厚みについては、導体ピラー及び電極との間での導通を得ることができれば特に限定されない。具体的には、30nm以上50μm以下が好ましく、50nm以上40μm以下がより好ましく、200nm以上20μm以下が特に好ましい。
上述の電極の厚みと同様に測定できる。
The thickness of the conductive pattern is not particularly limited as long as conduction between the conductor pillar and the electrode can be obtained. Specifically, 30 nm to 50 μm is preferable, 50 nm to 40 μm is more preferable, and 200 nm to 20 μm is particularly preferable.
It can be measured in the same manner as the electrode thickness described above.

絶縁膜は、樹脂組成物の粘着体とし、導電パターン上に貼り、形成してもよく、樹脂組成物を塗布し、熱硬化、光硬化等の硬化をすることで形成してもよい。
絶縁膜は、1層でもよく、複数の膜から形成されてもよい。
樹脂組成物の粘着体は、市販の支持体フィルムの無い両面テープや市販の接着材が好ましい。樹脂組成物の粘着体としては、アクリル系粘着剤、シリコーン系粘着剤、ゴム系粘着剤等が挙げられる。
The insulating film may be an adhesive body of the resin composition, and may be formed by pasting on the conductive pattern, or may be formed by applying the resin composition and curing such as thermosetting or photocuring.
The insulating film may be a single layer or a plurality of films.
The pressure-sensitive adhesive body of the resin composition is preferably a double-sided tape without a commercially available support film or a commercially available adhesive. Examples of the adhesive of the resin composition include acrylic adhesives, silicone adhesives, rubber adhesives, and the like.

絶縁膜の材料としては、例えば、アクリル系樹脂、フェノール系樹脂、フッ素系樹脂、エポキシ系樹脂、カルド系樹脂、ビニル系樹脂、イミド系樹脂、ノボラック系樹脂等の有機材料等が挙げられる。これらを、単独でも用いてもよく、2種以上を組み合わせてもよい。
絶縁膜は、アクリル系粘着剤、エポキシ系樹脂、イミド系樹脂等が好ましい。
Examples of the material for the insulating film include organic materials such as acrylic resin, phenol resin, fluorine resin, epoxy resin, cardo resin, vinyl resin, imide resin, and novolac resin. These may be used alone or in combination of two or more.
The insulating film is preferably an acrylic adhesive, an epoxy resin, an imide resin, or the like.

絶縁膜の厚みは、接合体の用途に応じて適宜選択することができるが90nm以上90μm以下であることが好ましく、900nm以上54μm以下がより好ましい。
90μmを超える場合、導体ピラーをヴィアポストとして機能させることが困難となるおそれがある。90nm未満である場合、十分な保護性を示すことが困難となるおそれがある。
The thickness of the insulating film can be appropriately selected according to the use of the joined body, but is preferably 90 nm or more and 90 μm or less, and more preferably 900 nm or more and 54 μm or less.
If it exceeds 90 μm, it may be difficult to make the conductor pillar function as a via post. If it is less than 90 nm, it may be difficult to exhibit sufficient protection.

絶縁膜の厚みは、上述の導体ピラーの高さの60〜100%であることが好ましく、70〜95%がより好ましい。   The thickness of the insulating film is preferably 60 to 100%, more preferably 70 to 95% of the height of the above-described conductor pillar.

樹脂組成物は、樹脂を含有することが好ましい。必要に応じて重合開始剤等その他の成分を含有してもよい。樹脂は、ポリマー等が挙げられる。モノマー、オリゴマーでもよい。単独でも用いてもよく、2種以上を組み合わせてもよい。   The resin composition preferably contains a resin. You may contain other components, such as a polymerization initiator, as needed. Examples of the resin include polymers. Monomers and oligomers may be used. It may be used alone or in combination of two or more.

樹脂としては、例えば、アクリレート系樹脂、エポキシ系樹脂、ポリエステル系樹脂等の電離放射線硬化性樹脂、アクリレート系樹脂、ウレタン系樹脂、エポキシ系樹脂、ポリシロキサン系樹脂、フッ素系樹脂等の熱硬化性樹脂等が挙げられる。中でも、絶縁性をより良好なものとすることができるため、熱硬化性樹脂であることが好ましい。   Examples of the resin include thermosetting resins such as ionizing radiation curable resins such as acrylate resins, epoxy resins, and polyester resins, acrylate resins, urethane resins, epoxy resins, polysiloxane resins, and fluorine resins. Examples thereof include resins. Among these, a thermosetting resin is preferable because the insulating property can be further improved.

電離放射線とは、光硬化に用いられ、分子を重合させて硬化させ得るエネルギーを有する電磁波又は荷電粒子を意味する。例えば、すべての紫外線(UV−A、UV−B、UV−C)、可視光線、ガンマー線、X線、電子線等が挙げられる。   The ionizing radiation is used for photocuring and means electromagnetic waves or charged particles having energy that can be cured by polymerizing molecules. For example, all ultraviolet rays (UV-A, UV-B, UV-C), visible light, gamma rays, X-rays, electron beams and the like can be mentioned.

フッ素系樹脂としては、フッ素が添加されたポリイミド、フッ素が添加されたポリパラキシレン、ポリスチレン、サイトップ(登録商標)、テフロン(登録商標)、テフロン(登録商標)AF、フルオロポリアリールエーテル、サイトップ(旭硝子社製)等が挙げられる。   Fluorine-based resins include fluorine-added polyimide, fluorine-added polyparaxylene, polystyrene, Cytop (registered trademark), Teflon (registered trademark), Teflon (registered trademark) AF, fluoropolyaryl ether, The top (made by Asahi Glass Co., Ltd.) etc. are mentioned.

樹脂組成物は、溶剤を含有してもよい。
樹脂組成物に含有される溶剤としては、導体ピラーの撥液性、絶縁膜が形成される下地の濡れ性、粘度等に応じて適宜選択することができ、一般的な樹脂組成物に用いられるものと同様とすることができる。
The resin composition may contain a solvent.
The solvent contained in the resin composition can be appropriately selected according to the liquid repellency of the conductor pillar, the wettability of the base on which the insulating film is formed, the viscosity, and the like, and is used for a general resin composition. It can be similar to that.

また、樹脂がフッ素系樹脂である場合、通常、フッ素系溶剤を用いることが好ましい。   In addition, when the resin is a fluorine-based resin, it is usually preferable to use a fluorine-based solvent.

樹脂組成物は、さらに必要に応じて、重合開始剤、光増感剤、酸化防止剤、重合禁止剤、架橋剤、赤外線吸収剤、帯電防止剤、粘度調整剤、密着性向上剤等を含有することもできる。   The resin composition further contains a polymerization initiator, a photosensitizer, an antioxidant, a polymerization inhibitor, a crosslinking agent, an infrared absorber, an antistatic agent, a viscosity modifier, an adhesion improver, etc., if necessary. You can also

樹脂組成物の粘度は、所定の塗布性を有すれば特に限定されない。
具体的な樹脂組成物の粘度としては、25℃において、1.0mPa・s以上50000mPa・s以下が好ましく、5mPa・s以上40000mPa・s以下がより好ましく、20mPa・s以上30000mPa・s以下が特に好ましい。
1.0mPa・s未満の場合、樹脂組成物の塗膜を形成することが困難となるおそれがある。50000mPa・sを超える場合、表面の濡れ性の差の効果を得ることが困難になるおそれがある。
The viscosity of the resin composition is not particularly limited as long as it has a predetermined coatability.
The specific viscosity of the resin composition is preferably 1.0 mPa · s or more and 50000 mPa · s or less at 25 ° C., more preferably 5 mPa · s or more and 40000 mPa · s or less, particularly preferably 20 mPa · s or more and 30000 mPa · s or less. preferable.
If it is less than 1.0 mPa · s, it may be difficult to form a coating film of the resin composition. When it exceeds 50000 mPa · s, it may be difficult to obtain the effect of the difference in surface wettability.

粘度の測定方法については、粘度を精度良く測定できる方法であれば特に限定されるものではないが、例えば、レオメーター、B型粘度計、キャピラリー式粘度計等の粘度測定装置を用いる方法が挙げられる。また、粘度の測定方法としては、デジタル粘度計(東機産業株式会社 TV−35)を用いてもよい。   The method for measuring the viscosity is not particularly limited as long as the viscosity can be accurately measured, but examples include a method using a viscosity measuring device such as a rheometer, a B-type viscometer, a capillary viscometer, and the like. It is done. Moreover, as a measuring method of a viscosity, you may use a digital viscometer (Toki Sangyo Co., Ltd. TV-35).

樹脂組成物の表面張力としては、所定の塗布性を有すれば特に限定されない。
具体的な樹脂組成物の表面張力としては、25℃において、5mN/m以上70mN/m以下が好ましく、10mN/m以上50mN/m以下がより好ましい。
5mN/m未満の場合、接合の際、導体ピラーを弾きにくくなる傾向があり、70mN/mを超える場合は、絶縁膜を形成することが困難となる可能性があるからである。
The surface tension of the resin composition is not particularly limited as long as it has a predetermined coating property.
The specific surface tension of the resin composition is preferably 5 mN / m or more and 70 mN / m or less at 25 ° C., more preferably 10 mN / m or more and 50 mN / m or less.
If it is less than 5 mN / m, it tends to be difficult to play the conductor pillar at the time of joining, and if it exceeds 70 mN / m, it may be difficult to form an insulating film.

表面張力の測定方法については、表面張力を精度良く測定できる方法であれば特に限定されるものではないが、例えば、Wilhelmy法(プレート法)、懸滴法(ペンダント・ドロップ法)、Young−Laplace法、du Nouy法等が挙げられる。
また、表面張力の測定には、例えば高精度表面張力計(協和界面科学社 DY−700)を用いることができる。
The method for measuring the surface tension is not particularly limited as long as the surface tension can be accurately measured. For example, the Wilhelmy method (plate method), the hanging drop method (pendant drop method), and Young-Laplace. Method, du Nouy method and the like.
Further, for example, a high-precision surface tension meter (Kyowa Interface Science DY-700) can be used for measuring the surface tension.

塗布方法としては、所望の厚みを有する絶縁膜を形成することができれば特に限定されず、一般的な塗布法を用いることができる。
具体的には、スリットコート法、スピンコート法、スクリーン印刷法、ダイコート法、ロールコート法、バーコート法、LB法、ディップコート法、スプレーコート法、ブレードコート法、及びキャスト法等が挙げられる。
中でも、絶縁膜の平坦性を良好にできるため、スクリーン印刷法、及びスリットコート法が好ましい。
The application method is not particularly limited as long as an insulating film having a desired thickness can be formed, and a general application method can be used.
Specific examples include a slit coating method, a spin coating method, a screen printing method, a die coating method, a roll coating method, a bar coating method, an LB method, a dip coating method, a spray coating method, a blade coating method, and a casting method. .
Especially, since the flatness of an insulating film can be made favorable, the screen printing method and the slit coat method are preferable.

第2の基板の導電パターンに、絶縁膜を介して、第1の基板の導体ピラーが対向するように配置する。第1の基板の導体ピラーを、絶縁膜に接触させ、絶縁膜を介して第1の基板と第2の基板を固着させることが好ましい。
固着において、絶縁膜が粘着体でない場合、第1の基板の導体ピラーと絶縁膜の接触後、使用する絶縁膜に適した硬化方法にて硬化させることが好ましい。例えば、熱硬化樹脂であれば加熱し、光硬化樹脂であれば電離放射線を照射させる。
It arrange | positions so that the conductor pillar of a 1st board | substrate may oppose the conductive pattern of a 2nd board | substrate through an insulating film. It is preferable that the conductor pillar of the first substrate is in contact with the insulating film, and the first substrate and the second substrate are fixed via the insulating film.
In the fixing, when the insulating film is not an adhesive, it is preferable to cure by a curing method suitable for the insulating film to be used after the contact between the conductor pillar of the first substrate and the insulating film. For example, if it is a thermosetting resin, it is heated, and if it is a photocurable resin, it is irradiated with ionizing radiation.

対向について、第1の基板から垂直方向に、導体ピラーを、導電パターンに投影した場合、導体ピラーの投影の100%が導電パターン内にあることが好ましい。導体ピラーの投影の90%又は80%が、導電パターン内にあってもよい。   When the conductor pillar is projected onto the conductive pattern in the vertical direction from the first substrate, it is preferable that 100% of the projection of the conductor pillar is in the conductive pattern. 90% or 80% of the projection of the conductor pillars may be in the conductive pattern.

上記配置後、第1及び第2の基板に、圧力をかけながら、超音波振動をかける。超音波振動は、導体ピラーと絶縁膜とが接触し、固着した部分にかけることが好ましい。   After the above arrangement, ultrasonic vibration is applied to the first and second substrates while applying pressure. The ultrasonic vibration is preferably applied to a portion where the conductor pillar and the insulating film are in contact with each other and fixed.

圧力は、0.01〜0.7MPaが好ましく、0.1〜0.6MPaがより好ましい。
超音波振動は、第1の基板及び第2の基板両方にかけてもよく、第1の基板及び第2の基板いずれか一方のみにかけてもよい。超音波振動は、20〜50kHzが好ましく、20〜40kHzがより好ましい。
超音波の印加時間は、0.5〜30秒間が好ましく、1〜15秒間がより好ましい。
The pressure is preferably from 0.01 to 0.7 MPa, more preferably from 0.1 to 0.6 MPa.
The ultrasonic vibration may be applied to both the first substrate and the second substrate, or may be applied to only one of the first substrate and the second substrate. The ultrasonic vibration is preferably 20 to 50 kHz, and more preferably 20 to 40 kHz.
The application time of the ultrasonic wave is preferably 0.5 to 30 seconds, and more preferably 1 to 15 seconds.

第1及び第2の基板に、圧力をかけながら、超音波振動をかけることで、導体ピラーが絶縁膜を突き破り(貫通し)、導体ピラーを導電パターンに融着することができる。
導体ピラーが、絶縁膜を開孔しながら、突き破ることが好ましい。
導体ピラーと導電パターンの融着は、導体ピラーの先端部が溶け、導電パターンに融着することが好ましい。
これにより、フォトリソグラフィ法等を用いる従来の方法に比べて、より簡便な方法でヴィアポストを有する絶縁膜を形成することができる。
By applying ultrasonic vibration to the first and second substrates while applying pressure, the conductor pillar can break through (penetrate) the insulating film, and the conductor pillar can be fused to the conductive pattern.
It is preferable that the conductor pillar breaks while opening the insulating film.
In the fusion of the conductor pillar and the conductive pattern, it is preferable that the tip of the conductor pillar is melted and fused to the conductive pattern.
Thereby, an insulating film having a via post can be formed by a simpler method as compared with a conventional method using a photolithography method or the like.

本発明の方法により製造される接合体は、ヴィアポストを介して2つの電極が導通する積層構造を有するデバイスに適用でき、積層回路、フレキシブルプリント基板、配線基板及びタッチパネルモジュール等に利用できる。
また、半導体素子、タッチパネルセンサ、RF−ID(Radio Frequency Identification)、有機エレクトロルミネッセンス(EL)デバイス等に適用できる。半導体素子は、温度センサーや圧力センサー等に用いることもできる。
また、液晶ディスプレイ、自動車、ロボット、テレビ、カーナビゲーション、携帯電話、ゲーム機、デジタルカメラ、パーソナルコンピュータ、プリンタ、発光ダイオード(LED)照明、ウェアラブルデバイス等の電子機器、液晶表示装置、電気泳動表示装置、有機EL表示装置等の表示装置に使用できる。
The joined body produced by the method of the present invention can be applied to a device having a laminated structure in which two electrodes are conducted through a via post, and can be used for a laminated circuit, a flexible printed board, a wiring board, a touch panel module, and the like.
Further, the present invention can be applied to semiconductor elements, touch panel sensors, RF-ID (Radio Frequency Identification), organic electroluminescence (EL) devices, and the like. The semiconductor element can also be used for a temperature sensor, a pressure sensor, or the like.
In addition, electronic devices such as liquid crystal displays, automobiles, robots, televisions, car navigation systems, mobile phones, game machines, digital cameras, personal computers, printers, light-emitting diode (LED) lighting, wearable devices, liquid crystal display devices, electrophoretic display devices It can be used for display devices such as organic EL display devices.

製造例1
銀ナノコロイド(平均粒子径:40nm)、エステル系モノマーNKエステルAMP−20GY(新中村化学工業株式会社製)、2,3,5,6−テトラフルオロ−4−(トリフルオロメチル)ベンゼンチオール及び溶剤(水とエチレングリコールと1,3−プロパンジオールとグリセリンの質量比1:1:1:1の混合溶剤)を、質量比46.7:3.0:0.8:49.5の割合で混ぜ、導体組成物インクを製造した。
Production Example 1
Silver nanocolloid (average particle size: 40 nm), ester monomer NK ester AMP-20GY (manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd.), 2,3,5,6-tetrafluoro-4- (trifluoromethyl) benzenethiol and Solvent (mixed solvent of water, ethylene glycol, 1,3-propanediol, and glycerin in a mass ratio of 1: 1: 1: 1) is in a mass ratio of 46.7: 3.0: 0.8: 49.5. Were mixed to prepare a conductor composition ink.

製造例2
固形分濃度が0.5質量%となるように、平均直径25nmで平均長さ10μmの銀ナノワイヤー(アルドリッチ社製)をイソプロピルアルコールに分散させ、銀ナノワイヤー分散液を製造した。
Production Example 2
Silver nanowires (manufactured by Aldrich) having an average diameter of 25 nm and an average length of 10 μm were dispersed in isopropyl alcohol so that the solid content concentration was 0.5% by mass to produce a silver nanowire dispersion.

実施例1
2つのガラス基板(Corning社製のEagle XG、大きさ:40mm×40mm、厚み:0.7mm)を用意した。
第1のガラス基板の表面に所定のパターンで開孔を持つメタルマスクを固定し、スパッタ法でITOの薄膜(厚み150nm)を成膜し、電極を形成した。
ITOパターンの、所望の箇所に、スクリーン印刷法により、製造例1で得られた導体組成物インクを印刷し、160℃15分間焼成することで、高さ52μmの導体ピラーを形成した。
Example 1
Two glass substrates (Corning Eagle XG, size: 40 mm × 40 mm, thickness: 0.7 mm) were prepared.
A metal mask having openings in a predetermined pattern was fixed on the surface of the first glass substrate, and an ITO thin film (thickness 150 nm) was formed by sputtering to form an electrode.
The conductor composition ink obtained in Production Example 1 was printed on a desired portion of the ITO pattern by a screen printing method and baked at 160 ° C. for 15 minutes to form a conductor pillar having a height of 52 μm.

第2のガラス基板の表面に所定のパターンで開孔を持つメタルマスクを固定し、真空蒸着法で銅の薄膜(300nm)を成膜し、導電パターンを形成した。
さらにこの導電パターン上に、アクリル系粘着剤からなる基材レス両面テープGA5905(日東電工株式会社製、厚み50μm)を第1のガラス基板と固定させる部位に貼付した。
A metal mask having openings in a predetermined pattern was fixed on the surface of the second glass substrate, and a copper thin film (300 nm) was formed by vacuum deposition to form a conductive pattern.
Further, a base material-less double-sided tape GA5905 (manufactured by Nitto Denko Corporation, thickness 50 μm) made of an acrylic pressure-sensitive adhesive was affixed on the conductive pattern to a portion to be fixed to the first glass substrate.

第1のガラス基板上の導体ピラーが、第2のガラス基板上の導電パターンに、アクリル系粘着剤を介して対向するように、第1のガラス基板上の導体ピラーと、第2のガラス基板上のポリイミド層とを接触させ、固着させた。
固着させた第1及び第2の基板を、超音波小型金属接合機G436D(精電舎電子工業株式会社製)
内に配置した。
以下の条件で、固着部位に超音波振動をかけながら、基板を加圧し、接合体を得た。
The conductor pillar on the first glass substrate and the second glass substrate so that the conductor pillar on the first glass substrate faces the conductive pattern on the second glass substrate via an acrylic adhesive. The upper polyimide layer was brought into contact and fixed.
Ultrasonic small metal bonding machine G436D (manufactured by Seidensha Electronics Co., Ltd.)
Placed in.
Under the following conditions, the substrate was pressurized while applying ultrasonic vibration to the fixed part to obtain a joined body.

超音波振動周波数:28.50kHz
超音波印加時間:10s
圧力:0.5Mpa
Ultrasonic vibration frequency: 28.50 kHz
Ultrasonic wave application time: 10s
Pressure: 0.5Mpa

得られた接合体の導通を確認したところ、導通したことが確認できた。   When conduction of the obtained joined body was confirmed, it was confirmed that conduction was achieved.

実施例2
真空蒸着法による銅の薄膜の形成に代えて、製造例2で得られた銀ナノワイヤー分散液をディスペンサで塗布、乾燥して、導電パターン(厚み50nm)を形成し、超音波印加時間を3sに、圧力を0.15Mpaに変更した以外、実施例1と同様に、接合体を製造し、評価した。結果、導通したことが確認できた。
Example 2
Instead of forming a copper thin film by vacuum deposition, the silver nanowire dispersion obtained in Production Example 2 was applied with a dispenser and dried to form a conductive pattern (thickness 50 nm), and the ultrasonic wave application time was 3 s. In addition, a joined body was produced and evaluated in the same manner as in Example 1 except that the pressure was changed to 0.15 MPa. As a result, it was confirmed that it was conducted.

比較例1
超音波振動を行わなかった以外、実施例1と同様に、接合体を製造し、評価した。その結果、導通が得られず、第1の基板の導体ピラーと、第2の基板の導電パターンとの接合はできなかった。
Comparative Example 1
A joined body was produced and evaluated in the same manner as in Example 1 except that ultrasonic vibration was not performed. As a result, continuity was not obtained, and the conductor pillar on the first substrate and the conductive pattern on the second substrate could not be joined.

本発明の方法により製造される接合体は、積層回路、フレキシブルプリント基板、配線基板及びタッチパネルモジュール等に利用できる。   The joined body produced by the method of the present invention can be used for laminated circuits, flexible printed boards, wiring boards, touch panel modules, and the like.

1 第1の基板
2 第2の基板
3 電極
3a 隣接する他の電極
4 導体パターン
5 導体ピラー
5A 付着物
6 絶縁膜
10 接合体
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 1st board | substrate 2 2nd board | substrate 3 Electrode 3a Other adjacent electrode 4 Conductor pattern 5 Conductor pillar 5A Deposit | attachment 6 Insulating film 10 Assembly

Claims (12)

第1の基板の電極上に導体ピラーを形成し、導電パターンを含む第2の基板上に、絶縁膜を形成し、前記第2の基板の導電パターンに、前記第1の基板の導体ピラーが対向するように配置し、
前記第1及び第2の基板に、圧力をかけながら、超音波振動をかけることで、前記導体ピラーが前記絶縁膜を貫通し、前記導体ピラーが前記導電パターンに融着する接合体の製造方法。
Conductive pillars are formed on the electrodes of the first substrate, an insulating film is formed on the second substrate including the conductive pattern, and the conductive pillars of the first substrate are formed on the conductive pattern of the second substrate. Arrange to face each other,
A method of manufacturing a joined body in which the conductor pillar penetrates the insulating film and the conductor pillar is fused to the conductive pattern by applying ultrasonic vibration while applying pressure to the first and second substrates. .
前記導体ピラーがフッ素含有化合物を含有する請求項1に記載の接合体の製造方法。   The method for producing a joined body according to claim 1, wherein the conductor pillar contains a fluorine-containing compound. 前記電極が透明電極である請求項1又は2に記載の接合体の製造方法。   The method for producing a joined body according to claim 1, wherein the electrode is a transparent electrode. 前記電極が、酸化インジウムスズ及び銀ナノワイヤーからなる群から選択される1以上を含む請求項1〜3のいずれかに記載の接合体の製造方法。   The manufacturing method of the joined body in any one of Claims 1-3 in which the said electrode contains 1 or more selected from the group which consists of indium tin oxide and silver nanowire. 請求項1〜4のいずれかに記載の方法で接合体を製造し、前記接合体を用いて、積層回路を製造する、積層回路の製造方法。   The manufacturing method of a laminated circuit which manufactures a joined body by the method in any one of Claims 1-4, and manufactures a laminated circuit using the said joined body. 請求項1〜4のいずれかに記載の方法で接合体を製造し、前記接合体を用いて、フレキシブルプリント基板を製造する、フレキシブルプリント基板の製造方法。   The manufacturing method of a flexible printed circuit board which manufactures a joined body by the method in any one of Claims 1-4, and manufactures a flexible printed circuit board using the said joined body. 請求項1〜4のいずれかに記載の方法で接合体を製造し、前記接合体を用いて、配線基板を製造する、配線基板の製造方法。   The manufacturing method of a wiring board which manufactures a bonded body by the method in any one of Claims 1-4, and manufactures a wiring board using the said bonded body. 請求項1〜4のいずれかに記載の方法で接合体を製造し、前記接合体を用いて、タッチパネルモジュールを製造する、タッチパネルモジュールの製造方法。   The manufacturing method of a touch panel module which manufactures a bonded body by the method in any one of Claims 1-4, and manufactures a touch panel module using the said bonded body. 請求項1〜4のいずれかに記載の方法で接合体を製造し、前記接合体を用いて、電子機器を製造する、電子機器の製造方法。   The manufacturing method of an electronic device which manufactures a conjugate | zygote by the method in any one of Claims 1-4, and manufactures an electronic device using the said conjugate | zygote. 前記電子機器が、液晶ディスプレイ、自動車、ロボット、テレビ、カーナビゲーション、携帯電話、ゲーム機、デジタルカメラ、パーソナルコンピュータ、プリンタ、発光ダイオード照明又はウェアラブルデバイスである請求項9に記載の電子機器の製造方法。   The method of manufacturing an electronic device according to claim 9, wherein the electronic device is a liquid crystal display, an automobile, a robot, a television, a car navigation, a mobile phone, a game machine, a digital camera, a personal computer, a printer, a light emitting diode illumination, or a wearable device. . 請求項1〜4のいずれかに記載の方法で接合体を製造し、前記接合体を用いて、表示装置を製造する、表示装置の製造方法。   The manufacturing method of a display apparatus which manufactures a bonded body by the method in any one of Claims 1-4, and manufactures a display apparatus using the said bonded body. 前記表示装置が、液晶表示装置、電気泳動表示装置又は有機EL表示装置である、請求項11に記載の表示装置の製造方法。
The method for manufacturing a display device according to claim 11, wherein the display device is a liquid crystal display device, an electrophoretic display device, or an organic EL display device.
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